JP2005511079A - 自動電気穿孔最適化システム - Google Patents

Abstract

電気穿孔システムの最適化を自動的に実行するシステム、方法、及びアルゴリズムである。本発明によるシステムは、通常、複数の電気穿孔キュベット（８５）を保持するべく構成されたキュベット保持アセンブリ（８０）を含んでおり、それぞれのキュベットは、第１及び第２電極を含み、ショッキングチャンバ（７５）が、キュベット保持アセンブリを保持するべく構成されており、このチャンバは、複数のキュベットのそれぞれの第１電極に順番に電気的接触を提供するべく構成された整流子アセンブリを有している。又、このシステムは、通常、ショッキングチャンバに通信可能に接続された制御システムを含んでおり、この制御システムは、整流子（１００）を制御して、それぞれのキュベットの第１電極と順番に自動的に接触させ、接触の際にキュベット電極間に電位を供給する。

Description

（関連出願に対する参照）
本発明は、２００１年１２月６日付けで出願された「自動電気穿孔最適化システム（ＡＵＴＯＭＡＴＩＣ ＥＬＥＣＴＲＯＰＯＲＡＴＩＯＮ ＯＰＴＩＭＩＺＡＴＩＯＮ ＳＹＳＴＥＭ）」という名称の米国仮特許出願第６０／３３７，０９５号の利益を主張するものであり、この開示内容は、本引用により、そのすべてが本明細書に包含される。
本発明は、一般に、電気穿孔システムに関し、更に詳しくは、電気穿孔プロセスを自動的に最適化するシステム及び方法に関するものである。又、本発明は、電気穿孔システムと共に使用する携帯型データ転送装置にも関するものである。

電気穿孔プロセス又は実験の効率に大きな或いは小さな変化を引き起こすパラメータにはいくつかのものが存在している。大きな変化を引き起こす可能性のあるパラメータには、選択した実際の生体、生体の標本、挿入対象の遺伝子又はその他のＤＮＡ、波形（例：方形波又は指数）、電界強度（即ち、電界の強さであり、実際のパルス振幅とサンプルキュベット電極の間隔によって決定される）、及び時定数（即ち、パルス長）が含まれる。

一方、小さな変化を引き起こす可能性のあるパラメータには、生体の系統におけるわずかな違い、標本及び標本成分におけるわずかなばらつき、及び電気穿孔装置パラメータにおけるわずかなばらつき（実際の装置の仕様の範囲に収まっているもの）が含まれる。

従って、（通常、将来の比較研究のために）最大効率を見いだすには、最適化実験を実施する必要がある。このような最適化実験は、一般には、手作業で実施されており、通常、電気穿孔装置パラメータのわずかに異なる設定により、サンプルの部分標本に対して電気穿孔を実行する段階を含んでいる。当然のことながら、これは、各パルスを印加する前に、電気穿孔機をわずかに異なるパラメータに設定しなければならないことを意味している。必要な変更を様々な装置設定に対して加えるには時間を所要し、操作者の誤りが生じる可能性がある。

従って、電気穿孔システムの最適化を自動的に実行するシステム及び方法を提供することが望ましい。

本発明は、電気穿孔システムの最適化を自動的に実行するシステム、方法、及びアルゴリズムを提供するものである。一態様によれば、操作者は、まず、電気穿孔システムにおいて自動最適化モードを選択する。波形（指数又は方形）、パルスの数、パルス幅、実験当たりのポイント数、Ｈｉ Ｖｏｌｔｓ（実験における最大電圧）、Ｌｏ Ｖｏｌｔｓ（実験における最小電圧）、及びＣａｐ（実験を実施する静電容量）などの様々なシステムパラメータを選択可能なセットアップ画面がディスプレイ上に提供される。パラメータとして、サンプルの抵抗、サンプルと並列接続される抵抗、及び時定数などのその他のパラメータを追加し制御することも可能である。最適化アルゴリズムが電気穿孔システムを制御して、１回、２回、又はこれを上回る回数の実験を実行し、それぞれの実験には、一連の電気穿孔が含まれている。それぞれの実験により、最適化画面からの入力パラメータを使用して曲線をプロットすることができる。そして、２つの曲線により、２つのパラメータの値を調べ、２つの曲線が交差する地点における最適条件を識別することができる。

キュベットカルーセル構成と共に使用するべく、整流子アセンブリも提供される。特定の態様においては、キュベットカルーセルは、回転せずに静止状態に留り、整流子アセンブリが回転する。キュベットは回転せず、整流子フィンガがそれぞれのキュベットに接触する。

携帯型データ転送システム及び装置も提供される。本発明のこの携帯型データ転送システム及び装置は、（１）携帯型ユニットを使用して高電圧の電気穿孔装置とデスクトップコンピュータ間においてデータを移送することによって安全問題を除去し、（２）携帯型ユニットを使用した最適化ルーチンからのデータの自動収集を内蔵し、（３）製品の自動的なデモンストレーションを実現する簡単且つ安価な手段を提供し、（４）周辺／室内光の影響が赤外線放射に及ぶことを防止するフィルタを内蔵し、（５）すべてのＤＮＡ及び蛋白質装置内に安価に内蔵可能な汎用システムを提供し、（６）長期間にわたってサポート可能な簡単な携帯型ユニットを提供することを含む様々な利点を提供する。

本発明の一態様によれば、自動電気穿孔システムが提供される。このシステムは、通常、複数の電気穿孔キュベットを保持するべく構成されたキュベット保持アセンブリを含んでおり、それぞれのキュベットは、第１及び第２電極を含み、ショッキングチャンバがキュベット保持アセンブリを保持するべく構成されており、このチャンバは、複数のキュベットのそれぞれの第１電極に順番に電気的接触を提供するべく構成された整流子アセンブリを有している。又、このシステムには、通常、ショッキングチャンバに通信可能に接続された制御システムも含まれており、この制御システムは、整流子を制御してそれぞれのキュベットの第１電極に順番に自動的に接触させ、接触の際にキュベット電極間に電位を供給する。

本発明の別の態様によれば、電気穿孔システムと共に使用するべく、携帯型データ転送装置が提供される。この装置は、通常、光学データポートを有するべく構成された電気穿孔装置との間で光学データ信号を送受信するべく構成された光学データポートを含んでいる。又、この装置には、通常、データを保存するためのメモリと、ユーザー入力コマンドを受領するためのユーザー入力モジュールも含まれている。動作の際には、ユーザーが電気穿孔装置の近傍に本装置を配置すると、本装置は、ユーザーから受信したダウンロードコマンドに応答して、保存されているデータを電気穿孔装置に送信すると共に、ユーザーから受信したアップロードコマンドに応答して、保存されているデータを電気穿孔装置から受信する。

