JP2005114705A - レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法 - Google Patents

レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005114705A
JP2005114705A JP2003424263A JP2003424263A JP2005114705A JP 2005114705 A JP2005114705 A JP 2005114705A JP 2003424263 A JP2003424263 A JP 2003424263A JP 2003424263 A JP2003424263 A JP 2003424263A JP 2005114705 A JP2005114705 A JP 2005114705A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
plane
spheres
test lens
coordinate system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003424263A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Sato
勉 佐藤
Yukio Hagiwara
由起夫 萩原
Takanobu Shiokawa
孝紳 塩川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Pentax Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pentax Corp filed Critical Pentax Corp
Priority to JP2003424263A priority Critical patent/JP2005114705A/ja
Publication of JP2005114705A publication Critical patent/JP2005114705A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

【課題】 測定時に被検レンズを回転させることなく、被検レンズの偏心量を測定することのできるレンズの偏心測定装置及び測定方法を提供する。また、被検レンズの外径を測定し、外径から算出される中心軸と非球面の非球面軸又は球面の曲率中心との相対的な関係を求める。
【解決手段】 外形形状が真円である被検レンズを搭載し、固有座標系を有する柱状の被検レンズ支持手段と、固有座標系を特定するための固有座標特定手段と、被検レンズ上の任意の点の位置座標を測定する3次元位置座標測定手段と、3次元位置座標測定手段によって測定された位置座標を被検レンズ支持手段の固有座標系に変換し、変換後の位置座標に基づいて被検レンズの偏心量を算出する演算手段と、を備える。
【選択図】 図1

