JP2003194688A - Bending tester - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一対の曲げ支点に
より試験片の両端部を支えた状態で、その上方から曲げ
ポンチを下降させて試験片に曲げ負荷を加える曲げ試験
機に関し、特に、曲げ支点上への試験片のセットと、試
験済みの試験片の回収を自動化した自動曲げ試験機への
応用に適した曲げ試験機に関する。
【0002】
【従来の技術】曲げ試験機においては、通常、所定のス
パンを開けて一対の曲げ支点を配置するとともに、試験
片の両端部をその各曲げ支点で支えた状態で、試験片の
中央部に曲げポンチを上方から下降させることによっ
て、試験片に対して曲げ負荷を加える。
【0003】図4に従来の曲げ試験機の要部構成例を部
分断面図で示す。この例において、一対の曲げ支点41
a,41bはテーブル42上に配置され、その上方に曲
げポンチ43が配置されている。曲げポンチ43は、ク
ロスヘッド等の移動部材44にロードセル45を介して
取り付けられており、その移動部材44が図4の状態か
ら下降すことによって、曲げ支点41a,41bに両端
部が支持された試験片Wに対して曲げ負荷を加える。
【0004】曲げポンチ43には飛散防止カバー46が
装着されており、この飛散防止カバー46は曲げポンチ
43の下降時に曲げ支点41a,41b並びに試験片W
の周囲および上方を覆った状態となり、これによって曲
げポンチ43の下降により曲げ負荷が加えられた試験片
Wが飛散することを防止するようになっている。また、
テーブル42には、一対の曲げ支点41a,41bの間
で開口する試験片回収口47が形成されており、この試
験片回収口47はテーブル42の下方に設けられた試験
片回収ボックス48に連通し、試験済みの試験片Wが破
断片を含めて試験片回収口47を介して試験片回収ボッ
クス48内に落下するように考慮されている。
【0005】また、このような曲げ試験機において、例
えば真空引きされる吸盤を備えた搬送装置等を設けて、
試験片Wを一対の曲げ支点41a,41b上に順次自動
的に搬送する自動曲げ試験機も実用化されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、以上の従来
の曲げ試験機においては、飛散防止カバー46によって
試験片Wの周囲への飛散を防止することができるもの
の、試験片Wの種類によっては、破断片が飛散防止カバ
ー46内の一定しない場所に飛散する可能性があり、試
験片回収口47以外のテーブル42上や他の治具上に落
下して、試験片回収ボックス48内に回収できない可能
性があった。
【0007】そのため、搬送装置を設けて試験片Wを順
次自動的に曲げ支点41a,41b上に搬送する自動曲
げ試験機においては、試験済みの試験片やその破断片の
回収が完全ではなくなり、長時間にわたって無人運転を
行うことが困難であるという問題があった。
【0008】本発明の目的は、試験済みの試験片や破断
片を確実に回収することができ、試験片の搬送装置とを
組み合わせることによって、長期にわたって無人運転が
可能な曲げ試験機を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の自動曲げ試験機は、試験片の両端部を支持
すべく所定のスパンを開けて対向配置された一対の曲げ
支点と、その各曲げ支点により両端部が支持された試験
片の上方から下降して当該試験片に曲げ負荷を加える曲
げポンチを備えた曲げ試験機において、上記ポンチに連
動して上下動し、ポンチの下降時に上記一対の曲げ支点
の周囲および上方を覆うための周壁および天井部を備え
た飛散防止カバーと、上記一対の曲げ支点のスパン方向
外側に配置された揺動自在の一対の試験片収集板と、そ
の各試験片収集板を揺動させる駆動機構と、上記一対の
曲げ支点の間に設けられた試験片回収口を有し、上記各
試験片収集板は、飛散防止カバーの下降状態で各曲げ支
点からスパン方向外側に位置して略水平に広がる横板部
と、その横板部の外側端部から立ち上がってその上端部
が飛散防止カバーの天井部近傍にまで至る立ち上がり部
を備えるとともに、飛散防止カバーの上昇時には上記横
板部の外側端部が上昇する向きに揺動駆動され、横板部
上に落下した試験済の試験片を上記試験片回収口内に滑
落させるように構成されていることによって特徴づけら
れる。
【0010】本発明は、下降状態の飛散防止カバーの内
側に、当該飛散防止カバー内において試験済みの試験片
やその破断片の飛散を更に規制して一対の試験片収集板
上に落下させ、その試験片収集板を揺動させることによ
って試験片やその破断片を滑落させて確実に試験片回収
口内に導こうとするものである。
【0011】すなわち、下降状態の飛散防止カバー内で
一対の曲げ支点のスパン方向外側に広がりを持つ横板部
と、その各横板部の外側端部で飛散防止カバーの天井部
近傍にまで至る立ち上がり部を有する一対の試験片収集
板を設けることにより、曲げ試験により飛散する試験片
やその破断片は、飛散防止カバーと各試験片収集板の立
ち上がり部に遮られて、各試験片収集板の横板部上に落
下する。飛散防止カバーの上昇時に、つまり曲げ負荷を
加えた後に曲げポンチが上昇するときに、各試験片収集
板を外側端部が上昇する向きに揺動駆動すると、横板部
上の試験片ないしはその破断片は当該横板部上を滑落し
て一対の曲げ支点間に形成されている試験片回収口内に
落下し、確実な回収が可能となる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図1は本発明の実施の形
態の要部構成を示す部分断面図で、曲げポンチ3が試験
片Wの接触する位置にまで下降した状態で示す図で、図
2はそのA−A断面図である。なお、図2においては、
図面の煩雑化を避けるため曲げポンチ3およびカバー持
ち上げフック6a,6bの図示を省略している。
【0013】一対の曲げ支点1a,1bはテーブル2上
に所定のスパンを開けて配置されており、これらの曲げ
支点1a,1bにより試験片Wの両端部が支持される。
曲げ支点1a,1bの上方には曲げポンチ3が設けられ
ており、この曲げポンチ3は、上下動するクロスヘッド
4に対してロードセル5を介して固定され、クロスヘッ
ド4の下降により試験片Wの中央部を押圧して曲げ負荷
を加えることができる。なお、各曲げ支点1a,1b
は、テーブル2内に設けられている移動機構(図示せ
ず)によって互いに等距離ずつ接近・離隔し、スパンを
変化させることができるようになっている。
【0014】クロスヘッド4には、曲げポンチ3を挟ん
でその両側にカバー持ち上げフック6a,6bが固定さ
れており、これらに飛散防止カバー6が装着されてい
