JP2004332117A - Sputtering method, substrate supporting device, and sputtering apparatus - Google Patents

Sputtering method, substrate supporting device, and sputtering apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering method for depositing a thin film of excellent film quality on a substrate of large area, and a substrate holding device suitable for the sputtering method. <P>SOLUTION: A target is disposed in a film deposition chamber 42 in a nearly vertical direction, and sputtering is performed by making a substrate face it. The substrate carried by a substrate carrying robot 31 is placed on a substrate holding plate 3 and clamped, and the substrate is erected together with the substrate holding plate 3 facing the target. Since film deposition is performed with the substrate directed in a vertical direction, no dust drops on a surface of the substrate. In this case, when a temporary substrate placement mechanism is formed on the substrate holding plate 3 to change the substrate after completion of film deposition by a substrate before film deposition, the substrate carrying robot 31 is operated without any wasteful motion. When a heater is provided on the substrate holding plate, the substrate can be heated during the sputtering, and a thin film of excellent crystallinity can be deposited without any warp or distortion. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ターゲットと基板を鉛直にして薄膜を成膜するスパッタリング技術にかかり、特に、基板を水平移動させる基板搬送ロボットに対応したスパッタリング方法と、そのスパッタリング方法に適した基板保持装置に関する。   The present invention relates to a sputtering technique for forming a thin film with a target and a substrate vertical, and particularly relates to a sputtering method corresponding to a substrate transfer robot for horizontally moving a substrate, and a substrate holding device suitable for the sputtering method.

薄膜を成膜するためのスパッタリング方法は、半導体素子や液晶素子を製造するために欠かせない技術となっており、特に、装置の組合せが柔軟であり、ダストの発生が少ないことから、基板搬送ロボットを使用した枚葉式スパッタリング方法が主流となっている。   The sputtering method for forming a thin film has become an indispensable technology for manufacturing semiconductor elements and liquid crystal elements. In particular, since the combination of devices is flexible and the generation of dust is small, the substrate transfer method is difficult. The single-wafer sputtering method using a robot has become mainstream.

図8に、そのような従来技術の枚葉式のスパッタリング装置101を示すと、該スパッタリング装置101は、基板の搬出入を行うL/UL室102と、基板搬送ロボット107が設けられた搬送室108と、ターゲット111が天井に設けられたスパッタ室106とがこの順で配置され構成されている。前記L/UL室102と前記搬送室108との間と、前記搬送室108と前記スパッタ室106との間は、それぞれ仕切バルブ105、109によって仕切られており、個別に真空排気できるように構成されている。   FIG. 8 shows such a conventional single-wafer sputtering apparatus 101. The sputtering apparatus 101 includes an L / UL chamber 102 for loading and unloading a substrate, and a transfer chamber provided with a substrate transfer robot 107. 108 and a sputtering chamber 106 in which a target 111 is provided on the ceiling are arranged and arranged in this order. The space between the L / UL chamber 102 and the transfer chamber 108 and the space between the transfer chamber 108 and the sputter chamber 106 are partitioned by partition valves 105 and 109, respectively, so that they can be individually evacuated. Have been.

前記L/UL室102にはカセット昇降機構114が設けられており、前記スパッタ室106に基板を搬入するためには、先ず、前記L/UL室102と大気との間に設けられた扉103を開け、成膜対象の基板が満載されたカセット120を前記L/UL室102内に装着する。そして、前記扉103を閉じ、図示しない真空ポンプを起動して前記L/UL室102を真空排気した後、前記仕切バルブ105を開け、前記基板搬送ロボット107と前記カセット昇降機構114とを用いて、前記カセット120から基板を1枚ずつ取り出す。次いで、前記仕切バルブ109を開け、前記基板搬送ロボット107のハンド上に乗せた基板を前記スパッタ室106内に搬入する。   The L / UL chamber 102 is provided with a cassette elevating mechanism 114. To load a substrate into the sputtering chamber 106, first, a door 103 provided between the L / UL chamber 102 and the atmosphere is provided. Is opened, and a cassette 120 full of substrates to be formed is mounted in the L / UL chamber 102. Then, after closing the door 103 and activating a vacuum pump (not shown) to evacuate the L / UL chamber 102, the partition valve 105 is opened, and the substrate transfer robot 107 and the cassette lifting mechanism 114 are used. Then, the substrates are taken out of the cassette 120 one by one. Next, the partition valve 109 is opened, and the substrate placed on the hand of the substrate transfer robot 107 is carried into the sputtering chamber 106.

前記スパッタ室106内の底面には複数の支持棒104が立設されており、前記ハンド上に乗せた基板を前記ターゲット111と前記各支持棒104の間に位置させ、前記各支持棒104の下端に設けられた基板昇降機構112を動作させて前記各支持棒104を持ち上げると前記基板は前記各支持棒104の上端部分に乗せられる。   A plurality of support rods 104 are provided upright on the bottom surface in the sputtering chamber 106, and the substrate placed on the hand is positioned between the target 111 and each of the support rods 104. When the substrate lifting mechanism 112 provided at the lower end is operated to lift each of the support rods 104, the substrate is placed on the upper end portion of each of the support rods 104.

その状態で前記スパッタ室106から前記基板搬送ロボット107のハンドを抜き出すと、基板と前記ターゲット111とが対向配置されるので、前記仕切バルブ109を閉じてスパッタリングガスを導入してスパッタリングを開始できる状態になる。図8の符号113は前記各支持棒104に乗せられた状態の基板である。   In this state, when the hand of the substrate transfer robot 107 is extracted from the sputtering chamber 106, the substrate and the target 111 are opposed to each other, so that the partition valve 109 is closed and a sputtering gas is introduced to start sputtering. become. Reference numeral 113 in FIG. 8 denotes a substrate mounted on each of the support rods 104.

このスパッタリング装置101では、前記スパッタ室106の底面に平板状のヒーター110が配置されており、前記基板昇降機構112を動作させ、前記各支持棒104を下げると前記基板113は前記ヒーター110上に置かれるので、加熱しながら薄膜を成長させることができるものである。   In this sputtering apparatus 101, a flat heater 110 is disposed on the bottom surface of the sputtering chamber 106. When the substrate elevating mechanism 112 is operated and the support rods 104 are lowered, the substrate 113 is placed on the heater 110. Since it is placed, the thin film can be grown while heating.

しかしながら、前記支持棒104は基板を水平に支持するため、前記スパッタ室106内でダストが発生すると、前記基板113表面に落下してしまう。このスパッタ室106の場合、前記ターゲット111が前記スパッタ室の天井に配置されているので、ターゲット111の保持枠等に堆積したターゲット材が剥離すると、前記成膜中の基板113の表面に落下し、薄膜に欠陥が生じ、歩留まりが悪くなってしまう。
特公平06−060394号公報 特開平04−030517号公報
However, since the support rod 104 horizontally supports the substrate, if dust is generated in the sputtering chamber 106, the dust will fall on the surface of the substrate 113. In the case of the sputtering chamber 106, since the target 111 is disposed on the ceiling of the sputtering chamber, when the target material deposited on the holding frame or the like of the target 111 peels off, the target material falls onto the surface of the substrate 113 during the film formation. As a result, defects occur in the thin film, and the yield is reduced.
Japanese Patent Publication No. 06-060394 JP 04-030517 A

本発明は上記従来技術の不都合を解決するために創作されたもので、その目的は、膜欠陥や基板のそり、歪みを生じさせずに大面積基板に薄膜を成膜することができるスパッタリング方法と、そのスパッタリング方法に適した基板保持装置を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned disadvantages of the prior art, and an object thereof is to provide a sputtering method capable of forming a thin film on a large-area substrate without causing film defects, substrate warpage, and distortion. And a substrate holding device suitable for the sputtering method.

