JP2005217993A - Photographing apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To make a photographing apparatus smaller by arranging magnets and coils for driving an image pickup element with high space efficiency. <P>SOLUTION: This photographing apparatus has the image pickup element 151 for photoelectrically converting a subject image, a supporting member 156 for supporting the image pickup element in a movable way, the magnets 155p and 155y provided at a rear face side opposite from a light receiving face in the image pickup element, and the coils 159p and 159y provided at an area that almost faces the magnets in the supporting member in the direction of an optical axis and for driving the image pickup element with the magnets by electromagnetic action. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、手振れによって生じる像振れを補正する機構を備えた撮影装置に関するものである。   The present invention relates to a photographing apparatus provided with a mechanism for correcting image blur caused by camera shake.

現在のカメラは露出決定やピント合わせ等の撮影にとって重要な作業は全て自動化され、カメラ操作に未熟な人でも撮影失敗を起こす可能性は非常に少なくなっている。また、最近では、カメラに加わる手振れによって生じる像振れを防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影ミスを誘発する要因は殆ど無くなってきている。   With the current camera, all the important tasks for shooting such as determining exposure and focusing are automated, and it is very unlikely that people who are unskilled in camera operation will fail to shoot. Recently, a system for preventing image blur caused by camera shake applied to the camera has been studied, and a factor that causes a photographer to take a photograph is almost eliminated.

ここで、像振れを防ぐシステムについて簡単に説明する。   Here, a system for preventing image blur will be briefly described.

撮影時のカメラの手振れは周波数として通常1Hz〜10Hzの振動となっている。撮像媒体(フィルムや撮像素子)への露光の際に、上記の手振れを起こしていても像振れの無い画像を得るためには、第1に手振れによるカメラの振動を正確に検出し、第2に手振れによる光軸変化を補正することが必要となる。   The camera shake at the time of shooting usually has a frequency of 1 Hz to 10 Hz. In order to obtain an image with no image blur even when the above-mentioned camera shake occurs during exposure to an imaging medium (film or image sensor), first, the camera vibration due to the camera shake is accurately detected, and second Therefore, it is necessary to correct the change in the optical axis due to camera shake.

このためには、加速度、角加速度、角速度、角変位等を検出し、この検出信号に対して像振れ補正を行うための演算処理を行う振動検出ユニットをカメラに搭載する。そして、像振れを補正するための補正装置を、振動検出ユニットの検出情報に基づいて駆動させる。   For this purpose, a camera is mounted with a vibration detection unit that detects acceleration, angular acceleration, angular velocity, angular displacement, and the like and performs arithmetic processing for performing image blur correction on the detected signal. Then, a correction device for correcting image blur is driven based on detection information of the vibration detection unit.

ここで、像振れを補正する第1の方法としては、レンズを移動させて光軸を偏心させる方法がある。また、第2の方法としては、撮像素子を撮影光軸と直交する方向に駆動して像振れを補正するものがある(例えば、特許文献1〜5参照)。   Here, as a first method for correcting the image blur, there is a method of decentering the optical axis by moving the lens. Further, as a second method, there is a method of correcting image blur by driving the image sensor in a direction orthogonal to the photographing optical axis (see, for example, Patent Documents 1 to 5).

最近のデジタルカメラにおいては、撮像素子の小型化および低ノイズ化により、上記第2の方法のように撮像素子を移動させて撮影時の光学劣化を抑制することが比較的行い易くなってきている。特許文献1、2、3では、電磁的作用によって撮像素子を駆動して像振れを補正しており、特許文献4、5では、撮像素子を圧電的に駆動して像振れを補正している。
特開昭63−217778号公報(2頁右上欄4行〜右下欄7行、図1〜図3) 特開平3−68916号公報(3頁左上欄10行〜右上欄8行、図2) 特開平6−46322号公報(段落番号0037、0038、図4) 特開2002−296633号公報(段落番号027、0028、図2) 特開2003−110919号公報(段落番号0022、図4)
In recent digital cameras, due to the downsizing and low noise of the image sensor, it is relatively easy to move the image sensor as in the second method to suppress optical deterioration during shooting. . In Patent Documents 1, 2, and 3, image pickup is corrected by driving an image pickup element by electromagnetic action, and in Patent Documents 4 and 5, image pickup is corrected by driving the image pickup element piezoelectrically. .
JP-A-63-217778 (page 2, upper right column, line 4 to lower right column, line 7; FIGS. 1 to 3) JP-A-3-68916 (page 3, upper left column, line 10 to upper right column, line 8, line 2) JP-A-6-46322 (paragraph numbers 0037 and 0038, FIG. 4) JP 2002-296633 A (paragraph numbers 027, 0028, FIG. 2) Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-110919 (paragraph number 0022, FIG. 4)

上述した特許文献1〜5に記載されているカメラでは、撮像素子の周辺に配置された撮像素子の駆動機構の構造が複雑となっているため、カメラが大型化してしまう。また、撮像素子を駆動した際に生じる熱によって撮像素子がノイズの影響を受けたり、感度が低下したりする問題がある。   In the cameras described in Patent Documents 1 to 5 described above, since the structure of the drive mechanism of the image sensor disposed around the image sensor is complicated, the camera is increased in size. In addition, there is a problem that the image sensor is affected by noise due to heat generated when the image sensor is driven, and sensitivity is lowered.

上記の問題は、撮像素子を移動させて像振れ補正を行う場合に限られず、例えば焦点調節を行うために撮像素子を撮影光軸方向に移動させる駆動機構の場合や、実際の合焦駆動ではなく、合焦のための情報を得るために撮像素子を撮影光軸方向に細かく振動させる場合(ウォブリング)においても発生するおそれがある。   The above problem is not limited to image blur correction by moving the image sensor. For example, in the case of a drive mechanism that moves the image sensor in the direction of the photographing optical axis to perform focus adjustment, In addition, there is a possibility that it may occur even when the image sensor is vibrated finely in the direction of the photographing optical axis (wobbling) in order to obtain information for focusing.

本発明の撮影装置は、被写体像を光電変換する撮像素子と、撮像素子を移動可能に支持する支持部材と、撮像素子における受光面とは反対の背面側に設けられた磁石と、支持部材における磁石に光軸方向にて略対向する領域に設けられ、磁石との間での電磁作用により撮像素子を駆動するコイルとを有することを特徴とする。   An imaging device according to the present invention includes an image sensor that photoelectrically converts a subject image, a support member that movably supports the image sensor, a magnet that is provided on the back side opposite to the light receiving surface of the image sensor, and a support member. And a coil that is provided in a region substantially facing the magnet in the optical axis direction and drives the imaging device by electromagnetic action with the magnet.

本発明の撮影装置によれば、磁石を撮像素子の背面側に設けるとともに、コイルを前記磁石と光軸方向にて略対向する領域に設けることによって、撮像素子を駆動するための機構を簡単な構成とすることができるとともに、撮像素子の背面側のスペースを効率良く利用できる。これによって、撮影装置の小型化を図ることが可能となる。   According to the photographing apparatus of the present invention, a magnet is provided on the back side of the image sensor, and a coil is provided in a region substantially opposed to the magnet in the optical axis direction, thereby providing a simple mechanism for driving the image sensor. While being able to set it as a structure, the space of the back side of an image sensor can be utilized efficiently. This makes it possible to reduce the size of the photographing apparatus.

ここで、撮像素子の背面に当接し、撮像素子の放熱を行う磁性部材を設ければ、撮像素子で発生する熱によってノイズの増加および撮像素子の感度の低下を抑制することができる。   Here, if a magnetic member that contacts the back surface of the image sensor and dissipates heat from the image sensor is provided, an increase in noise and a decrease in sensitivity of the image sensor can be suppressed by heat generated in the image sensor.

以下、本発明の実施例について詳細に説明する。   Examples of the present invention will be described in detail below.

図1は、本発明の実施例1であるデジタルカメラ(撮影装置)の断面図であり、主にレンズ鏡筒の構成を示している。   FIG. 1 is a cross-sectional view of a digital camera (photographing apparatus) that is Embodiment 1 of the present invention, and mainly shows the configuration of a lens barrel.

図1において、レンズ鏡筒16内には、物体側から順に、レンズ鏡筒16の先端に固定された第1レンズユニット11と、撮影光学系の変倍のために撮影光軸10上を移動する第2レンズユニット12と、撮影光学系の焦点調節のために撮影光軸10上を移動する第3レンズユニット13とが配置されている。このレンズ鏡筒16は、カメラ本体17に備え付けられている。   In FIG. 1, in the lens barrel 16, the first lens unit 11 fixed to the tip of the lens barrel 16 and the photographic optical axis 10 are moved in order from the object side for zooming of the photographic optical system. A second lens unit 12 that moves, and a third lens unit 13 that moves on the shooting optical axis 10 to adjust the focus of the shooting optical system are arranged. The lens barrel 16 is provided in the camera body 17.

撮像素子ユニット15は、レンズ鏡筒16の後部に配置されている。撮像素子ユニット15内に設けられた、CCDやCMOSセンサ等の撮像素子は、上記のレンズユニット11〜13および光学ローパスフィルタ14を通過した撮影光束を受光する。   The image sensor unit 15 is disposed at the rear part of the lens barrel 16. An image sensor such as a CCD or CMOS sensor provided in the image sensor unit 15 receives the photographic light flux that has passed through the lens units 11 to 13 and the optical low-pass filter 14.

図2は、撮像素子ユニット15をカメラ正面側(物体側)から見た図であり、図3(A)は、撮像素子ユニット15を側面から見たときの拡大図である。   2 is a diagram of the image sensor unit 15 as viewed from the front side (object side) of the camera, and FIG. 3A is an enlarged view of the image sensor unit 15 as viewed from the side surface.

撮像素子151の表面(受光面)には、赤外カットフィルタ152が設けられている。赤外カットフィルタ152および撮像素子151は、保持枠153(振れ補正ユニットの一部)に保持されている。   An infrared cut filter 152 is provided on the surface (light receiving surface) of the image sensor 151. The infrared cut filter 152 and the image sensor 151 are held by a holding frame 153 (a part of the shake correction unit).

保持枠153の上端部および下端部には、図3(A)に示すように溝部153aが設けられており、この溝部153aのうち光軸方向で向かい合う側壁には、偏心ピン157の先端に球状に形成された当接部157aが当接している。偏心ピン157は、地板156の穴部に圧入されており、保持枠153は、偏心ピン157によって光軸方向において位置決めされている。   As shown in FIG. 3A, a groove 153a is provided at the upper end and the lower end of the holding frame 153. A side wall of the groove 153a facing in the optical axis direction is spherical at the tip of the eccentric pin 157. The contact part 157a formed in the contact is in contact. The eccentric pin 157 is press-fitted into the hole of the main plate 156, and the holding frame 153 is positioned in the optical axis direction by the eccentric pin 157.

一方、溝部153aの底面と当接部157aとの間や、溝部153aのうちカメラ横方向で向かい合う側壁と当接部157aとの間には、図2および図3に示すように、クリアランスが設けられている。このため、保持枠153は偏心ピン157に対して摺動することによって、矢印1516p方向(ピッチ方向)、矢印1516y方向(ヨー方向)、矢印1516r方向(時計方向)に動くことができる。すなわち、保持枠153は、光軸と直交する面内を移動することができる。   On the other hand, clearances are provided between the bottom surface of the groove portion 153a and the contact portion 157a, or between the side wall facing the camera in the lateral direction of the groove portion 153a and the contact portion 157a, as shown in FIGS. It has been. Therefore, the holding frame 153 can move in the arrow 1516p direction (pitch direction), the arrow 1516y direction (yaw direction), and the arrow 1516r direction (clockwise) by sliding with respect to the eccentric pin 157. That is, the holding frame 153 can move in a plane orthogonal to the optical axis.

偏心ピン157にはマイナス溝部157bが設けられており、マイナスドライバーなどを利用して偏心ピン157を地板156に対して回転させると、偏心ピン157の当接部157aと当接する溝部153aの光軸方向における位置を微少量変位させることができる。すなわち、図3(B)に示すように、当接部157aの中心が偏心ピン157の回転軸に対して所定量dだけずれており、偏心ピン157の回転によって溝部153aの位置を変えることができる。   The eccentric pin 157 is provided with a minus groove portion 157b. When the eccentric pin 157 is rotated with respect to the ground plate 156 using a minus driver or the like, the optical axis of the groove portion 153a that abuts on the abutment portion 157a of the eccentric pin 157 The position in the direction can be displaced by a small amount. That is, as shown in FIG. 3B, the center of the contact portion 157a is shifted by a predetermined amount d with respect to the rotation axis of the eccentric pin 157, and the position of the groove portion 153a can be changed by the rotation of the eccentric pin 157. it can.

例えば偏心量dが±0.2mmである場合において、3つの偏心ピン157を同じ方向に同じ量だけ回すと、撮像素子151(保持枠153)はレンズ鏡筒16(又は光学ローパスフィルタ14)に対して最大±0.2mmのピント方向(光軸方向)の調整ができる。   For example, when the eccentric amount d is ± 0.2 mm, if the three eccentric pins 157 are rotated by the same amount in the same direction, the image sensor 151 (holding frame 153) is moved to the lens barrel 16 (or the optical low-pass filter 14). On the other hand, the focus direction (optical axis direction) can be adjusted up to ± 0.2 mm.

また、3つの偏心ピン157のうち1つ或いは2つの偏心ピン157を回転させると、撮像素子151の受光面と撮影光軸10とのなす角度を微妙に調整でき、これにより像の方ボケを補正することができる。   Further, by rotating one or two of the three eccentric pins 157, the angle formed by the light receiving surface of the image sensor 151 and the photographing optical axis 10 can be finely adjusted, thereby reducing the image blur. It can be corrected.

偏心ピン157の当接部157aは球状に形成されているため、撮像素子151の受光面が撮影光軸10に対して傾いても、当接部157aおよび溝部153aの当接は点接触を維持したままであり、撮像素子151を容易に傾かせることができる。   Since the contact portion 157a of the eccentric pin 157 is formed in a spherical shape, the contact of the contact portion 157a and the groove portion 153a maintains point contact even when the light receiving surface of the image sensor 151 is inclined with respect to the photographing optical axis 10. Thus, the image sensor 151 can be easily tilted.

3本の偏心ピン157のうち、撮像素子ユニット15の上下方向において互いに向かい合い、軸1515上に配置された2つの偏心ピン157それぞれには、圧縮コイルバネ158(第1および第2のコイルバネ)が設けられている。この圧縮コイルバネ158は、互いに相反する方向に保持枠153を付勢している。   Of the three eccentric pins 157, the two eccentric pins 157 facing each other in the vertical direction of the image sensor unit 15 and arranged on the shaft 1515 are provided with compression coil springs 158 (first and second coil springs). It has been. The compression coil spring 158 biases the holding frame 153 in directions opposite to each other.

これらの圧縮コイルバネ158の付勢力は互いに相殺する方向に働くため、これらの付勢力による駆動負荷は生じないで、保持枠153の光軸直交面内の変位に応じたバネ力(バネ定数)だけが駆動負荷となる。   Since the urging forces of these compression coil springs 158 work in a direction to cancel each other, no driving load is generated by these urging forces, and only the spring force (spring constant) corresponding to the displacement in the plane perpendicular to the optical axis of the holding frame 153 is generated. Becomes a driving load.

圧縮コイルバネ158の矢印1516p方向のバネ力(バネ定数)はバネの線径、有効巻き数、コイル径、線材の横弾性係数により設定され、矢印1516y方向のバネ力(曲げ応力)はバネの線径、有効巻き数、コイル径、線材の縦弾性係数、およびバネの長さとコイル径の比により設定される。   The spring force (spring constant) in the direction of the arrow 1516p of the compression coil spring 158 is set by the wire diameter of the spring, the effective number of turns, the coil diameter, and the transverse elastic coefficient of the wire, and the spring force (bending stress) in the direction of the arrow 1516y is the spring wire. It is set by the diameter, the effective number of windings, the coil diameter, the longitudinal elastic modulus of the wire, and the ratio of the spring length to the coil diameter.

