JP2004252037A - ブレ補正装置の光学式位置検出装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】光学式センサの固体差や使用される温度の影響を受けることなく、高ＳＮ比、及び、高分解能で正確にブレ補正光学系の位置を検出することができるブレ補正装置の光学式位置検出装置を、製品個々で調整等の手間をかけずに、安価に提供する。
【解決手段】所定の校正位置に補正レンズ３１を押し当てて、補正レンズ３１の位置が判っている状態で、補正レンズ３１の位置と補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係を理想的な関係に近づけるように、ＭＣＵ１の指示により発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１を用いて調整を行う。
【選択図】 図３
【解決手段】所定の校正位置に補正レンズ３１を押し当てて、補正レンズ３１の位置が判っている状態で、補正レンズ３１の位置と補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係を理想的な関係に近づけるように、ＭＣＵ１の指示により発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１を用いて調整を行う。
【選択図】 図３
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、カメラ等の撮像装置、双眼鏡等に使用され、ブレを補正するブレ補正装置の光学式位置検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種のブレ補正装置としては、ブレ補正光学系（以下、補正レンズとする）を撮影光軸に直交する面内で移動し、撮像面、フィルム面、又は、ファインダ内の像のブレを補正するものが知られている。
これらのブレ補正装置では、撮像装置、又は、双眼鏡等に生じた手振れによる角速度を検出し、又は、ビデオムービー等では、画像から像ブレ量を検出し、検出された手振れ量に応じて、撮影レンズの一部で構成される補正レンズを撮影光軸に直交し、かつ、互いに直交する２方向（以下、その内の１方向をＸ軸方向、他方向をＹ軸方向とする）に移動（以下、シフト移動とする）し、撮像面、フィルム面、又は、ファインダ内の像のブレを補正するものが知られている。
【０００３】
図１６は、銀塩一眼レフカメラの例について従来技術によるブレ補正装置をＸ軸方向、又は、Ｙ軸方向の何れか１方向の断面を模式的に示した図である。
交換レンズ４１は、カメラボディ４０に着脱可能に装着され、フィルム４３に像を結像する交換レンズである。
補正レンズ３１は、レンズ３０，３２と共に撮影レンズを形成し、可動部材３３に支持されているブレ補正光学系である。
可動部材３３は、光軸４２と直交する方向に補正レンズ３１と共にシフト移動する部材であり、ばね３４ａ，３４ｂにより交換レンズ４１側の部材に対して位置的に弾性的に支持されている。尚、可動部材３３の別の形態として、例えば、特許文献１によれば、補正レンズ３１の部材に取り付けられた滑り軸がカメラ本体の部材に対して直線的にスライドするように構成され、滑り軸に対しては、２つのコイルバネにより弾性的に中立位置付近に保持されるものがある。
このような構成の補正レンズをシフト移動する機構がこのシフト移動方向と直交する方向にもう一組構成され、光軸４１に直交する平面上を所定の可動範囲内で任意に移動が可能となる。
【０００４】
補正レンズ３１をシフト移動する手段としては、以下の構成によって形成されるムービングコイル型のアクチュエータが使用される。
図１６に示されるとおり、補正レンズ３１が固定されている可動部材３３には、コイル３７が取り付けられている。一方、交換レンズ４１側の部材には、２極に分極着磁されたマグネット３９と鉄等の透磁率の高い素材で作られたヨーク３８ａ，３８ｂがコイル３７を取り囲むように取り付けられ、一種の電磁的アクチュエータを構成している。
コイル３７に電流を流すと電磁気的な力を発生し、補正レンズ３１、及び、それを含む可動部材３３は、光軸にほぼ直交する方向に移動する。尚、補正レンズ３１のシフト可動範囲は、不図示の可動範囲制限手段によって、所定範囲に限られ、この範囲を越えて移動できないよう構成される。
【０００５】
次に、補正レンズ３１を略一定位置へ固定するいわゆるロック機構について説明する。
前述の補正レンズをシフト移動する機構の説明からも分かるとおり、補正レンズ３１は、コイル３７に通電し、補正レンズ３１を制御していない限り、補正レンズ３１及び可動部材３３等の重みにより重力方向に落下する。したがって、このままでは、補正レンズ３１は、その可動範囲の端に落下したままとなる。交換レンズ４１は、補正レンズ３１がその可動範囲のほぼ中央に位置する時に、光学性能が最も得られるように光学設計がなされている。したがって、ブレ補正が必要でない場合には、補正レンズを可動範囲の中央付近（光軸付近）に固定する必要があり、そのために、いわゆるロック機構が設けられている。
【０００６】
図１７は、補正レンズ３１を可動範囲の中央付近に固定するロック機構を模式的に示した図である。
補正レンズ３１が固定されている可動部材３３には、通常円形のロック穴３３ａが開けられている。一方、交換レンズ４１側の部材には、ロックピン４５を配置し、補正レンズ３１を中央付近にシフト移動したときに、ロック穴３３ａに挿入されるようになっている。以下、ロックピン４５がロック穴３３ａに挿入されている状態を、電磁ロック状態と呼び、ロックピン４５がロック穴３３ａから抜けている状態を、電磁ロック解除状態と呼ぶこととする。ロックピン４５の駆動は、ロックソレノイド４４により行われる。
ロックソレノイド４４は、透磁率の高い鉄等を素材とする可動鉄心（プランジャ），電磁ロック用コイル４７，吸着板４６等を備え、双安定状態をもつラッチソレノイドからなる駆動部であり、動作させる瞬間だけ通電すれば、その後、通電を止めても、電磁ロック状態、電磁ロック解除状態の２状態のいずれかを保持する。電磁ロック状態と電磁ロック解除状態との切り換えは、例えば電磁ロック状態では、電磁ロックしたときとは、逆の方向に電磁ロック用コイル４７に通電すると、電磁ロック解除状態に切り換わる。尚、図１７では、簡単のため、ロックピン４５をロックソレノイド４４の可動鉄心として示しているが、このようにせずに、ロックピン４５と可動鉄心とを別の部材として、これらを接続部材等を介して接続してもよい。
このような、補正レンズ３１をほぼその可動範囲の中央に電磁的に固定する機構を電磁ロック機構と呼ぶこととする。
【０００７】
従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置を検出する装置として、光学式位置検出装置が知られている。
図１８は、従来の補正レンズの位置検出装置を示す模式図である。
例えば、特許文献２によれば、図１６、及び、図１８に示すように、補正レンズ３１を含む可動部材３３には、補正レンズ３１のシフト移動する方向に対してその反射率が変化する反射板３６が検出板として取り付けられている。また、交換レンズ４１の固定部材側には、反射型のフォトリフレクタ３５が取り付けられている。フォトリフレクタ３５の発光部３５ａから発せられた光は、反射板３６によって反射し、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂに入射する。反射板３６で反射して受光部３５ｂに入射する光量は、補正レンズ３１の位置に依存して変化するため、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂに入射する光量を知ることで、補正レンズ３１の位置が検出される。
尚、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａは、電流を流すことにより赤外等の光を発するＬＥＤが使用され、受光部３５ｂは、入射光にほぼ比例した出力電流を得ることのできるフォトトランジスタが使用されるのが一般的である。このように構成される位置検出装置が、図１６、及び、図１８では、１軸のみ図示されているが、同様の構成の位置検出部がＸ軸方向、及び、Ｙ軸方向にそれぞれ存在し、Ｘ軸方向、及び、Ｙ軸方向の補正レンズ３１の位置が検出される。
【０００８】
ここで、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａ、及び、受光部３５ｂの回路について詳しく説明する。
まず、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａについて、その具体例を図１９を用いて説明する。
図１９は、従来のフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの駆動回路を示す図である。
発光部３５ａを構成するＬＥＤ（発光ダイオード）６０のアノードは、公知の技術を用いて一定の電圧ＶＬＥＤを有する電源に接続される。一方、ＬＥＤ６０のカソードは、可変抵抗Ｒ６０１に接続され、可変抵抗Ｒ６０１は、グラウンドに接続される。可変抵抗Ｒ６０１の抵抗値を調整することでＬＥＤ６０に流れる電流値ＩＦを調整可能になっている。
【０００９】
次に、図２０を用いてフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路を説明する。
図２０は、従来のフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路を示す図である。
受光部３５ｂを構成するフォトトランジスタＴＲ６１のコレクタは、公知の技術による一定電圧ＶＴＲの電源に接続され、エミッタは、演算増幅器ＯＰ６２、抵抗Ｒ６０２、コンデンサＣ６５１と基準電圧ＶＲＥＦ２を備える回路により、フォトトランジスタＴＲ６１のエミッタから出力されるエミッタ電流（出力電流）ｉｐが電圧に変換され、基準電圧ＶＲＥＦ２を基準に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとして出力される。尚、抵抗Ｒ６０２にパラレルに接続されるコンデンサＣ６５１は、フォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐに含まれる高周波ノイズをカットするものである。
【００１０】
図２１は、従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂから出力されるフォトリフレクタ出力電流ｉｐの関係を示すグラフである。
図２２は、従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路から出力される補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示すグラフである。
ここで、補正レンズ３１の位置変化に対して反射板３６の反射率を適切に変化させるよう構成し、更に、図１９に示される可変抵抗Ｒ６０１を可変させ、ＬＥＤ６０の駆動電流ＩＦを適切に調整したとする。この場合、図２１に示されるように、補正レンズ３１がその可動範囲内でシフト移動したときに、図２１の実線で示されるようにフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐは、ほぼリニアに変化するようになる。したがって、演算増幅器ＯＰ６２から出力される補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、図２２の実線で示されるとおり、補正レンズ３１の可動範囲において、ほぼ補正レンズ３１の位置に応じて変化する信号として出力される。尚、図２２に示される補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示す直線を補正レンズ位置信号直線と呼ぶこととする。
【００１１】
【特許文献１】
特開平４−３０１８２２号公報
【特許文献２】
特開平９−２８１５３８号公報
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来のブレ補正装置の光学式位置検出装置では、補正レンズ３１の位置検出に用いられるフォトリフレクタ３５の出力が安定しないという問題があった。この問題は、主に、以下に示す２つの要因により生じていた。
まず、第１に、フォトリフレクタ３５の個々の感度ばらつきを要因とする出力のばらつきである。一般的にフォトリフレクタ３５の感度ばらつきは、設計中心値に対して約１／２〜約２倍程度のばらつきが存在する。したがって、上述したような位置検出装置を用いたブレ補正装置では、装置個々でこの感度ばらつきを調整する必要があった。もし、この感度ばらつきを調整しないならば、例えば、図２２の２点鎖線で示されるように、フォトリフレクタ３５の受光回路の出力である補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、補正レンズ３１の可動範囲内でその有効ダイナミックレンジを外れて飽和してしまったり、飽和しないまでも補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係が変化してしまい、正確な補正レンズ位置の検出が不可能となったりすることがあった。また、この感度ばらつきを考慮して、発光部３５ａのＬＥＤ６０の光量を小さめにしたならば、有効ダイナミックレンジ内に収まりはするものの、補正レンズ３１の位置変化に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化量が小さくなり、Ｓ／Ｎ（ＳＮ比）、及び、検出分解能の良くない位置検出装置となってしまう。
【００１３】
このように、従来の光学式位置検出装置では、発光部３５ａの光量を製品個々で調整する必要があった。具体的には、例えば、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａのＬＥＤ６０を図１９の回路図を用いて駆動した場合、可変抵抗Ｒ６０１を調整し、補正レンズ３１がその可動範囲の中央に位置する時に、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがそのダイナミックレンジの中央の電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０になるよう調整する必要があった。これにより、製品個々の調整によるコストアップの問題が生じていた。
【００１４】
第２に、フォトリフレクタ３５の感度の温度依存性を要因とする出力のばらつきである。
上述の光学式位置検出装置が使用される製品の保証すべき使用温度範囲において、フォトリフレクタ３５の感度が３０％程度変動する素子がある。この場合、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を製品の出荷時に調整し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを可動範囲の中央でその有効ダイナミックレンジの中央値Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に合わせ込んだとしても、ユーザがその製品を使用する温度が調整された温度と大きくかけ離れたときには、フォトリフレクタ３５の感度が変化し、受光部３５ｂを構成するフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタの電流ｉｐが変化して、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが大きく変化してしまう。
【００１５】
例えば、調整時に図１９の可変抵抗Ｒ６０１により図２２の実線のように補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを調整しても、ユーザが使用する温度がこの調整された温度との相違が生じた場合、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂのフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐが、例えば、図２１の１点鎖線のように変化して、結果的に、補正レンズ３１の位置変化に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係が変化し、例えば、図２２の１点鎖線に示されるようになってしまう。補正レンズ３１の位置は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化により認識されるため、補正レンズ３１の位置が一定な位置にあっても補正レンズ３１の位置が変わったと誤認識されてしまい、正確な補正レンズ位置の検出が不可能であった。
【００１６】
また、図２２からも明らかなように、補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置を示す直線（補正レンズ位置信号直線）は、温度変化により、その傾きが変化する。上述の光学式位置検出装置が使用されるブレ補正装置においては、検出された振れに応じて補正レンズ３１をシフト移動させ、像面のブレを補正する。このため、補正レンズ位置信号直線の傾きが変化してしまうと、ブレ補正性能が大きく劣化してしまう。
【００１７】
本発明の課題は、光学式センサの固体差や使用される温度の影響を受けることなく、高ＳＮ比、及び、高分解能で正確にブレ補正光学系の位置を検出することができるブレ補正装置の光学式位置検出装置を、製品個々で調整等の手間をかけずに、安価に提供することである。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、以下のような解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付して説明するが、これに限定されるものではない。すなわち、請求項１の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じ、前記発光部に対して相対的に移動する部材（３３）に配置され、位置により異なる量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記検出板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に応じた受光量信号（ｉｐ）を出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号に処理を行い位置信号（Ｖｌｅｎｓ）を出力する受光信号処理部（７１）と、前記位置信号に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えるブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記ブレ補正光学系の位置を所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めする位置決め手段（１５，３３ｂ）と、前記位置演算部により得られる前記ブレ補正光学系の位置が正確な位置となる調整を、前記位置決め手段により前記ブレ補正光学系を前記所定位置に位置決めした状態で行う調整部（１）と、を備えること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００１９】
請求項２の発明は、請求項１に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め手段（１５）は、前記ブレ補正光学系（３１）の可動範囲を所定の範囲に制限する可動範囲制限手段と、前記可動範囲制限手段によって制限された前記可動範囲に少なくとも一箇所設けられた位置決め部（校正位置０’，１’，２’）へ前記ブレ補正光学系を駆動して当て付ける位置決め駆動部（１５）と、を備えること特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２０】
請求項３の発明は、請求項１に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め手段（１５，３３ｂ）は、前記ブレ補正光学系（３１）の可動範囲の略中央付近の限定範囲に、前記ブレ補正光学系が位置するように保持する中央保持手段（３３ｂ）と、前記中央保持手段によって保持された前記限定範囲に少なくとも一箇所設けられた位置決め部（校正位置０，１，２）へ前記ブレ補正光学系を駆動して当て付ける位置決め駆動部（１５）と、を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２１】
請求項４の発明は、請求項２又は請求項３に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記可動範囲及び／又は前記限定範囲は、略多角形形状であり、前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）は、前記略多角形形状の隅部であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２２】
請求項５の発明は、請求項２から請求項４までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め駆動部（１５）は、駆動前の前記ブレ補正光学系（３１）の位置から最も近い位置にある前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に、前記ブレ補正光学系を駆動して当て付けること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２３】
請求項６の発明は、請求項２から請求項５までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）の少なくとも１つは、装置が通常使用される姿勢における略重力方向に配置されている（校正位置０，０’）こと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２４】
請求項７の発明は、請求項２から請求項６までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）は、装置が通常使用される姿勢における略重力方向（校正位置０，０’）と略水平方向（校正位置１，２，１’，２’）とに配置されていること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２５】
請求項８の発明は、請求項６又は請求項７に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め駆動部（１５）は、前記ブレ補正光学系（３１）を前記重力方向へ駆動し、前記位置演算部（１）による演算結果から、前記ブレ補正光学系が所定量以上移動しないことが判明した場合には、そのまま前記ブレ補正光学系を前記位置決め部（校正位置０，０’）に当て付けること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２６】
請求項９の発明は、請求項６又は請求項７に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め駆動部（１５）は、前記ブレ補正光学系（３１）を前記重力方向へ駆動し、前記位置演算部（１）による演算結果から、前記ブレ補正光学系が所定量以上移動した場合には、前記ブレ補正光学系を前記略水平方向に駆動し、前記ブレ補正光学系を前記位置決め部（校正位置１，２，１’，２’）に当て付けること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２７】
請求項１０の発明は、請求項１から請求項９までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記調整部（１）は、前記発光部（３５ａ）の発光量を変更することにより、前記調整を行うこと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２８】
請求項１１の発明は、請求項１０に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記調整部（１）は、前記ブレ補正光学系（３１）が前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）にあるときの前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）が、狙い値となるように前記発光部（３５ａ）の発光量を調整するものであって、前記狙い値は、前記ブレ補正光学系の位置と、前記受光量信号又は前記位置信号と、の関係が、調整狙いである理想的関係である場合に得られる前記受光量信号又は前記位置信号であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２９】
請求項１２の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じ、前記発光部に対して相対的に移動する部材（３３）に配置され、位置により異なる量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記検出板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に応じた受光量信号（ｉｐ）を出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号に処理を行い位置信号（Ｖｌｅｎｓ）を出力する受光信号処理部（７１）と、前記位置信号に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えるブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記検出板による前記測定光の反射又は透過が無い場合の仮想的な前記受光量信号又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ００）と、前記ブレ補正光学系の位置（ＬＲ００）とにより定義される仮想原点に依存して求まり、かつ、調整狙いである理想的関係から求まる値に、前記受光量信号又は前記位置信号が略一致するように前記発光部の発光量の調整を行う調整部（１）を備えること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３０】
請求項１３の発明は、請求項１２に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記仮想原点では、前記発光部（３５ａ）が２以上の異なる発光量の発光をしたときの前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）と前記ブレ補正光学系の位置（ＬＲ）との関係を示す直線が交わること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３１】
請求項１４の発明は、請求項１３に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記発光部（３５ａ）が第１発光量で発光したときの前記ブレ補正光学系（３１）の動きに応じた前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）の変化を示す第１直線と、前記発光部が前記第１発光量とは異なる第２発光量で発光したときの前記ブレ補正光学系の動きに応じた前記受光量信号又は前記位置信号の変化を示す第２直線とが前記仮想原点で交わること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３２】
請求項１５の発明は、請求項１２から請求項１４までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記ブレ補正光学系（３１）の位置を所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めする位置決め手段（１５，３３ｂ）を備え、前記理想的関係は、前記仮想原点と、前記ブレ補正光学系の位置を前記所定位置としたときの前記受光量信号又は前記位置信号と、に依存して求まること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３３】
請求項１６の発明は、請求項１１から請求項１５までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記理想的関係は、前記ブレ補正光学系（３１）の可動範囲内で、前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）が有効ダイナミックレンジ内にあって、かつ、前記受光量信号又は前記位置信号のＳ／Ｎ比が高くなる関係であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３４】
請求項１７の発明は、請求項１１から請求項１６までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、書き換え可能な不揮発性記憶手段（１７）を有し、前記理想的関係に関する情報の少なくとも１つは、前記不揮発性記憶手段から読込むこと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３５】
請求項１８の発明は、請求項１から請求項１７までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置演算部（１）は、前記ブレ補正光学系を前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めしたときの位置（ＬＲ）と、前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）とから求まる、前記ブレ補正光学系の位置と前記受光量信号又は前記位置信号との関係により、前記ブレ補正光学系の位置を演算すること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３６】
請求項１９の発明は、請求項１８に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記ブレ補正光学系（３１）の位置（ＬＲ）と前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）との関係は、前記ブレ補正光学系を前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めしたときの位置と、前記受光量信号又は前記位置信号とに加えて、前記検出板（３６）による前記測定光の反射光又は透過光の変化直線の延長上にあって、前記検出板による前記測定光の反射又は透過が無い場合の仮想的な前記受光量信号又は前記位置信号と、前記ブレ補正光学系の位置とにより定義される仮想原点により、求まる関係であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３７】
請求項２０の発明は、請求項１８又は請求項１９に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、書き換え可能な不揮発性記憶手段（１７）を有し、前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）及び／又は前記仮想原点の位置と前記仮想原点における前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）は、前記不揮発性記憶手段から読込むこと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３８】
請求項２１の発明は、請求項１から請求項２０までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記受光部（３５ａ）は、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を前記受光量信号として出力し、前記受光信号処理部（７１）は、前記受光量信号から任意の可変電流（ｉｐ１）を減算し、前記可変電流を減算した前記受光量信号を電圧に変換して出力（Ｖｌｅｎｓ）すること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３９】
請求項２２の発明は、請求項１から請求項２０までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記受光部（３５ａ）は、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を前記受光量信号として出力し、前記受光信号処理部（図１３）は、前記受光量信号を電圧変換し、電圧変換された前記受光量信号から任意の可変電圧を減算して出力すること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４０】
請求項２３の発明は、請求項２１又は請求項２２に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記可変電流（ｉｐ１）又は前記可変電圧は、前記調整部（１）による前記調整を行う前後で異なる値であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４１】
請求項２４の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じて移動する部材（３３）に配置され、前記ブレ補正光学系の移動に応じた量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記被測定板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を受光量信号として出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号から任意の可変電流（ｉｐ１）を減算し、前記可変電流を減算した前記受光量信号を電圧に変換して出力する受光信号処理部（７１）と、前記受光信号処理部の出力に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４２】
請求項２５の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じて移動する部材（３３）に配置され、前記ブレ補正光学系の移動に応じた量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記被測定板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を受光量信号として出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号を電圧変換し、電圧変換された前記受光量信号から可変可能な電圧を減算して出力する受光信号処理部（図１３）と、前記受光信号処理部の出力に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４３】
請求項２６の発明は、請求項２４又は請求項２５に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記発光部（３５ａ）の発光量を調整する発光量調整部（１）を備えること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４４】
【発明の実施の形態】
以下、図面等を参照しながら、本発明の実施の形態について、更に詳しく説明する。
本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置は、銀塩一眼レフカメラの交換レンズに使用される装置である。
