JP2004253016A - Laser power regulating method, and disk drive device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク等の記録媒体に対するディスクドライブ装置、及びレーザパワー調整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
【特許文献１】特開平９−１３８９４６
【０００３】
デジタルデータを記録・再生するための技術として、例えば、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ），ＭＤ（Ｍｉｎｉ−Ｄｉｓｋ），ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）などの、光ディスク（光磁気ディスクを含む）を記録メディアに用いたデータ記録技術がある。光ディスクとは、金属薄板をプラスチックで保護した円盤に、レーザ光を照射し、その反射光の変化で信号を読み取る記録メディアの総称である。
光ディスクには、例えばＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどとして知られているように再生専用タイプのものと、ＭＤ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどで知られているようにユーザーデータが記録可能なタイプがある。記録可能タイプのものは、光磁気記録方式、相変化記録方式、色素膜変化記録方式などが利用されることで、データが記録可能とされる。色素膜変化記録方式はライトワンス記録方式とも呼ばれ、一度だけデータ記録が可能で書換不能であるため、データ保存用途などに好適とされる。一方、光磁気記録方式や相変化記録方式は、データの書換が可能であり音楽、映像、ゲーム、アプリケーションプログラム等の各種コンテンツデータの記録を始めとして各種用途に利用される。
更に近年、ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ）と呼ばれる高密度光ディスクが開発され、著しい大容量化が図られている。
【０００４】
ブルーレイディスクのような高密度ディスクについては、ディスク厚み方向に０．１ｍｍのカバー層を有するディスク構造において、波長４０５ｎｍのレーザ（いわゆる青色レーザ）とＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅｒｔｕｒｅ）が０．８５の対物レンズの組み合わせという条件下でフェーズチェンジマーク（相変化マーク）を記録再生を行うとし、トラックピッチ０．３２μｍ、線密度０．１２μｍ／ｂｉｔで、６４ＫＢ（キロバイト）のデータブロックを１つの記録再生単位として、フォーマット効率約８２％としたとき、直系１２ｃｍのディスクに２３．３ＧＢ（ギガバイト）程度の容量を記録再生できる。
また、同様のフォーマットで、線密度を０．１１２μｍ／ｂｉｔの密度とすると、２５ＧＢの容量を記録再生できる。
さらに、記録層を多層構造とすることでさらに飛躍的な大容量化が実現できる。例えば記録層を２層とすることにより、容量は上記の２倍である４６．６ＧＢ、又は５０ＧＢとすることができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、これらのディスク記録媒体に対するディスクドライブ装置（記録再生装置）では、記録レーザパワーを最適値に調整する動作が必要とされる。
記録レーザパワーの調整に関する技術は、例えば上記特許文献１に記載されている。
特許文献１に記載された技術では、記録レーザパワーＰを逐次変化させながら未記録部分と記録部分とからなるパターンをテスト記録する。そしてこのテスト記録したパターンを再生して各記録レーザパワーＰに対応した信号振幅ｍをモニターする。そして規格化された傾斜ｇ（Ｐ）を例えば次式、
ｇ（Ｐ）＝（Δｍ／ｍ）／（ΔＰ／Ｐ）
ΔＰ：Ｐの近傍における微小変化量
Δｍ：ｍの近傍におけるΔＰに対応した微小変化量
にしたがって求め、
傾斜ｇ（Ｐ）に基づいて記録パワーの過不足を評価することにより最適記録パワーを決定して設定するようにしていた。
【０００６】
しかしながら、例えばこのような方法で最適記録レーザパワーを決定する場合、信号振幅がディスクの傾きや回転変動、記録感度ムラ等の影響をうけることにより、実用上十分な精度で最適記録パワーを決定できないという問題があった。
特に上記ブルーレイディスクのように、光ディスクの高密度化によるレンズの開口率の増大という条件が重なると、この問題は無視できないレベルになりつつある。
【０００７】
図１２でこの点を説明する。図１２ではディスク上の或る領域（テストライト実行領域）を８個のテストエリアＴＡ１〜ＴＡ８に分割設定した場合を示している。
まず図１２（ａ）はディスクの傾きや回転変動、記録感度ムラ等の影響が全くない理想的な状態において、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８に対して、或る固定の記録レーザパワーＰｎでテストパターンの記録を行い、それを再生した場合の信号振幅ｍを示している。この理想状態においては、同一の記録レーザパワーＰｎで記録したテストパターンを再生した場合、図示するように各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で、信号振幅値ｍとしては全て同じレベルになるはずである。
この理想状態において、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で、それぞれ記録レーザパワーをＰ（１）〜Ｐ（８）として段階的に変化させる（上げていく）ようにしてテストパターンの記録を行い、それを再生すると、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８において図１２（ｂ）のような振幅が得られることが期待される。
【０００８】
従来のレーザパワー調整の際には、この図１２（ｂ）の理想に近い状態で、レーザパワーに応じた振幅変化が得られることを前提とし、レーザパワーを変化させながら振幅値をモニタして、それに基づいてレーザパワー調整を行うものである。
ところが、上記原因により、この図１２（ａ）（ｂ）のような理想状態は得られず、特に高密度ディスクでは、その影響が無視できない。
例えば図１２（ｃ）は、図１２（ａ）と同じく、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８に対して、或る固定の記録レーザパワーＰｎでテストパターンの記録を行い、それを再生した場合の信号振幅ｍを示している。即ち、本来図１２（ａ）のように各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で同一の信号振幅値ｍが得られるべきところ、ディスク傾き、回転変動、記録ムラ等の影響で、図示するように振幅値が変動してしまう。
この場合、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で、それぞれ記録レーザパワーをＰ（１）〜Ｐ（８）として段階的に変化させるようにしてテストパターンの記録を行い、それを再生すると、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８において得られる振幅レベルは図１２（ｄ）のようになる。つまり図１２（ｂ）の理想状態と比べて、振幅の変化と記録レーザパワーの変化の特性のカーブが歪んだ状態となる。
このことから、レーザパワーを変化させながら振幅値をモニタして、それに基づいてレーザパワー調整を行うようにしても、その調整精度が十分ではなくなることが理解される。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
そこで本発明では、ディスクの傾きや記録感度むら等の影響を受けにくい最適な記録レーザパワーへの調整技術を提供することを目的とする。
【００１０】
このために本発明の書換可能な光記録媒体に対するディスクドライブ装置のレーザパワー調整方法は、上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対して、それぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る可変テスト記録ステップと、上記第１から第ｘの各テストエリアに対して、固定レーザパワーでテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る固定テスト記録ステップと、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正ステップと、上記補正ステップで補正された、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、レーザパワー設定を行うレーザパワー設定ステップと、を有する。
【００１１】
また、上記補正ステップでは、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正する。
この場合、上記固定テスト記録ステップの際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出する。
或いは、上記補正ステップでは、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正する。
この場合、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出する。
【００１２】
また、上記固定テスト記録ステップにおいて得られた上記第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認ステップをさらに備える。
また、上記振幅情報は、再生信号の振幅値、又は変調度である。
【００１３】
本発明のディスクドライブ装置は、データの書込又は読出のために、ディスク記録媒体に対するレーザ照射及び反射光検出を行うヘッド手段と、上記ヘッド手段で得られる反射光に基づく信号から振幅情報を検出する振幅情報検出手段と、上記ヘッド手段において所定のレーザパワーでのレーザ出力を実行させるレーザ駆動手段と、上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御してディスク記録媒体に対する記録再生動作を実行させるとともに、上記振幅情報検出手段から振幅情報を得ることのできる制御手段とを備える。そして上記制御手段は、上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対してそれぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る可変テスト記録処理と、上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対して固定レーザパワーでテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る固定テスト記録処理と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正処理と、上記補正処理で補正された、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、上記レーザ駆動手段に対してレーザパワー設定を行うレーザパワー設定処理とを行う。
【００１４】
また上記制御手段は、上記補正処理において、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正する。
この場合上記制御手段は、上記固定テスト記録処理の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出する。
或いは上記制御手段は、上記補正処理において、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、上記可変テスト記録処理おける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正する。
この場合上記制御手段は、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出する。
【００１５】
また上記制御手段は、上記固定テスト記録処理において得られた上記第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認処理をさらに行う。
また上記振幅情報検出手段は、上記振幅情報として、再生信号の振幅値、又は変調度を検出する。
【００１６】
このような本発明では、上記可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）としてレーザパワーＰをＰ（１）〜Ｐ（ｘ）に逐次変化させてテスト記録を行う第１から第ｘのテストエリアに、上記固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）として固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行うようにしている。
第１から第ｘのテストエリアに、固定のレーザパワーＰｎで記録した場合、それを再生して得られる振幅情報（振幅値又は変調度）が変動していれば、その変動はディスクの傾きや記録感度むら等の影響によるものと見ることができる。
つまり、上記固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）におけるレーザパワーＰｎと、その際に第１から第ｘのテストエリアで得られる第１から第ｘの振幅情報の関係は、ディスクの傾きや記録感度むら等の影響を反映しているものとなり、この関係から、上記可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）におけるレーザパワーＰ（１）〜Ｐ（ｘ）と、第１から第ｘの振幅情報の関係を補正することで、ディスクの傾きや感度むらなどの影響をとりのぞいた本来の記録レーザパワーと振幅情報との関係を推定できる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態として、光ディスクに対応して記録再生を行うディスクドライブ装置（記録再生装置）を例に挙げ、そのディスクドライブ装置で実行されるレーザパワー調整について説明していく。説明は次の順序で行う。
１．ディスクドライブ装置の構成
２．振幅情報を得るための構成
３．レーザドライバの構成
４．レーザパワー調整
４−１ テストライト及び補正処理
４−２ 補正処理例１
４−３ 補正処理例２
４−４ 最適記録レーザパワー調整処理
４−５ 変形例
５．調整タイミング
【００１８】
１．ディスクドライブ装置の構成
図１に本例のディスクドライブ装置の構成を示す。
ディスク１は例えば相変化方式でデータの記録を行う光ディスク（ライタブルディスク）であるとする。またディスク上にはウォブリング（蛇行）されたグルーブが形成され、このグルーブが記録トラックとされる。グルーブのウォブリングによってはいわゆるＡＤＩＰ情報としてアドレス情報などが埋め込まれている。
【００１９】
このようなディスク１は、図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ５２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして光学ピックアップ（光学ヘッド）５１によってディスク１上のグルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ情報の読み出しがおこなわれる。
また記録時には光学ピックアップ５１によってトラックにユーザーデータがフェイズチェンジマークとして記録され、再生時には光学ピックアップによって記録されたフェイズチェンジマークの読出が行われる。
【００２０】
ピックアップ５１内には、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系が形成される。
レーザダイオードは、例えば波長４０５ｎｍのいわゆる青色レーザを出力するものとされる。また光学系によるＮＡは０．８５である。
【００２１】
ピックアップ５１内において対物レンズは二軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
またピックアップ５１全体はスレッド機構５３によりディスク半径方向に移動可能とされている。
またピックアップ５１におけるレーザダイオードはレーザドライバ６３からのドライブ信号（ドライブ電流）によってレーザ発光駆動される。
【００２２】
なお、ピックアップ５１内にはレーザ光の球面収差を補正する機構が備えられており、システムコントローラ６０及びサーボ回路６２の制御によって球面収差補正が行われる。
【００２３】
ディスク１からの反射光情報はフォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路５４に供給される。
マトリクス回路５４には、フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当する高周波信号（再生データ信号又はＲＦ信号ともいう）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、即ちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号を生成する。
【００２４】
マトリクス回路５４から出力される再生データ信号はリーダ／ライタ回路５５へ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号はサーボ回路６１へ、プッシュプル信号はウォブル回路５８へ、それぞれ供給される。
【００２５】
リーダ／ライタ回路５５は、再生データ信号に対して２値化処理、ＰＬＬによる再生クロック生成処理等を行い、フェイズチェンジマークとして読み出されたデータを再生して、変復調回路５６に供給する。
変復調回路５６は、再生時のデコーダとしての機能部位と、記録時のエンコーダとしての機能部位を備える。