したがって、バネの長さとコイル径を適切に設定すると、矢印1516p方向のバネ力と矢印1516y方向のバネ力を略等しくすることができ、これら2方向にバランス良く保持枠153を駆動させることができる。   Accordingly, when the spring length and the coil diameter are appropriately set, the spring force in the direction of the arrow 1516p and the spring force in the direction of the arrow 1516y can be made substantially equal, and the holding frame 153 can be driven in a balanced manner in these two directions. .

図3(A)に示すように、保持枠153には磁性材(例えば鉄材)で構成された放熱板(磁性部材)154が設けられ、撮像素子151の受光面と光軸方向で対向する面(背面)に接触している。この放熱板154は、連続的な撮像動作に伴って撮像素子151で発生した熱を外部に放出させる役割を果たす。撮像素子151は高熱になるほど撮像感度が低下し、ノイズも増えるため、これを防ぐために放熱板154が必要となる。   As shown in FIG. 3A, the holding frame 153 is provided with a heat radiating plate (magnetic member) 154 made of a magnetic material (for example, iron material), and faces the light receiving surface of the image sensor 151 in the optical axis direction. Touching (back). The heat radiating plate 154 plays a role of releasing the heat generated in the image sensor 151 with the continuous image capturing operation. Since the imaging sensitivity decreases as the temperature of the imaging element 151 increases and noise increases, a heat sink 154 is required to prevent this.

本実施例では、放熱板154に磁石155p、155yを吸着によって固定させている。また、磁石155p、155yは、図2や図3(A)に示すように、光軸直交面内に配置されているとともに、撮像素子151と光軸方向で重なる領域内に配置されている。ここで、放熱板154に磁石155p、155yを固定することで、図3(A)で示すように放熱板154に磁路155aを形成させることができ、放熱板154を用いて磁石155p、155yの有効利用ができる。   In this embodiment, the magnets 155p and 155y are fixed to the heat radiating plate 154 by adsorption. Further, as shown in FIGS. 2 and 3A, the magnets 155p and 155y are arranged in a plane orthogonal to the optical axis and are arranged in a region overlapping with the image sensor 151 in the optical axis direction. Here, by fixing the magnets 155p and 155y to the heat sink 154, a magnetic path 155a can be formed in the heat sink 154 as shown in FIG. 3A, and the magnets 155p and 155y can be formed using the heat sink 154. Can be used effectively.

地板156のうち、磁石155p、155yに対して特定の間隔をおいて光軸方向で向かい合う領域には、コイル159p、159yが設けられている。すなわち、コイル159p、159yは、図2や図3(A)に示すように光軸直交面内に配置されている。ここで、コイル159pに電流を流すと、コイル159pおよび磁石155pの磁気的相互作用によって、保持枠153(撮像素子151)が矢印1516p方向に移動する。同様に、コイル159yに電流を流すと、保持枠153が矢印1516y方向に移動する。   Coils 159p and 159y are provided in a region of the ground plate 156 facing the magnets 155p and 155y in the optical axis direction at a specific interval. That is, the coils 159p and 159y are arranged in the optical axis orthogonal plane as shown in FIG. 2 and FIG. Here, when a current is passed through the coil 159p, the holding frame 153 (image sensor 151) moves in the direction of the arrow 1516p due to the magnetic interaction between the coil 159p and the magnet 155p. Similarly, when a current is passed through the coil 159y, the holding frame 153 moves in the arrow 1516y direction.

本実施例によれば、撮像素子151を駆動するための駆動部材(磁石155p、155yやコイル159p、159y)を、撮像素子151(保持枠153)の背面側(撮像素子151と撮影光軸方向で重なる領域内)に配置している。このため、上記の駆動部材を撮像素子151に対して光軸直交方向に配置する場合に比べて、撮像素子ユニット15(更にはカメラ)が光軸直交方向で大型化するのを防止することができる。   According to the present embodiment, the drive members (magnets 155p, 155y and coils 159p, 159y) for driving the image sensor 151 are arranged on the back side of the image sensor 151 (holding frame 153) (the image sensor 151 and the photographic optical axis direction). In the overlapping area). For this reason, it is possible to prevent the image pickup device unit 15 (and the camera) from being enlarged in the direction perpendicular to the optical axis as compared with the case where the drive member is arranged in the direction perpendicular to the optical axis with respect to the image pickup device 151. it can.

しかも、一対の磁石155p、155yや一対のコイル159p、159yを光軸直交面内に配置することで、これら一対の部材を光軸方向で並べて配置する場合に比べて撮像素子ユニット15が光軸方向で大型化するのを抑制することができる。すなわち、本実施例(以下に説明する実施例でも同様)では、撮像素子151(保持枠153)の裏側(撮像素子151に対して図3(A)の右側)のスペースを効率良く利用することによって、撮像素子ユニット15、更にはカメラの小型化を図ることができる。また、本実施例では、後述するように簡単な構成によって撮像素子151を矢印1516p方向および矢印1516y方向に移動させることができる。   In addition, by arranging the pair of magnets 155p and 155y and the pair of coils 159p and 159y in the plane orthogonal to the optical axis, the imaging element unit 15 has an optical axis compared to the case where these pair of members are arranged side by side in the optical axis direction. An increase in size in the direction can be suppressed. That is, in the present embodiment (the same applies to the embodiments described below), the space on the back side of the image sensor 151 (holding frame 153) (the right side of FIG. 3A with respect to the image sensor 151) is efficiently used. Thus, the image sensor unit 15 and the camera can be downsized. In the present embodiment, as described later, the image sensor 151 can be moved in the arrow 1516p direction and the arrow 1516y direction with a simple configuration.

ここでコイル159p、159yを保持枠153に配置せず、地板156に配置した理由を説明する。   Here, the reason why the coils 159p and 159y are not arranged on the holding frame 153 but on the main plate 156 will be described.

上述した保持枠153の駆動構成においては、コイル159p、159yが磁石155p、155yよりも大きくなる。このため、可動側(保持枠153)にコイル159p、159yを配置すると、保持枠153の移動に伴うコイル159p、159yの逃げを多く設ける必要があり、撮像素子ユニット15が大型化してしまう。   In the drive configuration of the holding frame 153 described above, the coils 159p and 159y are larger than the magnets 155p and 155y. For this reason, if the coils 159p and 159y are arranged on the movable side (holding frame 153), it is necessary to provide a large escape of the coils 159p and 159y accompanying the movement of the holding frame 153, and the image pickup device unit 15 is increased in size.

本実施例のようにコイル159p、159yよりも小さい磁石155p、155yを保持枠153(可動側)に配置した場合には、上記の場合に比べて撮像素子ユニット15を小型化できる。すなわち、保持枠153の移動に伴う磁石155p、155yの動作領域を、保持枠153にコイル159p、159yを設けたときのコイル159p、159yの動作領域よりも小さくできる。また、上述したように放熱板154を磁路板(ヨーク)として使用することもできる。   When the magnets 155p and 155y smaller than the coils 159p and 159y are arranged on the holding frame 153 (movable side) as in the present embodiment, the image sensor unit 15 can be downsized compared to the above case. That is, the operation area of the magnets 155p and 155y accompanying the movement of the holding frame 153 can be made smaller than the operation area of the coils 159p and 159y when the coils 159p and 159y are provided on the holding frame 153. Further, as described above, the heat dissipation plate 154 can be used as a magnetic path plate (yoke).

一方、磁石155p、155yを固定側(地板156)に設けると、地板156には磁路板を設ける必要があるために、地板156が大型化してしまう。また、コイル159p、159yに電流を流していると、コイル159p、159yでの発熱によって撮像素子151に悪影響(例えば、ノイズの増加)を及ぼす恐れがある。   On the other hand, if the magnets 155p and 155y are provided on the fixed side (base plate 156), the base plate 156 needs to be provided with a magnetic path plate, and thus the base plate 156 is enlarged. In addition, when a current is passed through the coils 159p and 159y, there is a possibility that the image sensor 151 is adversely affected (for example, an increase in noise) due to heat generated in the coils 159p and 159y.

上記の理由から、撮像素子ユニット15の小型化を図りつつ、コイル159p、159yの発熱によって撮像素子151での撮像性能に影響を与えないために、本実施例では、磁石155p、155yを保持枠153(撮像素子151)側に配置し、コイル159p、159yを地板156側に配置している。このようにコイル159p、159yを撮像素子151から離して配置するとともに、コイル159p、159yとの間に配置された放熱板154によって、コイル159p、159yの発熱による撮像素子151への悪影響を抑制することができる。   For the above reasons, in this embodiment, the magnets 155p and 155y are attached to the holding frame in order to reduce the size of the image sensor unit 15 and to prevent the heat generation of the coils 159p and 159y from affecting the imaging performance of the image sensor 151. 153 (imaging element 151) side, and coils 159p and 159y are arranged on the ground plane 156 side. In this manner, the coils 159p and 159y are arranged away from the image sensor 151, and the heat radiation plate 154 disposed between the coils 159p and 159y suppresses adverse effects on the image sensor 151 due to heat generated by the coils 159p and 159y. be able to.

一方、地板156にはダンパー板1517が設けられている。ダンパー板1517は、例えば銅板などの非磁性板で構成されており、磁石155p、155yと引き合わないようになっている。   On the other hand, the base plate 156 is provided with a damper plate 1517. The damper plate 1517 is made of a non-magnetic plate such as a copper plate, for example, and does not attract the magnets 155p and 155y.

そして、保持枠153の移動に伴って磁石155p、155yが移動すると、ダンパー板1517に渦電流が発生し、この過電流により保持枠153の地板156に対するダンピングが行われる。   When the magnets 155p and 155y move with the movement of the holding frame 153, an eddy current is generated in the damper plate 1517, and the damping of the holding frame 153 with respect to the base plate 156 is performed by this overcurrent.

地板156に設けられた各コイル159p、159yの中央部にはホール素子などの磁気検出センサ1511p、1511yが設けられており、対向する磁石155p、155yの移動による磁界変化を検出している。即ち、磁気検出センサ1511pは保持枠153の矢印1516p方向の移動を検出し、磁気検出センサ1511yは保持枠1516y方向の移動を検出している。   Magnetic detection sensors 1511p and 1511y such as Hall elements are provided at the center of the coils 159p and 159y provided on the ground plane 156, and a magnetic field change due to the movement of the opposing magnets 155p and 155y is detected. That is, the magnetic detection sensor 1511p detects the movement of the holding frame 153 in the direction of the arrow 1516p, and the magnetic detection sensor 1511y detects the movement of the holding frame 1516y.

本実施例のカメラでは、以下に述べるように、磁気検出センサ1511p、1511yの検出結果に基づいて保持枠153の駆動制御を行うことで、カメラに加わる手振れによって生じる像振れを補正するようにしている。   In the camera according to the present embodiment, as described below, the drive control of the holding frame 153 is performed based on the detection results of the magnetic detection sensors 1511p and 1511y so as to correct image blur caused by camera shake applied to the camera. Yes.

本実施例のように保持枠153(撮像素子151)を光軸と直交する面内で移動させて像振れを補正することによって、像振れ補正を行うためにレンズを光軸直交面内で移動させる必要がなくなる。これにより、レンズの設計自由度があがり、レンズ鏡筒を径方向で小型化できる。しかも、レンズ鏡筒内にレンズ駆動用のフレキシブル基板を這いまわす必要が無いため、フレキシブル基板によって撮影光が反射するといった問題も避けることができる。   As in this embodiment, the lens is moved in the plane orthogonal to the optical axis in order to correct the image blur by moving the holding frame 153 (image sensor 151) in the plane orthogonal to the optical axis. There is no need to let them. This increases the degree of freedom in designing the lens, and the lens barrel can be downsized in the radial direction. In addition, since it is not necessary to move the lens driving flexible substrate in the lens barrel, the problem that the photographing light is reflected by the flexible substrate can be avoided.

図4は、本実施例のカメラのうち像振れ補正に関する回路構成を示したブロック図である。   FIG. 4 is a block diagram showing a circuit configuration relating to image blur correction in the camera of this embodiment.

本実施例では、カメラに加わる振動を検出するための振動検出センサ45pとしてカメラの振れ角速度を検出する振動ジャイロを用いている。振動ジャイロはカメラのメインスイッチ425のオンと同期して駆動され、カメラに加わる振れ角速度の検出を開始する。なお、振動検出センサ45pは、矢印1516p方向に関する振動を検出するためのセンサであり、本実施例のカメラには、矢印1516y方向に関する振動を検出するためのセンサも設けられている。これらのセンサの原理は同じであるため、以下、振動検出センサ45pについてのみ説明する。   In the present embodiment, a vibration gyro that detects the shake angular velocity of the camera is used as the vibration detection sensor 45p for detecting vibration applied to the camera. The vibration gyro is driven in synchronism with the turning on of the main switch 425 of the camera, and starts detection of the shake angular velocity applied to the camera. The vibration detection sensor 45p is a sensor for detecting vibration in the direction of the arrow 1516p, and the camera of this embodiment is also provided with a sensor for detecting vibration in the direction of the arrow 1516y. Since the principles of these sensors are the same, only the vibration detection sensor 45p will be described below.

振動検出センサ45pの出力信号は振動信号差動回路420pによりカメラマイコン411からのDC信号との差分が求められ、その後差動信号増幅回路421pで増幅させられる。   The difference between the output signal of the vibration detection sensor 45p and the DC signal from the camera microcomputer 411 is obtained by the vibration signal differential circuit 420p, and then amplified by the differential signal amplification circuit 421p.

差動信号増幅回路421pはアナログ回路で構成されるローパスフィルタを有し、このローパスフィルタにより、A/D分解能にあわせて振動信号差動回路420pの出力信号が適宜増幅されると共に、振れ角速度信号に重畳する高周波のノイズがカットされる。これは振れ角速度信号をカメラマイコン411に入力する時のA/D回路410pのサンプリングが振れ角速度信号のノイズにより読み誤りが起きるのを避けるためである。   The differential signal amplifying circuit 421p has a low-pass filter composed of an analog circuit. The low-pass filter appropriately amplifies the output signal of the vibration signal differential circuit 420p in accordance with the A / D resolution, and the deflection angular velocity signal. The high frequency noise superimposed on is cut off. This is to avoid reading error due to the noise of the shake angular velocity signal in the sampling of the A / D circuit 410p when the shake angular velocity signal is input to the camera microcomputer 411.

差動信号増幅回路421pの出力信号は、A/D回路410pによりサンプリングされてカメラマイコン411に取り込まれる。デジタル信号に変換された差動信号増幅回路421pの信号は、DC成分抽出時定数切換回路422p、第1記憶回路412pおよび第1差動回路413pに入力する。   The output signal of the differential signal amplifier circuit 421p is sampled by the A / D circuit 410p and taken into the camera microcomputer 411. The signal of the differential signal amplification circuit 421p converted into the digital signal is input to the DC component extraction time constant switching circuit 422p, the first storage circuit 412p, and the first differential circuit 413p.

