JP2003205383A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 被加工物の内部改質及び蒸散加工に好適な、
安価で使い勝手の良いレーザ加工装置を提供する。 【解決手段】 被加工物に対して光透過性の波長を有す
る超短パルスの第1レーザ光を発する第1レーザ光源1
と、被加工物に対して光透過性の波長を有し前記第1レ
ーザ光より長いパルス幅又は連続光の第2レーザ光を発
する第2レーザ光源2と、前記第1レーザ光の導光と同
時又はその照射の直後に前記第2レーザ光を重畳させて
被加工物20に導光する導光手段と、を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光により被
加工物の内部改質及び蒸散加工を行うに好適なレーザ加
工装置に関する。
【0002】
【従来技術】従来、レーザ光を用いた材料の内部改質及
び蒸散加工においては、材料に対して光透過性の波長を
有する超短パルスのレーザ光を内部に集光させ、多光子
吸収によりエネルギ密度の高い部分で内部改質及び蒸散
加工を行う方法が知られている(特表平9−51168
8、特開平11−267861等)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、材料に特有の加工閾値を超えたネルギ密
度を必要とし、出力の大きな超短パルスレーザ光源が必
要となる。超短パルスレーザの出力を大きくするために
は、特殊な増幅装置をレーザ光源に組み合わせる必要が
あり、レーザ光源の高コスト化、レーザ光源の大型化に
よるレーザ装置全体の大型化を招く他、光学系調整の複
雑さ、メンテナンスの煩雑さ、出力安定性・信頼性の低
下などの問題があった。
【0004】本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、
安価で使い勝手の良いレーザ加工装置を提供することを
技術課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とす
る。 (1) 被加工物をレーザ光により加工するレーザ加工
装置において、被加工物に対して光透過性の波長を有す
る超短パルスの第1レーザ光を発する第1レーザ光源
と、被加工物に対して光透過性の波長を有し前記第1レ
ーザ光より長いパルス幅又は連続光の第2レーザ光を発
する第2レーザ光源と、前記第1レーザ光の導光と同時
又はその照射の直後に前記第2レーザ光を重畳させて被
加工物に導光する導光手段と、を備えることを特徴とす
る。 (2) (1)のレーザ加工装置において、前記第1レ
ーザ光は10フェムト秒〜数十ピコ秒のパルス幅であ
り、前記第2レーザ光は100ピコ秒以上のパルス幅で
あることを特徴とする。 (3) (1)のレーザ加工装置において、前記導光手
段は第1レーザ光源からの第1レーザ光を被加工物に所
定のスポットサイズで集光する集光する集光光学系を備
え、前記第1レーザ光源は前記集光光学系による集光に
より被加工物に一時的な欠陥を生じさせるエネルギ密度
のレーザ出力であるが、被加工物の加工閾値を越えない
エネルギ密度のレーザ出力であることを特徴とする。 (4) (1)の導光手段は、前記第1レーザ光を所定
のスポットサイズで被加工物に導光する第1導光光学系
と、前記第2レーザ光を前記第1レーザ光のスポットサ
イズより大きなサイズで被加工物に導光する第2導光光
学系と、を備えることを特徴とする。 (5) (1)の第2レーザ光の波長は、前記第1レー
ザ光の波長と同じかそれより短い波長であることを特徴
とする。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は本発明に係るレーザ加工装置
の構成を示す図である。
【0007】図1において、1は超短パルスレーザ光を
発するレーザ光源である。本実施形態では、レーザ光源
1として中心波長約800nmのレーザ光を発するチタ
ンサファイアレーザを使用している。レーザ光のパルス
幅は10フェムト秒〜数十ピコ秒が好ましい。2は10
0ピコ秒より長いパルス幅のレーザ光を発するレーザ光
源であり、より好ましくはナノ秒より長いのレーザ光と
する。また、レーザ光源2が発するレーザ光は、レーザ
光源1が発するレーザ光の波長と略同じかそれよりも短
い波長が好ましい。本実施形態では、レーザ光源2とし
てNd:YAGレーザの基本波長1064nmからその
第2高調波である波長532nmに波長変換したレーザ
光を発するものを使用している。レーザ光源2が発する
レーザ光は連続光であっても良い。また、レーザ光源1
及び2のレーザ光は、共に加工材料20に対して光透過
性を持つものである。
【0008】レーザ光源1からの超短パルスのレーザ光
は、ミラー12、集光レンズ13から構成される第1導
光光学系により被加工物である加工材料20に導光され
る。集光レンズ13は、レーザ光を加工材料20の内部
で微小なスポットサイズに集光する。微細加工において
は、集光点でのスポットサイズを小さくするのが有利で
あり、スポットサイズが小さいほどエネルギ密度も大き
くすることができる。例えば、集光点でのスポットサイ
ズが0.5〜5μmとなる焦点距離を持つ集光レンズ1
3を使用する。
【0009】また、レーザ光源2からの長パルスのレー
ザ光は、ミラー10、ダイクロイックミラー11、上記
の第1導光光学系と共通で使用するミラー12及び集光
レンズ13から構成される第2導光光学系により、加工
材料20に導光される。ダイクロイックミラー11は波
長800nmのレーザ光を透過し、波長532nmのレ
ーザ光を反射する特性を持つ。
【0010】加工材料20は、例えばガラス材料であ
り、位置決め装置としてのステージ30上に置かれてい
る。ステージ30は水平方向(さらには上下方向)に移
動し、加工材料20に集光されるレーザスポットの位置
