JP2006018051A - パルス光照射装置及びパルス光照射方法 - Google Patents

パルス光照射装置及びパルス光照射方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 光ファイバなどの光伝送手段を用いてパルス光を照射対象物へと好適に照射することが可能なパルス光照射装置、及びパルス光照射方法を提供する。
【解決手段】 所定波長のパルス光を供給するパルスレーザ光源10と、パルス光を照射対象物Sへと伝送するマルチモードファイバ15とを用いてパルス光照射装置1Aを構成する。また、マルチモードファイバ15の入力側に、パルス光源10からファイバ15へと入力されるパルス光の時間波形を広げる入力側パルス光制御部30を設置し、その出力側に、ファイバ15から出力される出力パルス光の時間波形を縮めて、所望の波形を有する照射パルス光を生成する出力側パルス光制御部40を設置する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、照射対象物へとパルス光を照射するパルス光照射装置、及びパルス光照射方法に関するものである。
近年、パルスレーザ光源において、フェムト秒領域の超短パルスレーザ光源の開発が進められている。このようなレーザ光源によって生成されるフェムト秒パルス光を産業上の様々な分野に応用するため、その光学系の簡略化、あるいは操作性の向上の観点から、光ファイバによるパルス光伝送が検討されている。また、一般的な光ファイバを用いたレーザ光の伝送については、特許文献1、2にマルチモードファイバを用いたCWレーザ光の伝送に関する記載がある。
特開平8−167754号公報 特開平11−14869号公報
パルスレーザ光の利用分野の1つとして、レーザ加工装置がある。このようにフェムト秒パルス光などのパルスレーザ光を用いた加工装置では、加工効率の向上などのため、加工対象物に対して大強度のパルス光を照射することが必要となる場合がある。一方、光ファイバによって大強度のパルス光を伝送させた場合、空間的、時間的に高密度なパルス光による光ファイバの損傷等が問題となる。
すなわち、フェムト秒パルス光などの短パルス光では、光のピーク強度が非常に大きいため、光ファイバが熱損傷などによる損傷を受けてしまう。また、このようなパルス光では、その大強度のため、伝送に用いられる光ファイバの石英材料において非線形光学効果による屈折率変化が生じる。光ファイバでの屈折率変化が発生すると、パルス光が余分な位相変調を受けるなど、良好な伝送条件でパルス光を伝送することができない。このような問題は、加工装置以外のパルス光照射装置においても同様に生じる。
本発明は、以上の問題点を解決するためになされたものであり、光ファイバなどの光伝送手段を用いてフェムト秒パルス光などのパルス光を照射対象物へと好適に照射することが可能なパルス光照射装置、及びパルス光照射方法を提供することを目的とする。
このような目的を達成するために、本発明によるパルス光照射装置は、(1)所定波長のパルス光を供給するパルス光源と、(2)パルス光を照射対象物へと伝送する光伝送手段と、(3)光伝送手段に対して入力側に設置され、パルス光源から光伝送手段へと入力されるパルス光の時間波形を広げる入力側パルス光制御手段と、(4)光伝送手段に対して出力側に設置され、光伝送手段から出力される出力パルス光の時間波形を縮めて、所望の波形を有する照射パルス光を生成する出力側パルス光制御手段とを備えることを特徴とする。
また、本発明によるパルス光照射方法は、(a)所定波長のパルス光を照射対象物へと伝送する光伝送手段に対し、パルス光を供給するパルス光供給ステップと、(b)光伝送手段の入力側において、光伝送手段へと入力されるパルス光の時間波形を広げる入力側パルス光制御ステップと、(c)光伝送手段の出力側において、光伝送手段から出力される出力パルス光の時間波形を縮めて、所望の波形を有する照射パルス光を生成する出力側パルス光制御ステップとを備えることを特徴とする。
上記したパルス光照射装置及び照射方法においては、パルス光の伝送に光ファイバなどの光伝送手段を用いている。これにより、パルス光源から照射対象物へとパルス光を効率良く確実に伝送することができる。また、この光伝送手段に対し、その入力側及び出力側にそれぞれパルス光制御手段を設置している。光伝送手段の入力側にパルス光制御手段を設けることにより、パルス光の時間波形を広げて光の時間的な密度を低減した状態で光伝送手段を伝送させて、大強度のパルス光による光伝送手段の損傷や屈折率変化等の発生を防止することができる。また、光伝送手段の出力側にパルス光制御手段を設けることにより、広げられた状態で光伝送手段を伝送されたパルス光の時間波形を再び縮めて所望の波形とした上で、照射対象物へと照射することができる。以上の構成により、光ファイバなどの光伝送手段を用いてフェムト秒パルス光などのパルス光を照射対象物へと好適に照射することが可能となる。
ここで、パルス光源は、パルス光としてパルス幅が1ps以下のパルスレーザ光を出射するパルスレーザ光源であることが好ましい。上記構成のパルス光照射装置及び照射方法は、特にこのような短パルス幅で時間的に高密度なパルス光の伝送、照射に対して有効である。また、パルス光を伝送する光伝送手段は、伝送可能なパルス光の強度などの点で、マルチモードファイバであることが好ましい。
また、パルス光照射装置において、入力側パルス光制御手段及び出力側パルス光制御手段は、光伝送手段を伝送されるパルス光の分散補償条件を含む伝送条件を制御することが好ましい。これにより、照射対象物に対する最終的な照射パルス光を好適な特性のパルス光とすることができる。
また、パルス光照射装置は、パルス光源から出射されたパルス光を、所定の伝搬モードで伝送される入力条件で光伝送手段へと入力する入力光学系を備えることが好ましい。このような入力光学系を設けることにより、マルチモードファイバなどの光伝送手段を用いてパルス光を好適に伝送することが可能となる。また、光伝送手段の出力側において、光伝送手段から出力される出力パルス光を空間的に広げて出力側パルス光制御手段へと入射させるように光学系が構成されていることとしても良い。この場合、パルス光による出力側パルス光制御手段の損傷等の発生を防止することができる。
本発明のパルス光照射装置及び照射方法によれば、パルス光の伝送に光ファイバなどの光伝送手段を用いるとともに、光伝送手段の入力側及び出力側にそれぞれパルス光制御手段を設置し、パルス光の時間波形を広げた状態で光伝送手段を伝送させる構成とすることにより、光ファイバなどの光伝送手段を用いてフェムト秒パルス光などのパルス光を照射対象物へと好適に照射することが可能となる。
