JP2003298419A - Light sampling apparatus - Google Patents

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the deviation of a timing in which an electric signal to be inputted to an A/D converter becomes maximum and a sampling timing. <P>SOLUTION: Light X to be measured is sampled by making a light pulse P' emitted from a light pulse generator 22 which receives a clock signal C incident on a light sampling part 25. A peak value of a pulsative electric signal Es outputted from the light sampling part 25 is held by a peak hold circuit 26 and applied to an A/D converter 27, and peak values Dp of respective pulsative electric signals are successively outputted. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光パルスによって
被測定光をサンプリングして得られたパルス状の電気信
号をＡ／Ｄ変換器によってディジタル値に変換して出力
する光サンプリング装置において、Ａ／Ｄ変換器に入力
される電気信号が最大となるタイミングとサンプリング
タイミングのずれを防止するための技術に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical sampling apparatus for converting a pulsed electric signal obtained by sampling light to be measured with an optical pulse into a digital value by an A / D converter and outputting the digital value. The present invention relates to a technique for preventing the deviation between the timing when the electric signal input to the / D converter becomes maximum and the sampling timing.

【０００２】[0002]

【従来の技術】例えば、高速な繰り返し信号で強度変調
された光信号の波形を観測するための装置として、図１
４に示すように光サンプリング装置１０を用いた波形観
測システムがある。2. Description of the Related Art For example, as an apparatus for observing the waveform of an optical signal intensity-modulated by a high-speed repetitive signal, FIG.
There is a waveform observation system using the optical sampling device 10 as shown in FIG.

【０００３】この光サンプリング装置１０は、被測定光
Ｘを入射するための入力端子１０ａと、所定周期Ｔのク
ロック信号Ｃを出力する信号発生器１１と、クロック信
号Ｃを受けて所定周期Ｔの光パルスＰ′を出射する光パ
ルス発生器１２と、光パルス発生器Ｐ′から出射される
光パルスＰ′と入力端子１０ａから入射される被測定光
Ｘとを受け、被測定光Ｘを光パルスＰ′でサンプリング
しそのサンプリングで得られた光パルスＰｓをパルス状
の電気信号Ｅｓに光電変換して出力する光サンプリング
部１５とを有しており、図１５の（ａ）のように、周期
Ｔより僅かに短い周期Ｔｘ（＝Ｔ−ΔＴ）で強度が繰り
返し変化する被測定光Ｘを入力端子１０ａを介して光サ
ンプリング部１５に入射させ、光パルス発生器１２から
図１５の（ｂ）のように周期Ｔで出射される光パルス
Ｐ′を光サンプリング部１５に入射する。This optical sampling apparatus 10 has an input terminal 10a for inputting the light to be measured X, a signal generator 11 for outputting a clock signal C having a predetermined period T, and a clock signal C having a predetermined period T for receiving the clock signal C. The light pulse generator 12 that emits the light pulse P ′, the light pulse P ′ that is emitted from the light pulse generator P ′, and the light to be measured X that is incident from the input terminal 10a are received. An optical sampling unit 15 for sampling the pulse P ′ and photoelectrically converting the optical pulse Ps obtained by the sampling into a pulse-shaped electric signal Es and outputting the pulse-shaped electric signal Es, as shown in FIG. The measured light X whose intensity is repeatedly changed at a cycle Tx (= T−ΔT) slightly shorter than the cycle T is made incident on the optical sampling section 15 via the input terminal 10a, and the optical pulse generator 12 causes the optical pulse generator 12 to generate a signal shown in FIG. )of The light pulse P 'emitted by Uni period T enters the optical sampling unit 15.

【０００４】なお、ここでは、理解し易いようにサンプ
リング周期Ｔを被測定光Ｘの波形の繰り返し周期Ｔｘに
対してΔＴだけずらしているが、サンプリング周期Ｔ
を、周期Ｔｘの整数倍（例えば１００倍、１０００倍
等）に対してΔＴでけずらすように設定することで、被
測定光Ｘの波形の繰り返し周波数に対して格段に低い周
波数のサンプリングで、被測定光Ｘの波形情報をΔＴ間
隔で得ることが可能となる。Although the sampling cycle T is shifted by ΔT with respect to the repetition cycle Tx of the waveform of the measured light X for easy understanding, the sampling cycle T
Is set to be shifted by ΔT with respect to an integer multiple (for example, 100 times, 1000 times, etc.) of the cycle Tx, so that sampling at a frequency significantly lower than the repetition frequency of the waveform of the measured light X It becomes possible to obtain the waveform information of the measured light X at ΔT intervals.

【０００５】光サンプリング部１５は、光パルスＰ′が
入射されたときの測定光Ｘの強度に対応する強度を有す
る光パルスＰｓを図１５の（ｃ）のように生成し、この
光パルスＰｓをパルス状の電気信号Ｅｓに光電変換し
て、Ａ／Ｄ変換器１６に出力する。The optical sampling unit 15 generates an optical pulse Ps having an intensity corresponding to the intensity of the measuring light X when the optical pulse P'is incident, as shown in FIG. 15C, and the optical pulse Ps is generated. Is photoelectrically converted into a pulse-shaped electric signal Es and output to the A / D converter 16.

【０００６】Ａ／Ｄ変換器１６は、クロック信号Ｃのレ
ベル遷移タイミングに電気信号Ｅｓをサンプリングし
て、ディジタル値に変換して波形表示手段１７に出力す
る。The A / D converter 16 samples the electric signal Es at the level transition timing of the clock signal C, converts it into a digital value, and outputs it to the waveform display means 17.

【０００７】波形表示手段１７は、Ａ／Ｄ変換器１６の
出力を光パルスＰｓのピーク値に対応する値として受け
て、図１５の（ｃ）に示しているようにそのピーク値を
つなぐような波形Ｍｘ′を、被測定光Ｘの波形として表
示する。The waveform display means 17 receives the output of the A / D converter 16 as a value corresponding to the peak value of the optical pulse Ps, and connects the peak values as shown in FIG. 15 (c). A different waveform Mx 'is displayed as the waveform of the measured light X.

【０００８】[0008]

【発明が解決しようとする課題】このように被測定光Ｘ
を光パルスＰ′でサンプリングして波形を測定する場合
の測定分解能は、光パルスＰ′の幅に依存し、光パルス
Ｐ′の幅が狭いほど、測定分解能を高くすることができ
る。As described above, the measured light X
Of the optical pulse P'to measure the waveform, the measurement resolution depends on the width of the optical pulse P '. The narrower the width of the optical pulse P', the higher the measurement resolution can be.

