JP2003216681A - 電磁界強度算出方法および算出装置 - Google Patents

電磁界強度算出方法および算出装置

Info

Publication number
JP2003216681A
JP2003216681A JP2002015671A JP2002015671A JP2003216681A JP 2003216681 A JP2003216681 A JP 2003216681A JP 2002015671 A JP2002015671 A JP 2002015671A JP 2002015671 A JP2002015671 A JP 2002015671A JP 2003216681 A JP2003216681 A JP 2003216681A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analysis
voltage
calculation
port
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002015671A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisashi Yamagashiro
尚志 山ヶ城
Kenji Nagase
健二 長瀬
Shinichi Otsu
信一 大津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2002015671A priority Critical patent/JP2003216681A/ja
Priority to US10/151,110 priority patent/US20030139914A1/en
Priority to DE10231304A priority patent/DE10231304B4/de
Publication of JP2003216681A publication Critical patent/JP2003216681A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/36Circuit design at the analogue level
    • G06F30/367Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • Complex Calculations (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路解析モデルと電磁波解析モデルとを結合
する複数のポートを持ち、ダイポールアンテナのような
線状の要素を含む解析対象による電磁界の強度を精度よ
く算出する。 【解決手段】 各ポートに独立電流源と電圧依存電流源
とを配置して、回路解析によって各ポート部の電圧を算
出し、算出された電圧値を用いて各ポートに電圧源を配
置して、電磁波解析によって解析対象に流れる電流を算
出し、解析の時刻をステップ的にインクリメントし、各
ポート部の電圧算出と解析対象に流れる電流算出とを行
うことを繰り返す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子機器などから放
射される電磁波による電磁界強度の算出方法に係り、更
に詳しくは非線型回路部品を含む解析対象を、回路解析
モデルと、電磁波解析モデルと、2つのモデルを結ぶ複
数のポートとに分離して解析を行う電磁界強度算出方
法、および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器から放射される電磁波をシミュ
レーションする手法として、モーメント法など様々な電
磁波解析手法がある。モーメント法では、電子機器のプ
リント基板や金属板などがパッチと呼ばれる面上の要素
に分割され、また例えばアンテナはワイヤと呼ばれる線
状要素に分割されて、解析が行われる。
【0003】非線型回路素子などを含む電子機器からの
放射電磁波解析を行う場合には、電磁波解析だけでな
く、回路解析法を組み合わせて解析を行う必要がある。
このように電磁波解析と回路解析を組み合わせた解析法
として、次の文献が発表されている。
【0004】文献1)J.A.Landt,“Netw
ork loading of thin−wire
antennas and scatters in
the time domain”,Radio Sc
ience,vol.16,pp1241−1247,
1981.この文献では、時間領域モーメント法と呼ば
れる電磁波解析手法と、回路解析法とが組み合わされて
解析が行われている。この解析ではアンテナが回路網に
接続されている解析対象に対して、アンテナとしてのワ
イヤが直線状の複数のセグメントに分割され、各セグメ
ントを流れる未知のアンテナ電流についてのn元の方程
式と、回路網の電流に対するm元の方程式とが作られ、
解析が行われている。
【0005】このように電磁波解析と回路解析とを組み
合わせる場合には、一般に解析対象が非線型回路部品を
含む回路解析モデルと、ワイヤやパッチなどによって構
成される電磁波解析モデルと、2つのモデルの接続部と
してのポートに分離されて解析が行われるが、文献1で
はこのポートが1個のみの場合に限定して解析が行わ
れ、n+m元の連立方程式によって表される系がn元と
m元との2つの系について独立して解くことができる問
題に簡単化されて、アンテナ電流が求められ、電磁波解
析が行われている。
【0006】回路解析法と電磁波解析法とを組み合わせ
る他の手法として、有限差分時間領域(フィニット・デ
ィファレンス・タイム・ドメイン,FDTD)電磁界解
析法と、回路解析法を組み合わせる手法があり、次の文
献に開示されている。
【0007】文献2)特開平11−153634号「シ
ミュレーション装置及びシミュレーションプログラムを
記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体」 文献3)特開2000−330973「有限差分時間領
域電磁界解析法を過度電気回路解析法に結合するハイブ
リッド解析方法及びハイブリット有限差分時間領域電磁
