JP2003101122A - 半導体レーザモジュール - Google Patents

半導体レーザモジュール

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JP2003101122A
JP2003101122A JP2001287046A JP2001287046A JP2003101122A JP 2003101122 A JP2003101122 A JP 2003101122A JP 2001287046 A JP2001287046 A JP 2001287046A JP 2001287046 A JP2001287046 A JP 2001287046A JP 2003101122 A JP2003101122 A JP 2003101122A
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Japan
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heat
semiconductor laser
base plate
package
plate portion
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JP2001287046A
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Shunsuke Miyamoto
俊輔 宮本
Kanichi Kadotani
▲皖▼一 門谷
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Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】温度の上昇に起因して半導体レーザ素子の寿命
が縮むことを、ランニングコストや製造コストの高騰、
さらには外観の大形化を招くことなく、未然に防止し得
る半導体レーザモジュールを提供する。 【解決手段】半導体レーザモジュール1は、パッケージ
2におけるベースプレート部3に、熱電モジュールMか
らの排熱をベースプレート部3の周縁に向けて輸送する
伝熱体3Pを設けるとともに、3Pによって輸送された
熱を、ハウジング部4に輸送する伝熱体4Pを設けてい
る。他の実施例としては,パッケージのハウジング部に
設けたヒートパイプに対するハウジング内方側に、熱の
伝達を妨げる真空チャンバ(熱遮蔽手段)を設けて成る
ことを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザモジ
ュールに関し、詳しくは半導体レーザ素子の搭載された
固定基板を熱電モジュールを介して設置するベースプレ
ート部と、該ベースプレート部とともに半導体レーザ素
子、固定基板、および熱電モジュールを収容するハウジ
ング部とを有するパッケージを備え、半導体レーザ素子
から発生する熱を熱電モジュールにより吸熱してパッケ
ージのベースプレート部に排熱するよう構成した半導体
レーザモジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】図7および図8に示す如く、半導体レー
ザ素子からのレーザ光を光ファイバに光学的に結合させ
るデバイスである半導体レーザモジュールAは、パッケ
ージPの内部にレーザダイオード(半導体レーザ素子)D
等の機構部品を収容することによって構成されている。
【0003】上記パッケージPは、取付孔の形成された
矩形板状のベースプレート部Bと、四角い箱状を呈する
ハウジング部Hとから成り、上記ベースプレート部Bに
は、レーザダイオードDおよびレンズL等を搭載したサ
ブマウント(固定基板)Sが、冷却装置としての熱電モジ
ュールMを介して設置されている。
【0004】また、ベースプレート部Bにはハウジング
部Hが接合されており、上述したレーザダイオードD、
レンズL、サブマウントS、および熱電モジュールM等
は、上記ベースプレート部Bとハウジング部Hとによっ
て囲繞されている。
【0005】上記ハウジング部Hには、光ファイバコー
ドCが図示していない光ファイバをレンズLに正対させ