再生時にはデコード処理として、再生クロックに基づいてランレングスリミテッドコードの復調処理を行う。
またＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７は、記録時にエラー訂正コードを付加するＥＣＣエンコード処理と、再生時にエラー訂正を行うＥＣＣデコード処理を行う。
再生時には、変復調回路５６で復調されたデータを内部メモリに取り込んで、エラー検出／訂正処理及びデインターリーブ等の処理を行い、再生データを得る。
ＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７で再生データにまでデコードされたデータは、システムコントローラ６０の指示に基づいて、読み出され、ＡＶ（Ａｕｄｉｏ−Ｖｉｓｕａｌ）システム１２０に転送される。
【００２６】
グルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路５４から出力されるプッシュプル信号は、ウォブル回路５８において処理される。ＡＤＩＰ情報としてのプッシュプル信号は、ウォブル回路５８においてＡＤＩＰアドレスを構成するデータストリームに復調されてアドレスデコーダ５９に供給される。
アドレスデコーダ５９は、供給されるデータについてのデコードを行い、アドレス値を得て、システムコントローラ１０に供給する。
またアドレスデコーダ９はウォブル回路８から供給されるウォブル信号を用いたＰＬＬ処理でクロックを生成し、例えば記録時のエンコードクロックとして各部に供給する。
【００２７】
記録時には、ＡＶシステム１２０から記録データが転送されてくるが、その記録データはＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７におけるメモリに送られてバッファリングされる。
この場合ＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７は、バファリングされた記録データのエンコード処理として、エラー訂正コード付加やインターリーブ、サブコード等の付加を行う。
またＥＣＣエンコードされたデータは、変復調回路５６においてＲＬＬ（１−７）ＰＰ方式の変調が施され、リーダ／ライタ回路５５に供給される。
記録時においてこれらのエンコード処理のための基準クロックとなるエンコードクロックは上述したようにウォブル信号から生成したクロックを用いる。
【００２８】
エンコード処理により生成された記録データは、リーダ／ライタ回路５５で記録補償処理として、記録層の特性、レーザー光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などが行われた後、レーザドライブパルスとしてレーザードライバ６３に送られる。
レーザドライバ６３では供給されたレーザドライブパルスをピックアップ５１内のレーザダイオードに与え、レーザ発光駆動を行う。これによりディスク１に記録データに応じたピット（フェイズチェンジマーク）が形成されることになる。
【００２９】
なお、レーザドライバ６３は、いわゆるＡＰＣ回路（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）を備え、ピックアップ５１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力によりレーザ出力パワーをモニターしながらレーザーの出力が温度などによらず一定になるように制御する。
記録時及び再生時のレーザー出力の目標値（記録レーザパワー／再生レーザパワー）はシステムコントローラ６０から与えられ、記録時及び再生時にはそれぞれレーザ出力レベルが、その目標値になるように制御する。
【００３０】
サーボ回路６１は、マトリクス回路５４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号から、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
即ちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、ピックアップ５１内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによってピックアップ５１、マトリクス回路５４、サーボ回路６１、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
【００３１】
またサーボ回路６１は、システムコントローラ６０からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
【００３２】
またサーボ回路６１は、トラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ６０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッド機構５３を駆動する。スレッド機構５３には、図示しないが、ピックアップ５１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、ピックアップ５１の所要のスライド移動が行なわれる。
【００３３】
スピンドルサーボ回路６２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路６２は、ウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ５２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、リーダ／ライタ回路５５内のＰＬＬによって生成される再生クロック（デコード処理の基準となるクロック）が、現在のスピンドルモータ５２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路６２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ６２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路６２は、システムコントローラ６０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００３４】
以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータによって形成されたシステムコントローラ６０により制御される。
システムコントローラ６０は、ＡＶシステム１２０からのコマンドに応じて各種処理を実行する。
【００３５】
例えばＡＶシステム１２０から書込命令（ライトコマンド）が出されると、システムコントローラ６０は、まず書き込むべきアドレスにピックアップ５１を移動させる。そしてＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７、変復調回路５６により、ＡＶシステム１２０から転送されてきたデータ（例えばＭＰＥＧ２などの各種方式のビデオデータや、オーディオデータ等）について上述したようにエンコード処理を実行させる。そして上記のようにリーダ／ライタ回路５５からのレーザドライブパルスがレーザドライバ６３に供給されることで、記録が実行される。
【００３６】
また例えばＡＶシステム１２０から、ディスク１に記録されている或るデータ（ＭＰＥＧ２ビデオデータ等）の転送を求めるリードコマンドが供給された場合は、まず指示されたアドレスを目的としてシーク動作制御を行う。即ちサーボ回路６１に指令を出し、シークコマンドにより指定されたアドレスをターゲットとするピックアップ５１のアクセス動作を実行させる。
その後、その指示されたデータ区間のデータをＡＶシステム１２０に転送するために必要な動作制御を行う。即ちディスク１からのデータ読出を行い、リーダ／ライタ回路５５、変復調回路５６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７におけるデコード／バファリング等を実行させ、要求されたデータを転送する。
【００３７】
なお、これらのフェイズチェンジマークによるデータの記録再生時には、システムコントローラ６０は、ウォブル回路５８及びアドレスデコーダ５９によって検出されるＡＤＩＰアドレスを用いてアクセスや記録再生動作の制御を行う。
【００３８】
ところで、この図１の例は、ＡＶシステム１２０に接続されるディスクドライブ装置としたが、本発明のディスクドライブ装置としては例えばパーソナルコンピュータ等と接続されるものとしてもよい。
さらには他の機器に接続されない形態もあり得る。その場合は、操作部や表示部が設けられたり、データ入出力のインターフェース部位の構成が、図１とは異なるものとなる。つまり、ユーザーの操作に応じて記録や再生が行われるとともに、各種データの入出力のための端子部が形成されればよい。
もちろん構成例としては他にも多様に考えられる。
【００３９】
２．振幅情報を得るための構成
本実施の形態のディスクドライブ装置では、システムコントローラ６０は後述するレーザパワー調整の際に、その最適な調整のための指標値として振幅情報（ＲＦ振幅値又は変調度）を用いる。この振幅情報を得るための構成例を図５に示す。
【００４０】
再生ＲＦ信号に関する振幅情報は、一例としてリーダ／ライタ回路５５内で検出するように構成できる。
例えば図２に示するよう、リーダ／ライタ回路５５が、ライト波形生成部３１，２値化回路３２，ＲＦ再生処理部３３，ＰＬＬ回路３４，振幅情報算出部３５を有するように構成する。
ライト波形生成部３１は、記録動作時において、変復調回路５６でエンコード処理された記録データに対して、記録補償処理として、記録層の特性、レーザー光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などを行う。そしてこれらの処理を施した信号をレーザドライブパルスとしてレーザードライバ６３に供給する。
再生時においては、マトリクス回路５４からの再生データ信号（ＲＦ信号）は、２値化回路３２で２値化処理される。また２値化データに基づいてＰＬＬ回路３４で再生クロックが生成される。
２値化データはＲＦ再生処理部３３において、再生クロックに基づいて処理され、フェイズチェンジマークから読み出されたデータとされて変復調回路５６に供給される。
【００４１】
振幅情報算出部３５は、例えばマトリクス回路５４からの再生ＲＦ信号について、そのピーク／ボトム検出を行ってＲＦ振幅値又は変調度を算出する。レーザパワー調整処理の際の振幅値又は変調度の算出方式については後述する。
振幅情報計算部３５は、調整のための指標値として得た振幅情報（ＲＦ振幅値又は変調度）を、システムコントローラ６０に供給する。
【００４２】
３．レーザドライバの構成
レーザドライバ６３は、上述したようにピックアップ５１内の半導体レーザを駆動し、レーザ出力を実行させる回路である。このレーザドライバ６３は例えば図３のように、ＡＰＣ回路４１，レーザ駆動回路４２、レーザパワーレジスタ４３を備えて構成される。
【００４３】
記録時には、上述のとおり、エンコード処理により生成された記録データは、リーダ／ライタ回路５５で処理されてレーザドライブパルスとしてレーザードライバ６３に供給されるが、図３に示すようにレーザドライブパルスはレーザ駆動回路４２に入力される。
レーザ駆動回路４２は、供給されたレーザドライブパルスによる駆動信号ＬＤをピックアップ５１内のレーザダイオードに与え、レーザ発光駆動を行う。
また再生時にはレーザ駆動回路４２は、システムコントローラ６０の制御に基づいて、ピックアップ５１から継続的なレーザ出力を実行させるように駆動信号ＬＤを出力する。
【００４４】
またＡＰＣ回路４１は、ピックアップ５１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力（モニタ信号Ｌｍ）によりレーザ出力パワーをモニターしながらレーザーの出力が温度などによらず一定になるように制御する。
即ち、記録時及び再生時のレーザー出力の目標値としての記録レーザパワー／再生レーザパワーはシステムコントローラ６０から与えられ、レーザパワーレジスタ４３にセットされている。
ＡＰＣ回路４１は、再生時には、レーザパワーレジスタ４３にセットされている再生レーザパワー値を基準に、モニタ信号Ｌｍのパワー誤差を検出し、その誤差に応じてレーザ駆動回路４２の駆動信号レベルを制御する。これにより、再生時のレーザ出力レベルが目標値としてセットされた再生レーザパワー値において安定するように制御される。
またＡＰＣ回路４１は、記録時には、レーザパワーレジスタ４３にセットされている記録レーザパワー値を基準に、モニタ信号Ｌｍのパワー誤差を検出し、その誤差に応じてレーザ駆動回路４２の駆動信号レベルを制御する。これにより、記録時のレーザ出力レベルが目標値としてセットされた記録レーザパワー値において安定するように制御される。
【００４５】
システムコントローラ６０は後述するように最適記録レーザパワー調整処理を行うが、上記の目標値としての記録レーザパワー値とは、最適記録レーザパワー調整処理の結果、セットされた値である。
また最適記録レーザパワー調整処理の際には、記録レーザパワーが各種変化される。このレーザパワー可変動作は、システムコントローラ６０が、レーザパワーレジスタ４３にセットする記録レーザパワー値を変化させていくことでを実現できるものとなる。
【００４６】
４．レーザパワー調整
４−１ テストライト及び補正処理
上記構成のディスクドライブ装置において行われる最適記録レーザパワー調整処理について説明していく。
最適記録レーザパワー調整処理としての一連の動作は、システムコントローラ６０が図４の処理を行うことで実行されるが、この図４の処理において、ステップＦ１０１でパラメータκ、ρ、Ｐｉｎｄを適切な値に設定した後、ステップＦ１０２でテストライト及び補正処理が行われる。
この図４の処理の説明に先立って、まずステップＦ１０２としてのテストライト及び補正処理について、図６、図７、図８を用いて詳しく述べる。
【００４７】
図６は、図４のステップＦ１０２としてシステムコントローラ６０が実行するテストライト及び補正処理のフローチャートを示している。
この場合、システムコントローラ６０は、ますステップＦ２０１で、テストライトで使用する領域を選択する。
【００４８】
図７（ａ）は、ディスク１上の領域構造を示しているが、ディスク１の領域は、内周側から外周側に向かって、リードインゾーン、データゾーン、リードアウトゾーンが形成されている。
リードインゾーンは、各種管理情報を記録するコントロールエリアや、ＤＭＡエリア、ＯＰＣエリア、バッファエリア等が形成されている。
データゾーンは、ユーザーデータの記録再生に用いられる領域である。
ディスク最外周側のリードアウトゾーンは、コントロールエリアやＤＭＡエリアが形成されたり、バッファエリア等として使用される。
ここで、テストライトとしては、リードインゾーンにおけるＯＰＣエリア（試し書き領域）が用いられる。図７（ａ）は単に模式的に示しているにすぎないが、リードインゾーン内には所定位置にＯＰＣエリアが形成されている。
図７（ｂ）には、このＯＰＣエリアを拡大して示しているが、上記ステップＦ２０１の領域選択とは、この図７（ｂ）のＯＰＣエリア内で、実際にテストライトに使用する領域を選定することを意味する。例えば領域ＴＷ１を、使用エリアとして選択する。
【００４９】
次にシステムコントローラ６０は、ステップＦ２０２で、選択した使用領域をｘ個に分割する。ここでは、ｘ＝８、すなわち８分割するとし、それぞれの領域をテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）と設定する。
図７（ｃ）に、選択した使用領域ＴＷ１を８分割し、各領域をテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）とした状態を示している。
【００５０】
ステップＦ２０３では、システムコントローラ６０は、テストライトを行う記録レーザパワーを決定する。この場合、８分割（ｘ分割）したテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）にそれぞれ対応して、８段階（ｘ段階）の記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を設定する。
記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）の決定方式としては、各種考えられるが、一例として次の式により決定する。
Ｐ（ｋ） ＝ Ｐｉｎｄ ＋ ΔＰ＊（ｋ−４．５）
ここで、ｋは１〜ｘ、つまりこの場合、ｋは１〜８の値であり、従ってＰ（ｋ）は記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を示す。
ΔＰは記録レーザパワーを逐次変化させるステップ幅である。
Ｐｉｎｄは、図４のステップＦ１０１で設定される、レーザパワー決定のためのパラメータである。
このような式により、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を決定する。この記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）は、ステップＦ２０７の可変テスト記録処理で用いるレーザパワーである。
また、後述する図４の処理で用いる値Ｐｆｉｔ１、Ｐｆｉｔ２を、Ｐｆｉｔ１＝Ｐ（３）、Ｐｆｉｔ２＝Ｐ（６）とする。
【００５１】
ステップＦ２０４では、次のステップＦ２０５の固定テスト記録処理のためにテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）を消去する。即ちレーザドライバ６３及びピックアップ５１の動作を制御して、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の消去を実行させる。
【００５２】
ステップＦ２０５では、固定テスト記録処理を行う。
即ち第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対して、固定の記録レーザパワーＰｎでテスト記録を実行させ、さらにこのテスト記録した領域（テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８））を再生して、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する第１から第８の振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を得る。
