JP2005201680A - Spectrophotometer - Google Patents

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Katsumi Harada
克己 原田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrophotometer capable of preventing the irradiation of a harmful beam to an operator without switching off a light source and without adding a new component. <P>SOLUTION: This spectrophotometer 100 is equipped with optical components (a slit plate 103, a light source switching mirror, a chopping mirror or the like) for changing the optical path or the physical characteristic of measuring light, its driving means 107, a control means 112, and a lid opening detection means 114 for detecting opening of the lid 113 of a sample chamber 109. In the spectrophotometer 100, when opening of the lid 113 of the sample chamber 109 is detected by the lid opening detection means 114, driving of the optical component 103 by the driving means 107 is controlled by the control means 112, to thereby block incidence of the beam into the sample chamber 109. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、有害な光線からオペレータを保護するための機能を備えた分光光度計に関する。   The present invention relates to a spectrophotometer having a function for protecting an operator from harmful light rays.

分光光度計は光源からの光を分光器で分光し、測定試料に照射することにより、その各波長における透過率や反射率を測定する装置である。このような分光光度計の一例としては、例えば特許文献１に記載のものが挙げられる。   A spectrophotometer is a device that measures the transmittance and reflectance at each wavelength by diffusing light from a light source with a spectroscope and irradiating a measurement sample. As an example of such a spectrophotometer, the thing of patent document 1 is mentioned, for example.

一般に、分光光度計の光源部には強い光を放つ光源が１個又は複数個設置してあり、試料室の蓋を開けると試料室に入射した光線が外部に漏れる可能性がある。一般的にはこうした漏洩光の強度はそれほど大きくないが、測定光の強度が特に大きかったり、装置がオペレータの目の高さに設置されたりしている場合等には、紫外線や強い白色光がオペレータの目に入る恐れがあった。そのため従来の分光光度計には、試料室の蓋が開放された時には光源を消灯する安全機能を備えたものがある。   Generally, one or a plurality of light sources that emit strong light are installed in the light source section of the spectrophotometer, and if the lid of the sample chamber is opened, light incident on the sample chamber may leak to the outside. In general, the intensity of such leakage light is not so high, but when the intensity of the measurement light is particularly high or the device is installed at the eye level of the operator, ultraviolet rays or strong white light is emitted. There was a risk of entering the eyes of the operator. Therefore, some conventional spectrophotometers have a safety function that turns off the light source when the lid of the sample chamber is opened.

しかしながら、上記のような光源を消灯することによりオペレータへの光線の照射を防ぐ方法では、試料室の蓋を開閉する度に、光源を再点灯し、次に測定可能となるまでの光源安定時間が必要となってくる。そのため、光源を消灯すること無くオペレータへの光線の照射を防ぐことが望ましいが、付加的に光線遮断のための部品を設けると、それだけ製造コストが増大してしまうという問題がある。
特開2000-121546号公報 However, in the method of preventing light irradiation to the operator by turning off the light source as described above, the light source stabilization time until the light source is turned on again and measurement is possible next time the lid of the sample chamber is opened and closed. Will be needed. For this reason, it is desirable to prevent the operator from irradiating light without turning off the light source. However, if a part for blocking light is additionally provided, there is a problem that the manufacturing cost increases accordingly.
JP 2000-121546 A

本発明が解決しようとする課題は、光源を消灯せず、また光線遮断のための新たな部品を付加すること無く、オペレータへの光線の照射を防ぐ機能を有する分光光度計を提供することである。   The problem to be solved by the present invention is to provide a spectrophotometer having a function of preventing irradiation of light to an operator without turning off the light source and without adding a new part for blocking light. is there.

