JP2005257883A - 液晶表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】横電界方式の液晶表示装置において、狭ピッチの場合でも高開口率を確保し、高コントラストかつ縦クロストークを低減した液晶表示装置を提供する。
【解決手段】上層の共通電極210と下層の共通信号配線202間のコンタクトホール212の周辺において、ソース電極と一体化した画素電極206の櫛歯終端部(D部)は開放している。このような構造により、狭ピッチで画素に占めるコンタクトホールの面積の割合が大きくなる場合でも、開口率を最大限に確保してコンタクトホールが容易に形成できる。また、櫛歯終端部の閉じている部分は、共通信号配線202および共通電極210と絶縁膜を介して蓄積容量を形成し、櫛歯終端部の開放する部分により、蓄積容量値を適切に調整することも可能になる。
【選択図】 図3

Description

本発明は、液晶表示装置、特に高開口率かつ高コントラストな、横電界方式のアクティブマトリクス型液晶表示装置に関する。
従来から広く用いられているTN(Twisted Nematic)方式は、高コントラストである反面、液晶の分子軸が垂直電界によって立ち上がることから、視角依存性が著しいという問題があった。近年では、TVなど大型モニター向けの需要が高まっており、IPS(In-Plane Switching)方式の採用が広がっている。IPS方式は、液晶の分子軸を横電界によって基板に対して平行な面内で回転させて表示を行う。分子軸の立ち上がり角に対する視角依存性がなくなるため、TN方式よりも視角特性が大幅に有利となる。
IPS方式は、TN方式に比べて視角特性において有利であるが、画素電極と共通電極を櫛歯状に配置して横電界を印加するため、電極の面積の表示領域に占める割合が高く、低開口率になるという問題点があった。
このような開口率低下に対する問題点の解決策の例が、特許文献1に開示されている。図7は、特許文献1のIPS方式の液晶表示装置の平面図、図8は、図5のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。
図7および図8を参照すると、ガラス等の透明絶縁基板400上に1の金属層からなる走査信号配線401と、並行する共通信号配線402が形成されている。走査信号配線401と共通信号配線402上に絶縁膜403が形成され、絶縁膜403上に第2の金属層からなる映像信号配線404、薄膜トランジスタ405、画素電極406が形成されている。映像信号配線404、薄膜トランジスタ305、画素電極406上に絶縁膜407が形成されている。
さらに絶縁膜407上に絶縁膜408が全面塗布され、この絶縁膜408上に透明電極からなる画素電極409、共通電極410が形成されている。画素電極409および共通電極410は櫛歯状に配置されている。
映像信号配線404は、絶縁膜407および絶縁膜408を介して共通電極410によって完全に覆われている。画素電極409、共通電極410はコンタクトホール411、412を介してそれぞれソース電極406’、共通信号配線402と電気的に接続されている。
このように、櫛歯状に配置された画素電極409、共通電極410がともに透明電極で形成されているため、電極上の領域も透過率に寄与する。シミュレーションによれば、透明電極上の寄与分を考慮すれば実効開口率は約8%上がる。映像信号配線404上を共通電極410によって完全に覆う構造のため、映像信号配線404付近まで開口部を広げることができる。なお、このような構成は映像信号配線404と共通電極410の間で負荷容量を発生させるが、低誘電率の絶縁膜を介しているため、駆動上問題ない範囲に抑えることができる。
IPS方式の液晶表示装置の高開口率化をさらに進める例が、特許文献2に提案されている。図9は、特許文献2のIPS方式の液晶表示装置の平面図、図10は、図9のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。図9および図10を参照すると、ガラス等の透明絶縁基板500上に第1の金属層からなる走査信号配線501と、走査信号配線501に並行する共通信号配線が形成されている。走査信号配線501と共通信号配線502上に絶縁膜503が形成されている。そして、絶縁膜503上には、第2の金属層からなる映像信号配線504、薄膜トランジスタ505、ソース電極と一体化した画素電極506が形成されている。