この場合システムコントローラ６０は、レーザドライバ６３に対して、固定の記録レーザパワーＰｎとして、例えば記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）を指示する。即ち、上記決定した記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）のうちのほぼ中央のレベルとする。
そしてこの固定の記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）において、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に、テストパターンとしてのデータ書込を実行させる。
さらにその後、レーザドライバ６３及びピックアップ５１によりテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生を実行させ、上述した振幅情報算出部３５からの振幅情報として、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を得る。
なお、固定の記録レーザパワーＰｎは、Ｐ（４）とすることに限定されるものではない。
【００５３】
図７（ｄ）に、この固定テスト記録処理の動作を模式的に示している。図示するようにまずテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に固定の記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）で記録を行い、その後、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生時に得られる振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を取得する。
振幅情報算出部３５は、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を、例えば図８（ａ）に示すようにして算出する。
図８（ａ）には、例えばテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（４）の再生時に得られるＲＦ信号振幅を示しているが、振幅情報算出部３５は、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生タイミングにおいて、振幅のピーク値の平均値ＰＫ（ｋ）、及び振幅のボトム値の平均値ＢＴ（ｋ）を検出する。そして平均値ＰＫ（ｋ）から平均値ＢＴ（ｋ）を減算した値を、そのテストエリアＴＡ（ｋ）の振幅情報ｍｎ（ｋ）とする。ｋは１〜８の値である。
つまり図示するように、例えばテストエリアＴＡ（１）の振幅情報ｍｎ（１）は、ＰＫ（１）−ＢＴ（１）、テストエリアＴＡ（２）の振幅情報ｍｎ（２）は、ＰＫ（２）−ＢＴ（２）・・・として、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を算出し、これをシステムコントローラ６０に出力する。
【００５４】
なお、この場合、振幅情報ｍｎ＝振幅値であるが、振幅情報ｍｎ＝変調度としてもよい。
その場合も、振幅情報算出部３５は、同じくテストエリアＴＡ（ｋ）の再生タイミングにおいて、振幅のピーク値の平均値ＰＫ（ｋ）、及び振幅のボトム値の平均値ＢＴ（ｋ）を検出する。そして平均値ＰＫ（ｋ）から平均値ＢＴ（ｋ）を減算するが、減算値を平均値ＰＫ（ｋ）で除算する。即ち変調度とし、この値を、そのテストエリアＴＡ（ｋ）の振幅情報ｍｎ（ｋ）とする。
つまり、例えばテストエリアＴＡ（１）の振幅情報ｍｎ（１）は、（ＰＫ（１）−ＢＴ（１））／ＰＫ（１）、テストエリアＴＡ（２）の振幅情報ｍｎ（２）は、（ＰＫ（２）−ＢＴ（２））／ＰＫ（２）・・・として、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を算出し、これをシステムコントローラ６０に出力するようにしてもよい。
【００５５】
システムコントローラ６０は、ステップＦ２０５の固定テスト記録処理で振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）が得られたら、次にステップＦ２０６で、次のステップＦ２０７の可変テスト記録処理のためにテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）を消去する。即ちレーザドライバ６３及びピックアップ５１の動作を制御して、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の消去を実行させる。
【００５６】
ステップＦ２０７では、可変テスト記録処理を行う。
即ち第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対して、それぞれ記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）に変化させながらテスト記録を行い、テスト記録した領域（テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８））を再生して、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得る処理を行う。
【００５７】
この場合システムコントローラ６０は、レーザドライバ６３に対して、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の記録タイミングに合わせて、順次記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を指示しながら、テストパターンとしてのデータ書込を実行させる。なお、テストパターンは、上記固定テスト記録処理の際のテストパターンと同一とする。
さらにその後、レーザドライバ６３及びピックアップ５１によりテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生を実行させ、上述した振幅情報算出部３５からの振幅情報として、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得る。
【００５８】
図７（ｅ）に、この可変テスト記録処理の動作を模式的に示している。図示するように、テストエリアＴＡ（１）に対しては記録レーザパワーＰ（１）で、テストエリアＴＡ（２）に対しては記録レーザパワーＰ（２）で、・・・テストエリアＴＡ（８）に対しては記録レーザパワーＰ（８）で、それぞれテストパターンの記録を実行させる。その後、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生時に得られる振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を取得する。
振幅情報算出部３５は、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を、例えば図８（ｂ）に示すようにして算出する。図８（ｂ）には、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（４）の再生時に得られるＲＦ信号振幅を示しているが、記録レーザパワーが可変されていることにより、テストエリア毎に振幅レベルが変化している。
振幅情報ｍの算出方式は、上記固定テスト記録処理の際の振幅情報ｍｎの算出方式と同様であり、振幅情報ｍを振幅値とする場合は、ｍ（ｋ）＝平均値ＰＫ（ｋ）−平均値ＢＴ（ｋ）として算出する。
また振幅情報ｍを変調度とする場合は、ｍ（ｋ）＝（平均値ＰＫ（ｋ）−平均値ＢＴ（ｋ））／平均値ＰＫ（ｋ）として算出する。
そして、このようにして得た振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）をシステムコントローラ６０に出力する。
【００５９】
ここまでの処理で、システムコントローラ６０は、ステップＦ２０５の固定テスト記録処理の際のテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、ステップＦ２０７の可変テスト記録処理の際のテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得ることができた。
最適記録レーザパワー調整のために必要な情報は、可変テスト記録処理の際の記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）の値と、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）である。
ところが、上記図１２で説明したように、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）と振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）の関係は、ディスク１の傾きや記録感度ムラの影響を受けていることが考えられる。
そこで本例では、ステップＦ２０８として、この記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係を、後述するように固定テスト記録処理の際に得た振幅情報ｍｎ（ｋ）を用いて補正するようにしている。
補正後の記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係を、（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））とする。
即ち補正処理によって、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）は、Ｐｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）とされ、また振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）は、ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）とされる。
【００６０】
そして、ステップＦ２０８で補正した後、補正後の記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））を用いて、最適記録レーザパワーを算出する処理を行う。この処理は図４のステップＦ１０３以降の処理となる。
【００６１】
なお、上記ステップＦ２０３では、後述する図４の演算処理で用いる値Ｐｆｉｔ１、Ｐｆｉｔ２を、Ｐｆｉｔ１＝Ｐ（３）、Ｐｆｉｔ２＝Ｐ（６）としたが、記録レーザパワーＰ（３）、Ｐ（６）が補正されることで、ステップＦ２０８の時点でＰｆｉｔ１＝Ｐｅｆｆ（３）、Ｐｆｉｔ２＝Ｐｅｆｆ（６）とされる。或いは、ステップＦ２０３ではなく、この補正後の時点で値Ｐｆｉｔ１、Ｐｆｉｔ２を設定しても良い。
【００６２】
ステップＦ２０８での補正処理としては、２つの処理例が考えられるため、以下、各補正処理例を述べる。
【００６３】
４−２ 補正処理例１
上記ステップＦ２０８で行われることになる補正処理例１は、第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応して、第１から第８の記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）を算出する。そして、上記可変テスト記録処理における記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を、それぞれ記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）を使用して補正する処理である。
即ち補正後の記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）を、
Ｐｅｆｆ（ｋ）＝Ｐ（ｋ）×ＳＰ（ｋ）
として求める。
【００６４】
また、記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）は、上記固定テスト記録処理の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率Ｖと、固定テスト記録処理での振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）の平均値（Σｍｎ（ｋ））／ｋを用いた演算により算出する。
具体的には、テストエリアＴＡ（ｋ）における記録レーザパワー補正値Ｓｐ（ｋ）を、
Ｓｐ（ｋ）＝ｍｎ（ａｖｅ）／｛ｍｎ（ｋ）−ｍｎ（ａｖｅ）｝／Ｖｎ
にしたがって求める。
但し、ｍｎ（ａｖｅ）：ｍｎ（ｋ）の平均値（＝（Σｍｎ（ｋ））／ｋ）
Ｖｎ＝Δｍｎ／ΔＰｎ
ΔＰｎ：固定記録レーザパワーＰｎ近傍での微小変化量
Δｍｎ：ｍｎ近傍におけるΔＰｎに対応した微小変化量
である。
【００６５】
この補正処理例１、即ち上記ステップＦ２０８で行われる補正処理例を図９に示す。
まずステップＦ３０１では、固定の記録レーザパワーＰｎの近傍での振幅変化率Ｖｎを算出する。
上記のように固定の記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）としている場合、固定の記録レーザパワーＰ（４）の近傍での振幅変化率Ｖ（４）を、
Ｖ（４）＝｛ｍ（５）−ｍ（４）｝／｛Ｐ（５）−Ｐ（４）｝
として求める。
【００６６】
次にステップＦ３０２では、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した、記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）を算出する。
この場合、テストエリアＴＡ（ｋ）の記録レーザパワー補正値ＳＰ（ｋ）は、
【００６７】
これによって、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）が算出されたら、ステップＦ３０３で、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正する。
即ち補正後の記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）を、
Ｐｅｆｆ（ｋ）＝Ｐ（ｋ）×ＳＰ（ｋ）
として、Ｐｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）を求める。
Ｐｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）は、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正した、補正記録レーザパワーである。
なお、この場合、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正し、対する振幅情報ｍ（１）〜（８）はそのままとする。
即ちｍｅｆｆ（ｋ）＝ｍ（ｋ）とし、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）をそのまま補正振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）とする。
【００６８】
このような補正処理により、記録レーザパワーＰと振幅情報ｍの関係において、レーザパワー軸上で補正が行われ、記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係が、補正された関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））とされる。
【００６９】
４−３ 補正処理例２
図６のステップＦ２０８で行われることになる補正処理は、上記補正処理例１の他に、ここで説明する補正処理例２としてもよい。
この補正処理例２は、第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応して、第１から第８の振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）を算出する。そして、上記可変テスト記録処理において得た振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を、それぞれ振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）を使用して補正する処理である。
即ち補正後の振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）を、
ｍｅｆｆ（ｋ）＝ｍ（ｋ）×Ｓｍ（ｋ）
として求める。
【００７０】
また、振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）は、上記固定テスト記録処理の際の振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）の平均値（Σｍｎ（ｋ））／ｋを用いた演算により算出する。
具体的には、テストエリアＴＡ（ｋ）における振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）を、
Ｓｍ（ｋ）＝ｍｎ（ａｖｅ）／｛ｍｎ（ｋ）−ｍｎ（ａｖｅ）｝
にしたがって求める。
但し、ｍｎ（ａｖｅ）は、ｍｎ（ｋ）の平均値（＝（Σｍｎ（ｋ））／ｋ）
である。
【００７１】
この補正処理例２として、上記ステップＦ２０８で行われる補正処理例を図１０に示す。
まずステップＦ４０１では、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した、振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）を算出する。
この場合、テストエリアＴＡ（ｋ）の振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）は、
【００７２】
これによって、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）が算出されたら、ステップＦ４０２で、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正する。
即ち補正後の振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）を、
ｍｅｆｆ（ｋ）＝ｍ（ｋ）×Ｓｍ（ｋ）
として、ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）を求める。
ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）は、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正した、補正振幅情報である。
なお、この場合、振幅情報ｍ（１）〜（８）を補正し、対する記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）はそのままとする。
即ちＰｅｆｆ（ｋ）＝Ｐ（ｋ）とし、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）をそのまま補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）とする。
【００７３】
このような補正処理により、記録レーザパワーＰと振幅情報ｍの関係において、振幅情報軸上で補正が行われ、記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係が、補正された関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））とされる。
【００７４】
４−４ 最適記録レーザパワー調整処理
以上の図６〜図１０で説明のように、図４のステップＦ１０２としてのテストライト及び補正処理が行われる。
このようなテストライト及び補正処理を含む、図４の最適記録レーザパワー調整処理を説明する。
【００７５】
システムコントローラ６０は、図４のステップＦ１０１で、パラメータκ、ρ、Ｐｉｎｄを適切な値に設定する。これらのパラメータは、ディスク製造者によって値が指定されることを想定する。
次にステップＦ１０２として、図６〜図１０で説明した処理が行われ、補正された関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））の、可変テスト記録処理による記録レーザパワーと振幅情報として、補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び対応する補正振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）が得られたものとなる。
【００７６】
そしてステップＦ１０３以降で、補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び補正振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）を用いた最適記録レーザパワーの算出処理が行われる。
まずステップＦ１０３では、図５のように横軸をレーザパワーＰ、縦軸をレーザパワーＰ×振幅情報ｍとして、記録レーザパワーＰ（ｋ）対（Ｐ（ｋ）×ｍ（ｋ））をプロットする。
この場合、上述のように記録レーザパワーＰと振幅情報ｍが補正されているため、当該プロットは、補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）と補正振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）が使用されて、Ｐｅｆｆ（ｋ）対（Ｐｅｆｆ（ｋ）×ｍｅｆｆ（ｋ））として行われる。
そして、Ｐｅｆｆ（ｋ）に対応するＰｅｆｆ（ｋ）×ｍｅｆｆ（ｋ）の点をＰｌｏｔ（ｋ）とする。図５にはＰｅｆｆ（ｋ）に対応するＰｌｏｔ（ｋ）、即ちＰｌｏｔ（１）〜Ｐｌｏｔ（８）としての点を示している。
【００７７】
次にステップＦ１０４では、Ｐｆｉｔ１（＝Ｐｅｆｆ（３））における直線近似式を求めるために、Ｐｌｏｔ（１）〜Ｐｌｏｔ（５）を、図５のように、
記録レーザパワーＰ×振幅情報ｍ＝α１・（Ｐ−β１）
でフィッティングして、α１，β１を求める。
【００７８】
またステップＦ１０５では、Ｐｆｉｔ２（＝Ｐｅｆｆ（６））における直線近似式を求めるために、Ｐｌｏｔ（４）〜Ｐｌｏｔ（８）を
記録レーザパワーＰ×振幅情報ｍ＝α２・（Ｐ−β２）
でフィッティングして、α２，β２を求める。
【００７９】
ステップＦ１０６では、
Ｐｔ１＝β１×κ
Ｐｔ２＝β２×κ
により図５に示すレーザパワーＰｔ１，Ｐｔ２の値を算出する。
そしてステップＦ１０７では、
Ｐｔａｒｇｅｔ＝（Ｐｔ２×Ｐｆｉｔ１−Ｐｔ１×Ｐｆｉｔ２）／（Ｐｔ２−Ｐｔ１−Ｐｆｉｔ２＋Ｐｆｉｔ１）
により値Ｐｔａｒｇｅｔを算出する。
【００８０】
最後にステップＦ１０８で、最適記録レーザパワーＰｏｐｔを、
Ｐｏｐｔ＝ρ×Ｐｔａｒｇｅｔ
として算出する。このようにして最適記録レーザパワーＰｏｐｔが得られたら、それの値をレーザドライバ６３にセットして、最適記録レーザパワー調整処理を終了する。
【００８１】
本実施の形態では、以上のように最適記録レーザパワー調整処理が行われる。即ち、上記ステップＦ２０７の可変テスト記録処理として、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）でレーザパワーを逐次変化させてテスト記録を行い、それを再生して振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得る処理を行うが、その際の記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）もしくは振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正して、補正された関係としての記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）を用いて、最適記録レーザパワーＰｏｐｔを算出する。
補正処理のためには、ステップＦ２０５として示した固定テスト記録処理として、固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行うようにし、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を得るようにしている。そして振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）から、ディスクの傾きや感度むらなどの影響をとりのぞいた本来のレーザパワーと振幅情報の関係を推定する。
このため、本例の処理で得られた最適記録レーザパワーＰｏｐｔは、ディスクの傾きや記録感度むらなどの影響が軽減されたものとなり、最適レーザパワーの調整精度を高めることができる。
【００８２】
また、補正処理として、上記補正処理例１として示したように、振幅変化率Ｖと、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、その平均値ｍｎ（ａｖｅ）とを用いた演算により、レーザパワー補正値ＳＰ（ｋ）を求め、そのレーザパワー補正値ＳＰ（ｋ）を用いて記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正すれば、比較的精度の高い補正が可能となる。
一方、上記補正処理例２として示したように、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、その平均値ｍｎ（ａｖｅ）とを用いた演算により、振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）を求め、その振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）を用いて振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正すれば、比較的簡易な演算処理により補正が可能となる。
【００８３】
４−５ 変形例
本発明は上記実施の形態に限られず、多様な変形例が考えられる。以下、例を挙げる。
【００８４】
まず、図６の処理の変形例としては、固定テスト記録処理と可変テスト記録処理の順序を入れ換えても良い。即ち図６のステップＦ２０５の時点で可変テスト記録処理を行い、ステップＦ２０７の時点で固定テスト記録処理を行うようにする。あくまでも、ステップＦ２０８の補正処理のためには、その前段階で、可変テスト記録処理と固定テスト記録処理が行われていればよいためである。
【００８５】
また、上記例ではｘ＝８、すなわち８個のテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に分割設定したが、もちろん８個のテストエリアに分割することに限定されない。
また、可変テスト記録処理での記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）の設定方式やステップ幅ΔＰ等の具体的な設定方式は各種考えられる。
【００８６】
また、補正処理後において、補正された関係としての記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）を用いて、最適記録レーザパワーＰｏｐｔを算出する処理は、図４のステップＦ１０３〜Ｆ１０８に示したものに限られず、例えば上記した特許文献１に記載された方式を用いることもできる。
即ち規格化された傾斜ｇ（Ｐ）を例えば次式、
ｇ（Ｐ）＝（Δｍ／ｍ）／（ΔＰ／Ｐ）
ΔＰ：Ｐの近傍における微小変化量
Δｍ：ｍの近傍におけるΔＰに対応した微小変化量
にしたがって求め、傾斜ｇ（Ｐ）に基づいて記録パワーの過不足を評価することにより最適記録パワーを決定するのであるが、その際に、補正された記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）及び振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）を用いればよい。
【００８７】
また、上記図６のテストライト及び補正処理の際において、固定テスト記録処理において得られた振幅情報ｍｎ（ｋ）によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認処理を実行するようにしてもよい。
その場合の処理を図１１に示す。図１１において、図６と同一の処理には同一ステップ番号を付し、説明を省略する。
この場合、ステップＦ２０５で固定テスト記録処理が行われた後、ステップＦ２１０として、振幅情報ｍｎ（ｋ）を用いて、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の異常の有無を確認する。
例えば振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）の平均値をｍｎ（ａｖｅ）を算出し、各振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と平均値ｍｎ（ａｖｅ）を比較する。
このときに、平均値ｍｎ（ａｖｅ）からかなり離れた値の振幅情報ｍｎ（ｋ）が存在した場合、例えば或る振幅情報ｍｎ（ｋ）が平均値ｍｎ（ａｖｅ）から１０％以上異なる値であった場合は、異常有りと判断する。これは、この振幅情報ｍｎ（ｋ）が得られたテストエリアＴＡ（ｋ）は、傷その他の原因で、テストライトに適していないと判断する。
そしてそのような異常箇所があった場合は、ステップＦ２１１からＦ２０１に戻ってテストエリアＴＡの設定処理からやり直す。例えば図７（ｂ）の使用領域ＴＷ１に代えて新たに使用領域ＴＷ２を設定し直す。
【００８８】
このうような処理を行うことで、傷などが存在し、テストライトに不適切なテストエリアがあっても、そのエリアを回避してテストライトを実行できる。これによって、記録レーザパワー調整処理の精度をより上げることができる。
【００８９】
５．調整タイミング
上記記録レーザパワー調整処理を実行するタイミングは多様に考えられる。
まず、当然ながら、ディスク装填時に実行することが適切である。
また、再生中、シーク前後、或いは所定時間経過後に実行したり、ディスク上のトレース位置（内外周）に応じて実行することも考えられる。
例えば再生中であれば、ディスク１から読み出したデータのバッファリングの余裕のあるタイミングで行うことができる。
また、シーク直前、或いはシーク直後のタイミングも、調整処理の実行タイミングとして好適である。
【００９０】
また、機器の温度状態（デバイス、アクチュエータの温度特性によるフォーカスバイアス最適値の変化）、経年変化、ディスク上のトレース位置（半径位置）などに応じて調整することで、これらの事情に対応した調整状態とできる。
従って、ディスク１に対する動作期間中などであっても、定期的、或いは不定期に調整処理が実行されることで、装置動作の安定化にとって適切なものとなる。また、温度変化検出、再生データのエラーレート／ジッタの悪化などをトリガとして、調整処理を行うことも考えられる。
【００９１】
【発明の効果】
以上の説明から理解されるように本発明によれば、可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）として第１から第ｘのレーザパワーに逐次変化させてテスト記録を行う第１から第ｘのテストエリアに、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）として固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行うようにもしている。そして、その際の振幅情報から、ディスクの傾きや感度むらなどの影響をとりのぞいた本来のレーザパワーと振幅情報の関係を推定する。即ち可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）での第１から第ｘのレーザパワー又はその際の第１から第ｘの振幅情報を補正する。そして補正された第１から第ｘのレーザパワーと、それに対応する第１から第ｘの振幅情報を用いて、最適記録パワーを決定するようにしている。
これにより、ディスクの傾きや記録感度むらなどの影響を軽減でき、最適レーザパワーの調整精度を高めることができるという効果がある。
【００９２】
また、補正の際には、第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）における第１から第ｘのレーザパワーを、第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正する。特にこの場合、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率、第１から第ｘの振幅情報、及び第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出する。このような補正処理により、比較的精度の高い補正が可能となる。
【００９３】
或いは、補正の際には、第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）における第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正する。この場合、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）での第１から第ｘの振幅情報と、その平均値とを用いた演算により、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出する。このような補正処理により、比較的簡易な処理として補正が可能となる。
【００９４】
また、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）において得られた第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認ステップ（テストエリア確認処理）をさらに備えることで、テストエリア自体の不具合にも適応でき、より精度の高い調整が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態のディスクドライブ装置のブロック図である。
【図２】実施の形態のリーダ／ライタ回路のブロック図である。
【図３】実施の形態のレーザドライバのブロック図である。
【図４】実施の形態の最適記録レーザパワー調整処理のフローチャートである。
【図５】実施の形態の最適記録レーザパワー調整処理の説明図である。
【図６】実施の形態のテストライト及び補正処理のフローチャートである。
【図７】実施の形態の固定テスト記録処理及び可変テスト記録処理の説明図である。
【図８】実施の形態の振幅情報の説明図である。
【図９】実施の形態の補正処理のフローチャートである。
【図１０】実施の形態の補正処理のフローチャートである。
【図１１】実施の形態の他のテストライト及び補正処理のフローチャートである。
【図１２】ディスク傾きや記録ムラ等の影響の説明図である。
【符号の説明】
１ ディスク、３１ ライト波形生成部、３２ ２値化回路、３３ ＲＦ再生処理部、３４ ＰＬＬ回路、３５ 振幅情報算出部、４１ ＡＰＣ回路、４２ レーザ駆動回路、４３ レーザパワーレジスタ、５１ ピックアップ、５２ スピンドルモータ、５３ スレッド機構、５４ マトリクス回路、５５ リーダ／ライタ回路、５６ 変復調回路、５７ ＥＣＣエンコーダ／デコーダ、５８ ウォブル回路、５９ アドレスデコーダ、６０ システムコントローラ、６１ サーボ回路、６２ スピンドルサーボ回路、６３ レーザドライバ、１２０ ＡＶシステム[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a disk drive device for a recording medium such as an optical disk, and a laser power adjustment method.
[0002]
[Prior art]
[Patent Document 1] JP-A-9-138946
[0003]
As a technique for recording and reproducing digital data, for example, an optical disk (including a magneto-optical disk) such as a CD (Compact Disk), an MD (Mini-Disk), and a DVD (Digital Versatile Disk) is used as a recording medium. There is data recording technology. An optical disk is a general term for a recording medium that irradiates a laser beam onto a disk in which a thin metal plate is protected by plastic and reads a signal based on a change in reflected light.
Optical disks include, for example, a read-only type known as a CD, a CD-ROM, and a DVD-ROM, and an MD, a CD-R, a CD-RW, a DVD-R, a DVD-RW, a DVD + RW, and a DVD. -There is a type in which user data can be recorded as is known in RAM and the like. In the recordable type, data can be recorded by using a magneto-optical recording method, a phase change recording method, a dye film change recording method, or the like. The dye film change recording method is also called a write-once recording method, which is suitable for data storage and the like because data can be recorded only once and cannot be rewritten. On the other hand, the magneto-optical recording method and the phase change recording method are rewritable, and are used for various purposes including recording of various content data such as music, video, games, and application programs.
Further, in recent years, a high-density optical disc called a Blu-ray Disc has been developed, and a remarkable increase in capacity has been achieved.
[0004]
For a high-density disc such as a Blu-ray disc, in a disc structure having a cover layer of 0.1 mm in the disc thickness direction, a laser having a wavelength of 405 nm (a so-called blue laser) and an objective lens having a NA (Numerical Aperture) of 0.85 are used. Assuming that a phase change mark (phase change mark) is recorded / reproduced under the condition of a combination, a data block of 64 KB (kilobyte) with a track pitch of 0.32 μm, a linear density of 0.12 μm / bit, and one recording / reproducing unit. When the format efficiency is about 82%, a disc of about 23.3 GB (gigabyte) can be recorded / reproduced on a 12 cm direct disk.
If the linear density is set to 0.112 μm / bit in the same format, a capacity of 25 GB can be recorded and reproduced.
Further, by making the recording layer have a multilayer structure, a drastic increase in capacity can be realized. For example, by using two recording layers, the capacity can be increased to 46.6 GB or 50 GB, which is twice the above.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in a disk drive (recording / reproducing apparatus) for these disk recording media, an operation of adjusting a recording laser power to an optimum value is required.
A technique relating to the adjustment of the recording laser power is described in, for example,
In the technique described in
g (P) = (Δm / m) / (ΔP / P)
ΔP: small change amount near P
Δm: small change amount corresponding to ΔP near m
According to
The optimum recording power is determined and set by evaluating the excess or deficiency of the recording power based on the gradient g (P).
[0006]
However, for example, when the optimum recording laser power is determined by such a method, the signal amplitude is affected by the inclination, rotation fluctuation, recording sensitivity unevenness, and the like of the disk, so that the optimum recording power cannot be determined with sufficient accuracy for practical use. There was a problem.
In particular, when the conditions for increasing the aperture ratio of the lens due to the increase in the density of the optical disk, such as the Blu-ray disk, overlap, this problem is becoming a nonnegligible level.
[0007]
FIG. 12 illustrates this point. FIG. 12 shows a case where a certain area (test write execution area) on the disk is divided into eight test areas TA1 to TA8.
First, FIG. 12A shows a test pattern with a fixed recording laser power Pn for each of the test areas TA1 to TA8 in an ideal state where there is no influence of disc tilt, rotation fluctuation, recording sensitivity unevenness and the like. Is recorded and reproduced, and the signal amplitude m when reproduced is shown. In this ideal state, when a test pattern recorded with the same recording laser power Pn is reproduced, the signal amplitude values m in the test areas TA1 to TA8 should all be at the same level as shown in the figure.
In this ideal state, in each of the test areas TA1 to TA8, a test pattern is recorded by changing (raising) the recording laser power stepwise as P (1) to P (8), respectively. Upon reproduction, it is expected that an amplitude as shown in FIG. 12B is obtained in each of the test areas TA1 to TA8.
[0008]
In the conventional laser power adjustment, it is assumed that an amplitude change according to the laser power is obtained in a state close to the ideal of FIG. 12B, and the amplitude value is monitored while changing the laser power. , Based on which the laser power is adjusted.
However, due to the above-described causes, the ideal state as shown in FIGS. 12A and 12B cannot be obtained, and the effect cannot be ignored particularly in a high-density disc.
For example, FIG. 12C shows a signal amplitude in the case where a test pattern is recorded on each of the test areas TA1 to TA8 with a fixed recording laser power Pn and reproduced, as in FIG. m. That is, although the same signal amplitude value m should be originally obtained in each of the test areas TA1 to TA8 as shown in FIG. 12A, the amplitude value is changed as shown in FIG. Will fluctuate.
In this case, in each of the test areas TA1 to TA8, a test pattern is recorded by changing the recording laser power stepwise as P (1) to P (8), and when the test pattern is reproduced, each of the test areas TA1 to TA8 is reproduced. The amplitude levels obtained at TA8 are as shown in FIG. That is, as compared with the ideal state of FIG. 12B, the curve of the characteristic of the change of the amplitude and the change of the recording laser power is distorted.
From this, it is understood that even if the amplitude value is monitored while changing the laser power, and the laser power is adjusted based on the amplitude value, the adjustment accuracy is not sufficient.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
Therefore, an object of the present invention is to provide a technique for adjusting an optimum recording laser power which is hardly affected by a tilt of a disk, uneven recording sensitivity, and the like.
[0010]
For this purpose, the laser power adjusting method of the disk drive device for the rewritable optical recording medium according to the present invention is applied to each of the first to x-th (x is 2 or more) test areas set on the recording medium. Test recording is performed while changing the laser power from the first laser power to the x-th laser power, the test-recorded area is reproduced, and the first to x-th test areas corresponding to the first to x-th test areas are reproduced. a variable test recording step of obtaining amplitude information of x; test recording with a fixed laser power for each of the first to xth test areas; reproducing the test recorded area; a fixed test recording step of obtaining first to x-th amplitude information corresponding to each test area of x, and using the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step A correction step of correcting the first to x-th laser power or the first to x-th amplitude information in the variable test recording step; and a first to x-th correction step in the variable test recording step, the correction being performed in the correction step. A laser power setting step of calculating an optimum laser power using the above laser power and the first to x-th amplitude information and setting the laser power.
[0011]
In the correcting step, first to x-th laser power correction values are calculated corresponding to the first to x-th test areas, and the first to x-th laser power correction values in the variable test recording step are calculated. Is corrected by the first to x-th laser power correction values.
In this case, the amplitude change rate near the fixed laser power in the fixed test recording step, the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step, and the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step. The first to x-th laser power correction values are calculated by calculation using the average value of the 1 to x-th amplitude information.
Alternatively, in the correcting step, first to x-th amplitude information correction values are calculated corresponding to the first to x-th test areas, and the first to x-th amplitude information in the variable test recording step are calculated. Is corrected using the first to x-th amplitude information correction values.
In this case, the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step and the average value of the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step are used to calculate the first to x-th amplitude information. To calculate the x-th amplitude information correction value.
[0012]
Further, the suitability of the test area is determined based on the first to x-th amplitude information obtained in the fixed test recording step, and if the test area is determined to be inappropriate, the test area is changed to change the test area. The method further includes a step.
Further, the amplitude information is an amplitude value or a modulation degree of the reproduction signal.
[0013]
A disk drive device according to the present invention includes a head unit that performs laser irradiation and reflected light detection on a disk recording medium for writing or reading data, and detects amplitude information from a signal based on reflected light obtained by the head unit. Amplitude information detecting means, a laser driving means for executing laser output at a predetermined laser power in the head means, and controlling the head means and the laser driving means to execute a recording / reproducing operation on a disk recording medium. And control means for obtaining amplitude information from the amplitude information detection means. The control means controls the head means and the laser drive means to control the first laser power for each of the first to x-th (x is 2 or more) test areas set on the recording medium. The test recording is executed while changing the laser power as the laser power from the first to the x-th laser power, and further, the test-recorded area is reproduced, and the first to the x-th amplitudes corresponding to the first to the x-th test areas, respectively. A variable test recording process for obtaining information from the amplitude information detecting means, and controlling the head means and the laser driving means to execute test recording with a fixed laser power for each of the first to xth test areas. Further, by reproducing the test-recorded area, the first to x-th amplitude information corresponding to the first to x-th test areas is obtained from the amplitude information detecting means. The first to x-th laser power or the first to x-th amplitude information in the variable test recording process using the constant test recording process and the first to x-th amplitude information in the fixed test recording process. And calculating the optimum laser power using the first to x-th laser power and the first to x-th amplitude information in the variable test recording process, corrected in the correction process, A laser power setting process for setting the laser power to the laser driving means is performed.
[0014]
Further, in the correction processing, the control means calculates first to x-th laser power correction values corresponding to the first to x-th test areas, and calculates the first to x-th laser power correction values in the variable test recording processing. The x laser power is corrected by the first to x-th laser power correction values.
In this case, the control means includes an amplitude change rate near the fixed laser power in the fixed test recording process, the first to x-th amplitude information in the fixed test recording process, and the fixed test recording process. The first to x-th laser power correction values are calculated by the calculation using the average value of the first to x-th amplitude information in (1).
Alternatively, the control means calculates first to x-th amplitude information correction values corresponding to the first to x-th test areas in the correction processing, and calculates the first to x-th amplitude information correction values in the variable test recording processing. The x amplitude information is corrected by the first to x-th amplitude information correction values.
In this case, the control unit performs an operation using the first to x-th amplitude information in the fixed test recording process and an average value of the first to x-th amplitude information in the fixed test recording process. , And calculates the first to x-th amplitude information correction values.
[0015]
The control means determines whether the test area is appropriate based on the first to x-th amplitude information obtained in the fixed test recording process, and changes the test area when the test area is determined to be inappropriate. A test area confirmation process to be performed is further performed.
Further, the amplitude information detecting means detects an amplitude value or a modulation degree of a reproduction signal as the amplitude information.
[0016]
According to the present invention, as the variable test recording step (variable test recording processing), the laser power P is sequentially changed from P (1) to P (x) to perform the test recording in the first to xth test areas. In the fixed test recording step (fixed test recording process), test recording is performed with a fixed laser power Pn.
When recording is performed in the first to x-th test areas with a fixed laser power Pn, if the amplitude information (amplitude value or modulation) obtained by reproducing the information fluctuates, the fluctuation is caused by the inclination of the disk or the like. This can be considered to be due to the influence of uneven recording sensitivity and the like.
That is, the relationship between the laser power Pn in the fixed test recording step (fixed test recording processing) and the first to x-th amplitude information obtained in the first to x-th test areas at that time is determined by the tilt of the disc and the recording. This reflects the influence of sensitivity unevenness and the like. From this relationship, the laser powers P (1) to P (x) and the first to x-th amplitude information in the variable test recording step (variable test recording process) are considered. By correcting the relationship, it is possible to estimate the relationship between the original recording laser power and the amplitude information excluding the influence of the inclination of the disk, the unevenness of the sensitivity, and the like.
[0017]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, as an embodiment of the present invention, a description will be given of laser power adjustment performed by the disk drive device (recording / reproducing device) that performs recording / reproduction corresponding to an optical disk as an example. The description will be made in the following order.
1. Configuration of disk drive unit
2. Configuration for obtaining amplitude information
3. Configuration of laser driver
4. Laser power adjustment
4-1 Test light and correction processing
4-2 Correction processing example 1
4-3 Correction processing example 2
4-4 Optimal recording laser power adjustment processing
4-5 Modification
5. Adjustment timing
[0018]
1. Configuration of disk drive unit
FIG. 1 shows the configuration of the disk drive device of the present embodiment.
It is assumed that the
[0019]
Such a
Then, ADIP information embedded as wobbling of a groove track on the
At the time of recording, user data is recorded as a phase change mark on a track by the
[0020]
In the
The laser diode outputs, for example, a so-called blue laser having a wavelength of 405 nm. The NA of the optical system is 0.85.
[0021]
In the
Further, the
The laser diode in the
[0022]
Note that a mechanism for correcting the spherical aberration of the laser light is provided in the
[0023]
The reflected light information from the
The
For example, a high-frequency signal (also referred to as a reproduction data signal or an RF signal) corresponding to reproduction data, a focus error signal for servo control, a tracking error signal, and the like are generated.
Further, a push-pull signal is generated as a signal related to groove wobbling, that is, a signal for detecting wobbling.
[0024]
The reproduced data signal output from the
[0025]
The reader /
The modulation /
At the time of reproduction, as a decoding process, a demodulation process of a run-length limited code is performed based on a reproduction clock.
The ECC encoder /
At the time of reproduction, the data demodulated by the modulation /
The data decoded to the reproduction data by the ECC encoder /
[0026]
The push-pull signal output from the
The
The address decoder 9 generates a clock by a PLL process using a wobble signal supplied from the
[0027]
At the time of recording, recording data is transferred from the
In this case, the ECC encoder /
The ECC-encoded data is subjected to RLL (1-7) PP modulation in a modulation /
As described above, the clock generated from the wobble signal is used as an encode clock serving as a reference clock for these encoding processes during recording.
[0028]
The recording data generated by the encoding process is subjected to a recording / compensation process in the reader /
The
[0029]
The
The target value of the laser output (recording laser power / reproducing laser power) at the time of recording and at the time of reproduction is given from the
[0030]
The
That is, a focus drive signal and a tracking drive signal are generated according to the focus error signal and the tracking error signal, and the focus coil and the tracking coil of the two-axis mechanism in the
[0031]
Further, the
[0032]
The
[0033]
The
The
At the time of data reproduction, the reproduction clock (clock serving as a reference for the decoding process) generated by the PLL in the reader /
Then, the
Further, the
[0034]
Various operations of the servo system and the recording / reproducing system as described above are controlled by a
The
[0035]
For example, when a write command (write command) is issued from the
[0036]
Further, for example, when a read command requesting transfer of certain data (MPEG2 video data or the like) recorded on the
After that, operation control necessary for transferring the data in the designated data section to the
[0037]
At the time of recording / reproducing data using these phase change marks, the
[0038]
In the example of FIG. 1, the disk drive is connected to the
Further, there may be a mode in which the device is not connected to another device. In this case, an operation unit and a display unit are provided, and the configuration of an interface unit for data input / output is different from that of FIG. In other words, it is sufficient that recording and reproduction are performed in accordance with the operation of the user, and a terminal unit for inputting and outputting various data is formed.
Of course, various other configuration examples are conceivable.
[0039]
2. Configuration for obtaining amplitude information
In the disk drive device of the present embodiment, the
[0040]
The amplitude information on the reproduced RF signal can be configured to be detected in the reader /
For example, as shown in FIG. 2, the reader /
During the recording operation, the write
At the time of reproduction, the reproduction data signal (RF signal) from the
The binarized data is processed in the RF
[0041]
The amplitude
The
[0042]
3. Configuration of laser driver
The
[0043]
At the time of recording, as described above, the recording data generated by the encoding process is processed by the reader /
The
At the time of reproduction, the
[0044]
Also, the
That is, the recording laser power / reproducing laser power as target values of the laser output at the time of recording and reproduction are given from the
At the time of reproduction, the
At the time of recording, the
[0045]
The
In addition, during the optimum recording laser power adjustment processing, the recording laser power is variously changed. This laser power variable operation can be realized by the
[0046]
4. Laser power adjustment
4-1 Test light and correction processing
The optimum recording laser power adjustment processing performed in the disk drive device having the above configuration will be described.
A series of operations as the optimum recording laser power adjustment processing is executed by the
Prior to the description of the processing in FIG. 4, first, the test write and correction processing in step F102 will be described in detail with reference to FIGS. 6, 7, and 8.
[0047]
FIG. 6 shows a flowchart of the test write and correction processing executed by the
In this case, the
[0048]
FIG. 7A shows an area structure on the
In the lead-in zone, a control area for recording various management information, a DMA area, an OPC area, a buffer area, and the like are formed.
The data zone is an area used for recording and reproducing user data.
The readout zone on the outermost side of the disk has a control area and a DMA area formed therein, and is used as a buffer area and the like.
Here, as the test write, an OPC area (test write area) in the lead-in zone is used. Although FIG. 7A is a schematic diagram, an OPC area is formed at a predetermined position in the lead-in zone.
FIG. 7B shows the OPC area in an enlarged manner. The area selection in step F201 refers to the area actually used for the test write in the OPC area shown in FIG. 7B. Means to choose. For example, the area TW1 is selected as a use area.
[0049]
Next, in step F202, the
FIG. 7C shows a state where the selected use area TW1 is divided into eight, and each area is set as test areas TA (1) to TA (8).
[0050]
In step F203, the
There are various methods for determining the recording laser powers P (1) to P (8).
P (k) = Pind + ΔP * (k-4.5)
Here, k is 1 to x, that is, in this case, k is a value of 1 to 8, and thus P (k) indicates the recording laser power P (1) to P (8).
ΔP is a step width for sequentially changing the recording laser power.
Pin is a parameter for setting the laser power, which is set in step F101 of FIG.
The recording laser powers P (1) to P (8) are determined according to such an equation. The recording laser powers P (1) to P (8) are the laser powers used in the variable test recording processing in step F207.
Further, the values Pfit1 and Pfit2 used in the processing of FIG. 4 described below are Pfit1 = P (3) and Pfit2 = P (6).
[0051]
In step F204, the test areas TA (1) to TA (8) are erased for the fixed test recording process in the next step F205. That is, the operation of the
[0052]
In step F205, a fixed test recording process is performed.
That is, test recording is performed on the first to eighth test areas TA (1) to TA (8) with the fixed recording laser power Pn, and the test recording areas (test areas TA (1) to TA (1) to TA (8)) are further recorded. TA (8)), the first to eighth amplitude information mn (1) to mn (8) corresponding to each test area TA (1) to TA (8) are obtained.
In this case, the
Then, at this fixed recording laser power Pn = P (4), data writing as a test pattern is executed in the test areas TA (1) to TA (8).
Thereafter, the test areas TA (1) to TA (8) are reproduced by the
Note that the fixed recording laser power Pn is not limited to P (4).
[0053]
FIG. 7D schematically shows the operation of the fixed test recording process. As shown in the drawing, first, recording is performed in the test areas TA (1) to TA (8) with a fixed recording laser power Pn = P (4), and thereafter, when the test areas TA (1) to TA (8) are reproduced. The obtained amplitude information mn (1) to mn (8) are obtained.
The amplitude
FIG. 8A shows the RF signal amplitude obtained at the time of reproduction of the test areas TA (1) to TA (4), for example. At the reproduction timing (8), the average value PK (k) of the peak amplitude value and the average value BT (k) of the bottom value of the amplitude are detected. The value obtained by subtracting the average value BT (k) from the average value PK (k) is used as the amplitude information mn (k) of the test area TA (k). k is a value from 1 to 8.
That is, as illustrated, for example, the amplitude information mn (1) of the test area TA (1) is PK (1) -BT (1), and the amplitude information mn (2) of the test area TA (2) is PK (2). ) -BT (2)... To calculate the amplitude information mn (1) to mn (8) and output this to the
[0054]
In this case, the amplitude information mn = amplitude value, but the amplitude information mn = modulation degree may be used.
Also in this case, the amplitude
That is, for example, the amplitude information mn (1) of the test area TA (1) is (PK (1) -BT (1)) / PK (1), and the amplitude information mn (2) of the test area TA (2) is The amplitude information mn (1) to mn (8) may be calculated as (PK (2) -BT (2)) / PK (2)... And output to the
[0055]
When the amplitude information mn (1) to mn (8) are obtained in the fixed test recording process in step F205, the
[0056]
In step F207, a variable test recording process is performed.
That is, test recording is performed on the first to eighth test areas TA (1) to TA (8) while changing the recording laser power to P (1) to P (8), respectively, and the test recording area ( The test areas TA (1) to TA (8)) are reproduced to obtain amplitude information m (1) to m (8) corresponding to the test areas TA (1) to TA (8).
[0057]
In this case, the
Thereafter, the test areas TA (1) to TA (8) are reproduced by the
[0058]
FIG. 7E schematically shows the operation of the variable test recording process. As shown in the figure, the recording laser power P (1) is applied to the test area TA (1), the recording laser power P (2) is applied to the test area TA (2),... With respect to 8), the recording of the test pattern is executed with the recording laser power P (8). Thereafter, amplitude information m (1) to m (8) obtained at the time of reproduction of each of the test areas TA (1) to TA (8) is obtained.
The amplitude
The method of calculating the amplitude information m is the same as the method of calculating the amplitude information mn in the fixed test recording process. When the amplitude information m is used as the amplitude value, m (k) = average value PK (k) − It is calculated as an average value BT (k).
When the amplitude information m is used as the modulation factor, it is calculated as m (k) = (average value PK (k) −average value BT (k)) / average value PK (k).
Then, the amplitude information m (1) to m (8) thus obtained is output to the
[0059]
In the processing so far, the
Information necessary for adjusting the optimum recording laser power is the values of the recording laser powers P (1) to P (8) and the amplitude information m (1) to m (8) in the variable test recording process.
However, as described with reference to FIG. 12, the relationship between the recording laser powers P (1) to P (8) and the amplitude information m (1) to m (8) depends on the influence of the inclination of the
Therefore, in this example, as step F208, the relationship between the recording laser power P (k) and the amplitude information m (k) is determined by using the amplitude information mn (k) obtained during the fixed test recording processing as described later. I am trying to correct it.
The relationship between the corrected recording laser power P (k) and the amplitude information m (k) is (Peff (k), meff (k)).
That is, by the correction process, the recording laser powers P (1) to P (8) are changed to Peff (1) to Peff (8), and the amplitude information m (1) to m (8) is changed to meff (1) to Peff (1). meff (8).
[0060]
After the correction in step F208, the optimum recording laser power is calculated using the relationship (Peff (k), meff (k)) between the corrected recording laser power P (k) and the amplitude information m (k). Perform processing. This processing is processing after step F103 in FIG.
[0061]
In step F203, the values Pfit1 and Pfit2 used in the calculation process of FIG. 4 described later are set as Pfit1 = P (3) and Pfit2 = P (6), but the recording laser powers P (3) and P (6) are used. ), Pfit1 = Peff (3) and Pfit2 = Peff (6) at the time of step F208. Alternatively, the values Pfit1 and Pfit2 may be set at the time after this correction, instead of at step F203.
[0062]
Since two processing examples are considered as the correction processing in step F208, each correction processing example will be described below.
[0063]
4-2 Correction processing example 1
The correction processing example 1 to be performed in step F208 includes the first to eighth recording laser power correction values SP corresponding to the first to eighth test areas TA (1) to TA (8). (1) to SP (8) are calculated. Then, the recording laser powers P (1) to P (8) in the variable test recording processing are corrected using the recording laser power correction values SP (1) to SP (8), respectively.
That is, the corrected recording laser power Peff (k) is
Peff (k) = P (k) × SP (k)
Asking.
[0064]
The recording laser power correction values SP (1) to SP (8) are the amplitude change rate V near the fixed laser power in the fixed test recording process and the amplitude information mn (1) in the fixed test recording process. ) To mn (8) and the average value (Σmn (k)) / k of the amplitude information mn (1) to mn (8).
Specifically, the recording laser power correction value Sp (k) in the test area TA (k) is
Sp (k) = mn (ave) / {mn (k) -mn (ave)} / Vn
Obtain according to.
Here, mn (ave): average value of mn (k) (= (Σmn (k)) / k)
Vn = Δmn / ΔPn
ΔPn: small change amount near fixed recording laser power Pn
Δmn: small change amount corresponding to ΔPn near mn
It is.
[0065]
FIG. 9 shows a first example of the correction processing, that is, an example of the correction processing performed in step F208.
First, in step F301, the amplitude change rate Vn near the fixed recording laser power Pn is calculated.
When the fixed recording laser power Pn = P (4) as described above, the amplitude change rate V (4) near the fixed recording laser power P (4) is expressed as
V (4) = {m (5) -m (4)} / {P (5) -P (4)}
Asking.
[0066]
Next, in step F302, the recording laser power correction values SP (1) to SP (8) corresponding to the test areas TA (1) to TA (8) are calculated.
In this case, the recording laser power correction value SP (k) of the test area TA (k) is
[0067]
As a result, when the recording laser power correction values SP (1) to SP (8) corresponding to the test areas TA (1) to TA (8) are calculated, the recording laser powers P (1) to P (P) are calculated in step F303. Correct (8).
That is, the corrected recording laser power Peff (k) is
Peff (k) = P (k) × SP (k)
Are obtained as Peff (1) to Peff (8).
Peff (1) to Peff (8) are corrected recording laser powers obtained by correcting the recording laser powers P (1) to P (8).
In this case, the recording laser powers P (1) to P (8) are corrected, and the corresponding amplitude information m (1) to P (8) is left as it is.
That is, meff (k) = m (k), and the amplitude information m (1) to m (8) are directly used as corrected amplitude information meff (1) to meff (8).
[0068]
By such a correction process, the relationship between the recording laser power P and the amplitude information m is corrected on the laser power axis, and the relationship between the recording laser power P (k) and the amplitude information m (k) is corrected. The relationship is (Peff (k), meff (k)).
[0069]
4-3 Correction processing example 2
The correction process to be performed in step F208 of FIG. 6 may be the correction process example 2 described here in addition to the above-described correction process example 1.
In the second correction processing example, the first to eighth amplitude information correction values Sm (1) to Sm (8) are respectively corresponding to the first to eighth test areas TA (1) to TA (8). calculate. Then, the amplitude information m (1) to m (8) obtained in the variable test recording process is corrected using the amplitude information correction values Sm (1) to Sm (8), respectively.
That is, the corrected amplitude information meff (k) is
meff (k) = m (k) × Sm (k)
Asking.
[0070]
The amplitude information correction values Sm (1) to Sm (8) are the amplitude information mn (1) to mn (8) and the amplitude information mn (1) to mn (8) in the fixed test recording process. It is calculated by calculation using the average value (Σmn (k)) / k.
Specifically, the amplitude information correction value Sm (k) in the test area TA (k) is
Sm (k) = mn (ave) / {mn (k) -mn (ave)}
Obtain according to.
Here, mn (ave) is the average value of mn (k) (= (Σmn (k)) / k)
It is.
[0071]
FIG. 10 shows an example of the correction process performed in step F208 as the second example of the correction process.
First, in step F401, the amplitude information correction values Sm (1) to Sm (8) corresponding to the test areas TA (1) to TA (8) are calculated.
In this case, the amplitude information correction value Sm (k) of the test area TA (k) is
[0072]
Thus, when the amplitude information correction values Sm (1) to Sm (8) corresponding to the test areas TA (1) to TA (8) are calculated, in step F402, the amplitude information m (1) to m (8). ) Is corrected.
That is, the corrected amplitude information meff (k) is
meff (k) = m (k) × Sm (k)
Are obtained as meff (1) to meff (8).
meff (1) to meff (8) are corrected amplitude information obtained by correcting the amplitude information m (1) to m (8).
In this case, the amplitude information m (1) to (8) is corrected, and the corresponding recording laser powers P (1) to P (8) remain unchanged.
That is, Peff (k) = P (k), and the recording laser powers P (1) to P (8) are directly used as corrected recording laser powers Peff (1) to Peff (8).
[0073]
By such a correction process, the relationship between the recording laser power P and the amplitude information m is corrected on the amplitude information axis, and the relationship between the recording laser power P (k) and the amplitude information m (k) is corrected. The relationship is (Peff (k), meff (k)).
[0074]
4-4 Optimal recording laser power adjustment processing
As described above with reference to FIGS. 6 to 10, the test write and the correction processing are performed as step F102 in FIG.
The optimum recording laser power adjustment processing of FIG. 4 including such test writing and correction processing will be described.
[0075]
The
Next, as step F102, the processing described with reference to FIGS. 6 to 10 is performed, and the corrected relationship (Peff (k), meff (k)) is corrected as the recording laser power and amplitude information by the variable test recording processing. The recording laser power Peff (1) to Peff (8) and the corresponding correction amplitude information meff (1) to Peff (8) are obtained.
[0076]
Then, in step F103 and thereafter, calculation processing of the optimum recording laser power using the corrected recording laser powers Peff (1) to Peff (8) and the corrected amplitude information meff (1) to Peff (8) is performed.
First, in step F103, the recording laser power P (k) versus (P (k) × m (k)) is plotted with the horizontal axis representing the laser power P and the vertical axis representing the laser power P × amplitude information m as shown in FIG. I do.
In this case, since the recording laser power P and the amplitude information m have been corrected as described above, this plot uses the corrected recording laser power Peff (k) and the corrected amplitude information meff (k) to obtain Peff (k ) Pair (Peff (k) × meff (k)).
Then, a point of Peff (k) × meff (k) corresponding to Peff (k) is defined as Plot (k). FIG. 5 shows points as Plot (k) corresponding to Peff (k), that is, Plot (1) to Plot (8).
[0077]
Next, in step F104, Plot (1) to Plot (5) are calculated as shown in FIG. 5 in order to obtain a linear approximation equation for Pfit1 (= Peff (3)).
Recording laser power P × amplitude information m = α1 · (P−β1)
To obtain α1 and β1.
[0078]
In step F105, Plot (4) to Plot (8) are calculated in order to obtain a linear approximation equation for Pfit2 (= Peff (6)).
Recording laser power P × amplitude information m = α2 · (P−β2)
To obtain α2 and β2.
[0079]
In step F106,
Pt1 = β1 × κ
Pt2 = β2 × κ
The values of the laser powers Pt1 and Pt2 shown in FIG.
Then, in step F107,
Ptarget = (Pt2 × Pfit1-Pt1 × Pfit2) / (Pt2-Pt1-Pfit2 + Pfit1)
To calculate the value Ptarget.
[0080]
Finally, in step F108, the optimum recording laser power Popt is
Popt = ρ × Ptarget
Is calculated as When the optimum recording laser power Popt is obtained in this way, the value is set in the
[0081]
In the present embodiment, the optimum recording laser power adjustment processing is performed as described above. That is, as the variable test recording process of step F207, test recording is performed by sequentially changing the laser power with the recording laser powers P (1) to P (8), and the test recording is reproduced to reproduce the amplitude information m (1) to m (m). (8) is performed, and the recording laser power P (1) to P (8) or the amplitude information m (1) to m (8) at that time is corrected, and the recording laser as a corrected relationship is obtained. The optimum recording laser power Popt is calculated using the powers Peff (1) to Peff (8) and the amplitude information meff (1) to meff (8).
For the correction processing, test recording is performed with a fixed laser power Pn as the fixed test recording processing shown as step F205, and amplitude information mn (1) to mn (8) is obtained. Then, from the amplitude information mn (1) to mn (8), the relationship between the original laser power and the amplitude information, which excludes the influence of the inclination of the disk and the unevenness of the sensitivity, is estimated.
For this reason, the optimum recording laser power Popt obtained by the processing of the present example has reduced effects such as the inclination of the disc and the uneven recording sensitivity, and the adjustment accuracy of the optimum laser power can be improved.
[0082]
Further, as a correction process, as shown in the correction process example 1, the calculation using the amplitude change rate V, the amplitude information mn (1) to mn (8), and the average value mn (ave) thereof is performed. If the laser power correction value SP (k) is determined and the recording laser powers P (1) to P (8) are corrected using the laser power correction value SP (k), correction with relatively high accuracy can be performed. .
On the other hand, as shown in the correction processing example 2, the amplitude information correction value Sm (k) is obtained by calculation using the amplitude information mn (1) to mn (8) and the average value mn (ave). If the amplitude information m (1) to m (8) is corrected using the amplitude information correction value Sm (k), the correction can be performed by a relatively simple calculation process.
[0083]
4-5 Modification
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be considered. The following is an example.
[0084]
First, as a modified example of the processing in FIG. 6, the order of the fixed test recording processing and the variable test recording processing may be exchanged. That is, the variable test recording process is performed at the time of step F205 in FIG. 6, and the fixed test recording process is performed at the time of step F207. This is because the variable test recording process and the fixed test recording process need only be performed before the correction process in step F208.
[0085]
In the above example, x = 8, that is, the division is set to eight test areas TA (1) to TA (8). However, the division is not limited to the division into eight test areas.
In addition, various setting methods of the recording laser powers P (1) to P (8) in the variable test recording process and specific setting methods such as the step width ΔP are conceivable.
[0086]
After the correction processing, the optimum recording laser power Popt is calculated using the corrected recording laser powers Peff (1) to Peff (8) and the amplitude information meff (1) to meff (8). The processing is not limited to the processing shown in steps F103 to F108 in FIG. 4, and for example, the method described in
That is, the standardized gradient g (P) is calculated by the following equation,
g (P) = (Δm / m) / (ΔP / P)
ΔP: small change amount near P
Δm: small change amount corresponding to ΔP near m
The optimum recording power is determined by evaluating the excess or deficiency of the recording power based on the gradient g (P). At this time, the corrected recording laser power Peff (k) and the amplitude information meff are determined. (K) may be used.
[0087]
In the test write and correction processing of FIG. 6 described above, the suitability of the test area is determined based on the amplitude information mn (k) obtained in the fixed test recording processing, and when the test area is determined to be inappropriate. Alternatively, a test area confirmation process for changing the test area may be executed.
The processing in that case is shown in FIG. 11, the same processes as those in FIG. 6 are denoted by the same step numbers, and description thereof will be omitted.
In this case, after the fixed test recording process is performed in step F205, the presence or absence of an abnormality in the test areas TA (1) to TA (8) is checked using the amplitude information mn (k) in step F210.
For example, an average value of the amplitude information mn (1) to mn (8) is calculated as mn (ave), and the amplitude information mn (1) to mn (8) is compared with the average value mn (ave).
