JP2004184111A - Voltage control method and voltage control circuit for electronic equipment - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子装置の電圧制御方法及び電圧制御回路に関し、特に電子装置内部のデバイスへ供給する電圧をハードウエアスイッチ操作による制御の代わりにソフトウェアによって制御して供給することを可能とする電子装置の電圧制御方法及び電圧制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、コンピュータ装置等の電子装置においては、製造過程での装置検査において行われる装置内部のデバイスに対する電圧マージンテストは、オペレータによりハードウエアスイッチ等を切り替える手段を用いることで実施されている。
【0003】
図9は従来技術で実施されている装置検査のための各デバイスに対する電圧マージンテストを行う場合の手順を示すフローチャートである。
【0004】
装置検査を行なうオペレータは、検査対象の装置内部のハードウエアスイッチを設定する(ステップ901)ことにより、装置電源をONさせ(ステップ902)試験プログラムを起動する。
【0005】
次に、試験プログラムをによる装置試験を実行し(ステップ903)、試験終了後に装置電源をOFFする(ステップ904)。
【0006】
この一連の操作の流れによってデバイスに対する1回のマージン試験が終了する。以後、電圧マージンを変更する度に、上記ステップ101からステップ104の作業を繰り返す(ステップ905)。さらに、各デバイス毎に、上述した操作を繰り返し実施する。
【0007】
また、従来の電圧マージンテスト方式としては、例えば特開昭61−155971号公報に記載されているように、プログラム(ソフトウェア)の制御によって電圧値を自動的に変化させて設定することで、上述のようなオペレータによるハードウェアスイッチ手段の操作を不要とした技術が提案されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の方式では、次に述べるような種々の問題点があった。
【0009】
第1に、電子装置検査工程で実施される電圧マージンテストにおいて、電圧を変化させながらテストを行うのに膨大な作業工数が必要となる問題があった。
【0010】
その理由は、全てオペレータによるハードウェアスイッチ手段の切り替え作業によりマージンテストを実施しているためである。
【0011】
第2に、オペレータが介入することで、人為的なオペレーションミスが発生し易くなり、精度の高い電子装置の検査が行えない可能性があった。
【0012】
第3に、例えば特開昭61−155971号公報に記載されているプログラム(ソフトウェア)の制御によって電圧値を自動的に変化させて電圧マージンテスト方法では、ソフトウェアによる電圧の設定値が電圧を供給するデバイスに対して適切かどうかの判別を行っていないため、過度の電圧を供給してデバイスを破損させる可能性があった。
【0013】
第4の問題点は、上記の公報に記載されているプログラム(ソフトウェア)の制御によって電圧値を自動的に変化させて電圧マージンテスト方法では、各デバイスに電圧を供給したことによってシステムが動作不能となった場合に、オペレータが手作業により復旧させるための処理を行う必要があった。
【0014】
本発明の第1の目的は、以上の問題点を解決し、電子装置検査工程で実施される電圧マージンテスト等において、電子装置内部のデバイスへ供給する電圧をハードウエアスイッチ操作による制御の代わりにソフトウェアによって制御して供給することで、検査のために要する工数を大幅に削減することができる電子装置の電圧制御方法及び電圧制御回路を提案することにある。
【0015】
本発明の第2の目的は、電子装置内部のデバイスへ供給する電圧をハードウエアスイッチ操作による制御の代わりにソフトウェアによって制御して供給することで、オペレータが介入することによる人為的なオペレーションミスをなくし、精度の高い電子装置の検査が行える電子装置の電圧制御方法及び電圧制御回路を提案することにある。
【0016】
本発明の第3の目的は、ソフトウェアによる電圧の設定値が電圧を供給するデバイスに対して適切かどうかの判別することにより、過度の電圧を供給してデバイスを破損させる可能性を無くすことができる電子装置の電圧制御方法及び電圧制御回路を提案することにある。
【0017】
本発明の第4の目的は、各デバイスに電圧を供給したことによってシステムが動作不能となった場合にも、自動的にシステムを復旧させることを可能とした電子装置の電圧制御方法及び電圧制御回路を提案することにある。
【0018】
本発明の第5の目的は、各デバイスが安定して動作する電圧の最適値を自動的に設定することを可能とした電子装置の電圧制御方法及び電圧制御回路を提案することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明は、電子装置内部の各デバイスへ電圧供給手段から供給される電圧を制御する電子装置の電圧制御方法であって、ソフトウェアによって前記各デバイスについて設定された電圧設定値が、前記各デバイスから出力される要求電圧値に対して許容範囲である場合に、前記電圧設定値の電圧を前記デバイスに供給し、許容範囲でない場合に前記要求電圧値の電圧を前記デバイスに供給して電圧供給を制御することを特徴とする。
【0020】
請求項2の本発明の電子装置の電圧制御方法は、前記電圧設定値と前記要求電圧値を比較して、前記電圧設定値が、前記要求電圧値に対して許容範囲であるかを判定し、許容範囲である場合、前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力し、許容範囲でない場合、前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力することを特徴とする。
【0021】
請求項3の本発明の電子装置の電圧制御方法は、前記電圧設定値が、前記要求電圧値に対して許容範囲である場合に、前記電圧設定値を示す信号に有効を示すフラグを付加した比較結果を出力し、許容範囲でない場合に、前記電圧設定値を示す信号に無効を示すフラグを付加した比較結果を出力し、前記比較結果を参照し、有効のフラグの場合に前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を出力し、無効のフラグの場合に前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を出力することを特徴とする。
【0022】
請求項4の本発明の電子装置の電圧制御方法は、前記デバイスから要求電圧値が出力されない場合に、前記ソフトウェアから前記デバイスの仕様で規定される電圧値を、前記要求電圧値の代わりに設定することを特徴とする。
【0023】
請求項5の本発明の電子装置の電圧制御方法は、前記デバイスへの電圧供給に応答して監視タイマーを動作させ、前記デバイスへ供給した電圧に起因するシステムの動作不能が発生した場合に、前記監視タイマーのタイムアウトによりシステムのリセットを行うと共に、前記デバイスに対して前記要求電圧値を供給するよう制御することを特徴とする。
【0024】
請求項6の本発明の電子装置の電圧制御方法は、前記デバイスに供給した電圧値と、前記監視タイマーのタイムアウトの有無とを対応付けて記憶し、記憶した前記電圧値と前記監視タイマーのタイムアウトの有無から、前記デバイスが動作する電圧の上限値と下限値を判別し、判別した前記電圧の上限値と下限値とに基づいて前記デバイスに対する電圧の最適値を算出し、前記電圧の最適値に基づいて前記デバイスに電圧を供給することを特徴とする。
【0025】
請求項7の本発明は、電子装置内部の各デバイスへ電圧供給手段から供給される電圧を制御する電子装置の電圧制御回路であって、ソフトウェアによって前記各デバイスについて設定された電圧設定値が、前記各デバイスから出力される要求電圧値に対して許容範囲である場合に、前記電圧設定値の電圧を前記デバイスに供給し、許容範囲でない場合に前記要求電圧値の電圧を前記デバイスに供給して電圧供給を制御することを特徴とする。
【0026】
