JP2003287556A - 平滑用コンデンサの特性測定装置 - Google Patents
平滑用コンデンサの特性測定装置Info
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Abstract
ンデンサの等価直列抵抗値、等価直列インダクタンス、
等価直列静電容量を、実使用時に近い状態で高精度で測
定することができる測定装置を提供する。 【解決手段】 鋸歯状波電流i(t)を発生する鋸歯状
波電流源21を備え、鋸歯状波電流を被測定コンデンサ
13へ導く電流パターンと被測定コンデンサの両端の電
圧波形を観測または測定に導く電圧検出パターンを有
し、該電圧検出パターンを介して観測されたまたは測定
された電圧波形を対称成分と非対称成分に分解して、該
成分の値よりコンデンサの諸定数を算出する。このこと
により、実際のDC/DCコンバータと同様の動作状態
での平滑用コンデンサの等価直列抵抗、等価直列インダ
クタンス、等価直列静電容量の測定が可能となる。特
に、損失評価に必要な等価直列抵抗の値を正確に測定で
きる。
Description
ュータの電源回路等に用いられるDC/DCコンバータ
の平滑用コンデンサに係り、特にその等価直列抵抗、等
価直列インダクタンス、等価直列静電容量を測定する測
定装置及びその測定方法に関する。特に、上記諸定数を
高精度で測定することが出来て、測定確度の高い測定装
置に関する。
ータ等は、CPUチップの低電圧化が進んでいるが、直
流電源からは、+10〜+15V程度の比較的高い直流
電圧が供給される。このため、図1に示すように鋸歯状
波電流を用いたDC/DCコンバータ11により、CP
Uチップ12に好適な低い直流電圧に変換して、平滑用
コンデンサ13で電圧を平滑化すると共に電力を蓄積
し、CPUチップ12に電力を供給している。このよう
な用途のDC/DCコンバータ11は、低電圧大電流化
が進んでおり、低損失化を図るため、平滑用コンデンサ
13の低損失化が要求されている。
コンデンサ13は、図2に示すように、等価直列抵抗R
s、等価直列インダクタンスLs、等価直列静電容量C
からなる等価回路で表される。従来、これらの諸定数
は、LCRメータやインピーダンスアナライザによって
測定されていた。しかしながら、LCRメータやインピ
ーダンスアナライザの測定波形は正弦波であり、電流も
数十mA以下と小さい。ところが、実際のDC/DCコ
ンバータの平滑用コンデンサに流れる電流は周波数の高
い鋸歯状波であり、その値も数〜数十Aに及ぶ。このた
め、LCRメータやインピーダンスアナライザで得られ
た等価直列抵抗Rs、等価直列インダクタンスLs、等
価直列静電容量Cは、実使用時とは条件がはるかに異な
る状態で測定されたものである。
ナライザは正弦波の電流、電圧、位相差から等価直列抵
抗、等価直列インダクタンス、等価直列静電容量を算出
しているため、特にDC/DCコンバータに用いられる
平滑用コンデンサでは、損失に直接影響する等価直列抵
抗の測定確度が悪いという問題がある。
タ等の直流電源回路に用いられる平滑用コンデンサの等
価直列抵抗、等価直列インダクタンス、等価直列静電容
量を、実使用時に近い状態で高精度で測定することがで
きる測定装置を提供することを目的とする。
め、本発明の測定装置は、鋸歯状波電流を発生する鋸歯
状波電流源と、該鋸歯状波電流を電圧に変換し波形表示
装置へ出力する電流電圧変換器と、被測定コンデンサを
搭載する基板と、該被測定コンデンサの両端の電圧を増
幅し波形表示装置へ出力する電圧検出器とを備え、上記
鋸歯状波電流を被測定コンデンサへ導く電流パターンと
被測定コンデンサの両端の電圧波形を観測または測定に
導く電圧検出パターンを有し、該電圧検出パターンを介
して観測されたまたは測定された電圧波形を対称成分と
非対称成分に分解して、該成分の値よりコンデンサの諸
定数を算出することを特徴とする。
ンデンサからなる低域フィルタを配置して、該抵抗の両
端の電圧波形を出力して変化分(AC分)のみの波形を
出力することが好ましい。これにより、観測・測定のダ
イナミックレンジを広げることができる。
価直列インダクタンスまたは等価直列静電容量を測定す
る測定装置は、基板の表面と裏面に交差して形成された
一対の導体パターンである電圧検出パターンを有し、ま
たは、基板上に形成された導体平面パターンと補正コイ
ルから構成され、該補正コイルは上記電流パターンと磁
気的に結合する位置に配置された電圧検出パターンを有
し、または基板上に立体的に形成され一対の交差する構
造体で構成された電圧検出パターンを有することが好ま
しい。これにより、等価直列インダクタンスによって発
生する電圧の影響を相殺して、等価直列抵抗Rsを精度
よく測定することが可能となる。
する第一のサンプルホールド回路と、該第一のサンプル
ホールド回路の出力を入力とする第一のA/D変換器
と、上記電圧検出器の出力を入力とする第二のサンプル
ホールド回路と、該第二のサンプルホールド回路の出力
を入力とする第二のA/D変換器とを備え、上記コンデ
ンサの諸定数をデジタル演算により算出することが好ま
しい。これにより、コンデンサの等価直列抵抗または等
価直列インダクタンスまたは等価直列静電容量を、デジ
タルで演算し自動的に求めることが可能となる。
て、図3乃至図18を参照して説明する。
価直列静電容量C、等価直列インダクタンスLs、等価
直列抵抗Rsを測定する。まず、コンデンサに鋸歯状波
電流を流した場合の端子電圧を想定する。図3に示すよ
うに、等価直列静電容量C、等価直列インダクタンスL
s、等価直列抵抗Rsの各成分に電流i(t)を供給す
ると、これに対応する電圧Vc(t)(Cに対応す
る)、VL(t)(Lsに対応する)、VR(t)(R
sに対応する)は、図4のようにそれぞれ特徴ある波形
を示す。もちろん、静電容量C、等価直列インダクタン
スLs、等価直列抵抗Rsは、被測定コンデンサ内にそ
れぞれ集中してあるわけではなく、全体に分布している
と考えられるが、それぞれの成分の大小により、どのよ
うに電圧波形V(t)が変化するのかを考察する上で
は、分離して考えることができる。
電流波形のような鋸歯状波電流を流すと、キャパシタ
ンス成分両端電圧Vs(t)、インダクタンス成分両
端電圧VL(t)、抵抗成分両端電圧VR(t)のよ
うな各成分に応じた電圧が現れる。これらの加算合計が
平滑コンデンサ両端電圧V(t)になる。ここで、注
目すべきは、各成分がV(t)に与える波形上の特徴で
ある。
降に転じる時刻、tbは逆に下降から上昇に転じる時刻
である。tcは再び下降に転じる時刻で、定常状態では
i(ta)=i(tc)、Vc(ta)=Vc(t
c)、VL(ta)=VL(tc)、VR(ta)=V
R(tc)、V(ta)=V(tc)となる、また、t
mはtaとtbの2等分点の時刻、tnはtbとtcの
2等分点の時刻である。Vc(t)及びVL(t)はt
mまたはtnを中心軸として線対称となり、VR(t)
のみが非対称である。
(t)の単純加算であるV(t)のtmまたはtnの非
対称成分はVR(t)に起因すると考えてよい。既知の
電流i(t)を被測定コンデンサに通電した場合、Vc
(t)、VL(t)、VR(t)は独立して測定するこ
とはできないが、V(t)の波形を観測し、非対称性に
着目して、Vc(t)、VL(t)、VR(t)の各成
分に分解することが可能である。
できる。Rsについて:
出する方法であるが、もちろん時刻tnを中心としてi
(t)上昇時のV(t)から各成分を算出することも同
様に可能である。
測定コンデンサに流し、V(t)を測定する装置の構成
を示す。これは、オシロスコープなどの波形観測機器2
4によりV(tm−τ)とV(tm+τ)を読み取る場
合を示している。図5の電流電圧変換器23は、カレン
トトランス、カレントプローブ、電流検出抵抗器と差動
増幅器で構成したものなどを用いる。
より上記鋸歯状波電流を被測定コンデンサ13に供給す
る。そして、その両端に生じる電圧V(t)を電圧検出
器22にて検出し、波形表示装置24に入力する。ま
た、鋸歯状波電流i(t)を上記電流電圧変換器23に
て検出し、電流i(t)に比例した電圧として波形表示
装置24に入力する。従って、波形表示装置24では、
被測定コンデンサ13に流れる電流i(t)と、その両
端に生じる電圧V(t)とを、対比して表示することが
できる。
動測定する場合の構成である。即ち、波形表示装置24
に代えて、サンプルホールド回路25a,25bおよび
A/Dコンバータ26a,26bおよびデジタル演算表
示回路27を用いたものである。電流電圧変換器23で
検出された鋸歯状波電流i(t)は、サンプルホールド
回路25aによりサンプルホールドされたアナログ値が
A/Dコンバータ26aによりデジタル値に変換され、
デジタル演算表示回路27に入力される。また、電圧変
換器22で検出された被測定コンデンサ13の両端電圧
V(t)は、同様にサンプルホールド回路25bにより
サンプルホールドされたアナログ値がA/Dコンバータ
26bによりデジタル値に変換され、デジタル演算表示
回路27に入力される。これにより、図4および上記計
算式に示す、各測定値が演算表示回路27により自動的
に演算して表示される。ここで、発振回路およびタイミ
ング調整回路28は、鋸歯状波電流源21および演算表
示回路27をタイミング制御する。
のタイミング例を示す。図示するように、電流i(t)
および電圧V(t)は、時刻ta、tm、tbの近傍で
サンプリングされ、図4に示すのと等価なデータがデジ
タル演算により得られる。
供する基板上の導体パターンについて述べる。図8は基
本的な接続パターンの構成例を示す。比較的大電流で微
小な直列等価抵抗Rsなどを測定するため、電流パター
ン31a,31bと、電圧検出パターン32a,32b
を分離した4端子測定を行う必要がある。図8のRとC
は被測定コンデンサ13の直流分のみを取り出すフィル
タであり、差動増幅器22を図8のように接続すること
により、V(t)の交流成分のみを増幅する。これは、
測定のダイナミックレンジを上げるための構成である。
等価直列インダクタンスLsを正確に測定するために
は、電圧検出パターン32a,32bの間隔dは、被測
定コンデンサ13の電極幅にとるのが望ましいが、後述
のように等価直列インダクタンスLsが大きいと等価直
列抵抗Rsの測定精度が上がらないため、等価直列抵抗
Rs測定時には後述の別パターンを使用することが望ま
しい。
響によるコンデンサ両端電圧波形例を示す。等価直列イ
ンダクタンスによる電圧は電流変化点での段差ΔVLと
なって現れる。等価直列インダクタンスLsが大きく、
等価直列抵抗Rsが比較的に小さいと、図9の上段に示
すように、V(tm+τ)−V(tm−τ)の値がVp
-pに比較して小さくなってしまう。これに対して、等
価直列インダクタンスLsが小さく、等価直列抵抗Rs
が相対的に大きくなると、図9の下段に示すように、V
(tm+τ)−V(tm−τ)の値がVp-pに比較し
て大きくなる。従って、V(t)を増幅する増幅器のダ
イナミックレンジを考慮すると、なるべく等価直列イン
ダクタンスLs成分の影響を小さくしたほうが図9の下
段に示すように等価直列抵抗Rsの測定精度が向上す
る。
を低減するための電圧検出パターンの構成例について述
べる。図10は、電圧を検出する導体パターン33a,
33bを回路基板の表裏面に、交差するように配置して
ある。電圧検出パターン33a,33bを交差させるこ
とにより、コンデンサを流れる電流変化di(t)/d
tが等価直列インダクタンスLsによって発生させるV
L(t)を、i(t)に磁気的に結合した電圧検出パタ
ーンに誘起する電圧で相殺することができる。
34a,34bを平面状ではなく立体的に構成したもの
である。図示するように、電圧検出導体34a,34b
が三次元的に配置され、コンデンサ電極に接続された二
本の導体が互いに磁気的に結合するように配置されてい
る。図10の平面パターンより結合を上げられるので相
殺の効率が高い。ただし、渦電流が発生しないように電
流パターンに水平な部分はなるべく細い導体で籠状に構
成するのが望ましい。
影響を打ち消すための補正コイル35を設けた構成例で
ある。補正コイル35は電流パターン31a,31bを
流れる電流が作る磁束と図中矢印Mで示す向きで磁気結
合させる。
増幅器36を用いた構成例である。この例では、電流パ
ターン31a側のGNDと増幅器36のGNDの間のパ
ターン抵抗が、測定すべき被測定コンデンサの等価直列
抵抗Rsより十分に小さくなければならない。
した差動増幅器37a,37bで増幅した後、加算器3
8によりV(t)と加算するものである。差動増幅器の
ダイナミックレンジは広くなければならないが、差動増
幅器37a,37bのゲインを調節することによりΔV
Lの大きさが任意に決められる利点を有する。
bで図14と同様の補正をかける構成である。この場
合、電流パターン31a側のGNDと増幅器36bのG
NDの間のパターン抵抗が、測定すべき被測定コンデン
サの等価直列抵抗Rsより十分に小さくなければならな
い。
せずに、テストフィクスチャーを使用する場合の、電流
電極について述べる。この構造は、被測定コンデンサ1
3の電極14a,14bにプローブ40を用いて接続す
るものである。電流を電極14a,14bへなるべく均
一に流すため、複数のコンタクトピン(プローブ)40
を用いることが望ましいが、ピン先端と電極間の接触抵
抗rにぱらつきが生じると各ピンに均一の電流が流れな
い。そこで、図16(c)に示すように、電流プローブ
40に直列に電流均一化抵抗Rを接続して電流の均一化
を図ることが望ましい。電流均一化抵抗Rは接触抵抗r
に対して十分大きい必要がある。
りに水銀などのきわめて導電性の良い液体41を使用す
る例である。これにより、接触電位差を極めて小さくす
ることが可能である。
スイッチング制御回路で2つのFETを交互にON/O
FFして鋸歯状波電流源21を構成し、被測定コンデン
サ13に鋸歯状波電流を流す。疑似負荷44は、安定に
定常電流を流す目的と、被測定コンデンサ13に直流バ
イアス電圧をかける目的で挿入されている。
したが、本発明は上述の実施形態に限定されず、その技
術的思想の範囲内において種々異なる形態にて実施され
てよいことは言うまでもない。
コンデンサへ導く電流パターンと、これに分離して被測
定コンデンサの両端の電圧波形を観測または測定に供す
る電圧検出パターンを設けて、観測されたまたは測定さ
れた電圧波形を対称成分と非対称成分に分解して、該成
分の値よりコンデンサの等価直列抵抗または等価直列イ
ンダクタンスまたは等価直列静電容量を算出している。
このことにより、実際のコンピュータ直流電源等に用い
られるDC/DCコンバータと同様の動作状態での、平
滑用コンデンサの等価直列抵抗、等価直列インダクタン
ス、等価直列静電容量の測定が可能となる。特に、損失
評価に必要な等価直列抵抗の値を正確に測定できる。
回路を示す図である。
である。
である。
部の電圧波形を示す図である。
(波形)を示す図である。
示す図である。
り、(a)は側面図であり、(b)は上面図である。
実施例を示す図で、(a)は側面図であり、(b)は上
面図であり、(c)は等価回路図である。
実施例を示す図で、(a)は側面図であり、(b)は上
面図であり、(c)は等価回路図である。
実施例を示す図で、(a)は側面図であり、(b)は上
面図であり、(c)はその等価回路である。
実施例を示す図で、(a)は側面図であり、(b)は上
面図であり、(c)はその等価回路である。
実施例を示す図で、(a)は側面図であり、(b)は上
面図であり、(c)はその等価回路である。
実施例を示す図で、(a)は側面図であり、(b)は上
面図であり、(c)はその等価回路である。
を供給する接続構造を説明する図であり、(a)は側面
図であり、(b)は上面図であり、(c)は電流均一化
のため抵抗Rを接続した図である。
る。
Claims (7)
- 【請求項1】 鋸歯状波電流を発生する鋸歯状波電流源
と、該鋸歯状波電流を電圧に変換し波形表示装置へ出力
する電流電圧変換器と、被測定コンデンサを搭載する基
板と、該被測定コンデンサの両端の電圧を増幅し波形表
示装置へ出力する電圧検出器とを備え、 上記鋸歯状波電流を被測定コンデンサへ導く電流パター
ンと被測定コンデンサの両端の電圧波形を観測または測
定に導く電圧検出パターンを有し、該電圧検出パターン
を介して観測されたまたは測定された電圧波形を対称成
分と非対称成分に分解して、該成分の値よりコンデンサ
の諸定数を算出することを特徴とする平滑用コンデンサ
の特性測定装置。 - 【請求項2】 上記電圧検出パターンの出力端に抵抗と
コンデンサからなる低域フィルタを配置して、該抵抗の
両端の電圧波形を出力することを特徴とする請求項1に
記載の平滑用コンデンサの特性測定装置。 - 【請求項3】 上記電圧検出パターンが、基板の表面と
裏面に交差して形成された一対の導体パターンであるこ
とを特徴とする請求項1に記載の平滑用コンデンサの特
性測定装置。 - 【請求項4】 上記電圧検出パターンが、基板上に形成
された導体平面パターンと補正コイルから構成され、該
補正コイルは上記電流パターンと磁気的に結合する位置
に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の平
滑用コンデンサの特性測定装置。 - 【請求項5】 上記電圧検出パターンが、基板上に立体
的に形成された一対の交差する構造体であることを特徴
とする請求項1に記載の平滑用コンデンサの特性測定装
置。 - 【請求項6】 上記電流電圧変換器の出力を入力とする
第一のサンプルホールド回路と、該第一のサンプルホー
ルド回路の出力を入力とする第一のA/D変換器と、上
記電圧検出器の出力を入力とする第二のサンプルホール
ド回路と、該第二のサンプルホールド回路の出力を入力
とする第二のA/D変換器とを備え、 上記コンデンサの諸定数をデジタル演算により算出する
ことを特徴とする請求項1に記載の平滑用コンデンサの
特性測定装置。 - 【請求項7】 被測定コンデンサに鋸歯状波電流を供給
し、検出された電圧波形を対称成分と非対称成分に分解
して、上記コンデンサの等価直列抵抗または等価直列イ
ンダクタンスまたは等価直列静電容量を測定することを
特徴とする平滑用コンデンサの特性測定方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002090462A JP4227756B2 (ja) | 2002-03-28 | 2002-03-28 | 平滑用コンデンサの特性測定装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002090462A JP4227756B2 (ja) | 2002-03-28 | 2002-03-28 | 平滑用コンデンサの特性測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003287556A true JP2003287556A (ja) | 2003-10-10 |
JP4227756B2 JP4227756B2 (ja) | 2009-02-18 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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---|---|
JP (1) | JP4227756B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009101801A1 (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-20 | Panasonic Corporation | コンデンサの検査装置およびこれを用いた検査方法 |
JP4747224B1 (ja) * | 2010-07-15 | 2011-08-17 | 株式会社マコメ研究所 | インダクタンス変化検出回路、変位検出装置及び金属検出装置 |
CN112433097A (zh) * | 2020-11-06 | 2021-03-02 | 浙江大学 | 一种基于开关瞬态频率信息的薄膜电容器esl提取方法 |
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---|---|---|---|---|
CN103605084B (zh) * | 2013-11-14 | 2016-01-13 | 南京理工大学 | 升压pfc变换器输出电容的esr和电容值的监测装置及方法 |
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2002
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---|---|---|---|---|
WO2009101801A1 (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-20 | Panasonic Corporation | コンデンサの検査装置およびこれを用いた検査方法 |
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---|---|
JP4227756B2 (ja) | 2009-02-18 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070406 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081201 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111205 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121205 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121205 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131205 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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