る態様で取り付けられ、また上記ハウジング部Hからは
多数本の接続リードTが突出している。
【0006】因みに、ベースプレート部Bおよびハウジ
ング部Hから成るパッケージPは密閉されており、この
密閉されたパッケージPの内部には、レーザダイオード
Dの酸化や結露を防止する等の目的から、アルゴン等の
希ガスや乾燥窒素等が充填されている。
【0007】ここで、半導体レーザモジュールAのレー
ザダイオードDは、温度の上昇に伴って寿命が著しく縮
む傾向があるので、上述の如く冷却装置としての熱電モ
ジュールMを使用するとともに、パッケージPのベース
プレート部Bには一般的に放熱フィンFが取付けられて
いる。
【0008】すなわち、半導体レーザモジュールAの稼
働に伴って、レーザダイオードDから発生した熱は、図
8中の矢印oに示す如くサブマウントSやパッケージP
内の雰囲気を伝播して熱電モジュールMに達し、該熱電
モジュールMにおける低温側基板Mcによって吸熱され
る。
【0009】一方、熱電モジュールMの高温側基板Mh
からの排熱は、図8中の矢印pに示す如くパッケージP
のベースプレート部Bに伝播し、さらに図8中の矢印q
に示す如く放熱フィンFに伝播し、図8中の矢印rで示
す如く上記放熱フィンFから外気に向けて放熱される。
【0010】このように、半導体レーザモジュールAの
稼働時、レーザダイオードDから発生した熱を、ベース
プレート部Bから放熱フィンFを介して放熱すること
で、パッケージP内の温度上昇を抑制している。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところで、通信速度の
高速化に伴う発信周波数の高速化や、伝送距離の長距離
化に伴う光出力の増加に起因して、従来の半導体レーザ
モジュールAにおいてはレーザダイオードDの発熱量が
増加する傾向にある。
【0012】また、パッケージPの製造コストを低減さ
せ得る材料として、従来の金属材材料より安価なセラミ
クス材料や樹脂材料等が注目されているものの、これら
の材料は一般的に金属材料よりも熱伝導性に劣ってい
る。
【0013】このように、レーザダイオードDの発熱量
の増加と、パッケージPに熱伝導性に劣る材料を採用す
ることで、半導体レーザモジュールAの稼働時に、パッ
ケージPの内部に熱が籠もり、温度の上昇によってレー
ザダイオードDの寿命が短くなってしまう不都合が生じ
る。
【0014】上記不都合を解消するには、熱電モジュー
ルMの冷却能力を高めるべく投入電力を増大する、ある
いは大型で冷却能力の高い熱電モジュールMを採用す
る、さらには熱容量の大きな大型の放熱フィンを採用す
る等の対応が考えられる。
【0015】しかしながら、投入電力の増大に伴うラン
ニングコストの高騰や、大型の熱電モジュールの採用に
伴う製造コストの高騰、さらには大型の熱電モジュール
や放熱フィンの採用に伴う外観の大形化を招いてしまう
不都合がある。
【0016】本発明は上記実状に鑑みて、温度上昇に起
因して半導体レーザ素子の寿命が縮むことを、ランニン
グコストや製造コストの高騰、さらには放熱フィンを含
めた外観の大形化を招くことなく、未然に防止し得る半
導体レーザモジュールの提供を目的とするものである。
【0017】
【課題を解決するための手段および効果】上記目的を達
成するべく、請求項1の発明に関わる半導体レーザモジ
ュールは、半導体レーザ素子の搭載された固定基板を熱
電モジュールを介して設置するベースプレート部と、該
ベースプレート部とともに半導体レーザ素子、固定基
板、および熱電モジュールを収容するハウジング部とを
有するパッケージを備え、半導体レーザ素子から発生す
る熱を、熱電モジュールによって吸熱するとともに、熱
電モジュールからパッケージのベースプレート部に排熱
する半導体レーザモジュールにおいて、パッケージにお
けるベースプレート部に、熱電モジュールからの排熱を
ベースプレート部の周縁に向けて輸送するベースプレー
ト側熱輸送手段を設けるとともに、パッケージにおける
ハウジング部に、ベースプレート側熱輸送手段によって
輸送された熱を、ハウジング部に輸送するハウジング側
熱輸送手段を設けている。
【0018】上記構成によれば、半導体レーザ素子から