上記課題を解決するために請求項1記載の発明は、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットにガラス基板を平行に対向させて保持し、前記ターゲットをスパッタリングして前記ガラス基板表面に薄膜を成膜するスパッタリング方法であって、基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に搬入されたガラス基板を、水平に配置された基板保持板上に乗せ、基板クランプ機構によって前記ガラス基板をクランプして前記ガラス基板を前記基板保持板に密着させ、前記基板保持板と共に前記ガラス基板を起立させることを特徴とするスパッタリング方法である。
請求項2記載の発明は、前記基板保持板に設けられたヒーターによって前記ガラス基板を加熱しながら前記薄膜の成膜を行うことを特徴とする請求項1記載のスパッタリング方法である。
請求項3記載の発明は、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構とを有することを特徴とするスパッタリング装置である。
請求項4記載の発明は、シャフトと、前記シャフトに取り付けられた保持板回転枠とを有し、前記シャフトの回転によって前記保持板回転枠が回転するように構成された請求項3記載のスパッタリング装置であって、前記基板保持板は矩形形状に形成され、前記保持板回転枠の内側にはめ込まれていると共に、前記基板保持板にはヒーターが設けられていることを特徴とするスパッタリング装置である。
請求項5記載の発明は、前記基板保持板と基板がほぼ同じ大きさであることを特徴とする請求項3又は請求項4のいずれか1項記載のスパッタリング装置である。
請求項6記載の発明は、前記基板よりもやや小さめの矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽されることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載のスパッタリング装置である。
請求項7記載の発明は、前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とする請求項6記載のスパッタリング装置である。
請求項8記載の発明は、前記基板保持板には、前記基板保持板上に配置された水平な基板を持ち上げる複数本の棒が挿通され、前記マスク回転枠は、水平な状態で前記棒によって持ち上げられ、前記シャフトから取り外せるように構成されたことを特徴とする請求項7記載のスパッタリング装置である。
請求項9記載の発明は、前記基板は、550×650mm2以上であることを特徴とする請求項3ないし請求項8に記載のスパッタリング装置である。
請求項10記載の発明は、前記基板を搬送する基板搬送ロボットと、前記基板搬送ロボットが配置された基板搬送室とを有し、前記成膜室が前記基板搬送室に接続された請求項3乃至請求項9のいずれか1項記載のスパッタリング装置である。
請求項11記載の発明は、複数の前記成膜室が前記基板搬送室の周囲に接続されたことを特徴とする請求項10記載のスパッタリング装置である。
請求項12記載の発明は、基板の搬出入を行うL/UL室と基板の脱ガスを行う予備加熱室が前記基板搬送室の周囲に配置されていることを特徴とする請求項10又は請求項11のいずれか1項に記載のスパッタリング装置である。
請求項13記載の発明は、前記基板搬送室とその周囲に配置された各室との間には開閉可能な仕切板が設けられており、前記基板搬送室とその周囲の各室とは、それぞれが独立に高真空状態を維持できるように構成されていることを特徴とする請求項10乃至請求項12のいずれか1項記載のスパッタリング装置である。
請求項14記載の発明は、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットに基板を平行に対向させて保持し、前記ターゲットをスパッタリングして前記基板表面に薄膜を成膜するスパッタリング方法であって、基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に搬入された基板を、水平に配置された基板保持板上に乗せ、前記基板保持板に設けられた基板クランプ機構によって前記基板をクランプして前記基板保持板と密着させ、前記基板保持板と共に前記基板を起立させることを特徴とするスパッタリング方法である。
請求項15記載の発明は、前記基板保持板に設けられたヒーターによって前記基板を加熱しながら薄膜の成膜を行うことを特徴とする請求項14記載のスパッタリング方法である。
請求項16記載の発明は、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットをスパッタリングして基板表面に薄膜を成膜するスパッタリング方法に用いられる基板保持装置であって、基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に搬入された基板を水平に乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構とを有することを特徴とする基板保持装置である。
請求項17記載の発明は、前記基板保持板が起立された時に、前記クランプされた基板が前記ターゲットに平行に対向するように構成されたことを特徴とする請求項16記載の基板保持装置である。
請求項18記載の発明は、前記ハンド上に乗せられた基板が前記基板保持板上に位置するときに、その基板を持ち上げて上下移動させる第1の基板仮置機構と、前記基板保持板上に乗せられた基板を持ち上げて上下移動させる第2の基板仮置機構とを有し、前記ハンド上の基板と前記基板保持板上の基板とを前記第1、第2の基板仮置機構上に仮に置いて交換できるように構成されたことを特徴とする請求項16又は請求項17のいずれか1項記載の基板保持装置である。
請求項19記載の発明は、前記基板保持板は基板を加熱できるヒーターを有することを特徴とする請求項16乃至請求項18記載のいずれか1項記載の基板保持装置である。
In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 holds a glass substrate in parallel to a target disposed substantially vertically in a film forming chamber, and sputters the target to form a thin film on the surface of the glass substrate. A glass substrate loaded horizontally on a hand of a substrate transfer robot, placed on a horizontally disposed substrate holding plate, and clamping the glass substrate by a substrate clamping mechanism. Then, the glass substrate is brought into close contact with the substrate holding plate, and the glass substrate is erected together with the substrate holding plate.
The invention according to claim 2 is the sputtering method according to claim 1, wherein the thin film is formed while heating the glass substrate by a heater provided on the substrate holding plate.
The invention according to claim 3 is a sputtering apparatus having a target disposed substantially vertically in a film formation chamber, wherein the substrate holding plate is disposed in the film formation chamber and holds a substrate which is horizontally carried into the film formation chamber. And a substrate clamping mechanism for clamping a substrate placed on the substrate holding plate, and a rotating mechanism for erecting the substrate holding plate.
The invention according to claim 4 has a shaft, and a holding plate rotating frame attached to the shaft, and wherein the rotation of the shaft rotates the holding plate rotating frame. The apparatus, wherein the substrate holding plate is formed in a rectangular shape, is fitted inside the holding plate rotating frame, and the substrate holding plate is provided with a heater, wherein the sputtering device is provided with a heater. is there.
The invention according to claim 5 is the sputtering apparatus according to any one of claims 3 or 4, wherein the substrate holding plate and the substrate have substantially the same size.
The invention according to claim 6, further comprising a mask rotating frame formed with a rectangular window slightly smaller than the substrate, wherein the mask is formed when the holding plate rotating frame is erected together with the substrate holding plate. 6. The rotating frame and the substrate adhered to the substrate holding plate are overlapped with each other, and a peripheral portion of a film formation region of the substrate is shielded by the mask rotating frame. It is a sputtering device.
According to a seventh aspect of the present invention, the mask rotating frame is attached to a supporting arm, and the mask rotating frame is configured to be able to be rotated vertically and horizontally by rotating the supporting arm. In a horizontal state, the mask rotating frame can be removed from the supporting arm. The sputtering apparatus according to claim 6, wherein the sputtering apparatus is configured.
In the invention according to claim 8, the substrate holding plate is inserted with a plurality of rods for lifting a horizontal substrate disposed on the substrate holding plate, and the mask rotating frame is horizontally moved by the rods. The sputtering apparatus according to claim 7, wherein the sputtering apparatus is configured to be lifted and detachable from the shaft.
The invention of claim 9 wherein, the substrate is a sputtering apparatus according to claims 3 to 8, characterized in that it is 550 × 650 mm 2 or more.
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a substrate transfer robot for transferring the substrate, and a substrate transfer chamber in which the substrate transfer robot is disposed, wherein the film forming chamber is connected to the substrate transfer chamber. A sputtering apparatus according to claim 9.
An eleventh aspect of the present invention is the sputtering apparatus according to the tenth aspect, wherein a plurality of the film forming chambers are connected around the substrate transfer chamber.
The invention according to claim 12 is characterized in that an L / UL chamber for carrying in and out a substrate and a preheating chamber for degassing the substrate are arranged around the substrate transfer chamber. Item 12. The sputtering apparatus according to any one of items 11.
In the invention according to claim 13, an openable and closable partition plate is provided between the substrate transfer chamber and each of the chambers disposed around the substrate transfer chamber, and the substrate transfer chamber and each of the surrounding chambers are provided with: The sputtering apparatus according to any one of claims 10 to 12, wherein each of the sputtering apparatuses is configured to be able to maintain a high vacuum state independently.
The invention according to claim 14 is a sputtering method in which a substrate is held in parallel to a target disposed substantially vertically in a film forming chamber, and the target is sputtered to form a thin film on the surface of the substrate. The substrate loaded horizontally on the hand of the substrate transport robot is placed on a horizontally disposed substrate holding plate, and the substrate is clamped by a substrate clamping mechanism provided on the substrate holding plate. A sputtering method, wherein the substrate is brought into close contact with a substrate holding plate, and the substrate is erected together with the substrate holding plate.
The invention according to claim 15 is the sputtering method according to claim 14, wherein the thin film is formed while heating the substrate by a heater provided on the substrate holding plate.
The invention according to claim 16 is a substrate holding apparatus used in a sputtering method for sputtering a target disposed substantially vertically in a film forming chamber to form a thin film on a substrate surface, wherein It has a substrate holding plate for horizontally placing a substrate placed thereon and horizontally carried thereon, a substrate clamping mechanism for clamping the substrate placed on the substrate holding plate, and a rotating mechanism for erecting the substrate holding plate. It is a substrate holding device characterized by the following.
The invention according to claim 17 is the substrate holding device according to claim 16, wherein the clamped substrate is configured to face the target in parallel when the substrate holding plate is erected. is there.
The invention according to claim 18, wherein when the substrate placed on the hand is positioned on the substrate holding plate, a first temporary substrate placement mechanism for lifting the substrate and moving the substrate up and down; A second substrate temporary placement mechanism that lifts and vertically moves the substrate placed on the first and second substrate temporary placement mechanisms by moving the substrate on the hand and the substrate on the substrate holding plate. 18. The substrate holding device according to claim 16, wherein the substrate holding device is configured to be temporarily replaced.
The invention according to claim 19 is the substrate holding device according to any one of claims 16 to 18, wherein the substrate holding plate has a heater capable of heating the substrate.