尚、ブレ補正光学系としての補正レンズを光軸に直交する２方向に移動する手段、補正レンズの位置を検出する手段等は、従来技術において説明したものと同一であり、それ以外の従来技術と相違する部分のみを説明する。具体的には、補正レンズの位置を検出する手段は、図１６，図１８に示した手段を用いるものとし、補正レンズを移動する手段は、図１８に示した手段を用いる。また、前述した従来技術と同様の機能を果たす部分には、同一の符号を付して説明する。
【００４５】
図１は、本実施形態における電磁ロック機構を模式的に示した図である。
本発明の従来技術との差は、まず、ロック穴３３ｂの形状にある。従来技術を示した図１７では、ロック穴３３ａは、丸形であったが、本実施形態では、図１に示すように、四角形とした。このロック穴３３ａは、補正レンズ３１の可動範囲の略中央付近にあって、四角形で限定される限定範囲に補正レンズ３１を保持する中央保持手段となる。
本実施形態では、銀塩一眼レフカメラの交換レンズにブレ補正装置を使用しているので、カメラが使用される可能性の高い姿勢において、補正レンズ３１と共に可動部材３３が重力方向に移動したときに、ロックピン４５の近くにロック穴３３ｂの隅部が移動する位置に、ロック穴３３ｂの隅部を配置している。
【００４６】
具体的に説明すると、銀塩カメラ，電子スチルカメラいずれの場合であっても、撮影時におけるカメラの姿勢は、横位置（正位置）と縦位置が大部分であり、縦位置は、更に、右側が上になる場合と、左側が上になる場合とに分けることができる。すなわち、カメラが使用される可能性の高い姿勢としては、横位置姿勢，右側が上になる姿勢，左側が上になる姿勢の３姿勢を想定すればよい。
そこで、ユーザが横位置で構えた場合に対応して、図１における上方向に、ロック穴３３ｂの四角形の隅部が位置するように配置し、縦位置に構えた場合に対応して、図１における右横と左横方向にロック穴３３ｂの四角形の隅部が位置するように配置する。言い換えると、カメラが通常使用される姿勢（横位置）における重力方向と、水平方向に、隅部が位置するように配置している。
これにより、補正レンズ３１が電磁ロックされた状態で、ユーザが通常に構えた場合、つまり、斜めに構えた場合や真上、又は、真下等の何れも希なケースを除けば、重力により補正レンズ３１及び可動部材３３が移動して、ロックピン４５がロック穴３３ｂの四角形の隅部のいずれかに位置し、補正レンズ３１の位置が定まる。
尚、ここでは、重力方向及び水平方向として説明しているが、これは、厳密に決める必要はなく、大まかに重力方向及び水平方向であればよい。
【００４７】
一方、図１７に示した従来技術では、ロック穴３３ａは、丸形であり、隅部を有さない形状である。したがって、補正レンズ３１が電磁ロックされた状態で、補正レンズ３１は、ほぼ重力方向に落ち（移動し）、概略の位置は定まるが、位置的に自由度を持ち、正確な位置が定まらない。
尚、補正レンズ３１を電磁ロックしようとする場合に、ロックピン４５がロック穴３３ｂに無理なく挿入されるよう、ロック穴３３ｂの大きさは、ロックピン４５の外形より大きめになっている。
【００４８】
本実施形態では、従来技術と異なり、補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを検出する手段として、フォトインタラプタ４８を設けている。フォトインタラプタ４８は、その発光部と受光部がロックピン４７を挟むように配置されている。電磁ロック状態では、フォトインタラプタ４８の発光部から投光された光がロックピン４７により遮光され、フォトインタラプタ４８の受光部に入射しないようになり、また、電磁ロック解除状態では、フォトインタラプタ４８の発光部からの光が受光部に入射するように構成されている。よって、フォトインタラプタ４８の出力である電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１が電磁ロック状態であるか電磁ロック解除状態であるかが認識可能である。
【００４９】
本実施形態におけるブレ補正装置の上述した部分以外については、従来と同様の形態であり、ロック用コイル４７に所定の方向の通電を行うことによりロックピン４５がロック穴３３ｂに挿入され、補正レンズ３１を電磁ロックする。また、電磁ロックを行うときとは、逆の方向の通電をロック用コイル４７に行うことにより、電磁ロックピン４５をロック穴３３ｂから抜き、補正レンズ３１を電磁ロック解除する。
【００５０】
（補正レンズの可動範囲）
図２は、図１に示される電磁ロック機構、特にロック穴３３ｂを四角形状とした時の電磁ロック状態と、電磁ロック解除状態での補正レンズ３１の可動範囲について説明する図である。図２（ａ）は、補正レンズ３１の可動範囲を示しており、黒丸が補正レンズ３１の位置を示し、Ｘ軸とＹ軸との交点を可動範囲の中心として示している。図２（ｂ）は、図２（ａ）に示す校正位置０，２での可動部材３３のロック穴３３ｂとロックピン４５との位置関係を示している。
【００５１】
図２（ａ）の可動範囲を示す図と、図２（ｂ）に示すロック穴３３ｂとロックピン４５との位置関係を示す図とは、一見すると似ているが、図２（ｂ）では、ロックピン４５が固定されていて、補正レンズ３１及び可動部材３３が移動するので、ロック穴３３ｂの四角形状が移動するようになっている。これに対して、図２（ａ）では、ロック穴３３ｂの四角形状により決まる補正レンズ３１及び可動部材３３の可動範囲を固定して（四角形状を固定して）示し、黒丸は、ロックピン４５ではなく、補正レンズ３１及び可動部材３３の位置を表している。したがって、例えば、校正位置０において、図２（ａ）では、黒丸が四角形状の下方向（図中の下方向）にあるが、図２（ｂ）では、ロックピン４５が四角形状の上方向（図中の上方向）となっている。尚、後に説明する図８，９，１０では、図２（ａ）と同様にして、補正レンズ３１の可動範囲を示している。
【００５２】
前述したように、ロック穴３３ｂの大きさは、ロックピン４５の外形より大きめになっている。したがって、補正レンズ３１は、電磁ロック状態では、ロックピン４５とロック穴３３ｂの隙間分、つまり、ガタ分だけ移動可能であり、ロック穴３３ｂの穴形状によって、補正レンズ３１の可動範囲は、四角形となる。
【００５３】
電磁ロック状態でユーザがカメラを横位置で構えた場合、補正レンズ３１は、可動部材３３と共に重力方向に落ち込み、図２（ａ）の黒丸（図２（ｂ）では、実線）で示した校正位置０（校正位置の定義、詳細に関しては、後述する）に位置する。また、縦位置に構えた場合、同様に補正レンズ３１は、校正位置１、又は、校正位置２（図２（ｂ）では、破線で示す）に位置することとなる。
【００５４】
一方、電磁ロック解除状態では、公知の技術を用いた可動範囲制限手段により、補正レンズ３１の可動範囲を、ほぼ正八角形に制限する。本実施形態では、ユーザがカメラを横位置、又は、縦位置に構えた場合に補正レンズ３１がこの八角形の８つの隅部の何れかの位置に止まるようにするため、図２（ａ）に示されるように、横位置及び縦位置それぞれにおける重力方向に上記隅部が配置されるように、可動範囲を設定し、校正位置０’、校正位置１’、及び、校正位置２’を配置する。
尚、電磁ロック解除状態における補正レンズ３１の可動範囲は、八角形に限らず、例えば、四角形である場合には、八角形の場合と同様に、ユーザが横位置、縦位置それぞれに構えた場合に重力方向となる位置に角の部分が配置されるようにする（この時の補正レンズ３１の可動範囲を図２（ａ）に点線で示す）。
【００５５】
（電気ハードウエア）
次に、本実施形態における電気ハードウエアについて説明する。
図３は、本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置の電気回路ブロック図である。
尚、ブレ補正装置の光学式位置検出装置としては、Ｘ軸方向及びＹ軸方向それぞれに対して補正レンズ３１の位置検出を行う回路が必要であるが、同様の回路、同様の動作であるため、１方向分の回路図を示し、その動作を説明する。また、各回路，素子等を動作させる電源、その他電気的な回路等が必要であるが、本発明の主意に関連しないため省略する。
本実施形態における光学式位置検出装置は、電気回路として、ＭＣＵ１，補正レンズ駆動回路１５，電磁ロック駆動回路１６，ＥＥＰＲＯＭ１７，フォトインタラプタ４８，発光部駆動回路７０，受光信号処理回路７１等を備えている。
【００５６】
ＭＣＵ１は、ワンチップマイクロコンピュータであり、交換レンズ４１内に設けられている。ＭＣＵ１は、後述の受光信号処理回路７１のアナログ出力をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器１ａ、受光信号処理回路７１からの信号に基づき補正レンズ３１の位置を演算する位置演算部、後述する調整を制御する調整部、及び、後述する時間等を計測するためのタイマ等の機能をその内部に有している。
ＭＣＵ１には、補正レンズ駆動回路１５，電磁ロック駆動回路１６，ＥＥＰＲＯＭ１７，フォトインタラプタ４８，発光部駆動回路７０，受光信号処理回路７１等が接続されており、各種信号の演算及び伝達を行っている。
【００５７】
補正レンズ駆動回路１５は、ＭＣＵ１からの駆動回路操作信号Ｓ３により操作され、Ｘ軸とＹ軸の補正レンズ駆動用コイル３７（Ｘ軸用の補正レンズ駆動用コイルを３７ａ、Ｙ軸用補正レンズ駆動用コイルを３７ｂとする）を駆動する回路であり、ブレ補正を行うときの駆動部として機能すると共に、調整を行うときの位置決め駆動部としても機能する。
【００５８】
電磁ロック駆動回路１６は、ＭＣＵ１からの駆動回路操作信号Ｓ４により操作され、電磁ロック用コイル３３の通電を行い、ロックピン４５の駆動を行う回路である。
【００５９】
ＥＥＰＲＯＭ１７は、各種調整値等を必要な時に書き込み、及び、読み込みが可能な、書き換え可能な不揮発性記憶手段である。
【００６０】
フォトインタラプタ４８は、図１により説明した補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを検出するフォトインタラプタであり、電磁ロック状態信号をＭＣＵ１に伝える。尚、フォトインタラプタ４８の電源、及び、処理回路等は、公知の技術により実現し、ＭＣＵ１は、フォトインタラプタ４８から出力される電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１の電磁ロック状態が認識できる。
【００６１】
発光部駆動回路７０は、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａ（ＬＥＤ１１）の発光を行うと共に、発光量の調整を行うことができる回路である。
ＬＥＤ１１は、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａであって、本実施形態では、ＬＥＤ（発光ダイオード）を使用しているので、回路の説明においては、ＬＥＤ１１として説明する。
ＬＥＤ１１は、トランジスタＴＲ１１３，抵抗Ｒ１０１，演算増幅器ＯＰ１１１を有する公知の定電流回路により駆動される。つまり、演算増幅器ＯＰ１１１の＋入力電圧に比例した電流ＩＦがＬＥＤ１１に流れる。
Ｄ／Ａ変換器１３は、ＭＣＵ１からのＤ／Ａ操作信号Ｓ１によって設定されたディジタル値をアナログ値に変換し、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦとして出力するＤ／Ａ変換器である。演算増幅器ＯＰ１１１の＋入力には、Ｄ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦが接続され、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、その出力である光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧をほぼ任意に可変することができる。
【００６２】
ＬＥＤ１１に流れる電流値ＩＦは、Ｄ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧をＶＩＦ、抵抗Ｒ１０１の抵抗値をＲ１とすると、以下に示す式（１）により与えられる。
ＩＦ≒ＶＩＦ／Ｒ１ …式（１）
図４は、ＬＥＤ１１に流れる電流値ＩＦとＤ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧ＶＩＦとの関係の一例を示す図である。
一般的にＬＥＤに流れる電流とＬＥＤから出力される光量は、ほぼ比例する関係にあることが知られていて、本実施形態におけるＬＥＤ１１も同様に駆動電流ＩＦにほぼ比例した光量の測定光がＬＥＤ１１から投光される。したがって、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１により、ＬＥＤ１１に流れる電流を任意に操作して、ＬＥＤ１１の光量を任意に操作することが可能である。
【００６３】
受光信号処理回路７１は、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂ（フォトトランジスタＴＲ１２）が出力する出力電流ｉｐに処理を行い位置信号を出力する受光信号処理部である。
フォトトランジスタＴＲ１２は、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂであるが、本実施形態では、フォトトランジスタを使用しているので、回路の説明においては、フォトトランジスタＴＲ１２として説明する。
フォトトランジスタＴＲ１２のコレクタは、公知の技術による一定電圧ＶＴＲの電源に接続されている。フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタは、演算増幅器ＯＰ１１２，抵抗Ｒ１０２，抵抗Ｒ１０３，コンデンサＣ１５１と基準電圧ＶＲＥＦ１とを有する受光信号処理回路７１により、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタからの出力電流ｉｐ（受光量信号）からオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧、及び、抵抗Ｒ１０３の抵抗値に依存する電流ｉｐ１（可変電流）が差し引かれた電流ｉｐ２が、電圧に変換され、基準電圧ＶＲＥＦ１を基準に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとして出力される。
また、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔとしてほぼ任意な電圧を出力させることができる。
【００６４】
抵抗Ｒ１０２，Ｒ１０３の抵抗値をそれぞれＲ２、Ｒ３とし、Ｄ／Ａ変換器１４の出力であるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧をＶｏｆｆｓｅｔ、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓとすると、以下に示す式（２）〜式（４）の関係が成り立つ。
Ｖｌｅｎｓ＝ＶＲＥＦ１−ｉｐ２×Ｒ２ …式（２）
ｉｐ１＝（ＶＲＥＦ１−Ｖｏｆｆｓｅｔ）／Ｒ３ …式（３）
ｉｐ＝ｉｐ１＋ｉｐ２ …式（４）
したがって、式（２）〜式（４）の関係から、以下の式（５）の関係が成り立つ。
Ｖｌｅｎｓ＝ＶＲＥＦ１＋（ＶＲＥＦ１−Ｖｏｆｆｓｅｔ）×Ｒ２／Ｒ３−ｉｐ×Ｒ２ …式（５）
【００６５】
このように、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧は、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧に比例して、その出力電圧を減算、つまり、電圧シフトさせることができる。したがって、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔは、ＭＣＵ１がＤ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作して変更することが可能であるから、ＭＣＵ１により、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧を任意の電圧を減算、つまり、電圧シフトすることが可能である。
尚、抵抗Ｒ１０２にパラレルに接続されるコンデンサＣ１５１は、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐに含まれる、又は、受光信号処理回路７１から発生する高周波ノイズをカットするものであり、ノイズ成分が十分低ければ省略してもよい。
【００６６】
（発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１の基本的な動作）
次に、発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１の基本的な動作について説明する。
まず、従来技術との相違、効果をより明確にするために、従来技術による動作として、図２０に示す受光信号処理回路を有する場合を例に挙げて説明する。
図５は、従来技術及び本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号の関係を示すグラフである。
従来技術の受光信号処理回路において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、基準電圧ＶＲＥＦ２を基準として出力され、発光部３５ａのＬＥＤ６０を非発光とした場合、受光部３５ｂのフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐがゼロとなり、補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係（補正レンズ位置信号直線）は、図５の２重線に示されるようになる。
従来技術では、補正レンズ３１が、その可動範囲の中央（この位置を補正レンズ位置＝０とする）に位置している状態で、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を変更し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの有効ダイナミックレンズ内におさまるよう光量調整を行う。具体的には、図１９で示される抵抗Ｒ６０１の抵抗値を変更し、ＬＥＤ６０の駆動電流ＩＦを変更する。これにより、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジのほぼ中央に設けられた合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に調整される。
しかし、従来技術では、補正レンズ可動範囲において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、ほんの少ししか電圧変化せず、有効ダイナミックレンジのほんの一部しか使用されていない。
【００６７】
これに対して、本実施形態による受光信号処理回路７１によれば、式（２）〜式（５）に示すように、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を変更することで補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をシフトさせることができる。
これを、図５を用いて更に詳しく説明する。
オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を受光信号処理回路７１の基準となる基準電圧ＶＲＥＦ１と同一とした場合、電流ｉｐ１は、ゼロとなり、図２０に示される従来技術による受光信号処理回路と動作が同一となる。したがって、この場合、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、本回路の基準電圧ＶＲＥＦ１を基準として出力され、発光部３５ａのＬＥＤ１１を非発光とした場合、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐがゼロとなり、補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係は、図５の２重線に示されるようになる（図５では、従来技術と比較するため、本発明による図３に示される受光信号処理回路７１の基準電圧ＶＲＥＦ１と従来技術における図２０の受光信号処理回路の基準電圧ＶＲＥＦ２が同一としている）。
【００６８】
この状態で、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを変更した場合を考える。フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐ＝０であるから、式（５）より、この時の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓ００とすると、この電圧は、以下の式（６）で与えられる。
Ｖｌｅｎｓ００＝ＶＲＥＦ１＋（ＶＲＥＦ１−Ｖｏｆｆｓｅｔ）×Ｒ２／Ｒ３…式（６）
オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を基準電圧ＶＲＥＦ１より低い電圧としたならば、図５の２点鎖線で示されるように補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、従来技術による図５の２重線で示される出力電圧ＶＲＥＦ２（＝ＶＲＥＦ１）より高い電圧が出力される（実際には、図５の例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力の有効ダイナミックレンジを越えて飽和してしまうため、あくまでも仮想的な電圧である）。
【００６９】
次に、補正レンズ３１がその可動範囲の中央、つまり、補正レンズ位置＝０に位置している状態で、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を変更し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの有効ダイナミックレンズ内におさまるように光量調整を行う。具体的には、ＭＣＵ１がＤ／Ａ変換器１３をＤ／Ａ操作信号Ｓ１により操作し、Ｄ／Ａ変換器の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更して、ＬＥＤ１１の駆動電流ＩＦを変更する。
このようにして、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジのほぼ中央に設けられた合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に調整される。この光量調整後の補正レンズ位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を図５の実線で示す。
【００７０】
上述のように、本実施形態によれば、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを適宜調整し、その状態で補正レンズ位置が所定の位置に位置する状態で、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが所定の電圧になるよう発光部の光量を調整することにより、補正レンズ３１の可能範囲内で、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓのダイナミックレンジを十分有効に使用することが可能となる。したがって、従来技術における補正レンズ位置信号ＶｌｅｎｓのＳ／Ｎの問題が解決できる。尚、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓの電圧は、フォトリフレクタ３５の発光部３５ｂの光量を調整した場合に、補正レンズ位置信号直線が、補正レンズ３１の可動範囲においてその有効ダイナミックレンジ内におさまり、かつ、極力、その傾きが急峻となり、補正レンズ位置の変化に対して補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの大きな変化が得られるように設定する。
【００７１】
以上、説明したように、従来技術の問題であったフォトリフレクタ３５の個々の感度ばらつき、及び、温度変化による感度変化は、受光信号処理回路７１とＭＣＵ１による操作信号Ｓ１により調整される。また、詳細な具体例については、後述するが、ＭＣＵ１がＤ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、ＭＣＵ１により自動的に光量調整が可能となるので、製品個々で調整する必要がなくなる。
【００７２】
（光学式位置検出装置の校正動作）
以上説明したように、本実施形態によれば、フォトリフレクタ３５の感度ばらつき、感度温度依存性による補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧を調整することが可能である。
しかし、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、正しい補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを得るためには、補正レンズ３１の位置が正確に判かっている状態で調整を行う必要がある。しかし、前述したように、補正レンズ３１がどこに存在するのか正確に知ることができない。例えば、補正レンズ３１が電磁ロック解除状態である場合、補正レンズ３１は、その可動範囲内のどこにあるのかが特定できない。よって、補正レンズ３１が電磁ロック状態されていたとしてもその可動範囲は、狭められるもののロック穴３３ａとロックピン４５とのガタ内のどこにいるのかが特定できない。この状態で前述のようにフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを所定電圧に調整できたとしても検出される補正レンズ３１の位置は、この狙いとする位置（上記の例では、可動中心位置）に対する実際の補正レンズ３１の位置分だけ誤差を生じてしまう。
【００７３】
そこで、本発明では、補正レンズ３１を特定の位置に位置決めし、その特定位置において、フォトリフレクタ３５の光量を調整する等、正確な補正レンズ位置を検出するために、各種調整動作を組合わせて、光学式位置検出装置の校正動作を行う。
具体的には、校正動作１：仮光量調整，校正動作２：補正レンズの位置決め，校正動作３：オフセット調整と光量調整，校正動作４：光量調整誤差補正動作を行い、光学式位置検出装置の校正動作とする。
尚、これら一連の校正動作は、ユーザがカメラの電源を入れた直後又はブレ補正を行うモードにした直後に行われるので、撮影直前の温度条件等を加味した調整となる。
【００７４】
（光学式位置検出装置の校正動作の概要）
各校正動作を詳細に説明する前に、これらの動作の概要について説明する。
校正動作１：光量仮調整では、補正レンズ３１がどこの位置に存在するかが特定できない状態で、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を仮調整し、補正レンズ３１がどの位置に位置していても、また、その後、補正レンズ３１をその可動範囲のどこに駆動しても補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが飽和しないようにする。
校正動作２：補正レンズの位置決めでは、現在の補正レンズ３１の位置に最も近い校正位置に補正レンズ３１を駆動して、位置決めする。
校正動作３：オフセット調整と光量調整では、駆動された校正位置に応じてフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、光量調整後に残る光量調整誤差の影響を排除するため、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧等を基に補正レンズ位置を校正し、補正レンズ３１の位置を正確に検出可能な状態にする。
校正動作４：誤差補正では、補正レンズ位置の検出誤差を補正し、更に正確な補正レンズ３１の位置検出を可能にする。
以下、これら各校正動作について、詳細に説明する。
【００７５】
（校正動作１：光量仮調整）
光量仮調整では、補正レンズ３１が可動中心に位置するものと仮定して、補正レンズ３１がどこの位置にあったとしても、また、この光量仮調整後、補正レンズ３１をどの位置に駆動しても補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジ内におさまり、飽和しないように光量を低めに調整する。
図６は、本実施形態における光量仮調整のタイミングチャートである。
図７は、本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号との関係を示すグラフである。
【００７６】
まず、現時点で、発光部３５ａの駆動回路の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦ、及び、受光部３５ｂの処理回路のオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔは、以下に示す式（７）、式（８）で示される電圧となっているものとする。
Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦ＝ＶＩＦ０ …式（７）
Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ＝Ｖｏｆｆｓｅｔ０ …式（８）
ここで、例えば、ＶＩＦ０＝０、Ｖｏｆｆｓｅｔ０＝０である。ＭＣＵ１は、少なくとも光量仮調整動作の前に、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１、及び、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２により、Ｄ／Ａ変換器１３、及び、Ｄ／Ａ変換器１４を操作し、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦ、及び、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを式（７）、及び、式（８）の電圧に設定する。本状態では、図６に示されるとおり、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、飽和した状態にある。
【００７７】
次に、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２により、Ｄ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを以下に示す式（９）のように、受光部３５ｂの処理回路の基準電圧ＶＲＥＦ１にする（図６のタイミングｔ１に相当する）。
Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ＝ＶＲＥＦ１ …式（９）
これにより、図６、及び、図７に示されるとおり、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジ内の電圧でほぼ受光部３５ｂ処理回路の基準電圧ＶＲＥＦ１となる。
【００７８】
次に、少なくともタイミングｔ１においてオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを変更してから、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ０経過後のタイミングｔ２において、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更することで、発光部３４ａの光量を調整し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジ範囲内のほぼ中央に設けられた所定の合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０になるように合わせ込む。
具体的には、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、所定間隔ＴＩＦ＿ａｄｊ１毎に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか低いかにより、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを徐々に変更して行く（図６のタイミングｔ２〜タイミングｔ５に相当する）。
【００７９】
分かり易く説明するため、今、Ｄ／Ａ変換器１３として分解能８ビット型のＤ／Ａ変換器を用いるものとして説明を続ける。
具体的には、第ｎ番目の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧をＶＩＦｎ（ｎ＝１，２，３‥‥，８）とすると、以下に示す式（１０）で示される電圧に変更し、徐々に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に合わせ込む。
ＶＩＦｎ＝ＶＩＦｎ−１±ＶＲＥＦ＿ＤＡ／（２ｎ ） …式（１０）
ここで、ＶＩＦｎ−１は、１回前の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧であり、ｎ＝１の場合、ＶＩＦｎ−１は、ＶＩＦ０である。また、ＶＲＥＦ＿ＤＡは、Ｄ／Ａ変換器１３の基準電圧であり、式（１０）の±符号は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高い場合に＋とし、それ以外の場合に−とする。この動作を、ｎ＝８となるまで繰り返す。
【００８０】
上記調整の動作を、図６に沿って説明する。
ＭＣＵ１は、タイミングｔ１においてＤ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを基準電圧ＶＲＥＦ１としてから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ０経過したタイミングｔ２において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを、ＭＣＵ１の内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出し、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか否かを判定する。図６に示される例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高いため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を＋として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ１を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【００８１】
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ２において、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更してから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ３において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを、ＭＣＵ１の内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出し、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか否かを判定する。図６に示される例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高いため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を＋として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ２を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【００８２】