界−過渡電気回路解析装置」前述の時間領域モーメント
法では、アンテナをセグメントに分割したようにモデル
自身を分割し、そのモデルに流れる電流を求め、求めら
れた電流に基づいて電界、あるいは磁界が算出される。
これに対してFDTD法では、モデルを含めた空間をブ
ロックに分割し、空間における電磁界を、電流を求める
ことなしに、直接に求めるところに特徴がある。
【0008】文献2では、電磁波解析と回路解析とを連
携させたシミュレーション装置において、回路解析の時
刻が電磁波解析において電界を求めるべき時刻に接近し
た際に、回路解析に基づく電界値(回路が存在する領域
の電界値)を電磁波解析に引き渡すことによって、引き
渡された電界値を求めた時刻と、その電界値を反映させ
て電磁波解析において求められる電界の時刻との差が小
さくなり、安定した解析結果を求めることができるシミ
ュレーション装置が開示されている。
【0009】文献3では、FDTD法と過渡電気回路解
析(トランジェント・エレクトリック・サーキット・ア
ナリシス,TECA)法とを結合したハイブリット解析
方法、および解析装置が開示されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、例えば
ダイオードなどの非線型回路部品を含む電子機器から放
射される電磁波をシミュレーションする手法として、電
磁波解析と回路解析とを組み合わせたいくつかの手法が
提案されているが、まず文献1では回路解析モデルと電
磁波解析モデルとの接続箇所としてのポートが1つのみ
の場合についてしか適用できず、2つのモデルの間に複
数のポートが存在するような解析対象を取り扱うことが
できないという問題点があった。
【0011】また文献2、および文献3のように、FD
TD法と回路解析とを組み合わせる手法では、モデルを
含めた空間がブロック化されるため、例えばモデルから
100m離れた点における電磁界を求めるためには、そ
の点まで含めた空間をブロックに分割する必要があり、
計算量が大きくなるという問題点があった。
【0012】また空間をブロックに分割するために、ダ
イポールアンテナやスパイラルアンテナなどのように線
状の要素を含む解析対象の場合には、アンテナ自体をブ
ロック分割するのが難しく、十分な計算精度が得られな
いという問題点があった。
【0013】本発明の課題は、上述の問題点に鑑み、電
磁波解析モデルと回路解析モデルとの間に、接続箇所と
して複数のポートが存在するような解析対象に対して
も、放射される電磁波を精度よく解析することができる
電磁界強度算出方法、および算出装置を提供することで
ある。
【0014】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の電磁界強
度算出方法の原理的な機能ブロック図である。同図は非
線型回路部品を含む解析対象を、回路解析法を適用すべ
き回路解析モデル、電磁波解析法を適用すべき電磁波解
析モデル、および2つのモデルを結合する接続箇所とし
ての複数のポートに分離して、解析対象から放射される
電磁波による電磁界強度を算出する電磁界強度算出方法
の原理的な機能ブロック図である。
【0015】図1において、まず1で、前述の複数の各
ポートに独立電流源および電圧依存電流源を配置して、
回路解析により各ポート部の電圧が算出される。2で、
算出された電圧の値を用いて各ポートに電圧源を配置
し、電磁波解析により解析対象に流れる電流が算出され
る。3で、解析の時刻がステップ的にインクリメントさ
れ、2の各ポート部の電圧算出と3つの解析対象に流れ
る電流算出とが繰り返される。
【0016】発明の実施の形態においては、回路解析法
として修正節点解析法、また電磁波解析法として時間領
域モーメント法を用いることができる。実施の形態にお
いては、回路解析による電圧算出に先立って、時間領域
モーメント法の適用のために解析対象の微小要素への分
割を行い、その微小要素間のアドミッタンスを要素とす
るアドミッタンス行列の要素の1部を用いて前述の電圧
依存電流源の設定を行うことも、また複数の各ポートの
いずれにも電圧を印加しない状態で各ポートに流れる電
流を算出し、算出された電流値を用いて前述の独立電流
の設定を行うこともできる。
【0017】更に実施の形態においては、前述の解析対
象に流れる電流の算出結果を用いて解析対象から放射さ
れる電磁界を求めることも、また解析対象に流れる電流
を周波数領域における値に変換し、変換後の電流値を用
いて解析対象から放射される、周波数領域における電磁
界を求めることもできる。
【0018】更に本発明の電磁界強度算出装置は、回路
解析モデルと電磁波解析モデルとを結合する接続箇所と
しての複数の各ポートに独立電流源および電圧依存電流
源を配置して、回路解析により各ポート部の電圧を算出
する回路解析手段と、算出された電圧の値を用いて各ポ
ートに電圧源を配置し、電磁波解析により解析対象に流
れる電流を算出する電磁波解析手段と、解析の時刻をス
テップ的にインクリメントし、回路解析手段によるポー
ト部の電圧算出と電磁波解析手段による解析対象に流れ
る電流算出とを繰り返し行わせる、繰り返し計算制御手
段とを備える。
【0019】本発明において電磁界強度を算出する計算
機によって使用されるプログラムとして、複数の各ポー
トに独立電流源と電圧依存電流源とを配置して、回路解
析によって各ポート部の電圧を算出する手順と、該算出
された電圧の値を用いて各ポートに電圧源を配置し、電
磁波解析によって解析対象に流れる電流を算出する手順
と、解析の時間をステップ的にインクリメントし、該各
ポート部の電圧算出と解析対象に流れる電流算出とを行
うことを繰り返す手順とを計算機に実行させるプログラ
ムが用いられる。
【0020】次に本発明における記憶媒体として、複数
の各ポートに独立電流源と電圧依存電流源とを配置し
て、回路解析によって各ポート部の電圧を算出するステ
ップと、該算出された電圧の値を用いて各ポートに電圧
源を配置し、電磁波解析によって解析対象に流れる電流
を算出するステップと、解析時間をステップ的にインク
リメントし、該各ポート部の電圧算出と解析対象に流れ
る電流算出とを行うことを繰り返すステップとを計算機
に実行させるプログラムを格納した計算機読み出し可能
可搬型記憶媒体が用いられる。
【0021】以上のように本発明によれば、回路解析モ
デルと電磁波解析モデルとの間の複数の各ポートに電流
源、または電圧源を配置し、電磁波解析と回路解析を交
互に繰り返しながら、モデルに流れる電流の時間変化を
求め、電磁界の算出が行われる。
【0022】
【発明の実施の形態】図2は本実施形態における電磁界
強度算出の対象となるモデルの構成図である。同図に示
すように、解析対象はワイヤやパッチなどに分割され、
電磁波解析の対象となる電磁波解析モデル10と、例え
ばダイオードのような非線型回路素子を含む電子回路な
どの回路解析モデル11と、2つのモデルを結合する接
続箇所としての複数のポート、ここではn個のポートか
ら構成されている。
【0023】図3は図2で説明した解析対象モデルに対
する解析方法の説明図である。同図に示すように、図2
の電磁波解析モデル10は、時間領域モーメント法によ
って解析が行われる時間領域モーメント法モデル14と
して、また回路解析モデル11は、例えばSPICE
(シミュレーション・プログラム・ウィズ・インテグレ
ーテッド・サーキット・エンファシス)、すなわち修正
節点解析法によって解析が行われる回路解析モデル15
として表現され、2つのモデルはn個のポートによって
結合されているものとする。
【0024】前述のように本実施形態では、電磁波解析
法としての時間領域モーメント法と回路解析とがリンク
されて解析が行われるが、まず時間領域モーメント法に
よる解析についてその概略を説明する。時間領域モーメ
ント法では、解析対象のモデルがパッチやワイヤのなど
の微小要素に分割され、各微小要素上に流れる電流が、
微小要素の数をm個として、I1 (t),I2 (t),
・・・,Im (t)のように設定される。
【0025】なお、以下本文中において、「行列」,
「ベクトル」,「成分」,「方程式の解」,「電流」,
「電圧」等の記号表記でベクトル文字には下線を付して
その表記を置き換えます。
【0026】次に各微小要素の間の相互インピーダンス
を表す行列、各微小要素に流れる電流を表すベクトル
(t)、図3の各ポートに印加される電圧のベクトル
(t)、および時間遅れ成分 e (t)を用いて次の
ような線型連立方程式の解(t)が求められる。
【0027】
【数1】
【0028】ここで行列はm行、m列の行列であり、
ベクトル(t)、および(t)はそれぞれm個の成
分を持つm次元ベクトルである。(t)の成分は各ポ
ートに印加される電圧であるが、後述するようにポート
と接続されていない微小要素に流れる電流に対応する
の成分の値は0とされ、ポートと接続されている要素に
流れる電流に対しては、接続されているポートに印加さ
れる電圧の値となる。
【0029】時間遅れ成分 e (t)はリターデッド成
分とも呼ばれる。時間領域モーメント法で分割された各
微小要素に電流が流れるとその電流によって、他の微小
要素に微小要素間の距離を光の速度で割った値の時間だ
け送れて電界が照射される。この電界による電圧相当成
分が e (t)である。
【0030】最後に微小要素上に流れる電流(t)に
よって生じる電磁界が算出されて、時間領域モーメント
法の解析を終了する。次に時間領域モーメント法と回路
解析法をリンクする方法について説明する。前述のよう
に時間領域モーメント法モデルにおける解析対象モデル
はm個の微小要素に分割され、それらの微小要素のうち
n(n≦m)個のそれぞれは、n個のポートのうち、い
ずれか1つのポートと接続されているものとする。
【0031】まず時間領域モーメント法モデルに対応し
て、前述の(1)式が得られる。(1)式において電流
(t)と各ポートの印加電圧(t)以外は既知の量
であるとする。
【0032】次に各ポートからの入力がない場合、すな
わちポートが接続されていない場合には、各微小要素に
印加される電圧のベクトル(t)を0として、次式が
成立する。
【0033】
【数2】
【0034】ここで u (t)は、ポートが接続されて
いない場合に時間領域モーメント法モデルの各微小要素
に流れる電流を成分とするベクトルである。相互インピ
ーダンス行列の逆行列をアドミッタンス行列とすれ
ば、次式が成立する。
【0035】
【数3】
【0036】m個の微小要素のうち、i番目の微小要素
に流れる電流は(3)式の第i行となり、次式によって
与えられる。
【0037】
【数4】
【0038】ここで各ポートに電圧を加えた時、他ポー
トに流れる電流を計算する。ポートlにVl の電圧を印
加した時、k番目のポートに接続されているi番目の微
小要素に流れる電流は次式によって与えられる。この電
流は、(1)式において時間遅れ成分 e (t)を考え
ない場合の電流に相当する。
【0039】
【数5】
【0040】上式のYklは、ポートlに電圧が印加され
た時、k番目のポートに接続されているi番目の微小要
素とポートlとの間にアドミッタンスに相当するが、こ
のアドミッタンスは時間領域モーメント法モデルにおけ
るアドミッタンス行列の要素Yijと1対1に対応する
ものである。すなわち時間領域モーメント法モデ ルに
おけるi(j)番目の微小要素がk(l)番目のポート
と接続されている場合、YklとYijとは等しいことに注
意する必要がある。時間遅れ成分 e (t)を考慮する
と、m個の微小要素のうちのi番目の要素が、n個のポ
ートのうちでk番目のポートに接続されている場合、i
番目の微小要素に流れる電流は(5)式の電流と時間遅
れ成分による電流の和となり、次式によって与えられ
る。
【0041】
【数6】
【0042】i番目の要素がいずれのポートにも接続さ
れていない場合には、その要素に流れる電流は時間遅れ
成分だけに対応するものとなり、次式によって与えられ
る。
【0043】
【数7】
【0044】この(6),(7)式を、各行列とベクト
ルを用いて表現すると、次の(8),(9)式が得られ
【0045】
【数8】
【0046】(9)式を行列の形式で書けば、各微小要
素に流れる電流の行列は次式によって与えられる。
【0047】
【数9】
【0048】(10)式において、右辺のベクトル
各成分V1 からVm に対しては、各行に相当する微小要
