JP2005084190A - Inspection tool for liquid crystal glass substrate - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、液晶ディスプレイの検査冶具に関する。 The present invention relates to an inspection jig for a liquid crystal display.
一般に、携帯電話等に組み込まれる液晶ガラス基板の通電検査等の品質検査は、信頼性の高い部品提供のために、現状においては全数検査が実施されている。
具体的には、板面にプリント配線された線状パターンの電極端子群に、通電検査用の制御機器又は基板に接続された検査用電極ピンを人的操作によって接触通電状態にすることにより、液晶ディスプレイを試験作動して品質の良否を行うことが実施されていたが、各電極端子の端子幅、隣り合う電極端子の間隔、電極端子の配列ピッチ等の各寸法が小さく、接触操作に熟練を必要とすることによって作業難度が高いため、近時においては、液晶ガラス基板の電極端子群に対応する電極端子群を備えたフレキシブル基板からなる検査用制御基板を、予めに、検査する全ての液晶ガラス基板に半田付けによって接合しておき、この検査用制御基板に通電して液晶ガラス基板の通電検査を実施して、良品か不良品かの選別を行うことが実施され作業性の改善が図られている（例えば、特許文献１参照。）。
In general, in order to provide highly reliable parts, quality inspection such as energization inspection of a liquid crystal glass substrate incorporated in a mobile phone or the like is currently in full inspection.
Specifically, the electrode terminal group of the linear pattern printed and wired on the plate surface is brought into a contact energized state by a human operation of a control device for energization inspection or an inspection electrode pin connected to the substrate, Tests were conducted to test the quality of liquid crystal displays, but the dimensions such as the terminal width of each electrode terminal, the distance between adjacent electrode terminals, and the arrangement pitch of electrode terminals were small, and they were skilled in contact operations. In recent years, the inspection control board made of a flexible substrate having an electrode terminal group corresponding to the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate is pre-inspected. Bonding to the liquid crystal glass substrate by soldering, energizing the control board for inspection and conducting an energization inspection of the liquid crystal glass substrate to select whether it is a good product or a defective product Improvements are achieved (e.g., see
しかしながら、このような品質検査において、液晶ガラス基板、検査用制御基板、液晶ガラス基板に対する検査用制御基板の半田付け箇所の何れか一つに不具合があると、例え、検査対象主体である液晶ガラス基板が良品であったとしても不良品扱いになり、検査コストの観点から、その対象となった液晶ガラス基板は検査用制御基板が接合されたままの状態で廃棄処理するのが合理的であるという判断から実施されているが、反面、歩留まりの向上を妨げる一要因になっている。
また、良品である場合、検査の後工程として、半田付けを解いて液晶ガラス基板から検査用制御基板を分離して単独の液晶ガラス基板部品に戻さなければならず、手間がかかる問題がある。
さらに、液晶ガラス基板の電極端子群は、例えば、端子幅が０．１４ｍｍ、隣り合う端子間は０．１８ｍｍ、配列ピッチが０．３２ｍｍと言うように、線間間隔寸法が小さく、液晶ガラス基板に対する半田付け不良を生じたりすることがあるため、接合に慎重を要して作業性が悪い問題がある。
そのため、液晶ガラス基板に検査用制御基板を半田付けされた検査対象物を準備する検査段取り工程、検査対象物を実検査する検査工程、液晶ガラス基板から検査用制御基板を分離する検査後工程、及び、これらの工程に付随する製作、運搬、在庫等の各種作業と言うように、検査に係わる工程や作業が多いとともに、液晶ガラス基板に半田付けされる検査用制御基板を検査用部品として常備品化しておく必要があるなど、一般の部品検査に比べて、作業性、コスト性、量産対応性等が悪いと言った問題がある。
However, in such quality inspection, if any one of the liquid crystal glass substrate, the inspection control substrate, and the soldered portion of the inspection control substrate with respect to the liquid crystal glass substrate is defective, for example, the liquid crystal glass that is the subject of inspection Even if the substrate is non-defective, it will be treated as a defective product, and from the viewpoint of inspection costs, it is reasonable to dispose of the target liquid crystal glass substrate while the inspection control substrate is still bonded. However, it is a factor that hinders yield improvement.
Further, in the case of a non-defective product, as a post-test process, it is necessary to remove the soldering and separate the control substrate for inspection from the liquid crystal glass substrate and return it to a single liquid crystal glass substrate component.
Further, the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate has a small distance between lines, for example, a terminal width of 0.14 mm, a distance between adjacent terminals of 0.18 mm, and an arrangement pitch of 0.32 mm. In some cases, soldering failure may occur, so that it is necessary to be careful in joining and workability is poor.
