JP2005059128A - Resonator of micro-electromechanical system and operation method therefor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、温度変化による共振周波数の補正が容易なマイクロ電気機械システムの共振器およびその動作方法に関するものである。 The present invention relates to a resonator of a microelectromechanical system that can easily correct a resonance frequency due to a temperature change, and an operation method thereof.
半導体プロセス技術を用いて形成された微小振動子は、デバイスの占有面積が小さいこと、高いQ値を実現できること、他の半導体デバイスとの集積が可能であること等の特徴により、無線通信デバイスの中でもIF(中間周波)フィルタ、RF(ラジオ周波)フィルタとしての利用がミシガン大学を始めとする研究機関から提案されている。その構造の代表例を図4によって説明する。 A micro vibrator formed by using a semiconductor process technology has features such as a small area occupied by the device, a high Q value, and the ability to integrate with other semiconductor devices. Among them, use as IF (intermediate frequency) filter and RF (radio frequency) filter has been proposed by research institutions such as the University of Michigan. A representative example of the structure will be described with reference to FIG.
図4に示すように、微小振動子101は以下のような構成となっている。基板111上に設けられた出力電極112の上方に、空間121を介して振動子電極113が配置されているものである。上記振動子電極113には、電源114を介して入力電極115が接続されている。
As shown in FIG. 4, the
次に、上記微小振動子の動作を以下に説明する。上記入力電極115に特定の周波数電圧が印加された場合、出力電極112上に空間121を介して設けられた振動子電極113のビーム(振動部)が固有振動周波数で振動し、出力電極112とビーム(振動部)との間の空間121で構成されるキャパシタの容量が変化し、これが出力電極112から電圧として出力される(例えば、非特許文献1参照)。
Next, the operation of the micro vibrator will be described below. When a specific frequency voltage is applied to the
しかし、これまでに提案され、検証された微小振動子の共振周波数は最高でも200MHzを超えず、従来の表面弾性波(SAW)あるいは薄膜弾性波(FBAR)によるGHz(ギガヘルツ)領域のフィルタに対して、微小振動子の特性である高いQ値をGHz帯周波数領域で提供することは困難となっている。 However, the resonance frequency of the micro-vibrator that has been proposed and verified so far does not exceed 200 MHz at the maximum, compared to a conventional GHz (gigahertz) filter using surface acoustic waves (SAW) or thin-film elastic waves (FBAR). Thus, it is difficult to provide a high Q value, which is a characteristic of the micro vibrator, in the GHz band frequency region.
現在のところ、一般に高い周波数領域では出力信号としての共振ピークが小さくなる傾向があり、良好なフィルタ特性を得るためには、共振ピークのSN比を向上する必要がある。ミシガン大学の文献(Disk型の例)(例えば、非特許文献1参照)によれば、出力信号のノイズ成分は、入出力電極間に構成される寄生容量を直接透過する信号によっており、この信号を小さくするために、直流(DC)を印加した振動電極を入出力電極間に配置することで、ノイズ成分の低減が図れるとされている。 At present, in general, the resonance peak as an output signal tends to be small in a high frequency region, and it is necessary to improve the SN ratio of the resonance peak in order to obtain good filter characteristics. According to the University of Michigan literature (Example of Disk type) (see, for example, Non-Patent Document 1), the noise component of the output signal depends on a signal that directly passes through the parasitic capacitance formed between the input and output electrodes. In order to reduce the noise, a vibration component to which direct current (DC) is applied is arranged between the input and output electrodes, thereby reducing noise components.
一方でDisk型の振動子で、十分な出力信号を得るには、30Vを超えるDC電圧が必要であるために、実用的な構造としては両持ち梁を用いたビーム型の構造が望ましい。上記のノイズ成分の低減方法をビーム型の構造に対して適用した場合、一例として図5に示すような電極配置となる。 On the other hand, in order to obtain a sufficient output signal with a disk-type vibrator, a DC voltage exceeding 30 V is required. Therefore, a beam-type structure using a doubly supported beam is desirable as a practical structure. When the noise component reduction method described above is applied to a beam-type structure, an electrode arrangement as shown in FIG. 5 is taken as an example.
