JP2003075725A - Transmitted illumination device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、明視野や暗視野照
明が可能な実体顕微鏡に用いられる透過照明装置に関す
るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transillumination device used in a stereoscopic microscope capable of bright field and dark field illumination.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、実体顕微鏡などに用いられる照明
装置には、生物標本を生きたまま観察したり、あるいは
半導体デバイス工程での検査などを行うのに、透過照明
が多く用いられている。また、このような照明装置は、
用途によって明視野観察や暗視野観察用として使い分け
られており、これらに用いられる照明光源も多岐にわた
っている。2. Description of the Related Art Conventionally, transmitted illumination is often used in illumination devices used for stereomicroscopes, for observing living specimens as they are, or for conducting inspections in semiconductor device processes. In addition, such a lighting device,
It is used for bright-field observation or dark-field observation depending on the application, and the illumination light sources used for these are also diverse.
【０００３】例えば、照明光源としてハロゲンやタング
ステンなどのランプを用いレンズやリフレクタにより実
体顕微鏡の視野内の照明を満足したものがある。この場
合、ランプを実体顕微鏡本体と対向する標本の真下に配
置したり、あるいは、標本の直下にミラーを配置し、ラ
ンプからの光線をミラーにより折り曲げられた光軸上に
配置するようにしている。また、ランプからの光の導入
に、光ファイバを用いたものもある。For example, there is one in which a lamp such as halogen or tungsten is used as an illumination light source and the illumination within the field of view of a stereomicroscope is satisfied by a lens or a reflector. In this case, the lamp is arranged directly below the sample facing the stereomicroscope body, or a mirror is arranged directly below the sample and the light beam from the lamp is arranged on the optical axis bent by the mirror. . Further, there is also one using an optical fiber for introducing light from the lamp.
【０００４】ところが、一般に、実体顕微鏡の倍率は、
通常の顕微鏡のそれに比べて低く、観察できる視野も広
いため、照明する範囲を広くしなければならない。この
ため、ランプを標本の真下に配置した場合、リフレクタ
やレンズで必要な視野の照明を行うと、机上から標本ま
での距離が大きくなってしまい、また、ミラーを用いて
光軸を折り返した場合も同様で、必要な光束径を大きく
するため、机上から標本までの距離が大きくなってしま
う。このことは、標本が机上面より高い所に位置される
ため、例えば、標本の載せ換えの際には、机上面とステ
ージの間で観察者の手の移動を上下に大きくしなければ
ならず、標本観察をしながらの作業が行いにくいという
問題があった。また、照明光源として用いられるハロゲ
ンやタングステンなどのランプは、発熱量や消費電力も
大きく、さらに寿命も短いという問題があった。However, in general, the magnification of a stereoscopic microscope is
Since it is lower than that of an ordinary microscope and has a wide field of view, it is necessary to widen the illumination range. For this reason, when the lamp is placed directly below the sample and the necessary field of view is illuminated with a reflector or lens, the distance from the desk to the sample becomes large, and when the optical axis is folded back using a mirror. Similarly, since the required luminous flux diameter is increased, the distance from the desk to the sample is increased. This means that the specimen is located higher than the desk top surface, and therefore, for example, when the specimen is remounted, the movement of the observer's hand between the desk top surface and the stage must be increased vertically. However, there was a problem that it was difficult to work while observing the specimen. Further, a lamp such as a halogen or tungsten used as an illumination light source has a problem that the calorific value and power consumption are large and the life is short.
【０００５】そこで、このようなランプを用いたことに
よる問題を解決する手段として、特公平７-１２２６９
４号公報や特開平４-１２５６０９号公報に開示される
ように、光源に複数の発光ダイオードを用いた方法があ
る。Therefore, as a means for solving the problem caused by using such a lamp, Japanese Patent Publication No. 7-12269
There is a method using a plurality of light emitting diodes as a light source, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-125609.
【０００６】このうちの、特公平７−１２２６９４号公
報は、顕微鏡の光源として１つ以上の半導体点光源（発
光ダイオード）を２次元的に配置し、これら半導体点光
源からの光を照明レンズ系を介して標本に照射してい
る。この場合、半導体点光源のそれぞれの単位光源は、
選択的に点灯できるようにもなっており、対物倍率や観
察法によって点灯個所を選択できるようになっている。In Japanese Patent Publication No. 7-122694, among these, one or more semiconductor point light sources (light emitting diodes) are two-dimensionally arranged as a light source of a microscope, and light from these semiconductor point light sources is illuminated by an illumination lens system. The specimen is irradiated via. In this case, each unit light source of the semiconductor point light source is
It can also be turned on selectively, and the turning point can be selected depending on the objective magnification and observation method.