を相対的に変化させる。また、レーザ光源1、2及びス
テージ30は制御ユニット3に接続されており、制御ユ
ニット3は各レーザ光源1、2の出射のタイミング及び
ステージ30の移動を制御する。
【0011】加工時には、制御ユニット3はステージ3
0を駆動し、加工材料20の加工点を集光レンズ13の
集光位置に移動した後、制御信号を発してレーザ光源1
とレーザ光源2を駆動する。レーザ光源1からの超短パ
ルスレーザ光は、ミラー12、集光レンズ13を経て加
工材料に照射される。また、レーザ光源2からの長パル
スレーザ光は、ミラー10によって反射された後、ダイ
クロイックミラー11によって超短パルスレーザ光と同
軸にされ、ミラー12、集光レンズ13を経て加工材料
に照射される。制御ユニット3は、第1導光光学系によ
るレーザ照射と第2導光光学系によるレーザ照射を重畳
させるように、各レーザ光源1,2のレーザ出力のタイ
ミングを制御する。
【0012】レーザ光源1からの超短パルスレーザ光及
びレーザ光源2からの長パルスレーザ光は、単独では加
工材料20の内部改質あるいは蒸散加工の加工閾値に達
しないエネルギ密度の出力である。それぞれ単独でのレ
ーザ光の照射では加工材料20の加工ができないが、レ
ーザ光源1からの超短パルスのレーザ光を照射すると共
に、その照射と同時叉はその直後に第2レーザ光源から
の比較的長いパルス幅のレーザ光を重畳させて照射する
ことにより、材料内部に加工を施す。
【0013】こうした2つのレーザ照射による加工の動
作を、図2を使用して説明する。まず、レーザ光源1か
らの超短パルスレーザ光を照射することにより(図2
(a)参照)、本来なら光エネルギを吸収しない透明材
料に、多光子吸収過程による吸収が起こるようになる。
このとき、透明材料にはカラーセンタ等の過渡的な欠陥
(ディフェクト)準位が形成される。この準位により比
較的短い時間ではあるが、透明材料が光を吸収する状態
に変化する。すなわち、図2(b)に示すように、透明
材料の光の吸収率が一時的に上昇する。
【0014】ここで、図2(c)に示す長パルス幅のレ
ーザ光をレーザ光源2から照射する。この長パルス幅の
レーザ光を照射するタイミングは、超短パルスレーザの
照射を含むように同時叉は超短パルスレーザの照射直後
とし、長パルスレーザのパルス時間幅の中に透明材料の
吸収率が一時的に上昇した時間が含まれるようにする。
図2の例では、先に長パルス幅のレーザ光を照射し、そ
のパルス時間幅の間に超短パルスレーザ光の照射を含ま
れるを照射している。透明材料の光の吸収率が上昇した
間にレーザ光源2から照射すれば、本来吸収がないはず
の透明材料にレーザ光が吸収される。この吸収されるエ
ネルギにより、さらに欠陥準位が持続されることもあり
(図2(b)における点線)、長パルスレーザ光のエネ
ルギが効率良く透明材料に伝達される。この結果、エネ
ルギ密度が材料の加工閾値に達することになり、加工
(内部改質あるいは蒸散加工)が進むことになる。この
ため、レーザ光源1は加工材料20に一時的な欠陥を生
じさせる程度のエネルギ密度の出力で良く、光源を大型
化させずに済む。
【0015】さらに、以上においては、長パルスレーザ
光を超短パルスレーザ光の波長以下の短い波長とするこ
とによって、多光子吸収過程に関与する光子の数を少な
くすることが可能となり、より吸収され易くなる。その
結果として多くのエネルギが材料に有効に吸収される。
【0016】図1では超短パルスレーザ光と長パルスレ
ーザ光を同軸に合成し、集光レンズ13を共用して加工
材料20に照射しているが、それぞれ別の導光光学系を
用意し、加工材料20上で重ねて照射しても良い。この
とき、図3に示すように、レーザ光源2の長パルスレー
ザ光の照射スポットを超短パルスレーザ光の照射スポッ
トより広げると(例えば、シート状に広げて照射す
る)、超短パルスレーザ光との重なり部分だけで加工が
進行することになり、加工位置の制御性を高めることが
できる。
【0017】また、以上の実施形態では被加工物をガラ
ス材料としたが、レーザ光の透過特性を持つものであれ
ば、本発明を好適に適用できる。例えば、生体における
眼の角膜組織であっても良い。角膜組織においては、角
膜をアブレーションして曲率を変化させ、屈折矯正を行
う手術に適用できる。また、ArFエキシマレーザによ
る屈折矯正の前処置としての角膜フラップの形成に適用
できる。角膜手術の場合、レーザ光のスポットを2次元
的叉は3次元的に移動するように走査する光学系を導光
光学系に設けて構成すれば良い。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
安価で使い勝手の良いレーザ加工装置を実現でき、その
装置により効率良く加工を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るレーザ加工装置の構成を示す図で
ある。
【図2】2つのレーザ照射による加工の動作を説明する
図である。
【図3】長パルスレーザ光の照射スポットを、超短パル
スレーザ光の照射スポットより広げて照射する場合を説
明する図である。
【符号の説明】
1 レーザ光源 2 レーザ光源 3 制御ユニット 10 ミラー 11 ダイクロイックミラー 12 ミラー 13 集光レンズ 20 加工材料

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物をレーザ光により加工するレー
    ザ加工装置において、被加工物に対して光透過性の波長
    を有する超短パルスの第1レーザ光を発する第1レーザ
    光源と、被加工物に対して光透過性の波長を有し前記第
    1レーザ光より長いパルス幅又は連続光の第2レーザ光
    を発する第2レーザ光源と、前記第1レーザ光の導光と