以下、図面とともに本発明によるパルス光照射装置、及びパルス光照射方法の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。
図1は、本発明によるパルス光照射装置の第1実施形態の構成を模式的に示すブロック図である。パルス光照射装置1Aは、光ファイバなどの光伝送手段を用いてフェムト秒パルス光などのパルス光を伝送した後、照射対象物へとパルス光を照射する装置である。本実施形態によるパルス光照射装置1Aは、パルスレーザ光源10と、マルチモードファイバ15と、入力光学系20と、入力側パルス光制御部30と、出力側パルス光制御部40とを備えている。また、図1においては、本照射装置1Aから出力される照射パルス光の照射対象物を、符号Sによって模式的に図示している。
パルスレーザ光源10は、本照射装置1Aを用いて照射対象物Sへと照射されるパルス光の元となる所定波長のパルス光(所定波長帯域のスペクトル成分を有するパルス光)を供給するパルス光源である。また、このパルス光源10から出射されたパルス光を照射対象物Sへと伝送するための光伝送手段として、光ファイバであるマルチモードファイバ15が所定の伝送経路に沿って配置されている。
パルス光源10とマルチモードファイバ15との間には、入力光学系20が設けられている。この入力光学系20は、パルス光源10から出射されたパルス光を、所定の入力条件でマルチモードファイバ15へと入力端15aから入力する光学系である。また、入力光学系20を構成する光学要素と、マルチモードファイバ15の入力端15a側の所定部分とは、好ましくは、図1に模式的に示すように、互いに位置決めされた状態で保持機構(制御機構)20aによって一体に保持される。
入力光学系20は、マルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件が、マルチモードファイバ15において所定の伝搬モードでのパルス光伝送が可能な条件、好ましくは基本モードだけが伝搬するシングルモードのパルス光伝送が可能な条件となるように構成されている。また、マルチモードファイバ15の出力端15b側には、必要に応じて出力光学系が設けられる。
また、本照射装置1Aにおいては、光伝送手段であるマルチモードファイバ15の入力側及び出力側に、それぞれパルス光制御部30、40が設置されている。これらのパルス光制御部30、40は、マルチモードファイバ15を照射対象物Sに向けて伝送されるパルス光の伝送条件を制御するための制御手段である。このように、パルス光制御部30、40でパルス光の伝送条件を制御することにより、照射装置1Aから照射対象物Sへと照射されるパルス光の特性を所望の特性に制御することができる。
図1に示した構成では、マルチモードファイバ15の入力側には、パルス光源10と入力光学系20との間に入力側パルス光制御部30が設けられている。このパルス光制御部30は、パルス光源10からマルチモードファイバ15へと入力されるパルス光の時間波形を広げるように、パルス光の波形を制御する。一方、マルチモードファイバ15の出力側には、出力側パルス光制御部40が設けられている。このパルス光制御部40は、マルチモードファイバ15から出力される出力パルス光の時間波形を縮めて、所望の波形を有する照射パルス光を生成する。そして、このパルス光制御部40で生成された照射パルス光が、照射対象物Sへと照射される。なお、パルス光制御部30、40の構成等については、具体的には後述する。
図1に示したパルス光照射装置1Aにおけるパルス光照射方法について概略的に説明する。まず、所定波長のパルス光を照射対象物Sへと伝送する光伝送手段であるマルチモードファイバ15に対し、パルス光源10から出射されたパルス光を供給する(パルス光供給ステップ)。マルチモードファイバ15へと入力されるパルス光源10からのパルス光は、マルチモードファイバ15の入力側において、その時間波形がパルス光制御部30によって広げられる(入力側パルス光制御ステップ)。これにより、パルス光源10からのパルス光は、その時間的な光の密度(マルチモードファイバ15でのパルス光の伝送方向に沿った空間的な光の密度に相当)が低減された状態で、入力光学系20を介してマルチモードファイバ15へと入力される。
入力光学系20を通って入力端15aからマルチモードファイバ15へと入力されたパルス光は、ファイバ15を伝送された後、その出力端15bから出力される。そして、マルチモードファイバ15から出力されたパルス光は、出力側のパルス光制御部40によってその時間波形が縮められるとともに、所望の波形となるように波形が制御される(出力側パルス光制御ステップ)。これにより、照射対象物Sに対するパルス光の好適な照射条件に応じた波形を有する照射パルス光が生成され、この照射パルス光が照射対象物Sへと照射される。
上記実施形態によるパルス光照射装置1A、及びパルス光照射方法の効果について説明する。
図1に示したパルス光照射装置1A、及びパルス光照射方法においては、パルス光の伝送に光ファイバであるマルチモードファイバ15を用いている。このように、光ファイバを用いてパルス光を伝送することにより、パルス光源10から照射対象物Sへとパルス光を効率良く確実に伝送することができる。また、このように光ファイバなどの光伝送手段を用いる構成では、パルスレーザ光源などのパルス光源10から照射対象物Sまでの間で複雑なパルス光の伝送光学系を設置する必要がなく、照射装置1Aの構成の簡単化、小型化等が可能となる。
また、この光伝送手段であるマルチモードファイバ15に対し、その入力側及び出力側にそれぞれパルス光制御部30、40を設置している。マルチモードファイバ15の入力側にパルス光制御部30を設けることにより、パルス光源10から出射されたパルス光の時間波形を広げて光の時間的な密度を低減した状態でマルチモードファイバ15を伝送させることができる。また、マルチモードファイバ15の出力側にパルス光制御部40を設けることにより、広げられた状態でマルチモードファイバ15を伝送されたパルス光の時間波形を再び縮めて所望の波形とした上で、照射対象物Sへと照射することができる。
上記のように、パルス光の時間波形を広げた状態でマルチモードファイバ15などの光伝送手段を伝送させる構成によれば、大強度のパルス光による光伝送手段の損傷や屈折率変化等の発生を防止することができる。