Therefore, an inspection setup process for preparing an inspection object in which the inspection control board is soldered to the liquid crystal glass substrate, an inspection process for actually inspecting the inspection object, a post-inspection process for separating the inspection control board from the liquid crystal glass substrate, In addition, there are many processes and operations related to inspection, such as production, transportation, inventory, etc. associated with these processes, and an inspection control board soldered to the liquid crystal glass substrate is always provided as an inspection part. There is a problem that workability, cost efficiency, mass production compatibility, etc. are poor compared to general parts inspection, such as the need for commercialization.
本発明は、上述の実状に鑑みて為されたものであって、その主たる課題は、歩留まりの向上を図るとともに、作業性、コスト性、量産対応性に優れた液晶ガラス基板の検査冶具を提供する点にある。 The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and its main problem is to provide an inspection jig for a liquid crystal glass substrate that is excellent in workability, cost efficiency, and mass production compatibility while improving yield. There is in point to do.
本発明の請求項１による液晶ガラス基板の検査冶具の特徴構成は、着脱自在に位置保持された液晶ガラス基板の板面に形成された線配列パターンの電極端子群に対応して、同線配列パターンの中継端子群が形成された中継コネクタを備えるとともに、液晶ガラス基板の電極端子群に対して中継コネクタの中継端子群が接触する接続状態と、液晶ガラス基板の電極端子に対して中継コネクタの中継端子群が離隔する非接続状態とに切換え可能にする切換え手段を備える点にある。 According to a first aspect of the present invention, there is provided a characteristic configuration of the inspection jig for the liquid crystal glass substrate corresponding to the electrode terminal group of the line arrangement pattern formed on the plate surface of the liquid crystal glass substrate which is detachably held. A relay connector having a pattern of relay terminals is formed, and a connection state in which the relay terminal group of the relay connector is in contact with the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate; It is in the point provided with the switching means which can be switched to the non-connection state which a relay terminal group separates.
上記特徴構成によれば、切換え手段を介して、液晶ガラス基板の被検査側電極端子群に中継コネクタの中継端子群を一括に接続状態にして、例えば、中継コネクタ経由で液晶ガラス基板を通電して、液晶ガラス基板の通電検査を実施することができ、この状態から切換え手段を介して両端子を離隔した非接続状態にして、検査を終えた液晶ガラス基板の位置保持を解いて新たな別の液晶ガラス基板に取替えることができ、この状態から接続状態にして、新たに位置保持された液晶ガラス基板の通電検査を実施することができると言うような検査作業を連続して実施することができる。
しかも、液晶ガラス基板の検査側電極端子群が、電極端子幅、隣り合う電極端子間の間隔、配列ピッチ等の寸法が微細化なものの場合においても、液晶ガラス基板の電極端子群と中継端子群が同配列パターンで対応しており、両者を確実に接続状態にすることができ、正確に液晶ガラス基板の検査を実施することができる。
そのため、従来のように液晶ガラス基板の電極端子に電極ピンを手作業で接触操作していた、熟練を要する検査や、半田付けで接合され液晶ガラス基板に検査だけに使用される検査用制御基板を用いていた、コストが高く量産対応性が悪く、歩留まり向上を望めない検査に比して、検査の作業性が良いとともに、信頼性の高い検査を実施することができ、コスト性、量産対応性の向上、及び、歩留まりの向上を図ることができる。
ここで、線配列パターンとは、多数の線を一方向に沿って、等間隔、又は、不等間隔の配列を意味する。
According to the above characteristic configuration, the relay terminal group of the relay connector is collectively connected to the inspection-side electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate via the switching means, and for example, the liquid crystal glass substrate is energized via the relay connector. The liquid crystal glass substrate can be inspected for energization. From this state, the terminals are separated from each other through the switching means, and the position of the liquid crystal glass substrate that has been inspected is released and a new one is released. It can be replaced with a liquid crystal glass substrate, and from this state, it is possible to continuously carry out inspection work such as conducting a current inspection of a newly held liquid crystal glass substrate from a connected state. it can.
In addition, even when the inspection-side electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate is such that the electrode terminal width, the distance between adjacent electrode terminals, the arrangement pitch, etc. are miniaturized, the electrode terminal group and the relay terminal group of the liquid crystal glass substrate Correspond to each other in the same arrangement pattern, and the two can be reliably connected to each other, and the liquid crystal glass substrate can be inspected accurately.
Therefore, as in the past, the electrode pins were manually contacted with the electrode terminals of the liquid crystal glass substrate, and the inspection control board used only for the inspection that requires skill or the soldered and joined to the liquid crystal glass substrate Compared to inspections that use high-cost, low-productivity and low-yield improvement, yields can be performed with high reliability and high-reliability inspections. Improvement in yield and yield can be achieved.
Here, the line arrangement pattern means an arrangement with a large number of lines arranged at equal intervals or unequal intervals along one direction.