DC成分抽出時定数切換回路422pは、デジタルフィルタによるローパスフィルタであり、このフィルタによって差動信号増幅回路421pの出力信号に重畳しているDCバイアス成分が抽出される。DC成分抽出時定数切換回路422pは、0.1Hz以上の周波数の信号をカットする周波数特性を有しており、カメラに加わる1〜10Hzの手振れ周波数帯域以下の周波数(DC)成分だけを抽出する特性になっている。   The DC component extraction time constant switching circuit 422p is a low-pass filter using a digital filter, and a DC bias component superimposed on the output signal of the differential signal amplification circuit 421p is extracted by this filter. The DC component extraction time constant switching circuit 422p has a frequency characteristic that cuts a signal having a frequency of 0.1 Hz or more, and extracts only a frequency (DC) component of a camera shake frequency band of 1 to 10 Hz or less applied to the camera. It is a characteristic.

しかしながら、このように0.1Hz以上の周波数信号をカットする特性にすると、振動検出センサ45pからの振れ信号が入力されてから完全にDC成分が抽出されるまでには10秒近くかかってしまう問題がある。   However, when the frequency signal of 0.1 Hz or higher is cut in this way, it takes nearly 10 seconds until the DC component is completely extracted after the shake signal from the vibration detection sensor 45p is input. There is.

そこで、カメラのメインスイッチ425がオンとなってから例えば0.1秒まではDC成分抽出時定数切換回路422pの時定数を小さくしておく(例えば10Hz以上の周波数の信号をカットする特性にする)ことにより、0.1秒位の短い時間でDC成分を抽出できる。その後に時定数を大きくし、0.1Hz以上の周波数のみカットする特性にしてDC成分抽出時定数切換回路422pにより振れ角速度信号が劣化しないようにしている。   Therefore, the time constant of the DC component extraction time constant switching circuit 422p is reduced (for example, a characteristic of cutting a signal having a frequency of 10 Hz or more, for example, until 0.1 second after the camera main switch 425 is turned on). Thus, the DC component can be extracted in a short time of about 0.1 seconds. Thereafter, the time constant is increased, and only the frequency of 0.1 Hz or more is cut, so that the shake angular velocity signal is not deteriorated by the DC component extraction time constant switching circuit 422p.

尚、タイマカウント回路423pは、メインスイッチ425の出力を適宜遅延させて所望のブロックに出力する役割を果たしている。ここでは、メインスイッチ425の出力を、0.1秒遅らせてDC成分抽出時定数切換回路422pに入力して、その時に定数を切替えている。   The timer count circuit 423p plays a role of appropriately delaying the output of the main switch 425 and outputting it to a desired block. Here, the output of the main switch 425 is delayed by 0.1 second and input to the DC component extraction time constant switching circuit 422p, and the constant is switched at that time.

DC成分抽出時定数切換回路422pにより抽出されたDC成分は、D/A回路430pでアナログ信号に再変換された後、振動信号差動回路420pに入力され、振動検出センサ45pの出力信号との差が求められる。この構成により振動信号差動回路420pの出力は振動検出センサ45pの信号からDC成分をカットした信号となる。このため、第1記憶回路412pおよび第1差動回路413pには、DC成分が除去された手振れ信号のみが入力されることになる。   The DC component extracted by the DC component extraction time constant switching circuit 422p is reconverted into an analog signal by the D / A circuit 430p, and then input to the vibration signal differential circuit 420p, and is output from the vibration detection sensor 45p. Difference is required. With this configuration, the output of the vibration signal differential circuit 420p is a signal obtained by cutting the DC component from the signal of the vibration detection sensor 45p. For this reason, only the camera shake signal from which the DC component is removed is input to the first memory circuit 412p and the first differential circuit 413p.

しかしながら実際には、差動信号増幅回路421pでの増幅により僅かではあるが再びDCバイアス成分が振れ角速度信号に重畳するため、カメラマイコン411内において再度DCカットを行う必要がある。   However, in practice, since the DC bias component is superimposed again on the shake angular velocity signal, although slightly by amplification by the differential signal amplifier circuit 421p, it is necessary to perform DC cut again in the camera microcomputer 411.

そこで、例えばメインスイッチ425がオンになってから0.2秒後にサンプリングされた振れ角速度信号を第1記憶回路412pで記憶し、第1差動回路413pにおいて上記記憶値および振れ角速度信号の差を求めることでDCカットを行う。   Therefore, for example, the shake angular velocity signal sampled 0.2 seconds after the main switch 425 is turned on is stored in the first storage circuit 412p, and the difference between the stored value and the shake angular velocity signal is stored in the first differential circuit 413p. DC cut is performed by obtaining.

尚、この動作では大まかなDCカットしかできず、メインスイッチ425がオンになってから0.2秒後に記憶された振れ角速度信号の中にはDC成分ばかりでなく、実際の手振れによる成分も含まれている。このため、本実施例では、デジタルフィルタで構成されたDCカットフィルタ414pにより十分なDCカットを行っている。   In this operation, only a rough DC cut can be performed, and the shake angular velocity signal stored 0.2 seconds after the main switch 425 is turned on includes not only the DC component but also the component due to the actual camera shake. It is. For this reason, in this embodiment, sufficient DC cut is performed by the DC cut filter 414p formed of a digital filter.

DCカットフィルタ414pの時定数もDC成分抽出時定数切換回路422pと同様に変更可能になっており、メインスイッチ425がオンになってから0.2秒経過した後、更に0.2秒費やして、DCカットフィルタ414pでの時定数を徐々に大きくしている。具体的には、DCカットフィルタ414pはメインスイッチ425のオンから0.2秒経過した時には10Hz以下の周波数をカットするフィルタ特性であり、その後50msec毎にフィルタ414pでカットする周波数を5Hz、1Hz、0.5Hz、0.2Hzと下げていく
但し、時定数の変更動作の間に、撮影者がシャッタレリーズボタンを半押し(sw1(426)をオン)して撮影準備動作(測光や焦点調節)を行った時には、直ちに撮影を行う可能性があり、時間を費やして時定数変更を行うことが好ましくない場合もある。そこで、そのような時には撮影条件に応じて時定数変更を途中で中止する。
The time constant of the DC cut filter 414p can be changed in the same manner as the DC component extraction time constant switching circuit 422p. After 0.2 seconds have passed since the main switch 425 was turned on, another 0.2 seconds were spent. The time constant in the DC cut filter 414p is gradually increased. Specifically, the DC cut filter 414p has a filter characteristic that cuts a frequency of 10 Hz or less when 0.2 seconds have elapsed since the main switch 425 is turned on, and then the frequency cut by the filter 414p every 50 msec is 5 Hz, 1 Hz, However, during the time constant changing operation, the photographer presses the shutter release button halfway (turns on sw1 (426)) and prepares for shooting (photometry and focus adjustment). When performing the above, there is a possibility of immediately taking a picture, and it may not be preferable to spend time and change the time constant. Therefore, in such a case, the time constant change is stopped halfway according to the shooting conditions.

例えば、測光結果に基づくカメラマイコン411での演算によりシャッタスピードを1/60secに設定する必要があり、かつ撮影光学系の焦点距離が150mmのときには、像振れ補正の精度はさほど要求されない。この場合、DCカットフィルタ414pでの時定数変更は、0.5Hz以下の周波数をカットする特性まで変更した時点で完了とする。   For example, when it is necessary to set the shutter speed to 1/60 sec by calculation in the camera microcomputer 411 based on the photometric result, and when the focal length of the photographing optical system is 150 mm, the accuracy of image blur correction is not so required. In this case, the time constant change by the DC cut filter 414p is completed when the characteristic for cutting the frequency of 0.5 Hz or less is changed.

すなわち、シャッタスピードと撮影光学系の焦点距離との積により、時定数変更量を制御することができる。これにより、時定数変更の時間を短縮でき、撮影動作を優先させてシャッタチャンスを逃すのを防止することができる。   That is, the time constant change amount can be controlled by the product of the shutter speed and the focal length of the photographing optical system. Thereby, the time for changing the time constant can be shortened, and it is possible to prevent the photo opportunity from being missed by giving priority to the photographing operation.

ここで、特定のシャッタスピードよりも速いシャッタスピード、或いは特定の焦点距離よりも短い焦点距離の場合、DCカットフィルタ414pでの時定数変更は、1Hz以下の周波数をカットする特性まで変更した時点で完了とする。また、上記特定のシャッタスピードよりも遅いシャッタスピード、又は上記特定の焦点距離よりも長い焦点距離の場合、時定数変更が最後まで完了するまで撮影を禁止する。   Here, in the case of a shutter speed faster than a specific shutter speed or a focal length shorter than a specific focal length, the time constant change by the DC cut filter 414p is performed at the time of changing to a characteristic that cuts a frequency of 1 Hz or less. Completed. In the case of a shutter speed slower than the specific shutter speed or a focal length longer than the specific focal length, photographing is prohibited until the time constant change is completed to the end.

積分回路415pは、シャッタレリーズボタンの半押し(sw1のオン)に応じてDCカットフィルタ414pの出力信号に対して積分を始め、角速度信号を角度信号に変換する。但し、前述したようにDCカットフィルタ414pでの時定数変更が完了していない場合には、時定数変更が完了するまで積分動作を行わない。   The integration circuit 415p starts to integrate the output signal of the DC cut filter 414p in response to half-pressing of the shutter release button (sw1 is turned on), and converts the angular velocity signal into an angle signal. However, if the time constant change in the DC cut filter 414p is not completed as described above, the integration operation is not performed until the time constant change is completed.

尚、図4では省略しているが、積分回路415pで生成された角度信号は、このときの撮影光学系の焦点距離および被写体距離に関する情報に基づいて適宜増幅され、振れ角度に応じた適切な量だけ像振れ補正機構(撮像素子ユニット15や後述する補正レンズユニット)が駆動されるように変換される。すなわち、ズーミングおよびフォーカシングにより撮影光学系の状態が変化し、像振れ補正機構の駆動量に対して光軸偏心量が変わるため、この補正を行う必要がある。   Although not shown in FIG. 4, the angle signal generated by the integration circuit 415p is appropriately amplified based on information regarding the focal length and subject distance of the photographing optical system at this time, and is appropriately set according to the shake angle. The image blur correction mechanism (the image sensor unit 15 or a correction lens unit described later) is converted by an amount so as to be driven. In other words, the state of the photographing optical system changes due to zooming and focusing, and the optical axis decentering amount changes with respect to the driving amount of the image shake correction mechanism.

シャッタレリーズボタンの押し切り(sw2(427)のオン)によって、像振れ補正機構が振れ角度信号に応じて駆動し始めるわけであるが、この時像振れ補正機構での振れ補正動作が急激に始まらないように注意する必要がある。第2記憶回路416p及び第2差動回路417pは、この対策のために設けられている。   When the shutter release button is fully pressed (sw2 (427) is turned on), the image shake correction mechanism starts to be driven in accordance with the shake angle signal. At this time, the shake correction operation by the image shake correction mechanism does not start abruptly. Need to be careful. The second memory circuit 416p and the second differential circuit 417p are provided for this measure.

第2記憶回路416pは、シャッタレリーズボタンの押し切り(sw2オン)動作に同期して積分回路415pの出力信号(振れ角度信号)を記憶する。第2差動回路417pは、積分回路415pの出力信号と第2記憶回路416pの出力信号との差を求める。   The second storage circuit 416p stores the output signal (deflection angle signal) of the integration circuit 415p in synchronization with the shutter release button being fully pressed (sw2 on). The second differential circuit 417p obtains the difference between the output signal of the integration circuit 415p and the output signal of the second storage circuit 416p.

このため、sw2がオンとなったときの第2差動回路417pへの2つの入力信号は等しく、第2差動回路417pの出力信号(像振れ補正機構の駆動目標値を示す信号)はゼロであるが、その後ゼロから連続的に出力が行われる。すなわち、第2記憶回路416pは、sw2がオンとなったときの積分回路415pの出力信号を原点としている。これにより、像振れ補正機構が急激に駆動されるのを抑制することができる。   For this reason, when sw2 is turned on, the two input signals to the second differential circuit 417p are equal, and the output signal of the second differential circuit 417p (a signal indicating the drive target value of the image blur correction mechanism) is zero. However, output is continuously performed from zero thereafter. That is, the second memory circuit 416p uses the output signal of the integration circuit 415p when sw2 is turned on as the origin. As a result, it is possible to suppress the image blur correction mechanism from being driven rapidly.

第2差動回路417pの出力信号(像振れ補正機構の駆動目標値を示す信号)は、第3差動回路424pに入力される。また、第3差動回路424pには、撮像素子ユニット15に設けられた磁気検出センサ1511pからの信号が入力されるようになっている。磁気検出センサ1511pの出力信号は、磁気信号増幅回路428pで適宜増幅された後、A/D回路429pを介してカメラマイコン411(第3差動回路424p)に取り込まれる。   The output signal of the second differential circuit 417p (the signal indicating the drive target value of the image blur correction mechanism) is input to the third differential circuit 424p. The third differential circuit 424p receives a signal from the magnetic detection sensor 1511p provided in the image sensor unit 15. The output signal of the magnetic detection sensor 1511p is appropriately amplified by the magnetic signal amplifier circuit 428p, and then taken into the camera microcomputer 411 (third differential circuit 424p) via the A / D circuit 429p.

第3差動回路424pは、A/D回路429pの出力信号と第2差動回路417pとの差を求める。すなわち、第3差動回路424pの出力は、実際の保持枠153の動き(磁気検出センサ1511pの出力)と目標値(振動検出センサ45pの出力に基づく演算値)の偏差となる。そして、上記の偏差に従って保持枠153が駆動されることになるので、保持枠153は目標値に対して忠実に駆動されるようになる。   The third differential circuit 424p obtains the difference between the output signal of the A / D circuit 429p and the second differential circuit 417p. That is, the output of the third differential circuit 424p is the deviation between the actual movement of the holding frame 153 (output of the magnetic detection sensor 1511p) and the target value (calculated value based on the output of the vibration detection sensor 45p). Since the holding frame 153 is driven according to the deviation, the holding frame 153 is driven faithfully with respect to the target value.

第3差動回路424pの出力信号はPWMデューティ変更回路418pに入力される。ここで、上記の目標値に対する偏差量に対応した電圧或いは電流をコイル159pに印可することにより、保持枠153は振れ角度に対応して駆動されるが、コイル159pの駆動消費電力及びコイル159pの駆動トランジスタの省電力化のためにはPWM駆動が望ましい。   The output signal of the third differential circuit 424p is input to the PWM duty change circuit 418p. Here, by applying a voltage or current corresponding to the deviation amount with respect to the target value to the coil 159p, the holding frame 153 is driven according to the swing angle, but the driving power consumption of the coil 159p and the coil 159p PWM driving is desirable for power saving of the driving transistor.

そこで、本実施例では、PWMデューティ変更回路418pにより目標値に対する偏差量に応じてコイル159pの駆動デューティを変更している。例えば、周波数が20KHzのPWMにおいて第3差動回路424pの出力(目標値)が2048のときにはデューティゼロ、4096のときにはデューティ100とし、この範囲を等分にして目標値に応じたデューティを決定することができる。   Therefore, in this embodiment, the drive duty of the coil 159p is changed according to the deviation amount with respect to the target value by the PWM duty change circuit 418p. For example, when the output (target value) of the third differential circuit 424p is 2048 in PWM with a frequency of 20 kHz, the duty is zero, and when it is 4096, the duty is 100, and this range is equally divided to determine the duty according to the target value. be able to.

尚、デューティは目標値に基づいて決定するだけでなく、カメラの撮影条件(温度やカメラの姿勢、バッテリの状態)に基づいて細かく制御することで、精度良い像振れ補正を行うことができる。   The duty is determined not only based on the target value, but also finely controlled based on the shooting conditions of the camera (temperature, camera posture, battery state), so that image blur correction can be performed with high accuracy.