本発明の更に別の態様によれば、通常、データ及びコマンドを送受信するデータポートを有するべく構成された電気穿孔ユニットを含む電気穿孔システムが提供され、この電気穿孔ユニットは、複数のキュベットのそれぞれの第１電極に順番に電気的接触を提供するべく構成された整流子アセンブリを含んでいる。又、このシステムには、データ及びコマンドを送受信するデータポートを有するべく構成された携帯型データ転送装置と、データ及びコマンドを送受信する１つ又は複数のデータポートを有するべく構成されたコンピュータシステムも含まれており、このコンピュータシステムは、ユーザー入力パラメータに応答して、電気穿孔ユニットにおける電気穿孔実験の実験パラメータを判定する最適化モジュールを実行する。このコンピュータシステムは、通常、ユーザー入力パラメータの第１の組に応答して実験パラメータの第１の組を自動的に判定するべく構成されており、ユーザーは、コンピュータの１つ又は複数のデータポートの中の１つを使用して、この実験パラメータの第１の組を携帯型データ転送ユニットにダウンロードする。そして、ユーザーは、携帯型データ転送装置を使用して、この実験パラメータの第１の組を電気穿孔ユニットに転送し、この結果、電気穿孔ユニットは、この受信した実験パラメータに応答して、キュベット上で一連の電気穿孔実験を実施する。

本発明の更なる態様によれば、電気穿孔実験を最適化するためのコードを含むコンピュータ可読媒体が提供される。このコードは、通常、処理モジュールを制御し、１つ又は複数のパラメータの所望の値を入力するべくユーザーに対して要求すると共に、このユーザー入力値に応答して電気穿孔実験の実験パラメータを自動的に判定する命令を含んでいる。

本発明の更なる態様によれば、複数の電気穿孔キュベットを保持するキュベット保持装置が提供される。この装置には、通常、カルーセル形状の本体と、この本体上に円形の配列で配置された複数のキュベット収容要素と、が含まれている。

図面、請求項、及び付属書を含む本明細書の残余の部分を参照することにより、本発明のその他の特徴及び利点について理解されよう。以下、本発明の更なる特徴及び利点、並びに本発明の様々な実施例の構造及び動作について、添付の図面との関連で、詳細に説明する。尚、これらの図面においては、類似の参照符号により、同一又は機能的に類似の要素を示している。

（自動最適化システム）
図１３は、本発明の一実施例による電気穿孔システムと共に使用する自動最適化システムを示している。図示のごとく、この自動最適化システムは、インテリジェンスモジュール１０（例：コンピュータシステム、ＡＳＩＣ、マイクロプロセッサなど）、ディスプレイ２０（例：モニター、ＬＥＤディスプレイなど）、及びユーザー入力装置３０（例：マウス、キーボード、ボタンなど）を含んでいる。インテリジェンスモジュール１０とその他のコンポーネントは、スタンドアロンであるか、或いは、図１３に示されているように、ネットワークに接続されたコンピュータシステムの一部であってよい。又、これらは、電気穿孔システム又は装置４０に直接装着したり、或いは、内蔵することも可能である。好適な態様においては、インテリジェンスモジュール１０は、マイクロプロセッサモジュール５５内で稼働する最適化ソフトウェアモジュール５０を含んでいる。一実施例によれば、このアプリケーションモジュール５０は、本明細書において説明するように、ユーザー入力パラメータに部分的に基づいて電気穿孔実験を最適化及び制御する命令を含んでいる。アプリケーション５０は、好ましくは、ダウンロードされ、メモリモジュール６０（例：ハードドライブ、或いはローカル又は装着されたＲＡＭやＲＯＭなどのその他のメモリ）内に保存されるが、フロッピーディスク、ＣＤ、及びＤＶＤなどのソフトウェア保存媒体によってアプリケーションモジュール５０を提供することも可能である。一実施例において、アプリケーションモジュール５０は、データポート６５を通じてデータをやり取りしたり、ディスプレイ２０上に表示を描画したり、ネットワーク接続又は直接接続を介して、或いは、本明細書において説明するように、例えば、携帯型装置を介して間接的に電気穿孔システム４０とインターフェースしてその動作を制御したり、データ（例：パラメータ、実験結果など）をメモリに保存（或いは、メモリから取得）したりするなどのデータコンテンツを処理する様々なソフトウェアモジュールを含んでいる。尚、本発明の態様を実装するコンピュータコードは、Ｃ、Ｃ＋＋、Ｊａｖａ、Ｖｉｓｕａｌ Ｂａｓｉｃ、及びその他のものなどのコーディング言語、又はＶＢＳｃｒｉｐｔ、ＪａｖａＳｃｒｉｐｔ、Ｐｅｒｌなどのスクリプト言語、又はＸＭＬなどのマークアップ言語によって実装可能であることを理解されたい。又、本発明の態様によるデータ及びコマンドの外部及び内部保存、並びに伝送においては、様々な言語及びプロトコルを使用可能である。

一実施例において、自動最適化システムアプリケーションは、次のように動作する。

（１）操作者が自動最適化モードを選択する。

（２）グラフィカルなＬＣＤなどのディスプレイ画面２０が、波形（指数又は方形）、パルスの数、パルス幅、実験当たりのポイント数、Ｈｉ Ｖｏｌｔｓ（実験における最大電圧）、Ｌｏ Ｖｏｌｔｓ（実験における最小電圧）、及びＣａｐ（実験を実施する静電容量）などの様々なシステムパラメータを選択可能なセットアップ画面を表示する。尚、パラメータとして、サンプルの抵抗、サンプルと並列接続される抵抗、及び時定数などのその他のパラメータを追加して制御することも可能である。このようなパラメータは、例えば、２００１年１２月６日付けで出願された米国仮特許出願第６０／３３７，１０３号に対する優先権を主張する本出願と同日付で出願された同時係属中の米国特許出願第１０／［］（Ａｔｔｙ． Ｄｏｃｋｅｔ Ｎｏ． ００２５５８−０６６７１０ＵＳ）（いずれも、名称は「電気穿孔装置用の抵抗回路安定化及びパルス持続時間制御システム（ＲＥＳＩＳＴＡＮＣＥ ＣＩＲＣＵＩＴ ＳＴＡＢＩＬＩＺＡＴＩＯＮ ＡＮＤ ＰＵＬＳＥ ＤＵＲＡＴＩＯＮ ＣＯＮＴＲＯＬ ＳＹＳＴＥＭ ＦＯＲ ＥＬＥＣＴＲＯＰＯＲＡＴＩＯＮ ＩＮＳＴＲＵＭＥＮＴＳ）」である）に開示されているように、自動的に判定可能である（これらの内容は、本引用により、いずれもそのすべてが本明細書に包含される）。