本発明の請求項２による液晶ガラス基板の検査冶具の特徴構成は、着脱自在に位置保持された液晶ガラス基板の板面に形成された線配列パターンの電極端子群に対応する検査対象側中継端子群が一端側に形成され、位置保持された検査用制御基板の板面に形成された線配列パターンの電極端子群に対応する計測側中継端子群が他端側に形成された中継配線群が配線された中継コネクタを備えるとともに、検査用制御基板の電極端子群と中継コネクタの計測側中継端子群を着脱自在に接続する接続手段、及び、中継コネクタの検査対象側中継端子群を着脱自在に保持し、且つ、検査用制御基板の電極端子群と中継コネクタの検査対象側中継端子群を接続状態と非接続状態とに切換え可能にする切換え手段を備える点にある。
The characteristic configuration of the inspection jig for the liquid crystal glass substrate according to
上記特徴構成によれば、中継コネクタの計測側中継端子群と検査用制御基板の電極端子群が接続された接続側に対して、切換え手段を介して、液晶ガラス基板の電極端子群と中継コネクタの検査対象側中継端子群を一括に接続状態にして、検査側制御基板と液晶ガラス基板とを通電接続状態にすることによって、液晶ガラス基板を検査することができ、切換え手段を介して、液晶ガラス基板の電極端子群と中継コネクタの検査対象側中継端子群を非接続状態にし、続いて、検査を終えた液晶ガラス基板の位置保持を解いて新たな別の液晶ガラス基板を位置保持する状態に取替え、この状態から切換え手段を介して接続状態にして、新たに位置保持された液晶ガラス基板を通電検査することができると言うような検査作業を連続して実施することができる。
しかも、検査用制御基板に対する中継コネクタとの接続を解くとともに、切換え手段に対する中継コネクタの保持を解いて、新たな中継コネクタを検査用制御基板に接続するとともに、切換え手段に保持することによって、中継コネクタの交換を実施することができる。
そのため、従来のように液晶ガラス基板の電極端子に電極ピンを手作業で接触操作していた、熟練を要する検査や、専用の検査用制御基板を半田付けによって接合して検査用の液晶ガラス基板を作らなければならず、検査コストが高く、量産対応性も悪く、歩留まりの向上を望めない検査に比して、連続して液晶ガラス基板を検査することができるとともに、中継コネクタの交換も可能であるので、検査の効率の良い作業が可能であるとともに、信頼性の高い検査を実施することができ、コスト、量産対応性の向上、及び、歩留まりの向上を図ることができる。
According to the above characteristic configuration, the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate and the relay connector are connected via the switching means to the connection side where the measurement side relay terminal group of the relay connector and the electrode terminal group of the inspection control board are connected. The liquid crystal glass substrate can be inspected by bringing the inspection side relay terminal group into a connected state at once, and bringing the inspection side control board and the liquid crystal glass substrate into an energized connection state. A state in which the electrode terminal group of the glass substrate and the relay terminal group on the inspection connector side of the relay connector are disconnected, and then the position of the liquid crystal glass substrate that has been inspected is released and another liquid crystal glass substrate is held in position. In this state, the liquid crystal glass substrate newly held in position can be energized and inspected continuously by switching to the connected state via the switching means. Can.
In addition, the relay connector is disconnected from the inspection control board, and the relay connector is released from the switching means, and the new relay connector is connected to the inspection control board and held in the switching means. Connector replacement can be performed.
Therefore, as in the past, the electrode pins were manually contacted with the electrode terminals of the liquid crystal glass substrate, and inspections requiring skill and a liquid crystal glass substrate for inspection by joining a dedicated inspection control board by soldering Compared to inspections that require high cost, low inspection, and low yields, LCD glass substrates can be inspected continuously, and relay connectors can be replaced. Therefore, it is possible to perform work with high efficiency of inspection, perform highly reliable inspection, and improve cost, mass production compatibility, and yield.
本発明の請求項３による液晶ガラス基板の検査冶具の特徴構成は、前記中継コネクタが、一面に中継配線が配線されている可撓性を有するシート状のベース体から形成されている点にある。
The characteristic configuration of the inspection jig for the liquid crystal glass substrate according to
上記特徴構成によれば、液晶ガラス基板の電極端子群に対して中継コネクタの中継端子群が対面する接続状態を実施することができるので、対応する接点同士の位置合わせを行なうことによって接続状態にすることができるとともに、中継コネクタが可撓性を有するので、切換え手段による対面による接続動作と非接続動作の反復使用に伴う曲げや歪を吸収して安定性のある使用が可能となる。 According to the above characteristic configuration, since the connection state where the relay terminal group of the relay connector faces the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate can be carried out, the connection state is achieved by aligning the corresponding contacts. In addition, since the relay connector is flexible, it can be used with stability by absorbing bending and distortion associated with repeated use of the connecting operation and the non-connecting operation by the switching means.