PWMデューティ変更回路418pの出力はPWMドライバ等の公知の駆動回路419pに入力される。そして、駆動回路419pの出力が撮像素子ユニット15のコイル159pに印可されることで、撮像素子ユニット15において振れ補正が行われる。具体的には、撮像素子151等を保持する保持枠153が図2の矢印1516p方向に動作することになる。   The output of the PWM duty change circuit 418p is input to a known drive circuit 419p such as a PWM driver. Then, the output of the drive circuit 419p is applied to the coil 159p of the image sensor unit 15, so that shake correction is performed in the image sensor unit 15. Specifically, the holding frame 153 that holds the image sensor 151 and the like operates in the direction of the arrow 1516p in FIG.

駆動回路419pは、sw2(427)のオンに同期して動作を開始し、像面への露光が終了すると上記動作を終了する。また、露光が終了してもレリーズボタンが半押し(sw1がオン)されている限りにおいては、積分回路415pでの積分動作が継続されており、sw2が再びオンとなったときに第2記憶回路416pは積分回路415pからの新たな積分出力を記憶する。   The drive circuit 419p starts operating in synchronization with the turning on of sw2 (427), and ends the above operation when exposure on the image plane is completed. Further, as long as the release button is half-pressed (sw1 is on) even after the exposure is completed, the integration operation in the integration circuit 415p is continued, and the second memory is stored when sw2 is turned on again. Circuit 416p stores the new integrated output from integrating circuit 415p.

レリーズボタンの半押しを止めると、積分回路415pはDCカットフィルタ414pの出力に対する積分を止め、リセットを行う。リセットとは、今まで積分してきた情報をすべてカラにすることである。   When the half-press of the release button is stopped, the integration circuit 415p stops the integration with respect to the output of the DC cut filter 414p and resets it. Reset is to make all the information that has been integrated so far empty.

メインスイッチ425がオフとなったときに、振動検出センサ45pでの動作が停止し、像振れ補正動作のシーケンスが終了する。以上の説明は、図2の矢印1516p方向における像振れ補正に関するものであり、図2の矢印1516y方向における像振れ補正も上記と同様に行われる。   When the main switch 425 is turned off, the operation of the vibration detection sensor 45p is stopped, and the sequence of image blur correction operation is completed. The above description relates to image blur correction in the direction of arrow 1516p in FIG. 2, and image blur correction in the direction of arrow 1516y in FIG. 2 is performed in the same manner as described above.

尚、積分回路415pの出力信号が所定値よりも大きくなったときには、カメラのパンニングが行われたと判断してDCカットフィルタ414pの時定数を変更する。例えば、0.2Hz以下の周波数をカットする特性であったものを、1Hz以下の周波数をカットする特性に変更し、所定時間をかけて時定数をもとに戻していく。   When the output signal of the integration circuit 415p becomes larger than a predetermined value, it is determined that the camera is panned and the time constant of the DC cut filter 414p is changed. For example, a characteristic that cuts a frequency of 0.2 Hz or less is changed to a characteristic that cuts a frequency of 1 Hz or less, and the time constant is restored over a predetermined time.

DCカットフィルタ414pでの時定数の変更量も積分回路415pの出力信号の大きさにより制御される。すなわち、積分回路415pの出力が第1の閾値を超えたときにはDCカットフィルタ414pの特性を0.5Hz以下の周波数をカットする特性とし、第2の閾値(>第1の閾値)を超えたときには1Hz以下の周波数をカットする特性とし、第3の閾値(>第2の閾値)を超えたときには5Hz以下の周波数をカットする特性としている。また、積分回路415pの出力が第3の閾値に対して非常に大きくなったときには、積分回路415pを一旦リセットして演算上の飽和(オーバーフロー)を防止している。   The amount of change of the time constant in the DC cut filter 414p is also controlled by the magnitude of the output signal of the integration circuit 415p. That is, when the output of the integration circuit 415p exceeds the first threshold, the characteristic of the DC cut filter 414p is set to a characteristic that cuts a frequency of 0.5 Hz or less, and when the output exceeds the second threshold (> first threshold). The characteristic is to cut a frequency of 1 Hz or less, and the characteristic to cut a frequency of 5 Hz or less when the third threshold (> second threshold) is exceeded. Further, when the output of the integration circuit 415p becomes very large with respect to the third threshold value, the integration circuit 415p is temporarily reset to prevent saturation (overflow) in operation.

本実施例において、DCカットフィルタ414pはメインスイッチ425のオンから0.2秒後に作動を開始する構成になっているがこれに限られるものではなく、シャッタレリーズボタンの半押し(sw1のオン)の時点で作動を開始するようにしてもよい。この場合には、DCカットフィルタ414pでの時定数変更が完了した時点から積分回路415pを作動させる。   In this embodiment, the DC cut filter 414p starts to operate 0.2 seconds after the main switch 425 is turned on, but the present invention is not limited to this, and the shutter release button is half-pressed (sw1 is turned on). The operation may be started at the point of time. In this case, the integration circuit 415p is operated from the time when the change of the time constant in the DC cut filter 414p is completed.

また、積分回路415pもシャッタレリーズボタンの半押し(sw1のオン)で作動を開始させているが、シャッタレリーズボタンの押し切り(sw2のオン)の時点から作動を開始させる構成としてもよい。この場合には、第2記憶回路416p及び第2差動回路417pを設ける必要が無くなる。さらに、振動検出センサ(振動ジャイロ)45pもシャッタレリーズボタンの半押し(sw1のオン)で起動させてもよい。   The integration circuit 415p is also started to operate when the shutter release button is half-pressed (sw1 is turned on). However, the operation may be started when the shutter release button is fully pressed (sw2 is turned on). In this case, it is not necessary to provide the second memory circuit 416p and the second differential circuit 417p. Furthermore, the vibration detection sensor (vibration gyro) 45p may also be activated by half-pressing the shutter release button (sw1 on).

以上のような構成で保持枠153は駆動制御されるが、図2で示したように保持枠153は地板156に対して矢印1516p、1516y、1516r方向に自由に動くことができる。矢印1516p、1516y方向は、像振れ補正を行う際の保持枠153の移動方向となる。ここで、コイル159p、159yに電流を流して保持枠153を駆動するときには、撮像素子ユニット15内の摩擦、保持枠153の重心のアンバランスおよび圧縮コイルバネ158のバネ力のアンバランス等によって、矢印1516r方向(光軸回り)にも保持枠153が回転してしまう恐れがある。   Although the holding frame 153 is driven and controlled with the above configuration, the holding frame 153 can freely move in the directions of arrows 1516p, 1516y, and 1516r with respect to the ground plane 156 as shown in FIG. The directions of the arrows 1516p and 1516y are the moving directions of the holding frame 153 when performing image blur correction. Here, when current is passed through the coils 159p and 159y to drive the holding frame 153, the arrow is caused by friction in the image sensor unit 15, unbalance of the center of gravity of the holding frame 153, unbalance of the spring force of the compression coil spring 158, and the like. The holding frame 153 may also rotate in the 1516r direction (around the optical axis).

レンズを駆動して像振れ補正を行う場合には、レンズが光軸回りに回転しても撮影に影響を与えることはない。しかし、本実施例のように撮像素子151を駆動して像振れ補正を行う場合においては、撮像素子151の矢印1516r方向の回転(駆動誤差)は、そのまま画質の劣化(画像の回転)につながる。   When image blur correction is performed by driving a lens, shooting is not affected even if the lens rotates about the optical axis. However, when image blur correction is performed by driving the image sensor 151 as in this embodiment, the rotation (drive error) of the image sensor 151 in the direction of the arrow 1516r directly leads to degradation of image quality (image rotation). .

このため、本実施例においては、以下に説明するように保持枠153が矢印1516r方向に回転しないような構成が設けられている。   For this reason, in this embodiment, as described below, a configuration is provided in which the holding frame 153 does not rotate in the direction of the arrow 1516r.

図5は、図2に示す撮像素子ユニット15から可動部材(保持枠153など)を取り外した状態を示す図である。図5中の破線は、地板156に対して紙面上側に配置される回り止め部材1510を示す。   FIG. 5 is a diagram illustrating a state in which a movable member (such as the holding frame 153) is removed from the image sensor unit 15 illustrated in FIG. The broken line in FIG. 5 shows the rotation prevention member 1510 arranged on the upper side of the drawing with respect to the main plate 156.

回り止め部材(可動部材)1510は、図3(A)に示すように保持枠153と地板156の間に配置された薄板であり、実際には厚さ0.1mm程度の樹脂シート、あるいはそれに金属メッキを施したシートで作成されている。   The anti-rotation member (movable member) 1510 is a thin plate disposed between the holding frame 153 and the base plate 156 as shown in FIG. 3A, and actually is a resin sheet having a thickness of about 0.1 mm, or Made of sheet metal plated.

回り止め部材1510には、矢印1516p方向に延びる一対の長穴部1510aと、矢印1516y方向に延びる一対の長穴部1510bとが形成されており、長穴部1510aには、地板156から光軸方向に延びるピン156aが係合している。このため、回り止め部材1510は地板156に対して矢印1516p方向にのみ移動可能になっている。   The anti-rotation member 1510 is formed with a pair of elongated holes 1510a extending in the direction of the arrow 1516p and a pair of elongated holes 1510b extending in the direction of the arrow 1516y. The elongated hole 1510a has an optical axis extending from the main plate 156. A pin 156a extending in the direction is engaged. For this reason, the rotation preventing member 1510 can move only in the direction of the arrow 1516p with respect to the main plate 156.

また、ピン156aは、長穴部1510aを貫通して保持枠153側に突出している。ここで、保持枠153のうちピン156aに対して光軸方向で向かい合う領域には、凹形状の逃げ部153bが形成されている(図6参照)。このため、保持枠153が光軸直交面内を移動しても、ピン156aが保持枠153に当接することはなく、保持枠153の動作を妨げることはない。なお、上述したようにピン156aを保持枠153側に延びるように形成することで、回り止め部材1510が地板156から外れるのを防止している。   Further, the pin 156a protrudes toward the holding frame 153 through the long hole portion 1510a. Here, in the region of the holding frame 153 that faces the pin 156a in the optical axis direction, a recessed relief portion 153b is formed (see FIG. 6). For this reason, even if the holding frame 153 moves in the plane orthogonal to the optical axis, the pin 156a does not come into contact with the holding frame 153 and does not hinder the operation of the holding frame 153. As described above, the pin 156a is formed so as to extend toward the holding frame 153, thereby preventing the rotation preventing member 1510 from being detached from the main plate 156.

図6は保持枠153を裏側(図3(A)の右側)から見たときの図であり、図5と同様に回り止め部材1510を破線で示してある。   FIG. 6 is a view of the holding frame 153 when viewed from the back side (the right side of FIG. 3A), and the detent member 1510 is indicated by a broken line as in FIG.

ここで、保持枠153から突出しているピン153bは、回り止め部材1015の長穴部1510bと係合しており、保持枠153は回り止め部材1510に対して矢印1516y方向にのみ移動可能になっている。また、ピン153bは、回り止め部材1015の長穴部1510bを貫通するとともに、ダンパー板1517を貫通して地板156側に突出している。   Here, the pin 153 b protruding from the holding frame 153 is engaged with the elongated hole portion 1510 b of the anti-rotation member 1015, and the holding frame 153 can move only in the direction of the arrow 1516 y with respect to the anti-rotation member 1510. ing. Further, the pin 153b penetrates the elongated hole portion 1510b of the rotation preventing member 1015, and penetrates the damper plate 1517 and protrudes toward the ground plate 156 side.

ここで、地板156のうちピン153bに対して光軸方向で向かい合う領域には、凹形状の逃げ部156bが設けられている。また、ダンパー板1517には、逃げ部156bの形状と略同形状の穴部1517aが形成されている。このため、ピン153bが保持枠153の動作(振れ補正駆動)に応じて移動したときにも、ピン153bが、ダンパー板1517や地板159に接触しないようになっている。   Here, a concave relief portion 156b is provided in a region of the ground plate 156 facing the pin 153b in the optical axis direction. The damper plate 1517 is formed with a hole 1517a having substantially the same shape as the shape of the escape portion 156b. For this reason, even when the pin 153b moves in accordance with the operation of the holding frame 153 (shake correction drive), the pin 153b does not come into contact with the damper plate 1517 or the ground plate 159.

上述した撮像素子ユニット15の構成において、撮像素子151を矢印1516p方向に移動させるときには、保持枠153および回り止め部材1510が一体となって、地板156に対して矢印1516p方向(第1の方向)に移動することになる。また、撮像素子151を矢印1516y方向に移動させるときには、保持枠153が回り止め部材1510および地板156に対して矢印1516y方向(第2の方向)に移動することになる。   In the configuration of the image sensor unit 15 described above, when the image sensor 151 is moved in the direction of the arrow 1516p, the holding frame 153 and the rotation preventing member 1510 are integrated, and the arrow 1516p direction (first direction) with respect to the base plate 156. Will be moved to. When the image sensor 151 is moved in the arrow 1516y direction, the holding frame 153 moves in the arrow 1516y direction (second direction) with respect to the rotation preventing member 1510 and the ground plane 156.

このような構成を採ることによって、撮像素子151(保持枠153)が矢印1516r方向に回転するのを阻止することができる。すなわち、厚みの薄いシート材(回り止め部材1510)を保持枠153と地板156の間に挟むだけで、撮像素子151の矢印1516r方向の回転を簡単に阻止でき、簡単な構成で撮像素子151を矢印1516p方向および矢印1516y方向に精度良く駆動することができる。   By adopting such a configuration, it is possible to prevent the image sensor 151 (holding frame 153) from rotating in the direction of the arrow 1516r. That is, by simply sandwiching a thin sheet material (anti-rotation member 1510) between the holding frame 153 and the base plate 156, the rotation of the image sensor 151 in the direction of the arrow 1516r can be easily prevented, and the image sensor 151 can be configured with a simple configuration. Driving in the direction of the arrow 1516p and the direction of the arrow 1516y can be performed with high accuracy.

図2において、撮像素子151には、この出力信号を図3のIC1512などに導くフレキシブル基板1513a、1513bが接続されている。   In FIG. 2, flexible substrates 1513 a and 1513 b that guide this output signal to the IC 1512 and the like in FIG. 3 are connected to the image sensor 151.

ここで、図2に示すフレキシブル基板1513a、1513bは、フレキシブル基板1513a、1513bを撮像素子151から光軸直交方向に延出させた後に、光軸直交面に対して角度を持つように折り曲げ、この状態でさらに保持枠153の外枠に沿って折り曲げることによって形成される。   Here, the flexible boards 1513a and 1513b shown in FIG. 2 are extended so that the flexible boards 1513a and 1513b extend from the image sensor 151 in the direction orthogonal to the optical axis, and then bent so as to have an angle with respect to the optical axis orthogonal plane. In this state, it is formed by further bending along the outer frame of the holding frame 153.

図7はフレキシブル基板1513a、1513bの展開図であり、これらの基板は一端側(端部1513c)で接続されている。端部1513cは撮像素子151と接続される部分であり、スリット1513dによりフレキシブル基板1513aと1513bに分離されている。   FIG. 7 is a development view of the flexible substrates 1513a and 1513b, and these substrates are connected on one end side (end portion 1513c). The end portion 1513c is a portion connected to the image sensor 151, and is separated into flexible substrates 1513a and 1513b by a slit 1513d.

ここで、フレキシブル基板1513a、1513bのそれぞれを、一点差線1513a1、1513b1で谷折りし、且つ斜線部1513fに示す領域を屈曲させることで、フレキシブル基板1513a、1513bを図2に示す形状とすることができる。   Here, each of the flexible substrates 1513a and 1513b is valley-folded at one-point difference lines 1513a1 and 1513b1, and the region indicated by the hatched portion 1513f is bent, so that the flexible substrates 1513a and 1513b have the shape shown in FIG. Can do.