このような本発明方法の構成によると、基板搬送ロボットを用いて基板を水平に移動させて搬入する際、基板を水平にしたままで基板保持板上に乗せてクランプし、次いで前記基板保持板を起立させるので、基板を脱落することなく鉛直にすることができ、そして、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットと平行に対向させてスパッタリングを行えば、成膜の際に基板表面にダストが落下することはない。   According to the configuration of the method of the present invention, when the substrate is horizontally moved and loaded by using the substrate transfer robot, the substrate is placed on the substrate holding plate while being kept horizontal and clamped, and then the substrate holding plate is clamped. The substrate can be made vertical without falling off, and if sputtering is performed in parallel with a target placed almost vertically in the film formation chamber, the substrate surface will be No dust will fall.

前記基板保持板にヒーターを設ければ、鉛直にされた基板を加熱しながら膜成長をさせることができるので、結晶性のよい薄膜を成膜することが可能となる。また、前記基板は前記基板保持板に密着されているので、加熱しても基板にそりや歪みが生じることがない。   If a heater is provided on the substrate holding plate, the film can be grown while heating the vertical substrate, so that a thin film having good crystallinity can be formed. Further, since the substrate is in close contact with the substrate holding plate, the substrate does not warp or deform even when heated.

このような本発明方法を行う際、基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に移動されて搬入された基板を水平のまま乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構とが設けられた基板保持装置を使用すると基板を簡単に鉛直にできて都合がよい。   When performing such a method of the present invention, a substrate holding plate that is placed on a hand of a substrate transfer robot and is horizontally moved to carry the loaded substrate horizontally, and a substrate that is placed on the substrate holding plate. It is convenient to use a substrate holding device provided with a substrate clamping mechanism for clamping and a rotation mechanism for erecting the substrate holding plate, since the substrate can be easily made vertical.

また、この基板保持装置で基板を鉛直にしたときに、成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットと基板とが直ちに平行に対向されるようにしておけば、鉛直にした状態で基板を移動させなくて済み、装置の構成が簡単になる。   In addition, when the substrate is vertically set by the substrate holding apparatus, if the target and the substrate arranged almost vertically in the film forming chamber are immediately opposed in parallel, the substrate is moved in the vertical state. It is not necessary to do so, and the configuration of the apparatus is simplified.

ところで、一般に広く用いられている真空用基板搬送ロボットでは、ハンド上に基板を乗せて水平に移動させることはできるが、ハンドを上下に動かして、基板を上下に移動させることはできないのが普通である。そこで、前記ハンド上に乗せられた基板が前記基板保持板上に位置するときに、その基板を持ち上げて上下移動させる第1の基板仮置機構と、前記基板保持板上に乗せられた基板を持ち上げて上下移動させる第2の基板仮置機構とをこの基板保持装置に設けておけば、前記第1、第2の基板仮置機構の動作と前記ハンドの動作によって、前記ハンド上にある未成膜の基板と前記基板保持板上にある成膜が終了した基板とを、それぞれ前記第1、第2の基板仮置機構に置いて交換できるようになるので、基板搬送ロボットに無駄な動きがなくなって、基板交換時間、ひいては成膜処理時間を短縮させることが可能となる。   By the way, a vacuum substrate transfer robot, which is widely used, can place a substrate on a hand and move it horizontally, but usually it is not possible to move the hand up and down to move the substrate up and down. It is. Therefore, when the substrate placed on the hand is positioned on the substrate holding plate, a first substrate temporary placement mechanism that lifts and moves the substrate up and down, and a substrate placed on the substrate holding plate If the substrate holding device is provided with a second substrate temporary holding mechanism for lifting and moving the substrate up and down, the operation of the first and second substrate temporary holding mechanisms and the operation of the hand will cause the unsupported substrate on the hand. The substrate of the film and the substrate on which the film has been formed on the substrate holding plate can be replaced by placing them on the first and second substrate temporary placement mechanisms, respectively. As a result, it is possible to shorten the substrate exchange time and, consequently, the film formation processing time.

その際、前記基板保持板にヒーターを設け、密着された基板を加熱しながらスパッタリングを行えば、そりや歪みを生じさせずに結晶性のよい薄膜を得ることができて好ましい。   At this time, it is preferable to provide a heater on the substrate holding plate and perform sputtering while heating the adhered substrate, since a thin film with good crystallinity can be obtained without causing warpage or distortion.

基板にダストが落下せず、また、大型基板にそりや歪みを生じさせずに結晶性のよい薄膜を成膜することができる。
基板交換が効率的に行えるので、処理時間が短縮する。装置が大型化しないのでコストアップすることはない。
A thin film with good crystallinity can be formed without dust falling on the substrate and without causing warpage or distortion on the large substrate.
Since substrate exchange can be performed efficiently, processing time is reduced. Since the apparatus does not increase in size, there is no increase in cost.

本発明方法の実施の形態を、その方法に用いられる基板保持装置の発明の実施の形態と共に図面を用いて説明する。   An embodiment of the method of the present invention will be described with reference to the drawings together with an embodiment of the substrate holding apparatus used in the method.

図1を参照し、2は本発明の基板保持装置であり、外周が四辺形の保持板回転枠5とシャフト21とを有している。前記シャフト21は水平に配置されており、前記保持板回転枠5は前記シャフト21に取り付けられ、この図1では水平にされている。   Referring to FIG. 1, reference numeral 2 denotes a substrate holding device of the present invention, which includes a holding plate rotating frame 5 having a quadrilateral periphery and a shaft 21. The shaft 21 is disposed horizontally, and the holding plate rotating frame 5 is attached to the shaft 21 and is horizontal in FIG.

この基板保持装置2は、図2に示すような成膜室42内に配置されており、前記保持板回転枠5の内側には矩形形状に形成された基板保持板3がはめ込まれ、前記成膜室42内であって前記基板保持板3の下方にはベース17が水平に配置され、前記成膜室42の外部であって前記ベース17の下方には、基板昇降板12が水平に配置されている。   The substrate holding device 2 is arranged in a film forming chamber 42 as shown in FIG. 2, and a rectangular substrate holding plate 3 is fitted inside the holding plate rotating frame 5. The base 17 is horizontally disposed inside the film chamber 42 and below the substrate holding plate 3, and the substrate elevating plate 12 is horizontally disposed outside the film forming chamber 42 and below the base 17. Have been.

前記基板昇降板12は、図示しないモーターによって上下移動自在に構成されており、該基板昇降板12と前記ベース17とは、4つの中空円筒の支柱19で連結されて一緒に上下移動できるようにされている。前記各支柱19は、それぞれ伸縮自在な金属ベローズ11で気密に覆われており、前記基板昇降板12と前記ベース17の上下移動させたときでも、前記成膜室42内に大気が侵入しないようにされている。   The substrate elevating plate 12 is configured to be vertically movable by a motor (not shown). The substrate elevating plate 12 and the base 17 are connected by four hollow cylindrical columns 19 so that they can move up and down together. Have been. Each of the columns 19 is air-tightly covered with an elastic metal bellows 11 so that the air does not enter the film forming chamber 42 even when the substrate elevating plate 12 and the base 17 are moved up and down. Has been.

前記ベース17の前記各支柱19が固定されている部分には丸穴14が開けられており、前記各丸穴14を通して前記各支柱19内に支持棒8が1本ずつ挿入されている。前記各支持棒8の下端部分は前記基板昇降板12に気密に挿通され、先端が前記基板昇降板12の裏面から突き出た部分には、それぞれプーリー25が設けられている。他方、前記各支持棒8の上端部分の上方には前記保持板回転枠5が位置するようにされており、該保持板回転枠5の、前記各支持棒8の上方に位置する部分には、孔13が開けられており、前記基板昇降板12を下方から上昇させたときに、前記各支持棒8が前記孔13に挿通され、前記各支持棒8の先端部分が前記保持板回転枠5上に出られるようにされている。   A round hole 14 is formed in a portion of the base 17 to which each of the columns 19 is fixed, and one support rod 8 is inserted into each of the columns 19 through each of the round holes 14. A lower end portion of each of the support rods 8 is hermetically inserted into the substrate elevating plate 12, and a pulley 25 is provided at a portion whose tip protrudes from the back surface of the substrate elevating plate 12. On the other hand, the holding plate rotating frame 5 is located above the upper end portion of each of the support bars 8, and the portion of the holding plate rotating frame 5 located above each of the support bars 8 is When the substrate elevating plate 12 is lifted from below, the support rods 8 are inserted into the holes 13 and the end portions of the support rods 8 are attached to the holding plate rotating frame. 5 to be able to come out.

前記各支持棒8の高さは同じになるように揃えられて、それらの先端には爪部9がそれぞれ設けられており、また、前記孔13は前記基板保持板3の四隅付近に位置するように配置されている。従って、前記各保持棒8を前記孔13上に出し、前記各爪部9を前記基板保持板3上に位置するように向けた場合には、前記各爪部9上に前記基板保持板3とほぼ同じ大きさの基板を一時的に乗せることができるので、前記保持棒8と前記爪部9とで第1の基板仮置機構が構成されていることになる。   The heights of the support rods 8 are aligned so as to be the same, claw portions 9 are provided at their tips, and the holes 13 are located near four corners of the substrate holding plate 3. Are arranged as follows. Therefore, when each of the holding rods 8 is put out onto the hole 13 and each of the claws 9 is oriented so as to be positioned on the substrate holding plate 3, the substrate holding plate 3 is placed on each of the claws 9. Since a substrate having substantially the same size as that described above can be temporarily loaded, the holding substrate 8 and the claw portion 9 constitute a first substrate temporary placement mechanism.

また、前記ベース17には8本のピン7が立設されており、前記各ピン7は、それらの上方に前記基板保持板3の縁が位置するように配置されている。前記基板保持板3の縁の、前記各ピン7の上方の位置する部分には孔15が開けられており、前記ベース17を下方から上昇させたときに、前記各ピン7が前記孔15に挿通され、それらの先端部分が前記基板保持板3の縁上に出られるようにされている。   Further, eight pins 7 are erected on the base 17, and each of the pins 7 is arranged so that an edge of the substrate holding plate 3 is located above them. A hole 15 is formed in a portion of the edge of the substrate holding plate 3 located above the pins 7, and when the base 17 is lifted from below, the pins 7 are inserted into the holes 15. The substrate holding plate 3 is inserted so that the front end portions thereof protrude from the edge of the substrate holding plate 3.

前記各ピン7の高さは同じになるように揃えられ、それらの先端には爪部10がそれぞれ設けられており、また、前記孔15は前記基板保持板3の相対する2つの縁上に3個ずつと、残りの2辺の縁上に1個ずつ配置されており、前記各ピン7を前記基板保持板3上に出せば、前記各爪部10上に前記基板保持板3とほぼ同じ大きさの基板を一時的に乗せることができるので、前記各ピン7と前記各爪部10とで第2の基板仮置機構が構成されていることになる。   The heights of the pins 7 are aligned so as to be the same, and claw portions 10 are respectively provided at their tips, and the holes 15 are provided on two opposing edges of the substrate holding plate 3. Three pins and one each are arranged on the remaining two edges. When the pins 7 are put out on the substrate holding plate 3, the pins 7 are almost placed on the claw portions 10 with the substrate holding plate 3. Since a substrate of the same size can be temporarily loaded, the second substrate temporary placement mechanism is constituted by the pins 7 and the claws 10.

前記基板昇降板12の表面にはロータリーアクチュエーター24が設けられており、該基板昇降板12は前記ロータリーアクチュエーター24の回転軸が貫通され、その裏面に突き出た部分と前記プーリー25にはベルト26が掛けられており、前記ロータリーアクチュエーター24の回転力が前記各支持棒8に伝達され、前記各支持棒8が回動できるように構成されている。   A rotary actuator 24 is provided on the surface of the substrate elevating plate 12. The rotating shaft of the rotary actuator 24 penetrates through the substrate elevating plate 12, and a belt 26 is provided on a portion protruding from the back surface and the pulley 25. The rotation force of the rotary actuator 24 is transmitted to the support rods 8 so that the support rods 8 can rotate.

そのロータリーアクチュエーター24によって、前記各支持棒8を回動させる際、前記支持棒8先端の前記爪部9は、4つ全部が前記基板保持板3の縁に沿う方向に向けられるか、前記基板保持板3の内側に向けられるかのいずれか一方の状態となるようにされており、前記各爪部9を縁に沿う方向に向ければ前記爪部9は前記孔13に引っかからず、前記保持棒8を前記孔13から出し入れができ、他方、前記各爪部9を内側に向けたときは、前記各爪部9は前記基板保持板3上に位置するようにされており、前記ロータリーアクチュエーター24を動作させて前記各支持棒8を回動させると、一方の状態から他方の状態へ切り替えられるようにされている。   When each of the support rods 8 is rotated by the rotary actuator 24, all four of the claw portions 9 at the tips of the support rods 8 are directed in a direction along the edge of the substrate holding plate 3 or the substrate If the claw portions 9 are directed in a direction along the edge, the claw portions 9 are not caught by the holes 13, and the holding portion 3 is turned toward the inside of the holding plate 3. When the rod 8 can be put in and out of the hole 13, while each of the claws 9 faces inward, each of the claws 9 is positioned on the substrate holding plate 3, and the rotary actuator When the support rods 8 are rotated by operating 24, the state can be switched from one state to the other state.

また、前記爪部9の位置よりも前記爪部10の位置が低く、前記爪部9の高さと前記爪部10の高さとの間には、基板搬送ロボットのハンドを挿入できる程度の差が設けられている。   Further, the position of the claw portion 10 is lower than the position of the claw portion 9, and a difference between the height of the claw portion 9 and the height of the claw portion 10 is such that the hand of the substrate transfer robot can be inserted. Is provided.

前記シャフト21には、モーター23と、該モーター23の回転方向を変換するウォームギア27とで構成された回転機構が設けられており、該回転機構を動作させ、前記シャフト21を回転させると前記保持板回転枠5と前記基板保持板3とを水平にも鉛直にもできるようにされており、前記保持棒8と前記ピン7とを前記孔13、15から抜き出して前記シャフト21を回転させれば、前記基板保持板3が前記ピン7や前記支持棒8とぶつかることがないようにされている。   The shaft 21 is provided with a rotation mechanism including a motor 23 and a worm gear 27 for changing the rotation direction of the motor 23. When the rotation mechanism is operated and the shaft 21 is rotated, the holding mechanism is held. The plate rotating frame 5 and the substrate holding plate 3 can be made horizontal or vertical. The holding rod 8 and the pin 7 are pulled out from the holes 13 and 15, and the shaft 21 is rotated. For example, the substrate holding plate 3 is prevented from hitting the pins 7 and the support rods 8.

また、前記保持板回転枠5には基板クランプ機構4が設けられており、水平にされた前記基板保持板3を起立させる際、その基板保持板3に基板を水平に乗せ、前記基板クランプ機構4によって基板をクランプしておけば、前記基板保持板3が略鉛直な状態にされても基板が脱落しないようにされている。   The holding plate rotating frame 5 is provided with a substrate clamping mechanism 4. When the substrate holding plate 3 is set up horizontally, the substrate is placed horizontally on the substrate holding plate 3, and the substrate clamping mechanism 4 is mounted. If the substrate is clamped by 4, the substrate is prevented from falling off even if the substrate holding plate 3 is made substantially vertical.

他方、前記シャフト21上には、前記保持板回転枠5よりもわずかに大きめに形成されたマスク回転枠6が鉛直に配置されており、該マスク回転枠6は2本の支持腕36に固定され、前記2本の支持腕36は、前記シャフト21に回転可能に取り付けられ、また、クランク機構38と成形ベローズ35とを介して前記成膜室42外に配置された圧空シリンダ34にも気密に接続されている。従って、前記マスク回転枠6は前記シャフト21で支持されているが、前記クランク機構38を静止させておけば、前記シャフト21が回転した場合でも、前記保持板回転枠6は回転せず、鉛直状態を維持できるように構成されている。   On the other hand, a mask rotating frame 6 formed slightly larger than the holding plate rotating frame 5 is vertically disposed on the shaft 21, and the mask rotating frame 6 is fixed to two support arms 36. The two support arms 36 are rotatably mounted on the shaft 21, and are also airtightly sealed to a compressed air cylinder 34 disposed outside the film forming chamber 42 via a crank mechanism 38 and a molding bellows 35. It is connected to the. Therefore, the mask rotating frame 6 is supported by the shaft 21. However, if the crank mechanism 38 is kept stationary, even when the shaft 21 rotates, the holding plate rotating frame 6 does not rotate, and It is configured so that the state can be maintained.

このマスク回転枠6の内側は成膜対象の基板よりもやや小さめの矩形形状にくりぬかれ、それによって窓部16が形成されており、前記保持板回転枠5が起立され、略鉛直にされて前記基板保持板3にクランプされた基板が前記マスク回転枠6に重ねられる際、その基板の無効領域である周辺部分は前記マスク回転枠6で遮蔽され、一方、基板表面の成膜領域は前記窓部16で露出されるようにされている。また、前記カソード電極33に略鉛直に設けられた図示しないスパッタリングターゲット(例えばITO材)に対し、前記略鉛直にされた基板は、直ちに所定間隔で平行に対向するようにされている。   The inside of the mask rotating frame 6 is cut out into a rectangular shape slightly smaller than the substrate on which the film is to be formed, whereby a window 16 is formed. The holding plate rotating frame 5 is erected and made substantially vertical. When the substrate clamped on the substrate holding plate 3 is overlaid on the mask rotating frame 6, a peripheral portion of the substrate, which is an ineffective area, is shielded by the mask rotating frame 6, while a film forming region on the substrate surface is The window 16 is exposed. Further, the substantially vertical substrate is immediately opposed to a sputtering target (for example, ITO material) (not shown) provided substantially vertically on the cathode electrode 33 at a predetermined interval.

このような成膜室42が、図7に示すようなマルチチャンバー型の成膜装置41に複数設けられており、更に、該成膜装置41には、基板の搬出入を行うL/UL室441、442と、基板の脱ガスを行う予備加熱室43も設けられており、各室は、基板搬送ロボット31が配置された基板搬送室45を中心としてその周囲に配置されている。 A plurality of such film forming chambers 42 are provided in a multi-chamber type film forming apparatus 41 as shown in FIG. 7, and the film forming apparatus 41 further includes an L / UL chamber for carrying in / out a substrate. 44 1, 44 2, the preheating chamber 43 to perform degassing of the substrate is also provided, each chamber is disposed around the center of the substrate transfer chamber 45 where the substrate transfer robot 31 is disposed.

前記基板搬送室45とその周囲に配置された各室との間には開閉可能な仕切板が設けられており、中心の前記基板搬送室45とその周囲の各室とは、それぞれが独立に高真空状態を維持できるように構成されている。   An openable and closable partition plate is provided between the substrate transfer chamber 45 and each of the chambers disposed around the substrate transfer chamber 45. The central substrate transfer chamber 45 and each of the surrounding chambers are independently provided. It is configured so that a high vacuum state can be maintained.

この成膜装置41で処理する基板は大型のガラス基板(例えば550×650mm2)であり、前記L/UL室441、442と大気雰囲気との間に設けられた仕切板を開け、未処理のガラス基板が満載されたカセットを前記L/UL室441、442のどちらかに装着し、仕切板を閉じた後真空排気し、前記基板搬送ロボット31を動作させてそのハンド32の先端を前記カセットに挿入し、前記L/UL室441、442に設けられたカセット昇降機構を動作させ、前記カセットから前記ハンド32上に基板を1枚だけ移す。 The substrate to be processed in the film forming apparatus 41 is a large-size glass substrate (for example, 550 × 650 mm 2), opening the partition plate provided between the L / UL chamber 44 1, 44 2 and the atmosphere, non the cassette glass substrate processing are packed attached to either of the L / UL chamber 44 1, 44 2, evacuated after closing the partition plate, the hand 32 by operating the substrate transfer robot 31 insert the tip into the cassette, the L / UL chamber 44 1, 44 2 is operated cassette lifting mechanism provided in, transfer only one substrate on the hand 32 from the cassette.

次いで、前記L/UL室441、又は前記L/UL室442から前記ハンド32を抜き出し、前記予備加熱室43に基板を搬入する。所定時間が経過し、前記予備加熱室43での加熱・脱ガス処理が終了すると、その基板を前記ハンド32で取り出し、前記成膜室42の正面まで運ぶ。図3はその状態を示している。前記ハンド32上には加熱・脱ガスが終了した未成膜基板51が乗せられている。ここでは、前記成膜室42内の成膜作業は終了しており、図3に鉛直状態で示された前記保持板回転枠5内には所定膜厚の薄膜が成膜された成膜終了基板52がクランプされているものとする。 Then, the L / UL chamber 44 1, or withdrawn the L / UL chamber 44 2 from the hand 32, to carry the substrate into the pre-heating chamber 43. When a predetermined time has elapsed and the heating / degassing process in the preheating chamber 43 is completed, the substrate is taken out by the hand 32 and transported to the front of the film forming chamber 42. FIG. 3 shows this state. On the hand 32, an unformed substrate 51 on which heating and degassing has been completed is placed. Here, the film forming operation in the film forming chamber 42 has been completed, and the film forming operation in which a thin film having a predetermined thickness is formed in the holding plate rotating frame 5 shown in a vertical state in FIG. It is assumed that the substrate 52 is clamped.

前述の図3は、いわば基板の入れ替え準備段階であり、引き続き行われる前記未成膜基板51と前記成膜終了基板52との交換作業を、図4(a)〜図6(n)を用いて説明する。この図4(a)〜図6(n)では、見やすいように前記未成膜基板51と前記成膜終了基板52以外の符号を省略してある。   FIG. 3 described above is, so to speak, a substrate exchange preparation stage, and the subsequent exchange operation between the undeposited substrate 51 and the deposition-completed substrate 52 will be described with reference to FIGS. 4 (a) to 6 (n). explain. 4A to 6N, reference numerals other than the non-deposition substrate 51 and the deposition end substrate 52 are omitted for easy viewing.

先ず、図3の入れ替え準備段階から、前記成膜室42と前記基板搬送室45との間の仕切板を開けると共に前記基板クランプ機構4によって成膜終了基板52をクランプしながら前記基板保持板3を転倒させ、前記成膜終了基板52を水平にする(図4(a):転倒動作)。   First, from the exchange preparation stage in FIG. 3, the partition plate between the film forming chamber 42 and the substrate transfer chamber 45 is opened, and the substrate holding plate 3 is clamped by the substrate clamping mechanism 4 to clamp the film forming completed substrate 52. Is turned over, and the film formation completion substrate 52 is made horizontal (FIG. 4A: overturning operation).

次に、前記クランプを解除し、前記基板昇降板12を上昇させると前記各支持棒8は前記孔13に挿通される。このとき、前記各支持棒8先端の前記爪部9を前記基板保持板3の縁に沿った方向に向けておけば前記各爪部9は前記基板保持板3上に置かれた前記成膜終了基板52には当たることはなく、前記各爪部9を前記成膜終了基板52よりも高い位置まで上昇させることができる(同図(b):フックアップ動作(1))。   Next, when the clamp is released and the substrate lifting plate 12 is raised, the respective support rods 8 are inserted into the holes 13. At this time, if the claw portions 9 at the tips of the support rods 8 are oriented in a direction along the edge of the substrate holding plate 3, the claw portions 9 are disposed on the substrate holding plate 3. The claws 9 can be raised to a position higher than the film formation completion substrate 52 without hitting the completion substrate 52 (FIG. 2B: hook-up operation (1)).

そして、前記ロータリーアクチュエーター24を動作させ、前記各爪部9を前記基板保持板3の内側に向けると前記各爪部9は前記基板保持板3上に位置される(同図(b):フックイン動作)。   Then, when the rotary actuator 24 is operated to turn each of the claws 9 toward the inside of the substrate holding plate 3, each of the claws 9 is positioned on the substrate holding plate 3 ((b): hook-in). motion).

その状態を維持しながら前記ハンド32を前記成膜室42内に入れ、その先端に乗せられた前記未成膜基板51を前記各爪部9上まで移動させ(同図(d):ハンドイン動作(1))、前記各支持棒8を更に持ち上げると、前記ハンド32の先端に乗せられていた前記未成膜基板51は前記各爪部9上に移しかえられる(図5(e):フックアップ動作(2))。
すると、前記ハンド32は空の状態となるので、そのハンド32を前記基板保持板3上から抜き出す(同図(f):ハンドアウト動作(1))。
While maintaining this state, the hand 32 is put into the film forming chamber 42, and the non-film forming substrate 51 placed on the tip thereof is moved to above each of the claws 9 (FIG. 4D: hand-in operation). (1)) When the respective support rods 8 are further lifted, the undeposited substrate 51 placed on the tip of the hand 32 is transferred onto each of the claws 9 (FIG. 5 (e): hook-up). Operation (2)).
Then, since the hand 32 is empty, the hand 32 is pulled out from the substrate holding plate 3 (FIG. 7 (f): hand-out operation (1)).

次に、前記ベース17を上昇させて前記各ピン7を持ち上げると、前記各ピン7先端の爪部10に前記成膜終了基板52が乗せられる(同図(g):ピンアップ動作)。
このとき、前記成膜終了基板52を、前記ハンド32の高さよりも高くなるまで持ち上げておき、前記空のハンド32を前記成膜終了基板52の下に挿入する(同図(h):ハンドイン動作(2))。
Next, when the base 17 is lifted and the pins 7 are lifted, the film formation completion substrate 52 is placed on the claws 10 at the tips of the pins 7 (FIG. 7G: pin-up operation).
At this time, the film formation completed substrate 52 is lifted up to a height higher than the height of the hand 32, and the empty hand 32 is inserted below the film formation completed substrate 52 (FIG. 4H). In operation (2)).

次に、前記各ピン7を下げると前記成膜終了基板52は前記爪部10上から前記ハンド32上に移しかえられる(同図(i):ピンダウン動作)。前記ハンド32を前記成膜室42外へ抜き出すと(同図(j):ハンドアウト動作(2))、前記成膜室42から前記成膜終了基板52を搬出することができる。   Next, when each of the pins 7 is lowered, the film-forming-completed substrate 52 is transferred from the claw portion 10 to the hand 32 (FIG. 7 (i): pin-down operation). When the hand 32 is pulled out of the film forming chamber 42 (FIG. 2 (j): hand-out operation (2)), the film formation completed substrate 52 can be carried out from the film forming chamber 42.

前記孔13には、前記各爪部9を内側に向けたままで収納できるように、前記基板保持板3に達する切り欠きが設けられているので、前記各支持棒8を下げ、前記孔13の切り欠きに内側に向けたままの前記爪部9を収納すると、前記爪部9上にあった前記未成膜基板51は前記基板保持板3に移しかえられる(図6(k):フックダウン動作)。   The hole 13 is provided with a notch reaching the substrate holding plate 3 so that the claw portions 9 can be stored with the claws 9 facing inward. When the claw portion 9 with the inside facing inward is accommodated in the notch, the undeposited substrate 51 on the claw portion 9 is transferred to the substrate holding plate 3 (FIG. 6 (k): hook-down operation). ).

前記各爪部9を前記孔13内に収納したまま前記基板保持板3の縁に沿った方向に向け(同図(l):フックアウト動作)、その後前記基板昇降板12を下げると前記各支持棒8と前記各ピン7とが前記孔13、15から抜き出される(同図(m):分離動作)。   When each of the claws 9 is accommodated in the hole 13 and directed in a direction along the edge of the substrate holding plate 3 (FIG. 1 (l): hook-out operation), and then the substrate lifting plate 12 is lowered. The support rod 8 and each of the pins 7 are pulled out from the holes 13 and 15 (FIG. 7 (m): separating operation).

そして前記基板クランプ機構4によって、前記基板保持板3上に置かれた前記未成膜基板51をクランプしながら起立させ(同図(n):起立動作)、前記成膜室42と前記基板搬送室45との間の仕切板を閉じた状態にしてスパッタリングガスを導入し、前記カソード電極33に電圧を印加すると前記ターゲットのスパッタリングが開始され、前記起立された未成膜基板51への薄膜の成膜が行われる。   Then, the substrate clamping mechanism 4 raises the non-deposition substrate 51 placed on the substrate holding plate 3 while clamping the substrate 51 (FIG. 3 (n): raising operation), and forms the film formation chamber 42 and the substrate transfer chamber. 45, a sputtering gas is introduced in a state where the partition plate is closed, and a voltage is applied to the cathode electrode 33, so that sputtering of the target is started, and a thin film is formed on the non-formed substrate 51 that has been raised. Is performed.

このとき、前記鉛直にされた前記未成膜基板51は前記基板クランプ機構4によって前記基板保持板3に密着されており、また、前記基板保持板3はサンドイッチ構造に形成され、その中間の層がヒーターで構成されているので、前記ターゲットのスパッタリングの際、前記ヒーターに通電し、前記未成膜基板51を加熱しながら薄膜を成長させると、基板にそりや歪みを生じることなく、結晶性のよい薄膜を得ることができた。   At this time, the vertical non-deposition substrate 51 is in close contact with the substrate holding plate 3 by the substrate clamping mechanism 4, and the substrate holding plate 3 is formed in a sandwich structure. When the sputtering is performed on the target, the heater is energized, and when the thin film is grown while heating the undeposited substrate 51, the substrate has good crystallinity without warping or distortion. A thin film could be obtained.

他方、前記ハンド32に乗せられた前記成膜終了基板52は、前記基板搬送室45と前記L/UL室441、又は前記L/UL室442との間の仕切板が開けられた後、その中に装着されたカセットの空いているところに納められる。
そして、空になったハンド32先端には、前記カセット昇降機構によって未処理の基板が乗せられ、その未処理の基板は前記予備加熱室43で加熱・脱ガス処理が終了した未成膜基板と交換され、未成膜基板として前記ハンド32上に乗せられて、まもなく成膜が終了する成膜室42の前面で図3のように待機され、前記成膜室42において、引き続き図4(a)から図6(n)の一連の交換作業が行われる。このような一連の基板交換動作は、成膜すべき基板がなくなるまで繰り返される。
On the other hand, the completion of the film formation substrate 52 which is placed on the hand 32, after the substrate and the transfer chamber 45 L / UL chamber 44 1, or a partition plate between the L / UL chamber 44 2 is opened Is placed in a vacant space of the cassette mounted therein.
An unprocessed substrate is placed on the tip of the empty hand 32 by the cassette elevating mechanism, and the unprocessed substrate is replaced with an undeposited substrate that has been heated and degassed in the preheating chamber 43. Then, the substrate is put on the hand 32 as an undeposited substrate, and waits as shown in FIG. 3 on the front surface of the deposition chamber 42 where the deposition is completed soon. A series of replacement work shown in FIG. 6 (n) is performed. Such a series of substrate exchange operations is repeated until there are no more substrates to be formed.