従って、液晶ガラス基板の電極端子群における、電極端子幅、隣り合う電極端子間の間隔、配列ピッチ等の寸法が小さい場合においても、対応する接点同士を正確に接続状態にすることができ検査接続の信頼性の向上を図れるとともに、一つの中継コネクタで多数の液晶ガラス基板の検査を安定的に実施することができるので、検査信頼性の高い検査冶具を形成することができる。 Therefore, even when the dimensions of the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate, such as the electrode terminal width, the interval between adjacent electrode terminals, and the arrangement pitch, are small, the corresponding contacts can be accurately connected to each other for inspection connection. In addition, since a plurality of liquid crystal glass substrates can be stably inspected with one relay connector, an inspection jig with high inspection reliability can be formed.
本発明の請求項４による液晶ガラス基板の検査冶具の特徴構成は、前記中継コネクタの検査対象側中間端子群が、弾性変形可能なシート部分に形成されている点にある。
The characteristic configuration of the inspection jig for the liquid crystal glass substrate according to
上記特徴構成によれば、液晶ガラス基板の電極端子群に対して中継コネクタの中継端子群が弾性変形を伴って接触する状態となり、電極端子群に対して柔軟な接触が可能となるので、電極端子群を傷つけるようなことがない。 According to the above characteristic configuration, the relay terminal group of the relay connector comes into contact with the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate with elastic deformation, and flexible contact with the electrode terminal group becomes possible. No damage to the terminals.
従って、液晶ガラス基板の電極端子群の欠損不良等を生じることがなく、液晶ガラス基板の品質が保たれるので、多数の液晶ガラス基板の検査を安定的に実施することができる。 Therefore, the defect of the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate does not occur, and the quality of the liquid crystal glass substrate is maintained, so that a large number of liquid crystal glass substrates can be inspected stably.
本発明の請求項５による液晶ガラス基板の検査冶具の特徴構成は、前記中継コネクタの検査対象側中間端子群が、弾性変形素材の台座を介して支持されている点にある。
The characteristic configuration of the inspection jig for the liquid crystal glass substrate according to
上記特徴構成によれば、中継コネクタの中継端子に対して、液晶ガラス基板の電極端子が接触した際の押圧力が、台座の弾性変形によって吸収されて、液晶ガラス基板に鋭角的な押圧力が加わることがないので、液晶ガラス基板の破損を懸念することなく検査することができる。 According to the above characteristic configuration, the pressing force when the electrode terminal of the liquid crystal glass substrate contacts the relay terminal of the relay connector is absorbed by the elastic deformation of the pedestal, and the acute pressing force is applied to the liquid crystal glass substrate. Since it does not add, it can test | inspect without worrying about the failure | damage of a liquid crystal glass substrate.
従って、安定性のある連続検査を実施することができる。 Therefore, a stable continuous inspection can be performed.
本発明の請求項６による液晶ガラス基板の検査冶具の特徴構成は、前記液晶ガラス基板と前記中継コネクタ基板に照準マークが標記され、位置保持された液晶ガラス基板に対面し，且つ、中継コネクタの検査対象側中継端子群を保持する台座側に覗き孔が形成され、覗き孔を通して液晶ガラス基板と中継コネクタの照準マークが一致する照準状態で、液晶ガラス基板の電極端子群と中継コネクタの検査対象側中継端子群との接続関係が対応する位置決め手段を備える点にある。 According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal glass substrate inspection jig characterized in that an aiming mark is marked on the liquid crystal glass substrate and the relay connector substrate, facing the liquid crystal glass substrate held in position, and the relay connector Inspection target side of liquid crystal glass substrate electrode terminal group and relay connector in a sighting state where a viewing hole is formed on the pedestal side holding the relay terminal group on the inspection target side and the sighting mark of the liquid crystal glass substrate and the relay connector is aligned through the viewing hole The connection relationship with the side relay terminal group is provided with a corresponding positioning means.
上記特徴構成によれば、位置決め孔から位置保持された液晶ガラス基板の照準マークが，中継コネクタの照準マークと重合状態に照準されておれば、液晶ガラス基板が正確に位置保持されており、重合していなければ液晶ガラス基板が位置ずれして保持されているか、或いは、台座が位置ずれしているかの確認をとることができる。 According to the above characteristic configuration, if the aiming mark of the liquid crystal glass substrate held in position from the positioning hole is aimed at the overlapping state with the aiming mark of the relay connector, the position of the liquid crystal glass substrate is accurately held. If not, it can be confirmed whether the liquid crystal glass substrate is held displaced or whether the pedestal is displaced.