（３）最適化画面の一例は、次のとおりである。

実験１ 実験２
波形 −− −−
パルス数 −− −−
パルス幅 −− −−
パルス間隔 −− −−
ポイント数／実験 −− −−
Ｈｉ Ｖｏｌｔｓ −− −−
Ｌｏ Ｖｏｌｔｓ −− −−
Ｃａｐ −− −−

最適化アルゴリズム５０は、電気穿孔システム４０を制御して、１回、２回、又はこれを上回る回数の実験を実施し、それぞれの実験は、一連の１回又は複数回の電気穿孔を含んでいる。これらの実験により、最適化画面からの入力パラメータを使用して曲線をプロットすることができる。そして、２つの曲線を処理することにより、２つのパラメータの値を調べ、２つの曲線が交差する地点における最適条件を識別することができる。例えば、電圧は、敏感なパラメータであることが多い。一般には、電気穿孔実験の効率が最大になる電圧の検出を所望する。但し、その他のパラメータ（静電容量など）の中にも、興味の対象になり得るものが存在する。当然のことながら、目標とするところは、最良の結果をモータらすパラメータの組を見いだすことであり、これらのパラメータは、通常、特定の細胞及びベクトルの将来の実験に使用されることになる。その他の研究者が公表した手順をユーザーが再現する場合にも、前述の潜在的な変数のために、最適化実験を実施することが必要になる場合が多い。

一例として、指数波形を選択することができよう（例えば、指数と方形の間を切り替えることも可能であるが、好ましくは、指数が既定値である）。本システムは、実験２についても、既定値として指数を自動的に設定する（これは、必要に応じて変更可能である）。パルス数は、（両方の実験において）既定値として１に自動的に設定されるが、これも必要に応じて変更可能である。１パルス／サンプルが、望ましい通常のセットアップである。そして、パルス幅は指数波形には適用されないため、次に、ポイント数／実験（例：１０〜２５又はこれ以上）を入力する。パルス数として２５が入力されたとしよう（同じ数が、実験２についても自動的に入力されるが、これも、ユーザーが変更可能である）。次に、ユーザーが、Ｈｉ Ｖｏｌｔｓに対して１．８ＫＶを、Ｌｏ Ｖｏｌｔｓに対して１．２ＫＶを入力したとしよう。通常は、実験２についても同一の電圧範囲の使用を所望するため、これらの入力値は、好ましくは、既定値として実験２についても設定される（これも、ユーザーが変更可能である）。そして、最適化に対する静電容量の影響にも興味があるとしよう。この場合には、実験１に対して、ある静電容量（例：２５ｍｆｄ）を、実験２に対しては、異なる静電容量（例：５０ｍｆｄ）を入力可能である。

表示されているこのわずか５つのパラメータを比較的迅速に入力した後に、最適化アルゴリズムは、電気穿孔システムを自動的にセットアップし、ユーザーが入力した電圧範囲に対応する（この例においては、１．２ＫＶ〜１．８ＫＶの）一連のパルスを連続的に供給する。本システムは、選択されたパルス数に基づいて所与の範囲の電圧間隔を判定し、電気穿孔システムを制御して、次のように、サンプル／キュベットにパルスを供給する（この例においては、システム設定精度は、０．０１ＫＶである。即ち、本システムにより、次の０．０１ＫＶの電圧増分単位に丸められる）。

静電容量：２５ｍｆｄ
（ａ） １．２ＫＶ
（ｂ） １．２３ＫＶ
（ｃ） １．２５ＫＶ
（ｄ） １．２８ＫＶ
（ｅ） １．３ＫＶ
（ｆ） １．３３ＫＶ
（ｇ） １．３５ＫＶ
（ｈ） １．３８ＫＶ
（ｉ） １．４ＫＶ
（ｊ） １．４３ＫＶ
（ｋ） １．４５ＫＶ
（ｌ） １．４８ＫＶ
（ｍ） １．５ＫＶ
（ｎ） １．５３ＫＶ
（ｏ） １．５５ＫＶ
（ｐ） １．５８ＫＶ
（ｑ） １．６ＫＶ
（ｒ） １．６３ＫＶ
（ｓ） １．６５ＫＶ
（ｔ） １．６８ＫＶ
（ｕ） １．７ＫＶ
（ｖ） １．７３ＫＶ
（ｗ） １．７５ＫＶ
（ｘ） １．７８ＫＶ
（ｙ） １．８ＫＶ

静電容量：５０ｍｆｄ
（ａ） １．２ＫＶ
（ｂ） １．２３ＫＶ
（ｃ） １．２５ＫＶ
（ｄ） １．２８ＫＶ
（ｅ） １．３ＫＶ
（ｆ） １．３３ＫＶ
（ｇ） １．３５ＫＶ
（ｈ） １．３８ＫＶ
（ｉ） １．４ＫＶ
（ｊ） １．４３ＫＶ
（ｋ） １．４５ＫＶ
（ｌ） １．４８ＫＶ
（ｍ） １．５ＫＶ
（ｎ） １．５３ＫＶ
（ｏ） １．５５ＫＶ
（ｐ） １．５８ＫＶ
（ｑ） １．６ＫＶ
（ｒ） １．６３ＫＶ
（ｓ） １．６５ＫＶ
（ｔ） １．６８ＫＶ
（ｕ） １．７ＫＶ
（ｖ） １．７３ＫＶ
（ｗ） １．７５ＫＶ
（ｘ） １．７８ＫＶ
（ｙ） １．８ＫＶ

従って、（この例においては）わずかに５つのパラメータの入力により、５０データポイントが自動的にセットアップされている。しかしながら、通常は、それぞれのパルス条件ごとに、パルスボタンを押下し、古いキュベットを除去した後に、新しいキュベットを装填する必要がある。従って、このような手作業によるパルスの生成とキュベットの交換をなくして、更に時間を節約すると共に操作者の効率を向上させることが更に望ましい。

本発明の別の実施例によれば、自動前進ショッキングチャンバが提供される。図１、図５Ａ、図５Ｂ、及び図６は、本発明の一実施例によるショッキングチャンバ７５とキュベットカルーセルの態様を示している。このような自動前進ショッキングチャンバ７５は、好ましくは、カルーセル８０を収容するような形状で構成されているが、その他の形状にすることも可能である。カルーセル８０（及び、従って、チャンバ７５）は、好ましくは、複数（例：最大５０以上）のキュベット８５をキュベット保持空間９０内に保持するべく構成されている。又、チャンバ７５には、好ましくは、例えば、青氷を使用してキュベットを冷却状態に維持する手段も含まれている。一実施例において、チャンバ７５は、カルーセルをキュベットごとに前進させて、それぞれのキュベットごとに、ショッキング電極と接触させるべく、ソレノイドなどのモータとラチェット／歯止めメカニズムを含んでいる。キュベットを前進させる時点に到達すると、ソレノイドは、電気穿孔システムからパワーパルスを受領する。この自動前進ショッキングチャンバが実装されている場合には、例えば、パルスボタンを押下することにより、それぞれのパルスの自動供給が開始され、次のパルスに遅れることなく、次のキュベットに前進する。従って、この実施例において、セットアップのために必要とされるのは、（５つの）パラメータを入力し、パルスボタンを押すことのみである。これは、明らかな時間節約手段であり、電気穿孔を実行する際の潜在的なセットアップの誤りが防止されることになる。一実施例においては、パルスを供給する前に、それぞれの新しいパルスのパルス条件が表示される。同様に、１組のパルスの終了時点においては、そのパルスの組の反復、個別のパルス、又はパルス供給セッションの終了からなる選択肢が操作者に対して付与される。

