JP2006041681A - Optical signal generator for testing - Google Patents
Optical signal generator for testing Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006041681A JP2006041681A JP2004215426A JP2004215426A JP2006041681A JP 2006041681 A JP2006041681 A JP 2006041681A JP 2004215426 A JP2004215426 A JP 2004215426A JP 2004215426 A JP2004215426 A JP 2004215426A JP 2006041681 A JP2006041681 A JP 2006041681A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- optical signal
- optical
- test
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
Description
本発明は、光デバイスや光ファイバ通信システムを構成する受信器に代表される光通信機器等の試験に用いる試験用光信号発生装置に関し、特に、位相雑音と振幅雑音とを含む試験用光信号を用いた試験を正確に行うための技術に関する。 The present invention relates to a test optical signal generator used for testing optical communication equipment typified by a receiver constituting an optical device or an optical fiber communication system, and more particularly, a test optical signal including phase noise and amplitude noise. The present invention relates to a technique for accurately performing a test using a computer.
位相雑音と振幅雑音とを含む光信号を用いた試験として、Stressed Eye Conformance Test (以下、ＳＥＣＴと記す)がある。 As a test using an optical signal including phase noise and amplitude noise, there is a Stressed Eye Conformance Test (hereinafter referred to as SECT).
この試験は、次の非特許文献１、２で勧告されており、ジッタを有するデータ信号に他信号を重畳したものを試験用光信号として試験対象に与え、図３のように試験用光信号の試験対象への入力レベルと、試験対象から出力される信号のビット誤り率との関係を、ジッタ量をパラメータとして求めるというものであり、ジッタによる位相雑音と重畳された信号に含まれている振幅雑音とを含む信号に対し、試験対象がどの程度まで小さい光レベルまで動作可能かを把握するための試験である。
This test is recommended in the following
図４は、上記試験に用いる光信号を発生する試験用光信号発生装置１０の構成例を示している。
FIG. 4 shows a configuration example of a test optical
この試験用光信号発生装置１０では、ジッタ発生器１１からジッタのあるクロック信号Ｃをデータ信号発生器１２に入力して、クロック信号Ｃに同期した所定パターンのデータ信号Ｄを発生させ、ＬＰＦ１３によってデータ信号Ｄに対する高域遮断処理を行い、第１の信号Ｅ１を得る。
In this test
そして、この第１の信号Ｅ１と、信号発生器１４から出力される正弦波の第２の信号Ｅ２とを合成器１５により加算合成し、図５に示すアイパターンように、位相雑音と振幅雑音が付与された第３の信号Ｅ３を生成する。 Then, the first signal E1 and the second sine wave signal E2 output from the signal generator 14 are added and synthesized by the synthesizer 15, and phase noise and amplitude noise are obtained as shown in the eye pattern shown in FIG. Is generated as a third signal E3.
そして、この第３の信号Ｅ３を電気光変換器１６によって所定波長の光信号Ｐに変換し、これを試験用光信号とし、その消光比、変調度等を規定値に設定した上で、出力レベル可変用のアッテネータ１７を介して試験対象１に与え、上記試験を行う。
Then, the third signal E3 is converted into an optical signal P having a predetermined wavelength by the electro-optical converter 16, this is used as a test optical signal, and its extinction ratio, modulation degree, etc. are set to specified values, and then output. The test is performed by giving to the
しかしながら、上記のように、電気合成して得られた信号Ｅ３を光信号Ｐに変換する方法では、波長の短い範囲（例えば８５０ｎｍ）で、光信号Ｐを長時間にわたって安定に出力させることができないという問題がある。 However, as described above, the method of converting the signal E3 obtained by electrosynthesis into the optical signal P cannot stably output the optical signal P for a long time in a short wavelength range (for example, 850 nm). There is a problem.