そのため、検査される液晶ガラス基板毎に確認作業を実施することによって、液晶ガラス基板の電極端子群と中継コネクタの中継端子群とを正確に接続することができ、信頼性の高い検査を実施することができる。 Therefore, by carrying out the confirmation work for each liquid crystal glass substrate to be inspected, the electrode terminal group of the liquid crystal glass substrate and the relay terminal group of the relay connector can be accurately connected, and a highly reliable inspection is performed. be able to.
〔第１実施形態〕
以下、本発明を適用した液晶ガラス基板の検査冶具Ａを説明する。
液晶ガラス基板１は、例えば、形態電話やデジタルカメラ等の機器の矩形状のディスプレイ画面として、機枠に組みつけられるものであり、組付けられて外部に露出する部分に対応する大面積部分にディスプレイ画面１Bが形成され、機枠に組付けられて内部に隠される部分に対応して内部結線される電極端子群１Ａが形成された公知の積層板構造を有するディスプレイ基板である。
[First Embodiment]
Hereinafter, an inspection jig A for a liquid crystal glass substrate to which the present invention is applied will be described.
The liquid
液晶ガラス基板１の検査冶具Ａは、図1〜図６に示すように、検査台に着脱自在に位置保持された液晶ガラス基板１の板面に形成された線配列パターンの電極端子群１Ａに対応する検査対象側中継端子群２Ａが一端側に形成され、位置保持された検査用制御基板３の板面に形成された線配列パターンの電極端子群３Ａに対応する計測側中継端子群２Ｂが他端側に形成された中継配線群２Ｃが配線された中継コネクタ２を備えるとともに、検査制御基板３の電極端子群３Ａと中継コネクタ２の計測側中継端子群２Ｂを接続手段４、及び、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａを保持手段５により着脱自在に保持し、且つ、液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａと中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａを接続状態と非接続状態とに切換え可能にする切換え手段６を備えて構成されている。
As shown in FIGS. 1 to 6, the inspection jig A for the liquid
詳述すると、この液晶ガラス基板１の検査冶具Ａは、図３，図６に示すように、検査台１０の前傾する上板１１上部に、液晶ガラス基板１に対応する矩形状の凹部１２が形成されている基板受台１３が設けられ、液晶ガラス基板１が凹部１２に対して着脱自在に位置保持可能になっている。この実施形態における凹部１２の上端部には、上方に向かう程に傾斜深さが深くなるテーパー状の着脱操作部１２ａが形成され、凹部１２に対する液晶ガラス基板１の着脱を容易に行なうことができる工夫がなされている。
More specifically, as shown in FIGS. 3 and 6, the inspection jig A for the liquid
中継コネクタ２は、メッシュシート体の板面に中継配線群２Ｃが配線されており、より具体的には、例えば、電気的な絶縁性を示す合成樹脂製の細糸を微細目のメッシュ状に編成されたシート体の中央部を除く部分にメッシュ目が面一になる程度の銅メッキがなされ、中央部分に、一方向に均等ピッチに線状の導通メッキ層（例えば、メッシュ部分に含侵状態に形成された下地のニッケルメッキ層に金メッキを形成した通電メッキ層）からなる中継配線２ｃが線配列状パターンに形成され、中継配線群２Ｃの一端とメッシュ部分との境界部分で、シート体をメッキ層形成部分に対して非メッキ層部分を折り返してシート体を二つ折りして使用される。この中継コネクタ２は、全体に可撓性を有するとともに、中継配線２ｃが形成されたメッシュ部分が弾性変形可能なシート部分になっている。また、検査台１０の凹部１２に対向配備された取付け台１４に、当該中継コネクタ２の折り返し側ａが保持手段５を介して保持され、非折り返し側ｂが接続手段４を介して検査用制御基板３に接続されている。
In the
前記中継コネクタ２の中継配線群２Ｃや検査用制御基板３の電極端子群３Ａは、前記液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａにおける、端子幅、隣り合う端子間、配列ピッチに対応する寸法になっており、一例として、端子幅が０．１４ｍｍ、隣り合う端子間は０．１８ｍｍ、配列ピッチが０．３２ｍｍの寸法になっている。中継コネクタ２のメッシュ目においても、線状パターンで細幅な通電メッキ層を形成するためにも端子幅の０．１４ｍｍよりも小さい寸法のものが採用されている。また、この実施形態の中継コネクタ２は、両面に中継配線２ｃが露出配線されている。
The
前記保持手段５は、上板面に対面する取付け台１４にネジ止め固定された合成樹脂製の台座１５に対して、合成樹脂製の当て板１６を両端部のネジ止めを介して当て付け、台座１５と当て板１６との間に挟み込まれた状態で、凹部１２に位置保持された液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａと、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａが対向状態になる構成になっている。
The holding means 5 is applied to a
ここで、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａは、台座１５に設けられた位置決めピン１７に、中継コネクタ２の折り返し部分に穿孔されたピン孔１８を嵌め入れた状態でビス止めし、台座１５に対して位置決めされた組付け状態が得られる構成になっている。