Description

本発明は、金型加工誤差や成型誤差などに起因する光学レンズの偏心量を測定する装置及び方法に関し、特に、両面又は片面が非球面であるレンズの偏心量を測定する偏心測定装置及び偏心測定方法に関する。
従来のレンズの偏心測定装置においては、被検レンズを搭載した支持台をその回転軸を中心として回転させつつ、振れ検出装置によって被検レンズの振れを測定していた。
特開平4−268433号公報 特開平7−229812号公報
上述のような回転式の偏心測定装置においては、被検レンズを回転させるための高精度な回転機構を必要とするため、装置が大型化せざるを得なかった。また、回転によって、被検レンズにガタや振れを生じやすくなるため、測定誤差が発生しやすかった。また、回転物の振れ量を連続的に検出するための振れ検出装置は、かなりの高分解能を有する必要があった。さらに、被検レンズを回転させて測定するため被検レンズの外径を測定することはできなかった。
上記問題点を解決するために、本発明の偏心測定装置においては、外形形状が真円である被検レンズを搭載し、固有座標系を有する柱状の被検レンズ支持手段と、固有座標系を特定するための固有座標特定手段と、被検レンズ上の任意の点の位置座標を測定する3次元位置座標測定手段と、3次元位置座標測定手段によって測定された位置座標を被検レンズ支持手段の固有座標系に変換し、変換後の位置座標に基づいて被検レンズの偏心量を算出する演算手段と、を備えることを特徴としている。
本発明の偏心測定方法は、固有座標特定手段によって特定される固有座標系を有する柱状の被検レンズ支持手段に搭載された外形形状が真円の被検レンズ上の任意の点の位置座標を測定する3次元位置座標測定ステップと、3次元位置座標測定ステップにおいて測定した位置座標を被検レンズ支持手段の固有座標系に変換し、変換後の位置座標に基づいて被検レンズの偏心量を算出する演算ステップと、を備えることを特徴としている。
上記固有座標特定手段は、被検レンズ支持手段の側面上において一直線上に位置しないように配置された3個の球体から構成されることが好ましい。
上記固有座標特定手段は、被検レンズ支持手段の側面上に配置された2個の球体と、側面において2個の球体の曲率中心を結ぶ線と垂直でなく交差する平面と、から構成することもできる。
上記固有座標特定手段は、被検レンズ支持手段の側面において互いに交差するように設けられた二つの平面と、側面において二つの平面の交線上にのらないように配置された1個の球体と、から構成するとよい。
上記固有座標特定手段は、被検レンズ支持手段の側面において互いに交差するように設けられた第一平面及び第二平面と、側面において二つの平面の交線と垂直でなく交差する第三平面と、から構成されることが好ましい。
上記被検レンズ支持手段は、所定の距離を置いて第三平面と平行に配置された第四平面を有し、被検レンズの位置座標は、第一平面、第二平面及び第三平面から構成される固有座標特定手段、並びに、第一平面、第二平面及び第四平面から構成される固有座標特定手段によって特定される二通りの固有座標系に変換することができる。
上記固有座標特定部は同一外径の3個の球体を有し3個の球体を被検レンズを囲むようにして枠体状部材の内部に配置し、3個の球体の少なくとも一つを被検レンズに押しつけることにより、3個の球体及び被検レンズを互いに固定することが好ましい。
上記固有座標特定手段は、被検レンズの側面に押し当てられる2個の球体と、交差する2つの面と、から構成され、2つの面には被検レンズの側面が同時に押し当てられるとよい。このとき、2個の球体及び交差する2つの面を被検レンズを囲むようにして枠体状部材の内部に配置し、2個の球体を被検レンズに押しつけることにより、2個の球体、被検レンズ及び交差する2つの面を互いに固定することが好ましい。
上記固有座標特定手段は被検レンズ支持手段の側面上に配置された球体及び円筒部材から構成され、球体の曲率中心は円筒の中心軸上にないことが好ましい。
上記固有座標特定手段は、被検レンズ支持手段の側面の一つを含む平面と、側面とは別個の側面上に配置された円筒部材と、から構成され、円筒部材の中心軸は平面に直交しないで交差するものとすることができる。
上記固有座標特定手段は、互いの中心軸が交差しないように被検レンズ支持手段の側面上に配置された二つの円筒部材から構成されるとよい。
上記固有座標特定手段は、互いの中心軸が交差するように被検レンズ支持手段の側面上に配置された二つの円筒部材から構成されることが好ましい。
本発明によると、測定時に被検レンズを回転させることなく、被検レンズの偏心量を測定することのできるレンズの偏心測定装置及び測定方法を提供することができる。また、被検レンズを回転させることがないため、外径を測定でき、その外径から算出される中心軸と非球面の非球面軸又は球面の曲率中心との相対的な位置関係を求めることができる。
以下、本発明に係る実施形態を図面を参照しつつ詳しく説明する。
<第1実施形態> (図1)
第1実施形態に係る偏心測定装置は、外形形状が半径Rの真円である被検レンズ50を搭載可能な外形形状が六面体(四角柱)の剛体からなる被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)10及び3次元位置座標測定装置(3次元位置座標測定手段)(不図示)を備える。被検レンズ支持台10上に固定した被検レンズ50は、3次元位置座標測定装置によって、その表面の位置座標を測定可能である。この位置座標は、3次元位置座標測定装置の直交座標系(装置座標系)によって規定される。
被検レンズ支持台10の上面11の中央部から底面12の中央部にかけては、被検レンズ50を搭載するための貫通穴部(被検レンズ収容部)13が設けられている。被検レンズ50は、その偏心測定の際には、貫通穴部13内に固定される。
被検レンズ支持台10の側面14には、その長手方向に沿って2個の硬性の球体20、21が接着固定されている。側面14と隣り合う側面15には、球体22が接着固定されている。球体20、21、22(固有座標特定手段)はともに真球であって、そのおよそ半分の体積が被検レンズ支持台10の内部に入るように配置されている。
このように配置された球体20、21、22を用いて、被検レンズ支持台10固有の固有座標系(XYZ座標系。以下これを支持座標系と呼ぶ。)を特定することができる。この座標系は、被検レンズ支持台10を反転させて被検レンズ50の表面又は裏面の座標位置を測定する場合のいずれの場合においても測定することができる。よって、演算手段(不図示)を用いて、この支持座標系における位置関係を求め、比較することにより、被検レンズ50の表面と裏面との相対的な位置関係を算出することが可能となる。また、支持座標系の特定においては、球体20、21、22を被検レンズ50に接触させる必要がないため、球体20、21、22を被検レンズ50に押し当て、または、固定することによって被検レンズ50に傷を付けるおそれがない。さらに、被検レンズ50の裏面を測定するために反転する場合においても、被検レンズ50を支持した被検レンズ支持台10を反転させれば済むため、被検レンズ50に傷を付けるおそれがない。なお、球体20、21、22は、一直線上に位置しなければ、上述のような側面14に2個、側面15に1個という配置でなくてもかまわない。
支持座標系は以下のように定める。まず、3次元位置座標測定装置によって、球体20、21、22それぞれについて、表面上の少なくとも任意の4点以上の位置座標を測定する。この4点以上の座標によって、装置座標系における球体20、21、22の曲率中心20a、21a、22aを求めることができる。こうして求めた曲率中心のうち、曲率中心20a及び21aを通る線を支持座標系のX軸とする。次に、曲率中心22aからこのX軸へ下ろした垂線をY軸とする。さらに、これらX軸及びY軸の交点を原点Oとし、その原点OをとおりX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。このように支持座標系を規定すると、装置座標系における位置座標を求めれば、演算手段を用いて座標変換することによって、支持座標系における位置座標を算出することができる。
被検レンズ50の表面の座標位置は以下のように測定する。まず、3次元位置座標測定装置によって、被検レンズ50表面の任意の点の装置座標系における位置座標を測定する。この測定結果について、装置座標系から支持座標系への座標変換を施すことによって、支持座標系における位置座標を算出することができる。なお、位置座標の測定の間、被検レンズ支持台10は固定手段(不図示)によって、3次元位置座標測定装置に対して固定されている。