請求項8の本発明の電圧制御回路は、前記電圧設定値と前記要求電圧値を比較して、前記電圧設定値が、前記要求電圧値に対して許容範囲であるかを判定する比較手段と、許容範囲である場合、前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力し、許容範囲でない場合、前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力する制御信号生成手段とを備えることを特徴とする。
【0027】
請求項9の本発明の電圧制御回路は、前記比較手段が、前記電圧設定値が前記要求電圧値に対して許容範囲である場合に、前記電圧設定値を示す信号に有効を示すフラグを付加した比較結果を出力し、許容範囲でない場合に、前記電圧設定値を示す信号に無効を示すフラグを付加した比較結果を出力し、前記制御信号生成手段が、前記比較結果を参照し、有効のフラグの場合に前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を出力し、無効のフラグの場合に前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を出力することを特徴とする。
【0028】
請求項10の本発明の電圧制御回路は、前記ソフトウェアによって前記各デバイスについて設定される電圧設定値を保持するレジスタを備え、前記比較手段は、前記レジスタの電圧設定値と前記各デバイスから出力される要求電圧値とを比較することを特徴とする。
【0029】
請求項11の本発明の電圧制御回路は、前記デバイスから要求電圧値が出力されない場合に、前記ソフトウェアから前記デバイスの仕様で規定される電圧値を、前記要求電圧値の代わりに設定することを特徴とする。
【0030】
請求項12の本発明の電圧制御回路は、前記デバイスへの電圧供給に応答して動作する監視タイマーを備え、前記デバイスへ供給した電圧に起因するシステムの動作不能が発生した場合に、前記監視タイマーのタイムアウトによりシステムのリセットを行うと共に、前記デバイスに対して前記要求電圧値を供給するよう制御することを特徴とする。
【0031】
請求項13の本発明の電圧制御回路は、前記デバイスに供給した電圧値と、前記監視タイマーのタイムアウトの有無とを対応付けて記憶する記憶手段と、記憶した前記電圧値と前記監視タイマーのタイムアウトの有無から、前記デバイスが動作する電圧の上限値と下限値を判別し、判別した前記電圧の上限値と下限値とに基づいて前記デバイスに対する電圧の最適値を算出する最適値算出手段を備え、前記電圧の最適値に基づいて前記デバイスに電圧を供給することを特徴とする。
【0032】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態による電圧制御回路を適用した電子装置の全体構成を示すブロック図である。
【0033】
本発明による電圧制御回路は、電子装置内部のデバイスへ供給する電圧を従来のハードウエアによるスイッチ操作による制御に代わり、ソフトウェアからの設定によって制御するものである。
【0034】
図1において、本実施の形態は、コンピュータ装置(例えば、パーソナルコンピュータ)等の電子装置100において各デバイス(例えば、CPUやSCSIボード等)へ供給する電圧の制御を行うものであり、電圧制御を行うための電圧制御回路10と、複数のデバイス30A〜デバイス30Nと、デバイス30A〜デバイス30Nのそれぞれに対して電圧制御回路10から出力される出力信号VID(電圧識別信号)に基づく電圧を供給する複数のDC−DCコンバータ20A〜DC−DCコンバータ20Nと、各デバイスに対する電圧値の設定を行うソフトウェア(ファームウェア)40を備えてなる。
【0035】
なお、図1には本実施の形態の特徴的な構成のみを記載し、他の一般的な構成については記載を省略してある。
【0036】
デバイス30A〜デバイス30Nが必要とする電圧を示す電圧識別信号(以下、入力識別信号と称する)VID(A)(〜VID(N))は、電圧制御回路10に入力される。この入力識別信号VID(A)〜VID(N)には、各デバイスの仕様で規定される許容電圧範囲を示すデータが含まれている。
【0037】
電圧制御回路10では、入力識別信号VID(A)から入力識別信号VID(N)にそれぞれ対応するソフトウェアインタフェースとして後述するレジスタを備えており、各入力識別信号VID(A)〜VID(N)と、対応するレジスタの設定値の比較を行う。
【0038】
そして、入力識別信号VID(A)〜VID(N)と各レジスタの設定値との比較結果により、電圧識別信号(以下、出力識別信号と称する)VID(A’)〜VID(N’)を生成し出力する。
【0039】
電圧制御回路10で生成された出力識別信号VID(A’)〜VID(N’)は、DC−DCコンバータ20A〜DC−DCコンバータ20Nに出力される。
【0040】
DC−DCコンバータ20A〜DC−DCコンバータ20Nは、電圧値を示す出力識別信号VID(A’)〜VID(N’)に基づいて電圧(A’)〜電圧(N’)を生成し、デバイス30A〜デバイス30Nに供給する。すなわち、上記出力識別信号VID(A’)〜VID(N’)が、DC−DCコンバータ20A〜DC−DCコンバータ20Nに対する制御信号となる。
【0041】
図2は、上述した本実施の形態における電圧制御回路10の構成例を示すブロック図である。
【0042】
電圧制御回路10は、ソフトウェア(ファームウェア)40によって設定する各デバイス30A〜デバイス30Nに対する電圧の設定値を保持するレジスタ11A(〜レジスタ11N)と、レジスタ11A〜11Nに設定された電圧設定値と、各デバイス30A〜デバイス30Nから入力される入力識別信号VID(A)(〜VID(N))とを比較する比較器12と、比較器12による比較結果に基づいて出力識別信号VID(A’)〜VID(N’)を生成出力するVID生成回路13とを備えている。
【0043】
入力識別信号VID(A)〜VID(N)、出力識別信号VID(A’)〜VID(N’)及び、レジスタ11A(〜レジスタ11N)についての構成及び制御動作は同一であるので、図2では、便宜上デバイス30Aに対応するレジスタ11Aのみを示している。
【0044】
電圧制御回路10の比較器12には、各デバイス(A)30Aからの外部入力信号である入力識別信号VID(A)が供給される。
【0045】
比較器12は、入力識別信号VID(A)と、レジスタ11Aの電圧設定値の比較を行い、比較結果に基づき比較データ(A)を生成する。生成された比較データ(A)は、VID生成回路13へ供給される。
【0046】
VID生成回路13は、比較データ(A)を参照することにより、出力識別信号VID(A’)を生成して出力する。このVID生成回路13は、比較データ(A)〜(N)に付加された識別フラグを参照して、電圧設定値に応じた出力識別信号か入力識別信号に応じた出力識別信号を生成する。
【0047】
次に、上記のように構成される本実施の形態による電圧制御回路による制御動作について、図1と図2及び図3のフローチャートを参照して説明する。また、以下の動作の説明では、デバイス30Aに対する電圧制御について説明する。その他のデバイスに対する電圧制御も同じ動作で行われる。
【0048】
通常、デバイスに対して供給する電圧を変更する場合、電圧値の設定を行うためのハードウエアスイッチを人手によって切り替えることで行っている。
【0049】
本発明によるこの実施の形態では、デバイス30Aから出力される当該デバイスが要求する入力識別信号VID(A)を、電圧制御回路10へ入力することにより、図2に示すように、電圧制御回路10が備えるソフトウェア40とのインタフェースであるレジスタ11Aを介在させることで、ソフトウェア40からレジスタ11Aにデバイス30Aに対する電圧値の設定を行ないデバイス30Aへの供給電圧を制御する。
【0050】
図2で示す通り、電圧制御回路10には、デバイス30Aからの入力識別信号VID(A)に対応するソフトウェアインタフェースとして、レジスタ(A)11を備えている。このレジスタ11Aには、ソフトウェア(ファームウェア)40によってデバイス30Aに供給したい電圧値が設定される。
【0051】
電圧制御回路10の比較器12では、入力識別信号VID(A)の値と、レジスタ11Aに設定されている電圧設定値の比較を行う(ステップ301)。
【0052】
