JP2005062847A - 露光ヘッド - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 34
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 33
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 5
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims description 3
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 25
- 238000003491 array Methods 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 11
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 8
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 8
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 8
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 8
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 7
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
Abstract
【解決手段】 露光ヘッドでは、第1マイクロレンズアレイ206に、DMD50における複数のマイクロミラー62に対応するように複数のマイクロレンズ208が配列されると共に、マイクロレンズ208のアパーチャアレイ210が、複数の第1のマイクロ収束素子にそれぞれ対応するように配列された複数のアパーチャ212によりフラウンホーファー回折像の主要部分のみを透過させ、さらに第2マイクロレンズアレイ214のマイクロレンズ216がアパーチャ212を透過したフラウンホーファー回折像の主要部分を露光面56上に結像する。これにより、クロストーク光や散乱光を効果的に減少させつつ、アパーチャアレイ210を通して露光面56上に投影されるビームスポットのビーム径を所要のサイズに調整できる。
【選択図】 図5
Description
(A)空間光変調素子を照明する光に含まれる散乱成分や空間光変調素子からの回折、散乱等によって生ずるクロストーク成分等のノイズ成分をほぼ完全に遮断して高解像度の露光ビームを得ることができる。
[露光装置の構成]
本発明の実施形態に係る露光ヘッドが適用された露光装置142は、図1に示されるように、シート状の感光材料150を表面に吸着して保持する平板状のステージ152を備えている。脚部154に支持された肉厚板状の設置台156の上面には、ステージ移動方向に沿って延びた2本のガイド158が設置され、このステージ152はガイド158によって往復移動可能に支持されている。なお、この露光装置142には、ステージ152をガイド158に沿って駆動するための図示しない駆動装置が設けられている。
ただし、Cは定数、sinc(ω)=sin(πω)/(πω)である。
次に、以上説明した理論的な演算式に、具体的な数値を代入して求めた分解能の演算結果の一例について説明する。
結像レンズ系200の要素レンズ202,204の焦点距離f1及びf2をそれぞれ20mm及び40mm、
ファイバアレイ光源66から出射されるレーザビームの波長λを0.4μm、
第1マイクロレンズアレイ206の各マイクロレンズ208の焦点距離f3を0.2mm、
アパーチャアレイ210の各アパーチャ212一辺の寸法をs(ここで、sはアパーチャ212の形状を正方形とし、0次回折像のみ通過させるための理論的な寸法)、
第2マイクロレンズアレイ214の各マイクロレンズ216による実像形成の結像倍率bを1とした場合、露光面(X4,Y4)56上における画素サイズW4及び画素周期P4は、以下のように求められる。
W1=13.0μm、P1=13.7μm、W2=26.0μm、P2=27.4μm
|X31|=|Y31|=λ・f3/W2=0.4×0.2/26.0=3.1μm
s=2・|X31|=2・|Y31|=6.2μm
W3=s=6.2μm、P3=P2=27.4μm
W4=b・s=1×6.2=6.2μm、P4=P3=27.4μmとなる。
次に、DMD50の行方向を走査方向に対して所定の角度θだけ傾斜させた場合の解像度の向上効果について理論的な説明を行う。
P4は露光面(X4,Y4)56上における画素周期、
W4は露光面(X4,Y4)56上における画素サイズ