【０００７】また、特開平４−１２５６０９号公報は、
透過照明を用いた光学顕微鏡において、コンデンサレン
ズの前側焦点面に２次元的に配列された高輝度発光ダイ
オードを配置し、これら高輝度発光ダイオードからの光
をコンデンサレンズを介して試料面に照射するようにし
ている。また、これら高輝度発光ダイオードは、独立で
点灯制御を可能とし、点灯範囲エリアを変えることによ
り、明視野と暗視野照明を切換えられるようにもなって
いる。Further, Japanese Patent Laid-Open No. 4-125609 discloses
In an optical microscope using transmitted illumination, two-dimensionally arranged high-intensity light-emitting diodes are arranged on the front focal plane of a condenser lens, and light from these high-intensity light-emitting diodes is applied to the sample surface through the condenser lens. I am trying. In addition, these high-brightness light emitting diodes are capable of independent lighting control, and by changing the lighting range area, bright field and dark field illumination can be switched.
【０００８】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の公報に記載のものは、いずれも発光ダイオートからの
光をレンズ系を介して標本に照射するようになっている
ため、実体顕微鏡の透過照明に適用した場合、机上から
標本までの距離が大きくなってしまい、依然として上述
した問題があった。However, in all of the publications described in these publications, the light from the light-emitting die is applied to the sample through the lens system, so that the transmission illumination of a stereoscopic microscope is not possible. When applied, the distance from the desk to the sample becomes large, and there are still the above-mentioned problems.
【０００９】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、顕微鏡観察作業を簡単にできるとともに、光源の省
電力と長寿命化を得られる実体顕微鏡に用いられる透過
照明装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a transillumination device for use in a stereoscopic microscope, which can simplify microscope observation work and save power and extend the life of a light source. To aim.
【００１０】[0010]
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
明視野と暗視野観察が可能な実体顕微鏡に用いられる照
明装置において、前記明視野観察に必要な視野範囲を照
射するように２次元的に配置された複数の第１の半導体
点光源と、前記第１の半導体点光源の外側に、前記暗視
野観察に必要な前記実体顕微鏡のＮＡより大きい角度で
光線が進むように傾斜して配置された複数の第２の半導
体点光源と、これら第１および第２の半導体点光源を選
択的に点灯させる制御手段とを具備したことを特徴とし
ている。The invention according to claim 1 is
In a lighting device used for a stereoscopic microscope capable of bright-field and dark-field observation, a plurality of first semiconductor point light sources arranged two-dimensionally so as to illuminate a field-of-view range necessary for the bright-field observation, A plurality of second semiconductor point light sources which are arranged outside the first semiconductor point light source and are inclined so that a light ray advances at an angle larger than NA of the stereoscopic microscope necessary for the dark field observation, and these first semiconductor point light sources. And a control means for selectively turning on the second semiconductor point light source.
【００１１】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、前記明視野観察時に点灯される前記第１の
半導体点光源からの光を拡散する拡散板と、前記暗視野
観察時に点灯される前記第２の半導体点光源からの光の
うち前記実体顕微鏡のＮＡより小さい角度の光線を遮蔽
する遮蔽板とをさらに有し、これら拡散板と遮蔽板を選
択的に照明光路に挿脱可能にしたことを特徴としてい
る。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, a diffusion plate for diffusing light from the first semiconductor point light source that is turned on during the bright field observation and a light source during the dark field observation are turned on. And a shield plate for shielding a ray of light from the second semiconductor point light source having an angle smaller than NA of the stereomicroscope, the diffuser plate and the shield plate being selectively inserted into and removed from the illumination optical path. The feature is that it is possible.
【００１２】請求項３記載の発明は、請求項２記載の発
明において、前記拡散板および遮蔽板の前記照明光路の
挿脱状態を検知する検知手段をさらに有し、該前記検知
手段の検知結果に応じて前記制御手段により前記第１ま
たは第２の半導体点光源を点灯制御することを特徴とし
ている。According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, there is further provided detection means for detecting an insertion / removal state of the illumination optical path of the diffusion plate and the shielding plate, and the detection result of the detection means. In accordance with the above, the control means controls the lighting of the first or second semiconductor point light source.
【００１３】請求項４記載の発明は、請求項１乃至３の
いずれかに記載の発明において、前記第１および第２の
半導体点光源は、発光ダイオードからなることを特徴と
している。According to a fourth aspect of the invention, in the invention according to any one of the first to third aspects, the first and second semiconductor point light sources are light emitting diodes.