図5に示すように、シリコン基板上に酸化シリコン膜および窒化シリコン膜の積層膜を形成した基板211上に、離間した状態で入力電極212と出力電極213とが平行して配設され、その上空に微小な空間を介して上記入力電極212および上記出力電極213を横切るようにビーム型振動子214が配設されているものである。
As shown in FIG. 5, an
解決しようとする問題点は、共振器周辺の温度変化により共振周波数が変動する点である。すなわち、共振器の周辺温度が変化すると、熱膨張により振動子の長さが変化し、また振動子のヤング率も変動する。これらの変化は振動子の共振周波数に影響を与えるため、共振器の共振特性にも変化が生じる点である。共振器はフィルタや発振器への応用を目的としており、30ppm/℃以上の温度特性では実用上不都合が生じることになる。本発明では、振動子と電極との間に印加する直流(DC)電圧を調整することにより、共振器の温度特性を補正して一定の共振周波数を得ることを課題としている。 The problem to be solved is that the resonance frequency fluctuates due to a temperature change around the resonator. That is, when the ambient temperature of the resonator changes, the length of the vibrator changes due to thermal expansion, and the Young's modulus of the vibrator also changes. Since these changes affect the resonance frequency of the vibrator, the resonance characteristics of the resonator also change. The resonator is intended for application to a filter or an oscillator, and a temperature characteristic of 30 ppm / ° C. or higher causes a practical problem. An object of the present invention is to obtain a constant resonance frequency by adjusting the temperature characteristics of the resonator by adjusting the direct current (DC) voltage applied between the vibrator and the electrode.
本発明のマイクロ電気機械システムの共振器は、信号を入力する入力電極と、信号を出力する出力電極と、前記入力電極および前記出力電極に対して空間を介して対向する振動子と、前記振動子に直流電圧を印加する電源とを備えたマイクロ電気機械システムの共振器において、前記マイクロ電気機械システムの共振器もしくはその周囲の温度を測定する温度センサと、前記温度センサにより測定された温度に基づいて前記振動子に印加する直流電圧を指示する制御部とを備えたことを最も主要な特徴とする。 The resonator of the micro electro mechanical system of the present invention includes an input electrode for inputting a signal, an output electrode for outputting a signal, a vibrator facing the input electrode and the output electrode through a space, and the vibration A resonator of a microelectromechanical system including a power source for applying a DC voltage to the child, a temperature sensor for measuring a temperature of the resonator of the microelectromechanical system or its surroundings, and a temperature measured by the temperature sensor And a control unit for instructing a DC voltage to be applied to the vibrator.
本発明のマイクロ電気機械システムの共振器の動作方法は、信号を入力する入力電極と、信号を出力する出力電極と、前記入力電極および前記出力電極に対して空間を介して対向する振動子と、前記振動子に直流電圧を印加する電源とを備えたマイクロ電気機械システムの共振器の動作方法であって、前記マイクロ電気機械システムの共振器もしくはその周囲の温度を測定する温度センサと、前記温度センサにより測定された温度に基づいて前記振動子に印加する直流電圧を指示する制御部とを備え、前記温度センサで前記マイクロ電気機械システムの共振器もしくはその周囲の温度を測定し、前記マイクロ電気機械システムの共振器の共振周波数が所望の周波数になるように前記測定した温度に対応した直流電圧を前記制御部より前記電源に指示して、前記指示された直流電圧を前記電源より前記振動子に印加することを最も主要な特徴とする。 An operation method of a resonator of a micro electro mechanical system of the present invention includes an input electrode for inputting a signal, an output electrode for outputting a signal, and a vibrator facing the input electrode and the output electrode through a space. A method of operating a resonator of a microelectromechanical system including a power source for applying a DC voltage to the vibrator, the temperature sensor measuring the temperature of the resonator of the microelectromechanical system or its surroundings, and And a controller for instructing a DC voltage to be applied to the vibrator based on the temperature measured by the temperature sensor, and measuring the temperature of the resonator of the micro electro mechanical system or its surroundings with the temperature sensor, A direct current voltage corresponding to the measured temperature is applied from the control unit to the power supply so that the resonance frequency of the resonator of the electromechanical system becomes a desired frequency. Instruct, and most important feature applying the indicated DC voltage to the vibrator from the power supply.