ソース電極は画素電極506と一体化形成されているために、画素電極506のソース電極に接続するためのコンタクトホールは不要となる。そして、映像信号配線504、薄膜トランジスタ505、ソース電極と一体化した画素電極506上に絶縁膜507が形成される。さらに絶縁膜508が絶縁膜507上に全面塗布される。ここで、絶縁膜508上に透明電極からなる共通電極510が形成されると、画素電極506と共通電極510は、異層櫛歯配線であるため駆動電圧が大幅に高くなってしまう。そこで、負荷容量低減の目的で映像信号配線504上にのみに絶縁膜508を土手状に形成して残している。その後、透明電極からなる共通電極510が形成される。共通電極510は、コンタクトホール512を介して共通信号配線502と電気的に接続されている。絶縁膜508は、透明でも着色していてもどちらでも構わない。
特許文献1のIPS方式の液晶表示装置と同様に、特許文献2のIPS方式の液晶表示装置では、映像信号配線504は、絶縁膜508を介して共通電極510によって完全に覆われている。しかし、特許文献2のIPS方式の液晶表示装置では、共通電極410が土手状に形成され、映像信号配線504は、共通電極によって囲い込まれたような断面形状になっている。そのために、特許文献2のIPS方式の液晶表示装置の映像信号配線504からの漏れ電界のシールド効果は、特許文献1のIPS方式の液晶表示装置より強い。
このように、特許文献2のIPS方式の液晶表示装置では、コンタクトホールが一つ減り、共通電極の映像信号配線エッジからの張り出し幅もより小さくできるため、さらに高開口率を得ることができる。特許文献2のIPS方式の液晶表示装置では、画素電極を金属電極で形成されるために、透明電極上の寄与分は従来例よりは少なくなるものの、実効開口率は約5%上がり、特許文献1のIPS方式の液晶表示装置より高開口率となり、縦クロストークも抑制される。
特開2002−323706号公報(段落0187〜0294、図1〜2) 特開2004−062145号公報(段落0222〜0226、図23)
上記の特許文献1や特許文献2のIPS方式の液晶表示装置では、画素ピッチが大きい場合には、TN方式に近い実効開口率を得ることが可能である。しかし、画素が狭ピッチになってくると、特許文献2のIPS方式の液晶表示装置でも上層共通電極−下層共通信号配線間のコンタクトホールの大きさが問題になってくる。そのために、画素電極は、コンタクトホールからマージンを保って迂回するように配置しなければならなくなるため、開口率を損なう一因となる。コンタクトホールの小型化には限界があるため、狭ピッチになるほどその影響を無視できない。
本発明は、上層共通電極−下層共通信号配線間のコンタクトホールの大きさが問題になるような狭ピッチの場合でも、開口率を最大限に確保できるIPS方式の液晶表示装置を提供することを目的とする。
本発明の第1の構成は、走査信号配線および映像信号配線の各交点に薄膜トランジスタを備えた第1の基板と、第1の基板と対向する第2の基板と、第1の基板と第2の基板に狭持された液晶層とを備え、第1の基板に設けられた画素電極と共通電極の間に電圧を印加して駆動する横電界方式のアクティブマトリクス型の液晶表示装置において、次のような構成を特徴とする。即ち、第1の基板は、透明電極からなり、薄膜トランジスタに接続された画素電極と、共通電極とを有し、共通電極は、第1の絶縁層を介して映像信号配線より上層に配置されている。そして、映像信号配線より下層には、共通信号配線が、第2の絶縁層を介して配置され、この共通信号配線は、コンタクトホールを介して共通電極に電気的に接続されている。上記画素電極は、上記共通電極と対となるように、櫛歯状に薄膜トランジスタのソース電極と一体形成され、櫛歯の終端部において閉じられている箇所を備えている。そして、櫛歯の終端部の閉じられた箇所の外側縁部に切り欠き部が設けられていることを特徴とする。この切り欠き部は、上記のコンタクトホール近傍の画素電極の櫛歯の終端部に設けられる。
本発明の液晶表示装置の第2の構成として、画素電極の櫛歯の終端部の閉じている箇所に切り欠き部を設ける代りに、画素電極の櫛歯の終端部の一部に開放端を設けることができる。この画素電極の櫛歯の終端部の開放端の近くに共通電極と共通信号配線を接続するコンタクトホールを設けることができる。
本発明の液晶表示装置の上記の第2の構成において、第1の基板の映像信号配線、画素電極および共通電極はジグザグ状に屈曲して形成することができる。
上記の本発明の液晶表示装置の第1および第2の構成において、画素電極の櫛歯の終端部の閉じている箇所は、共通信号配線と第2の絶縁層を介して蓄積容量を形成することができる。
また、上記の本発明の液晶表示装置の第1および第2の構成において、映像信号配線上には第3の絶縁層が形成され、この第3の絶縁層を介して共通電極を映像信号配線エッジから張り出すようにパターニングして設けることができる。
