JP2005322690A - 半導体装置及び半導体装置の組立方法 - Google Patents

半導体装置及び半導体装置の組立方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005322690A
JP2005322690A JP2004137688A JP2004137688A JP2005322690A JP 2005322690 A JP2005322690 A JP 2005322690A JP 2004137688 A JP2004137688 A JP 2004137688A JP 2004137688 A JP2004137688 A JP 2004137688A JP 2005322690 A JP2005322690 A JP 2005322690A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
heat sink
pin
semiconductor device
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004137688A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4212511B2 (ja
Inventor
Takeshi So
毅志 宗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2004137688A priority Critical patent/JP4212511B2/ja
Priority to US10/941,943 priority patent/US7144762B2/en
Publication of JP2005322690A publication Critical patent/JP2005322690A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4212511B2 publication Critical patent/JP4212511B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4006Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4006Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
    • H01L2023/4037Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink
    • H01L2023/4043Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink heatsink to have chip
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4006Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
    • H01L2023/4037Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink
    • H01L2023/405Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws characterised by thermal path or place of attachment of heatsink heatsink to package
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】 半導体装置及び半導体装置の組立方法に関し、ねじを用いないでヒートシンクを基板に固定することができるようにすることを目的とする。
【解決手段】 半導体装置は、半導体素子12を搭載した基板14と、ヒートシンク16と、ヒートシンクの複数の穴及び基板の複数の穴に通され且つ一端部に膨大部を有する複数のピン18と、ヒートシンクの穴及び基板の穴を通って基板から突出するピン18の他端部と係合する係合部材20と、ピンの膨大部とヒートシンクの間に配置されたばね22とからなる構成とする。半導体装置の組立においてはピン18は保持部材26によって保持され、半導体装置の組立が完了したら保持部材26はピン18から取り外される。
【選択図】 図4

