JP2005062000A - Magnetic sensitive element and magnetic detector - Google Patents

Magnetic sensitive element and magnetic detector Download PDF

Info

Publication number
JP2005062000A
JP2005062000A JP2003292499A JP2003292499A JP2005062000A JP 2005062000 A JP2005062000 A JP 2005062000A JP 2003292499 A JP2003292499 A JP 2003292499A JP 2003292499 A JP2003292499 A JP 2003292499A JP 2005062000 A JP2005062000 A JP 2005062000A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
detection element
magnetic detection
conductor wire
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003292499A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eikichi Ariga
英吉 有賀
Kazuo Kobayashi
一雄 小林
Teruhiko Outaki
輝彦 王滝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Instruments Corp
Original Assignee
Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd filed Critical Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2003292499A priority Critical patent/JP2005062000A/en
Publication of JP2005062000A publication Critical patent/JP2005062000A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic sensing element which can be manufactured in a short period of time and at low cost, as compared with a conventional laminated-type magnetic sensing element which requires a longer manufacture period and high manufacturing cost, by improving a conductor layer to which AC voltage is applied, and to provide a magnetic detector fitted with the element. <P>SOLUTION: The magnetic sensing element 1 is constituted by forming a magnetic film 5, around a ready-made conductor wire 4 having conductivity as a conductor layer. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、磁気インピーダンス効果を利用した磁気検出素子および磁気検出回路に関するものであって、特に、交流電圧を印加する導電体の層を改良することによって、製造工程の容易化、製造期間の短縮化、および製造コストのコストダウンを図るものである。   The present invention relates to a magnetic detection element and a magnetic detection circuit using the magneto-impedance effect, and in particular, by improving a conductor layer to which an AC voltage is applied, the manufacturing process is simplified and the manufacturing period is shortened. And cost reduction of manufacturing costs.

従来より、各種分野において、例えば回転するシャフトに磁性体を取り付け、そのシャフトの回転量を磁界の変化として検出したり、移動する物体の位置や、その物体までの距離を磁界の変化として検出するなどして、磁界の検出が行われている。   Conventionally, in various fields, for example, a magnetic body is attached to a rotating shaft, and the amount of rotation of the shaft is detected as a change in the magnetic field, and the position of the moving object and the distance to the object are detected as the change in the magnetic field. Thus, the magnetic field is detected.

ここで、この磁界の検出を高感度に行うべく、外部磁界に対する物理量(インピーダンス)の変化率の高い素子を使用し、外部磁界を電気信号に変換することによって磁界の検出を行うのが一般的である。このような検出を行う素子として、例えば、特許文献1や特許文献2に開示された磁気検出素子がある。   Here, in order to detect this magnetic field with high sensitivity, it is common to use an element having a high rate of change in physical quantity (impedance) with respect to the external magnetic field, and detect the magnetic field by converting the external magnetic field into an electric signal. It is. As an element for performing such detection, for example, there are magnetic detection elements disclosed in Patent Document 1 and Patent Document 2.

特許文献1に開示された磁気検出素子は、零磁歪アモルファスワイヤなどの磁性線がもつ顕著な磁気インダクタンス効果を利用したものであり、磁性線を薄膜化することによって高感度化を図ったものである。すなわち、透磁率の高い磁性体層と、その磁性体層よりも導電率の高い導電体層と、の積層構造による相乗効果を利用して、導電体層に交流電圧を印加することによって磁性体層における被検出磁界の高感度検出を可能にするものである。   The magnetic detection element disclosed in Patent Document 1 utilizes a remarkable magnetic inductance effect of a magnetic wire such as a zero magnetostrictive amorphous wire, and is intended to increase sensitivity by thinning the magnetic wire. is there. That is, a magnetic material is applied by applying an alternating voltage to a conductor layer by utilizing a synergistic effect of a laminated structure of a magnetic layer having a high magnetic permeability and a conductor layer having a higher conductivity than the magnetic layer. It enables high-sensitivity detection of a detected magnetic field in a layer.

また、特許文献2に開示された磁気検出素子は、特許文献1に開示された磁気検出素子と同様の積層構造を有しており、導体金属層を内包したCo−Nb−Zrアモルファス金属磁性薄膜を磁気検出素子として利用することによって直流電気抵抗を低減させ、より高感度の磁界検出を可能にするものである。   Moreover, the magnetic detection element disclosed in Patent Document 2 has a laminated structure similar to that of the magnetic detection element disclosed in Patent Document 1, and is a Co—Nb—Zr amorphous metal magnetic thin film including a conductive metal layer. Is used as a magnetic detection element to reduce the DC electrical resistance and enable more sensitive magnetic field detection.