フレキシブル基板1513aとフレキシブル基板1513bとを分離させているのは、カメラの小型化を図るためである。すなわち、本実施例のようにフレキシブル基板を分離させない構成とした場合、例えば図7の一点鎖線1513b1でフレキシブル基板を谷折りすると、フレキシブル基板の高さ(光軸方向の長さ)が寸法1513eとなり、本実施例に比べて高くなってしまう。これは、フレキシブル基板の配置スペースが光軸方向で大きくなってしまい、カメラの小型化を妨げることになってしまう。   The reason why the flexible substrate 1513a and the flexible substrate 1513b are separated is to reduce the size of the camera. That is, in the case where the flexible substrate is not separated as in this embodiment, for example, when the flexible substrate is valley-folded along the alternate long and short dash line 1513b1 in FIG. 7, the height (length in the optical axis direction) of the flexible substrate becomes the dimension 1513e. This is higher than in the present embodiment. This increases the space for disposing the flexible substrate in the optical axis direction, and hinders downsizing of the camera.

そこで、本実施例のように2つのフレキシブル基板1513a、1513bを用い、各フレキシブル基板1513a、1513bを折り曲げることによって、フレキシブル基板の高さを抑えることができる。   Therefore, the height of the flexible substrate can be suppressed by using the two flexible substrates 1513a and 1513b and bending each of the flexible substrates 1513a and 1513b as in this embodiment.

一方、フレキシブル基板1513a、1513bの周囲にはシールド1514a、1514b、1514cが設けられている。シールド1514aは外部からの干渉を防ぐためのものであり、シールド1514b、1514cは2つのフレキシブル基板1513a、1513bの間の干渉を防ぐためのものである。   On the other hand, shields 1514a, 1514b, and 1514c are provided around the flexible substrates 1513a and 1513b. The shield 1514a is for preventing interference from the outside, and the shields 1514b and 1514c are for preventing interference between the two flexible boards 1513a and 1513b.

各シールド1514a、1514b、1514cは、フレキシブル基板1513a、1513bから特定の距離だけ離して配置されている。すなわち、保持枠153が矢印1516p、1516y方向に最大量移動したときにも、シールド1514a、1514b、1514cがフレキシブル基板1513a、1513bと接触しないようにしている。これは、両者が接触した場合には、保持枠153の駆動負荷になるためである。   Each shield 1514a, 1514b, 1514c is arranged at a specific distance from the flexible substrates 1513a, 1513b. That is, the shields 1514a, 1514b, and 1514c are prevented from coming into contact with the flexible boards 1513a and 1513b even when the holding frame 153 moves the maximum amount in the directions of the arrows 1516p and 1516y. This is because when both are in contact with each other, a driving load of the holding frame 153 is obtained.

次に、上述した実施例1の変形例について説明する。なお、実施例1で説明した部材と同じ部材については同一符号を用いて説明を省略する。   Next, a modification of the above-described first embodiment will be described. In addition, about the same member as the member demonstrated in Example 1, description is abbreviate | omitted using the same code | symbol.

図8は、本変形例における撮像素子ユニットの正面図である。実施例1との違いの1つは、撮像素子ユニット15aの上下部分の略中央に2つのバネ158を配置したことである。すなわち、バネ158は、磁石155pによる推力軸155a上に位置するように配置されている。   FIG. 8 is a front view of the image sensor unit in this modification. One of the differences from the first embodiment is that two springs 158 are arranged at substantially the center of the upper and lower portions of the image sensor unit 15a. That is, the spring 158 is disposed so as to be positioned on the thrust shaft 155a by the magnet 155p.

一対のバネ158は矢印1516p方向において互いに向き合っているため、バネ158のプリチャージ力は相殺され、バネ158のバネ力(距離に比例する力)のみが矢印1516p方向に働いている。このようにバネ力の発生位置と推力の発生位置を略一致させることで、保持枠153を効率良く駆動することができる。   Since the pair of springs 158 face each other in the direction of the arrow 1516p, the precharge force of the spring 158 is canceled out, and only the spring force of the spring 158 (force proportional to the distance) works in the direction of the arrow 1516p. Thus, the holding frame 153 can be driven efficiently by making the spring force generation position substantially coincide with the thrust generation position.

また、実施例1と同様にバネ158のコイル径と長さを調整しているため、曲げ方向(1516y方向)のバネ定数も矢印1516p方向と同じとなっている。更に、矢印1516y方向のバネ力発生点(バネ158の接合部)は、図8に示すように、保持枠153の上部および下部の略中央となっている。このため、磁石155yの位置が多少ずれても、これによる推力とバネ力のアンバランス成分が保持枠153の駆動精度に影響してくることはない。   Since the coil diameter and length of the spring 158 are adjusted as in the first embodiment, the spring constant in the bending direction (1516y direction) is also the same as the arrow 1516p direction. Further, the spring force generation point (joint portion of the spring 158) in the direction of the arrow 1516y is substantially the center of the upper and lower portions of the holding frame 153 as shown in FIG. For this reason, even if the position of the magnet 155y is slightly deviated, the unbalanced component of the thrust and spring force due to this does not affect the driving accuracy of the holding frame 153.

一方、本変形例では、偏心ピン157および保持枠153の構造が実施例1と異なっている。すなわち、本変形例では、3つの圧縮コイルバネ1518を用いて保持枠153を偏心ピン157に対して付勢している。ここで、圧縮コイルバネ1518の付勢方向は、図9に示すように、撮影光軸10と略一致している。   On the other hand, in this modification, the structures of the eccentric pin 157 and the holding frame 153 are different from those of the first embodiment. In other words, in this modification, the holding frame 153 is urged against the eccentric pin 157 using the three compression coil springs 1518. Here, the biasing direction of the compression coil spring 1518 substantially coincides with the photographing optical axis 10 as shown in FIG.

図9は、図8に示す撮像素子ユニット15aを側面から見たときの図である。保持枠153は、圧縮コイルバネ1518によって回り止め部材1510側に付勢されており、この端面(撮影光軸10と直交する面)153cが偏心ピン157の当接部157aに当接している。ここで、圧縮コイルバネ1518の一端は保持枠153に当接し、他端はレンズ鏡筒16(図1)の端面に固定されている。   FIG. 9 is a view of the image sensor unit 15a shown in FIG. 8 as viewed from the side. The holding frame 153 is biased toward the anti-rotation member 1510 by a compression coil spring 1518, and this end surface (a surface orthogonal to the imaging optical axis 10) 153 a is in contact with the contact portion 157 a of the eccentric pin 157. Here, one end of the compression coil spring 1518 abuts on the holding frame 153, and the other end is fixed to the end surface of the lens barrel 16 (FIG. 1).

このように圧縮コイルバネ1518を用いて、保持枠153の端面153cを球状の3つの当接部157aに当接させることによって、保持枠153の撮影光軸10方向における位置決めを精度良く行うことができる。   In this way, by using the compression coil spring 1518, the end surface 153c of the holding frame 153 is brought into contact with the three spherical contact portions 157a, whereby the holding frame 153 can be accurately positioned in the photographing optical axis 10 direction. .

なお、当接部157aおよび端面153cの表面精度を高くすることで、保持枠153の駆動に伴う当接部157aおよび端面153c間の摩擦を低減でき、保持枠153の位置精度を高めることができる。また、コイル159p、159yに高周波の駆動信号を重畳させる(例えば、200Hzで保持枠153を微小振動させる)ことで、上記摩擦を低減できる。   In addition, by increasing the surface accuracy of the contact portion 157a and the end surface 153c, friction between the contact portion 157a and the end surface 153c due to driving of the holding frame 153 can be reduced, and the positional accuracy of the holding frame 153 can be increased. . In addition, the friction can be reduced by superimposing high-frequency drive signals on the coils 159p and 159y (for example, causing the holding frame 153 to vibrate slightly at 200 Hz).

本変形例では、当接部157aおよび端面153cを圧縮コイルバネ1518のバネ力によって常に当接させることで、保持枠153の位置精度を高め、保持枠153の位置が光軸方向で変位することに伴う画質劣化を抑制している。   In the present modification, the contact portion 157a and the end surface 153c are always brought into contact with each other by the spring force of the compression coil spring 1518, so that the positional accuracy of the holding frame 153 is improved and the position of the holding frame 153 is displaced in the optical axis direction. The accompanying image quality degradation is suppressed.

一方、磁石の吸引力を用いて保持枠153の当接面153を偏心ピン157の当接部157aに当接させることもできる。すなわち、図9に示すように、上述した変形例で用いられていた圧縮コイルバネ1518を廃止するとともに、ダンパー板1517の材質を鉄系の磁性板に変更することができる。なお、図9は、撮像素子ユニット15bの側面図である。   On the other hand, the contact surface 153 of the holding frame 153 can be brought into contact with the contact portion 157a of the eccentric pin 157 using the attractive force of the magnet. That is, as shown in FIG. 9, the compression coil spring 1518 used in the above-described modification can be eliminated, and the material of the damper plate 1517 can be changed to an iron-based magnetic plate. FIG. 9 is a side view of the image sensor unit 15b.

ダンパー板1517を磁性板とすることで、保持枠153に設けられた磁石155p、155yはダンパー板1517に引き寄せられ、この力によって保持枠153の端面513cが偏心ピン157の当接部157aに当接することになる。これにより、保持枠153の撮影光軸10方向の位置決めを行うことができる。そして、上述した変形例においても、偏心ピン157を回転させることによって、保持枠153の光軸方向における位置を調整することができる。   By using the damper plate 1517 as a magnetic plate, the magnets 155p and 155y provided on the holding frame 153 are attracted to the damper plate 1517, and this force causes the end surface 513c of the holding frame 153 to contact the contact portion 157a of the eccentric pin 157. Will be in touch. Thereby, the holding frame 153 can be positioned in the direction of the photographing optical axis 10. In the modification described above, the position of the holding frame 153 in the optical axis direction can be adjusted by rotating the eccentric pin 157.

上述した偏心ピン157を用いた保持枠153の支持構造(当接部157aによって保持枠153の位置が調整可能)およびコイルバネ158のバネの方向(2軸方向に同じバネ定数で作用する)は、撮像素子151を駆動して像振れ補正を行うだけにとどまらず、レンズを駆動して像振れ補正を行う場合にも適用できる。   The support structure of the holding frame 153 using the eccentric pin 157 described above (the position of the holding frame 153 can be adjusted by the contact portion 157a) and the spring direction of the coil spring 158 (acting with the same spring constant in the biaxial direction) are as follows: The present invention can be applied not only to image blur correction by driving the image sensor 151 but also to image blur correction by driving a lens.

以下、レンズを駆動して像振れ補正を行う構成について説明する。図11は、レンズを光軸直交面内で移動させるレンズ駆動機構の正面図である。   Hereinafter, a configuration for performing image blur correction by driving a lens will be described. FIG. 11 is a front view of a lens driving mechanism that moves the lens in the plane orthogonal to the optical axis.

図11において、レンズ1519(例えば、図1における第2レンズユニット12)は保持枠153に保持されている。保持枠153には、溝部153a(図3(A)の溝部153aに相当する)が設けられており、溝部153aには、偏心ピン257の先端に形成された球形状の当接部157aが係合している。すなわち、当接部157aが、溝部153aのうち撮影光軸方向で向かい合う面に当接している。   In FIG. 11, a lens 1519 (for example, the second lens unit 12 in FIG. 1) is held by a holding frame 153. The holding frame 153 is provided with a groove 153a (corresponding to the groove 153a in FIG. 3A), and a spherical contact portion 157a formed at the tip of the eccentric pin 257 is engaged with the groove 153a. Match. That is, the contact portion 157a is in contact with the surface of the groove portion 153a that faces in the photographing optical axis direction.

このため、保持枠153は、地板156に圧入された偏心ピン157によって光軸方向で位置決めされている。   For this reason, the holding frame 153 is positioned in the optical axis direction by the eccentric pin 157 press-fitted into the main plate 156.

ここで、図11に示すように、溝部153aは当接部157aに対して光軸直交方向で余裕(クリアランス)を持っているため、光軸直交方向において保持枠153は偏心ピンに対して摺動して、矢印1516p、1516y、1516r方向に動くことができる。   Here, as shown in FIG. 11, since the groove 153a has a margin (clearance) in the direction orthogonal to the optical axis with respect to the contact part 157a, the holding frame 153 slides with respect to the eccentric pin in the direction orthogonal to the optical axis. It can move and move in the direction of arrows 1516p, 1516y, 1516r.

偏心ピン157にはマイナス溝部157bが設けられており、マイナスドライバーなどを利用して偏心ピン157を地板156に対して回転させると、偏心ピン157の当接部157aと当接するマイナス溝部157bの光軸方向の位置が微妙に変化する。例えば、偏心ピン157での偏心量が±0.2mmに設定されている場合、3つの偏心ピン157を同じ方向に同じ量だけ回すことにより、レンズ1519を光軸方向において最大±0.2mm変位させることができる。これにより、レンズの光軸方向における位置調整を行うことができる。   The eccentric pin 157 is provided with a minus groove portion 157b. When the eccentric pin 157 is rotated with respect to the base plate 156 using a minus driver or the like, the light of the minus groove portion 157b that comes into contact with the contact portion 157a of the eccentric pin 157 is obtained. The axial position changes slightly. For example, when the eccentric amount at the eccentric pin 157 is set to ± 0.2 mm, the lens 1519 is displaced by a maximum of ± 0.2 mm in the optical axis direction by turning the three eccentric pins 157 by the same amount in the same direction. Can be made. As a result, the position of the lens in the optical axis direction can be adjusted.

また、3つの偏心ピン157のうちいずれか1つ又は2つの偏心ピン157を回転させると、レンズ1519と撮影光軸10のなす角度を微妙に調整でき、これにより像の方ボケを補正することができる。   Further, when any one of the three eccentric pins 157 or two eccentric pins 157 are rotated, the angle formed by the lens 1519 and the photographing optical axis 10 can be finely adjusted, thereby correcting the image blur. Can do.

偏心ピン157の当接部157aは球状に形成されており、保持枠153が偏心ピン157に対して傾いても、当接部157aおよび溝部153aの当接部分は常に一箇所(3つの偏心ピン157で三箇所)である。このため、レンズ1519を移動させるときにも、溝部153aを当接部157aに対して容易に摺動させることができる。   The contact portion 157a of the eccentric pin 157 is formed in a spherical shape, and even if the holding frame 153 is inclined with respect to the eccentric pin 157, the contact portion of the contact portion 157a and the groove portion 153a is always one place (three eccentric pins 157, three locations). For this reason, also when moving the lens 1519, the groove part 153a can be easily slid with respect to the contact part 157a.

保持枠153および地板156の間には、一対の圧縮コイルバネ158がプリチャージされた状態で配置されている。一対の圧縮コイルバネ158のプリチャージ力は互いに相殺する方向であるため、プリチャージ力が保持枠153の駆動負荷になることはなく、保持枠153の光軸直交方向の変位に応じた圧縮コイルバネ158のバネ力(バネ定数)だけが駆動負荷となる。   A pair of compression coil springs 158 are disposed between the holding frame 153 and the ground plane 156 in a precharged state. Since the precharge force of the pair of compression coil springs 158 cancels each other, the precharge force does not become a driving load for the holding frame 153 and the compression coil spring 158 according to the displacement of the holding frame 153 in the direction perpendicular to the optical axis. Only the spring force (spring constant) becomes a driving load.