Description

本発明は半導体装置及び半導体装置の組立方法に関する。
CPU等の発熱量の大きい半導体素子を含む半導体装置においては、半導体素子に接触するようにヒートシンクを配置し、半導体素子が発生する熱を半導体素子から逃がすようになっている。多くの場合、ヒートシンクは半導体素子が搭載された基板にねじにより固定される。
ねじを用いてヒートシンクを基板に固定する構造では、ねじを取り付けるための作業に手間がかかり、コストアップになる。そこで、ねじを用いないでヒートシンクを基板に固定する構造が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
この従来技術においては、複数のピンを一括して取り付けた保持部材と、ピンの先端部と係合する係合部材とが用いられる。複数のピンを有する保持部材は重ねて配置された基板及びヒートシンクの一方の側に配置され、係合部材は基板及びヒートシンクの他方の側に配置される。複数のピンは基板の穴及びヒートシンクの穴に通され、ピンの先端部がヒートシンクから突出する。突出するピンの先端部は係合部材に係合する。従って、基板とヒートシンクは保持部材と係合部材によって挟持される。係合部材はヒートシンクに平行な部分と、ヒートシンクから離れるように湾曲した係合部分を有する。ヒートシンクに平行な部分はピンが通る穴を有する。係合部材をヒートシンクに沿って横に移動させると、ピンの先端部は湾曲した係合部分に載り、係合部分が弾性変形する。よって、ヒートシンクは基板に対して弾性的に押圧され、密着、一体化される。
ねじを用いないでヒートシンクを基板に固定する従来の構造においては、複数のピンは保持部材に固定されていて、基板とヒートシンクとが組立られた半導体装置として一体化された後でも、保持部材は複数のピンに固定されたままで、半導体装置の一部となっている。そのため、複数のピンを有する保持部材を多数準備しなければならず、コストアップになり、また、半導体装置の重量が重くなる。保持部材の外形形状が大きい場合には、半導体装置の外形も大きくなる。また、移動可能な係合部材は振動や衝撃等の外力が加わると、ピンの位置がずれる可能性がある。
実用新案登録第3064402号公報
本発明の目的は、低コストで製造されることができ、ねじを用いないでヒートシンクを基板に固定することができるようにした半導体装置及び半導体装置の組立方法を提供することである。
本発明による半導体装置は、半導体素子を搭載した基板と、該半導体素子を冷却するために該半導体素子に接触するヒートシンクと、該ヒートシンクの複数の穴及び該基板の複数の穴に通され且つ一端部に膨大部を有する複数のピンと、該ヒートシンクの穴及び該基板の穴を通って基板から突出する該ピンの他端部と係合する係合部材と、該ピンの膨大部と該ヒートシンクの間に配置されたばねとからなることを特徴とするものである。
この構成によれば、ヒートシンクと基板はピンとばねによって密着して一体化される。複数のピンは互いに分離されており、最小の形状に形成されることができる。従って、外形形状のコンパクトな半導体装置を得ることができる。
本発明による半導体装置の組立方法は、一端部に膨大部を有し、該膨大部に当接してばねが配置された複数のピンを保持部材に配置し、ヒートシンクを基板に重ね、該保持部材と重ねられたヒートシンク及び基板の少なくとも一方を互いに近づくように動かして、該保持部材に保持された該複数のピンを該ヒートシンクの複数の穴及び該基板の複数の穴に通し、かつ、ヒートシンクと基板が互いに密着するように該ばねを圧縮し、該ヒートシンクの穴及び該基板の穴を通って基板から突出する該ピンの他端部を係合部材に係合させ、該保持部材を該ピンから取り外すことを特徴とするものである。
この構成によれば、ヒートシンクと基板はピンとばねによって密着して一体化される。複数のピンは互いに分離されており、最小の形状に形成されることができる。最初に複数のピンは保持部材に配置されているので、保持部材によりばねを圧縮しながら複数のピンを一括してヒートシンクの穴及び基板の穴に通すことができる。従って、半導体装置の組立作業を容易に行うことができ、そして、最終的に保持部材はピンから取り外されるので、半導体装置の形状及び重量を小さくできる。保持部材は繰り返して使用できるので、多数の保持部材を準備しておく必要がない。
本発明によれば、ねじを用いないで、複数のピンとばねによってヒートシンクと基板を密着して一体化することができる。半導体装置の組立の際には複数のピンは保持部材に配置された状態で操作され、半導体装置が組立られたときに保持部材を複数のピンから取り外すことができる。従って、外形形状のコンパクトな半導体装置を得ることができる。
以下本発明の実施例について図面を参照して説明する。図1は本発明の実施例の半導体装置を示す斜視図である。図2は図1の半導体装置を示す側面図である。図3は組立中の半導体装置を示す下側から見た斜視図である。図4は図3の半導体装置を示す斜視図である。