特許第3360519号公報(段落番号0026)Japanese Patent No. 3360519 (paragraph number 0026) 特許第3210933号公報(段落番号0044)Japanese Patent No. 3210933 (paragraph number 0044)

しかしながら、上述した磁気検出素子には、以下のような問題点が含まれている。すなわち、特許文献1又は特許文献2に開示された磁気検出素子にあっては、上述のとおり双方とも磁性膜/導体膜/磁性膜という積層構造を採用しており、高感度の磁界検出を実現せしめるものであるが、磁性膜と導体膜の双方を厚さ数μm程度成膜する必要があることから、積層構造に成膜する工程が煩雑であって製造に長時間を要し、全体的な製造コストを引き上げるといった問題点がある。   However, the magnetic detection element described above includes the following problems. That is, in the magnetic detection element disclosed in Patent Document 1 or Patent Document 2, both adopt the laminated structure of magnetic film / conductor film / magnetic film as described above, and realize high-sensitivity magnetic field detection. However, since it is necessary to form both the magnetic film and the conductor film with a thickness of about several μm, the process of forming the laminated structure is complicated, and it takes a long time to manufacture. There is a problem of raising the manufacturing cost.

また、磁性膜と導体膜の双方を薄膜で構成しているため、角形比が大きく高感度化し難いという問題点がある。   In addition, since both the magnetic film and the conductor film are composed of thin films, there is a problem that the squareness ratio is large and it is difficult to achieve high sensitivity.

本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、交流電圧を印加する導電体の層を改良することによって、製造期間及び製造コストのかかる従来の積層型磁気検出素子と比べて短期間かつ安価に製造可能な磁気検出素子、およびそれを組み込んだ磁気検出回路を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to improve the layer of a conductor to which an AC voltage is applied, thereby increasing the manufacturing time and manufacturing cost of a conventional multilayer magnetic sensing element. It is to provide a magnetic detection element that can be manufactured in a short period of time and at a low cost, and a magnetic detection circuit incorporating the magnetic detection element.

以上のような課題を解決するために、本発明は、導電性を有する導体線の周りに磁性膜を成膜することで磁気検出素子が構成されていることを特徴とする。   In order to solve the above problems, the present invention is characterized in that a magnetic detection element is configured by forming a magnetic film around a conductive wire having conductivity.

より具体的には、本発明は、以下のものを提供する。   More specifically, the present invention provides the following.

(1) 磁気インピーダンス効果を利用した磁気検出素子において、導電性を有する導体線と、前記導体線の外周面に成膜された磁性膜と、から構成されていることを特徴とする磁気検出素子。   (1) A magnetic sensing element using a magnetic impedance effect, comprising a conductive wire having conductivity and a magnetic film formed on an outer peripheral surface of the conductive wire. .

本発明によれば、導体線と磁性膜とから構成された磁気検出素子において、既製の導体線に磁性膜を成膜して磁気検出素子が構成されていることから、従来のように導体膜を成膜する必要がないので、製造工程の容易化を図ることができるとともに、短期間かつ安価に磁気検出素子を製造することができる。なお、導電性を有する導体線として、Cuなどの安価な金属材料を用いれば、更なるコストダウンを図ることが可能である。   According to the present invention, in the magnetic sensing element composed of the conductor wire and the magnetic film, the magnetic sensing element is configured by forming the magnetic film on the ready-made conductor wire. Therefore, the manufacturing process can be facilitated, and the magnetic detection element can be manufactured in a short period of time and at a low cost. If an inexpensive metal material such as Cu is used as the conductive conductor wire, further cost reduction can be achieved.

また、磁気検出素子として磁性線を採用する場合にあっては、難易度の高い超音波接合法による端子付けを行う必要があることから接続部分の信頼性に乏しいというデメリットがあるが、本発明によれば、慣用技術として定着している導体線への半田付けを適用できることから、高い接続信頼性を確保することができる。   Further, when a magnetic wire is used as the magnetic detection element, there is a demerit that the reliability of the connection portion is poor because it is necessary to perform terminal attachment by the ultrasonic bonding method with high difficulty. According to the above, since soldering to a conductor wire that has been established as a conventional technique can be applied, high connection reliability can be ensured.

(2) 磁気インピーダンス効果を利用した磁気検出素子において、導電性を有する導体線と、前記導体線の外周面に形成された絶縁層と、前記絶縁層の外周面に成膜された磁性膜と、から構成されていることを特徴とする磁気検出素子。   (2) In a magnetic sensing element utilizing the magneto-impedance effect, a conductive wire having conductivity, an insulating layer formed on the outer peripheral surface of the conductor wire, and a magnetic film formed on the outer peripheral surface of the insulating layer, A magnetic detection element comprising:

本発明によれば、磁気検出素子は、導電性を有する導体線と、その導体線の外周面に形成された絶縁層と、その絶縁層の外周面に成膜された磁性膜と、から構成されており、磁気検出素子の導体線を流れる高周波電流は、絶縁層によって磁性膜へ流入するのが妨げられ、導体線の部分のみに流れることになるから、インピーダンス変化が大きくなり、ひいては磁気検出特性の向上を図ることができる。   According to the present invention, the magnetic detection element includes a conductive conductor wire, an insulating layer formed on the outer peripheral surface of the conductor wire, and a magnetic film formed on the outer peripheral surface of the insulating layer. The high-frequency current flowing through the conductor wire of the magnetic sensing element is prevented from flowing into the magnetic film by the insulating layer and flows only in the portion of the conductor wire, resulting in a large impedance change, and consequently magnetic detection. The characteristics can be improved.