る。飛散防止カバー6は、一対の曲げ支点1a,1bの
周りおよび上方を囲む周壁61および天井部62とから
なり、クロスヘッド4がある程度以上下降した状態にお
いては、図1に示すようにテーブル2上によって支えら
れ、クロスヘッド4の上昇時には、カバー持ち上げフッ
ク6a,6bによって持ち上げられる。
【0015】テーブル2には、一対の曲げ支点1a,1
bの間で開口する試験片回収口7が形成されており、テ
ーブル2の下方には試験片回収ボックス8が配置されて
いる。試験片回収ボックス8はその上端が開口し、その
開口はテーブル2の試験片回収口7に連通している。
【0016】飛散防止カバー6の周壁61は、その下降
状態において、図2に示すように、曲げ支点1a,1b
のスパン方向に直交する方向には各曲げ支点1a,1b
に接近しており、曲げ支点1a,1bのスパン方向に
は、各曲げ支点1a,1bから所定距離だけ隔たってい
る。そして、曲げ支点1a,1bのスパン方向外側で、
下降状態における飛散防止カバー6の内側に、一対の試
験片収集板9a,9bが設けられている。
【0017】各試験片収集板9a,9bは、それぞれに
対応する曲げ支点1a,1bに設けられている水平のピ
ン90a,90bの周りに揺動自在に支持されている。
各試験片収集板9a,9bは、それぞれピン90a,9
0bから曲げ支点1a,1bのスパン方向外側に広がる
横板部91a,91bと、その外側端部から垂直に立ち
上がる立ち上がり部92a,92bによって構成されて
おり、横板部91a,91bの下方には収集板持ち上げ
シリンダ11a,11bが配置されている。
【0018】各収集板持ち上げシリンダ11a,11b
は、そのピストンロッドPRが上方を向くように配置さ
れており、各試験片収集板9a,9bは、横板部91
a,91bの底面がそれぞれに対応する収集板持ち上げ
シリンダ11a,11bのピストンロッドPRの上端に
密着する向きに引張コイルばねからなる戻しばね12
a,12bによって付勢されている。
【0019】従って、各収集板持ち上げシリンダ11
a,11bを駆動してピストンロッドPRを上昇させる
と、各試験片収集板9a,9bは立ち上がり部92a,
92b側が上昇する向きに揺動変位し、ピストンロッド
PRを下降させるとその反対側に揺動変位する。
【0020】図1は各収集板持ち上げシリンダ11a,
11bのピストンロッドPRを最下端まで下降させた状
態を示し、その状態では、各試験片収集板9a,9bの
横板部91a,91bが水平面に略沿った状態となり、
立ち上がり部92a,92bが鉛直面に略沿った状態と
なる。また、各収集板持ち上げシリンダ11a,11b
のピストンロッドPRを最上端まで上昇させた状態で
は、図3に要部構成図を示すように、横板部91a,9
1bはそれぞれ互いに対向して内側が下になるように傾
斜する。
【0021】これらの各収集板持ち上げシリンダ11
a,11bは飛散防止カバー6の上下動に連動し、飛散
防止カバー6が上昇したときに各収集板持ち上げシリン
ダ11a,11bのピストンロッドPRが上昇し、下降
したときには下降する。
【0022】また、以上の試験機本体に隣接して、例え
ば真空ポンプに連通して試験片Wを着脱自在に吸着可能
な吸盤130を備えた搬送装置13が配設されており、
この搬送装置13を駆動することにより、試験前の試験
片Wを曲げ支点1a,1b上に順次搬送することができ
る。
【0023】以上の実施の形態の自動運転時における動
作について説明すると、曲げポンチ3が上昇した状態
で、まず、搬送装置13により試験片Wを曲げ支点1
a,1b上に搬送した後、曲げポンチ3が下降し、試験
片Wに曲げ負荷を加える。このとき、飛散防止カバー6
が曲げポンチ3とともに下降するとともに、その飛散防
止カバー6内において、試験片収集板9a,9bが各横
板部91a,91bが略水平で、立ち上がり部92a,
92bが略鉛直な状態となる。従って、曲げ負荷により
飛散する試験片Wないしはその破断片は、飛散防止カバ
ー6と試験片収集板9a,9bの立ち上がり部92a,
92bによってその飛散方向が規制され、全てが横板部
91a,91b上に落下する。
【0024】試験片Wに対する曲げ負荷後、曲げポンチ
3および飛散防止カバー6が上昇するとともに、収集板
持ち上げシリンダ11a,11bのピストンロッドPR
が上昇し、試験片収集板9a,9bは横板部91a,9
1bが図3に示すように傾斜し、その上に載っている試
験済みの試験片Wないしはその破断片は横板部91a,
91b上を滑落し、試験片回収口7を介して試験片回収
ボックス8内に落下する。
【0025】以上の本発明の実施の形態によると、曲げ
試験を行った後の試験片Wないしはその破断片は、その
全てが試験片収集板9a,9bの横板部91a,91b
の上に落下し、曲げポンチ3の上昇時にこれらの横板部
91a,91bが傾斜することによって、確実に試験片
回収口7に導かれて試験片回収ボックス8内に落下す
る。
【0026】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、曲げポ
ンチとともに上下動する飛散防止カバー内で、一対の曲
げ試験の外側に位置する揺動自在の一対の試験片収集板
を配置し、その各試験片収集板には、曲げ支点の外側に
広がりを持つ横板部と、その外側端部に立ち上がる立ち
上がり部とを有したものとし、曲げ試験を行った後の試
験片なしいはその破断片の飛散方向を飛散防止カバーと
各試験片収集板によって規制して当該各試験片収集板の
横板部上に落下させるとともに、曲げポンチの上昇時に
試験片収集板を揺動させて各横板部を傾斜させ、その上
に載っている試験済みの試験片ないしは破断片を確実に
試験片回収口に導くことができる。
【0027】従って、本発明によれば、試験片を曲げ支
点上に搬送する搬送装置との併用により、長時間にわた
って無人運転を行うことのできる自動曲げ試験機を得る