半導体装置10は、半導体素子12を搭載した基板14と、半導体素子12を冷却するために半導体素子12に接触するヒートシンク16と、ヒートシンク16を基板14に固定するための固定構造とからなる。この固定構造は、ヒートシンク16の複数の穴36及び基板14の複数の穴30に通され且つ一端部に膨大部を有する複数のピン18と、ヒートシンク16の穴36及び基板14の穴30を通って基板14から突出するピン18の他端部と係合する係合部材20と、ピン18の膨大部とヒートシンク16の間に配置されたばね22とからなる。基板14と係合部材20との間に板部材24が配置される。
さらに、半導体装置10を組立てるために保持部材26が使用される。保持部材26は、半導体装置10の組立の際にピン18を保持するために使用され、半導体装置10の組立が完了したら保持部材26はピン18から取り外される。
半導体素子12は基板14のほぼ中央部に搭載されている。基板14はその他の電気/電子素子を含む。例えば、電源供給用コンバータ28が基板14に搭載されている。基板14は半導体素子12のまわりにピン18を通す穴30を有する。
ヒートシンク16は、ヒートシンク板32と、ヒートシンク板32に設けられたフィン34とからなる。ヒートシンク板32は半導体素子12に接触する部分であり、ピン18を通す穴36を有する。フィン34はヒートシンク板32上でピン18を通す穴36の存在する位置を除いて設けられ、フィン34はピン18を通す穴36のまわりに空洞部38を形成している。ピン18は空洞部38に位置し、ピン18の一端部と基板14との間の長さはフィン34の高さよりも短い。
図5は保持部材26を示す斜視図である。図6はばね22が配置されたピン18を示す斜視図である。ピン18は、一端部に膨大部40を有し、他端部に係止部42を有する。ピン18の本体部分と係止部42との間にネック部43が設けられる。ばね22はピン18のまわりに配置されたコイルばねからなり、その一端がピン18の膨大部40に当接可能になっている。ばね22の他端はピン18がヒートシンク16の穴36に挿入されたときにヒートシンク板32の表面に当接するようになっている。
保持部材26は、板状本体44と、ピン18を支持するための筒状支持部46を有する。筒状支持部46は穴36,30と整列する位置に配置され、ピン18が筒状支持部46に部分的に緩く嵌合されるようになっている。筒状支持部46の中空部の端部壁はピン18の一端部の膨大部40と当接する。
図7は係合部材20を示す斜視図である。係合部材20は、板状部材として形成され、穴36、30に相当する位置にピン18を通す穴48を有する。係合部材20は、穴48に連続して形成されて係合部材20が基板14に沿って横に移動するときにピン18のネック部43が通るスリット50と、スリット50の端部に設けられてピン18の他端部の係止部42を保持する保持溝52を有する。係合部材20の穴48はピン18の他端部の係止部42を通す大きさを有し、スリット50はネック部43を通す大きさを有し、保持溝52は係止部42が落ち込むのに適した大きさを有する。
係合部材20は基板14に沿って横に移動可能である。板部材24は基板14と係合部材20との間に配置され、基板14と係合部材20とが直接に摺動するのを防止するために設けられる。板部材24は省略されることもできる。
図8は組立中の半導体装置のピン18と係合部材20を示す図である。図8において、(A)、(C)、(E)は断面図であり、(B)、(D)、(F)は(A)、(C)、(E)の底面図である。図8(A)、(B)においては、ピン18の係止部42は係合部材20の穴48を通り抜ける。図8(C)、(D)においては、係合部材20がピン18に対して横に移動し、ピン18のネック部43が係合部材20のスリット50に位置する。図8(E)、(F)においては、ピン18の係止部42が係合部材20の保持溝52に落ち込む。図8(C)、(D)の状態にあれば、ピン18は係合部材20のスリット50から抜けないが、ピン18又は係合部材20に横方向の外力がかかると、ピン18がずれる可能性がある。図8(E)、(F)の状態にあれば、ピン18又は係合部材20に横方向の外力がかかっても、ピン18は係合部材20の保持溝52から容易に抜けず、ピン18の位置がずれることがない。
半導体装置10を組み立てる場合には、図3及び図4に示されるように、保持部材26を使用する。一端部に膨大部40を有し、膨大部40に当接してばね22が配置された複数のピン18を保持部材26に配置する。すなわち、ピン18の一端部の膨大部40を筒状支持部46に挿入する。ヒートシンク16を基板14に重ね、さらに、板部材24及び係合部材20を基板14に重ねる。
保持部材26と、重ねられたヒートシンク16及び基板14との少なくとも一方を互いに近づくように動かし、保持部材26に保持された複数のピン18を、ヒートシンク16の穴36及び基板14の穴30、並びに係合部材20の品48に通す。ピン18及び筒状支持部46はフィン34が形成する空洞部38に沿ってヒートシンク16の穴36にガイドされる。このとき、ピン18が筒状支持部46から落ちない程度にピン18と筒状支持部46との間に摩擦があるようにしておくこともでき、あるいは手で軽くピン18を支えておいてもよい。あるいは、筒状支持部46にピン18の仮止めピン等を設けてもよい。あるいは、ピン18及び筒状支持部46を上向きにして保持部材26を固定的に配置し、重ねられたヒートシンク16及び基板14を保持部材26に向かって下降させてもよい。