【０００９】ところが、一般的なパルス光源のように光
変調器を用いて光を電気信号によって変調して生成した
光パルスの幅には限界（数１０ピコ秒）がある。However, there is a limit (several tens of picoseconds) to the width of an optical pulse generated by modulating light with an electric signal using an optical modulator like a general pulse light source.

【００１０】このため、より幅の狭い光パルスが必要な
場合には、図１６に示すように、パルス光源１３でクロ
ック信号Ｃに同期した光パルスＰを生成して、分散減少
ファイバ１４に入射し、その他端側からより幅の狭い光
パルスＰ′を出射させる。Therefore, when a narrower optical pulse is required, the optical pulse P synchronized with the clock signal C is generated by the pulse light source 13 and is incident on the dispersion reducing fiber 14, as shown in FIG. Then, the narrower optical pulse P ′ is emitted from the other end side.

【００１１】ここで、分散減少ファイバ１４は、光パル
スが伝搬していく過程で分散が徐々に減少して、入射端
の光パルスより狭い幅の光パルスが得られるように形成
されたものであり、パルス幅の圧縮率は、例えば波長
１．５５μｍ用でファイバ長数ｋｍのもので１／１０〜
１／２０程度となる。Here, the dispersion-reducing fiber 14 is formed so that the dispersion gradually decreases in the process of propagation of the optical pulse and an optical pulse having a narrower width than the optical pulse at the incident end is obtained. The pulse width compression rate is 1/10 to 10 for a wavelength of 1.55 μm and a fiber length of several km.
It will be about 1/20.

【００１２】したがって、この分散減少ファイバ１４を
通過させることで、パルス光源１３から出射された光パ
ルスＰの幅を１／１０〜１／２０に圧縮して光サンプリ
ング部１５に入射することができ、測定分解能を格段に
高くすることができる。Therefore, by passing through the dispersion reducing fiber 14, the width of the optical pulse P emitted from the pulse light source 13 can be compressed to 1/10 to 1/20 and incident on the optical sampling section 15. , The measurement resolution can be remarkably increased.

【００１３】しかし、このように長さが数ｋｍにもおよ
ぶ分散減少ファイバ１４を用いた場合、光パルス発生器
１２に入力されるクロック信号Ｃに同期してパルス光源
１３から出射された光パルスＰは、数ｋｍの分散減少フ
ァイバ１４による大きな遅延を受けて光サンプリング部
１５に入射されるため、Ａ／Ｄ変換器１６に入力される
電気信号Ｅｓがピークとなるタイミングと、Ａ／Ｄ変換
器１６のサンプリングタイミングとがずれてしまい、波
形表示手段１７で被測定光Ｘの波形を正しく表示するこ
とができなくなる。However, when the dispersion-decreasing fiber 14 having a length of several kilometers is used, the optical pulse emitted from the pulse light source 13 is synchronized with the clock signal C input to the optical pulse generator 12. Since P receives a large delay due to the dispersion-reducing fiber 14 of several km and is incident on the optical sampling unit 15, the timing at which the electric signal Es input to the A / D converter 16 reaches a peak and the A / D conversion are performed. The sampling timing of the instrument 16 is deviated, and the waveform display means 17 cannot correctly display the waveform of the measured light X.

【００１４】また、光サンプリングの粗さを可変するた
めに信号発生器１１から出力されるクロック信号Ｃの周
波数（周期Ｔ）を可変できる構成にした場合、クロック
信号Ｃの周波数の変化にともなってＡ／Ｄ変換器１６に
入力される電気信号ＥｓがピークとなるタイミングとＡ
／Ｄ変換器１６のサンプリングタイミングとがずれてし
まい、波形表示手段１７で被測定光Ｘの波形を正しく表
示することができなくなる。If the frequency (cycle T) of the clock signal C output from the signal generator 11 is variable in order to vary the roughness of the optical sampling, the frequency of the clock signal C will change. When the electric signal Es input to the A / D converter 16 has a peak timing and A
Since the sampling timing of the / D converter 16 is deviated, the waveform display means 17 cannot display the waveform of the measured light X correctly.

【００１５】この問題を解決する方法として、Ａ／Ｄ変
換器１６に対してクロック信号Ｃの周期より格段に短い
周期の信号を与えて電気信号Ｅｓをサンプリングして、
電気信号Ｅｓの波形をそのまま波形表示手段１７に出力
し、波形表示手段１７側で各サンプリング値を比較しな
がらピーク値を検出する方法が考えられる。As a method for solving this problem, a signal having a period significantly shorter than the period of the clock signal C is applied to the A / D converter 16 to sample the electric signal Es,
A method of directly outputting the waveform of the electric signal Es to the waveform display means 17 and detecting the peak value while comparing the respective sampling values on the waveform display means 17 side can be considered.

【００１６】ところが、この方法では幅の狭いパルス状
の電気信号Ｅｓの波形を忠実に再現できるように極めて
高速なＡ／Ｄ変換処理が必要となり、しかも、波形表示
手段１７の処理も高速性が要求され、システム全体が高
価になってしまう。However, this method requires extremely high-speed A / D conversion processing so that the waveform of the narrow pulse-shaped electric signal Es can be faithfully reproduced, and the processing of the waveform display means 17 is also high-speed. It is required, and the whole system becomes expensive.

【００１７】本発明は、この問題を解決して、上記のよ
うに分散減少ファイバから出射される光パルスによって
被測定光をサンプリングする場合や、光パルスの周期を
可変して被測定光をサンプリングする場合でも、格別高
速な処理を行なう必要がなく光サンプリングで得られた
電気信号のピーク値を取得できる光サンプリング装置を
提供することを目的としている。The present invention solves this problem and samples the light to be measured by the light pulse emitted from the dispersion-decreasing fiber as described above, or samples the light to be measured by changing the period of the light pulse. Even in such a case, it is an object of the present invention to provide an optical sampling device capable of acquiring the peak value of an electric signal obtained by optical sampling without the need to perform exceptionally high-speed processing.