即ち、電気光変換器１６としては通常、例えば波長８５０ｎｍの光を出力する光源と、ＬＮ変調器とが用いられるが、ＬＮ変調器には直流ドリフトがあり、波長が短い程そのドリフトの影響が顕著に現れ、光信号Ｐの波形を数１０分も維持することができない。 That is, as the electro-optic converter 16, for example, a light source that outputs light having a wavelength of 850 nm and an LN modulator are usually used, and the LN modulator has a DC drift. Remarkably, the waveform of the optical signal P cannot be maintained for several tens of minutes.
また、ＬＮ変調器のドリフトの影響を抑えるためにバイアス電圧をフィードバック制御することも考えられるが、このフィードバック制御は、ＬＮ変調器のＶπ範囲全体を使用する消光比の大きい光でないと正しく行うことができず、上記のように振幅雑音成分を付与した消光比の小さい光には使用できない。 Although it is conceivable to feedback control the bias voltage in order to suppress the influence of the drift of the LN modulator, this feedback control should be performed correctly unless the light has a large extinction ratio using the entire Vπ range of the LN modulator. Cannot be used for light with a small extinction ratio to which amplitude noise components are added as described above.
これを解決するために、信号Ｅ１、Ｅ２をＬＮ変調器でそれぞれ光信号Ｐ１、Ｐ２に変換してから、光合成器によって合成することが考えられる。 In order to solve this, it is conceivable that the signals E1 and E2 are converted into optical signals P1 and P2 by an LN modulator, respectively, and then combined by an optical combiner.
ところが、このように２つの狭帯域な搬送波に対して信号Ｅ１、Ｅ２で振幅変調をそれぞれ施して、光信号Ｐ１、Ｐ２を得た場合、光信号Ｐ１、Ｐ２の各搬送波の周波数差が試験対象の受信帯域内であると、測定対象内でその周波数差のビート雑音信号が大きなレベルで発生して測定に悪影響を与え、正確な試験が行えなくなるという新たな問題が発生する。 However, when the optical signals P1 and P2 are obtained by performing amplitude modulation on the two narrow-band carriers with the signals E1 and E2 as described above, the frequency difference between the carrier waves of the optical signals P1 and P2 is the test target. Within the reception band, a beat noise signal having a frequency difference within the measurement target is generated at a large level, adversely affecting the measurement, and a new problem arises that an accurate test cannot be performed.
本発明は、この問題を解決して、安定で正確な試験を行うことができる試験用光信号発生装置を提供することを目的としている。 An object of the present invention is to provide a test optical signal generator capable of solving this problem and performing a stable and accurate test.
前記目的を達成するために、本発明の試験用光信号発生装置は、
ジッタを有するクロック信号を発生するジッタ発生器（２１）と、
前記ジッタ発生器から出力されるクロック信号に同期した所定パターンのデータ信号を出力するデータ信号発生器（２２）と、
所定波長の狭帯域な光を前記データ信号によって強度変調し、該強度変調された光を第１光信号として出射する第１の電気光変換器（２４）と、
所定周波数の正弦波の信号を出力する信号発生器（２５）と、
前記所定波長を含む広帯域な光を前記信号発生器の出力信号によって強度変調し、該強度変調された光を第２光信号として出射する第２の電気光変換器（２６）と、
前記第１光信号と前記第２光信号とを合成し、該合成によって得られた光信号を試験用光信号として出力する光合成器（２７）とを備えている。
In order to achieve the above object, a test optical signal generator of the present invention comprises:
A jitter generator (21) for generating a clock signal having jitter;
A data signal generator (22) for outputting a data signal having a predetermined pattern synchronized with a clock signal output from the jitter generator;
A first electro-optical converter (24) that modulates the intensity of narrow-band light of a predetermined wavelength with the data signal and emits the intensity-modulated light as a first optical signal;
A signal generator (25) for outputting a sine wave signal of a predetermined frequency;
A second electro-optical converter (26) for intensity-modulating broadband light including the predetermined wavelength with an output signal of the signal generator, and emitting the intensity-modulated light as a second optical signal;
An optical combiner (27) for combining the first optical signal and the second optical signal and outputting the optical signal obtained by the combining as a test optical signal;
このように本発明の試験用光信号発生装置は、第１光信号と第２光信号を合成して試験用光信号を得るとともに、第２光信号を広帯域光としているので、第１光信号の搬送周波数におけるスペクトラム電力密度に比べて、第２光信号の電力密度は広い波長範囲にわたり小さくなるので、両光信号の間で生じるビート成分のレベルも小さくなり、測定に悪影響を与えない。このため、安定で、正確な試験が可能となる。 Thus, the test optical signal generator of the present invention combines the first optical signal and the second optical signal to obtain the test optical signal and uses the second optical signal as broadband light. Compared with the spectrum power density at the carrier frequency, the power density of the second optical signal is reduced over a wide wavelength range, so the level of the beat component generated between the two optical signals is also reduced, and the measurement is not adversely affected. For this reason, a stable and accurate test can be performed.