発生する熱が、パッケージにおけるベースプレート部と
ハウジング部とを介して外部に放熱されるため、ベース
プレート部のみから放熱していた従来の半導体レーザモ
ジュールに比べ、放熱特性が大幅に向上することとな
る。
【0019】このため、熱電モジュールへの投入電力の
増大や、大型の熱電モジュールの採用や、大型の放熱フ
ィンの採用を必要とすることなく、パッケージ内におけ
る温度の上昇を抑制することができる。
【0020】もって、請求項1の発明に関わる半導体レ
ーザモジュールによれば、温度上昇に起因して半導体レ
ーザ素子の寿命が縮むことを、ランニングコストや製造
コストの高騰、さらには放熱フィンを含めた外観の大形
化を招くことなく、未然に防止することが可能となる。
【0021】また、請求項2の発明に関わる半導体レー
ザモジュールは、請求項1の発明に関わる半導体レーザ
モジュールにおいて、パッケージにおけるハウジング部
のハウジング側熱輸送手段に対するハウジング内方側
に、熱の伝達を妨げる熱遮蔽手段を設けている。
【0022】上記構成によれば、ハウジング側熱輸送手
段によってパッケージのハウジング部に輸送された熱
が、上記パッケージの内部に環流することを、ハウジン
グ部に設けた熱遮蔽手段によって抑制することができ
る。
【0023】もって請求項2の発明に関わる半導体レー
ザモジュールによれば、パッケージの内部に収容されて
いる熱電モジュールに対する、ハウジング部からの熱の
流入が減って、熱電モジュールに対する負荷が軽減され
るので、上記熱電モジュールの冷却効率が向上すること
となる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、実施例を示す図面に基づい
て、本発明を詳細に説明する。図1は、本発明に関わる
半導体レーザモジュールの一実施例を示しており、この
半導体レーザモジュール1は、パッケージ2の内部にレ
ーザダイオード(半導体レーザ素子)D等の機構部品を
収容することによって構成されている。
【0025】上記パッケージ2は、取付孔の形成された
矩形板状のベースプレート部3と、四角い箱状を呈する
ハウジング部4とから成り、上記ベースプレート部3に
は、レーザダイオードDおよびレンズL等を搭載したサ
ブマウント(固定基板)Sが、冷却装置としての熱電モジ
ュールMを介して設置されている。
【0026】ここで、上記熱電モジュールMは、その低
温側面にサブマウント(固定基板)Sを当接させ、かつ高
温側面をベースプレート部3に当接させる態様で、上記
サブマウントSと上記ベースプレート部3との間に介装
されている。
【0027】因みに、熱電モジュールMのタイプとして
は、低温側面および高温側面にそれぞれ基板(絶縁基板)
を持つもの、低温側面または高温側面のどちらか一方に
基板(絶縁基板)を持つもの、さらには基板(絶縁基板)を
持たないものがあるが、本発明では何れのタイプの熱電
モジュールをも採用することが可能である。
【0028】上記レーザダイオードD、レンズL、サブ
マウントS、および熱電モジュールM等を収容する、密
閉されたパッケージ2の内部には、アルゴン等の希ガス
や乾燥窒素等が充填されている。
【0029】なお、パッケージ2におけるハウジング部
4には、図示していない光ファイバコード(図7の符号
C参照)が取り付けられ、またハウジング部4からは図
示していない多数本の接続リード(図7中の符号T参
照)が突出している。
【0030】上述した如く、半導体レーザモジュール1
の基本的な構成は、図7および図8に示した従来の半導
体レーザモジュールAと変わるところはない。
【0031】一方、上記半導体レーザモジュール1にお
ける、パッケージ2のベースプレート部3には、伝熱体
(ベースプレート側熱輸送手段)3Pが設けられており、
この伝熱体3Pはベースプレート部3と相似形のプレー
ト状を呈し、上記ベースプレート部3に埋め込まれた態
様で設置されている。
【0032】また、パッケージ2のハウジング部4に
は、伝熱体(ハウジング側熱輸送手段)4Pが設けられて
おり、この伝熱体4Pはハウジング4と相似形の四角い
箱状を呈し、上記ハウジング部4に埋め込まれた態様で
設置されている。
【0033】ここで、ベースプレート部3に設けられた