すなわち、フェムト秒パルス光などのようにパルス幅が短いパルス光では、そのピーク強度が非常に大きくなる。このようなパルス光を光ファイバ中で伝送させると、空間的、時間的に高密度なパルス光によって光ファイバに損傷が発生する場合がある。
このような損傷を回避するためには、光ファイバ内、及び入力側、出力側の両端面の近傍において、光の密度が高くなるのを避ける構成とすることが好ましい。このような光ファイバの損傷は、特に、屈折率が大きく変化する光ファイバの入力端、出力端で発生しやすい。また、大強度のパルス光を光ファイバ中で伝送させた場合、光ファイバの損傷に加えて、非線形光学効果によるパルス光の特性変化の発生という問題もある。また、パルス光の伝送における光の密度については、空間的な密度と時間的な密度とが考えられるが、光ファイバを用いたパルス光伝送では、光伝送路としての構造上、光の空間的な密度を制御することは難しい。
これに対して、上記のようにマルチモードファイバ15の入力側でパルス光の時間波形を広げ、その状態でマルチモードファイバ15を伝送させた後に出力側で所望の波形に戻す構成では、パルス光による光伝送手段の損傷の発生を防止して、より大強度のパルス光を照射対象物Sに照射することが可能となる。また、光伝送手段中での非線形光学効果の発生が低減されるため、マルチモードファイバ15を伝送された照射パルス光の安定性を向上することができる。したがって、光ファイバなどの光伝送手段を用いてフェムト秒パルス光などのパルス光を照射対象物へと好適に照射することが可能となる。
このようなパルス光照射装置及び照射方法は、パルス光を照射対象物へと照射する様々な装置に適用可能である。そのような装置としては、例えば、加工対象物へとパルス光を照射する加工装置、試料へとパルス光を照射して所望の反応を起こさせる反応装置などがある。このような装置に対して上記構成を適用することにより、短パルス幅で大強度のパルス光を使用することが可能となる。
ここで、照射対象物Sへのパルス光の伝送に用いられる光伝送手段としては、光の伝送効率などから光ファイバを用いることが好ましい。また、特に、図1の構成に示したように、マルチモードファイバを用いることが好ましい。この場合、シングルモードファイバを用いた場合に比べて、例えば、より大強度のパルス光の伝送、照射など、様々な条件でのパルス光照射が可能となる。これは、フェムト秒パルス光などの短パルス光を加工装置などの様々な形態のパルス光照射装置に適用し、それらの応用範囲を広げる上で非常に有用である。また、マルチモードファイバとしては、グレーデッドインデックス型、ステップインデックス型のいずれも用いることができる。
ただし、この光伝送手段としては、照射に必要とされるパルス光の強度などに応じて、シングルモードファイバを用いても良い。また、複数の光ファイバを束ねたバンドルファイバを用いても良い。あるいは、光ファイバ以外のものを用いることも可能である。そのような光伝送手段としては、例えば中空ファイバがある。
また、照射対象物Sへと照射されるパルス光を供給するパルス光源としては、パルス光照射装置の用途等に応じて様々なものを適用して良いが、特に、パルス幅が1ps以下のパルスレーザ光を出射するパルスレーザ光源を用いることが好ましい。上記構成のパルス光照射装置1Aは、特にこのようなフェムト秒領域で短パルス幅のパルス光の照射、例えば、広帯域のスペクトル成分を有するフェムト秒パルス光の伝送、及び照射対象物Sへの照射に対して有効である。このようなパルスレーザ光源としては、例えば、チタンサファイアレーザがある。また、このようなパルス光源は、単一のパルス光を出射する構成、または、複数のパルス光を合成して出射する構成として良い。
また、パルス光源として、レーザ光源を1次光源とし、1次光源から供給されたレーザ光を媒質中で伝搬させることによって発生する2次的な光を、照射対象物Sへと照射するパルス光として出射する構成を用いても良い。このような2次的な光の発生に用いられる媒質としては、例えばフォトニック結晶、非線形光学結晶などが挙げられる。
また、上記実施形態では、マルチモードファイバ15を用いた照射対象物Sへのパルス光伝送のため、マルチモードファイバ15に対するパルス光の入力条件を所定の伝搬モードでの伝送が可能な条件に設定する入力光学系20を設置している。このような入力光学系20を設けることにより、マルチモードファイバ15を用いてフェムト秒パルス光などの短パルス光を好適に伝送することが可能となる。例えば、マルチモードファイバ15の光軸に対してパルス光の入力軸を充分な精度で一致させ、マルチモードファイバ15の中心近傍の位置にパルス光を入力することにより、基本モードだけが伝搬するパルス光のシングルモード伝送を実現することも可能である。
入力光学系20において制御されるパルス光のマルチモードファイバ15への入力条件としては、具体的には例えば、入力端15aでのパルス光の入力位置(集光位置)の他、集光径、開口数、光強度、伝搬方向、空間分布、または入力する際の波面の傾き、あるいはそれらの組合せがある。ただし、このような入力光学系20は、照射対象物Sに照射するパルス光の特性についての制約条件などを考慮して、必要に応じて設置すればよい。
また、上記構成のパルス光照射装置1Aにおいて、入力側パルス光制御部30及び出力側パルス光制御部40は、マルチモードファイバ15を伝送されるパルス光の分散補償条件を含む伝送条件を制御することが好ましい。このように、パルス光制御部30、40を用いてパルス光の分散補償等を行うことにより、照射対象物Sへの照射パルス光を好適な特性のパルス光とすることができる。
また、パルス光制御部30、40において、パルス光に変調を付与する光変調部を設けても良い。このような光変調部を用いることにより、様々なパルス光照射の制御が可能となる。この光変調部によるパルス光の変調については、具体的には、パルス光の波長毎の振幅(強度)、位相、及び偏光の少なくとも1つを変調する構成とすることが好ましい。また、マルチモードファイバ15の入力側の構成については、入力光学系20及びパルス光制御部30の全体を、両者の機能を併せ持つ単一の光学系から構成することも可能である。
図2は、本発明によるパルス光照射装置の第2実施形態の構成を模式的に示すブロック図である。本実施形態によるパルス光照射装置1Bは、図1に示した構成に加えて、照射評価部50と、照射制御部55とを備えている。