圧縮コイルバネ158の矢印1516y方向のバネ力(バネ定数)は、バネの線径、有効巻き数、コイル径、線材の横弾性係数により設定され、矢印1516p方向のバネ力(曲げ応力)は、バネの線径、有効巻き数、コイル径、線材の縦弾性係数、およびバネの長さとコイル径の比により設定される。このため、バネの長さとコイル径を適切に設定すると、矢印1516p方向のバネ力と矢印1516y方向のバネ力を略等しくすることができ、この2方向にバランス良く保持枠153を駆動させることができる。   The spring force (spring constant) in the arrow 1516y direction of the compression coil spring 158 is set by the wire diameter of the spring, the effective number of turns, the coil diameter, and the transverse elastic coefficient of the wire, and the spring force (bending stress) in the arrow 1516p direction is The wire diameter, the effective number of turns, the coil diameter, the longitudinal elastic modulus of the wire, and the ratio of the spring length to the coil diameter. For this reason, when the spring length and the coil diameter are set appropriately, the spring force in the direction of the arrow 1516p and the spring force in the direction of the arrow 1516y can be made substantially equal, and the holding frame 153 can be driven in a balanced manner in these two directions. it can.

一方、保持枠153には磁性材(例えば鉄材)であるヨーク154が設けられており、ヨーク154には、磁石155a、155bが吸着によって固定されている。これにより、図3を用いて説明した場合と同様に、ヨーク154に磁路を形成することができ、磁石155a、155bの有効利用ができる。   On the other hand, the holding frame 153 is provided with a yoke 154 which is a magnetic material (for example, iron material), and magnets 155a and 155b are fixed to the yoke 154 by adsorption. Accordingly, similarly to the case described with reference to FIG. 3, a magnetic path can be formed in the yoke 154, and the magnets 155a and 155b can be effectively used.

地板156のうち磁石155a、155bに対して光軸方向で向かい合う領域には、コイル159a、159bが設けられている。このため、コイル159a、159bに同相の電流を流すと、保持枠153は矢印1516p方向に駆動され、コイル159a、159bに逆相の電流を流すと保持枠153は矢印1516yの方向に駆動される。   Coils 159a and 159b are provided in a region of the ground plate 156 facing the magnets 155a and 155b in the optical axis direction. Therefore, when an in-phase current is passed through the coils 159a and 159b, the holding frame 153 is driven in the direction of the arrow 1516p, and when a reverse-phase current is passed through the coils 159a and 159b, the holding frame 153 is driven in the direction of the arrow 1516y. .

ここで、コイル159a、159bは地板156に固定されているため、コイル159a、159bから延びる配線を固定でき、配線の電気的および機械的な信頼性を高めることができる。しかも、配線を保持枠153ではなく地板156に固定することで、配線が保持枠153の駆動負荷とならないようにしている。   Here, since the coils 159a and 159b are fixed to the ground plane 156, the wiring extending from the coils 159a and 159b can be fixed, and the electrical and mechanical reliability of the wiring can be improved. Moreover, by fixing the wiring to the base plate 156 instead of the holding frame 153, the wiring is prevented from becoming a driving load for the holding frame 153.

なお、不図示ではあるが地板156にはダンパー板が設けられており、上述した実施例1と同様に保持枠153の地板156に対するダンピングを行っている。また、この変形例においては、地板156に設けられるコイル159a、159bの中央にホール素子などの磁気検出センサを設けていない。すなわち、圧縮コイルバネ158のバネ力に応じた電流をコイル159a、159yに与えることで保持枠153の駆動位置を制御できる。   Although not shown, the base plate 156 is provided with a damper plate, and the holding frame 153 is damped to the base plate 156 in the same manner as in the first embodiment. In this modification, a magnetic detection sensor such as a Hall element is not provided in the center of the coils 159a and 159b provided on the ground plane 156. That is, the drive position of the holding frame 153 can be controlled by applying a current corresponding to the spring force of the compression coil spring 158 to the coils 159a and 159y.

圧縮コイルバネ158のバネ定数は極めて高精度に管理できるため、位置検出センサを設けなくても、圧縮コイルバネ158のバネ力に応じた駆動力を与えることにより、保持枠153(レンズ1519)の光軸直交面内での位置を制御することができる。これにより、像振れ補正に十分な駆動性能が得られる。   Since the spring constant of the compression coil spring 158 can be managed with extremely high accuracy, the optical axis of the holding frame 153 (lens 1519) can be provided by applying a driving force according to the spring force of the compression coil spring 158 without providing a position detection sensor. The position in the orthogonal plane can be controlled. Thereby, drive performance sufficient for image blur correction can be obtained.

なお、ホール素子などの位置検出センサを設け、磁石155a、155bの移動による磁界変化を検出し、この検出結果に基づくフィードバック制御によってレンズ1519の駆動を行うようにしてもよい。   A position detection sensor such as a Hall element may be provided to detect a change in the magnetic field due to the movement of the magnets 155a and 155b, and the lens 1519 may be driven by feedback control based on the detection result.

また、図11に示す変形例では、実施例1で用いた回り止め部材1510を省略している。ここで、撮影光軸10を挟んで対向する位置に配置された一対の圧縮コイルバネ158のプリチャージ力により、レンズ1519の撮影光軸10回り(矢印1516r方向)の回転を抑制でき、しかもレンズ1519の撮影光軸10回りの回転は実際には画質に影響を与えない。したがって、レンズ1519の光軸回りの回転を阻止する回り止め部材を設ける必要はなくなり、回り止め部材を省略した分だけレンズ1519の駆動負荷を低減することができる。   Further, in the modification shown in FIG. 11, the detent member 1510 used in the first embodiment is omitted. Here, the precharge force of the pair of compression coil springs 158 arranged at positions facing each other with the photographing optical axis 10 interposed therebetween can suppress the rotation of the lens 1519 around the photographing optical axis 10 (in the direction of the arrow 1516r), and the lens 1519. The rotation around the photographing optical axis 10 actually does not affect the image quality. Accordingly, there is no need to provide a rotation preventing member that prevents the rotation of the lens 1519 around the optical axis, and the driving load of the lens 1519 can be reduced by the amount that the rotation preventing member is omitted.

なお、保持枠153の撮影光軸10方向における位置決め構造は、図11に示す構造、すなわち、当接部157aを溝部153aに係合させる構造に限られない。例えば、図9や図10を用いて説明したように、バネ力や磁力を用いて保持枠を偏心ピン157の当接部157aに当接させてもよい。また、圧縮コイルバネ158を、図2に示したように偏心ピン157と同軸上に配置してもよい。   Note that the positioning structure of the holding frame 153 in the direction of the photographing optical axis 10 is not limited to the structure shown in FIG. 11, that is, the structure in which the contact portion 157a is engaged with the groove portion 153a. For example, as described with reference to FIGS. 9 and 10, the holding frame may be brought into contact with the contact portion 157 a of the eccentric pin 157 using spring force or magnetic force. Further, the compression coil spring 158 may be arranged coaxially with the eccentric pin 157 as shown in FIG.

以上説明したように本実施例およびこの変形例においては、上述したように撮像素子ユニット15(15a、15b)を構成する部材をスペース効率良く配置することで、カメラの小型化を図ることができる。しかも、撮像素子ユニット15内に、保持枠153の撮影光軸10方向における位置を調整する機構を設けることができる。   As described above, in this embodiment and this modification, the camera can be reduced in size by arranging the members constituting the image sensor unit 15 (15a, 15b) in a space-efficient manner as described above. . In addition, a mechanism for adjusting the position of the holding frame 153 in the direction of the photographing optical axis 10 can be provided in the image sensor unit 15.

図12は、本発明の実施例2であるデジタルカメラに備え付けられるレンズ鏡筒の光軸方向断面図である。   FIG. 12 is a cross-sectional view in the optical axis direction of a lens barrel provided in a digital camera that is Embodiment 2 of the present invention.

図12において、レンズ鏡筒16内には、撮影光軸10に沿って物体側から順に、固定の第1レンズユニット11、変倍のための撮影光軸10に沿って移動する第2レンズユニット12、ピント調節を行う第3レンズユニット13が配置されている。レンズ鏡筒16は、カメラ本体27に固定される。   In FIG. 12, in the lens barrel 16, a fixed first lens unit 11 and a second lens unit moving along the photographing optical axis 10 for zooming in order from the object side along the photographing optical axis 10. 12. A third lens unit 13 for adjusting the focus is disposed. The lens barrel 16 is fixed to the camera body 27.

後述する撮像素子ユニット25は、レンズ鏡筒16の背面に配置されている。レンズユニット11〜13を通過した被写体光は、光学ローパスフィルタ14を通過して、撮像素子ユニット25内の撮像素子に入射する。ここで、撮像素子ユニット25は、後述するように撮影光軸10方向に交番的に振動するようになっている。   An imaging element unit 25 described later is disposed on the back surface of the lens barrel 16. The subject light that has passed through the lens units 11 to 13 passes through the optical low-pass filter 14 and enters the image sensor in the image sensor unit 25. Here, the image pickup device unit 25 vibrates alternately in the direction of the photographing optical axis 10 as will be described later.

本実施例のカメラは、撮像素子ユニット15を撮影光軸10方向に振動させることによるピント位置の変化を検出し、この検出結果に基づいて現状のピント位置に対して最適なピント位置に第3レンズユニット13を駆動する方向を判別する。これはウォブリングと呼ばれる手法であり、撮像素子を用いてピント位置を素早く求めるための方法である。   The camera of the present embodiment detects a change in the focus position caused by vibrating the image sensor unit 15 in the direction of the photographing optical axis 10, and based on this detection result, the third focus position is set to the optimum focus position with respect to the current focus position. The direction in which the lens unit 13 is driven is determined. This is a method called wobbling, and is a method for quickly obtaining a focus position using an image sensor.

図13は撮像素子ユニット25を正面(物体側)から見た図であり、図14は撮像素子ユニット15を側面から見たときの拡大図である。なお、図13において、撮像素子151は赤外カットフィルタ152の裏側に配置されているため、図示されていない。   13 is a view of the image sensor unit 25 as viewed from the front (object side), and FIG. 14 is an enlarged view of the image sensor unit 15 as viewed from the side. In FIG. 13, the image sensor 151 is not shown because it is disposed behind the infrared cut filter 152.

図13および図14において、赤外カットフィルタ152および撮像素子151は保持枠153に保持されている。フレキシブル基板1513cは、この一端側で撮像素子151に接続され、他端側においてIC1512に接続されている。ここで、撮像素子151は被写体光を光電変換によって電気信号に変換し、蓄積した電荷を出力する。   In FIG. 13 and FIG. 14, the infrared cut filter 152 and the image sensor 151 are held by a holding frame 153. The flexible substrate 1513c is connected to the image sensor 151 on one end side, and is connected to the IC 1512 on the other end side. Here, the image sensor 151 converts subject light into an electrical signal by photoelectric conversion, and outputs the accumulated charge.

保持枠153には、図14で示すように撮影光軸10方向に延びる穴部153aが設けられており、該穴部153aには偏心ピン157の先端に形成された円柱形状の当接部157aが係合している。   As shown in FIG. 14, the holding frame 153 is provided with a hole portion 153a extending in the direction of the photographing optical axis 10, and a cylindrical contact portion 157a formed at the tip of the eccentric pin 157 in the hole portion 153a. Are engaged.

このため、保持枠153は、地板156に圧入された偏心ピン157によって撮影光軸10方向と直交する方向(矢印203aで示す方向)、および撮影光軸10に対して傾斜する方向には変位しないように位置規制されている。すなわち、保持枠153は、偏心ピン157および穴部153aの係合によって、撮影光軸10方向にのみ移動可能となっている。   For this reason, the holding frame 153 is not displaced by the eccentric pin 157 press-fitted into the base plate 156 in a direction perpendicular to the direction of the photographing optical axis 10 (a direction indicated by an arrow 203a) and a direction inclined with respect to the photographing optical axis 10. So that the position is regulated. That is, the holding frame 153 can be moved only in the direction of the photographing optical axis 10 by the engagement of the eccentric pin 157 and the hole 153a.

偏心ピン157にはマイナス溝部157bが設けられている。マイナスドライバーなどをマイナス溝部157bに係合させて偏心ピン157を地板156に対して回転させると、当接部157aと係合する穴部153aの光軸直交方向における位置が微妙に変化する。すなわち、偏心ピン157は、図3(B)と同様に当接部157aの中心が偏心ピン157の回転軸に対して変位している。   The eccentric pin 157 is provided with a minus groove portion 157b. When a minus driver or the like is engaged with the minus groove portion 157b and the eccentric pin 157 is rotated with respect to the base plate 156, the position of the hole portion 153a engaged with the contact portion 157a in the direction perpendicular to the optical axis slightly changes. That is, in the eccentric pin 157, the center of the contact portion 157a is displaced with respect to the rotation axis of the eccentric pin 157, as in FIG.

例えば、偏心ピン157での偏心量が±0.2mmに設定されているとすると、2つの偏心ピン157を同じ方向に同じ量だけ回すことにより、撮像素子151(保持枠153)を光軸直交面内において最大±0.2mmだけ移動させることができる。これにより、撮影光軸10に対する撮像素子151のシフト調整を行うことができる。   For example, assuming that the eccentric amount at the eccentric pin 157 is set to ± 0.2 mm, the imaging element 151 (holding frame 153) is orthogonal to the optical axis by turning the two eccentric pins 157 by the same amount in the same direction. It can be moved in the plane by a maximum of ± 0.2 mm. Thereby, the shift adjustment of the image pick-up element 151 with respect to the imaging | photography optical axis 10 can be performed.

また、2つの偏心ピン157のうち一方の偏心ピン157を回転させれば、他方の偏心ピン157に係合する穴部153aが該偏心ピン157に対して圧接することになるため、当接部157aおよび穴部153a間のガタを調整できる。ここで、偏心ピン157の当接部157aが円柱状に形成され、光軸方向に延びる溝部153aと係合しているため、撮像素子151の受光面が撮影光軸10に対して傾くことはない。   Further, if one eccentric pin 157 of the two eccentric pins 157 is rotated, the hole 153a that engages with the other eccentric pin 157 comes into pressure contact with the eccentric pin 157. The play between 157a and the hole 153a can be adjusted. Here, since the contact portion 157a of the eccentric pin 157 is formed in a cylindrical shape and is engaged with the groove portion 153a extending in the optical axis direction, the light receiving surface of the imaging element 151 is not inclined with respect to the imaging optical axis 10. Absent.

偏心ピン157と保持枠153の間には、圧縮コイルバネ158がプリチャージされた状態で配置されている。また、保持枠153と地板156の間であって、圧縮コイルバネ158と対向する位置には、圧縮コイルバネ1518がプリチャージされた状態で配置されている。   A compression coil spring 158 is disposed between the eccentric pin 157 and the holding frame 153 in a precharged state. Further, a compression coil spring 1518 is arranged in a precharged state at a position between the holding frame 153 and the ground plate 156 and facing the compression coil spring 158.

圧縮コイルバネ158、1518のプリチャージ力は互いに相殺する方向に働くため、プリチャージ力が保持枠153の駆動負荷になることはなく、保持枠153の撮影光軸10方向の変位に応じたバネ力(バネ定数)だけが駆動負荷となる。このバネ定数は、可動部分(保持枠153や撮像素子151など)の質量との関連による固有振動数がウォブリングを行う振動数と同じになるように設定されており、効率良い駆動が行えるようになっている。   Since the precharge forces of the compression coil springs 158 and 1518 work in a direction to cancel each other, the precharge force does not become a driving load for the holding frame 153, and the spring force according to the displacement of the holding frame 153 in the direction of the photographing optical axis 10 Only (spring constant) is the driving load. This spring constant is set so that the natural frequency associated with the mass of the movable part (the holding frame 153, the image sensor 151, etc.) is the same as the frequency for wobbling, so that efficient driving can be performed. It has become.

