JP2004110909A

JP2004110909A - Recording/reproducing device

Info

Publication number: JP2004110909A
Application number: JP2002270505A
Authority: JP
Inventors: Toshiyuki Kase; 加瀬　俊之
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 2002-09-17
Filing date: 2002-09-17
Publication date: 2004-04-08

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a low-cost recording/reproducing device capable of realizing high-quality recording/reproducing by correcting power change by using a mounted element without using any new dedicated elements for an external change such as a temperature. <P>SOLUTION: A luminous flux from a semiconductor laser unit 1 is converged by an objective lens 2, and an optical disk 3 is irradiated therewith to form a very small spot. A reflected light from the optical disk 3 is returned again into the semiconductor laser unit 1 through the objective lens 2. The reflected light returned into the semiconductor laser unit 1 from the optical disk 3 is diffracted by a hologram element attached to the semiconductor laser unit 1, converged to a light receiving element, subjected to an arithmetic operation, and detected as a control signal, or a recording/reproducing signal to execute spot position control. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスクドライブ装置の記録再生装置に関し、特に温度等の外的変化に対し、受光素子にパワー変化補正をかけることで高品質な記録再生ができる記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のピックアップにおける前方受光素子は、それぞれの半導体レーザユニットからの光束の一部を受光するように配置されている。所望の記録媒体に対し、記録再生を行う場合、複数ある光源のうち発光しているのは１つの光源で、光源に対応した前方受光素子により出力が制御されている。その他の光源は消灯しており、その光源に対応した前方受光素子には光線が当たっておらず、電源投入のみが行われている。また、記録再生装置の外部温度が上昇した場合、それに伴い前方受光素子の電気オフセットが変化する。通常、発光している光源の前方受光素子は電気オフセットと半導体レーザからの光を受光した出力の合成をするため、オフセットとの分離が不可能なため補正が困難になる。
【０００３】
一般的に、半導体レーザは周囲温度変化によって波長が変動する。特に書き込み方の光ディスクは波長に対する感度変化が激しいので、同出力でも波長が変化すると書き込み品質が著しく低下する場合がある。よって、このような場合には一度書き込みを停止して、再度パワーの最適化を行う必要がある。また、温度変化を検出する方法として、サーミスタなどの感温素子を使用して波長の変化を予測していたが、コスト高等のデメリットが生じていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、一般的にアンプ内蔵型の前方受光素子は動作中の周囲温度等により徐々にオフセットが生じ、光電変換された出力に、オフセットが付加されてしまう。半導体レーザの出力を制御しているループ回路としては、受光している光量が変化したと検知し、半導体レーザの出力を変化させてしまう。その結果最適化されていたパワーが温度変動により変化し、記録再生機能の品質が低下してしまう。
【０００５】
本発明は係る問題に鑑みてなされたものであり、温度等の外的変化に対し、新たな専用素子を用いず、既に搭載されている素子を使用し、パワー変化補正をかけることにより、高品質な記録再生を実現しつつ、低コストの記録再生装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記問題を解決するために請求項１記載の記録再生装置は、半導体レーザ光を対物レンズで絞り、記録媒体に照射して情報の再生または記録を行い、記録、再生時に半導体レーザ光の出力を半導体レーザから照射された光の一部と、半導体レーザ外部に設けられた受光素子で受光することで制御する記録再生装置において、複数の光源を備え、それぞれに対応した受光素子を有する記憶再生手段と、受光素子で光電変換された電気出力を増幅する増幅手段と、周囲の外乱変化に対して対になっている受光素子の特性変化を把握することで記録再生を行っている他方の系を補正する補正手段とを有することを特徴とする。
【０００７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の記録再生装置であって、補正手段は、外乱変化における記録再生装置周囲、内部の温度変化によって生じる受光素子の電気的オフセットと、記録再生を行っておらず半導体レーザ光が当たっていない他方の受光素子の電気的オフセットとをモニタ手段がモニタすることにより、記録再生を行っている半導体レーザ光の出力変化を補正することを特徴とする。
【０００８】
請求項３記載の発明は、請求項１記載の記録再生装置であって、モニタ手段は、外乱変化における記録再生装置周囲、内部の温度変化によって半導体レーザの波長変化を他方の受光素子の電気的オフセットをモニタすることにより、記録の停止、再最適化を行うことを特徴とする。
【０００９】
請求項４記載の発明は、請求項１記載の記録再生装置であって、受光素子は、波長の異なる半導体レーザ光を受光し、かつ、同仕様の内蔵アンプにて所望の出力を得られるように受光面積を任意に調整してあることを特徴とする。
【００１０】
請求項５記載の発明は、請求項１記載の記録再生装置であって、受光素子は、同一パッケージ内に、それぞれの異なった光源の受光部とアンプを内蔵してあり、他方の光源の光はコーティング等により遮光してあることを特徴とする。
【００１１】
請求項６記載の発明は、請求項１記載の記録再生装置であって、受光素子は、ほぼ同一の温度に対する電気オフセットを有することで、他方の電気オフセットを補正することを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
次に添付図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。
図１は光ピックアップの構成を示した図である。
光ピックアップは、半導体レーザユニット１と対物レンズ２、光ディスク３、アンプ内蔵受光素子付きフロントモニタ４、ダイクロックプリズム５から構成されている。
次に光ピックアップの動作を説明する。
半導体レーザユニット１からの光束は対物レンズ２により集光され、光ディスク３上に微小なスポットとして照射される。光ディスク３からの反射光は対物レンズ２を介し、半導体レーザユニット１の内部に再び戻ってくる。半導体レーザユニット１の内部に戻ってきた光ディスク３からの反射光は、半導体レーザユニット１に取り付けられたホログラム素子により回折され、受光素子に集光、演算され、制御信号、記録、再生信号として検出することにより、スポットの位置制御を行う。半導体レーザユニット１からの光束の１部はそれぞれの光源に対応したアンプ内蔵受光素子付きフロントモニタ４に導かれ、半導体レーザ出力制御に用いられる。半導体レーザの出力と受光素子出力の関係は、一般的に一次の比例関係になっており、レーザの出力制御、特に書き込み時においては、この関係を利用して書き込み出力の決定を行っている。
【００１３】
図２は、オフセット補正とその効果を示したグラフである。
（ａ）は、受光素子温度ドリフトと補正受光素子温度ドリフトとの温度上昇における変化を示したグラフである。
このグラフは、縦軸に電圧（ｍＶ）、横軸に温度（℃）を示している。受光素子温度ドリフトは温度の上昇と共に、電圧も増加する。補正受光素子温度ドリフトも温度の上昇と共に、電圧も増加する。
（ｂ）は、補正前出力パワー変化と補正後出力パワー変化との温度上昇における変化を示したグラフである。
このグラフは、縦軸に仕事量（×１０ｍＷ）、横軸に温度（℃）を示す。補正前出力パワー変化は温度が上昇すると共に、仕事量も増加している。補正後出力パワー変化は、温度が上昇しても、仕事量に顕著な増加は見られない。
【００１４】
図３は、受光素子温度ドリフトとサーミスタ感度との温度上昇における変化を示したグラフである。
受光素子温度ドリフトに関して、左の縦軸に電圧（ｍＶ）、横軸に温度（℃）を示す。サーミスタ感度に関して、右の縦軸に電圧（Ｖ）、横軸に温度（℃）を示している。受光素子温度ドリフトは、温度が上昇すると共に、電圧も上昇している。サーミスタ感度は温度が上昇すると共に、感度が低下している。
