JP2005123159A - Plasma processing apparatus, method for manufacturing reaction vessel for plasma generation, and plasma processing method - Google Patents

Plasma processing apparatus, method for manufacturing reaction vessel for plasma generation, and plasma processing method Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plasma processing apparatus capable of expanding a processing area and of carrying out uniform processing, and allowing design to be easily changed in response to an object of processing. <P>SOLUTION: This plasma processing apparatus is provided with a reactor R, formed of an insulating base material 1 equipped with: a plurality of through-holes 2 for introducing a plasma-generating gas G from openings on one side and for discharging the activated plasma generating gas G from openings on the other end side; and electrodes 3 and 4 for respectively generating discharge in the respective through-holes 2. Thereby, a gas flow of the activated plasma-forming gas G is blasted out from the plurality of through-holes 2 and supplies it to the processing object 5, to have high-efficiency and uniform plasma generated over a large area, whereby surface treatment for the processing object 5 can be executed uniformly over a large area with a small gas flow. By installing a plurality of the insulating base materials 1 in appropriate combination of them, design change can easily be carried out in response to change of the processing object 5. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、被処理物の表面に存在する有機物等の異物のクリーニング、レジストの剥離やエッチング、有機フィルムの密着性の改善、金属酸化物の還元、成膜、めっき前処理、コーティング前処理、各種材料・部品の表面改質などの表面処理に利用されるプラズマ処理装置、このプラズマ処理装置に適用されるプラズマ生成用の反応器、及びこれを用いたプラズマ処理方法に関するものであり、特に、精密な接合が要求される電子部品の表面のクリーニングに好適に応用されるものである。   The present invention includes cleaning of foreign substances such as organic substances existing on the surface of the object to be processed, resist peeling and etching, improvement of organic film adhesion, metal oxide reduction, film formation, plating pretreatment, coating pretreatment, The present invention relates to a plasma processing apparatus used for surface treatment such as surface modification of various materials and parts, a plasma generation reactor applied to the plasma processing apparatus, and a plasma processing method using the same, The present invention is suitably applied to the cleaning of the surface of electronic parts that require precise bonding.

従来、一対の電極を対向させて配置することによって電極間の空間を放電空間として形成し、放電空間にプラズマ生成用ガスを供給すると共に電極間に電圧を印加することによって、放電空間で放電を発生させてプラズマを生成し、放電空間からプラズマ或いはプラズマの活性種を噴き出して被処理物に吹き付けることによって、被処理物に表面改質などプラズマ処理を施すことが行われている(特許文献1参照)。   Conventionally, a space between electrodes is formed as a discharge space by arranging a pair of electrodes to face each other, and a plasma generating gas is supplied to the discharge space and a voltage is applied between the electrodes to discharge in the discharge space. Plasma is generated by generating the plasma, and plasma or active species of the plasma is ejected from the discharge space and sprayed on the object to be processed, so that the object to be processed is subjected to plasma processing such as surface modification (Patent Document 1). reference).

このようなプラズマ処理においては、プラズマ或いはプラズマの活性種を一つの噴出口から吹き出すと共に、この吹き出し方向と直交する方向に向けて被処理物を搬送し、このように被処理物を搬送しながらプラズマ処理を施すものであるが、プラズマ或いはプラズマの活性種が噴き出される面積が小さいことから、被処理物に対して局所的にしかプラズマ処理を施すことができず、処理ムラが生じやすいものであり、また大面積の被処理物に対して処理を行う場合には被処理物を搬送しながら処理を行わなければならず、処理時間が長くなって処理効率が低下してしまうものである。   In such plasma processing, plasma or active species of plasma is blown out from one jet outlet, and the workpiece is transported in a direction orthogonal to the blowing direction, and thus the workpiece is transported in this way. Plasma treatment is performed, but since the area where plasma or active species of plasma is ejected is small, plasma treatment can only be performed locally on the object to be processed, and processing unevenness is likely to occur. In addition, when processing a large-area workpiece, the processing must be performed while the workpiece is being conveyed, which increases processing time and decreases processing efficiency. .

一方、特許文献2等に開示されている技術では、平行に配置した複数の電極の表面に固体誘電体を配置した誘電体被覆電極を有する反応容器を用いることにより、プラズマ或いはプラズマの活性種が噴き出される領域の面積を大きくするようにしている。   On the other hand, in the technique disclosed in Patent Document 2 or the like, plasma or active species of plasma is generated by using a reaction vessel having a dielectric coated electrode in which a solid dielectric is arranged on the surface of a plurality of electrodes arranged in parallel. The area of the ejected area is increased.

しかし、この特許文献2に記載されているような技術では、大面積の被処理物に対しても一度に表面処理を行うことができるが、この処理面積の全体に亘って均一なガス流でプラズマ或いはプラズマの活性種が噴き出されるようにすることは難しく、表面処理を均一に行うようにすることは困難であるという問題がある。さらに、このような大面積の処理を一度に行う場合には、大量のガスを消費することになりランニングコストが大幅に増加すると言う問題が生じる。   However, with the technique as described in Patent Document 2, surface treatment can be performed on a large-area workpiece at a time, but with a uniform gas flow over the entire treatment area. There is a problem that it is difficult to eject plasma or active species of plasma, and it is difficult to perform surface treatment uniformly. Furthermore, when such a large area process is performed at the same time, a large amount of gas is consumed, resulting in a problem that the running cost is greatly increased.

また、大面積の処理が可能な処理装置を作製したとしても、処理対象である液晶パネル用ガラス等が更に大型化すれば、一度の処理にて表面処理を行うのは困難であり、更なる大面積の処理が可能となるように設計変更を繰り返していかなければならないが、従来はこのような設計変更は容易ではなく、多大な設備投資が必要なものであった。
特開平11−335868号公報 特開平4−358076号公報
Moreover, even if a processing apparatus capable of processing a large area is produced, if the glass for a liquid crystal panel to be processed is further increased in size, it is difficult to perform surface treatment in a single process. The design change must be repeated so that a large area can be processed. Conventionally, such a design change is not easy and requires a large capital investment.
JP 11-335868 A JP-A-4-358076

本発明は上記の点に鑑みて為されたものであり、処理範囲を大面積化することができると共に、少ないガス消費量(低ランニングコスト)で均一な処理を行うことができ、しかも処理対象に応じて容易に設計変更が可能なプラズマ処理装置、このプラズマ処理装置に用いられる反応器の製造方法、及びこのようなプラズマ処理装置を用いたプラズマ処理方法を提供することを目的とするものである。   The present invention has been made in view of the above points, and can increase the processing range, perform uniform processing with a small amount of gas consumption (low running cost), and can be processed. It is an object of the present invention to provide a plasma processing apparatus whose design can be easily changed according to the above, a method for manufacturing a reactor used in the plasma processing apparatus, and a plasma processing method using such a plasma processing apparatus. is there.

本発明に係るプラズマ処理装置は、プラズマ生成用ガスGを放電により活性化させ、この活性化されたプラズマ生成用ガスGを被処理物5に吹き付けるプラズマ処理装置において、一端側の開口からプラズマ生成用ガスGが流入すると共に他端側の開口から活性化されたプラズマ生成用ガスGが流出する複数の貫通孔2と、各貫通孔2内でそれぞれ放電を発生させるための電極3,4とが設けられた絶縁基材1からなる反応器Rを具備することを特徴とする。これにより、大気圧又はその近傍の圧力下で、各貫通孔2の内側に気体放電を発生し、この気体放電により生じる活性種を含む活性化されたプラズマ生成用ガスGのガス流を複数の貫通孔2から吹き出して被処理物5に供給することによって、大面積に亘って高効率で均一なプラズマを発生させることができて、少ないガス流量で大面積に亘る被処理物5の表面処理を均一に行うことができるものであり、また、絶縁基材1を適宜複数組み合わせて設けることで、被処理物5の変更に応じて容易に設計変更を行うことが可能なものである。   The plasma processing apparatus according to the present invention activates a plasma generating gas G by discharge, and in the plasma processing apparatus that blows the activated plasma generating gas G onto an object 5 to be processed, generates plasma from an opening on one end side. A plurality of through holes 2 through which the gas G for use flows in and the plasma generating gas G activated from the opening at the other end flow out, and electrodes 3, 4 for generating a discharge in each through hole 2, respectively It comprises the reactor R which consists of the insulation base material 1 provided with. As a result, a gas discharge is generated inside each through-hole 2 under the atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof, and a plurality of gas flows of the activated plasma generating gas G including active species generated by the gas discharge are generated. By blowing out from the through-hole 2 and supplying it to the object 5 to be processed, it is possible to generate a uniform plasma with high efficiency over a large area, and to treat the surface of the object 5 over a large area with a small gas flow rate. In addition, by providing a combination of a plurality of insulating base materials 1 as appropriate, it is possible to easily change the design according to the change of the workpiece 5.

上記の絶縁基材1は、平板状に形成することが好ましく、また電極3,4は絶縁基材1に埋設するように形成することが好ましいものであり、これにより貫通孔2及び電極3,4を微細加工して、より均一な処理が可能となるものである。   The insulating base 1 is preferably formed in a flat plate shape, and the electrodes 3 and 4 are preferably formed so as to be embedded in the insulating base 1, whereby the through-hole 2 and the electrodes 3 and 3 are formed. 4 can be finely processed to enable more uniform processing.

また、電極3,4が貫通孔2に露出されるようにすると、放電性を高めることができる。   Moreover, if the electrodes 3 and 4 are exposed to the through-hole 2, discharge property can be improved.

また、電極3,4が貫通孔2に露出されないように形成しても良く、この場合は、誘電体バリア放電を貫通孔2に発生させることとなり、電極3,4が直接放電やプラズマに曝されることを防いで電極3,4の損耗を防止すると共に、放電を安定化させて、プラズマ発生密度を向上することが可能となる。   Further, the electrodes 3 and 4 may be formed so as not to be exposed to the through-hole 2. In this case, dielectric barrier discharge is generated in the through-hole 2, and the electrodes 3 and 4 are directly exposed to discharge or plasma. This prevents the electrodes 3 and 4 from being worn and stabilizes the discharge, thereby improving the plasma generation density.

また、貫通孔2内で電気力線がプラズマ生成用ガスGの流通方向と交差する方向に発生するように電極3,4を配設すると、プラズマ生成用ガスGの流通方向と交差する方向に放電を発生させて、プラズマ生成用ガスGの活性化を行うことができる。   In addition, when the electrodes 3 and 4 are disposed in the through hole 2 so that the lines of electric force are generated in a direction intersecting with the flow direction of the plasma generating gas G, the electrodes 3 and 4 are arranged in a direction intersecting with the flowing direction of the plasma generating gas G. The plasma generation gas G can be activated by generating a discharge.

また、貫通孔2内で電気力線がプラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向に発生するように電極3,4を配設しても良く、この場合はプラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向の高密度のストリーマ放電を発生させることができて、プラズマ生成用ガスGの活性を更に向上し、更に高効率の表面処理を行うことが可能となる。   Further, the electrodes 3 and 4 may be disposed so that the lines of electric force are generated in the through holes 2 in a direction parallel to the flow direction of the plasma generation gas G. In this case, the flow of the plasma generation gas G A high-density streamer discharge in a direction parallel to the direction can be generated, the activity of the plasma generating gas G can be further improved, and a more efficient surface treatment can be performed.

また、隣り合う電極3,4の間隔は0.01〜5mmの範囲とすることが好ましく、これにより、気体放電(プラズマ)を安定に発生させることができる。   Moreover, it is preferable to make the space | interval of the adjacent electrodes 3 and 4 into the range of 0.01-5 mm, and, thereby, gas discharge (plasma) can be generated stably.

また、貫通孔2の開口形状は直径0.01〜15mmの円形状とすることが好ましく、この場合、特にプラズマ生成用ガスGの流量を抑制しつつ、大面積の処理が可能となるものである。   Moreover, it is preferable that the opening shape of the through hole 2 is a circular shape having a diameter of 0.01 to 15 mm. In this case, it is possible to process a large area while suppressing the flow rate of the plasma generating gas G. is there.

また、貫通孔2の開口形状を短手寸法0.01〜15mmのスリット状とすることも好ましく、この場合、特に貫通孔2の短手方向に沿って被処理物5を搬送しつつプラズマ処理を行うと、表面処理の均一性を更に向上することが可能となるものである。   Moreover, it is also preferable to make the opening shape of the through-hole 2 into a slit shape having a short dimension of 0.01 to 15 mm. In this case, plasma treatment is performed while conveying the workpiece 5 along the short direction of the through-hole 2 in particular. By performing the above, it is possible to further improve the uniformity of the surface treatment.

また、層状の電極3,4を絶縁基材1に形成すると共に貫通孔2に合致する位置において電極3,4に開口8を形成し、隣り合う開口8、8の間において電極3,4に欠損部分30が無いようにすることが好ましく、この場合、絶縁基材1の表面で沿面放電31の発生を少なくすることができ、沿面放電31からの被処理物5に対するアークショートが発生しにくくなり、従って、アークによる被処理物5の損傷を少なくすることができるものである。   In addition, the layered electrodes 3 and 4 are formed on the insulating base 1, the openings 8 are formed in the electrodes 3 and 4 at positions corresponding to the through holes 2, and the electrodes 3 and 4 are formed between the adjacent openings 8 and 8. It is preferable that the defect portion 30 is not present. In this case, the generation of the creeping discharge 31 on the surface of the insulating base material 1 can be reduced, and the arc shorting from the creeping discharge 31 to the workpiece 5 is difficult to occur. Therefore, damage to the workpiece 5 due to the arc can be reduced.

また、一対の層状の電極3,4を絶縁基材1に対向させて形成すると共に、ガスの流通方向において下流側の電極の周端部を上流側の電極の周端部よりも外側に突出させるのが好ましく、この場合、絶縁基材1の表面において電極3,4の周端間に対応する箇所での沿面放電31の発生を抑えることができ、開口8に対応する箇所以外での沿面放電31を少なくすることができてアークによる被処理物5の損傷をさらに少なくすることができるものである。   In addition, a pair of layered electrodes 3 and 4 are formed so as to face the insulating substrate 1, and the peripheral end portion of the downstream electrode protrudes outside the peripheral end portion of the upstream electrode in the gas flow direction. In this case, it is possible to suppress the occurrence of the creeping discharge 31 at a position corresponding to the gap between the peripheral edges of the electrodes 3 and 4 on the surface of the insulating base 1, and the creeping at a position other than the position corresponding to the opening 8. The discharge 31 can be reduced, and the damage to the workpiece 5 due to the arc can be further reduced.

また、絶縁基材1はセラミックスにて形成されていることが好ましく、この場合、絶縁基材1に高い耐熱性と強度とを付与することができ、耐久性が高いものである。   Moreover, it is preferable that the insulating base material 1 is formed of ceramics. In this case, the insulating base material 1 can be provided with high heat resistance and strength, and has high durability.

特に、絶縁基材1を高強度且つ安価なアルミナにて形成することが好ましい。   In particular, it is preferable to form the insulating base material 1 with high strength and inexpensive alumina.

また、休止区間を持つパルス状の電圧を電極3,4に印加する電源6を具備するようにすることが好ましく、この場合、複数の貫通孔2のそれぞれにおいて均一で安定した放電を高効率で発生させて処理効率を向上することができる。   In addition, it is preferable to provide a power source 6 that applies a pulsed voltage having a rest period to the electrodes 3 and 4, and in this case, uniform and stable discharge in each of the plurality of through holes 2 with high efficiency. It is possible to improve the processing efficiency.

また、周波数が1Hz〜200kHzの電圧を電極3,4に印加する電源6を具備することが好ましく、これにより電極3,4間の放電を安定化させて表面処理効率を更に向上し、且つプラズマ生成用ガスの過度な温度上昇を抑制して被処理物5の熱的損傷を防止し、更に一部の貫通孔2への放電の集中を抑制して均一な処理を可能とすることができる。   Further, it is preferable to have a power source 6 for applying a voltage of 1 Hz to 200 kHz to the electrodes 3 and 4, thereby stabilizing the discharge between the electrodes 3 and 4, further improving the surface treatment efficiency, and plasma. An excessive temperature rise of the generation gas can be suppressed to prevent thermal damage to the object 5 to be processed, and further, uniform concentration can be achieved by suppressing concentration of discharge to some of the through holes 2. .

更に、デューティー比が0.01〜80%のパルス状の電圧を電極3,4に印加する電源6を具備することが好ましく、この場合、特に高効率で安定した放電を発生させることが可能となり、処理効率を更に向上させることができる。   Furthermore, it is preferable to have a power source 6 for applying a pulse voltage having a duty ratio of 0.01 to 80% to the electrodes 3 and 4, and in this case, it becomes possible to generate a particularly efficient and stable discharge. The processing efficiency can be further improved.

また、一対の電極3、4を中点接地するのが好ましく、この場合、活性化されたプラズマ生成用ガスGと被処理物5との間の電位差を小さくすることができ、活性化されたプラズマ生成用ガスGからの被処理物5に対するアークの発生を防止することができるものである。   Further, it is preferable that the pair of electrodes 3 and 4 are grounded at a midpoint. In this case, the potential difference between the activated plasma generating gas G and the object to be processed 5 can be reduced and activated. Generation of an arc from the plasma generating gas G to the workpiece 5 can be prevented.

また、反応器Rに対して、希ガス、窒素、酸素、空気の少なくとも一つを含有するガス、またはこれらの二種以上の混合ガスを、プラズマ生成用ガスGとして供給するガス供給手段を具備することが好ましく、これにより、希ガスや窒素により被処理物5の表面改質などのプラズマ処理を行うことができ、酸素により有機物の除去などのプラズマ処理を行うことができ、空気により被処理物5の表面改質や有機物の除去などのプラズマ処理を行うことができ、希ガスと酸素の混合ガスにより被処理物5の表面改質や有機物の除去などのプラズマ処理を行うことができるものである。   Further, a gas supply means for supplying a gas containing at least one of rare gas, nitrogen, oxygen, air, or a mixed gas of two or more thereof as a plasma generating gas G to the reactor R is provided. Thus, it is possible to perform plasma treatment such as surface modification of the workpiece 5 with a rare gas or nitrogen, plasma treatment such as removal of an organic substance with oxygen, and treatment with air. Plasma treatment such as surface modification of the object 5 and removal of organic substances can be performed, and plasma treatment such as surface modification of the object 5 to be treated and removal of organic substances can be performed by a mixed gas of rare gas and oxygen. It is.