【００１８】[0018]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項１の光サンプリング装置は、基準信
号を出力する信号発生器（２１）と、前記信号発生器か
ら出力される基準信号を受け、該基準信号と同一周期の
光パルスを出射する光パルス発生器（２２）と、被測定
光を入射するための入力端子（２０ａ）と、前記入力端
子から入射された被測定光と、前記光パルス発生器から
出射された光パルスとを受け、該光パルスによって前記
被測定光をサンプリングし、該サンプリングで得られた
光パルスを光電変換してパルス状の電気信号を出力する
光サンプリング部（２５）と、前記光サンプリング部か
ら出力されるパルス状の電気信号と、前記信号発生器か
ら出力される基準信号とを受け、前記パルス状の電気信
号を前記基準信号の周期でサンプリングし、該サンプリ
ング値をディジタル値に変換して出力するＡ／Ｄ変換器
（２７）と、前記Ａ／Ｄ変換器に入力される前記パルス
状の電気信号が最大となるタイミングと該Ａ／Ｄ変換器
のサンプリングタイミングとのずれを吸収して、該Ａ／
Ｄ変換器から前記パルス状の電気信号のピーク値を順次
出力させるタイミングずれ吸収手段（２６、４１、４
２、４５）とを備えている。In order to achieve the above object, an optical sampling apparatus according to claim 1 of the present invention comprises a signal generator (21) for outputting a reference signal and an output from the signal generator. An optical pulse generator (22) which receives a reference signal and emits an optical pulse having the same period as the reference signal, an input terminal (20a) for inputting light to be measured, and a measured object incident from the input terminal. Receives light and an optical pulse emitted from the optical pulse generator, samples the measured light by the optical pulse, photoelectrically converts the optical pulse obtained by the sampling, and outputs a pulsed electric signal Receiving the optical sampling section (25), the pulsed electric signal output from the optical sampling section, and the reference signal output from the signal generator, and applying the pulsed electric signal to the reference signal. An A / D converter (27) for sampling at a cycle, converting the sampled value into a digital value and outputting the digital value; and a timing at which the pulsed electric signal input to the A / D converter becomes maximum and By absorbing the deviation from the sampling timing of the A / D converter,
Timing deviation absorbing means (26, 41, 4) for sequentially outputting the peak value of the pulsed electric signal from the D converter.
2, 45).

【００１９】また、本発明の請求項２の光サンプリング
装置は、請求項１の光サンプリング装置において、前記
タイミングずれ吸収手段は、前記光サンプリング部と前
記Ａ／Ｄ変換器の間に設けられ、前記光サンプリング部
から出力される電気信号と前記信号発生器から出力され
る基準信号とを受け、前記Ａ／Ｄ変換器のサンプリング
タイミングから次のサンプリングタイミングまでに入力
された電気信号のピーク値をホールドして前記Ａ／Ｄ変
換器に出力するピークホールド回路（２６）によって構
成されている。An optical sampling device according to a second aspect of the present invention is the optical sampling device according to the first aspect, wherein the timing deviation absorbing means is provided between the optical sampling section and the A / D converter. The peak value of the electric signal input from the sampling timing of the A / D converter to the next sampling timing is received by receiving the electric signal output from the optical sampling unit and the reference signal output from the signal generator. It is composed of a peak hold circuit (26) which holds and outputs to the A / D converter.

【００２０】また、本発明の請求項３の光サンプリング
装置は、請求項１の光サンプリング装置において、前記
タイミングずれ吸収手段は、前記信号発生器と前記Ａ／
Ｄ変換器の間に設けられ、前記Ａ／Ｄ変換器に入力され
る基準信号を遅延する可変遅延器（４１）と、前記可変
遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換器に入力される前記
電気信号が最大になるタイミングと該Ａ／Ｄ変換器のサ
ンプリングタイミングとを合わせる制御手段（４５）と
によって構成されている。An optical sampling apparatus according to a third aspect of the present invention is the optical sampling apparatus according to the first aspect, wherein the timing deviation absorbing means includes the signal generator and the A /
A variable delay device (41) which is provided between the D converters and delays a reference signal input to the A / D converter, and controls the variable delay device to input the variable delay device (41) to the A / D converter. The control means (45) adjusts the timing when the electric signal becomes maximum and the sampling timing of the A / D converter.

【００２１】また、本発明の請求項４の光サンプリング
装置は、請求項１の光サンプリング装置において、前記
タイミングずれ吸収手段は、前記信号発生器と前記光パ
ルス発生器の間に設けられ、前記光パルス発生器に入力
される基準信号を遅延する可変遅延器（４１）と、前記
可変遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換器に入力される
前記電気信号が最大になるタイミングと該Ａ／Ｄ変換器
のサンプリングタイミングとを合わせる制御手段（４
５）とによって構成されている。An optical sampling device according to a fourth aspect of the present invention is the optical sampling device according to the first aspect, wherein the timing deviation absorbing means is provided between the signal generator and the optical pulse generator. A variable delay device (41) for delaying a reference signal input to the optical pulse generator, and a timing for controlling the variable delay device to maximize the electric signal input to the A / D converter. Control means for adjusting the sampling timing of the A / D converter (4
5) and.

【００２２】また、本発明の請求項５の光サンプリング
装置は、請求項１の光サンプリング装置において、前記
タイミングずれ吸収手段は、前記光サンプリング部と前
記Ａ／Ｄ変換器との間に設けられ、該Ａ／Ｄ変換器に入
力されるパルス状の電気信号を遅延する可変遅延器（４
１）と、前記可変遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換器
に入力される前記電気信号が最大になるタイミングと該
Ａ／Ｄ変換器のサンプリングタイミングとを合わせる制
御手段（４５）とによって構成されている。An optical sampling apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the optical sampling apparatus according to the first aspect, wherein the timing deviation absorbing means is provided between the optical sampling section and the A / D converter. , A variable delay device (4) for delaying a pulsed electric signal input to the A / D converter
1) and a control means (45) for controlling the variable delay device so as to match the timing when the electric signal input to the A / D converter is maximized with the sampling timing of the A / D converter. It is composed by.

【００２３】また、本発明の請求項６の光サンプリング
装置は、請求項１の光サンプリング装置において、前記
タイミングずれ吸収手段は、前記光パルス発生器と前記
光サンプリング部との間に設けられ、該光サンプリング
部に入射される光パルスを遅延する光可変遅延器（４
２）と、前記光可変遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換
器に入力される前記電気信号が最大になるタイミングと
該Ａ／Ｄ変換器のサンプリングタイミングとを合わせる
制御手段（４５）とによって構成されている。An optical sampling apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the optical sampling apparatus according to the first aspect, wherein the timing deviation absorbing means is provided between the optical pulse generator and the optical sampling section. An optical variable delay device (4) for delaying an optical pulse incident on the optical sampling unit.
2) and a control means (45) for controlling the variable optical delay device so as to match the timing when the electric signal input to the A / D converter becomes maximum and the sampling timing of the A / D converter. It is composed of and.

【００２４】[0024]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態を説明する。図１は、本発明を適用した光サン
プリング装置２０の構成を示している。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows the configuration of an optical sampling device 20 to which the present invention is applied.

【００２５】図１において、信号発生器２１は周期Ｔの
クロック信号Ｃを基準信号として出力する。なお、この
信号発生器２１は、クロック信号Ｃの周波数を所定範囲
内で可変できるように構成されている。In FIG. 1, the signal generator 21 outputs a clock signal C having a period T as a reference signal. The signal generator 21 is configured so that the frequency of the clock signal C can be varied within a predetermined range.

【００２６】光パルス発生器２２は、前記したように、
パルス光源２３と分散減少ファイバ２４とによって構成
されている。The optical pulse generator 22 is, as described above,
It is composed of a pulse light source 23 and a dispersion reducing fiber 24.

【００２７】パルス光源２３は信号発生器２１から出力
されたクロック信号Ｃを受け、そのクロック信号Ｃと同
一周期の光パルスＰを生成して分散減少ファイバ２４に
出射する。The pulse light source 23 receives the clock signal C output from the signal generator 21, generates an optical pulse P having the same cycle as the clock signal C, and outputs the optical pulse P to the dispersion reducing fiber 24.

【００２８】このパルス光源２３は、例えば図２に示す
ように、逓倍器２３ａ、光変調器２３ｂ、単一波長光源
２３ｃ、光スイッチ２３ｄおよびゲート信号発生器２３
ｅによって構成されている。The pulse light source 23 is, for example, as shown in FIG. 2, a multiplier 23a, an optical modulator 23b, a single wavelength light source 23c, an optical switch 23d and a gate signal generator 23.
It is composed of e.

【００２９】逓倍器２３ａは、図３の（ａ）のように入
力されるクロック信号Ｃを、図３の（ｂ）に示すように
Ｎ逓倍して（Ｎは複数）、その逓倍信号Ｍを光変調器２
３ｂに入力する。光変調器２３ｂは、単一波長光源２３
ｃから出射される連続光を逓倍信号Ｍで変調して、図３
の（ｃ）に示す周期Ｔ／Ｎの光パルスＰａを生成し、光
スイッチ２３ｄに入射する。The multiplier 23a multiplies the clock signal C input as shown in FIG. 3A by N (N is a plurality) as shown in FIG. 3B, and outputs the multiplied signal M. Light modulator 2
Enter in 3b. The optical modulator 23b is a single wavelength light source 23
The continuous light emitted from c is modulated with the multiplied signal M, and
The optical pulse Pa having the period T / N shown in (c) of FIG.

【００３０】光スイッチ２３ｄは、ゲート信号発生器２
３ｅから図３の（ｄ）に示すように、光パルスＰａの幅
より僅かに広い幅を有する周期Ｔのゲート信号Ｇを受け
ている間だけ閉じて、光パルスＰａをＮ個に１個の割合
で間引いて通過させる。The optical switch 23d is a gate signal generator 2
3e to 3d, as shown in FIG. 3D, the light pulse Pa is closed only while receiving the gate signal G having a period T having a width slightly wider than the width of the light pulse Pa. Decimate at a certain rate and pass.

【００３１】なお、このようにクロック信号Ｃを逓倍し
た信号Ｍで変調することで、幅の狭い光パルスＰａを得
ることができる。By modulating the clock signal C with the multiplied signal M in this way, a narrow optical pulse Pa can be obtained.

【００３２】分散減少ファイバ２４は、光パルスＰを一
端側で受けて、その光パルスＰよりさらに幅の狭い光パ
ルスＰ′を他端側から出射する。なお、この分散減少フ
ァイバ２４は、前記したように数ｋｍの長さを有してい
る。The dispersion reducing fiber 24 receives the light pulse P at one end side and emits a light pulse P ′ having a width narrower than the light pulse P from the other end side. The dispersion-reducing fiber 24 has a length of several km as described above.

【００３３】光パルス発生器２２から出射された光パル
スＰ′は、光サンプリング部２５に入射される。The optical pulse P ′ emitted from the optical pulse generator 22 is incident on the optical sampling section 25.

【００３４】光サンプリング部２５は、入力端子２０ａ
から入射される被測定光Ｘを光パルスＰ′によってサン
プリングし、そのサンプリングによって得られた光パル
スを電気信号Ｅｓに光電変換して出力する。The optical sampling section 25 has an input terminal 20a.
The light to be measured X incident from is sampled by a light pulse P ′, and the light pulse obtained by the sampling is photoelectrically converted into an electric signal Es and output.

【００３５】この光サンプリング部２５は、例えば図４
に示すように、偏波方向が特定方向とそれに直交する方
向の２つの光が入射されたときに、その２つの光の強度
の積に比例した強度を有し、２つの光の和の周波数を有
する光を出射する非線形光学結晶２５ａと、入射される
光パルスＰ′の前記特定方向の偏波成分と、入射される
被測定光Ｘの特定方向と直交する偏波成分を合成し、そ
の合成光Ｓを非線形光学結晶２５ａに入射する偏波合成
器２５ｂと、非線形光学結晶２５ａから出射される光パ
ルスＰｓを受けて電気信号Ｅｓに変換する光電変換器２
５ｃとによって構成されている。The optical sampling section 25 is shown in FIG.
As shown in, when two lights having a polarization direction in a specific direction and a direction orthogonal to the specific direction are incident, the light has an intensity proportional to the product of the intensities of the two lights and has a frequency of the sum of the two lights. The nonlinear optical crystal 25a that emits light, the polarization component of the incident light pulse P ′ in the specific direction, and the polarization component of the incident measured light X orthogonal to the specific direction are combined, and A polarization combiner 25b that makes the combined light S enter the nonlinear optical crystal 25a, and a photoelectric converter 2 that receives the optical pulse Ps emitted from the nonlinear optical crystal 25a and converts it into an electric signal Es.
And 5c.

【００３６】光サンプリング部２５から出力された電気
信号Ｅｓは、ピークホールド回路２６に入力される。The electric signal Es output from the optical sampling section 25 is input to the peak hold circuit 26.

【００３７】ピークホールド回路２６は、この実施形態
のタイミングずれ吸収手段を構成するものであり、光サ
ンプリング部２５から出力される電気信号Ｅｓのピーク
値をホールドし、クロック信号のＣのレベル変移タイミ
ング（例えば立ち上がりタイミング）の直後にリセット
する。The peak hold circuit 26 constitutes the timing deviation absorbing means of this embodiment, holds the peak value of the electric signal Es output from the optical sampling section 25, and changes the level of C of the clock signal. Reset immediately after (for example, rising timing).

【００３８】ピークホールド回路２６から出力される信
号Ｅｈは、Ａ／Ｄ変換器２７に入力される。The signal Eh output from the peak hold circuit 26 is input to the A / D converter 27.

【００３９】Ａ／Ｄ変換器２７は、クロック信号Ｃのレ
ベル変移タイミング（例えば立ち上がりタイミング）に
ピークホールド回路２６の出力信号Ｅｈをサンプリング
してディジタル値に変換し、このディジタル値Ｄｐを被
測定光Ｘに対するサンプリング結果として出力する。The A / D converter 27 samples the output signal Eh of the peak hold circuit 26 at the level transition timing (for example, the rising timing) of the clock signal C and converts it into a digital value, and the digital value Dp is measured. It is output as the sampling result for X.

【００４０】次に、上記構成の光サンプリング装置２０
の動作を説明する。入力端子２０ａから図５の（ａ）に
示すように強度が周期Ｔｘで繰り返し変調されている被
測定光Ｘが入力されているものとする。Next, the optical sampling device 20 having the above structure.
The operation of will be described. It is assumed that the light to be measured X whose intensity is repeatedly modulated with the cycle Tx as shown in FIG. 5A is input from the input terminal 20a.

【００４１】一方、信号発生器２１からは、例えば図５
の（ｂ）に示すように、周期Ｔ（＝Ｔｘ＋ΔＴ）のクロ
ック信号Ｃが出力され、このクロック信号Ｃを受けた光
パルス発生器２２からは、図５の（ｃ）に示すように、
分散減少ファイバ２４の遅延により、クロック信号Ｃの
立ち上がりタイミングからＴｄだけ遅れて光パルスＰ′
が出射される。On the other hand, from the signal generator 21, for example, as shown in FIG.
5B, a clock signal C having a period T (= Tx + ΔT) is output, and the optical pulse generator 22 receiving this clock signal C outputs the clock signal C as shown in FIG. 5C.
Due to the delay of the dispersion reducing fiber 24, the optical pulse P ′ is delayed by Td from the rising timing of the clock signal C.
Is emitted.

【００４２】なお、ここでは、理解し易いようにサンプ
リング周期Ｔを被測定光Ｘの波形の繰り返し周期Ｔｘに
対してΔＴだけずらしているが、サンプリング周期Ｔ
を、周期Ｔｘの整数倍（例えば１００倍、１０００倍
等）に対してΔＴでけずらすように設定することで、被
測定光Ｘの波形の繰り返し周波数に対して格段に低い周
波数のサンプリングで、被測定光Ｘの波形情報をΔＴ間
隔で得ることが可能となる。Here, the sampling cycle T is shifted by ΔT with respect to the repetition cycle Tx of the waveform of the measured light X for easy understanding, but the sampling cycle T
Is set to be shifted by ΔT with respect to an integer multiple (for example, 100 times, 1000 times, etc.) of the cycle Tx, so that sampling at a frequency significantly lower than the repetition frequency of the waveform of the measured light X It becomes possible to obtain the waveform information of the measured light X at ΔT intervals.

【００４３】光サンプリング部２５は、この光パルス
Ｐ′によって被測定光Ｘをサンプリングし、図５の
（ｄ）のように、被測定光Ｘの強度にピーク電圧Ｅｐが
対応するパルス状の電気信号Ｅｓをピークホールド回路
２６に出力する。The optical sampling unit 25 samples the light to be measured X by this light pulse P ', and as shown in FIG. 5D, the pulse-shaped electrical signal whose peak voltage Ep corresponds to the intensity of the light to be measured X. The signal Es is output to the peak hold circuit 26.

【００４４】ピークホールド回路２６は、図５の（ｅ）
のように、電圧信号Ｅｓの電圧がパルス状に変化したと
きに、そのピーク電圧ＥｐをホールドしてＡ／Ｄ変換器
２７に出力し、クロック信号Ｃの立ち上がりタイミング
の直後にそのホールド値をリセットする。The peak hold circuit 26 is shown in FIG.
When the voltage of the voltage signal Es changes like a pulse, the peak voltage Ep is held and output to the A / D converter 27, and the hold value is reset immediately after the rising timing of the clock signal C. To do.

【００４５】Ａ／Ｄ変換器２７は、クロック信号Ｃの立
ち上がりタイミングにピークホールド回路２６でホール
ドされていたピーク電圧Ｅｐをサンプリングして、図５
の（ｆ）のようにディジタル値Ｄｐに変換して出力す
る。The A / D converter 27 samples the peak voltage Ep held in the peak hold circuit 26 at the rising timing of the clock signal C, and
It is converted into a digital value Dp and output as in (f).

【００４６】したがって、分散減少ファイバ２４の遅延
の影響で光パルス発生器２１の光パルスＰ′の出射タイ
ミングがＡ／Ｄ変換器２７のサンプリングタイミングと
一致していなくても、光サンプリング部２５から出力さ
れた電気信号のピーク値ＥｐがＡ／Ｄ変換器２７のサン
プリングタイミングまでホールドされているので、光サ
ンプリング部２５で得られた被測定光Ｘの強度の情報を
確実に求めることができる。Therefore, even if the emission timing of the optical pulse P ′ of the optical pulse generator 21 does not match the sampling timing of the A / D converter 27 due to the delay of the dispersion reducing fiber 24, the optical sampling unit 25 outputs Since the peak value Ep of the output electric signal is held until the sampling timing of the A / D converter 27, the intensity information of the measured light X obtained by the optical sampling section 25 can be reliably obtained.

【００４７】また、信号発生器２１が出力するクロック
信号Ｃの周波数が可変されて、クロック信号Ｃに対する
光パルスＰ′の遅延時間Ｔｄが変化しても、光サンプリ
ング部２５から出力された電気信号のピーク値ＥｐがＡ
／Ｄ変換器２７のサンプリングタイミングまでホールド
されているので、光サンプリング部２５で得られた被測
定光Ｘの強度の情報を確実に求めることができる。Further, even if the frequency of the clock signal C output from the signal generator 21 is changed and the delay time Td of the optical pulse P ′ with respect to the clock signal C changes, the electrical signal output from the optical sampling section 25. Peak value Ep of A
Since the sampling timing of the / D converter 27 is held, the intensity information of the measured light X obtained by the optical sampling section 25 can be reliably obtained.

【００４８】上記した実施形態の光サンプリング装置２
０では、タイミングずれ吸収手段としてピークホールド
回路２６を用いていたが、予め電圧信号Ｅｓがピークと
なるタイミングとＡ／Ｄ変換器２７のサンプリングタイ
ミングとの時間差分の遅延を、いずれか一方に与えて両
タイミングのずれを吸収することも可能である。The optical sampling device 2 of the above embodiment
In 0, the peak hold circuit 26 was used as the timing deviation absorbing means, but a delay of the time difference between the timing when the voltage signal Es reaches the peak and the sampling timing of the A / D converter 27 is given to either one in advance. It is also possible to absorb the shift between the two timings.

【００４９】図６は、この遅延処理を用いた光サンプリ
ング装置４０Ａの構成例を示している。FIG. 6 shows an example of the configuration of an optical sampling device 40A using this delay processing.

【００５０】この光サンプリング装置４０Ａでは、信号
発生器２１とＡ／Ｄ変換器２７の間に可変遅延器４１を
挿入し、その遅延量を制御部４５によって制御してＡ／
Ｄ変換器２７に入力されるクロック信号Ｃ′のサンプリ
ングタイミングを電圧信号Ｅｓのピークタイミングに合
わせるようにしている。In this optical sampling device 40A, a variable delay device 41 is inserted between the signal generator 21 and the A / D converter 27, and the delay amount is controlled by the control unit 45 to control A / D.
The sampling timing of the clock signal C'input to the D converter 27 is matched with the peak timing of the voltage signal Es.

【００５１】制御部４５は、例えば被測定光Ｘの代わり
に図７の（ａ）のように強度一定の基準光Ｒが入射され
た状態で、タイミング調整を指示する指示信号Ｈを受け
ると、図７の（ｂ）に示すクロック信号Ｃに対するクロ
ック信号Ｃ′の遅延時間を図７の（ｃ）のように調整し
て、Ａ／Ｄ変換器２７のサンプリングタイミングを図７
の（ｆ）のようにずらして、Ａ／Ｄ変換器２７から電気
信号Ｅｓのピーク値Ｅｐに対応するディジタル値Ｄｐが
出力されるようにする。なお、図７では、クロック信号
Ｃ′の遅延時間を大きく可変しているが、実際には、電
気信号ＥｓのピークタイミングとＡ／Ｄ変換器２７のサ
ンプリングタイミングがほぼ一致してＡ／Ｄ変換器２７
から所定値以上のディジタル値が出力された段階で、遅
延時間を少しずつ動かして、ディジタル値が最大となる
ように調整する。When the control unit 45 receives the instruction signal H for instructing the timing adjustment, for example, in the state where the reference light R having a constant intensity is incident instead of the measured light X as shown in FIG. 7A, The delay time of the clock signal C ′ with respect to the clock signal C shown in FIG. 7B is adjusted as shown in FIG. 7C, and the sampling timing of the A / D converter 27 is shown in FIG.
(F), the digital value Dp corresponding to the peak value Ep of the electric signal Es is output from the A / D converter 27. In FIG. 7, the delay time of the clock signal C ′ is greatly changed, but in reality, the peak timing of the electric signal Es and the sampling timing of the A / D converter 27 are almost the same and the A / D conversion is performed. Bowl 27
When a digital value equal to or more than a predetermined value is output from, the delay time is gradually moved to adjust the digital value to the maximum.

【００５２】また、クロック信号Ｃの周波数が可変され
る場合には、前記したように基準光Ｒを用いてクロック
信号Ｃの周波数毎にタイミングずれをなくすための遅延
量を制御部４５で予め求めて内部のメモリ（図示せず）
に記憶しておき、被測定光Ｘをサンプリングする際に信
号発生器２１からのクロック信号Ｃの周波数情報Ｆを受
けて、その周波数に対応する遅延量を可変遅延器４１に
設定する。When the frequency of the clock signal C is variable, the control unit 45 previously obtains a delay amount for eliminating the timing deviation for each frequency of the clock signal C by using the reference light R as described above. Internal memory (not shown)
When the measured light X is sampled, the frequency information F of the clock signal C from the signal generator 21 is received and the delay amount corresponding to the frequency is set in the variable delay device 41.

【００５３】また、上記光サンプリング装置４０Ａで
は、Ａ／Ｄ変換器２７に入力されるクロック信号Ｃを可
変遅延器４１によって遅延させていたが、図８の光サン
プリング装置４０Ｂのように、信号発生器２１と光パル
ス発生器２２との間に可変遅延器４１を設け、これを制
御部４５で制御することも可能である。In the optical sampling device 40A, the clock signal C input to the A / D converter 27 is delayed by the variable delay device 41. However, as in the optical sampling device 40B of FIG. It is also possible to provide the variable delay device 41 between the device 21 and the optical pulse generator 22 and control this with the control unit 45.

【００５４】この場合、制御部４５は、前記同様に図９
の（ａ）の基準光Ｒが入射された状態で、タイミング調
整を指示する指示信号Ｈを受けると、図９の（ｂ）に示
すクロック信号Ｃに対するクロック信号Ｃ′の遅延時間
を図９の（ｃ）のように調整して、光パルス発生器２２
から出射される光パルスＰ′の出射タイミング、即ち光
サンプリングタイミングを図９の（ｄ）のようにずらし
て、Ａ／Ｄ変換器２７から電気信号Ｅｓのピーク値Ｅｐ
に対応するディジタル値Ｄｐが出力されるようにする。In this case, the control unit 45 operates as shown in FIG.
When the instruction signal H for instructing the timing adjustment is received in the state where the reference light R of (a) of FIG. 9 is incident, the delay time of the clock signal C ′ with respect to the clock signal C shown in (b) of FIG. The optical pulse generator 22 is adjusted as shown in FIG.
The emission timing of the optical pulse P ′ emitted from, that is, the optical sampling timing is shifted as shown in FIG. 9D, and the peak value Ep of the electric signal Es from the A / D converter 27 is shifted.
The digital value Dp corresponding to is output.

【００５５】また、図１０に示す光サンプリング装置４
０Ｃのように、光サンプリング部２５とＡ／Ｄ変換器２
７の間に可変遅延器４１を設け、これを制御部４５で制
御してもよい。Further, the optical sampling device 4 shown in FIG.
0C, the optical sampling unit 25 and the A / D converter 2
It is also possible to provide a variable delay device 41 between 7 and 7 and control this with the control unit 45.

