JP2005516729A - 収差を伴なう水晶体を切削するための閉ループ・システムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2002年2月11日に出願し、その全開示をここに参照で組み入れる「Closed Loop System and Method for Ablating Lenses with Aberrations」という表題の米国仮特許出願番号60/356,672号の恩典を権利主張するものである。
S1=0.6×Z−1 5+1.0×Z2 6
S2=0.6×Z−3 3+1.0×Z−1 5
である。
A×f(r)×cos(θ+δ)=A×f(r)×(cos(δ)cos(θ)−sin(δ)sin(θ))
A×f(r)×sin(θ+δ)=A×f(r)×(cos(δ)sin(θ)+sin(δ)cos(θ))
ここでδは回転方向の位置ずれであり、Aは係数であり、rは半径座標であり、f(r)は半径の関数であり、θは角度座標である。
Claims (36)
- レーザ・システムの性能を試験するための閉ループの方法であって、
レンズ材料の表面上で所定の光学表面を切削する工程、
測定されたレンズ材料の光学表面を決定するために、切削された光学表面を測定する工程、および
測定された光学表面を所定の光学表面と比較する工程を含む方法。 - 所定の光学表面が波面昇降表面によって表わされる請求項1に記載の方法。
- 波面昇降表面が所定のゼルニケ多項級数によって表わされる請求項2に記載の方法。
- 作り出された所定の波面昇降表面を使用して処理の一覧表を作成する工程を含み、処理の一覧表を使用して切削が実行される請求項3に記載の方法。
- 切削光学表面を測定する工程がレンズ材料の切削光学表面の波面昇降表面を測定する工程を含む請求項3に記載の方法。
- 切削光学表面の測定された波面昇降表面をゼルニケ多項級数として表わす工程を含む請求項5に記載の方法。
- 測定された光学表面を所定の光学表面と比較する工程が、測定されたゼルニケ多項級数を所定のゼルニケ多項級数と比較する工程を含む請求項6に記載の方法。
- 波面昇降表面が所定のテーラー多項級数、表面昇降マップ、および測定された勾配領域のうちの少なくとも1つによって表わされる請求項2に記載の方法。
- レンズ材料がプラスチック・レンズを含む請求項1に記載の方法。
- 所定の光学表面に対する測定された光学表面の間の差異を補償するためにレーザ・システムを調整する工程を含む請求項1に記載の方法。
- 調整されたレーザ・システムで患者の眼球を治療する工程を含む請求項10に記載の方法。
- レンズを切削するための閉ループのシステムであって、
レンズ材料上に所定の光学表面を切削するレーザ・システム、
レンズ材料上の切削された光学表面を測定する波面測定システム、および
測定された切削光学表面を所定の光学表面と比較するように構成されたプロセッサを含むシステム。 - 波面測定システムがHartmann−Shackセンサを含む請求項12に記載のシステム。
- 測定された切削光学表面と所定の光学表面が波面昇降表面として表わされる請求項12に記載のシステム。
- プロセッサが、測定された切削光学表面と所定の光学表面をゼルニケ多項級数として表わすように構成される請求項14に記載のシステム。
- プロセッサが、所定の光学表面に対する測定された切削光学表面の間の差異を補償するように調整可能なモジュールを含む請求項12に記載のシステム。
- プロセッサが、所定の波面昇降表面を表わすゼルニケ多項級数を受け取るように構成される請求項12に記載のシステム。
- プロセッサが、所定の波面昇降表面に基づいて切削処理を計算するように構成される請求項17に記載のシステム。
- プロセッサが、
測定された切削光学表面を表わすゼルニケ多項級数を計算するように構成されるモジュールを含み、
プロセッサが測定された切削光学表面を所定の光学表面と比較する工程が、測定された切削光学表面を表わすゼルニケ多項級数と所定の波面昇降表面を表わすゼルニケ多項級数を比較する工程を含む請求項18に記載のシステム。 - レーザ・システムの性能を試験するためのシステムであって、
レンズ材料の表面に所定の光学表面を切削する手段、
レンズ材料の測定された光学表面を決定するために、切削された光学表面を測定する手段、および
測定された光学表面を所定の光学表面と比較する手段を含むシステム。 - レーザによる眼屈折手術システムの性能を評価するための閉ループの方法であって、
所定の光学表面を決定するために光学収差のセットを選択する工程、
レーザによる眼屈折手術システムの角膜再整形レーザ・システムに命令を出して所定の光学表面を作り出すためにソフトウェアに光学収差のセットを入力する工程、
ソフトウェアを使用して、レーザによる眼屈折手術システムの角膜再整形レーザ・システムで光学材料を切削する工程、および
測定された光学表面を所定の光学表面と比較する工程を含む方法。 - 所定の光学表面が波面昇降表面によって表わされる請求項21に記載の方法。
- 波面昇降表面が所定のゼルニケ多項級数によって表わされる請求項22に記載の方法。
- 入力する工程が、波面昇降表面を使用して処理の一覧表を作り出す工程を含み、処理の一覧表を使用して切削が実行される請求項23に記載の方法。
- 切削光学表面を測定する工程が光学材料の切削光学表面の波面昇降表面を測定する工程を含む請求項23に記載の方法。
- 切削光学表面の測定された波面昇降表面をゼルニケ多項級数として表わす請求項25に記載の方法。
- 測定された光学表面を所定の光学表面と比較する工程が、測定されたゼルニケ多項級数を所定のゼルニケ多項級数と比較する工程を含む請求項26に記載の方法。
- 光学材料がプラスチック・レンズを含む請求項21に記載の方法。
- 所定の光学表面に対する測定された光学表面の間の差異を補償するためにレーザによる眼屈折手術システムの角膜再整形レーザ・システムを調整する工程を含む請求項21に記載の方法。
- レーザによる眼屈折手術システムの調整されたレーザ・システムで患者の眼球を治療する請求項29に記載の方法。
- レーザによる眼屈折手術システムの性能を評価するための閉ループの方法であって、
収差の所定のセットによって表わされる光学表面を選択する工程、
選択された光学表面を光学材料上に作り出すためにレーザによる眼屈折手術システムの角膜再整形レーザ・システム用のソフトウェア・アプリケーションで命令を作成する工程、
作成された命令を使用して光学材料に所定の光学表面を切削する工程、
所定の光学表面の切削光学表面をレーザによる眼屈折手術システムの眼球屈折器で測定する工程、および
測定された光学表面を所定の光学表面と比較する工程を含む方法。 - レーザによる眼屈折システムの性能を評価するための閉ループのシステムであって、
所定の光学表面を作製する切削エネルギーを供給するように構成される角膜再整形レーザ・システム、
切削エネルギーを受ける光学材料、
光学材料上に作製された光学表面を測定するように構成される波面眼球屈折器システム、および
角膜再整形レーザ・システム用の命令を走らせるプロセッサを含み、プロセッサが、測定された光学表面を所定の光学表面と比較するように構成されるシステム。 - 波面眼球屈折器システムがHartmann−Shackセンサを含む請求項32に記載のシステム。
- 光学材料がプラスチック・レンズを含む請求項33に記載のシステム。
- 波面眼球屈折器が光学表面を波面昇降表面として表わす請求項33に記載のシステム。
- 波面昇降表面が所定のゼルニケ多項級数によって表わされる請求項35に記載のシステム。
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