更に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ３において光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更してから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ４において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを、ＭＣＵ１の内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出し、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか否かを判定する。図６に示される例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高くないため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を−として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ３を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【００８３】
以上の動作をｎ＝８（図６では、ｎ＝８となるタイミングがｔ５に相当する）となるまで繰り返すことで、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、徐々に合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に合わせ込まれて行く。
【００８４】
このようにして合わせ込まれた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓと補正レンズ３１の位置との関係を、図７を参照して説明する。
前述の光量仮調整動作を補正レンズ３１がその可動中心位置（図７中の点ａに相当）に位置しているときに行った場合には、実線のように、また、補正レンズ３１がその可動範囲の右端（図７の点ｂに相当）に位置しているときに行った場合には、一点鎖線のように、更に、補正レンズ３１がその可動範囲の左端（図７の点ｃに相当）に位置しているときに行った場合には、二点鎖線のようになる。何れの場合であっても、補正レンズ３１の可動範囲内で補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジ内におさまる。
【００８５】
以上説明した光量仮調整の動作によって、光量が仮調整された後の補正レンズ３１の位置（これをＬＲとする）は、補正レンズ３１の可動範囲の中央を０とした場合、以下に示す式（１１）により算出される。
ＬＲ＝Ｋγ×（Ｖｌｅｎｓ−Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０） …式（１１）
ここで、Ｋγは、補正レンズ位置信号直線の傾きの逆数に相当するもので、以下に示す式（１２）によって算出する。
Ｋγ＝（０−ＬＲ００）／（Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０−ＶＲＥＦ１） …式（１２）
【００８６】
ここで、式（１２）におけるＬＲ００、及び、Ｖｌｅｎｓ００について説明する。図７における点Ａに相当する点（仮想原点）は、図７の補正レンズ位置信号直線の延長線上に位置する点であって、仮想的に受光部３５ｂのフォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐがゼロとなる補正レンズ位置であり、その時の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧である。また、発光部３５ａの光量を変化させても補正レンズ位置信号直線は、常にこの点Ａと交わるようになる点である。この点を以降、補正レンズ位置の仮想原点と呼ぶこととする。したがって、式（１２）のＬＲ００，及び、Ｖｌｅｎｓ００は、この仮想原点の補正レンズ位置、及び、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧を示し、式（１２）は、図７の実線で示される補正レンズ位置算出直線の傾きの逆数を、仮想原点（点Ａ）と点ａの座標を基に算出したものである。
このＬＲ００，及び、Ｖｌｅｎｓ００は、反射板３６の貼り合わせ位置の誤差により変化し、また、受光信号処理回路７１の素子の特性、例えば、演算増幅器ＯＰ１１２のオフセット電圧、オフセット電流、又は、基準電圧ＶＲＥＦ１のばらつき等でカメラ毎に変化するため、調整値として、予めＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んでおくものとする。したがって、ＭＣＵ１は、この調整値であるＬＲ００、及び、Ｖｌｅｎｓ００をＥＥＰＲＯＭ１７から読み込んで使用する。
【００８７】
尚、光量仮調整動作時の補正レンズ３１がどの位置に位置しているかが不明である。したがって、式（１１），式（１２）で算出さえる補正レンズ位置ＬＲは、あくまでも補正レンズ３１が、０、つまり、その可動範囲中央に位置する状態で光量仮調整した場合には、正確に算出されるが、図７からも明らかなように、補正レンズ３１が可動中心からずれた位置で光量仮調整が行われると、ずれた分だけ算出される誤差が大きくなる。
後述する補正レンズ３１の最寄りの校正位置への駆動動作によって、式（１１），式（１２）を用いて補正レンズ位置ＬＲを算出するが、この時、正確な補正レンズ位置を必要としないため、問題はない。
【００８８】
（校正動作２：補正レンズの位置決め）
次に、補正レンズ３１の位置決め動作を行うが、この動作を説明する前に、補正レンズ３１を位置決めする所定の位置決め部について説明する。以下、この位置決め部のことをこの位置において校正を行うことから校正位置と呼ぶこととする。
校正位置については、既に示した図２に表されている。図２における補正レンズ位置３１の座標は、本実施形態のカメラをユーザが横位置に構えた場合に垂直上方向となる方向をＹ軸＋、ユーザの右手で操作する側に配置されているレリーズ釦（不図示）を上に向けて縦位置に構えた場合に上となる方向をＸ軸＋として定義した。
【００８９】
校正位置は、以下のような考え方から決める。本実施形態のカメラをユーザが使用する場合を想定し、ユーザが通常に構えた場合、補正レンズ３１が最も存在する確率の高い位置を校正位置とする。
まず、補正レンズ３１が電磁ロック状態にある場合には、ユーザがカメラを横位置で構えた場合を想定し、補正レンズ３１は、重力方向に落下しているとして、電磁ロック状態での可動範囲の一角の重力方向とし、この位置を校正位置０とする。また、ユーザが縦位置に構えた場合も想定するが、この場合には、レリーズ釦側を上に構えるか下に構えるか２通り考えられるため、それぞれの重力のかかる方向に対して図２に示されるとおり、校正位置１、及び、校正位置２を定義する。尚、ユーザが天地逆さまにカメラを構えることは、可能性が低いとして、ここでは、校正位置を設けないものとするが、必要であればその場合に重力方向となる補正レンズ３１の可動範囲の最後の一角を校正位置として追加してもよい。
【００９０】
一方、電磁ロック解除状状態では、補正レンズ３１の可動範囲がほぼ正八角形に制限された場合、ユーザがカメラを横位置、又は、縦位置に構えた場合に補正レンズ３１がこの八角形の各角の位置に位置するよう、図２に示されるように可動範囲を配置し、校正位置０’、校正位置１’、及び、校正位置２’を配置する。また、補正レンズ３１が電磁ロック解除状態である場合の補正レンズ３１の可能範囲が、四角形である場合には、八角形の場合と同様に、ユーザが横位置、縦位置それぞれに構えた場合に重力方向となる位置に角の部分が配置されるようにする（この場合の補正レンズ３１の可動範囲を図２に点線で示す）。
【００９１】
さて、校正動作１（光量仮調整）を終えた段階では、補正レンズ３１がどこの位置にあるかが不明である。そこで、以下に説明する校正動作２（補正レンズの位置決め動作）を行い、補正レンズ３１を前述のように定義した６つの校正位置の内、最寄りの校正位置に駆動して位置決めし、補正レンズ３１の位置を確定する。
【００９２】
一般的に、ユーザがカメラを構える場合、横位置に構える場合が最も多い。したがって、本実施形態においても、最初の動作は、ユーザがカメラを横位置に構えているものと仮定した動作を行う。このように仮定する場合、最寄りの校正位置は、校正位置０、又は、校正位置０’であり、その方向に補正レンズ３１を駆動する。具体的には、横位置に構えた場合に重力方向となる方向（＝Ｙ軸−方向）に補正レンズ３１を駆動して、補正レンズ３１がその可動範囲の端部に即座に停止するかを確認する。
ユーザが横位置に構えていれば補正レンズ３１は、重力によって落下する方向、つまり、Ｙ軸−方向にあり、補正レンズ３１は、校正位置０、又は、校正位置０’付近に位置しているはずである。よって、ほぼ即座に停止すれば、そのときの最寄りの校正位置は、校正位置０、又は、校正位置０’であり、この位置への押し付け動作が完了したとする。
【００９３】
もし、補正レンズ３１が停止しなければ、具体的には、所定量以上移動した場合には、ユーザは、本カメラを縦位置に構えているものと仮定をし直す。この場合、最寄りの校正位置は、校正位置１、校正位置１’、又は、校正位置２、校正位置２’であり、その方向に補正レンズを駆動する。具体的には、その前のＹ軸に駆動した時の補正レンズ３１のＸ軸方向に移動した方向により、重力のかかっている方向を認識し、重力のかかっている方向にＸ軸を駆動して、可動範囲の端に押し付ける。
【００９４】
この動作を、図８及び図９を参照して更に詳しく説明する。
図８は、本実施形態における補正レンズ３１の位置決め動作を示す模式図である。図８では、補正レンズ３１が電磁ロック状態にあるとき、ユーザがカメラを縦位置に構えた場合の一例を示しており、電磁ロック状態での補正レンズ３１の可動範囲を太実線で示し、補正レンズ３１の位置を黒丸で示している。
まず、最初に最寄りの校正位置が校正位置０であると仮定し、補正レンズ３１をＹ軸−方向に駆動する（図８（ａ）に相当する）が、補正レンズ３１がＹ軸方向に大きく移動した（図８の（ｂ）に相当する）ため、最寄りの校正位置は、校正位置０ではない（横位置に構えていない）と判断する。
次に、Ｘ軸方向に駆動する方向を変える。駆動する向きは、図８（ａ）の状態から図８（ｂ）の状態までの間にＹ軸方向に駆動したときのＸ軸方向へ移動した向きから判断する。この例の場合、Ｘ軸＋方向に補正レンズ３１が移動したので、その移動した向きとは逆向き、つまり、Ｘ軸−方向が重力方向である。したがって、この場合、その方向にある校正位置１が最寄りの校正位置であるとして、Ｘ軸−方向に補正レンズ３１を駆動（図８の（ｃ）に相当する）し、補正レンズ３１が校正位置１に押し付けられる（図８の（ｄ）に相当する）。
【００９５】
図９は、本実施形態における補正レンズを最寄りの校正位置へ駆動する動作を示すタイミングチャートである。図９では、カメラを横位置で構えた場合の動作の１例を破線で示し、縦位置に構えた場合の例を実線で示している。
ＭＣＵ１は、タイミングｔ１１において、駆動回路操作信号Ｓ３により補正レンズ駆動回路１５を操作し、Ｙ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ｂを駆動する。この時、Ｘ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ａは、非通電とする。
具体的には、前述の光量仮調整動作により検出可能となったＹ軸の補正レンズ位置ＬＲをモニタしつつ、Ｙ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ｂを通電し、補正レンズ３１がＹ軸−方向へ移動するように、公知の技術により制御を行う。
【００９６】
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ１１においてＹ軸の補正レンズ３１の制御を開始してから少なくともその制御が安定するまでの所定時間ＴＬＲａｄｊ１を経過したタイミングｔ１２から、補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否か、及び、補正レンズ３１が所定量以上移動したか否かを判定する。
具体的には、ＭＣＵ１は、式（１１）、及び、式（１２）に示される数式により算出された補正レンズ３１のＹ軸の位置ＬＲ（Ｙ）を、以下に示す式（１３）により微分演算し、補正レンズ３１のＹ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）を算出する。又は、補正レンズ３１のＹ軸の位置ＬＲ（Ｙ）の所定時間の変化量としてＹ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）を算出してもよい。
ＶＲ（Ｙ）＝ｄＬＲ（Ｙ）／ｄｔ …式（１３）
【００９７】
ＭＣＵ１で行われる前述の補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否かの判定は、このようにして算出されたＹ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）が、又は、補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下であるか否かにより判定する。補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止すれば、補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）は、ほぼゼロとなるはずであり、このことから判定することができる。
【００９８】
また、ＭＣＵ１で行われる補正レンズ３１が所定量以上移動したか否かの判定は、前述のタイミングｔ１１において補正レンズ３１をＹ軸−方向に駆動を開始する直前のＹ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｙ）を保持し、この位置をＬＲ１（Ｙ）とし、このＬＲ１（Ｙ）を基準に現在のＹ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｙ）が所定値ＬＲａｄｊｔｈ０以上離れた位置にあるかにより行う。
【００９９】
ユーザがカメラを横位置に構えた場合、補正レンズ３１は、重力により校正位置０、又は、校正位置０’近辺に落ちた状態にあり、図９の例（点線で示す例）では、前述のＭＣＵ１の動作により、タイミングｔ１３において補正レンズ３１の可動範囲の端に押し付けられてぶつかり、ほぼ停止する。したがって、Ｙ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）がほぼゼロ近辺となる。よって、Ｙ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下となり、補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止したと判断される。このようにして、補正レンズ３１の校正位置０、又は、校正位置０’への駆動が完了し、本補正レンズの最寄りの校正位置への駆動動作を終了する。
また、ＭＣＵ１は、フォトインタラプタ４８からの電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを認識し、押し付けている校正位置が、校正位置０であるのか校正位置０’であるのかを認識する。
【０１００】
次に、ユーザが本カメラを縦位置に構えた場合には、補正レンズ３１は、本動作前には、重力により校正位置１，校正位置１’、又は、校正位置２，校正位置２’の近辺にある。前述のＭＣＵ１の動作によって補正レンズ３１をＹ軸−方向に駆動をすると、横位置に構えた場合とは異なり、すぐには、可動範囲の端にぶつからない。したがって、前述したＭＣＵ１による補正レンズ３１が所定量以上移動したか否かの判定により、Ｙ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｙ）が所定量ＬＲａｄｊｔｈ０以上移動したと判定される。
【０１０１】
尚、所定値ＬＲａｄｊｔｈ０は、ユーザが本カメラを横位置に構えた場合であって、補正レンズをＹ軸−方向に駆動したときに、校正位置０、又は、校正位置０近辺に位置する補正レンズ３１がＹ軸方向に移動量する量よりは、大きく設定する。
また、所定値ＬＲａｄｊｔｈ０は、縦位置に構えた場合であって、補正レンズをＹ軸−に駆動したときに、校正位置１，校正位置１、又は、校正位置２，校正位置２’近辺に位置する補正レンズ３１がＹ軸方向に移動量する量よりは、小さく設定する。
【０１０２】
図９の実線で示される例では、タイミングｔ１４において、補正レンズ３１が、本動作前のＹ軸の位置ＬＲ１（Ｙ）に対して所定量ＬＲａｄｊｔｈ０以上移動し、タイミングｔ１４においてＭＣＵ１にそれが認識される。この場合、補正レンズ３１の最寄りの校正位置は、校正位置０，校正位置０’ではない。つまり、ユーザが横位置に構えていないとして、次に、タイミングｔ１５からは、Ｙ軸の補正レンズの駆動を停止して、Ｘ軸の駆動を開始する。具体的には、以下のとおりである。
ＭＣＵ１は、タイミングｔ１５において、駆動回路操作信号Ｓ３により補正レンズ駆動回路１５を操作し、Ｙ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ｂを駆動する。つまり、前述の光量仮調整動作により検出可能となったＸ軸の補正レンズ位置ＬＲをモニタしつつ、Ｘ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ａを通電し、補正レンズ３１を公知の技術によりＸ軸の後述する方向へ移動するように制御する。また、このとき、Ｘ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ａは、非通電とする。
【０１０３】
補正レンズ３１のＸ軸の駆動方向は、以下のような方法によって決定する。補正レンズ３１が校正位置１、又は、校正位置１’近辺にあり、つまり、その方向が重力方向ならば、タイミングｔ１１からタイミングｔ１５の間に補正レンズ３１は、その可動範囲の形状からＸ軸方向の＋方向に移動するはずである。また、これとは逆に、補正レンズ３１が校正位置２、又は、校正位置２’近辺にあり、つまり、その方向が重力方向ならば、タイミングｔ１１からタイミングｔ１５の間に補正レンズ３１は、その可動範囲の形状からＸ軸方向の−方向に移動するはずである。したがって、ＭＣＵ１は、タイミングｔ１１においてＹ軸の駆動を開始する直前のＸ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｘ）を保持しておき、これをＬＲ１（Ｘ）とすると、この位置を基準として、タイミングｔ１５においてＹ軸の駆動を停止する直前のＸ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｘ）（これをＬＲ２（Ｘ）とする）から、補正レンズ３１がＸ軸のどちらの方向に移動したかにより補正レンズ３１の駆動方向を決定する。
具体的には、ＭＣＵ１は、ＬＲ１（Ｘ）を基準にＬＲ２（Ｘ）がＸ軸の＋方向に移動したならば、最寄りの校正位置は、校正位置１、又は、校正位置１’であるとして、その校正位置の方向、つまり、Ｘ軸の−方向に補正レンズ３１を駆動する。逆に、ＬＲ１（Ｘ）を基準にＬＲ２（Ｘ）がＸ軸の−方向に移動したならば、最寄りの校正位置は、校正位置２、又は、校正位置２’であるとして、その校正位置の方向、つまり、Ｘ軸の＋方向に補正レンズ３１を駆動する。
【０１０４】
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ１５において、Ｘ軸の補正レンズ３１の制御を開始してから少なくともその制御が安定するまでの所定時間ＴＬＲａｄｊ１を経過したタイミングｔ１６からは、補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否かを、前述のタイミングｔ１２からの動作と同様の方法により判定する。
つまり、ＭＣＵ１は、算出された補正レンズ３１のＸ軸の位置ＬＲ（Ｘ）を式（１３）に示されるように微分演算し、又は、補正レンズ３１のＸ軸の位置ＬＲ（Ｘ）の所定時間の変化量としてＸ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）を算出し、Ｘ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）が、又は、補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下であるか否かにより、補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否かを判定する。
補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止すれば、補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）は、ほぼゼロとなるはずであり、本判定は、このことから判定を行う。
【０１０５】
図９において、実線で示される例では、タイミングｔ１７において補正レンズ３１の可動範囲の端に押し付けられてぶつかり、ほぼ停止し、したがって、Ｘ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）がほぼゼロ近辺となる。これにより、Ｙ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下となり、補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止したと判断される。これにより、補正レンズ３１の校正位置１，校正位置１’、又は、校正位置２，校正位置２’への駆動が完了し、本補正レンズの最寄りの校正位置への駆動動作を終了する。
【０１０６】
また、ＭＣＵ１は、補正レンズ３１をＸ軸方向で押し付けている向きから、校正位置が校正位置１，校正位置１’であるのか、校正位置２，校正位置２’であるかを認識する。更に、ＭＣＵ１は、フォトインタラプタ４８からの電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを認識し、押し付けている校正位置が、校正位置１か校正位置１’か、又は、校正位置２か校正位置２’かを認識する。したがって、押し付けている校正位置が６つの内の何れであるのかを確定することができる。
【０１０７】
尚、上記例では、ユーザが横位置、又は、縦位置でカメラを構えた場合を想定したが、希な例として、ユーザがカメラを天地逆、又は、上向き、下向きに構えた場合等、補正レンズ３１が６つ設定した校正位置のどこの位置近辺にも位置しない場合が有り得る。しかし、この場合にも、前述の方法によれば、補正レンズ３１は、必ず、６つある校正位置の内、どれか１つの位置に押しつけ駆動され、位置決めされる。
【０１０８】
以上のように、補正レンズ３１を最寄りの校正位置へ駆動する動作により、補正レンズ３１は、何れかの校正位置へ押しつけ駆動が完了する。本動作により、補正レンズ３１がこの所定の位置である校正位置へ正確に位置決めがなされる。加えて、この校正位置は、補正レンズ３１の可動範囲の角に配置したことにより、補正レンズ３１の位置決め精度は、より高精度なものとなっている。
【０１０９】
以上の動作では、補正レンズ３１を駆動するので、補正レンズ３１が若干移動し、カメラのファインダ像が移動する場合が生じるが、この量は、微量である。つまり、ユーザが横位置にて構えた場合、補正レンズ３１は、校正位置０，又は、校正位置０’近辺の可動範囲の端に落ちた状態にあり、補正レンズ３１の最寄りの位置への駆動動作により補正レンズ３１が移動する量は、微量である。また、ユーザが縦位置に構えた場合、補正レンズ３１が所定以上移動したかの移動量の判定値ＬＲａｄｊｔｈ０を必要最小限に抑えれば、ユーザがファインダで違和感を与えない程度に抑えることができる。ユーザがカメラを天地逆、又は、上向き、下向きに構えた場合には、ファインダで認識できる程、補正レンズ３１が移動するが、これは、希なケースである。
【０１１０】
（校正動作３：オフセット調整と光量調整）
次に、補正レンズ３１が校正位置に位置決めされた状態で行われるフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量調整動作について述べる。
ここでは、補正レンズ３１を押し付け、位置決めしている校正位置に応じて算出される光量値にフォトリフレクタ３５の発光部３５ａを調整する。
先に説明したように、受光信号処理回路７１を用いれば、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を適切に設定し、その状態で補正レンズ３１が既知の位置、具体例として補正レンズ３１がその可動中心位置に位置する場合にフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整したならば、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジを十分有効に使用されるようになる。
しかし、本実施形態では、補正レンズ３１を可動中心位置に位置決めすることができない。
そこで、本実施形態では、可動中心位置に位置決めする代わりに、６つ設定した校正位置に位置決めして、校正を行う。
【０１１１】
図１０は、補正レンズ３１の位置決めされた校正位置と理想的な光量調整直線との関係を示す図である。
補正レンズ３１が移動可能な範囲（電磁ロック解除状態での補正レンズ３１の可動範囲）で移動した場合に、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジを十分有効に使用するようにオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ電圧を決定する。具体的には、図１０に示されるとおり、補正レンズ位置ＬＲがその移動可能な範囲、つまり、可動範囲において補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが少なくともその有効ダイナミックレンジ内におさまり、かつ、その傾きが極力大きくなるような理想的関係となる光量調整理想直線を設定する。
【０１１２】
図１０の例では、補正レンズ３１の可動中心（補正レンズ位置ＬＲ＝０の位置）において補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジ中央に設けられた所定の合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０を通り、補正レンズ３１の可動範囲において、有効ダイナミックレンジのほぼ全領域を使用するように光量調整理想直線を決定した。図１０には、この決定された光量調整理想直線が実線で示されている。
【０１１３】
この光量調整理想直線になるように、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを決定する。反射板３６の貼り合わせ誤差等がなく、補正レンズ位置検出の機構が理想的（設計称呼値）に出来上がっていれば、図１０の黒丸で示される仮想原点（この点の補正レンズ位置座標をＬＲ００，補正レンズ位置信号電圧をＶｌｅｎｓ００’とする）のＬＲ００は、一意的に決まり、図１０からも明らかなように、実線で示される光量調整理想直線の延長線上の点としてＶｌｅｎｓ００’が決定される。
【０１１４】
Ｖｌｅｎｓ００’が決定されれば、前述したように、式（５）におけるフォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐがゼロの時に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧がＶｌｅｎｓ００’となるようにオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧が求まり、これをオフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０とすると、Ｖｏｆｆｓｅｔ０は、以下の式（１４）で示される。
Ｖｏｆｆｓｅｔ０＝ＶＲＥＦ１−（Ｖｌｅｎｓ００’−ＶＲＥＦ１）×Ｒ３／Ｒ２ …式（１４）
【０１１５】
ただし、実際には、反射板３６の貼り合わせ位置誤差等を含むので、補正レンズ３１の位置を検出する機構の設計値から仮想原点のＬＲ００、及び、Ｖｌｅｎｓ００’が変化するため、このオフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０は、調整値とする。また、オフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０を調整値としても実際には、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを出力するＤ／Ａ変換器１４の出力電圧の誤差、及び、受光部３５ｂの処理回路を構成する抵抗等の素子の誤差から、Ｖｌｅｎｓ００’は、やはり製品個々でばらつきを生じるため、オフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０を、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが有効ダイナミックレンジに有効におさまるように決定し、その後、仮想原点の座標（ＬＲ００，Ｖｌｅｎｓ００’）を測定し、調整値として製品個々で固有の値として持つこととする。
【０１１６】
ここで、仮想原点の決定方法（測定方法）について説明する。
仮想原点は、その定義に示されるとおり、発光部５３ａの光量を変更しても、常に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが一定となる座標として求めることができる。したがって、仮想原点を求めるには、発光部５３ａを少なくとも２つ以上の異なる光量値で発光させ、そのときの補正レンズ位置ＬＲに対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係を示す直線の交わる点として算出すればよい。
具体的には、最初に、発光部５３を第１発光量で発光させて、その状態で少なくとも２箇所の補正レンズ位置ＬＲに対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを得て、第１発光量における補正レンズの動きに応じた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化を示す第１直線を求める。
次に、発光部５３の発光量を第１発光量とは異なる第２発光量で発光させて、第１直線を求めたときと同様にして、第２発光量における補正レンズの動きに応じた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化を示す第２直線を求める。
第１直線及び第２直線を求めることができれば、これら２直線の交点の座標＝仮想原点の座標として求めることができる。
こうして求まる仮想原点の座標値を調整値としてＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んでおくものとする。
【０１１７】
以上のようにして正確に求まった仮想原点座標（ＬＲ００，Ｖｌｅｎｓ００’）と補正レンズ３１の可動中心にて所定の合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０を通る光量調整理想直線は、以下に示す式（１５）で示され、また、この光量調整理想直線に理想的に発光部５３ａの光量が合わせ込まれたときの補正レンズ位置ＬＲは、以下に示す式（１６）によって算出される。
Ｖｌｅｎｓ＝Ｋγ０×ＬＲ＋Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ …式（１５）
ＬＲ＝１／Ｋγ０×（Ｖｌｅｎｓ−Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０） …式（１６）
尚、Ｋγ０は、光量調整理想直線の傾きを示し、式（１７）で与えられる。
Ｋγ０＝（Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０−Ｖｌｅｎｓ００’）／（０−ＬＲ００） …式（１７）
【０１１８】
本実施形態では、各校正位置において、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、光量調整理想直線に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを合わせ込む。したがって、今、校正位置ｋ（ｋ＝０，１，２，０’，１’，２’）とし、校正位置ｋの補正レンズ位置座標をＬＲａｄｊｋとすると、校正位置ｋの合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋは、式（１５）を基に、以下に示す式（１８）で算出される。
Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋ＝Ｋγ×ＬＲａｄｊｋ＋Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ …式（１８）
ここで、校正位置ｋの座標ＬＲａｄｊ０ｋは、補正レンズ３１の位置を検出する機構、及び、補正レンズ３２の可動範囲を制限する機構、又は、電磁ロック機構のロック穴３３ａ、及び、ロックピン４５等の機械的寸法等のばらつきにより変化し、製品個々により異なるため、個々の製品で調整により決定し、ＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んでおくものとする。
【０１１９】
以上の説明により、補正レンズ３１を押しつけ、位置決めされている校正位置の座標に依存して、仮想原点座標から算出される光量調整理想直線から補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの合わせ込み電圧を式（１８）により算出し、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を調整して、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓをその算出された各校正位置の合わせ込み電圧に調整すれば、式（１７）により正確な補正レンズ位置ＬＲが算出されることが明らかとなった。
【０１２０】
次に、具体的な光量調整の動作を以下に述べる。
図１１は、光量調整動作の具体例を示すタイミングチャートである。
まず、調整前の初期状態は、前述のように補正レンズ３１は、６つある校正位置の何れかの校正位置に押し付けられ位置決めされた状態にあり、Ｘ軸方向、又は、Ｙ軸方向に補正レンズ３１が駆動され続けている状態にある。これから述べる光量調製動作は、この状態のまま、つまり、補正レンズ３１を駆動したままの状態で行われる。尚、Ｄ／Ａ変換器１３は、分解能８ビット型のＤ／Ａ変換器を用いるものとして説明する。
【０１２１】
ＭＣＵ１は、タイミングｔ２１において、前述の方法で決められたオフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０をＥＥＰＲＯＭ１７から読み出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔから出力する。
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ２２において、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、以下に示す式（１９）による電圧ＶＩＦ１１を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