ことができる。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test piece in which both ends of a test piece are supported by a pair of bending fulcrums, and a bending punch is lowered from above to bend the test piece. The present invention relates to a bending test machine for applying a load, and more particularly to a bending test machine suitable for application to an automatic bending test machine in which a test piece is set on a bending fulcrum and the collection of tested test pieces is automated. 2. Description of the Related Art In a bending tester, a pair of bending fulcrums are usually arranged at a predetermined span, and both ends of the test piece are supported by the respective bending fulcrums. A bending load is applied to the test piece by lowering the bending punch from above in the center. FIG. 4 is a partial sectional view showing an example of the configuration of a main part of a conventional bending tester. In this example, a pair of bending fulcrums 41
a and 41b are arranged on a table 42, and a bending punch 43 is arranged above them. The bending punch 43 is attached to a moving member 44 such as a crosshead via a load cell 45, and the moving member 44 is lowered from the state shown in FIG. 4 so that both ends are supported by bending fulcrums 41a and 41b. A bending load is applied to the test piece W. [0004] A scattering prevention cover 46 is mounted on the bending punch 43, and the scattering prevention cover 46 is used when the bending punch 43 descends to support the bending fulcrums 41a and 41b and the test piece W.
, So that the test piece W to which the bending load is applied due to the lowering of the bending punch 43 is prevented from scattering. Also,
The table 42 is formed with a test piece recovery port 47 that opens between the pair of bending fulcrums 41a and 41b. The test piece recovery port 47 communicates with a test piece recovery box 48 provided below the table 42. Then, it is considered that the tested test piece W including the broken fragments falls into the test piece collection box 48 through the test piece recovery port 47. Further, in such a bending test machine, for example, a transfer device having a suction cup to be evacuated is provided.
An automatic bending tester that automatically and sequentially conveys a test piece W onto a pair of bending fulcrums 41a and 41b is also in practical use. In the above-described conventional bending tester, the scattering prevention cover 46 can prevent the test piece W from scattering around, but the type of the test piece W In some cases, broken fragments may be scattered to irregular places in the scattering prevention cover 46, and fall on the table 42 or other jigs other than the test piece collection port 47, and fall into the test piece collection box 48. Could not be recovered. Therefore, in an automatic bending tester in which a transport device is provided to automatically transport the test pieces W sequentially to the bending fulcrums 41a and 41b, the recovered test pieces and their fragments are not completely recovered. There is a problem that it is difficult to perform unmanned driving for a long time. [0008] An object of the present invention is to provide a bending test machine capable of reliably recovering a tested test piece or