JP2006004428A - 品質制御装置およびその制御方法、品質制御プログラム、並びに該プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 品質制御装置10は、中間特性検査器5が計測した中間品の中間特性データと、最終特性検査器6が計測した完成品の最終特性データとを収集して記憶するデータ記憶部11と、記憶した最終特性データのデータ分布および最終特性検査器6に設定された最終特性規格値に基づいて、中間特性検査器5に設定する中間特性規格値を生成するとともに、生成した規格値を設定するように中間特性検査器5を制御する規格値生成部13とを備える。
【選択図】 図1
Description
dua=du×(σa/σ)=(Su−X ̄)×(σa/σ)、
dla=dl×(σa/σ)=(X ̄−Sl)×(σa/σ)。
Sua=Xa ̄+dua=Xa ̄+(Su−X ̄)×(σa/σ)、
Sla=Xa ̄−dla=Xa ̄−(X ̄−Sl)×(σa/σ)。
φ=(A0/A)1/2。
ここで、φは安全係数であり、Aは中間検査で不良品を排除したときの廃棄コストであり、A0は最終検査で不良品を排除した時の廃棄コストである。
Sua=Xa ̄+dua/φ=Xa ̄+(Su−X ̄)×(σa/σ)/φ、
Sla=Xa ̄−dla/φ=Xa ̄−(X ̄−Sl)×(σa/σ)/φ。
Sla=Xa ̄−dla×φ=Xa ̄−(X ̄−Sl)×(σa/σ)×φ。
(第1の制御データの平均値の変化量)=X(n)−X(n−1)。
(中間特性Aの平均値の変動量)=Y(n)−Y(n−1)、
(中間特性Aの分散の変動量)=Z(n)−Z(n−1)。
k1=(Y(n)−Y(n−1))/(X(n)−X(n−1))、
k2=(Z(n)−Z(n−1))/(X(n)−X(n−1))。
Xa^=k1×α+X ̄、
σa^=(k2×α+σ2)1/2。
Sua=Xa ̄+dua=Xa ̄+(Su−X ̄)×(σa/σ)、
Sla=Xa ̄−dla=Xa ̄−(X ̄−Sl)×(σa/σ)。
上述のように、Xa ̄=Xa^=k1×α+X ̄、σa=σa^=(k2×α+σ2)1/2なので、移動後の上限規格値と下限規格値は次式となる(S44)。
Sua=k1×α+X ̄+(Su−X ̄)×(k2×α+σ2)1/2/σ、
Sla=k1×α+X ̄−(X ̄−Sl)×(k2×α+σ2)1/2/σ。
(今回の制御値の設定値)=(前回の制御値の設定値)+(不良数が最小となる制御値の設定値の変更量)。
3・4 制御対象機器(計測機器)
5 中間特性検査器(計測機器)
6 最終特性検査器(計測機器)
10 品質制御装置
11 データ記憶部(記憶手段)
12 スケジューラ(対応付け手段)
13 規格値生成部(規格値生成手段、規格値設定制御手段)
14 影響度生成部(影響度生成手段)
15 影響度記憶DB(影響度記憶手段)
17 制御命令部(制御変更手段)
40 中間特性推定部(中間特性推定手段)
41 不良数推定部(不良数推定手段)
42 推定値評価部(変更量決定手段)
Claims (10)
- 所定の品質を有する製品を製造するために製造工程の制御を行う品質制御装置であって、
中間特性検査器が計測した中間品の中間特性データと、最終特性検査器が計測した完成品の最終特性データとを収集して記憶する記憶手段と、
該記憶手段が記憶した最終特性データのデータ分布と、上記最終特性検査器に設定された最終特性規格値とに基づいて、上記中間特性検査器が不良の中間品を排除するための判定基準である中間特性規格値を生成する規格値生成手段と、
該規格値生成手段が生成した規格値を設定するように上記中間特性検査器を制御する規格値設定制御手段とを備えることを特徴とする品質制御装置。 - 上記規格値生成手段は、上記最終特性データのデータ分布の平均値と、上記最終特性規格値との差分に基づいて上記中間特性規格値を生成することを特徴とする請求項1に記載の品質制御装置。
- 上記規格値生成手段は、上記最終特性データのデータ分布の平均値と上記最終特性規格値との差分に対する、上記記憶手段が記憶した中間特性データのデータ分布の平均値と上記中間特性規格値との差分の比率が、上記最終特性データのデータ分布のバラツキ値に対する、上記中間特性データのデータ分布のバラツキ値の比率となるように、上記中間特性規格値を生成することを特徴とする請求項2に記載の品質制御装置。
- 上記規格値生成手段は、さらに安全係数に基づいて上記中間特性規格値を生成することを特徴とする請求項1に記載の品質制御装置。
- 上記安全係数は、上記最終特性規格値に基づいて上記完成品を排除する場合の廃棄コストと、上記中間特性規格値に基づいて上記中間品を排除する場合の廃棄コストとに基づいて算出されることを特徴とする請求項4に記載の品質制御装置。
- 上記記憶手段は、上記中間特性データおよび上記最終特性データを、計測した時刻または収集した時刻とともに記憶しており、
計測した時刻または収集した時刻に、上記中間特性検査器および上記最終特性検査器同士の間で生じる無駄時間を考慮することにより、上記中間特性データおよび上記最終特性データの対応付けを行う対応付け手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の品質制御装置。 - 上記規格値生成手段は、上記規格値設定制御手段が上記中間特性検査器を制御してから所定時間経過した後に上記記憶手段が収集した上記中間特性データおよび上記最終特性データを利用して、次の規格値の生成を行うことを特徴とする請求項1に記載の品質制御装置。
- 所定の品質を有する製品を製造するために製造工程の制御を行う品質制御装置の制御方法であって、
上記品質制御装置は、中間特性検査器が計測した中間品の中間特性データと、最終特性検査器が計測した完成品の最終特性データとを収集して記憶する記憶手段を備えており、
該記憶手段が記憶した最終特性データのデータ分布と、上記最終特性検査器に設定された最終特性規格値とに基づいて、上記中間特性検査器が不良の中間品を排除するための判定基準である中間特性規格値を生成する規格値生成ステップと、
該規格値生成ステップにて生成した規格値を設定するように上記中間特性検査器を制御する規格値設定制御ステップとを含むことを特徴とする品質制御装置の制御方法。 - 請求項1ないし7の何れか1項に記載の品質制御装置を動作させるための品質制御プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための品質制御プログラム。
- 請求項9に記載の品質制御プログラムが記録されたコンピュータ読取り可能な記録媒体。
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