ＶＩＦ１１＝ＶＲＥＦ＿ＤＡ／２ …式（１９）
ここで、ＶＲＥＦ＿ＤＡは、Ｄ／Ａ変換器１３の基準電圧であり、式（１９）は、このＤ／Ａ変換器の基準電圧の半分の電圧を出力することを意味する。
【０１２２】
次に、タイミングｔ２２において光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを操作してから、少なくともそれにより補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ２３からは、前述の方法で決められた、現在押し付けて位置決めされている校正位置ｋ（ｋは、０，０’，１，１’，２，２’のいずれか）の補正レンズ位置座標ＬＲａｄｊｋをＥＥＰＲＯＭ１７から読み出し、式（１８）を用いて校正位置ｋの合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋを算出し、その合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋに対して、ＭＣＵ１に内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧が、高いか否かを判定し、式（１０）により、ｎ＝１２以降の光量調整信号電圧ＶＩＦｎ（ｎ＝１２，１３，１４、‥‥１８）を算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された光量調整信号電圧ＶＩＦｎを光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
尚、光量調整信号電圧ＶＩＦｎにおいて、ｎ＝１２の時のＶＩＦｎ−１は、式（１９）で示されるＶＩＦ１１である。
【０１２３】
また、式（１０）の±符号は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋより高い場合に＋とし、それ以外の場合に−とする。このタイミングｔ２３の動作を、ｎ＝１２〜１８まで、所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１間隔で繰り返す。
図１１に示される例では、タイミングｔ２３において補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋより高いため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を＋として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ１２を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【０１２４】
次に、タイミングｔ２３で光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更してから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが安定するまでの所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ２４では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高くないため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を−として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ１３を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力している。
【０１２５】
以上の動作をｎ＝１８（図１１では、ｎ＝１８となるタイミングがｔ２５に相当する）となるまで所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１間隔で繰り返すことにより、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、徐々に合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋに合わせ込まれて行く。
このようにして合わせ込まれた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧は、図１０に示される光量調整理想直線上又はごく近くにあり、したがって、式（１６）を用いて、ほぼ正確な補正レンズ位置ＬＲを算出可能となる。
【０１２６】
（校正動作４：光量調整誤差補正動作）
以上説明した校正動作１〜３を行うことにより、ほぼ正確な補正レンズ位置ＬＲを算出可能となる。
しかし、実際には、Ｄ／Ａ変換器１３の量子化分解能は、有限であり、また、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａとその駆動回路、及び、受光部３５ｂと受光信号処理回路７１を構成する素子等の特性ばらつき等がある。よって、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧は、この光量調整理想直線から若干の誤差を生じてしまう。
この誤差が本発明を適用する製品において、許容できない場合には、以下に説明する方法でこの光量調整誤差による補正レンズ位置ＬＲの誤差を補正する。
【０１２７】
ここで行う光量調整誤差補正動作は、光量調整理想直線と実際に光量調整動作により調整された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧との差による補正レンズ位置の検出誤差を補正し、正確な補正レンズ３１の位置検出を行えるようにする。
光量調整誤差補正動作は、図１１を用いて説明した光量調整動作の最後に光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧を変更したタイミング（図１１のタイミングｔ２５に相当する）から、その変更による補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化が少なくとも安定するまでの所定時間ＴＩＦａｄｊ１経過後の、図１１のおけるタイミングｔ２６で行う動作であり、本状態では、補正レンズ３１の校正位置への押しつけ駆動による位置決めが継続している状態で行われる。
【０１２８】
図１２は、光量調整理想直線と、実際に光量調整動作により調整された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示す図である。
前述のとおり、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量値に関係なく、補正レンズ位置ＬＲと、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係を示す直線は、必ず仮想原点を通る。よって、光量調整により光量調整誤差を生じて、光量調整理想直線（図１２の一点鎖線で示す）からずれた実際の直線（図１２の実線で示す直線）も仮想原点を通る直線となる。
【０１２９】
ここで、図１１におけるタイミングｔ２６の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧、つまり、前述した光量調整動作により調整された実際の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓ＿ａｄｊｋとして、図１２に点Ｍとして示す。
この点Ｍ、つまり、補正レンズ３１の位置が、押し付けている校正位置の位置座標ＬＲａｄｊｋで、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧がＶｌｅｎｓ＿ａｄｊｋの点と、仮想原点座標を結んだ直線から正確な補正レンズ位置ＬＲが算出される。
【０１３０】
具体的には、ＭＣＵ１は、以下に示す式（２０）により補正レンズ位置ＬＲを算出する。
ＬＲ＝１／Ｋγ×（Ｖｌｅｎｓ−Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊｋ）＋ＬＲａｄｊｋ …式（２０）
尚、式（２０）で用いられるＫγは、図１２の実線の傾きに相当するものであり、以下に示す式（２１）により得られる。
Ｋγ＝（Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊｋ−Ｖｌｅｎｓ００’）／（ＬＲａｄｊｋ−ＬＲ００） …式（２１）
【０１３１】
尚、先にも述べたが、式（２０），式（２１）で用いられる校正位置ｋ（ｋ＝０，０’，１，１’，２，２’）の座標ＬＲａｄｊｋ、及び、仮想原点座標（ＬＲ００，Ｖｌｅｎｓ００’）は、調整値であり、ＭＣＵ１は、公知の技術により予め記憶されている値をＥＥＰＲＯＭ１７から読み出して使用する。
最後に、このように正確な補正レンズ位置が算出されると、現在行われている補正レンズ３１の校正位置への押しつけ駆動は、必要なくなる。図１１の例では、ＭＣＵ１は、タイミングｔ２７において、駆動回路操作信号Ｓ３により補正レンズ駆動回路１５を操作し、補正レンズ駆動用コイル３７ａ（Ｘ軸用）、又は、補正レンズ駆動用コイル３７ｂ（Ｙ軸用）への通電を非通電にし、補正レンズ３１の押しつけ駆動を終了する。
【０１３２】
本実施形態によれば、校正動作１の仮光量調整により、補正レンズ３１が何れの位置にあっても位置を検出することができるように調整した。そして、校正動作２の補正レンズの位置決めを行うことにより、補正レンズ３１の位置を確定した後、校正動作３のオフセット調整と光量調整を行うので、補正レンズ３１の位置をほぼ正確に検出することができる。
また、校正動作４の光量調整誤差補正動作を行うので、より高精度に位置検出を行うことができる。
これら一連の校正動作を、ユーザがカメラの電源を入れた直後又はブレ補正を行うモードにした直後に行うことにより、撮影直前の温度条件等を加味した調整が行われ、フォトリフレクタ３５の個体差や温度依存性によらず、安定して高精度な位置検出を行うことができる。
更に、これらの校正動作は、ＭＣＵ１の指示により発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１を用いて行われるので、製品の製造時に製品個々で調整等の手間をかけることなく、位置検出を正確に行うことができる。
更にまた、補正レンズ３１の可動範囲を多角形形状としたので、位置決めの精度が高くなり、より正確な校正動作を行うことができる。
【０１３３】
（変形形態）
以上説明した実施形態に限定されることなく、種々の変形や変更が可能であって、それらも本発明の均等の範囲内である。
（１）本発明は、理想的には、実施形態において説明したように、校正動作１の仮光量調整、校正動作２の補正レンズの位置決め駆動動作、校正動作３のオフセット調整と光量調整、及び、校正動作４の光量調整誤差補正動作を行い、かつ、補正レンズの可動範囲を多角形化すること等の全てを実施されることが精度の観点では、望ましい。これら全てを実施したブレ補正装置の光学式位置検出装置では、本発明が解決しようとする課題の全てを解決し、より、精度の高いブレ補正光学系の位置検出を実現することができる。
しかし、前述の各動作（各発明）単体でも、それぞれが課題に対して効果を有しており、これら本発明の一部のみを実施してもよい。以下に、その例（１−１〜１−１０）を挙げて説明する。
【０１３４】
（１−１）補正レンズ３１の電磁ロック解除状態での可動範囲、又は、電磁ロック状態での可動範囲を多角形とせず、従来通りの略丸型としてもよい。この場合、前述の補正レンズの最寄りの校正位置への駆動動作により、可動範囲が多角形のものに比べれば精度は落ちるが、ある程度の精度をもって補正レンズ３１の位置決めは可能であり、その後に行われる、校正動作３のオフセット調整と光量調整、及び、校正動作４の光量調整誤差補正動作により従来に比べ、補正レンズ位置の検出精度は、大きく向上する。
【０１３５】
（１−２）校正動作３のオフセット調整と光量調整、及び、校正動作４の光量調整誤差補正動作等で用いたフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの出力電流がゼロとなる仮想的な受光部処理回路の出力、つまり、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧とその時の補正レンズ位置を示す仮想原点の座標は、ＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んだ調整値としたが、補正レンズ位置検出メカ、及び、発光部３５ａ、受光部３５ｂやその回路等が理想的ならば一意的に求まり、その場合には、仮想原点の座標を固定値としてもよい。
また、これらのばらつきが許容できる範囲である場合にも、仮想原点の座標を固定値としてもよい。
【０１３６】
（１−３）フォトリフレクタ３５の感度ばらつきは、従来技術により、例えば、図１９に示されるような回路でばらつきを調整し、第２の課題であったフォトリフレクタ３５の温度依存性に関して本発明を適用することができる。その場合、例えば、校正動作１の仮光量調整，校正動作３のオフセット調整と光量調整は、必ずしも行う必要はない。
具体的には、製品の使用される温度範囲において、個々の製品で補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが変化しても出力の飽和等が生じないように発光部３５ａの光量を若干小さめに調整しておき、校正動作２の補正レンズの位置決め動作により、補正レンズ３１は、正確に位置決めされ、次に、校正動作４の光量調整誤差補正動作を行わせることによって、周囲温度が調整時の温度と異なったためにフォトリフレクタ３５の感度が変化し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが変化、補正レンズ位置直線が変化したとしても、光量調整誤差補正動作により、この変化を排除して正確な補正レンズ位置が検出可能となる。
【０１３７】
（１−４）仮に、フォトリフレクタ３５の感度のばらつき、又は、温度変動等の影響を、従来技術により調整したり、又は、特性のよいフォトリフレクタを使用することにより、これらばらつきに関する問題を解決したとしても、本発明によるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂ、及び、受光信号処理回路７１とこれに関連した動作は、補正レンズ位置信号ＶｌｅｎｓのＳ／Ｎの拡大、及び、検出分解能の向上に大きく寄与するので、これらと重複して実施してもよい。
図５、及び、その説明に示されるとおり、従来技術により得られる補正レンズ位置信号の傾きに比べ、より大きい傾きを得ることができ、補正レンズ位置信号のＳ／Ｎ、検出分解能が向上し、したがって、補正レンズ位置の検出精度を向上することができる。
【０１３８】
（１−５）校正動作４の光量調整誤差補正動作は、必ずしも必要ではない。前述した校正動作２の補正レンズの位置決め動作により、補正レンズ３１が正確に位置決めされ、その後行われる校正動作３のにより、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋに許容可能な誤差範囲内になるように発光部３５ｂの光量調整がなされたならば、補正レンズ位置直線は、光量調整理想直線に許容範囲の誤差量で常に一致し、補正レンズ位置ＬＲは、常にこの光量調整理想直線から求めることができる。すなわち、補正レンズ３１の位置決めと、その位置でのオフセット調整と光量調整動作のみで補正レンズ位置を正確に算出することが可能である。よって、校正動作４の光量調整誤差補正動作を省略しても、光学式位置検出装置の校正が可能となる。
【０１３９】
（１−６）第１実施形態に記載された回路、数式等は、これに限定されるものではなく、様々な変更が可能である。
例えば、図３に示されるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの受光信号処理回路７１は、図１３に示す形態としてもよい。
図１３は、受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−６を示す回路図である。図１３に示した回路は、図３における受光部３５ｂの受光信号処理回路７１と同様の動作をさせることができる。
具体的には、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂを構成するフォトトランジスタＴＲ１２のコレクタは、公知の技術による一定電圧ＶＴＲの電源に接続され、エミッタは、抵抗Ｒ３０２を介してＧＮＤに接続され、抵抗Ｒ３０２によりエミッタ電流ｉｐが電圧に変化される、電圧に変換された出力は、図３におけるＤ／Ａ変換器１４からのオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを基準に演算増幅器ＯＰ３１２、抵抗Ｒ３０３、Ｒ３０４により非反転増幅され、補正レンズ位置信号ＶｌｅｎｓとしてＭＣＵ１に出力される。
ここで、抵抗Ｒ３０２、Ｒ３０３、Ｒ３０４の抵抗値をそれぞれＲ２、Ｒ３、Ｒ４とし、Ｄ／Ａ変換器１４の出力であるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧をＶｏｆｆｓｅｔ（可変電圧）、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓとすると、以下に示す式（２２）の関係が成り立つ。
Ｖｌｅｎｓ＝Ｒ２×（１＋Ｒ４／Ｒ３）×ｉｐ−Ｒ４／Ｒ３×Ｖｏｆｆｓｅｔ…式（２２）
式（２２）からも分かるように、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐが非反転増幅されて出力されるか反転増幅されて出力されるか、及び、エミッタ電流ｉｐ、及び、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧に対する出力利得に相違があるだけで図３におけるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路の動作を示す式（５）と実質的に何ら変わらない動作をさせることができる。従って、適当に抵抗Ｒ３０２、Ｒ３０３、Ｒ３０５に抵抗値を選択すれば、第１実施形態において説明した、仮光量調整動作，補正レンズの位置決め動作，オフセット調整と光量調整動作，光量調整誤差補正動作を、ほぼ同様に実現することができ、正確な補正レンズ３１の位置検出が可能となる。
【０１４０】
（１−７）図１４は、受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−７を示す回路図である。図１４に示す回路は、図３に示されるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の抵抗Ｒ１０３を可変抵抗とし、Ｄ／Ａ変換器１４を用いない形式とした回路である。本回路は、図３における受光信号処理回路７１の動作を示す式（５）のＶｏｆｆｓｅｔ＝０とした動作を行う。本回路の場合は、第１実施形態のＭＣＵ１で行われるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔのＤ／Ａ変換器１４で行われていたものを可変抵抗Ｒ２０３の抵抗値を調整することで行う。この場合、第１実施形態における校正動作１の仮光量調整時、及び、校正動作３のオフセット調整と光量調整時で異なるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ電圧を選択することができない。従って、製品個々の調整後は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを電圧シフトすることができない。そこで、校正動作１の仮光量調整、及び、校正動作３のオフセット調整と光量調整の双方で両立するように、つまり、校正動作１の仮光量調整時に補正レンズ３１が可動範囲で移動した場合に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが飽和しないように、また、校正動作３のオフセット調整と光量調整時に、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが補正レンズ３１の可動範囲において極力大きな電圧変化を得られるように抵抗Ｒ２０３を変更するものとする。
【０１４１】
（１−８）図１５は、受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−８を示す回路図である。図１５に示す回路は、第１実施形態における受光信号処理回路７１を変形した図１４の回路構成のまま、可変抵抗Ｒ４０３の抵抗値をＭＣＵ１により変更可能な可変抵抗Ｒ５０３とした回路である。
図１５の可変抵抗Ｒ５０３は、その外部から抵抗値を変更可能なように構成された素子である。本回路は、図１４と同様に、式（５）のＶｏｆｆｓｅｔ＝０とした動作となり、前述のＭＣＵ１で行われるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔのＤ／Ａ変換器１４で行われていたものをＭＣＵ１の抵抗値操作信号Ｓ５により行い、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧を任意にシフトさせることができる。従って、校正動作１の仮光量調整、及び、校正動作３のオフセット調整と光量調整時にオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを操作してそれぞれ最適な補正レンズ位置直線を得ていたものを、ＭＣＵ１の抵抗値操作信号Ｓ５により可変抵抗Ｒ５０３の抵抗値を変更することで行うことができる。
【０１４２】
（１−９）フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの素子としては、ＬＥＤに限定されず、例えば、レーザーダイオードを用いても構わない。受光部３５ｂは、フォトトランジスタの替わりにフォトダイオードを用いても構わない。フォトダイオードは、入射した光量にほぼ比例した光電流を出力し、一方、前述の説明で用いたフォトトランジスタは、フォトダイオードとトランジスタで構成され、フォトダイオードの出力電流がトランジスタで電流増幅される。従って、入射した光量に対して得られる電流値の大きさに相違があるだけで根本的な相違はない。よって、図３におけるフォトトランジスタＴＲ１２をフォトダイオードに変更し、その他、抵抗値等の値を変更することで前述のような動作を行うことが可能である。
【０１４３】
（１−１０）図１に示される補正レンズ３１の電磁ロック状態を認識する手段としてのフォトインタラプタ４８は、この替わりにスイッチ等を用いても構わない。例えば、図１に示される電磁ロックの機構、具体的には、ロックピン４５の動きに連動してこのスイッチのオン、オフの状態を変化させるよう構成し、このスイッチの状態をＭＣＵ１により認識するようにしてもよい。
【０１４４】
（２）ロック穴３３ｂを多角形とする場合に、四角形とした例を示したが、これに限らず、例えば、ひし形、３角形等でもよいし、校正位置として機能すれば、多角形に限らずに、曲線で構成されていてもよい。
【０１４５】
（３）校正位置として、３方向×２＝６箇所の校正位置を設けた例を示したが、これに限らず、装置が使用される形態によっては、３箇所でもよいし、１つでも、２つでもよい。
【０１４６】
（４）本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置は、銀塩一眼レフカメラの交換レンズに使用される装置である例を示したが、これに限らず、例えば、レンズ一体型のカメラであってもよいし、ディジタルスチルカメラやビデオカメラ又は双眼鏡等に使用してもよい。
【０１４７】
【発明の効果】
以上詳しく説明したように、本発明によれば、位置決め手段によりブレ補正光学系を所定位置に位置決めした状態で、演算部により得られるブレ補正光学系の位置が正確な位置となる調整を行う調整部を備えるので、フォトリフレクタの個々の感度ばらつきに起因する問題を製品個々で調整等の手間をかけずに解決することができる。特に、調整は、ブレ補正光学系の位置と受光量信号又は位置信号との関係が理想的関係となるように行われるので、よりＳ／Ｎ、及び、検出分解能の良い補正レンズの位置検出をすることができ、フォトリフレクタの感度の温度依存性の問題を解決し、使用される温度が変化したとしても、正確な補正レンズ位置の検出をすることができる。
また、これらの調整は、発光量の調整と、受光量信号又は受光量信号に応じた信号を全体として増減する（オフセットする）ことにより行うので、簡単な回路によって行うことができ、装置を安価にすることができる。
更に、ブレ補正光学系の可動範囲を多角形形状として、この多角形形状の隅部に位置決めして調整を行うので、調整の精度を高くすることができる。
更にまた、この多角形形状の隅部を、装置が通常使用される姿勢における略重力方向に配置し、位置決めを行う動作は、最初に重力方向に移動させ、最も近い隅部に位置決めするので、調整を行うときに不自然な動作が生じず、素早く自然に調整を終えることができる。
従って、本発明による光学式位置検出装置を使用したブレ補正装置は、より高いブレ補正性能を実現し、しかも、安価に市場に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態における電磁ロック機構を模式的に示した図である。
【図２】図１に示される電磁ロック機構、特にロック穴３３ｂを四角形状とした時の電磁ロック状態と、電磁ロック解除状態での補正レンズ３１の可動範囲について説明する図である。
【図３】本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置の電気回路ブロック図である。
【図４】ＬＥＤ１１に流れる電流値ＩＦとＤ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧ＶＩＦとの関係の一例を示す図である。
【図５】従来技術及び本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号の関係を示すグラフである。
【図６】本実施形態における光量仮調整のタイミングチャートである。
【図７】本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号との関係を示すグラフである。
【図８】本実施形態における補正レンズ３１の位置決め動作を示す模式図である。
【図９】本実施形態における補正レンズを最寄りの校正位置へ駆動する動作を示すタイミングチャートである。
【図１０】補正レンズ３１の位置決めされた校正位置と理想的な光量調整直線との関係を示す図である。
【図１１】光量調整動作の具体例を示すタイミングチャートである。
【図１２】光量調整理想直線と、実際に光量調整動作により調整された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示す図である。
【図１３】受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−６を示す回路図である。
【図１４】受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−７を示す回路図である。
【図１５】受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−８を示す回路図である。
【図１６】銀塩一眼レフカメラの例について従来技術によるブレ補正装置をＸ軸方向、又は、Ｙ軸方向の何れか１方向の断面を模式的に示した図である。
【図１７】補正レンズ３１を可動範囲の中央付近に固定するロック機構を模式的に示した図である。
【図１８】従来の補正レンズの位置検出装置を示す模式図である。
【図１９】従来のフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの駆動回路を示す図である。
【図２０】従来のフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路を示す図である。
【図２１】従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂから出力されるフォトリフレクタ出力電流ｉｐの関係を示すグラフである。
【図２２】従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路から出力される補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
１ ＭＣＵ（ワンチップマイクロコンピュータ）
１ａ Ａ／Ｄ変換器
１１ ＬＥＤ
１２ フォトトランジスタ
１３，１４ Ｄ／Ａ変換器
１５ 補正レンズ駆動回路
１６ 電磁ロック駆動回路
１７ ＥＥＰＲＯＭ
３０，３２撮影レンズ
３１ 振れ補正光学系（補正レンズ）
３３ 可動部材
３３ａ，３３ｂ ロック穴
３４ａ，３４ｂ バネ
３５ フォトリフレクタ
３５ａ フォトリフレクタの発光部
３５ｂ フォトリフレクタの受光部
３６ 反射板
３７，３７ａ，３７ｂ コイル
３８ａ，３８ｂ ヨーク
３９ マグネット
４０ カメラボディ
４１ 交換レンズ
４１ａ 固定部材
４２ 光軸
４３ フィルム面
４５ ロックピン
４６ 吸着板
４７ 電磁ロック用コイル
４８ フォトインタラプタ
６０ ＬＥＤ
６１ フォトトランジスタ
６２ 演算増幅器
７０ 発光部駆動回路
７１ 発光信号処理回路
１０１，１０２，１０３ 抵抗
１１１，１１２ 演算増幅器
１１３ トランジスタ
１１５ コンデンサ
３０２，３０３，３０４ 抵抗
３１２ 演算増幅器
４０２ 抵抗
４０３ 可変抵抗
４１２ 演算増幅器
４５１ コンデンサ
５０２ 抵抗
５０３ 可変抵抗
５１２ 演算増幅器
５５１ コンデンサ
６０１，６０２ 抵抗
６５１ コンデンサ
【発明の属する技術分野】
本発明は、カメラ等の撮像装置、双眼鏡等に使用され、ブレを補正するブレ補正装置の光学式位置検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種のブレ補正装置としては、ブレ補正光学系（以下、補正レンズとする）を撮影光軸に直交する面内で移動し、撮像面、フィルム面、又は、ファインダ内の像のブレを補正するものが知られている。
これらのブレ補正装置では、撮像装置、又は、双眼鏡等に生じた手振れによる角速度を検出し、又は、ビデオムービー等では、画像から像ブレ量を検出し、検出された手振れ量に応じて、撮影レンズの一部で構成される補正レンズを撮影光軸に直交し、かつ、互いに直交する２方向（以下、その内の１方向をＸ軸方向、他方向をＹ軸方向とする）に移動（以下、シフト移動とする）し、撮像面、フィルム面、又は、ファインダ内の像のブレを補正するものが知られている。
【０００３】
図１６は、銀塩一眼レフカメラの例について従来技術によるブレ補正装置をＸ軸方向、又は、Ｙ軸方向の何れか１方向の断面を模式的に示した図である。
交換レンズ４１は、カメラボディ４０に着脱可能に装着され、フィルム４３に像を結像する交換レンズである。
補正レンズ３１は、レンズ３０，３２と共に撮影レンズを形成し、可動部材３３に支持されているブレ補正光学系である。
可動部材３３は、光軸４２と直交する方向に補正レンズ３１と共にシフト移動する部材であり、ばね３４ａ，３４ｂにより交換レンズ４１側の部材に対して位置的に弾性的に支持されている。尚、可動部材３３の別の形態として、例えば、特許文献１によれば、補正レンズ３１の部材に取り付けられた滑り軸がカメラ本体の部材に対して直線的にスライドするように構成され、滑り軸に対しては、２つのコイルバネにより弾性的に中立位置付近に保持されるものがある。
このような構成の補正レンズをシフト移動する機構がこのシフト移動方向と直交する方向にもう一組構成され、光軸４１に直交する平面上を所定の可動範囲内で任意に移動が可能となる。
【０００４】
補正レンズ３１をシフト移動する手段としては、以下の構成によって形成されるムービングコイル型のアクチュエータが使用される。
図１６に示されるとおり、補正レンズ３１が固定されている可動部材３３には、コイル３７が取り付けられている。一方、交換レンズ４１側の部材には、２極に分極着磁されたマグネット３９と鉄等の透磁率の高い素材で作られたヨーク３８ａ，３８ｂがコイル３７を取り囲むように取り付けられ、一種の電磁的アクチュエータを構成している。
コイル３７に電流を流すと電磁気的な力を発生し、補正レンズ３１、及び、それを含む可動部材３３は、光軸にほぼ直交する方向に移動する。尚、補正レンズ３１のシフト可動範囲は、不図示の可動範囲制限手段によって、所定範囲に限られ、この範囲を越えて移動できないよう構成される。
【０００５】
次に、補正レンズ３１を略一定位置へ固定するいわゆるロック機構について説明する。
前述の補正レンズをシフト移動する機構の説明からも分かるとおり、補正レンズ３１は、コイル３７に通電し、補正レンズ３１を制御していない限り、補正レンズ３１及び可動部材３３等の重みにより重力方向に落下する。したがって、このままでは、補正レンズ３１は、その可動範囲の端に落下したままとなる。交換レンズ４１は、補正レンズ３１がその可動範囲のほぼ中央に位置する時に、光学性能が最も得られるように光学設計がなされている。したがって、ブレ補正が必要でない場合には、補正レンズを可動範囲の中央付近（光軸付近）に固定する必要があり、そのために、いわゆるロック機構が設けられている。
【０００６】
図１７は、補正レンズ３１を可動範囲の中央付近に固定するロック機構を模式的に示した図である。
補正レンズ３１が固定されている可動部材３３には、通常円形のロック穴３３ａが開けられている。一方、交換レンズ４１側の部材には、ロックピン４５を配置し、補正レンズ３１を中央付近にシフト移動したときに、ロック穴３３ａに挿入されるようになっている。以下、ロックピン４５がロック穴３３ａに挿入されている状態を、電磁ロック状態と呼び、ロックピン４５がロック穴３３ａから抜けている状態を、電磁ロック解除状態と呼ぶこととする。ロックピン４５の駆動は、ロックソレノイド４４により行われる。
ロックソレノイド４４は、透磁率の高い鉄等を素材とする可動鉄心（プランジャ），電磁ロック用コイル４７，吸着板４６等を備え、双安定状態をもつラッチソレノイドからなる駆動部であり、動作させる瞬間だけ通電すれば、その後、通電を止めても、電磁ロック状態、電磁ロック解除状態の２状態のいずれかを保持する。電磁ロック状態と電磁ロック解除状態との切り換えは、例えば電磁ロック状態では、電磁ロックしたときとは、逆の方向に電磁ロック用コイル４７に通電すると、電磁ロック解除状態に切り換わる。尚、図１７では、簡単のため、ロックピン４５をロックソレノイド４４の可動鉄心として示しているが、このようにせずに、ロックピン４５と可動鉄心とを別の部材として、これらを接続部材等を介して接続してもよい。
このような、補正レンズ３１をほぼその可動範囲の中央に電磁的に固定する機構を電磁ロック機構と呼ぶこととする。
【０００７】
従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置を検出する装置として、光学式位置検出装置が知られている。
図１８は、従来の補正レンズの位置検出装置を示す模式図である。
例えば、特許文献２によれば、図１６、及び、図１８に示すように、補正レンズ３１を含む可動部材３３には、補正レンズ３１のシフト移動する方向に対してその反射率が変化する反射板３６が検出板として取り付けられている。また、交換レンズ４１の固定部材側には、反射型のフォトリフレクタ３５が取り付けられている。フォトリフレクタ３５の発光部３５ａから発せられた光は、反射板３６によって反射し、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂに入射する。反射板３６で反射して受光部３５ｂに入射する光量は、補正レンズ３１の位置に依存して変化するため、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂに入射する光量を知ることで、補正レンズ３１の位置が検出される。
尚、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａは、電流を流すことにより赤外等の光を発するＬＥＤが使用され、受光部３５ｂは、入射光にほぼ比例した出力電流を得ることのできるフォトトランジスタが使用されるのが一般的である。このように構成される位置検出装置が、図１６、及び、図１８では、１軸のみ図示されているが、同様の構成の位置検出部がＸ軸方向、及び、Ｙ軸方向にそれぞれ存在し、Ｘ軸方向、及び、Ｙ軸方向の補正レンズ３１の位置が検出される。
【０００８】
ここで、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａ、及び、受光部３５ｂの回路について詳しく説明する。
まず、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａについて、その具体例を図１９を用いて説明する。
図１９は、従来のフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの駆動回路を示す図である。
発光部３５ａを構成するＬＥＤ（発光ダイオード）６０のアノードは、公知の技術を用いて一定の電圧ＶＬＥＤを有する電源に接続される。一方、ＬＥＤ６０のカソードは、可変抵抗Ｒ６０１に接続され、可変抵抗Ｒ６０１は、グラウンドに接続される。可変抵抗Ｒ６０１の抵抗値を調整することでＬＥＤ６０に流れる電流値ＩＦを調整可能になっている。
【０００９】
次に、図２０を用いてフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路を説明する。
図２０は、従来のフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路を示す図である。
受光部３５ｂを構成するフォトトランジスタＴＲ６１のコレクタは、公知の技術による一定電圧ＶＴＲの電源に接続され、エミッタは、演算増幅器ＯＰ６２、抵抗Ｒ６０２、コンデンサＣ６５１と基準電圧ＶＲＥＦ２を備える回路により、フォトトランジスタＴＲ６１のエミッタから出力されるエミッタ電流（出力電流）ｉｐが電圧に変換され、基準電圧ＶＲＥＦ２を基準に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとして出力される。尚、抵抗Ｒ６０２にパラレルに接続されるコンデンサＣ６５１は、フォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐに含まれる高周波ノイズをカットするものである。
【００１０】
図２１は、従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂから出力されるフォトリフレクタ出力電流ｉｐの関係を示すグラフである。
図２２は、従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路から出力される補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示すグラフである。
ここで、補正レンズ３１の位置変化に対して反射板３６の反射率を適切に変化させるよう構成し、更に、図１９に示される可変抵抗Ｒ６０１を可変させ、ＬＥＤ６０の駆動電流ＩＦを適切に調整したとする。この場合、図２１に示されるように、補正レンズ３１がその可動範囲内でシフト移動したときに、図２１の実線で示されるようにフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐは、ほぼリニアに変化するようになる。したがって、演算増幅器ＯＰ６２から出力される補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、図２２の実線で示されるとおり、補正レンズ３１の可動範囲において、ほぼ補正レンズ３１の位置に応じて変化する信号として出力される。尚、図２２に示される補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示す直線を補正レンズ位置信号直線と呼ぶこととする。
【００１１】
【特許文献１】
特開平４−３０１８２２号公報
【特許文献２】
特開平９−２８１５３８号公報
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来のブレ補正装置の光学式位置検出装置では、補正レンズ３１の位置検出に用いられるフォトリフレクタ３５の出力が安定しないという問題があった。この問題は、主に、以下に示す２つの要因により生じていた。
まず、第１に、フォトリフレクタ３５の個々の感度ばらつきを要因とする出力のばらつきである。一般的にフォトリフレクタ３５の感度ばらつきは、設計中心値に対して約１／２〜約２倍程度のばらつきが存在する。したがって、上述したような位置検出装置を用いたブレ補正装置では、装置個々でこの感度ばらつきを調整する必要があった。もし、この感度ばらつきを調整しないならば、例えば、図２２の２点鎖線で示されるように、フォトリフレクタ３５の受光回路の出力である補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、補正レンズ３１の可動範囲内でその有効ダイナミックレンジを外れて飽和してしまったり、飽和しないまでも補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係が変化してしまい、正確な補正レンズ位置の検出が不可能となったりすることがあった。また、この感度ばらつきを考慮して、発光部３５ａのＬＥＤ６０の光量を小さめにしたならば、有効ダイナミックレンジ内に収まりはするものの、補正レンズ３１の位置変化に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化量が小さくなり、Ｓ／Ｎ（ＳＮ比）、及び、検出分解能の良くない位置検出装置となってしまう。
【００１３】
このように、従来の光学式位置検出装置では、発光部３５ａの光量を製品個々で調整する必要があった。具体的には、例えば、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａのＬＥＤ６０を図１９の回路図を用いて駆動した場合、可変抵抗Ｒ６０１を調整し、補正レンズ３１がその可動範囲の中央に位置する時に、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがそのダイナミックレンジの中央の電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０になるよう調整する必要があった。これにより、製品個々の調整によるコストアップの問題が生じていた。
【００１４】
第２に、フォトリフレクタ３５の感度の温度依存性を要因とする出力のばらつきである。
上述の光学式位置検出装置が使用される製品の保証すべき使用温度範囲において、フォトリフレクタ３５の感度が３０％程度変動する素子がある。この場合、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を製品の出荷時に調整し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを可動範囲の中央でその有効ダイナミックレンジの中央値Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に合わせ込んだとしても、ユーザがその製品を使用する温度が調整された温度と大きくかけ離れたときには、フォトリフレクタ３５の感度が変化し、受光部３５ｂを構成するフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタの電流ｉｐが変化して、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが大きく変化してしまう。
【００１５】
例えば、調整時に図１９の可変抵抗Ｒ６０１により図２２の実線のように補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを調整しても、ユーザが使用する温度がこの調整された温度との相違が生じた場合、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂのフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐが、例えば、図２１の１点鎖線のように変化して、結果的に、補正レンズ３１の位置変化に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係が変化し、例えば、図２２の１点鎖線に示されるようになってしまう。補正レンズ３１の位置は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化により認識されるため、補正レンズ３１の位置が一定な位置にあっても補正レンズ３１の位置が変わったと誤認識されてしまい、正確な補正レンズ位置の検出が不可能であった。
【００１６】
また、図２２からも明らかなように、補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置を示す直線（補正レンズ位置信号直線）は、温度変化により、その傾きが変化する。上述の光学式位置検出装置が使用されるブレ補正装置においては、検出された振れに応じて補正レンズ３１をシフト移動させ、像面のブレを補正する。このため、補正レンズ位置信号直線の傾きが変化してしまうと、ブレ補正性能が大きく劣化してしまう。
【００１７】
本発明の課題は、光学式センサの固体差や使用される温度の影響を受けることなく、高ＳＮ比、及び、高分解能で正確にブレ補正光学系の位置を検出することができるブレ補正装置の光学式位置検出装置を、製品個々で調整等の手間をかけずに、安価に提供することである。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、以下のような解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付して説明するが、これに限定されるものではない。すなわち、請求項１の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じ、前記発光部に対して相対的に移動する部材（３３）に配置され、位置により異なる量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記検出板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に応じた受光量信号（ｉｐ）を出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号に処理を行い位置信号（Ｖｌｅｎｓ）を出力する受光信号処理部（７１）と、前記位置信号に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えるブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記ブレ補正光学系の位置を所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めする位置決め手段（１５，３３ｂ）と、前記位置演算部により得られる前記ブレ補正光学系の位置が正確な位置となる調整を、前記位置決め手段により前記ブレ補正光学系を前記所定位置に位置決めした状態で行う調整部（１）と、を備えること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００１９】
請求項２の発明は、請求項１に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め手段（１５）は、前記ブレ補正光学系（３１）の可動範囲を所定の範囲に制限する可動範囲制限手段と、前記可動範囲制限手段によって制限された前記可動範囲に少なくとも一箇所設けられた位置決め部（校正位置０’，１’，２’）へ前記ブレ補正光学系を駆動して当て付ける位置決め駆動部（１５）と、を備えること特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２０】
請求項３の発明は、請求項１に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め手段（１５，３３ｂ）は、前記ブレ補正光学系（３１）の可動範囲の略中央付近の限定範囲に、前記ブレ補正光学系が位置するように保持する中央保持手段（３３ｂ）と、前記中央保持手段によって保持された前記限定範囲に少なくとも一箇所設けられた位置決め部（校正位置０，１，２）へ前記ブレ補正光学系を駆動して当て付ける位置決め駆動部（１５）と、を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２１】
請求項４の発明は、請求項２又は請求項３に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記可動範囲及び／又は前記限定範囲は、略多角形形状であり、前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）は、前記略多角形形状の隅部であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２２】
請求項５の発明は、請求項２から請求項４までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め駆動部（１５）は、駆動前の前記ブレ補正光学系（３１）の位置から最も近い位置にある前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に、前記ブレ補正光学系を駆動して当て付けること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２３】
請求項６の発明は、請求項２から請求項５までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）の少なくとも１つは、装置が通常使用される姿勢における略重力方向に配置されている（校正位置０，０’）こと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２４】
請求項７の発明は、請求項２から請求項６までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め部（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）は、装置が通常使用される姿勢における略重力方向（校正位置０，０’）と略水平方向（校正位置１，２，１’，２’）とに配置されていること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２５】
請求項８の発明は、請求項６又は請求項７に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め駆動部（１５）は、前記ブレ補正光学系（３１）を前記重力方向へ駆動し、前記位置演算部（１）による演算結果から、前記ブレ補正光学系が所定量以上移動しないことが判明した場合には、そのまま前記ブレ補正光学系を前記位置決め部（校正位置０，０’）に当て付けること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２６】
請求項９の発明は、請求項６又は請求項７に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置決め駆動部（１５）は、前記ブレ補正光学系（３１）を前記重力方向へ駆動し、前記位置演算部（１）による演算結果から、前記ブレ補正光学系が所定量以上移動した場合には、前記ブレ補正光学系を前記略水平方向に駆動し、前記ブレ補正光学系を前記位置決め部（校正位置１，２，１’，２’）に当て付けること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２７】
請求項１０の発明は、請求項１から請求項９までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記調整部（１）は、前記発光部（３５ａ）の発光量を変更することにより、前記調整を行うこと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２８】
請求項１１の発明は、請求項１０に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記調整部（１）は、前記ブレ補正光学系（３１）が前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）にあるときの前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）が、狙い値となるように前記発光部（３５ａ）の発光量を調整するものであって、前記狙い値は、前記ブレ補正光学系の位置と、前記受光量信号又は前記位置信号と、の関係が、調整狙いである理想的関係である場合に得られる前記受光量信号又は前記位置信号であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００２９】
請求項１２の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じ、前記発光部に対して相対的に移動する部材（３３）に配置され、位置により異なる量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記検出板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に応じた受光量信号（ｉｐ）を出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号に処理を行い位置信号（Ｖｌｅｎｓ）を出力する受光信号処理部（７１）と、前記位置信号に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えるブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記検出板による前記測定光の反射又は透過が無い場合の仮想的な前記受光量信号又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ００）と、前記ブレ補正光学系の位置（ＬＲ００）とにより定義される仮想原点に依存して求まり、かつ、調整狙いである理想的関係から求まる値に、前記受光量信号又は前記位置信号が略一致するように前記発光部の発光量の調整を行う調整部（１）を備えること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３０】
請求項１３の発明は、請求項１２に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記仮想原点では、前記発光部（３５ａ）が２以上の異なる発光量の発光をしたときの前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）と前記ブレ補正光学系の位置（ＬＲ）との関係を示す直線が交わること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３１】
請求項１４の発明は、請求項１３に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記発光部（３５ａ）が第１発光量で発光したときの前記ブレ補正光学系（３１）の動きに応じた前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）の変化を示す第１直線と、前記発光部が前記第１発光量とは異なる第２発光量で発光したときの前記ブレ補正光学系の動きに応じた前記受光量信号又は前記位置信号の変化を示す第２直線とが前記仮想原点で交わること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３２】
請求項１５の発明は、請求項１２から請求項１４までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記ブレ補正光学系（３１）の位置を所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めする位置決め手段（１５，３３ｂ）を備え、前記理想的関係は、前記仮想原点と、前記ブレ補正光学系の位置を前記所定位置としたときの前記受光量信号又は前記位置信号と、に依存して求まること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３３】
請求項１６の発明は、請求項１１から請求項１５までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記理想的関係は、前記ブレ補正光学系（３１）の可動範囲内で、前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）が有効ダイナミックレンジ内にあって、かつ、前記受光量信号又は前記位置信号のＳ／Ｎ比が高くなる関係であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３４】
請求項１７の発明は、請求項１１から請求項１６までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、書き換え可能な不揮発性記憶手段（１７）を有し、前記理想的関係に関する情報の少なくとも１つは、前記不揮発性記憶手段から読込むこと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３５】
請求項１８の発明は、請求項１から請求項１７までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記位置演算部（１）は、前記ブレ補正光学系を前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めしたときの位置（ＬＲ）と、前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）とから求まる、前記ブレ補正光学系の位置と前記受光量信号又は前記位置信号との関係により、前記ブレ補正光学系の位置を演算すること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３６】
請求項１９の発明は、請求項１８に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記ブレ補正光学系（３１）の位置（ＬＲ）と前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）との関係は、前記ブレ補正光学系を前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）に位置決めしたときの位置と、前記受光量信号又は前記位置信号とに加えて、前記検出板（３６）による前記測定光の反射光又は透過光の変化直線の延長上にあって、前記検出板による前記測定光の反射又は透過が無い場合の仮想的な前記受光量信号又は前記位置信号と、前記ブレ補正光学系の位置とにより定義される仮想原点により、求まる関係であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３７】
請求項２０の発明は、請求項１８又は請求項１９に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、書き換え可能な不揮発性記憶手段（１７）を有し、前記所定位置（校正位置０，１，２，０’，１’，２’）及び／又は前記仮想原点の位置と前記仮想原点における前記受光量信号（ｉｐ）又は前記位置信号（Ｖｌｅｎｓ）は、前記不揮発性記憶手段から読込むこと、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３８】
請求項２１の発明は、請求項１から請求項２０までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記受光部（３５ａ）は、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を前記受光量信号として出力し、前記受光信号処理部（７１）は、前記受光量信号から任意の可変電流（ｉｐ１）を減算し、前記可変電流を減算した前記受光量信号を電圧に変換して出力（Ｖｌｅｎｓ）すること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００３９】
請求項２２の発明は、請求項１から請求項２０までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記受光部（３５ａ）は、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を前記受光量信号として出力し、前記受光信号処理部（図１３）は、前記受光量信号を電圧変換し、電圧変換された前記受光量信号から任意の可変電圧を減算して出力すること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４０】
請求項２３の発明は、請求項２１又は請求項２２に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記可変電流（ｉｐ１）又は前記可変電圧は、前記調整部（１）による前記調整を行う前後で異なる値であること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４１】
請求項２４の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じて移動する部材（３３）に配置され、前記ブレ補正光学系の移動に応じた量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記被測定板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を受光量信号として出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号から任意の可変電流（ｉｐ１）を減算し、前記可変電流を減算した前記受光量信号を電圧に変換して出力する受光信号処理部（７１）と、前記受光信号処理部の出力に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４２】
請求項２５の発明は、振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系（３１）と、測定光を発光する発光部（３５ａ）と、前記ブレ補正光学系の移動に応じて移動する部材（３３）に配置され、前記ブレ補正光学系の移動に応じた量の前記測定光を反射又は透過する検出板（３６）と、前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記被測定板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に略比例した電流（ｉｐ）を受光量信号として出力する受光部（３５ｂ）と、前記受光量信号を電圧変換し、電圧変換された前記受光量信号から可変可能な電圧を減算して出力する受光信号処理部（図１３）と、前記受光信号処理部の出力に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部（１）と、を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４３】
請求項２６の発明は、請求項２４又は請求項２５に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、前記発光部（３５ａ）の発光量を調整する発光量調整部（１）を備えること、を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置である。
【００４４】
【発明の実施の形態】
以下、図面等を参照しながら、本発明の実施の形態について、更に詳しく説明する。
本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置は、銀塩一眼レフカメラの交換レンズに使用される装置である。
尚、ブレ補正光学系としての補正レンズを光軸に直交する２方向に移動する手段、補正レンズの位置を検出する手段等は、従来技術において説明したものと同一であり、それ以外の従来技術と相違する部分のみを説明する。具体的には、補正レンズの位置を検出する手段は、図１６，図１８に示した手段を用いるものとし、補正レンズを移動する手段は、図１８に示した手段を用いる。また、前述した従来技術と同様の機能を果たす部分には、同一の符号を付して説明する。
【００４５】
図１は、本実施形態における電磁ロック機構を模式的に示した図である。
本発明の従来技術との差は、まず、ロック穴３３ｂの形状にある。従来技術を示した図１７では、ロック穴３３ａは、丸形であったが、本実施形態では、図１に示すように、四角形とした。このロック穴３３ａは、補正レンズ３１の可動範囲の略中央付近にあって、四角形で限定される限定範囲に補正レンズ３１を保持する中央保持手段となる。
本実施形態では、銀塩一眼レフカメラの交換レンズにブレ補正装置を使用しているので、カメラが使用される可能性の高い姿勢において、補正レンズ３１と共に可動部材３３が重力方向に移動したときに、ロックピン４５の近くにロック穴３３ｂの隅部が移動する位置に、ロック穴３３ｂの隅部を配置している。
【００４６】
具体的に説明すると、銀塩カメラ，電子スチルカメラいずれの場合であっても、撮影時におけるカメラの姿勢は、横位置（正位置）と縦位置が大部分であり、縦位置は、更に、右側が上になる場合と、左側が上になる場合とに分けることができる。すなわち、カメラが使用される可能性の高い姿勢としては、横位置姿勢，右側が上になる姿勢，左側が上になる姿勢の３姿勢を想定すればよい。
そこで、ユーザが横位置で構えた場合に対応して、図１における上方向に、ロック穴３３ｂの四角形の隅部が位置するように配置し、縦位置に構えた場合に対応して、図１における右横と左横方向にロック穴３３ｂの四角形の隅部が位置するように配置する。言い換えると、カメラが通常使用される姿勢（横位置）における重力方向と、水平方向に、隅部が位置するように配置している。
これにより、補正レンズ３１が電磁ロックされた状態で、ユーザが通常に構えた場合、つまり、斜めに構えた場合や真上、又は、真下等の何れも希なケースを除けば、重力により補正レンズ３１及び可動部材３３が移動して、ロックピン４５がロック穴３３ｂの四角形の隅部のいずれかに位置し、補正レンズ３１の位置が定まる。
尚、ここでは、重力方向及び水平方向として説明しているが、これは、厳密に決める必要はなく、大まかに重力方向及び水平方向であればよい。
【００４７】
一方、図１７に示した従来技術では、ロック穴３３ａは、丸形であり、隅部を有さない形状である。したがって、補正レンズ３１が電磁ロックされた状態で、補正レンズ３１は、ほぼ重力方向に落ち（移動し）、概略の位置は定まるが、位置的に自由度を持ち、正確な位置が定まらない。
尚、補正レンズ３１を電磁ロックしようとする場合に、ロックピン４５がロック穴３３ｂに無理なく挿入されるよう、ロック穴３３ｂの大きさは、ロックピン４５の外形より大きめになっている。
【００４８】
本実施形態では、従来技術と異なり、補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを検出する手段として、フォトインタラプタ４８を設けている。フォトインタラプタ４８は、その発光部と受光部がロックピン４７を挟むように配置されている。電磁ロック状態では、フォトインタラプタ４８の発光部から投光された光がロックピン４７により遮光され、フォトインタラプタ４８の受光部に入射しないようになり、また、電磁ロック解除状態では、フォトインタラプタ４８の発光部からの光が受光部に入射するように構成されている。よって、フォトインタラプタ４８の出力である電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１が電磁ロック状態であるか電磁ロック解除状態であるかが認識可能である。
【００４９】
本実施形態におけるブレ補正装置の上述した部分以外については、従来と同様の形態であり、ロック用コイル４７に所定の方向の通電を行うことによりロックピン４５がロック穴３３ｂに挿入され、補正レンズ３１を電磁ロックする。また、電磁ロックを行うときとは、逆の方向の通電をロック用コイル４７に行うことにより、電磁ロックピン４５をロック穴３３ｂから抜き、補正レンズ３１を電磁ロック解除する。
【００５０】
（補正レンズの可動範囲）
図２は、図１に示される電磁ロック機構、特にロック穴３３ｂを四角形状とした時の電磁ロック状態と、電磁ロック解除状態での補正レンズ３１の可動範囲について説明する図である。図２（ａ）は、補正レンズ３１の可動範囲を示しており、黒丸が補正レンズ３１の位置を示し、Ｘ軸とＹ軸との交点を可動範囲の中心として示している。図２（ｂ）は、図２（ａ）に示す校正位置０，２での可動部材３３のロック穴３３ｂとロックピン４５との位置関係を示している。
【００５１】
図２（ａ）の可動範囲を示す図と、図２（ｂ）に示すロック穴３３ｂとロックピン４５との位置関係を示す図とは、一見すると似ているが、図２（ｂ）では、ロックピン４５が固定されていて、補正レンズ３１及び可動部材３３が移動するので、ロック穴３３ｂの四角形状が移動するようになっている。これに対して、図２（ａ）では、ロック穴３３ｂの四角形状により決まる補正レンズ３１及び可動部材３３の可動範囲を固定して（四角形状を固定して）示し、黒丸は、ロックピン４５ではなく、補正レンズ３１及び可動部材３３の位置を表している。したがって、例えば、校正位置０において、図２（ａ）では、黒丸が四角形状の下方向（図中の下方向）にあるが、図２（ｂ）では、ロックピン４５が四角形状の上方向（図中の上方向）となっている。尚、後に説明する図８，９，１０では、図２（ａ）と同様にして、補正レンズ３１の可動範囲を示している。
【００５２】
前述したように、ロック穴３３ｂの大きさは、ロックピン４５の外形より大きめになっている。したがって、補正レンズ３１は、電磁ロック状態では、ロックピン４５とロック穴３３ｂの隙間分、つまり、ガタ分だけ移動可能であり、ロック穴３３ｂの穴形状によって、補正レンズ３１の可動範囲は、四角形となる。
【００５３】
電磁ロック状態でユーザがカメラを横位置で構えた場合、補正レンズ３１は、可動部材３３と共に重力方向に落ち込み、図２（ａ）の黒丸（図２（ｂ）では、実線）で示した校正位置０（校正位置の定義、詳細に関しては、後述する）に位置する。また、縦位置に構えた場合、同様に補正レンズ３１は、校正位置１、又は、校正位置２（図２（ｂ）では、破線で示す）に位置することとなる。
【００５４】
一方、電磁ロック解除状態では、公知の技術を用いた可動範囲制限手段により、補正レンズ３１の可動範囲を、ほぼ正八角形に制限する。本実施形態では、ユーザがカメラを横位置、又は、縦位置に構えた場合に補正レンズ３１がこの八角形の８つの隅部の何れかの位置に止まるようにするため、図２（ａ）に示されるように、横位置及び縦位置それぞれにおける重力方向に上記隅部が配置されるように、可動範囲を設定し、校正位置０’、校正位置１’、及び、校正位置２’を配置する。
尚、電磁ロック解除状態における補正レンズ３１の可動範囲は、八角形に限らず、例えば、四角形である場合には、八角形の場合と同様に、ユーザが横位置、縦位置それぞれに構えた場合に重力方向となる位置に角の部分が配置されるようにする（この時の補正レンズ３１の可動範囲を図２（ａ）に点線で示す）。
【００５５】
（電気ハードウエア）
次に、本実施形態における電気ハードウエアについて説明する。
図３は、本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置の電気回路ブロック図である。
尚、ブレ補正装置の光学式位置検出装置としては、Ｘ軸方向及びＹ軸方向それぞれに対して補正レンズ３１の位置検出を行う回路が必要であるが、同様の回路、同様の動作であるため、１方向分の回路図を示し、その動作を説明する。また、各回路，素子等を動作させる電源、その他電気的な回路等が必要であるが、本発明の主意に関連しないため省略する。
本実施形態における光学式位置検出装置は、電気回路として、ＭＣＵ１，補正レンズ駆動回路１５，電磁ロック駆動回路１６，ＥＥＰＲＯＭ１７，フォトインタラプタ４８，発光部駆動回路７０，受光信号処理回路７１等を備えている。
【００５６】
ＭＣＵ１は、ワンチップマイクロコンピュータであり、交換レンズ４１内に設けられている。ＭＣＵ１は、後述の受光信号処理回路７１のアナログ出力をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器１ａ、受光信号処理回路７１からの信号に基づき補正レンズ３１の位置を演算する位置演算部、後述する調整を制御する調整部、及び、後述する時間等を計測するためのタイマ等の機能をその内部に有している。
ＭＣＵ１には、補正レンズ駆動回路１５，電磁ロック駆動回路１６，ＥＥＰＲＯＭ１７，フォトインタラプタ４８，発光部駆動回路７０，受光信号処理回路７１等が接続されており、各種信号の演算及び伝達を行っている。
【００５７】
補正レンズ駆動回路１５は、ＭＣＵ１からの駆動回路操作信号Ｓ３により操作され、Ｘ軸とＹ軸の補正レンズ駆動用コイル３７（Ｘ軸用の補正レンズ駆動用コイルを３７ａ、Ｙ軸用補正レンズ駆動用コイルを３７ｂとする）を駆動する回路であり、ブレ補正を行うときの駆動部として機能すると共に、調整を行うときの位置決め駆動部としても機能する。
【００５８】
電磁ロック駆動回路１６は、ＭＣＵ１からの駆動回路操作信号Ｓ４により操作され、電磁ロック用コイル３３の通電を行い、ロックピン４５の駆動を行う回路である。
【００５９】
ＥＥＰＲＯＭ１７は、各種調整値等を必要な時に書き込み、及び、読み込みが可能な、書き換え可能な不揮発性記憶手段である。
【００６０】
フォトインタラプタ４８は、図１により説明した補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを検出するフォトインタラプタであり、電磁ロック状態信号をＭＣＵ１に伝える。尚、フォトインタラプタ４８の電源、及び、処理回路等は、公知の技術により実現し、ＭＣＵ１は、フォトインタラプタ４８から出力される電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１の電磁ロック状態が認識できる。
【００６１】
発光部駆動回路７０は、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａ（ＬＥＤ１１）の発光を行うと共に、発光量の調整を行うことができる回路である。
ＬＥＤ１１は、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａであって、本実施形態では、ＬＥＤ（発光ダイオード）を使用しているので、回路の説明においては、ＬＥＤ１１として説明する。
ＬＥＤ１１は、トランジスタＴＲ１１３，抵抗Ｒ１０１，演算増幅器ＯＰ１１１を有する公知の定電流回路により駆動される。つまり、演算増幅器ＯＰ１１１の＋入力電圧に比例した電流ＩＦがＬＥＤ１１に流れる。
Ｄ／Ａ変換器１３は、ＭＣＵ１からのＤ／Ａ操作信号Ｓ１によって設定されたディジタル値をアナログ値に変換し、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦとして出力するＤ／Ａ変換器である。演算増幅器ＯＰ１１１の＋入力には、Ｄ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦが接続され、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、その出力である光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧をほぼ任意に可変することができる。
【００６２】
ＬＥＤ１１に流れる電流値ＩＦは、Ｄ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧をＶＩＦ、抵抗Ｒ１０１の抵抗値をＲ１とすると、以下に示す式（１）により与えられる。
ＩＦ≒ＶＩＦ／Ｒ１ …式（１）
図４は、ＬＥＤ１１に流れる電流値ＩＦとＤ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧ＶＩＦとの関係の一例を示す図である。
一般的にＬＥＤに流れる電流とＬＥＤから出力される光量は、ほぼ比例する関係にあることが知られていて、本実施形態におけるＬＥＤ１１も同様に駆動電流ＩＦにほぼ比例した光量の測定光がＬＥＤ１１から投光される。したがって、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１により、ＬＥＤ１１に流れる電流を任意に操作して、ＬＥＤ１１の光量を任意に操作することが可能である。
【００６３】
受光信号処理回路７１は、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂ（フォトトランジスタＴＲ１２）が出力する出力電流ｉｐに処理を行い位置信号を出力する受光信号処理部である。
フォトトランジスタＴＲ１２は、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂであるが、本実施形態では、フォトトランジスタを使用しているので、回路の説明においては、フォトトランジスタＴＲ１２として説明する。
フォトトランジスタＴＲ１２のコレクタは、公知の技術による一定電圧ＶＴＲの電源に接続されている。フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタは、演算増幅器ＯＰ１１２，抵抗Ｒ１０２，抵抗Ｒ１０３，コンデンサＣ１５１と基準電圧ＶＲＥＦ１とを有する受光信号処理回路７１により、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタからの出力電流ｉｐ（受光量信号）からオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧、及び、抵抗Ｒ１０３の抵抗値に依存する電流ｉｐ１（可変電流）が差し引かれた電流ｉｐ２が、電圧に変換され、基準電圧ＶＲＥＦ１を基準に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとして出力される。
また、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔとしてほぼ任意な電圧を出力させることができる。
【００６４】
抵抗Ｒ１０２，Ｒ１０３の抵抗値をそれぞれＲ２、Ｒ３とし、Ｄ／Ａ変換器１４の出力であるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧をＶｏｆｆｓｅｔ、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓとすると、以下に示す式（２）〜式（４）の関係が成り立つ。
Ｖｌｅｎｓ＝ＶＲＥＦ１−ｉｐ２×Ｒ２ …式（２）
ｉｐ１＝（ＶＲＥＦ１−Ｖｏｆｆｓｅｔ）／Ｒ３ …式（３）
ｉｐ＝ｉｐ１＋ｉｐ２ …式（４）
したがって、式（２）〜式（４）の関係から、以下の式（５）の関係が成り立つ。
Ｖｌｅｎｓ＝ＶＲＥＦ１＋（ＶＲＥＦ１−Ｖｏｆｆｓｅｔ）×Ｒ２／Ｒ３−ｉｐ×Ｒ２ …式（５）
【００６５】
このように、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧は、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧に比例して、その出力電圧を減算、つまり、電圧シフトさせることができる。したがって、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔは、ＭＣＵ１がＤ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作して変更することが可能であるから、ＭＣＵ１により、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧を任意の電圧を減算、つまり、電圧シフトすることが可能である。
尚、抵抗Ｒ１０２にパラレルに接続されるコンデンサＣ１５１は、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐに含まれる、又は、受光信号処理回路７１から発生する高周波ノイズをカットするものであり、ノイズ成分が十分低ければ省略してもよい。
【００６６】
（発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１の基本的な動作）
次に、発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１の基本的な動作について説明する。
まず、従来技術との相違、効果をより明確にするために、従来技術による動作として、図２０に示す受光信号処理回路を有する場合を例に挙げて説明する。
図５は、従来技術及び本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号の関係を示すグラフである。
従来技術の受光信号処理回路において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、基準電圧ＶＲＥＦ２を基準として出力され、発光部３５ａのＬＥＤ６０を非発光とした場合、受光部３５ｂのフォトトランジスタＴＲ６１のエミッタ電流ｉｐがゼロとなり、補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係（補正レンズ位置信号直線）は、図５の２重線に示されるようになる。
従来技術では、補正レンズ３１が、その可動範囲の中央（この位置を補正レンズ位置＝０とする）に位置している状態で、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を変更し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの有効ダイナミックレンズ内におさまるよう光量調整を行う。具体的には、図１９で示される抵抗Ｒ６０１の抵抗値を変更し、ＬＥＤ６０の駆動電流ＩＦを変更する。これにより、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジのほぼ中央に設けられた合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に調整される。
しかし、従来技術では、補正レンズ可動範囲において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、ほんの少ししか電圧変化せず、有効ダイナミックレンジのほんの一部しか使用されていない。
【００６７】
これに対して、本実施形態による受光信号処理回路７１によれば、式（２）〜式（５）に示すように、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を変更することで補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をシフトさせることができる。
これを、図５を用いて更に詳しく説明する。
オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を受光信号処理回路７１の基準となる基準電圧ＶＲＥＦ１と同一とした場合、電流ｉｐ１は、ゼロとなり、図２０に示される従来技術による受光信号処理回路と動作が同一となる。したがって、この場合、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、本回路の基準電圧ＶＲＥＦ１を基準として出力され、発光部３５ａのＬＥＤ１１を非発光とした場合、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐがゼロとなり、補正レンズ３１の位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係は、図５の２重線に示されるようになる（図５では、従来技術と比較するため、本発明による図３に示される受光信号処理回路７１の基準電圧ＶＲＥＦ１と従来技術における図２０の受光信号処理回路の基準電圧ＶＲＥＦ２が同一としている）。
【００６８】
この状態で、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを変更した場合を考える。フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐ＝０であるから、式（５）より、この時の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓ００とすると、この電圧は、以下の式（６）で与えられる。
Ｖｌｅｎｓ００＝ＶＲＥＦ１＋（ＶＲＥＦ１−Ｖｏｆｆｓｅｔ）×Ｒ２／Ｒ３…式（６）
オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を基準電圧ＶＲＥＦ１より低い電圧としたならば、図５の２点鎖線で示されるように補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、従来技術による図５の２重線で示される出力電圧ＶＲＥＦ２（＝ＶＲＥＦ１）より高い電圧が出力される（実際には、図５の例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力の有効ダイナミックレンジを越えて飽和してしまうため、あくまでも仮想的な電圧である）。
【００６９】
次に、補正レンズ３１がその可動範囲の中央、つまり、補正レンズ位置＝０に位置している状態で、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を変更し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの有効ダイナミックレンズ内におさまるように光量調整を行う。具体的には、ＭＣＵ１がＤ／Ａ変換器１３をＤ／Ａ操作信号Ｓ１により操作し、Ｄ／Ａ変換器の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更して、ＬＥＤ１１の駆動電流ＩＦを変更する。
このようにして、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジのほぼ中央に設けられた合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に調整される。この光量調整後の補正レンズ位置に対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を図５の実線で示す。
【００７０】
上述のように、本実施形態によれば、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを適宜調整し、その状態で補正レンズ位置が所定の位置に位置する状態で、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが所定の電圧になるよう発光部の光量を調整することにより、補正レンズ３１の可能範囲内で、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓのダイナミックレンジを十分有効に使用することが可能となる。したがって、従来技術における補正レンズ位置信号ＶｌｅｎｓのＳ／Ｎの問題が解決できる。尚、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓの電圧は、フォトリフレクタ３５の発光部３５ｂの光量を調整した場合に、補正レンズ位置信号直線が、補正レンズ３１の可動範囲においてその有効ダイナミックレンジ内におさまり、かつ、極力、その傾きが急峻となり、補正レンズ位置の変化に対して補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの大きな変化が得られるように設定する。
【００７１】
以上、説明したように、従来技術の問題であったフォトリフレクタ３５の個々の感度ばらつき、及び、温度変化による感度変化は、受光信号処理回路７１とＭＣＵ１による操作信号Ｓ１により調整される。また、詳細な具体例については、後述するが、ＭＣＵ１がＤ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、ＭＣＵ１により自動的に光量調整が可能となるので、製品個々で調整する必要がなくなる。
【００７２】
（光学式位置検出装置の校正動作）
以上説明したように、本実施形態によれば、フォトリフレクタ３５の感度ばらつき、感度温度依存性による補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧を調整することが可能である。
しかし、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、正しい補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを得るためには、補正レンズ３１の位置が正確に判かっている状態で調整を行う必要がある。しかし、前述したように、補正レンズ３１がどこに存在するのか正確に知ることができない。例えば、補正レンズ３１が電磁ロック解除状態である場合、補正レンズ３１は、その可動範囲内のどこにあるのかが特定できない。よって、補正レンズ３１が電磁ロック状態されていたとしてもその可動範囲は、狭められるもののロック穴３３ａとロックピン４５とのガタ内のどこにいるのかが特定できない。この状態で前述のようにフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを所定電圧に調整できたとしても検出される補正レンズ３１の位置は、この狙いとする位置（上記の例では、可動中心位置）に対する実際の補正レンズ３１の位置分だけ誤差を生じてしまう。
【００７３】
そこで、本発明では、補正レンズ３１を特定の位置に位置決めし、その特定位置において、フォトリフレクタ３５の光量を調整する等、正確な補正レンズ位置を検出するために、各種調整動作を組合わせて、光学式位置検出装置の校正動作を行う。
具体的には、校正動作１：仮光量調整，校正動作２：補正レンズの位置決め，校正動作３：オフセット調整と光量調整，校正動作４：光量調整誤差補正動作を行い、光学式位置検出装置の校正動作とする。
尚、これら一連の校正動作は、ユーザがカメラの電源を入れた直後又はブレ補正を行うモードにした直後に行われるので、撮影直前の温度条件等を加味した調整となる。
【００７４】
（光学式位置検出装置の校正動作の概要）
各校正動作を詳細に説明する前に、これらの動作の概要について説明する。
校正動作１：光量仮調整では、補正レンズ３１がどこの位置に存在するかが特定できない状態で、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を仮調整し、補正レンズ３１がどの位置に位置していても、また、その後、補正レンズ３１をその可動範囲のどこに駆動しても補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが飽和しないようにする。
校正動作２：補正レンズの位置決めでは、現在の補正レンズ３１の位置に最も近い校正位置に補正レンズ３１を駆動して、位置決めする。
校正動作３：オフセット調整と光量調整では、駆動された校正位置に応じてフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、光量調整後に残る光量調整誤差の影響を排除するため、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧等を基に補正レンズ位置を校正し、補正レンズ３１の位置を正確に検出可能な状態にする。
校正動作４：誤差補正では、補正レンズ位置の検出誤差を補正し、更に正確な補正レンズ３１の位置検出を可能にする。
以下、これら各校正動作について、詳細に説明する。
【００７５】
（校正動作１：光量仮調整）
光量仮調整では、補正レンズ３１が可動中心に位置するものと仮定して、補正レンズ３１がどこの位置にあったとしても、また、この光量仮調整後、補正レンズ３１をどの位置に駆動しても補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジ内におさまり、飽和しないように光量を低めに調整する。
図６は、本実施形態における光量仮調整のタイミングチャートである。
図７は、本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号との関係を示すグラフである。
【００７６】
まず、現時点で、発光部３５ａの駆動回路の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦ、及び、受光部３５ｂの処理回路のオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔは、以下に示す式（７）、式（８）で示される電圧となっているものとする。
Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦ＝ＶＩＦ０ …式（７）
Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ＝Ｖｏｆｆｓｅｔ０ …式（８）
ここで、例えば、ＶＩＦ０＝０、Ｖｏｆｆｓｅｔ０＝０である。ＭＣＵ１は、少なくとも光量仮調整動作の前に、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１、及び、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２により、Ｄ／Ａ変換器１３、及び、Ｄ／Ａ変換器１４を操作し、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦ、及び、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを式（７）、及び、式（８）の電圧に設定する。本状態では、図６に示されるとおり、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、飽和した状態にある。
【００７７】
次に、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２により、Ｄ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを以下に示す式（９）のように、受光部３５ｂの処理回路の基準電圧ＶＲＥＦ１にする（図６のタイミングｔ１に相当する）。
Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ＝ＶＲＥＦ１ …式（９）
これにより、図６、及び、図７に示されるとおり、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジ内の電圧でほぼ受光部３５ｂ処理回路の基準電圧ＶＲＥＦ１となる。
【００７８】
次に、少なくともタイミングｔ１においてオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを変更してから、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ０経過後のタイミングｔ２において、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更することで、発光部３４ａの光量を調整し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジ範囲内のほぼ中央に設けられた所定の合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０になるように合わせ込む。
具体的には、ＭＣＵ１は、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、所定間隔ＴＩＦ＿ａｄｊ１毎に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか低いかにより、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを徐々に変更して行く（図６のタイミングｔ２〜タイミングｔ５に相当する）。
【００７９】
分かり易く説明するため、今、Ｄ／Ａ変換器１３として分解能８ビット型のＤ／Ａ変換器を用いるものとして説明を続ける。
具体的には、第ｎ番目の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧をＶＩＦｎ（ｎ＝１，２，３‥‥，８）とすると、以下に示す式（１０）で示される電圧に変更し、徐々に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に合わせ込む。
ＶＩＦｎ＝ＶＩＦｎ−１±ＶＲＥＦ＿ＤＡ／（２ｎ ） …式（１０）
ここで、ＶＩＦｎ−１は、１回前の光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧であり、ｎ＝１の場合、ＶＩＦｎ−１は、ＶＩＦ０である。また、ＶＲＥＦ＿ＤＡは、Ｄ／Ａ変換器１３の基準電圧であり、式（１０）の±符号は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高い場合に＋とし、それ以外の場合に−とする。この動作を、ｎ＝８となるまで繰り返す。
【００８０】
上記調整の動作を、図６に沿って説明する。
ＭＣＵ１は、タイミングｔ１においてＤ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを基準電圧ＶＲＥＦ１としてから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ０経過したタイミングｔ２において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを、ＭＣＵ１の内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出し、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか否かを判定する。図６に示される例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高いため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を＋として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ１を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【００８１】
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ２において、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更してから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ３において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを、ＭＣＵ１の内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出し、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか否かを判定する。図６に示される例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高いため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を＋として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ２を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【００８２】
更に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ３において光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更してから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ４において、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを、ＭＣＵ１の内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出し、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に対して高いか否かを判定する。図６に示される例では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高くないため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を−として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ３を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【００８３】
以上の動作をｎ＝８（図６では、ｎ＝８となるタイミングがｔ５に相当する）となるまで繰り返すことで、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、徐々に合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０に合わせ込まれて行く。
【００８４】
このようにして合わせ込まれた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓと補正レンズ３１の位置との関係を、図７を参照して説明する。
前述の光量仮調整動作を補正レンズ３１がその可動中心位置（図７中の点ａに相当）に位置しているときに行った場合には、実線のように、また、補正レンズ３１がその可動範囲の右端（図７の点ｂに相当）に位置しているときに行った場合には、一点鎖線のように、更に、補正レンズ３１がその可動範囲の左端（図７の点ｃに相当）に位置しているときに行った場合には、二点鎖線のようになる。何れの場合であっても、補正レンズ３１の可動範囲内で補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジ内におさまる。
【００８５】
以上説明した光量仮調整の動作によって、光量が仮調整された後の補正レンズ３１の位置（これをＬＲとする）は、補正レンズ３１の可動範囲の中央を０とした場合、以下に示す式（１１）により算出される。
ＬＲ＝Ｋγ×（Ｖｌｅｎｓ−Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０） …式（１１）
ここで、Ｋγは、補正レンズ位置信号直線の傾きの逆数に相当するもので、以下に示す式（１２）によって算出する。
Ｋγ＝（０−ＬＲ００）／（Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０−ＶＲＥＦ１） …式（１２）
【００８６】
ここで、式（１２）におけるＬＲ００、及び、Ｖｌｅｎｓ００について説明する。図７における点Ａに相当する点（仮想原点）は、図７の補正レンズ位置信号直線の延長線上に位置する点であって、仮想的に受光部３５ｂのフォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐがゼロとなる補正レンズ位置であり、その時の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧である。また、発光部３５ａの光量を変化させても補正レンズ位置信号直線は、常にこの点Ａと交わるようになる点である。この点を以降、補正レンズ位置の仮想原点と呼ぶこととする。したがって、式（１２）のＬＲ００，及び、Ｖｌｅｎｓ００は、この仮想原点の補正レンズ位置、及び、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧を示し、式（１２）は、図７の実線で示される補正レンズ位置算出直線の傾きの逆数を、仮想原点（点Ａ）と点ａの座標を基に算出したものである。
このＬＲ００，及び、Ｖｌｅｎｓ００は、反射板３６の貼り合わせ位置の誤差により変化し、また、受光信号処理回路７１の素子の特性、例えば、演算増幅器ＯＰ１１２のオフセット電圧、オフセット電流、又は、基準電圧ＶＲＥＦ１のばらつき等でカメラ毎に変化するため、調整値として、予めＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んでおくものとする。したがって、ＭＣＵ１は、この調整値であるＬＲ００、及び、Ｖｌｅｎｓ００をＥＥＰＲＯＭ１７から読み込んで使用する。
【００８７】
尚、光量仮調整動作時の補正レンズ３１がどの位置に位置しているかが不明である。したがって、式（１１），式（１２）で算出さえる補正レンズ位置ＬＲは、あくまでも補正レンズ３１が、０、つまり、その可動範囲中央に位置する状態で光量仮調整した場合には、正確に算出されるが、図７からも明らかなように、補正レンズ３１が可動中心からずれた位置で光量仮調整が行われると、ずれた分だけ算出される誤差が大きくなる。
後述する補正レンズ３１の最寄りの校正位置への駆動動作によって、式（１１），式（１２）を用いて補正レンズ位置ＬＲを算出するが、この時、正確な補正レンズ位置を必要としないため、問題はない。
【００８８】
（校正動作２：補正レンズの位置決め）
次に、補正レンズ３１の位置決め動作を行うが、この動作を説明する前に、補正レンズ３１を位置決めする所定の位置決め部について説明する。以下、この位置決め部のことをこの位置において校正を行うことから校正位置と呼ぶこととする。
校正位置については、既に示した図２に表されている。図２における補正レンズ位置３１の座標は、本実施形態のカメラをユーザが横位置に構えた場合に垂直上方向となる方向をＹ軸＋、ユーザの右手で操作する側に配置されているレリーズ釦（不図示）を上に向けて縦位置に構えた場合に上となる方向をＸ軸＋として定義した。
【００８９】
校正位置は、以下のような考え方から決める。本実施形態のカメラをユーザが使用する場合を想定し、ユーザが通常に構えた場合、補正レンズ３１が最も存在する確率の高い位置を校正位置とする。
まず、補正レンズ３１が電磁ロック状態にある場合には、ユーザがカメラを横位置で構えた場合を想定し、補正レンズ３１は、重力方向に落下しているとして、電磁ロック状態での可動範囲の一角の重力方向とし、この位置を校正位置０とする。また、ユーザが縦位置に構えた場合も想定するが、この場合には、レリーズ釦側を上に構えるか下に構えるか２通り考えられるため、それぞれの重力のかかる方向に対して図２に示されるとおり、校正位置１、及び、校正位置２を定義する。尚、ユーザが天地逆さまにカメラを構えることは、可能性が低いとして、ここでは、校正位置を設けないものとするが、必要であればその場合に重力方向となる補正レンズ３１の可動範囲の最後の一角を校正位置として追加してもよい。