複数のピン18は保持部材26に一括して且つ所定の位置関係で保持されているので、保持部材26と重ねられたヒートシンク16及び基板14とを互いに近接するように移動させるだけで、複数のピン18をヒートシンク16の複数の穴36及び基板14の複数の穴30に一度に挿入することができる。
保持部材26と、重ねられたヒートシンク16及び基板14とを互いに近づくように動かすと、ばね22がピン18の一端部の膨大部40とヒートシンク16との間で圧縮され、ヒートシンク16を基板14に密着させる。つまり、ばね22のばね力はヒートシンク16と基板14の半導体素子12とをより密着させるように作用する。このようにして、保持部材26は、ピン18の位置決めと、ピン18の穴36,30,48への挿入と、ばね22の圧縮の作用を行う。
そこで、図8(A)、(B)に示されているように、ピン18の係止部42は係合部材20の穴48を通り抜け、図8(C)、(D)に示されるように、ピン18のネック部43が係合部材20のスリット50を通り、図8(E)、(F)に示されるように、ピン18の係止部42が係合部材20の保持溝52に落ち込む。こうして、ヒートシンク16の穴36及び基板14の穴30を通って基板14から突出するピン18の他端部の係止部42を係合部材20に係合させ、半導体装置10の組立体を固定する。
それから、保持部材26をピン18から取り外す。組立完了後の半導体装置10には、保持部材26は含まれなくなり、ピン18のみが存在する。ピン18はフィン34の高さに比べて短いものでよく、半導体装置10全体の形状及び重量は保持部材26が半導体装置10に含まれる場合と比べてかなり低減される。また、取り外された保持部材26は繰り返して使用可能である。
上記した実施例は次の特徴を含む。
(付記1)半導体素子を搭載した基板と、該半導体素子を冷却するために該半導体素子に接触するヒートシンクと、該ヒートシンクの複数の穴及び該基板の複数の穴に通され且つ一端部に膨大部を有する複数のピンと、該ヒートシンクの穴及び該基板の穴を通って基板から突出する該ピンの他端部と係合する係合部材と、該ピンの膨大部と該ヒートシンクの間に配置されたばねとからなることを特徴とする半導体装置。(1)
(付記2)該ヒートシンクはヒートシンク板と、該ヒートシンク板に設けられたフィンとからなり、該ピンの一端部と該基板との間の長さは該フィンの高さよりも短いことを特徴とする付記1に記載の半導体装置。
(付記3)該フィンはヒートシンク板上で該ピンを通す穴の存在する位置を除いて設けられ、該フィンは該ピンを通す穴のまわりに空洞部を形成し、該ピンは該空洞部に位置することを特徴とする付記2に記載の半導体装置。
(付記4)該係合部材は、該ピンを通す穴と、該係合部材が該基板に沿って横に移動するときに該ピンが通るスリットと、該スリットの端部に設けられて該ピンの他端部を保持する溝とからなることを特徴とする付記1に記載の半導体装置。(2)
(付記5)該基板と該固定部材との間に板部材が配置されることを特徴とする付記4に記載の半導体装置。(3)
(付記6)一端部に膨大部を有し、該膨大部に当接してばねが配置された複数のピンを保持部材に配置し、ヒートシンクを基板に重ね、該保持部材と重ねられたヒートシンク及び基板の少なくとも一方を互いに近づくように動かして、該保持部材に保持された該複数のピンを該ヒートシンクの複数の穴及び該基板の複数の穴に通し、かつ、ヒートシンクと基板が互いに密着するように該ばねを圧縮し、該ヒートシンクの穴及び該基板の穴を通って基板から突出する該ピンの他端部を係合部材に係合させ、該保持部材を該ピンから取り外すことを特徴とする半導体装置の組立方法。(4)
(付記7)該保持部材は該ピンを支持するための筒状支持部を有することを特徴とする付記6に記載の半導体装置。
以上説明したように、本発明によれば、低コストで、放熱性に優れた半導体装置を得ることができる。
図1は本発明の実施例の半導体装置を示す斜視図である。 図2は図1の半導体装置を示す側面図である。 図3は組立中の半導体装置を示す斜視図である。 図4は図3の半導体装置を示す斜視図である。 図5は保持部材を示す斜視図である。 図6はばねが配置されたピンを示す斜視図である。 図7は係合部材を示す斜視図である。 図8は組立中の半導体装置のピンと係合部材を示す図である。
符号の説明
10…半導体装置
12…半導体素子
14…基板
16…ヒートシンク
18…ピン
20…係合部材
22…ばね
24…板部材
26…保持部材
30…穴
32…ヒートシンク板穴
34…フィン
36…穴
38…空洞部
40…膨大部
42…係止部
43…ネック部
44…板状本体
46…筒状支持部
48…穴
50…スリット
52…保持溝