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した前記したＳＥＣＴに用いる試験用光信号発生装置２０の構成と、それを用いた試験システムを示している。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 shows a configuration of a test
図１において、試験用光信号発生装置２０のジッタ発生器２１は、指定されたジッタＪを有する所定周波数（例えば１０ＧＨｚ）のクロック信号Ｃを発生し、データ信号発生器２２に出力する。
In FIG. 1, the jitter generator 21 of the test
データ信号発生器２２は、クロック信号Ｃに同期した所定パターン（例えば擬似ランダムパターン）のデータ信号Ｄを、低域通過フィルタ（以下、ＬＰＦと記す）２３に出力する。 The data signal generator 22 outputs a data signal D having a predetermined pattern (for example, a pseudo random pattern) synchronized with the clock signal C to a low-pass filter (hereinafter referred to as LPF) 23.
ＬＰＦ２３は、データ信号Ｄに対する帯域制限を行う。このＬＰＦ２３の高域遮断周波数は、データ信号Ｄのビットレートが１０Ｇｂｐｓであれば、例えば７．５ＧＨｚであり、データ信号Ｄの立ち上がり、立ち下がりを緩慢にしている。 The LPF 23 performs band limitation on the data signal D. The high frequency cutoff frequency of the LPF 23 is, for example, 7.5 GHz when the bit rate of the data signal D is 10 Gbps, and the rise and fall of the data signal D are slowed down.
第１の電気光変換器２４は、図２の（ａ）のように、所定波長λ１（例えば８５０ｎｍ）を中心波長とする狭帯域な光を搬送波とし、この搬送波をＬＰＦ２３からの出力信号Ｅ１によって強度変調し、第１光信号Ｐ１として出射する。
As shown in FIG. 2A, the first electro-
第１の電気光変換器２４は、所定波長λ１の狭帯域な光源と前記したＬＮ変調器で構成され、直流ドリフトが生じないようにバイアス電圧のフィードバック制御がされている。なお、短時間動作等のために直流ドリフトが問題にならない場合には、前記フィードバック制御を施さなくてもよい。
The first electro-
一方、信号発生器２５から出力される所定周波数（２００ＭＨｚ〜２ＧＨｚ）の正弦波の信号Ｅ２は、第２の電気光変換器２６に入力され、信号Ｅ２によって強度変調された第２光信号Ｐ２が生成される。
On the other hand, a sine wave signal E2 having a predetermined frequency (200 MHz to 2 GHz) output from the
この第２の電気光変換器２６は、例えば、ＶＣＳＥＬ（面発光レーザダイオード）等のように直接変調が可能で広帯域な光源によって構成され、図２の（ｂ）のように、信号Ｅ２により強度変調された所定波長λ１を含む広帯域（例えば８４０〜８６０ｎｍ）の第２光信号Ｐ２を出射する。
The second electro-
第１光信号Ｐ１と第２光信号Ｐ２は、光合成器２７に入力されて合成され、その合成された光信号Ｐ３が、試験用光信号として出射される。 The first optical signal P1 and the second optical signal P2 are input to the optical combiner 27 and combined, and the combined optical signal P3 is emitted as a test optical signal.