素のうち、ポートに接続されている微笑要素に対応する
成分に対してのみ印加電圧の値が代入され、ベクトル
の他の成分の値は0とされる。また行列の要素も
(6)式のYklに対応する要素以外は0となる。
【0049】以上のように時間領域モーメント法モデル
におけるi番目の微小要素がk番目のポートに接続され
ている場合、その微小要素に流れる電流Ii k (t)は
独立電流源としてのIui k (t)と、各ポートに印加さ
れる電圧Vl によってそれぞれ制御されるn個の電圧依
存電流源Ykll によって決定されることになる。
【0050】図4はこのような考え方に従って、時間領
域モーメント法モデルを、各ポートに接続される電流源
に置き換えたモデルの説明図である。同図で、例えばポ
ートnに対しては独立電流源IとしてのIu n (t)
が、また電圧依存電流源GとしてYn11 からYnnn
までのn個の電圧依存電流源が接続されている。ここで
独立電流源Iu n (t)は(6)式、右辺第1項のIui
k (t)に相当するが、図4ではk 番目のポートが接
続されるi番目の微小要素の“i”が不明であるため下
付添字はuのみとなっている。
【0051】回路解析、例えばSPICEなどを用いた
回路解析では、図4に示されるモデルを回路解析法によ
って解くことにより、各ポート部における節点電圧とし
てのVn (t)が求められる。
【0052】図5は、以上のようにして求められた各ポ
ートに対する節点電圧を用いて、回路解析モデルを電圧
源に置き換えたモデルの説明図である。各ポートに接続
されているは独立電圧源であり、その値は図4におい
て回路解析によって求められた各ポートの節点電圧V1
からVn によって与えられる。そして図5のモデルを用
いて時間領域モーメント法による解析が行われ、m個の
各微小要素に流れる電流I1(t),I2(t),・・・
・,Im(t)を成分とするベクトル(t)が求めら
れる 。
【0053】このようにして各微小要素に流れる電流が
求められれば、電磁界は公知の方法によって求めること
ができ、その方法について簡単に説明する。まず電界圧
は次式によって求められる。
【0054】
【数10】
【0055】磁界は次式によって求められる。
【0056】
【数11】
【0057】これらの式でφはスカラーポテンシャル、
Aはベクトルポテンシャルを表す。スカラーポテンシャ
ルφはモデル上の電荷qの分布によって決定されるが、
qとモデルに流れる電流とは次の連続の式によって関
係づけられる。
【0058】
【数12】
【0059】従って電流分布がわかれば、電荷qを求め
ることができる。次にベクトルポテンシャルAについて
は、自由空間のグリーン関数Gを用いて次式が成立す
る。
【0060】
【数13】
【0061】(14)式は線状要素に対応し、積分は線
状要素に従って行われ、(15)式は、面状要素に対応
し、積分はモデル表面全体について行われる。以上のよ
うにしてモデルに流れる電流が分かれば、電磁界を算出
することができる。
【0062】図6、および図7は本実施形態における解
析処理のフローチャートである。同図において処理が開
始されると、まずステップS1でデータ入力が行われ
る。入力されるデータとしては、共通データとして解析
ステップ幅、すなわち後述する時間刻み、回路解析用デ
ータとして素子情報および節点情報、並びにどのポート
と回路内のどの節点がつながっているかを示すポートに
関する情報がある。
【0063】時間領域モーメント法解析用データとし
て、モデルを構成する微小要素の位置、その寸法および
材質に関する情報と、どのポートとどの微小要素がつな
がっているかを示すポートに関する情報がある。
【0064】ステップS1のデータ入力では、データ読
み込みルーチンを用いて、入力データから時間刻みの
幅、および解析終了時間が読み込まれ、図示しないメモ
リに保存される。また時間領域モーメント法に対応し
て、各微小要素の位置、寸法、および電気的特性がメモ
リに保存され、回路解析に対応して素子、および節点情
報がメモリに保存される。
【0065】図6のステップS2で相互インミッタンス
が計算され、メモリに保存される。ただし材質に関する
共通の係数、例えば透磁率や誘電率などはここでは乗算
されない。続いてステップS3で遅れ成分が判定され、
インピーダンス行列が作成される。このステップS
2,S3の処理は時間領域モーメント法における行列生
成ルーチンによって行われ、微小要素の位置データを基
にして各微小要素間の相互インピーダンス行列が作成さ
れ、その行列のうちで時間遅れ成分が判定、除外され、
インピーダンス、すなわちの行列が作成される。
【0066】続いてステップS4でインピーダンス行列
がLDU分解され、アドミッタンス行列、すなわち
行列が算出される。この算出は時間領域モーメント法
における行列演算ルーチンによって実行され、行列の各
要素はメモリに保存される。
【0067】ステップS5で解析の時刻tがその初期値
0とされた後に、各解析時刻における電磁界解析処理が
行われる。まずステップS6で時刻tの値が解析終了時
間Tより大きくなったか否かが判定され、ここではまだ
大きくなっていないものとして、次のステップ7の処理
に移行する。
【0068】ステップS7では、全てのポートに電圧が
印加されない場合に各ポートに流れる電流の計算が行わ
れる。この計算は時間領域モーメント法の電流算出ルー
チンによって行われる。そしてこの結果は回路解析ルー
チンに与えられる。
【0069】ステップ8、およびS9は回路解析ルーチ
ンによる処理である。ステップS8では、電流算出ルー
チンによって求められた電流値と行列演算ルーチンによ
って求められたアドミッタンス行列によって、ポート
部に独立電流源、および電圧依存電流源が配置され、ス
テップS9で回路解析による各ポート電圧の算出、すな
わちポートに設置された電流源、および入力データによ
り与えられた節点および素子情報を基にして、例えば代
表的な回路解析ソフトSPICEを用いて、ポート節点
間の電圧が回路解析ルーチンによって算出される。
【0070】図7のステップS10〜S13の処理は、
時間領域モーメント法の電流算出ルーチンによる処理で
ある。このルーチンでは時間データおよび微小要素の位
置データから、時間遅れ成分Re (t)がすでに計算さ
れており、ステップS10で図5で説明したように独立
電圧源が設定される。
【0071】ステップS11で時間遅れ成分が電圧項に
加えられ、ステップS12でポート印加電圧、時間遅れ
成分、およびアドミッタンス行列を用いた連立行列方
程式(8)、または(9)式が解かれ、電流ベクトル
が求められ、各微小要素に流れる電流が電流ファイル2
0に保存されると共に、必要に応じて端末装置21の表
示画面上に表示される。
【0072】そして電流ベクトルを用いてステップS
13で時間領域における電磁界が求められ、その結果が
電磁界ファイル22に保存されると共に、端末21の表
示画面上で表示が行われる。そしてステップS14で時
刻tの値が時間刻み幅Δtだけインクリメントされた
後、ステップ6以降の処理が繰り返される。
【0073】ステップ6で解析時刻tが解析終了時間T
を超えたと判定されると、ステップS15で高速フーリ
エ変換(FFT)ルーチンによって時間領域での電流が
周波数領域に変換され、その結果が電流ファイル23に
保存されると共に、端末21の表示画面上で表示され
る。またステップS16で周波数領域での電流値から周
波数領域での電磁界が電磁界算出ルーチンによって算出
され、その結果は電磁界ファイル24に格納されると共
に、端末21の表示画面上に表示されて処理を終了す
る。
【0074】次に本実施形態の解析方法を適用した具体
例について説明する。図8は、ダイポールアンテナに回
路が接続された解析対象に対する解析モデルを示す。同
図において、ダイポールアンテナ26は、時間領域モー
メント法モデル27として、5個の微小要素(ワイヤ)
に分割され、回路解析モデル28とは、2番目の微小要
素が1番目のポートに、4番目の微小要素が2番目のポ
ートに接続される形式で結合されているものとする。
【0075】前述の(6),(7)、および(10)式
に対応して、各微小要素に流れる電流は、次のような行
列によって表される。
【0076】
【数14】
【0077】ここで図8に示すように、2番目の微小要
素が1番目のポートに、4番目の微小要素が2番目のポ
ートに接続されていることから、次式の関係が成立する
ことに注意する必要がある。
【0078】Y11=Y22,Y12=Y24,Y21=Y42,Y
22=Y44図9は、図8に対応する時間行領域モーメント
法モデルを独立電流源と電圧依存電流源に置き換えたモ
デル、すなわち図4に相当するモデルを示す。図4と同
様に、ポート1とポート2とに、それぞれ1個の独立電
流源と2個の電圧依存電流源が配置されて、このモデル
を用いて回路解析が実行される。
【0079】次に本実施形態におけるシミュレーション
の例について説明する。図10はシミュレーションにお
ける解析モデルの説明図である。同図において入力端子
には、電圧1V、周波数100MHzの正弦波の波源
と、ダイオードが接続され、出力端子には伝送路線と、
マッチングをとるための抵抗276Ωが接続され、出力
端子には伝送線路とマッチングをとるため抵抗276Ω
が接続されている。入力端子と出力端子は、長さ30c
mの伝送路線によって結合され、この伝送路線の特性イ
ンピーダンスは276Ω、遅延時間は1nsであるとす
る。
【0080】図11は、図10の解析モデルに対する解
析結果としての、入出力電流の時間変化を示す。同図に
おいてI2が入力電流、I3が出力電流を示し、入力端
子にダイオードが接続されていることから入力電流、出
力電流は共に半波波形となり、出力電流は入力電流より
1ns遅れることが正しい解析結果として示されてい
る。なお電流(半波)波形の幅は約3nsであり、10
0MHzの交流の半周期(5ns)より短いが、これは
電源電圧が1Vで、ダイオードの順方向電圧によって電
流が流れない期間が存在するためである。
【0081】以上において、本発明の電磁界強度算出方
法についてその詳細を説明したが、この方法を実現する
電磁界強度算出装置は当然一般的なコンピュータシステ
ムとして構成することが可能である。図12はそのよう
なコンピュータシステム、すなわちハードウエア環境の
構成ブロック図である。
【0082】図12においてコンピュータシステムは中
央処理装置(CPU)30、リードオンリメモリ(RO
M)31、ランダムアクセスメモリ(RAM)32、通
信インタフェース33、記憶装置34、入出力装置3
5、可搬型記憶媒体の読み取り装置36、およびこれら
の全てが接続されたバス37によって構成されている。
【0083】記憶装置34としてはハードディスク、磁
気ディスクなど様々な形式の記憶装置を使用することが
でき、このような記憶装置34、またはROM31に図
6、図7のフローチャートに示されたプログラムや、本
発明の特許請求の範囲の請求項9,10のプログラムな
どが格納され、そのようなプログラムがCPU30によ
って実行されることにより本実施形態のように、回路解
析モデルと電磁波解析モデルとの間に複数のポートを持
つ解析対象に対する電磁界算出が可能となる。
【0084】このようなプログラムは、プログラム提供
者38側からネットワーク39、および通信インタフェ
ース33を介して、例えば記憶装置34に格納されるこ
とも、また市販され、流通している可搬型記憶媒体40
に格納され、読み取り装置36にセットされて、CPU
30によって実行されることも可能である。可搬型記憶
媒体40としてはCD−ROM、フレキシブルディス
ク、光ディスク、光磁気ディスクなど様々な形式の記憶
媒体を使用することができ、このような記憶媒体に格納
されたプログラムが読み取り装置36によって読み取ら
れることにより、本実施形態における電磁界強度算出が
可能となる。
【0085】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、解析対象が電磁波解析モデルと、回路解析モデル、
および2つのモデルを結合する複数のポートによって構
成されている場合に、解析対象から放射される電磁波に
よる電磁界の算出を行うことが可能となる。
【0086】また電磁波解析に時間領域モーメント法を
用いることによって、ダイポールアンテナやスパイラル
アンテナのようなアンテナと回路が接続されたような解
析対象に対しても、精度よく電磁界を算出することが可
能となり、電磁界強度算出装置の実用性向上に寄与する
ところが大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理的な機能ブロック図である。
【図2】本実施形態における電磁波解析モデルと回路解
析モデルとが結合した解析対象の説明図である。
【図3】図2の解析対象の電磁波解析モデルに対して時
間領域モーメント法を用いる場合のモデル構成の説明図
である。
【図4】時間領域モーメント法モデルを電流源に置き換
えた解析対象モデルの説明図である。
【図5】回路解析モデルを電圧源に置き換えた解析対象
モデルの説明図である。
【図6】電磁界算出処理のフローチャートである。
【図7】電磁界算出処理のフローチャート(続き)であ
る。
【図8】ダイポールアンテナが回路と接続されたモデル
の説明図である。
【図9】図8に対する回路解析時におけるモデルの説明
図である。
【図10】シミュレーションにおける解析モデルの説明
図である。
【図11】図10のモデルに対するシミュレーション結
果を示す図である。
【図12】本実施形態におけるプログラムのコンピュー
タへのローディングの説明図である。
【符号の説明】
10 電磁波解析モデル 11,15 回路解析モデル 14 時間領域モーメント法モデル 20,23 電流ファイル 21 端末装置 22,24 電磁界ファイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大津 信一 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 Fターム(参考) 5B046 AA07 JA10 5B056 BB02 BB42 HH00

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非線型回路部品を含む解析対象を、回路
    解析法を適用すべき回路解析モデル、電磁波解析方法を
    適用すべき電磁波解析モデル、および該2つのモデルを
    結合する接続箇所としての複数のポートに分離して、該
    解析対象から放射される電磁波による電磁界を算出する
    電磁界強度算出方法において、 前記複数の各ポートに独立電流源と電圧依存電流源とを
    配置して、回路解析によって各ポート部の電圧を算出
    し、 該算出された電圧の値を用いて各ポートに電圧源を配置
    し、電磁波解析によって解析対象に流れる電流を算出
    し、 解析の時間をステップ的にインクリメントし、該各ポー
    ト部の電圧算出と解析対象に流れる電流算出とを行うこ
    とを繰り返すことを特徴とする電磁界強度算出方法。
  2. 【請求項2】 前記回路解析法として修正節点解析法を
    用いることを特徴とする請求項1記載の電磁界強度算出
    方法。
  3. 【請求項3】 前記電磁波解析法として時間領域モーメ
    ント法を用いることを特徴とする請求項1記載の電磁界
    強度算出方法。
  4. 【請求項4】 前記回路解析による電圧算出に先立っ
    て、前記時間領域モーメント法の適用のために解析対象
    の微小要素への分割を行い、 該微小要素間のアドミッタンスを要素とするアドミッタ
    ンス行列の要素の1部を用いて前記電圧依存電流源の設
    定を行うことを特徴とする請求項3記載の電磁界強度算
    出方法。
  5. 【請求項5】 前記回路解析による電圧算出に先立っ
    て、前記複数の各ポートのいずれにも電圧を印加しない
    状態で該各ポートに流れる電流を算出し、 該算出された電流値を用いて前記独立電流源の設定を行
    うことを特徴とする請求項1記載の電磁界強度算出方
    法。
  6. 【請求項6】 前記解析対象に流れる電流の算出結果を
    用いて解析対象から放射される電磁界を求め、前記繰り
    返しにおいても該電磁界を求めることを特許とする請求
    項1記載の電磁界強度算出方法。
  7. 【請求項7】 前記繰り返しの後に、時間領域で求めら
    れた解析対象に流れる電流を周波数領域における値に変
    換し、 該変換後の電流値を用いて解析対象から放射される、周
    波数領域における電磁界を求められることを特徴とする
    請求項1記載の電磁界強度算出方法。
  8. 【請求項8】 非線型回路部品を含む解析対象を、回路
    解析法を適用すべき回路解析モデル、電磁波解析法を適
    用すべき電磁波解析モデル、および該2つのモデルを結
    合する接続箇所としての複数のポートに分離して、該解
    析対象から放射される電磁波による電磁界を算出する電
    磁界強度算出装置において、 前記各ポートに独立電流源および電圧依存電流源を配置
    して、回路解析により各ポート部の電圧を算出する回路
    解析手段と、 該算出された電圧の値を用いて各ポートに電圧源を配置
    し、電磁波解析によって解析対象に流れる電流を算出す
    る電流算出手段と、 解析の時間をステップ的にインクリメントし、該回路解
    析手段による電圧算出と、電流算出手段による解析対象
    に流れる電流算出とを繰り返させる制御を行う繰り返し
    計算制御手段とを備えることを特徴とする電磁界強度算
    出装置。
  9. 【請求項9】 非線型回路部品を含む解析対象を、回路
    解析法を適用すべき回路解析モデル、電磁波解析方法を
    適用すべき電磁波解析モデル、および該2つのモデルを
    結合する接続箇所としての複数のポートに分離して、該
    解析対象から放射される電磁波による電磁界を算出する
    計算機によって使用されるプログラムにおいて、 前記複数の各ポートに独立電流源と電圧依存電流源とを
    配置して、回路解析によって各ポート部の電圧を算出す
    る手順と、 該算出された電圧の値を用いて各ポートに電圧源を配置
    し、電磁波解析によって解析対象に流れる電流を算出す
    る手順と、 解析の時間をステップ的にインクリメントし、該各ポー
    ト部の電圧算出と解析対象に流れる電流算出とを行うこ
    とを繰り返す手順とを計算機に実行させるプログラム。