照射評価部50は、照射対象物Sに対するパルス光の照射状況を評価する評価手段である。また、この照射評価部50での照射状況の評価結果は、照射制御部55へと入力されている。照射制御部55は、照射評価部50による照射対象物Sへのパルス光の照射状況の評価結果に基づいて、入力光学系20、入力側パルス光制御部30、及び出力側パルス光制御部40の少なくとも1つの動作を制御する制御手段である。
このように、照射評価部50及び照射制御部55を備えた構成では、照射対象物Sに対する実際のパルス光の照射状況に応じて、精度良くパルス光照射を制御することが可能となる。なお、照射評価部50による具体的な照射状況の評価方法については、様々な方法を用いて良い。例えば、マルチモードファイバ15の入力端15aへと入力されるパルス光、またはマルチモードファイバ15を伝送されて出力端15bから出力されるパルス光の一方または両方を計測し、その計測結果を参照してパルス光の照射状況を評価する構成を用いることができる。また、照射対象物Sでパルス光が反射、散乱された光を計測し、その計測結果を参照する構成としても良い。あるいは、パルス光照射による照射対象物Sの状態の変化を計測し、その計測結果を参照する構成としても良い。
なお、入力光学系20においてマルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件を制御する場合には、マルチモードファイバ15に対するパルス光の入射位置、及び入射角度を制御することが好ましい。このような入力条件の制御は、入力光学系20を構成する各光学要素に対して調整機構を付加することによって実現できる。このような調整機構としては、例えば、光学要素の3次元的な位置や傾きを調整する機構を付加すれば良い。あるいは、入力光学系20側ではなく、マルチモードファイバ15の位置や傾きを調整する構成としても良い。
本発明によるパルス光照射装置の具体的な構成についてさらに説明する。
図3は、パルス光照射装置に用いられる入力光学系の一例を示す構成図である。本構成例においては、入力光学系20を構成する光学要素として、パルス光源10から出射されたパルス光を集光しつつマルチモードファイバ15へと入力するための平凸レンズ22を用いている。なお、図3においては、パルス光制御部30、40については図示を省略している。
具体的には、図3においては、平凸レンズ22の2つのレンズ面のうち、マルチモードファイバ15側のレンズ面が平面(平坦面)22a、パルス光源10側のレンズ面が凸面22bとなっている。また、パルス光源10と平凸レンズ22との間には、パルス光源10からマルチモードファイバ15へと向かうパルス光が開口部21cを通過するアパーチャ21が設置されており、これらのアパーチャ21及び平凸レンズ22によって入力光学系20が構成されている。
このような構成により、パルス光源10からのパルス光をマルチモードファイバ15へと好適な入力条件で入力することができる。また、このような平凸レンズ22は、マルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件、及びマルチモードファイバ15でのパルス光の伝送条件の調整、設定を行う上でも有用である。
具体的には、入力光学系20の平凸レンズ22を利用したパルス光の伝送条件の調整方法では、まず、パルス光源10、マルチモードファイバ15、及び平凸レンズ22を含む照射装置1Aの各光学要素を、それぞれ所定の位置関係となる初期位置に設置する(設置ステップ)。続いて、パルス光源10からマルチモードファイバ15へとパルス光を出射させ、平凸レンズ22の平面22aでパルス光の一部が反射された平面反射像、及び凸面22bでパルス光の一部が反射された凸面反射像を観察する(観察ステップ)。
そして、平面反射像、及び凸面反射像の観察結果に基づいて、マルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件を調整する。具体的には、平凸レンズ22の平面22aからの平面反射像の中心位置、及び凸面22bからの凸面反射像の中心位置が、マルチモードファイバ15へと入力されるパルス光の中心軸と一致するように、パルス光源10、平凸レンズ22、及びマルチモードファイバ15の位置関係を調整する。これにより、パルス光の伝送の伝搬モードなど、マルチモードファイバ15でのパルス光の伝送条件が調整される(調整ステップ)。
このように、平凸レンズ22からの反射像を利用してパルス光の入力条件を調整する調整方法によれば、マルチモードファイバ15を用いてフェムト秒パルス光などの短パルス光が照射対象物Sへと好適に伝送されるように、その入力条件、及びマルチモードファイバ15での伝搬モードなどの伝送条件を調整することが可能となる。ただし、このようなパルス光の入力条件の調整は、照射パルス光での所望の波形等により、必要に応じて行えば良い。
また、平凸レンズ22からのパルス光の反射像の観察方法については、パルス光源10及び平凸レンズ22の間に配置されたアパーチャ21を用いて平面反射像及び凸面反射像を観察することが好ましい。このような構成によれば、平凸レンズ22を含む入力光学系20によるマルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件の調整を、確実かつ簡単な方法で実行することが可能となる。一般には、パルス光源10及び平凸レンズ22の間の所定位置に配置された板状部材を用いて平面反射像及び凸面反射像の観察を行う構成とすることが好ましい。また、このような板状部材については、パルス光の入力条件の調整等を終えた後、取り外しが可能な機構を有する構成としても良い。
図4は、図3に示した平凸レンズ22を含む入力光学系20を用いて行われるパルス光の伝送条件の調整方法について示す模式図である。この図4では、その中心位置に円形状の開口部21cが設けられたアパーチャ21を、平凸レンズ22側から見た状態で示し、その下流側の面である反射像観察面21a、観察面21a上に投映された平凸レンズ22の平面22aからの平面反射像A、及び観察面21a上に投映された凸面22bからの凸面反射像Bを図示している。また、図中においては、反射像A、Bのそれぞれを、斜線を付して模式的に示している。