【００１４】この結果、本発明によれば、２次元的に配
置された第１の半導体点光源のみを点灯させることで、
明視野観察に必要な照野が確保され、視野周辺まで明る
い明視野観察が可能となり、第１の半導体点光源の外側
に傾斜して配置された第２の半導体点光源のみを点灯す
ることで、標本での散乱光による暗視野観察が可能とな
る。これにより、従来のレンズ系を使用することがな
く、机上から標本までの距離を短くして明視野および暗
視野照明が可能になるので、標本交換の際の観察者の手
の上下の移動を最小限にでき、優れた作業性を得られ
る。As a result, according to the present invention, by turning on only the two-dimensionally arranged first semiconductor point light sources,
The illumination field necessary for bright-field observation is secured, bright bright-field observation is possible up to the periphery of the field of view, and only the second semiconductor point light source that is inclined outside the first semiconductor point light source is turned on. , Dark field observation by scattered light on the sample becomes possible. This enables bright field and dark field illumination by shortening the distance from the desk to the sample without using a conventional lens system, so that the observer's hand can be moved vertically when exchanging samples. It can be minimized and excellent workability can be obtained.
【００１５】また、本発明によれば、暗視野観察時に不
要な明視野成分の光線を遮蔽板により遮断できるため、
コントラストの良い暗視野観察が可能となり、また、明
視野観察時は拡散板により発光ダイオードの主光性を拡
散することができるため、明視野観察時の視野内が均一
の明るさにすることが可能となり、優れた照明性能を得
られ、また、遮蔽板と拡散板の切換えのみで明視野と暗
視野の切換えが可能となるので、操作性にも優れる。Further, according to the present invention, since a light beam of a bright field component which is unnecessary during dark field observation can be blocked by the shielding plate,
Dark field observation with good contrast is possible, and since the main light property of the light emitting diode can be diffused by the diffusion plate during bright field observation, it is possible to achieve uniform brightness in the field of view during bright field observation. It is possible to obtain excellent illumination performance, and since it is possible to switch between the bright field and the dark field only by switching the shield plate and the diffusion plate, the operability is also excellent.
【００１６】さらに、本発明によれば、明視野観察時に
拡散板を明視野照明光路内に挿入すると、その状態を検
知手段が検知し、この検知結果に基づいて制御手段によ
り２次元的に配置された第１の半導体点光源が点灯さ
れ、明視野照明が可能となり、また、暗視野観察時に遮
光板を光路内に挿入すると、その状態を検知手段が検知
し、この検知結果に基づいて制御手段により傾斜配置さ
れた第２の半導体点光源が点灯され、暗視野照明が可能
となり、これら遮蔽板と拡散板の位置を検知すること
で、第１および第２の半導体点光源のうちの一方のみを
点灯することができるので、省電力化を実現できる。Further, according to the present invention, when the diffuser plate is inserted into the bright field illumination optical path during bright field observation, the detecting means detects the state, and the control means two-dimensionally arranges the state. The first semiconductor point light source is turned on to enable bright-field illumination, and when the light-shielding plate is inserted into the optical path during dark-field observation, the detecting means detects the state and controls based on this detection result. One of the first and second semiconductor point light sources is detected by detecting the positions of the shielding plate and the diffusing plate by turning on the second semiconductor point light source that is obliquely arranged by the means to enable dark field illumination. Since only one can be turned on, power saving can be realized.
【００１７】さらにまた、本発明によれば光源に発光ダ
イオードを用いることにより、省電力化と長寿命化を得
ることができる。Furthermore, according to the present invention, by using a light emitting diode as a light source, it is possible to obtain power saving and long life.
【００１８】[0018]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【００１９】（第１の実施の形態）図１は、本発明の第
１の実施の形態が適用される実体顕微鏡の概略構成を示
す図、図２は、発光ダイオードの配列を示す鳥瞰図、図
３は、発光範囲の切換えの詳細を示す図で、（ａ）は明
視野照明時、（ｂ）は暗視野照明時をそれぞれ示すもの
である。(First Embodiment) FIG. 1 is a diagram showing a schematic structure of a stereoscopic microscope to which the first embodiment of the present invention is applied, and FIG. 2 is a bird's eye view showing an arrangement of light emitting diodes. 3A and 3B are diagrams showing the details of switching the light emission range, in which FIG. 3A shows bright field illumination and FIG. 3B shows dark field illumination.
【００２０】図において、１は実体顕微鏡本体で、この
実体顕微鏡本体１は、後述する標本７を拡大観察するた
めの接眼レンズ２、この接眼レンズ２での観察倍率を可
変するための図示しない機構を操作するためのズームハ
ンドル３が設けられている。In the figure, reference numeral 1 is a main body of a stereomicroscope, and the main body 1 of the stereomicroscope is an eyepiece 2 for magnifying and observing a specimen 7, which will be described later, and a mechanism (not shown) for changing the observation magnification of the eyepiece 2. A zoom handle 3 for operating the is provided.
【００２１】このような実体顕微鏡本体１は、透過照明
架台４により保持されている。透過照明架台４は、べ一
ス部４ａ、このベース部４ａに直立して設けられたコラ
ム部４ｂおよびコラム部４ｂの先端にべ一ス部４ａと平
行に設けられたアーム部４ｃを有するもので、このアー
ム部４ｃ先端部に実体顕微鏡本体１を保持している。The stereoscopic microscope body 1 as described above is held by a transillumination mount 4. The transillumination pedestal 4 has a base portion 4a, a column portion 4b provided upright on the base portion 4a, and an arm portion 4c provided at the tip of the column portion 4b in parallel with the base portion 4a. The stereomicroscope main body 1 is held at the tip of the arm 4c.
【００２２】透過照明架台４のコラム部４ｂには、アー
ム部４ｃとともに実体顕微鏡本体１を上下方向に移動さ
せる図示しない焦準機構を操作するための焦準ハンドル
５が設けられている。The column portion 4b of the transillumination mount 4 is provided with a focusing handle 5 for operating a focusing mechanism (not shown) for vertically moving the stereoscopic microscope body 1 together with the arm portion 4c.
【００２３】べ一ス部４ａは、中空構造となっていて、
実体顕微鏡本体１に対向する上面にガラスプレート６が
取り付けられている。このガラスプレート６には、標本
７が載置可能となっている。また、べ一ス部４ａの中空
部のガラスプレート６の下方には、透過照明用光源８が
配置されている。この透過照明用光源８は、図２に示す
ように平坦な円板部材９ａの周縁に沿って所定角度傾い
たテーパ状周壁９ｂを形成した点光源取付部９を有し、
この点光源取付部９の円板部材９ａ上に第１の半導体点
光源として複数の発光ダイオード１０ａ、テーパ状周壁
９ｂ上に第２の半導体点光源として複数の発光ダイオー
ド１０ｂが配置されている。The base portion 4a has a hollow structure,
A glass plate 6 is attached to the upper surface facing the stereoscopic microscope body 1. The sample 7 can be placed on the glass plate 6. A light source 8 for transmitted illumination is arranged below the glass plate 6 in the hollow portion of the base portion 4a. This transillumination light source 8 has a point light source mounting portion 9 in which a tapered peripheral wall 9b inclined at a predetermined angle is formed along the peripheral edge of a flat disc member 9a, as shown in FIG.
A plurality of light emitting diodes 10a are arranged as a first semiconductor point light source on the disc member 9a of the point light source mounting portion 9, and a plurality of light emitting diodes 10b are arranged as a second semiconductor point light source on the tapered peripheral wall 9b.
【００２４】この場合、点光源取付部９の円板部材９ａ
上に配置される発光ダイオード１０ａからの光線は、図
３（ａ）に示すように標本７に対し範囲Ｘの明視野照明
光として照射され、また、円板部材９ａ上の発光ダイオ
ード１０ａの周囲に位置されるテーパ状周壁９ｂ上に配
置された発光ダイオード１０ｂからの光線は、実体顕微
鏡本体１のＮＡより大きな角度、つまり、図３（ｂ）に
示すように実体顕微鏡本体１に直接入らない角度で進
み、標本７に対し範囲Ｙの暗視野照明光として照射され
るようになっている。なお、図面中Ｚは、実体顕微鏡本
体１での観察倍率の最も低い時の視野範囲である。In this case, the disk member 9a of the point light source mounting portion 9
The light beam from the light emitting diode 10a arranged above is irradiated to the sample 7 as bright field illumination light in the range X as shown in FIG. The light beam from the light emitting diode 10b arranged on the tapered peripheral wall 9b located at is larger than the NA of the stereoscopic microscope main body 1, that is, does not directly enter the stereoscopic microscope main body 1 as shown in FIG. The sample 7 is advanced at an angle, and the sample 7 is irradiated with dark field illumination light in the range Y. Incidentally, Z in the drawing is a visual field range when the observation magnification in the stereoscopic microscope main body 1 is the lowest.
【００２５】このような透過照明用光源８の発光ダイオ
ード１０ａ、１０ｂには、電源部１１が接続されてい
る。この電源部１１には、明視野照明または暗視野照明
に対する発光ダイオード１０ａ、１０ｂの点灯状態を切
換えるための制御手段としてスイッチ１２が接続されて
いる。A power supply unit 11 is connected to the light emitting diodes 10a and 10b of the transillumination light source 8. A switch 12 is connected to the power supply unit 11 as a control means for switching the lighting states of the light emitting diodes 10a and 10b for bright field illumination or dark field illumination.
【００２６】次に、このように構成した実施の形態の動
作を説明する。Next, the operation of the embodiment thus configured will be described.
【００２７】まず、実体顕微鏡本体１の接眼レンズ２を
目で覗いた状態で、焦準ハンドル５を回転させ、アーム
部４ｃとともに実体顕微鏡本体１を上下させることで、
ガラスプレート６上に載置された標本７に対して焦点を
合せる。このとき、ズームハンドル３を回転させること
で、観察している標本７の像の拡大、縮小を任意の範囲
で行うことができる。First, with the eyepiece 2 of the stereomicroscope body 1 looking into the eye, the focusing handle 5 is rotated and the stereomicroscope body 1 is moved up and down together with the arm portion 4c.