本発明のマイクロ電気機械システムの共振器(以下、MEMS共振器という)およびその動作方法は、MEMS共振器もしくはその周囲の温度を測定する温度センサと、温度センサにより測定された温度に基づいて振動子に印加する直流電圧を調整指示する制御部とを備えたため、MEMS共振器の温度もしくはMEMS共振器の周囲温度を測定してその温度変化に対応した直流電圧を振動子に印加できるので、周辺温度により共振周波数が変化しないMEMS共振器が可能となるという利点がある。すなわち、本発明のMEMS共振器およびその動作方法は、温度変化による共振周波数のズレを防止することを可能とする。従来のSAWフィルタ、FBARフィルタは30ppm/℃程度の温度特性を持っており、低温や高温な環境での周波数シフトが問題となっていたが、本発明は、このような問題のないMEMS共振器を使った周波数フィルタや発振器の提供を可能とする。 A resonator of a microelectromechanical system of the present invention (hereinafter referred to as a MEMS resonator) and a method of operating the resonator include a temperature sensor that measures the temperature of the MEMS resonator or its surroundings, and vibration based on the temperature measured by the temperature sensor. Since the control unit for instructing the adjustment of the DC voltage applied to the child is provided, the temperature of the MEMS resonator or the ambient temperature of the MEMS resonator can be measured, and the DC voltage corresponding to the temperature change can be applied to the vibrator. There is an advantage that a MEMS resonator whose resonance frequency does not change with temperature is possible. That is, the MEMS resonator of the present invention and the operation method thereof can prevent the resonance frequency from being shifted due to a temperature change. Conventional SAW filters and FBAR filters have a temperature characteristic of about 30 ppm / ° C., and frequency shift in a low temperature or high temperature environment has been a problem. The present invention is a MEMS resonator that does not have such a problem. It is possible to provide frequency filters and oscillators using
共振周波数が温度変化に依存しないようにするという目的を、温度変化に対応させて振動子に印加する直流電圧を設定するように、MEMS共振器もしくはその周囲の温度を測定する温度センサと、温度センサにより測定された温度に基づいて振動子に印加する直流電圧を調整指示する制御部とを設けることで実現した。 The temperature sensor for measuring the temperature of the MEMS resonator or its surroundings so as to set the DC voltage applied to the vibrator in response to the temperature change, and the temperature sensor for the purpose of making the resonance frequency independent of the temperature change, This is realized by providing a control unit for instructing adjustment of the DC voltage applied to the vibrator based on the temperature measured by the sensor.
本発明のMEMS共振器に係る実施例1を、図1の概略構成図によって説明する。 A first embodiment of the MEMS resonator of the present invention will be described with reference to the schematic configuration diagram of FIG.
図1に示すように、表面に絶縁膜(図示せず)が形成された基板10上には、信号を入力する入力電極11と、信号を出力する出力電極12とが並行に形成されている。また、上記入力電極11および上記出力電極12を挟むように振動子の電極34が形成されている。上記入力電極11および上記出力電極12上には、空間21を介して対向するように、かつ電極34に接続するように振動子13が形成されている。上記入力電極11と出力電極12と振動子13との間の空間21は、例えば0.1μm程度の距離に形成されている。また、上記振動子13には直流電圧が印加される電源41が接続されている。この電流1は、電圧を所望の値に可変して供給できる電源からなる。
As shown in FIG. 1, an
上記MEMS共振器1近傍には、MEMS共振器1の周囲温度を測定する温度センサ51が設置されている。この温度センサ51はMEMS共振器1に直接設置されていてもよい。この場合には、振動子13以外の構成部品に設置される。上記温度センサ51は、MEMS共振器1の周囲温度もしくはMEMS共振器1自体の温度を測定することができるものであればよく、例えば熱電対式温度センサを用いることができる。
A temperature sensor 51 that measures the ambient temperature of the
また、上記温度センサ51により測定された温度に基づいて上記振動子13に印加する直流電圧を調整指示する制御部61が備えられている。この制御部61は、上記温度センサ51により測定された温度に基づいて、MEMS共振器1が所定に周波数で振動するように、振動子13に印加する電圧を決定し、電源41にその電圧を指示するものである。
In addition, a control unit 61 that instructs to adjust the DC voltage applied to the
上記電源41は、上記制御部61によって指示された電圧に印加電圧を調整して、振動子13に指示された電圧を印加するものである。