図14で示されるように保持枠153には磁性材(例えば鉄材)である放熱板154が設けられ、放熱板154は撮像素子151の裏面(赤外カットフィルタ152と接触する受光面に対して光軸方向で対向する面)と接触している。放熱板154は、保持枠153に保持されており、連続的な撮像動作に伴って撮像素子151に発生する熱を逃がす(放熱)役割を果たしている。   As shown in FIG. 14, the holding frame 153 is provided with a heat radiating plate 154 that is a magnetic material (for example, iron material). The surface facing in the optical axis direction). The heat radiating plate 154 is held by the holding frame 153, and plays a role of releasing (heat radiating) the heat generated in the image pickup device 151 with the continuous image pickup operation.

撮像素子151は高温になるほど撮像感度が低下し、ノイズも増えてくるため、放熱板154を設ける必要があるが、本実施例では放熱板154に磁石201を吸着によって固定させている。磁性材としての放熱板154を磁石201に固定することで、磁石として機能する部材の厚み(撮影光軸10方向の長さ)を、実際の磁石201の厚みよりも厚くすることができ、磁石201の有効利用ができる。   As the imaging element 151 becomes higher in temperature, the imaging sensitivity decreases and the noise also increases. Therefore, it is necessary to provide a heat sink 154. In this embodiment, the magnet 201 is fixed to the heat sink 154 by adsorption. By fixing the heat radiating plate 154 as a magnetic material to the magnet 201, the thickness of the member functioning as a magnet (length in the direction of the photographing optical axis 10) can be made larger than the actual thickness of the magnet 201. 201 can be used effectively.

地板156のうち磁石201に対して光軸方向で向かい合う領域には、コイル202が設けられている。磁石201およびコイル202は、図13および図14に示すようにコイル202の全面に対して磁石201の同じ極(例えばN極)が撮影光軸10方向で対向するように配置されている。このため、コイル202に電流を流すと、コイル202および磁石201の磁気的作用によって保持枠153は矢印204方向(撮影光軸方向)に駆動される。   A coil 202 is provided in a region of the ground plate 156 facing the magnet 201 in the optical axis direction. As shown in FIGS. 13 and 14, the magnet 201 and the coil 202 are arranged so that the same pole (for example, N pole) of the magnet 201 faces the entire surface of the coil 202 in the direction of the photographing optical axis 10. For this reason, when a current is passed through the coil 202, the holding frame 153 is driven in the direction of the arrow 204 (in the direction of the photographing optical axis) by the magnetic action of the coil 202 and the magnet 201.

ここで、コイル202を保持枠153に配置せず、地板156に配置した理由を説明する。   Here, the reason why the coil 202 is arranged not on the holding frame 153 but on the main plate 156 will be described.

上述したように撮像素子151をウォブリング駆動させるためには、保持枠153を連続的に振動駆動させなくてはならない。このためにコイル202に交番電流を継続的に流していると、コイル202が発熱し、この熱によって撮像素子151に悪影響(例えば、撮像感度の低下やノイズの増加)を及ぼす恐れがある。   As described above, in order to drive the imaging device 151 to wobble, the holding frame 153 must be continuously driven to vibrate. For this reason, when an alternating current is continuously supplied to the coil 202, the coil 202 generates heat, and this heat may adversely affect the image sensor 151 (for example, decrease in imaging sensitivity or increase in noise).

この理由から、撮像素子151の撮像性能に影響を与えない、すなわち発熱することのない磁石201を保持枠153(撮像素子151側)に配置するようにしている。   For this reason, the magnet 201 that does not affect the imaging performance of the image sensor 151, that is, does not generate heat, is arranged on the holding frame 153 (image sensor 151 side).

一方、偏心ピン157の当接部157aと穴部153aの間には空気室153c(当接部157aの先端と穴部153aで囲まれたスペース)が設けられている。また、当接部157aの外周面には、当接部157aの長手方向に延びる溝部203bが形成されている。   On the other hand, an air chamber 153c (a space surrounded by the tip of the contact portion 157a and the hole portion 153a) is provided between the contact portion 157a and the hole portion 153a of the eccentric pin 157. A groove 203b extending in the longitudinal direction of the contact portion 157a is formed on the outer peripheral surface of the contact portion 157a.

このため、保持枠153がコイル202側に駆動したとき、すなわち、空気室153cの体積が減少したときには、空気室153c内の空気が溝部203bを介して外部に僅かずつ抜け出るようになっている。また、保持枠153が物体側に移動したとき、すなわち、空気室153cの体積が増加したときには、外部の空気が空気室153c内に僅かずつ入り込むようになっている。これにより、空気室153cの空気は保持枠153を振動駆動させるときのダンピングの役目を果たす。   For this reason, when the holding frame 153 is driven to the coil 202 side, that is, when the volume of the air chamber 153c is reduced, the air in the air chamber 153c is gradually discharged outside through the groove 203b. Further, when the holding frame 153 moves to the object side, that is, when the volume of the air chamber 153c increases, outside air enters the air chamber 153c little by little. Thus, the air in the air chamber 153c serves as a damping when the holding frame 153 is driven to vibrate.

地板156に設けられたコイル202の中央には、ホール素子などの磁気検出センサ1511aが設けられており、保持枠153の駆動に伴う磁石201の移動による磁界変化を検出している。磁気検出センサ1511aの検出結果は、IC1512に出力され、IC5112において保持枠153の矢印204方向の移動を検出している。   A magnetic detection sensor 1511 a such as a Hall element is provided at the center of the coil 202 provided on the ground plate 156, and detects a change in the magnetic field due to the movement of the magnet 201 accompanying the driving of the holding frame 153. The detection result of the magnetic detection sensor 1511a is output to the IC 1512, and the IC 5112 detects the movement of the holding frame 153 in the arrow 204 direction.

そして、IC1512は、撮像素子151を振動駆動しているときの位相を磁気検出センサ1511aで検出して、撮像素子151で検出する像のコントラストと関連付けてピントの合う方向を求める。この結果に基づいて、第3レンズユニット13の駆動制御が行われる。   The IC 1512 detects the phase when the image sensor 151 is driven by vibration by the magnetic detection sensor 1511a, and obtains the in-focus direction in association with the contrast of the image detected by the image sensor 151. Based on this result, drive control of the third lens unit 13 is performed.

以下、本実施例の変形例について説明する。   Hereinafter, modifications of the present embodiment will be described.

上述したウォブリングでは、撮像素子151を撮影光軸方向に微小に振動駆動させるが、近年におけるデジタルカメラにおいては撮像素子151が小型化してきており、これに伴いピント調整量も少なくなっているカメラもある。   In the above-described wobbling, the image sensor 151 is vibrated minutely in the direction of the photographic optical axis. However, in recent digital cameras, the image sensor 151 has been downsized, and some cameras have a reduced focus adjustment amount accordingly. is there.

このようなカメラにおいては、フォーカシングレンズを光軸方向に移動させることによって撮影光学系の焦点調節を行うのではなく、撮像素子151を撮影光軸10方向に駆動して焦点調節を行うことができる。   In such a camera, the focus adjustment of the photographing optical system is not performed by moving the focusing lens in the optical axis direction, but the image sensor 151 can be driven in the direction of the photographing optical axis 10 to perform the focus adjustment. .

例えば、図12における第3レンズユニット13を固定し、撮像素子ユニットを図16に示す構成にすることができる。図16に示す撮像素子ユニット26の構成と図13に示す撮像素子ユニット25の構成の相違点は、偏心ピン157が軸205に代わっており、軸205が保持枠153を撮影光軸10方向にガイドしている点である。   For example, the third lens unit 13 in FIG. 12 can be fixed, and the image sensor unit can be configured as shown in FIG. The difference between the configuration of the image sensor unit 26 shown in FIG. 16 and the configuration of the image sensor unit 25 shown in FIG. 13 is that the eccentric pin 157 replaces the axis 205 and the axis 205 moves the holding frame 153 in the direction of the photographing optical axis 10. It is a point to guide.

すなわち、軸205は、この両端において地板156に支持されているとともに、保持枠153に形成された光軸方向に延びる貫通穴部153dと係合している。また、バネ158、1518は、ピント合わせの際に保持枠153の駆動負荷にならない程度に小さなバネ定数に設定されており、非駆動時における外乱からの信頼性を高めている。   That is, the shaft 205 is supported by the base plate 156 at both ends, and is engaged with a through hole portion 153d formed in the holding frame 153 and extending in the optical axis direction. Further, the springs 158 and 1518 are set to a small spring constant so as not to become a driving load of the holding frame 153 at the time of focusing, and the reliability from disturbance during non-driving is enhanced.

磁気検出センサ1511aは保持枠153の位置を検出して、この検出結果をIC1512に出力している。そして、IC1512は、磁気検出センサ1511aの出力に基づいてコイル202の駆動を制御(フィードバック制御)する。   The magnetic detection sensor 1511 a detects the position of the holding frame 153 and outputs the detection result to the IC 1512. The IC 1512 controls (feedback control) driving of the coil 202 based on the output of the magnetic detection sensor 1511a.

すなわち、図4を用いて説明したのと同様に磁気検出センサ1511aの出力(撮像素子151の現在位置)と目標値を比較(第3差動回路によって比較)することで、保持枠153を目標値まで忠実に駆動させる。ここで、上記の目標値は、カメラ本体27に搭載されたAFセンサの焦点検出結果に伴うピント繰出し量(デフォーカス量)、或いはコントラスト検出方式におけるピントスキャン位置である。   That is, the output of the magnetic detection sensor 1511a (current position of the image sensor 151) and the target value are compared (compared by the third differential circuit) as described with reference to FIG. Drive faithfully to the value. Here, the target value is a focus feed amount (defocus amount) associated with a focus detection result of the AF sensor mounted on the camera body 27, or a focus scan position in the contrast detection method.

以上説明したように本実施例およびこの変形例においても、撮像素子151の背面側に、撮像素子151(保持枠153)を駆動する部材をスペース効率良く配置することで、撮像素子ユニット25(26)、更にはカメラの小型化を図ることができる。   As described above, also in the present embodiment and this modification, the image sensor unit 25 (26) is arranged on the back side of the image sensor 151 by efficiently arranging the member that drives the image sensor 151 (holding frame 153). In addition, the camera can be reduced in size.

実施例2では撮像素子151を撮影光軸10方向に駆動してピント調整を行っていたが、本発明の実施例3では撮像素子151の受光面を撮影光軸に対して傾斜させる構成となっている。これにより、方ボケ調整を行ったり、チルトレンズ効果を得たりすることができる。   In the second embodiment, the image sensor 151 is driven in the direction of the photographing optical axis 10 to perform focus adjustment. However, in the third embodiment of the present invention, the light receiving surface of the image sensor 151 is inclined with respect to the photographing optical axis. ing. As a result, it is possible to adjust the blur and obtain a tilt lens effect.

図17は本実施例における撮像素子ユニット35を正面(物体側)から見た図であり、図18は上記撮像素子ユニット35の側面図である。   FIG. 17 is a view of the image sensor unit 35 in this embodiment as seen from the front (object side), and FIG. 18 is a side view of the image sensor unit 35.

図17において、保持枠153の背面のうち上側中央部および下側角部には磁石301が配置されている。また、地板156のうち磁石301に対して撮影光軸方向で向かい合う領域にはコイル302が設けられている。そして、各コイル302の中心には磁気検出センサ1511b、1511c、1511dが設けられている。   In FIG. 17, magnets 301 are arranged on the upper center and lower corners of the rear surface of the holding frame 153. In addition, a coil 302 is provided in a region of the ground plate 156 that faces the magnet 301 in the photographing optical axis direction. Magnetic detection sensors 1511b, 1511c, and 1511d are provided at the center of each coil 302.

保持枠153裏面には、図18に示すようにピボット穴部153cが設けられており、このピボット穴部153cには地板156から突出したピボット軸156bが係合している。   As shown in FIG. 18, a pivot hole 153c is provided on the rear surface of the holding frame 153, and a pivot shaft 156b protruding from the main plate 156 is engaged with the pivot hole 153c.

地板156の表面(物体側の面)と保持枠153の間であって、磁石301に対応した位置には、圧縮コイルバネ1518がプリチャージされた状態で配置されている。これにより、圧縮コイルバネ1518は、保持枠153をコイル302側に付勢している。これにより、ピボット穴部153cおよびピボット軸156bの係合を介して保持枠153を圧縮コイルバネ1518のバネ力に逆らって傾斜(撮影光軸に対して傾斜)させることができる。   A compression coil spring 1518 is disposed in a precharged position at a position corresponding to the magnet 301 between the surface of the main plate 156 (object-side surface) and the holding frame 153. Accordingly, the compression coil spring 1518 biases the holding frame 153 toward the coil 302 side. Accordingly, the holding frame 153 can be inclined (inclined with respect to the photographing optical axis) against the spring force of the compression coil spring 1518 through the engagement of the pivot hole 153c and the pivot shaft 156b.

図18において、撮像素子151の受光面には赤外カットフィルタ152が接触しており、撮像素子151の裏面(受光面と反対側の面)には磁性材(例えば鉄材)である放熱板154が接触している。撮像素子151、赤外カットフィルタ152および放熱板154は、保持枠153によって保持され、一体となって移動するようになっている。   In FIG. 18, the infrared cut filter 152 is in contact with the light receiving surface of the image sensor 151, and the heat radiating plate 154 that is a magnetic material (for example, iron material) is provided on the back surface (surface opposite to the light receiving surface) of the image sensor 151. Are in contact. The image sensor 151, the infrared cut filter 152, and the heat sink 154 are held by a holding frame 153 and are moved together.

放熱板154は、連続的な撮像動作に伴う撮像素子151の発熱を低減(放熱)する役割を果たしている。撮像素子151は高温になるほど撮像感度が低下し、ノイズも増えてくるため、これを防止するために放熱板154を設ける必要がある。本実施例では、放熱板154に磁石301を吸着によって固定させている。   The heat radiating plate 154 plays a role of reducing (dissipating heat) the heat generated by the image sensor 151 due to the continuous image capturing operation. Since the imaging sensitivity of the image sensor 151 decreases and the noise increases as the temperature rises, it is necessary to provide a heat sink 154 to prevent this. In this embodiment, the magnet 301 is fixed to the heat radiating plate 154 by adsorption.

磁性材としての放熱板154に磁石301を接触させることで、磁石として機能する部材の厚みを実際の磁石301の厚みよりも厚くすることができ、磁石301を有効利用できる。   By bringing the magnet 301 into contact with the heat radiating plate 154 as a magnetic material, the thickness of the member functioning as a magnet can be made thicker than the actual thickness of the magnet 301, and the magnet 301 can be used effectively.

磁石301およびコイル302は、上述したように撮影光軸方向において向かい合っているため、各コイル302に独立して電流を流すと、磁石301およびコイル302の電磁作用によって保持枠153のうち磁石301の設けられた領域が略撮影光軸方向に移動することになる。ここで、保持枠153は、ピボット穴部153cを介してピボット軸156bに係合しているため、各コイル302に供給する電流を制御することによって、保持枠153(撮像素子151の受光面)を撮影光軸に対して任意の方向に任意の角度で傾斜させることができる。   Since the magnet 301 and the coil 302 face each other in the photographing optical axis direction as described above, when an electric current is caused to flow independently through each coil 302, the magnet 301 of the holding frame 153 is affected by the electromagnetic action of the magnet 301 and the coil 302. The provided area moves substantially in the direction of the photographing optical axis. Here, since the holding frame 153 is engaged with the pivot shaft 156b via the pivot hole 153c, the holding frame 153 (the light receiving surface of the image sensor 151) is controlled by controlling the current supplied to each coil 302. Can be inclined at an arbitrary angle in an arbitrary direction with respect to the photographing optical axis.