レジスタ11Aの電圧設定値が、デバイス30Aにおいて許容される電圧範囲内の値である場合(ステップ302)、比較データ(A)にはレジスタ11Aの電圧設定値が有効であることを示す識別フラグが付加される(ステップ303)。ここで、許容される電圧範囲とは、デバイス30Aに供給された場合に動作に不具合が生じない電圧として予め定められた電圧の範囲であり、入力識別信号VID(A)にはその許容される電圧範囲を示すデータが含まれている。
【0053】
レジスタ11Aの電圧設定値が、デバイス30Aにおいて許容される電圧範囲を越える値である場合(ステップ302)、比較データ(A)にはレジスタ11Aの電圧設定値が無効であることを示す識別フラグが付加される(ステップ304)。
【0054】
ここで、比較データ(A)は、例えばレジスタ11Aの電圧設定値を示すビットデータに1ビットの有効/無効を識別する識別フラグを付加したデータであり、「0」が有効を示し「1」が無効を示す。
【0055】
比較器12で生成された比較データ(A)は、VID生成回路13に対して出力される(ステップ305)。
【0056】
比較データ(A)が入力すると、VID生成回路13では、比較データ(A)に付加された識別フラグを判定し(ステップ306)、識別フラグが有効に設定されている場合、レジスタ11Aの電圧設定値と等しい電圧値を示す出力識別信号VID(A’)を生成する(ステップ307)。
【0057】
比較データ(A)に付加された識別フラグが無効に設定されている場合には、デバイス30Aから入力識別信号VID(A)をそのまま出力識別信号VID(A)として生成する(ステップ308)。
【0058】
電圧制御回路10で生成された出力識別信号VID(A’)は、DC−DCコンバータ20Aに出力される(ステップ309)。DC−DCコンバータ20Aは、電圧値を示す出力識別信号VID(A’)に基づいて電圧(A’)を生成し、デバイス30Aに供給する。
【0059】
以上説明した第1の実施の形態によれば、各デバイスに供給する電圧変更を検査ツール等のソフトウェアから行うことができるようになる。このため、供給する電圧値をソフトウェアでスケジューリングすることで、自動的に各段階の電圧検査が可能となる。よって、装置検査工程におけるオペレータの手間を大幅に軽減できると共に、オペレータによる人為的な設定ミスを防止することができる。
【0060】
次に、本発明の第2の実施の形態による電圧制御回路を適用したシステムについて、図4を参照して説明する。
【0061】
この実施の形態においては、図1のデバイス30A〜30Nがデバイス30X1〜30Xnに、DC−DCコンバータ20A〜20NがDC−DCコンバータ20X1〜20Xnに置き換わっているだけであり、その他の構成は図1の第1の実施の形態と同じである。
【0062】
図4に示したデバイス30X1は、当該デバイスが必要とする入力識別信号VID(電圧識別信号)を出力しないタイプのデバイスであり、本実施の形態はこの種のタイプのデバイスに対する電圧制御をも併せて行うように構成されている。
【0063】
デバイス30X1の様に、デバイス30X1が必要とする基準電圧を示す電圧識別信号を出力しない場合、デバイスの仕様で規定される固定電圧値がDC−DCコンバータ20X1からデバイス30X1へ供給されるように制御する。
【0064】
そこで、本実施の形態では、電圧制御回路10の比較器12に対するデバイス30X1の入力識別信号VID(X1)として、上記デバイス仕様で規定される固定電圧値をソフトウェア(ファームウェア)40から入力することにより、デバイスから入力識別信号をサポートしないデバイスへ供給する電圧をソフトウェアから制御することを可能としている。
【0065】
なお、ソフトウェア(ファームウェア)40からデバイス30X1に対応するレジスタに電圧設定値を設定し、その電圧設定値と上記ソフトウェアから入力される入力識別信号VID(X1)とを比較器12で比較し、その比較データに基づいて出力識別信号を生成する点については、図1に示す第1の実施の形態と同様である。
【0066】
以上説明した第2の実施の形態によれば、必要とする入力識別信号VID(電圧識別信号)を出力しないタイプのデバイスが含まれていても、この種のタイプのデバイスに対する電圧制御をもソフトウェアによる設定で併せて行うことができるようになる。
【0067】
次に、本発明の第3の実施の形態による電圧制御回路を備えるシステムについて詳細に説明する。
【0068】
本実施の形態の全体のシステム構成は図1に示す構成と同じある。本実施の形態においては、電圧供給によるシステムの動作不能(システムダウン)状態を自動復旧させることを可能にした構成となっている。
【0069】
各デバイスに供給される電圧値が、予め定められている許容される電圧範囲内であっても、実際にデバイスが安定動作する電圧範囲は同じ種類のデバイスであっても多少のばらつきがあり、同じ値の電圧値を同種のデバイスに供給した場合、あるデバイスではシステムが安定動作し他のデバイスではシステムが動作不能(システムダウン)となるといった状況が生じる。
【0070】
電圧マージン変更(ソフトウェア40による電圧設定値の変更)を行った際に、上記のように各デバイス20A〜20Nに対して所定値の電圧が供給された場合、システム動作が不能となる場合がある。
【0071】
このようなシステム動作が不能な状態を自動で復旧させるため、本実施の形態においては、図5に示すように、電圧制御回路10に、監視タイマーとしてのウオッチドッグタイマ50とウオッチドックタイマ50のタイマーを停止させるための停止用レジスタ60を備える。
【0072】
以下、本実施の形態の動作について図5及び図6のフローチャートを参照して説明する。
【0073】
VID生成回路13から出力識別信号がDC−DCコンバータ20A〜20Nに出力された時点(電圧設定値の電圧の供給を開始した時点)で(ステップ601)、VID生成回路13からの信号を受けて電圧制御回路10に内臓される上記ウオッチドッグタイマ50がタイマ動作を開始する(ステップ602)。
【0074】
システムが安定して動作しタイマ動作から所定時間(例えば、数秒から数分程度)が経過し、ソフトウェア(ファームウエア)40によって停止用レジスタ60の値が書替えられると(ステップ603)、ウオッチドッグタイマ50がそれを検出してタイマ動作を停止する(ステップ604)。
【0075】
デバイスに諸定値の電圧を供給したことにより、システムが動作不能(システムダウン)になると、タイマ動作から所定時間を経過してもソフトウェア(ファームウエア)40による停止用レジスタ60の値の書替え処理が実行されず(ステップ603)、すなわちウオッチドッグタイマ50の停止処理が実行できず、ウオッチドッグタイマ50がタイムアウトする(ステップ605)。このウオッチドッグタイマ50がタイムアウトする時間については、ソフトウェア(ファームウエア)40が停止用レジスタ60の値を書替える所定時間より長い時間で適当な時間を設定することができる。
【0076】
次に、ウオッチドッグタイマ50は、タイムアウトすることにより、システムをリセットするためのリセット信号を出力する(ステップ606)と共に、比較器12から出力される比較データに対して、システムの動作不能(システムダウン)となったことを示すフラグを付加する(ステップ607)。
【0077】
ここでは、比較データに、例えばレジスタ11の電圧設定値を示すビットデータに1ビットの有効/無効を識別する識別フラグに加えて、さらに1ビットのシステムダウンしたことを示すフラグを付加する。
【0078】
このようなシステムダウンしたことを示すフラグが付加された比較データがVID生成回路13に入力すると、VID生成回路13は、識別フラグがたとえ有効であっても、レジスタ11Aの電圧設定値ではなく、入力識別信号(A)〜(N)を各デバイス20A〜20Nに対する供給電圧の出力識別信号(A’)〜(N’)としてDC−DCコンバータ20A〜20Nに出力する。これにより、各デバイスには安定して動作する電圧が供給されることになり、上記のようにシステムの動作不能な状況から自動で復旧することが可能となる。
【0079】
次に、本発明の第4の実施の形態による電圧制御回路を備えるシステムについて詳細に説明する。
【0080】
本実施の形態の全体のシステム構成は図1に示す構成と同じある。本実施の形態においては、電圧供給によるシステムの動作不能(システムダウン)状態を自動復旧させる第3の実施の形態に加えて、各デバイスへの供給電圧とウオッチドックタイマー50のタイムアウト発生の有無とを対応付けて記憶し、その記憶した電圧値に基づいて各デバイスに対する電圧の最適値(デバイスが最も安定的に動作する電圧値)を求めて自動的に供給することを可能にした構成となっている。すなわち、デバイスに供給する電圧の最適値を自動設定することを可能としている。
【0081】
本実施の形態によるウオッチドッグタイマ50及び停止用レジスタ60による動作は、上記第3の実施の形態と同様であるので説明は省略する。
【0082】
本実施の形態では、電圧制御回路10に、VID生成回路13からの出力識別信号VID(A’)〜(N’)に基づいて各デバイス30A〜30Nに対し供給した電圧値及びその時のウオッチドッグタイマ50のタイムアウトの有無を記憶する電圧記憶部70を設けている。また、電圧記憶部70に記憶された電圧値に基づいて各30A〜30N毎に電圧の最適値を算出する最適値電圧算出回路80を設けている。
【0083】
この電圧記憶部70には、図8に例を示すように、各デバイス30A〜30N毎に、供給した電圧値とウオッチドッグタイマ50のタイムアウトが発生したかどうかを示すデータが記憶される。
【0084】
ソフトウェア(ファームウェア)40により、各デバイス30A〜30Nに対し、電圧設定値を基に、低電圧および高電圧への電圧マージンを変化させて電圧が供給されるが、各デバイス30A〜30Nの動作可能な電圧値の下限値を下回り又は上限値を超る電圧が供給され、システム動作の不能が発生するとウオッチドッグタイマ50のタイムアウトが発生する。
【0085】
本実施の形態では、各デバイス30A〜30Nに供給した電圧値とウオッチドッグタイマ50のタイムアウトの有無を、電圧記憶部70に記憶することにより、各デバイス30A〜30Nの動作可能な電圧値の上限値と下限値が判定することが可能となる。
【0086】
そこで、最適値電圧算出回路80が、上記電圧値の上限値と下限値を判定すると共に、その上限値と下限値に基づいて、各デバイスに対し供給すべき電圧の最適値を算出する。また、最適値電圧算出回路80が算出した電圧の最適値は、各デバイスに対応するレジスタ11A〜11Nに電圧設定値として設定される。これにより、算出された最適値の電圧を各デバイス30A〜30Nに自動で供給することが可能となる。
【0087】
最適値電圧算出回路80が電圧の最適値を求める方法としては、例えば電圧の上限値と下限値の中央値を最適値とする方法や、上限値からある割合だけ低い値と下限値からある割合だけ高い値の範囲を最適値とする方法などが考えられる。
【0088】
また、レジスタ11A〜11Nに算出された最適値が設定された場合、比較器12が比較データに最適値であることを示すフラグを付加するようにしてもよい。
【0089】
以上説明したように第4の実施の形態によれば、システムが動作不能となった電圧の上限値と下限値とに基づいて、各デバイスが安定して動作する電圧の最適値を自動的に設定するようにしたので、電子装置100のシステムを安定して動作させることができる。
【0090】
以上好ましい実施の形態及び実施例をあげて本発明を説明したが、本発明は必ずしも上記実施の形態及び実施例に限定されるものではなく、その技術的思想の範囲内において様々に変形して実施することができる。
【0091】
【発明の効果】
以上説明したように本発明の電圧制御方法及び電圧制御回路によれば、以下に述べるような効果が実現される。
【0092】
第1に、装置検査工程において、検査のために要する工数を削減することができる。その理由は、電圧変更を検査ツール等のソフトウェアから行うため、実施する電圧値をスケジューリングすることで、自動的に各段階の電圧試験が可能となるためである。
【0093】
第2に、装置検査工程において、オペレータによる設定ミスを防止できる。その理由は、電圧変更を検査ツール等のソフトウェアから行うため、人為的な操作を必要とせず画一的に試験が可能となるためである。
【0094】
第3に、ソフトウェアによる電圧の設定値が電圧を供給するデバイスに対して適切かどうかの判別することにより、過度の電圧を供給してデバイスを破損させる可能性を無くすことができる。
【0095】
第4に、各デバイスに電圧を供給したことによってシステムが動作不能となった場合にも、自動的にシステムを復旧させることが可能となる。
【0096】
第5に、システムが動作不能となった電圧の上限値と下限値とに基づいて、各デバイスに供給する電圧の最適値を算出することで、各デバイスが安定して動作する電圧の最適値を自動的に設定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による電圧制御回路を適用した電子装置の全体構成を示すブロック図である。
【図2】第1の実施の形態による電圧制御回路の構成を示すブロック図である。
【図3】第1の実施の形態による電圧制御回路の動作を説明するフローチャートである。
【図4】本発明の第2の実施の形態による電圧制御回路を適用した電子装置の全体構成を示すブロック図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態による電圧制御回路の構成を示すブロック図である。
【図6】第3の実施の形態による電圧制御回路の動作を説明するフローチャートである。
【図7】本発明の第4の実施の形態による電圧制御回路の構成を示すブロック図である。
【図8】第3の実施の形態による電圧制御回路における電圧記憶部の記憶内容の例を示す図である。
【図9】従来技術で実施されている装置検査を行う場合の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
10 電圧制御回路
11A〜11N レジスタ
12 比較器
13 VID生成回路
20A〜20N DC−DCコンバータ
30A〜30N デバイス
40 ソフトウェア(ファームウェア)
50 ウオッチドッグタイマ
60 停止用レジスタ
70 電圧記憶部
80 最適値電圧算出回路
100 電子装置[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a voltage control method and a voltage control circuit for an electronic device, and more particularly, to an electronic device capable of controlling and supplying a voltage to be supplied to a device inside the electronic device by software instead of controlling by a hardware switch operation. And a voltage control circuit.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art Conventionally, in an electronic device such as a computer device, a voltage margin test for a device inside the device, which is performed in a device inspection in a manufacturing process, is performed by using a means for switching a hardware switch or the like by an operator.
[0003]
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure for performing a voltage margin test on each device for device inspection performed in the prior art.
[0004]
An operator who performs device inspection sets a hardware switch inside the device to be inspected (step 901), turns on the device power (step 902), and starts a test program.
[0005]
Next, an apparatus test is executed by a test program (step 903), and after the test is completed, the apparatus power is turned off (step 904).
[0006]
One margin test on the device is completed by this series of operations. Thereafter, every time the voltage margin is changed, the operations of the above steps 101 to 104 are repeated (step 905). Further, the above-described operation is repeatedly performed for each device.
[0007]
As a conventional voltage margin test method, as described in, for example, JP-A-61-155971, the voltage value is automatically changed and set by control of a program (software). There has been proposed a technique in which the operator does not need to operate the hardware switch means.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
The above-described conventional method has various problems as described below.
[0009]
First, in a voltage margin test performed in an electronic device inspection process, there is a problem that an enormous number of work steps are required to perform a test while changing a voltage.
[0010]
The reason for this is that the margin test is performed by the switching work of the hardware switch means by the operator.
[0011]
Second, human intervention is likely to occur due to the operator's intervention, and it may not be possible to perform highly accurate inspection of the electronic device.
[0012]
Third, in a voltage margin test method in which a voltage value is automatically changed by control of a program (software) described in, for example, JP-A-61-155971, a voltage set value by software supplies a voltage. Since it is not determined whether the device is appropriate or not, an excessive voltage may be supplied to damage the device.
[0013]
The fourth problem is that in the voltage margin test method in which the voltage value is automatically changed under the control of the program (software) described in the above publication, the system cannot operate due to the supply of the voltage to each device. In such a case, it is necessary for the operator to perform a process for manually restoring.
[0014]
A first object of the present invention is to solve the above problems, and to control a voltage supplied to a device inside an electronic device instead of controlling by a hardware switch operation in a voltage margin test or the like performed in an electronic device inspection process. An object of the present invention is to propose a voltage control method and a voltage control circuit for an electronic device, which can significantly reduce the number of steps required for inspection by controlling and supplying by software.
[0015]
A second object of the present invention is to supply a voltage to be supplied to a device inside an electronic device by controlling the voltage by software instead of controlling by a hardware switch operation, thereby preventing an artificial operation error due to an operator's intervention. An object of the present invention is to propose a voltage control method and a voltage control circuit for an electronic device that can perform highly accurate inspection of the electronic device.
[0016]
A third object of the present invention is to eliminate the possibility of supplying an excessive voltage and damaging the device by determining whether the voltage set value by software is appropriate for the device that supplies the voltage. An object of the present invention is to propose a voltage control method and a voltage control circuit of an electronic device that can be performed.
[0017]
A fourth object of the present invention is to provide a voltage control method and a voltage control method for an electronic device, which can automatically recover the system even when the system becomes inoperable due to the supply of voltage to each device. It is to propose a circuit.
[0018]
A fifth object of the present invention is to propose a voltage control method and a voltage control circuit of an electronic device, which can automatically set an optimum value of a voltage at which each device operates stably.
[0019]
[Means for Solving the Problems]
The present invention that achieves the above object is a voltage control method for an electronic device that controls a voltage supplied from a voltage supply unit to each device inside the electronic device, wherein a voltage set value set for each device by software is When the required voltage value output from each device is within an allowable range, the voltage of the voltage set value is supplied to the device, and when the required voltage value is not within the allowable range, the voltage of the required voltage value is supplied to the device. And controlling the voltage supply.
[0020]
In the voltage control method for an electronic device according to the present invention, the voltage set value is compared with the required voltage value to determine whether the voltage set value is within an allowable range with respect to the required voltage value. If the voltage is within the allowable range, a control signal for supplying the voltage set value is output to the voltage supply means.If the voltage is not within the allowable range, the control signal is supplied as the voltage for supplying the required voltage. The output is provided to the supply means.
[0021]
In the voltage control method for an electronic device according to the third aspect of the present invention, when the voltage set value is within an allowable range with respect to the required voltage value, a flag indicating validity is added to the signal indicating the voltage set value. A comparison result is output, and if the voltage setting value is not within the allowable range, a comparison result obtained by adding a flag indicating invalidity to the signal indicating the voltage setting value is output, and the comparison result is referred to. And a control signal having a voltage value for supplying the required voltage value in the case of an invalid flag.
[0022]
In the voltage control method for an electronic device according to the present invention, when a required voltage value is not output from the device, a voltage value defined by the specification of the device is set from the software instead of the required voltage value. It is characterized by doing.
[0023]
The voltage control method for an electronic device according to the present invention according to claim 5, wherein a monitoring timer is operated in response to a voltage supply to the device, and when the system becomes inoperable due to the voltage supplied to the device, The system is reset by the timeout of the monitoring timer, and is controlled to supply the required voltage value to the device.
[0024]
7. The voltage control method for an electronic device according to claim 6, wherein the voltage value supplied to the device and the presence or absence of the timeout of the monitoring timer are stored in association with each other, and the stored voltage value and the timeout of the monitoring timer are stored. From the presence or absence of, the upper limit value and lower limit value of the voltage at which the device operates, the optimum value of the voltage for the device is calculated based on the determined upper limit value and lower limit value of the voltage, and the optimum value of the voltage And supplying a voltage to the device based on the following.
[0025]
The present invention according to
[0026]
The voltage control circuit according to claim 8, wherein the voltage setting value is compared with the required voltage value to determine whether the voltage setting value is within an allowable range with respect to the required voltage value. If the voltage is within the allowable range, a control signal for supplying the voltage set value is output to the voltage supply means.If the voltage is not within the allowable range, the control signal is supplied as the voltage for supplying the required voltage. Control signal generating means for outputting to the supply means.
[0027]
10. The voltage control circuit according to claim 9, wherein the comparing unit adds a flag indicating validity to the signal indicating the voltage set value when the voltage set value is within an allowable range with respect to the required voltage value. And outputs a comparison result in which a flag indicating invalidity is added to the signal indicating the voltage setting value when the signal is not within the allowable range, and the control signal generation unit refers to the comparison result and determines whether the signal is valid. In the case of a flag, a control signal of a voltage value for supplying the voltage set value is output, and in the case of an invalid flag, a control signal of a voltage value for supplying the required voltage value is output.
[0028]
The voltage control circuit of the present invention according to
[0029]
The voltage control circuit according to the present invention of claim 11, wherein when the required voltage value is not output from the device, the software sets a voltage value defined by the specification of the device instead of the required voltage value. Features.
[0030]
13. The voltage control circuit according to
[0031]
14. The voltage control circuit according to
[0032]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of an electronic device to which a voltage control circuit according to a first embodiment of the present invention is applied.
[0033]
The voltage control circuit according to the present invention controls the voltage supplied to the device inside the electronic apparatus by setting from software instead of the conventional control by switch operation by hardware.
[0034]
In FIG. 1, the present embodiment controls a voltage supplied to each device (for example, a CPU or a SCSI board) in an
[0035]
FIG. 1 shows only the characteristic configuration of the present embodiment, and the description of other general configurations is omitted.
[0036]
A voltage identification signal (hereinafter, referred to as an input identification signal) VID (A) (〜VID (N)) indicating a voltage required by the
[0037]
The
[0038]
Then, based on the result of comparison between the input identification signals VID (A) to VID (N) and the set value of each register, the voltage identification signals (hereinafter, referred to as output identification signals) VID (A ′) to VID (N ′) are obtained. Generate and output.
[0039]
The output identification signals VID (A ′) to VID (N ′) generated by the
[0040]
The DC-
[0041]
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of the
[0042]
The
[0043]
Since the configurations and control operations of the input identification signals VID (A) to VID (N), the output identification signals VID (A ') to VID (N'), and the
[0044]
The
[0045]
The
[0046]
The
[0047]
Next, the control operation of the voltage control circuit according to the present embodiment configured as described above will be described with reference to the flowcharts of FIGS. In the following description of the operation, voltage control for the
[0048]
Usually, when the voltage supplied to the device is changed, a hardware switch for setting a voltage value is manually switched.
[0049]
In this embodiment according to the present invention, the input identification signal VID (A) requested by the
[0050]
As shown in FIG. 2, the
[0051]
The
[0052]
When the voltage set value of the
[0053]
If the voltage set value of the
[0054]
Here, the comparison data (A) is, for example, data obtained by adding a 1-bit identification flag for identifying validity / invalidity to bit data indicating a voltage setting value of the
[0055]
The comparison data (A) generated by the
[0056]
When the comparison data (A) is input, the
[0057]
If the identification flag added to the comparison data (A) is set to invalid, the input identification signal VID (A) is generated as it is from the
[0058]
The output identification signal VID (A ') generated by the
[0059]
According to the first embodiment described above, the voltage supplied to each device can be changed from software such as an inspection tool. For this reason, by scheduling the voltage value to be supplied by software, the voltage test at each stage can be automatically performed. Therefore, it is possible to greatly reduce the labor of the operator in the device inspection process, and it is possible to prevent the operator from making mistakes in setting.
[0060]
Next, a system to which the voltage control circuit according to the second embodiment of the present invention is applied will be described with reference to FIG.
[0061]
In this embodiment,
[0062]
The device 30X1 shown in FIG. 4 is of a type that does not output an input identification signal VID (voltage identification signal) required by the device, and the present embodiment also includes voltage control for this type of device. It is configured to do so.
[0063]
When the device 30X1 does not output a voltage identification signal indicating a reference voltage required by the device 30X1, as in the case of the device 30X1, control is performed so that a fixed voltage value specified by device specifications is supplied from the DC-DC converter 20X1 to the device 30X1. I do.
[0064]
Therefore, in the present embodiment, as the input identification signal VID (X1) of the device 30X1 to the
[0065]
A voltage set value is set from software (firmware) 40 to a register corresponding to the device 30X1, and the voltage set value is compared with an input identification signal VID (X1) input from the software by the
[0066]
According to the second embodiment described above, even if a device that does not output a required input identification signal VID (voltage identification signal) is included, the voltage control for this type of device is also performed by software. The setting can be performed together.
[0067]
Next, a system including the voltage control circuit according to the third embodiment of the present invention will be described in detail.
[0068]
The overall system configuration of the present embodiment is the same as the configuration shown in FIG. In the present embodiment, the configuration is such that the inoperable (system down) state of the system due to the voltage supply can be automatically restored.
[0069]
Even if the voltage value supplied to each device is within a predetermined allowable voltage range, the voltage range in which the device actually operates stably has some variation even for the same type of device, When the same voltage value is supplied to the same kind of device, a situation occurs in which the system operates stably in one device and the system cannot operate (system down) in another device.
[0070]
When a voltage of a predetermined value is supplied to each of the
[0071]
In order to automatically recover such a state in which the system cannot be operated, in the present embodiment, as shown in FIG. 5, the
[0072]
Hereinafter, the operation of the present embodiment will be described with reference to the flowcharts of FIGS.
[0073]
When the output identification signal is output from the
[0074]
When a predetermined time (for example, several seconds to several minutes) elapses from the timer operation and the value of the
[0075]
If the system becomes inoperable (system down) due to the supply of various voltage values to the device, the rewriting of the value of the stop register 60 by the software (firmware) 40 by the software (firmware) 40 even if a predetermined time has elapsed since the timer operation. It is not executed (step 603), that is, the stop processing of the
[0076]
Next, the
[0077]
Here, for example, in addition to the identification flag for identifying 1-bit valid / invalid to the bit data indicating the voltage set value of the register 11, for example, a 1-bit flag indicating that the system is down is added to the comparison data.
[0078]
When the comparison data to which the flag indicating that the system has been down is added to the
[0079]
Next, a system including the voltage control circuit according to the fourth embodiment of the present invention will be described in detail.
[0080]
The overall system configuration of the present embodiment is the same as the configuration shown in FIG. In the present embodiment, in addition to the third embodiment in which a system inoperable (system down) state due to voltage supply is automatically restored, the supply voltage to each device and the presence / absence of the timeout of the
[0081]
The operation of the
[0082]
In the present embodiment, the voltage values supplied to the
[0083]
As shown in the example of FIG. 8, the
[0084]
The voltage is supplied to the
[0085]
In the present embodiment, the voltage values supplied to the
[0086]
Therefore, the optimum value
[0087]
As a method of calculating the optimum value of the voltage by the optimum value
[0088]
When the calculated optimum value is set in the
[0089]
As described above, according to the fourth embodiment, the optimum value of the voltage at which each device operates stably is automatically determined based on the upper limit value and the lower limit value of the voltage at which the system becomes inoperable. Since the setting is performed, the system of the
[0090]
Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiments and examples, the present invention is not necessarily limited to the above embodiments and examples, and various modifications may be made within the scope of the technical idea. Can be implemented.
[0091]
【The invention's effect】
As described above, according to the voltage control method and the voltage control circuit of the present invention, the following effects are realized.
[0092]
First, in the device inspection process, the number of steps required for inspection can be reduced. The reason is that, since the voltage is changed from software such as an inspection tool, the voltage test at each stage can be automatically performed by scheduling the voltage value to be performed.
[0093]
Second, it is possible to prevent a setting error by an operator in the device inspection process. The reason for this is that since the voltage is changed from software such as an inspection tool, a test can be performed uniformly without requiring any manual operation.
[0094]
Third, it is possible to eliminate the possibility of supplying an excessive voltage and damaging the device by determining whether the set value of the voltage by the software is appropriate for the device that supplies the voltage.
[0095]
Fourth, even when the system becomes inoperable due to the supply of voltage to each device, the system can be automatically restored.
[0096]
Fifth, the optimum value of the voltage supplied to each device is calculated based on the upper limit value and the lower limit value of the voltage at which the system has become inoperable, so that the optimum value of the voltage at which each device operates stably is calculated. Can be automatically set.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram illustrating an overall configuration of an electronic device to which a voltage control circuit according to a first embodiment of the present invention is applied.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a voltage control circuit according to the first embodiment.
FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of the voltage control circuit according to the first embodiment.
FIG. 4 is a block diagram illustrating an overall configuration of an electronic device to which a voltage control circuit according to a second embodiment of the present invention is applied.
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a voltage control circuit according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation of the voltage control circuit according to the third embodiment.
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a voltage control circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of contents stored in a voltage storage unit in a voltage control circuit according to a third embodiment.
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure for performing a device inspection performed in a conventional technique.
[Explanation of symbols]
10 Voltage control circuit
11A to 11N registers
12 Comparators
13 VID generation circuit
20A-20N DC-DC converter
30A-30N device
40 Software (firmware)
50 Watchdog timer
60 Stop register
70 Voltage storage unit
80 Optimal value voltage calculation circuit
100 Electronic device
Claims (13)
ソフトウェアによって前記各デバイスについて設定された電圧設定値が、前記各デバイスから出力される要求電圧値に対して許容範囲である場合に、前記電圧設定値の電圧を前記デバイスに供給し、許容範囲でない場合に前記要求電圧値の電圧を前記デバイスに供給して電圧供給を制御することを特徴とする電子装置の電圧制御方法。A voltage control method for an electronic device that controls a voltage supplied from voltage supply means to each device inside the electronic device,
When a voltage set value set for each device by software is within an allowable range with respect to a required voltage value output from each device, the voltage of the voltage set value is supplied to the device, and the voltage is not within the allowable range. A voltage control method for an electronic device, comprising: supplying a voltage having the required voltage value to the device to control voltage supply.
許容範囲である場合、前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力し、
許容範囲でない場合、前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力することを特徴とする請求項1に記載の電子装置の電圧制御方法。The voltage set value and the required voltage value are compared, and the voltage set value is determined whether the required voltage value is within an allowable range,
If it is within the allowable range, output a control signal as a voltage value to supply the voltage set value to the voltage supply means,
2. The voltage control method for an electronic device according to claim 1, wherein a control signal for setting the required voltage value to a supply voltage value is output to the voltage supply unit when the voltage value is not within the allowable range.
許容範囲でない場合に、前記電圧設定値を示す信号に無効を示すフラグを付加した比較結果を出力し、
前記比較結果を参照し、有効のフラグの場合に前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を出力し、無効のフラグの場合に前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を出力することを特徴とする請求項2に記載の電子装置の電圧制御方法。When the voltage set value is within an allowable range with respect to the required voltage value, a comparison result in which a flag indicating validity is added to a signal indicating the voltage set value is output,
If not within the allowable range, a comparison result in which a flag indicating invalidity is added to the signal indicating the voltage set value is output,
Referring to the comparison result, a control signal is output as a voltage value that supplies the voltage set value in the case of a valid flag, and a control signal that is a voltage value that supplies the requested voltage value in the case of an invalid flag. 3. The method according to claim 2, wherein the voltage is output.
記憶した前記電圧値と前記監視タイマーのタイムアウトの有無から、前記デバイスが動作する電圧の上限値と下限値を判別し、
判別した前記電圧の上限値と下限値とに基づいて前記デバイスに対する電圧の最適値を算出し、
前記電圧の最適値に基づいて前記デバイスに電圧を供給することを特徴とする請求項5に記載の電子装置の電圧制御方法。The voltage value supplied to the device is stored in association with the presence or absence of timeout of the monitoring timer,
From the stored voltage value and the presence or absence of timeout of the monitoring timer, determine the upper limit and lower limit of the voltage at which the device operates,
Calculate the optimal value of the voltage for the device based on the determined upper limit and lower limit of the voltage,
6. The method according to claim 5, wherein a voltage is supplied to the device based on an optimum value of the voltage.
ソフトウェアによって前記各デバイスについて設定された電圧設定値が、前記各デバイスから出力される要求電圧値に対して許容範囲である場合に、前記電圧設定値の電圧を前記デバイスに供給し、許容範囲でない場合に前記要求電圧値の電圧を前記デバイスに供給して電圧供給を制御することを特徴とする電子装置の電圧制御回路。A voltage control circuit of an electronic device that controls a voltage supplied from voltage supply means to each device inside the electronic device,
When a voltage set value set for each device by software is within an allowable range with respect to a required voltage value output from each device, the voltage of the voltage set value is supplied to the device, and the voltage is not within the allowable range. A voltage control circuit for an electronic device, wherein a voltage of the required voltage value is supplied to the device to control voltage supply.
許容範囲である場合、前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力し、許容範囲でない場合、前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を前記電圧供給手段に出力する制御信号生成手段とを備えることを特徴とする請求項7に記載の電子装置の電圧制御回路。Comparing means for comparing the voltage set value with the required voltage value to determine whether the voltage set value is within an allowable range for the required voltage value,
If the voltage is within the allowable range, a control signal is supplied to the voltage supply means to supply the voltage set value to the voltage supply means. 8. The voltage control circuit for an electronic device according to claim 7, further comprising control signal generating means for outputting the control signal to the means.
前記制御信号生成手段が、前記比較結果を参照し、有効のフラグの場合に前記電圧設定値を供給する電圧値とする制御信号を出力し、無効のフラグの場合に前記要求電圧値を供給する電圧値とする制御信号を出力することを特徴とする請求項8に記載の電子装置の電圧制御回路。The comparing means outputs a comparison result obtained by adding a flag indicating validity to a signal indicating the voltage set value when the voltage set value is within an allowable range with respect to the required voltage value. Outputting a comparison result in which a flag indicating invalidity is added to the signal indicating the voltage set value,
The control signal generation unit refers to the comparison result, outputs a control signal having a voltage value for supplying the voltage set value in the case of a valid flag, and supplies the required voltage value in a case of an invalid flag. 9. The voltage control circuit according to claim 8, wherein the control signal is output as a voltage value.
前記比較手段は、前記レジスタの電圧設定値と前記各デバイスから出力される要求電圧値とを比較することを特徴とする請求項8又は請求項9に記載の電子装置の電圧制御回路。A register that holds a voltage set value set for each device by the software,
10. The voltage control circuit according to claim 8, wherein the comparing unit compares a voltage set value of the register with a required voltage value output from each of the devices.
前記デバイスに対して前記要求電圧値を供給するよう制御することを特徴とする請求項7から請求項11の何れか1項に記載の電子装置の電圧制御回路。A monitoring timer that operates in response to the supply of voltage to the device, and when a system inoperability due to the voltage supplied to the device occurs, resetting the system by timeout of the monitoring timer,
The voltage control circuit according to claim 7, wherein the voltage control circuit controls the supply of the required voltage value to the device.
記憶した前記電圧値と前記監視タイマーのタイムアウトの有無から、前記デバイスが動作する電圧の上限値と下限値を判別し、判別した前記電圧の上限値と下限値とに基づいて前記デバイスに対する電圧の最適値を算出する最適値算出手段を備え、
前記電圧の最適値に基づいて前記デバイスに電圧を供給することを特徴とする請求項12に記載の電子装置の電圧制御回路。A storage unit that stores the voltage value supplied to the device in association with the presence or absence of timeout of the monitoring timer,
From the stored voltage value and the presence or absence of timeout of the monitoring timer, an upper limit value and a lower limit value of the voltage at which the device operates are determined, and the voltage of the device is determined based on the determined upper limit value and lower limit value of the voltage. An optimum value calculating means for calculating an optimum value;
13. The voltage control circuit according to claim 12, wherein a voltage is supplied to the device based on an optimum value of the voltage.
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