The specimen 7 placed on the glass plate 6 is focused. At this time, by rotating the zoom handle 3, the image of the specimen 7 being observed can be enlarged or reduced within an arbitrary range.
【００２８】次に、スイッチ１２により、明視野照明を
行うため、点光源取付部９の円板部材９ａ上の発光ダイ
オード１０ａを点灯させると、図３（ａ）に示すよう
に、これら発光ダイオード１０ａからの光線は、実体顕
微鏡本体１の最低倍率の視野範囲Ｚより広い範囲Ｘで標
本７に対して照射され、標本７を透過した光が実体顕微
鏡本体１を介して接眼レンズ２に届けられ明視野観察が
可能となる。Next, in order to perform bright-field illumination by the switch 12, when the light emitting diodes 10a on the disc member 9a of the point light source mounting portion 9 are turned on, as shown in FIG. The light beam from 10a is applied to the sample 7 in a range X wider than the visual field range Z of the lowest magnification of the stereoscopic microscope body 1, and the light transmitted through the sample 7 is delivered to the eyepiece 2 through the stereoscopic microscope body 1. Bright field observation is possible.
【００２９】一方、スイッチ１２により、点光源取付部
９のテーパ状周壁９ｂ上に配置された発光ダイオード１
０ｂを点灯させると、図３（ｂ）のように、これら発光
ダイオード１０ｂからの光線は、実体顕微鏡本体１の最
低倍率の視野範囲Ｚより広い範囲Ｙで標本７に対して照
射され、標本７を透過した光は、実体顕微鏡本体１に直
接導かれることなく、外方へ放出され、標本７により散
乱した光の一部が、実体顕微鏡本体１に導かれて接眼レ
ンズ２に届けられ暗視野観察が可能となる。On the other hand, by the switch 12, the light emitting diode 1 arranged on the tapered peripheral wall 9b of the point light source mounting portion 9
When 0b is turned on, as shown in FIG. 3B, the light rays from these light emitting diodes 10b are irradiated to the sample 7 in a range Y wider than the minimum magnification field of view Z of the stereoscopic microscope body 1, and the sample 7 The light transmitted through is emitted to the outside without being directly guided to the stereomicroscope main body 1, and a part of the light scattered by the specimen 7 is guided to the stereomicroscope main body 1 and delivered to the eyepiece lens 2 for dark field observation. Observation becomes possible.
【００３０】従って、このような構成によれば、２次元
的に配置された発光ダイオード１０ａのみを点灯させる
ことで、明視野観察に必要な照野が確保され、視野周辺
まで明るい明視野観察が可能となり、傾斜して配置され
た発光ダイオード１０ｂのみを点灯することで、標本で
の散乱光による暗視野観察が可能となる。これにより、
従来のレンズ系を使用することがなく、実体顕微鏡に必
要な広い視野に対応した照明が、机上面から標本積載面
までの距離が短くして得られるようになるので、標本交
換時の机上面とステージの間での観察者の手の上下方向
の移動を最小限にでき、優れた作業性が得られ、また、
観察しながらの作業も手の位置を低くすることや、アイ
ポイントも低くできるため、疲労軽減を図ることもでき
る。Therefore, according to such a configuration, by illuminating only the two-dimensionally arranged light-emitting diodes 10a, the illumination field necessary for bright-field observation is secured, and bright bright-field observation up to the periphery of the field of view is possible. By turning on only the light emitting diodes 10b arranged in a tilted manner, dark field observation by scattered light on the sample becomes possible. This allows
Without using a conventional lens system, illumination that corresponds to the wide field of view necessary for a stereomicroscope can be obtained with a short distance from the desk top surface to the sample loading surface, so the desk top surface during sample replacement The vertical movement of the observer's hand between the stage and the stage can be minimized, resulting in excellent workability.
Work while observing can be done by lowering the hand position and eyepoints, thus reducing fatigue.
【００３１】また、光源として発光ダイオード１０ａ、
１０ｂを使用することにより、従来のハロゲンやタング
ステンなどのランプを使用したものと比べて発熱量や消
費電力の低減を図ることができ、さらに長寿命化も実現
できる。Further, as the light source, the light emitting diode 10a,
By using 10b, it is possible to reduce the amount of heat generation and power consumption as compared with a conventional lamp that uses a lamp such as halogen or tungsten, and it is possible to extend the life.
【００３２】（第２の実施の形態）次に、本発明の第２
の実施の形態を説明する。(Second Embodiment) Next, the second embodiment of the present invention will be described.