The power supply 41 adjusts the applied voltage to the voltage instructed by the control unit 61 and applies the instructed voltage to the
次に、上記MEMS共振器1の動作を説明する。まず、温度センサ51によりMEMS共振器1の周囲温度を測定する。上記説明したように、温度センサ51を直接MEMS共振器1に設置している場合には、MEMS共振器1の温度を測定することになる。以下、MEMS共振器1の周囲温度を測定することで説明する。そして、上記制御部61によって、温度センサ51で測定した温度に基づいて振動子13に印加する電圧を決定する。この電圧は以下のように決定する。
Next, the operation of the
例えば、予め、MEMS共振器1の周囲温度とMEMS共振器1の共振周波数との関係および振動子13に印加する電圧とMEMS共振器1の共振周波数との関係を調べておく。そして、例えば、共振周波数をパラメータとして、MEMS共振器1の周囲温度に対する印加電圧の関係を求めておく。これを以下、温度−電圧の関係という。この温度−電圧の関係に基づいて、所望の共振周波数を得る電圧を決定する。そして、制御部61により、決定された電圧が電源41に指示され、電源41より支持された電圧が振動子13に印加される。これにより、MEMS共振器1は、所望の共振周波数を得る。
For example, the relationship between the ambient temperature of the
次に、本発明のMEMS共振器1に係る製造方法の一例を、図2および図3の製造工程断面図によって説明する。
Next, an example of the manufacturing method according to the
図2(1)に示すように、半導体基板31に絶縁膜32を形成する。半導体基板31には、例えばシリコン基板を用い、絶縁膜32には、例えば窒化シリコン(SiN)膜を用いる。この窒化シリコン膜は、例えば1μmの厚さに形成する。なお、窒化シリコン膜の代わりに酸化シリコン膜と窒化シリコン膜との積層膜を用いてもよい。このように基板10は、一例としてシリコン基板31上に絶縁膜32が形成されたものからなる。さらに、絶縁膜32上に電極形成膜33を形成する。この電極形成膜33は、例えばポリシリコン膜で形成され、例えば0.5μmの厚さに形成される。
As shown in FIG. 2A, an insulating
次いで、図2(2)に示すように、レジスト塗布、リソグラフィー技術により入力電極と出力電極形状に上記電極形成膜33を加工してレジストマスクを形成した後、このレジストマスクを用いてエッチング加工により、上記電極形成膜33で入力電極11と出力電極12とを形成する。同時に、上記電極形成膜33で後に形成される振動子の電極34も形成しておく。
Next, as shown in FIG. 2B, after forming the resist mask by processing the
次いで、図2(3)に示すように、上記入力電極11、出力電極12および振動子の電極34を被覆する様にかつ上記入力電極11および出力電極12よりも厚く犠牲層35を形成する。この犠牲層35は、例えば酸化シリコン膜で形成され、その厚さは例えば0.5μmとする。この犠牲層35は、上記絶縁膜32、各電極に対して選択的にエッチングされる材料であればよい。
Next, as shown in FIG. 2 (3), a
次いで、図2(4)に示すように、化学的機械研磨を用いて、上記犠牲層35の表面を平坦化する。このとき、入力電極11上および出力電極12上に、犠牲層35が薄く残るようにする。この残す厚さは、その後に形成される振動子と入力電極11および出力電極12との間隔を決定することになるので、その間隔分だけ残す。例えば、入力電極11上および出力電極12上に犠牲層35が0.1μmの厚さだけ残るようにする。
Next, as shown in FIG. 2 (4), the surface of the
次いで、図3(5)に示すように、通常のレジスト塗布、リソグラフィー技術によるエッチングマスクの形成およびそのエッチングマスクを用いたエッチングにより、犠牲層35の一部をエッチング加工して上記電極34の一部を露出させる開口部36を形成する。
Next, as shown in FIG. 3 (5), a part of the
次いで、図3(6)に示すように、犠牲膜35が形成されている側の全面に振動子形成膜37を形成する。この振動子形成膜37は、例えばポリシリコン膜で形成し、例えば0.5μmの厚さに形成する。
Next, as shown in FIG. 3 (6), a
次いで、図3(7)に示すように、通常のレジスト塗布、リソグラフィー技術によるエッチングマスクの形成およびそのエッチングマスクを用いたエッチング加工により、振動子形成膜37をエッチング加工してビーム状の振動子13を形成する。この振動子13は、上記開口部36を通して電極34に接続されている。
Next, as shown in FIG. 3 (7), the vibrator-forming
次いで、図3(8)に示すように、ウエットエッチングによって、犠牲層35〔前記図4(7)参照〕をエッチング除去する。ここでは、犠牲層35を酸化シリコンで形成しているので、フッ酸を用いた。この結果、入力電極11、出力電極12の各両側、および入力電極11、出力電極12と振動子13との各間に空間21が形成される。この空間21は、入力電極11、出力電極12と振動子13との各間の距離が0.1μm程度となっている。
Next, as shown in FIG. 3 (8), the sacrificial layer 35 [see FIG. 4 (7)] is removed by wet etching. Here, since the
上記製造方法において成膜される各膜の成膜方法は、CVD法、スパッタリング法、蒸着法等を採用することができる。また、上記した各膜厚は適宜設計されるものである。また、上記絶縁膜32の最表面を酸化シリコンで形成し、各電極をポリシリコンで形成した場合には、上記犠牲膜35は窒化シリコンで形成することができる。この場合の犠牲膜35のウエットエッチングは熱リン酸を用いればよい。
A CVD method, a sputtering method, a vapor deposition method, or the like can be adopted as a method for forming each film formed in the manufacturing method. Moreover, each above-mentioned film thickness is designed suitably. Further, when the outermost surface of the insulating
その後、図示はしないが、MEMS共振器1の周囲温度を測定する温度センサ51をMEMS共振器1の周囲もしくはMEMS共振器1に取り付ければよい。MEMS共振器1自体にとり付ける場合には、例えば共振周波数に影響を及ぼし難い基板10に設置することが好ましい。
Thereafter, although not illustrated, a temperature sensor 51 that measures the ambient temperature of the