又、特定の期間内に、サンプルに対してなんらかの化学薬品を添加しなければならないために、多数のキュベットを順番に電気穿孔できない場合も存在する。従って、一実施例においては、操作者は、できるだけ多くの実際的な数のキュベットを装填し、自動前進を起動する。但し、カルーセル８０内の最初の空のキュベット空間９０に到達すると、本システムは停止する。例えば、特定の態様においては、本システムは、サンプルの抵抗を計測し、キュベットが存在しているかどうかを判定する。この段階で、これらの第１のキュベットを取り外し、化学薬品を添加した後に、次のバッチをカルーセルに装填する。この自動ルーチンは、パルスボタンを押すと、以前に中止した場所から再開するべく構成されている。

本発明によるこのアルゴリズムによれば、キーストロークが大幅に節約されると共に、それぞれのパルスごとにシステム設定を事前に変更する場合に発生し得る入力誤りが潜在的に防止される。又、それぞれの設定の実行に要する遅延がなくなるため、繊細な細胞に対する潜在的な損傷が防止される。最後に、一実施例においては、それぞれのパルスごとに、実際に実現されたパラメータ（例：電圧と時定数）を保存し、最適化実験のすべての結果をメモリユニット、プリンタ、又はコンピュータに出力する。この結果、更に時間が節約されると共に、潜在的な筆写による誤りが減少する。

電気穿孔実験を実施する際には、多数の個別のデータポイント（及び、従って、キュベット）を使用することができる。特定の態様によれば、次のとおりである。

（１）ユーザーは、最適化実験ための細胞のタイプと媒質を選択する。保存されている電気手順（Ｅｌｅｃｔｒｏｐｒｏｔｏｃｏｌ）により、開始点を提供可能である。

（２）キュベットは、既にカルーセル内に配置され、待機状態にある。カルーセルをショッキングチャンバ内に配置し、ドアを閉じる。ゲルパックによって冷却状態を維持する。

（３）スプリング駆動モータからパワーを供給する。

（４）ショッキングチャンバ本体には、位置間の移動を実現する小さなリリースソレノイドが格納されている。

（５）システムが、キュベット数の入力を受領し、キュベット数に応じて、電圧或いは電圧及びＲＣを最適化する。ＩＲポートからデータをダウンロードする。

（６）システムが公称値周辺の設定を選択する。パルス供給を開始し、自動的に終了する。警報を発する。

標準的な実験の場合には、次のとおりである。

（１）オフィスコンピュータにおいて実験手順ををセットアップし、プログラマにダウンロードする。

（２）プログラマが、データを電気穿孔システムにアップロードする。

（３）カルーセルを挿入する。

（４）パルス供給を開始する。

（５）自動的に完了し、警報を発する。

（６）ＩＲにより、データをプログラマにダウンロードする。

様々なカルーセルを構成し、様々なキュベットタイプに対応することができる。

特定の態様においては、最適化された電気穿孔実験を完全に自動的に実施する必要はない。例えば、１つのキュベットを保持するべく構成された標準的な電気穿孔装置の場合には、それぞれの実験又はパルスごとに、異なるキュベットをシステム内に配置するようにユーザーに対して要求し、本アルゴリズムは、システムを制御して、その挿入されたキュベットに対して所望のパルスを供給することになる。又、本システム又はアルゴリズムは、ショッキングチャンバ内にそれぞれのキュベットを順番に配置するようにユーザーに対して要求するべく構成することも可能である。

（キュベットカルーセル及び整流子アセンブリ）
この最適化システムの自動化部分を実装するべく、一実施例によれば、次のような特徴を含むキュベットホルダが提供される。

（１）ユーザーが高電圧に接触することのないようにインターロックされている。

（２）複数の（例：最大５０個以上の）キュベットを収容する。

（３）それぞれのキュベットに対して順番に整流する。

（４）キュベットの冷却のために青氷ポケットを提供する。

（５）比較的小さなモータ（例：最大１Ａ／１２Ｖ）を使用する。

尚、好適な態様においては、このキュベットホルダは、前述のように丸いカルーセル様の形状になっているが、別の形状を実装することも可能であることを理解されたい。本発明の電気穿孔（トランスフェクション）システムは、キュベットカルーセルにインターフェースするためのハードウェア及びソフトウェアを含んでいる。これらの手段により、ユーザーは、最適化実験を（前述のように）開始し、キュベットに対して自動的にパルスを印加することができる。ユーザーは、最適化プログラムにアクセスし、必要なパラメータを入力し、キュベットをカルーセル内に挿入し、蓋を元に戻し（即ち、閉じ）、パルス又は開始ボタンを押すことにより（或いは、その他の方法により）実験を開始する。本システムは、わずかに異なる設定により、それぞれのキュベットにパルスを印加し、キュベットを次の位置に前進させる。これは、大幅な時間節約手段であり、それぞれのパルスごとに電気穿孔機を設定することに伴う誤りが除去される。そして、それぞれのパルスごとに、最適化実験の終了時点における検索及び／又は保存のために、データが収集される。

図１〜図６に示されているように、本発明の一実施例によれば、キュベットカルーセル構成（図１、図５〜図６）と共に使用するべく、整流子アセンブリ１００（図３）が提供される。好適な態様においては、キュベットカルーセルは、回転せずに、静止状態に留まり、整流子アセンブリ１００が回転する。キュベットは、回転せずに、整流子フィンガ１１０がそれぞれのキュベットに接触するのである。このフィンガ１１０は、軽量のアセンブリであり、これにより、本システムに要求されるトルクを軽減している。又、キュベットが回転しないため、このアセンブリは、水平に維持する必要はない（例えば、冷却状態に維持するべく、積み重ねた氷の上に本アセンブリを配置することができる）。

