JP2003304395A

JP2003304395A - 画像処理装置及びフィルムスキャナ

Info

Publication number: JP2003304395A
Application number: JP2002106499A
Authority: JP
Inventors: Tadashi Inoue; 匡井上; Takashi Kawabata; 隆川端
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2002-04-09
Filing date: 2002-04-09
Publication date: 2003-10-24

Abstract

(57)【要約】【課題】ゴミキズのついた画像に対して、画像全体を
処理するのではなく、事前に検出した画像のゴミキズ補
正範囲を決定し、その補正範囲のみをゴミキズ補正をお
こなう。【解決手段】ゴミキズ画像受光部、可視画像受光部、
ゴミキズ及び可視画像保存用メモリ、ゴミキズ位置検出
部、ゴミキズ範囲決定部、ゴミキズを補正するための画
像データ処理部からなる画像のゴミキズ補正装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、スキャナにより読
み取られる画像のゴミキズ補正に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、特開平５−３２４５８３号に記載
されているように、１枚の画像データを画像処理の種類
と画像データの内容に応じて複数の画像データ処理部に
配分率を変えて分担させることで各画像データ処理部の
処理時間の均一化を図る並列処理が考案されている。

【０００３】ゴミキズ除去は以下の原理に基づいて機能
している。フィルム上の画像は染料のため可視情報に反
映されるが赤外画像には殆ど影響なく、ゴミキズは可視
・赤外の両画像に影響があることを利用して、赤外画像
の欠損情報からゴミキズ位置を特定し、該当個所の可視
画像を周囲可視情報から補完することで実現している。

【０００４】すなわち、赤外画像をビットマップ情報と
して保管し、同じくビットマップ保管した可視画像との
対応付けを行いながら可視画像の補修を行うように構成
していた。これは、赤外画像と可視画像の関係が位置及
び倍率の影響を受け、拡大した領域に関して対応付けな
がら、かつ補間修作業を欠損部分に関して順次、行って
いた為である。また、順次行うため、各種の補間方法を
併用しており、プログラム上で汎用性の高いビットマッ
プ情報を基に補間作業を実施していた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術を可視画
像のゴミキズ補正に適用した場合、ゴミキズ画像による
ゴミキズ位置の検出結果から、複数の画像データ処理部
に配分率を変えて分担させ、可視画像のゴミキズ補正を
実施することになる。この方法を用いれば、各画像デー
タ処理部の処理時間の均一化を図ることが可能となり並
列処理による処理速度の向上が望める。

【０００６】しかしながら、ゴミキズ補正のよう画像の
一部のみを補正処理すれば良いような画像処理場合、ゴ
ミキズの存在する付近のみに補正処理処理を実施すれば
更なる高速化を実現できると思われるが、上記従来技術
は、１画面全体に対して処理を実施するために処理効率
及び処理速度に限界がある。

【０００７】また、従来は、ゴミキズ除去機能を本スキ
ャンの各駒について、効果を確認しながら、試行錯誤的
に行っていた。そのためゴミキズ除去機能は完璧ではな
く、誤って画像を損なう場合や、画像の解像度を低下さ
せる場合が在り、処理時間が必要なために全体のスルー
プットを低下させることがあった。予備走査時の可視画
像を見ても、画像が粗く小さいためゴミキズ程度が分か
らず処理機能の判断が付かなく、連続作業を中断して本
走査時にゴミキズ除去機能を画像で確認しながら行う
か、一様にゴミ処理機能を選択する事しかできなかっ
た。特に外式ポジフィルムの様に顔料系の画像形成を行
っているフィルムの場合には、ゴミキズ除去機能選択が
誤動作する可能性が高かった。

【０００８】さらに、赤外画像を取得するときに、光源
を切り替えて２回走査していたが、複数回の走査のため
行方向に位置再現性が無く、画像対応を採る場合に位置
再現性の振れを考慮する必要があった。可視画像と赤外
画像は照明系の都合などで、別のタイミングで取得さ
れ、かつ取得波長も異なる為、赤外画像の収納に大容量
を必要とし、ゴミが少ない場合でも、ビットマップ領域
を探索する必要があり処理時間も長かった。

【０００９】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的は、上記従来技術を拡張
することで更なる高速処理を可能とする画像データゴミ
キズ補正装置を提供することである。また、本走査前に
オペレーターのゴミキズ除去機能選択をサポートし、不
要なゴミキズ除去機能を選択して画像を悪くしたり、ゴ
ミキズ除去機能を選択せずに本走査を行ってゴミキズ付
きの画像を取得したりすることを防止するものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するためになされたものであり、請求項１に記載の画
像処理装置によれば、撮影対象を照明する照明手段と、
照明手段によって得られる撮影対象の可視画像を受光す
る受光手段と受光した可視画像記憶する画像データ記憶
部と、撮影対象のゴミキズを検出する照明手段と、ゴミ
キズを検出する照明手段によって得られる撮影対象のゴ
ミキズを受光する受光手段と、受光したゴミキズデータ
を記憶する画像データ記憶部と、ゴミキズ画像からゴミ
キズの位置を検出する検出手段と、ゴミキズの位置に基
づいて可視画像の補正処理範囲及び数を決定する演算手
段と、決定した補正処理範囲及び数に基き可視画像を画
像データ処理部へ転送する転送手段と、転送されたゴミ
キズを含む可視画像のゴミキズ補正をおこなう画像デー
タ処理部と、ゴミキズ補正後の可視画像とゴミキズのな
い可視画像を合成する合成手段とを有することを特徴と
する。