  10. 【請求項10】 非線型回路部品を含む解析対象を、回
    路解析法を適用すべき回路解析モデル、電磁波解析法を
    適用すべき電磁波解析モデル、および該2つのモデルを
    結合する接続箇所としての複数のポートに分離して、該
    解析対象から放射される電磁波による電磁界を算出する
    計算機によって使用される記憶媒体において、 前記複数の各ポートに独立電流源と電圧依存電流源とを
    配置して、回路解析によって各ポート部の電圧を算出す
    るステップと、 該算出された電圧の値を用いて各ポートに電圧源を配置
    し、電磁波解析によって解析対象に流れる電流を算出す
    るステップと、 解析の時間をステップ的にインクリメントし、該各ポー
    ト部の電圧算出と解析対象に流れる電流算出とを行うこ
    とを繰り返すステップとを計算機に実行させるプログラ
    ムを格納した計算機読み出し可能可搬型記憶媒体。
JP2002015671A 2002-01-24 2002-01-24 電磁界強度算出方法および算出装置 Withdrawn JP2003216681A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002015671A JP2003216681A (ja) 2002-01-24 2002-01-24 電磁界強度算出方法および算出装置
US10/151,110 US20030139914A1 (en) 2002-01-24 2002-05-21 Electromagnetic field intensity calculating method and apparatus
DE10231304A DE10231304B4 (de) 2002-01-24 2002-07-10 Verfahren und Vorrichtung zur Berechnung der elektromagnetischen Feldintensität

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002015671A JP2003216681A (ja) 2002-01-24 2002-01-24 電磁界強度算出方法および算出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003216681A true JP2003216681A (ja) 2003-07-31

Family

ID=19191958

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002015671A Withdrawn JP2003216681A (ja) 2002-01-24 2002-01-24 電磁界強度算出方法および算出装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20030139914A1 (ja)
JP (1) JP2003216681A (ja)
DE (1) DE10231304B4 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006337029A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Fujitsu Ltd 静電気放電分析装置及び方法
US7987076B2 (en) 2005-09-09 2011-07-26 Fujitsu Limited Electromagnetic field simulator and electromagnetic field simulation program storage medium
US8065101B2 (en) 2005-03-28 2011-11-22 Fujitsu Limited Electromagnetic field intensity calculating method and apparatus

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7638168B2 (en) 2005-11-10 2009-12-29 Eastman Kodak Company Deposition system using sealed replenishment container
US20070136044A1 (en) * 2005-12-13 2007-06-14 Beattie Michael W Efficient simulation of dominantly linear circuits

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5313398A (en) * 1992-07-23 1994-05-17 Carnegie Mellon University Method and apparatus for simulating a microelectronic circuit
JP3633765B2 (ja) * 1997-11-19 2005-03-30 富士通株式会社 シミュレーション装置及びシミュレーションプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2001356142A (ja) * 2000-06-14 2001-12-26 Fujitsu Ltd 電磁界強度算出装置、算出方法、および算出結果表示方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8065101B2 (en) 2005-03-28 2011-11-22 Fujitsu Limited Electromagnetic field intensity calculating method and apparatus
JP2006337029A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Fujitsu Ltd 静電気放電分析装置及び方法