(3) 前記磁性膜の外周面には、直流バイアス用コイルが捲回されていることを特徴とする磁気検出素子。   (3) A magnetic detection element, wherein a DC bias coil is wound on the outer peripheral surface of the magnetic film.

本発明によれば、磁性膜の外周面には、直流バイアス用コイルが捲回されていることによって、この直流バイアス用コイルにバイアス電流を流して、磁気検出素子に所定のバイアス磁界(磁束密度)を容易に印加することができるので、インピーダンス変化特性を良好にして、この磁気検出素子をリニア磁界センサとして使用することができる。   According to the present invention, since a DC bias coil is wound around the outer peripheral surface of the magnetic film, a bias current is passed through the DC bias coil, and a predetermined bias magnetic field (magnetic flux density) is applied to the magnetic detection element. ) Can be easily applied, so that the impedance change characteristics can be improved, and this magnetic detection element can be used as a linear magnetic field sensor.

(4) (1)から(3)のいずれか記載の磁気検出素子と、前記磁気検出素子の前記導体線に駆動電圧を印加する駆動電源と、前記磁気検出素子に生じるインピーダンス変化を検出する検出器と、を備えることを特徴とする磁気検出回路。   (4) The magnetic detection element according to any one of (1) to (3), a drive power supply that applies a drive voltage to the conductor wire of the magnetic detection element, and detection that detects a change in impedance generated in the magnetic detection element A magnetic detection circuit.

本発明によれば、磁気検出回路には、上述した磁気検出素子と、その磁気検出素子の導体線の両端に駆動電圧を印加する駆動電源と、その磁気検出素子に生じるインピーダンス変化を検出する検出器と、が備えられており、高感度な磁界検出をすることが可能な磁気検出回路を容易かつ短期間に提供することができる。   According to the present invention, the magnetic detection circuit includes the above-described magnetic detection element, a drive power supply that applies a drive voltage to both ends of the conductor wire of the magnetic detection element, and a detection that detects a change in impedance generated in the magnetic detection element. And a magnetic detection circuit capable of detecting a magnetic field with high sensitivity can be provided easily and in a short period of time.

(5) (3)記載の磁気検出素子と、前記磁気検出素子の前記導体線に駆動電圧を印加する駆動電源と、前記磁気検出素子に生じるインピーダンス変化を検出する検出器と、を備える磁気検出回路であって、前記磁気検出素子に捲回された前記直流バイアス用コイルにバイアス電流を供給するバイアス電源が設けられていることを特徴とする磁気検出回路。   (5) Magnetic detection comprising: the magnetic detection element according to (3); a drive power supply that applies a drive voltage to the conductor wire of the magnetic detection element; and a detector that detects a change in impedance generated in the magnetic detection element. A magnetic detection circuit comprising a bias power supply for supplying a bias current to the DC bias coil wound around the magnetic detection element.

本発明によれば、磁気検出回路には、上述した磁気検出素子にバイアス電流を供給するバイアス電源が設けられていることから、磁気検出素子に所定のバイアス磁界(磁束密度)を印加することができ、ひいてはインピーダンス変化特性の良好な部分を磁界検出に用いることができる。   According to the present invention, since the magnetic detection circuit is provided with a bias power supply for supplying a bias current to the magnetic detection element described above, a predetermined bias magnetic field (magnetic flux density) can be applied to the magnetic detection element. As a result, a portion having good impedance change characteristics can be used for magnetic field detection.

本発明に係る磁気検出素子は、以上説明したように、導電性を有する既製の導体線の周りに磁性膜を成膜するという構成になっていることから、導体線を成膜する工程を省き、導体線の外周面に磁性膜(絶縁膜/磁性膜)を容易に製造することができ、ひいては製造期間の短縮および製造コストの削減に寄与することが可能となる。また、かかる構成を有する磁気検出素子を用いても、従来に劣ることのない、従来よりも優れたインピーダンス変化特性を有する。   As described above, the magnetic detection element according to the present invention has a configuration in which a magnetic film is formed around a conductive conductor wire having conductivity, so that the step of forming a conductor wire is omitted. In addition, a magnetic film (insulating film / magnetic film) can be easily manufactured on the outer peripheral surface of the conductor wire, and as a result, it is possible to contribute to shortening the manufacturing period and reducing manufacturing cost. Moreover, even if the magnetic detection element having such a configuration is used, it has an impedance change characteristic superior to that of the prior art which is not inferior to that of the prior art.

また、磁性膜のみを薄膜で構成しているため、従来よりも角形比が改善され、高感度化を図ることができる。   In addition, since only the magnetic film is composed of a thin film, the squareness ratio is improved as compared with the prior art, and high sensitivity can be achieved.

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

[磁気検出器の回路構成]
図1は、本発明の実施の形態に係る磁気検出回路の回路構成を示す図である。
[Circuit configuration of magnetic detector]
FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of a magnetic detection circuit according to an embodiment of the present invention.