一実施例において、本システムは、操作者が高電圧に接触することを防止するべく、二重安全装置を有するインターロックを含んでいる。図３に示されているように、整流子アセンブリは、好ましくは、蓋１２０と一体化されている。蓋を外すと、負の接点１２５（例えば、ロングスローコネクタであり、これは、バランス及び機械的なラッチのために２つを含むことができる）が切断され、インターロックフィンガ１３０が整流子アセンブリ１００内の孔１３５から引き出される。そして、インターロックフィンガ１３０が孔１３５内において引っ張られると、内部接点１４０がスリップリングアセンブリ１４５から離れることになる（この結果、必要な離隔（例：０．６インチ以上）が生成される）。これにより、整流子フィンガ１１０の先端の正の電極１５０が切断される。この結果、高電圧の両側が切断されることになる。

一実施例において、本システムは、短絡したキュベット位置に整流子フィンガを移動させることにより、ホーム位置を検出する。モータは、短絡接点が検出されるまで、整流子フィンガを段階的に前進させる。この結果、整流子アセンブリが除去位置に位置することになる。本システムは、短絡により、モータ（例：ステッパ）が整流子フィンガを正しい位置に移動させていることを知ることができる。低抵抗を標識とするほうが、高抵抗に比べて、信頼性が高い。キュベットのサンプルは、低い抵抗値（例：最低約２０オーム）を有しているはずである。しかしながら、高抵抗サンプルの場合には、開路を計測する能力を上回ることになろう。正しい位置に整流子を設定することにより、適切な精度により、それぞれのキュベット電極の略中心に段階的に前進することが可能になる。

この短絡法に伴う問題点の１つは、小さな整流子上において、キュベット位置間の距離が小さいことである。図７に示されているように、絶縁体を配置することも可能であるが、良好な精度を具備することが必要になろう。本発明による通常の構成においては、５０キュベットの場合に、それぞれのキュベット位置は、次のものから約０．０５０”になっている。従って、１つのキュベット位置を犠牲にし（この場合にも、依然として、５０キュベットを実現する）、図８に示されているように、短絡接点を配設する。この結果、円周が大きくなり、短絡精度の問題が除去される。

又、不注意によって定位置から外れた場合に、キュベット整流子フィンガ１１０を前後に移動させる移動モードがソフトウェアによって提供されている。基本的に、整流子フィンガは、負のコネクタアセンブリに「キス」するべく移動し、この負のコネクタは、好ましくは、１つのキュベット位置のみを「占有」するべく設計されている。

整流子アセンブリ内においてホーム復帰を実行する場合に要するものと比べ、カルーセルの円周上において正しい位置を検出することにより、寸法上の精度が軽減される。電気穿孔システムの抵抗回路は、５〜１０Ωの範囲内の適切な精度の読み取りを行う能力を有している。開路を検出する方法を採用した場合には、この抵抗回路は、開路と高抵抗キュベットの抵抗値間の違いを弁別できないため、十分な範囲を有することにならないであろう。

一実施例において、整流子アセンブリ１００は、モータ１６０による連続的な或いは段階モードにおける作動を実現する回路を含んでいる。９８％のデューティサイクルのパルス列をモータに対して（１２Ｖ電源によって）供給した場合に、モータは、基本的に連続的に移動する。このモードを使用して、ホーム位置（短絡したキュベット）を検出する。一定の期間（例：０．７５秒）にわたってライン（例：１２Ｖ）を接続した後にラインを切断することにより、モータが作動し、スロットを有するリミットスイッチ１６６を翼板１６８が遮断した時点で、モータは停止する。歯車列１７０の前にリミットスイッチを配置することにより、要求される角度の精度が軽減される。この歯車列１７０は、十分なトルクを提供するべく選択されており、これをキュベットの中心の位置決めと共に使用することにより、モータの１回転によって次のキュベットに１つ前進するようになっている。

一実施例においては、図１及び図２に示されているように、単一の連続的な負の接点１８０がすべてのキュベットを接続（し、すべての外部接点を１つに短絡）している。この結果、システムが単純化されている。好ましくは、チャンバ内には、青氷パック又はその他の冷却手段が配置されており、サンプルを冷却状態に維持できるようになっている。特定の態様においては、整流子フィンガアセンブリは、縁部が整流子アセンブリの底部に対するベアリング面として機能するように構築されている。ボールベアリング又はその他のタイプのベアリング構成を使用可能である。一実施例においては、本システムがホーム位置を検出するまで蓋を除去不能にするべく、スロット１８５が設けられている。

動作の際には、操作者は、整流子アセンブリを上昇させる。これは、事前に本システムによって短絡位置に位置付けられていたものである。尚、この位置に位置していない場合には、整流子アセンブリは、除去不能であることが好ましい。そして、整流子アセンブリが定位置に位置している際には、操作者は、キュベットに触れることはできない。本システムは、抵抗を計測することにより、自身が短絡位置にあることを検出する。本システムは、低い抵抗値が検出されるまで、モータを作動させる。整流子アセンブリを除去することにより、キュベット位置を露出さする。操作者は、キュベットを挿入し、青氷がアセンブリのポケット内に存在していることを確認する。尚、整流子アセンブリを除去した際には、負の接点（ロングスローコネクタによって整流子アセンブリ内に設けられているもの）は遮断されている。操作者が、整流子アセンブリ内のこの負の接点に接触することはできない。又、中央のフィンガが内部の＋接点をもはや押圧しておらず、この結果、＋スリップリングアセンブリと接触することはない。整流子アセンブリを除去する際には、整流子が短絡位置になければならないため、このアセンブリは除去可能である。この場合には、整流子アセンブリの中心部分は、図９に示されているように設計することができる。

この結果、キュベットが定位置に配置され、整流子アセンブリが元の位置に戻される。そして、最適化ルーチンが起動し、整流子フィンガが、それぞれのキュベットに対して順番に段階的に前進する。本システムは、キュベットの抵抗の変化を目印として使用している。

設計の中には、本システムの電子回路をステッパモータに適合不能なものも存在しており、電流を簡便に計測可能なラインが存在しない場合がある。そうでなければ、正しい位置に位置するべく、抵抗器の切り替えを試みることにより、並列接続された抵抗器を切り換えて駆動電流を変化させることができよう。図１０を参照すれば、代替設計は、次のとおりである。

（１）停止位置は、整流子アセンブリがホーム位置と整列した場合に停止する整流子アセンブリの内部に位置している。

（２）短絡バーが除去されている。

（３）接点Ａがキュベット間のサンプルの両端に静電容量（例：約０．０１ｍｆｄの静電容量）を配置しており、これは、モータが停止するべき地点において上昇する。

この例においては、この静電容量のリアクタンスが２５ＫＨｚにおいて約６００Ωであるため、この結果、サンプル抵抗に顕著な変化が生じる。即ち、サンプル抵抗が約２０Ωの場合に、サンプル抵抗が約６００オームになり、次いで、変化する（低下する）。マイクロプロセッサが、この上昇又は下降の変化を検出すると、モータが停止する。精度を向上させるべく、カムを大きなリングによって製造可能である。