【００１５】
図４は、受光素子内蔵フォトダイオードの構成を示した図である。
受光素子内蔵フォトダイオードは、受光部１０と受光部１１、波長選択コート領域１２から構成されている。受光素子内蔵フォトダイオードは、異なった光源からの異なった波長の光（６５０ｎｍ光、７８０ｎｍ光）を受光する前方受光素子、アンプを同一のパッケージ内に搭載する。同一パッケージ内に搭載することにより、温度的に補正される素子にほぼ近い状態になるので、正確な補正が可能となる。ただし、各々の受光面に他方の光が受光されると受光素子に出力が発生してしまうので、オフセットとの分離が困難となるため、波長分離を行うコートを表面に施す。
【００１６】
図５は、受光素子透過面コートの特性を示したグラフである。
このグラフは、縦軸に透過率（％）、横軸に波長（ｎｍ）を示している。６５０ｎｍ透過光は６３０ｎｍ付近から６７０ｎｍ付近で最大値を示し、７６０ｎｍ付近から８００ｎｍ付近で最小値を示す。７８０ｎｍ透過光は、６３０ｎｍ付近から６７０ｎｍ付近で最小値を示し、７６０ｎｍ付近から８００付近で最大値を示す。
図４、５から二つの前方受光素子は、ほぼ同一の温度に対する電気オフセットを有し、他方の電気オフセットを補正することにより、高品質な記録再生が実現できる。
【００１７】
図６は、従来技術の温度変化における受光素子温度ドリフトと出力パワーの変化を示したグラフである。
このグラフは、受光素子温度ドリフトに関して、左の縦軸に電圧（ｍＶ）、横軸に温度（℃）を示す。受光素子温度ドリフトは、温度が上昇すると共に、電圧も増加する。出力パワー変化は、右の縦軸に仕事量（×１０ｍＷ）、横軸に温度（℃）を示す。出力パワー変化は、温度が上昇すると共に、仕事量も増加する。このことから、一般的にアンプ内蔵型の前方受光素子は動作中の周囲温度等により徐所にオフセットが生じ、光電変換された出力に、オフセットが付加されてしまう。半導体レーザの出力を制御しているループ回路としては、受光している光量が変化したと検知し、半導体レーザの出力を変化させてしまう。その結果、最適化されていたパワーが温度変動により変化し、記録再生機能の品質が低下してしまう。
【００１８】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、請求項１記載の発明は、初期状態で最適化された半導体レーザ出力を温度変化の影響によらず制御することができ、高品質な記録再生が実現できる。
【００１９】
請求項２記載の発明は、特別な素子を使用せずに、使用していない他方の前方受光素子のオフセットをモニタすることにより、記録再生を行っている半導体レーザ制御補正を行う技術であり、これにより、安定したレーザ出力制御が可能となり、書き込み品質が安定した信頼性の高い記録再生を実現できる。
【００２０】
請求項３記載の発明は、新たに特別な素子を用いることなく、初期状態に最適化された半導体レーザ出力を温度変化の影響によらず制御することができ、高品質な記録再生が実現できる。
【００２１】
請求項４記載の発明は、二つの前方受光素子は、ほぼ同一の温度に対する電気オフセットを有し、他方の電気オフセットを補正することにより、高品質な記録再生が実現できる。
【００２２】
請求項５記載の発明は、二つの前方受光素子は、ほぼ同一の温度に対する電気オフセットを有し、他方の電気オフセットを補正することにより、高品質な記録再生を実現できる。
【００２３】
請求項６記載の発明は、二つの前方受光素子はほぼ同一の温度に対する電気オフセットを有し、他方の電気オフセットを補正することで高品質な記録再生が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態における光ピックアップの構成を示した図である。
【図２】本発明の実施形態におけるオフセット補正とその効果を示したグラフであり、（ａ）は、受光素子温度ドリフトと補正受光素子温度ドリフトとの温度上昇における変化を示したグラフである。（ｂ）は、補正前出力パワー変化と補正後出力パワー変化との温度上昇における変化を示したグラフである。
【図３】本発明の実施形態における受光素子温度ドリフトとサーミスタ感度との温度上昇における変化を示したグラフである。
【図４】本発明の実施形態における受光素子内蔵フォトダイオードの構成を示した図である。
【図５】本発明の実施形態における受光素子透過面コートの特性を示したグラフである。
【図６】従来技術における温度変化における受光素子温度ドリフトと出力パワーの変化を示したグラフである。
【符号の説明】
１　半導体レーザユニット
２　対物レンズ
３　光ディスク
４　アンプ内蔵受光素子付きフロントモニタ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a recording / reproducing apparatus for an optical disk drive, and more particularly, to a recording / reproducing apparatus capable of performing high-quality recording / reproducing by applying power change correction to a light receiving element against an external change such as temperature.
[0002]
[Prior art]
The front light receiving element in the conventional pickup is arranged to receive a part of the light beam from each semiconductor laser unit. When performing recording and reproduction on a desired recording medium, one of the plurality of light sources emits light, and the output is controlled by a front light receiving element corresponding to the light source. The other light sources are turned off, the light does not hit the front light receiving element corresponding to the light source, and only the power is turned on. Also, when the external temperature of the recording / reproducing device rises, the electric offset of the front light receiving element changes accordingly. Normally, the front light receiving element of the light source that emits light combines the electric offset and the output of the light received from the semiconductor laser, so that it is impossible to separate the offset from the offset, making correction difficult.
[0003]
Generally, the wavelength of a semiconductor laser fluctuates due to a change in ambient temperature. In particular, since the sensitivity of the optical disk to be written varies greatly with wavelength, if the wavelength changes even at the same output, the writing quality may be significantly reduced. Therefore, in such a case, it is necessary to stop writing once and to optimize the power again. Further, as a method of detecting a temperature change, a change in wavelength is predicted using a temperature-sensitive element such as a thermistor. However, disadvantages such as high cost have occurred.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in general, a front light receiving element with a built-in amplifier gradually offsets due to ambient temperature during operation or the like, and an offset is added to the photoelectrically converted output. The loop circuit that controls the output of the semiconductor laser detects that the amount of received light has changed, and changes the output of the semiconductor laser. As a result, the optimized power changes due to the temperature fluctuation, and the quality of the recording / reproducing function deteriorates.