伝熱体3P、およびハウジング部4に設けられた伝熱体
4Pは、共に、Cu(銅)、Al(アルミニウム)、Cu−W
(銅−タングステン)合金等、熱伝導性の高い金属材料
から形成されている。
【0034】なお、パッケージ2を構成するベースプレ
ート部3およびハウジング部4は、一般的な Ni−Co
−Fe(ニッケル−コバルト−鉄)合金や、Fe−Ni
(鉄−ニッケル)合金等から形成されている。
【0035】上述した構成の半導体レーザモジュール1
においては、レーザダイオードDから発生した熱は、パ
ッケージ2のベースプレート部3から放熱フィンFを介
して外気に放熱されるとともに、パッケージ2における
ハウジング部4を介して外気に放熱されることとなる。
【0036】すなわち、半導体レーザモジュール1の稼
働に伴って、レーザダイオードDから発生した熱は、矢
印aで示す如くサブマウントSやパッケージ2内の雰囲
気を伝播して熱電モジュールMに達し、該熱電モジュー
ルMの低温側面において吸熱される。
【0037】上記熱電モジュールMにおける高温側面か
らの排熱は、矢印bに示す如くパッケージ2のベースプ
レート部3に伝播し、さらに矢印cに示す如く伝熱体3
Pによってベースプレート部3の周縁に向けて輸送され
る。
【0038】ベースプレート部3の周縁に輸送された熱
は、ハウジング部4に設けられた伝熱体4Pに伝播した
のち、矢印dおよび矢印eに示す如く伝熱体4Pを介し
てハウジング部4の全域に輸送され、矢印fに示す如く
ハウジング部4を介して外気に放熱される。
【0039】一方、熱電モジュールMからパッケージ2
のベースプレート部3に伝播した熱の一部は、矢印hに
示す如くベースプレート部3に取り付けられた放熱フィ
ンFに伝播し、矢印iに示す如く外気に向けて放熱され
ることとなる。
【0040】このように、上述した構成の半導体レーザ
モジュール1によれば、稼働時におけるレーザダイオー
ドDから発生する熱が、パッケージ2におけるベースプ
レート部3とハウジング部4とを介して外部に放熱され
るため、ベースプレート部のみから放熱していた従来の
半導体レーザモジュールに比べ、放熱特性が大幅に向上
することとなる。
【0041】もって、ランニングコストや製造コストの
高騰、さらには放熱フィンを含めた外観の大形化を招く
ことなく、温度上昇に起因して半導体レーザ素子の寿命
が縮むことを未然に防止できる。
【0042】また、パッケージ2のハウジング部4から
放熱させることにより、放熱フィンFを用いなくとも必
要十分な放熱量を達成できる場合には、放熱フィンFを
取り付けないことで、部品代の削減による製造コストの
低下や、半導体レーザモジュール1を搭載した機器の小
型化を図ることが可能となる。
【0043】なお、上述した実施例においては、伝熱体
3Pおよび伝熱体4Pを、熱伝導性の高い金属材料のプ
レートから形成しているが、同じく熱伝導性の高い金属
材料のロッドを編んで、シート状あるいは箱状に形成し
たものを採用しても良い。
【0044】また、ハウジング4からの放熱を助勢する
手段として、上記ハウジング4の外表面に放熱フィンを
形成することも可能である。このとき、設置状態におけ
る半導体レーザモジュールの姿勢に関わらず、冷却風に
よって良好に放熱が行なわれるよう、放熱フィンをピン
形状とすることが効果的である。
【0045】図2に示す半導体レーザモジュール10
は、パッケージ12におけるベースプレート部13に、
ヒートパイプ(ベースプレート側熱輸送手段)13Hが設
けられており、このヒートパイプ13Hは、ベースプレ
ート部13の全域に亘って広がる態様で、上記ベースプ
レート部13に埋め込まれて設置されている。
【0046】また、パッケージ12のハウジング部14
には、ヒートパイプ(ハウジング側熱輸送手段)14H
が設けられており、このヒートパイプ14Hは、ハウジ
ング部14の全域に亘って広がる態様で、上記ハウジン
グ部14に埋め込まれて設置されている。
【0047】ここで、半導体レーザモジュール10の構
成は、伝熱体3P、4Pに換えて、ヒートパイプ13
H、14Hを採用した以外、図1に示した半導体レーザ
モジュール1と基本的に変わるところはない。
【0048】上述した構成によれば、半導体レーザモジ