平凸レンズ22を介したマルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件が好適に調整された状態では、図4に示すように、平面反射像A、及び凸面反射像Bのいずれも、アパーチャ21の中心軸上の位置を中心とする円形状の光像となる。また、これらの反射像A、Bのうち、凸面反射像Bは、反射面となる平凸レンズ22の凸面22bの形状により平凸レンズ22からアパーチャ21へと広がりつつ入射するため、その像の大きさが平面反射像Aよりも大きくなっている。これら2種類の反射像A、Bを利用し、反射像A、Bがアパーチャ21の観察面21a上で同心円状のパターンとなるように調整することにより、マルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件の調整を、簡単な入力光学系20の構成及び調整方法で実現することができる。なお、マルチモードファイバ15へのパルス光の具体的な入力条件については、マルチモードファイバ15の中心近傍の位置にパルス光を入力することが好ましい。
上記した入力条件でパルス光源10とマルチモードファイバ15とを接続した場合、マルチモードファイバ15における高次伝搬モードでのパルス光の伝送を抑制して、光ファイバとしてマルチモードファイバ15を用いたにもかかわらず、実質的に基本モードだけが伝搬するパルス光のシングルモード伝送が実現可能である。また、パルス光の空間モードについては、マルチモードファイバ15から出力されるパルス光の空間モードを、ガウス型の強度分布に近い良好な分布形状とすることが好ましいと考えられる。したがって、このような空間モードについても考慮しつつ、入力光学系20によるパルス光の入力条件を調整することが望ましい。
なお、マルチモードファイバ15の入力端15aの端面が平面形状に研磨されている場合には、平凸レンズ22の平面22a、凸面22bからのパルス光の反射像に加えて、マルチモードファイバ15の入力端15aからの反射像をも入力条件の調整に利用することとしても良い。これにより、入力条件の調整をさらに精度良く行うことができる。
また、このように入力条件の調整を行うための入力光学系の構成としては、一般には、入力光学系20が、パルス光を集光しつつマルチモードファイバ15へと入力するためのレンズを有する構成とすれば良い。このような構成によっても、マルチモードファイバ15へのパルス光の入力条件の調整を、簡単な入力光学系20の構成及び調整方法で実現することができる。この場合のレンズとしては、平凸レンズに限らず、両面が凸面のレンズを用いても良い。
また、この場合のレンズからの反射像の観察については、入力光学系は、パルス光源及びレンズの間の所定位置に設置されたアパーチャなどの板状部材を有し、板状部材は、レンズの光出射側(マルチモードファイバ側)の面でパルス光の一部が反射された第1の反射像、及びレンズの光入射側(パルス光源側)の面でパルス光の一部が反射された第2の反射像の観察に用いることが可能に構成されていることとすれば良い。
また、上記した例では、パルス光源10から供給されるパルス光が概ね均一な平面波であることを前提としているが、パルス光の波面が不均一である場合には、空間フィルタ等を介して波面を均一とした後にマルチモードファイバ15へと入力することが好ましい。また、上記構成ではマルチモードファイバ15に対するパルス光の入力条件について説明したが、マルチモードファイバ以外の光伝送手段に対するパルス光の伝送条件の調整においても、上記した入力光学系20の構成、及び伝送条件の調整方法を適用可能である。
図5は、パルス光照射装置に用いられる入力側及び出力側パルス光制御部の一例を示す構成図である。本構成例においては、入力側パルス光制御部30は、波形整形器36と、伸張器37とを有して構成されている。
波形整形器36は、例えば、入力されたパルス光を回折格子やプリズム等の分光素子によって分光し、その各スペクトル成分(波長成分)に対して変調素子によって変調を付与した後にスペクトル成分を合波するように構成される。図5においては、波形整形器36は、パルス光源10からのパルス光を分光する回折格子36a、分光された光を結像する円筒凹面ミラー36b、凹面ミラー36bから入射されるパルス光の各スペクトル成分に対して位相変調を付与する空間光変調器36c、変調された光を集光する円筒凹面ミラー36d、及び集光された光を合波して変調後のパルス光とする回折格子36eから構成されている。
また、伸張器37は、回折格子やプリズム等の分光素子によってパルス光の各スペクトル成分に対して線形な位相変調を付与するように構成される。図5においては、伸張器37は、波形整形器36からのパルス光を分光し、パルス光の各スペクトル成分に対して位相変調を付与するための回折格子37b、37c、及び全反射ミラー37dから構成されている。
また、この伸張器37には、波形整形器36の回折格子36eと、伸張器37の回折格子37bとの間に、一部反射ミラー37aが配置されている。この一部反射ミラー37aは、波形整形器36から入力された光を回折格子37bへと透過させるとともに、回折格子37bからの光を反射して入力光学系20へ向けて出力するために用いられる。
図5に示した構成のパルス光制御部30を用いたパルス光の波形等の制御について説明する。まず、波形整形器36に入力されたパルス光源10からのパルス光は、回折格子36aによって分光された後、円筒凹面ミラー36bによって各スペクトル成分がフーリエ面上に空間的に分離した状態で結像される。このフーリエ面上に配置された空間光変調器36cでは、これらのパルス光のスペクトル成分に対して、それぞれ独立した位相変調が付与される。変調されたパルス光のスペクトル成分は、円筒凹面ミラー36d及び回折格子36eによって合波される。この波形整形器36では、主として、伸張器37では補正しきれない3次以上の高次の位相分散の補正が行われる。
また、伸張器37に入力された波形整形器36からのパルス光は、回折格子37b、37cによって線形な位相変調が付与された後、全反射ミラー37dによって反射され、再び回折格子37c、37bで回折されて、反射ミラー37aを介して出力される。この伸張器37では、主として、上記したように時間波形を広げるパルス光の波形の制御、及び後段の光ファイバで生じる2次の位相分散に対する補正が行われる。なお、このような構成において、全反射ミラー37dを紙面に対して垂直方向にあおることにより、回折格子37b、37cの位置では入力時と出力時とでパルス光の位置が上下に分離され、変調後のパルス光の取り出しが容易となる。この場合、例えば、反射ミラー37aを全反射ミラーとし、パルス光の出力光路のみに対して配置する構成としても良い。
一方、出力側パルス光制御部40としては、所定の波長分散特性を有する分散媒質41が用いられている。このように、出力側パルス光制御部40については、照射対象物Sの近くに配置されることから、取り回しの利便性等を考えると小型な構成を用いることが好ましい。分散媒質41としては、具体的には、ガラスブロック、ガラスロッドなどを用いることができる。あるいは、回折格子対等の分散光学系を用いても良い。
なお、これらのパルス光制御部30、40については、図5に示した構成例以外にも、様々な構成を用いて良い。例えば、図5の入力側パルス光制御部30において、波形整形器36と伸張器37との設置順序は逆でも良く、また、いずれか一方のみを設置する構成としても良い。また、パルス光制御部30に用いられる光変調器としては、位相パターンを制御可能な空間光変調器や固定位相パターンの光変調器などの位相変調素子を用いることができる。あるいは、空間光変調器の前後に偏光子を配置することにより、パルス光の各スペクトル成分に対して強度変調を付与することも可能である。
また、図5では、出力側パルス光制御部40として分散媒質41を用いているが、これ以外の光学要素を用いても良く、あるいは、照射対象物S近傍でも空間的な制約が問題とならない場合には、入力側パルス光制御部30について示したような光学系を用いることも可能である。また、マルチモードファイバ15の出力側において、空間的な光の密度を低減させるため、マルチモードファイバ15の出力端15bから出力された時点でパルス光を一旦空間的に広げ、出力側パルス光制御部40でパルス光を時間的に圧縮しつつ、レンズなどを用いて空間的に集光させる構成の出力光学系を設置しても良い。
また、入力側パルス光制御部30において分散媒質等を用いても良い。また、照射対象物Sに対するパルス光の照射条件を変更する自由度を考えると、パルス光制御部30、40の少なくとも一方を制御または交換可能な構成としておくことが好ましい。また、パルス光制御部30、40としては、例えばE/O変調器やA/O変調器などのように、時刻に応じて異なる位相変調が与えられる素子を用いても良い。
入力側パルス光制御部30及び出力側パルス光制御部40によるパルス光の伝送条件、及び照射パルス光の波形等の制御についてさらに説明する。
まず、入力側パルス光制御部30及び出力側パルス光制御部40による、マルチモードファイバ15を伝送されるパルス光の分散補償条件の制御について説明する。図6は、マルチモードファイバ15の位相分散特性を示すグラフであり、横軸は波長(nm)、縦軸は位相分散(rad)を示している。図6に示す位相分散特性は、マルチモードファイバ15を合成石英ブロックとして考えて、長さ100mの石英伝送路での波長分散を計算したものを示している。
このようなマルチモードファイバ15の分散特性に対して、それを打ち消すための位相分散特性を図7に示す。パルス光制御部30、40においてパルス光の分散補償条件を制御する場合、パルス光制御部30、40の全体としての位相分散特性を図7に示す特性に設定することが好ましい。これにより、図6に示すマルチモードファイバ15の位相分散と、図7に示す位相分散とが打ち消しあって、マルチモードファイバ15で生じる波長分散が補償された、好適な特性の照射パルス光が得られる。
このような分散補償は、マルチモードファイバ15中でパルス光が広げられた状態で伝送される上記した条件を満たした上で、パルス光制御部30、40の両者を合わせて全体として実現されていれば良い。この場合、波長分散の寄与は線形に足し合わせることが可能であるため、マルチモードファイバ15に対して入力側、出力側にそれぞれ位置するパルス光制御部30、40に対して、図7に示した波長分散量を任意の割合で分割して付与すれば良い。
なお、図5に示したように出力側パルス光制御部40として分散媒質41を用いる構成では、上記したように取り回しの利便性等を考えると、分散媒質41の物理的なサイズは小さい方が好ましい。この場合、このような分散媒質41のサイズをも考慮して、パルス光制御部30、40での波長分散量の配分を設定することが好ましい。
例えば、100mの光ファイバによるパルス光伝送によってパルス幅100fsのパルス光が300psまで広がるとした場合、パルス幅の広がりは約3000倍である。ここで、パルス光の広がり量が分散媒質の長さに概ね比例すると考えて、30倍/mと換算する。このとき、例えば、出力側に長さ1mの分散媒質を設置する構成とすれば、光ファイバの出力端におけるパルス光のパルス幅は100fsの30倍、すなわち3psである。このような構成では、光ファイバの出力端での損傷閾値を、30倍大きくすることができる。なお、このような分散量の配分は、一般には、パルス光照射装置の使用条件や、パルス光制御部30、40の具体的な構成等に応じて、任意に設定すれば良い。
また、これらのパルス光制御部30、40において分散補償を行う場合でも、必ずしもマルチモードファイバ15で生じる波長分散を相殺させる構成としなくても良い。すなわち、出力側パルス光制御部40で生成される照射パルス光の波形は、パルス光源10から供給されるパルス光の波形と同じである必要はなく、具体的な照射対象物Sの種類や照射の目的等に応じて、好適な照射パルス光の波形を選択すれば良い。
この場合、パルス光制御部30、40によって制御される照射パルス光の波形のパラメータとしては、例えば、パルス光の時間波形の形状自体、パルス幅、パルス強度、などが挙げられる。例えば、照射パルス光がパルス光源10から供給されるパルス光よりもパルス幅が広いパルス光となるように構成しても良い。あるいは、照射対象物Sへの好適なパルス光の照射条件などに応じて、複数のパルス光成分を有する波形の照射パルス光としても良い。このような波形のパルス光は、パルストレインタイプやダブルパルス等を用いる加工装置に有用である。
図8は、照射対象物へと照射するパルス光の時間波形の例を示すグラフである。図8に示した3つのグラフのうち、グラフ(a)はシングルパルスとした場合の時間波形、グラフ(b)及びグラフ(c)はそれぞれマルチパルスとした場合の時間波形を示している。また、これらのグラフにおいて、横軸は時間(fs)、縦軸は強度を示している。
上記したパルス光照射装置を加工装置に適用し、加工対象物に対して図8の各グラフに示した時間波形のパルス光を照射する。図9は、図8に示した時間波形のパルス光による加工対象物の加工状況を示す模式図である。この図において、加工部位Pは上記のグラフ(a)に示したパルス光による加工状況、加工部位Pはグラフ(b)に示したパルス光による加工状況、加工部位Pはグラフ(c)に示したパルス光による加工状況をそれぞれ示している。
ここでは、透明なアクリル材料を加工対象物としてパルス光照射による加工を行っており、図9は、上方からパルスレーザ光を照射したアクリル材料の加工状況を横から観察したものである。また、図8に示したグラフ(a)〜(c)は、加工点におけるパルス光の波形を示している。