上記各実施例では、入力電極11、出力電極12、電極34等の各電極はポリシリコン以外に金属を用いることができる。この金属としては、例えばアルミニウム、金、銅、タングステン等の半導体装置に金属配線として用いる材料を用いることができる。
In each of the above embodiments, each of the electrodes such as the
本発明のマイクロ電気機械システムの共振器およびその動作方法は、周波数フィルタ(RFフィルタ、IFフィルタ等)、発振器等の用途に適用できる。 The resonator of the micro electro mechanical system of the present invention and the operation method thereof can be applied to applications such as frequency filters (RF filters, IF filters, etc.), oscillators, and the like.
1…MEMS共振器、11…入力電極、12…出力電極、13…振動子、21…空間、51…温度センサ、61…制御部
DESCRIPTION OF
Claims (2)
信号を出力する出力電極と、
前記入力電極および前記出力電極に対して空間を介して対向する振動子と、
前記振動子に直流電圧を印加する電源と
を備えたマイクロ電気機械システムの共振器において、
前記マイクロ電気機械システムの共振器もしくはその周囲の温度を測定する温度センサと、
前記温度センサにより測定された温度に基づいて前記振動子に印加する直流電圧を指示する制御部と
を備えたことを特徴とするマイクロ電気機械システムの共振器。 An input electrode for inputting a signal;
An output electrode for outputting a signal;
A vibrator facing the input electrode and the output electrode through a space;
In a resonator of a micro electro mechanical system comprising a power source for applying a DC voltage to the vibrator,
A temperature sensor for measuring the temperature of the resonator of the microelectromechanical system or its surroundings;
And a control unit for instructing a DC voltage to be applied to the vibrator based on the temperature measured by the temperature sensor.
信号を出力する出力電極と、
前記入力電極および前記出力電極に対して空間を介して対向する振動子と、
前記振動子に直流電圧を印加する電源と
を備えたマイクロ電気機械システムの共振器の動作方法であって、
前記マイクロ電気機械システムの共振器もしくはその周囲の温度を測定する温度センサと、
前記温度センサにより測定された温度に基づいて前記振動子に印加する直流電圧を指示する制御部とを備え、
前記温度センサで前記マイクロ電気機械システムの共振器もしくはその周囲の温度を測定し、前記マイクロ電気機械システムの共振器の共振周波数が所望の周波数になるように前記測定した温度に対応した直流電圧を前記制御部より前記電源に指示して、前記指示された直流電圧を前記電源より前記振動子に印加する
ことを特徴とするマイクロ電気機械システムの共振器の動作方法。
An input electrode for inputting a signal;
An output electrode for outputting a signal;
A vibrator facing the input electrode and the output electrode through a space;
A method of operating a resonator of a microelectromechanical system comprising a power source for applying a DC voltage to the vibrator,
A temperature sensor for measuring the temperature of the resonator of the microelectromechanical system or its surroundings;
A controller for instructing a DC voltage to be applied to the vibrator based on the temperature measured by the temperature sensor;
The temperature sensor measures the temperature of the resonator of the micro electro mechanical system or its surroundings, and a DC voltage corresponding to the measured temperature is set so that the resonance frequency of the resonator of the micro electro mechanical system becomes a desired frequency. A method of operating a resonator of a micro electro mechanical system, wherein the control unit instructs the power source to apply the instructed DC voltage to the vibrator from the power source.
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---|---|---|---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
Effective date: 20060519 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20060519 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20090407 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20090604 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20091007 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Effective date: 20091015 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100322 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |