JP2003185681A - Waveform measuring apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、波形測定装置に関
するものであり、詳しくは、複数周期波形の測定解析表
示に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveform measuring device, and more particularly, to a measurement analysis display of a plurality of periodic waveforms.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図５は、デジタルオシロスコープなどの
波形測定装置の基本構成例図である。入力端子１に入力
されるアナログ波形入力信号はＡ／Ｄ変換器２でデジタ
ル信号に変換され、順次メモリ３に格納される。ＣＰＵ
４はメモリ３に格納された測定データを読み出して波形
表示画面データを生成し、生成した波形表示画面データ
を表示装置５に出力して波形を表示する。2. Description of the Related Art FIG. 5 is a diagram showing a basic configuration example of a waveform measuring device such as a digital oscilloscope. The analog waveform input signal input to the input terminal 1 is converted into a digital signal by the A / D converter 2 and sequentially stored in the memory 3. CPU
Reference numeral 4 reads the measurement data stored in the memory 3 to generate waveform display screen data, and outputs the generated waveform display screen data to the display device 5 to display the waveform.
【０００３】また、ＣＰＵ４は、メモリ３から読み出し
た測定データに基づいて、測定電圧値を物理値に変換し
て直読できるようにするためのリニアスケーリング演算
や、最大値や最小値や立ち上がり時間や立下り時間や周
波数などの波形パラメータ自動測定処理なども行う。Further, the CPU 4 converts the measured voltage value into a physical value based on the measured data read from the memory 3 so as to be directly readable, and performs a linear scaling operation, a maximum value, a minimum value, a rising time, and the like. It also performs automatic measurement processing of waveform parameters such as fall time and frequency.
【０００４】一方、メモリ３に格納された測定データ
は、そのときの測定条件設定データとともに、波形デー
タファイルとしてハードディスクやフロッピー（登録商
標）ディスクなどの保存用の記憶メディア６に転送され
セーブされる。これら記憶メディア６にセーブされた波
形データファイルは必要に応じてＣＰＵ４の内部メモリ
にロードされ、測定波形や測定条件設定の再現などが行
われる。On the other hand, the measurement data stored in the memory 3, together with the measurement condition setting data at that time, is transferred as a waveform data file to a storage medium 6 for storage such as a hard disk or a floppy (registered trademark) disk and saved. . The waveform data files saved in these storage media 6 are loaded into the internal memory of the CPU 4 as required, and the measured waveforms and measurement condition settings are reproduced.
【０００５】ところで、従来の波形測定装置で複数周期
の波形パラメータ自動測定処理にあたっては、１周期毎
の各波形パラメータの測定データを取り込んで複数周期
全体の波形パラメータについて統計処理を行い、全周期
の統計結果だけを表示することが行われていた。By the way, in the automatic waveform parameter measuring process of a plurality of cycles by the conventional waveform measuring apparatus, the measurement data of each waveform parameter of each cycle is fetched and the statistical processing is performed on the waveform parameters of the entire plurality of cycles to obtain the complete cycle of the waveform parameters. It was done to display only statistical results.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】このために、従来の装
置では、各周期毎の各波形パラメータ測定結果を確認す
ることができない。また、何周期目で測定した波形パラ
メータが最大または最小になるのか確認できない。さら
に、測定結果の値が実際の全体波形のどこに位置するの
かが把握できないという問題もある。Therefore, the conventional apparatus cannot confirm the measurement result of each waveform parameter for each cycle. Also, it is not possible to confirm in what cycle the measured waveform parameter becomes maximum or minimum. Further, there is a problem that it is not possible to grasp where the value of the measurement result is located in the actual overall waveform.
【０００７】本発明は、このような従来の問題点を解決
するものであり、その目的は、各周期毎の測定結果一覧
を表示して各パラメータ毎の最大値と最小値を検索でき
るようにし、測定結果一覧で選択した周期の全体波形に
おける位置づけを明示するとともにその部分を拡大して
表示する複数周期波形の測定解析に好適な波形表示装置
を実現することにある。The present invention solves such a conventional problem, and an object thereof is to display a list of measurement results for each cycle so that the maximum value and the minimum value for each parameter can be searched. Another object of the present invention is to realize a waveform display device suitable for measurement and analysis of a plurality of period waveforms in which the positioning of the period selected in the measurement result list in the entire waveform is clearly indicated and the portion is enlarged and displayed.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
る請求項１の発明は、少なくとも、各周期毎の測定結果
一覧を表示する画面と、各パラメータ毎の最大値と最小
値を検索する画面と、測定結果一覧で選択した周期の全
体波形における位置づけを明示するとともにその部分を
拡大して表示する画面を備えたことを特徴とする波形表
示装置である。According to the invention of claim 1, which achieves such an object, at least a screen displaying a list of measurement results for each cycle and a maximum value and a minimum value for each parameter are searched. A waveform display device comprising: a screen; and a screen for clearly indicating the position of the entire waveform of the cycle selected in the measurement result list and for displaying the enlarged portion.
【０００９】請求項２の発明は、請求項１記載の発明に
おいて、メモリに格納された複数周期の波形データに基
づき各周期毎の波形パラメータを測定する波形パラメー
タ測定部と、この波形パラメータ測定部の測定結果に基
づき複数周期全体の波形パラメータについて統計処理を
行う波形パラメータ統計処理部と、前記波形パラメータ
測定部の測定結果に基づき各波形パラメータ毎に最大値
または最小値を含む周期を検出する周期検出部と、この
周期検出部で検出した周期の位置を全体波形上に識別可
能に表示するとともにその周期部分を同一画面内に拡大
表示する拡大表示画面を生成する周期検出表示画面生成
部と、画面選択入力に応じて、波形パラメータ統計処理
部による統計処理結果と波形パラメータ測定部による各
周期毎の波形パラメータの測定結果と周期検出表示画面
生成部で生成される周期検出表示画面のいずれを表示す
るかを選択する表示画面選択部、とを含むことを特徴と
する。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, a waveform parameter measuring section for measuring a waveform parameter for each cycle based on waveform data of a plurality of cycles stored in a memory, and the waveform parameter measuring section. A waveform parameter statistical processing unit that performs statistical processing on the waveform parameters of the entire plurality of cycles based on the measurement result, and a cycle that detects the cycle including the maximum value or the minimum value for each waveform parameter based on the measurement result of the waveform parameter measurement unit. A detection unit, and a cycle detection display screen generation unit that generates a magnified display screen that displays the position of the cycle detected by this cycle detection unit in an identifiable manner on the entire waveform and enlarges the cycle portion in the same screen, Depending on the screen selection input, the statistical processing result by the waveform parameter statistical processing unit and the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring unit Display screen selecting unit for selecting whether to display one of the cycle detection display screen generated by the measurement result of over data and periodic detection display screen generation unit, characterized in that it comprises a city.
【００１０】請求項３の発明は、請求項２記載の波形測
定装置において、周期検出部で検出した全体波形上にお
ける周期位置の表示を、カーソルで行うことを特徴とす
る。According to a third aspect of the invention, in the waveform measuring apparatus according to the second aspect, the cursor is used to display the cycle position on the entire waveform detected by the cycle detector.
【００１１】請求項４の発明は、請求項２記載の波形測
定装置において、周期検出部で検出した全体波形上にお
ける周期位置の表示形態を他の周期と異ならせることを
特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, in the waveform measuring apparatus according to the second aspect, the display form of the periodic position on the entire waveform detected by the period detection unit is different from other periods.
【００１２】請求項５の発明は、請求項２記載の波形測
定装置において、波形パラメータ統計処理部による統計
処理結果の表示画面には、波形パラメータ測定部による
各周期毎の波形パラメータの測定結果の表示画面に切り
換えるキーを設けたことを特徴とする。According to a fifth aspect of the present invention, in the waveform measuring apparatus according to the second aspect, the display screen of the statistical processing result by the waveform parameter statistical processing section displays the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring section. It is characterized in that a key for switching to the display screen is provided.
【００１３】請求項６の発明は、請求項２記載の波形測
定装置において、波形パラメータ測定部による各周期毎
の波形パラメータの測定結果の表示画面には、各パラメ
ータの最大値と最小値を示すマークを設けたことを特徴
とする。According to a sixth aspect of the invention, in the waveform measuring apparatus according to the second aspect, the maximum and minimum values of each parameter are displayed on the display screen of the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring unit. It is characterized by having a mark.
【００１４】請求項７の発明は、請求項２記載の波形測
定装置において、波形パラメータ測定部による各周期毎
の波形パラメータの測定結果の表示画面には、各パラメ
ータ毎に最大値または最小値を含む周期の検索を指示す
るキーを設けたことを特徴とする。According to a seventh aspect of the present invention, in the waveform measuring apparatus according to the second aspect, the maximum or minimum value for each parameter is displayed on the display screen of the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring unit. It is characterized in that a key for instructing a search for a period including the key is provided.
【００１５】請求項８の発明は、請求項２記載の波形測
定装置において、波形パラメータ測定部による各周期毎
の波形パラメータの測定結果の表示画面には、周期の昇
順または降順並べ替え実行を指示するキーを設けたこと
を特徴とする。According to an eighth aspect of the present invention, in the waveform measuring apparatus according to the second aspect, the display screen of the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring section indicates execution of ascending order or descending order of the cycle. It is characterized in that a key is provided.
【００１６】これらにより、各周期毎の測定結果一覧を
表示して各パラメータ毎の最大値と最小値を検索でき、
測定結果一覧で選択した周期の全体波形における位置づ
けを明示できるとともにその部分を拡大表示できる。With these, the measurement result list for each cycle can be displayed and the maximum value and the minimum value for each parameter can be searched.
The position in the entire waveform of the cycle selected in the measurement result list can be clearly indicated and that part can be enlarged and displayed.
【００１７】[0017]
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明を詳し
く説明する。図１は本発明の実施の形態の一例を示す主
要部の構成図であり、図５と同等部分には同一の符号を
付けている。ＣＰＵ４における処理機能ブロックである
波形パラメータ測定部４１は、従来と同様に、メモリ３
に格納されている測定データに基づき各周期毎の最大値
や最小値や立ち上がり時間や立下り時間や周波数などの
波形パラメータを測定し、それらの測定結果をメモリ３
の他の領域に格納する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of a main part showing an example of an embodiment of the present invention, and the same parts as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals. The waveform parameter measuring unit 41, which is a processing function block in the CPU 4, uses the memory 3 as in the conventional case.
Waveform parameters such as maximum and minimum values for each cycle, rise time, fall time and frequency are measured based on the measurement data stored in the memory, and the measurement results are stored in the memory 3
Store in another area of.
【００１８】波形パラメータ統計処理部４２も、従来と
同様に、メモリ３に格納されている波形パラメータの測
定データに基づき複数周期全体の波形パラメータについ
て統計処理を行い、その統計処理結果をメモリ３の他の
領域に格納する。Similarly to the conventional case, the waveform parameter statistical processing unit 42 also performs statistical processing on the waveform parameters of a plurality of cycles based on the measured data of the waveform parameters stored in the memory 3, and the statistical processing result is stored in the memory 3. Store in another area.
【００１９】周期検出部４３は、メモリ３に格納されて
いる波形パラメータの測定データに基づき、各波形パラ
メータ毎に、複数周期全体の最大値または最小値を含む
周期を検出する。The cycle detecting unit 43 detects a cycle including the maximum value or the minimum value of the entire plurality of cycles for each waveform parameter based on the measured data of the waveform parameter stored in the memory 3.
【００２０】周期検出表示画面生成部４４は、周期検出
部４３で検出した周期の位置を全体波形上にカーソルに
より表示するとともに、その周期部分を同一画面内に拡
大表示する周期検出表示画面を生成する。The cycle detection display screen generation unit 44 displays the position of the cycle detected by the cycle detection unit 43 on the entire waveform with a cursor, and also generates a cycle detection display screen for enlarging and displaying the cycle portion in the same screen. To do.
【００２１】表示画面選択部４５は、画面選択入力に応
じて、
・波形パラメータ測定部４１による各周期毎の波形パラ
メータの測定結果
・波形パラメータ統計処理部４２による統計処理結果
・周期検出部４３の周期検出結果に基づき周期検出表示
画面生成部４４で生成される周期検出表示画面
のいずれを表示するかを選択するものであり、図示しな
い実行キーを操作することにより画面選択が実行され
る。In response to the screen selection input, the display screen selection unit 45: -Results of waveform parameter measurement for each cycle by the waveform parameter measurement unit 41-Statistical processing results by the waveform parameter statistical processing unit 42-Period detection unit 43 This is for selecting which of the cycle detection display screens generated by the cycle detection display screen generation unit 44 is to be displayed based on the cycle detection result, and screen selection is executed by operating an execution key (not shown).
【００２２】図２は、波形パラメータ統計処理部４２に
よる統計処理結果の表示画面例である。図２において、
Ａはメモリ３に格納されている波形データに基づく全周
期の波形パターンである。Ｂは波形パラメータ統計処理
部４２における統計処理結果である。なおメモリ３に
は、全周期の波形パラメータの演算結果を保持してお
く。これにより、「Show Result」キーＣを選択するこ
とにより、図３に示すようなファイルリストから１周期
毎の各波形パラメータ結果を確認できる。FIG. 2 is an example of a display screen of the statistical processing result by the waveform parameter statistical processing unit 42. In FIG.
A is a waveform pattern of all cycles based on the waveform data stored in the memory 3. B is a statistical processing result in the waveform parameter statistical processing unit 42. The memory 3 holds the calculation results of the waveform parameters for all cycles. Thus, by selecting the "Show Result" key C, each waveform parameter result for each cycle can be confirmed from the file list as shown in FIG.
【００２３】図３は複数チャネルのうちの第1チャネル
Ｃ１の１周期毎の波形パラメータ解析結果の表示例であ
り、各周期＃００００１〜＃０００１２それぞれに各波
形パラメータ「P−P（ピークツーピーク値）」「Avg
（平均値）」「Freq（周波数）」「Prod（周期）」に対
して演算処理結果を確認できる。各パラメータの測定デ
ータに付けている上下方向の矢印「↑」[↓]は、それぞ
れ最大値と最小値を示すものである。FIG. 3 is a display example of the waveform parameter analysis result for each period of the first channel C1 of the plurality of channels. Each waveform parameter “P-P (peak-to-peak) is displayed for each period # 00001 to # 00012. Value) "" Avg
You can check the calculation result for "(average value)", "Freq (frequency)", and "Prod (cycle)". The vertical arrows "↑" [↓] attached to the measured data of each parameter indicate the maximum value and the minimum value, respectively.
【００２４】「Max/Min Item1」キーＤ〜「Max/Min It
em4」キーＧは、それぞれ波形パラメータ「P−P」「Av
g」「Freq」「Prod」に対応している。例えば波形パラ
メータ「P−P」に対応する「Max/Min Item1」キーＤを
選択すると、カーソルＨは一番左端のパラメータ「Ｐ−
Ｐ」の最大値を含む周期「＃０００１１」に移動する。
もう一度「Max/Min Item1」キーＤを選択すると、カー
ソルＨは一番左端のパラメータ「Ｐ−Ｐ」の最小値を含
む周期「＃００００１」に移動する。なお他の「Max/Mi
n Item2」キーＥ〜「Max/Min Item4」キーＧも「Max/
Min Item1」キーＤと同様の動きをする。[Max / Min Item 1] key D- [Max / Min It
em4 ”key G is used for waveform parameter“ P-P ”“ Av ”
It supports g, "Freq" and "Prod". For example, if the "Max / Min Item 1" key D corresponding to the waveform parameter "P-P" is selected, the cursor H moves to the leftmost parameter "P-
Move to the cycle "# 00011" including the maximum value of "P".