次に、被検レンズ50の裏面の座標位置を測定する。底面12が上面となり上面11が底面となるように被検レンズ支持台10を反転する。この状態で、表面の測定と同様に被検レンズ50裏面の任意の点の位置座標を求め、装置座標系から支持座標系への座標変換を施すことによって、支持座標系における位置座標を算出する。なお、位置座標の測定の間、被検レンズ支持台10は固定手段によって装置に固定されている。
以上のように測定した被検レンズ50の表面及び裏面上の任意の点の位置座標によって、表面及び裏面それぞれについて、演算手段を用いて非球面側では非球面軸を、球面側では曲率中心を算出することができる。こうして求めた非球面軸及び曲率中心(又は非球面軸)を演算手段を用いて比較、演算することによって、これらの相対的な位置関係(偏心量)を求めることができる。この比較にあたっては、被検レンズ50表面測定時の支持座標系と、被検レンズ50裏面測定時の支持座標系との相対関係をあらかじめ求めて、これを適用して比較することとしている。
第1実施形態の偏心測定装置においては、被検レンズ50表面又は裏面の位置座標測定中は、被検レンズ支持台10は固定されており、従来の装置のように、被検レンズ50の載置台をその鉛直方向軸を中心として回転させつつ、被検レンズ50表面の振れを測定するものではない。このため、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
なお、以上の説明においては、被検レンズ支持台10を六面体形状としたが、その外周面において球体20、21及び22が一直線上に位置しないように配置できれば異なる外形形状であってもよく、例えば、円柱形状、角柱形状、円錐台形状、角錐台形状とすることができる。
<第2実施形態> (図2)
本発明の第2実施形態について説明する。第2実施形態においては、第1実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として、球体20、21、及び、第1実施形態の球体22に代えて側面15を用いている。
支持座標系の設定は、まず、第1実施形態と同様に曲率中心20a及び21aを通る線をX軸とする。つづいて、このX軸と側面15との交点を原点Oとし、その原点OをとおりX軸に垂直で側面15に含まれる直線をY軸とする。そして、原点OをとおりX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。ここで、側面15の面の特定はその面上の任意の3点以上を3次元位置座標測定装置で測定することによって行うことができる。もちろん、Y軸は、曲率中心21aを通りX軸に垂直で側面15に平行な直線とすることもできる。
このように支持座標系を設定することによって、第1実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
以上の説明においては、被検レンズ支持台10を六面体形状としたが、その外周面において球体20及び21を配置でき、球体20及び21の曲率中心20a及び21aを結ぶ線が平面としての側面15と垂直でなく交差するものであれば異なる外形形状であってもよい。なお、その他の構成、作用、効果は第1実施形態と同様である。
<第3実施形態> (図3)
本発明の第3実施形態について説明する。第3実施形態においては、第1乃至第2実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として、側面14、側面15、及び、側面14に対向する側面16に接着固定された球体23を用いている。球体23は真球であって、そのおよそ半分の体積が被検レンズ支持台10の内部に入るように配置されている。
支持座標系の設定は、まず、側面14及び側面15の交線を支持座標系のX軸とする。つづいて、球体23の曲率中心23aからX軸へ下ろした垂線をY軸とする。さらに、X軸及びY軸の交点を原点Oとし、その原点OをとおりX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。なお、球体23は、側面14及び側面15の交線上には存在していない。
このように支持座標系を設定することによって、第1、2実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
以上の説明においては、被検レンズ支持台10を六面体形状としたが、その外周面において、互いに交差する二つの平面として側面14及び15を設け、かつ、側面14及び15の交線上に存在しないように球体23を配置できれば異なる外形形状であってもよい。なお、その他の構成、作用、効果は第1、2実施形態と同様である。
<第4実施形態> (図4)
本発明の第4実施形態について説明する。第4実施形態においては、第1乃至第3実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として、側面14(第一平面)、側面15(第二平面)、及び、側面15に対向する側面17(第三平面)の3面を用いている。なお、側面17に代えて、側面14に対向する側面16を用いても良い。
支持座標系の設定は、まず、側面14及び側面15の交線を支持座標系のX軸とする。つづいて、X軸と側面17との交点を原点Oとし、この原点Oを通りX軸に垂直な直線のうち、側面15に平行な直線をY軸とする。さらに、X軸及びY軸の交点を原点Oとし、その原点OをとおりX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。なお、側面14、15及び17は、互いに直交していなくても良い。
このように支持座標系を設定することによって、第1乃至第3実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
以上の説明においては、被検レンズ支持台10を六面体形状としたが、その外周面において、互いに交差する二つの平面としての側面14及び側面15を設け、2つの平面の作る交線と垂直でなく交差する平面としての側面17を配置することができれば異なる外形形状であってもよい。なお、その他の構成、作用、効果は第1乃至第3実施形態と同様である。
<第5実施形態> (図5)
本発明の第5実施形態について説明する。第5実施形態においては、第1乃至第4実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として、側面14(第一平面)、側面15(第二平面)、及び、上面11(第三平面)を用いている。
支持座標系の設定は、まず、側面14及び15の交線を支持座標系のX軸とする。つづいて、X軸と上面11との交点を原点Oとし、この原点Oを通りX軸に垂直な直線のうち、側面15の面内に存在する直線をY軸とする。さらに、X軸及びY軸の交点を原点Oとし、その原点OをとおりX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする(図5(a))。なお、側面14、15及び上面11は、互いに直交していなくても良い。
第5実施形態においては、被検レンズ50の裏面測定のために図5(b)のように被検レンズ支持台10を反転させると、支持座標系の設定で用いていた上面11が裏側に回ってしまうため、3次元位置座標測定装置は上面11表面に接触できなくなり、上面11を特定することができない。そこで、裏面測定の際には、上面11に代えて、これに平行に対向する底面12面(第四平面)を用いる。
上面11と底面12は予め定めた間隔dを置いて平行に配置してあるため、裏面測定時の支持座標系X’−Y’−Z’(原点O’)と表面測定時の支持座標系X−Y−Zとが特定できれば、これらを互いに変換することが可能である。このため、二通りの固有座標系によって、被検レンズ50の表面と裏面の位置座標を測定しても、同一の支持座標系内で比較することが可能となる。
このように支持座標系を設定することによって、第1乃至第3実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
以上の説明においては、被検レンズ支持台10を六面体形状としたが、その外周面において、互いに交差する二つの平面としての側面14及び側面15を設け、二つの平面の作る交線と垂直でなく交差する平面としての上面11を配置することができれば異なる外形形状であってもよい。なお、その他の構成、作用、効果は第1乃至第4実施形態と同様である。