Claims (4)

  1. 半導体素子を搭載した基板と、該半導体素子を冷却するために該半導体素子に接触するヒートシンクと、該ヒートシンクの複数の穴及び該基板の複数の穴に通され且つ一端部に膨大部を有する複数のピンと、該ヒートシンクの穴及び該基板の穴を通って基板から突出する該ピンの他端部と係合する係合部材と、該ピンの膨大部と該ヒートシンクの間に配置されたばねとからなることを特徴とする半導体装置。
  2. 該係合部材は、該ピンを通す穴と、該係合部材が該基板に沿って横に移動するときに該ピンが通るスリットと、該スリットの端部に設けられて該ピンの他端部を保持する溝とからなることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 該基板と該係合部材との間に板部材が配置されることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
  4. 一端部に膨大部を有し、該膨大部に当接してばねが配置された複数のピンを保持部材に配置し、ヒートシンクを基板に重ね、該保持部材と重ねられたヒートシンク及び基板の少なくとも一方を互いに近づくように動かして、該保持部材に保持された該複数のピンを該ヒートシンクの複数の穴及び該基板の複数の穴に通し、かつ、ヒートシンクと基板が互いに密着するように該ばねを圧縮し、該ヒートシンクの穴及び該基板の穴を通って基板から突出する該ピンの他端部を係合部材に係合させ、該保持部材を該ピンから取り外すことを特徴とする半導体装置の組立方法。
JP2004137688A 2004-05-06 2004-05-06 半導体装置及び半導体装置の組立方法 Expired - Fee Related JP4212511B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004137688A JP4212511B2 (ja) 2004-05-06 2004-05-06 半導体装置及び半導体装置の組立方法
US10/941,943 US7144762B2 (en) 2004-05-06 2004-09-16 Semiconductor device with pins and method of assembling the semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004137688A JP4212511B2 (ja) 2004-05-06 2004-05-06 半導体装置及び半導体装置の組立方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005322690A true JP2005322690A (ja) 2005-11-17
JP4212511B2 JP4212511B2 (ja) 2009-01-21