    同時又はその照射の直後に前記第2レーザ光を重畳させ
    て被加工物に導光する導光手段と、を備えることを特徴
    とするレーザ加工装置。
  2. 【請求項2】 請求項1のレーザ加工装置において、前
    記第1レーザ光は10フェムト秒〜数十ピコ秒のパルス
    幅であり、前記第2レーザ光は100ピコ秒以上のパル
    ス幅であることを特徴とするレーザ加工装置。
  3. 【請求項3】 請求項1のレーザ加工装置において、前
    記導光手段は第1レーザ光源からの第1レーザ光を被加
    工物に所定のスポットサイズで集光する集光する集光光
    学系を備え、前記第1レーザ光源は前記集光光学系によ
    る集光により被加工物に一時的な欠陥を生じさせるエネ
    ルギ密度のレーザ出力であるが、被加工物の加工閾値を
    越えないエネルギ密度のレーザ出力であることを特徴と
    するレーザ加工装置。
  4. 【請求項4】 請求項1の導光手段は、前記第1レーザ
    光を所定のスポットサイズで被加工物に導光する第1導
    光光学系と、前記第2レーザ光を前記第1レーザ光のス
    ポットサイズより大きなサイズで被加工物に導光する第
    2導光光学系と、を備えることを特徴とするレーザ加工
    装置。
  5. 【請求項5】 請求項1の第2レーザ光の波長は、前記
    第1レーザ光の波長と同じかそれより短い波長であるこ
    とを特徴とするレーザ加工装置。
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Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006035315A (ja) * 2004-07-27 2006-02-09 Snecma 少なくとも二つの部品をレーザ溶接する方法、およびこの方法を適用する関連する装置
JP2006166275A (ja) * 2004-12-10 2006-06-22 Seiko Epson Corp 水晶デバイスの製造方法
JP2006239730A (ja) * 2005-03-02 2006-09-14 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザーアブレーションによる加工方法と前記加工方法により加工された材料
JP2008272794A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Cyber Laser Kk レーザによる加工方法およびレーザ加工装置
JP2009528170A (ja) * 2006-03-02 2009-08-06 コリア リサーチ インスティチュート オブ スタンダーズ アンド サイエンス 物質状態変移の誘発を通じてのレーザー加工方法及び加工装置
US8097829B2 (en) * 2006-04-27 2012-01-17 Hitachi Zosen Corporation Laser processing method and laser processing apparatus
JP2012521893A (ja) * 2009-03-30 2012-09-20 ボエグリ − グラビュル ソシエテ アノニム 硬質材料をコーティングされた固体表面をレーザにより構造化する方法と装置
JP2012521892A (ja) * 2009-03-30 2012-09-20 ボエグリ − グラビュル ソシエテ アノニム 硬質材料をコーティングした物体の表面をレーザーによって構造化する方法及び装置
JP2013022627A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Aisin Seiki Co Ltd レーザによる割断方法、レーザ割断装置、およびレーザ光発生装置
WO2013051245A1 (en) * 2011-10-07 2013-04-11 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for laser-beam processing and method for manufacturing ink jet head
JP2013146781A (ja) * 2012-01-23 2013-08-01 Hamamatsu Photonics Kk レーザ加工方法及びレーザ加工装置、並びにシンチレータ構造体の製造方法
JP2013146747A (ja) * 2012-01-17 2013-08-01 Aisin Seiki Co Ltd レーザによる割断方法、及びレーザ割断装置
JP2013539911A (ja) * 2010-09-21 2013-10-28 中国科学院理化技術研究所 レーザマイクロ・ナノ加工システム及び方法
CN104117775A (zh) * 2013-04-23 2014-10-29 爱信精机株式会社 裂纹生成方法、利用激光的切割方法以及裂纹生成装置
WO2015108991A3 (en) * 2014-01-17 2015-10-15 Imra America, Inc. Laser-based modification of transparent materials
JP2016514055A (ja) * 2013-02-28 2016-05-19 アイピージー フォトニクス コーポレーション サファイアを処理するためのレーザーシステム及びそれを用いた方法
KR101770836B1 (ko) * 2009-08-11 2017-08-23 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 레이저 가공장치 및 레이저 가공방법