<第6実施形態>(図6)
図6に示す第6実施形態においては、被検レンズ50の外径を測定することができ、これに基づいて中心軸を算出することができる。さらに、この中心軸をX軸、Y軸、Z軸のいずれかに設定した座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面について非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の外径から算出した中心軸と、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)との相対的な位置関係を求めることができる。
被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)90は、横枠91、93、縦枠92、94からなる枠体状の部材であって、その内部に、外形形状が真円である被検レンズ50、及び、外径が同一で既知の真球である3つの球体60、61、62が配置される。被検レンズ支持台90の4つの枠91、92、93及び94のうちの一つの横枠91の中央には、ねじ70がねじ込まれた貫通したねじ穴部98が設けられている。被検レンズ支持台90の内部に突出したねじ70の先端には、球体62を被検レンズ支持台90の内方へ押圧するための板状の押さえ部材71が溶融固定されている。
被検レンズ支持台90の上面95及び底面96は開放されており、この両面側の外部から球体60、61及び62に触れることができる。
この被検レンズ支持台90内に被検レンズ50、及び、被検レンズ50を取り囲むように球体60、61、62をそれぞれ配置して、被検レンズ支持台90固有の固有座標系(XYZ座標系。以下これを支持座標系と呼ぶ。)を特定することができる。とくに、球体60、61、62として同一外径の球体を選択すると、X軸、Y軸、Z軸のいずれかひとつの軸を被検レンズ50の外径から特定される中心軸に一致させることができる。この座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の表面と裏面との相対的な位置関係を算出することができるだけでなく、被検レンズ50の外径から算出した中心軸と、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)との相対的な位置関係を求めることもできる。
支持座標系は以下のように定める。まず、被検レンズ支持台90を平面台(不図示)に載置し、この内部に球体60、61、62で囲むように被検レンズ50を配置する。ここでねじ70をねじ穴部98に螺挿して球体62に押さえ部材71を押しあてることによって、球体62を被検レンズ50に、被検レンズ50を球体60及び球体61に、球体60及び球体61を被検レンズ支持台90の内壁面97に順次押圧して固定する。つづいて、3次元位置座標測定装置によって、球体60、61、62それぞれについて、表面上の少なくとも任意の4点以上の位置座標を測定する。この4点以上の座標によって、この装置の座標系(装置座標系)における球体60、61、62それぞれの曲率中心60a、61a、62aを求めることができる。球体60、61、62は同一外径を有する真球であり、被検レンズ50は外形形状が真円であるため、曲率中心60a、61a、62aの位置座標から被検レンズ50の外径を求めることができる。また、被検レンズ50、球体60、61、62の固定を、これらを平面台上に置いてから行うため、曲率中心60a、61a、62aは同一平面上に存在することになる。そこで、曲率中心60a、61a、62aを通る平面に対して垂直であって、被検レンズ50の外径から求められる中心を通る直線をZ軸とすると(図6(b))、Z軸は曲率中心60a、61a、62aから等距離にある直線となる。なお、この直線をX軸又はY軸と設定してもよい。
次に、曲率中心61aからこのZ軸へ下ろした垂線をX軸(図6(a)、図6(b))とする。さらに、これらX軸及びZ軸の交点を原点Oとし、その原点OをとおりX軸及びZ軸に垂直な直線をY軸とする。このように支持座標系を規定すると、装置座標系における位置座標を求めれば、演算手段を用いて座標変換することによって、支持座標系における位置座標を算出することができる。なお、X軸は、曲率中心60a又は62aからこのZ軸へ下ろした垂線としてもよい。
支持座標系における被検レンズ50の表面の位置座標は、上述の第1〜第5実施形態と同様に、まず3次元位置座標測定装置によって、被検レンズ50表面の任意の点の装置座標系における位置座標を測定し、この測定結果について、装置座標系から支持座標系への座標変換を施すことによって算出することができる。
被検レンズ50の裏面の位置座標の測定は、底面96が上側となり上面95が底側となるように被検レンズ支持台90を反転した状態で、表面の測定と同様に被検レンズ50裏面の任意の点の位置座標を求め、装置座標系から支持座標系への座標変換を施すことによって算出する。
以上のように測定した被検レンズ50の表面及び裏面上の任意の点の位置座標を用いて、上述の第1〜第5実施形態と同様に、表面及び裏面それぞれについて、演算手段を用いて非球面側では非球面軸を、球面側では曲率中心を算出することができる。こうして求めた非球面軸及び曲率中心(又は非球面軸)を演算手段を用いて比較、演算することによって、これらの相対的な位置関係(偏心量)を求めることができる。この比較にあたっては、被検レンズ50表面測定時の支持座標系と被検レンズ50の裏面測定時の支持座標系との相対関係をあらかじめ求めてこれを適用して比較することとしている。
さらに、第6実施形態においては、支持座標系のZ軸と、被検レンズ50の外周面から求められる中心軸とが一致しているため、この中心軸と、上述の演算で求めた非球面軸又は曲率中心との相対的な位置関係を容易に求めることができる。
上述の説明では、ねじ70を横枠91に設けたねじ穴部98に螺挿することによって球体60、61、62及び被検レンズ50の位置を固定していたが、ねじ70及びねじ穴部98に代えて横枠91に固定したバネを用いて球体62を内方に押しつけることにより、球体60、61、62及び被検レンズ50の位置を固定することとしてもよい。
なお、その他の構成、作用、効果は第1乃至第5実施形態と同様である。
<第7実施形態>(図7)
図7に示す第7実施形態においては、被検レンズ50の外径を測定することができ、これに基づいて中心軸を算出することができる。さらに、この中心軸をX軸、Y軸、Z軸のいずれかに設定した座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面について非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の外径から算出した中心軸と、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)との相対的な位置関係を求めることができる。
被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)100は、六面体の側面の一つをその鉛直方向直交断面(鉛直方向を直交する断面)がV字形状となるように切り欠いた部材である。被検レンズ支持台100の上面101と下面102は平行であり、V字形状をなす2つの面103、104の交線110は、上面101及び下面102の両方に垂直である。
このような形状の被検レンズ支持台100、外形形状が半径Rの真円である被検レンズ50、及び、半径がそれぞれr1、r2である真球である2つの球体80、81を用いて被検レンズ支持台100固有の固有座標系(XYZ座標系。以下これを支持座標系と呼ぶ。)を特定することができる。この支持座標系では、X軸、Y軸、Z軸のいずれかひとつの軸を被検レンズ50の外径から特定される中心軸に一致させることができる。この座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の表面と裏面との相対的な位置関係を算出することができるだけでなく、被検レンズ50の外径から算出した中心軸と、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)との相対的な位置関係を求めることもできる。なお、球体80、81の半径r1、r2は異なるものとしているが同一であってもよい。