broken fragment and capable of operating unattended for a long time by combining with a test piece transport device. It is in. In order to achieve the above-mentioned object, an automatic bending tester according to the present invention comprises a pair of opposingly arranged, spaced apart by a predetermined span to support both ends of a test piece. In a bending test machine provided with a bending fulcrum and a bending punch for applying a bending load to the test piece by descending from above a test piece whose both ends are supported by the bending fulcrum, the bending tester moves up and down in conjunction with the punch. A scattering prevention cover provided with a peripheral wall and a ceiling for covering around and above the pair of bending fulcrums when the punch is lowered, and a pair of swingable tests arranged outside the pair of bending fulcrums in the span direction. A specimen collecting plate, a drive mechanism for swinging each of the specimen collecting plates, and a specimen collecting port provided between the pair of bending fulcrums, wherein each of the specimen collecting plates has a scattering prevention cover. Each bending fulcrum when descending A horizontal plate part that is located approximately outside in the span direction and extends substantially horizontally, and a rising part that rises from the outer end of the horizontal plate part and whose upper end reaches the vicinity of the ceiling of the shatterproof cover, and also has shatter prevention. When the cover is raised, the outer end portion of the horizontal plate portion is swingably driven in a rising direction so that the tested test piece dropped on the horizontal plate portion slides down into the test piece collection port. Characterized by According to the present invention, the inside of the scatter prevention cover in a lowered state, the scattered test pieces and their fragments in the scatter prevention cover are further restricted to fall on a pair of test piece collection plates, By oscillating the test piece collecting plate, the test piece and its broken pieces are slid down to be surely guided into the test piece collection port. That is, the horizontal plate portions extending outward in the span direction of the pair of bending fulcrums in the scatter prevention cover in the lowered state, and the outer ends of the respective horizontal plate portions reach the vicinity of the ceiling of the scatter prevention cover. By providing a pair of test piece collecting plates having a rising portion, the test pieces scattered by the bending test and fragments thereof are blocked by the scattering prevention cover and the rising portion of each test piece collecting plate, and each test piece collecting plate Falls on the horizontal plate. When the scattering prevention cover is lifted, that is, when the bending punch is lifted after the bending load is applied, the test piece collection plate is swung in a direction in which the outer end is raised, and the test piece or the test piece on the horizontal plate portion is driven. The broken fragments slide down on the horizontal plate portion and fall into the test piece collection port formed between the pair of bending fulcrums, thereby enabling reliable collection. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing a configuration of a main part of an embodiment of the present invention, in which a bending punch 3 is lowered to a position where the bending piece 3 comes into contact with a test piece W, and FIG. It is. In FIG. 2,
The illustration of the bending punch 3 and the cover lifting hooks 6a and 6b is omitted to avoid complication of the drawing. A pair of bending fulcrums 1a and 1b are arranged on the table 2 with a predetermined span therebetween, and both ends of the test piece W are supported by these bending fulcrums 1a and 1b.
A bending punch 3 is provided above the bending fulcrums 1a and 1b. The bending punch 3 is fixed to a vertically moving crosshead 4 via a load cell 5, and the test piece W is moved by the lowering of the crosshead 4. Can be pressed by pressing the central portion thereof. In addition, each bending fulcrum 1a, 1b
Can be approached / separated by an equal distance from each other by a moving mechanism (not shown) provided in the table 2 to change the span. Cover lifting hooks 6a and 6b are fixed to both sides of the crosshead 4 with the bending punch 3 interposed therebetween, and a scattering prevention cover 6 is attached to these hooks. The scattering prevention cover 6 is composed of a peripheral wall 61 and a ceiling 62 surrounding the pair of bending fulcrums 1a and 1b and surrounding the upper portion, and when the crosshead 4 is lowered to a certain degree or more, as shown in FIG. When the crosshead 4 is lifted, it is lifted by the cover lifting hooks 6a and 6b. The table 2 has a pair of bending fulcrums 1a, 1
A test piece collection port 7 is formed between b and a test piece collection box 8 is arranged below the table 2. The test piece collection box 8 has an open upper end, and the opening communicates with the test piece collection port 7 of the table 2. In the lowered state, the peripheral wall 61 of the scattering prevention cover 6 has bending fulcrums 1a, 1b as shown in FIG.
Each bending fulcrum 1a, 1b
, And is separated by a predetermined distance from each of the bending fulcrums 1a and 1b in the span direction of the bending fulcrums 1a and 1b. Then, outside the bending fulcrums 1a and 1b in the span direction,
A pair of test piece collecting plates 9a and 9b are provided inside the scattering prevention cover 6 in the lowered state. The test piece collecting plates 9a and 9b are swingably supported around horizontal pins 90a and 90b provided at corresponding bending fulcrums 1a and 1b.
Each test piece collecting plate 9a, 9b is provided with a pin 90a, 9 respectively.