Here, the inspection target side
また、液晶ガラス基板１には一対の照準マークＭ１，Ｍ１が標記され、これに対して、照準マークＭ１，Ｍ１に対面する中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａ部分にも一対の照準マークＭ２，Ｍ２が標記され、また、検査対象側中継端子群２Ａ部分を保持する取付け台１４側に一対の覗き孔１９，１９が穿孔されており、凹部１２に液晶ガラス基板１が位置保持された状態で、夫々の覗き孔１９を通して液晶ガラス基板の照準マークＭ１と中継コネクタの照準マークＭ２とが重合する照準状態にある場合、液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａと中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａとの接続関係が対応している位置決め状態にあることが認識でき、夫々の覗き孔１９を通して液晶ガラス基板の照準マークＭ１と中継コネクタの照準マークＭ２とが位置ずれした状態にある場合、液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａと中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａとの接続関係が対応していない位置ずれ状態にあることが認識でるようになっている。位置ずれ状態にある場合、液晶ガラス基板１の凹部１２に対する位置保持の補正を実行して、照準マークM1，M２同士が重合する位置決め状態に調整する。液晶ガラス基板１の照準マークＭ１と、中継コネクタの照準マークＭ２と、台座１５の覗き孔１９から位置決め手段３０が構成されている。
In addition, a pair of aiming marks M1 and M1 are marked on the liquid
この実施形態においては、液晶ガラス基板１の照準マークＭ１と、中間コネクタ２の照準マークＭ２は共に、端子群１Ａ，２Ａの両側部分に標記され、標記表現として点や線等が採用されている。
In this embodiment, the aiming mark M1 of the liquid
また、この実施形態において、位置保持された液晶ガラス基板１の照準マークＭ１部分に対応する凹部１２部分には、孔２０を介して発光ダイオードなどの光源２１が配置されており、照準の際に液晶ガラス基板１、中継コネクタ２を透光して、台座１５の覗き孔１９から照準されるマークＭ１，Ｍ２を容易に判別することができる工夫がなされている。
Further, in this embodiment, a
前記接続手段４は、検査台１０の上板１１下部にビス止め固定された合成樹脂製の台座受け２２に上下方向に沿って溝嵌合２３を介してスライド自在となった従動台座２４に対して、合成樹脂製の当て板２５を両端部のネジ止めを介して当て付け、従動台座２４と当て板２５との間に挟み込まれた状態で、検査用制御基板３の電極端子群３Ａと、中継コネクタ２の計測側中継端子群２Ａの、対応する端子２ａ，３ａ同士が接当する構成になっているとともに、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａに対して液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａが接続状態と非接続状態の切換え移動に追従して、台座受け２２に対して従動台座２４が上下動して、中継コネクタ２に不測な曲げや無理な歪を与えない工夫がなされ，中継コネクタ２を反復して使用可能になっている。
The connecting means 4 is connected to a
ここで、従動台座２４の上部に一対が設けられた位置決めピン２６、２６に、中継コネクタ２の非折り返し部分に対応して穿孔されたピン孔２８，２８を嵌め入れ、この中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２A上に重なるように，同位置決めピン２６，２６に、検査用制御基板３に穿孔されたピン孔２８，２８を嵌め入れた状態で、従動台座２４に対して中継コネクタ２の計測側中継端子群２Ｂと検査用制御基板３の電極端子群３Ａの位置決めがなされるとともに、従動台座２４に当て板２５を介してビス止めして、従動台座２４と当て板２５の間に中継コネクタ２の計測側中継端子群２Ｂと検査用制御基板３の電極端子群３Ａを挟持して、両端子群２Ａ，３Ａの接続がなされている。
検査用制御基板３は、従動台座２４に上下に夫々一対が設けられた位置決めピン２６、２６、２７、２７に、対応して穿孔されたピン孔２８・・・を嵌め入れ、この検査用制御基板３の電極端子群３A上に重なるように、上側一対の位置決めピン２６，２６に、中継コネクタ２の非折り返し部分に対応して穿孔されたピン孔２９，２９を嵌め入れた状態で、従動台座２４に対して検査用制御基板３の電極端子群３Ａと中継コネクタ２の計測側中継端子群２Ｂの位置決めがなされるとともに、両端子群２Ｂ，３Ａが位置対応し，当て板２５を介してビス止めして、検査用制御基板３の電極端子群３Ａと中継コネクタ２の計測側中継端子群２Ｂが接続されている。
Here, pin holes 28, 28 drilled corresponding to the non-folded portion of the
The