支持座標系は以下のように定める。まず、被検レンズ50の外周面50aに球体80、球体81、面103及び104を同時に押し当てる。このとき、外周面50aに対する球体80及び球体81の位置は任意に決めることができる。ここで、被検レンズ支持台100、被検レンズ50、球体80及び81を枠体状部材(不図示)内に配置して、その枠に設けた二つのねじ穴部にそれぞれねじを螺挿して、第6実施形態と同様に、球体80及び球体81を被検レンズ50に押し当てることによって、被検レンズ50、球体80、81、及び、被検レンズ支持台100を固定することが好ましい。
つづいて、3次元位置座標測定装置によって、球体80、81それぞれについて、表面上の少なくとも任意の4点以上の位置座標を測定する。この4点以上の座標によって、この装置の座標系(装置座標系)における球体80、81の曲率中心80a、81aを求めることができる。
ここで、図7(b)のように被検レンズ支持台100を上から見たときの曲率中心80aを中心とする半径r1+Rの円と、同じく曲率中心81aを中心とする半径r2+Rの円との2つの交点のうち、交線110に近い側の点を通り、かつ、上面101に垂直な直線(交線110に平行な直線)をZ軸とする(図7(a))。球体80、81は真球であって、被検レンズ50は外形形状が真円であるため、曲率中心80a、81aの位置座標から被検レンズ50の外径を求めることができ、Z軸は被検レンズ50の外周面から求められる中心軸と一致する。なお、半径r1+Rの円と曲率中心81aを中心とする半径r2+Rの円との2つの交点のうち、交線110に近い側の点を通り、かつ、上面101に垂直な直線を、X軸又はY軸と設定してもよい。
次に、曲率中心81aからこのZ軸へ下ろした垂線をX軸(図7(a)、図7(b))とする。さらに、これらX軸及びZ軸の交点を原点Oとし、その原点OをとおりX軸及びZ軸に垂直な直線をY軸とする。このように支持座標系を規定すると、装置座標系における位置座標を求めれば、演算手段を用いて座標変換することによって、支持座標系における位置座標を算出することができる。なお、X軸は、曲率中心80aからこのZ軸へ下ろした垂線としてもよい。
支持座標系における被検レンズ50の表面の位置座標は、上述の第1〜第5実施形態と同様に、まず3次元位置座標測定装置によって、被検レンズ50表面の任意の点の装置座標系における位置座標を測定し、この測定結果について、装置座標系から支持座標系への座標変換を施すことによって算出することができる。
被検レンズ50の裏面の位置座標の測定は、下面102が上側となり上面101が底側となるように被検レンズ支持台100を反転した状態で、表面の測定と同様に被検レンズ50裏面の任意の点の位置座標を求め、装置座標系から支持座標系への座標変換を施すことによって算出する。
以上のように測定した被検レンズ50の表面及び裏面上の任意の点の位置座標を用いて、上述の第1〜第5実施形態と同様に、表面及び裏面それぞれについて、演算手段を用いて非球面側では非球面軸を、球面側では曲率中心を算出することができる。こうして求めた非球面軸及び曲率中心(又は非球面軸)を演算手段を用いて比較、演算することによって、これらの相対的な位置関係(偏心量)を求めることができる。この比較にあたっては、被検レンズ50表面測定時の支持座標系と被検レンズ50裏面測定時の支持座標系との相対関係をあらかじめ求めてこれを適用して比較することとしている。
さらに、第7実施形態においては、支持座標系のZ軸と、被検レンズ50の外周面から求められる中心軸とが一致しているため、この中心軸と、上述の演算で求めた非球面軸又は曲率中心との相対的な位置関係を容易に求めることができる。
なお、その他の構成、作用、効果は第1乃至第6実施形態と同様である。
<第8実施形態> (図8)
本発明の第8実施形態について説明する。第8実施形態においては、第1実施形態乃至第7実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として球体120及び円筒(円柱)部材121を用いている。
被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)130は、六面体の側面のうちの一面133をその水平方向直交断面がV字形状となるように切り欠いた部材である。この側面133には円筒部材121が押し当てられ、側面133に対向する側面134には、その中心120aが軸線121a上にはない球体120が押し当てられている。なお側面133は、その水平方向直交断面がV字形状でなくて、単に平面であって、その平面133に円筒部材121が接着固定されているのであっても良い。
このように配置した被検レンズ支持台130、真球である球体120、及び円筒部材121を用いて被検レンズ支持台130固有の固有座標系(XYZ座標系。以下これを支持座標系と呼ぶ。)を特定することができる。この座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の表面と裏面との相対的な位置関係を算出することができる。
支持座標系の設定は以下のように行う。まず円筒部材121の中心軸121aをX軸とし、球体120の中心120aから軸線121aに下ろした直線をY軸とする。X軸とY軸との交点が原点Oとなる。その原点OをとおりX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。なお、中心軸121aの特定は円筒部材121の外周面121b上の任意の5点以上を3次元位置座標測定装置で測定することによって行うことができる。
このように支持座標系を設定することによって、第1乃至第7実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
なお、その他の構成、作用、効果は第1実施形態乃至第7実施形態と同様である。
<第9実施形態> (図9)
本発明の第9実施形態について説明する。第9実施形態においては、第1実施形態乃至第8実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として平面140及び円筒(円柱)部材141を用いている。
被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)150は、六面体の側面のうちの一面153をその水平方向直交断面がV字形状となるように切り欠いた部材である。被検レンズ支持台150の上面151と下面152は平行である一方、平面140の一部を構成する側面154は側面153と直交していない。側面153には円筒部材141が押し当てられている。
このように配置した被検レンズ支持台150、側面154を含む平面140、及び円筒部材141を用いて被検レンズ支持台150固有の固有座標系(XYZ座標系。以下これを支持座標系と呼ぶ。)を特定することができる。この座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の表面と裏面との相対的な位置関係を算出することができる。
支持座標系の設定は以下のように行う。まず平面140と円筒部材141の中心軸141aとの交点を原点Oとする。次に、中心軸141aを平面140に対して射影した直線をX軸とする。さらに、原点Oを通り平面140に直交する直線をY軸とし、原点Oを通りX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。なお、中心軸141aの特定は円筒部材141の外周面141b上の任意の5点以上を3次元位置座標測定装置で測定することによって行うことができる。
このように支持座標系を設定することによって、第1乃至第8実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
なお、その他の構成、作用、効果は第1実施形態乃至第8実施形態と同様である。
<第10実施形態> (図10)
本発明の第10実施形態について説明する。第10実施形態においては、第1実施形態乃至第9実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として二つの円筒(円柱)部材160、161を用いている。