【００９０】
一方、電磁ロック解除状状態では、補正レンズ３１の可動範囲がほぼ正八角形に制限された場合、ユーザがカメラを横位置、又は、縦位置に構えた場合に補正レンズ３１がこの八角形の各角の位置に位置するよう、図２に示されるように可動範囲を配置し、校正位置０’、校正位置１’、及び、校正位置２’を配置する。また、補正レンズ３１が電磁ロック解除状態である場合の補正レンズ３１の可能範囲が、四角形である場合には、八角形の場合と同様に、ユーザが横位置、縦位置それぞれに構えた場合に重力方向となる位置に角の部分が配置されるようにする（この場合の補正レンズ３１の可動範囲を図２に点線で示す）。
【００９１】
さて、校正動作１（光量仮調整）を終えた段階では、補正レンズ３１がどこの位置にあるかが不明である。そこで、以下に説明する校正動作２（補正レンズの位置決め動作）を行い、補正レンズ３１を前述のように定義した６つの校正位置の内、最寄りの校正位置に駆動して位置決めし、補正レンズ３１の位置を確定する。
【００９２】
一般的に、ユーザがカメラを構える場合、横位置に構える場合が最も多い。したがって、本実施形態においても、最初の動作は、ユーザがカメラを横位置に構えているものと仮定した動作を行う。このように仮定する場合、最寄りの校正位置は、校正位置０、又は、校正位置０’であり、その方向に補正レンズ３１を駆動する。具体的には、横位置に構えた場合に重力方向となる方向（＝Ｙ軸−方向）に補正レンズ３１を駆動して、補正レンズ３１がその可動範囲の端部に即座に停止するかを確認する。
ユーザが横位置に構えていれば補正レンズ３１は、重力によって落下する方向、つまり、Ｙ軸−方向にあり、補正レンズ３１は、校正位置０、又は、校正位置０’付近に位置しているはずである。よって、ほぼ即座に停止すれば、そのときの最寄りの校正位置は、校正位置０、又は、校正位置０’であり、この位置への押し付け動作が完了したとする。
【００９３】
もし、補正レンズ３１が停止しなければ、具体的には、所定量以上移動した場合には、ユーザは、本カメラを縦位置に構えているものと仮定をし直す。この場合、最寄りの校正位置は、校正位置１、校正位置１’、又は、校正位置２、校正位置２’であり、その方向に補正レンズを駆動する。具体的には、その前のＹ軸に駆動した時の補正レンズ３１のＸ軸方向に移動した方向により、重力のかかっている方向を認識し、重力のかかっている方向にＸ軸を駆動して、可動範囲の端に押し付ける。
【００９４】
この動作を、図８及び図９を参照して更に詳しく説明する。
図８は、本実施形態における補正レンズ３１の位置決め動作を示す模式図である。図８では、補正レンズ３１が電磁ロック状態にあるとき、ユーザがカメラを縦位置に構えた場合の一例を示しており、電磁ロック状態での補正レンズ３１の可動範囲を太実線で示し、補正レンズ３１の位置を黒丸で示している。
まず、最初に最寄りの校正位置が校正位置０であると仮定し、補正レンズ３１をＹ軸−方向に駆動する（図８（ａ）に相当する）が、補正レンズ３１がＹ軸方向に大きく移動した（図８の（ｂ）に相当する）ため、最寄りの校正位置は、校正位置０ではない（横位置に構えていない）と判断する。
次に、Ｘ軸方向に駆動する方向を変える。駆動する向きは、図８（ａ）の状態から図８（ｂ）の状態までの間にＹ軸方向に駆動したときのＸ軸方向へ移動した向きから判断する。この例の場合、Ｘ軸＋方向に補正レンズ３１が移動したので、その移動した向きとは逆向き、つまり、Ｘ軸−方向が重力方向である。したがって、この場合、その方向にある校正位置１が最寄りの校正位置であるとして、Ｘ軸−方向に補正レンズ３１を駆動（図８の（ｃ）に相当する）し、補正レンズ３１が校正位置１に押し付けられる（図８の（ｄ）に相当する）。
【００９５】
図９は、本実施形態における補正レンズを最寄りの校正位置へ駆動する動作を示すタイミングチャートである。図９では、カメラを横位置で構えた場合の動作の１例を破線で示し、縦位置に構えた場合の例を実線で示している。
ＭＣＵ１は、タイミングｔ１１において、駆動回路操作信号Ｓ３により補正レンズ駆動回路１５を操作し、Ｙ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ｂを駆動する。この時、Ｘ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ａは、非通電とする。
具体的には、前述の光量仮調整動作により検出可能となったＹ軸の補正レンズ位置ＬＲをモニタしつつ、Ｙ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ｂを通電し、補正レンズ３１がＹ軸−方向へ移動するように、公知の技術により制御を行う。
【００９６】
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ１１においてＹ軸の補正レンズ３１の制御を開始してから少なくともその制御が安定するまでの所定時間ＴＬＲａｄｊ１を経過したタイミングｔ１２から、補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否か、及び、補正レンズ３１が所定量以上移動したか否かを判定する。
具体的には、ＭＣＵ１は、式（１１）、及び、式（１２）に示される数式により算出された補正レンズ３１のＹ軸の位置ＬＲ（Ｙ）を、以下に示す式（１３）により微分演算し、補正レンズ３１のＹ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）を算出する。又は、補正レンズ３１のＹ軸の位置ＬＲ（Ｙ）の所定時間の変化量としてＹ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）を算出してもよい。
ＶＲ（Ｙ）＝ｄＬＲ（Ｙ）／ｄｔ …式（１３）
【００９７】
ＭＣＵ１で行われる前述の補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否かの判定は、このようにして算出されたＹ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）が、又は、補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下であるか否かにより判定する。補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止すれば、補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）は、ほぼゼロとなるはずであり、このことから判定することができる。
【００９８】
また、ＭＣＵ１で行われる補正レンズ３１が所定量以上移動したか否かの判定は、前述のタイミングｔ１１において補正レンズ３１をＹ軸−方向に駆動を開始する直前のＹ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｙ）を保持し、この位置をＬＲ１（Ｙ）とし、このＬＲ１（Ｙ）を基準に現在のＹ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｙ）が所定値ＬＲａｄｊｔｈ０以上離れた位置にあるかにより行う。
【００９９】
ユーザがカメラを横位置に構えた場合、補正レンズ３１は、重力により校正位置０、又は、校正位置０’近辺に落ちた状態にあり、図９の例（点線で示す例）では、前述のＭＣＵ１の動作により、タイミングｔ１３において補正レンズ３１の可動範囲の端に押し付けられてぶつかり、ほぼ停止する。したがって、Ｙ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）がほぼゼロ近辺となる。よって、Ｙ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下となり、補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止したと判断される。このようにして、補正レンズ３１の校正位置０、又は、校正位置０’への駆動が完了し、本補正レンズの最寄りの校正位置への駆動動作を終了する。
また、ＭＣＵ１は、フォトインタラプタ４８からの電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを認識し、押し付けている校正位置が、校正位置０であるのか校正位置０’であるのかを認識する。
【０１００】
次に、ユーザが本カメラを縦位置に構えた場合には、補正レンズ３１は、本動作前には、重力により校正位置１，校正位置１’、又は、校正位置２，校正位置２’の近辺にある。前述のＭＣＵ１の動作によって補正レンズ３１をＹ軸−方向に駆動をすると、横位置に構えた場合とは異なり、すぐには、可動範囲の端にぶつからない。したがって、前述したＭＣＵ１による補正レンズ３１が所定量以上移動したか否かの判定により、Ｙ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｙ）が所定量ＬＲａｄｊｔｈ０以上移動したと判定される。
【０１０１】
尚、所定値ＬＲａｄｊｔｈ０は、ユーザが本カメラを横位置に構えた場合であって、補正レンズをＹ軸−方向に駆動したときに、校正位置０、又は、校正位置０近辺に位置する補正レンズ３１がＹ軸方向に移動量する量よりは、大きく設定する。
また、所定値ＬＲａｄｊｔｈ０は、縦位置に構えた場合であって、補正レンズをＹ軸−に駆動したときに、校正位置１，校正位置１、又は、校正位置２，校正位置２’近辺に位置する補正レンズ３１がＹ軸方向に移動量する量よりは、小さく設定する。
【０１０２】
図９の実線で示される例では、タイミングｔ１４において、補正レンズ３１が、本動作前のＹ軸の位置ＬＲ１（Ｙ）に対して所定量ＬＲａｄｊｔｈ０以上移動し、タイミングｔ１４においてＭＣＵ１にそれが認識される。この場合、補正レンズ３１の最寄りの校正位置は、校正位置０，校正位置０’ではない。つまり、ユーザが横位置に構えていないとして、次に、タイミングｔ１５からは、Ｙ軸の補正レンズの駆動を停止して、Ｘ軸の駆動を開始する。具体的には、以下のとおりである。
ＭＣＵ１は、タイミングｔ１５において、駆動回路操作信号Ｓ３により補正レンズ駆動回路１５を操作し、Ｙ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ｂを駆動する。つまり、前述の光量仮調整動作により検出可能となったＸ軸の補正レンズ位置ＬＲをモニタしつつ、Ｘ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ａを通電し、補正レンズ３１を公知の技術によりＸ軸の後述する方向へ移動するように制御する。また、このとき、Ｘ軸の補正レンズ駆動用コイル３７ａは、非通電とする。
【０１０３】
補正レンズ３１のＸ軸の駆動方向は、以下のような方法によって決定する。補正レンズ３１が校正位置１、又は、校正位置１’近辺にあり、つまり、その方向が重力方向ならば、タイミングｔ１１からタイミングｔ１５の間に補正レンズ３１は、その可動範囲の形状からＸ軸方向の＋方向に移動するはずである。また、これとは逆に、補正レンズ３１が校正位置２、又は、校正位置２’近辺にあり、つまり、その方向が重力方向ならば、タイミングｔ１１からタイミングｔ１５の間に補正レンズ３１は、その可動範囲の形状からＸ軸方向の−方向に移動するはずである。したがって、ＭＣＵ１は、タイミングｔ１１においてＹ軸の駆動を開始する直前のＸ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｘ）を保持しておき、これをＬＲ１（Ｘ）とすると、この位置を基準として、タイミングｔ１５においてＹ軸の駆動を停止する直前のＸ軸の補正レンズ位置ＬＲ（Ｘ）（これをＬＲ２（Ｘ）とする）から、補正レンズ３１がＸ軸のどちらの方向に移動したかにより補正レンズ３１の駆動方向を決定する。
具体的には、ＭＣＵ１は、ＬＲ１（Ｘ）を基準にＬＲ２（Ｘ）がＸ軸の＋方向に移動したならば、最寄りの校正位置は、校正位置１、又は、校正位置１’であるとして、その校正位置の方向、つまり、Ｘ軸の−方向に補正レンズ３１を駆動する。逆に、ＬＲ１（Ｘ）を基準にＬＲ２（Ｘ）がＸ軸の−方向に移動したならば、最寄りの校正位置は、校正位置２、又は、校正位置２’であるとして、その校正位置の方向、つまり、Ｘ軸の＋方向に補正レンズ３１を駆動する。
【０１０４】
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ１５において、Ｘ軸の補正レンズ３１の制御を開始してから少なくともその制御が安定するまでの所定時間ＴＬＲａｄｊ１を経過したタイミングｔ１６からは、補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否かを、前述のタイミングｔ１２からの動作と同様の方法により判定する。
つまり、ＭＣＵ１は、算出された補正レンズ３１のＸ軸の位置ＬＲ（Ｘ）を式（１３）に示されるように微分演算し、又は、補正レンズ３１のＸ軸の位置ＬＲ（Ｘ）の所定時間の変化量としてＸ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）を算出し、Ｘ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）が、又は、補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下であるか否かにより、補正レンズ３１がその可動範囲の端にぶつかって停止したか否かを判定する。
補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止すれば、補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）は、ほぼゼロとなるはずであり、本判定は、このことから判定を行う。
【０１０５】
図９において、実線で示される例では、タイミングｔ１７において補正レンズ３１の可動範囲の端に押し付けられてぶつかり、ほぼ停止し、したがって、Ｘ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｘ）がほぼゼロ近辺となる。これにより、Ｙ軸の補正レンズ速度ＶＲ（Ｙ）の絶対値が所定値ＶＲａｄｊｔｈ０以下となり、補正レンズ３１が可動範囲の端にぶつかって停止したと判断される。これにより、補正レンズ３１の校正位置１，校正位置１’、又は、校正位置２，校正位置２’への駆動が完了し、本補正レンズの最寄りの校正位置への駆動動作を終了する。
【０１０６】
また、ＭＣＵ１は、補正レンズ３１をＸ軸方向で押し付けている向きから、校正位置が校正位置１，校正位置１’であるのか、校正位置２，校正位置２’であるかを認識する。更に、ＭＣＵ１は、フォトインタラプタ４８からの電磁ロック状態信号により、補正レンズ３１が電磁ロックされているか否かを認識し、押し付けている校正位置が、校正位置１か校正位置１’か、又は、校正位置２か校正位置２’かを認識する。したがって、押し付けている校正位置が６つの内の何れであるのかを確定することができる。
【０１０７】
尚、上記例では、ユーザが横位置、又は、縦位置でカメラを構えた場合を想定したが、希な例として、ユーザがカメラを天地逆、又は、上向き、下向きに構えた場合等、補正レンズ３１が６つ設定した校正位置のどこの位置近辺にも位置しない場合が有り得る。しかし、この場合にも、前述の方法によれば、補正レンズ３１は、必ず、６つある校正位置の内、どれか１つの位置に押しつけ駆動され、位置決めされる。
【０１０８】
以上のように、補正レンズ３１を最寄りの校正位置へ駆動する動作により、補正レンズ３１は、何れかの校正位置へ押しつけ駆動が完了する。本動作により、補正レンズ３１がこの所定の位置である校正位置へ正確に位置決めがなされる。加えて、この校正位置は、補正レンズ３１の可動範囲の角に配置したことにより、補正レンズ３１の位置決め精度は、より高精度なものとなっている。
【０１０９】
以上の動作では、補正レンズ３１を駆動するので、補正レンズ３１が若干移動し、カメラのファインダ像が移動する場合が生じるが、この量は、微量である。つまり、ユーザが横位置にて構えた場合、補正レンズ３１は、校正位置０，又は、校正位置０’近辺の可動範囲の端に落ちた状態にあり、補正レンズ３１の最寄りの位置への駆動動作により補正レンズ３１が移動する量は、微量である。また、ユーザが縦位置に構えた場合、補正レンズ３１が所定以上移動したかの移動量の判定値ＬＲａｄｊｔｈ０を必要最小限に抑えれば、ユーザがファインダで違和感を与えない程度に抑えることができる。ユーザがカメラを天地逆、又は、上向き、下向きに構えた場合には、ファインダで認識できる程、補正レンズ３１が移動するが、これは、希なケースである。
【０１１０】
（校正動作３：オフセット調整と光量調整）
次に、補正レンズ３１が校正位置に位置決めされた状態で行われるフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量調整動作について述べる。
ここでは、補正レンズ３１を押し付け、位置決めしている校正位置に応じて算出される光量値にフォトリフレクタ３５の発光部３５ａを調整する。
先に説明したように、受光信号処理回路７１を用いれば、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧を適切に設定し、その状態で補正レンズ３１が既知の位置、具体例として補正レンズ３１がその可動中心位置に位置する場合にフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量を調整したならば、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、その有効ダイナミックレンジを十分有効に使用されるようになる。
しかし、本実施形態では、補正レンズ３１を可動中心位置に位置決めすることができない。
そこで、本実施形態では、可動中心位置に位置決めする代わりに、６つ設定した校正位置に位置決めして、校正を行う。
【０１１１】
図１０は、補正レンズ３１の位置決めされた校正位置と理想的な光量調整直線との関係を示す図である。
補正レンズ３１が移動可能な範囲（電磁ロック解除状態での補正レンズ３１の可動範囲）で移動した場合に、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジを十分有効に使用するようにオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ電圧を決定する。具体的には、図１０に示されるとおり、補正レンズ位置ＬＲがその移動可能な範囲、つまり、可動範囲において補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが少なくともその有効ダイナミックレンジ内におさまり、かつ、その傾きが極力大きくなるような理想的関係となる光量調整理想直線を設定する。
【０１１２】
図１０の例では、補正レンズ３１の可動中心（補正レンズ位置ＬＲ＝０の位置）において補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓがその有効ダイナミックレンジ中央に設けられた所定の合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０を通り、補正レンズ３１の可動範囲において、有効ダイナミックレンジのほぼ全領域を使用するように光量調整理想直線を決定した。図１０には、この決定された光量調整理想直線が実線で示されている。
【０１１３】
この光量調整理想直線になるように、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを決定する。反射板３６の貼り合わせ誤差等がなく、補正レンズ位置検出の機構が理想的（設計称呼値）に出来上がっていれば、図１０の黒丸で示される仮想原点（この点の補正レンズ位置座標をＬＲ００，補正レンズ位置信号電圧をＶｌｅｎｓ００’とする）のＬＲ００は、一意的に決まり、図１０からも明らかなように、実線で示される光量調整理想直線の延長線上の点としてＶｌｅｎｓ００’が決定される。
【０１１４】
Ｖｌｅｎｓ００’が決定されれば、前述したように、式（５）におけるフォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐがゼロの時に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧がＶｌｅｎｓ００’となるようにオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧が求まり、これをオフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０とすると、Ｖｏｆｆｓｅｔ０は、以下の式（１４）で示される。
Ｖｏｆｆｓｅｔ０＝ＶＲＥＦ１−（Ｖｌｅｎｓ００’−ＶＲＥＦ１）×Ｒ３／Ｒ２ …式（１４）
【０１１５】
ただし、実際には、反射板３６の貼り合わせ位置誤差等を含むので、補正レンズ３１の位置を検出する機構の設計値から仮想原点のＬＲ００、及び、Ｖｌｅｎｓ００’が変化するため、このオフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０は、調整値とする。また、オフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０を調整値としても実際には、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを出力するＤ／Ａ変換器１４の出力電圧の誤差、及び、受光部３５ｂの処理回路を構成する抵抗等の素子の誤差から、Ｖｌｅｎｓ００’は、やはり製品個々でばらつきを生じるため、オフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０を、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが有効ダイナミックレンジに有効におさまるように決定し、その後、仮想原点の座標（ＬＲ００，Ｖｌｅｎｓ００’）を測定し、調整値として製品個々で固有の値として持つこととする。
【０１１６】
ここで、仮想原点の決定方法（測定方法）について説明する。
仮想原点は、その定義に示されるとおり、発光部５３ａの光量を変更しても、常に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが一定となる座標として求めることができる。したがって、仮想原点を求めるには、発光部５３ａを少なくとも２つ以上の異なる光量値で発光させ、そのときの補正レンズ位置ＬＲに対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係を示す直線の交わる点として算出すればよい。
具体的には、最初に、発光部５３を第１発光量で発光させて、その状態で少なくとも２箇所の補正レンズ位置ＬＲに対する補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを得て、第１発光量における補正レンズの動きに応じた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化を示す第１直線を求める。
次に、発光部５３の発光量を第１発光量とは異なる第２発光量で発光させて、第１直線を求めたときと同様にして、第２発光量における補正レンズの動きに応じた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化を示す第２直線を求める。
第１直線及び第２直線を求めることができれば、これら２直線の交点の座標＝仮想原点の座標として求めることができる。
こうして求まる仮想原点の座標値を調整値としてＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んでおくものとする。
【０１１７】
以上のようにして正確に求まった仮想原点座標（ＬＲ００，Ｖｌｅｎｓ００’）と補正レンズ３１の可動中心にて所定の合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０を通る光量調整理想直線は、以下に示す式（１５）で示され、また、この光量調整理想直線に理想的に発光部５３ａの光量が合わせ込まれたときの補正レンズ位置ＬＲは、以下に示す式（１６）によって算出される。
Ｖｌｅｎｓ＝Ｋγ０×ＬＲ＋Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ …式（１５）
ＬＲ＝１／Ｋγ０×（Ｖｌｅｎｓ−Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０） …式（１６）
尚、Ｋγ０は、光量調整理想直線の傾きを示し、式（１７）で与えられる。
Ｋγ０＝（Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０−Ｖｌｅｎｓ００’）／（０−ＬＲ００） …式（１７）
【０１１８】
本実施形態では、各校正位置において、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を調整し、光量調整理想直線に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを合わせ込む。したがって、今、校正位置ｋ（ｋ＝０，１，２，０’，１’，２’）とし、校正位置ｋの補正レンズ位置座標をＬＲａｄｊｋとすると、校正位置ｋの合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋは、式（１５）を基に、以下に示す式（１８）で算出される。
Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋ＝Ｋγ×ＬＲａｄｊｋ＋Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ …式（１８）
ここで、校正位置ｋの座標ＬＲａｄｊ０ｋは、補正レンズ３１の位置を検出する機構、及び、補正レンズ３２の可動範囲を制限する機構、又は、電磁ロック機構のロック穴３３ａ、及び、ロックピン４５等の機械的寸法等のばらつきにより変化し、製品個々により異なるため、個々の製品で調整により決定し、ＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んでおくものとする。
【０１１９】
以上の説明により、補正レンズ３１を押しつけ、位置決めされている校正位置の座標に依存して、仮想原点座標から算出される光量調整理想直線から補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの合わせ込み電圧を式（１８）により算出し、フォトトランジスタ３５の発光部３５ａの光量を調整して、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓをその算出された各校正位置の合わせ込み電圧に調整すれば、式（１７）により正確な補正レンズ位置ＬＲが算出されることが明らかとなった。
【０１２０】
次に、具体的な光量調整の動作を以下に述べる。
図１１は、光量調整動作の具体例を示すタイミングチャートである。
まず、調整前の初期状態は、前述のように補正レンズ３１は、６つある校正位置の何れかの校正位置に押し付けられ位置決めされた状態にあり、Ｘ軸方向、又は、Ｙ軸方向に補正レンズ３１が駆動され続けている状態にある。これから述べる光量調製動作は、この状態のまま、つまり、補正レンズ３１を駆動したままの状態で行われる。尚、Ｄ／Ａ変換器１３は、分解能８ビット型のＤ／Ａ変換器を用いるものとして説明する。
【０１２１】
ＭＣＵ１は、タイミングｔ２１において、前述の方法で決められたオフセット調整電圧Ｖｏｆｆｓｅｔ０をＥＥＰＲＯＭ１７から読み出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ２によりＤ／Ａ変換器１４を操作し、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔから出力する。
次に、ＭＣＵ１は、タイミングｔ２２において、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、以下に示す式（１９）による電圧ＶＩＦ１１を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
ＶＩＦ１１＝ＶＲＥＦ＿ＤＡ／２ …式（１９）
ここで、ＶＲＥＦ＿ＤＡは、Ｄ／Ａ変換器１３の基準電圧であり、式（１９）は、このＤ／Ａ変換器の基準電圧の半分の電圧を出力することを意味する。
【０１２２】
次に、タイミングｔ２２において光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを操作してから、少なくともそれにより補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの出力電圧が安定するまでの所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ２３からは、前述の方法で決められた、現在押し付けて位置決めされている校正位置ｋ（ｋは、０，０’，１，１’，２，２’のいずれか）の補正レンズ位置座標ＬＲａｄｊｋをＥＥＰＲＯＭ１７から読み出し、式（１８）を用いて校正位置ｋの合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋを算出し、その合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋに対して、ＭＣＵ１に内部に内蔵するＡ／Ｄ変換器１ａにより検出された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧が、高いか否かを判定し、式（１０）により、ｎ＝１２以降の光量調整信号電圧ＶＩＦｎ（ｎ＝１２，１３，１４、‥‥１８）を算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された光量調整信号電圧ＶＩＦｎを光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
尚、光量調整信号電圧ＶＩＦｎにおいて、ｎ＝１２の時のＶＩＦｎ−１は、式（１９）で示されるＶＩＦ１１である。
【０１２３】
また、式（１０）の±符号は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋより高い場合に＋とし、それ以外の場合に−とする。このタイミングｔ２３の動作を、ｎ＝１２〜１８まで、所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１間隔で繰り返す。
図１１に示される例では、タイミングｔ２３において補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋより高いため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を＋として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ１２を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力する。
【０１２４】
次に、タイミングｔ２３で光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを変更してから、少なくとも補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが安定するまでの所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１経過したタイミングｔ２４では、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０より高くないため、光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦを式（１０）の±符号を−として算出し、Ｄ／Ａ操作信号Ｓ１によりＤ／Ａ変換器１３を操作し、算出された電圧ＶＩＦ１３を光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦから出力している。
【０１２５】
以上の動作をｎ＝１８（図１１では、ｎ＝１８となるタイミングがｔ２５に相当する）となるまで所定時間ＴＩＦ＿ａｄｊ１間隔で繰り返すことにより、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓは、徐々に合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋに合わせ込まれて行く。
このようにして合わせ込まれた補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧は、図１０に示される光量調整理想直線上又はごく近くにあり、したがって、式（１６）を用いて、ほぼ正確な補正レンズ位置ＬＲを算出可能となる。
【０１２６】
（校正動作４：光量調整誤差補正動作）
以上説明した校正動作１〜３を行うことにより、ほぼ正確な補正レンズ位置ＬＲを算出可能となる。
しかし、実際には、Ｄ／Ａ変換器１３の量子化分解能は、有限であり、また、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａとその駆動回路、及び、受光部３５ｂと受光信号処理回路７１を構成する素子等の特性ばらつき等がある。よって、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧は、この光量調整理想直線から若干の誤差を生じてしまう。
この誤差が本発明を適用する製品において、許容できない場合には、以下に説明する方法でこの光量調整誤差による補正レンズ位置ＬＲの誤差を補正する。
【０１２７】
ここで行う光量調整誤差補正動作は、光量調整理想直線と実際に光量調整動作により調整された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧との差による補正レンズ位置の検出誤差を補正し、正確な補正レンズ３１の位置検出を行えるようにする。
光量調整誤差補正動作は、図１１を用いて説明した光量調整動作の最後に光量調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧を変更したタイミング（図１１のタイミングｔ２５に相当する）から、その変更による補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの変化が少なくとも安定するまでの所定時間ＴＩＦａｄｊ１経過後の、図１１のおけるタイミングｔ２６で行う動作であり、本状態では、補正レンズ３１の校正位置への押しつけ駆動による位置決めが継続している状態で行われる。
【０１２８】
図１２は、光量調整理想直線と、実際に光量調整動作により調整された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示す図である。
前述のとおり、フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの光量値に関係なく、補正レンズ位置ＬＲと、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓとの関係を示す直線は、必ず仮想原点を通る。よって、光量調整により光量調整誤差を生じて、光量調整理想直線（図１２の一点鎖線で示す）からずれた実際の直線（図１２の実線で示す直線）も仮想原点を通る直線となる。
【０１２９】
ここで、図１１におけるタイミングｔ２６の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧、つまり、前述した光量調整動作により調整された実際の補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓ＿ａｄｊｋとして、図１２に点Ｍとして示す。