切換え手段６は、図４，図５に示すように、検査台１０の上板１１を内外方向に貫通し、両端が夫々取付け台１４，３１によって連結された一対のガイドロッド３２，３２と、外側の取付け台１４と上板１１との間のガイドロッド部分に外嵌された復帰用コイルスプリング３３，３３と、上板１１の内側に配備されたエアーシリンダー３４と、内側の取付け台３１に取付けられて、エアーシリンダー３４のシリンダーロッド３４ａ動作に追従して作動可能な緩衝手段３５と、作動状態でシリンダーロッド３４ａがエアー供給によって進出し、作動解除状態でエアー供給が停止されたシリンダーロッドが自由状態となるＯＮ−ＯＦＦスイッチ３６から構成され、スイッチ３６をＯＮ操作することによって、シリンダーロッド３４ａがエアー供給によって進出して、緩衝手段３５と復帰用コイルスプリング３３の弾性付勢力に抗してガイドロッド３２，３２を引退して、外側の取付け台１４を移動させて、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａを、位置保持された液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａに接当する接続状態にすることができ、スイッチ３６をＯＦＦ操作することによって、復帰用コイルスプリング３３の弾性付勢力によってガイドロッド３２，３２を引退して、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２を、位置保持された液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａから離隔する非接続状態にすることができる。
As shown in FIGS. 4 and 5, the switching means 6 includes a pair of
前記緩衝手段３５は、内側の取付け台部分３１に、一対の下駄部材３７，３７を介して受台３８が固定されているとともに、エアーシリンダー３４のシリンダーロッド３４ａの進退を許容する挿通孔３１ａが形成され、受台３８に螺合された操作用頭付きネジ３９に支持されたバネ受け４０と、前記挿通孔３１ａに嵌め入れられた鍔付きバネ受け４１との間に介装された調整用コイルスプリング４２を備えて構成され、エアーシリンダー３４をＯＮ操作してシリンダーロッド３４ａを進出し、鍔付きバネ受け４１を調整用コイルスプリング４２の弾性付勢力に抗して押付けることにより、調整用コイルスプリング４２、受台３８経由で内側の取付け台３１を復帰用コイルスプリング３３の弾性付勢力に抗して押付け状態にして、液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａに対して、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａを離隔状態から接当状態にすることができ、エアーシリンダー３４をＯＦＦ操作によって、調整用コイルスプリング４２と内側の取付け台３１との関係は解除され、復帰用コイルスプリング３３の弾性付勢力によって内側の取付け台３１が元の引退位置に戻り、液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａに対して、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａを接当状態から離隔状態にすることができる。
The buffer means 35 has a receiving
前記調整用コイルスプリング４２は、操作用頭付きネジ３９の受台３８に対する螺入量を多くすることによって、バネ受け４０，４１間の弾性付勢力を大きくすることができ、反対に、受台３８に対する螺入量を少なくすることによって、バネ受け４０，４１間の弾性付勢力を小さくすることができるようになっており、操作用頭付きネジ３９の受台３８に対する螺入量を調節することによって、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａと、液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａの接当の際の衝撃力を調整することができる。
The
検査用制御基板３は、一端縁に沿って多数の細幅箔片状の電極端子３ａが線配列状された電極端子群３Ａが形成され、一面に液晶ガラス基板１の通電検査用の回路構成３Ｂが設けられたフレキブル基板から構成され、基板上に配備されたコネクタ３Ｃなどを介して電源回路（図示せず）に着脱自在に接続可能に構成されている。
The
このような構成であれば、検査台１０の凹部１２に液晶ガラス基板１を嵌め込んで位置保持状態にする。
次に、台座１５の覗き孔１９を通して、位置保持された液晶ガラス基板１の照準マークＭ１と，中間コネクタ２の照準マークＭ２が重合する照準状態にあるかを確認する。
With such a configuration, the liquid
Next, it is confirmed whether the aiming mark M1 of the liquid
次に、照準マークＭ１，Ｍ２が重合であれば、スイッチ３６をＯＮ操作することによって、エアーシリンダー３４を作動して台座１５に保持されている中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａと液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａとが離隔している状態から、両端子群２Ａ，１Ａが接触する接当状態になるとともに、この接当状態で、検査用制御基板３から中継コレクタ２経由で液晶ガラス基板１を通電状態にして通電検査等が実施される。
Next, if the sighting marks M1 and M2 are superposed, the
次に、検査を終えると、スイッチ３６をＯＦＦ操作することによって、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａと液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａとが接当している状態から、両端子群２Ａ，１Ａが離隔する状態に復帰する。
Next, when the inspection is finished, by turning OFF the
次に、検査を終えた液晶ガラス基板１を凹部１２から外して、検査の良否結果に合わせて選別する。
Next, the liquid
次に、検査対象である新たな液晶ガラス基板１を凹部１２に位置保持状態にして、上記の手順操作の検査を連続に実施して、液晶ガラス基板１の検査を行なう。
このような検査であれば、液晶ガラス基板１の検査を連続して実施することができる。
Next, a new liquid
If it is such a test | inspection, the test | inspection of the liquid
〔別実施形態〕