図1において、本発明の実施の形態に係る磁気検出回路は、導体線の周りに磁性膜を成膜した磁気検出素子1と、例えば100MHzの正弦波電流などの高周波電流を供給する駆動電源2と、磁気検出素子1のインピーダンス変化に伴う電圧変化を検出する検出器3と、から構成されており、駆動電源2と検出器3との2つの接続点に磁気検出素子1が接続されている。なお、検出器3としては、例えば、対象物の電圧変化を検出する電圧計が挙げられる。   In FIG. 1, a magnetic detection circuit according to an embodiment of the present invention includes a magnetic detection element 1 having a magnetic film formed around a conductor wire, and a drive power supply 2 that supplies a high-frequency current such as a sinusoidal current of 100 MHz. And a detector 3 that detects a voltage change accompanying a change in impedance of the magnetic detection element 1, and the magnetic detection element 1 is connected to two connection points of the drive power supply 2 and the detector 3. . Examples of the detector 3 include a voltmeter that detects a change in voltage of an object.

かかる回路構成において、駆動電源2は、磁気検出素子1に対し高周波電圧を供給してその両端に電圧を印加して電流を流すと、磁気検出素子1の内部において周回方向の交流磁界を発生させる。そして、この交流磁界が印加された磁気検出素子1に対し、軸方向の外部磁界(被検出磁界)が印加されると、磁気検出素子1のインピーダンスが変化し、その変化を検出器3によって検出する。以下、かかる検出過程について図2を用いて詳述する。図2は、本発明の実施の形態に係る磁気検出素子1の構造を示す斜視図である。   In such a circuit configuration, when the drive power supply 2 supplies a high frequency voltage to the magnetic detection element 1 and applies a voltage to both ends of the drive power supply 2 to cause a current to flow, the drive power supply 2 generates an alternating magnetic field in the circulation direction inside the magnetic detection element 1. . When an axial external magnetic field (detected magnetic field) is applied to the magnetic detection element 1 to which this alternating magnetic field is applied, the impedance of the magnetic detection element 1 changes, and the change is detected by the detector 3. To do. Hereinafter, this detection process will be described in detail with reference to FIG. FIG. 2 is a perspective view showing the structure of the magnetic detection element 1 according to the embodiment of the present invention.

図2において、磁気検出素子1は、導電性を有する導体線(導線)4と、その導体線4の周りに成膜された磁性膜5と、から構成されている。なお、具体的な製造工程については後述する。   In FIG. 2, the magnetic detection element 1 is composed of a conductive wire (conductive wire) 4 having a conductivity and a magnetic film 5 formed around the conductor wire 4. A specific manufacturing process will be described later.

磁気検出素子1に対し高周波電流が供給されると、その高周波電流のほとんどは、磁性膜5よりも導電率の高い導体線4を流れる。そして、導体線4に高周波電流が流れると、次式によって磁性膜5の周回方向に交流磁界が発生する。なお、Hは磁界、Jは電流密度を示す。   When a high frequency current is supplied to the magnetic detection element 1, most of the high frequency current flows through the conductor wire 4 having a higher conductivity than the magnetic film 5. When a high-frequency current flows through the conductor wire 4, an alternating magnetic field is generated in the circumferential direction of the magnetic film 5 according to the following equation. H represents a magnetic field and J represents a current density.

Figure 2005062000
Figure 2005062000

式(1)によって、磁性膜5の周回方向に交流磁界が発生している状態において、外部磁界が磁気検出素子1の軸方向(図2中の軸A−A'の方向)に印加されると、その外部磁界に応じて磁性膜5の周回方向の透磁率が変化する。このため、次式(2)により、その外部磁界に応じて磁性膜5のインダクタンスも変化することとなる。なお、Lはインダクタンス、kは定数、μは透磁率を示す。   According to Expression (1), an external magnetic field is applied in the axial direction of the magnetic detection element 1 (the direction of the axis AA ′ in FIG. 2) in a state where an alternating magnetic field is generated in the circumferential direction of the magnetic film 5. Then, the magnetic permeability of the magnetic film 5 changes in accordance with the external magnetic field. For this reason, the inductance of the magnetic film 5 also changes according to the external magnetic field according to the following equation (2). Note that L is an inductance, k is a constant, and μ is a magnetic permeability.

Figure 2005062000
Figure 2005062000

式(2)に基づき、外部磁界に応じて磁性膜5のインダクタンスが変化すると、次式(3)より算出される磁気検出素子1のインピーダンスもその外部磁界に応じて変化することとなる。なお、Zは磁気検出素子1全体のインピーダンス、Rは磁気検出素子1全体の抵抗分、ωは駆動電源2から供給される高周波電流の角周波数を示す。   When the inductance of the magnetic film 5 changes according to the external magnetic field based on the equation (2), the impedance of the magnetic detection element 1 calculated from the following equation (3) also changes according to the external magnetic field. Z represents the impedance of the entire magnetic detection element 1, R represents the resistance of the entire magnetic detection element 1, and ω represents the angular frequency of the high-frequency current supplied from the drive power supply 2.