Family

ID=35238710

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004137688A Expired - Fee Related JP4212511B2 (ja) 2004-05-06 2004-05-06 半導体装置及び半導体装置の組立方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7144762B2 (ja)
JP (1) JP4212511B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200801911A (en) * 2006-06-29 2008-01-01 Ama Precision Inc Heat sink backing plate module
JP4930049B2 (ja) * 2006-12-27 2012-05-09 富士通株式会社 高さ調節装置及び実装方法
US7641431B2 (en) * 2007-08-15 2010-01-05 Fu Zhun Precision Industry (Shen Zhen) Co., Ltd. Fastening device for heat sink
CN101583257B (zh) * 2008-05-16 2012-09-19 富准精密工业(深圳)有限公司 固定装置组合
CN201348760Y (zh) * 2008-10-06 2009-11-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 固定装置
CN102378529A (zh) * 2010-08-09 2012-03-14 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 引导装置
US20150098190A1 (en) * 2013-06-07 2015-04-09 Hamilton Sundstrand Corporation Heat dissipation
US9560792B2 (en) * 2015-01-30 2017-01-31 Netgear, Inc. Apparatus and method for heat sink assembly
USD827589S1 (en) * 2016-04-05 2018-09-04 Sumitomo Seika Chemicals Co., Ltd. Heat sink
USD804434S1 (en) * 2016-06-15 2017-12-05 Adda Corp. Electronic component heatsink assembly
US10117356B2 (en) * 2016-11-28 2018-10-30 Advanced Micro Devices, Inc. Heat sink connector pin and assembly
JP7115032B2 (ja) * 2018-05-24 2022-08-09 富士通株式会社 基板
USD961535S1 (en) * 2020-01-15 2022-08-23 Showa Denko K.K. Pin fintype heat sink

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4390783C1 (de) * 1992-02-28 1999-11-25 Aavid Eng Inc Vorrichtung zum Verbinden eines Kühlkörpers mit einem elektronischen Schaltkreis
US5761041A (en) * 1996-06-25 1998-06-02 Sun Microsystems, Inc. Mechanical heat sink attachment
US5870286A (en) * 1997-08-20 1999-02-09 International Business Machines Corporation Heat sink assembly for cooling electronic modules
US5978223A (en) * 1998-02-09 1999-11-02 International Business Machines Corporation Dual heat sink assembly for cooling multiple electronic modules
US6307747B1 (en) * 1999-07-08 2001-10-23 Compaq Computer Corporation Resilient processor/heat sink retaining assembly
KR100457220B1 (ko) * 2002-02-27 2004-11-16 잘만테크 주식회사 칩셋 냉각용 히트싱크장치
WO2005036927A2 (en) * 2003-10-03 2005-04-21 Aavid Thermalloy, Llc Lowered pressure point for heat sink retention hardware

Also Published As

Publication number Publication date
JP4212511B2 (ja) 2009-01-21
US20050248026A1 (en) 2005-11-10
US7144762B2 (en) 2006-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4212511B2 (ja) 半導体装置及び半導体装置の組立方法
US7349220B2 (en) Memory module assembly
US7480144B2 (en) Heat dissipation device
US7215550B1 (en) Heat sink fastener
US20060007659A1 (en) Heat sink clip assembly
US20080062653A1 (en) Electronic device assembly with clips for mounting a heat sink thereon
US20070206359A1 (en) Memory module assembly including a clip for mounting a heat sink thereon
US7362581B2 (en) Heat sink fixing device
US6343013B1 (en) Heat sink assembly
US7604041B2 (en) Heat sink clip
US7167370B2 (en) Fastener for mounting heat-radiator to electronic device
US8629555B2 (en) Fixture for semiconductor device and assembly of semiconductor device
US6977816B2 (en) Heat sink mounting assembly
US8480354B2 (en) Fan holder and heat dissipation device using the same
US7436671B2 (en) Retention module for a heat sink
JP4686382B2 (ja) ワイヤクリップ
US7292443B1 (en) Heat sink mounting assembly
JP2010028117A (ja) パワー半導体モジュールを有する装置とその製造方法
JP2011103421A (ja) インダクタ
JP2006237585A (ja) 熱放散モジュールおよびその係合組立
KR100347177B1 (ko) 히트싱크 체결장치
JP2007258464A (ja) ヒートシンクの取り付け構造
JP2007220491A (ja) 電極端子部材の位置決め構造
JP6140598B2 (ja) 固定構造
JP2001244668A (ja) ヒートシンク固定構造および方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060726

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080609

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080701

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080825

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080930

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081028

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111107

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121107

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121107

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131107

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees