JP2004319398A - 半導体装置用ソケット - Google Patents
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Abstract
【解決手段】位置決め壁部10Wpaおよび10Wpbにおける各スリットSLB内には、それぞれ、位置決め部20および22が隣接する隔壁10fa相互間を連結するように形成されている。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、所定の配線基板に実装される半導体装置を収容することができる半導体装置用ソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体装置は、一般に半導体装置用ソケットを介して液晶表示機器等の配線基板上に実装される場合がある。半導体装置として、例えば、SOP型のパッケージの半導体素子が位置決めされ収容される収容部を有する半導体装置用ソケットは、所謂、実装用ソケットと呼称されている。その実装用ソケットは、例えば、特許文献1および特許文献2にも示されるように、所定の信号が供給されるとともに半導体装置からの信号を送出する入出力部を有するプリント配線基板上に配されている。実装用ソケットは、図14にも示されるように、その半導体装置6が収容される収容部を有しプリント配線基板上の所定位置に固定されるソケット本体部2と、ソケット本体部2に対し着脱可能とされ、収容された半導体装置6の各リード端子6Rの先端を各コンタクト端子8の接点部に押圧する押圧部を有するカバー部材4とを主な要素として含んで構成されている。
【0003】
長方形の枠状に形成されるカバー部材4は、その中央部に開口部4aを有している。また、カバー部材4の両側面の外周部には、それぞれ、後述するソケット本体部2の側部の爪部2Nにそれぞれ係合される爪部4Nが所定の間隔で複数個形成されている。その爪部4Nは、隣接する爪部2Nの相互間を通じて爪部2Nに対し下方となる位置まで挿入された後、一方向に摺動せしめられることにより、爪部2Nに係合される。また、爪部4Nは、他方向に摺動せしめられ隣接する爪部2Nの相互間を通じて離脱され非係合状態とされる。
【0004】
カバー部材4の内部には、開口部4aを通じて外部に連通する凹部4bが形成されている。凹部4bは、各辺の内面部により囲まれることにより、形成されている。装着されたカバー部材4の各長辺側壁部における下端部は、装着された半導体装置6のリードの先端部に当接している。
【0005】
一方、ソケット本体部2は、半導体装置6のパッケージ部分を収容する収容部2Aと、ソケット本体部2の長辺側における収容部2Aの周囲を形成する一対の側壁部2SWと、半導体装置6の各リード6Rに対応してそれぞれ設けられる複数のコンタクト端子8と、を主な要素として含んで構成されている。
【0006】
各側壁部2SWには、それぞれ、開口部2Hが所定の間隔で上述した爪部2Nに対応した位置に形成されている。また、各側壁部2SWには、一本のコンタクト端子8がそれぞれ挿入されるスリット2Sが複数個所定の間隔で紙面に垂直方向に沿って形成されている。各スリット2Sは、コンタクト端子8の固定部8Fを収容するコンタクト端子収容部2Cに連通している。コンタクト端子8は、プリント配線基板上に半田付け固定される半田付端子部8Sと、半導体装置6のリード6Rに選択的に接触する接点部8Tと、ソケット本体部2の底部に圧入され接点部8Tと半田付端子部8Sとを湾曲部を介して連結する固定部8Fとを含んで構成されている。
【0007】
各側壁部2SWと収容部2Aとの間には、半導体装置6のリード6Rのコンタクト端子8の接点部8Tに対する位置決めする一対の位置決め部2PWが形成されている。なお、図14は、一方の位置決め部2PWのみを示す。
【0008】
位置決め部2PWの内面の相互間距離は、半導体装置6の最大幅よりも若干大なる寸法に設定されている。その際、半導体装置6のパッケージの幅の値は、例えば、所定の公差(約±0.22mm程度)が規格化されている。また、相対向する半導体装置6の一方のリード6Rの先端から他方のリード6Rの先端までの相互間距離の公差(約±0.2mm)も規格化されている。
【0009】
従って、半導体装置6が収容部2Aに装着される場合、半導体装置6のパッケージの最端の外面が位置決め部2PWの内面にそれぞれ当接することにより、半導体装置6のリード6Rのコンタクト端子8の接点部8Tに対する位置決めがなされることとなる。
【0010】
【特許文献1】
特開平8−185946号公報
【0011】
【特許文献2】
特開平8−17532号公報
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
上述のように半導体装置6のリード6Rのコンタクト端子8の接点部8Tに対する位置決めが位置決め部2PWによりなされる場合、例えば、図14に二点鎖線で示されるように、半導体装置6のパッケージの幅の値がその公差内において最小値をとり、かつ、リード6Rの相互間距離が公差内の最小値となるとき、半導体装置6のパッケージの最端の外周面とそれに対向する位置決め部2PWの内面との間に隙間が形成されるので半導体装置6が移動し得る遊びが収容部2A内に生じることとなる。
【0013】
従って、一方のリード6Rの先端とコンタクト端子8の接点部8Tとの接触部分が他方の接触部分に比べて小となる虞がある。その結果、リード6Rとコンタクト端子8の接点部8Tとの電気的接続が不確実となる虞がある。
【0014】
以上の問題点を考慮し、本発明は、所定の配線基板に実装される半導体装置を収容することができる半導体装置用ソケットであって、半導体装置のパッケージの幅およびリードの寸法が公差内の最小値をとる場合であっても半導体装置のリードのコンタクト端子の接点部に対する位置決めを確実に行うことができる半導体装置用ソケットを提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上述の目的を達成するために、本発明に係る半導体装置用ソケットは、半導体装置を電気的に接続するコンタクト端子群を有し、半導体装置を着脱可能に収容する収容部を備えるソケット本体と、半導体装置の端子群の各端子に対応して収容部の外郭部に形成される複数のスリット部と、各スリット内に外郭部と一体に形成され、半導体装置の各端子のコンタクト端子群の各端子に対する位置決めを行う位置決め部と、を備えて構成される。
【0016】
また、収容される半導体装置をソケット本体の収容部に保持するカバー部材をさらに備え、カバー部材は、半導体装置の端子のコンタクト端子群の端子に対する位置決めを行う内周部を有するものでもよい。
【0017】
位置決め部の外周面は、半導体装置の端子部に係合し端子部を位置規制する第1の位置規制面と、半導体装置の外周面における斜面部に当接し斜面部を位置規制する第2の位置規制面とを含んでなるものでもよい。
【0018】
収容部の外郭部における複数の隣接するスリット相互間を仕切る一つの隔壁部は、半導体装置の外周面に当接し位置規制する複数の位置規制面を有するものでもよい。
【0019】
複数の位置規制面は、互いに異なる勾配を有するものでもよい。
【0020】
【発明の実施の形態】
図2は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例におけるソケット本体を示す。
【0021】
図2において、半導体装置用ソケットは、図8(A)および(B)に示されるような半導体装置14を収容する収容部10Aを有するソケット本体10と、収容される半導体装置14のリードを、後述するコンタクト端子の接点部に対し選択的に押圧または解放するカバー部材12と、図示が省略される配線基板の導体層に半導体装置14のリードを電気的に接続する複数のコンタクト端子16ai(i=1〜n,nは70)と、を主な要素として含んで構成されている。
【0022】
半導体装置14は、例えば、図8(A)および(B)に示されるように、SOP型のパッケージにより形成されており、長手方向側の各側面に70本のガルウイング形のリード14ai(i=1〜n、nは70)を備えている。半導体装置14の長手方向の長さLは、最大値のみが所定の値に規格化されている。一方、半導体装置14のパッケージの外周の幅寸法WBの公差は、例えば、±0.225mmに設定されている。また、半導体装置14のリード14aiの先端相互間距離WLの公差は、例えば、±0.215mmに設定されている。さらに、隣接するリード14aiの中心の相互間距離Pの公差は、例えば、±0.05mmに設定される。半導体装置14のパッケージの各側面は、その平坦面に直交する直線に対し所定の勾配αを有している。勾配αの公差は、例えば、±2°に設定されている。パッケージの厚さTは、その最大値が規格化されている。
【0023】
ガルウイング形のリード14aiの接点部の折曲代BLの公差は、例えば、±0.155mmに設定されている。また、リード14aiの接点部からリード14aiの基端までの高さHの公差は、例えば、±0.155mmに設定されている。
【0024】
カバー部材12は、図5、図6および図7に示されるように、樹脂、例えば、ポリフェニレンサルファイド(PPS)で枠状に作られている。カバー部材12は、中央に開口部12aを有している。カバー部材12の長辺側の両側面部には、それぞれ、L字状の爪部12NAおよび12NBが***して形成されている。爪部12NAは、例えば、4個、所定の均等の間隔で一直線上に設けられている。各爪部12NAは、カバー部材12の長手方向に延びる平行部12PLaと、その平行部の一端から直交するようにカバー部材12の厚さ方向に伸びる垂直部12URaとからなる。図6において、図2における右側列に対応する平行部12PLaは、選択的にソケット本体部10の爪部10RNの下面に接触するように係合せしめられる。なお、図2における左側列に対応する平行部12PLaは、選択的にソケット本体部10の各爪部10LNの下面に接触するように係合せしめられる。
【0025】
爪部12NBは、面取部12Cに隣接して爪部12NAと共通直線上に形成されている。爪部12NBは、カバー部材12の長手方向に延びる平行部12PLbと、その平行部の一端から直交するようにカバー部材12の厚さ方向に伸びる垂直部12URbとからなる。図6において、図2における左側列に対応する平行部12PLbは、選択的にソケット本体部10の爪部10LNの下面に接触するように係合せしめられる。図6において、図2における右側列に対応する平行部12PLbは、選択的にソケット本体部10の爪部10RNの下面に接触するように係合せしめられる。
【0026】
カバー部材12の内部には、開口部12aを通じて外部に連通する凹部12bが形成されている。凹部12bの周縁には、後述するコンタクト端子に上述の半導体装置14のリード14aiの先端を押圧する押圧面12PSが形成されている。凹部12bを形成する内周面の幅寸法は、例えば、収容された半導体装置14のリード14aiの接点部の折曲代BLが最小値のとき、リード14aiの接点部の立ち上がり部分がその内周面に当接するように設定されている。
【0027】
ソケット本体部10は、例えば、耐熱性ポリアミド樹脂で作られ、上述した半導体装置14が収容される収容部10Aを中央に有している。ソケット本体部10の長辺側における収容部10Aの周囲には、相対向する側壁部10RWおよび10LWが形成されている。側壁部10RWおよび10LWには、それぞれ、均等の間隔で開口部10aが形成されている。側壁部10RWにおける各開口部10aの周縁には、爪部10RNが形成されている。また、隣接する爪部10RNの相互間には、カバー部材12の爪部12NAおよび12NBが通過する隙間CLが形成されている。一方、側壁部10LWにおける各開口部10aの周縁には、爪部10LNが形成されている。また、隣接する爪部10LNの相互間には、カバー部材12の爪部12NAおよび12NBが通過する隙間CLが形成されている。従って、爪部10RNおよび爪部10LN、隙間CLは、相対向して形成されることとなる。
【0028】
側壁部10RWおよび10LWにおける各開口部10aの下方部分には、図1および図3、図4(A)に示されるように、複数のスリットSLAが、コンタクト端子16aiに対応して形成されている。隣接するスリットSLAの間は、隔壁PAにより仕切られている。なお、図4(A)は、一方側から見た断面図を示す。
【0029】
ソケット本体部10における側壁部10RWおよび10LWよりも中央側には、額縁状の収容壁部10Fが収容部10Aの外郭部として形成されている。
【0030】
収容壁部10Fの4隅には、それぞれ、装着される半導体装置14のパッケージの各角に係合されるコーナ壁CWが形成されている。収容壁部10Fにおけるコーナ壁CWの相互間であって側壁部10RWに対向する部分には、位置決め壁部10Wpaが形成され、一方、収容壁部10Fにおけるコーナ壁CWの相互間であって側壁部10LWに対向する部分には、位置決め壁部10Wpbが形成されている。
【0031】
位置決め壁部10Wpaおよび位置決め壁部10Wpbは、相対向して互いに平行に形成されている。位置決め壁部10Wpaおよび位置決め壁部10Wpbには、図1および図2に示されるように、それぞれ、所定の間隔で複数のスリットSLB、および、隣接するスリットSLBを仕切る隔壁部10faおよび10fbが形成されている。
【0032】
収容部10Aを形成する隔壁部10faの内面は、第1の垂直面部S1と、第1の垂直面部S1に連なる第2の斜面部S2とから形成されている。第2の斜面部S2の裾部分は、第1の垂直面部S1の最上端の位置に比して内側に設定されている。
【0033】
また、収容部10Aを形成する隔壁部10fbの内面は、第1の垂直面部S1’と、第1の垂直面部S1’に連なる第2の斜面部S2’とから形成されている。第2の斜面部S2’の裾部分は、第1の垂直面部S1’の最上端の位置に比して内側に設定されている。
【0034】
さらに、隔壁部10faおよび10fbにおける第1の垂直面部S1の最上端と第1の垂直面部S1’の最上端との相互間距離は、上述の半導体装置14の幅寸法WBの最大値より若干大に設定されている。また、隔壁部10faおよび10fbにおける第2の斜面部S2の裾部分と第2の斜面部S2’の裾部分との相互間距離は、上述の半導体装置14の幅寸法WBの最小値より若干小に設定されている。さらに、第1の垂直面部S1と第2の斜面部S2との境界部分と、第1の垂直面部S1’と第2の斜面部S2’との境界部分との相互間距離は、半導体装置14の幅寸法WBの最大値未満であって最小値を超える値に設定されている。
【0035】
位置決め壁部10Wpaにおける各スリットSLB内には、図1に示されるように、位置決め部20が隣接する隔壁10fa相互間を連結するように形成されている。
【0036】
位置決め部20の外周面は、2つの位置規制面20S1、20S2、および受面20S3から形成されている。その位置規制面20S1は、側壁部10RWに対向し、装着される半導体装置14のリード14aiを案内する湾曲面とされる。位置規制面20S2は、位置規制面20S1に連なり収容部10A側に対向し、上述の第2の斜面部S2との共通の曲面上に形成されている。収容部10A内に向けて湾曲した位置規制面20S2は、装着された半導体装置14のパッケージの側面の傾斜面に当接する場合があるものとされる。
【0037】
位置規制面20S1と位置規制面20S2とが交差することにより、第1の尖頭部が形成されることとなる。
【0038】
受け面20S3は、圧入されたコンタクト端子16aiの接点部16Cを受けるものとされる。受け面20S3と位置規制面20S1とが交差することにより、第2の尖頭部が形成されることとなる。
【0039】
一方、位置決め部22の外周面は、2つの位置規制面22S1、22S2、および受面22S3から形成されている。その位置規制面22S1は、側壁部10LWに対向し、装着される半導体装置14のリード14aiを案内する湾曲面とされる。位置規制面22S2は、位置規制面22S1に連なり収容部10A側に対向し、上述の第2の斜面部S2’との共通の曲面上に形成されている。収容部10A内に向けて湾曲した位置規制面22S2は、装着された半導体装置14のパッケージの側面の傾斜面に当接する場合があるものとされる。位置規制面22S1と位置規制面22S2とが交差することにより、第1の尖頭部が形成されることとなる。
【0040】
受け面22S3は、圧入されたコンタクト端子16aiの接点部16Cを受けるものとされる。受け面22S3と位置規制面22S1とが交差することにより、第2の尖頭部が形成されることとなる。
【0041】
図4(B)に示されるように、位置決め部20の第1の尖頭部と位置決め部22の第1の尖頭部との相互間距離WEは、上述の半導体装置14の幅寸法の最大値より若干小に設定されている。また、位置決め部20の第2の尖頭部と位置決め部22の第2の尖頭部との相互間距離WDは、半導体装置14の幅寸法の最大値に所定の値を加算した値に設定されている。その加算される値は、リード14aiの先端がその第2の尖頭部に干渉しないような値に設定される。なお、図4(B)は、一方側の位置決め部22のみを示す。
【0042】
各スリットSLAおよびスリットSLBと収容部10A内とは、図1に示されるように、連通している。また、スリットSLBにおける位置決め部20および22の下方位置には、それぞれ、コンタクト端子16aiが配置されている。
【0043】
各コンタクト端子16aiは、薄板金属材料で作られ、ソケット本体10の各スリットSLAおよびSLB内に圧入され固定される固定部と、配線基板の導体層に半田付固定される端子部と、弾性変位可能な湾曲部を介して固定部に連結されリード14aiの先端に電気的に接続される接点部16Cとを含んで構成されている。
【0044】
ソケット本体10の底面部には、ソケット本体10を配線基板に対し位置決めする位置決めピンが2箇所に設けられている。各位置決めピンは、配線基板の所定位置に設けられる孔に係合される。なお、斯かる例に限られることなく、各位置決めピンが、設けられることなく、例えば、ソケット本体10の外周面が利用されてソケット本体10の配線基板に対する位置決めがなされてもよい。
【0045】
斯かる構成において、半導体装置14をソケット本体10の収容部10Aに装着するにあたっては、先ず、半導体装置14が収容部10A内に配される。その際、半導体装置14の各リード14aiは、位置決め壁部10Wpaおよび位置決め壁部10Wpbの各スリットSLB内に挿入される。これにより、半導体装置14の収容部10Aに対する長手方向に沿った位置の位置決めが自動的になされる。
【0046】
また、半導体装置14のパッケージの幅寸法WBが公差内の最大値である場合、図10に示されるように、半導体装置14のパッケージの最端の外周面が位置決め壁部10Wpaの第1の斜面部S1、位置決め壁部10Wpbの第1の斜面部S1’に当接することにより、半導体装置14の収容部10Aに対する幅方向に沿った相対位置、および、リード14aiの先端とコンタクト端子16aiの接点部16Cとの位置決めが自動的になされる。なお、図10は、一方側の位置決め部22のみを示す。
【0047】
次に、カバー部材12が、その爪部12NAおよび12NBがソケット本体10の隙間CLの上方の位置となるように配置される。その際、カバー部材12の向きは、その面取部12Cがソケット本体10の面取部10C側に向くように設定される。
【0048】
続いて、カバー部材12が所定の押し込み量まで押圧されることにより、その爪部12NAおよび12NBが隙間CLに挿入される。そして、その状態でカバー部材12が図2の矢印Lの示す方向に二点鎖線で示されるように、摺動されることにより、爪部12NAおよび12NBの平行部12PLa,12PLbが爪部10RNおよび10LNに係合される。カバー部材12の一端部は、ソケット本体10の一端部から所定量突出することとなる。従って、図10に示されるように、位置決めされた半導体装置14が収容部10A内に保持されることとなる。また、半導体装置14のリード14aiの先端とコンタクト端子16aiの接点部16Cとの接触量が適正に保たれることとなる。
【0049】
一方、半導体装置14を収容部10Aから取り外すにあたっては、カバー部材12が図2の矢印ULの示す方向に一点鎖線で示されるように、摺動された後、カバー部材12が上述とは逆方向に引き離される。従って、半導体装置14が収容部10A内から取り外し可能となる。
【0050】
上述の場合と異なり、半導体装置14の幅寸法が公差内の最小値であり、リード14aiの接点部の折曲代BLが許容される最小値をとる場合、図13に示されるように、半導体装置14のパッケージの最端の外面と位置決め壁部10Wpaおよび位置決め壁部10Wpbの内面との間に隙間が形成されるので半導体装置14の収容部10Aに対する位置決め精度が悪化することとなる。なお、図13は、一方側の位置決め部22のみを示す。
【0051】
しかし、本発明の一例においては、リード14aiの接点部の立ち上がり部がカバー部材12の凹部12bを形成する内面により位置決めされることにより、半導体装置14の収容部10Aに対する位置決め精度が良好に保たれることとなる。
【0052】
また、半導体装置14の幅寸法WBが公差内の最小値であり、リード14aiの接点部の折曲代BLが公差内の最大値をとる場合、図9に一点鎖線で示されるように、各リード14aiの接点部の立ち上がり部が、それぞれ、位置決め部20の第2の尖頭部、および、位置決め部22の第2の尖頭部に係合することにより、半導体装置14の収容部10Aに対する位置決め精度が良好に保たれることとなる。その際、半導体装置14のリード14aiの先端とコンタクト端子16aiの接点部16Cとの接触量が適正に保たれることとなる。なお、斯かる場合において、リード14aiの接点部の折曲代BLが公差内の中間値のとき、半導体装置14のパッケージの側面の斜面部が位置決め部20および22の位置規制面20S2、22S2に当接することとなる。なお、図9は、一方側の位置決め部22のみを示す。
【0053】
さらに、半導体装置14のパッケージの幅寸法WBが、公差内の最大値と最小値との中間の値であり、図12に示されるように、リード14aiの接点部の折曲代BLが公差内の最小値を越える場合においては、半導体装置14のパッケージの側面の斜面部が位置決め部20および22の位置規制面20S2、22S2に当接することとなる。従って、半導体装置14の収容部10Aに対する位置決め精度が良好に保たれることとなる。その際、半導体装置14のリード14aiの先端とコンタクト端子16aiの接点部16Cとの接触量が適正に保たれることとなる。
【0054】
半導体装置14のパッケージの幅寸法が、許容される最大値と最小値との中間の値であり、図11に示されるように、リード14aiの接点部の折曲代BLが許容される最大値の場合においては、半導体装置14のパッケージの側面の斜面部が位置決め部20および22の位置規制面20S2、22S2に当接し、かつ、各リード14aiの接点部の立ち上がり部が、それぞれ、位置決め部20の第2の尖頭部、および、位置決め部22の第2の尖頭部に係合することにより、半導体装置14の収容部10Aに対する位置決め精度が良好に保たれることとなる。図11は、一方側の位置決め部22のみを示す。その際、半導体装置14のリード14aiの先端とコンタクト端子16aiの接点部16Cとの接触量が適正に保たれることとなる。
【0055】
なお、上述の例においては、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例がSOP形の半導体装置を収容する半導体装置用ソケットに対して適用されているが、斯かる例に限られることなく、例えば、QFP形の半導体装置を収容する半導体装置用ソケットに対して本発明に係る半導体装置用ソケットの一例が適用されてもよいことは勿論である。
【0056】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明に係る半導体装置用ソケットによれば、位置決め部が、各スリット内に外郭部と一体に形成され、半導体装置の各端子のコンタクト端子群の各端子に対する位置決めを行うので半導体装置のパッケージの幅およびリードの寸法が公差内の最小値をとる場合であっても半導体装置のリードのコンタクト端子の接点部に対する位置決めを確実に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体装置用ソケットの一例におけるソケット本体の横断面図である。
【図2】図1に示される例におけるソケット本体の平面図である。
【図3】図2に示される例において、III−III線に沿って示される断面図である。
【図4】(A)は、図2に示される例における断面図である。(B)は、(A)における横断面図である。
【図5】本発明に係る半導体装置用ソケットの一例におけるカバー部材を示す平面図である。
【図6】図5に示されるカバー部材の側面図である。
【図7】図5に示されるカバー部材の横断面図である。
【図8】(A)は、本発明に係る半導体装置用ソケットの一例に用いられる半導体装置の外観を示す平面図である。(B)は、(A)に示される半導体装置の側面図である。
【図9】本発明に係る半導体装置用ソケットの一例において、半導体装置が収容部に収容された状態を示す断面図である。
【図10】本発明に係る半導体装置用ソケットの一例において、半導体装置が収容部に収容された状態を示す断面図である。
【図11】本発明に係る半導体装置用ソケットの一例において、半導体装置が収容部に収容された状態を示す断面図である。
【図12】本発明に係る半導体装置用ソケットの一例において、半導体装置が収容部に収容された状態を示す断面図である。
【図13】本発明に係る半導体装置用ソケットの一例において、半導体装置が収容部に収容された状態を示す断面図である。
【図14】従来の半導体装置用ソケットの構成を、半導体装置とともに示す部分断面図である。
【符号の説明】
10 ソケット本体
10fa、10fb 隔壁部
10A 収容部
10Wpa、10Wpb 位置決め壁部
10F 収容壁部
12 カバー部材
14 半導体装置
14ai リード
16ai コンタクト端子
20、22 位置決め部
20S1、20S2、22S1、22S2 位置規制面
SLB スリット
Claims (5)
- 半導体装置を電気的に接続するコンタクト端子群を有し、該半導体装置を着脱可能に収容する収容部を備えるソケット本体と、
前記半導体装置の端子群の各端子に対応して前記収容部の外郭部に形成される複数のスリット部と、
前記各スリット内に前記外郭部と一体に形成され、前記半導体装置の各端子の前記コンタクト端子群の各端子に対する位置決めを行う位置決め部と、を具備して構成される半導体装置用ソケット。 - 収容される半導体装置を前記ソケット本体の収容部に保持するカバー部材をさらに備え、該カバー部材は、該半導体装置の端子の前記コンタクト端子群の端子に対する位置決めを行う内周部を有することを特徴とする請求項1記載の半導体装置用ソケット。
- 前記位置決め部の外周面は、前記半導体装置の端子部に係合し該端子部を位置規制する第1の位置規制面と、前記半導体装置の外周面における斜面部に当接し該斜面部を位置規制する第2の位置規制面とを含んでなることを特徴とする請求項1記載の半導体装置用ソケット。
- 前記収容部の外郭部における複数の隣接するスリット相互間を仕切る一つの隔壁部は、前記半導体装置の外周面に当接し位置規制する複数の位置規制面を有することを特徴とする請求項1記載の半導体装置用ソケット。
- 前記複数の位置規制面は、互いに異なる勾配を有することを特徴とする請求項4記載の半導体装置用ソケット。
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