以上の設計には、いくつかの問題点が存在する可能性がある。例えば、本システムが生成できるのは、１２Ｖのオン／オフ駆動のみである。従って、モータが進行できるのは、一方向のみである。従って、整流子フィンガは、３６０度の動作能力を有している必要がある。ホーム位置（短絡キュベット位置）を検出するべく、モータを基本的に連続作動可能にする必要がある。従って、キュベットカルーセルは、好ましくは、図４に示されている回路を含んでいる。

本システムは、次のように動作する。

（１）スロットを有するリミットスイッチが、モータの１回転を検出する（必要に応じて、複数のスロットを使用可能であろう）。

（２）歯車列がトルクを増大させ、それぞれのキュベットごとに、正しい位置決めを実行する。

（３）１２Ｖが印加されると、フリップフロップが設定され、モータがオン状態になる。モータは、スロットを有するリミットスイッチの動作によってフリップフロップがリセットされる次の位置まで、作動する。

（４）基本的にフリップフロップ（モータ）の連続作動が望ましい場合には、本システムは、例えば、１００マイクロ秒オフ／５ミリ秒オンで、１２Ｖ電源を切り替える。設定ラインが１０ミリ秒の遅延を有しているため、設定ラインは、基本的に５ミリ秒ハイ／１００マイクロ秒ローに保持されることになる。ＩＮ４１４８により、時間がリセットされ、１００Ωの抵抗器により、モータがリセットされる。

（５）モータの逆起電力の際の１２Ｖラインの上昇を防止する別の方法は、図１１に示されている回路を含むことである。

１つのソフトウェアアルゴリズムは、次のとおりである。

（１）ミスアライメント状態になった場合には、フロントパネルキーを押下してモータを作動させ、アーマチュア整流子フィンガをスロットとアライメントさせる。

（２）蓋を配置した際に短絡が生じることを検証する（短絡が生じない場合には、短絡が検出されるまで、１２Ｖのパルスを生成することにより、モータを作動させる）。

（３）それぞれのキュベット位置ごとに、１０００ミリ秒だけ１２Ｖに上昇させる（整流子が次の位置に移動して停止することになる）。

（４）操作者は、それぞれのブロックにおけるキュベットの数を既に入力済みである。１２Ｖを瞬間的に低下させた後に、１０００ミリ秒にわたって上昇させることにより、次のキュベット位置に前進する。ブロック数に到達するまで、これを継続する。

（５）次いで、整流子フィンガによってホーム位置を検出し、蓋を除去する。

（光学データ転送システム）
一実施例において、本発明は、電気穿孔システムと共に使用する光学データシステムをも提供する。本発明の光学データシステムは、図１２に示されているように、電気穿孔システム内のデータポート（例：光学ポート、ＵＳＢなど）とインターフェースする携帯型の入出力装置２００を含んでいる。この携帯型入力装置２００は、好ましくは、電池で動作するべく設計されているが、ＡＣアダプタ／電池充電器に接続された状態においても使用可能である。携帯型装置２００は、好ましくは、プリンタ又はユーザーのコンピュータに接続するべく、１つ又は複数の光学（例：赤外線）ポート２０５、並びにＲＳ２３２、パラレル、及びＵＳＢポート２０６を含んでいる（これらの中のいずれか１つ、或いは、これらのすべてを含むことが可能であり、例えば、ＵＳＢに標準化することもできる）。

この光学データシステムは、次の機能を提供する。

（１）デスクトップにおけるセットアップパラメータの入力、携帯型ユニットによるセットアップパラメータの移送、及び電気穿孔システムへのセットアップパラメータのアップロード

（２）分析、表示、及び印刷のためにデスクトップコンピュータシステムに移送するための携帯型ユニットへの電気穿孔データのダウンロード

（３）携帯型ユニットからのデータの印刷

（４）新しいプロトコルの電気穿孔システムへのアップロード

（５）電気穿孔システムへのデモルーチンのアップロード（これは、携帯型ユニットがすべてのキー押下に対するアクセスを有していることによるものであり、例えば、習熟レベルの低い人物が、このデモルーチンをラップトップ上のＰｏｗｅｒＰｏｉｎｔのプレゼンテーションと共に使用し、自動化プログラムを使用して実際のキー押下による電気穿孔システムのデモを実施することができる。）

（６）新しいソフトウェア及びデータの電気穿孔システムへのアップロード

この携帯型ユニット設計により、ユーザーのデスクコンピュータからセットアップパラメータを直接ダウンロードすることが可能になっている。又、この携帯型ユニット設計により、このセットアップパラメータを電気穿孔システムにアップロードすることも可能になっている。セットアップパラメータによって定義されたパルスの手作業による或いは自動化された供給の後に、電気穿孔システムは、それぞれのパルスの結果（例：５組の反復実験について最大１００個）をデータポート（例：光学データポート、ＵＳＢポートなど）を通じて携帯型ユニットにダウンロードする。又、携帯型ユニットは、この後者の通知データを携帯型ユニットのポートの１つを通じてコンピュータシステムにアップロードする能力をも有している。更には、この携帯型ユニットは、携帯型ユニットのポートの１つを通じて標準的なプリンタにインターフェースする能力をも有している。

携帯型ユニットの光学ポートは、好ましくは、フォトトランジスタ２１０と赤外線ＬＥＤ２２０を含んでいる。電気穿孔システムの光学ポートも、好ましくは、これらと同一のコンポーネントを含んでいる。それぞれのユニット内のマイクロプロセッサがＬＥＤを制御し、例えば、赤外線ＬＥＤをオン／オフする。フォトトランジスタは、システムプロセッサによって使用され、赤外線信号を受信し、デコードする。好ましくは、本システムには、周辺／室内光を削減するフィルタが内蔵されている。このような周辺光は、（例えば、蛍光灯からの）１２０Ｈｚの大きな混信を引き起こす可能性を有している。特定の態様においては、携帯型ユニットは、ＣＭＯＳプロセッサを格納しており、電池で動作する。光学データリンクを使用すると共に電池による動作を利用して外部コンポーネントと隔離することにより、外部回路を高電圧装置に装着する際の安全性の問題を除去している。図１２に示されているように、一実施例においては、携帯型ユニットは、好ましくは、ディスプレイを含んでいない（しかしながら、必要に応じて、ディスプレイを含むべく容易に変更可能である）。図示のごとく、３つのキー（オン／オフ、アップロード、及びダウンロード）により、システムに対する単純なインターフェースが実現されている。この実施例においては、携帯型ユニットは、データ保存するためのビットのバケツとして主に機能している。