コイル302および磁石301の配置を逆にした構成において、コイル302に電流を継続的に流すと、コイル302が発熱してくるために撮像素子151に悪影響(撮像感度の低下およびノイズの増加等)を及ぼす恐れがある。上記悪影響を抑制するために、本実施例では、上述したように、コイル302を地板156に設け、撮像素子151の撮像性能に影響を与えない(発熱しない)磁石301を保持枠153(撮像素子151側)に設けている。これにより、コイル302が発熱しても、この熱が撮像素子151に伝わるのを抑制でき、撮像素子151の撮像性能の低下を抑制することができる。   In a configuration in which the arrangement of the coil 302 and the magnet 301 is reversed, if a current is continuously passed through the coil 302, the coil 302 generates heat, which adversely affects the image sensor 151 (decrease in imaging sensitivity, increase in noise, etc.). There is a risk of affecting. In order to suppress the adverse effect, in this embodiment, as described above, the coil 302 is provided on the ground plane 156, and the magnet 301 that does not affect the imaging performance of the imaging device 151 (does not generate heat) is provided with the holding frame 153 (imaging device). 151 side). Thereby, even if the coil 302 generates heat, it is possible to suppress the heat from being transmitted to the image sensor 151, and it is possible to suppress a decrease in the imaging performance of the image sensor 151.

各コイル302の中央部に設けられたホール素子などの磁気検出センサ1511b〜1511dは、保持枠153の駆動に伴う磁石301の移動による磁界変化を検出している。磁気検出センサ1511b〜1511dの検出結果はIC1512に入力され、IC1512は入力された検出結果に基づいて保持枠153(撮像素子151の受光面)の撮影光軸に対する傾き(傾き方向や傾き角度等)を検出している。   Magnetic detection sensors 1511 b to 1511 d such as Hall elements provided at the center of each coil 302 detect a magnetic field change due to the movement of the magnet 301 accompanying the driving of the holding frame 153. The detection results of the magnetic detection sensors 1511b to 1511d are input to the IC 1512, and the IC 1512 tilts the tilt of the holding frame 153 (the light receiving surface of the image sensor 151) with respect to the photographing optical axis based on the input detection result (tilt direction, tilt angle, etc.). Is detected.

そして、IC1512は検出した保持枠153の傾きに基づきコイル302に流す電流量を調整することで保持枠153を任意の位置に高精度に傾けることができる。   The IC 1512 can tilt the holding frame 153 to an arbitrary position with high accuracy by adjusting the amount of current flowing through the coil 302 based on the detected inclination of the holding frame 153.

以上のように本実施例においては、撮像素子151の背面側に、保持枠153を駆動する部材を配置することで、撮像素子ユニット35、更にはカメラの小型化を図ることができる。   As described above, in the present embodiment, by arranging the member that drives the holding frame 153 on the back side of the image sensor 151, the image sensor unit 35 and further the camera can be downsized.

上述した実施例および変形例では、デジタルカメラに備え付けられるレンズ鏡筒を例にして説明したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば、監視カメラ、Webカメラ、レンズ装置が着脱可能に装着されるカメラ、撮影機能を備えた携帯型電子機器にも適用することができる。特に、本発明によれば撮像素子ユニットの小型化を図ることができるため、携帯型電子機器に好適に用いることができる。   In the above-described embodiments and modifications, the lens barrel provided in the digital camera has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, and for example, a monitoring camera, a web camera, and a lens device can be detachably attached. The present invention can also be applied to a portable electronic device having a camera and a photographing function. In particular, according to the present invention, it is possible to reduce the size of the imaging element unit, and thus it can be suitably used for a portable electronic device.

本発明の実施例1であるカメラの断面図。1 is a cross-sectional view of a camera that is Embodiment 1 of the present invention. 実施例1における撮像素子ユニットの平面図。FIG. 3 is a plan view of the image sensor unit in Embodiment 1. 実施例1における撮像素子ユニットの側面図(A)および部分拡大図(B)。The side view (A) and partial enlarged view (B) of the image pick-up element unit in Example 1. FIG. 実施例1のカメラのうち像振れ補正に関する回路構成を示すブロック図。FIG. 3 is a block diagram illustrating a circuit configuration related to image blur correction in the camera according to the first exemplary embodiment. 実施例1の撮像素子ユニットを地板側から見たときの図。The figure when the image pick-up element unit of Example 1 is seen from the ground plane side. 実施例1の撮像素子ユニットを保持枠側から見たときの図。The figure when the image pick-up element unit of Example 1 is seen from the holding frame side. 実施例1におけるフレキシブル基板の展開図。FIG. 3 is a development view of the flexible substrate in the first embodiment. 実施例1の第1の変形例における撮像素子ユニットの平面図。FIG. 6 is a plan view of an image sensor unit in a first modification of the first embodiment. 第1の変形例の撮像素子ユニットの側面図。The side view of the image sensor unit of the 1st modification. 実施例1の第2の変形例における撮像素子ユニットの側面図。FIG. 9 is a side view of an image sensor unit in a second modification of Example 1. 実施例1の第3の変形例におけるレンズユニットの平面図。FIG. 6 is a plan view of a lens unit according to a third modification of Example 1. 本発明の実施例2であるカメラの断面図。Sectional drawing of the camera which is Example 2 of this invention. 実施例2における撮像素子ユニットの平面図。FIG. 6 is a plan view of an image sensor unit in Embodiment 2. 実施例2における撮像素子ユニットの側面図。FIG. 6 is a side view of an image sensor unit in Embodiment 2. 実施例2における偏心ピンおよび保持枠の係合部分を示す断面図。Sectional drawing which shows the engaging part of the eccentric pin and holding frame in Example 2. FIG. 実施例2の変形例における撮像素子ユニットの側面図。FIG. 9 is a side view of an image sensor unit in a modification of Example 2. 本発明の実施例3における撮像素子ユニットの平面図。The top view of the image sensor unit in Example 3 of the present invention. 実施例3における撮像素子ユニットの側面図。FIG. 6 is a side view of an image sensor unit in Embodiment 3.

符号の説明Explanation of symbols

10 :撮影光軸
15 :撮像素子ユニット
151 :撮像素子
153 :保持枠
154 :磁性板
155 :磁石
156 :地板
157 :偏心ピン
158 :圧縮コイルバネ
159 :コイル
1510 :回り止め部材
1513 :フレキシブル基板
1514 :シールド板
1517 :ダンパー板
1518 :圧縮コイルバネ
201 :磁石
202 :コイル
301 :磁石
302 :コイル
10: Imaging optical axis 15: Image sensor unit 151: Image sensor 153: Holding frame 154: Magnetic plate 155: Magnet 156: Ground plate 157: Eccentric pin 158: Compression coil spring 159: Coil 1510: Non-rotating member 1513: Flexible substrate 1514: Shield plate 1517: Damper plate 1518: Compression coil spring 201: Magnet 202: Coil 301: Magnet 302: Coil

Claims (23)

被写体像を光電変換する撮像素子と、
該撮像素子を移動可能に支持する支持部材と、
前記撮像素子における受光面とは反対の背面側に設けられた磁石と、
前記支持部材における前記磁石に光軸方向にて略対向する領域に設けられ、前記磁石との間での電磁作用により前記撮像素子を駆動するコイルとを有することを特徴とする撮影装置。
An image sensor that photoelectrically converts a subject image;
A support member that movably supports the image sensor;
A magnet provided on the back side opposite to the light receiving surface in the imaging device;
An imaging apparatus comprising: a coil provided in a region of the support member substantially facing the magnet in the optical axis direction and driving the imaging element by electromagnetic action with the magnet.
前記磁石の少なくとも一部が、前記背面側であって、前記撮像素子と光軸方向にて重なる領域に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の撮影装置。   The photographing apparatus according to claim 1, wherein at least a part of the magnet is disposed in a region on the back side and overlapping with the imaging element in an optical axis direction. 前記撮像素子と前記磁石との間に磁性部材が設けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載の撮影装置。   The imaging apparatus according to claim 1, wherein a magnetic member is provided between the imaging element and the magnet. 前記磁性部材は、前記撮像素子の前記背面に当接し、前記撮像素子の放熱を行うことを特徴とする請求項3に記載の撮影装置。   The imaging apparatus according to claim 3, wherein the magnetic member is in contact with the back surface of the image sensor and radiates heat of the image sensor. 前記撮像素子は、光軸方向に直交する方向に移動可能であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の撮影装置。   The imaging apparatus according to claim 1, wherein the imaging element is movable in a direction orthogonal to the optical axis direction. 被写体像を光電変換する撮像素子と、
該撮像素子を光軸直交方向に移動可能に支持する支持部材と、
前記撮像素子における受光面とは反対の背面と前記支持部材との間に配置され、前記撮像素子の光軸直交方向への移動を許容し、光軸直交面内での回転を阻止する回転制限機構とを有することを特徴とする撮影装置。
An image sensor that photoelectrically converts a subject image;
A support member that supports the image sensor so as to be movable in the direction perpendicular to the optical axis;
Rotation restriction that is arranged between the back surface opposite to the light receiving surface of the image sensor and the support member, allows the image sensor to move in the direction perpendicular to the optical axis, and prevents rotation in the plane orthogonal to the optical axis And a mechanism.
前記回転制限機構は、前記支持部材により光軸直交方向のうち第1の方向にのみ移動可能に支持された可動部材を有し、
前記撮像素子は、前記可動部材により光軸直交方向のうち前記第1の方向とは異なる第2の方向にのみ移動可能に支持されていることを特徴とする請求項6に記載の撮影装置。
The rotation limiting mechanism has a movable member supported by the support member so as to be movable only in the first direction among the orthogonal directions of the optical axis,
The imaging apparatus according to claim 6, wherein the imaging element is supported by the movable member so as to be movable only in a second direction different from the first direction in a direction orthogonal to the optical axis.
前記撮像素子は、光軸方向に移動可能であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の撮影装置。   The imaging apparatus according to claim 1, wherein the imaging element is movable in an optical axis direction. 前記撮像素子は、光軸に対して傾くように移動可能であることを特徴とする請求項1から4のいずれか1つに記載の撮影装置。   The imaging apparatus according to claim 1, wherein the imaging element is movable so as to be inclined with respect to the optical axis. 前記可動部材は、光軸方向において薄肉のシート状部材であることを特徴とする請求項7に記載の撮影装置。   The photographing apparatus according to claim 7, wherein the movable member is a thin sheet-like member in an optical axis direction. 光軸方向に直交する方向に移動して、像振れを補正する振れ補正ユニットを有する撮影装置であって、
前記振れ補正ユニットに当接し、該当接部分の光軸方向における位置を調整可能な調整手段を有することを特徴とする撮影装置。
An imaging apparatus having a shake correction unit that moves in a direction orthogonal to the optical axis direction to correct image shake,
An imaging apparatus, comprising: an adjusting unit that is in contact with the shake correction unit and capable of adjusting a position of the corresponding contact portion in the optical axis direction.
前記調整手段は、前記振れ補正ユニットと当接する部分が略球状に形成された偏心ピンであることを特徴とする請求項11に記載の撮影装置。   The photographing apparatus according to claim 11, wherein the adjusting unit is an eccentric pin in which a portion in contact with the shake correction unit is formed in a substantially spherical shape. 前記振れ補正ユニットは、前記調整手段と光軸方向でのみ当接可能な溝部を有することを特徴とする請求項11又は12に記載の撮影装置。   The photographing apparatus according to claim 11, wherein the shake correction unit includes a groove portion that can be brought into contact with the adjustment unit only in an optical axis direction. 前記振れ補正ユニットを前記調整手段に当接させるよう付勢する付勢手段を有することを特徴とする請求項13に記載の撮影装置。   The photographing apparatus according to claim 13, further comprising an urging unit that urges the shake correction unit to abut against the adjustment unit. 前記付勢手段がバネであることを特徴とする請求項14に記載の撮影装置。   The photographing apparatus according to claim 14, wherein the biasing unit is a spring. 前記付勢手段は磁石及びコイルを有し、
前記磁石およびコイルの間での電磁作用により前記振れ補正ユニットを前記調整手段に当接させることを特徴とする請求項14に記載の撮影装置。
The biasing means has a magnet and a coil,
The photographing apparatus according to claim 14, wherein the shake correction unit is brought into contact with the adjustment unit by an electromagnetic action between the magnet and the coil.
光軸方向と直交する方向に移動して、像振れを補正する振れ補正ユニットを有する撮影装置であって、
前記振れ補正ユニットを光軸直交面内における互いに相反する方向に付勢する第1および第2のコイルバネを有し、
前記振れ補正ユニットを前記第1および第2のコイルバネの伸縮方向に駆動したときの単位量当たりの弾性力と、前記振れ補正ユニットを前記伸縮方向と直交する方向に駆動したときの単位量当たりの弾性力が略等しいことを特徴とする撮影装置。
An imaging apparatus having a shake correction unit that moves in a direction orthogonal to the optical axis direction to correct image shake,
Having first and second coil springs for biasing the shake correction unit in directions opposite to each other in a plane orthogonal to the optical axis;
The elastic force per unit amount when the shake correction unit is driven in the expansion / contraction direction of the first and second coil springs, and the unit amount when the shake correction unit is driven in the direction orthogonal to the expansion / contraction direction. An imaging apparatus characterized by substantially equal elastic forces.
前記第1および第2のコイルバネが圧縮コイルバネであり、
該圧縮コイルバネの長さおよび径は、圧縮方向のバネ定数と曲げ方向のバネ定数が略等しくなるように設定されていることを特徴とする請求項17に記載の撮影装置。
The first and second coil springs are compression coil springs;
18. The photographing apparatus according to claim 17, wherein the length and diameter of the compression coil spring are set so that a spring constant in a compression direction and a spring constant in a bending direction are substantially equal.
前記像振れ補正ユニットは、被写体像を光電変換する撮像素子を有することを特徴とする請求項11から17のいずれか1つに記載の撮影装置。   The image capturing apparatus according to claim 11, wherein the image shake correction unit includes an image sensor that photoelectrically converts a subject image. 前記像振れ補正ユニットは、光学素子を有することを特徴とする請求項11から17のいずれか1つに記載の撮影装置。   The imaging apparatus according to claim 11, wherein the image shake correction unit includes an optical element. 被写体像を光電変換する撮像素子と、
該撮像素子を光軸直交面内で移動させる駆動機構と、
前記撮像素子と装置本体との電気的接続を行うフレキシブル基板と、
前記撮像素子の駆動に応じて移動する前記フレキシブル基板との当接を避けるように配置され、前記フレキシブル基板を保護するためのシールド手段とを有することを特徴とする撮影装置。
An image sensor that photoelectrically converts a subject image;
A drive mechanism for moving the image sensor in the plane orthogonal to the optical axis;
A flexible substrate for electrical connection between the imaging element and the apparatus body;
An imaging apparatus, comprising: shielding means arranged to avoid contact with the flexible substrate that moves in accordance with driving of the imaging element, and protecting the flexible substrate.
被写体像を光電変換する撮像素子と、
該撮像素子を光軸直交面内で移動させる駆動機構と、
前記撮像素子および装置本体との電気的接続を行うための複数のフレキシブル基板を有することを特徴とする撮影装置。
An image sensor that photoelectrically converts a subject image;
A drive mechanism for moving the image sensor in the plane orthogonal to the optical axis;
An imaging apparatus comprising a plurality of flexible substrates for performing electrical connection between the imaging element and the apparatus main body.
前記複数のフレキシブル基板のうち互いに隣り合うフレキシブル基板の間に、該基板間の電気的干渉を抑制するためのシールド手段を配置したことを特徴とする請求項22に記載の撮影装置。

23. The photographing apparatus according to claim 22, wherein shielding means for suppressing electrical interference between the plurality of flexible boards is arranged between adjacent flexible boards.

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