但し、ここで言う画素は、露光スポット228(図11(D)参照)の露光により露光面(X4,Y4)56上に形成される画像の単位要素を意味しているが、この画素の画素周期及び画素サイズは、露光面(X4,Y4)56上に結像された露光スポット228(図11(D)参照)の周期及びサイズと等しいものになる、として以下の説明を行う。
θ=tan-1(1/n)=tan-1(0.2)=11.3°
露光画素周期=P4・sinθ=27.4×sin11.3°=5.4μm
また、露光面(X4,Y4)56上での露光画素ビームサイズは、W4=b・s=1×6.2μm=6.2μmである。従って、6.2μmという十分に小さい露光ビームにより、多少の重ね露光をしつつ、5.4μmという画素周期で適切な露光を行うことができる。すなわち、露光面56の露光画素周期P4・sinθ=5.4μmは、DMD50の画素周期P1=13.7μmよりも小さくなり、高解像度化される。
[マイクロレンズアレイの変形例]
以上説明した本実施形態に係る露光ヘッド166では、マイクロレンズアレイ206のマイクロレンズ208及びマイクロレンズアレイ214のマイクロレンズ216としてそれぞれ球面レンズを用いていたが、このようなマイクロレンズアレイ206,214のマイクロレンズとして、非球面レンズ、具体的には、例えばトーリックレンズを用いることができる。マイクロレンズアレイ206,216の少なくとも一方が、そのマイクロレンズとしてトーリックレンズを用いることにより、DMD50の歪みによる影響を解消することが可能になる。
[露光ヘッドの変形例]
次に、本発明の実施形態の変形例に係る露光ヘッドについて説明する。
[高解像度条件の一般化]
次に、以上説明した本発明の実施形態に係る露光ヘッド166,250を用いて露光面56を走査露光する場合に、高解像度を得るための一般化された条件について説明する。
露光ビームサイズW4は、下記(9)式により求められる。
また、DMD50のn個の画素を有する行方向に対し、tanθ=1/nである角度θの方向に走査して露光する場合の走査線間隔は、下記(10)式により求められる。
(2)高解像度を得るための一般化された条件式
高解像度を得るためには、下記(a)〜(c)の何れかに記載された条件を満たす必要がある。
すなわち、W4≦W1、
上記(9)式より、2b・λ・f3/a・W1≦W1
従って、2b・λ・f3≦a・W12
(b)走査線間隔が露光ビームサイズ以下であること
すなわち、P4・sinθ≦W4
上記(10)式より、a・P1/n≦2b・λ・f3/a・W1
従って、a2・P1・W1/n≦2b・λ・f3
(c)上記の(a)及び(b)の条件式が同時に成り立つこと
すなわち、a2・P1・W1/n≦2b・λ・f3≦a・W12
なお、図13に示される露光ヘッド250では、上記(a)及び(b)にてa=1とすれば、高解像度を得るための一般化された条件を得ることができる。
53 ビームスポット
56 露光面
62 マイクロミラー
66 光ファイバ光源
166 露光ヘッド
200 結像レンズ系
206 第1マイクロレンズアレイ(第1のマイクロ収束素子アレイ)
208 マイクロレンズ(第1のマイクロ収束素子)
210 アパーチャアレイ
212 アパーチャ
214 第2マイクロレンズアレイ(第2のマイクロ収束素子アレイ)
216 マイクロレンズ(第2のマイクロ収束素子)
250 露光ヘッド
260 マイクロレンズアレイ
262 マイクロレンズ(トーリックレンズ)
264 マイクロレンズ(非球面レンズ)
Claims (8)
- 露光面に対して走査方向に沿って相対移動しつつ、該露光面を前記走査方向と交差する行方向に沿って配列された光ビームの束により露光面を2次元的に露光するための露光ヘッドであって、
制御信号に応じて光変調状態がそれぞれ変化する複数の画素部が一次元的又は2次元的に配列され、光源部から入射した光ビームを前記複数の画素部により複数本の画素ビームに分割すると共に、複数本の画素ビームをそれぞれ露光状態及び非露光状態の何れかに選択的に変調する空間光変調素子と、
前記空間光変調素子における複数の画素部に対応するように複数の第1のマイクロ収束素子が配列された第1のマイクロ収束素子アレイと、
前記露光状態に変調された画素ビームのフラウンホーファー回折像が前記第1のマイクロ収束素子により形成される該第1のマイクロ収束素子の後側焦点面付近に配置されると共に、前記複数の第1のマイクロ収束素子にそれぞれ対応するように複数のアパーチャが配列され、該アパーチャにより前記フラウンホーファー回折像の主要部分のみを透過させるアパーチャアレイと、
前記複数のアパーチャに対応するように複数の第2のマイクロ収束素子が配列され、前記複数のアパーチャをそれぞれ透過した画素ビームの実像を前記複数の第2のマイクロ収束素子により前記露光面上に形成する第2のマイクロ収束素子アレイと、
を有することを特徴とする露光ヘッド。 - 前記空間光変調素子と前記マイクロ収束素子アレイとの間に結像レンズ系を設けると共に、