An embodiment will be described.
【００３３】この場合、図４は、本発明の第２の実施の
形態が適用される実体顕微鏡の概略構成を示す図、図５
は、発光範囲の切換えの詳細を示す図で、（ａ）は明視
野照明時、（ｂ）は暗視野照明時をそれぞれ示し、図６
は、同実施の形態に用いられる点光源切換え部材の概略
構成を示す図で、（ａ）は明視野状態時、（ｂ）は暗視
野状態時を示している。In this case, FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of a stereoscopic microscope to which the second embodiment of the present invention is applied, and FIG.
6A and 6B are diagrams showing details of switching the light emission range. FIG. 6A shows bright field illumination, and FIG. 6B shows dark field illumination.
3A and 3B are diagrams showing a schematic configuration of a point light source switching member used in the same embodiment, where FIG. 7A shows a bright field state and FIG. 8B shows a dark field state.
【００３４】なお、これらの図面は、上述した図１乃至
図３と同一部分には、同符号を付している。In these drawings, the same parts as those in FIGS. 1 to 3 described above are designated by the same reference numerals.
【００３５】この場合、透過照明用光源８とガラスプレ
ート６の間に点光源切換え部材１３が配置されている。
この点光源切換え部材１３は、図６に示すように操作レ
バー１３ａを有する板状ベース１３ｂを支持部１３ｃを
介して支持したもので、操作レバー１３ａの図示矢印方
向の操作により板状ベース１３ｂ全体が回動可能になっ
ている。この場合、点光源切換え部材１３は、拡散板１
４および絞り１５を有しており、操作レバー１３ａの操
作と点光源切換え部材１３自身のストッパ１６ａ,１６
ｂへの突き当てにより、拡散板１４と絞り１５を交互に
光路に切換え挿入可能にしている。この場合、絞り１５
は、暗視野観察時に実体顕微鏡本体１のＮＡより小さい
角度の光線を遮蔽するためのものである。In this case, a point light source switching member 13 is arranged between the transillumination light source 8 and the glass plate 6.
As shown in FIG. 6, the point light source switching member 13 supports a plate-shaped base 13b having an operation lever 13a via a support portion 13c, and the entire plate-shaped base 13b is operated by operating the operation lever 13a in the direction of the arrow. Is rotatable. In this case, the point light source switching member 13 is the diffusion plate 1
4 and the diaphragm 15, and operates the operating lever 13a and the stoppers 16a, 16 of the point light source switching member 13 itself.
By abutting against b, the diffusing plate 14 and the diaphragm 15 can be alternately switched to the optical path and inserted. In this case, the diaphragm 15
Is for blocking a light ray having an angle smaller than NA of the stereoscopic microscope body 1 during dark field observation.
【００３６】このような構成では、透過照明用光源８で
の点光源取付部９の円板部材９ａ上の発光ダイオード１
０ａを点灯させた明視野照明時は、図６（ａ）に示すよ
うに操作レバー１３ａの操作により点光源切換え部材１
３をストッパ１６ｂに当接するまで回転させ、図５
（ａ）に示すように明視野照明光路に拡散板１４を挿入
することにより、明視野照明光は、拡散板１４により拡
散して標本７に照射される。In such a structure, the light emitting diode 1 on the disc member 9a of the point light source mounting portion 9 of the transillumination light source 8 is arranged.
During bright field illumination with 0a turned on, the point light source switching member 1 is operated by operating the operation lever 13a as shown in FIG. 6 (a).
3 until it contacts the stopper 16b,
By inserting the diffuser plate 14 in the bright field illumination optical path as shown in FIG. 7A, the bright field illumination light is diffused by the diffuser plate 14 and applied to the sample 7.
【００３７】一方、点光源取付部９のテーパ状周壁９ｂ
上に配置された発光ダイオード１０ｂを点灯させた暗視
野照明時は、図６（ｂ）に示すように操作レバー１３ａ
の操作により点光源切換え部材１３をストッパ１６ａに
当接するまで回転させ、図５（ｂ）に示すように暗視野
照明光路に絞り１５を挿入することにより、暗視野照明
光のうち不要な光線が遮断され、標本７に照射される。On the other hand, the tapered peripheral wall 9b of the point light source mounting portion 9
During dark field illumination with the light emitting diode 10b arranged above turned on, as shown in FIG. 6 (b), the operation lever 13a
By rotating the point light source switching member 13 until it comes into contact with the stopper 16a and inserting the diaphragm 15 in the dark field illumination light path as shown in FIG. 5B, unnecessary light rays of the dark field illumination light are removed. It is cut off and the specimen 7 is irradiated.