Figure 2005062000
Figure 2005062000

式(3)より算出される磁気検出素子1のインピーダンスが、外部磁界に応じて変化する様子を図3に示す。図3は、本発明の実施の形態に係る磁気検出素子1のインピーダンス変化特性を示す図である。なお、横軸は磁束密度(Oe)、縦軸はインピーダンス変化率(%)を示し、駆動電源2から供給される高周波電流の角周波数を12MHz、20MHz、35MHz、45MHz、80MHz、100MHzと変化させたときのインピーダンス特性を示している。   FIG. 3 shows how the impedance of the magnetic detection element 1 calculated from the equation (3) changes according to the external magnetic field. FIG. 3 is a diagram showing impedance change characteristics of the magnetic detection element 1 according to the embodiment of the present invention. The horizontal axis represents the magnetic flux density (Oe), the vertical axis represents the impedance change rate (%), and the angular frequency of the high-frequency current supplied from the drive power supply 2 is changed to 12 MHz, 20 MHz, 35 MHz, 45 MHz, 80 MHz, and 100 MHz. The impedance characteristics are shown.

図3によれば、駆動電源2から供給される高周波電流の角周波数が大きければ大きいほどインピーダンス変化率が大きくなっている。これは、式(3)の右辺第2項に起因するものである。従って、磁気検出素子1のインピーダンス変化特性を向上させるためには、駆動電源2から供給される高周波電流の角周波数はなるべく大きい方が好ましいが、この角周波数をあまりに大きくすると、回路構成によっては浮遊インピーダンス成分が発生する。このため、駆動電源2から供給される高周波電流の角周波数は、回路構成を考慮したうえで最適な値が決定される。   According to FIG. 3, the larger the angular frequency of the high-frequency current supplied from the drive power supply 2, the greater the impedance change rate. This is due to the second term on the right side of Equation (3). Therefore, in order to improve the impedance change characteristic of the magnetic detection element 1, it is preferable that the angular frequency of the high-frequency current supplied from the drive power supply 2 is as large as possible. Impedance component is generated. For this reason, the angular frequency of the high-frequency current supplied from the drive power supply 2 is determined to be an optimum value in consideration of the circuit configuration.

また、図3によれば、外部磁界(磁束密度)が印加され、最初のうちは、外部磁界の絶対値が0から大きくなるにつれてインピーダンス変化率が上昇している一方で、ある一定の臨界点に達した後は、外部磁界の絶対値が大きくなるにつれてインピーダンス変化率が下降している。このため、磁気検出素子1を用いて外部磁界の検出を行う際には、この臨界点に達する前のダイナミックレンジ(例えば、図3で角周波数が100MHzの場合において、磁束密度が0Oe〜16Oeの範囲)において行うのが一般的である。   Further, according to FIG. 3, an external magnetic field (magnetic flux density) is applied, and at first, the impedance change rate increases as the absolute value of the external magnetic field increases from 0, but at a certain critical point. After reaching the value, the impedance change rate decreases as the absolute value of the external magnetic field increases. For this reason, when an external magnetic field is detected using the magnetic detection element 1, the dynamic range before the critical point is reached (for example, when the angular frequency is 100 MHz in FIG. 3, the magnetic flux density is 0 Oe to 16 Oe. Generally, it is performed in (range).

ここで、図3において、外部磁界の絶対値が0に近い場合には、インピーダンス変化率はあまり上昇しないことがわかる。従って、図4に示すように、磁性膜5の外周面に直流バイアス用コイル8を捲回し、この直流バイアス用コイル8にバイアス電流(バイアス磁界)を供給するバイアス電源6を設けることによって、外部磁界の絶対値が0に近い状態であっても、最適なダイナミックレンジにおいて外部磁界検出を行うことができる。すなわち、例えば、図3で角周波数が100MHzの場合において、磁束密度10Oe程度のバイアス磁界を印加すれば、外部磁界の絶対値が0に近い場合であっても、インピーダンス変化率が十分高い状態で(インピーダンス変化率がリニアに上昇する状態で)精度良く外部磁界検出を行うことができる。   Here, in FIG. 3, when the absolute value of the external magnetic field is close to 0, it can be seen that the impedance change rate does not increase so much. Therefore, as shown in FIG. 4, a DC bias coil 8 is wound around the outer peripheral surface of the magnetic film 5, and a bias power source 6 for supplying a bias current (bias magnetic field) to the DC bias coil 8 is provided. Even when the absolute value of the magnetic field is close to 0, the external magnetic field can be detected in the optimum dynamic range. That is, for example, in the case where the angular frequency is 100 MHz in FIG. 3, if a bias magnetic field having a magnetic flux density of about 10 Oe is applied, the impedance change rate is sufficiently high even when the absolute value of the external magnetic field is close to zero. External magnetic field detection can be performed with high accuracy (in a state where the rate of change in impedance increases linearly).

次に、本発明の実施の形態に係る磁気検出素子1の製造工程について説明する。   Next, the manufacturing process of the magnetic detection element 1 according to the embodiment of the present invention will be described.