前記画素部における画素ビームの出射面と前記第1のマイクロ収束素子における画素ビームの入射面とが前記結像レンズ系に対して互いに共役な位置関係となるように、前記空間光変調素子及び前記第1のマイクロ収束素子アレイを配設したことを特徴とする請求項1記載の露光ヘッド。 - 前記アパーチャが、前記第1のマイクロ収束素子により形成されたフラウンホーファー回折像の0次回折像のみを実質的に透過させるサイズ及び形状を有することを特徴とする請求項1又は2記載の露光ヘッド。
- 前記アパーチャが、前記第1のマイクロ収束素子により形成されたフラウンホーファー回折像の0次回折像のみを実質的に透過させるサイズ及び形状を有し、
前記空間光変調素子における複数の画素部の画素周期をP1、画素サイズをW1、前記走査方向に対して略直交する行方向に沿って配列された画素部の画素数をn、
前記第1のマイクロ収束素子の焦点距離をf3、
前記第2のマイクロ収束素子が前記アパーチャを透過した画素ビームの実像を露光面上に形成する光学倍率をb、
前記光源部から出射される光ビームの波長をλとした場合に、
前記行方向と前記走査方向とがなす角度をtan-1(1/n)とし、下記(1)式〜(3)式の何れか一の条件式を満たすことを特徴とする請求項1記載の露光ヘッド。
2b・λ・f3≦W12 ・・・ (1)
P1・W1/n≦2b・λ・f3 ・・・ (2)
P1・W1/n≦2b・λ・f3≦W12 ・・・ (3) - 前記アパーチャが、前記マイクロ収束素子から出射されたフラウンホーファー回折像の0次回折像のみを実質的に透過させるサイズ及び形状を有し、
前記空間光変調素子における複数の画素部の画素周期をP1、画素サイズをW1、前記走査方向に対して略直交する行方向に沿って配列された画素部の画素数をn、
前記第1のマイクロ収束素子の焦点距離をf3、
前記第2のマイクロ収束素子が前記アパーチャを透過した画素ビームの実像を露光面上に形成する光学倍率をb、
前記結像レンズ系が前記画素部における画素ビームの出射面上の実像を前記第1のマイクロ収束素子アレイにおける画素ビームの入射面上に結像する倍率をa、
前記光源部から出射される光ビームの波長をλとした場合に、
前記行方向と前記走査方向とがなす角度をtan-1(1/n)とし、下記(4)式〜(6)式の何れか一の条件式を満たすことを特徴とする請求項2記載の露光ヘッド。
2b・λ・f3≦a・W12 ・・・ (4)
a2・P1・W1/n≦2b・λ・f3 ・・・ (5)
a2・P1・W1/n≦2b・λ・f3≦a2・W12 ・・・ (6) - 前記第1のマイクロ収束素子及び前記第2のマイクロ収束素子の少なくとも一方が非球面レンズであることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項記載の露光ヘッド。
- 前記第1のマイクロ収束素子が非球面レンズであることを特徴とする請求項6記載の露光ヘッド。
- 前記非球面レンズがトーリックレンズであることを特徴とする請求項7項記載の露光ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004214404A JP4450689B2 (ja) | 2003-07-31 | 2004-07-22 | 露光ヘッド |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003204404 | 2003-07-31 | ||
JP2004214404A JP4450689B2 (ja) | 2003-07-31 | 2004-07-22 | 露光ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005062847A true JP2005062847A (ja) | 2005-03-10 |
JP4450689B2 JP4450689B2 (ja) | 2010-04-14 |
Family
ID=34379917
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004214404A Active JP4450689B2 (ja) | 2003-07-31 | 2004-07-22 | 露光ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4450689B2 (ja) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4450689B2 (ja) | 2010-04-14 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A977 | Report on retrieval |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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