When the "Max / Min Item 1" key D is selected again, the cursor H moves to the cycle "# 00001" including the minimum value of the leftmost parameter "PP". Other "Max / Mi
n Item 2 ”key E to“ Max / Min Item 4 ”key G is also“ Max /
Min Item 1 ”Same as key D.
【００２５】また、測定結果一覧で「Sort FWD/REV」
キーＩを選択することにより、周期を昇順または降順に
並べ替えることもできる。[Sort FWD / REV] in the measurement result list
By selecting the key I, the cycles can be rearranged in ascending or descending order.
【００２６】図４は図３で選択した周期を実際の波形で
表示した例である。図４の表示画面は、上下方向に、全
周期波形を表示するメイン画面Ｊと、メイン画面Ｊで指
定された周期を拡大表示するズーム画面Ｋに分割されて
いる。FIG. 4 shows an example in which the cycle selected in FIG. 3 is displayed as an actual waveform. The display screen of FIG. 4 is divided in the vertical direction into a main screen J that displays a full-cycle waveform and a zoom screen K that magnifies and displays the cycle designated on the main screen J.
【００２７】例えば図３に示すように「P−P」の最大値
を含む周期＃０００１１が選択された状態で図示しない
実行キーを操作することにより、直ちに図４の画面に切
り換わる。そして、図４に示すようにメイン画面Ｊの左
から１１個目の周期に、例えばカーソルによるフォーカ
スがあたり、その周期の波形がズーム画面Ｋに拡大表示
される。これにより、選択された周期が実際の波形上の
どこに位置するかを明確に把握認識できる。For example, as shown in FIG. 3, when the cycle # 00011 including the maximum value of "P-P" is selected and an execution key (not shown) is operated, the screen is immediately switched to the screen of FIG. Then, as shown in FIG. 4, for example, the cursor is focused on the eleventh cycle from the left of the main screen J, and the waveform of the cycle is enlarged and displayed on the zoom screen K. As a result, it is possible to clearly grasp and recognize where the selected cycle is located on the actual waveform.
【００２８】なおフォーカスを当てるのにあたっては、
図４のようなカーソルに限るものではなく、全体波形上
における周期位置の輝度や表示色などの表示形態を他の
周期と異ならせてもよい。When focusing,
The cursor is not limited to the cursor shown in FIG. 4, and the display form such as the brightness and the display color of the periodic position on the entire waveform may be different from other periods.
【００２９】この機能は、例えばスイッチング電源の評
価に有効である。スイッチング電源の評価において、ス
イッチングのサイクル毎にデバイスの電流・電圧・電力
を測定することが重要であり、とりわけ、電源投入時や
電源負荷変動時の各パラメータの過渡的な現象を確認し
ておくことは極めて重要になるが、本発明の複数周期の
統計処理機能は、このような波形パラメータの過渡的な
現象を評価するのに有効である。This function is effective for evaluation of a switching power supply, for example. When evaluating a switching power supply, it is important to measure the current, voltage, and power of the device for each switching cycle. In particular, check the transient phenomena of each parameter when the power is turned on or when the power load changes. However, the statistical processing function of a plurality of cycles according to the present invention is effective for evaluating the transient phenomenon of such waveform parameters.
【００３０】すなわち、図３のような各周期毎の波形パ
ラメータのファイルリスト一覧により、各周期毎の「P
−P」,「Max」,「Min」などのパラメータ値や各パラメ
ータの最大値、最小値を含む周期を確認することがで
き、そのリスト一覧により確認したい周期を直ちに図４
のような画面から実際の波形で確認できる。これによ
り、スイッチング電源における安定動作までの最大サー
ジ電圧やスイッチングロスの測定が容易に行える。That is, from the waveform parameter file list list for each cycle as shown in FIG.