図9に示したアクリル材料の加工結果では、破線で囲まれた領域Sによって模式的に示すように、シングルパルスのパルス光を用いた場合の加工部位Pに対して、その周囲の領域Sに歪みが発生する。これに対して、加工部位P及びPに示すように、マルチパルスのパルス光を用いることにより、加工部位近傍での歪みの発生が改善される。
このように、照射対象物へと照射するパルス光の波形については、パルス光照射の目的や照射対象物の材質などによって好適とされる波形が異なる。したがって、出力側パルス光制御部40で生成されて照射対象物Sへと照射される照射パルス光の波形については、具体的な照射条件に応じて適宜設定すれば良い。また、照射パルス光としてマルチパルスのパルス光を用いることが好ましい場合には、パルスレーザ光源から供給されるパルス光は一般的にはシングルパルスであるため、パルス光が伝搬していく経路上にあるマルチモードファイバ15及びパルス光制御部30、40などの各光学要素の作用によって、最終的な照射パルス光としてマルチパルスの波形とすれば良い。
本発明によるパルス光照射装置、及びパルス光照射方法は、上記した実施形態及び実施例に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。
例えば、図2に示したように、照射評価部50及び照射制御部55を用いてパルス光照射を制御する構成では、リアルタイムに照射対象物S等を観測しながらパルス光を制御することが可能であるが、それに限定されるものではない。すなわち、所定の照射対象物に対して有効な照射条件を与えるパルス光の制御条件が確定した際には、上記した制御系を切り照射条件を固定して、照射対象物へのパルス光照射を行う構成としても良い。
また、上述したように、図5に示した構成では、マルチモードファイバ15の出力側において、空間的な光の密度を低減させるため、マルチモードファイバ15の出力端15bから出力された時点でパルス光を一旦空間的に広げ、出力側パルス光制御部40でパルス光を時間的に圧縮しつつ、レンズなどを用いて空間的に集光させる構成の出力光学系を設置しても良い。
図10は、図5に示したパルス光照射装置の変形例を示す構成図である。本構成では、マルチモードファイバ15を伝搬して出力された光を一旦空間的に広げる。そして、マルチモードファイバ15のNAに概ね一致したNAの光学系、例えばレンズにより、広げられた出力パルス光をほぼ平行光に変換した後、出力側パルス光制御部40である分散媒質41、例えばガラスへと入射する。
マルチモードファイバ15の出力時にパルス光が有する分散を、ガラスブロックなどの分散媒質41を伝搬する際に受ける分散と逆符号となるようにしておくことにより、パルス光はガラスブロックを伝搬しながら徐々に圧縮されていく。この時点では、空間的に広げられていることによって、ガラスブロックに入射する際には光損傷を受けにくい状態となっている。分散媒質41のガラスブロックから出力されたパルス光は、その後のレンズにより空間的に絞られ、かつレンズの分散によってさらに時間的にも圧縮されて、照射対象物Sへと照射される。一般には、マルチモードファイバなどの光伝送手段の出力側において、光伝送手段から出力される出力パルス光を空間的に広げて出力側パルス光制御手段へと入射させるように光学系が構成されていることが好ましい。この場合、パルス光による出力側パルス光制御手段の損傷等の発生を防止することができる。
なお、このようなマルチモードファイバ15の出力側の光学系については、図10においてはレンズを用いているが、これに限られるものではなく、例えば凹面鏡を用いても良い。また、分散補償がレンズによる分散量のみで実現できる場合には、レンズを出力側パルス光制御部40として機能させて分散媒質41を省略しても良い。あるいは、照射対象物Sの近傍でも空間的な制約が問題とならない場合には、入力側パルス光制御部30について示したような光学系を用いることも可能である。また、分散媒質41としては、ガラスブロックに限定されるものではなく、バンドルファイバや容器に封入された液体を用いることも可能である。また、レンズの代わりにテーパ状のファイバやガラスブロックを用いても良い。
本発明は、光ファイバなどの光伝送手段を用いてフェムト秒パルス光などのパルス光を照射対象物へと好適に照射することが可能なパルス光照射装置、及びパルス光照射方法として利用可能である。
パルス光照射装置の第1実施形態の構成を示すブロック図である。 パルス光照射装置の第2実施形態の構成を示すブロック図である。 照射装置に用いられる入力光学系の一例を示す構成図である。 図3に示した入力光学系を用いたパルス光の伝送条件の調整方法について示す模式図である。 照射装置に用いられるパルス光制御部の一例を示す構成図である。 マルチモードファイバの位相分散特性を示すグラフである。 図6に示した分散特性を打ち消すための位相分散特性を示すグラフである。 照射対象物へと照射するパルス光の時間波形の例を示すグラフである。 図8に示した時間波形のパルス光による加工対象物の加工状況を示す模式図である。 図5に示したパルス光照射装置の変形例を示す構成図である。
符号の説明
1A、1B…パルス光照射装置、10…パルスレーザ光源、15…マルチモードファイバ(光伝送手段)、15a…入力端、15b…出力端、20…入力光学系、20a…保持機構、21…アパーチャ、21a…反射像観察面、21c…開口部、22…平凸レンズ、22a…平面、22b…凸面、30…入力側パルス光制御部、36…波形整形器、37…伸張器、40…出力側パルス光制御部、41…分散媒質、50…照射評価部、55…照射制御部。

Claims (7)

  1. 所定波長のパルス光を供給するパルス光源と、
    前記パルス光を照射対象物へと伝送する光伝送手段と、
    前記光伝送手段に対して入力側に設置され、前記パルス光源から前記光伝送手段へと入力される前記パルス光の時間波形を広げる入力側パルス光制御手段と、
    前記光伝送手段に対して出力側に設置され、前記光伝送手段から出力される出力パルス光の時間波形を縮めて、所望の波形を有する照射パルス光を生成する出力側パルス光制御手段と
    を備えることを特徴とするパルス光照射装置。
  2. 前記パルス光源は、前記パルス光としてパルス幅が1ps以下のパルスレーザ光を出射するパルスレーザ光源であることを特徴とする請求項1記載のパルス光照射装置。
  3. 前記光伝送手段は、マルチモードファイバであることを特徴とする請求項1または2記載のパルス光照射装置。
