JP2004184146A

JP2004184146A - ニップ幅検出装置

Info

Publication number: JP2004184146A
Application number: JP2002349438A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Nochida; 寛之後田; Akihiko Igarashi; 昭彦五十嵐; Takuya Kaneda; 拓也金田; Shinichi Yagi; 真一八木
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date: 2002-12-02
Filing date: 2002-12-02
Publication date: 2004-07-02

Abstract

【課題】ニップ幅検出作業の容易化、効率化等を図ることが可能なニップ幅検出装置を提供する。
【解決手段】定盤上に設けられた版に接触しつつ当該版にインキを供給する回転体と、前記版及び前記回転体との接触圧力を制御する接触圧力制御部とを備えた印刷機における前記回転体のニップ幅を検出するニップ幅検出装置であって、前記版の版面に電極層が形成され、前記回転体の外周面の少なくとも前記版に接触する部分に誘電体層が形成され、当該回転体の内周面の少なくとも誘電体層が形成された部分に電極層が形成されており、前記版に形成された電極層と前記回転体に形成された電極層間に電圧を印加し、前記誘電体層の静電容量を測定する静電容量測定手段と、を備える。
【選択図】図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、定盤上に設けられた版に接触しつつ当該版にインキを供給する回転体と、前記版及び前記回転体との接触圧力を制御する接触圧力制御部とを備えた印刷機における前記回転体のニップ幅を検出するニップ幅検出装置の技術分野に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の平台オフセット印刷機では、版とロール（例えば、ゴムロール）若しくは、版とゴムブランケット若しくは、ロールとロール間の接触圧力を管理する際に、ニップ幅（版とロールとの接触幅若しくは、版とゴムブランケットとの接触幅若しくは、ロールとロール間の接触幅）を測定し、接触圧力を管理していた。
【特許文献１】
特開平８−１６０２５号公報
かかるニップ幅を測定する手法として、例えば、図７に示すように、感圧紙を用いてニップ幅を測定したり、特許文献１に開示されるように、ベタ黒コピーに形成されたニップの跡からニップ幅を測定することが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の平台オフセット印刷機のように、感圧紙等を用いてニップ幅を測定する場合、例えば、当該感圧紙を版とゴムロールの隙間に設置するため、この隙間が狭い場合や、ゴムロール周辺に他の機構、装置が併設されている場合、この作業が困難であり、ニップ幅の測定に時間を要していた。
【０００４】
また、感圧紙によるニップ幅の測定においては、機械調整の後に行われる作業手順であったため、測定結果確認後、再調整が必要な場合は、再度同様の作業を繰り返す必要があり、多大な作業時間を要していた。さらに、使用する感圧紙の種類（感度）によってニップ幅が異なるため、評価や管理、他の装置との比較には注意を要していた。
【０００５】
そこで、本発明は、上記課題の一例に鑑みてなされたものであり、ニップ幅検出作業の容易化、効率化等を図ることが可能なニップ幅検出装置を提供することを目的する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、定盤上に設けられた版に接触しつつ当該版にインキを供給する回転体と、前記版及び前記回転体との接触圧力を制御する接触圧力制御部とを備えた印刷機における前記回転体のニップ幅を検出するニップ幅検出装置であって、前記版の版面に電極層が形成され、前記回転体の外周面の少なくとも前記版に接触する部分に誘電体層が形成され、当該回転体の内周面の少なくとも誘電体層が形成された部分に電極層が形成されており、前記版に形成された電極層と前記回転体に形成された電極層間に電圧を印加し、前記誘電体層の静電容量を測定する静電容量測定手段と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
請求項１に記載の発明によれば、感圧紙等を使用せずにニップ幅に対応する誘電体層の静電容量（ニップ幅検出の基になる静電容量）を測定することができるので、ニップ幅が感圧紙等に影響されることなく、また、ニップ幅検出作業の容易化、効率化を図ることができる。また、これにより、機械調整を行いながら、ニップ幅の検出を行うことができるので、機械調整の時間を短縮することができる。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載のニップ幅検出装置において、前記測定された前記静電容量に基づいて、前記ニップ幅を算出するニップ幅算出手段をさらに備えることを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載の発明によれば、感圧紙等を使用せずにニップ幅の検出（算出）ができるので、ニップ幅が感圧紙等に影響されることなく、また、ニップ幅検出作業の容易化、効率化を図ることができる。また、これにより、機械調整を行いながら、ニップ幅の検出を行うことができるので、機械調整の時間を短縮することができる。
【００１０】
請求項３に記載の発明は、請求項１または２に記載のニップ幅検出装置において、前記版はＰＳ版であって、前記版面に形成された電極層上に感光層が形成されており、前記静電容量測定手段は、前記誘電体層及び前記感光層の静電容量を測定することを特徴とする。
【００１１】
請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３の何れか一項に記載のニップ幅検出装置において、前記版及び前記回転体における電極層は、前記版及び前記回転体の複数部分に分離して複数対形成されており、前記静電容量測定手段は、前記複数対それぞれの電極層間に電圧を印加し、前記回転体の複数部分における誘電体層の静電容量をそれぞれ測定することを特徴とする。
【００１２】
請求項４に記載の発明によれば、回転体の複数部分のニップ幅を検出することができるようになるので、回転体の全体にわたってニップ幅を均等に調整することができる。
【００１３】
請求項５に記載の発明は、請求項１乃至４の何れか一項に記載のニップ幅検出装置において、前記測定された前記静電容量に基づいて前記ニップ幅の変動を判定するニップ幅変動判定手段をさらに備え、前記接触圧力制御部は、前記ニップ幅変動判定手段における判定結果に基づいて、前記版及び前記回転体における接触圧力を調整することを特徴とする。
【００１４】
請求項５に記載の発明によれば、印刷機を随時適正な接触圧力で稼動させることができる。
【００１５】
請求項６に記載の発明は、平行して圧接する２つの回転体と、当該回転体の接触圧力を制御する接触圧力制御部とを備えた印刷機における前記回転体のニップ幅を検出するニップ幅検出装置であって、一方の前記回転体の表面に電極層が形成され、他方の前記回転体の外周面の少なくとも前記一方の回転体に接触する部分に誘電体層が形成され、当該回転体の内周面の少なくとも誘電体層が形成された部分に電極層が形成されており、前記２つの回転体に形成された電極層間に電圧を印加し、前記誘電体層の静電容量を測定する静電容量測定手段と、を備えることを特徴とする。
【００１６】
請求項６に記載の発明によれば、感圧紙等を使用せずにニップ幅に対応する誘電体層の静電容量（ニップ幅検出の基になる静電容量）を測定することができるので、ニップ幅が感圧紙等に影響されることなく、また、ニップ幅検出作業の容易化、効率化を図ることができる。また、これにより、機械調整を行いながら、ニップ幅の検出を行うことができるので、機械調整の時間を短縮することができる。
【００１７】
請求項７に記載の発明は、請求項６に記載のニップ幅検出装置において、前記測定された前記静電容量に基づいて、前記ニップ幅を算出するニップ幅算出手段をさらに備えることを特徴とする。
【００１８】
請求項７に記載の発明によれば、感圧紙等を使用せずにニップ幅の検出（算出）ができるので、ニップ幅が感圧紙等に影響されることなく、また、ニップ幅検出作業の容易化、効率化を図ることができる。また、これにより、機械調整を行いながら、ニップ幅の検出を行うことができるので、機械調整の時間を短縮することができる。
【００１９】
請求項８に記載の発明は、請求項６または７に記載のニップ幅検出装置において、前記回転体における電極層は、前記回転体の複数部分に分離して複数対形成されており、前記静電容量測定手段は、前記複数対それぞれの電極層間に電圧を印加し、前記回転体の複数部分における誘電体層の静電容量をそれぞれ測定することを特徴とする。
【００２０】
請求項８に記載の発明によれば、回転体の複数部分のニップ幅を検出することができるようになるので、回転体の全体にわたってニップ幅を均等に調整することができる。
【００２１】
請求項９に記載の発明は、請求項６乃至８の何れか一項に記載のニップ幅検出装置において、前記測定された前記静電容量に基づいて前記ニップ幅の変動を判定するニップ幅変動判定手段をさらに備え、前記接触圧力制御部は、前記ニップ幅変動判定手段における判定結果に基づいて、前記回転体における接触圧力を調整することを特徴とする。
【００２２】
請求項９に記載の発明によれば、印刷機を随時適正な接触圧力で稼動させることができる。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
【００２４】
図１は、本発明の一実施形態におけるニップ幅検出装置の概要構成例を示す図である。
【００２５】
図１に示すように、ニップ幅検出装置１は、大別して、印刷機としての平台オフセット印刷機１１と、静電容量測定手段としてのキャパシタンスメータ１２と、ニップ幅算出手段としての演算処理部１３と、を含んで構成される。
【００２６】
平台オフセット印刷機１１は、定盤２１上に設けられた版２２に接触しつつ当該版２２にインキを供給する回転体２３と、版２２及び回転体２３との接触圧力を制御する接触圧力制御部２４とを備えている。
【００２７】
回転体２３には、例えば、公知のゴムロールや、ゴムブランケットを適用することができる。図２は、回転体２３の一例として、ゴムロールの構造を示す図である。図２に示すように、回転体２３としてのゴムロール２３は、例えば、円柱形の鉄芯２３ａの長手方向における外周面（外周表面）に電気的な絶縁特性を有する絶縁膜層２３ｂが形成され、その上に電極層としての金属膜層２３ｃが形成（積層）され（鉄芯２３ａ両端部を除く）を、その上に誘電体層としてのゴム層２３ｄが形成（積層）されて構成される。また、図示のように、鉄芯２３ａの片端部には、金属膜層２３ｃに接続される引き出し電極２３ｅが絶縁膜層２３ｂ上に形成されている。この引き出し電極２３ｅから配線が引き出され、キャパシタンスメータ１２の一方の電極端子に接続されることになる。なお、絶縁膜層２３ｂ及び金属膜層２３ｃは、その電気的特性を満足できれば、数百μｍ程度、或いはそれ以下の膜厚で良い。
【００２８】
また、回転体２３は、駆動用モータ（図示せず）によって、所定の回転量で回転し、例えば、図１中のＡ方向に移動するとともに、インキ収納壷（図示せず）内からインキを導き出し、版２２にインキを供給して充填させるようになっている。なお、回転体２３の駆動機構については、公知の技術であり、本発明と直接の関係がないので、詳しい説明を省略する。
【００２９】
定盤２１上に設けられた版２２の表面には、電極層としての金属膜層２２ａが形成されており、これは回転体２３の金属膜層２３ｃの対向電極になっている。この金属膜層２２ａも、その電気的特性を満足できれば、数百μｍ程度、或いはそれ以下の膜厚で良い。また、この金属膜層２２ａから配線が引き出され、キャパシタンスメータ１２の他方の電極端子に接続される。また、この版２２の金属膜層２２ａ上に、回転体２３のゴム層２３ｄが接触することになる。この時の接触圧力、つまり、回転体２３が版２２の方向に加圧される圧力は、接触圧力制御部２４によって制御される。また、図３は、この時の回転体２３（ゴム層２３ｄ）と版２２（金属膜層２２ａ）との接触部分における接触幅（ニップ幅）を示すための図である。図３から分かるように、このニップ幅は、接触圧力制御部２４による接触圧力の変化に応じて変動するものである。
【００３０】
また、回転体２３と版２２との接触部分では、回転体２３の金属膜層２３ｃと版２２の金属膜層２２ａとの一対の電極の間に回転体２３のゴム層２３ｄを挟むことにより、図４に示すような平行平板コンデンサの状態となっている。
【００３１】
キャパシタンスメータ１２は、金属膜層２３ｃ及び金属膜層２２ａから引き出された配線を通じて、この一対の電極間に電圧Ｖを印加し、ゴム層２３ｄの静電容量Ｃを測定する機能を有する。
【００３２】
演算処理部１３は、ＣＰＵを主体として構成され、ＲＡＭ、ＲＯＭ等の記憶部を備え、測定された静電容量Ｃに基づいて、ニップ幅を算出する機能を有する。
【００３３】
静電容量Ｃ［Ｆ：ファラト゛］は、一般に、下記（１）式で与えられる。
【００３４】
Ｃ＝Ｑ／Ｖ＝ε_０＊ε＊Ｓ／ｄ・・・（１）
ここで、Ｑは電荷量［Ｃ：クーロン］を、ε_０は真空中の誘電率（８．８５５Ｆ＊１０^−１２［Ｆ／ｍ］）を、εは誘電体の比誘電率を、Ｓは電極面積［ｍ^２］を、ｄは電極間距離［ｍ］を、それぞれ示す。
【００３５】
また、電極面積Ｓは、下記（２）式で与えられる。
【００３６】
Ｓ＝Ｌ＊ｔ・・・（２）
ここで、Ｌは電極幅を、ｔはニップ幅を、それぞれ示す。
【００３７】
つまり、ニップ幅ｔは、下記（３）式で求めることができる。
【００３８】
ｔ＝Ｃ＊ｄ／（ε_０＊ε＊Ｌ）・・・（３）
ここで、電極間距離ｄは回転体２３のゴム層２３ｄの厚み（膜厚）であり、真空中の誘電率ε_０は８．８５５Ｆ＊１０^−１２［Ｆ／ｍ］で一定であり、比誘電率εは回転体２３のゴム層２３ｄのゴムの種類（例えば、天然ゴム、ウレタンゴム等）により固有の値であり、Ｌはゴムロール２３の長手方向の長さであるので、何れも既知であるので、静電容量Ｃを測定することにより、ニップ幅ｔを求めることができる。
【００３９】
即ち、演算処理部１３は、（３）式における各パラメータの値を記憶部に記憶し、キャパシタンスメータ１２にて測定された静電容量Ｃの値を受けて、（３）式の演算を実行することにより、ニップ幅ｔを算出する。このように算出されたニップ幅ｔは、記憶部に記憶され管理されるとともに、演算処理部１３から、例えば、図示しないディスプレイ等に出力、表示される。これによって、例えば、オペレータが、接触圧力制御部２４等を通じて機械調整をし、適正な接触圧力に調整することができる。
【００４０】
以上説明したように上記実施形態によれば、感圧紙等を使用せずにニップ幅ｔの検出ができるので、ニップ幅ｔが感圧紙等に影響されることなく、また、ニップ幅ｔの検出作業の容易化、効率化を図ることができる。また、機械調整を行いながら、ニップ幅ｔの検出を行うことができるので、機械調整の時間を短縮することができる。
【００４１】
なお、上記実施形態において、版２２の表面に電極層としての金属膜層２２ａが形成されるように構成したが、版２２にオフセット印刷用のＰＳ（Ｐｒｅ−ｓｅｎｓｉｔｉｚｅｄ）を用いても上記実施形態と同様の効果を得ることができる。このＰＳ版は、アルミ板面上に感光層が形成されるものであり、このアルミ板を電極層として用いる。つまり、回転体２３とＰＳ版との接触部分では、回転体２３の金属膜層２３ｃとＰＳ版のアルミ板との一対の電極の間に、誘電体１（回転体２３のゴム層２３ｄ）及び誘電体２（ＰＳ版の感光層）を挟むことにより、図５に示すような平行平板コンデンサの状態となる。
【００４２】
この場合、静電容量Ｃ［Ｆ：ファラト゛］は、下記（４）式で与えられる。
【００４３】
Ｃ＝｛（ε_０＊ε_１＊Ｓ／ｄ_１）^−１＋（ε_０＊ε_２＊Ｓ／ｄ_２）^−１｝^−１・・・（４）
ここで、ε_１はゴム層２３ｄの比誘電率を、ε_２は感光層の比誘電率を、ｄ_１はゴム層２３ｄの厚み（膜厚）を、ｄ_２は感光層の厚み（膜厚）を、それぞれ示す。これらの値は既知であるので、上記実施形態と同様、静電容量Ｃを測定すれば、（２）式により、ニップ幅ｔを算出することができる。
【００４４】
さらに、ここで、ゴム層２３ｄに導電性ゴムを使用した場合、金属膜層２３ｃ及びゴム層２３ｄが電極層となるので、回転体２３のゴム層２３ｄとＰＳ版のアルミ板との一対の電極の間に、誘電体としてのＰＳ版の感光層を挟む平行平板コンデンサの状態とみなすことができ、上記と同様にニップ幅ｔを算出することができる。
【００４５】
また、上記実施形態においては、版２２及び回転体２３に形成された一対の電極層について説明したが、この変形例として、複数対の電極層を版２２及び回転体２３の複数部分に分離（分割）して形成するように構成してもよい。この場合、複数対それぞれの電極層から配線を引き出しキャパシタンスメータ１２の電極端子に接続して、キャパシタンスメータ１２が、複数対それぞれの電極層間に電圧を印加し、回転体２３の複数部分における誘電体層（例えば、回転体２３のゴム層２３ｄ）の静電容量Ｃ_１〜Ｃ_ｎをそれぞれ測定する。例えば、回転体２３の長手方向の中央で、電極層を２分離（分割）し左右の２対それぞれの電極層間に電圧を印加し、回転体２３の左右部分における誘電体層の静電容量Ｃ_１及びＣ_２をそれぞれ測定する。また、例えば、回転体２３の長手方向の左、中央、右で、電極層を３分離（分割）し、左，中央，右の３対それぞれの電極層間に電圧を印加し、回転体２３の左，中央，右部分における誘電体層の静電容量Ｃ_１〜Ｃ_３をそれぞれ測定する。そして、演算処理部１３は、このように算出された静電容量Ｃ_１〜Ｃ_ｎに基づいて、回転体２３それぞれの部分におけるニップ幅ｔ_１〜ｔ_ｎを算出する。このような構成によれば、回転体２３それぞれの部分におけるニップ幅ｔ_１〜ｔ_ｎが等しくなるように機械調整をし、回転体の２３の長手方向においてニップ幅を均等にすることができる。
【００４６】
また、上記実施形態において、演算処理部１３が、キャパシタンスメータ１２により測定された静電容量Ｃに基づいてニップ幅ｔの変動を判定するニップ幅変動判定手段として機能させ、接触圧力制御部２４は、その判定結果に基づいて、自動的に版２２及び回転体２３における接触圧力を調整するように構成してもよい。例えば、上記構成により得られた最適なニップ幅ｔに対応する静電容量Ｃを演算処理部１３に記憶させておき、平台オフセット印刷機１１の稼動時において測定された静電容量Ｃとを比較し、所定の差が生じている場合にニップ幅ｔが変動していると判定して、接触圧力制御部２４に対し接触圧力の調整指令（例えば、加圧量情報）を出力（フィードバック）する（図１の点線部分）。接触圧力制御部２４は、かかる指令に応じ、適正な接触圧力に調整する。このような構成によれば、平台オフセット印刷機１１を、随時適正な接触圧力で稼動させることができる。
【００４７】
なお、上記実施形態においては、この時の回転体２３と版２２との接触部分における接触幅（ニップ幅）を検出するように構成したが、この変形例として、回転体と回転体間における接触幅（ニップ幅）を検出するように構成してもよい。図６は、この変形例におけるニップ幅検出装置の概要構成例を示す図である。
【００４８】
図６に示すニップ幅検出装置２は、図１に示すニップ幅検出装置１における定盤２１の代わりに回転体５１を備えている。回転体５１と回転体２３は、平行して圧接されており、この回転体５１の表面には、電極層としての金属膜層５１ａが形成され、これは回転体２３の金属膜層２３ｃの対向電極になっている。つまり、上記実施形態と同様、回転体５１と回転体２３との接触部分では、回転体５１の金属膜層５１ａと回転体２３の金属膜層２３ｃとの一対の電極の間に回転体２３のゴム層２３ｄを挟むことにより、平行平板コンデンサの状態となっている。
【００４９】
そして、金属膜層５１ａから配線が引き出され、キャパシタンスメータ１２の他方の電極端子に接続されることにより、キャパシタンスメータ１２は、金属膜層２３ｃ及び金属膜層５１ａから引き出された配線を通じて、この一対の電極間に電圧Ｖを印加し、ゴム層２３ｄの静電容量Ｃを測定し、その測定データを演算処理部１３に出力する。演算処理部１３は、上記実施形態において説明したように、その測定データ（容量Ｃの値）を受けて、（３）式の演算を実行することにより、ニップ幅ｔを算出する。なお、回転体５１には、回転体２３と同様に、公知のゴムロールや、ゴムブランケットを適用することができる。また、金属膜層５１ａは、その電気的特性を満足できれば、数百μｍ程度、或いはそれ以下の膜厚で良い。
【００５０】
このような構成によれば、感圧紙等を使用せずに回転体と回転体間における接触幅（ニップ幅）を検出することができ、ニップ幅ｔの検出作業の容易化、効率化を図ることができる。
【００５１】
なお、回転体と回転体間における接触幅（ニップ幅）を検出する変形例においても、上記にて説明したように、複数対の電極層を回転体５１及び回転体２３の複数部分に分離（分割）して形成するように構成してもよい。また、演算処理部１３が、キャパシタンスメータ１２により測定された静電容量Ｃに基づいてニップ幅ｔの変動を判定するニップ幅変動判定手段として機能させ、接触圧力制御部２４は、その判定結果に基づいて、自動的に回転体５１及び回転体２３における接触圧力を調整するように構成してもよい。
【００５２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、感圧紙等を使用せずにニップ幅に対応する誘電体層の静電容量（ニップ幅検出の基になる静電容量）を測定することができるので、ニップ幅が感圧紙等に影響されることなく、また、ニップ幅検出作業の容易化、効率化を図ることができる。また、これにより、機械調整を行いながら、ニップ幅の検出を行うことができるので、機械調整の時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態におけるニップ幅検出装置の概要構成例を示す図である。
【図２】回転体２３の一例として、ゴムロールの構造を示す図である。
【図３】回転体２３と版２２との接触部分における接触幅（ニップ幅）を示すための図である。
【図４】回転体２３の金属膜層２３ｃと版２２の金属膜層２２ａとの一対の電極の間に回転体２３のゴム層２３ｄを挟むことにより形成された平行平板コンデンサの状態を示すための図である。
【図５】回転体２３の金属膜層２３ｃとアルミ板との一対の電極の間に、２層の誘電体を挟むことにより形成された平行平板コンデンサの状態を示すための図である。
【図６】本発明の他の実施形態におけるニップ幅検出装置の概要構成例を示す図である。
【図７】従来の平台オフセット印刷機において、感圧紙を用いてニップ幅を測定する場合の様子を示すための図である。
【符号の説明】
１，２ニップ幅検出装置
１１平台オフセット印刷機
１２キャパシタンスメータ
１３演算処理部
２１定盤
２２版
２２ａ，５１ａ金属膜層
２３，５１回転体
２３ａ鉄芯
２３ｂ絶縁膜層
２３ｃ金属膜層
２３ｄゴム層
２４接触圧力制御部

Claims

定盤上に設けられた版に接触しつつ当該版にインキを供給する回転体と、前記版及び前記回転体との接触圧力を制御する接触圧力制御部とを備えた印刷機における前記回転体のニップ幅を検出するニップ幅検出装置であって、
前記版の版面に電極層が形成され、
前記回転体の外周面の少なくとも前記版に接触する部分に誘電体層が形成され、当該回転体の内周面の少なくとも誘電体層が形成された部分に電極層が形成されており、
前記版に形成された電極層と前記回転体に形成された電極層間に電圧を印加し、前記誘電体層の静電容量を測定する静電容量測定手段と、を備えることを特徴とするニップ幅検出装置。
請求項１に記載のニップ幅検出装置において、
前記測定された前記静電容量に基づいて、前記ニップ幅を算出するニップ幅算出手段をさらに備えることを特徴とするニップ幅検出装置。
請求項１または２に記載のニップ幅検出装置において、
前記版はＰＳ版であって、前記版面に形成された電極層上に感光層が形成されており、
前記静電容量測定手段は、前記誘電体層及び前記感光層の静電容量を測定することを特徴とするニップ幅検出装置。
請求項１乃至３の何れか一項に記載のニップ幅検出装置において、
前記版及び前記回転体における電極層は、前記版及び前記回転体の複数部分に分離して複数対形成されており、
前記静電容量測定手段は、前記複数対それぞれの電極層間に電圧を印加し、前記回転体の複数部分における誘電体層の静電容量をそれぞれ測定することを特徴とするニップ幅検出装置。
請求項１乃至４の何れか一項に記載のニップ幅検出装置において、
前記測定された前記静電容量に基づいて前記ニップ幅の変動を判定するニップ幅変動判定手段をさらに備え、
前記接触圧力制御部は、前記ニップ幅変動判定手段における判定結果に基づいて、前記版及び前記回転体における接触圧力を調整することを特徴とするニップ幅検出装置。
平行して圧接する２つの回転体と、当該回転体の接触圧力を制御する接触圧力制御部とを備えた印刷機における前記回転体のニップ幅を検出するニップ幅検出装置であって、
一方の前記回転体の表面に電極層が形成され、
他方の前記回転体の外周面の少なくとも前記一方の回転体に接触する部分に誘電体層が形成され、当該回転体の内周面の少なくとも誘電体層が形成された部分に電極層が形成されており、
前記２つの回転体に形成された電極層間に電圧を印加し、前記誘電体層の静電容量を測定する静電容量測定手段と、を備えることを特徴とするニップ幅検出装置。
請求項６に記載のニップ幅検出装置において、
前記測定された前記静電容量に基づいて、前記ニップ幅を算出するニップ幅算出手段をさらに備えることを特徴とするニップ幅検出装置。
請求項６または７に記載のニップ幅検出装置において、
前記回転体における電極層は、前記回転体の複数部分に分離して複数対形成されており、
前記静電容量測定手段は、前記複数対それぞれの電極層間に電圧を印加し、前記回転体の複数部分における誘電体層の静電容量をそれぞれ測定することを特徴とするニップ幅検出装置。
請求項６乃至８の何れか一項に記載のニップ幅検出装置において、
前記測定された前記静電容量に基づいて前記ニップ幅の変動を判定するニップ幅変動判定手段をさらに備え、
前記接触圧力制御部は、前記ニップ幅変動判定手段における判定結果に基づいて、前記回転体における接触圧力を調整することを特徴とするニップ幅検出装置。