また、絶縁基材1を冷却する放熱器7を具備することが好ましく、これにより、絶縁基材1の熱変形による割れ等の破損の発生を防止し、また絶縁基材1の一部が過剰に加熱されることによる各貫通孔2ごとでのプラズマ発生の不均一化を防止して、均一な表面処理を維持することができるものである。   Moreover, it is preferable to have the heat radiator 7 which cools the insulating base material 1, and thereby, generation | occurrence | production of damage, such as a crack by the thermal deformation of the insulating base material 1, is prevented, and a part of insulating base material 1 is excessive. It is possible to prevent the generation of plasma from being uneven in each through hole 2 due to being heated to maintain a uniform surface treatment.

また、二次電子が放出されやすい温度に絶縁基材1を温度調整するための温度調整手段を用いるのが好ましく、この場合、絶縁基材1から放出された二次電子によりプラズマ生成密度を増加させることができ、被処理物5の洗浄能力や改質能力などのプラズマ処理能力を向上させることができるものである。   In addition, it is preferable to use a temperature adjusting means for adjusting the temperature of the insulating base material 1 to a temperature at which secondary electrons are easily emitted. In this case, the plasma generation density is increased by the secondary electrons emitted from the insulating base material 1. It is possible to improve the plasma processing capability such as the cleaning capability and the reforming capability of the object 5 to be processed.

また、全ての貫通孔2に対してプラズマ生成用ガスGをほぼ均一な流速で供給するためのガス均一化手段を設けるのが好ましく、この場合、活性化されたプラズマ生成用ガスGを全ての貫通孔2からほぼ均一に吹き出すことができ、活性化されたプラズマ生成用ガスGの流速分布を少なくして均一なプラズマ処理を行うことができるものである。   In addition, it is preferable to provide a gas homogenizing means for supplying the plasma generating gas G to all the through holes 2 at a substantially uniform flow rate. In this case, the activated plasma generating gas G is supplied to all of the through holes 2. The air can be blown out almost uniformly from the through-hole 2, and a uniform plasma treatment can be performed by reducing the flow velocity distribution of the activated plasma generating gas G.

また、反応器Rを複数の絶縁基材1にて形成することも好ましく、これにより、絶縁基材1を適宜増減することで処理面積を容易に増減することができ、また絶縁基材1の配設位置を適宜変更して種々の形状の領域に対して表面処理を行うようにすることができ、或いは被処理物5との距離が異なる絶縁基材1を配設して、被処理物5に対して意図的に表面処理の度合いが高い部位や低い部位を同時に形成することができるようになり、しかも絶縁基材1の組み合わせを変更することで容易に設計変更が可能となるものである。   In addition, it is also preferable to form the reactor R with a plurality of insulating bases 1, whereby the treatment area can be easily increased or decreased by appropriately increasing or decreasing the insulating bases 1. It is possible to change the arrangement position as appropriate so as to perform surface treatment on regions of various shapes, or to arrange an insulating base material 1 having a different distance from the object to be processed 5 to thereby process the object. As a result, it is possible to intentionally form a part having a high degree of surface treatment and a part having a low degree of surface treatment at the same time, and to easily change the design by changing the combination of the insulating bases 1. is there.

また、本発明に係るプラズマ生成用の反応器の製造方法は、上記のようなプラズマ処理装置に適用される反応器Rの製造方法であって、絶縁材料を成形した複数の開口を有する複数のシート材の間に、導電体材料を成形した導電体膜を、各シート材の開口が合致するように積層して、一体成形することにより、シート材にて絶縁基材1を、導電体膜にて電極3,4を、シート材の開口にて貫通孔2をそれぞれ形成するものであり、これにより、上記のようなプラズマ処理装置に適用される反応器Rを容易に形成することができ、且つ貫通孔2や電極3,4の微細成形を容易に行うことができるものである。   A method for manufacturing a reactor for generating plasma according to the present invention is a method for manufacturing a reactor R applied to the plasma processing apparatus as described above, and includes a plurality of openings having a plurality of openings formed with an insulating material. By laminating the conductive film formed of the conductive material between the sheet materials so that the openings of the respective sheet materials are matched, and integrally forming the conductive film, the insulating base material 1 is formed of the sheet material with the conductive film. The electrodes 3 and 4 and the through-holes 2 are respectively formed by opening the sheet material, whereby the reactor R applied to the plasma processing apparatus as described above can be easily formed. In addition, the through hole 2 and the electrodes 3 and 4 can be easily finely formed.

また、本発明に係るプラズマ処理方法は、上記のようなプラズマ処理装置を用い、複数の各貫通孔2の一端側から他端側へプラズマ生成用ガスGを流通させると共に電極3,4に電圧を印加して各貫通孔2内で放電を発生させることにより、貫通孔2内でプラズマを発生させてプラズマ生成用ガスGを活性化させ、この活性化されたプラズマ生成用ガスGを各貫通孔2の他端側から被処理物5の表面に噴射することを特徴とするものである。これにより、大面積に亘って高効率でプラズマを発生させることができて、少ないガス流量で大面積に亘る被処理物5の表面処理を行うことができるものであり、また、絶縁基材1を適宜複数組み合わせて設けることで、被処理物5の変更に応じて容易に設計変更を行うことが可能なものである。   The plasma processing method according to the present invention uses the plasma processing apparatus as described above to distribute the plasma generating gas G from one end side to the other end side of each of the plurality of through-holes 2 and to apply voltage to the electrodes 3 and 4. Is applied to generate a discharge in each through-hole 2 to generate plasma in the through-hole 2 to activate the plasma generating gas G, and the activated plasma generating gas G is passed through each through-hole 2. Injecting from the other end side of the hole 2 onto the surface of the workpiece 5 is characterized. Thereby, plasma can be generated with high efficiency over a large area, surface treatment of the workpiece 5 over a large area can be performed with a small gas flow rate, and the insulating base 1 By appropriately combining a plurality of the above, it is possible to easily change the design according to the change of the workpiece 5.

上記の被処理物5は、フラットパネルディスプレイ用ガラス材、プリント配線基板又は樹脂フィルムであることが好ましく、これらの被処理物5に対して有機物等の異物のクリーニング、レジストの剥離やエッチング、有機フィルムの密着性の改善、金属酸化物の還元、成膜、水洗浄前処理、めっき前処理、コーティング前処理、その他の表面改質などの表面処理を行うことができ、またこれらの被処理物5の寸法変更等に応じて適宜容易に設計変更が可能なものである。   The object to be processed 5 is preferably a glass material for flat panel display, a printed wiring board, or a resin film, and the object to be processed 5 is cleaned of foreign matters such as organic substances, resist peeling and etching, organic Surface treatment such as improvement of film adhesion, reduction of metal oxides, film formation, pretreatment with water washing, pretreatment for plating, pretreatment for coating, and other surface modifications can be performed. The design can be easily changed as appropriate in accordance with the change in dimension 5 or the like.

上記のように本発明プラズマ処理装置及びこのプラズマ処理装置を用いたプラズマ処理方法では、各貫通孔の内側に気体放電を発生し、この気体放電により生じる活性種を含む活性化されたプラズマ生成用ガスのガス流を複数の貫通孔から吹き出して被処理物に供給することによって、大面積に亘って高効率で均一なプラズマを発生させることができて、少ないガス流量で大面積に亘る被処理物の表面処理を均一に行うことができる。このように一度に表面処理が可能な処理面積を大面積化させると、大面積の被処理物に対しても一度に表面処理を施すことが可能となって、処理効率を向上することができるものである。また、特に被処理物を搬送しながら表面処理を施す場合などには、搬送中の被処理物が活性化されたプラズマ生成用ガスのガス流に曝露されている時間を長くすることができ、少ないガス量で効率的に表面処理することができるものであり、従って、ガスの流量を増加させることなく、被処理物と活性種との接触時間を増加させて表面処理の能力を高めることができ、ガスの消費量が増大しないものであり、表面処理のランニングコストが増加することなく経済的に不利にならないものである。   As described above, in the plasma processing apparatus of the present invention and the plasma processing method using the plasma processing apparatus, a gas discharge is generated inside each through hole, and activated plasma generation containing active species generated by the gas discharge is generated. A gas flow of gas is blown from a plurality of through-holes and supplied to the object to be processed, so that uniform plasma can be generated over a large area with high efficiency, and a large area can be processed with a small gas flow rate. The surface treatment of the object can be performed uniformly. When the surface area that can be surface-treated at this time is increased as described above, it is possible to perform surface treatment on a large-scale object to be processed at a time, thereby improving the processing efficiency. Is. In addition, particularly when the surface treatment is performed while conveying the object to be processed, the time during which the object to be processed is exposed to the gas flow of the activated plasma generating gas can be lengthened. The surface treatment can be efficiently performed with a small amount of gas. Therefore, the contact time between the object to be treated and the active species can be increased without increasing the gas flow rate, thereby enhancing the surface treatment capability. The gas consumption does not increase, and the running cost of the surface treatment does not increase, so that it is not economically disadvantageous.

更に、複数の絶縁基材を組み合わせて反応器を構成することが容易であり、かつ絶縁基材の数の増減や配置位置の変更等により、容易に設計変更が可能となって、種々の寸法や形状の被処理物に対するプラズマ処理に、容易に対処することができるものである。   Furthermore, it is easy to configure a reactor by combining a plurality of insulating base materials, and the design can be easily changed by increasing or decreasing the number of insulating base materials or changing the arrangement position. It is possible to easily cope with the plasma treatment for the object to be processed.

また、本発明に係る反応器の製造方法では、上記のようなプラズマ処理装置に適用される反応器を容易に形成することができ、且つ貫通孔や電極の微細成形を容易に行うことができるものである。   Further, in the method for producing a reactor according to the present invention, a reactor applied to the plasma processing apparatus as described above can be easily formed, and fine formation of through holes and electrodes can be easily performed. Is.

以下、本発明を実施するための最良の形態を説明する。   Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described.

図1,2に本発明のプラズマ処理装置の一例を示す。このプラズマ処理装置は,板状の絶縁基材1に複数の貫通孔(スルーホール)2と、絶縁基材1内部に埋め込まれた複数(一対)の電極3,4とを備えた反応器Rを備えている。   1 and 2 show an example of the plasma processing apparatus of the present invention. This plasma processing apparatus includes a reactor R having a plate-like insulating base material 1 and a plurality of through holes (through holes) 2 and a plurality (a pair) of electrodes 3 and 4 embedded in the insulating base material 1. It has.

絶縁基材1は高融点の絶縁材料(誘電体材料)で形成されることが好ましく、例えば、石英ガラス、アルミナ、ジルコニア、ムライト、窒化アルミニウムなどのような、高耐熱性、高強度のガラス質材料やセラミックスなどで形成することが好ましいが、これらの材料に限定されるものではない。特に高強度で安価なアルミナ等で形成することが好ましい。また、チタニア、チタン酸バリウムなどの高誘電材料を用いることもできる。   The insulating substrate 1 is preferably formed of an insulating material (dielectric material) having a high melting point. For example, a glass material having high heat resistance and high strength such as quartz glass, alumina, zirconia, mullite, aluminum nitride and the like. Although it is preferable to form with a material, ceramics, etc., it is not limited to these materials. In particular, it is preferable to form with high strength and inexpensive alumina. Also, a high dielectric material such as titania or barium titanate can be used.

また、電極3,4は銅、タングステン、アルミニウム、真鍮、ステンレス鋼などの導電性の金属材料を用いて形成することができるが、特に銅、タングステン等で形成することが好ましい。   The electrodes 3 and 4 can be formed using a conductive metal material such as copper, tungsten, aluminum, brass, and stainless steel, but it is particularly preferable that the electrodes 3 and 4 be formed of copper, tungsten, or the like.

上記の絶縁基材1と電極3,4の材質は、反応器Rの作製時やプラズマ処理時にかかる熱負荷による変形量の相違による破損を防止するために、線熱膨張率の差が小さいもの同士を適宜選択して用いることが好ましい。   The material of the insulating base 1 and the electrodes 3 and 4 has a small difference in coefficient of linear thermal expansion in order to prevent breakage due to a difference in deformation caused by a thermal load applied during the production of the reactor R or plasma treatment. It is preferable to select and use them appropriately.

絶縁基材1及び貫通孔2の形状は適宜設計されるが、絶縁基材1は板状に形成することが好ましく、図示の絶縁基材1は平面視矩形状に形成されており、略同方向(絶縁基材1の厚み方向)に貫通する平面視円形状の貫通孔2が、複数個形成されている。各貫通孔2は、絶縁基材1の一面と他面でそれぞれ開口し、絶縁基材1の一面の開口がガス導入口2a、他面の開口がガス吹出口2bとして形成されている。   The shapes of the insulating base material 1 and the through-hole 2 are appropriately designed, but the insulating base material 1 is preferably formed in a plate shape, and the illustrated insulating base material 1 is formed in a rectangular shape in plan view. A plurality of through holes 2 having a circular shape in plan view that penetrates in the direction (thickness direction of the insulating base material 1) are formed. Each through-hole 2 is opened on one surface and the other surface of the insulating base material 1, respectively. The opening on one surface of the insulating base material 1 is formed as a gas inlet 2a and the opening on the other surface is formed as a gas outlet 2b.

この貫通孔2は、適宜の形状に形成することができ、例えば平面視円形状の複数の貫通孔2を二次元状に分散させて形成したり、長方形状(スリット状)の複数の貫通孔2を平行並列に配列させて形成したりすることができる。特に平面視円形状の貫通孔2を二次元状に分散させて形成すると、貫通孔2の径やピッチ等の工夫は必要であるが、プラズマ生成用ガスGの単位時間あたりの流量(流速)を抑制しつつ、広い面積にわたり活性化されたプラズマ生成用ガスGを均一に噴射させることができる。   The through-hole 2 can be formed in an appropriate shape. For example, a plurality of through-holes 2 having a circular shape in plan view are dispersed in a two-dimensional manner, or a plurality of rectangular (slit-like) through-holes are formed. 2 can be formed in parallel and parallel. In particular, when the through-holes 2 having a circular shape in plan view are formed in a two-dimensionally dispersed manner, it is necessary to devise the diameter and pitch of the through-holes 2, but the flow rate (flow velocity) per unit time of the plasma generating gas G It is possible to uniformly inject the plasma generating gas G activated over a wide area while suppressing the above.

また、電極3,4は、電圧が印加された際に貫通孔2内において対となる電極3,4間で放電が発生するように形成されるものであり、例えば対となる電極3,4間に電源6を接続して、この電極3,4間に休止区間を持つパルス状の電圧が印加されるように形成される。対となる電極3,4のうちの一方は接地された接地電極として形成することができる。このとき貫通孔2内の対となる電極3,4間の空間は放電空間として形成される。   The electrodes 3 and 4 are formed so that a discharge is generated between the pair of electrodes 3 and 4 in the through hole 2 when a voltage is applied. For example, the pair of electrodes 3 and 4 A power source 6 is connected between the electrodes 3 and 4 so that a pulsed voltage having a rest period is applied between the electrodes 3 and 4. One of the paired electrodes 3 and 4 can be formed as a grounded grounded electrode. At this time, a space between the pair of electrodes 3 and 4 in the through hole 2 is formed as a discharge space.

電極3,4は、上記のように放電空間内で放電を発生させることができるように適宜の形状に形成することができるが、絶縁基材1の内部に埋設された状態で、電極3,4が貫通孔2の側方に配置されるように形成することが好ましい。   The electrodes 3 and 4 can be formed in an appropriate shape so that a discharge can be generated in the discharge space as described above. It is preferable to form so that 4 may be arrange | positioned to the side of the through-hole 2. As shown in FIG.

図1,2に示す例では、絶縁基材1は一面が上方に、他面が下方に配置されており、平面視円形状の複数の貫通孔2が上下方向に貫通してガス導入口2aが上側、ガス吹出口2bが下側に開口するように形成されている。この複数の貫通孔2の開口は絶縁基材1の一面及び他面において二次元的に分散するように設けられており、図示の例では貫通孔2は平面視において平面正方格子状に配列するように設けられ、且つ隣り合う貫通孔2同士の間隔が略等間隔となるように形成されている。貫通孔2の配置の仕方はこのようなものには限られず、適宜のパターンに配置することができる。例えば貫通孔2を平面視において平面最密六方格子状(千鳥状)に配列するように設けると、貫通孔2をより密に且つ均一に配置することができ、被処理物5に対する表面処理を更に均一に行うことが可能となる。各貫通孔2の寸法や、各貫通孔2同士の間隔などは、貫通孔2内でプラズマ生成用ガスが放電により高効率で活性化され、また貫通孔2から噴出される活性化されたプラズマ生成用ガスGが均一に噴射されるように、適宜設定すれば良いが、特にその直径(内径)を0.01〜15mmの範囲に形成することが好ましく、また隣り合う貫通孔2同士の間隔は0.03〜60mmの範囲に形成することが好ましい。例えば小面積の被処理物5に対するプラズマ処理を行う場合には、貫通孔2の径が小さくなるように形成することが好ましい。   In the example shown in FIGS. 1 and 2, the insulating base 1 is arranged with one surface upward and the other surface downward, and a plurality of through holes 2 having a circular shape in plan view pass through in the vertical direction to form a gas inlet 2 a. Is formed so as to open on the upper side and the gas outlet 2b on the lower side. The openings of the plurality of through holes 2 are provided so as to be two-dimensionally dispersed on one surface and the other surface of the insulating base material 1. In the illustrated example, the through holes 2 are arranged in a planar square lattice shape in plan view. And the intervals between adjacent through-holes 2 are substantially equal. The way of arranging the through holes 2 is not limited to this, and the through holes 2 can be arranged in an appropriate pattern. For example, when the through holes 2 are provided so as to be arranged in a planar close-packed hexagonal lattice shape (staggered) in a plan view, the through holes 2 can be arranged more densely and uniformly, and surface treatment of the workpiece 5 can be performed. Furthermore, it becomes possible to carry out uniformly. The dimensions of the through holes 2 and the intervals between the through holes 2 are such that the plasma generating gas is activated in the through holes 2 with high efficiency by the discharge, and activated plasma is ejected from the through holes 2. What is necessary is just to set suitably so that the gas G for production | generation may be injected uniformly, but it is preferable to form the diameter (inner diameter) in the range of 0.01-15 mm especially, and the space | interval of adjacent through-holes 2 Is preferably in the range of 0.03 to 60 mm. For example, when plasma processing is performed on the workpiece 5 having a small area, it is preferable that the diameter of the through hole 2 is reduced.

また、図6に示す例では、絶縁基材1は一面が上方に、他面が下方に配置されており、平面視長方形状(スリット状)の複数の貫通孔2が上下方向に貫通してガス導入口2aが上側、ガス吹出口2bが下側に開口するように形成されている。この複数の貫通孔2の開口は絶縁基材1の一面及び他面において平行並列に配列するように設けられ、且つ隣り合う貫通孔2同士の間隔が略等間隔となるように形成されている。各貫通孔2の寸法や、各貫通孔2同士の間隔などは、貫通孔2内でプラズマ生成用ガスGが放電により高効率で活性化され、また貫通孔2から噴出される活性化されたプラズマ生成用ガスGが均一に噴射されるように、適宜設定すれば良いが、特にその幅寸法(短手方向の寸法)を0.01〜15mmの範囲に形成することが好ましく、また貫通孔2同士の間隔は0.01〜30mmの範囲に形成することが好ましい。この場合、貫通孔2のガス吹出口2bからは、貫通孔2の長手方向に沿って、活性化されたプラズマ生成用ガスGが連続的に噴射されることとなり、このため特に貫通孔2の短手方向に沿って被処理物5を搬送しつつプラズマ処理を行う場合には、表面処理の均一性を更に向上することが可能となる。   Further, in the example shown in FIG. 6, the insulating base material 1 is arranged such that one surface is on the upper side and the other surface is on the lower side, and a plurality of through holes 2 having a rectangular shape (slit shape) in plan view penetrate vertically. The gas inlet 2a is formed so as to open on the upper side and the gas outlet 2b is opened on the lower side. The openings of the plurality of through holes 2 are provided so as to be arranged in parallel and parallel on one surface and the other surface of the insulating base material 1 and are formed so that the intervals between the adjacent through holes 2 are substantially equal. . The dimensions of the through holes 2 and the intervals between the through holes 2 are activated in the through holes 2 with high efficiency by the discharge of the plasma generating gas G, and are activated by being ejected from the through holes 2. The plasma generating gas G may be appropriately set so that it is uniformly injected, but it is particularly preferable that the width dimension (dimension in the short direction) is in the range of 0.01 to 15 mm. It is preferable to form the space | interval of 2 in the range of 0.01-30 mm. In this case, the activated plasma generating gas G is continuously ejected from the gas outlet 2b of the through hole 2 along the longitudinal direction of the through hole 2, and therefore, particularly in the through hole 2 When performing the plasma treatment while conveying the workpiece 5 along the short direction, it is possible to further improve the uniformity of the surface treatment.

また、図1,2に示す例では、対となる一方の電極4と他方の電極3とが絶縁基材1内に埋設されており、且つ一方の電極4が絶縁基材1の一面側(上側、ガス導入口2a側)に、他方の電極3が絶縁基材1の他面側(下側、ガス吹出口2b側)に配置されており、対となる電極3,4が貫通孔2内でのプラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向に並んで配置されている。電極3,4間は間隔をあけて配置されており、この電極3,4間には絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電体材料)が介在するようになっている。このとき図示の例では各電極3,4は絶縁基材1の内部に連続的な層状に形成され、且つ各貫通孔2と合致する位置には開口8が形成され、この開口8の内面が貫通孔2を取り囲むように形成されることで、各電極3,4が貫通孔2を取り囲むように形成されている。すなわち、各電極3,4は各貫通孔2ごとに別個に形成されているものではなく、連続した層状の電極3,4に形成された複数の開口8の内面が、各貫通孔2内において放電を発生させる放電面として形成される。   In the example shown in FIGS. 1 and 2, one electrode 4 and the other electrode 3 that form a pair are embedded in the insulating base material 1, and one electrode 4 is on one surface side of the insulating base material 1 ( The other electrode 3 is disposed on the other surface side (lower side, gas outlet 2b side) of the insulating base material 1 on the upper side, the gas inlet 2a side, and the pair of electrodes 3 and 4 are the through holes 2. Are arranged side by side in a direction parallel to the flow direction of the plasma generating gas G. The electrodes 3 and 4 are disposed with a space therebetween, and an insulating material (dielectric material) constituting the insulating base 1 is interposed between the electrodes 3 and 4. At this time, in the illustrated example, each electrode 3, 4 is formed in a continuous layer shape inside the insulating base 1, and an opening 8 is formed at a position corresponding to each through-hole 2, and the inner surface of this opening 8 is The electrodes 3 and 4 are formed so as to surround the through-hole 2 by being formed so as to surround the through-hole 2. That is, each electrode 3, 4 is not separately formed for each through-hole 2, and the inner surfaces of the plurality of openings 8 formed in the continuous layered electrodes 3, 4 are formed in each through-hole 2. It is formed as a discharge surface that generates a discharge.

ここで、図1(b)に示す例では、各電極3,4の開口8の内径と貫通孔2の内径とが同一寸法に形成されて、開口8と貫通孔2の各内面が面一となり、各電極3,4がその開口8の内面において貫通孔2内に露出するように形成されている。この場合、電極3,4間に電圧が印加された際の放電性を高めることができ、プラズマ生成用ガスG中の活性種の密度を向上して表面処理効率を向上することができる。特にプラズマ生成用ガスG中に反応性ガスが含有されていない場合には、電極3,4が露出する場合でも放電時における電極3,4の損耗が少なく、このためこのように電極3,4を露出させることにより放電性を向上させることが好ましい。   Here, in the example shown in FIG. 1B, the inner diameters of the openings 8 of the electrodes 3 and 4 and the inner diameters of the through holes 2 are formed to be the same, and the inner surfaces of the openings 8 and the through holes 2 are flush with each other. Thus, the electrodes 3 and 4 are formed so as to be exposed in the through hole 2 on the inner surface of the opening 8. In this case, the discharge performance when a voltage is applied between the electrodes 3 and 4 can be improved, and the density of active species in the plasma generating gas G can be improved to improve the surface treatment efficiency. In particular, when the reactive gas is not contained in the plasma generating gas G, even when the electrodes 3 and 4 are exposed, the electrodes 3 and 4 are less worn at the time of discharge. It is preferable to improve the discharge performance by exposing.

また図2に示す例では、各電極3,4の開口8の内径は貫通孔2の内径よりも大きくなるように形成されており、各電極3,4の開口8の内面はすべて絶縁基材1の内部に埋設されるようになっている。このとき、各電極3,4は貫通孔2内には露出しないように形成され、電極3,4間に電圧が印加された際には、貫通孔2内では誘電体バリア放電が発生する。この場合、各電極3,4の放電面が絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電材料)によって保護されることとなり、特にプラズマ生成用ガスG中に反応性ガスが含有されている場合でも電極3,4の損耗を防止することができる。また、電極3,4を露出させる場合では高電圧下においてアークが発生して放電が不安定になる場合があるが、電極3,4を絶縁材料(誘電材料)によって被覆することで、高電圧下におけるアーク放電の発生が抑制されて、安定した放電の維持が可能となる。絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電材料)による各電極3,4の被覆の厚みは適宜設定されるが、電極3,4の表面を十分に保護すると共に良好な放電性を維持するためには、その厚みが0.01〜3mmの範囲であることが好ましい。   In the example shown in FIG. 2, the inner diameter of the opening 8 of each electrode 3, 4 is formed to be larger than the inner diameter of the through-hole 2, and the inner surface of the opening 8 of each electrode 3, 4 is all an insulating substrate. 1 is embedded inside. At this time, the electrodes 3 and 4 are formed so as not to be exposed in the through hole 2, and when a voltage is applied between the electrodes 3 and 4, dielectric barrier discharge occurs in the through hole 2. In this case, the discharge surfaces of the electrodes 3 and 4 are protected by the insulating material (dielectric material) constituting the insulating base 1, and even when the reactive gas is contained in the plasma generating gas G. Wear of the electrodes 3 and 4 can be prevented. Further, when the electrodes 3 and 4 are exposed, an arc may be generated under a high voltage and the discharge may become unstable. However, by covering the electrodes 3 and 4 with an insulating material (dielectric material), the high voltage The occurrence of arc discharge below is suppressed, and stable discharge can be maintained. The thickness of the coating of the electrodes 3 and 4 by the insulating material (dielectric material) constituting the insulating base 1 is set as appropriate. In order to sufficiently protect the surfaces of the electrodes 3 and 4 and maintain good discharge characteristics The thickness is preferably in the range of 0.01 to 3 mm.

また上記の電極3,4の間隔(放電面の間隔)は気体放電(プラズマ)を安定に発生するために0.01〜5mmに設定するのが好ましい。   The distance between the electrodes 3 and 4 (the distance between the discharge surfaces) is preferably set to 0.01 to 5 mm in order to stably generate gas discharge (plasma).

上記のようにして貫通孔2におけるプラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向に電極3,4を並べて設けると、図10(a)に示すように、電極3,4間の電位差によって貫通孔2内に発生する電気力線(図中の矢印)は、プラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向となる。このとき、貫通孔2内の放電空間では、高密度のストリーマ放電を生成することができるため、この放電によって生成される活性種の密度を高めることができ、これによりプラズマ処理の効率を向上することが可能となる。特に図示の例では、電極3,4はその放電面が共に貫通孔2を全周に亘り取り囲むように形成されているため、電気力線は貫通孔2内の全周に亘って発生し、これに応じて放電が貫通孔2内の内周全体に沿って発生し、このため、より高効率にプラズマを発生させることが可能となる。   When the electrodes 3 and 4 are arranged side by side in the direction parallel to the flow direction of the plasma generating gas G in the through hole 2 as described above, the through holes are caused by the potential difference between the electrodes 3 and 4 as shown in FIG. The lines of electric force generated in the holes 2 (arrows in the figure) are in a direction parallel to the flow direction of the plasma generating gas G. At this time, since a high-density streamer discharge can be generated in the discharge space in the through hole 2, the density of active species generated by this discharge can be increased, thereby improving the efficiency of the plasma treatment. It becomes possible. In particular, in the illustrated example, since the discharge surfaces of the electrodes 3 and 4 are formed so as to surround the entire circumference of the through hole 2, the lines of electric force are generated over the entire circumference of the through hole 2, Accordingly, a discharge is generated along the entire inner periphery of the through hole 2, and therefore, plasma can be generated with higher efficiency.

また特に絶縁基材1のガス吹出口2b側に配置される電極3を接地電極として形成すると、被処理物5の表面処理の際に対となる電極3,4のうち被処理物5側に配置されるものが接地電極となることから、この電極3と被処理物5との間の電位差が大きくなることを抑制して電極3と被処理物5との間のアークの発生を防止することができ、被処理物5に放電による損傷が発生しないようにすることができるものである。   In particular, when the electrode 3 disposed on the gas outlet 2b side of the insulating substrate 1 is formed as a ground electrode, the electrode 3 or 4 that forms a pair during the surface treatment of the workpiece 5 is placed on the workpiece 5 side. Since the disposed electrode is a ground electrode, an increase in the potential difference between the electrode 3 and the object to be processed 5 is suppressed, and an arc between the electrode 3 and the object to be processed 5 is prevented. It is possible to prevent the workpiece 5 from being damaged by electric discharge.

上記のように層状に形成される電極3,4においては、開口8以外に欠損部分(抜けた部分)が無い方が好ましい。すなわち、図12(a)(b)はいずれも図2に示す絶縁基材1に設けた電極3,4の一例を示すが、この場合、欠損部分30が開口8の周辺に多数存在する図12(a)の電極3,4よりも、欠損部分30が開口8の周辺に存在しない図12(b)の電極3,4を用いるのが好ましい。   In the electrodes 3 and 4 formed in layers as described above, it is preferable that there is no missing portion (missed portion) other than the opening 8. 12A and 12B show examples of the electrodes 3 and 4 provided on the insulating base material 1 shown in FIG. 2. In this case, a large number of missing portions 30 exist around the opening 8. It is preferable to use the electrodes 3 and 4 in FIG. 12B in which the defect portion 30 does not exist around the opening 8 rather than the electrodes 3 and 4 in FIG.

図12(a)の電極3,4を用いて絶縁基材1を形成した場合、電極3,4間に電源6で電圧を印加すると、図13(a)に示すように、絶縁基材1の下面において開口8に対応する箇所と欠損部分30に対応する箇所の両方に沿面放電31が生じる。   When the insulating base material 1 is formed using the electrodes 3 and 4 of FIG. 12A, when a voltage is applied between the electrodes 3 and 4 by the power source 6, the insulating base material 1 as shown in FIG. A creeping discharge 31 is generated at both the location corresponding to the opening 8 and the location corresponding to the missing portion 30 on the lower surface of the substrate.

一方、図12(b)の電極3,4を用いて絶縁基板1を形成した場合では、電極3,4間に電源6で電圧を印加すると、図13(b)に示すように、絶縁基材1の下面において主に開口8に対応する箇所に沿面放電31が生じるだけであり、図13(a)のものに比べて、沿面放電31が少なくなる。   On the other hand, in the case where the insulating substrate 1 is formed by using the electrodes 3 and 4 in FIG. 12B, when a voltage is applied between the electrodes 3 and 4 by the power source 6, as shown in FIG. Only the creeping discharge 31 is generated mainly at the portion corresponding to the opening 8 on the lower surface of the material 1, and the creeping discharge 31 is reduced as compared with that in FIG.

そして、沿面放電31は被処理物(ワーク)5に最も近接した放電であって、沿面放電31が多いと、沿面放電31からの被処理物5に対するアークが生じやすくなるものであるが、図13(b)の絶縁基材1では図13(a)のものに比べて、沿面放電31が少なくなるので、被処理物5との間でアークが発生しにくくなり、従って、放電による被処理物5の損傷を少なくすることができるものである。   And the creeping discharge 31 is the discharge closest to the workpiece (workpiece) 5, and if there are many creeping discharges 31, an arc from the creeping discharge 31 to the workpiece 5 is likely to occur. In the insulating base material 13 of FIG. 13 (b), the creeping discharge 31 is smaller than that in FIG. 13 (a), so that it is difficult for an arc to be generated between the workpiece 5 and the treatment by discharge. Damage to the object 5 can be reduced.

また、上記のように層状に形成される一対の対向する電極3,4のうち、被処理物5に近い方に配置される電極3の周端部を遠い方に配置される電極4の周端部よりも外側に突出させるのが好ましい。すなわち、図14に示すように、対向する一対の電極3,4を設けた絶縁基材1を正射影投影した場合に、上側の電極4と下側の電極3(図14(a)に破線で示す)がほぼ相似形で、且つ上側の電極4が下側の電極3に包含されるような大きさのパターンに電極3,4を形成するのが好ましい。このように下側の電極3の面積を上側の電極4の面積よりも大きく形成すると、図14(b)(c)に示すように、上側の電極4の周端部よりも外側に、下側の電極3の周端部が突出して位置するものであり、これにより、貫通孔2における電極3,4間の電圧よりも、電極3,4の周端間での電圧を低くすることができ、この結果、絶縁基材1の下面において電極3,4の周端間に対応する箇所での沿面放電31の発生を抑えることができて開口8に対応する箇所以外での沿面放電31を少なくすることができ、アークによる被処理物5の損傷をさらに少なくすることができるものである。尚、図14(b)では貫通孔2の一部が図示省略されている。   Of the pair of opposing electrodes 3 and 4 formed in layers as described above, the peripheral edge of the electrode 3 disposed closer to the workpiece 5 is surrounded by the periphery of the electrode 4 disposed farther away. It is preferable to protrude outward from the end. That is, as shown in FIG. 14, when the insulating base material 1 provided with a pair of opposing electrodes 3 and 4 is orthogonally projected, the upper electrode 4 and the lower electrode 3 (the broken line in FIG. 14A). Are preferably similar, and the electrodes 3 and 4 are preferably formed in a pattern with a size such that the upper electrode 4 is included in the lower electrode 3. When the area of the lower electrode 3 is formed larger than the area of the upper electrode 4 in this way, as shown in FIGS. The peripheral end portion of the electrode 3 on the side protrudes and can thereby lower the voltage between the peripheral ends of the electrodes 3 and 4 than the voltage between the electrodes 3 and 4 in the through hole 2. As a result, it is possible to suppress the occurrence of the creeping discharge 31 at a position corresponding to the gap between the peripheral edges of the electrodes 3 and 4 on the lower surface of the insulating base material 1, and to prevent the creeping discharge 31 at a position other than the position corresponding to the opening 8. This can reduce the amount of damage to the workpiece 5 due to arcing. In FIG. 14B, a part of the through hole 2 is not shown.

また、電極3,4は、上記のように形成するほか、適宜の形状に形成することができる。また、貫通孔2におけるプラズマ生成用ガスGの流通方向と交差する方向(例えば直交する方向)に複数の電極3,4を並べて設けることもできる。   Further, the electrodes 3 and 4 can be formed in an appropriate shape in addition to the above. In addition, a plurality of electrodes 3 and 4 may be provided side by side in a direction (for example, a direction orthogonal) intersecting the flow direction of the plasma generating gas G in the through hole 2.

図6に示す例では、絶縁基材1中の同一の層内に、対となる二種の電極3,4が間隔をあけてパターン状に埋設されており、一方の電極4は各貫通孔2の一側に、他方の電極3は各貫通孔2の他側に配置されるようになっている。   In the example shown in FIG. 6, two pairs of electrodes 3 and 4 are embedded in a pattern in the same layer in the insulating base material 1 at intervals, and one electrode 4 has each through hole. The other electrode 3 is disposed on the other side of each through hole 2.

また、図示の例では、対となる一方の電極4と他方の電極3とが絶縁基材1内に埋設されており、且つ各電極3,4は絶縁基材1内の同一の層内に配置されており、対となる電極3,4が貫通孔2内でのプラズマ生成用ガスGの流通方向と交差する方向(直交する方向)に並んで配置されている。電極3,4間は間隔をあけて配置されており、この電極3,4間には絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電体材料)が介在するようになっている。   In the illustrated example, one electrode 4 and the other electrode 3 that are paired are embedded in the insulating base material 1, and each electrode 3, 4 is in the same layer in the insulating base material 1. The paired electrodes 3 and 4 are arranged side by side in a direction intersecting (orthogonal to) the flow direction of the plasma generating gas G in the through hole 2. The electrodes 3 and 4 are disposed with a space therebetween, and an insulating material (dielectric material) constituting the insulating base 1 is interposed between the electrodes 3 and 4.

図示の例では各電極3,4は絶縁基材1の内部に連続的な層状に形成されているが、このとき各電極3,4は貫通孔2の並び方向に沿った方向に長い給電部3a,4aから貫通孔2の長手方向に長い複数の電極部3b,4bを延設した櫛形状に形成されており、隣り合う貫通孔2の間には、各電極3,4の電極部3b,4bが交互に配置されるようになって、貫通孔2の一側には一方の電極3の電極部3bが、他側には他方の電極4の電極部4bがそれぞれ配置される。すなわち、各電極3,4は各貫通孔2ごとに別個に形成されているものではなく、連続した層状の電極3,4に形成された電極部3b,4bの端面が、各貫通孔2内において放電を発生させる放電面として形成される。   In the illustrated example, each electrode 3, 4 is formed in a continuous layer shape inside the insulating base 1, but at this time, each electrode 3, 4 is a power feeding section that is long in the direction along the direction in which the through holes 2 are arranged. A plurality of electrode portions 3b, 4b that are long in the longitudinal direction of the through hole 2 are formed in a comb shape from 3a, 4a, and between the adjacent through holes 2, the electrode portions 3b of the electrodes 3, 4 are formed. , 4b are alternately arranged, and the electrode portion 3b of one electrode 3 is arranged on one side of the through hole 2, and the electrode portion 4b of the other electrode 4 is arranged on the other side. That is, each electrode 3, 4 is not formed separately for each through-hole 2, but the end surfaces of the electrode portions 3 b, 4 b formed on the continuous layered electrodes 3, 4 are located in each through-hole 2. It is formed as a discharge surface for generating a discharge.

また上記の電極3,4の間隔(放電面の間隔)は気体放電(プラズマ)を安定に発生するために0.01〜5mmに設定するのが好ましい。   The distance between the electrodes 3 and 4 (the distance between the discharge surfaces) is preferably set to 0.01 to 5 mm in order to stably generate gas discharge (plasma).

このように電極3,4を配設すると、図10(b)に示すように、電極3,4間の電位差によって貫通孔2内に発生する電気力線(図中の矢印)は、プラズマ生成用ガスGの流通方向と交差する方向となる。このとき、プラズマ生成用ガスGの流通方向と交差する方向に放電を発生させて、プラズマ生成用ガスGの活性化を行うことができるものである。   When the electrodes 3 and 4 are arranged in this way, as shown in FIG. 10B, the electric lines of force (arrows in the figure) generated in the through hole 2 due to the potential difference between the electrodes 3 and 4 are generated by plasma generation. The direction intersects the flow direction of the working gas G. At this time, the plasma generating gas G can be activated by generating a discharge in a direction crossing the flow direction of the plasma generating gas G.

ここで、図6に示す例では、各電極3,4の電極部3b,4bの対向する端面同士の間隔は、貫通孔2の開口の幅寸法よりも大きくなるように形成されており、各電極3,4の電極部3b,4bの端面はすべて絶縁基材1の内部に埋設されるようになっている。このとき、各電極3,4は貫通孔2内には露出しないように形成されている。この場合各電極3,4の放電面が絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電材料)によって保護されることとなり、図2に示す場合と同様に電極3,4の損耗を防止することができるものである。この場合も、絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電材料)による各電極3,4の被覆の厚みは0.01〜3mmの範囲であることが好ましい。   Here, in the example shown in FIG. 6, the distance between the opposing end faces of the electrode portions 3 b, 4 b of each electrode 3, 4 is formed to be larger than the width of the opening of the through hole 2, The end surfaces of the electrode portions 3 b and 4 b of the electrodes 3 and 4 are all embedded in the insulating base material 1. At this time, the electrodes 3 and 4 are formed so as not to be exposed in the through hole 2. In this case, the discharge surfaces of the electrodes 3 and 4 are protected by the insulating material (dielectric material) that constitutes the insulating base 1, and the electrodes 3 and 4 can be prevented from being worn as in the case shown in FIG. It can be done. Also in this case, it is preferable that the thickness of the coating of the electrodes 3 and 4 with the insulating material (dielectric material) constituting the insulating base 1 is in the range of 0.01 to 3 mm.

また、図示はしていないが、各電極3,4の電極部3b,4bの対向する端面同士の間隔と貫通孔2の開口の幅寸法を同一寸法に形成して、電極部3b,4bの端面と貫通孔2の内面が面一となり、各電極3,4がその電極部3b,4bの端面において貫通孔2内に露出するように形成しても良い。この場合、図1(b)に示す場合と同様に、プラズマ生成用ガスG中の活性種の密度を向上して表面処理効率を向上することができる。   Moreover, although not shown in figure, the space | interval of the electrode parts 3b and 4b of each electrode 3 and 4 and the width dimension of the opening of the through-hole 2 are formed in the same dimension, The electrode parts 3b and 4b The end surface and the inner surface of the through-hole 2 may be flush with each other, and the electrodes 3 and 4 may be exposed in the through-hole 2 at the end surfaces of the electrode portions 3b and 4b. In this case, similarly to the case shown in FIG. 1B, the density of active species in the plasma generating gas G can be improved to improve the surface treatment efficiency.

また、図示はしていないが、図6に示すように貫通孔2をスリット状に形成する場合においても、図1,2に示すものと同様に、一方の電極4が絶縁基材1の一面側(上側、ガス導入口2a側)に、他方の電極3が絶縁基材1の他面側(下側、ガス吹出口2b側)に配置されるようにし、対となる電極3,4が絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電体材料)を介して、貫通孔2内でのプラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向に間隔をあけて並んで配置されるようにすることができる。この場合は、例えば各電極3,4を絶縁基材1の内部に連続的な層状に形成し、且つ各貫通孔2と合致する位置に開口を形成し、この開口の内面が貫通孔2を取り囲むように形成することができる。この場合、電極3,4間の電位差によって貫通孔2内に発生する電気力線は、図10(a)に示すようにプラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向となり、貫通孔2内の放電空間では、高密度のストリーマ放電を生成することができるため、この放電によって生成される活性種の密度を高めることができ、これによりプラズマ処理の効率を向上することが可能となる。   Although not shown, even when the through-hole 2 is formed in a slit shape as shown in FIG. 6, one electrode 4 is one surface of the insulating substrate 1, as shown in FIGS. The other electrode 3 is arranged on the other side (lower side, gas outlet 2b side) of the insulating base 1 on the side (upper side, gas inlet 2a side), and the paired electrodes 3, 4 The insulating material (dielectric material) constituting the insulating base material 1 is arranged side by side in the direction parallel to the flow direction of the plasma generating gas G in the through hole 2 through the insulating material (dielectric material). Can do. In this case, for example, each electrode 3, 4 is formed in a continuous layer shape inside the insulating substrate 1, and an opening is formed at a position that matches each through hole 2, and the inner surface of this opening defines the through hole 2. It can be formed to surround. In this case, the electric lines of force generated in the through hole 2 due to the potential difference between the electrodes 3 and 4 are parallel to the flow direction of the plasma generating gas G as shown in FIG. In this discharge space, a high-density streamer discharge can be generated, so that the density of active species generated by this discharge can be increased, thereby improving the efficiency of the plasma treatment.

上記のような構成を有する電極3,4が設けられた絶縁基材1から構成される反応器Rは、電極3,4及び貫通孔2の微細成形が容易であり、微細な貫通孔2を複数設けると共に各貫通孔2内で放電を発生させるための電極3,4を設けることで、二次元状に配置された各貫通孔2から活性化されたプラズマ生成用ガスGを噴射することができ、これにより処理面の大面積化とこの処理面における処理の均一化を図ることが可能となる。   The reactor R composed of the insulating base material 1 provided with the electrodes 3 and 4 having the above-described configuration facilitates the fine molding of the electrodes 3 and 4 and the through holes 2, and the fine through holes 2 are formed in the reactor R. By providing a plurality of electrodes 3 and 4 for generating a discharge in each through-hole 2, the activated plasma generating gas G can be injected from each through-hole 2 arranged in a two-dimensional manner. Thus, it is possible to increase the area of the processing surface and make the processing uniform on the processing surface.

ここで、絶縁基材1に貫通孔2と電極3,4とが設けられた反応器Rを得るにあたっては、例えば絶縁材料の粉体にバインダー等を混合して成形したシート材を、導電体膜を介して積層することができる。   Here, in obtaining the reactor R in which the through hole 2 and the electrodes 3 and 4 are provided in the insulating base material 1, for example, a sheet material formed by mixing a powder of an insulating material with a binder or the like is used as a conductor. They can be stacked via a film.

シート材は、石英ガラス、アルミナ、ジルコニア、ムライト、窒化アルミニウムなどのようなセラミックスの粉体に、バインダー、或いは必要に応じて更に各種の添加剤を加えた混合材料をシート状に成形することで得ることができる。またこのシート材の厚みは、絶縁基材1の厚みや、電極3,4を二層に分けて形成する場合での電極3,4間の距離等に応じて適宜設定されるが、0.05〜5mmの範囲であることが好ましい。   The sheet material is formed by forming a mixed material in which ceramic powder such as quartz glass, alumina, zirconia, mullite, aluminum nitride, etc. is added with a binder or various additives as required, into a sheet shape. Can be obtained. The thickness of the sheet material is appropriately set according to the thickness of the insulating base 1, the distance between the electrodes 3 and 4 when the electrodes 3 and 4 are formed in two layers, and the like. It is preferable that it is the range of 05-5 mm.

また導電体膜は、銅、タングステン、アルミニウム、真鍮、ステンレス鋼などの導電性の金属材料を絶縁基材上に印刷成形することで得ることができる。   The conductor film can be obtained by printing and molding a conductive metal material such as copper, tungsten, aluminum, brass, and stainless steel on an insulating substrate.

そして、例えばシート材に対する導電体膜の形成と、これに対する他のシート材の積層を行って、シート材の層間に導電体膜が設けられた積層体を形成した後、これを焼成することで一体成形して、絶縁基材1を得ることができる。貫通孔2は、この積層成形後に穿設しても良いが、シート材に予め貫通孔2に相当する箇所に開口が設けられたものを用い、積層成形時のこの開口を位置合わせして成形することで、積層成形と同時に貫通孔2を形成することが好ましい。   And, for example, by forming a conductor film on the sheet material and laminating another sheet material on the sheet material to form a laminate in which the conductor film is provided between the sheet material layers, and firing the laminate The insulating base material 1 can be obtained by integral molding. The through-hole 2 may be formed after this lamination molding, but a sheet material in which an opening is provided in advance at a position corresponding to the through-hole 2 is formed by aligning this opening at the time of lamination molding. By doing so, it is preferable to form the through-hole 2 simultaneously with the lamination molding.

このとき、図1(b),図2等に示すように一方の電極4が絶縁基材1の一面側(上側、ガス導入口2a側)に、他方の電極3が絶縁基材1の他面側(下側、ガス吹出口2b側)に配置されるように形成する場合には、例えばまず第1のシート材の一面に導電体膜を、一方の電極4(又は3)の所望のパターン形状に印刷成形し、この導電体膜の上面に更に第2のシート材を積層して配置し、次いでこの第2のシート材の一面に導電体膜を他方の電極3(又は4)の所望のパターン形状に印刷成形し、この導電体膜の上面に更に第3のシート材を積層して配置する。また、電極4の所望のパターン形状に導電体膜が印刷成形されたシート材と、電極3の所望のパターン形状に導電体膜が印刷成形されたシート材と、導電体膜が形成されていないシート材とを、両面の最外層にそれぞれシート材が配置されると共に各導電体膜がシート材の間に配置されるように積層して配置するようにしても良い。次いで、この積層体を焼成することで、反応器Rが作製される。   At this time, as shown in FIG. 1 (b), FIG. 2, etc., one electrode 4 is on the one surface side (upper side, gas inlet 2 a side) of the insulating base material 1, and the other electrode 3 is the other side of the insulating base material 1. When forming so as to be arranged on the surface side (lower side, gas outlet 2b side), for example, a conductor film is first formed on one surface of the first sheet material, and a desired electrode 4 (or 3) is desired. Print-molded into a pattern shape, and a second sheet material is further laminated on the upper surface of the conductor film, and then the conductor film is placed on one surface of the second sheet material of the other electrode 3 (or 4). Print-molded into a desired pattern shape, and a third sheet material is further laminated on the upper surface of the conductor film. Further, a sheet material in which a conductor film is printed and molded in a desired pattern shape of the electrode 4, a sheet material in which a conductor film is printed and molded in a desired pattern shape of the electrode 3, and a conductor film is not formed. The sheet material may be laminated and disposed so that the sheet material is disposed on each of the outermost layers on both sides and each conductor film is disposed between the sheet materials. Subsequently, the reactor R is produced by baking this laminated body.

また、図6に示すように対となる一方の電極4と他方の電極3とが絶縁基材1内の同一の層内に配置される場合には、例えばまず第1のシート材の一面に導電体膜を、一方の電極4及び他方の電極3の所望のパターン形状に印刷成形し、この導電体膜の上面に更に第2のシート材を積層して配置する。次いで、この積層体を焼成することで、反応器Rが作製される。   In addition, when one electrode 4 and the other electrode 3 that are paired as shown in FIG. 6 are arranged in the same layer in the insulating base material 1, for example, first on one surface of the first sheet material. The conductor film is printed and formed in a desired pattern shape of one electrode 4 and the other electrode 3, and a second sheet material is further laminated on the upper surface of the conductor film. Subsequently, the reactor R is produced by baking this laminated body.

上記のような反応器Rはプラズマ生成用ガスGの流路上に、プラズマ生成用ガスGがガス導入口2aから貫通孔2に流入してガス吹出口2bから流出するように配設される。   The reactor R as described above is disposed on the flow path of the plasma generating gas G so that the plasma generating gas G flows into the through hole 2 from the gas inlet 2a and flows out of the gas outlet 2b.

図3に示すものでは、反応器Rとして図2に示す平面形状と断面形状を有するものを用い、反応器Rの絶縁基材1にはその一面側(ガス導入口2aが開口する側)に、ガス貯留室(ガスリザーバ)11が設けられており、このとき貫通孔2がガス貯留室11内に連通するように形成されている。図示のガス貯留室11は、一端側(図示では上端側)にガス貯留室11へのプラズマ生成用ガスGの流入口10が設けられており、他端側(図示では下端側)にはガス貯留室11からのプラズマ生成用ガスGの流出口9が設けられている。そして、絶縁基材1は、ガス貯留室11の流出口9が設けられている他端側に添設されている。このとき流出口9はガス貯留室11に複数個設けられると共に各流出口9は絶縁基材1の複数の各貫通孔2と合致する位置に設けられており、これにより、ガス貯留室11内と貫通孔2とは、流出口9を介して連通するように形成されている。   In the case shown in FIG. 3, the reactor R having the planar shape and the cross-sectional shape shown in FIG. 2 is used, and the insulating base 1 of the reactor R is on one side (the side where the gas inlet 2a is opened). A gas storage chamber (gas reservoir) 11 is provided, and at this time, the through hole 2 is formed to communicate with the gas storage chamber 11. The illustrated gas storage chamber 11 is provided with an inlet 10 for the plasma generating gas G to the gas storage chamber 11 on one end side (upper end side in the drawing), and on the other end side (lower end side in the drawing). An outlet 9 for the plasma generating gas G from the storage chamber 11 is provided. And the insulating base material 1 is attached to the other end side in which the outflow port 9 of the gas storage chamber 11 is provided. At this time, a plurality of outlets 9 are provided in the gas storage chamber 11, and each outlet 9 is provided at a position that coincides with each of the plurality of through holes 2 of the insulating base material 1. And the through hole 2 are formed so as to communicate with each other via the outflow port 9.

ガス貯留室11は全ての貫通孔2に対してプラズマ生成用ガスGをほぼ均一な流速で供給するためのガス均一化手段を設けられるものである。すなわち、プラズマ生成用ガスGは、流入口10からガス貯留室11に流入することにより圧力が緩和されて降下するものであり、これにより、全ての貫通孔2に対してプラズマ生成用ガスGをほぼ均一な流速で供給することができ、この結果、全ての貫通孔2から吹き出される活性化されたプラズマ生成用ガスGを絶縁基材1の全面に亘ってほぼ均一にすることができ、活性化されたプラズマ生成用ガスGの流速分布を少なくして均一なプラズマ処理を行うことができる。   The gas storage chamber 11 is provided with gas homogenizing means for supplying the plasma generating gas G to all the through holes 2 at a substantially uniform flow rate. That is, the plasma generating gas G is lowered when the pressure is relaxed by flowing into the gas storage chamber 11 from the inlet 10, and as a result, the plasma generating gas G is supplied to all the through holes 2. As a result, the activated plasma generating gas G blown out from all the through holes 2 can be made substantially uniform over the entire surface of the insulating substrate 1, A uniform plasma treatment can be performed by reducing the flow velocity distribution of the activated plasma generating gas G.

また、ガス貯留室11には、放熱器7としての機能を具備させることもでき、これにより、絶縁基材1と放熱器7とを密着して形成することができる。図示の例では、ガス貯留室11を構成する隔壁のうち、流出口9が形成されている端部側の隔壁(端部隔壁)と、ガス貯留室11の一端と他端の間の側部を構成する、前記端部隔壁と一体に形成された隔壁(側部隔壁)によって、放熱器7が形成されており、側部隔壁には、外面に外方に突出する放熱フィン7bを設け、また端部隔壁にはガス貯留室11の内面において、流出口9が形成されていない部分に内方に突出する吸熱フィン7aが形成されている。   Further, the gas storage chamber 11 can be provided with a function as the radiator 7, whereby the insulating base material 1 and the radiator 7 can be formed in close contact with each other. In the illustrated example, among the partition walls constituting the gas storage chamber 11, the end side partition wall (end partition wall) where the outflow port 9 is formed, and the side portion between one end and the other end of the gas storage chamber 11. The radiator 7 is formed by the partition wall (side partition wall) formed integrally with the end partition wall, and the side partition wall is provided with heat radiation fins 7b protruding outward on the outer surface, Further, the end partition walls are formed with heat-absorbing fins 7a projecting inwardly on the inner surface of the gas storage chamber 11 at portions where the outlets 9 are not formed.

このような放熱器7を設けると、プラズマ生成用ガスGの熱は吸熱フィン7aによって吸収されて、端部隔壁と側部隔壁を伝達して放熱フィン7bにより装置外部に放散される。これにより、プラズマ生成用ガスGの温度上昇を抑制して、それに伴って絶縁基材1の温度上昇を抑制することができる。   When such a radiator 7 is provided, the heat of the plasma generating gas G is absorbed by the heat-absorbing fins 7a, transmitted through the end partition walls and the side partition walls, and dissipated outside the apparatus by the heat-dissipating fins 7b. Thereby, the temperature rise of the gas G for plasma generation can be suppressed, and the temperature rise of the insulating base material 1 can be suppressed in connection with it.

上記の放熱器7は、放熱フィン7bが設けられた空冷式のものであるが、放熱器7として水冷式のものを設けても良い。図4〜6に示す例では、端部隔壁における、各流出口9の間の部位に、冷却水が流通する通水路7cが設けられており、この通水路7cに冷却水が流通することで、絶縁基材1を冷却するようにしている。ここで、図4は図2に示す平面視形状と断面形状を有する反応器Rに放熱器7を設けたものを、図5は図1(a)(b)に示す反応器Rに放熱器7を設けたものを、それぞれ示している。このようにすると、絶縁基材1に密着して配置されている端部隔壁が冷却されることで、絶縁基材1が効率良く冷却され、絶縁基材1の温度上昇を抑制することができる。   The radiator 7 is an air-cooled type provided with heat-radiating fins 7b, but a water-cooled type may be provided as the radiator 7. In the example shown in FIGS. 4 to 6, a water passage 7 c through which the cooling water flows is provided in a portion between the outlets 9 in the end partition wall, and the cooling water flows through the water passage 7 c. The insulating substrate 1 is cooled. Here, FIG. 4 shows a reactor R provided with a radiator 7 in the plan view shape and cross-sectional shape shown in FIG. 2, and FIG. 5 shows a radiator in the reactor R shown in FIGS. 7 are respectively shown. If it does in this way, the insulating partition 1 will be cooled efficiently and the temperature rise of the insulating substrate 1 can be suppressed by cooling the edge part partition arrange | positioned closely to the insulating substrate 1. .

上記の冷却水は、二次電子が放出されやすい温度に絶縁基材1を温度調整するための温度調整手段として用いることができる。すなわち、活性化されたプラズマ生成用ガスGに含まれる電子やイオンが絶縁基材1に作用することによって、絶縁基材1から二次電子が放出されるが、この二次電子が放出されやすい絶縁基材1の温度は高いほど好ましいが、熱膨張による絶縁基材1の損傷を考慮すると、絶縁基材1の温度は100℃程度に抑えるのが適当である。そこで、上記の冷却水により絶縁基材1を40〜100℃に温度調整するのが好ましい。このように室温よりも高い温度の冷却水を用いることによって、使用開始時において絶縁基材1の表面温度を室温よりも上昇させることができ、このために室温の場合よりも絶縁基材1から二次電子が放出されやすくなり、絶縁基材1から放出された二次電子によりプラズマ生成密度を増加させることができ、被処理物5の洗浄能力や改質能力などのプラズマ処理能力を向上させることができるものである。冷却水の温度は上記の効果が発生しやすく、且つ取り扱い性や省エネルギー等を考慮して、50〜80℃の温度にするのがより好ましい。   The cooling water can be used as a temperature adjusting means for adjusting the temperature of the insulating substrate 1 to a temperature at which secondary electrons are easily emitted. That is, secondary electrons are emitted from the insulating base material 1 when electrons and ions contained in the activated plasma generating gas G act on the insulating base material 1, but the secondary electrons are easily emitted. Although the temperature of the insulating base material 1 is preferably as high as possible, considering the damage of the insulating base material 1 due to thermal expansion, it is appropriate to keep the temperature of the insulating base material 1 at about 100 ° C. Therefore, it is preferable to adjust the temperature of the insulating base material 1 to 40 to 100 ° C. with the cooling water. Thus, by using the cooling water having a temperature higher than the room temperature, the surface temperature of the insulating base material 1 can be raised from the room temperature at the start of use. Secondary electrons are likely to be emitted, and the plasma generation density can be increased by the secondary electrons emitted from the insulating substrate 1, thereby improving the plasma processing ability such as the cleaning ability and the reforming ability of the workpiece 5. It is something that can be done. The temperature of the cooling water is more preferably set to a temperature of 50 to 80 ° C. in consideration of the above-mentioned effects and taking into consideration the handleability and energy saving.

上記のガス貯留室11及び放熱器7は、熱伝導性の高い材質にて形成することが好ましく、例えば銅、ステンレス、アルミニウム、窒化アルミニウム(AlN)等にて形成することができる。ガス貯留室11及び放熱器7を窒化アルミニウム等の絶縁物で形成することによって、電極3,4間に印加する高周波の電圧の影響を受けにくくなり、これにより、電極3,4間に投入される電力の損失がほとんど無くなって効率的な放電を行うことができ、しかも、高熱伝導であるために冷却効率を高くすることができるものである。   The gas storage chamber 11 and the radiator 7 are preferably formed of a material having high thermal conductivity, and can be formed of, for example, copper, stainless steel, aluminum, aluminum nitride (AlN), or the like. By forming the gas storage chamber 11 and the radiator 7 with an insulator such as aluminum nitride, the gas storage chamber 11 and the radiator 7 are less affected by the high-frequency voltage applied between the electrodes 3 and 4. Therefore, efficient electric discharge can be performed with little loss of electric power, and cooling efficiency can be increased because of high heat conduction.

また、放熱器7により絶縁基材1の温度上昇を抑制すると、絶縁基材1が熱変形を生じて割れ等の破損が発生することを防止することができる。また絶縁基材1の一部が過剰に加熱されると、加熱された部分においてプラズマ発生密度が高くなるなど、各貫通孔2内におけるプラズマ発生が不均一になるおそれがあるが、絶縁基材1の温度上昇を抑制することでこのような各貫通孔2ごとでのプラズマ発生の不均一化を防止し、均一な表面処理を維持することができるものである。   Moreover, when the temperature rise of the insulating base material 1 is suppressed by the radiator 7, it is possible to prevent the insulating base material 1 from being thermally deformed and causing breakage such as cracks. In addition, if a part of the insulating base 1 is heated excessively, the plasma generation in each through-hole 2 may become non-uniform, such as the plasma generation density being increased in the heated part. By suppressing the temperature rise of 1, the plasma generation in each through-hole 2 can be prevented from becoming nonuniform, and a uniform surface treatment can be maintained.

また、絶縁基材1を温度調節する手段として放熱器7に電気ヒーターを内蔵することにより、上記の冷却水による温度調節と同等の効果を得ることもできる。この場合は放熱器7に熱電対等の温度測定手段を設置することにより、放熱器7の温度調節をすることが好ましい。   Further, by incorporating an electric heater in the radiator 7 as a means for adjusting the temperature of the insulating base material 1, it is possible to obtain the same effect as the temperature adjustment by the cooling water. In this case, it is preferable to adjust the temperature of the radiator 7 by installing a temperature measuring means such as a thermocouple in the radiator 7.

さらに、放熱器7としてペルチェ素子を設置することもできる。   Further, a Peltier element can be installed as the radiator 7.

絶縁基材1と放熱器7との接合は、熱伝導性が良好で、プラズマ生成用ガスGのリークを防ぐことができる方式を採用するのが好ましく、例えば、熱伝導性グリス、熱伝導性両面テープ、接着樹脂含浸接合材により接着したり、絶縁基材1と放熱器7との接合面を鏡面研磨し、これらを圧着により接合することもできる。   The insulation substrate 1 and the radiator 7 are preferably joined by a method that has good thermal conductivity and can prevent leakage of the plasma generating gas G, for example, thermal conductive grease, thermal conductivity. It is also possible to bond with a double-sided tape or an adhesive resin-impregnated bonding material, or to mirror-polish the bonding surface between the insulating substrate 1 and the radiator 7 and bond them by pressure bonding.

また、絶縁基材1と放熱器7を一体として形成することも好ましい。このように成形することにより、放電空間からの発熱を放熱器7により効率よく吸収させることができ、しかも、プラズマ生成用ガスGのリークも防止できるため、絶縁基材1の温度分布を均一にし、放電を安定化することができる。   It is also preferable that the insulating base 1 and the radiator 7 are formed integrally. By forming in this way, the heat generated from the discharge space can be efficiently absorbed by the radiator 7 and also the leakage of the plasma generating gas G can be prevented, so that the temperature distribution of the insulating substrate 1 is made uniform. , Discharge can be stabilized.

上記のように構成されるプラズマ処理装置によって被処理物5の表面処理を行うにあたっては、プラズマ生成用ガスGを流入口10からガス貯留室11に供給し、このプラズマ生成用ガスGを流出口9及びガス導入口2aを介して絶縁基材1の各貫通孔2内に流入させ、この貫通孔2内の放電空間において電極3,4間の放電によりプラズマ生成用ガスGを活性化させた後に、ガス吹出口2bから吹き出させる。   In performing the surface treatment of the workpiece 5 by the plasma processing apparatus configured as described above, the plasma generation gas G is supplied from the inlet 10 to the gas storage chamber 11, and the plasma generation gas G is supplied to the outlet. 9 and the gas introduction port 2a, the plasma generating gas G is activated by discharge between the electrodes 3 and 4 in the discharge space in the through hole 2. Later, the gas is blown out from the gas outlet 2b.

上記のプラズマ生成用ガスGとしては、希ガス、窒素、酸素、空気をそれぞれ単独で用いたりあるいは複数種を混合したりして用いることができる。空気としては、好ましくは水分を殆ど含まない乾燥空気を用いることができる。希ガスとしては、ヘリウム、アルゴン、ネオン、クリプトンなどを使用することができるが、放電の安定性や経済性を考慮するとアルゴンを用いることが好ましい。また、希ガスや窒素に酸素、空気等の反応ガスを混合して使用することもできる。反応ガスの種類は処理の内容によって任意に選択することができる。例えば、被処理物5の表面に存在する有機物のクリーニング、レジストの剥離、有機フィルムのエッチング、LCDの表面クリーニング、ガラス板の表面クリーニングなどを行う場合には、酸素、空気、CO、NOなどの酸化性ガスを用いるのが好ましい。また、反応ガスとしてCF、SF、NFなどのフッ素系ガスも適宜用いることができ、シリコンやレジストなどのエッチング、アッシングを行う場合にはこのフッ素系ガスを用いるのが効果的である。また、金属酸化物の還元を行う場合は、水素、アンモニアなどの還元性ガスを用いることができる。 As the plasma generating gas G, a rare gas, nitrogen, oxygen, and air can be used alone, or a plurality of kinds can be mixed. As the air, dry air preferably containing almost no moisture can be used. As the rare gas, helium, argon, neon, krypton, or the like can be used, but argon is preferably used in consideration of discharge stability and economy. Further, a reaction gas such as oxygen or air may be mixed with a rare gas or nitrogen. The type of reaction gas can be arbitrarily selected depending on the content of the treatment. For example, oxygen, air, CO 2 , N 2 may be used for cleaning organic substances present on the surface of the object 5 to be processed, resist peeling, organic film etching, LCD surface cleaning, glass plate surface cleaning, and the like. It is preferable to use an oxidizing gas such as O. In addition, a fluorine-based gas such as CF 4 , SF 6 , or NF 3 can be used as a reaction gas as appropriate, and it is effective to use this fluorine-based gas when etching or ashing silicon or resist. . In the case of reducing the metal oxide, a reducing gas such as hydrogen or ammonia can be used.

上記のようなプラズマ生成用ガスGをガス貯留室11を介して反応器Rの貫通孔2に供給するためには、ガスボンベ、ガス配管、混合器、圧力弁等で構成される適宜のガス供給手段(図示せず)を設けることができる。例えばプラズマ生成用ガスG内に含有される各ガス成分が封入された各ガスボンベをガス配管にてガス貯留室11の流出口9に接続するようにし、このとき、各ガスボンベから供給されるガス成分を混合器にて所定の割合で混合し、圧力弁により所望の圧力で流出口9に導出されるようにする。   In order to supply the plasma generating gas G as described above to the through hole 2 of the reactor R through the gas storage chamber 11, an appropriate gas supply including a gas cylinder, a gas pipe, a mixer, a pressure valve, and the like is provided. Means (not shown) can be provided. For example, each gas cylinder filled with each gas component contained in the plasma generating gas G is connected to the outlet 9 of the gas storage chamber 11 through a gas pipe. At this time, the gas component supplied from each gas cylinder Are mixed at a predetermined ratio in a mixer, and are led out to the outlet 9 at a desired pressure by a pressure valve.

このようなプラズマ生成用ガスGは、貫通孔2内の放電空間において電極3,4間の放電により活性化されるものであるが、このとき電源6により電極3,4間に高電圧を印加されることにより、放電空間には電界が発生し、この電界の発生により大気圧下あるいはその近傍の圧力下で放電空間に気体放電が発生すると共にこの気体放電によりプラズマ生成用ガスGが活性化(プラズマ化)されて放電空間に活性種(イオンやラジカル等)が生成されるものである。   Such a plasma generating gas G is activated by the discharge between the electrodes 3 and 4 in the discharge space in the through hole 2, and at this time, a high voltage is applied between the electrodes 3 and 4 by the power source 6. As a result, an electric field is generated in the discharge space. Due to the generation of this electric field, a gas discharge is generated in the discharge space under atmospheric pressure or in the vicinity thereof, and the plasma generating gas G is activated by the gas discharge. (Plasmaization) and active species (ions, radicals, etc.) are generated in the discharge space.

このとき、プラズマ生成用ガスGは、圧力損失の影響を受けずに、単位時間当たりに所定の流量を供給できる圧力で貫通孔2に供給されるのが好ましく、ガス貯留室11内の圧力が大気圧あるいはその近傍の圧力(好ましくは100〜300kPa)となるように供給されることが好ましい。   At this time, the plasma generating gas G is preferably supplied to the through-hole 2 at a pressure capable of supplying a predetermined flow rate per unit time without being affected by the pressure loss, and the pressure in the gas storage chamber 11 is reduced. It is preferable that the pressure be supplied so as to be atmospheric pressure or a pressure in the vicinity thereof (preferably 100 to 300 kPa).

また、ガス導入口2aから貫通孔2内に導入されたプラズマ生成用ガスGを活性化させるために電源6から電極3,4間に印加される電圧は、交番波形(交流波形)、パルス波形、或いはこれらの波形を重畳させた波形など、適宜の波形のものとすることができるが、特に、休止区間を持つパルス状の波形の電圧を印加することが好ましい。この場合、貫通孔2内における安定した高効率な放電発生を可能とすることができ、このとき、複数の各貫通孔2内において放電が発生されていないものが発生することを防止して、各貫通孔2での均一な放電を維持することを可能とすることができる。放電の均一化が維持されるのは、一部の貫通孔2内で偶発的に放電が発生しなくなっても、休止区間において各貫通孔2内における放電状態が一旦キャンセルされ、休止区間の終了により再び電圧が印加された際に均一な放電状態に復帰するためであると、考えられる。   The voltage applied between the electrodes 3 and 4 from the power source 6 to activate the plasma generating gas G introduced into the through hole 2 from the gas inlet 2a is an alternating waveform (AC waveform), a pulse waveform. Alternatively, an appropriate waveform such as a waveform obtained by superimposing these waveforms can be used. In particular, it is preferable to apply a voltage having a pulse waveform having a pause period. In this case, it is possible to generate a stable and highly efficient discharge in the through-hole 2, and at this time, it is possible to prevent occurrence of no discharge in each of the plurality of through-holes 2, It is possible to maintain a uniform discharge in each through hole 2. The uniform discharge is maintained because even if discharge does not occur accidentally in some of the through holes 2, the discharge state in each through hole 2 is once canceled in the pause period, and the pause period ends. It is considered that this is because when the voltage is applied again, the discharge state is restored to a uniform state.

図7,8,9は、休止区間を持つパルス状の電圧を印加する場合の電圧の波形の例を示すものであり、図7に示す例は休止区間を介して交番する矩形波、図8に示す例は一定の周期で、立ち上がり、減衰、休止を繰り返す振動波パルス、図9は矩形波と同様に一波長内に正のパルス電圧出力、休止、負のパルス電圧出力、休止を1サイクルとして繰り返す対称パルスである。図9の対称パルス波形では、放電形態は矩形波に近い状態を得ることができ、また低い電圧でスイッチングを行い、昇圧にはトランスを用いることができるため、電源6の構成は矩形波用のものに比べて簡略化することが可能である。このとき、放電空間で気体放電を連続的に生成するのに必要な電極3,4間の電圧は貫通孔2の内径や対となる電極3,4間隔によって異なるので適宜設定すればよいが、例えば、0.05〜30kVに設定することができる。   7, 8, and 9 show examples of voltage waveforms when a pulse voltage having a pause period is applied. The example shown in FIG. 7 is a rectangular wave that alternates through a pause period, and FIG. The example shown in Fig. 9 is a vibration wave pulse that repeats rising, decaying, and pausing with a fixed period. Fig. 9 shows one cycle of positive pulse voltage output, pausing, negative pulse voltage output, pausing within one wavelength, like a rectangular wave. Is a symmetrical pulse that repeats as In the symmetric pulse waveform of FIG. 9, since the discharge form can obtain a state close to a rectangular wave, switching is performed at a low voltage, and a transformer can be used for boosting, the configuration of the power supply 6 is for a rectangular wave. It is possible to simplify compared with the thing. At this time, the voltage between the electrodes 3 and 4 necessary for continuously generating the gas discharge in the discharge space varies depending on the inner diameter of the through-hole 2 and the distance between the pair of electrodes 3 and 4, and may be appropriately set. For example, it can be set to 0.05 to 30 kV.

また、電源6としてパルス状波形電源を用いた場合などでは、電極3,4間に印加される電圧波形の繰り返し周波数は1Hz〜200kHzに設定するのが好ましい。この周波数が1Hz未満であれば、放電空間での放電を安定化させることができなくなり、表面処理を効率よく行うことができなくなる恐れがある。また周波数が200kHzを超えると、放電空間での気体放電(プラズマ)の温度上昇が著しくなり、さらに一部の貫通孔2に放電が集中しやすくなるため、複数の貫通孔2内において均一に放電を発生させることが困難となる。   Further, when a pulsed waveform power source is used as the power source 6, the repetition frequency of the voltage waveform applied between the electrodes 3 and 4 is preferably set to 1 Hz to 200 kHz. If this frequency is less than 1 Hz, the discharge in the discharge space cannot be stabilized, and the surface treatment may not be performed efficiently. Further, if the frequency exceeds 200 kHz, the temperature rise of the gas discharge (plasma) in the discharge space becomes significant, and the discharge tends to concentrate on some of the through holes 2, so that the discharge is uniformly performed in the plurality of through holes 2. It becomes difficult to generate.

また、電源6としてパルス状波形電源を用いる場合に、特に高効率で安定した放電を発生させるためには、電圧波形のデューティー比が0.01〜80%となるようにすることが好ましい。ここで、図7に示すような矩形状のパルス波におけるデューティー比は、一つのパルスの立ち上がりから立ち下がりまでの幅を一つのパルスの立上がりから休止区間を経て次のパルスの立ち上がりまでの幅で割ったものである。また、図8、9に示すような振動波パルスの場合は、パルスの一回目の立ち上がりと、二回目のパルスの立ち下がり波形の間の幅を、一回目のパルスの立上がりから減衰振動部および休止区間までを含む期間で割ったものである。   Further, when a pulsed waveform power supply is used as the power supply 6, it is preferable that the duty ratio of the voltage waveform be 0.01 to 80% in order to generate a particularly efficient and stable discharge. Here, the duty ratio in the rectangular pulse wave as shown in FIG. 7 is the width from the rising edge of one pulse to the falling edge, from the rising edge of one pulse to the rising edge of the next pulse through the pause period. Divided. In the case of the vibration wave pulse as shown in FIGS. 8 and 9, the width between the first rise of the pulse and the fall waveform of the second pulse is changed from the rise of the first pulse to the damped vibration part and Divided by the period including the rest period.

また、本発明において電極3,4を中点接地するのが好ましく、これにより、両電極3,4とも接地に対して浮いた状態で電圧を印加することができる。従って、被処理物5と活性化されたプラズマ生成用ガス(プラズマジェット)Gとの電位差が小さくなってアークの発生を防止することができ、アークによる被処理物5の損傷を防ぐことができるものである。すなわち、例えば、図15(a)に示すように、上側の電極4を電源6に接続して13kVに、下側の電極3を接地して0kVとして電極3,4間の電位差Vpを13kVにした場合、活性化されたプラズマ生成用ガスGと被処理物5との間に少なくとも数kVの電位差が生じ、これによるアークArが発生する。一方、図15(b)に示すように、中点接地を用いた場合は、上側の電極4の電位を+6.5kVに、下側の電極3の電位を−6.5kVにして電極3,4間の電位差Vpを13kVにすることができ、活性化されたプラズマ生成用ガスGと被処理物5との間の電位差がほとんど0Vになるものである。つまり、中点接地を用いない場合に比べて、中点接地を用いた場合は電極3,4間に同じ電位差が生じるにもかかわらず、活性化されたプラズマ生成用ガスGと被処理物5との間の電位差を小さくすることができ、活性化されたプラズマ生成用ガスGからの被処理物5に対するアークの発生を防止することができるものである。   Further, in the present invention, it is preferable that the electrodes 3 and 4 are grounded at the midpoint, and thereby, the voltage can be applied to both the electrodes 3 and 4 while being floated with respect to the ground. Therefore, the potential difference between the object to be processed 5 and the activated plasma generating gas (plasma jet) G can be reduced to prevent generation of an arc, and damage to the object to be processed 5 due to the arc can be prevented. Is. That is, for example, as shown in FIG. 15A, the upper electrode 4 is connected to the power source 6 to 13 kV, the lower electrode 3 is grounded to 0 kV, and the potential difference Vp between the electrodes 3 and 4 is set to 13 kV. In this case, a potential difference of at least several kV is generated between the activated plasma generating gas G and the object 5 to be processed, thereby generating an arc Ar. On the other hand, as shown in FIG. 15 (b), when the middle point grounding is used, the potential of the upper electrode 4 is set to +6.5 kV, the potential of the lower electrode 3 is set to −6.5 kV, and the electrodes 3 The potential difference Vp between 4 can be set to 13 kV, and the potential difference between the activated plasma generating gas G and the workpiece 5 becomes almost 0V. In other words, compared to the case where no midpoint grounding is used, when the midpoint grounding is used, the activated plasma generating gas G and the object to be processed 5 are generated despite the same potential difference between the electrodes 3 and 4. And the generation of an arc with respect to the workpiece 5 from the activated plasma generating gas G can be prevented.

この後、活性種を含むプラズマ生成用ガスGはガス吹出口2bから連続的に吹き出されるものであり、ガス吹出口2bの下側に被処理物5を配置すると共に活性種を含むプラズマ生成用ガスGのガス流をガス吹出口2bから被処理物5の表面の一部又は全部に吹き付けて供給することによって、被処理物5の表面処理を行うことができる。   Thereafter, the plasma generating gas G containing active species is continuously blown out from the gas outlet 2b, and the processing object 5 is disposed below the gas outlet 2b and the plasma generation containing active species is performed. The surface treatment of the object to be treated 5 can be performed by blowing and supplying the gas flow of the working gas G to a part or all of the surface of the object to be treated 5 from the gas outlet 2b.

ここで、ガス吹出口2bの下側に被処理物5を配置するにあたり、ローラー、ベルトコンベア等の搬送装置で被処理物5を搬送するようにすることができる。このとき、搬送装置で複数の被処理物5をガス吹出口2bの下側に順次搬送することによって、複数の被処理物5を連続的に表面処理することもできる。   Here, when the workpiece 5 is disposed below the gas outlet 2b, the workpiece 5 can be transported by a transport device such as a roller or a belt conveyor. At this time, the plurality of objects to be processed 5 can be continuously surface-treated by sequentially conveying the objects to be processed 5 to the lower side of the gas outlet 2b by the conveying device.

また、ガス吹出口2bと被処理物5の表面との間の距離は、プラズマ生成用ガスGのガス流の流速、プラズマ生成用ガスGの種類、被処理物5や表面処理の内容等によって適宜設定可能であるが、例えば、1〜30mmに設定することができる。   The distance between the gas outlet 2b and the surface of the workpiece 5 depends on the flow rate of the gas flow of the plasma generating gas G, the type of the plasma generating gas G, the content of the workpiece 5 and the surface treatment, etc. Although it can set suitably, it can set to 1-30 mm, for example.

上記のようにして被処理物5に対する表面処理を行うと、各貫通孔2の内側に気体放電を発生し、この気体放電により生じる活性種を含む活性化されたプラズマ生成用ガスGのガス流を複数の貫通孔2から吹き出して被処理物5に供給することによって、大面積に亘って高効率で均一なプラズマを発生させることができて、少ないガス流量で大面積に亘る被処理物5の表面処理を均一に行うことができる。   When the surface treatment is performed on the workpiece 5 as described above, a gas discharge is generated inside each through-hole 2, and the gas flow of the activated plasma generating gas G containing active species generated by the gas discharge is generated. Is blown out from the plurality of through-holes 2 and supplied to the object 5 to be processed, so that a highly efficient and uniform plasma can be generated over a large area, and the object 5 to be processed over a large area with a small gas flow rate. The surface treatment can be performed uniformly.

このように一度に表面処理が可能な処理面積を大面積化させると、大面積の被処理物5に対しても一度に表面処理を施すことが可能となって、処理効率が向上する。また、被処理物5を搬送しながら表面処理を施す場合などには、搬送中の被処理物5が活性化されたプラズマ生成用ガスGのガス流に曝露されている時間を長くすることができ、少ないガス量で効率的に表面処理することができるものであり、従って、ガスの流量を増加させることなく、被処理物5と活性種との接触時間を増加させて表面処理の能力を高めることができ、ガスの消費量が増大しないものであり、表面処理のランニングコストが増加することなく経済的に不利にならないものである。   Thus, if the processing area which can be surface-treated at once is enlarged, it will become possible to perform surface treatment also to the to-be-processed object 5 of a large area at once, and processing efficiency will improve. Further, when the surface treatment is performed while the workpiece 5 is being transported, the time during which the workpiece 5 being transported is exposed to the gas flow of the activated plasma generating gas G may be increased. Therefore, the surface treatment can be efficiently performed with a small amount of gas. Therefore, without increasing the gas flow rate, the contact time between the workpiece 5 and the active species can be increased to increase the surface treatment capability. The gas consumption is not increased, and the running cost of the surface treatment is not increased, so that it is not economically disadvantageous.

また、上記の実施形態では絶縁基材1を平面視矩形状に形成したことで処理面を矩形状に形成しているが、絶縁基材1の大きさ、形状や貫通孔2の配列を適宜変更することで、被処理物5に応じて処理面積を適宜調節したり、処理面を任意形状としたりすることもできる。   Further, in the above embodiment, the processing surface is formed in a rectangular shape by forming the insulating base material 1 in a rectangular shape in plan view. However, the size and shape of the insulating base material 1 and the arrangement of the through holes 2 are appropriately set. By changing, it is possible to appropriately adjust the processing area according to the object to be processed 5 or to change the processing surface to an arbitrary shape.

更に、複数の絶縁基材1を組み合わせて反応器Rを構成すると、処理面積の更なる大型化や、処理面の形状の変更も可能となる。   Furthermore, when the reactor R is configured by combining a plurality of insulating base materials 1, it is possible to further increase the processing area and change the shape of the processing surface.

例えば、図11(a)に示すように複数の絶縁基材1を一列に並べて配置して反応器Rを構成し、あるいは図11(b)に示すように複数の絶縁基材1を複数行複数列に並べて配置して反応器Rを構成することで、処理面積の大型化を図ることができる。   For example, as shown in FIG. 11 (a), a plurality of insulating substrates 1 are arranged in a line to constitute a reactor R, or a plurality of insulating substrates 1 are arranged in a plurality of rows as shown in FIG. 11 (b). By arranging the reactors R in a plurality of rows, the processing area can be increased.

また、複数の絶縁基材1を適宜のパターン状に配置して反応器Rを構成すると、絶縁基材1の配列形状に相当する形状の処理面に対する表面処理を行うことができ、例えば被処理物5の表面の特定の形状の領域にのみ部分的に表面処理を施すことも可能となる。例えば図11(c)に示すように絶縁基材1をL字状に配列して反応器Rを構成し、これにより、被処理物5のL字状の領域にのみ表面処理を施すことができるものである。   In addition, when the reactor R is configured by arranging a plurality of insulating base materials 1 in an appropriate pattern, a surface treatment can be performed on a processing surface having a shape corresponding to the arrangement shape of the insulating base materials 1. It is also possible to partially perform surface treatment only on a specific shape region on the surface of the object 5. For example, as shown in FIG. 11 (c), the insulating bases 1 are arranged in an L shape to constitute a reactor R, whereby a surface treatment can be performed only on the L shape region of the workpiece 5. It can be done.

更に、図11(d)に示すように、複数の絶縁基材1を配設すると共に、このとき被処理物5との距離が異なる絶縁基材1を配設して反応器Rを構成することもできる。この場合、被処理物5と絶縁基材1との間の距離が長い部位では表面処理の度合いが、他の部位と比較して相対的に低くなり、またこの距離が短い部位では表面処理の度合いが、他の部位と比較して相対的に高くなるものであり、これにより、被処理物5に対して意図的に表面処理の度合いが高い部位や低い部位を同時に形成することができるようになる。   Furthermore, as shown in FIG. 11 (d), a plurality of insulating base materials 1 are provided, and at this time, an insulating base material 1 having a different distance from the object to be processed 5 is provided to constitute a reactor R. You can also. In this case, the degree of the surface treatment is relatively low at a portion where the distance between the workpiece 5 and the insulating base material 1 is long, and the surface treatment is performed at a portion where this distance is short. The degree is relatively high as compared with other parts, so that it is possible to intentionally form a part having a high degree of surface treatment and a part having a low degree on the object to be treated 5 at the same time. become.

しかも、上記のように複数の絶縁基材1を組み合わせて反応器Rを構成すると、絶縁基材1の増減や配置位置の変更等を行うことで、処理面積の変更、処理面の形状の変更、処理強度の変更等の、種々の設計変更を容易に行うことができるものである。   In addition, when the reactor R is configured by combining a plurality of insulating substrates 1 as described above, the processing area is changed and the shape of the processing surface is changed by increasing or decreasing the insulating substrate 1 or changing the arrangement position. Various design changes such as a change in processing intensity can be easily performed.

尚、上記のように複数の絶縁基材1を組み合わせる場合には、放熱器7及びガス貯留室11は、各絶縁基材1ごとに設けても良く、また複数の絶縁基材1に対して同時にプラズマ生成用ガスGを供給し、或いは各絶縁基材1の放熱を同時に行うための、一つの放熱器7及びガス貯留室11を設けても良い。   When combining a plurality of insulating base materials 1 as described above, the radiator 7 and the gas storage chamber 11 may be provided for each insulating base material 1. You may provide the one heat radiator 7 and the gas storage chamber 11 for supplying the gas G for plasma generation simultaneously, or performing the thermal radiation of each insulating base material 1 simultaneously.

上記のように複数の絶縁基材1を組み合わせて反応器Rを形成した場合、各絶縁基材1には同じ電源6から給電するのが好ましい。例えば、図16(a)に示すように、一枚の絶縁基材1A及び電源6AからなるユニットAと一枚の絶縁基材1B及び電源6BとからなるユニットBとを備えて反応器Rを形成した場合、ユニットAの絶縁基材1Aには電源6Aから給電して電極3,4間に印加し、ユニットBの絶縁基材1Bには電源6Bから給電して電極3,4間に印加するが、ユニットAの電源6Aで発生させる高周波の電圧と、ユニットBの電源6Bで発生させる高周波の電圧との同期を同一にするのは難しく、図16(b)に示すように、多少位相のずれが生じることがあり、この結果、電源6Aで発生した電圧と電源6Bで発生した電圧とが干渉し合って、所望の波形の電圧を給電することができない恐れがある。   When the reactor R is formed by combining a plurality of insulating base materials 1 as described above, it is preferable to feed each insulating base material 1 from the same power source 6. For example, as shown in FIG. 16 (a), a reactor R having a unit A composed of a single insulating substrate 1A and a power source 6A and a unit B composed of a single insulating substrate 1B and a power source 6B is provided. When formed, the insulating base 1A of the unit A is fed from the power source 6A and applied between the electrodes 3 and 4, and the insulating base 1B of the unit B is fed from the power source 6B and applied between the electrodes 3 and 4. However, it is difficult to synchronize the high-frequency voltage generated by the power source 6A of the unit A with the high-frequency voltage generated by the power source 6B of the unit B. As shown in FIG. As a result, the voltage generated by the power source 6A and the voltage generated by the power source 6B may interfere with each other, and a voltage having a desired waveform may not be supplied.

そこで、本発明では図17に示すように、複数の絶縁基材1に対して同じ高周波電源等の電源6から給電するのが好ましい。図17に示す例では、一つの電源6に対して複数個のトランス32a、32b、32cを並列に電気的に接続すると共に各トランス32a、32b、32cのそれぞれに複数枚の絶縁基材1を並列に電気的に接続したものである。そして、この反応器Rでは各絶縁基材1に給電する電圧の位相が互いにずれないようにすることができ、各絶縁基材1に給電する電圧の干渉し合うのを防止して所望の波形の電圧を給電することができるものである。   Therefore, in the present invention, as shown in FIG. 17, it is preferable to supply power to a plurality of insulating bases 1 from a power source 6 such as the same high frequency power source. In the example shown in FIG. 17, a plurality of transformers 32a, 32b, and 32c are electrically connected in parallel to one power source 6, and a plurality of insulating bases 1 are attached to each of the transformers 32a, 32b, and 32c. They are electrically connected in parallel. In this reactor R, the phases of the voltages supplied to the respective insulating base materials 1 can be prevented from being shifted from each other, and the desired waveforms can be prevented by preventing the voltages supplied to the respective insulating base materials 1 from interfering with each other. It is possible to supply a voltage of.

また、本発明では、特に貫通孔2におけるプラズマ生成用ガスGの流通方向と平行な方向に複数の電極3,4を並べて設けると、放電空間に高密度のストリーマ放電を発生させることにより、放電発生のための印加電力を増加させることなく、ガス流中の活性種の密度を増加させて表面処理の能力を高めることができる。これにより、活性種を含むプラズマ生成用ガスGのガス流を被処理物5に供給する時間を長くせずに表面処理の能力を高めているので、一つの被処理物5の表面処理にかかる時間が長くならないようにすることができ、生産性が低下しないようにすることができるものである。   Further, in the present invention, when a plurality of electrodes 3 and 4 are arranged side by side in a direction parallel to the flow direction of the plasma generating gas G in the through hole 2 in particular, a high density streamer discharge is generated in the discharge space. Without increasing the applied power for generation, the density of active species in the gas stream can be increased to enhance the surface treatment capability. Thereby, the surface treatment capability is enhanced without increasing the time for supplying the gas flow of the plasma generating gas G containing the active species to the object to be treated 5. Time can be prevented from becoming long, and productivity can be prevented from decreasing.

またこのように被処理物5に吹き付けられるプラズマ生成用ガスG中の活性種の密度が増加されて表面処理の能力が高められているために、ガス吹出口2bと被処理物5の表面との間の距離を短くする必要がなくなるものであり、これにより放電場からの被処理物5へのアークの発生が抑制されて、アークによる被処理物5の損傷が防止される。またこのようにアークの発生を抑制することができることから、ガス吹出口2bと被処理物5との間に放電発生防止用の金属メッシュ等を介在させる必要がなく、このような金属メッシュ等によりプラズマ生成用ガスGのガス流が遮られることによる表面処理能力の低下を防止することができる。更には、電極3,4等の金属が腐食して酸化物(錆)が飛散し被処理物5を汚すという問題も発生しないものである。   Further, since the density of active species in the plasma generating gas G sprayed on the object to be treated 5 is increased in this way and the surface treatment capability is enhanced, the gas outlet 2b and the surface of the object 5 to be treated Therefore, it is not necessary to shorten the distance between the two, so that the generation of an arc from the discharge field to the workpiece 5 is suppressed, and the workpiece 5 is prevented from being damaged by the arc. In addition, since the generation of the arc can be suppressed in this way, there is no need to interpose a metal mesh for preventing discharge between the gas outlet 2b and the object 5 to be processed. It is possible to prevent the surface treatment capability from being lowered due to the interruption of the gas flow of the plasma generating gas G. Furthermore, the problem that the metal such as the electrodes 3 and 4 corrodes and the oxide (rust) scatters to contaminate the workpiece 5 does not occur.

本発明は、種々の被処理材5に対する表面処理に適用することができるが、特に液晶用ガラス材、プラズマディスプレイ用ガラス材、有機エレクトロルミネッセンス表示装置用ガラス材等の、種々のフラットパネルディスプレイ用ガラス材や、プリント配線基板、ポリイミドフィルム等の各種樹脂フィルムなどの表面処理に適用することができる。これらの被処理物5、特に液晶用ガラス材等のフラットパネルディスプレイ用ガラス材は、順次大型化が進展しており、このため大面積の均一な処理が可能であり、且つ処理面積等の設計変更が容易な本発明に係るプラズマ処理装置やプラズマ処理方法を、好適に適用することができる。このようなガラス材に対する表面処理を行う場合には、このガラス材に、ITO(インジウム・チン・オキサイド)からなる透明電極や、TFT(薄膜トランジスタ)液晶を設けたもの、或いはCF(カラーフィルタ)を設けたものなども、表面処理に供することができる。また、樹脂フィルムに対して表面処理を施す場合には、いわゆるロール・トゥ・ロール方式で搬送されている樹脂フィルムに対して、連続的に表面処理を施すことができる。   The present invention can be applied to surface treatments for various materials to be treated 5, and in particular for various flat panel displays such as glass materials for liquid crystals, glass materials for plasma displays, glass materials for organic electroluminescence display devices, and the like. It can be applied to surface treatment of various resin films such as glass materials, printed wiring boards and polyimide films. These objects 5 to be processed, especially glass materials for flat panel displays such as liquid crystal glass materials, have been progressively increased in size, so that a large area can be uniformly processed and the processing area can be designed. The plasma processing apparatus and the plasma processing method according to the present invention that can be easily changed can be suitably applied. When surface treatment is performed on such a glass material, a transparent electrode made of ITO (indium tin oxide), a TFT (thin film transistor) liquid crystal, or a CF (color filter) is used on the glass material. The provided one can also be subjected to surface treatment. Moreover, when performing surface treatment with respect to a resin film, surface treatment can be continuously performed with respect to the resin film currently conveyed by what is called a roll-to-roll system.

また、本発明は、以下の構成のプラズマ処理装置を含む:
複数のスルーホール(貫通孔2)を有する一対の電極板(電極3、4);
複数のスルーホールを有する絶縁板(絶縁基材1)、前記絶縁板は、前記電極板のスルーホールの位置が絶縁板のスルーホールの位置に一致するように前記一対の電極板間に配置される;
前記一対の電極板のスルーホールと前記絶縁板のスルーホールによって形成される複数の放電空間内にプラズマ生成用ガスGを供給するガス供給手段;
前記電極板間に電圧を印加して前記放電空間内に同時に前記ガスのプラズマを生成するための電圧印加手段(電源6)。
The present invention also includes a plasma processing apparatus having the following configuration:
A pair of electrode plates (electrodes 3 and 4) having a plurality of through holes (through holes 2);
An insulating plate (insulating base material 1) having a plurality of through holes, and the insulating plate is disposed between the pair of electrode plates so that the position of the through hole of the electrode plate coincides with the position of the through hole of the insulating plate. ;
Gas supply means for supplying the plasma generating gas G into a plurality of discharge spaces formed by the through holes of the pair of electrode plates and the through holes of the insulating plate;
Voltage application means (power supply 6) for applying a voltage between the electrode plates to simultaneously generate the gas plasma in the discharge space.

さらに、本発明は、以下の構成のプラズマ処理装置を含む:
一対の電極3、4と、前記電極3、4間に配置される絶縁板(絶縁基材1)を含む筒状容器(ガス貯留室11)と、
前記筒状容器の一端からプラズマ生成用ガスGを供給するガス供給手段と、
前記電極3、4間に電圧を印加して前記筒状容器内に前記ガスのプラズマを生成する電圧印加手段を具備し、
前記筒状容器の他端から放出される前記プラズマで被処理物を表面処理するプラズマ処理装置であって、
しかるに、前記電極3、4は複数のスルーホール(貫通孔2)を有する一対の電極板でなり、前記絶縁板は複数のスルーホールを有し、前記筒状容器内には、前記一対の電極板のスルーホールと前記絶縁板のスルーホールによって形成される複数の放電空間が設けられ、前記電極3、4間に電圧を印加して前記放電空間に同時に生成された複数のプラズマが前記筒状容器の他端から放出される。
Furthermore, the present invention includes a plasma processing apparatus having the following configuration:
A cylindrical container (gas storage chamber 11) including a pair of electrodes 3 and 4 and an insulating plate (insulating base material 1) disposed between the electrodes 3 and 4;
Gas supply means for supplying a plasma generating gas G from one end of the cylindrical container;
Voltage applying means for generating a plasma of the gas in the cylindrical container by applying a voltage between the electrodes 3 and 4;
A plasma processing apparatus for surface-treating an object to be processed with the plasma emitted from the other end of the cylindrical container,
However, the electrodes 3 and 4 are formed of a pair of electrode plates having a plurality of through holes (through holes 2), the insulating plate has a plurality of through holes, and the pair of electrodes is disposed in the cylindrical container. A plurality of discharge spaces formed by a through hole of the plate and a through hole of the insulating plate are provided, and a plurality of plasmas simultaneously generated in the discharge space by applying a voltage between the electrodes 3 and 4 are formed in the cylindrical shape. Released from the other end of the container.

以下本発明を実施例によって具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described specifically by way of examples.

(実施例1)
第1のシート材(厚み0.4mm)の一面に導電体膜を印刷成形し、この導電体膜の上面に更に第2のシート材(厚み1.4mm)を積層して配置し、この第2のシート材の一面には導電体膜を印刷成形し、この導電体膜の上面には第3のシート材(厚み1.4mm)を積層して配置した。
(Example 1)
A conductor film is printed on one surface of the first sheet material (thickness 0.4 mm), and a second sheet material (thickness 1.4 mm) is further laminated on the upper surface of the conductor film. A conductor film was printed on one surface of the sheet material No. 2, and a third sheet material (thickness 1.4 mm) was laminated on the upper surface of the conductor film.

このとき、第1〜第3のシート材は、アルミナ粉末を含む混合材料をシート状に成形することで形成し、また各シート材には、直径1mmの開口を形成して、この各開口の位置が合致するように積層した。   At this time, the first to third sheet materials are formed by forming a mixed material containing alumina powder into a sheet shape, and each sheet material is formed with an opening having a diameter of 1 mm. Lamination was performed so that the positions matched.

また導電体膜は、タングステン層を印刷成形することで形成し、上記シート材の開口よりも大きい直径3mmの開口8がシート材の開口を囲むように配されたパターン状に形成した。   The conductor film was formed by printing a tungsten layer and formed in a pattern in which openings 8 having a diameter of 3 mm larger than the openings of the sheet material were arranged so as to surround the openings of the sheet material.

このように形成された積層体を加熱焼成することで、図2に示す平面視形状と断面形状を有する反応器Rを作製した。   The laminated body thus formed was heated and fired to produce a reactor R having a plan view shape and a cross-sectional shape shown in FIG.

このとき、絶縁基材1は直径1mmの55個の貫通孔2を具備すると共に厚み3.2mmに形成され、またこれら55個の各貫通孔2は平面視45×22mmの範囲の領域にわたり、隣り合う貫通孔2同士の間隔が4.5mmとなるように配置されるようにした。   At this time, the insulating substrate 1 has 55 through holes 2 having a diameter of 1 mm and is formed to a thickness of 3.2 mm, and each of the 55 through holes 2 covers an area in a range of 45 × 22 mm in plan view. It arrange | positioned so that the space | interval of adjacent through-holes 2 might be 4.5 mm.

また、電極3,4は厚み30μmの上下二層のタングステン導電体層にて形成され、各貫通孔2の周囲を電極3,4の開口8が取り囲むように設置されるようにした。また上下一対の電極3,4の間隔(放電面の間隔)は1.4mmとした。またこの電極3,4の開口8は直径3mmに形成され、貫通孔2の内面には露出させず、電極3,4の開口8と、貫通孔2の内面との間には、絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電材料)による厚み1mmの絶縁被覆を形成されるようにした。また上部の電極4は電源6に接続し、下部の電極3は接地した。   The electrodes 3 and 4 are formed of two upper and lower tungsten conductor layers having a thickness of 30 μm, and are arranged so that the openings 8 of the electrodes 3 and 4 surround the through holes 2. The distance between the pair of upper and lower electrodes 3 and 4 (the distance between the discharge surfaces) was 1.4 mm. The openings 8 of the electrodes 3 and 4 are formed to have a diameter of 3 mm and are not exposed to the inner surface of the through hole 2, and the insulating base material is provided between the openings 8 of the electrodes 3 and 4 and the inner surface of the through hole 2. An insulating coating having a thickness of 1 mm is formed by an insulating material (dielectric material) constituting 1. The upper electrode 4 was connected to a power source 6 and the lower electrode 3 was grounded.

この絶縁基材1の上部には、図4に示すような銅製の放熱器7が設けられたガス貯留室11を設置し、プラズマ生成用ガスGはガス貯留室11の上部の流入口10から導入され、絶縁基材1の貫通孔2へ流入するように形成した。放熱器7に設けられた通水路7cには冷却水を循環させ、絶縁基材1の過度の加熱を防止するようにした。   A gas storage chamber 11 provided with a copper radiator 7 as shown in FIG. 4 is installed on the insulating base 1, and the plasma generating gas G is supplied from an inlet 10 at the upper portion of the gas storage chamber 11. It was introduced and formed so as to flow into the through hole 2 of the insulating base material 1. Cooling water was circulated through the water passage 7 c provided in the radiator 7 to prevent excessive heating of the insulating substrate 1.

(実施例2)
第1のシート材(厚み0.7mm)の一面に導電体膜を印刷成形し、この導電体膜の上面に更に第2のシート材(厚み1.5mm)を積層して配置した。
(Example 2)
A conductor film was printed on one surface of the first sheet material (thickness 0.7 mm), and a second sheet material (thickness 1.5 mm) was further laminated on the upper surface of the conductor film.

このとき、第1,第2のシート材は、実施例1の場合と同様の含アルミナ混合材料をシート状に成形することで形成し、また各シート材には、平面視の幅1mm、長さ22mmのスリット状の開口を複数形成して、この各開口の位置が合致するように積層した。   At this time, the first and second sheet materials are formed by molding the same alumina-containing mixed material as in the case of Example 1 into a sheet shape, and each sheet material has a width of 1 mm in plan view and a long length. A plurality of slit-like openings having a thickness of 22 mm were formed and laminated so that the positions of the openings coincided.

また導電体膜は、実施例1と同様のタングステン導電体層を印刷成形することで形成し、図6(b)に示すような櫛形のパターン状に形成した。   The conductor film was formed by printing the same tungsten conductor layer as in Example 1 and formed in a comb-like pattern as shown in FIG.

このように形成された積層体を加熱焼成することで、図6に示す構成を有する反応器Rを作製した。   Reactor R having the configuration shown in FIG. 6 was produced by heating and firing the thus formed laminate.

このとき、絶縁基材1は平面視の幅1mm、長さ22mmのスリット状の11個の貫通孔2を具備すると共に厚み2.2mmに形成され、またこれら各貫通孔2は平面視45×22mmの範囲の領域にわたり、隣り合う貫通孔2同士の間隔が3.5mmとなるように配置されるようにした。   At this time, the insulating base material 1 has 11 slit-like through holes 2 having a width of 1 mm and a length of 22 mm in plan view, and is formed to a thickness of 2.2 mm. Each through hole 2 is 45 × in plan view. It was made to arrange | position so that the space | interval of adjacent through-holes 2 might be 3.5 mm over the area | region of the range of 22 mm.

また、電極3,4は絶縁基材1内の同一層内に厚み100μmに形成され、各貫通孔2の一側に一方の電極4が、他側に他方の電極4が配置されるようにした。また一対の電極3,4の間隔(放電面の間隔)は2mmとなるようにした。このため、この電極3,4は貫通孔2の内面には露出せず、電極3,4の端縁(放電面)と、貫通孔2の内面との間には、絶縁基材1を構成する絶縁材料(誘電材料)による厚み0.5mmの絶縁被覆を形成されるようにした。また一方の電極4は電源6に接続し、他方の電極3は接地した。   Further, the electrodes 3 and 4 are formed in the same layer in the insulating base material 1 so as to have a thickness of 100 μm, and one electrode 4 is arranged on one side of each through hole 2 and the other electrode 4 is arranged on the other side. did. The distance between the pair of electrodes 3 and 4 (the distance between the discharge surfaces) was set to 2 mm. For this reason, the electrodes 3 and 4 are not exposed on the inner surface of the through hole 2, and the insulating base 1 is configured between the edge (discharge surface) of the electrodes 3 and 4 and the inner surface of the through hole 2. An insulating coating having a thickness of 0.5 mm is formed by an insulating material (dielectric material). One electrode 4 was connected to a power source 6 and the other electrode 3 was grounded.

この絶縁基材1の上部には、図6に示すような窒化アルミニウム製の放熱器7が設けられたガス貯留室11を設置し、プラズマ生成用ガスGはガス貯留室11の上部の流入口10から導入され、絶縁基材1の貫通孔2へ流入するように形成した。放熱器7に設けられた通水路7cには冷却水を循環させ、絶縁基材1の過度の加熱を防止するようにした。   A gas storage chamber 11 provided with a heat radiator 7 made of aluminum nitride as shown in FIG. 6 is installed on the upper side of the insulating base 1, and the plasma generating gas G flows into the inlet of the upper portion of the gas storage chamber 11. 10 was formed so as to flow into the through hole 2 of the insulating base material 1. Cooling water was circulated through the water passage 7 c provided in the radiator 7 to prevent excessive heating of the insulating substrate 1.

(実施例3)
電極3,4の開口8の内径と貫通孔2の内径とを共に1mmの寸法に形成して、開口8の内面を貫通孔2の内面で露出するように形成した(図5参照)。これ以外は実施例1と同様にしてプラズマ処理装置を形成した。
(Example 3)
Both the inner diameter of the opening 8 of the electrodes 3 and 4 and the inner diameter of the through hole 2 were formed to a size of 1 mm, and the inner surface of the opening 8 was formed to be exposed at the inner surface of the through hole 2 (see FIG. 5). Except for this, a plasma processing apparatus was formed in the same manner as in Example 1.

(比較例1)
図18に断面を示す矩形筒状の反応容器21を装備したプラズマ処理装置を使用した。反応容器21は肉厚1mmの石英ガラス製であり、また、反応容器21内の空間に形成される放電発生部22の狭小側の内寸(反応容器21の両端のガス導入口22aとガス吹出口22bのスリット幅と同じであり、放電スリット幅という)は1mmとした。さらに、反応容器21の幅広側は45mmとした。電極23,24はその下面がガス吹出口22bから5mm上流側に位置するようにした。
(Comparative Example 1)
A plasma processing apparatus equipped with a rectangular cylindrical reaction vessel 21 whose cross section is shown in FIG. 18 was used. The reaction vessel 21 is made of quartz glass having a wall thickness of 1 mm, and has an inner dimension on the narrow side of the discharge generating part 22 formed in the space in the reaction vessel 21 (the gas inlets 22a and the gas blowing ports at both ends of the reaction vessel 21). The slit width of the outlet 22b is the same as the discharge slit width). Furthermore, the wide side of the reaction vessel 21 was 45 mm. The lower surfaces of the electrodes 23 and 24 were positioned 5 mm upstream from the gas outlet 22b.

一対の電極23,24は銅製でその表面に金メッキ処理を行った。電極23,24は反応容器21の幅広側に反応容器21を挟みこむように設置した。電極23,24の内部の冷却水循環路27には冷却水を循環させ、電極23,24を冷却した。図面における左側の電極23は電源6に接続し、右側の電極24は接地した。   The pair of electrodes 23 and 24 are made of copper, and the surface thereof is subjected to gold plating. The electrodes 23 and 24 were installed so as to sandwich the reaction vessel 21 on the wide side of the reaction vessel 21. Cooling water was circulated through the cooling water circulation path 27 inside the electrodes 23 and 24 to cool the electrodes 23 and 24. The left electrode 23 in the drawing was connected to the power source 6 and the right electrode 24 was grounded.

(評価1)
上記のようなプラズマ処理装置を用いて、大気圧下で窒素10リットル/分、酸素0.02リットル/分のプラズマ生成用ガスGを装置に導入し、電源6により電極3,4(23,24)間に図7に示す休止区間を有するパルス状波形を有する6kHz、13kV、デューティー比50%の電圧を印加し、活性種を含むプラズマ生成用ガスGのガス流を、100mm/sで搬送された被処理物5の表面に吹き付ける(噴射する)ことにより表面処理を行った。被処理物5としては液晶用の素ガラスを用い、ガス吹出口2b(22b)と被処理物5との距離は5mmとした。液晶用素ガラスにおける処理前の水接触角は68°である。
(Evaluation 1)
Using the plasma processing apparatus as described above, a plasma generating gas G of 10 liters / minute of nitrogen and 0.02 liters / minute of oxygen is introduced into the apparatus under atmospheric pressure, and the electrodes 3 and 4 (23, 23, 23, 24) A voltage of 6 kHz, 13 kV and a duty ratio of 50% having a pulse-like waveform having a pause period shown in FIG. 7 is applied between them, and the gas flow of plasma generating gas G including active species is conveyed at 100 mm / s. The surface treatment was performed by spraying (spraying) the surface of the treated object 5. As the object 5 to be processed, a liquid crystal glass was used, and the distance between the gas outlet 2b (22b) and the object 5 to be processed was 5 mm. The water contact angle before treatment in the liquid crystal glass is 68 °.

実施例1、2及び比較例1について表面処理後の被処理物5の水接触角を測定した。これらの結果を表1に示す。   For Examples 1 and 2 and Comparative Example 1, the water contact angle of the workpiece 5 after the surface treatment was measured. These results are shown in Table 1.

Figure 2005123159
Figure 2005123159

表1に示すように実施例1及び実施例2では水接触角が大きく低下し、特に実施例1では水接触角の低下が著しいことがわかる。これに対し、比較例1では水接触角がほとんど変化しなかった。よって、実施例1,2は比較例1よりも表面処理能力が高いと言える。   As shown in Table 1, it can be seen that the water contact angle is greatly reduced in Example 1 and Example 2, and in particular, in Example 1, the water contact angle is significantly reduced. On the other hand, in Comparative Example 1, the water contact angle hardly changed. Therefore, it can be said that Examples 1 and 2 have higher surface treatment capability than Comparative Example 1.

(評価2)
実施例1及び比較例1について、電極3,4(23,24)間に印加する電圧の波形を、図8に示す休止区間を有するパルス状波形を有する6kHz、13kV、デューティー比5%の電圧に変更した以外は、評価1と同様にして被処理物5の表面処理を行った。
(Evaluation 2)
For Example 1 and Comparative Example 1, the voltage waveform applied between the electrodes 3 and 4 (23, 24) is 6 kHz, 13 kV having a pulse-like waveform having a pause period shown in FIG. The surface treatment of the workpiece 5 was performed in the same manner as in Evaluation 1 except that the surface treatment was performed.

このとき、被処理物5の水接触角が10°以下となるまで繰り返し表面処理を行った。   At this time, the surface treatment was repeatedly performed until the water contact angle of the workpiece 5 was 10 ° or less.

実施例1,2及び比較例1について、被処理物5の水接触角が10°以下になるまでに要した処理回数を表2に示す。   Table 2 shows the number of treatments required for Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 until the water contact angle of the workpiece 5 was 10 ° or less.

Figure 2005123159
Figure 2005123159

表2に示すように実施例1,2では1回の処理により水接触角が10°以下となったが、比較例1では水接触角が10°以下になるまで7回の処理を要し、実施例1,2では比較例1よりも迅速な表面処理が可能であるといえる。   As shown in Table 2, in Examples 1 and 2, the water contact angle became 10 ° or less by one treatment, but in Comparative Example 1, 7 treatments were required until the water contact angle became 10 ° or less. In Examples 1 and 2, it can be said that surface treatment can be performed more quickly than in Comparative Example 1.

(評価3)
実施例3について、大気圧下で窒素10リットル/分、酸素0.02リットル/分のプラズマ生成用ガスGを装置に導入し、電源6により電極3,4(23,24)間に図7に示す休止区間を有するパルス状波形を有する6kHz、デューティー比50%の電圧を印加し、活性種を含むプラズマ生成用ガスGのガス流を、100mm/sで搬送された被処理物5の表面に吹き付ける(噴射する)ことにより表面処理を行った。このとき印加電圧を8kV、9kV、10kVと変化させて、それぞれの場合について、表面処理を行った。被処理物5としては液晶用の素ガラスを用い、ガス吹出口2bと被処理物5との距離は5mmとした。液晶用素ガラスにおける処理前の水接触角は68°である。
(Evaluation 3)
In Example 3, a plasma generating gas G of 10 liters / minute of nitrogen and 0.02 liters / minute of oxygen was introduced into the apparatus under atmospheric pressure, and the power source 6 connected between the electrodes 3 and 4 (23, 24). The surface of the object to be processed 5 is transported at 100 mm / s by applying a voltage of 6 kHz having a pulse-like waveform having a pause period shown in FIG. Surface treatment was performed by spraying (spraying) on the surface. At this time, the applied voltage was changed to 8 kV, 9 kV, and 10 kV, and surface treatment was performed in each case. A raw glass for liquid crystal was used as the object 5 to be processed, and the distance between the gas outlet 2b and the object 5 was 5 mm. The water contact angle before treatment in the liquid crystal glass is 68 °.

処理後の被処理物5の水接触角の測定結果を、表3に示す。   Table 3 shows the measurement results of the water contact angle of the workpiece 5 after the treatment.

Figure 2005123159
Figure 2005123159

表3に示すように、実施例3においても、処理後の被処理物5の水接触角の低減量が大きく、処理効率が高いものであり、また印加電圧を上昇させることにより、水接触角を更に低減することができた。但し、印加電圧を10kVとすると、放電が安定しなくなり、表面処理を行うことができなくなった。   As shown in Table 3, also in Example 3, the reduction amount of the water contact angle of the treated object 5 after treatment is large, the treatment efficiency is high, and the water contact angle is increased by increasing the applied voltage. Can be further reduced. However, when the applied voltage was 10 kV, the discharge became unstable and the surface treatment could not be performed.

(評価4)
実施例1について、大気圧下で窒素10リットル/分、乾燥空気0.1リットル/分のプラズマ生成用ガスGを装置に導入し、中点接地型電源6A、6Bにより電極3,4間に図9に示す休止区間を有するパルス状波形を有する12kHz、デューティー比30%の電圧を印加し、活性種を含むプラズマ生成用ガスGのガス流を、50mm/sで搬送された被処理物5の表面に吹き付ける(噴射する)ことにより表面処理を行った。被処理物5としてはプリント基板用の樹脂フィルムを用い、ガス吹出口2bと被処理物5との距離は5mmとした。被処理物5はプラズマ処理後に、その表面にめっき処理を行い、その付着強度を測定した。その測定結果を表4に示す。
(Evaluation 4)
In Example 1, a plasma generating gas G of 10 liters / minute of nitrogen and 0.1 liters / minute of dry air was introduced into the apparatus under atmospheric pressure, and the electrodes 3 and 4 were placed between the grounded power sources 6A and 6B. 9 to which a voltage of 12 kHz having a pulse-like waveform having a pause period and a duty ratio of 30% is applied, and the gas flow of the plasma generating gas G containing active species is conveyed at 50 mm / s. Surface treatment was performed by spraying (spraying) the surface of the film. A resin film for a printed circuit board was used as the object to be processed 5, and the distance between the gas outlet 2 b and the object to be processed 5 was 5 mm. After the plasma treatment, the surface of the workpiece 5 was subjected to a plating treatment, and the adhesion strength was measured. The measurement results are shown in Table 4.

Figure 2005123159
Figure 2005123159

表4に示すように、実施例1におけるプラズマ処理は、被処理物5のメッキの付着強度が大きく増加させ、表面処理効率が高いものであり、めっきの信頼性を向上させることができた。   As shown in Table 4, the plasma treatment in Example 1 greatly increased the adhesion strength of the plating of the workpiece 5 and the surface treatment efficiency was high, and the plating reliability could be improved.

絶縁基材の一例を示すものであり、(a)は平面図、(b)は(a)の断面図である。An example of an insulating base material is shown, (a) is a top view, (b) is sectional drawing of (a). 絶縁基材の一例を示すものであり、(a)は平面図、(b)は(a)の断面図である。An example of an insulating base material is shown, (a) is a top view, (b) is sectional drawing of (a). 本発明の実施の形態の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態の他例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態の更に他例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the further another example of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態の更に他例を示すものであり、(a)は断面図、(b)は(a)のA−A断面図である。The other example of embodiment of this invention is shown, (a) is sectional drawing, (b) is AA sectional drawing of (a). 電極間に印加される電圧波形の一例を示すグラフである。It is a graph which shows an example of the voltage waveform applied between electrodes. 電極間に印加される電圧波形の他例を示すグラフである。It is a graph which shows the other example of the voltage waveform applied between electrodes. 電極間に印加される電圧波形の他例を示すグラフである。It is a graph which shows the other example of the voltage waveform applied between electrodes. (a)はプラズマ生成用ガスの流通方向と平行な方向に電極を並べて設けた場合の電気力線の方向を示す断面図、(b)はプラズマ生成用ガスの流通方向と交差する方向に電極を並べて設けた場合の電気力線の方向を示す断面図である。(A) is sectional drawing which shows the direction of a line of electric force at the time of arranging an electrode in the direction parallel to the distribution direction of plasma generation gas, (b) is an electrode in the direction which cross | intersects the distribution direction of plasma generation gas. It is sectional drawing which shows the direction of an electric force line at the time of providing side by side. (a)乃至(d)は、それぞれ複数の絶縁基材にて反応器を構成した例を示すものであり、(a)乃至(c)は平面図、(d)は側面図である。(A) thru | or (d) show the example which comprised the reactor by the some insulating base material, respectively, (a) thru | or (c) is a top view, (d) is a side view. 本発明の実施の形態の一例を示し、(a)(b)は概略図である。An example of an embodiment of the invention is shown, and (a) and (b) are schematic views. 本発明の実施の形態の一例を示し、(a)(b)は図12のA−A′の部分に相当する断面図である。An example of an embodiment of the present invention is shown, and (a) and (b) are cross-sectional views corresponding to the portion AA 'in FIG. 本発明の実施の形態の一例を示し、(a)は概略図、(b)(c)は断面図である。An example of embodiment of this invention is shown, (a) is a schematic diagram, (b) (c) is sectional drawing. 本発明の実施の形態の一例を示し、(a)(b)は一部の概略の断面図である。An example of embodiment of this invention is shown, (a) (b) is a partial schematic sectional drawing. 本発明の実施の形態の一例を示し、(a)は概略の回路図、(b)はユニットA、Bに印加される電圧の波形を示すグラフである。An example of embodiment of this invention is shown, (a) is a schematic circuit diagram, (b) is a graph which shows the waveform of the voltage applied to the units A and B. FIG. 本発明の実施の形態の一例を示す概略の回路図である。It is a schematic circuit diagram which shows an example of embodiment of this invention. 比較例1における装置構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the apparatus structure in the comparative example 1.

符号の説明Explanation of symbols

R 反応器
1 絶縁基材
2 貫通孔
3 電極
4 電極
5 被処理物
30 欠損部分
G プラズマ生成用ガス
R Reactor 1 Insulating substrate 2 Through hole 3 Electrode 4 Electrode 5 Object to be processed 30 Defect part G Plasma generating gas

Claims (26)

プラズマ生成用ガスを放電により活性化させ、この活性化されたプラズマ生成用ガスを被処理物に吹き付けるプラズマ処理装置において、一端側の開口からプラズマ生成用ガスが流入すると共に他端側の開口から活性化されたプラズマ生成用ガスが流出する複数の貫通孔と、各貫通孔内でそれぞれ放電を発生させるための電極とが設けられた絶縁基材からなる反応器を具備することを特徴とするプラズマ処理装置。   In a plasma processing apparatus in which a plasma generating gas is activated by discharge, and the activated plasma generating gas is sprayed on an object to be processed, the plasma generating gas flows in from one end side opening and from the other end side opening. A reactor comprising an insulating substrate provided with a plurality of through-holes through which activated plasma generating gas flows and electrodes for generating electric discharges in the respective through-holes is provided. Plasma processing equipment. 絶縁基材が平板状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the insulating base is formed in a flat plate shape. 電極が絶縁基材に埋設されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the electrode is embedded in an insulating base material. 電極が貫通孔内に露出されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the electrode is exposed in the through hole. 電極が貫通孔で露出されていないことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the electrode is not exposed through the through hole. 貫通孔内で電気力線がプラズマ生成用ガスの流通方向と交差する方向に発生するように電極を配設して成ることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the electrodes are arranged so that electric lines of force are generated in the through holes in a direction intersecting with a flow direction of the plasma generating gas. . 貫通孔内で電気力線がプラズマ生成用ガスの流通方向と平行な方向に発生するように電極を配設して成ることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   6. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein electrodes are arranged so that electric lines of force are generated in the through holes in a direction parallel to a flow direction of the plasma generating gas. . 隣り合う電極の間隔が0.01〜5mmであることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein an interval between adjacent electrodes is 0.01 to 5 mm. 貫通孔の開口形状が直径0.01〜15mmの円形状であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein an opening shape of the through hole is a circular shape having a diameter of 0.01 to 15 mm. 貫通孔の開口形状が短手寸法0.01〜15mmのスリット状であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   9. The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the through hole has a slit shape with a short dimension of 0.01 to 15 mm. 層状の電極を絶縁基材に形成すると共に貫通孔に合致する位置において電極に開口を形成し、隣り合う開口の間において電極に欠損部分が無いことを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The layered electrode is formed on the insulating substrate, and an opening is formed in the electrode at a position matching the through hole, and the electrode has no defect between adjacent openings. The plasma processing apparatus according to 1. 一対の層状の電極を絶縁基材に対向させて形成すると共に、ガスの流通方向において下流側の電極の周端部を上流側の電極の周端部よりも外側に突出させて成ることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   A pair of layered electrodes are formed so as to face the insulating base material, and the peripheral end of the downstream electrode protrudes outside the peripheral end of the upstream electrode in the gas flow direction. The plasma processing apparatus according to claim 1. 絶縁基材がセラミックスにて形成されていることを特徴とする請求項1乃至12のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the insulating base is made of ceramics. 絶縁基材がアルミナにて形成されていることを特徴とする請求項13に記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 13, wherein the insulating base is made of alumina. 休止区間を持つパルス状の電圧を電極に印加する電源を具備することを特徴とする請求項1乃至14のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, further comprising a power source that applies a pulsed voltage having a rest period to the electrode. 周波数が1Hz〜200kHzの電圧を電極に印加する電源を具備することを特徴とする請求項1乃至15のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, further comprising a power source that applies a voltage having a frequency of 1 Hz to 200 kHz to the electrode. デューティー比が0.01〜80%のパルス状の電圧を電極に印加する電源を具備することを特徴とする請求項1乃至16のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 16, further comprising a power source that applies a pulse voltage having a duty ratio of 0.01 to 80% to the electrode. 一対の電極を中点接地して成ることを特徴とする請求項1乃至17のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, wherein the pair of electrodes are grounded at a midpoint. 反応器に対して、希ガス、窒素、酸素、空気の少なくとも一つを含有するガス、またはこれらの二種以上の混合ガスを、プラズマ生成用ガスとして供給するガス供給手段を具備することを特徴とする請求項1乃至18のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   A gas supply means for supplying a gas containing at least one of a rare gas, nitrogen, oxygen and air, or a mixed gas of two or more thereof as a plasma generating gas to the reactor. The plasma processing apparatus according to claim 1. 絶縁基材を冷却する放熱器を具備することを特徴とする請求項1乃至19のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to claim 1, further comprising a radiator that cools the insulating base material. 二次電子が放出されやすい温度に絶縁基材を温度調整するための温度調整手段を用いて成ることを特徴とする請求項1乃至20のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   21. The plasma processing apparatus according to claim 1, further comprising temperature adjusting means for adjusting the temperature of the insulating substrate to a temperature at which secondary electrons are easily emitted. 全ての貫通孔に対してプラズマ生成用ガスをほぼ均一な流速で供給するためのガス均一化手段を設けて成ることを特徴とする請求項1乃至21のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 21, further comprising gas uniformizing means for supplying a plasma generating gas to all the through holes at a substantially uniform flow rate. 反応器を複数の絶縁基材を組み合わせて形成して成ることを特徴とする請求項1乃至22のいずれかに記載のプラズマ処理装置。   The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 22, wherein the reactor is formed by combining a plurality of insulating base materials. 請求項1乃至23のいずれかに記載のプラズマ処理装置に適用される反応器の製造方法であって、絶縁材料を成形した複数の開口を有する複数のシート材の間に、導電体材料を成形した導電体膜を、各シート材の開口が合致するように積層して、一体成形することにより、シート材にて絶縁基材を、導電体膜にて電極を、シート材の開口にて貫通孔をそれぞれ形成することを特徴とするプラズマ生成用の反応器の製造方法。   24. A reactor manufacturing method applied to the plasma processing apparatus according to claim 1, wherein a conductor material is formed between a plurality of sheet materials having a plurality of openings formed with an insulating material. The conductive film is laminated so that the opening of each sheet material matches and is integrally formed, so that the insulating substrate is penetrated by the sheet material, the electrode is penetrated by the conductive film, and the opening of the sheet material is penetrated A method for producing a reactor for generating plasma, wherein each hole is formed. 請求項1乃至23のいずれかに記載のプラズマ処理装置を用い、複数の各貫通孔の一端側から他端側へプラズマ生成用ガスを流通させると共に電極に電圧を印加して各貫通孔内で放電を発生させることにより、貫通孔内でプラズマを発生させてプラズマ生成用ガスを活性化させ、この活性化されたプラズマ生成用ガスを各貫通孔の他端側から被処理物の表面に噴射することを特徴とするプラズマ処理方法。   24. Using the plasma processing apparatus according to claim 1, a plasma generating gas is circulated from one end side to the other end side of each of the plurality of through holes, and a voltage is applied to the electrodes in each through hole. By generating a discharge, plasma is generated in the through holes to activate the plasma generating gas, and this activated plasma generating gas is injected from the other end of each through hole onto the surface of the object to be processed. And a plasma processing method. 被処理物が、フラットパネルディスプレイ用ガラス材、プリント配線基板又は樹脂フィルムであることを特徴とする請求項25に記載のプラズマ処理方法。   The plasma processing method according to claim 25, wherein the object to be processed is a glass material for a flat panel display, a printed wiring board, or a resin film.
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