You can check the cycle including the parameter values such as “-P”, “Max”, and “Min” and the maximum and minimum values of each parameter.
You can check the actual waveform from a screen like. This makes it easy to measure the maximum surge voltage and switching loss until stable operation of the switching power supply.
【００３１】なお、図３のようにファイルリストを表示
する代わりにすべての波形データファイルの縮小イメー
ジをサムネール表示させ、そのサムネール表示画面をス
クロールさせて直接波形データファイルを選択するよう
にしてもよい。Instead of displaying the file list as shown in FIG. 3, thumbnail images of reduced images of all waveform data files may be displayed, and the thumbnail display screen may be scrolled to directly select the waveform data file. .
【００３２】また、波形データの形式がＡＳＣＩＩやＦ
ｌｏａｔなどの混在する場合であってもそれぞれについ
て縮小イメージデータを作成してセーブしておけばよ
く、波形データの形式に拘わらず一律に波形データファ
イルの内容を確認できる。The waveform data format is ASCII or F.
Even in the case where the lots and the like are mixed, the reduced image data may be created and saved for each, and the contents of the waveform data file can be uniformly confirmed regardless of the format of the waveform data.
【００３３】また、縮小イメージデータを汎用的なフォ
ーマットで作成することにより、パソコンなどによる波
形データファイルの内容確認が容易になる。By creating the reduced image data in a general-purpose format, the contents of the waveform data file can be easily confirmed by a personal computer or the like.
【００３４】なお、本発明は、パソコン上で波形測定ア
プリケーションを使う場合にも応用できる。すなわち、
複数波形の統計演算処理を実行できる場合、１周期毎の
波形パラメータ測定データを保持しておくことにより一
覧で表示でき、各パラメータ毎に最大値または最小値を
検索して確認したい周期の波形を拡大表示できる。The present invention can also be applied when a waveform measurement application is used on a personal computer. That is,
If you can perform statistical calculation processing of multiple waveforms, you can display the list by holding the waveform parameter measurement data for each cycle, and search for the maximum or minimum value for each parameter to find the waveform of the cycle you want to check. It can be enlarged.
【００３５】[0035]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
効率よく複数周期波形の測定解析表示が行える波形測定
装置を提供することができ、デジタルオシロスコープな
どに好適である。As described above, according to the present invention,
It is possible to provide a waveform measuring device capable of efficiently performing measurement analysis display of a plurality of periodic waveforms, and it is suitable for a digital oscilloscope and the like.
【図１】本発明の実施の形態の一例を示す主要部の構成
図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a main part showing an example of an embodiment of the present invention.
【図２】波形パラメータ統計処理部による統計処理結果
の表示画面例である。FIG. 2 is a display screen example of a statistical processing result by a waveform parameter statistical processing unit.
【図３】複数チャネルのうちの１周期毎の波形パラメー
タ解析結果の表示例である。FIG. 3 is a display example of waveform parameter analysis results for each cycle of a plurality of channels.
【図４】図３で選択した周期を実際の波形で表示した例
である。FIG. 4 is an example in which the cycle selected in FIG. 3 is displayed as an actual waveform.
【図５】デジタルオシロスコープなどの波形測定装置の
基本構成例図である。FIG. 5 is a basic configuration example diagram of a waveform measuring device such as a digital oscilloscope.
１ 入力端子 ２ Ａ／Ｄ変換器 ３ メモリ ４ ＣＰＵ ４１ 波形パラメータ測定部 ４２ 波形パラメータ統計処理部 ４３ 周期検出部 ４４ 周期検出表示画面生成部 ４５ 表示画面選択部 ５ 表示部 ６ 記憶メディア 1 input terminal 2 A / D converter 3 memory 4 CPU 41 Waveform parameter measurement unit 42 Waveform Parameter Statistical Processing Section 43 Cycle detector 44 Cycle detection display screen generator 45 Display screen selection section 5 Display 6 storage media
Claims (8)
けを明示するとともにその部分を拡大して表示する画
面、を備えたことを特徴とする波形表示装置。1. At least a screen displaying a list of measurement results for each cycle, a screen for searching the maximum value and the minimum value for each parameter, and the positioning in the entire waveform of the cycle selected in the measurement result list are specified. Also, a waveform display device comprising a screen for enlarging and displaying that part.