【００３８】このようにすれば、明視野観察時に拡散板
１４が明視野照明光路に挿入されることで、比較的主光
性のある発光ダイオード１０ａの光を拡散できるので、
ムラの少なく、観察しやすい明視野照明を提供すること
ができる。In this way, since the diffusion plate 14 is inserted in the bright field illumination optical path during bright field observation, the light of the light emitting diode 10a having a relatively main light property can be diffused.
It is possible to provide bright-field illumination with little unevenness and easy observation.
【００３９】一方、暗視野観察時に絞り１５が暗視野照
明光路に挿入されることで、暗視野観察に不要な明視野
成分光を遮断できるため、暗視野効果が高くなり、特に
標本７上のキズやゴミ等を発見しやすくなるなど、暗視
野観察の精度を高めることができる。On the other hand, by inserting the diaphragm 15 into the dark-field illumination optical path during dark-field observation, it is possible to block the bright-field component light unnecessary for dark-field observation, so that the dark-field effect is enhanced, especially on the specimen 7. The accuracy of dark-field observation can be improved by making it easier to find scratches and dust.
【００４０】（第３の実施の形態）次に、本発明の第３
の実施の形態を説明する。(Third Embodiment) Next, the third embodiment of the present invention will be described.
An embodiment will be described.
【００４１】この場合、図７（ａ）（ｂ）は、同実施の
形態に用いられる点光源切換え部材の概略構成を示す図
で、上述した図６と同一部分には、同符号を付してい
る。In this case, FIGS. 7 (a) and 7 (b) are views showing a schematic structure of the point light source switching member used in the embodiment, and the same portions as those in FIG. 6 described above are denoted by the same reference numerals. ing.
【００４２】なお、同第３の実施の形態が適用される実
体顕微鏡は、上述した図４と同様なので、同図を援用す
るものとする。Since the stereoscopic microscope to which the third embodiment is applied is the same as that of FIG. 4 described above, the same figure is incorporated herein by reference.
【００４３】この場合、点光源切換え部材１３の板状ベ
ース１３ｂには、さらに突起１３ｄが形成され、図７
（ａ）に示すように拡散板１４が照明光路に挿入時、す
なわち、板状ベース１３ｂがストッパ１６ｂに位置決め
されている時に、突起１３ｄが、透過、遮光を検知する
センサ２０を遮光するように構成され、また、図７
（ｂ）に示すように絞り１５が照明光路に挿入時、すな
わち、板状ベース１３ｂがストッパ１６ａに位置決めさ
れている時に、突起１３ｄが、透過、遮光を検知するセ
ンサ２１を遮光するように構成されている。In this case, a projection 13d is further formed on the plate-shaped base 13b of the point light source switching member 13, as shown in FIG.
As shown in (a), when the diffusion plate 14 is inserted in the illumination optical path, that is, when the plate-shaped base 13b is positioned by the stopper 16b, the protrusion 13d blocks the sensor 20 that detects transmission and light blocking. Configured and also shown in FIG.
As shown in (b), when the diaphragm 15 is inserted in the illumination optical path, that is, when the plate-shaped base 13b is positioned by the stopper 16a, the projection 13d shields the sensor 21 that detects transmission and shielding. Has been done.
【００４４】これらセンサ２０、２１には、センサ電源
２２が接続され、このセンサ電源２２には、センサ２
０、２１からの信号に応じて、透過照明用光源８での点
光源取付部９の円板部材９ａ上の発光ダイオード１０ａ
とテーパ状周壁９ｂ上の発光ダイオード１０ｂの点灯を
切換える指示を電源部１１に出力する発光コントロール
部２３が接続されている。A sensor power supply 22 is connected to the sensors 20 and 21, and the sensor power supply 22 is connected to the sensor 2
The light emitting diode 10a on the disc member 9a of the point light source mounting portion 9 of the transillumination light source 8 according to the signals from 0 and 21.
A light emission control unit 23 that outputs an instruction to switch lighting of the light emitting diode 10b on the tapered peripheral wall 9b to the power supply unit 11 is connected.
【００４５】このような構成では、操作レバー１３ａの
操作により、図７（ａ）に示すように点光源切換え部材
１３をストッパ１６ｂに当接するまで回転させ、照明光
路に絞り１５を挿入した状態では、突起１３ｄがセンサ
２０を遮光するので、このときのセンサ２０からの信号
がセンサ電源２２を介して発光コントロール部２３に送
られる。これにより、発光コントロール部２３より透過
照明用光源８の点光源取付部９の円板部材９ａ上の発光
ダイオード１０ａの点灯が指示され、これら発光ダイオ
ード１０ａによる明視野照明光は、拡散板１４により拡
散して標本７に照射される。In such a structure, by operating the operation lever 13a, the point light source switching member 13 is rotated until it comes into contact with the stopper 16b as shown in FIG. 7A, and the diaphragm 15 is inserted in the illumination optical path. Since the protrusion 13d shields the sensor 20 from light, the signal from the sensor 20 at this time is sent to the light emission control unit 23 via the sensor power supply 22. Thereby, the light emission control unit 23 instructs the lighting of the light emitting diode 10a on the disk member 9a of the point light source mounting portion 9 of the transillumination light source 8, and the bright field illumination light by these light emitting diodes 10a is transmitted by the diffusion plate 14. The sample 7 is diffused and irradiated.