この点Ｍ、つまり、補正レンズ３１の位置が、押し付けている校正位置の位置座標ＬＲａｄｊｋで、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓ電圧がＶｌｅｎｓ＿ａｄｊｋの点と、仮想原点座標を結んだ直線から正確な補正レンズ位置ＬＲが算出される。
【０１３０】
具体的には、ＭＣＵ１は、以下に示す式（２０）により補正レンズ位置ＬＲを算出する。
ＬＲ＝１／Ｋγ×（Ｖｌｅｎｓ−Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊｋ）＋ＬＲａｄｊｋ …式（２０）
尚、式（２０）で用いられるＫγは、図１２の実線の傾きに相当するものであり、以下に示す式（２１）により得られる。
Ｋγ＝（Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊｋ−Ｖｌｅｎｓ００’）／（ＬＲａｄｊｋ−ＬＲ００） …式（２１）
【０１３１】
尚、先にも述べたが、式（２０），式（２１）で用いられる校正位置ｋ（ｋ＝０，０’，１，１’，２，２’）の座標ＬＲａｄｊｋ、及び、仮想原点座標（ＬＲ００，Ｖｌｅｎｓ００’）は、調整値であり、ＭＣＵ１は、公知の技術により予め記憶されている値をＥＥＰＲＯＭ１７から読み出して使用する。
最後に、このように正確な補正レンズ位置が算出されると、現在行われている補正レンズ３１の校正位置への押しつけ駆動は、必要なくなる。図１１の例では、ＭＣＵ１は、タイミングｔ２７において、駆動回路操作信号Ｓ３により補正レンズ駆動回路１５を操作し、補正レンズ駆動用コイル３７ａ（Ｘ軸用）、又は、補正レンズ駆動用コイル３７ｂ（Ｙ軸用）への通電を非通電にし、補正レンズ３１の押しつけ駆動を終了する。
【０１３２】
本実施形態によれば、校正動作１の仮光量調整により、補正レンズ３１が何れの位置にあっても位置を検出することができるように調整した。そして、校正動作２の補正レンズの位置決めを行うことにより、補正レンズ３１の位置を確定した後、校正動作３のオフセット調整と光量調整を行うので、補正レンズ３１の位置をほぼ正確に検出することができる。
また、校正動作４の光量調整誤差補正動作を行うので、より高精度に位置検出を行うことができる。
これら一連の校正動作を、ユーザがカメラの電源を入れた直後又はブレ補正を行うモードにした直後に行うことにより、撮影直前の温度条件等を加味した調整が行われ、フォトリフレクタ３５の個体差や温度依存性によらず、安定して高精度な位置検出を行うことができる。
更に、これらの校正動作は、ＭＣＵ１の指示により発光部駆動回路７０及び受光信号処理回路７１を用いて行われるので、製品の製造時に製品個々で調整等の手間をかけることなく、位置検出を正確に行うことができる。
更にまた、補正レンズ３１の可動範囲を多角形形状としたので、位置決めの精度が高くなり、より正確な校正動作を行うことができる。
【０１３３】
（変形形態）
以上説明した実施形態に限定されることなく、種々の変形や変更が可能であって、それらも本発明の均等の範囲内である。
（１）本発明は、理想的には、実施形態において説明したように、校正動作１の仮光量調整、校正動作２の補正レンズの位置決め駆動動作、校正動作３のオフセット調整と光量調整、及び、校正動作４の光量調整誤差補正動作を行い、かつ、補正レンズの可動範囲を多角形化すること等の全てを実施されることが精度の観点では、望ましい。これら全てを実施したブレ補正装置の光学式位置検出装置では、本発明が解決しようとする課題の全てを解決し、より、精度の高いブレ補正光学系の位置検出を実現することができる。
しかし、前述の各動作（各発明）単体でも、それぞれが課題に対して効果を有しており、これら本発明の一部のみを実施してもよい。以下に、その例（１−１〜１−１０）を挙げて説明する。
【０１３４】
（１−１）補正レンズ３１の電磁ロック解除状態での可動範囲、又は、電磁ロック状態での可動範囲を多角形とせず、従来通りの略丸型としてもよい。この場合、前述の補正レンズの最寄りの校正位置への駆動動作により、可動範囲が多角形のものに比べれば精度は落ちるが、ある程度の精度をもって補正レンズ３１の位置決めは可能であり、その後に行われる、校正動作３のオフセット調整と光量調整、及び、校正動作４の光量調整誤差補正動作により従来に比べ、補正レンズ位置の検出精度は、大きく向上する。
【０１３５】
（１−２）校正動作３のオフセット調整と光量調整、及び、校正動作４の光量調整誤差補正動作等で用いたフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの出力電流がゼロとなる仮想的な受光部処理回路の出力、つまり、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧とその時の補正レンズ位置を示す仮想原点の座標は、ＥＥＰＲＯＭ１７に書き込んだ調整値としたが、補正レンズ位置検出メカ、及び、発光部３５ａ、受光部３５ｂやその回路等が理想的ならば一意的に求まり、その場合には、仮想原点の座標を固定値としてもよい。
また、これらのばらつきが許容できる範囲である場合にも、仮想原点の座標を固定値としてもよい。
【０１３６】
（１−３）フォトリフレクタ３５の感度ばらつきは、従来技術により、例えば、図１９に示されるような回路でばらつきを調整し、第２の課題であったフォトリフレクタ３５の温度依存性に関して本発明を適用することができる。その場合、例えば、校正動作１の仮光量調整，校正動作３のオフセット調整と光量調整は、必ずしも行う必要はない。
具体的には、製品の使用される温度範囲において、個々の製品で補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが変化しても出力の飽和等が生じないように発光部３５ａの光量を若干小さめに調整しておき、校正動作２の補正レンズの位置決め動作により、補正レンズ３１は、正確に位置決めされ、次に、校正動作４の光量調整誤差補正動作を行わせることによって、周囲温度が調整時の温度と異なったためにフォトリフレクタ３５の感度が変化し、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが変化、補正レンズ位置直線が変化したとしても、光量調整誤差補正動作により、この変化を排除して正確な補正レンズ位置が検出可能となる。
【０１３７】
（１−４）仮に、フォトリフレクタ３５の感度のばらつき、又は、温度変動等の影響を、従来技術により調整したり、又は、特性のよいフォトリフレクタを使用することにより、これらばらつきに関する問題を解決したとしても、本発明によるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂ、及び、受光信号処理回路７１とこれに関連した動作は、補正レンズ位置信号ＶｌｅｎｓのＳ／Ｎの拡大、及び、検出分解能の向上に大きく寄与するので、これらと重複して実施してもよい。
図５、及び、その説明に示されるとおり、従来技術により得られる補正レンズ位置信号の傾きに比べ、より大きい傾きを得ることができ、補正レンズ位置信号のＳ／Ｎ、検出分解能が向上し、したがって、補正レンズ位置の検出精度を向上することができる。
【０１３８】
（１−５）校正動作４の光量調整誤差補正動作は、必ずしも必要ではない。前述した校正動作２の補正レンズの位置決め動作により、補正レンズ３１が正確に位置決めされ、その後行われる校正動作３のにより、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが、合わせ込み電圧Ｖｌｅｎｓ＿ａｄｊ０ｋに許容可能な誤差範囲内になるように発光部３５ｂの光量調整がなされたならば、補正レンズ位置直線は、光量調整理想直線に許容範囲の誤差量で常に一致し、補正レンズ位置ＬＲは、常にこの光量調整理想直線から求めることができる。すなわち、補正レンズ３１の位置決めと、その位置でのオフセット調整と光量調整動作のみで補正レンズ位置を正確に算出することが可能である。よって、校正動作４の光量調整誤差補正動作を省略しても、光学式位置検出装置の校正が可能となる。
【０１３９】
（１−６）第１実施形態に記載された回路、数式等は、これに限定されるものではなく、様々な変更が可能である。
例えば、図３に示されるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの受光信号処理回路７１は、図１３に示す形態としてもよい。
図１３は、受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−６を示す回路図である。図１３に示した回路は、図３における受光部３５ｂの受光信号処理回路７１と同様の動作をさせることができる。
具体的には、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂを構成するフォトトランジスタＴＲ１２のコレクタは、公知の技術による一定電圧ＶＴＲの電源に接続され、エミッタは、抵抗Ｒ３０２を介してＧＮＤに接続され、抵抗Ｒ３０２によりエミッタ電流ｉｐが電圧に変化される、電圧に変換された出力は、図３におけるＤ／Ａ変換器１４からのオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを基準に演算増幅器ＯＰ３１２、抵抗Ｒ３０３、Ｒ３０４により非反転増幅され、補正レンズ位置信号ＶｌｅｎｓとしてＭＣＵ１に出力される。
ここで、抵抗Ｒ３０２、Ｒ３０３、Ｒ３０４の抵抗値をそれぞれＲ２、Ｒ３、Ｒ４とし、Ｄ／Ａ変換器１４の出力であるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧をＶｏｆｆｓｅｔ（可変電圧）、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧をＶｌｅｎｓとすると、以下に示す式（２２）の関係が成り立つ。
Ｖｌｅｎｓ＝Ｒ２×（１＋Ｒ４／Ｒ３）×ｉｐ−Ｒ４／Ｒ３×Ｖｏｆｆｓｅｔ…式（２２）
式（２２）からも分かるように、フォトトランジスタＴＲ１２のエミッタ電流ｉｐが非反転増幅されて出力されるか反転増幅されて出力されるか、及び、エミッタ電流ｉｐ、及び、オフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔの電圧に対する出力利得に相違があるだけで図３におけるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路の動作を示す式（５）と実質的に何ら変わらない動作をさせることができる。従って、適当に抵抗Ｒ３０２、Ｒ３０３、Ｒ３０５に抵抗値を選択すれば、第１実施形態において説明した、仮光量調整動作，補正レンズの位置決め動作，オフセット調整と光量調整動作，光量調整誤差補正動作を、ほぼ同様に実現することができ、正確な補正レンズ３１の位置検出が可能となる。
【０１４０】
（１−７）図１４は、受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−７を示す回路図である。図１４に示す回路は、図３に示されるフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の抵抗Ｒ１０３を可変抵抗とし、Ｄ／Ａ変換器１４を用いない形式とした回路である。本回路は、図３における受光信号処理回路７１の動作を示す式（５）のＶｏｆｆｓｅｔ＝０とした動作を行う。本回路の場合は、第１実施形態のＭＣＵ１で行われるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔのＤ／Ａ変換器１４で行われていたものを可変抵抗Ｒ２０３の抵抗値を調整することで行う。この場合、第１実施形態における校正動作１の仮光量調整時、及び、校正動作３のオフセット調整と光量調整時で異なるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔ電圧を選択することができない。従って、製品個々の調整後は、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓを電圧シフトすることができない。そこで、校正動作１の仮光量調整、及び、校正動作３のオフセット調整と光量調整の双方で両立するように、つまり、校正動作１の仮光量調整時に補正レンズ３１が可動範囲で移動した場合に補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが飽和しないように、また、校正動作３のオフセット調整と光量調整時に、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓが補正レンズ３１の可動範囲において極力大きな電圧変化を得られるように抵抗Ｒ２０３を変更するものとする。
【０１４１】
（１−８）図１５は、受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−８を示す回路図である。図１５に示す回路は、第１実施形態における受光信号処理回路７１を変形した図１４の回路構成のまま、可変抵抗Ｒ４０３の抵抗値をＭＣＵ１により変更可能な可変抵抗Ｒ５０３とした回路である。
図１５の可変抵抗Ｒ５０３は、その外部から抵抗値を変更可能なように構成された素子である。本回路は、図１４と同様に、式（５）のＶｏｆｆｓｅｔ＝０とした動作となり、前述のＭＣＵ１で行われるオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔのＤ／Ａ変換器１４で行われていたものをＭＣＵ１の抵抗値操作信号Ｓ５により行い、補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの電圧を任意にシフトさせることができる。従って、校正動作１の仮光量調整、及び、校正動作３のオフセット調整と光量調整時にオフセット調整信号Ｖｌｅｎｓ＿ｏｆｆｓｅｔを操作してそれぞれ最適な補正レンズ位置直線を得ていたものを、ＭＣＵ１の抵抗値操作信号Ｓ５により可変抵抗Ｒ５０３の抵抗値を変更することで行うことができる。
【０１４２】
（１−９）フォトリフレクタ３５の発光部３５ａの素子としては、ＬＥＤに限定されず、例えば、レーザーダイオードを用いても構わない。受光部３５ｂは、フォトトランジスタの替わりにフォトダイオードを用いても構わない。フォトダイオードは、入射した光量にほぼ比例した光電流を出力し、一方、前述の説明で用いたフォトトランジスタは、フォトダイオードとトランジスタで構成され、フォトダイオードの出力電流がトランジスタで電流増幅される。従って、入射した光量に対して得られる電流値の大きさに相違があるだけで根本的な相違はない。よって、図３におけるフォトトランジスタＴＲ１２をフォトダイオードに変更し、その他、抵抗値等の値を変更することで前述のような動作を行うことが可能である。
【０１４３】
（１−１０）図１に示される補正レンズ３１の電磁ロック状態を認識する手段としてのフォトインタラプタ４８は、この替わりにスイッチ等を用いても構わない。例えば、図１に示される電磁ロックの機構、具体的には、ロックピン４５の動きに連動してこのスイッチのオン、オフの状態を変化させるよう構成し、このスイッチの状態をＭＣＵ１により認識するようにしてもよい。
【０１４４】
（２）ロック穴３３ｂを多角形とする場合に、四角形とした例を示したが、これに限らず、例えば、ひし形、３角形等でもよいし、校正位置として機能すれば、多角形に限らずに、曲線で構成されていてもよい。
【０１４５】
（３）校正位置として、３方向×２＝６箇所の校正位置を設けた例を示したが、これに限らず、装置が使用される形態によっては、３箇所でもよいし、１つでも、２つでもよい。
【０１４６】
（４）本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置は、銀塩一眼レフカメラの交換レンズに使用される装置である例を示したが、これに限らず、例えば、レンズ一体型のカメラであってもよいし、ディジタルスチルカメラやビデオカメラ又は双眼鏡等に使用してもよい。
【０１４７】
【発明の効果】
以上詳しく説明したように、本発明によれば、位置決め手段によりブレ補正光学系を所定位置に位置決めした状態で、演算部により得られるブレ補正光学系の位置が正確な位置となる調整を行う調整部を備えるので、フォトリフレクタの個々の感度ばらつきに起因する問題を製品個々で調整等の手間をかけずに解決することができる。特に、調整は、ブレ補正光学系の位置と受光量信号又は位置信号との関係が理想的関係となるように行われるので、よりＳ／Ｎ、及び、検出分解能の良い補正レンズの位置検出をすることができ、フォトリフレクタの感度の温度依存性の問題を解決し、使用される温度が変化したとしても、正確な補正レンズ位置の検出をすることができる。
また、これらの調整は、発光量の調整と、受光量信号又は受光量信号に応じた信号を全体として増減する（オフセットする）ことにより行うので、簡単な回路によって行うことができ、装置を安価にすることができる。
更に、ブレ補正光学系の可動範囲を多角形形状として、この多角形形状の隅部に位置決めして調整を行うので、調整の精度を高くすることができる。
更にまた、この多角形形状の隅部を、装置が通常使用される姿勢における略重力方向に配置し、位置決めを行う動作は、最初に重力方向に移動させ、最も近い隅部に位置決めするので、調整を行うときに不自然な動作が生じず、素早く自然に調整を終えることができる。
従って、本発明による光学式位置検出装置を使用したブレ補正装置は、より高いブレ補正性能を実現し、しかも、安価に市場に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態における電磁ロック機構を模式的に示した図である。
【図２】図１に示される電磁ロック機構、特にロック穴３３ｂを四角形状とした時の電磁ロック状態と、電磁ロック解除状態での補正レンズ３１の可動範囲について説明する図である。
【図３】本実施形態におけるブレ補正装置の光学式位置検出装置の電気回路ブロック図である。
【図４】ＬＥＤ１１に流れる電流値ＩＦとＤ／Ａ変換器１３の出力Ｖｌｅｎｓ＿ＩＦの電圧ＶＩＦとの関係の一例を示す図である。
【図５】従来技術及び本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号の関係を示すグラフである。
【図６】本実施形態における光量仮調整のタイミングチャートである。
【図７】本実施形態における補正レンズ位置と補正レンズ位置信号との関係を示すグラフである。
【図８】本実施形態における補正レンズ３１の位置決め動作を示す模式図である。
【図９】本実施形態における補正レンズを最寄りの校正位置へ駆動する動作を示すタイミングチャートである。
【図１０】補正レンズ３１の位置決めされた校正位置と理想的な光量調整直線との関係を示す図である。
【図１１】光量調整動作の具体例を示すタイミングチャートである。
【図１２】光量調整理想直線と、実際に光量調整動作により調整された補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示す図である。
【図１３】受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−６を示す回路図である。
【図１４】受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−７を示す回路図である。
【図１５】受光部３５ｂの受光信号処理回路７１の変形形態１−８を示す回路図である。
【図１６】銀塩一眼レフカメラの例について従来技術によるブレ補正装置をＸ軸方向、又は、Ｙ軸方向の何れか１方向の断面を模式的に示した図である。
【図１７】補正レンズ３１を可動範囲の中央付近に固定するロック機構を模式的に示した図である。
【図１８】従来の補正レンズの位置検出装置を示す模式図である。
【図１９】従来のフォトリフレクタ３５の発光部３５ａの駆動回路を示す図である。
【図２０】従来のフォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路を示す図である。
【図２１】従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂから出力されるフォトリフレクタ出力電流ｉｐの関係を示すグラフである。
【図２２】従来のブレ補正装置において、補正レンズ３１の位置に対する、フォトリフレクタ３５の受光部３５ｂの処理回路から出力される補正レンズ位置信号Ｖｌｅｎｓの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
１ ＭＣＵ（ワンチップマイクロコンピュータ）
１ａ Ａ／Ｄ変換器
１１ ＬＥＤ
１２ フォトトランジスタ
１３，１４ Ｄ／Ａ変換器
１５ 補正レンズ駆動回路
１６ 電磁ロック駆動回路
１７ ＥＥＰＲＯＭ
３０，３２撮影レンズ
３１ 振れ補正光学系（補正レンズ）
３３ 可動部材
３３ａ，３３ｂ ロック穴
３４ａ，３４ｂ バネ
３５ フォトリフレクタ
３５ａ フォトリフレクタの発光部
３５ｂ フォトリフレクタの受光部
３６ 反射板
３７，３７ａ，３７ｂ コイル
３８ａ，３８ｂ ヨーク
３９ マグネット
４０ カメラボディ
４１ 交換レンズ
４１ａ 固定部材
４２ 光軸
４３ フィルム面
４５ ロックピン
４６ 吸着板
４７ 電磁ロック用コイル
４８ フォトインタラプタ
６０ ＬＥＤ
６１ フォトトランジスタ
６２ 演算増幅器
７０ 発光部駆動回路
７１ 発光信号処理回路
１０１，１０２，１０３ 抵抗
１１１，１１２ 演算増幅器
１１３ トランジスタ
１１５ コンデンサ
３０２，３０３，３０４ 抵抗
３１２ 演算増幅器
４０２ 抵抗
４０３ 可変抵抗
４１２ 演算増幅器
４５１ コンデンサ
５０２ 抵抗
５０３ 可変抵抗
５１２ 演算増幅器
５５１ コンデンサ
６０１，６０２ 抵抗
６５１ コンデンサ
Claims (26)
- 振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系と、
測定光を発光する発光部と、
前記ブレ補正光学系の移動に応じ、前記発光部に対して相対的に移動する部材に配置され、位置により異なる量の前記測定光を反射又は透過する検出板と、
前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記検出板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に応じた受光量信号を出力する受光部と、
前記受光量信号に処理を行い位置信号を出力する受光信号処理部と、
前記位置信号に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部と、
を備えるブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記ブレ補正光学系の位置を所定位置に位置決めする位置決め手段と、
前記位置演算部により得られる前記ブレ補正光学系の位置が正確な位置となる調整を、前記位置決め手段により前記ブレ補正光学系を前記所定位置に位置決めした状態で行う調整部と、
を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置決め手段は、前記ブレ補正光学系の可動範囲を所定の範囲に制限する可動範囲制限手段と、前記可動範囲制限手段によって制限された前記可動範囲に少なくとも一箇所設けられた位置決め部へ前記ブレ補正光学系を駆動して当て付ける位置決め駆動部と、
を備えること特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置決め手段は、前記ブレ補正光学系の可動範囲の略中央付近の限定範囲に、前記ブレ補正光学系が位置するように保持する中央保持手段と、
前記中央保持手段によって保持された前記限定範囲に少なくとも一箇所設けられた位置決め部へ前記ブレ補正光学系を駆動して当て付ける位置決め駆動部と、
を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項２又は請求項３に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記可動範囲及び／又は前記限定範囲は、略多角形形状であり、
前記位置決め部は、前記略多角形形状の隅部であること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項２から請求項４までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置決め駆動部は、駆動前の前記ブレ補正光学系の位置から最も近い位置にある前記位置決め部に、前記ブレ補正光学系を駆動して当て付けること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項２から請求項５までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置決め部の少なくとも１つは、装置が通常使用される姿勢における略重力方向に配置されていること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項２から請求項６までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置決め部は、装置が通常使用される姿勢における略重力方向と略水平方向とに配置されていること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項６又は請求項７に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置決め駆動部は、前記ブレ補正光学系を前記重力方向へ駆動し、前記位置演算部による演算結果から、前記ブレ補正光学系が所定量以上移動しないことが判明した場合には、そのまま前記ブレ補正光学系を前記位置決め部に当て付けること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項６又は請求項７に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置決め駆動部は、前記ブレ補正光学系を前記重力方向へ駆動し、前記位置演算部による演算結果から、前記ブレ補正光学系が所定量以上移動した場合には、前記ブレ補正光学系を前記略水平方向に駆動し、前記ブレ補正光学系を前記位置決め部に当て付けること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１から請求項９までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記調整部は、前記発光部の発光量を変更することにより、前記調整を行うこと、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１０に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記調整部は、前記ブレ補正光学系が前記所定位置にあるときの前記受光量信号又は前記位置信号が、狙い値となるように前記発光部の発光量を調整するものであって、
前記狙い値は、前記ブレ補正光学系の位置と、前記受光量信号又は前記位置信号と、の関係が、調整狙いである理想的関係である場合に得られる前記受光量信号又は前記位置信号であること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系と、
測定光を発光する発光部と、
前記ブレ補正光学系の移動に応じ、前記発光部に対して相対的に移動する部材に配置され、位置により異なる量の前記測定光を反射又は透過する検出板と、
前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記検出板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に応じた受光量信号を出力する受光部と、
前記受光量信号に処理を行い位置信号を出力する受光信号処理部と、
前記位置信号に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部と、
を備えるブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記検出板による前記測定光の反射又は透過が無い場合の仮想的な前記受光量信号又は前記位置信号と、前記ブレ補正光学系の位置とにより定義される仮想原点に依存して求まり、かつ、調整狙いである理想的関係から求まる値に、前記受光量信号又は前記位置信号が略一致するように前記発光部の発光量の調整を行う調整部を備えること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１２に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記仮想原点では、前記発光部が２以上の異なる発光量の発光をしたときの前記受光量信号又は前記位置信号と前記ブレ補正光学系の位置との関係を示す直線が交わること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１３に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記発光部が第１発光量で発光したときの前記ブレ補正光学系の動きに応じた前記受光量信号又は前記位置信号の変化を示す第１直線と、
前記発光部が前記第１発光量とは異なる第２発光量で発光したときの前記ブレ補正光学系の動きに応じた前記受光量信号又は前記位置信号の変化を示す第２直線とが前記仮想原点で交わること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１２から請求項１４までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記ブレ補正光学系の位置を所定位置に位置決めする位置決め手段を備え、
前記理想的関係は、前記仮想原点と、前記ブレ補正光学系の位置を前記所定位置としたときの前記受光量信号又は前記位置信号と、に依存して求まること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１１から請求項１５までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記理想的関係は、前記ブレ補正光学系の可動範囲内で、前記受光量信号又は前記位置信号が有効ダイナミックレンジ内にあって、かつ、前記受光量信号又は前記位置信号のＳ／Ｎ比が高くなる関係であること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１１から請求項１６までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
書き換え可能な不揮発性記憶手段を有し、
前記理想的関係に関する情報の少なくとも１つは、前記不揮発性記憶手段から読込むこと、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１から請求項１７までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記位置演算部は、前記ブレ補正光学系を前記所定位置に位置決めしたときの位置と、前記受光量信号又は前記位置信号とから求まる、前記ブレ補正光学系の位置と前記受光量信号又は前記位置信号との関係により、前記ブレ補正光学系の位置を演算すること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１８に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記ブレ補正光学系の位置と前記受光量信号又は前記位置信号との関係は、前記ブレ補正光学系を前記所定位置に位置決めしたときの位置と、前記受光量信号又は前記位置信号とに加えて、
前記検出板による前記測定光の反射光又は透過光の変化直線の延長上にあって、前記検出板による前記測定光の反射又は透過が無い場合の仮想的な前記受光量信号又は前記位置信号と、前記ブレ補正光学系の位置とにより定義される仮想原点により、求まる関係であること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１８又は請求項１９に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
書き換え可能な不揮発性記憶手段を有し、
前記所定位置及び／又は前記仮想原点の位置と前記仮想原点における前記受光量信号又は前記位置信号は、前記不揮発性記憶手段から読込むこと、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１から請求項２０までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記受光部は、受光した光量に略比例した電流を前記受光量信号として出力し、
前記受光信号処理部は、前記受光量信号から任意の可変電流を減算し、前記可変電流を減算した前記受光量信号を電圧に変換して出力すること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項１から請求項２０までのいずれか１項に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記受光部は、受光した光量に略比例した電流を前記受光量信号として出力し、
前記受光信号処理部は、前記受光量信号を電圧変換し、電圧変換された前記受光量信号から任意の可変電圧を減算して出力すること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項２１又は請求項２２に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記可変電流又は前記可変電圧は、前記調整部による前記調整を行う前後で異なる値であること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系と、
測定光を発光する発光部と、
前記ブレ補正光学系の移動に応じて移動する部材に配置され、前記ブレ補正光学系の移動に応じた量の前記測定光を反射又は透過する検出板と、
前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記被測定板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に略比例した電流を受光量信号として出力する受光部と、
前記受光量信号から任意の可変電流を減算し、前記可変電流を減算した前記受光量信号を電圧に変換して出力する受光信号処理部と、
前記受光信号処理部の出力に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部と、
を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 振れにより生じる像面でのブレを補正するブレ補正光学系と、
測定光を発光する発光部と、
前記ブレ補正光学系の移動に応じて移動する部材に配置され、前記ブレ補正光学系の移動に応じた量の前記測定光を反射又は透過する検出板と、
前記検出板により反射した前記測定光、又は、前記被測定板を透過した前記測定光を受光し、受光した光量に略比例した電流を受光量信号として出力する受光部と、
前記受光量信号を電圧変換し、電圧変換された前記受光量信号から可変可能な電圧を減算して出力する受光信号処理部と、
前記受光信号処理部の出力に基づいて前記ブレ補正光学系の位置を演算する位置演算部と、
を備えることを特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。 - 請求項２４又は請求項２５に記載のブレ補正装置の光学式位置検出装置において、
前記発光部の発光量を調整する発光量調整部を備えること、
を特徴とするブレ補正装置の光学式位置検出装置。
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2003
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