分光光度計において、光源部から測定試料のセットされた試料室へと至る光路上には、測定光の収束、分岐、成形、及び方向変換を行ったり、光路長やスペクトル幅を調節したりするための、レンズ、ミラー、シャッター、スリットなどの各種光学部品が挿入されており、測定条件を適宜変更するために、これら光学部品の一部が機械的あるいは電気的に制御できるようになっているものも多い。本願発明者は、こうした光学部品を利用することによって、新たな部品を付加することなくオペレータへの光線の照射を回避できることに想到し、本願発明に至った。   In the spectrophotometer, on the optical path from the light source section to the sample chamber where the measurement sample is set, the measurement light is converged, branched, shaped, and changed in direction, and the optical path length and spectral width are adjusted. Various optical components such as lenses, mirrors, shutters, and slits are inserted, and some of these optical components can be mechanically or electrically controlled in order to appropriately change the measurement conditions. There are many things. The inventor of the present application has come up with the present invention by conceiving that by using such an optical component, it is possible to avoid the irradiation of light to the operator without adding a new component.

即ち、上記課題を解決するために成された本発明に係る分光光度計は、試料室内にセットされた試料に測定光を照射し、その透過光又は反射光を検出する分光光度計であって、その測定光の光路や物理的特性の変更等の制御を行うために該測定光の光路上に配置された光学部品と、測定状態に応じて前記光学部品を駆動する駆動手段と、を有する分光光度計において、前記試料室を開閉する蓋の開放を検知する蓋開放検知手段と、該蓋開放検知手段によって試料室の蓋の開放が検知されたとき、試料室への測定光の入射が遮断されるように、前記駆動手段により前記光学部品の状態を設定する制御手段と、を備えることを特徴とする。   That is, a spectrophotometer according to the present invention made to solve the above problems is a spectrophotometer that irradiates a sample set in a sample chamber with measurement light and detects transmitted light or reflected light. An optical component disposed on the optical path of the measurement light to control the change of the optical path and physical characteristics of the measurement light, and a driving unit that drives the optical component according to the measurement state In the spectrophotometer, when the lid opening detecting means for detecting the opening of the lid that opens and closes the sample chamber and the lid opening detecting means detects the opening of the lid of the sample chamber, the measurement light is incident on the sample chamber. Control means for setting the state of the optical component by the driving means so as to be blocked.

分光光度計の一態様として、分光器と試料室の間にスリット板を設け、スリット切換機構によってスリット穴の幅を変更することにより、スリットを通過して試料室に入射する測定光のバンド幅を変換できるものがある。こうした構成の分光光度計に本発明を適用する場合、本発明における光学部品としてスリット板を利用することができる。   As one aspect of the spectrophotometer, a slit plate is provided between the spectroscope and the sample chamber, and by changing the width of the slit hole by the slit switching mechanism, the bandwidth of the measurement light incident on the sample chamber through the slit There are things that can be converted. When the present invention is applied to a spectrophotometer having such a configuration, a slit plate can be used as an optical component in the present invention.

また、分光光度計の他の態様として、波長範囲の異なる複数の光源を有し、光源の近傍に設けられた回動可能な光源切換ミラーを駆動して、その角度を変更することによって、測定試料に入射させる光源を切り換える仕組みのものがある。こうした構成の分光光度計に本発明を適用する場合、本発明における光学部品として光源切換ミラーを利用することができる。   In addition, as another aspect of the spectrophotometer, it has a plurality of light sources with different wavelength ranges, drives a rotatable light source switching mirror provided in the vicinity of the light source, and changes its angle to measure There is a mechanism for switching the light source incident on the sample. When the present invention is applied to a spectrophotometer having such a configuration, a light source switching mirror can be used as an optical component in the present invention.