JP2017225994A (ja) * 2016-06-22 2017-12-28 三菱重工業株式会社 レーザ加工装置およびレーザ加工方法
CN109732198A (zh) * 2019-01-31 2019-05-10 华中科技大学 一种硬脆材料双光束热裂加工装置及方法
WO2019146653A1 (ja) * 2018-01-29 2019-08-01 浜松ホトニクス株式会社 加工装置
WO2019156183A1 (ja) * 2018-02-09 2019-08-15 国立大学法人東京大学 加工装置、加工方法、及び透明な基板
JP2020112626A (ja) * 2019-01-09 2020-07-27 住友電気工業株式会社 波長変換光デバイスおよびその製造方法
WO2021107043A1 (ja) * 2019-11-27 2021-06-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 レーザ加工装置
CN113601027A (zh) * 2021-08-04 2021-11-05 广东工业大学 一种双激光复合隐形切割方法及加工***
US11482826B2 (en) 2018-01-12 2022-10-25 Ricoh Company, Ltd. Optical processing apparatus, optical processing method, and optically-processed product production method

Cited By (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006035315A (ja) * 2004-07-27 2006-02-09 Snecma 少なくとも二つの部品をレーザ溶接する方法、およびこの方法を適用する関連する装置
JP2006166275A (ja) * 2004-12-10 2006-06-22 Seiko Epson Corp 水晶デバイスの製造方法
JP2006239730A (ja) * 2005-03-02 2006-09-14 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザーアブレーションによる加工方法と前記加工方法により加工された材料
JP2009528170A (ja) * 2006-03-02 2009-08-06 コリア リサーチ インスティチュート オブ スタンダーズ アンド サイエンス 物質状態変移の誘発を通じてのレーザー加工方法及び加工装置
US8097829B2 (en) * 2006-04-27 2012-01-17 Hitachi Zosen Corporation Laser processing method and laser processing apparatus
CN101293307B (zh) * 2007-04-27 2013-06-19 彩覇阳光株式会社 基于激光的加工方法及激光加工装置
JP2008272794A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Cyber Laser Kk レーザによる加工方法およびレーザ加工装置
TWI413561B (zh) * 2007-04-27 2013-11-01 Cyber Laser Inc 利用雷射之加工方法及雷射加工裝置
US9993895B2 (en) 2009-03-30 2018-06-12 Boegli-Gravures Sa Method and device for structuring the surface of a hard material coated solid body by means of a laser
JP2012521892A (ja) * 2009-03-30 2012-09-20 ボエグリ − グラビュル ソシエテ アノニム 硬質材料をコーティングした物体の表面をレーザーによって構造化する方法及び装置
US9156107B2 (en) 2009-03-30 2015-10-13 Boegli-Gravures S.A. Method and device for structuring the surface of a hard material coated solid body by means of a laser
JP2012521893A (ja) * 2009-03-30 2012-09-20 ボエグリ − グラビュル ソシエテ アノニム 硬質材料をコーティングされた固体表面をレーザにより構造化する方法と装置
US10556293B2 (en) 2009-08-11 2020-02-11 Hamamatsu Photonics K.K. Laser machining device and laser machining method
EP2465634A4 (en) * 2009-08-11 2017-08-23 Hamamatsu Photonics K.K. Laser machining device and laser machining method
KR101770836B1 (ko) * 2009-08-11 2017-08-23 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 레이저 가공장치 및 레이저 가공방법
JP2013539911A (ja) * 2010-09-21 2013-10-28 中国科学院理化技術研究所 レーザマイクロ・ナノ加工システム及び方法
JP2013022627A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Aisin Seiki Co Ltd レーザによる割断方法、レーザ割断装置、およびレーザ光発生装置