【００１１】請求項７に記載のフィルムスキャナは、赤
外画像を取得可能な構成にして、赤外画像上での欠損画
素情報を計数可能に構成し、その個数を表示することを
特徴とする。請求項８に記載のフィルムスキャナは、予
備走査時に赤外欠損画素数を表示し、本走査でのゴミ除
去処理の程度選択の参考情報としたことを特徴とする。

【００１２】請求項１１に記載のフィルムスキャナは、
赤外画像を取得可能な構成にして、赤外画像上での欠損
画素情報により、ゴミキズ除去処理の可否を判断もしく
は表示することを特徴とする。請求項１３に記載の画像
処理装置は、フィルムスキャナで赤外画像を取得して、
可視画像に存在するごみ、傷を除去するようにした画像
処理装置において、赤外画像情報を欠損部分のランレン
グス情報、又は始終点座標情報に変換して保管し、可視
画像の補修個所への対応付けを行うことを特徴とする。

【００１３】

【発明の実施の形態】本発明の実施例として、フィルム
スキャナを説明する。フィルムスキャナにてフィルムを
スキャンする際、フィルムにはゴミキズがついているこ
とが多く、そのような状態でスキャンしたデータは、ゴ
ミキズがついた画像となってしまう。そのため、本フィ
ルムスキャナは、可視光をフィルムに照射しＣＣＤにて
可視画像を取り込むだけではなく、フィルムのゴミキズ
部分しか通過しない赤外光をフィルムに照射し、別のＣ
ＣＤにてゴミキズ画像を検出し、そのゴミキズ画像から
ゴミキズの位置情報を検出し、ゴミキズ補正を実施す
る。

【００１４】赤外光により検出したゴミキズ画像は、メ
モリに記憶され、ゴミキズ位置検出部にてゴミキズ位置
を検出、検出したゴミキズを補正するために、ゴミキズ
位置の周辺の画素も含めた画像をメモリから抽出し、ゴ
ミキズ補正用ＤＳＰにてゴミキズ補正を実施する。ゴミ
キズ補正を完了後、再びメモリの元のアドレスに補正画
像を書き込むことでゴミキズ補正を完了する。上記の処
理は、ゴミキズ補正用ＤＳＰ増やし、並列処理をおこな
えば処理の高速化が可能となる。本発明のポイントは、
赤外光により抽出したゴミキズ画像からゴミキズの位置
をあらかじめ抽出して、ゴミのある周辺の可視画像のみ
をゴミキズ補正することである。

【００１５】従来の方式の場合は、赤外光により抽出し
たゴミキズの量及び分布を利用し可視画像、赤外画像を
処理する際の並列処理の負荷が均一になるように分割す
ることで処理の効率化を図る方式だった。それを本方式
は、フィルムスキャナ装置にて、赤外光によるゴミキズ
画像が先に読み込まれるようにしておき、ゴミキズ画像
常用から専用のＤＳＰ等でゴミキズ位置を抽出、ゴミキ
ズを補正するための可視画像のサイズを決定し、遅れて
読み込まれる可視画像に対して、順次ゴミキズ補正用Ｄ
ＳＰにてゴミキズのある部分のみを可視画像の記憶され
ているメモリから読み出し補正を施すことで、処理負荷
の軽減を実現する。また、複数のゴミキズ補正用ＤＳＰ
を設けることにより、複数のゴミキズの同時補正が可能
となり処理の高速化を実現できる。以下、本発明に関わ
る各実施の形態を説明する。

【００１６】（第１の形態）図１は、本発明の第１の形
態に係る画像のゴミキズ補正装置の構造を示すブロック
図である。図２は、本発明の第一の形態に係るゴミキズ
画像及びゴミキズ補正前の可視画像を示す図である。図
３は、本発明の第１の形態に係るゴミキズの検出手段及
び可視画像のゴミキズ補正範囲及び補正数を決定する手
段を示した図である。図４は、本発明第１の実施形態に
係るゴミキズ補正装置の２つ目の構成を示すブロック図
である。

【００１７】本実施形態の画像のゴミキズ補正装置は、
図１に示すように、ゴミキズ画像照明手段１と、ゴミキ
ズ画像受光手段２と、ゴミキズ受光手段２とゴミキズ画
像バス３を結ぶインターフェイス手段４と、ゴミキズ画
像記憶手段５と、ゴミキズ位置検出手段６と、補正範囲
及び補正数決定手段７と、可視画像照明手段８と、可視
画像受光手段９と、可視画像受光手段９と可視画像バス
１０を結ぶインターフェイス手段１１と、可視画像記憶
手段１２とを備え、さらに、ゴミキズを補正するための
画像処理部１３を備えている。これらの内で、Ｉ／Ｆ部
４と、ゴミキズ画像記憶手段５と、ゴミキズ位置検出手
段６と、補正範囲及び補正数決定手段７と、画像処理部
１３は、ゴミキズ画像バス３に接続されている。また、
Ｉ／Ｆ部１１と、可視画像記憶手段１２と、画像処理部
１３は、可視画像バス１０に接続されている。

【００１８】ゴミキズ画像照明手段１は、撮影画像１４
のゴミキズ部分を検出する部分である。そして検出した
ゴミキズ画像１５は、ゴミキズ画像受光手段２により受
光されＩ．／Ｆ部４を介し、ゴミキズ画像記憶手段５に
記憶される。ゴミキズ検出手段６は、ゴミキズ画像記憶
手段５に記憶されたゴミキズ画像のゴミキズ部分１６を
検出する。補正範囲及び補正数決定手段７は、ゴミキズ
位置検出手段により検出したゴミキズ部分１６を補正す
るための補正範囲１７及び補正する数１８を決定する。

【００１９】画像処理部１３は、補正範囲及び補正数決
定手段７にて決定した補正範囲１７及び補正する数１８
を基に、可視画像照明手段８及び可視画像受光手段９に
より検出した撮影画像１４の可視画像データ１９が記憶
されている可視画像記憶手段１２より可視画像補正範囲
２０を抽出する。抽出した可視画像補正範囲は、画像処
理部１３によってゴミキズ補正を実施する。画像処理部
１３によりゴミキズ補正処理が終了した可視画像範囲２
０は順次、可視画像記憶手段１２へ可視画像範囲２０を
転送し、可視画像範囲２０のゴミキズ補正を完了する。

【００２０】ゴミキズ可視画像範囲２０の処理を終了し
た各々の画像処理部１３は、可視画像記憶手段１２への
ゴミキズ補正画像２０の転送完了後、他の未補正可視画
像２１、２２、２３、２４、２５と順次抽出し、ゴミキ
ズ補正を実施する。上記の処理を、補正範囲及び補正数
決定手段７により決定した複数の可視画像補正範囲全て
の補正を完了するまで実施する。全ての可視画像補正範
囲の補正が完了することで、可視画像記憶手段７に記憶
されている可視画像のゴミキズ除去は完了する。なお、
上記の説明の構成では、ゴミキズ画像と可視画像用に専
用のバスを設けたが、図４のようにバスを共用しても良
い。

【００２１】（第２の形態）図５は、本発明の第２の形
態に係る画像のゴミキズ補正装置の構造を示すブロック
図である。図６は、本発明の第２の形態に係るゴミキズ
の検出手段及び可視画像のゴミキズ補正範囲及び補正数
を決定する手段を示した図である。図１０は、本発明第
２の実施形態に係るゴミキズ補正装置の２つ目の構成を
示すブロック図である。

【００２２】本実施形態の画像のゴミキズ補正装置は、
図５に示すように、ゴミキズ画像照明手段１と、ゴミキ
ズ画像受光手段２と、ゴミキズ受光手段２とゴミキズ画
像バス３を結ぶインターフェイス手段４と、ゴミキズ画
像記憶手段５と、ゴミキズ位置検出手段６と、補正範囲
及び補正数決定手段７と、可視画像照明手段８と、可視
画像受光手段９と、可視画像受光手段９と可視画像バス
１０を結ぶインターフェイス手段１１と、可視画像記憶
手段１２とを備え、さらに、ゴミキズを補正するために
複数の画像処理部１３を備えている。これらの内で、Ｉ
／Ｆ部４と、ゴミキズ画像記憶手段５と、ゴミキズ位置
検出手段６と、補正範囲及び補正数決定手段７と、複数
の画像処理部１３は、ゴミキズ画像バス３に接続されて
いる。また、Ｉ／Ｆ部１１と、可視画像記憶手段１２
と、画像処理部１３は、可視画像バス１０に接続されて
いる。

【００２３】ゴミキズ画像照明手段１は、撮影画像１４
のゴミキズ部分を検出する部分である。そして検出した
ゴミキズ画像１５は、ゴミキズ画像受光手段２により受
光されＩ．／Ｆ部４を介し、ゴミキズ画像記憶手段５に
記憶される。ゴミキズ検出手段６は、ゴミキズ画像記憶
手段５に記憶されたゴミキズ画像のゴミキズ部分１６を
検出する。補正範囲及び補正数決定手段７は、ゴミキズ
位置検出手段により検出したゴミキズ部分１６を補正す
るための補正範囲１７及び補正する数１８を決定する。
画像処理部Ａ１３は、補正範囲及び補正数決定手段７に
て決定した可視画像補正範囲１７及び補正する数１８を
基に、可視画像照明手段８及び可視画像受光手段９によ
り検出した撮影画像１４の可視画像データ１９が記憶さ
れている可視画像記憶手段１２より可視画像補正範囲４
０を抽出する。抽出した可視画像補正範囲４０は、画像
処理部Ａ１３によってゴミキズ補正を実施する。

【００２４】画像処理部Ａ１３によりゴミキズ補正処理
が終了した可視画像範囲Ａ４０は順次、可視画像記憶手
段１２へ可視画像範囲４０を転送し、可視画像範囲４０
のゴミキズ補正を完了する。画像処理部Ｂ１３、及び画
像処理部Ｃ１３も同様に、可視画像処理範囲４１、及び
可視画像処理範囲４２を可視画像記憶手段１２より抽出
し、ゴミキズ補正をおこない、ゴミキズ補正が終了した
可視画像補正範囲から順次可視画像記憶手段１２へ可視
画像補正範囲を転送し、可視画像補正範囲４０、４１、
４２の部分の補正を完了する。

【００２５】画像処理部Ａ〜Ｃ１３は、可視画像補正範
囲４０、４１、４２のゴミキズ補正処理を完了した画像
処理部から、順次補正処理をおこなっていない未補正可
視画像４３、４４、４５を順次抽出し、ゴミキズ補正を
実施する。上記の処理を、補正範囲及び補正数決定手段
７により決定した複数の可視画像補正範囲の全てに対し
て補正を完了するまで実施する。全ての可視画像補正範
囲の補正が完了することで、可視画像記憶手段７に記憶
されている可視画像のゴミキズ除去は完了する。なお、
上記の説明の構成では、ゴミキズ画像と可視画像用に専
用のバスを設けたが、図９のようにバスを共用しても良
い。

【００２６】（第３の形態）以下、本発明に係る第３の
実施形態を、図７を用いて説明する。

【００２７】図７は本発明の第３の実施形態に係るゴミ
キズのついた可視画像を補正する手段を示すブロック図
である。

【００２８】本実施形態は、ゴミキズ検出部５からゴミ
キズ画像からゴミキズを検出し、ゴミキズ補正範囲及び
補正数決定手段７によりゴミキズが少ない場合に、消費
電力の低減することを目的とする。本実施形態は実施の
形態２を応用し、ゴミキズが少ない場合は複数ある画像
データ処理部１３の一部のみを使用してゴミキズ補正を
実施することにより消費電力の低減を狙ったものであ
る。例えば、図７のようにゴミキズが少ない場合、可視
画像補正範囲５０及び５１は画像処理部Ａ１３のみで補
正をおこなうことにより、画像処理部Ｂ及び画像処理部
Ｃは低消費電力モードにて電力を抑えることができるた
め、画像のゴミキズ補正装置の低消費電力化につながる
ことになる。

【００２９】（第４の形態）以下、本発明に係る第４の
実施形態を、図８及び図９を用いて説明する。

【００３０】図８は本発明の第４の実施形態に係るゴミ
キズのついた可視画像を補正する手段を示すブロック図
である。図９は本発明の第４の実施形態に係るゴミキズ
のついた可視画像を補正する手段を示すブロック図であ
る。

【００３１】本実施形態は、ゴミキズ検出部５からゴミ
キズ画像からゴミキズを検出し、ゴミキズ補正範囲が大
きく１つの画像処理部１３では処理に時間を要する場合
に、処理効率をあげることを目的とする。本実施形態は
上記の課題を、ゴミキズ補正範囲が大きい場合は、その
ゴミキズ補正範囲６１を図９のように更に複数の画像補
正範囲７１、７２、７３に分割し、分割した画像補正範
囲を複数ある画像データ処理部１３を使用して並列処理
することにより処理を分散させることで画像データゴミ
キズ補正装置のゴミキズ補正速度を高めることをねらっ
たものである。

【００３２】（第５の形態）以下、本発明に係る第５の
実施形態を、図１１及び図１２を用いて説明する。

【００３３】図１１は、本発明の第５の実施形態に係る
ゴミキズ画像、可視画像の受光手順を示すフローチャー
トである。図１２は、本発明の第５の実施形態に係るゴ
ミキズ画像、可視画像の受光手順手法を示すブロック図
である。

【００３４】本実施形態は、ゴミキズ画像からゴミキズ
補正範囲及び補正数を決定するまでの間、画像処理部１
３が待機状態になること及び可視画像記憶部７に可視画
像データが蓄積されていくのを防ぐことを目的とする。
本実施形態は上記の課題を、ゴミキズ画像を可視画像よ
り先に受光し、ゴミキズ補正範囲及び補正数の決定を先
行しておこなうことでゴミキズ補正処理の効率化をねら
ったものである。

【００３５】つぎに、本実施形態のデータ入力からゴミ
キズ補正処理を完了するまでの動作について説明する。

【００３６】本実施形態では、ゴミキズ画像照明手段１
及びゴミキズ画像受光手段２より撮影画像１４のゴミキ
ズ画像を取得する。ゴミキズ画像取得後、撮影画像移動
手段２６により撮影画像を可視画像照明手段８及び可視
画像受光手段９へ移動させ、可視画像データを取得す
る。可視画像移動手段の移動速度及び移動距離を、ゴミ
キズ補正処理部１３の処理速度に合わせて最適化するこ
とで、可視画像補正範囲抽出ＯＫ判定部２７にて待機状
態に陥るのを防ぐことが可能となる。また、ゴミキズ補
正処理が終了する前に、次の撮影画像のゴミキズ画像及
び可視画像がゴミキズ画像記憶手段５及び可視画像記憶
手段１２に転送されることを防ぐことが可能となり、ゴ
ミキズ画像記憶手段５及び可視画像記憶手段１２のメモ
リ容量削減が可能となる。

【００３７】（第６の形態）以下、本発明に係る第６の
実施形態を、図１１及び図１３を用いて説明する。本実
施形態に係るゴミキズ画像、可視画像の受光手順を示す
フローチャートは第５の実施形態で説明した図１１と同
じである。図１３は、本発明の第６の実施形態に係るゴ
ミキズ画像、可視画像の受光手順手法を示すブロック図
である。

【００３８】本実施形態は、ゴミキズ画像からゴミキズ
補正範囲及び補正数を決定するまでの間、複数の画像処
理部１３が待機状態になること及び可視画像記憶部７に
可視画像データが蓄積されていくのを防ぐことを目的と
する。本実施形態は上記の課題を、ゴミキズ画像を可視
画像より先に受光し、ゴミキズ補正範囲及び補正数の決
定を先行しておこなうことでゴミキズ補正処理の効率化
をねらったものである。

【００３９】つぎに、本実施形態のデータ入力からゴミ
キズ補正処理を完了するまでの動作について説明する。

【００４０】本実施形態では、ゴミキズ画像照明手段１
及びゴミキズ画像受光手段２より撮影画像１４のゴミキ
ズ画像を取得する。ゴミキズ画像取得後、実施の形態２
では、撮影画像移動手段２６にて撮影画像を可視画像照
明手段８及び可視画像受光手段９の側に移動したが、本
実施形態では、ゴミキズ画像照明手段、ゴミキズ画像受
光手段、可視画像照明手段、及び可視画像受光手段を移
動させ、撮影画像の可視画像データを可視画像照明手段
８及び可視画像受光手段９を用いて取得する。ゴミキズ
画像照明手段１、ゴミキズ画像受光手段２、可視画像照
明手段８、及び可視画像受光手段９の移動速度及び移動
距離を、ゴミキズ補正処理部１３の処理速度に合わせて
最適化することで、可視画像補正範囲抽出ＯＫ判定部２
７にて待機状態に陥るのを防ぐことが可能となる。ま
た、ゴミキズ補正処理が終了する前に、次の撮影画像の
ゴミキズ画像及び可視画像がゴミキズ画像記憶手段５及
び可視画像記憶手段１２に転送されることを防ぐことが
可能となり、ゴミキズ画像記憶手段５及び可視画像記憶
手段１２のメモリ容量削減が可能となる。

【００４１】（第７の形態）図１４は本発明を実施した
第７の形態における機構的例で、フィルム媒体をローラ
ーで搬送する構成で、ＶＬは可視光の光源、ＩＲは赤外
の光源で、各レンズを通して、各々のＣＣＤで照明され
たフィルム像を光電変換する構成を採っている。

【００４２】プレスキャン時は、フィルムを図の右方向
へ高速で搬送して副走査方向を粗く、主走査方向である
光電変換出力も粗く取得するようにして、プレスキャン
画像を表示するように構成している。本スキャン時は、
フィルムを左方向へ低速で搬送して副走査方向を細か
く、主走査方向である光電変換出力も細かく取得して高
解像の本スキャンデータとしている。この様な画像取得
では赤外画像と可視画像が見ている個所がずれているの
で行方向の位相差に集約でき、カラム方向に関しては各
々の光学系による倍率の違いだけになる利点がある。な
お、フィルム走行による撮像や可視と赤外の光路構成は
説明の都合上別に構成したが、発明はそれに限定される
物ではない。

【００４３】図１５は本発明の処理ブロック図で、可視
のＶＬ−Ｓｉｇｎａｌと赤外のＩＲ−ＳｉｇｎａｌのＣ
ＣＤ出力を受け、プレスキャン画像などを表示する構成
を示す。ゴミキズは赤外画像の出力に変化をもたらす。
この事から赤外画像の出力低下を欠損判定部分で行い欠
損情報とし、この情報から該当本スキャン画像部分に関
してゴミキズ画像情報を周囲の画素情報からの補間によ
って置換してゴミキズ補正画像としてデータ出力するよ
うにしている。

【００４４】本発明は、プレスキャン時にも赤外情報か
らの欠損判定を行い、その欠損画素数を計数して、駒毎
に表示する事で、プレスキャンに於いてゴミキズの程度
を測定表示して、本スキャン以前に駒毎のゴミキズ処理
の程度を調整して、誤設定することなく高速・適切なゴ
ミ除去処理を行うことが出来る。

【００４５】本スキャン画像で見えない程度のゴミキズ
補正を厳密に行っても意味が無いとも言える。この為に
は、計数に於いては、細かいゴミキズのカウントを無視
すべくフィルターを掛けることで、大きさを含んだゴミ
キズの程度を計数出来るようにしても良い。

【００４６】なお、通常プレスキャン時は高速粗画像を
取り扱うため、赤外画像信号のみ本画像の解像度で取得
することが望ましく、この際は赤外信号の振幅低下が発
生するため、利得を上げて補償するか、欠損判定のレベ
ルを下げて振幅低下に対応する必要がある。しかし、通
常のゴミは搬送中に搬送方向に沿う方向に移動しやす
く、キズは搬送による場合が多くその際は搬送方向に平
行となる場合が多いと言える。この為、プレスキャンで
のゴミキズ検知に於いて赤外画像の取得は、副走査方向
は粗いままで、主走査方向のみの解像度を上げた信号で
代替可能である。この様に主走査方向のみ解像度を上げ
ることは処理画像信号の周波数も上がらず、利得の補償
や判定レベルでの対応も容易で、ゴミキズの程度を測定
するには充分の性能が得られる。なお、各駒の表示はゴ
ミキズの個数をそのまま表示しても良いが、ゴミキズ除
去の必要程度に合わせて段階的なレベル表示の方が望ま
しいことは言うまでもない。

【００４７】（第８の形態）図１６は第８の実施形態の
ブロック図で、赤外欠損の計数後に異常値か否かの判定
回路を設け、赤外画像と可視画像の相関程度を判断し、
両者からゴミキズ除去処理の可否を判断して、表示する
ようにした実施例である。即ち、顔料系の画像では、赤
外画像での欠損数が多かったり、画像信号の変化と赤外
画像の変化に強い相関が発生するため、これを検知、表
示するようにした物である。これにより、顔料系の画像
に対してゴミキズ除去処理を誤採用して画像を誤補正し
てしまう事を防止するようにした。

【００４８】この処理は、フィルムの性質による物なの
で、挿入時の準備操作時に判定を行える。但し、この為
には、所定寸法の挿入先頭での判定を禁止してフィルム
先頭に貼られた管理シールで誤動作しない様にしたり、
平坦な画像に関して相関処理が誤動作しないようにして
カブリや無露光部分での誤作動を防止する設計的配慮が
必要があるが図示を省略する。この検出のためには、挿
入先頭部分に関して、プレスキャン画像と赤外画像の解
像度を揃える方が相関演算にとって容易となる。なお、
この実施例では、処理適応の可否表示のみであるが、内
部的に誤適応を禁止するようにしても良いことは言うま
でもない。

【００４９】（第９の形態）図１７は従来の実施例で、
可視と赤外の画像情報を得て、赤外画像から欠損判定を
行って欠損画像情報をビットマップとして取得し、この
画像マスクから可視画像とのパターン合致（パターンマ
ッチング）を計算し、この欠損情報から可視画像の画素
補間を行って、ゴミキズを除去した画像データを出力す
るように構成していた。

【００５０】図１８は本発明の第９の実施形態で、欠損
判定の後、欠損開始画素、欠損終了画素とビットマップ
情報から変化座標情報（ラン情報）と言うベクトル情報
対に変換することで、収納情報量の圧縮と可視画像との
座標変換を容易化している。なお、図１９は、取得赤外
波長や画像形成媒体に依り、画像情報から赤外画像情報
への干渉（クロストーク）がある場合の対策で、可視画
像情報から赤外への推定影響量を計算し、赤外画像情報
を除算する事で、干渉影響を補正した例である。

【００５１】図２０はベクトル情報での画素補間の実施
例で、赤外画像の欠損変化アドレスに赤外画像と可視画
像の座標変換を行い、可視画像の対応アドレスに変換し
た状況から説明する。変換された欠損変化アドレスをア
ドレス拡張する。具体的にはｘに関して欠損領域を拡張
するような欠損アドレス対に変換、ｙに関しては上下方
向に拡張した欠損情報を追加生成する。この事により座
標変換での小数点以下についての誤差を吸収するように
している。

【００５２】情報が始終点の座標対に成っているため、
４方向への拡張が容易になっている。ｙ方向的にはｙを
±１した座標対情報を追加し、ｘ方向には始点のｘを−
１、終点のｘを＋１すればよい。座標変換やこの座標拡
張に依って、ｘ座標に関して複数の欠損画素情報が連続
したり、同じｙ座標に関して欠損画素情報の重複が予想
されるため、同一ｙ座標についてマージと、重複アドレ
ス対の拡張とを行う。

【００５３】ここで、可視画像データーのついて、欠損
該当個所をＮｕｌｌなどのマーク付けすると、以下の非
欠損画素情報の探索時に、可視画像データーのみの探索
で探索と情報採取が可能になり、探索行為が容易にな
る。それから、以下の補間作業をｙ座標順に順次繰り返
し行って、全ての欠損情報に関して補間を行う。

【００５４】欠損開始アドレスに関して上下・左右・斜
めの８方向に非欠損画素を探索し、この可視画素情報に
距離に依存した重み付け平均を行い、近くの可視画素情
報を重視し遠くの可視画素情報を軽視した形で可視画素
情報の補間を行う。これでこの個所の可視画像は補間さ
れた訳で、この欠損画素アドレスを縮小する。縮小後に
欠損終了画素アドレスを過ぎてしまった場合は、この欠
損画素対情報は不要となるので削除する。

【００５５】次に、欠損終了アドレスに関して上下・左
右・斜めの８方向に非欠損画素を探索し、この可視画素
情報に距離に依存した重み付け平均を行い、近くの可視
画素情報を重視し遠くの可視画素情報を軽視した形で可
視画素情報の補間を行う。これでこの個所の可視画像は
補間された訳で、この欠損画素アドレスを縮小する。縮
小後に欠損開始画素アドレスを過ぎてしまった場合は、
この欠損画素情報対は不要となるので削除する。ここ
で、本発明は欠損画素情報の外周から埋めるように作業
を行っている。これは隣接した個所の画像情報を重視
し、８方向に関して滑らかに補間しているからである。

【００５６】この様に、外周から逐次的にゴミ・キズ補
正補間を行っていくことで、大きな補間部分や極端な縦
横比の補間に於いても、どの方向からも滑らかな補間作
業が実現できる。また、欠損部分が領域境界まで延びて
いて、端部の画像情報を補間する場合でも、非欠損部分
から順次補間していくために問題にならない。なお、本
実施例では機構的に、赤外画像と可視画像は行方向には
所定量、カラム方向には所定座標からの所定倍率だけ異
なっており、演算を必要とするのは欠損座標のｘ方向に
限られるため、変換が容易である。

【００５７】行方向にも倍率が違っている場合は、例え
ば赤外で２行の欠損画素座標情報を可視では３行の欠損
画素座標情報へ補間作成する必要がある。行列に関して
傾きが存在する場合は、例えば赤外で１行の欠損画素座
標情報が可視座標では斜め情報となるため、可視（座
標）上では複数行の欠損画素情報へ変換作成する必要が
ある。

【００５８】特に、ＣＣＤや光学配置や座標設定で、赤
外画像と可視画像の倍率中心がｘ座標の零付近の場合
は、欠損始終点情報よりも、ランレングス情報である欠
損始点情報と欠損長情報の方が、欠損長情報の座標変換
が定数倍のみの演算となり、座標変換が容易になる事は
言うまでもない。

【００５９】

【発明の効果】本発明によれば、可視画像データのゴミ
キズを補正するに際して、対象となる画像全体を画像デ
ータ処理部に転送し処理するのではなく、ゴミキズ位置
抽出部及びゴミキズ画像補正範囲及び補正数決定手段に
より決定した補正範囲の部分のみを転送し処理を実施す
る。こうすることで、画像処理データ処理部の処理負荷
が軽減できる。あるいは、画像データ処理部を複数設
け、処理を分散させることで画像データゴミキズ補正装
置のゴミキズ補正速度を高めることも可能となる。ま
た、ゴミキズの少ない画像を処理する場合においては、
複数の画像データ処理部で処理するのではなく、一部の
画像データ処理部の使うことによって低消費電力化も可
能となる。

【００６０】また、本発明によれば、プレスキャン時に
赤外画像信号の欠損を計数表示する事でゴミキズ除去処
理の選択を容易にし、本スキャン各駒での処理程度選択
の試行錯誤を無くし、高速な画像読み込みを可能にし
た。特に、プレスキャン時赤外画像信号の副走査方向の
解像度を下げたまま、（主走査方向のみ解像度を上げる
ことで、）回路的な負荷が少なく正確な計測が出来、結
果として正確なゴミキズ除去処理の判定が出来る。

【００６１】さらに、本発明によれば、欠損情報を始終
点座標情報やランレングス座標情報にすることで、画像
対応付け演算や、補間演算が容易になる。この事によっ
て、ゴミキズ除去処理を速く、容易に実現でき、大量の
処理も可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の形態に関わる画像のゴミキズ補
正装置の構造を示すブロック図である。

【図２】本発明の第１の形態に係るゴミキズ画像及びゴ
ミキズ補正前の可視画像を示す図である。

【図３】本発明の第１の形態に係るゴミキズの検出手段
及び可視画像のゴミキズ補正範囲及び補正数を決定する
手段を示した図である。

【図４】本発明第１の実施形態に係るゴミキズ補正装置
の２つ目の構成を示すブロック図である。

【図５】本発明の第２の形態に係る画像のゴミキズ補正
装置の構造を示すブロック図である。

【図６】本発明の第２の形態に係るゴミキズの検出手段
及び可視画像のゴミキズ補正範囲及び補正数を決定する
手段を示した図である。

【図７】本発明の第３の実施形態に係るゴミキズのつい
た可視画像を補正する手段を示すブロック図である。

【図８】本発明の第４の実施形態に係るゴミキズのつい
た可視画像を補正する手段を示すブロック図である。

【図９】本発明の第４の実施形態に係るゴミキズのつい
た可視画像を補正する手段を示すブロック図である。

【図１０】本発明の第４の実施形態に係るゴミキズのつ
いた可視画像を補正する手段を示すブロック図である。

【図１１】本発明の第５の実施形態に係るゴミキズ画
像、可視画像の受光手順を示すフローチャートである。

【図１２】本発明の第５の実施形態に係るゴミキズ画
像、可視画像の受光手順手法を示すブロック図である。

【図１３】本発明の第６の実施形態に係るゴミキズ画
像、可視画像の受光手順手法を示すブロック図である。

【図１４】本発明の第７の実施形態に係る構造図であ
る。

【図１５】本発明の第７の実施形態に係るブロック図で
ある。

【図１６】本発明の第８の実施形態に係るブロック図で
ある。

【図１７】従来のゴミキズ処理ブロック図である。

【図１８】本発明の第９の実施形態に係るゴミキズ処理
ブロック図である。

【図１９】本発明の第９の実施形態に係る赤外画像補償
のブロック図である。

【図２０】本発明の第９の実施形態に係る処理フロー図
である。

【符号の説明】

１ゴミキズ画像照明手段２ゴミキズ画像受光手段３ゴミキズ画像バス４Ｉ／Ｆ部５ゴミキズ画像記憶手段６ゴミキズ位置検出手段７補正範囲及び補正数決定手段８可視画像照明手段９可視画像受光手段１０可視画像バス１１Ｉ／Ｆ部１２可視画像記憶手段１３画像処理部１４撮影画像１５ゴミキズ画像１６ゴミキズ部分１７補正範囲１８補正数１９ゴミキズのついた可視画像２０可視画像補正範囲２１未補正可視画像２２未補正可視画像２３未補正可視画像２４未補正可視画像２５未補正可視画像４０可視画像補正範囲４１可視画像補正範囲４２可視画像補正範囲４３未補正可視画像４４未補正可視画像４５未補正可視画像５０可視画像補正範囲５１可視画像補正範囲６１可視画像補正範囲７１可視画像補正範囲７２可視画像補正範囲７３可視画像補正範囲２７可視画像補正範囲抽出ＯＫ２６撮影画像移動手段２８受光部移動手段２９照明部移動手段ＶＬ可視光源ＩＲ赤外光源ＶＬ−Ｉｍａｇｅ可視画像情報ＩＲ−Ｉｍａｇｅ赤外画像情報

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｈ０４Ｎ 1/19 Ｈ０４Ｎ 1/40 １０１Ｚ５Ｃ０７６ 1/387 1/04 １０３Ｅ５Ｃ０７７Ｆターム(参考） 2H109 BA06 BA11 5B047 AA05 BC11 CB23 DC07 5B057 BA02 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CC01 CE02 CE08 CH08 5C062 AA05 AB03 AC65 5C072 AA01 BA20 CA02 UA20 VA03 WA04 5C076 AA19 AA36 BA06 5C077 LL02 MM20 NP05 PP10 PP23 PP43 PP61 PQ08 PQ12 PQ22 SS01 SS03 SS06

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】撮影対象を照明する照明手段と、照明手
段によって得られる撮影対象の可視画像を受光する受光
手段と受光した可視画像記憶する画像データ記憶部と、
撮影対象のゴミキズを検出する照明手段と、ゴミキズを
検出する照明手段によって得られる撮影対象のゴミキズ
を受光する受光手段と、受光したゴミキズデータを記憶
する画像データ記憶部と、ゴミキズ画像からゴミキズの
位置を検出する検出手段と、ゴミキズの位置に基づいて
可視画像の補正処理範囲及び数を決定する演算手段と、
決定した補正処理範囲及び数に基き可視画像を画像デー
タ処理部へ転送する転送手段と、転送されたゴミキズを
含む可視画像のゴミキズ補正をおこなう画像データ処理
部と、ゴミキズ補正後の可視画像とゴミキズのない可視
画像を合成する合成手段とを有することを特徴とする画
像処理装置。
【請求項２】更に、画像データ処理部を複数設け、可
視画像補正範囲及び補正数を決定する演算手段にて決定
した複数の可視画像補正範囲を、複数の画像データ処理
部にて分担させ処理することを特徴とする請求項１に記
載の画像処理装置。
【請求項３】更に、可視画像補正範囲及び補正数を決
定する演算手段にて決定した可視画像補正範囲が小さい
場合または、補正する可視画像補正範囲の数が少ない場
合、複数の画像データ処理部すべてに補正処理を実施さ
せるのではなく、一部の画像データ処理部に処理を行わ
せることを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】更に、可視画像補正範囲及び補正数を決
定する演算手段にて決定する可視画像補正範囲が大きく
なる場合、可視画像補正範囲及び補正数を決定する演算
手段にて更に複数に分割し、分割した複数の可視画像補
正範囲を、複数の画像データ処理部に処理を行わせるこ
とを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項５】更に、撮影画像のゴミキズを先行して受
光し可視画像の補正処理範囲及び数を決定する演算手段
により可視画像の補正範囲及び補正数を決定、撮影画像
移動手段によって可視画像を受光する受光手段へ撮影画
像を移動した後に可視画像受光手段によって可視画像を
受光することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装
置。
【請求項６】更に、撮影画像のゴミキズを先行して受
光し可視画像の補正処理範囲及び数を決定する演算手段
により可視画像の補正範囲及び補正数を決定、ゴミキズ
照明部、受光部移動手段及び、可視画像照明部、受光部
移動手段により撮影画像の受光手段を可視画像受光手段
に切替え、可視画像を受光することを特徴とする請求項
１に記載の画像処理装置。
【請求項７】赤外画像を取得可能な構成にして、赤外
画像上での欠損画素情報を計数可能に構成し、その個数
を表示することを特徴とするフィルムスキャナ。
【請求項８】予備走査時に赤外欠損画素数を表示し、
本走査でのゴミ除去処理の程度選択の参考情報としたこ
とを特徴とするフィルムスキャナ。
【請求項９】予備走査時に欠損画素数を表示する場合
に、少なくとも主走査方向の解像度は本走査に合わせる
ことを特徴とする請求項７又は８に記載のフィルムスキ
ャナ。
【請求項１０】予備走査時に欠損画素数を表示する場
合に、欠損画素の比較レベルを変更して、本走査時の欠
損数に似せることを特徴とする請求項７乃至９のいずれ
かに記載のフィルムスキャナ。
【請求項１１】赤外画像を取得可能な構成にして、赤
外画像上での欠損画素情報により、ゴミキズ除去処理の
可否を判断もしくは表示することを特徴とするフィルム
スキャナ。
【請求項１２】ゴミキズ除去処理機能の選択を自動化
もしくは非選択を自動化するようにしたことを特徴とす
る請求項１１に記載のフィルムスキャナ。
【請求項１３】フィルムスキャナで赤外画像を取得し
て、可視画像に存在するごみ、傷を除去するようにした
画像処理装置において、赤外画像情報を欠損部分のラン
レングス情報、又は始終点座標情報に変換して保管し、
可視画像の補修個所への対応付けを行うことを特徴とす
る画像処理装置。
【請求項１４】赤外画像と可視画像が行方向のズレに
集約できる関係を用い、座標変換を簡易化したことを特
徴とする請求項１３に記載の画像処理装置。
【請求項１５】可視画像の補修を欠損部分の周囲から
行うことを特徴とする請求項１３又は１４に記載の画像
処理装置。