に基づき各周期毎の波形パラメータを測定する波形パラ
メータ測定部と、 この波形パラメータ測定部の測定結果に基づき複数周期
全体の波形パラメータについて統計処理を行う波形パラ
メータ統計処理部と、 前記波形パラメータ測定部の測定結果に基づき各波形パ
ラメータ毎に最大値または最小値を含む周期を検出する
周期検出部と、 この周期検出部で検出した周期の位置を全体波形上に識
別可能に表示するとともにその周期部分を同一画面内に
拡大表示する拡大表示画面を生成する周期検出表示画面
生成部と、 画面選択入力に応じて、波形パラメータ統計処理部によ
る統計処理結果と波形パラメータ測定部による各周期毎
の波形パラメータの測定結果と周期検出表示画面生成部
で生成される周期検出表示画面のいずれを表示するかを
選択する表示画面選択部、とを含むことを特徴とする請
求項１記載の波形測定装置。2. A waveform parameter measuring section for measuring a waveform parameter for each cycle based on waveform data of a plurality of cycles stored in a memory, and statistics on waveform parameters for the entire plurality of cycles based on the measurement result of the waveform parameter measuring section. A waveform parameter statistical processing unit that performs processing, a cycle detection unit that detects a cycle including a maximum value or a minimum value for each waveform parameter based on the measurement result of the waveform parameter measurement unit, and a cycle detected by this cycle detection unit. By the cycle detection display screen generation unit that displays the position on the entire waveform in a distinguishable manner and the enlarged display screen that enlarges and displays the cycle portion in the same screen, and the waveform parameter statistical processing unit according to the screen selection input. Statistical processing results and waveform parameter measurement results by the waveform parameter measurement unit 2. The waveform measuring device according to claim 1, further comprising a display screen selection unit that selects which of the cycle detection display screens to be displayed is displayed.
周期位置の表示を、カーソルで行うことを特徴とする請
求項２記載の波形測定装置。3. The waveform measuring apparatus according to claim 2, wherein the cursor is used to display the cycle position on the entire waveform detected by the cycle detector.
周期位置の表示形態を他の周期と異ならせることを特徴
とする請求項２記載の波形測定装置。4. The waveform measuring device according to claim 2, wherein the display form of the cycle position on the entire waveform detected by the cycle detection unit is different from other cycles.
結果の表示画面には、波形パラメータ測定部による各周
期毎の波形パラメータの測定結果の表示画面に切り換え
るキーを設けたことを特徴とする請求項２記載の波形測
定装置。5. The display screen of the statistical processing result by the waveform parameter statistical processing unit is provided with a key for switching to the display screen of the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring unit. The waveform measuring device according to 2.
形パラメータの測定結果の表示画面には、各パラメータ
の最大値と最小値を示すマークを設けたことを特徴とす
る請求項２記載の波形測定装置。6. The waveform according to claim 2, wherein a mark showing the maximum value and the minimum value of each parameter is provided on the display screen of the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring unit. measuring device.
形パラメータの測定結果の表示画面には、各パラメータ
毎に最大値または最小値を含む周期の検索を指示するキ
ーを設けたことを特徴とする請求項２記載の波形測定装
置。7. The display screen of the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring unit is provided with a key for instructing the search of the cycle including the maximum value or the minimum value for each parameter. The waveform measuring device according to claim 2.
形パラメータの測定結果の表示画面には、周期の昇順ま
たは降順並べ替え実行を指示するキーを設けたことを特
徴とする請求項２記載の波形測定装置。8. The display screen for displaying the measurement result of the waveform parameter for each cycle by the waveform parameter measuring unit is provided with a key for instructing to execute the ascending order or the descending order of the cycle. Waveform measuring device.
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