JP2013144312A (ja) * 2011-10-07 2013-07-25 Canon Inc レーザ加工方法、レーザ加工装置及びインクジェットヘッドの製造方法
WO2013051245A1 (en) * 2011-10-07 2013-04-11 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for laser-beam processing and method for manufacturing ink jet head
US20140245608A1 (en) * 2011-10-07 2014-09-04 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for laser-beam processing and method for manufacturing ink jet head
JP2013146747A (ja) * 2012-01-17 2013-08-01 Aisin Seiki Co Ltd レーザによる割断方法、及びレーザ割断装置
JP2013146781A (ja) * 2012-01-23 2013-08-01 Hamamatsu Photonics Kk レーザ加工方法及びレーザ加工装置、並びにシンチレータ構造体の製造方法
JP2016514055A (ja) * 2013-02-28 2016-05-19 アイピージー フォトニクス コーポレーション サファイアを処理するためのレーザーシステム及びそれを用いた方法
CN104117775A (zh) * 2013-04-23 2014-10-29 爱信精机株式会社 裂纹生成方法、利用激光的切割方法以及裂纹生成装置
US10137527B2 (en) 2014-01-17 2018-11-27 Imra America, Inc. Laser-based modification of transparent materials
WO2015108991A3 (en) * 2014-01-17 2015-10-15 Imra America, Inc. Laser-based modification of transparent materials
US11117221B2 (en) 2016-06-22 2021-09-14 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Laser machining device and laser machining method
JP2017225994A (ja) * 2016-06-22 2017-12-28 三菱重工業株式会社 レーザ加工装置およびレーザ加工方法
WO2017221931A1 (ja) * 2016-06-22 2017-12-28 三菱重工業株式会社 レーザ加工装置およびレーザ加工方法
US11482826B2 (en) 2018-01-12 2022-10-25 Ricoh Company, Ltd. Optical processing apparatus, optical processing method, and optically-processed product production method
KR102629438B1 (ko) * 2018-01-29 2024-01-25 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 가공 장치
JP2019130538A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 浜松ホトニクス株式会社 加工装置
TWI801490B (zh) * 2018-01-29 2023-05-11 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 加工裝置
JP7188886B2 (ja) 2018-01-29 2022-12-13 浜松ホトニクス株式会社 加工装置
CN111655420A (zh) * 2018-01-29 2020-09-11 浜松光子学株式会社 加工装置
KR20200112878A (ko) * 2018-01-29 2020-10-05 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 가공 장치
WO2019146653A1 (ja) * 2018-01-29 2019-08-01 浜松ホトニクス株式会社 加工装置
WO2019156183A1 (ja) * 2018-02-09 2019-08-15 国立大学法人東京大学 加工装置、加工方法、及び透明な基板
JP2020112626A (ja) * 2019-01-09 2020-07-27 住友電気工業株式会社 波長変換光デバイスおよびその製造方法
JP7392792B2 (ja) 2019-01-09 2023-12-06 住友電気工業株式会社 波長変換光デバイス
CN109732198B (zh) * 2019-01-31 2020-05-19 华中科技大学 一种硬脆材料双光束热裂加工装置及方法
CN109732198A (zh) * 2019-01-31 2019-05-10 华中科技大学 一种硬脆材料双光束热裂加工装置及方法
WO2021107043A1 (ja) * 2019-11-27 2021-06-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 レーザ加工装置
CN113601027A (zh) * 2021-08-04 2021-11-05 广东工业大学 一种双激光复合隐形切割方法及加工***

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