被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)170は、六面体の側面のうちの対向する二つの面173、174をそれぞれ水平方向直交断面がV字形状となるように切り欠いた部材である。被検レンズ支持台170の上面171と下面172は平行だが側面173と側面174は平行ではなく、かつ、側面173及び側面174それぞれに押し当てられた円筒部材160の中心軸160aと円筒部材161の中心軸161aは交差していない。
このように配置した被検レンズ支持台170、円筒部材160、及び円筒部材161を用いて被検レンズ支持台170固有の固有座標系(XYZ座標系。以下これを支持座標系と呼ぶ。)を特定することができる。この座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の表面と裏面との相対的な位置関係を算出することができる。
支持座標系の設定は以下のように行う。まず、上述のように交差することのない中心軸160aと中心軸161aの距離が最も小さくなる箇所を算出し、このときの中心軸160a上の点及び中心軸161a上の点の一方を原点Oとする。図10に示す本実施形態においては、中心軸160aと中心軸161aの距離は、中心軸160a上の点160cと中心軸161a上の点161cとを結ぶときに最も小さくなる。本実施形態では点161cを原点Oとするが、点160cを原点とすることもできる。次に、点160cと点161cを結ぶ直線をX軸とし、中心軸161aをY軸とする。最後に、原点Oを通りX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。なお、円筒部材160の中心軸160a及び円筒部材161の中心軸161aは、円筒部材160の外周面160b及び円筒部材161の外周面161b上の任意の5点以上をそれぞれ3次元位置座標測定装置で測定することによって求める。
このように支持座標系を設定することによって、第1乃至第9実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
なお、その他の構成、作用、効果は第1実施形態乃至第9実施形態と同様である。
<第11実施形態> (図11)
本発明の第11実施形態について説明する。第11実施形態においては、第1実施形態乃至第10実施形態と同じ部材については同じ参照符号を使用する。支持座標系の特定においては、固有座標特定手段として二つの円筒(円柱)部材180、181を用いている。
被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)190は、六面体の側面のうちの対向する二つの面193、194をそれぞれ水平方向直交断面がV字形状となるように切り欠いた部材である。被検レンズ支持台190の上面191と下面192は平行だが側面193と側面194は平行ではない。側面193及び側面194それぞれに押し当てられた円筒部材180及び円筒部材181の中心軸180a及び中心軸181aは交差している。
このように配置した被検レンズ支持台190、円筒部材180、及び円筒部材181を用いて被検レンズ支持台190固有の固有座標系(XYZ座標系。以下これを支持座標系と呼ぶ。)を特定することができる。この座標系において、被検レンズ50の表面及び裏面それぞれの非球面軸(又は曲率中心)を算出すると、被検レンズ50の表面と裏面との相対的な位置関係を算出することができる。
支持座標系の設定は以下のように行う。まず、中心軸180aと中心軸181aの交点を原点Oとし、中心軸180aと中心軸181aの一方をY軸とする。図11に示す本実施形態においては中心軸180aをY軸としているが、中心軸181aをY軸とすることもできる。次に、原点Oを通り、かつ、中心軸180a及び中心軸181aに直交する直線をX軸とする。最後に、原点Oを通りX軸及びY軸に垂直な直線をZ軸とする。なお、円筒部材180の中心軸180a及び円筒部材181の中心軸181aは、円筒部材180の外周面180b及び円筒部材181の外周面181b上の任意の5点以上をそれぞれ3次元位置座標測定装置で測定することによって求める。
このように支持座標系を設定することによって、第1乃至第10実施形態の偏心測定装置と同様に、被検レンズ50が動くことによるガタや振れといった測定誤差要因を排除することができる。
なお、その他の構成、作用、効果は第1実施形態乃至第10実施形態と同様である。
本発明について上記実施形態を参照しつつ説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、改良の目的または本発明の思想の範囲内において改良または変更が可能である。
本発明の第1実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図である。 本発明の第2実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図である。 本発明の第3実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図である。 本発明の第4実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図である。 本発明の第5実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図であり、(a)は被検レンズの表面測定時の被検レンズ支持台の構成を示し、(b)は被検レンズの裏面測定時の被検レンズ支持台の構成を示す。 本発明の第6実施形態に係る被検レンズ支持台内に被検レンズ及び球体が配置された状態を示す図であり、(a)は上からみた平面図、(b)は(a)のVIB−VIB線に沿う断面図である。 (a)は本発明の第7実施形態に係る被検レンズ支持台に被検レンズを介して球体が押しつけられている状態を示す斜視図であり、(b)は(a)を上から見た平面図である。 本発明の第8実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図である。 (a)は本発明の第9実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図であり、(b)は(a)を上から見た平面図である。 本発明の第10実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図である。 本発明の第11実施形態に係る被検レンズ支持台の概略構成図である。
符号の説明
10 被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)
11 上面(固有座標特定手段)
12 底面
13 貫通穴部(被検レンズ収容部)
14 側面(固有座標特定手段)
15 側面(固有座標特定手段)
16 側面(固有座標特定手段)
17 側面(固有座標特定手段)
20 球体
21 球体(固有座標特定手段)
22 球体(固有座標特定手段)
23 球体(固有座標特定手段)
20a 曲率中心
21a 曲率中心
22a 曲率中心
23a 曲率中心
50 被検レンズ
60a 曲率中心
61a 曲率中心
62a 曲率中心
80a 曲率中心
81a 曲率中心
90 被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)
100 被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)
101 上面
102 下面
110 交線
120 球体(固有座標特定手段)
121 円筒部材(固有座標特定手段)
130 被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)
140 平面(固有座標特定手段)
141 円筒部材(固有座標特定手段)
150 被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)
160 円筒部材(固有座標特定手段)
161 円筒部材(固有座標特定手段)
170 被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)
180 円筒部材(固有座標特定手段)
181 円筒部材(固有座標特定手段)
190 被検レンズ支持台(被検レンズ支持手段)
X−Y−Z 固有座標系
X’−Y’−Z’固有座標系