更に、分光光度計の他の態様として、測定光を測定試料及び参照試料に照射し、両者の透過率又は反射率の比を測定することにより定性及び定量分析を行うダブルビーム式の分光光度計がある。このようなダブルビーム式の分光光度計では、回動可能なチョッピングミラー等によって、測定光の測定試料側又は参照試料側への照射、及び非照射の切り換えを行う。こうした構成の分光光度計に本発明を適用する場合、本発明における光学部品としてチョッピングミラーを利用することができる。   Furthermore, as another aspect of the spectrophotometer, a double-beam spectrophotometer that performs qualitative and quantitative analysis by irradiating the measurement light and the reference sample with the measurement light and measuring the transmittance or reflectance ratio of the two. There is. In such a double beam type spectrophotometer, irradiation of the measurement light on the measurement sample side or the reference sample side or non-irradiation is switched by a rotatable chopping mirror or the like. When the present invention is applied to a spectrophotometer having such a configuration, a chopping mirror can be used as an optical component in the present invention.

なお、蓋開放検知手段は、試料室の蓋が開放された際に、試料室に入射した過大な外光が検出器に入ることによって検出器が損傷するのを防ぐために設けられるものを利用することができる。このような蓋開放検知手段としては、例えば、蓋の開放によってオン/オフするリミットスイッチなどがある。   Note that the lid open detection means uses a device provided to prevent the detector from being damaged by excessive external light entering the sample chamber entering the detector when the sample chamber lid is opened. be able to. Examples of such lid opening detection means include a limit switch that is turned on / off when the lid is opened.

上記のように、本発明の分光光度計は、試料室の蓋の開放に応じて試料室への光線の入射を遮断することにより、オペレータの目や皮膚等に有害な光線が照射されるのを防ぐことができる。このような光線の遮断は、分光光度計に本来備えられている光学部品の駆動を適宜制御することによって行われるものであり、更に、このような光学部品の制御は従来から分光光度計に備えられている制御手段のプログラムを変更することによって実現できる。従って、本発明の分光光度計には、光線遮断のための機械的要素を新たに追加する必要が無く、従来の分光光度計と比べて大幅にコストアップすることなく製造することができる。   As described above, the spectrophotometer of the present invention irradiates the operator's eyes and skin with harmful light rays by blocking the incidence of light rays into the sample chamber in response to the opening of the lid of the sample chamber. Can be prevented. Such blocking of the light beam is performed by appropriately controlling the driving of the optical components originally provided in the spectrophotometer, and such control of the optical components is conventionally provided in the spectrophotometer. This can be realized by changing the program of the control means. Therefore, the spectrophotometer according to the present invention does not require a new mechanical element for blocking light, and can be manufactured without significantly increasing the cost as compared with the conventional spectrophotometer.

以下、実施例を用いて本発明の分光光度計について詳細な説明を行う。   Hereinafter, the spectrophotometer of the present invention will be described in detail using examples.

［実施例１］
図１(a)は、スリット切換機構を有する分光光度計の光路を中心とした概略構成図である。該分光光度計１００では、光源１０１からの測定光はレンズ１０２、スリット円盤１０３上のスリット穴、及びミラー１０４を介して回折格子１０５に入射する。回折格子１０５によって分光されたスペクトル光は、ミラー１０６を経てスリット円盤１０３上のスリット穴を通過した後、レンズ１０８を経て試料室１０９にセットされた測定試料１１０を通過し、検出器１１１によって検出される。このスリット円盤１０３には図１(b)のように幅の異なる複数のスリット穴１０３aが設けられており、その中心軸１０３cには、スリット切換モータ１０７のシャフトが接続されている。測定時には、制御部１１２により、求めるバンド幅に応じて該スリット切換モータ１０７を制御することで、該スリット円盤１０３を回動させ、光路上に位置するスリット穴１０３aを切り換える。 [Example 1]
FIG. 1A is a schematic configuration diagram centering on the optical path of a spectrophotometer having a slit switching mechanism. In the spectrophotometer 100, the measurement light from the light source 101 enters the diffraction grating 105 through the lens 102, the slit hole on the slit disk 103, and the mirror 104. The spectral light split by the diffraction grating 105 passes through the slit 106 on the slit disk 103 via the mirror 106, passes through the measurement sample 110 set in the sample chamber 109 via the lens 108, and is detected by the detector 111. Is done. As shown in FIG. 1B, the slit disk 103 is provided with a plurality of slit holes 103a having different widths, and the shaft of the slit switching motor 107 is connected to the central shaft 103c. At the time of measurement, the control unit 112 controls the slit switching motor 107 according to the required bandwidth, thereby rotating the slit disk 103 and switching the slit hole 103a located on the optical path.