光学データ転送システムの使用法の例は、次のとおりである。

デスクコンピュータに位置するユーザーが、実験を設計して実験手順を決定し、電気穿孔システムによって実行する実験のそれぞれの部分のショッキングパラメータを選択する。最大１００個（又は、これを上回る）のショッキングポイントが許容されている。但し、必要に応じて、ショッキングポイントの組を何回でも反復可能である。特定の態様においては、ユーザーのコンピュータ上に位置するソフトウェアは、表計算ソフトウェア（例：Ｅｘｃｅｌ）を利用して、ＲＳ２３２、パラレルポート、光学ポート、ＵＳＢポートなどを通じて携帯型ユニットとインターフェースするためのドライバを格納している。この結果、ユーザーは、ショッキングポイントの組を携帯型ユニットに容易にダウンロードすることができる。

ユーザーは、携帯型ユニットを電気穿孔システムのところに持参し、データ入力画面を選択すると共に、電気穿孔システムをショッキングポイントアップロードモードに設定し、携帯型ユニットのショッキングポイント出力機能を作動させる。この結果、選択された接続ポートを通じて、ショッキングポイントが自動的に電気穿孔システムにアップロードされる。光学接続の場合に必要とされるのは、電気穿孔システムの光学ポートに対して近距離（例：１〜１０インチから数フィート）内に携帯型ユニットを保持することだけである。ユーザーは、レビュー又は変更するべく、ショッキングポイントのそれぞれについて、セットアップ画面のそれぞれをスクロールすることができる。そして、ユーザーは、第１ポイント画面に戻り、キュベットを挿入し、パルスを印加することができる。これは、ショッキングポイントのそれぞれごとに反復可能である。尚、自動ショッキングチャンバが利用可能な場合に必要なのは、所望する数のキュベットを有する自動ショッキングチャンバのカルーセルを装填し、スタートを押下することだけである。この結果、携帯型ユニットからアップロードされたパラメータに基づいて、パルスが電気穿孔システムによって自動的に供給されることになる。

介入ニーズ要件又はその他の理由のために、装填可能なデータセットのキュベットの数がいくつに限定される場合には、本ユニットは、空スロットを（抵抗計測によって）検出した際に、停止する。パルスを印加済みのキュベットを除去し、介入を実行し、次の組を装填した後に、そのデータポイントの組が完了するまで継続することができる。反復実験は、ショッキングポイントの組を反復するだけで、実行可能である。

それぞれの１００（或いは、これを上回る又はこれを下回る数の）ポイントの組の後に、ユーザーは、ダウンロード画面にアクセスし、データを携帯型ユニットに出力／転送可能である。これは、最大５回以上実行可能であり、従って、携帯型ユニットは、５００又はこれを上回る数のショッキングパラメータの組用のメモリ空間を含んでいることが好ましい。ユーザーは、携帯型ユニットをデスクコンピュータのところに持参し、データをデスクコンピュータ内のシステムアプリケーションプログラムにアップロードする。この結果、セットアップポイント及び結果のすべてが、印刷又はその他の使用のために、デスクコンピュータにおいて利用可能になる。最後に、この携帯型ユニットは、プリンタに対して直接印刷することも可能である。

電気穿孔システムのファームウェアにより、前述のように、携帯型ユニットに対してインターフェース可能になっている。好適な態様においては、この電気穿孔システムのファームウェアは、ユーザーが電気穿孔システムのパラメータを調節すると共に、携帯型ユニットを使用して電気穿孔システムのキーを効果的に押下することを可能にする手順を格納している。この結果、実際の電気穿孔システムによる予め準備されたデモプログラムのために携帯型ユニットを使用することができる。又、携帯型ユニットにより、電気穿孔システム内に新しいファームウェアを読み込むことも可能であり、電気穿孔システムは、このプロセスを実現する手順を格納するべく設計されている。最後に、後者のプロセスにより、電気穿孔システム内に保存されている予め準備された手順のいずれか又はすべてをリロードすることができる。これにより、必要に応じて（例：遺伝子導入の分野における将来の変化など）、手順に変更を加えることができる。

又、本発明の光学データシステムは、様々なＤＮＡ及び蛋白質の計測製品にも適用可能である。このような汎用システムの有利な特徴には、次のものが含まれている。

（１）それぞれの装置は、好ましくは、セットアップパラメータ／手順のアップロード、データのダウンロード、（すべてのキー押下に対するアクセスを有し、装置の操作者に対して表示情報が提供される）デモルーチンのアップロード、ソフトウェアアップグレードのアップロード、及びトラブルシューティングアルゴリズムの利用を許容する赤外線ポートとソフトウェアを含んでいる。

（２）後日購入してシステムの機能を追加するべく携帯型ユニットを提供することができる。

（３）ユーザーのデスクトップコンピュータシステム（例：ＰＣ）にインストールするべくソフトウェアを提供することができる。このソフトウェアは、標準的なソフトウェアパッケージ（Ｅｘｃｅｌなど）とインターフェースし、ユーザーが新しいセットアップパラメータ及び手順を生成することを可能にする。ＰＣは、製品の近傍にデータを移送するべく、データを携帯型ユニットにダウンロードする。ユーザーは、製品をアップロードモードに設定し、携帯型ユニットのアップロードボタンを押下する（アップロードが進行中であることをＬＥＤが通知する）。この結果、新しいセットアップパラメータと手順がアップロードされることになる。

（４）製品がデータを生成した場合には、このデータを携帯型ユニットへのダウンロードに利用することができる。ユーザーが、製品をダウンロードモードに設定し、携帯型ユニットのダウンロードボタンを押下することにより、データがダウンロードされる（例：ダウンロードが進行中であることをＬＥＤが通知する）。次いで、ユーザーは、アップロード、操作、表示、及び印刷のために携帯型ユニット内のデータをＰＣに移送する。

（５）携帯型ユニットはプリンタポートを有しており、この結果、データを携帯型ユニットから直接印刷することも可能である。

（６）携帯型ユニットは、すべての可能なキー押下及び表示（或いは、ＬＥＤ又はＬＣＤ）パラメータに対するアクセスを有している。従って、携帯型ユニットを使用してデモルーチンを実行することができる。この機能は、例えば、製品の十分なデモを実行可能な販売員が不在の場合に、使用可能である。顧客は、通常、（ＰｏｗｅｒＰｏｉｎｔのデモだけでなく）実際の製品のデモを見たがるものである。携帯型ユニットのデモと同時に、ＰｏｗｅｒＰｏｉｎｔのデモを開始することができる。製品は、ＰｏｗｅｒＰｏｉｎｔのデモの進行に伴って、実際の使用上の動作を実行することになる。