Claims (26)

  1. 外形形状が真円である被検レンズを搭載し、固有座標系を有する柱状の被検レンズ支持手段と、
    前記固有座標系を特定するための固有座標特定手段と、
    前記被検レンズ上の任意の点の位置座標を測定する3次元位置座標測定手段と、
    前記3次元位置座標測定手段によって測定された前記位置座標を前記被検レンズ支持手段の前記固有座標系に変換し、変換後の位置座標に基づいて前記被検レンズの偏心量を算出する演算手段と、
    を備えることを特徴とするレンズの偏心測定装置。
  2. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面上において一直線上に位置しないように配置された3個の球体から構成される請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  3. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された2個の球体と、前記側面において前記2個の球体の曲率中心を結ぶ線と垂直でなく交差する平面と、から構成される請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  4. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面において互いに交差するように設けられた二つの平面と、前記側面において前記二つの平面の交線上にのらないように配置された1個の球体と、から構成される請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  5. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面において互いに交差するように設けられた第一平面及び第二平面と、前記側面において前記二つの平面の交線と垂直でなく交差する第三平面と、から構成される請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  6. 前記被検レンズ支持手段は、所定の距離を置いて前記第三平面と平行に配置された第四平面を有し、前記被検レンズの位置座標は、前記第一平面、前記第二平面及び前記第三平面から構成される固有座標特定手段、並びに、前記第一平面、前記第二平面及び前記第四平面から構成される固有座標特定手段によって特定される二通りの固有座標系に変換されうる請求項5記載のレンズの偏心測定装置。
  7. 前記固有座標特定部は同一外径の3個の球体を有し前記3個の球体を前記被検レンズを囲むようにして枠体状部材の内部に配置し、前記3個の球体の少なくとも一つを前記被検レンズに押しつけることにより、前記3個の球体及び前記被検レンズを互いに固定する請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  8. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズの側面に押し当てられる2個の球体と、交差する2つの面と、から構成され、前記2つの面には前記被検レンズの側面が同時に押し当てられる請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  9. 前記2個の球体及び前記交差する2つの面を前記被検レンズを囲むようにして枠体状部材の内部に配置し、前記2個の球体を前記被検レンズに押しつけることにより、前記2個の球体、前記被検レンズ及び前記交差する2つの面を互いに固定する請求項8記載のレンズの偏心測定装置。
  10. 前記固有座標特定手段は前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された球体及び円筒部材から構成され、前記球体の曲率中心は前記円筒の中心軸上にない請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  11. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面の一つを含む平面と、前記側面とは別個の側面上に配置された円筒部材と、から構成され、前記円筒部材の中心軸は前記平面に直交しないで交差する請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  12. 前記固有座標特定手段は、互いの中心軸が交差しないように前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された二つの円筒部材から構成される請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  13. 前記固有座標特定手段は、互いの中心軸が交差するように前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された二つの円筒部材から構成される請求項1記載のレンズの偏心測定装置。
  14. 固有座標特定手段によって特定される固有座標系を有する柱状の被検レンズ支持手段に搭載された外形形状が真円の被検レンズ上の任意の点の位置座標を測定する3次元位置座標測定ステップと、
    前記3次元位置座標測定ステップにおいて測定した前記位置座標を前記被検レンズ支持手段の前記固有座標系に変換し、変換後の位置座標に基づいて前記被検レンズの偏心量を算出する演算ステップと、を備えることを特徴とするレンズの偏心測定方法。
  15. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面上において一直線上に位置しないように配置された3個の球体から構成される請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  16. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された2個の球体と、前記側面において前記2個の球体の曲率中心を結ぶ線と垂直でなく交差する平面と、から構成される請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  17. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面において互いに交差するように設けられた二つの平面と、前記側面において前記二つの平面の交線上にのらないように配置された1個の球体と、から構成される請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  18. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面において互いに交差するように設けられた第一平面及び第二平面と、前記側面において前記二つの平面の交線と垂直でなく交差する第三平面と、から構成される請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  19. 前記被検レンズ支持手段は、所定の距離を置いて前記第三平面と平行に配置された第四平面を有し、前記被検レンズの位置座標は、前記第一平面、前記第二平面及び前記第三平面から構成される固有座標特定手段、並びに、前記第一平面、前記第二平面及び前記第四平面から構成される固有座標特定手段によって特定される二通りの固有座標系に変換されうる請求項18記載のレンズの偏心測定方法。
  20. 前記固有座標特定部は同一外径の3個の球体を有し前記3個の球体を前記被検レンズを囲むようにして枠体状部材の内部に配置し、前記3個の球体の少なくとも一つを前記被検レンズに押しつけることにより、前記3個の球体及び前記被検レンズを互いに固定する請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  21. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズの側面に押し当てられる2個の球体と、交差する2つの面と、から構成され、前記2つの面には前記被検レンズの側面が同時に押し当てられる請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  22. 前記2個の球体及び前記交差する2つの面を前記被検レンズを囲むようにして枠体状部材の内部に配置し、前記2個の球体を前記被検レンズに押しつけることにより、前記2個の球体、前記被検レンズ及び前記交差する2つの面を互いに固定する請求項21記載のレンズの偏心測定方法。
  23. 前記固有座標特定手段は前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された球体及び円筒部材から構成され、前記球体の曲率中心は前記円筒の中心軸上にない請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  24. 前記固有座標特定手段は、前記被検レンズ支持手段の側面の一つを含む平面と、前記側面とは別個の側面上に配置された円筒部材と、から構成され、前記円筒部材の中心軸は前記平面に直交しないで交差する請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  25. 前記固有座標特定手段は、互いの中心軸が交差しないように前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された二つの円筒部材から構成される請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
  26. 前記固有座標特定手段は、互いの中心軸が交差するように前記被検レンズ支持手段の側面上に配置された二つの円筒部材から構成される請求項14記載のレンズの偏心測定方法。
JP2003424263A 2003-03-10 2003-12-22 レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法 Withdrawn JP2005114705A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003424263A JP2005114705A (ja) 2003-03-10 2003-12-22 レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003062934 2003-03-10
JP2003327524 2003-09-19
JP2003424263A JP2005114705A (ja) 2003-03-10 2003-12-22 レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009055613A Division JP5387063B2 (ja) 2003-03-10 2009-03-09 レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005114705A true JP2005114705A (ja) 2005-04-28