なお、前記圧空シリンダ34を動作させると、通常では垂直に配置されている前記マスク回転枠16を水平にすることができ、水平にされた前記マスク回転枠16を前記各支持棒8で持ち上げて前記ハンド32上に乗せると、前記L/UL室441、442に移送することができ、それによって前記マスク回転枠16を大気中に取り出すことができる。また、それとは逆に、新しいマスク回転枠16を前記基板搬送ロボット31によって前記L/UL室室441、442から前記成膜室42内に搬入し、前記各支持棒8上に乗せた場合には、前記支持腕36に装着できるようにされている。従って、この基板保持装置2では、前記成膜室42の高真空状態を維持したまま、表面にターゲット材が付着したマスク回転枠を新しいマスク回転枠と交換することができる。 When the compressed air cylinder 34 is operated, the mask rotating frame 16 which is normally arranged vertically can be made horizontal, and the horizontalized mask rotating frame 16 is lifted by the support rods 8. When put on the hand 32, the L / UL chamber 44 1 can be transferred to the 44 2, thereby removing said mask rotating frame 16 to the atmosphere. Further, On the contrary, a new mask rotation frame 16 is carried into the film forming chamber 42 from the L / UL chamber chamber 44 1, 44 2 by the substrate transfer robot 31 and mounted on the respective support rod 8 In such a case, it can be mounted on the support arm 36. Therefore, in the substrate holding device 2, the mask rotating frame having the target material adhered to the surface can be replaced with a new mask rotating frame while the high vacuum state of the film forming chamber 42 is maintained.

なお、前記シャフト21の両端部分は磁性流体でシールされて前記成膜室42の外部に取り出されており、前記成膜室42の高真空状態を維持しながら回転できるようにされている。その両端部分に設けられたカバー38を取れば、前記基板保持板3にヒーターを入れたり、その温度を測定するための熱電対を挿入できるように構成されている。   Both ends of the shaft 21 are sealed with a magnetic fluid and taken out of the film forming chamber 42 so that the shaft 21 can be rotated while maintaining a high vacuum state. If the covers 38 provided at both end portions are removed, a heater can be inserted into the substrate holding plate 3 or a thermocouple for measuring the temperature can be inserted.

以上説明したように、基板を略鉛直にしてスパッタリングを行うので、ターゲットやその周囲で発生したダストが基板上に落下することがなく、また、基板保持板で保持しながら大面積基板を加熱するので、基板にそりや歪みを生じさせずに結晶性のよい薄膜を成長させることができる。   As described above, since the sputtering is performed with the substrate being substantially vertical, the dust generated in the target and its surroundings does not fall on the substrate, and the large area substrate is heated while being held by the substrate holding plate. Therefore, a thin film with good crystallinity can be grown without causing warpage or distortion on the substrate.

また、上述のような未成膜基板と成膜終了基板との交換を行う結果、基板搬送ロボットに無駄な動作がなくなり、基板の交換時間が短縮でき、全体の処理時間も短くすることが可能となる。   In addition, as a result of exchanging the undeposited substrate and the film-deposited substrate as described above, the substrate transfer robot does not needlessly operate, the substrate exchange time can be reduced, and the overall processing time can be reduced. Become.

更にまた、基板を第1、第2の基板仮置機構上に置いて交換するので、基板交換の際にも基板が擦られることがなく、ダストが発生しない。
なお、上記実施の形態は、支持棒8を4本、ピンを8本設けたが、本数はそれに限定されるものではなく、基板を安定に支持できる本数であればよい。
Furthermore, since the substrate is replaced by placing it on the first and second substrate temporary placement mechanisms, the substrate is not rubbed even when the substrate is replaced, and no dust is generated.
In the above embodiment, four support rods 8 and eight pins are provided. However, the number is not limited thereto, and may be any number that can stably support the substrate.

本発明の基板保持装置の好ましい実施の形態を示す図FIG. 1 is a diagram showing a preferred embodiment of a substrate holding device of the present invention. その基板保持装置が配置される成膜室の一例を示す図The figure which shows an example of the film-forming chamber in which the substrate holding apparatus is arrange | positioned. その基板保持装置と基板搬送ロボットとが入換準備段階にある状態を示す図FIG. 6 is a diagram showing a state in which the substrate holding device and the substrate transport robot are in a preparation stage for replacement. 本発明方法の一例の以下の動作を説明するための図(a):転倒動作 (b):フックアップ動作 (c):フックイン動作 (d):ハンドイン動作(A) for explaining the following operation of an example of the method of the present invention: falling operation (b): hook-up operation (c): hook-in operation (d): hand-in operation 図4(d)に続く以下の動作を説明するための図(e):フックアップ動作 (f):ハンドアウト動作 (g):ピンアップ動作 (h):ハンドイン動作 (i):ピンダウン動作 (j):ハンドアウト動作(E): hook-up operation (f): hand-out operation (g): pin-up operation (h): hand-in operation (i): pin-down operation (j): Handout operation 図5(j)に続く以下の動作を説明するための図(k):フックダウン動作 (l):フックアウト動作 (m):分離動作 (n):起立動作FIG. 5 (k) for explaining the following operation following FIG. 5 (j): hook-down operation (l): hook-out operation (m): separation operation (n): standing operation 本発明の基板加熱装置が用いられる成膜装置の一例を示す図The figure which shows an example of the film-forming apparatus using the substrate heating apparatus of this invention. 従来技術の成膜方法とそれに用いられる基板保持装置を説明するための図FIG. 2 is a view for explaining a conventional film forming method and a substrate holding device used for the method.

符号の説明Explanation of reference numerals

2……基板保持装置 3……基板保持板 4……基板クランプ機構
7……ピン 8……支持棒 9、10……爪部
31……基板搬送ロボット 32……ハンド 42……成膜室
2 ... substrate holding device 3 ... substrate holding plate 4 ... substrate clamping mechanism 7 ... pin 8 ... support rod 9, 10 ... claw portion 31 ... substrate transport robot 32 ... hand 42 ... film forming chamber

Claims (19)