この光合成器２７から出射される試験用光信号Ｐ３の波形は、前記図５に示したアイパターンとなり、そのスペクトラムは、図２の（ｃ）に示すように、第２光信号Ｐ２の広帯域なスペクトラムの中から狭帯域な第１光信号Ｐ１のスペクトラムが突出した特性を有している。 The waveform of the test optical signal P3 emitted from the optical combiner 27 becomes the eye pattern shown in FIG. 5, and the spectrum thereof is a wide band of the second optical signal P2 as shown in FIG. The spectrum of the first optical signal P1 having a narrow band is projected from the spectrum.
ここで、例えば第１光信号Ｐ１の総電力と第２光信号Ｐ２の総電力とが同等であるとしても、第２光信号Ｐ２のスペクトラムは広い波長帯域に分散しているのでそのスペクトラム電力密度は、第１光信号Ｐ１の搬送波周波数における電力密度に比べて格段に小さい。 Here, for example, even if the total power of the first optical signal P1 and the total power of the second optical signal P2 are equal, the spectrum of the second optical signal P2 is dispersed over a wide wavelength band, so the spectrum power density Is much smaller than the power density at the carrier frequency of the first optical signal P1.
したがって、第２光信号Ｐ２の各スペクトラム成分と第１光信号Ｐ１の搬送波周波数との周波数差のビート成分（広い波長帯域に分散する）のレベルも非常に小さくなる。 Therefore, the level of the beat component (dispersed in a wide wavelength band) of the frequency difference between each spectrum component of the second optical signal P2 and the carrier frequency of the first optical signal P1 is also very small.
このようにして得られた試験用光信号Ｐ３は、例えば、光電変換してサンプリングオシロスコープでアイパターンを観測することにより、その消光比、変調度、ＶＥＣＰ（Ver-tical Eye Closure Penalty）等が、ＳＥＣＴの試験で規定されている値に設定された上で、出力レベル可変用のアッテネータ３０を介して光通信機器などの試験対象１に与えられる。
The test optical signal P3 thus obtained is subjected to photoelectric conversion and an eye pattern is observed with a sampling oscilloscope. After being set to a value defined in the SECT test, it is given to the
そして、試験対象１から出力される信号に対するビット誤り率を、誤り測定器３１によって測定する。
The bit error rate for the signal output from the
この測定を、クロック信号Ｃに付与するジッタ量、試験対象１に対する試験用光信号Ｐ３の入力レベルを変えて行うことで、前記図３に示した特性を求めることができる。
The characteristics shown in FIG. 3 can be obtained by performing this measurement while changing the jitter amount applied to the clock signal C and the input level of the test optical signal P3 for the
この測定において、光信号Ｐ３に含まれる第１光信号Ｐ１と第２光信号Ｐ２との間のビート成分が試験対象１の受光部内で発生しても、前記したように、そのビート成分のレベルは非常に小さいため、測定に悪影響を与えず、正確な測定結果を得ることができる。
In this measurement, even if a beat component between the first optical signal P1 and the second optical signal P2 included in the optical signal P3 is generated in the light receiving unit of the
１……試験対象、２０……試験用光信号発生装置、２１……ジッタ発生器、２２……データ信号発生器、２３……低域通過フィルタ、２４……第１の電気光変換器、２５……信号発生器、２６……第２の電気光変換器、２７……光合成器、３０……アッテネータ、３１……誤り測定器
DESCRIPTION OF
Claims (1)
前記ジッタ発生器から出力されるクロック信号に同期した所定パターンのデータ信号を出力するデータ信号発生器（２２）と、
所定波長の狭帯域な光を前記データ信号によって強度変調し、該強度変調された光を第１光信号として出射する第１の電気光変換器（２４）と、
所定周波数の正弦波の信号を出力する信号発生器（２５）と、
前記所定波長を含む広帯域な光を前記信号発生器の出力信号によって強度変調し、該強度変調された光を第２光信号として出射する第２の電気光変換器（２６）と、
前記第１光信号と前記第２光信号とを合成し、該合成によって得られた光信号を試験用光信号として出力する光合成器（２７）とを備えた試験用光信号発生装置。 A jitter generator (21) for generating a clock signal having jitter;
A data signal generator (22) for outputting a data signal having a predetermined pattern synchronized with a clock signal output from the jitter generator;
A first electro-optical converter (24) that modulates the intensity of narrow-band light of a predetermined wavelength with the data signal and emits the intensity-modulated light as a first optical signal;
A signal generator (25) for outputting a sine wave signal of a predetermined frequency;
A second electro-optical converter (26) for intensity-modulating broadband light including the predetermined wavelength with an output signal of the signal generator, and emitting the intensity-modulated light as a second optical signal;