１） 上記実施形態では、位置保持された液晶ガラス基板１に対して中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａ側を可動して、エアーシリンダー３４等からなる切換え手段６によって、端子群２Ａ，１Ａ同士を接続状態と非接続状態に切換え可能に構成する例を説明したが、本発明はこれに限らず、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａ側が位置保持され、液晶ガラス基板１側を切換え手段６を介して、中継コネクタ２の検査対象側中継端子群２Ａと液晶ガラス基板１の電極端子群１Ａとの接続状態と非接続状態に切換え可能にする構成であってもよい。
[Another embodiment]
1) In the above-described embodiment, the
２） 上記実施形態では、切換え手段６の動作主体にエアーシリンダー３４を用いた例を説明したが、本発明はこれに限らず、電磁ソレノイドを用いてもよい。
また、検査用制御基板３の電極端子群３Ａと中継コネクタ２の計測側中継端子群２Ａが接続された位置に、リンク板の基端部を軸支し、リンク板の先端側に中継コネクタの検査対象側中継端子群側を連結し、リンク板の先端部に形成された長孔にエアーシリンダーの動作ロッドをピン連結して、中継コネクタの計測側中継端子群側を支点として、中継コネクタの検査対象側中継端子群側を回動自在な切換え手段を用いて、液晶ガラス基板の電極端子群に対して中継コネクタの中継端子群が接触する接続状態と、液晶ガラス基板の電極端子群に対して中継コネクタの中継端子群が離隔する非接続状態に切換え可能にするものであってもよい。
2) In the above embodiment, the example in which the
Further, the base end portion of the link plate is pivotally supported at the position where the
３） 上記実施形態の液晶ガラス基板１の検査冶具Ａは、液晶ガラス基板１の取付け操作と取外し操作、切換え手段６を手動のスイッチ３６による操作、良否の判別等が人的操作によるものについて説明したが、本発明はこれに限らず、液晶ガラス基板１を連続搬送フィーダー等の搬送装置を用いて定位置搬送し、モニターで定位置判断可能な判別装置の判断を受けて、切換え手段のＯＮ−ＯＦＦ制御を実施して、定位置にある液晶ガラス基板の検査を実施して、モニターで良否の判別を自動的に実施するものに適用してもよい。
3) The inspection jig A for the liquid
４） 上記実施形態では、中継コネクタ２の中継端子群２Ａがメッシュシートに形成されたものについて説明したが、本発明はこれに限らず、フレキシブル基板に形成されているものであってもよい。
4) Although the said embodiment demonstrated what the
Ａ 液晶ガラス基板の検査冶具
１ 液晶ガラス基板
１Ａ 電極端子群
２ 中継コネクタ
２Ａ 検査対象側中継端子群
２Ｂ 計測側中継端子群
２Ｃ 中継配線群
３ 検査用制御基板
３Ａ 電極端子群
４ 接続手段
５ 保持手段
６ 切換え手段
M１ 照準マーク
M２ 照準マーク
３０ 位置決め手段
A inspection jig for liquid
M1 Aiming mark
Claims (6)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003313885A JP2005084190A (en) | 2003-09-05 | 2003-09-05 | Inspection tool for liquid crystal glass substrate |
Applications Claiming Priority (1)
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ID=34414677
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| JP2003313885A Pending JP2005084190A (en) | 2003-09-05 | 2003-09-05 | Inspection tool for liquid crystal glass substrate |
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| JP (1) | JP2005084190A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101346952B1 (en) | 2012-11-21 | 2014-01-16 | 주식회사 이엘피 | Display panel testing apparatus and method for testing amoled panel |
| KR101346895B1 (en) | 2012-11-21 | 2014-02-13 | 주식회사 이엘피 | Apparatus for testing display panel and model changing method of thereof |
| WO2015083858A1 (en) * | 2013-12-05 | 2015-06-11 | 주식회사 이엘피 | Display panel inspection device for inspecting amoled panel, and method therefor |
-
2003
- 2003-09-05 JP JP2003313885A patent/JP2005084190A/en active Pending
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| CN105247373A (en) * | 2013-12-05 | 2016-01-13 | 株式会社Elp | Display panel inspection device for inspecting AMOLED panel, and method therefor |
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