【００５６】この場合、制御部４５は、前記同様に図１
１の（ａ）の基準光Ｒが入射された状態で、タイミング
調整を指示する指示信号Ｈを受けると、図１１の（ｅ）
に示すように、Ａ／Ｄ変換器２７に入力される電気信号
Ｅｓ′の遅延時間を調整して、その電気信号Ｅｓ′がピ
ークとなるタイミングをＡ／Ｄ変換器２７のサンプリン
グタイミングに合わせて、ピーク値Ｅｐに対応するディ
ジタル値Ｄｐが出力されるようにする。In this case, the control unit 45 is similar to the above-described one shown in FIG.
When the instruction signal H instructing the timing adjustment is received in the state where the reference light R of (a) of 1 is incident, (e) of FIG.
As shown in, the delay time of the electric signal Es ′ input to the A / D converter 27 is adjusted so that the timing at which the electric signal Es ′ reaches a peak is adjusted to the sampling timing of the A / D converter 27. , So that the digital value Dp corresponding to the peak value Ep is output.

【００５７】また、前記した各光サンプリング装置４０
Ａ〜４０Ｃでは電気信号を遅延していたが、図１２に示
す光サンプリング装置４０Ｄのように、光パルス発生器
２２と光サンプリング部２５の間に光可変遅延器４２を
設け、これを制御部４５で制御してもよい。Further, each of the optical sampling devices 40 described above
Although the electric signal was delayed in A to 40C, an optical variable delay device 42 is provided between the optical pulse generator 22 and the optical sampling unit 25 as in the optical sampling device 40D shown in FIG. It may be controlled by 45.

【００５８】この場合、制御部４５は、前記同様に図１
３の（ａ）の基準光Ｒが入射された状態で、タイミング
調整を指示する指示信号Ｈを受けると、図１３の（ｄ）
に示すように、光サンプリング部２５に入射される光パ
ルスＰ″の遅延時間を調整して、電気信号Ｅｓがピーク
となるタイミングをＡ／Ｄ変換器２７のサンプリングタ
イミングに合わせて、ピーク値Ｅｐに対応するディジタ
ル値Ｄｐが出力されるようにする。In this case, the control unit 45 operates in the same manner as in FIG.
When the instruction signal H for instructing the timing adjustment is received while the reference light R of (a) of 3 is incident, (d) of FIG.
As shown in FIG. 5, the delay time of the optical pulse P ″ incident on the optical sampling unit 25 is adjusted so that the timing at which the electric signal Es reaches the peak coincides with the sampling timing of the A / D converter 27 and the peak value Ep is reached. The digital value Dp corresponding to is output.

【００５９】[0059]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光サンプ
リング装置は、Ａ／Ｄ変換器にパルス状の電気信号のピ
ーク電圧が入力されるタイミングとＡ／Ｄ変換器のサン
プリングタイミングとのずれを吸収して、Ａ／Ｄ変換器
からパルス状の各電気信号のピーク値を順次出力させる
タイミングずれ吸収手段を備えている。As described above, in the optical sampling apparatus of the present invention, there is a deviation between the timing at which the peak voltage of the pulsed electric signal is input to the A / D converter and the sampling timing of the A / D converter. And a timing shift absorbing means for sequentially outputting the peak value of each pulsed electric signal from the A / D converter.

【００６０】このため、光パルス発生器で分散減少ファ
イバを用いていても、その分散減少ファイバの遅延によ
るＡ／Ｄ変換器でのサンプリングタイミングのずれが吸
収されて、光サンプリング部から出力される電気信号の
ピーク値を正確に検出することができる。また、基準信
号の周波数が可変された場合でも、光サンプリング部か
ら出力される電気信号のピーク値を正確に検出すること
ができる。Therefore, even when the dispersion reducing fiber is used in the optical pulse generator, the deviation of the sampling timing in the A / D converter due to the delay of the dispersion reducing fiber is absorbed and output from the optical sampling section. The peak value of the electric signal can be accurately detected. Further, even when the frequency of the reference signal is changed, the peak value of the electric signal output from the optical sampling section can be accurately detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】本発明の実施の形態を示す図FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

【図２】実施形態の要部の構成例を示す図FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of a main part of the embodiment.

【図３】実施形態の要部の動作を説明するための図FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of the main part of the embodiment.

【図４】実施形態の要部の構成例を示す図FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of a main part of the embodiment.

【図５】実施形態の動作を説明するための図FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of the embodiment.

【図６】他の実施形態の構成を示す図FIG. 6 is a diagram showing a configuration of another embodiment.

【図７】図６の実施形態の動作を説明するための図FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of the embodiment of FIG.

【図８】他の実施形態の構成例を示す図FIG. 8 is a diagram showing a configuration example of another embodiment.

【図９】図８の実施形態の動作を説明するための図FIG. 9 is a diagram for explaining the operation of the embodiment of FIG.

【図１０】他の実施形態の構成例を示す図FIG. 10 is a diagram showing a configuration example of another embodiment.

【図１１】図１０の実施形態の動作を説明するための図11 is a diagram for explaining the operation of the embodiment of FIG.

【図１２】他の実施形態の構成例を示す図FIG. 12 is a diagram showing a configuration example of another embodiment.

【図１３】図１２の実施形態の動作を説明するための図FIG. 13 is a diagram for explaining the operation of the embodiment of FIG.

【図１４】光サンプリング波形観測システ置の構成例を
示す図FIG. 14 is a diagram showing a configuration example of an optical sampling waveform observation system device.

【図１５】従来装置の動作を説明するための図FIG. 15 is a diagram for explaining the operation of the conventional device.

【図１６】従来装置の要部の構成例を示す図FIG. 16 is a diagram showing a configuration example of a main part of a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

２０、４０Ａ〜４０Ｄ……光サンプリング装置、２１…
…信号発生器、２２……光パルス発生器、２５……光サ
ンプリング部、２６……ピークホールド回路、２７……
Ａ／Ｄ変換器、４１……可変遅延器、４２……光可変遅
延器、４５……制御部20, 40A to 40D ... Optical sampling device, 21 ...
... Signal generator, 22 ... Optical pulse generator, 25 ... Optical sampling unit, 26 ... Peak hold circuit, 27 ...
A / D converter, 41 ... Variable delay device, 42 ... Optical variable delay device, 45 ... Control unit

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】基準信号を出力する信号発生器（２１）
と、 前記信号発生器から出力される基準信号を受け、該基準
信号と同一周期の光パルスを出射する光パルス発生器
（２２）と、 被測定光を入射するための入力端子（２０ａ）と、 前記入力端子から入射された被測定光と、前記光パルス
発生器から出射された光パルスとを受け、該光パルスに
よって前記被測定光をサンプリングし、該サンプリング
で得られた光パルスを光電変換してパルス状の電気信号
を出力する光サンプリング部（２５）と、 前記光サンプリング部から出力されるパルス状の電気信
号と、前記信号発生器から出力される基準信号とを受
け、前記パルス状の電気信号を前記基準信号の周期でサ
ンプリングし、該サンプリング値をディジタル値に変換
して出力するＡ／Ｄ変換器（２７）と、 前記Ａ／Ｄ変換器に入力される前記パルス状の電気信号
が最大となるタイミングと該Ａ／Ｄ変換器のサンプリン
グタイミングとのずれを吸収して、該Ａ／Ｄ変換器から
前記パルス状の電気信号のピーク値を順次出力させるタ
イミングずれ吸収手段（２６、４１、４２、４５）とを
備えた光サンプリング装置。1. A signal generator (21) for outputting a reference signal.
An optical pulse generator (22) for receiving a reference signal output from the signal generator and emitting an optical pulse having the same period as the reference signal; and an input terminal (20a) for inputting the light to be measured. Receiving the light to be measured incident from the input terminal and the light pulse emitted from the light pulse generator, sampling the light to be measured by the light pulse, and photoelectrically converting the light pulse obtained by the sampling. An optical sampling unit (25) for converting and outputting a pulsed electric signal, a pulsed electric signal output from the optical sampling unit, and a reference signal output from the signal generator, and receiving the pulse -Like electric signal is sampled at the cycle of the reference signal, and the A / D converter (27) for converting the sampling value into a digital value and outputting the digital value, and before being inputted to the A / D converter. Timing deviation that absorbs the deviation between the timing when the pulsed electric signal becomes maximum and the sampling timing of the A / D converter and sequentially outputs the peak value of the pulsed electric signal from the A / D converter An optical sampling device comprising absorption means (26, 41, 42, 45). 【請求項２】前記タイミングずれ吸収手段は、 前記光サンプリング部と前記Ａ／Ｄ変換器の間に設けら
れ、前記光サンプリング部から出力される電気信号と前
記信号発生器から出力される基準信号とを受け、前記Ａ
／Ｄ変換器のサンプリングタイミングから次のサンプリ
ングタイミングまでに入力された電気信号のピーク値を
ホールドして前記Ａ／Ｄ変換器に出力するピークホール
ド回路（２６）によって構成されていることを特徴とす
る請求項１記載の光サンプリング装置。2. The timing deviation absorbing means is provided between the optical sampling section and the A / D converter, and an electric signal output from the optical sampling section and a reference signal output from the signal generator. And the above A
And a peak hold circuit (26) for holding the peak value of the electric signal input from the sampling timing of the A / D converter to the next sampling timing and outputting it to the A / D converter. The optical sampling device according to claim 1. 【請求項３】前記タイミングずれ吸収手段は、 前記信号発生器と前記Ａ／Ｄ変換器の間に設けられ、前
記Ａ／Ｄ変換器に入力される基準信号を遅延する可変遅
延器（４１）と、 前記可変遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換器に入力さ
れる前記電気信号が最大になるタイミングと該Ａ／Ｄ変
換器のサンプリングタイミングとを合わせる制御手段
（４５）とによって構成されていることを特徴とする請
求項１記載の光サンプリング装置。3. The variable timing delay absorbing means is provided between the signal generator and the A / D converter and delays a reference signal input to the A / D converter. And a control means (45) for controlling the variable delay device so as to match the timing when the electric signal input to the A / D converter is maximized with the sampling timing of the A / D converter. The optical sampling apparatus according to claim 1, wherein the optical sampling apparatus is provided. 【請求項４】前記タイミングずれ吸収手段は、 前記信号発生器と前記光パルス発生器の間に設けられ、
前記光パルス発生器に入力される基準信号を遅延する可
変遅延器（４１）と、 前記可変遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換器に入力さ
れる前記電気信号が最大になるタイミングと該Ａ／Ｄ変
換器のサンプリングタイミングとを合わせる制御手段
（４５）とによって構成されていることを特徴とする請
求項１記載の光サンプリング装置。4. The timing deviation absorbing means is provided between the signal generator and the optical pulse generator,
A variable delay device (41) for delaying a reference signal input to the optical pulse generator, and a timing for controlling the variable delay device to maximize the electric signal input to the A / D converter. The optical sampling apparatus according to claim 1, wherein the optical sampling apparatus comprises a control means (45) for adjusting the sampling timing of the A / D converter. 【請求項５】前記タイミングずれ吸収手段は、 前記光サンプリング部と前記Ａ／Ｄ変換器との間に設け
られ、該Ａ／Ｄ変換器に入力されるパルス状の電気信号
を遅延する可変遅延器（４１）と、 前記可変遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換器に入力さ
れる前記電気信号が最大になるタイミングと該Ａ／Ｄ変
換器のサンプリングタイミングとを合わせる制御手段
（４５）とによって構成されていることを特徴とする請
求項１記載の光サンプリング装置。5. The variable timing delay absorbing means is provided between the optical sampling section and the A / D converter and delays a pulsed electric signal input to the A / D converter. (41) and the variable delay device to control the timing for maximizing the electric signal input to the A / D converter and the sampling timing of the A / D converter (45). 3.) The optical sampling device according to claim 1, wherein 【請求項６】前記タイミングずれ吸収手段は、 前記光パルス発生器と前記光サンプリング部との間に設
けられ、該光サンプリング部に入射される光パルスを遅
延する光可変遅延器（４２）と、 前記光可変遅延器を制御して、前記Ａ／Ｄ変換器に入力
される前記電気信号が最大になるタイミングと該Ａ／Ｄ
変換器のサンプリングタイミングとを合わせる制御手段
（４５）とによって構成されていることを特徴とする請
求項１記載の光サンプリング装置。6. The timing deviation absorbing means is provided between the optical pulse generator and the optical sampling section, and an optical variable delay device (42) for delaying an optical pulse incident on the optical sampling section. Controlling the optical variable delay device so that the timing when the electric signal inputted to the A / D converter becomes maximum and the A / D
The optical sampling device according to claim 1, wherein the optical sampling device is configured by a control means (45) for adjusting the sampling timing of the converter.