Family

ID=34556963

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003424263A Withdrawn JP2005114705A (ja) 2003-03-10 2003-12-22 レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005114705A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008039455A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 形状測定方法及び測定用治具

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008039455A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 形状測定方法及び測定用治具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101147686B1 (ko) 선주향 및 선경사 측정 장치 및 선주향 및 선경사 측정 보조 장치
CN105318891B (zh) 一种星敏感器基准立方镜安装误差的标定装置
EP2795251B1 (en) A gauge artefact and method for checking a coordinate positioning machine
CN109813336A (zh) 惯性测量单元标定方法
JP2000028477A (ja) 光学部材のウエッジ部を計測する方法および装置
CN205449447U (zh) 一种光学镜头分光束平行度检测装置
US3956830A (en) Wheel alignment instrument and measurement method
JP2011002317A (ja) 画像プローブの校正方法および形状測定機
CN102744524A (zh) 振动陀螺激励罩电极刻蚀平衡调整装置及方法
JP6224461B2 (ja) ゲージ検査治具
CN103203728A (zh) 三点支撑台的调平方法
JP2009098092A (ja) 相対高さ検出装置
JP5387063B2 (ja) レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法
JP2005114705A (ja) レンズの偏心測定装置及びレンズの偏心測定方法
JP2023067797A (ja) 三次元測定装置用点検ゲージ、三次元測定装置の点検方法及び三次元測定装置
RU2488078C2 (ru) Способ и устройство позиционирования в пространстве гироприбора при его испытаниях
JP2002039742A (ja) 組み合わせ型校正用ゲージ
CN106595622B (zh) 指南针测试治具
JP2018173349A (ja) 表面形状測定機の校正装置
JP2023017309A (ja) 座標測定装置用点検ゲージ及び異常判定方法
JP2001194143A (ja) X、y、z軸相対判断検出方法とその装置
TWI375139B (ja)
KR200448425Y1 (ko) 곡면 측정장치
JP3567181B2 (ja) 水準器およびその気泡管
CN221099693U (zh) 基于双经纬仪的积分棒相邻面角度测量装置及测量***

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061115

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070621

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080425

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080918

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090106

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20090310