[0005]
The present invention has been made in view of such a problem, and uses an already mounted element and applies power change correction to an external change such as a temperature without using a new dedicated element, thereby achieving a high level. An object of the present invention is to provide a low-cost recording / reproducing apparatus while realizing high-quality recording / reproducing.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problem, a recording / reproducing apparatus according to claim 1 squeezes a semiconductor laser beam with an objective lens and irradiates a recording medium to reproduce or record information. A recording / reproducing apparatus which controls by receiving a part of light emitted from a semiconductor laser and a light receiving element provided outside the semiconductor laser, a storage / reproducing means including a plurality of light sources and having corresponding light receiving elements respectively Amplifying means for amplifying the electrical output photoelectrically converted by the light receiving element, and the other system performing recording / reproduction by grasping the characteristic change of the light receiving element paired with the surrounding disturbance change. And a correcting means for correcting.
[0007]
According to a second aspect of the present invention, in the recording / reproducing apparatus according to the first aspect, the correction means performs an electric offset of a light receiving element caused by a change in temperature around and inside the recording / reproducing apparatus due to a disturbance change, and performs recording / reproducing. The monitoring means monitors the electrical offset of the other light receiving element which is not irradiated with the semiconductor laser light and the output offset of the semiconductor laser light for recording / reproducing is corrected.
[0008]
According to a third aspect of the present invention, in the recording / reproducing apparatus according to the first aspect, the monitor means detects a change in the wavelength of the semiconductor laser due to a change in the temperature around or inside the recording / reproducing apparatus due to a change in disturbance, and electrically changes the other light receiving element. The recording is stopped and re-optimized by monitoring the offset.
[0009]
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the recording / reproducing apparatus according to the first aspect, wherein the light receiving element receives semiconductor laser beams having different wavelengths and obtains a desired output with a built-in amplifier having the same specification. The light receiving area is arbitrarily adjusted.
[0010]
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the recording / reproducing apparatus according to the first aspect, wherein the light receiving elements include light receiving portions and amplifiers of different light sources in the same package, and the light of the other light source is included. Is characterized by being shielded from light by coating or the like.
[0011]
According to a sixth aspect of the present invention, in the recording / reproducing apparatus according to the first aspect, the light receiving element has an electric offset for substantially the same temperature, and corrects the other electric offset.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of the optical pickup.
The optical pickup comprises a semiconductor laser unit 1, an objective lens 2, an optical disk 3, a front monitor 4 with a light-receiving element with a built-in amplifier, and a dichroic prism 5.
Next, the operation of the optical pickup will be described.
The light beam from the semiconductor laser unit 1 is condensed by the objective lens 2 and is irradiated on the optical disk 3 as a minute spot. The reflected light from the optical disk 3 returns to the inside of the semiconductor laser unit 1 via the objective lens 2 again. The reflected light from the optical disk 3 returning to the inside of the semiconductor laser unit 1 is diffracted by the hologram element attached to the semiconductor laser unit 1, is condensed on the light receiving element, calculated, and detected as a control signal, a recording signal, and a reproduction signal. Thus, the position of the spot is controlled. A part of the light beam from the semiconductor laser unit 1 is guided to a front monitor 4 with a light-receiving element with a built-in amplifier corresponding to each light source, and is used for semiconductor laser output control. The relationship between the output of the semiconductor laser and the output of the light receiving element generally has a first-order proportional relationship, and the output of the laser is controlled, particularly during writing, and the write output is determined using this relationship.
[0013]
FIG. 2 is a graph showing the offset correction and its effect.
(A) is a graph showing a change in temperature rise between the light-receiving element temperature drift and the corrected light-receiving element temperature drift.
In this graph, the vertical axis indicates voltage (mV), and the horizontal axis indicates temperature (° C.). The voltage of the light-receiving element temperature drift increases as the temperature rises. The voltage of the corrected light receiving element temperature drift also increases as the temperature increases.
(B) is a graph showing a change in temperature rise between a change in output power before correction and a change in output power after correction.
In this graph, the vertical axis indicates the work (× 10 mW), and the horizontal axis indicates the temperature (° C.). The change in the output power before correction increases the temperature and the amount of work increases. Regarding the output power change after correction, even when the temperature rises, no remarkable increase in the work load is observed.
[0014]
FIG. 3 is a graph showing a change in temperature rise between the light-receiving element temperature drift and the thermistor sensitivity.
Regarding the temperature drift of the light receiving element, the left vertical axis shows the voltage (mV), and the horizontal axis shows the temperature (° C.). Regarding the thermistor sensitivity, the right vertical axis shows voltage (V), and the horizontal axis shows temperature (° C.). In the light-receiving element temperature drift, as the temperature rises, the voltage also rises. The thermistor sensitivity decreases as the temperature increases.
[0015]
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a photodiode with a built-in light receiving element.
The photodiode with a built-in light receiving element includes a light receiving unit 10, a light receiving unit 11, and a wavelength selection coating region 12. In the photodiode with a built-in light receiving element, a front light receiving element and an amplifier that receive light of different wavelengths (650 nm light and 780 nm light) from different light sources are mounted in the same package. By mounting the components in the same package, the device is almost in a state close to the temperature-corrected element, so that accurate correction can be performed. However, when the other light is received on each light receiving surface, an output is generated in the light receiving element, so that it is difficult to separate the offset from the offset. Therefore, a coat for wavelength separation is applied to the surface.
[0016]
FIG. 5 is a graph showing characteristics of the light-receiving element transmission surface coat.
In this graph, the vertical axis shows the transmittance (%), and the horizontal axis shows the wavelength (nm). The transmitted light at 650 nm shows a maximum value from around 630 nm to 670 nm, and shows a minimum value from around 760 nm to around 800 nm. The transmitted light of 780 nm shows a minimum value from around 630 nm to 670 nm, and shows a maximum value from around 760 nm to around 800.
4 and 5, the two front light receiving elements have electric offsets at substantially the same temperature, and high-quality recording / reproduction can be realized by correcting the other electric offset.
[0017]
FIG. 6 is a graph showing the temperature drift of the light-receiving element and the change of the output power with respect to the temperature change in the related art.
This graph shows the voltage (mV) on the left vertical axis and the temperature (° C.) on the horizontal axis regarding the temperature drift of the light receiving element. In the light-receiving element temperature drift, the voltage increases as the temperature increases. The output power change shows the work (× 10 mW) on the right vertical axis and the temperature (° C.) on the horizontal axis. The change in output power causes an increase in the work amount as the temperature increases. For this reason, in general, the front light-receiving element with a built-in amplifier has an offset in a certain place due to ambient temperature during operation or the like, and an offset is added to the photoelectrically converted output. The loop circuit that controls the output of the semiconductor laser detects that the amount of received light has changed, and changes the output of the semiconductor laser. As a result, the optimized power changes due to the temperature fluctuation, and the quality of the recording / reproducing function deteriorates.
[0018]
【The invention's effect】
As is clear from the above description, the invention according to claim 1 can control the semiconductor laser output optimized in the initial state without being affected by the temperature change, and can realize high-quality recording and reproduction.
[0019]
The invention according to claim 2 is a technique for performing semiconductor laser control correction for performing recording and reproduction by monitoring the offset of the other front light receiving element that is not used without using a special element, As a result, stable laser output control becomes possible, and highly reliable recording and reproduction with stable writing quality can be realized.
[0020]
According to the third aspect of the invention, the output of the semiconductor laser optimized in the initial state can be controlled without using a new special element irrespective of the influence of the temperature change, and high quality recording and reproduction can be realized. .
[0021]
According to the fourth aspect of the present invention, the two front light receiving elements have an electric offset with respect to substantially the same temperature, and high-quality recording and reproduction can be realized by correcting the other electric offset.
[0022]
According to the fifth aspect of the present invention, the two front light receiving elements have an electric offset with respect to substantially the same temperature and correct the other electric offset, thereby realizing high-quality recording and reproduction.
[0023]
According to the sixth aspect of the present invention, high-quality recording / reproduction can be realized by correcting the other electric offset of the two front light receiving elements with respect to substantially the same temperature.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an optical pickup according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 2A and 2B are graphs showing offset correction and its effect in an embodiment of the present invention, and FIG. 2A is a graph showing a change in temperature rise between a light-receiving element temperature drift and a corrected light-receiving element temperature drift. (B) is a graph showing a change in temperature rise between a change in output power before correction and a change in output power after correction.
FIG. 3 is a graph showing a change in temperature rise between the temperature drift of the light receiving element and the thermistor sensitivity in the embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a photodiode with a built-in light receiving element according to the embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a graph showing characteristics of a light-receiving element transmission surface coat according to the embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a graph showing a change in the output power and the temperature drift of the light receiving element with respect to the temperature change in the related art.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser unit 2 Objective lens 3 Optical disk 4 Front monitor with light receiving element with built-in amplifier

Claims

半導体レーザ光を対物レンズで絞り、記録媒体に照射して情報の再生または記録を行い、記録、再生時に半導体レーザ光の出力を半導体レーザから照射された光の一部と、半導体レーザ外部に設けられた受光素子で受光することで制御する記録再生装置において、
複数の光源を備え、それぞれに対応した受光素子を有する記憶再生手段と、
前記受光素子で光電変換された電気出力を増幅する増幅手段と、
周囲の外乱変化に対して対になっている前記受光素子の特性変化を把握することで記録再生を行っている他方の系を補正する補正手段とを有することを特徴とする記録再生装置。The semiconductor laser light is squeezed by the objective lens, and the information is reproduced or recorded by irradiating the recording medium, and the output of the semiconductor laser light is provided at a part of the light irradiated from the semiconductor laser and outside the semiconductor laser during recording and reproduction. In a recording / reproducing apparatus that controls by receiving light with a light receiving element,
A storage / reproducing unit including a plurality of light sources and having light receiving elements corresponding thereto,
Amplifying means for amplifying the electrical output photoelectrically converted by the light receiving element,
A recording / reproducing apparatus comprising: a correction unit that corrects the other system that performs recording / reproduction by grasping a change in characteristics of the light receiving elements that form a pair with a change in surrounding disturbance.

前記補正手段は、外乱変化における記録再生装置周囲、内部の温度変化によって生じる前記受光素子の電気的オフセットと、前記記録再生を行っておらず前記半導体レーザ光が当たっていない他方の前記受光素子の前記電気的オフセットとをモニタ手段がモニタすることにより、前記記録再生を行っている前記半導体レーザ光の出力変化を補正することを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。The correction means is provided around the recording / reproducing apparatus in a disturbance change, an electric offset of the light receiving element caused by a change in internal temperature, and the other light receiving element which is not performing the recording / reproducing and is not irradiated with the semiconductor laser light. 2. The recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein a change in the output of the semiconductor laser beam performing the recording / reproducing is corrected by monitoring the electric offset with a monitoring unit.

前記モニタ手段は、前記外乱変化における記録再生装置周囲、内部の温度変化によって前記半導体レーザ光の波長変化を他方の前記受光素子の前記電気的オフセットをモニタすることにより、記録の停止、再最適化を行うことを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。The monitoring means monitors the change in the wavelength of the semiconductor laser light by the change in temperature inside and around the recording / reproducing apparatus in the disturbance change and the electrical offset of the other light receiving element, thereby stopping and reoptimizing the recording. 2. The recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein:

前記受光素子は、波長の異なる前記半導体レーザ光を受光し、かつ、同仕様の内蔵アンプにて所望の出力を得られるように受光面積を任意に調整してあることを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。2. The light receiving element according to claim 1, wherein the light receiving element receives the semiconductor laser beams having different wavelengths, and a light receiving area is arbitrarily adjusted so that a desired output can be obtained by a built-in amplifier having the same specification. The recording / reproducing apparatus as described in the above.

前記受光素子は、同一パッケージ内に、それぞれの異なった光源の受光部とアンプを内蔵してあり、他方の光源の光はコーティング等により遮光してあることを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。2. The recording device according to claim 1, wherein the light receiving element includes light receiving portions and amplifiers of different light sources in the same package, and the light of the other light source is shielded by coating or the like. Playback device.

前記受光素子は、ほぼ同一の温度に対する前記電気オフセットを有することで、他方の電気オフセットを補正することを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。2. The recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein the light receiving element corrects the other electric offset by having the electric offset at substantially the same temperature.