  4. 前記入力側パルス光制御手段及び前記出力側パルス光制御手段は、前記光伝送手段を伝送される前記パルス光の分散補償条件を含む伝送条件を制御することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載のパルス光照射装置。
  5. 前記パルス光源から出射された前記パルス光を、所定の伝搬モードで伝送される入力条件で前記光伝送手段へと入力する入力光学系を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載のパルス光照射装置。
  6. 前記光伝送手段の出力側において、前記光伝送手段から出力される出力パルス光を空間的に広げて前記出力側パルス光制御手段へと入射させるように光学系が構成されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項記載のパルス光照射装置。
  7. 所定波長のパルス光を照射対象物へと伝送する光伝送手段に対し、前記パルス光を供給するパルス光供給ステップと、
    前記光伝送手段の入力側において、前記光伝送手段へと入力される前記パルス光の時間波形を広げる入力側パルス光制御ステップと、
    前記光伝送手段の出力側において、前記光伝送手段から出力される出力パルス光の時間波形を縮めて、所望の波形を有する照射パルス光を生成する出力側パルス光制御ステップと
    を備えることを特徴とするパルス光照射方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008268589A (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Olympus Corp 超短光パルスの光ファイバ伝送装置、およびこれを有する光学システム
JP2008292994A (ja) * 2007-04-23 2008-12-04 Olympus Corp レーザ顕微鏡
JP2012096268A (ja) * 2010-11-02 2012-05-24 Disco Corp レーザー加工装置
JP2012118270A (ja) * 2010-11-30 2012-06-21 Olympus Corp 短光パルスの光ファイバ伝送装置および光ファイバ伝送方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1073851A (ja) * 1996-04-25 1998-03-17 Imra America Inc 短光パルスの増幅装置および発生装置、非線形群速度分散ミスマッチの補正方法、ストレッチされた超短パルスの増幅装置、光学増幅装置およびその運転方法
JPH10186424A (ja) * 1996-12-13 1998-07-14 Imra America Inc 超短光パルスの伝達装置、発生装置および伝達方法
JP2002502061A (ja) * 1998-01-28 2002-01-22 コヒーレント・インク 超短パルス伝送および伝播のための装置
JP2002273583A (ja) * 2001-03-19 2002-09-25 Inst Of Physical & Chemical Res 透明媒質加工装置
JP2003279758A (ja) * 2002-03-25 2003-10-02 Hoya Photonics Corp フェムト秒レーザ伝送用ファイバ,フェムト秒レーザ伝送用ファイバを使用したレーザ加工装置及びレーザ加工方法。
JP2004351466A (ja) * 2003-05-29 2004-12-16 Aisin Seiki Co Ltd レーザ加工方法及びレーザ加工装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1073851A (ja) * 1996-04-25 1998-03-17 Imra America Inc 短光パルスの増幅装置および発生装置、非線形群速度分散ミスマッチの補正方法、ストレッチされた超短パルスの増幅装置、光学増幅装置およびその運転方法
JPH10186424A (ja) * 1996-12-13 1998-07-14 Imra America Inc 超短光パルスの伝達装置、発生装置および伝達方法
JP2002502061A (ja) * 1998-01-28 2002-01-22 コヒーレント・インク 超短パルス伝送および伝播のための装置
JP2002273583A (ja) * 2001-03-19 2002-09-25 Inst Of Physical & Chemical Res 透明媒質加工装置
JP2003279758A (ja) * 2002-03-25 2003-10-02 Hoya Photonics Corp フェムト秒レーザ伝送用ファイバ,フェムト秒レーザ伝送用ファイバを使用したレーザ加工装置及びレーザ加工方法。
JP2004351466A (ja) * 2003-05-29 2004-12-16 Aisin Seiki Co Ltd レーザ加工方法及びレーザ加工装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008268589A (ja) * 2007-04-20 2008-11-06 Olympus Corp 超短光パルスの光ファイバ伝送装置、およびこれを有する光学システム
JP2008292994A (ja) * 2007-04-23 2008-12-04 Olympus Corp レーザ顕微鏡
JP2012096268A (ja) * 2010-11-02 2012-05-24 Disco Corp レーザー加工装置
CN102554475A (zh) * 2010-11-02 2012-07-11 株式会社迪思科 激光加工装置
KR101745007B1 (ko) * 2010-11-02 2017-06-08 가부시기가이샤 디스코 레이저 가공 장치
TWI594830B (zh) * 2010-11-02 2017-08-11 Disco Corp Laser processing equipment (a)
JP2012118270A (ja) * 2010-11-30 2012-06-21 Olympus Corp 短光パルスの光ファイバ伝送装置および光ファイバ伝送方法

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