US7987076B2 (en) 2005-09-09 2011-07-26 Fujitsu Limited Electromagnetic field simulator and electromagnetic field simulation program storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
US20030139914A1 (en) 2003-07-24
DE10231304A1 (de) 2003-08-07
DE10231304B4 (de) 2006-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Bagci et al. Fast and rigorous analysis of EMC/EMI phenomena on electrically large and complex cable-loaded structures
Yilmaz et al. A parallel FFT accelerated transient field-circuit simulator
Yilmaz et al. Time domain adaptive integral method for surface integral equations
Aygun et al. A two-level plane wave time-domain algorithm for fast analysis of EMC/EMI problems
Celik et al. Simulation of multiconductor transmission lines using Krylov subspace order-reduction techniques
Ferranti et al. Multipoint full-wave model order reduction for delayed PEEC models with large delays
JP2001319178A (ja) 非線形ブラックボックス挙動モデルの抽出に用いられる励起信号及び動径基底関数法
US7027941B2 (en) Device and method for calculating electro-magnetic field intensity by cooperation of circuit analyses and electro-magnetic wave analyses
JPH06325119A (ja) 回路シミュレータの制御方法
Ye et al. A hybrid method combining the novel TD-SC technique and FDTD method for the EMI analysis of transmission line network
Barmada et al. Transient numerical solutions of nonuniform MTL equations with nonlinear loads by wavelet expansion in time or space domain
Xiong et al. Volterra series-based time-domain macromodeling of nonlinear circuits
US20070038428A1 (en) S-matrix technique for circuit simulation
US7373289B2 (en) Electrical isomorphism
JP2003216681A (ja) 電磁界強度算出方法および算出装置
Antonini et al. Broadband macromodels for retarded partial element equivalent circuit (rPEEC) method
Sarkar et al. Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology
JP4233513B2 (ja) 解析装置、解析プログラム、および解析プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体
JP3505062B2 (ja) モーメント法を用いたシミュレーション装置及びシミュレーション方法並びにプログラム記憶媒体
Chu et al. Transient analysis of microwave active circuits based on time-domain characteristic models
JP4931643B2 (ja) 電磁界回路連携解析装置、電磁界回路連携解析プログラム、電磁界回路連携解析プログラムを格納した記録媒体および電磁界回路連携解析方法
Zhou et al. Application of the Padé approximation via Lanczos (PVL) algorithm to electromagnetic systems with expansion at infinity
Mohan et al. Causal reduced-order modeling of distributed structures in a transient circuit simulator
Dong et al. A hybrid broadband analysis approach for surface-wire junctions structures by applying AIM and asymptotic waveform evaluation technique
Celik et al. Simulation of lossy multiconductor transmission lines using backward Euler integration

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040927

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20061005