本実施例の分光光度計１００において、通常の測定時には、スリット円盤１０３上のスリット穴の開いている部分１０３aが光路上に位置しているが、試料室１０９の蓋１１３が開放され、蓋開放検知手段１１４によって蓋１１３の開放が検知されると、制御部１１２がスリット切換モータ１０７を制御し、スリット円盤１０３のスリット穴の無い部分１０３bが光路上に位置する状態でスリット円盤１０３を停止させ、試料室１０９に入射する光線を遮断する。これにより、試料室の蓋１１３を開放した際に、試料室１０９から測定光が漏洩するのを防止できるため、オペレータの目などに測定光が入ることがない。   In the spectrophotometer 100 of the present embodiment, at the time of normal measurement, a portion 103a having a slit hole on the slit disk 103 is located on the optical path, but the lid 113 of the sample chamber 109 is opened and the lid is opened. When the opening of the lid 113 is detected by the detection means 114, the control unit 112 controls the slit switching motor 107, and stops the slit disk 103 in a state where the non-slit portion 103b of the slit disk 103 is located on the optical path. The light beam entering the sample chamber 109 is blocked. This prevents the measurement light from leaking from the sample chamber 109 when the sample chamber lid 113 is opened, so that the measurement light does not enter the eyes of the operator.

なお、スリット切換機構としては、図１に示すような円盤状のスリット板を回転させるものに限らず、例えば、特開2003-166878号公報に記載のような、幅の異なる複数のスリット穴が直線状に設けられたスリット板を平行移動させることによりスリットの切換を行うものや、スリット板に設けられたスライド板を直線移動させることでスリット幅を連続的に変更させるものなど、電気的な駆動手段によりスリット幅の変更を行うものであれば、どのような構成としても良い。   The slit switching mechanism is not limited to the one that rotates the disk-shaped slit plate as shown in FIG. 1, for example, a plurality of slit holes having different widths as described in JP-A-2003-166878. Such as those that switch the slit by moving the slit plate provided in a straight line, and those that change the slit width continuously by moving the slide plate provided in the slit plate linearly, etc. Any configuration may be used as long as the slit width is changed by the driving means.

［実施例２］
図２は、複数の光源を備え、光源切換機構によって測定に使用する光源の切り換えを行う分光光度計の光路を中心とした概略構成図である。
本実施例の分光光度計２００は、発光スペクトルの異なる２種類の光源（例えばタングステンヨウ素ランプと重水素ランプ）２０１、２０２を有しており、光源２０１、２０２からの光はその近傍に設けられた光源切換ミラー２０３によって反射されて入口スリット２０４に入射する。この時、該光源切換ミラー２０３の角度を、光源切換ミラー駆動モータ２１１及び制御部２１２によって変化させることにより、上記入口スリット２０４に入射させる光源の切り換えを行う。入口スリット２０４に入射した測定光は、回折格子２０５によって分光された後、出口スリット２０６、レンズ２０７を経て、試料室２０８にセットされた測定試料２０９を通過し、検出器２１０によって検出される。 [Example 2]
FIG. 2 is a schematic configuration diagram centering on the optical path of a spectrophotometer that includes a plurality of light sources and switches light sources used for measurement by a light source switching mechanism.
The spectrophotometer 200 of this embodiment has two types of light sources (for example, a tungsten iodine lamp and a deuterium lamp) 201 and 202 having different emission spectra, and light from the light sources 201 and 202 is provided in the vicinity thereof. The light is reflected by the light source switching mirror 203 and enters the entrance slit 204. At this time, the angle of the light source switching mirror 203 is changed by the light source switching mirror drive motor 211 and the control unit 212 to switch the light source incident on the entrance slit 204. The measurement light incident on the entrance slit 204 is split by the diffraction grating 205, passes through the exit slit 206 and the lens 207, passes through the measurement sample 209 set in the sample chamber 208, and is detected by the detector 210.

本実施例の分光光度計２００においては、通常の測定時には、光源切換ミラー２０３は、第１光源２０１又は第２光源２０２のいずれかの光が入口スリット２０４に入射する角度に設定されているが、試料室２０８の蓋２１３が解放された時には、光源切換ミラー駆動モータ２１１及び制御部２１２によって、いずれの光源からの光も入口スリットに入射しない位置で、光源切換ミラー２０３を停止させることにより、光源からの光線を遮断する。これにより、試料室２０８の蓋２１３を開放した際に、試料室２０８から測定光が漏洩するのを防止できるため、オペレータの目などに測定光が入ることがない。   In the spectrophotometer 200 of the present embodiment, during normal measurement, the light source switching mirror 203 is set to an angle at which light from either the first light source 201 or the second light source 202 enters the entrance slit 204. When the lid 213 of the sample chamber 208 is released, the light source switching mirror 203 is stopped by the light source switching mirror drive motor 211 and the control unit 212 at a position where no light from any light source enters the entrance slit. Blocks light from the light source. This prevents the measurement light from leaking from the sample chamber 208 when the lid 213 of the sample chamber 208 is opened, so that the measurement light does not enter the eyes of the operator.

［実施例３］
図３(a)は、測定試料と参照試料を透過した光線の強度比を測定するダブルビーム型の分光光度計の光路を中心とした概略構成図である。本実施例のダブルビーム型の分光光度計３００は、光源３０１から照射され、回折格子３０４で分光された光を、測定試料３１２側と参照試料３１３側の二つの光路に振り分けるためのチョッピングミラー３０７を備えている。 [Example 3]
FIG. 3A is a schematic configuration diagram centering on the optical path of a double beam type spectrophotometer that measures the intensity ratio of the light beam transmitted through the measurement sample and the reference sample. The double beam type spectrophotometer 300 of this embodiment is a chopping mirror 307 for distributing the light irradiated from the light source 301 and dispersed by the diffraction grating 304 to two optical paths on the measurement sample 312 side and the reference sample 313 side. It has.

チョッピングミラー３０７は、図３(b)に示すように、反射部３０７a、透過部３０７b、及び遮光部３０７cを備えており、中心軸３０７dにはチョッピングミラー駆動モータ３０８のシャフトが接続されている。該チョッピングミラー駆動モータ３０８によって該チョッピングミラー３０７を回動させることにより、光路上に反射部３０７a、透過部３０７b、又は遮光部３０７cを位置させて、測定試料３１２側または参照試料３１３側への光線の照射、あるいは非照射の切り換えを行うことができる。   As shown in FIG. 3B, the chopping mirror 307 includes a reflection portion 307a, a transmission portion 307b, and a light shielding portion 307c, and the shaft of the chopping mirror drive motor 308 is connected to the central axis 307d. By rotating the chopping mirror 307 by the chopping mirror drive motor 308, the reflecting portion 307a, the transmitting portion 307b, or the light shielding portion 307c is positioned on the optical path, and the light beam is directed to the measurement sample 312 side or the reference sample 313 side. Irradiation or non-irradiation can be switched.

図３(a)の構成では、光源３０１から発した光は、レンズ３０２、入口スリット３０３を通過して、回折格子３０４で分光された後、出口スリット３０５、ミラー３０６を経て、チョッピングミラー３０７に送られる。光路上にチョッピングミラー３０７の反射部３０７aが位置している場合には、測定光は反射部３０７aによって反射され、ミラー３１０を介して参照試料３１３に入射する。また、光路上にチョッピングミラー３０７の透過部３０７bが位置している場合には、測定光は反射されることなく直進し、ミラー３０９を介して測定試料３１２に入射する。参照試料３１３及び測定試料３１２を通過した光は、それぞれミラー３１５、３１４を介して検出器３１６に入射する。一方、光路上にチョッピングミラー３０７の遮光部３０７cが位置している場合には、どちらの試料にも光が照射されず、対応するデータはバックグラウンドを補正するためのゼロ信号となる。   In the configuration of FIG. 3A, light emitted from the light source 301 passes through the lens 302 and the entrance slit 303, is dispersed by the diffraction grating 304, passes through the exit slit 305 and the mirror 306, and then enters the chopping mirror 307. Sent. When the reflection part 307 a of the chopping mirror 307 is located on the optical path, the measurement light is reflected by the reflection part 307 a and enters the reference sample 313 via the mirror 310. When the transmission part 307 b of the chopping mirror 307 is positioned on the optical path, the measurement light travels straight without being reflected and enters the measurement sample 312 via the mirror 309. The light that has passed through the reference sample 313 and the measurement sample 312 enters the detector 316 via the mirrors 315 and 314, respectively. On the other hand, when the light shielding portion 307c of the chopping mirror 307 is located on the optical path, neither sample is irradiated with light, and the corresponding data becomes a zero signal for correcting the background.

本実施例の分光光度計３００では、通常の測定時には、参照試料３１３または測定試料３１２への測定光の照射、及び遮光が順次行われるように、制御部３１７によってチョッピングミラー３０７の回転駆動が制御されているが、試料室３１１の蓋３１８の開放が検知されると、制御部３１７は、上記遮光部３０７cが光路上にくる位置でチョッピングミラー３０７を停止させて試料室３１１への光線の入射を遮断する。これにより、試料室３１１の蓋３１８を開放した際に、試料室３１１から測定光が漏洩するのを防止できるため、オペレータの目などに測定光が入ることがない。   In the spectrophotometer 300 of the present embodiment, during normal measurement, the rotation of the chopping mirror 307 is controlled by the control unit 317 so that the reference sample 313 or the measurement sample 312 is irradiated with the measurement light and shielded in sequence. However, when the opening of the cover 318 of the sample chamber 311 is detected, the control unit 317 stops the chopping mirror 307 at the position where the light shielding unit 307c is on the optical path, and the light beam enters the sample chamber 311. Shut off. This prevents the measurement light from leaking from the sample chamber 311 when the lid 318 of the sample chamber 311 is opened, so that the measurement light does not enter the eyes of the operator.

なお、上記実施例は単に一例であり、本発明の分光光度計は、本来分光光度計に備え付けられている光学部品の制御によってオペレータ保護機能を実現するものであれば、いかなる構成から成るものであっても良い。例えば、上記のようなスリット板、光源切換ミラー、チョッピングミラーを有する分光光度計のみならず、チョッパやシャッター等により光を周期的に通過・遮断する構成を有する分光光度計や、回折格子を回動させることにより波長の走査を行う分光光度計などにおいて、これらの光学部品の駆動を制御することによって、オペレータ保護機能を実現するものであってもよい。   The above-described embodiment is merely an example, and the spectrophotometer according to the present invention may have any configuration as long as the operator protection function is realized by controlling the optical components originally provided in the spectrophotometer. There may be. For example, not only a spectrophotometer having a slit plate, a light source switching mirror, and a chopping mirror as described above, but also a spectrophotometer having a configuration in which light is periodically passed and blocked by a chopper, a shutter, or the like, or a diffraction grating is used. In a spectrophotometer or the like that scans the wavelength by moving it, the operator protection function may be realized by controlling the driving of these optical components.

(a)本発明の第１の実施例である、スリット切換機構を備えた分光光度計の光路を中心とした概略構成図。(b)スリット円盤を表す平面図(a) The schematic block diagram centering on the optical path of the spectrophotometer provided with the slit switching mechanism which is the 1st Example of this invention. (b) Plan view showing a slit disk 本発明の第２の実施例である、光源切換ミラーを備えた分光光度計の光路を中心とした概略構成図。The schematic block diagram centering on the optical path of the spectrophotometer provided with the light source switching mirror which is the 2nd Example of this invention. 本発明の第３の実施例である、チョッピングミラーを備えたダブルビーム型分光光度計の光路を中心とした概略構成図。(b)チョッピングミラーを表す平面図The schematic block diagram centering on the optical path of the double beam type | mold spectrophotometer provided with the chopping mirror which is the 3rd Example of this invention. (b) Plan view showing chopping mirror

符号の説明Explanation of symbols

１００、２００、３００…分光光度計
１０１、２０１、２０２、３０１…光源
１０５、２０５、３０４…回折格子
１０９、２０８、３１１…試料室
１１３、２１３、３１８…蓋
１１４、２１４、３１９…蓋開放検知手段
１１０、２０９、３１２…測定試料
１１２、２１２、３１７…制御部
３１３…参照試料
１０３…スリット円盤
１０３a…スリット穴
１０７…スリット切換モータ
２０３…光源切換ミラー
２１１…光源切換ミラー駆動モータ
３０７…チョッピングミラー
３０７a…反射部
３０７b…透過部
３０７c…遮光部
３０８…チョッピングミラー駆動モータ 100, 200, 300 ... Spectrophotometer 101, 201, 202, 301 ... Light source 105, 205, 304 ... Diffraction grating 109, 208, 311 ... Sample chamber 113, 213, 318 ... Lid 114, 214, 319 ... Lid open detection Means 110, 209, 312 ... Measurement samples 112, 212, 317 ... Control unit 313 ... Reference sample 103 ... Slit disk 103a ... Slit hole 107 ... Slit switching motor 203 ... Light source switching mirror 211 ... Light source switching mirror drive motor 307 ... Chopping mirror 307a ... reflecting part 307b ... transmitting part 307c ... light-shielding part 308 ... chopping mirror drive motor

Claims (4)

試料室内にセットされた試料に測定光を照射し、その透過光又は反射光を検出する分光光度計であって、その測定光の光路や物理的特性の変更等の制御を行うために該測定光の光路上に配置された光学部品と、測定状態に応じて前記光学部品を駆動する駆動手段と、を有する分光光度計において、
a)前記試料室を開閉する蓋の開放を検知する蓋開放検知手段と、
b)該蓋開放検知手段によって試料室の蓋の開放が検知されたとき、試料室への測定光の入射が遮断されるように、前記駆動手段により前記光学部品の状態を設定する制御手段と、 を備えることを特徴とする分光光度計。 A spectrophotometer that irradiates the sample set in the sample chamber with measurement light and detects the transmitted light or reflected light. The spectrophotometer measures the optical path of the measurement light, changes in physical characteristics, etc. In a spectrophotometer having an optical component arranged on the optical path of light, and a driving means for driving the optical component according to a measurement state,
a) lid opening detection means for detecting opening of the lid for opening and closing the sample chamber;
b) control means for setting the state of the optical component by the driving means so that the measurement light is blocked from entering the sample chamber when the lid opening detection means detects the opening of the lid of the sample chamber; A spectrophotometer comprising: 上記光学部品が、スリット板であることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計。   The spectrophotometer according to claim 1, wherein the optical component is a slit plate. 上記光学部品が、光源切換ミラーであることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計。   The spectrophotometer according to claim 1, wherein the optical component is a light source switching mirror. 上記光学部品が、測定光を測定試料側、又は参照試料側に振り分けるためのチョッピングミラーであることを特徴とする請求項１に記載の分光光度計。
The spectrophotometer according to claim 1, wherein the optical component is a chopping mirror for distributing measurement light to a measurement sample side or a reference sample side.
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