（７）携帯型ユニットにより、特殊なトラブルシューティングアルゴリズムを利用することができる。

（８）新しいソフトウェア／ファームウェアを製品内にアップロードし、フィールドアップグレードを円滑に実行することができる。

以上、例を使用し、特定の実施例の観点から本発明について説明したが、本発明は、開示したこれらの実施例に限定されるものではないことを理解されたい。逆に、本発明は、当業者には明らかな様々な変更及び類似の構成をも包含することを意図するものである。従って、添付の特許請求の範囲には、このようなすべての変更及び類似の構成を包含するべく、最も広範な解釈が付与されるべきである。

本発明の実施例によるキュベットカルーセル及び整流子アセンブリの様々な特徴を示している。 本発明の実施例による携帯型データ転送装置の特徴を示している。 本発明の一時実施例による電気穿孔システムと共に使用する自動最適化システムを示している。

Claims (20)

1. 自動電気穿孔システムであって、
   複数の電気穿孔キュベットを保持するべく構成されたキュベット保持アセンブリであって、それぞれのキュベットは、第１及び第２電極を含んでいる、キュベット保持アセンブリと、
   前記キュベット保持アセンブリを保持するべく構成されたショッキングチャンバであって、前記複数のキュベットのそれぞれの前記第１電極に順番に電気的接触を提供するべく構成された整流子アセンブリを有するショッキングチャンバと、
   前記ショッキングチャンバに通信可能に接続された制御システムであって、前記整流子を制御してそれぞれのキュベットの前記第１電極と順番に自動的に接触させ、接触の際に、前記キュベットの電極間に電位を供給する制御システムと、
   を有するシステム。
2. 前記キュベット保持アセンブリは、挿入されたキュベットが円形の配列で位置するように、カルーセル構成内に構成された複数のキュベット保持空間を含んでいる請求項１記載のシステム。
3. 前記キュベット保持アセンブリは、定位置に固定され、前記整流子アセンブリは、前記挿入されたキュベットに個別に接触するために回転するべく制御されるハウジングの中央からキュベット保持アセンブリに延長する接触要素を含んでいる請求項２記載のシステム。
4. 前記キュベット保持アセンブリは、定位置に固定され、前記整流子アセンブリは、キュベットからキュベットに移動するべく制御される接触要素を含んでいる請求項１記載のシステム。
5. 前記制御システムは、ユーザー入力パラメータに応答して、それぞれのキュベットに印加される電位を制御する最適化ルーチンを実行する請求項１記載のシステム。
6. 前記最適化ルーチンは、前記整流子アセンブリを制御し、異なる電位をそれぞれの挿入されたキュベットに印加する請求項５記載のシステム。
7. 前記ユーザー入力パラメータは、１つ又は複数の電圧範囲、それぞれのキュベットに印加するパルスの数、パルス幅、波形、静電容量、及びそれぞれのパルスごとに記録するデータポイントの数を含んでいる請求項５記載のシステム。
8. 前記順番は、連続した順番である請求項１記載のシステム。
9. 電気穿孔システムと共に使用する携帯型データ転送装置であって、
   光学データポートを有するように構成された電気穿孔装置との間で光学データ信号を送受信するべく構成された光学データポートと、
   データを保存するメモリと、
   ユーザー入力コマンドを受信するユーザー入力モジュールと、
   を有し、
   ユーザーが前記装置を前記電気穿孔装置の近傍に配置した際に、前記装置は、前記ユーザーから受信したダウンロードコマンドに応答して、保存されているデータを前記電気穿孔装置に対して送信し、前記ユーザーから受信したアップロードコマンドに応答して、保存されているデータを前記電気穿孔装置から受信し保存する装置。
10. 前記ユーザー入力モジュールは、ダウンロードボタンとアップロードボタンを含んでいる請求項９記載の装置。
11. 前記ユーザー入力モジュールは、ダウンロードキー、アップロードキー、及び電源キーから構成されている請求項９記載の装置。
12. 電気穿孔システムであって、
    データ及びコマンドを送受信するデータポートを有するように構成された電気穿孔ユニットであって、前記ユニット内の複数のキュベットのそれぞれの第１電極に電気的接触を順番に提供するべく構成された整流子アセンブリを含んでいる電気穿孔ユニットと、
    データ及びコマンドを送受信するデータポートを有するように構成された携帯型データ転送装置と、
    データ及びコマンドを送受信する１つ又は複数のデータポートを有するように構成されたコンピュータシステムであって、ユーザー入力パラメータに応答して、前記電気穿孔ユニット内における電気穿孔実験の実験パラメータを判定する最適化モジュールを実行するコンピュータシステムと、
    を有し、
    前記コンピュータシステムは、ユーザー入力パラメータの第１の組に応答して、実験パラメータの第１の組を自動的に判定し、前記ユーザーは、前記コンピュータシステムの前記１つ又は複数のデータポートの中の１つを使用して前記実験パラメータの第１の組を前記携帯型データ転送ユニットにダウンロードし、前記ユーザーは、前記携帯型データ転送装置を使用して前記実験パラメータの第１の組を前記電気穿孔ユニットに転送し、この結果、前記電気穿孔ユニットは、前記受信した実験パラメータに応答して、前記キュベットに対して一連の電気穿孔実験を実施するシステム。
13. 前記データ転送装置の前記データポートは、光学データポートである請求項１２記載のシステム。
14. 前記実施された電気穿孔実験の結果は、前記携帯型データ転送装置に伝送され、前記ユーザーは、前記データ転送装置を使用して、前記結果を前記コンピュータシステムにダウンロードする請求項１２記載のシステム。
15. 電気穿孔実験を最適化するコードを含むコンピュータ可読媒体であって、
    前記コードは、処理モジュールを制御して、
    １つ又は複数のパラメータの所望の値を入力するべくユーザーに対して要求し、
    前記ユーザー入力値に応答して、電気穿孔実験の実験パラメータを自動的に判定する、
    ための命令を含んでいるコンピュータ可読媒体。
16. 前記コードは、
    電気穿孔装置を制御し、前記判定された実験パラメータに従って、一連の１回又は複数回の電気穿孔実験を実施する、
    ための命令を更に含んでいる請求項１５記載のコンピュータ可読媒体。
17. 前記電気穿孔装置は、複数のキュベットを含んでおり、制御するための前記命令は、
    異なる値の一連の電気穿孔パルスを前記キュベットに順番に自動的に印加する、
    ための命令を含んでいる請求項１５記載のコンピュータ可読媒体。
18. 複数の電気穿孔キュベットを保持するキュベット保持装置であって、
    カルーセル形状の本体と、
    前記本体上に円形の配列で配置された複数のキュベット収容要素と、
    を有する装置。
19. それぞれのキュベット収容要素の近傍に位置する電気的接触要素を更に含み、電気穿孔キュベットがキュベット収容要素内に挿入された際に、前記電気的接触要素が前記キュベットの電極に接触する請求項１８記載の装置。
20. 隣接するキュベット保持要素の前記電気的接触要素は、電気的に１つに接続されている請求項１８記載の装置。

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