A test optical signal generator comprising: an optical combiner (27) that combines the first optical signal and the second optical signal and outputs the optical signal obtained by the combination as a test optical signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004215426A JP2006041681A (en) | 2004-07-23 | 2004-07-23 | Optical signal generator for testing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004215426A JP2006041681A (en) | 2004-07-23 | 2004-07-23 | Optical signal generator for testing |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006041681A true JP2006041681A (en) | 2006-02-09 |
Family
ID=35906233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004215426A Pending JP2006041681A (en) | 2004-07-23 | 2004-07-23 | Optical signal generator for testing |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2006041681A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9667342B2 (en) | 2014-11-18 | 2017-05-30 | Fujitsu Limited | Optical phase noise extracting device and optical phase noise extraction method |
-
2004
- 2004-07-23 JP JP2004215426A patent/JP2006041681A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9667342B2 (en) | 2014-11-18 | 2017-05-30 | Fujitsu Limited | Optical phase noise extracting device and optical phase noise extraction method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Li et al. | Photonic generation of phase-coded microwave signal with large frequency tunability | |
| Li et al. | Arbitrary microwave waveform generation based on a tunable optoelectronic oscillator | |
| JP6001105B2 (en) | Method and apparatus for synthesizing waveform having ultra-wide bandwidth | |
| JP2005315858A (en) | Optical pulse evaluation device and in-service optical pulse evaluation device | |
| Lin et al. | Bio-inspired optical microwave phase lock loop based on nonlinear effects in semiconductor optical amplifier | |
| Romeira et al. | Broadband chaotic signals and breather oscillations in an optoelectronic oscillator incorporating a microwave photonic filter | |
| CN106100748A (en) | Phase-modulator and adjustable chromatic dispersion device is utilized to generate the device and method of microwave waveform | |
| JP2012063146A (en) | Distributed optical fiber sensor | |
| CN113671445A (en) | DP-BPSK-based method and system for generating dual-band phase encoding signal | |
| Szafraniec et al. | Swept coherent optical spectrum analysis | |
| Zuo et al. | Photonic-assisted filter-free microwave Doppler frequency shift measurement using a fixed low-frequency reference signal | |
| JP2006162616A (en) | Heterodyne-based optical spectrum analysis using data clock sampling | |
| JP5986943B2 (en) | Homodyne detection system electromagnetic spectrum measurement system | |
| JP5159255B2 (en) | Optical frequency domain reflection measurement method and apparatus | |
| JP2011038839A (en) | Optical frequency domain reflectometric method and optical frequency domain reflectometry | |
| JP4889951B2 (en) | Optical frequency stabilizer | |
| JP2006293247A (en) | Optical frequency comb generation method and device thereof | |
| JP2006041681A (en) | Optical signal generator for testing | |
| Ozharar et al. | Demonstration of endless phase modulation for arbitrary waveform generation | |
| JP2012037493A (en) | Method for evaluating characteristics of photodetector by two-tone light | |
| JP2008039759A (en) | Light measuring device and light measuring method | |
| JPH10322284A (en) | Fm modulator | |
| JP2842882B2 (en) | Optical spectrum analysis method and system | |
| JP2007328044A (en) | Optical frequency measuring system, and method for determining frequency component of optical frequency comb | |
| Li et al. | Dual-chirp waveform generation and its TBWP improvement based on polarization modulation and phase coding |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061003 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080819 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081020 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090331 |