[製造工程]
図5は、本発明の実施の形態に係る磁気検出素子1の製造工程を説明するための工程図である。なお、磁気検出素子1は、上述のとおり導体線4の周りに磁性膜5を成膜したものであり、成膜方法としては、
(1)真空チャンバ内で蒸着材料を電子ビームやタングステンヒータなどの熱源によって気化させ、近傍においた導体線4に堆積させて磁性膜5を形成する真空蒸着法、
(2)アルゴンプラズマをターゲットに照射し,それによりはじき出された物質を導体線4に堆積させるスパッタ法、
(3)磁性膜5を電気化学的に析出(電着)させる湿式めっき法
など様々な方法があるが、本発明ではこれらの種類の如何を問わない。ここでは、物理蒸着法のうちの蒸着法に基づいて磁気検出素子1を製造する工程について説明する。
[Manufacturing process]
FIG. 5 is a process diagram for explaining a manufacturing process of the magnetic sensing element 1 according to the embodiment of the present invention. The magnetic detection element 1 is obtained by forming the magnetic film 5 around the conductor wire 4 as described above.
(1) A vacuum vapor deposition method in which a vapor deposition material is vaporized by a heat source such as an electron beam or a tungsten heater in a vacuum chamber, and is deposited on a conductor wire 4 in the vicinity to form a magnetic film 5;
(2) A sputtering method in which the target is irradiated with argon plasma, and the material ejected thereby is deposited on the conductor wire 4;
(3) Although there are various methods such as a wet plating method in which the magnetic film 5 is electrochemically deposited (electrodeposited), any type of these may be used in the present invention. Here, the process of manufacturing the magnetic detection element 1 based on the vapor deposition method of the physical vapor deposition methods will be described.

図5において、まず、真空チャンバ(図示せず)の中に導体線4を置く(図5(a))。この導体線4の材質としては、Cu,Ag,Au,Alなどの導電性を有する物質が挙げられる。ここで、真空チャンバに置かれる導体線4は、予め溶剤洗浄、酸洗浄、超音波洗浄などを組み合わせて、酸化膜や不純物を完全に取り除いておくことが重要である。これによって、導体線4の外周面に成膜する磁性層の膜厚ムラを防止することができる。   In FIG. 5, first, the conductor wire 4 is placed in a vacuum chamber (not shown) (FIG. 5A). Examples of the material of the conductor wire 4 include conductive materials such as Cu, Ag, Au, and Al. Here, it is important that the conductor wire 4 placed in the vacuum chamber is previously removed with an oxide film and impurities completely by combining solvent cleaning, acid cleaning, ultrasonic cleaning, and the like. Thereby, film thickness unevenness of the magnetic layer formed on the outer peripheral surface of the conductor wire 4 can be prevented.

次いで、蒸発源によって気化した磁性体を導体線4に衝突させ、磁性膜5を形成する。この磁性体の材質としては、Fe−Co−Si−B,Co−Si−B,Co−Nb−Zr,Fe−Niなどの透磁率の高い物質が挙げられる。ここで、蒸発源から蒸発した蒸発粒子のエネルギーは0.1〜1eVと小さいため、シースヒータやハロゲンヒータなどによって熱エネルギーを与えたり、イオン銃によって数100eV程度のガスイオンを導体線4に照射し、そのガスイオンのもつ運動エネルギーにより緻密な膜を形成するといったことも行われる(図5(b))。   Next, the magnetic material evaporated by the evaporation source is caused to collide with the conductor wire 4 to form the magnetic film 5. Examples of the material of the magnetic material include substances having high magnetic permeability such as Fe—Co—Si—B, Co—Si—B, Co—Nb—Zr, and Fe—Ni. Here, since the energy of the evaporated particles evaporated from the evaporation source is as small as 0.1 to 1 eV, thermal energy is given by a sheath heater, a halogen heater, or the like, or the conductor wire 4 is irradiated with gas ions of about several hundred eV by an ion gun. A dense film is also formed by the kinetic energy of the gas ions (FIG. 5B).

以上説明したように、本発明の実施の形態に係る磁気検出素子1の製造工程は、従来の磁気検出素子の製造工程に比べて容易であり、そのため磁気検出素子1の製造期間が短く、製造コストが安価であるといったメリットがある。   As described above, the manufacturing process of the magnetic detection element 1 according to the embodiment of the present invention is easier than the conventional manufacturing process of the magnetic detection element. There is an advantage that the cost is low.

[変形例]
次に、本発明の実施の形態に係る磁気検出素子の変形例について説明する。図6は、本発明の実施の形態に係る磁気検出素子1'の構造を示す斜視図である。
[Modification]
Next, a modification of the magnetic detection element according to the embodiment of the present invention will be described. FIG. 6 is a perspective view showing the structure of the magnetic detection element 1 ′ according to the embodiment of the present invention.