The horizontal plate portions 91a and 91b extend outward from the bending fulcrums 1a and 1b in the span direction from 0b, and the rising portions 92a and 92b which rise vertically from the outer ends thereof are provided below the horizontal plate portions 91a and 91b. The collecting plate lifting cylinders 11a and 11b are arranged. Each collection plate lifting cylinder 11a, 11b
Are arranged such that their piston rods PR face upward, and each of the test piece collecting plates 9a and 9b is
A return spring 12 composed of a tension coil spring such that the bottom surfaces of the a and 91b are in close contact with the upper ends of the piston rods PR of the corresponding collecting plate lifting cylinders 11a and 11b.
a, 12b. Therefore, each collecting plate lifting cylinder 11
When the piston rod PR is moved up by driving the piston rod PR, the test piece collecting plates 9a and 9b are moved up by the rising portions 92a and 92a.
When the piston rod PR is lowered, the swing displacement is performed in the opposite direction. FIG. 1 shows each of the collecting plate lifting cylinders 11a,
11B shows a state in which the piston rod PR of 11b is lowered to the lowermost end. In this state, the horizontal plate portions 91a and 91b of the test piece collecting plates 9a and 9b are substantially in a horizontal plane,
The rising portions 92a and 92b are substantially in the vertical plane. In addition, each collection plate lifting cylinder 11a, 11b
In the state where the piston rod PR is raised to the uppermost end, as shown in the main part configuration diagram in FIG.
1b face each other and are inclined so that the inside faces downward. Each of these collecting plate lifting cylinders 11
A and 11b are linked with the vertical movement of the scattering prevention cover 6, and when the scattering prevention cover 6 is raised, the piston rod PR of each of the collecting plate lifting cylinders 11a and 11b is raised, and when it is lowered, it is lowered. Further, adjacent to the main body of the testing machine, there is provided a transfer device 13 having a suction cup 130 which can be detachably attached to the test piece W by communicating with a vacuum pump, for example.
By driving the transport device 13, the test piece W before the test can be sequentially transported onto the bending fulcrums 1a and 1b. The operation of the above embodiment at the time of automatic operation will be described. First, the test piece W is bent by the transfer device 13 with the bending punch 3 raised.
After being conveyed onto a and 1b, the bending punch 3 descends and applies a bending load to the test piece W. At this time, the scattering prevention cover 6
Is lowered together with the bending punch 3, and in the scattering prevention cover 6, the test piece collecting plates 9a, 9b are substantially horizontal in the horizontal plate portions 91a, 91b, and the rising portions 92a,
92b is in a substantially vertical state. Therefore, the test piece W scattered by the bending load or a fragment thereof is not scattered by the scattering prevention cover 6 and the rising portions 92a, 92a of the test piece collecting plates 9a, 9b.
The scattering direction is regulated by 92b, and all of them fall onto the horizontal plate portions 91a, 91b. After the bending load on the test piece W, the bending punch 3 and the scattering prevention cover 6 are raised, and the piston rod PR of the collecting plate lifting cylinders 11a and 11b.
Rise, and the test piece collecting plates 9a, 9b
1b is inclined as shown in FIG. 3, and the tested test piece W or a broken piece placed thereon is a horizontal plate portion 91a,
It slides down on 91b and falls into the test piece collection box 8 through the test piece collection port 7. According to the above-described embodiment of the present invention, all of the test pieces W or broken pieces thereof after the bending test are performed are the horizontal plate portions 91a and 91b of the test piece collecting plates 9a and 9b.
When the bending punch 3 is lifted, the horizontal plate portions 91a and 91b are inclined, so that the horizontal plate portions 91a and 91b are surely guided to the test piece collection port 7 and fall into the test piece collection box 8. As described above, according to the present invention, a pair of swingable test piece collection plates located outside a pair of bending tests in a scattering prevention cover that moves up and down together with a bending punch. The test piece collection plate shall have a horizontal plate portion extending outside the bending fulcrum and a rising portion rising at the outer end thereof, and the test piece after the bending test is performed. In other words, the scattering direction of the fragments is regulated by a scattering prevention cover and each test piece collecting plate and dropped on the horizontal plate portion of each test piece collecting plate, and the test piece collecting plate is shaken when the bending punch is raised. By moving it, each horizontal plate portion is tilted, and the tested test piece or broken piece placed thereon can be reliably guided to the test piece collection port. Therefore, according to the present invention, it is possible to obtain an automatic bending tester capable of performing unmanned operation for a long time by using the test piece on a bending fulcrum in combination with the transfer device.