At this time, if there is amplitude information mn (k) having a value that is considerably different from the average value mn (ave), for example, a certain amplitude information mn (k) has a value different from the average value mn (ave) by 10% or more. If there is, it is determined that there is an abnormality. It is determined that the test area TA (k) from which the amplitude information mn (k) is obtained is not suitable for a test light due to a flaw or the like.
If there is such an abnormal portion, the process returns from step F211 to F201, and the process from the test area TA setting process is repeated. For example, the use area TW2 is newly set in place of the use area TW1 in FIG.
[0088]
By performing such processing, even if there is a flaw or the like and an inappropriate test area is present in the test write, the test write can be executed while avoiding the area. Thereby, the accuracy of the recording laser power adjustment processing can be further improved.
[0089]
5. Adjustment timing
There are various possible timings for executing the recording laser power adjustment processing.
First, it is, of course, appropriate to execute it when the disc is loaded.
Further, it may be executed during reproduction, before or after a seek, after a predetermined time has elapsed, or executed according to a trace position (inner / outer circumference) on a disk.
For example, during reproduction, the data read from the
The timing immediately before the seek or immediately after the seek is also suitable as the execution timing of the adjustment processing.
[0090]
In addition, by adjusting according to the temperature condition of the equipment (the change of the optimum value of the focus bias due to the temperature characteristics of the device and the actuator), aging, and the trace position (radial position) on the disk, adjustment corresponding to these circumstances is made. Can be in a state.
Therefore, even during the operation period of the
[0091]
【The invention's effect】
As can be understood from the above description, according to the present invention, the first to xth tests in which test recording is performed by sequentially changing the first to xth laser powers as a variable test recording step (variable test recording process) In the area, test recording is performed with a fixed laser power Pn as a fixed test recording step (fixed test recording process). Then, from the amplitude information at that time, the relationship between the original laser power and the amplitude information, which excludes the influence of the tilt of the disk and the unevenness of the sensitivity, is estimated. That is, the first to x-th laser power in the variable test recording step (variable test recording process) or the first to x-th amplitude information at that time is corrected. Then, the optimum recording power is determined using the corrected first to x-th laser powers and the corresponding first to x-th amplitude information.
As a result, it is possible to reduce the influence of the inclination of the disk and the unevenness of the recording sensitivity, and to improve the adjustment accuracy of the optimum laser power.
[0092]
At the time of correction, the first to x-th laser power correction values are calculated for the first to x-th test areas, and the first to x-th laser power correction values are calculated in the variable test recording step (variable test recording process). The x-th laser power is corrected by the first to x-th laser power correction values. Particularly in this case, the amplitude change rate near the fixed laser power at the time of the fixed test recording step (fixed test recording process), the first to x-th amplitude information, and the average value of the first to x-th amplitude information Are used to calculate the first to x-th laser power correction values. By such a correction process, a relatively highly accurate correction can be performed.
[0093]
Alternatively, at the time of correction, the first to x-th amplitude information correction values are calculated for the first to x-th test areas, and the first to x-th amplitude information correction values are calculated in the variable test recording step (variable test recording process). The x-th amplitude information is corrected by the first to x-th amplitude information correction values. In this case, the first to x-th amplitude information correction values are calculated by calculation using the first to x-th amplitude information and the average value in the fixed test recording step (fixed test recording process). With such a correction process, correction can be performed as a relatively simple process.
[0094]
Further, the suitability of the test area is determined based on the first to x-th amplitude information obtained in the fixed test recording step (fixed test recording process), and if the test area is determined to be inappropriate, the test area is changed. By further providing a test area confirmation step (test area confirmation processing) to be performed, it is possible to adapt to a defect in the test area itself, and to perform adjustment with higher accuracy.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram of a disk drive device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of a reader / writer circuit according to the embodiment;
FIG. 3 is a block diagram of a laser driver according to the embodiment;
FIG. 4 is a flowchart of an optimum recording laser power adjustment process according to the embodiment.
FIG. 5 is an explanatory diagram of an optimum recording laser power adjustment process according to the embodiment.
FIG. 6 is a flowchart of a test write and correction process according to the embodiment.
FIG. 7 is an explanatory diagram of a fixed test recording process and a variable test recording process according to the embodiment.
FIG. 8 is an explanatory diagram of amplitude information according to the embodiment;
FIG. 9 is a flowchart of a correction process according to the embodiment.
FIG. 10 is a flowchart of a correction process according to the embodiment.
FIG. 11 is a flowchart of another test write and correction process of the embodiment.
FIG. 12 is an explanatory diagram of the influence of disk tilt, recording unevenness, and the like.
[Explanation of symbols]
1 disk, 31 write waveform generation unit, 32 binarization circuit, 33 RF reproduction processing unit, 34 PLL circuit, 35 amplitude information calculation unit, 41 APC circuit, 42 laser drive circuit, 43 laser power register, 51 pickup, 52 spindle Motor, 53 thread mechanism, 54 matrix circuit, 55 reader / writer circuit, 56 modulation / demodulation circuit, 57 ECC encoder / decoder, 58 wobble circuit, 59 address decoder, 60 system controller, 61 servo circuit, 62 spindle servo circuit, 63 laser driver , 120 AV system
Claims (14)
上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対して、それぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る可変テスト記録ステップと、
上記第１から第ｘの各テストエリアに対して、固定レーザパワーでテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る固定テスト記録ステップと、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正ステップと、
上記補正ステップで補正された、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、レーザパワー設定を行うレーザパワー設定ステップと、
を有することを特徴とするレーザパワー調整方法。As a laser power adjustment method of a disk drive device for a rewritable optical recording medium,
Test recording is performed on the first to x-th (x is 2 or more) test areas set on the recording medium while changing the laser power from the first laser power to the x-th laser power, respectively. A variable test recording step of reproducing the test-recorded area to obtain first to x-th amplitude information corresponding to the first to x-th test areas;
Test recording is performed for each of the first to x-th test areas with a fixed laser power, and the test-recorded area is reproduced, and the first to x-th test areas corresponding to the first to x-th test areas are reproduced. a fixed test recording step for obtaining amplitude information of x;
A correction step of correcting the first to x-th laser power or the first to x-th amplitude information in the variable test recording step using the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step; ,
Laser power for calculating an optimum laser power using the first to x-th laser power and the first to x-th amplitude information in the variable test recording step corrected in the correction step, and setting the laser power Configuration steps;
A laser power adjustment method comprising:
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、
上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正することを特徴とする請求項１に記載のレーザパワー調整方法。In the above correction step,
Calculating first to x-th laser power correction values corresponding to the first to x-th test areas,
2. The laser power adjusting method according to claim 1, wherein the first to x-th laser powers in the variable test recording step are corrected by the first to x-th laser power correction values.
上記固定テスト記録ステップの際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出することを特徴とする請求項２に記載のレーザパワー調整方法。In the above correction step,
The amplitude change rate near the fixed laser power during the fixed test recording step,
The first to x-th amplitude information in the fixed test recording step;
An average value of the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step;
3. The laser power adjustment method according to claim 2, wherein the first to x-th laser power correction values are calculated by calculation using:
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、
上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正することを特徴とする請求項１に記載のレーザパワー調整方法。In the above correction step,
Calculating first to x-th amplitude information correction values corresponding to the first to x-th test areas;
2. The laser power adjustment method according to claim 1, wherein the first to x-th amplitude information in the variable test recording step is corrected by the first to x-th amplitude information correction values.
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出することを特徴とする請求項４に記載のレーザパワー調整方法。In the above correction step,
The first to x-th amplitude information in the fixed test recording step;
An average value of the first to x-th amplitude information in the fixed test recording step;
5. The laser power adjusting method according to claim 4, wherein the first to x-th amplitude information correction values are calculated by using the following.
さらに備えることを特徴とする請求項１に記載のレーザパワー調整方法。Whether the test area is appropriate or not is determined based on the first to x-th amplitude information obtained in the fixed test recording step. If the test area is determined to be inappropriate, a test area confirmation step for changing the test area is performed. ,
The laser power adjustment method according to claim 1, further comprising:
上記ヘッド手段で得られる反射光に基づく信号から振幅情報を検出する振幅情報検出手段と、
上記ヘッド手段において所定のレーザパワーでのレーザ出力を実行させるレーザ駆動手段と、
上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御してディスク記録媒体に対する記録再生動作を実行させるとともに、上記振幅情報検出手段から振幅情報を得ることのできる制御手段と、
を備え、
上記制御手段は、
上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対してそれぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る可変テスト記録処理と、
上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対して固定レーザパワーでテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る固定テスト記録処理と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正処理と、
上記補正処理で補正された、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、上記レーザ駆動手段に対してレーザパワー設定を行うレーザパワー設定処理とを行うことを特徴とするディスクドライブ装置。Head means for performing laser irradiation and reflected light detection on the disk recording medium for writing or reading data;
Amplitude information detecting means for detecting amplitude information from a signal based on the reflected light obtained by the head means,
Laser driving means for executing laser output at a predetermined laser power in the head means,
A control unit that controls the head unit and the laser drive unit to execute a recording / reproducing operation on a disk recording medium, and that can obtain amplitude information from the amplitude information detection unit;
With
The control means includes:
Controlling the head means and the laser driving means so as to control the first to x-th laser powers for the first to x-th (x is 2 or more) test areas set on the recording medium, respectively; The test recording is executed while changing the laser power, and the test recorded area is reproduced, and the first to x-th amplitude information corresponding to each of the first to x-th test areas is detected by the amplitude information detection. Variable test recording processing obtained from the means;
Controlling the head means and the laser driving means to execute test recording with a fixed laser power in each of the first to xth test areas, and further reproduces the test recorded areas, A fixed test recording process for obtaining the first to x-th amplitude information corresponding to each of the to x-th test areas from the amplitude information detecting means;
A correction process for correcting the first to x-th laser power or the first to x-th amplitude information in the variable test recording process using the first to x-th amplitude information in the fixed test recording process; ,
An optimum laser power is calculated using the first to x-th laser power and the first to x-th amplitude information in the variable test recording process corrected in the correction process, and A disk drive device for performing a laser power setting process for setting a laser power.
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、
上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正することを特徴とする請求項８に記載のディスクドライブ装置。The control means may include, in the correction processing,
Calculating first to x-th laser power correction values corresponding to the first to x-th test areas,
9. The disk drive device according to claim 8, wherein the first to x-th laser powers in the variable test recording process are corrected by the first to x-th laser power correction values.
上記固定テスト記録処理の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出することを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブ装置。The control means may include, in the correction processing,
The amplitude change rate near the fixed laser power during the fixed test recording process,
The first to x-th amplitude information in the fixed test recording process;
An average value of the first to x-th amplitude information in the fixed test recording process,
10. The disk drive device according to claim 9, wherein the first to x-th laser power correction values are calculated by a calculation using the following.
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、
上記可変テスト記録処理おける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正することを特徴とする請求項８に記載のディスクドライブ装置。The control means may include, in the correction processing,
Calculating first to x-th amplitude information correction values corresponding to the first to x-th test areas;
9. The disk drive device according to claim 8, wherein the first to x-th amplitude information in the variable test recording process is corrected by the first to x-th amplitude information correction values.
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出することを特徴とする請求項１１に記載のディスクドライブ装置。The control means may include, in the correction processing,
The first to x-th amplitude information in the fixed test recording process;
An average value of the first to x-th amplitude information in the fixed test recording process,
12. The disk drive device according to claim 11, wherein the first to x-th amplitude information correction values are calculated by using an arithmetic operation.
上記固定テスト記録処理において得られた上記第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認処理を、
さらに行うことを特徴とする請求項８に記載のディスクドライブ装置。The control means includes:
Whether the test area is appropriate or not is determined based on the first to x-th amplitude information obtained in the fixed test recording processing. If the test area is determined to be inappropriate, a test area confirmation processing for changing the test area is performed. ,
9. The disk drive according to claim 8, further performing the operation.
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