以上のように、本発明の液晶表示装置は、ソース電極と一体化した画素電極の櫛歯終端部に切り欠き部を設けるか、またはその一部を開放した構造とした。この構造によってコンタクトホールに割り当てる面積をかせぐことができる。そして、これによって、狭ピッチになって画素に占めるコンタクトホールの面積の割合が大きくなる場合でも、上記の画素電極の櫛歯終端部の切り欠き部または開放した箇所の近くに、共通電極に共通信号配線と接続するためのコンタクトホールを容易に形成することができる。そして、液晶表示装置の開口率を最大限に確保することも可能になる。また、画素電極の櫛歯終端部の閉じている箇所は、共通信号配線間および共通電極間と、それぞれ絶縁膜を介して蓄積容量を形成することも可能になる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して具体的に説明する。
図1は、本発明の液晶表示装置の第1の実施の形態を説明するための平面図であり、図2は、図1のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。図1および図2を参照すると、ガラス等の透明絶縁基板100上にはAl―Nd,Cr等の第1の金属層からなる走査信号配線101と、走査信号配線101と並行する共通信号配線102が形成されている。走査信号配線101、共通信号配線102上にSiO,SiN,SiO等からなる絶縁膜103(ゲート絶縁膜)が形成されている。絶縁膜103上には非晶質シリコンからなる半導体層(表示していない)と、ドレイン電極(表示していない)、およびソース電極106’を形成が形成され、薄膜トランジスタ(TFT)105が構成されている。ドレイン電極は、Al,Al合金,Ag,Ag合金、CrまたはCr合金から選択された一つの金属膜から形成される。ドレイン電極およびソース電極106’と同時に、映像信号配線104とソース電極106’と一体化した画素電極106が形成される。なお、TFTの半導体層は、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法等により非晶質シリコンなどを全面に堆積し、パターニングして形成される。また、ソース電極106’、ドレイン電極、画素電極106、走査信号配線101および共通信号配線102は、Al―Nd,Cr等の金属層をスパッタリング形成した後、フォトリソグラフィ法でパターニングして形成される。絶縁膜103は、SiO,SiN,SiO等のプラズマCVD法で形成される。
映像信号配線104、薄膜トランジスタ105、ソース電極と一体化した画素電極106上にSiN等からなる絶縁膜107が形成され、さらに絶縁膜107上に有機絶縁膜等からなる絶縁膜108を塗布する。絶縁膜108は、映像信号配線104上のみ負荷容量低減の目的で残し、表示領域上は除去する。したがって、絶縁膜108は、透明でも着色していてもどちらでも構わない。絶縁膜108を構成する有機絶縁膜材料としては、例えば誘電率3〜4のアクリル樹脂を使用でき、その膜厚は、1.5〜2μmに形成される。
その後、ITO(Indium Tin Oxide)の透明電極からなる共通電極110が形成される。共通電極110はコンタクトホール112を介して共通信号配線102と電気的に接続される。共通電極110は、映像信号配線104からの漏れ電界をシールドするために、映像信号配線104エッジから張り出すようにパターニングされる。その張り出し幅は、1.5μm以上、好ましくは3〜4μm程度である。
ここで、コンタクトホール112の周辺において、ソース電極106’と一体化した画素電極106の櫛歯終端部の閉じられている箇所の外側縁部に凹状等の形状の切り欠き部を設けている。この構造によってコンタクトホールに割り当てる面積をかせぐことができる。そして、この切り欠き部を設けることによって、狭ピッチになって画素に占めるコンタクトホールの面積の割合が大きくなる場合でも、共通電極に共通信号配線と接続するためのコンタクトホールを容易に形成することができる。そして、液晶表示装置の開口率を最大限に確保することも可能になる。画素電極106の櫛歯終端部の閉じている部分は、共通信号配線102および共通電極110と、それぞれ絶縁膜103および絶縁膜107を介して蓄積容量を形成する役割を持つ。
なお、図1および図2には表示していないが、共通電極の上層には、液晶層とガラス等の透明基板からなる第2の基板が配置され、本発明の液晶表示装置が構成される。
次に本発明の液晶表示装置の第2の実施の形態について図面を参照して説明する。本実施の形態の液晶表示装置は、上記の第1の実施の形態の液晶表示装置の画素電極の櫛歯の終端部の閉じている箇所に切り欠き部を設ける代りに、画素電極の櫛歯の終端部の一部に開放端を設けた場合である。本実施の形態では、上記の第1の実施の形態の液晶表示装置よりも、画素電極の櫛歯の終端部の開放端の近くに共通電極と共通信号配線を接続するコンタクトホールをより容易に設けることができる。
図3は、本発明の液晶表示装置の第2の実施の形態を説明するための平面図であり、図4は、図3のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。
図3および図4を参照すると、ガラス等の透明絶縁基板200上にはAl―Nd,Cr等の第1の金属層からなる走査信号配線201と、走査信号配線201と並行する共通信号配線202が形成されている。走査信号配線201、共通信号配線202上にSiO,SiN,SiO等からなる絶縁膜203(ゲート絶縁膜)が形成されている。絶縁膜203上には非晶質シリコンからなる半導体層(表示していない)と、ドレイン電極(表示していない)、およびソース電極206’を形成が形成され、薄膜トランジスタ(TFT)205が構成されている。ドレイン電極は、Al,Al合金,Ag,Ag合金、CrまたはCr合金から選択された一つの金属膜から形成される。ドレイン電極およびソース電極206’と同時に、映像信号配線204とソース電極206’と一体化した画素電極206が形成される。なお、TFTの半導体層は、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法等により非晶質シリコンなどを全面に堆積し、パターニングして形成される。また、ソース電極206’、ドレイン電極、画素電極206、走査信号配線201および共通信号配線202は、Al―Nd,Cr等の金属層をスパッタリングによって形成した後、フォトリソグラフィ法でパターニングして形成される。絶縁膜203は、SiO,SiN,SiO等のプラズマCVD法で形成される。
映像信号配線204、薄膜トランジスタ205、ソース電極と一体化した画素電極206上にSiN等からなる絶縁膜207が形成され、さらに絶縁膜207上に有機絶縁膜等からなる絶縁膜208を塗布する。絶縁膜208は、映像信号配線204上のみ負荷容量低減の目的で残し、表示領域上は除去する。したがって、絶縁膜208は、透明でも着色していてもどちらでも構わない。絶縁膜208を構成する有機絶縁膜材料としては、例えば誘電率3〜4のアクリル樹脂を使用でき、その膜厚は、1.5〜2μmに形成される。
その後、ITO(Indium Tin Oxide)の透明電極からなる共通電極210が形成される。共通電極210はコンタクトホール212を介して共通信号配線202と電気的に接続される。共通電極210は、映像信号配線204からの漏れ電界をシールドするために、映像信号配線204エッジから張り出すようにパターニングされる。その張り出し幅は、1.5μm以上、好ましくは3〜4μm程度である。
ここで、コンタクトホール212の周辺において、ソース電極206’と一体化した画素電極206の櫛歯終端部(点線サークルDで示す)は閉じていない。この閉じていない画素電極部が共通電極210と重畳するようにしているのは、その周辺で不適切な方向に電界が発生し、液晶分子の回転が乱れることを防止するためである。
本発明の液晶表示装置は、コンタクトホール212の周辺において、画素電極206の櫛歯終端部を閉じない構造(開放構造)とした。この構造によってコンタクトホールに割り当てる面積をかせぐことができる。そして、狭ピッチになって画素に占めるコンタクトホールの面積の割合が大きくなる場合でも、画素電極の櫛歯終端部の一部を閉じない近辺の共通電極に共通信号配線と接続するためのコンタクトホールを形成することができる。そして、液晶表示装置の開口率を最大限に確保することが可能になる。画素電極206の櫛歯終端部の閉じている部分は、共通信号配線202および共通電極210と、それぞれ絶縁膜203および絶縁膜207を介して蓄積容量を形成する役割を持つ。また、櫛歯終端部の一部を閉じない構造とすることにより、蓄積容量値を適切に調整することも可能になる。
なお、図3および図4には表示していないが、共通電極の上層には、液晶層とガラス等の透明基板からなる第2の基板が配置され、本発明の液晶表示装置が構成される。
次に本発明の液晶表示装置の第3の実施の形態について図面を参照して説明する。図5は、本発明の液晶表示装置の第1の実施の形態を説明するための平面図であり、図6は、図5のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。本実施の形態の液晶表示装置は、映像信号配線、画素電極、共通電極をジグザグ状に屈曲させた、いわゆるマルチドメイン方式の一例である。
図5および図6を参照すると、ガラス等の透明絶縁基板300上にはAl―Nd,Cr等の金属層からなる走査信号配線301と、走査信号配線301と並行する共通信号配線302が形成されている。走査信号配線301、共通信号配線302上にSiO,SiN,SiO等からなる絶縁膜303(ゲート絶縁膜)が形成され、絶縁膜303上に非晶質シリコンからなる半導体層(表示していない)と、Al,Al合金,Ag,Ag合金、CrまたはCr合金から選択された一つの金属膜からなるドレイン電極(表示していない)およびソース電極306’を形成して薄膜トランジスタ(TFT)305が形成されている。ドレイン電極(表示していない)およびソース電極306’と同時に、映像信号配線304とソース電極306’と一体化した画素電極306が形成される。なお、TFT305の半導体層は、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法等により非晶質シリコンなどを全面に堆積し、パターニングして形成される。また、ソース電極306’、ドレイン電極、画素電極306、走査信号配線301および共通信号配線302は、Al―Nd,Cr等の金属層をスパッタリングで形成した後、フォトリソグラフィ法でパターニングして形成される。絶縁膜303は、SiO,SiN,SiO等のプラズマCVD法で形成される。
次に、映像信号配線304、薄膜トランジスタ305およびソース電極と一体化した画素電極306上にSiN等からなる絶縁膜307が形成される。そして、さらに絶縁膜307上に有機絶縁膜等からなる絶縁膜308が塗布形成される。絶縁膜308は、上記の本発明の第1の実施の形態の液晶表示装置と同様に、映像信号配線304上のみ負荷容量低減の目的で残し、表示領域上は除去する。絶縁膜308は、上記の本発明の第1の実施の形態の液晶表示装置と同様に、アクリル樹脂等の有機絶縁膜を使用する。その膜厚は、1.5〜2μm程度である。ここで、映像信号配線304および画素電極306は、屈曲形状にパターニングされる。
その後、ITO(Indium Tin Oxide)の透明電極からなる共通電極310を映像信号配線304および画素電極306のパターン形状に合わせて屈曲形状に形成する。共通電極310はコンタクトホール312を介して共通信号配線302と電気的に接続される。
共通電極310は、映像信号配線304からの漏れ電界をシールドするために、映像信号配線304エッジからの張り出すようにパターニングされる。その張り出し幅は、1.5μm以上、好ましくは3〜4μm程度である。
ここで、コンタクトホール312の周辺において、ソース電極306’と一体化した画素電極306の櫛歯終端部(点線サークルGで示す)は閉じていない。この構造によってコンタクトホールに割り当てる面積をかせぐことができる。そして、狭ピッチになって画素に占めるコンタクトホールの面積の割合が大きくなる場合でも、開口率を最大限に確保することが可能になる。また、画素電極306の櫛歯終端部の閉じている部分は、共通信号配線202および共通電極310と、それぞれ絶縁膜303および絶縁膜307を介して蓄積容量を形成する。櫛歯終端部の一部を閉じない部分により蓄積容量値を適切に調整することが可能になる。
本実施の形態では、これらの映像信号配線304、共通信号配線302および共通電極310は、一回屈曲になっているが、もっと多数回屈曲させてもよい。ラビング方向は垂直方向となり、屈曲部頂点を境界にドメイン毎に液晶の分子軸の回転方向が異なるようにする。このようにすることにより、液晶を2方向に回転させることができるため、2方向に回転した液晶は互いに視野角特性を補償しあうので、さらに視野角特性を向上させることができる。
以上、図面を参照して、本発明の液晶表示装置の実施の形態について詳述してきたが、具体的な構成はこの上記の記載に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。
本発明は、各種電子装置の表示装置に使用される液晶表示装置、特に高開口率かつ高コントラストな、横電界方式のアクティブマトリクス型液晶表示装置に利用できる。
本発明の第1の実施の形態の液晶表示装置の平面図である。 図1のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。 本発明の第2の実施の形態の液晶表示装置の平面図である。 図3のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。 本発明の第3の実施の形態の液晶表示装置の平面図である。 図5のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。 従来のIPS方式の液晶表示装置の平面図である。 図7のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。 従来の他のIPS方式の液晶表示装置の平面図である。 図9のA−A’線、B−B’およびC−C’線に沿った断面図である。
符号の説明
100,200,300,400,500 透明絶縁基板
101,201,301,401,501 走査信号配線
102,202,302,402,502 共通信号配線
104,204,304,404,504 映像信号配線
105,205,305,405,505 薄膜トランジスタ
106,206,306,406,506 画素電極
106’,206’,306’,406’ ソース電極
108,208,308,408,508 絶縁膜
110,210,310,410,510 共通電極
112,212,312,412,512 コンタクトホール
103,203,303,403,503 絶縁膜
107,207,307,407,507 絶縁膜
409 画素電極
411 コンタクトホール

Claims (10)

  1. 走査信号配線および映像信号配線の各交点に薄膜トランジスタを備えた第1の基板と、前記第1の基板と対向する第2の基板と、前記第1の基板と第2の基板に狭持された液晶層とを備え、前記第1の基板に設けられた画素電極と共通電極の間に電圧を印加して駆動される横電界方式のアクティブマトリクス型液晶表示装置において、前記画素電極は透明電極からなり、前記薄膜トランジスタに接続され、前記共通電極は、第1の絶縁層を介して前記映像信号配線より上層に配置され、前記映像信号配線より下層に第2の絶縁層を介して配置された共通信号配線とコンタクトホールを介して電気的に接続されており、前記画素電極は、前記共通電極と対となるように、櫛歯状に前記薄膜トランジスタのソース電極と一体形成され、前記櫛歯の終端部において閉じられている箇所を備え、前記閉じられている箇所の外側縁部に切り欠き部が設けられていることを特徴とする液晶表示装置。
  2. 前記切り欠き部は、前記コンタクトホール近傍の前記画素電極の前記櫛歯の前記終端部に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
  3. 走査信号配線および映像信号配線の各交点に薄膜トランジスタを備えた第1の基板と、前記第1の基板と対向する第2の基板と、前記第1の基板と第2の基板に狭持された液晶層とを備え、前記第1の基板に設けられたと共通電極の間に電圧を印加して駆動する横電界方式のアクティブマトリクス型液晶表示装置において、前記画素電極は透明電極かなり、前記薄膜トランジスタに接続され、前記共通電極は、第1の絶縁層を介して前記映像信号配線より上層に配置され、前記映像信号配線より下層に第2の絶縁層を介して配置された共通信号配線とコンタクトホールを介して電気的に接続されており、前記画素電極は、前記共通電極と対となるように、櫛歯状に前記薄膜トランジスタのソース電極と一体形成され、かつ、前記櫛歯の終端部に閉じられている箇所と開放されている箇所とを備えることを特徴とする液晶表示装置。
  4. 前記画素電極の櫛歯の前記終端部の前記開放している箇所は、前記コンタクトホールの近傍に設けられていることを特徴とする請求項3に記載の液晶表示装置。
  5. 前記第1の基板において、前記映像信号配線、前記画素電極、前記共通電極がジグザグ状に屈曲して形成されていることを特徴とする、請求項3または4に記載の液晶表示装置。
  6. 前記画素電極の櫛歯の前記終端部の閉じている前記箇所は、前記共通信号配線と前記第2の絶縁層を介して蓄積容量を形成することを特徴とする請求項3〜5のいずれかに記載の液晶表示装置。
  7. 前記画素電極の櫛歯の前記終端部の前記開放している箇所に、前記共通電極が重畳して設けられていることを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の液晶表示装置。
  8. 前記映像信号配線上には第3の絶縁層が形成され、前記第3の絶縁層を介して前記共通電極は、前記映像信号配線エッジから張り出すようにパターニングされていることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の液晶表示装置。
  9. 前記第3の絶縁層は、アクリル樹脂から形成されていることを特徴とする請求項8に記載の液晶表示装置。
  10. 前記共通信号配線、前記映像信号配線および前記画素電極は、Al,Al合金,Ag,Ag合金、CrまたはCr合金から選択された一つの金属膜から形成されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の液晶表示装置。
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