図6において、磁気検出素子1'は、導電性を有する導体線4と、その導体線4の外周面に形成された絶縁層7と、その絶縁層7の外周面に成膜された磁性膜5と、から構成されている。図6に示すように、磁性膜5を成膜する前に、絶縁体によって形成された絶縁層7を介することによって、駆動電源2から供給される高周波電流は導体線4のみを流れることとなる。これより、磁気検出素子1'全体のインピーダンスの変化を大きくすることができ、ひいては外部磁界検出の精度の向上を図ることができる。   In FIG. 6, the magnetic detection element 1 ′ includes a conductive wire 4 having conductivity, an insulating layer 7 formed on the outer peripheral surface of the conductor wire 4, and a magnetic film formed on the outer peripheral surface of the insulating layer 7. 5. As shown in FIG. 6, the high-frequency current supplied from the drive power supply 2 flows only through the conductor wire 4 through the insulating layer 7 formed of an insulator before the magnetic film 5 is formed. . As a result, the change in impedance of the entire magnetic detection element 1 ′ can be increased, and as a result, the accuracy of external magnetic field detection can be improved.

図6に示す磁気検出素子1'の製造工程は、基本的には上述した製造工程と同様である。相違点としては、導体線4の周りに磁性膜5を成膜する前に、絶縁体を成膜することで絶縁層7を形成する点である。なお、絶縁層7を成膜する手法としては、上述した物理蒸着法やスパッタ法などが挙げられる。また、絶縁体の材質としては、酸化珪素などの導電性を有していない物質が挙げられる。さらに、磁性膜5を成膜した後、コバルトプラチナ等の磁気固定層を磁性膜5の上に成膜するようにしてもよい。この磁気固定層によって、磁束線の動きがとまるため、外部磁界検出の精度の向上を図ることができる。   The manufacturing process of the magnetic detection element 1 ′ shown in FIG. 6 is basically the same as the manufacturing process described above. The difference is that the insulating layer 7 is formed by depositing an insulator before the magnetic film 5 is formed around the conductor wire 4. In addition, as a method of forming the insulating layer 7, the above-described physical vapor deposition method, sputtering method, or the like can be given. In addition, examples of the material of the insulator include a substance having no conductivity such as silicon oxide. Further, after the magnetic film 5 is formed, a magnetic pinned layer such as cobalt platinum may be formed on the magnetic film 5. This magnetic pinned layer stops the movement of the magnetic flux lines, so that the accuracy of external magnetic field detection can be improved.

本発明に係る磁気検出素子および磁気検出器は、容易に製造することができ、ひいては製造期間の短縮および製造コストの削減に資するものとして有用である。   The magnetic detection element and the magnetic detector according to the present invention can be easily manufactured, and as a result, are useful as contributing to shortening of the manufacturing period and manufacturing cost.

本発明の実施の形態に係る磁気検出回路の回路構成を示す図である。It is a figure which shows the circuit structure of the magnetic detection circuit which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る磁気検出素子の構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the magnetic detection element which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る磁気検出素子のインピーダンス変化特性を示す図である。It is a figure which shows the impedance change characteristic of the magnetic detection element which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る磁気検出素子にバイアス電源を設けたときの回路構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows a circuit structure when a bias power supply is provided in the magnetic detection element which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る磁気検出素子の製造工程を説明するための工程図である。It is process drawing for demonstrating the manufacturing process of the magnetic detection element which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る他の磁気検出素子の構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the other magnetic detection element which concerns on embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 磁気検出素子
2 駆動電源
3 検出器
4 導体線
5 磁性膜
6 バイアス電源
7 絶縁層
8 直流バイアス用コイル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Magnetic detection element 2 Drive power supply 3 Detector 4 Conductor wire 5 Magnetic film 6 Bias power supply 7 Insulating layer 8 DC bias coil

Claims (5)

磁気インピーダンス効果を利用した磁気検出素子において、
導電性を有する導体線と、
前記導体線の外周面に成膜された磁性膜と、から構成されていることを特徴とする磁気検出素子。
In the magnetic sensing element using the magneto-impedance effect,
A conductive wire having conductivity;
And a magnetic film formed on the outer peripheral surface of the conductor wire.
磁気インピーダンス効果を利用した磁気検出素子において、
導電性を有する導体線と、
前記導体線の外周面に形成された絶縁層と、
前記絶縁層の外周面に成膜された磁性膜と、から構成されていることを特徴とする磁気検出素子。
In the magnetic sensing element using the magneto-impedance effect,
A conductive wire having conductivity;
An insulating layer formed on the outer peripheral surface of the conductor wire;
And a magnetic film formed on the outer peripheral surface of the insulating layer.
前記磁性膜の外周面には、直流バイアス用コイルが捲回されていることを特徴とする請求項1又は2記載の磁気検出素子。   3. The magnetic detection element according to claim 1, wherein a DC bias coil is wound around the outer peripheral surface of the magnetic film. 請求項1から3のいずれか記載の磁気検出素子と、
前記磁気検出素子の前記導体線に駆動電圧を印加する駆動電源と、
前記磁気検出素子に生じるインピーダンス変化を検出する検出器と、を備えることを特徴とする磁気検出回路。
A magnetic detection element according to any one of claims 1 to 3,
A driving power source for applying a driving voltage to the conductor wire of the magnetic detection element;
And a detector for detecting a change in impedance generated in the magnetic detection element.
請求項3記載の磁気検出素子と、
前記磁気検出素子の前記導体線に駆動電圧を印加する駆動電源と、
前記磁気検出素子に生じるインピーダンス変化を検出する検出器と、を備える磁気検出回路であって、
前記磁気検出素子に捲回された前記直流バイアス用コイルにバイアス電流を供給するバイアス電源が設けられていることを特徴とする磁気検出回路。
A magnetic detection element according to claim 3;
A driving power source for applying a driving voltage to the conductor wire of the magnetic detection element;
A magnetic detection circuit comprising a detector for detecting a change in impedance generated in the magnetic detection element,
A magnetic detection circuit comprising a bias power supply for supplying a bias current to the DC bias coil wound around the magnetic detection element.
JP2003292499A 2003-08-12 2003-08-12 Magnetic sensitive element and magnetic detector Withdrawn JP2005062000A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003292499A JP2005062000A (en) 2003-08-12 2003-08-12 Magnetic sensitive element and magnetic detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003292499A JP2005062000A (en) 2003-08-12 2003-08-12 Magnetic sensitive element and magnetic detector

