JP2004172973A - Correction data storage method for solid state imaging device and imaging apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、キズ補正がされる画素の情報を記憶した撮像装置及びキズ補正がされる画素の情報を記憶する補正データ記憶方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のデジタルスチルカメラの構成例を、図3を参照して説明する。
【0003】
同図において、撮影者がカメラ操作スイッチ201(カメラのメインスイッチ、レリーズスイッチ等で構成)を操作すると、カメラ操作スイッチ201の状態変化を全体制御CPU200が検出し、その他の各回路ブロックへの電源供給を開始する。
【0004】
撮影画面範囲内の被写体像は、主撮影光学系202及び203を通して撮像素子204上に結像し、アナログ電気信号に変換される。撮像素子204からのアナログ電気信号は、CDS/AGC回路205によりアナログ的に処理されて、所定の信号レベルに変換され、更に各画素順々に、A/D変換部206でデジタル信号に変換される。
【0005】
なお、全体の駆動タイミングを決定するタイミングジェネレータ208からの信号に基いて、ドライバ回路207が撮像素子204の水平駆動並びに垂直駆動を所定制御することにより、撮像素子204は画像信号を出力する。
【0006】
同様に、CDS/AGC回路205、並びにA/D変換部206も上記タイミングジェネレータ208からのタイミングに基づいて動作する。
【0007】
209は全体制御CPU200からの信号に基づいて信号の選択を行うセレクタであり、A/D変換部206からの出力は、セレクタ209を介してメモリコントローラ215へ入力し、フレームメモリ216へ全ての信号出力が転送される。従って、この場合各撮影フレームの画素データを、全てフレームメモリ216内に一旦記憶する為、連写撮影等の場合は、撮影された画像の画素データを全てフレームメモリ216へ書き込むことになる。
【0008】
フレームメモリ216への書き込み動作終了後は、メモリコントローラ215の制御により、画素データを記憶しているフレームメモリ216の内容を、セレクタ209を介してカメラデジタル信号処理部(DSP)210へ転送する。このカメラDSP210では、フレームメモリ216に記憶されている各画像の各画素データを基にRGBの各色信号を生成する。
【0009】
通常撮影前の状態では、この生成されたRGBの各色信号をビデオメモリ211に定期的(フレーム毎)に転送する事で、モニタ表示部212によりファインダー表示等を行っている。
【0010】
一方、カメラ操作スイッチ201の操作により、撮影者が撮影(すなわち、画像の記録)を指示した場合には、全体制御CPU200からの制御信号によって、1フレーム分の各画素データをフレームメモリ216から読み出し、カメラDSP210で画像処理を行ってから一旦ワークメモリ213に記憶する。
【0011】
続いて、ワークメモリ213のデータを圧縮・伸張部214で所定の圧縮フォーマットに基いてデータ圧縮し、圧縮したデータを外部不揮発性メモリ217(通常フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを使用)に記憶する。
【0012】
また、逆に撮影済みの画像データを観察する場合には、上記外部メモリ217に圧縮記憶されたデータを、圧縮・伸張部214を通して通常の画素毎のデータに伸張し、伸長した画素毎のデータをビデオメモリ211へ転送する事で、モニタ表示部212を通して撮影済み画像を観察する事ができる。
【0013】
この様に、通常のデジタルカメラでは、撮像素子204からの出力を、ほぼリアルタイムで信号処理回路を通して実際の画像データに変換し、その結果をメモリないしはモニタ回路へ出力する構成となっている。
【0014】
一方、上記の様なデジタルカメラシステムに於いて、撮像素子は高価な部品である。従って、出来るだけ歩留まりを高めて使用できるようなシステム構成が望まれるところである。
【0015】
特に最近は高画素数化が進んだため、点キズと呼ばれる不良画素信号の数が問題となる。これは画素部自身の構造的欠陥によるリークや暗電流特性の不良によるもので、前者は撮影秒時や感度設定に関わらず、後者はそれらの条件次第で補正の必要が出てくるものである。
【0016】
図4は点キズ画素(x)対する補正方法の一般的例を説明したものである。図中□は点キズ画素を、○は正常画素を現している。また、図中の画素は全て同色のオンチップカラーフィルタの画素のみとしている。
【0017】
図4(A)は点キズ画素(x)の上下左右の隣接画素全てが正常画素の場合である。このとき,点キズ画素(x)の画素出力信号を(▲1▼+▲2▼+▲3▼+▲4▼)÷4と等価の信号レベルに置き換えることで点キズ画素(x)の補正を行う。
【0018】
同様に、同図(B)では(▲1▼+▲2▼+▲3▼)÷3と等価に、同図(C)では(▲1▼+▲2▼)÷2と等価に、同図(D)では(▲4▼)と等価の信号レベルに置き換えることとなる。
【0019】
更に特開2000−209506では、通常の撮影露光時間と同じ時間シャッターを閉じた暗中状態での撮像データを黒レベル基準データとし、全画素について差分補正を行い、黒レベル基準データが所定レベルを超える画素を白キズ画素としてその位置を記憶、補正する方法が開示されている。これにより、黒レベルと白キズ画素の質の高い補正が可能としている。
【0020】
システム上、出来る限りの画素数に対しは補正を行うべきと考えるが、補正のためのデータ領域も大量に準備できるものではない。また、撮影時の時間的ストレスを考えると,補正可能な画素数にも限りがある。
【0021】
従って,システム的にも時間的にも限りあるデータ数で効果的な補正を行う必要がある。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】
システム上決められた領域で補正対象となるデータがすべて記憶できる場合は問題ないが,意に反して足りない場合,なんとかデータ数を丸めなければならない。
【0023】
上述したように,数こそ少ないが、基本的に画素構造欠陥によるリーク等は常に補正対象である。一方、暗電流特性の不良画素は、撮影秒時や感度設定等により補正対象画素を切り換えるのが一般的である。
【0024】
この場合,暗電流特性の優劣は暗時の出力レベルそのもので順序付けられる。つまり、キズの種類、キズの程度を現す情報という順で補正データとしての優先度の判定を行うこととなる。
【0025】
しかしながら、同じキズレベルの画素同志については考慮されていない。同じレベルの画素がすべて補正データ領域に記憶されるなら何ら問題はない。しかし、その一部しか記憶できない場合、何らかの手段で優先度を付けなくてはならなくなる。同じレベルということで、無作為に抽出するという方法もあるが、以下のような問題が存在する。
【0026】
いわゆる電子シャッター機能を持たない撮像素子、例えば多くのCMOS(相補型金属酸化膜半導体)タイプの場合,撮影秒時=露光時間ではあるが蓄積動作時間と全く等価というわけではない。つまり、受光部から蓄積電荷量に比例した信号を読み出すのは順序だてて行われるが、自身が読み出されるまでの時間は受光画素の動作としては蓄積状態となり、暗電流成分の増加が生じてしまうこととなる。結果,同じ蓄積時間の場合は、後から読み出される画素ほど蓄積動作時間が待ち時間だけ長くなってしまう。
【0027】
従って,待ち時間、つまり読み出し時間が素子全体で短ければそれだけ影響も少ないが,昨今の高画素数化ではそれもままならない。よって、撮影画面内での読み出し順も考慮して補正データの優先度を設定する必要がある。
【0028】
【課題を解決するための手段】
固体撮像素子のキズ補正がされる画素の情報を記憶する優先順位として、構造欠陥のある画素、画素の暗電流の程度、画素のアドレスの順でキズ補正がされる画素を選択することを特徴とする補正データ記憶方法を提供する。
【0029】
また、固体撮像素子のキズ補正がされる画素の情報を記憶する優先順位として、キズの種類、キズの程度、画素のアドレスの順でキズ補正がされる画素を選択することを特徴とする補正データ記憶方法を提供する。
【0030】
また、固体撮像素子と、
前記固体撮像素子のキズ補正がされる画素の情報を記憶する優先順位として、構造欠陥のある画素、画素の暗電流の程度、画素のアドレスの順でキズ補正がされる画素を選択することにより得られる情報を記憶したメモリと、前記メモリの情報に基づいて、固体撮像素子からの信号を補正する信号処理部と、を有することを特徴とする撮像装置を提供する。
【0031】
また、固体撮像素子と、前記固体撮像素子のキズ補正がされる画素の情報を記憶する優先順位として、キズの種類、キズの程度、画素のアドレスの順でキズ補正がされる画素を選択することにより得られる情報を記憶したメモリと、前記メモリの情報に基づいて、固体撮像素子からの信号を補正する信号処理部と、を有することを特徴とする撮像装置を提供する。
【0032】
【発明の実施の形態】
図1は本発明の実施の形態における撮像装置(ディジタルスチルカメラ)のブロック図である。
【0033】
基本的には、図3に点キズ補正用データを格納するための不揮発性メモリ7を追加したものである。
【0034】
図1に於いて、1は撮像素子を示し、ドライバ2によって駆動されて所定の周波数で動作する。また、タイミングジェネレータ3は垂直同期信号VD及び水平同期信号HDを出力するタイミング発生回路で、同時に各回路ブロックへタイミング信号を供給している。
【0035】
撮像素子1からの画素信号は、CDS/AGC回路4へ入力し、ここで既知の相関2重サンプリング等の処理を行う事で、CCD等の出力に含まれるリセットノイズ等を除去すると共に、所定の信号レベル迄出力を増幅する。増幅された画素信号をA/D変換部5でデジタル信号に変換して、デジタル化された画素信号を得る。
【0036】
デジタル化された画素信号はセレクタ6を介してメモリコントローラ9へ入力し、フレームメモリ10へ全ての信号出力が転送される。従って、この場合各撮影フレームの画素データを、全てフレームメモリ10内に一旦記憶する為、連写撮影等の場合は、撮影された画像の画素データを全てフレームメモリ10へ書き込むことになる。
【0037】
フレームメモリ10への書き込み動作終了後は、メモリコントローラ9の制御により、画素データを記憶しているフレームメモリ10の内容を、セレクタ6を介してカメラデジタル信号処理部(DSP)8へ転送する。このカメラDSP8では、フレームメモリ10に記憶された各画像の各画素データと不揮発性メモリ7に記憶された点キズ用補正データを基に点キズ補正を行った後,RGBの各色信号を生成する。
【0038】
カメラ操作スイッチ16の操作により、撮影者が撮影(すなわち、画像の記録)を指示した場合には、全体制御CPU17からの制御信号によって、1フレーム分の各画素データをフレームメモリ10から読み出し、カメラDSP8で画像処理を行ってから一旦ワークメモリ12に記憶する。
【0039】
続いて、ワークメモリ12のデータを圧縮・伸張部14で所定の圧縮フォーマットに基いてデータ圧縮し、圧縮したデータを外部不揮発性メモリ15(通常フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを使用)に記憶する。
【0040】
また、撮影済みの画像データを観察する場合には、上記外部メモリ15に圧縮記憶されたデータを、圧縮・伸張部14を通して通常の画素毎のデータに伸張し、伸長した画素毎のデータをビデオメモリ11へ転送する事で、モニタ表示部13を通して撮影済み画像を観察する事ができる。
【0041】
なお、図1の構成では点キズ補正用不揮発性メモリを明記したが、DSP8のフラッシュメモリ領域に点キズ補正用データを格納してもよい。
【0042】
続いて、点キズ用補正データについて説明する。
【0043】
前述したように、キズの種類、キズの程度を現す情報、アドレス情報の順で全データの優先度を決定する。更に,アドレス情報は読み出しが遅い位置を優先するものである。
【0044】
本発明に用いた撮像素子では、素子上の位置をx、yアドレスを用いて現すものとし,yアドレスが小さく、更にxアドレスが小さい位置ほど先に読み出されるものとする。
【0045】
従って,点キズ補正対象の画素を
▲1▼画素構造欠陥によるリーク
▲2▼暗電流特性不良
に分類し、▲1▼に関しては全数補正データとして記憶する。
【0046】
また、▲2▼に関しては、キズの程度を現す情報として、
▲3▼暗中での出力レベル
で順位付けを行い,更に位置(アドレス)情報により順位付けを行う。
【0047】
そして,位置(アドレス)情報により順位付けを
▲4▼yアドレス
▲5▼xアドレス
の順で順位付けの優先項目として設定する。
【0048】
図2は上述した暗電流特性不良画素における同一レベルでの位置(アドレス)情報による優先度設定を説明する図である。
【0049】
同図は撮像素子の有効撮像領域全面を表しており、左端上が(x、y)=(0,0)、右端下が(x、y)=(X−1,Y−1)という有効全画素数が X×Y 画素という撮像素子である。
【0050】
この撮像素子は同図(A)のように左端上から右へ、更に下というように読み出される。一方,優先度設定は同図(B)のように右端下から左へ,更に上へというように読み出し順とは逆の順に設定されることを示している。
【0051】
以上説明した本実施の形態によれば、固体撮像素子を用いた撮像装置における撮像素子のキズ補正において、キズ補正に用いる画素情報及び位置情報を記憶する手段での補正対象画素の優先順位判断項目の優先度を,キズの種類、キズの程度を現す情報、アドレス情報の順とし、位置情報での優先度を、画素の読み出しが遅くなる位置ほど優先的とすることで、限られた領域である補正用データ領域を有効に活用することが可能になる。
【0052】
これにより、システム上決められた領域で補正対象となるデータがすべて記憶できない場合でも,可能な限りの有効性を維持しつつ、合理的にデータ数を丸めることが可能となる。
【0053】
【発明の効果】
本発明によれば、効率的にメモリを用いることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態のデジタルスチルカメラの構成説明図である。
【図2】本発明の実施の形態での位置情報による優先度設定の説明図である。
【図3】従来のデジタルスチルカメラの構成説明図である。
【図4】キズ補正方法の説明図である。
【符号の説明】
1 撮像素子
2 ドライバ
3 TG/SSG
4 CDS/AGC回路
5 A/D変換回路
6 メモリセレクタ
7 キズ補正用不揮発性メモリ
8 カメラDSP
9 メモリコントローラ
10 フレームメモリ
11 ビデオメモリ
12 ワークメモリ
13 モニタ表示部
14 圧縮・伸張部
15 不揮発性メモリ
16 カメラ操作スイッチ
17 全体制御CPU
18 カメラ・レンズマウント
19 撮影レンズ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
1. Field of the Invention The present invention relates to an imaging device that stores information on a pixel to be subjected to flaw correction, and a correction data storage method that stores information about a pixel to be flaw corrected.
[0002]
[Prior art]
A configuration example of a conventional digital still camera will be described with reference to FIG.
[0003]
In the figure, when a photographer operates a camera operation switch 201 (configured with a main switch and a release switch of the camera), the
[0004]
The subject image in the photographing screen range is formed on the
[0005]
The
[0006]
Similarly, the CDS /
[0007]
A
[0008]
After the writing operation to the frame memory 216 is completed, the contents of the frame memory 216 storing the pixel data are transferred to the camera digital signal processing unit (DSP) 210 via the
[0009]
In a state before normal photographing, the monitor display unit 212 performs a finder display or the like by periodically transferring the generated RGB color signals to the video memory 211 (for each frame).
[0010]
On the other hand, when the photographer instructs shooting (that is, image recording) by operating the
[0011]
Subsequently, the data in the
[0012]
Conversely, when observing captured image data, the data compressed and stored in the external memory 217 is expanded to normal data for each pixel through the compression /
[0013]
As described above, in a normal digital camera, the output from the
[0014]
On the other hand, in the above digital camera system, the image sensor is an expensive component. Therefore, there is a need for a system configuration that can be used with as high a yield as possible.
[0015]
Particularly, since the number of pixels has been increased recently, the number of defective pixel signals called point flaws becomes a problem. This is due to a leak due to a structural defect of the pixel portion itself or a defect in dark current characteristics.The former requires correction depending on those conditions regardless of the shooting time or sensitivity setting. .
[0016]
FIG. 4 illustrates a general example of a correction method for a point defect pixel (x). In the figure, □ indicates a point defect pixel, and ○ indicates a normal pixel. Further, all the pixels in the figure are only pixels of an on-chip color filter of the same color.
[0017]
FIG. 4A shows a case in which all of the adjacent pixels on the upper, lower, left and right sides of the point defect pixel (x) are normal pixels. At this time, the pixel defect signal (x) is corrected by replacing the pixel output signal of the point defect pixel (x) with a signal level equivalent to ((1) + (2) + (3) + (4)) ▼ 4. I do.
[0018]
Similarly, in FIG. 3B, (1) + 2 + 3) is equivalent to (3), and in FIG. 2C, (1) +2) ÷ 2 is equivalent. In FIG. 4D, the signal level is replaced with a signal level equivalent to (4).
[0019]
Further, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-209506, image data in a dark state in which a shutter is closed for the same time as a normal photographing exposure time is used as black level reference data, difference correction is performed for all pixels, and black level reference data exceeds a predetermined level. A method of storing and correcting the position of a pixel as a white defect pixel is disclosed. This enables high-quality correction of the black level and the white defect pixel.
[0020]
The system considers that correction should be performed for as many pixels as possible, but a large data area for correction cannot be prepared. Also, considering the temporal stress at the time of shooting, the number of pixels that can be corrected is limited.
[0021]
Therefore, it is necessary to perform effective correction with a limited number of data in terms of both system and time.
[0022]
[Problems to be solved by the invention]
There is no problem if all data to be corrected can be stored in an area determined by the system, but if it is not enough, the number of data must be rounded off.
[0023]
As described above, although the number is small, basically, a leak due to a pixel structure defect is always a correction target. On the other hand, for a defective pixel having dark current characteristics, the pixel to be corrected is generally switched according to the shooting time, sensitivity setting, and the like.
[0024]
In this case, the order of the dark current characteristic is determined by the output level itself in the dark. That is, the priority of the correction data is determined in the order of information indicating the type of flaw and the degree of flaw.
[0025]
However, no consideration is given to pixels having the same flaw level. There is no problem if all pixels of the same level are stored in the correction data area. However, if only a part of the information can be stored, the priority must be set by some means. At the same level, there is a method of extracting at random, but the following problems exist.
[0026]
In the case of an image sensor having no so-called electronic shutter function, for example, many CMOS (complementary metal oxide semiconductor) types, although the photographing time is equal to the exposure time, it is not completely equivalent to the accumulation operation time. In other words, the reading of the signal proportional to the accumulated charge amount from the light receiving portion is performed in a sequential order, but the operation of the light receiving pixel is in an accumulation state until the pixel itself is read, and the dark current component increases. Will be lost. As a result, in the case of the same accumulation time, the accumulation operation time becomes longer by the waiting time as the pixel is read later.
[0027]
Accordingly, the shorter the waiting time, that is, the shorter the reading time of the entire device, the less the effect is, but the recent increase in the number of pixels does not remain that effect. Therefore, it is necessary to set the priority of the correction data in consideration of the reading order in the shooting screen.
[0028]
[Means for Solving the Problems]
As a priority order for storing information of the pixel to be subjected to the defect correction of the solid-state imaging device, a pixel having a structural defect, a degree of dark current of the pixel, and a pixel to be subjected to the defect correction in the order of the pixel address are selected. Is provided.
[0029]
Further, as a priority order for storing information of the pixel to be subjected to the defect correction of the solid-state imaging device, the pixel to be subjected to the defect correction is selected in the order of the type of the defect, the degree of the defect, and the address of the pixel. A data storage method is provided.
[0030]
Also, a solid-state imaging device,
As a priority order for storing information of the pixel to be subjected to the defect correction of the solid-state imaging device, a pixel having a structural defect, a degree of dark current of the pixel, and a pixel to be subjected to the defect correction in the order of the pixel address are selected. An image pickup apparatus comprising: a memory that stores obtained information; and a signal processing unit that corrects a signal from a solid-state image sensor based on the information in the memory.
[0031]
Further, as the priority order for storing the information of the solid-state imaging device and the pixel of the solid-state imaging device to be subjected to the defect correction, the pixel to be subjected to the defect correction is selected in the order of the type of the defect, the degree of the defect, and the address of the pixel. And a signal processing unit for correcting a signal from the solid-state imaging device based on the information in the memory.
[0032]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 is a block diagram of an imaging device (digital still camera) according to an embodiment of the present invention.
[0033]
Basically, a non-volatile memory 7 for storing point defect correction data is added to FIG.
[0034]
In FIG. 1,
[0035]
The pixel signal from the
[0036]
The digitized pixel signals are input to the memory controller 9 via the selector 6, and all signal outputs are transferred to the frame memory 10. Therefore, in this case, all the pixel data of each photographed frame is temporarily stored in the frame memory 10. Therefore, in the case of continuous photographing or the like, all the pixel data of the photographed image is written into the frame memory 10.
[0037]
After the writing operation to the frame memory 10 is completed, the contents of the frame memory 10 storing the pixel data are transferred to the camera digital signal processing unit (DSP) 8 via the selector 6 under the control of the memory controller 9. The camera DSP 8 performs point flaw correction based on the pixel data of each image stored in the frame memory 10 and the point flaw correction data stored in the non-volatile memory 7, and then generates RGB color signals. .
[0038]
When the photographer instructs shooting (that is, image recording) by operating the
[0039]
Subsequently, the data in the
[0040]
When observing captured image data, the data compressed and stored in the
[0041]
In the configuration of FIG. 1, the non-volatile memory for point flaw correction is specified, but data for point flaw correction may be stored in the flash memory area of the DSP 8.
[0042]
Next, the correction data for point flaws will be described.
[0043]
As described above, the priority of all the data is determined in the order of the type of the flaw, the information indicating the degree of the flaw, and the address information. Further, the address information has priority on a position where reading is slow.
[0044]
In the imaging device used in the present invention, the position on the device is represented by using the x and y addresses, and the smaller the y address and the smaller the x address, the earlier the data is read.
[0045]
Therefore, the pixel to be subjected to point flaw correction is classified into (1) leak due to a pixel structure defect, (2) dark current characteristic failure, and (1) is stored as 100% correction data.
[0046]
Regarding (2), as information indicating the degree of scratches,
{Circle around (3)} The ranking is performed based on the output level in the dark, and further the ranking is performed based on the position (address) information.
[0047]
Then, the priority order is set based on the position (address) information in the order of (4) y address (5) x address.
[0048]
FIG. 2 is a view for explaining the priority setting based on the position (address) information at the same level in the dark current characteristic defective pixels.
[0049]
The figure shows the entire effective imaging area of the image sensor, and the upper left end is (x, y) = (0, 0), and the lower right end is (x, y) = (X-1, Y-1). The image pickup device has a total number of pixels of X × Y pixels.
[0050]
This image sensor is read from the upper left end to the right as shown in FIG. On the other hand, the priority setting is set in the reverse order of the reading order, such as from the lower right end to the left as shown in FIG.
[0051]
According to the above-described embodiment, in the image sensor using the solid-state image sensor, the priority order of the pixel to be corrected is determined by the unit that stores the pixel information and the position information used for the defect correction. Is set in the order of the type of scratch, the information indicating the degree of the scratch, and the address information, and the priority in the position information is set higher in the position where the pixel reading is delayed, so that the priority is higher in a limited area. It is possible to effectively utilize a certain correction data area.
[0052]
As a result, even if all data to be corrected cannot be stored in a region determined by the system, the number of data can be rationally rounded while maintaining the validity as much as possible.
[0053]
【The invention's effect】
According to the present invention, a memory can be used efficiently.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a digital still camera according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram of priority setting based on position information according to the embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating the configuration of a conventional digital still camera.
FIG. 4 is an explanatory diagram of a flaw correction method.
[Explanation of symbols]
1 image sensor 2
4 CDS / AGC circuit 5 A / D conversion circuit 6 Memory selector 7 Non-volatile memory for flaw correction 8 Camera DSP
9 Memory controller 10
18 Camera lens mount 19 Photo lens
Claims (8)
前記固体撮像素子のキズ補正がされる画素の情報を記憶する優先順位として、構造欠陥のある画素、画素の暗電流の程度、画素のアドレスの順でキズ補正がされる画素を選択することにより得られる情報を記憶したメモリと、
前記メモリの情報に基づいて、固体撮像素子からの信号を補正する信号処理部と、
を有することを特徴とする撮像装置。A solid-state image sensor;
As a priority order for storing information of the pixel to be subjected to the defect correction of the solid-state imaging device, a pixel having a structural defect, a degree of dark current of the pixel, and a pixel to be subjected to the defect correction in the order of the pixel address are selected. A memory for storing the obtained information;
A signal processing unit that corrects a signal from the solid-state imaging device based on the information in the memory,
An imaging device comprising:
前記固体撮像素子のキズ補正がされる画素の情報を記憶する優先順位として、キズの種類、キズの程度、画素のアドレスの順でキズ補正がされる画素を選択することにより得られる情報を記憶したメモリと、
前記メモリの情報に基づいて、固体撮像素子からの信号を補正する信号処理部と、
を有することを特徴とする撮像装置。A solid-state image sensor;
As the priority order for storing the information of the pixel to be subjected to the defect correction of the solid-state imaging device, information obtained by selecting the pixel to be subjected to the defect correction in the order of the type of the defect, the degree of the defect, and the address of the pixel is stored. Memory and
A signal processing unit that corrects a signal from the solid-state imaging device based on the information in the memory,
An imaging device comprising:
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2002336729A JP2004172973A (en) | 2002-11-20 | 2002-11-20 | Correction data storage method for solid state imaging device and imaging apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
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ID=32700488
Family Applications (1)
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-
2002
- 2002-11-20 JP JP2002336729A patent/JP2004172973A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006013598A (en) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Canon Inc | Image processing apparatus |
US7742086B2 (en) | 2004-06-22 | 2010-06-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus and image processing method |
JP4508740B2 (en) * | 2004-06-22 | 2010-07-21 | キヤノン株式会社 | Image processing device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060207 |