ュール10の稼働時、レーザダイオードDから発生した
熱は、矢印aで示す如くサブマウントSやパッケージ1
2内の雰囲気を伝播して熱電モジュールMに達し、該熱
電モジュールMの低温側面において吸熱される。
【0049】熱電モジュールMにおける高温側面からの
排熱は、矢印bに示す如くパッケージ12のベースプレ
ート部13に伝播し、さらに矢印cに示す如くヒートパ
イプ13Hによってベースプレート部13の周縁に向け
て輸送される。
【0050】ベースプレート部13の周縁に輸送された
熱は、ハウジング部14に設けられたヒートパイプ14
Hに伝播したのち、矢印dおよび矢印eに示す如くヒー
トパイプ14Hを介してハウジング部14の全域に輸送
され、矢印fに示す如くハウジング部14を介して外気
に放熱される。
【0051】一方、熱電モジュールMからパッケージ1
2のベースプレート部13に伝播した熱の一部は、矢印
hに示す如くベースプレート部13に取り付けられた放
熱フィンFに伝播し、矢印iに示す如く外気に向けて放
熱される。
【0052】このように、半導体レーザモジュール10
によれば、稼働時におけるレーザダイオードDから発生
する熱が、パッケージ12におけるベースプレート部1
3とハウジング部14とを介して外部に放熱されるた
め、ベースプレート部のみから放熱していた従来の半導
体レーザモジュールに比べ、放熱特性が大幅に向上する
こととなる。
【0053】なお、上述した実施例においては、所定の
形状に作成したヒートパイプ13Hおよびヒートパイプ
14Hを、それぞれベースプレート部13およびハウジ
ング部14に埋め込んでいるが、ベースプレート部13
およびハウジング部14を形成する際に、マイクロ加工
技術によって所定形状の細孔を形成し、この細孔に冷却
媒体を注入したのち封止することにより、ベースプレー
ト部13およびハウジング部14の内部にヒートパイプ
を構成することも可能である。
【0054】図3に示す半導体レーザモジュール20
は、パッケージ22におけるベースプレート部23に、
伝熱体(ベースプレート側熱輸送手段)23Pが設けられ
ており、この伝熱体23Pはベースプレート部23と相
似形のプレート状を呈し、上記ベースプレート部23の
上面を覆う態様で一体に設置されている。
【0055】また、パッケージ22のハウジング部24
には、伝熱体(ハウジング側熱輸送手段)24Pが設け
られており、この伝熱体24Pはハウジング24と相似
形の四角い箱状を呈し、上記ハウジング部24の外表面
を覆う態様で一体に設置されている。
【0056】ここで、半導体レーザモジュール20の構
成は、伝熱体23P、24Pの設置位置が、伝熱体3
P、4Pに対して相違している以外、図1に示した半導
体レーザモジュール1と基本的に変わるところはない。
【0057】また、レーザダイオードDから発生した熱
が外気に放熱されるまでの、パッケージ22における熱
の伝播(輸送)経路に関しても、図1に示した半導体レー
ザモジュール1と基本的に変わるところはない。
【0058】もって、半導体レーザモジュール20にお
いても、稼働時におけるレーザダイオードDから発生す
る熱が、パッケージ22におけるベースプレート部23
とハウジング部24とを介して外部に放熱されるため、
ベースプレート部のみから放熱していた従来の半導体レ
ーザモジュールに比べ、放熱特性が大幅に向上すること
となる。
【0059】図4に示す半導体レーザモジュール30
は、パッケージ32におけるベースプレート部33に、
ヒートパイプ(ベースプレート側熱輸送手段)33Hが設
けられており、このヒートパイプ33Hは、ベースプレ
ート部33の全域に亘って広がる態様で、上記ベースプ
レート部33の上部表面に近接した位置に埋め込まれて
設置されている。
【0060】また、パッケージ32のハウジング部34
には、ヒートパイプ(ハウジング側熱輸送手段)34H
が設けられており、このヒートパイプ34Hは、ハウジ
ング34の全域に亘って広がる態様で、上記ハウジング
部34の外部表面に近接した位置に埋め込まれて設置さ
れている。
【0061】ここで、半導体レーザモジュール30の構
成は、ヒートパイプ33H、34Hの設置位置が、ヒー
トパイプ13H、14Hに対して相違している以外、図
2に示した半導体レーザモジュール10と基本的に変わ
るところはない。
【0062】また、レーザダイオードDから発生した熱
が外気に放熱されるまでの、パッケージ32における熱
の伝播(輸送)経路に関しても、図2に示した半導体レー
ザモジュール10と基本的に変わるところはない。
【0063】もって、半導体レーザモジュール30にお
いても、稼働時におけるレーザダイオードDから発生す
る熱が、パッケージ32におけるベースプレート部33
とハウジング部34とを介して外部に放熱されるため、
ベースプレート部のみから放熱していた従来の半導体レ
ーザモジュールに比べ、放熱特性が大幅に向上すること
となる。
【0064】図5に示す半導体レーザモジュール40
は、パッケージ42におけるベースプレート部43に、
ヒートパイプ(ベースプレート側熱輸送手段)43Hが設
けられており、このヒートパイプ43Hは、ベースプレ
ート部43の全域に亘って広がる態様で、上記ベースプ
レート部43の上部表面に近接した位置に埋め込まれて
設置されている。
【0065】また、パッケージ42のハウジング部44
には、ヒートパイプ(ハウジング側熱輸送手段)44H
が設けられており、このヒートパイプ44Hは、ハウジ
ング44の全域に亘って広がる態様で、上記ハウジング
部44の外部表面に近接した位置に埋め込まれて設置さ
れている。
【0066】さらに、パッケージ42のハウジング部4
4には、上述したヒートパイプ44Hに対するハウジン
グ内方側に、真空チャンバ44C(熱遮蔽手段)が設けら
れており、この真空チャンバ44Cはハウジング部44
に倣った四角い箱状を呈している。
【0067】ここで、上記半導体レーザモジュール40
の構成は、ハウジング部44に熱遮蔽手段としての真空
チャンバ44Cを設けている以外、図4に示した半導体
レーザモジュール30と基本的に変わるところはない。
【0068】上述した構成によれば、半導体レーザモジ
ュール40の稼働時、レーザダイオードDから発生した
熱は、矢印aで示す如くサブマウントSやパッケージ4
2内の雰囲気を伝播して熱電モジュールMに達し、該熱
電モジュールMの低温側面において吸熱される。
【0069】熱電モジュールMにおける高温側面からの
排熱は、矢印bに示す如くパッケージ42のベースプレ
ート部43に伝播し、さらに矢印cに示す如くヒートパ
イプ43Hによってベースプレート部43の周縁に向け
て輸送される。
【0070】ベースプレート部43の周縁に輸送された
熱は、ハウジング部44に設けられたヒートパイプ44
Hに伝播したのち、矢印dおよび矢印eに示す如くヒー
トパイプ44Hを介してハウジング部44の全域に輸送
され、矢印fに示す如くハウジング部14を介して外気
に放熱される。
【0071】ここで、上記ハウジング部44には、上述
したヒートパイプ43Hおよびヒートパイプ44Hによ
って、レーザダイオードDから発生した熱が輸送されて
来るものの、この熱がパッケージ42の内部に環流する
ことは、ハウジング部44に設けた熱遮蔽手段としての
真空チャンバ44Cにより抑制される。
【0072】一方、熱電モジュールMからパッケージ1
2のベースプレート部13に伝播した熱の一部は、矢印
hに示す如くベースプレート部13に取り付けられた放
熱フィンFに伝播し、矢印iに示す如く外気に向けて放
熱されることとなる。
【0073】このように、上述した半導体レーザモジュ
ール40によれば、稼働時におけるレーザダイオードD
から発生する熱が、パッケージ42におけるベースプレ
ート部43とハウジング部44とを介して外部に放熱さ
れるため、ベースプレート部のみから放熱していた従来
の半導体レーザモジュールに比べ、放熱特性が大幅に向
上することとなる。
【0074】さらに、上述した半導体レーザモジュール
40によれば、パッケージ42の内部に収容されている
熱電モジュールMに対する、ハウジング部44からの熱
の流入が減って、熱電モジュールMに対する負荷が軽減
されるので、上記熱電モジュールMの冷却効率が向上す
ることとなる。
【0075】ここで、上述した実施例においては、真空
チャンバ44Cによって熱遮蔽手段を構成しているが、
真空チャンバに換えて内部を減圧したチャンバや、内部
が大気圧のチャンバを採用しても良く、さらには内部に
熱伝導性の低い気体を充填させたチャンバを採用するこ
とも可能である。
【0076】さらに、上述したヒートパイプ43Hおよ
びヒートパイプ44Hに換えて、図3に示した伝熱体2
3Pおよび伝熱体24Pを採用した構成においても、上
述したと同様の作用効果を奏することは言うまでもな
い。
【0077】図6に示す半導体レーザモジュール50
は、パッケージ52におけるハウジング部54の、ヒー
トパイプ(ハウジング側熱輸送手段)54Hに対するハ
ウジング内方側に、断熱体(熱遮蔽手段)54Mが設けら
れており、この断熱体54Mは熱伝導性の低い樹脂材料
から形成され、ハウジング部54に倣った四角い箱状を
呈している。
【0078】ここで、半導体レーザモジュール50の構
成は、真空チャンバ44Cに換えて熱遮蔽手段としての
断熱体54Mを設けている以外、図5に示した半導体レ
ーザモジュール40と基本的に変わるところはない。
【0079】また、レーザダイオードDから発生した熱
が外気に放熱されるまでの、パッケージ52における熱
の伝播(輸送)経路に関しても、図5に示した半導体レー
ザモジュール40と基本的に変わるところはない。
【0080】さらに、ハウジング部54に設けた断熱体
54Mによって、ハウジング部54からパッケージ52
の内部に熱が環流することを抑制する構成に関しても、
図5に示した半導体レーザモジュール40と変わるとこ
ろはない。
【0081】もって、上述した半導体レーザモジュール
50によれば、稼働時におけるレーザダイオードDから
発生する熱が、パッケージ52におけるベースプレート
部53とハウジング部54とを介して外部に放熱される
ため、ベースプレート部のみから放熱していた従来の半
導体レーザモジュールに比べ、放熱特性が大幅に向上す
ることとなる。
【0082】さらに、上述した半導体レーザモジュール
50によれば、パッケージ52の内部に収容されている
熱電モジュールMに対する、ハウジング部54からの熱
の流入が減って、熱電モジュールMに対する負荷が軽減
されるので、上記熱電モジュールMの冷却効率が向上す
ることとなる。
【0083】ここで、上述した実施例においては、熱伝
導性の低い樹脂材料から形成した断熱体54Mによって
熱遮蔽手段を構成しているが、断熱体54Mを形成する
材料として、熱伝導性の低い適宜な材料を任意に選択し
て採用し得ることは言うまでもない。
【0084】さらに、上述したヒートパイプ53Hおよ
びヒートパイプ54Hに換えて、図3に示した伝熱体2
3Pおよび伝熱体24Pを採用した構成においても、上
述したと同様の作用効果を奏することは言うまでもな
い。
【0085】ここで、上述した各実施例においては、パ
ッケージを構成するベースプレート部およびハウジング
部を、一般的な Ni−Co−Fe(ニッケル−コバルト−
鉄)合金や、Fe−Ni(鉄−ニッケル)合金等から形成
しているが、上記ベースプレート部およびハウジング部
を樹脂材料から形成することも可能である。
【0086】このように、パッケージを熱伝導性の低い
樹脂材料から形成した場合、図3に示した半導体レーザ
モジュール20においては、ハウジング24の外面に伝
熱体(ハウジング側熱輸送手段)24Pが設けられている
ことで、言い換えれば伝熱体24Pに対するハウジング
内方側に、樹脂材料から成り熱遮蔽手段として機能する
ハウジング24が位置することで、伝熱体24Pによっ
て輸送された熱がパッケージ24の内部に環流すること
を抑制できる。
【0087】同じく、パッケージを熱伝導性の低い樹脂
材料から形成した場合、図4に示した半導体レーザモジ
ュール30においては、ハウジング34の外面に近接さ
せてヒートパイプ(ハウジング側熱輸送手段)34Hを設
けたことで、言い換えればヒートパイプ34Hに対する
ハウジング内方側に、樹脂材料から成り熱遮蔽手段とし
て機能するハウジング34が位置することで、ヒートパ
イプ34Hによって輸送された熱がパッケージ34の内
部に環流することを抑制できる。
【0088】なお、パッケージを樹脂材料から形成した
場合においても、真空チャンバ等にによって熱遮蔽手段
を構成することは有効である。また、金属材料あるいは
樹脂材料に限らず、ハウジング部における外方面から内
方面に行く程、熱伝導性が低下する特性を備えた傾斜機
能材料の採用も有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に関わる半導体レーザモジュールの一実
施例を示す概念図。
【図2】本発明に関わる半導体レーザモジュールの他の
実施例を示す概念図。
【図3】本発明に関わる半導体レーザモジュールの他の
実施例を示す概念図。
【図4】本発明に関わる半導体レーザモジュールの他の
実施例を示す概念図。
【図5】本発明に関わる半導体レーザモジュールの他の
実施例を示す概念図。
【図6】本発明に関わる半導体レーザモジュールの他の
実施例を示す概念図。
【図7】(a)および(b)は、従来の半導体レーザモジュ
ールを示す外観斜視図および側面断面図。
【図8】従来の半導体レーザモジュールを示す概念図。
【符号の説明】
1、10、20、30、40、50…半導体レーザモジ
ュール、 2、12、22、32、42、52…パッケージ、 3、13、23、33、43、53…ベースプレート
部、 4、14、24、34、44、54…ハウジング部、 3P、23P…伝熱体(ベースプレート側熱輸送手段)、 4P、24P…伝熱体(ハウジング側熱輸送手段)、 13H、33H、 43H、53H…ヒートパイプ(ベースプレート側熱輸
送手段)、 14H、34H、 44H、54H…ヒートパイプ(ハウジング側熱輸送手
段)、 44C…真空チャンバ(熱遮蔽手段)、 54M…断熱体(熱遮蔽手段)、 D…レーザダイオード(半導体レーザ素子)、 L…レンズ、 S…サブマウント(固定基板)、 M…熱電モジュール、 F…放熱フィン。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザ素子の搭載された固定基
    板を熱電モジュールを介して設置するベースプレート部
    と、該ベースプレート部とともに前記半導体レーザ素
    子、前記固定基板、および前記熱電モジュールを収容す
    るハウジング部とを有するパッケージを備え、前記半導
    体レーザ素子から発生する熱を、前記熱電モジュールに
    よって吸熱するとともに、前記熱電モジュールから前記
    パッケージの前記ベースプレート部に排熱する半導体レ
    ーザモジュールであって、 前記パッケージにおける前記ベースプレート部に、前記
    熱電モジュールからの排熱を前記ベースプレート部の周
    縁に向けて輸送するベースプレート側熱輸送手段を設け
    るとともに、 前記パッケージにおける前記ハウジング部に、前記ベー
    スプレート側熱輸送手段によって輸送された熱を、前記
    ハウジング部に輸送するハウジング側熱輸送手段を設
    け、 前記半導体レーザ素子から発生する熱を、前記パッケー
    ジにおける前記ベースプレート部と前記ハウジング部と
    を介して、外部に放熱するよう構成したことを特徴とす
    る半導体レーザモジュール。
  2. 【請求項2】 前記パッケージにおける前記ハウジン
    グ部の前記ハウジング側熱輸送手段に対するハウジング
    内方側に、熱の伝達を妨げる熱遮蔽手段を設けて成るこ
    とを特徴とする請求項1記載の半導体レーザモジュー
    ル。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007149932A (ja) * 2005-11-28 2007-06-14 Furukawa Electric Co Ltd:The 半導体レーザモジュール
US20100108117A1 (en) * 2008-10-30 2010-05-06 Yamaha Corporation Thermoelectric module package and manufacturing method therefor
JP2018041839A (ja) * 2016-09-07 2018-03-15 セイコーエプソン株式会社 発光素子モジュール、原子発振器、電子機器および移動体

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