成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットにガラス基板を平行に対向させて保持し、前記ターゲットをスパッタリングして前記ガラス基板表面に薄膜を成膜するスパッタリング方法であって、
基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に搬入されたガラス基板を、水平に配置された基板保持板上に乗せ、基板クランプ機構によって前記ガラス基板をクランプして前記ガラス基板を前記基板保持板に密着させ、
前記基板保持板と共に前記ガラス基板を起立させることを特徴とするスパッタリング方法。
A sputtering method in which a glass substrate is held in parallel to a target arranged substantially vertically in a film formation chamber, and a thin film is formed on the surface of the glass substrate by sputtering the target.
The glass substrate loaded on the hand of the substrate transfer robot and loaded horizontally is placed on a horizontally arranged substrate holding plate, and the glass substrate is clamped by a substrate clamping mechanism to hold the glass substrate on the substrate holding plate. In close contact with
A sputtering method, wherein the glass substrate is erected together with the substrate holding plate.
前記基板保持板に設けられたヒーターによって前記ガラス基板を加熱しながら前記薄膜の成膜を行うことを特徴とする請求項1記載のスパッタリング方法。   The sputtering method according to claim 1, wherein the thin film is formed while heating the glass substrate by a heater provided on the substrate holding plate. 成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットを有するスパッタリング装置であって、
成膜室内に配置され、前記成膜室内に水平に搬入された基板を乗せる基板保持板と、
前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、
前記基板保持板を起立させる回転機構とを有することを特徴とするスパッタリング装置。
A sputtering apparatus having a target disposed substantially vertically in a film formation chamber,
A substrate holding plate that is disposed in the film formation chamber and on which the substrate that is horizontally carried into the film formation chamber is placed;
A substrate clamping mechanism for clamping a substrate placed on the substrate holding plate,
A rotating mechanism that raises the substrate holding plate.
シャフトと、前記シャフトに取り付けられた保持板回転枠とを有し、前記シャフトの回転によって前記保持板回転枠が回転するように構成された請求項3記載のスパッタリング装置であって、
前記基板保持板は矩形形状に形成され、前記保持板回転枠の内側にはめ込まれていると共に、
前記基板保持板にはヒーターが設けられていることを特徴とするスパッタリング装置。
The sputtering apparatus according to claim 3, comprising a shaft and a holding plate rotating frame attached to the shaft, wherein the holding plate rotating frame is configured to be rotated by rotation of the shaft.
The substrate holding plate is formed in a rectangular shape, and is fitted inside the holding plate rotating frame,
A sputtering apparatus, wherein the substrate holding plate is provided with a heater.
前記基板保持板と基板がほぼ同じ大きさであることを特徴とする請求項3又は請求項4のいずれか1項記載のスパッタリング装置。   The sputtering apparatus according to claim 3, wherein the substrate holding plate and the substrate have substantially the same size. 前記基板よりもやや小さめの矩形形状の窓部が形成されたマスク回転枠を有し、
前記保持板回転枠が前記基板保持板と共に起立される際に、前記マスク回転枠と前記基板保持板に密着された基板とが重ねられ、前記基板の成膜領域の周辺部分が前記マスク回転枠で遮蔽されることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載のスパッタリング装置。
Having a mask rotating frame formed with a rectangular window slightly smaller than the substrate,
When the holding plate rotating frame is erected together with the substrate holding plate, the mask rotating frame and the substrate that is in close contact with the substrate holding plate are overlapped, and a peripheral portion of a film formation region of the substrate is the mask rotating frame. The sputtering apparatus according to claim 4, wherein the sputtering apparatus is shielded by:
前記マスク回転枠は支持腕に取り付けられ、前記支持腕を回転させて垂直にも水平にも可能なように構成され、水平な状態では前記支持腕から取り外せるように構成されたことを特徴とする請求項6記載のスパッタリング装置。   The mask rotating frame is attached to a support arm, and is configured to be able to be rotated vertically and horizontally by rotating the support arm, and to be detachable from the support arm in a horizontal state. The sputtering apparatus according to claim 6. 前記基板保持板には、前記基板保持板上に配置された水平な基板を持ち上げる複数本の棒が挿通され、
前記マスク回転枠は、水平な状態で前記棒によって持ち上げられ、前記シャフトから取り外せるように構成されたことを特徴とする請求項7記載のスパッタリング装置。
In the substrate holding plate, a plurality of rods for lifting a horizontal substrate disposed on the substrate holding plate are inserted,
The sputtering apparatus according to claim 7, wherein the mask rotating frame is lifted by the rod in a horizontal state and is detachable from the shaft.
前記基板は、550×650mm2以上であることを特徴とする請求項3ないし請求項8に記載のスパッタリング装置。 9. The sputtering apparatus according to claim 3, wherein the substrate has a size of 550 × 650 mm 2 or more. 前記基板を搬送する基板搬送ロボットと、
前記基板搬送ロボットが配置された基板搬送室とを有し、
前記成膜室が前記基板搬送室に接続された請求項3乃至請求項9のいずれか1項記載のスパッタリング装置。
A substrate transfer robot for transferring the substrate,
Having a substrate transfer chamber in which the substrate transfer robot is arranged,
The sputtering apparatus according to claim 3, wherein the film forming chamber is connected to the substrate transfer chamber.
複数の前記成膜室が前記基板搬送室の周囲に接続されたことを特徴とする請求項10記載のスパッタリング装置。   The sputtering apparatus according to claim 10, wherein a plurality of the film forming chambers are connected around the substrate transfer chamber. 基板の搬出入を行うL/UL室と基板の脱ガスを行う予備加熱室が前記基板搬送室の周囲に配置されていることを特徴とする請求項10又は請求項11のいずれか1項に記載のスパッタリング装置。   The L / UL chamber for loading / unloading a substrate and the preheating chamber for degassing the substrate are arranged around the substrate transfer chamber, wherein the L / UL chamber is disposed around the substrate transfer chamber. The sputtering apparatus as described in the above. 前記基板搬送室とその周囲に配置された各室との間には開閉可能な仕切板が設けられており、前記基板搬送室とその周囲の各室とは、それぞれが独立に高真空状態を維持できるように構成されていることを特徴とする請求項10乃至請求項12のいずれか1項記載のスパッタリング装置。   An openable / closable partition plate is provided between the substrate transfer chamber and each of the chambers disposed around the substrate transfer chamber, and each of the substrate transfer chamber and each of the surrounding chambers is independently in a high vacuum state. 13. The sputtering apparatus according to claim 10, wherein the sputtering apparatus is configured to be maintained. 成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットに基板を平行に対向させて保持し、前記ターゲットをスパッタリングして前記基板表面に薄膜を成膜するスパッタリング方法であって、
基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に搬入された基板を、水平に配置された基板保持板上に乗せ、前記基板保持板に設けられた基板クランプ機構によって前記基板をクランプして前記基板保持板と密着させ、前記基板保持板と共に前記基板を起立させることを特徴とするスパッタリング方法。
A sputtering method in which a substrate is held in parallel to a target disposed substantially vertically in a film formation chamber, and a thin film is formed on the surface of the substrate by sputtering the target,
The substrate loaded on the hand of the substrate transfer robot and loaded horizontally is placed on a horizontally arranged substrate holding plate, and the substrate is clamped by a substrate clamping mechanism provided on the substrate holding plate, and the substrate is placed on the substrate holding plate. A sputtering method, wherein the substrate is brought into close contact with a holding plate and the substrate is erected with the substrate holding plate.
前記基板保持板に設けられたヒーターによって前記基板を加熱しながら薄膜の成膜を行うことを特徴とする請求項14記載のスパッタリング方法。   The sputtering method according to claim 14, wherein the thin film is formed while heating the substrate by a heater provided on the substrate holding plate. 成膜室内にほぼ鉛直に配置されたターゲットをスパッタリングして基板表面に薄膜を成膜するスパッタリング方法に用いられる基板保持装置であって、
基板搬送ロボットのハンド上に乗せられて水平に搬入された基板を水平に乗せる基板保持板と、前記基板保持板上に乗せられた基板をクランプする基板クランプ機構と、前記基板保持板を起立させる回転機構とを有することを特徴とする基板保持装置。
A substrate holding apparatus used in a sputtering method for forming a thin film on a substrate surface by sputtering a target arranged substantially vertically in a film forming chamber,
A substrate holding plate for horizontally mounting a substrate loaded horizontally on the hand of the substrate transfer robot, a substrate clamping mechanism for clamping the substrate mounted on the substrate holding plate, and erecting the substrate holding plate A substrate holding device comprising: a rotation mechanism.
前記基板保持板が起立された時に、前記クランプされた基板が前記ターゲットに平行に対向するように構成されたことを特徴とする請求項16記載の基板保持装置。   17. The substrate holding device according to claim 16, wherein the clamped substrate is configured to face the target in parallel when the substrate holding plate is erected. 前記ハンド上に乗せられた基板が前記基板保持板上に位置するときに、その基板を持ち上げて上下移動させる第1の基板仮置機構と、
前記基板保持板上に乗せられた基板を持ち上げて上下移動させる第2の基板仮置機構とを有し、
前記ハンド上の基板と前記基板保持板上の基板とを前記第1、第2の基板仮置機構上に仮に置いて交換できるように構成されたことを特徴とする請求項16又は請求項17のいずれか1項記載の基板保持装置。
When a substrate placed on the hand is positioned on the substrate holding plate, a first substrate temporary placement mechanism that lifts and vertically moves the substrate,
A second substrate temporary placement mechanism for lifting and vertically moving the substrate placed on the substrate holding plate,
18. The apparatus according to claim 16, wherein the substrate on the hand and the substrate on the substrate holding plate are temporarily placed on the first and second substrate temporary placement mechanisms and can be replaced. The substrate holding device according to claim 1.
前記基板保持板は基板を加熱できるヒーターを有することを特徴とする請求項16乃至請求項18記載のいずれか1項記載の基板保持装置。     19. The substrate holding apparatus according to claim 16, wherein the substrate holding plate has a heater capable of heating the substrate.
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