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の要部構成を示す部分断面
図である。
【図2】図1のA−A断面図である。
【図3】本発明の実施の形態において曲げポンチ3が上
昇した状態を示す要部構成図である。
【図4】従来の曲げ試験機の要部構成を示す部分断面図
である。
【符号の説明】
1a,1b 曲げ支点
2 テーブル
3 曲げポンチ
4 クロスヘッド
5 ロードセル
6 飛散防止カバー
7 試験片回収口
8 試験片回収ボックス
9a,9b 試験片収集板
90a,90b ピン
91a,91b 横板部
92a,92b 立ち上がり部
11a,11b 収集板持ち上げシリンダ
12a,12b 戻しばね
W 試験片BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing a main configuration of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG. FIG. 3 is a main part configuration diagram showing a state where a bending punch 3 is raised in an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing a main part configuration of a conventional bending tester. [Description of Signs] 1a, 1b Bending fulcrum 2 Table 3 Bending punch 4 Crosshead 5 Load cell 6 Shatterproof cover 7 Test piece collection port 8 Test piece collection boxes 9a, 9b Test piece collection plates 90a, 90b Pins 91a, 91b Horizontal plates Portions 92a, 92b Rising portions 11a, 11b Collecting plate lifting cylinders 12a, 12b Return spring W Test piece
Claims (1)
ンを開けて対向配置された一対の曲げ支点と、その各曲
げ支点により両端部が支持された試験片の上方から下降
して当該試験片に曲げ負荷を加える曲げポンチを備えた
曲げ試験機において、 上記ポンチに連動して上下動し、ポンチの下降時に上記
一対の曲げ支点の周囲および上方を覆うための周壁およ
び天井部を備えた飛散防止カバーと、上記一対の曲げ支
点のスパン方向外側に配置された揺動自在の一対の試験
片収集板と、その各試験片収集板を揺動させる駆動機構
と、上記一対の曲げ支点の間に設けられた試験片回収口
を有し、上記各試験片収集板は、飛散防止カバーの下降
状態で各曲げ支点からスパン方向外側に略水平に広がる
横板部と、その横板部の外側端部から立ち上がってその
上端部が飛散防止カバーの天井部近傍にまで至る立ち上
がり部を備えるとともに、飛散防止カバーの上昇時には
上記横板部の外側端部が上昇する向きに揺動駆動され、
横板部上に落下した試験済の試験片を上記試験片回収口
内に滑落させるように構成されていることを特徴とする
曲げ試験機。Claims: 1. A pair of bending fulcrums arranged opposite to each other with a predetermined span opened to support both ends of a test piece, and a test piece having both ends supported by the respective bending fulcrums. A bending test machine provided with a bending punch which lowers from above and applies a bending load to the test piece, wherein the bending tester moves up and down in conjunction with the punch, and covers around and above the pair of bending fulcrums when the punch is lowered. A scattering prevention cover having a peripheral wall and a ceiling portion, a pair of swingable test piece collection plates disposed outside the pair of bending fulcrums in the span direction, and a drive mechanism for swinging each of the test piece collection plates. A test plate collecting port provided between the pair of bending fulcrums, and each of the test piece collecting plates is a horizontal plate portion that extends substantially horizontally outward from each bending fulcrum in the span direction with the scattering prevention cover lowered. And the outer edge of the horizontal plate Provided with a rising portion at the upper end portion reaches to the ceiling near the scattering prevention cover rises from the outer end of the horizontal plate portion is swung in the direction to rise at the time of rise of the scattering prevention cover,
A bending test machine configured to slide a tested test piece dropped on a horizontal plate portion into the test piece collection port.
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