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005062000A true JP2005062000A (en) 2005-03-10

Family

ID=34369827

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003292499A Withdrawn JP2005062000A (en) 2003-08-12 2003-08-12 Magnetic sensitive element and magnetic detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005062000A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010107073A1 (en) * 2009-03-19 2010-09-23 株式会社村田製作所 Magnetic impedance element, and magnetic sensor using same
JP4650591B2 (en) * 2008-03-28 2011-03-16 愛知製鋼株式会社 Magnetosensitive wire, magneto-impedance element and magneto-impedance sensor
JP2017181379A (en) * 2016-03-31 2017-10-05 フジデノロ株式会社 Magnetic detection element and magnetic impedance sensor
WO2022259601A1 (en) * 2021-06-10 2022-12-15 株式会社アドバンテスト Magnetic field measuring instrument

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4650591B2 (en) * 2008-03-28 2011-03-16 愛知製鋼株式会社 Magnetosensitive wire, magneto-impedance element and magneto-impedance sensor
US8610427B2 (en) 2008-03-28 2013-12-17 Aichi Steel Corporation Magneto-sensitive wire, magneto-impedance element and magneto-impedance sensor
WO2010107073A1 (en) * 2009-03-19 2010-09-23 株式会社村田製作所 Magnetic impedance element, and magnetic sensor using same
JP5375951B2 (en) * 2009-03-19 2013-12-25 株式会社村田製作所 Magneto-impedance element and magnetic sensor using the same
US8710835B2 (en) 2009-03-19 2014-04-29 Murata Manufacturing Co., Ltd. Magnetic impedance element and magnetic sensor using the same
JP2017181379A (en) * 2016-03-31 2017-10-05 フジデノロ株式会社 Magnetic detection element and magnetic impedance sensor
WO2022259601A1 (en) * 2021-06-10 2022-12-15 株式会社アドバンテスト Magnetic field measuring instrument

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8610427B2 (en) Magneto-sensitive wire, magneto-impedance element and magneto-impedance sensor
US7495624B2 (en) Apparatus for detection of the gradient of a magnetic field, and a method for production of the apparatus
TWI259284B (en) Magnet, impedance and sensor device having electromagnetic coil
JP2013197205A5 (en)
JP5156432B2 (en) Eddy current sample measurement method and eddy current sensor
JP2005502888A (en) Method and system for improving efficiency of magnetic sensor set and offset strap
JP7062216B2 (en) Ultra-thin high-sensitivity magnetic sensor
US4727754A (en) Electromagnetic flowmeter
JP2012039010A (en) Magnetic sensor and magnetic detection apparatus
US8012771B2 (en) Method for manufacturing magnetic field detection devices and devices therefrom
JP2005351720A (en) Probe for scanning microscope
JP2005062000A (en) Magnetic sensitive element and magnetic detector
WO2018230262A1 (en) Ultra high-sensitivity micro magnetic sensor
RU2436200C1 (en) Magnetoresistive sensor
JP2001004726A (en) Magnetic field sensor
TW468168B (en) Magnetoresistive devices, giant magnetoresistive devices and methods for making same background of the invention
JP2004340953A (en) Magnetic field sensing element, manufacturing method therefor, and device using them
JP2009198371A (en) Proximity sensor
Chiang et al. Microfabricated flexible electrodes for multiaxis sensing in the large plasma device at UCLA
CN112514012A (en) Inductive element and device comprising the same
Stickler et al. Integrated setup for the fabrication and measurement of magnetoresistive nanoconstrictions in ultrahigh vacuum
JP5053788B2 (en) Conductive probe, conductive probe manufacturing method, and magnetic property measuring method
JP4310431B2 (en) Method and apparatus for measuring critical current density and current / voltage characteristics of superconducting thick film
JPH0950609A (en) Spin valve element
JP7002739B2 (en) Magnetic sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060621

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080805