【００４６】一方、操作レバー１３ａの操作により、図
７（ｂ）に示すように点光源切換え部材１３をストッパ
１６ａに当接するまで回転させ、照明光路に絞り１５を
挿入した状態では、今度は、突起１３ｄがセンサ２１を
遮光するので、このときのセンサ２１からの信号がセン
サ電源２２を介して発光コントロール部２３に送られ
る。これにより、発光コントロール部２３より透過照明
用光源８の点光源取付部９のテーパ状周壁９ｂ上の発光
ダイオード１０ｂの点灯が指示され、これら発光ダイオ
ード１０ｂによる明視野照明光は、絞り１５により不要
な光線が遮断され標本７に照射される。On the other hand, by operating the operation lever 13a, as shown in FIG. 7B, the point light source switching member 13 is rotated until it abuts on the stopper 16a, and the diaphragm 15 is inserted in the illumination optical path. Since the protrusion 13d shields the sensor 21 from light, a signal from the sensor 21 at this time is sent to the light emission control unit 23 via the sensor power supply 22. Accordingly, the light emission control unit 23 instructs the lighting of the light emitting diodes 10b on the tapered peripheral wall 9b of the point light source mounting portion 9 of the transillumination light source 8, and the bright field illumination light by these light emitting diodes 10b is unnecessary by the diaphragm 15. Such rays are blocked and the sample 7 is irradiated.
【００４７】このようにすれば、拡散板１４が照明光路
に挿入されると、この状態が自動的に検知され、発光ダ
イオード１０ａによる明視野照明光が拡散板１４を介し
て標本７に照射され、一方、絞り１５が照明光路に挿入
されると、この状態が自動的に検知され、発光ダイオー
ド１０ｂによる暗視野照明光が絞り１５を介して標本７
に照射されるようになるので、１アクション操作が可能
となり、優れた操作性を得ることができる。In this way, when the diffuser plate 14 is inserted into the illumination light path, this state is automatically detected, and the bright field illumination light from the light emitting diode 10a is applied to the sample 7 through the diffuser plate 14. On the other hand, when the diaphragm 15 is inserted into the illumination optical path, this state is automatically detected, and the dark-field illumination light from the light emitting diode 10b is transmitted through the diaphragm 15 to the specimen 7.
Since it is radiated to one side, it is possible to perform one-action operation and obtain excellent operability.
【００４８】（第４の実施の形態）次に、本発明の第４
の実施の形態を説明する。(Fourth Embodiment) Next, a fourth embodiment of the present invention will be described.
An embodiment will be described.
【００４９】この場合、図８は、本発明の第４の実施の
形態が適用される実体顕微鏡の概略構成を示す図、図９
は、（ａ）（ｂ）は、図８のＡ部の詳細を示す図、図１
０（ａ）（ｂ）は、図８のＢ部の詳細を示す図、図１１
（ａ）（ｂ）は、ズーム倍率による透過照明用光源での
状態および照明範囲を示す図である。In this case, FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a stereoscopic microscope to which the fourth embodiment of the present invention is applied, and FIG.
1 (a) and (b) are diagrams showing the details of the portion A in FIG.
0 (a) and (b) are views showing the details of the B part in FIG.
(A) (b) is a figure which shows the state and illumination range in the light source for transmitted illumination by zoom magnification.
【００５０】図において、５１は実体顕微鏡本体で、こ
の実体顕微鏡本体５１は、ベース部５０ａ、コラム部５
０ｂおよびアーム部５０ｃからなる透過照明架台５０に
より保持されている。In the figure, 51 is a stereomicroscope main body, and this stereomicroscope main body 51 includes a base portion 50a and a column portion 5
It is held by a transillumination pedestal 50 including 0b and an arm portion 50c.
【００５１】このような実体顕微鏡本体５１は、標本像
を拡大観察するための接眼レンズ５２、この接眼レンズ
５２での観察倍率を可変するためのズームハンドル５３
が設けられている。ズームハンドル５３の回転軸上に
は、かさ歯車５３ａが設けられ、このかさ歯車５３ａに
は、垂直方向の歯車９１と水平方向のかさ歯車５４が噛
合されている。かさ歯車９１には、回転によりレンズの
移動が行われ倍率可変が行われる図示しないズーム機構
が接続されている。また、かさ歯車５４には、実体顕微
鏡本体５１内部に配置された保持部５７,５８により回
転可能に保持された回転軸５５が連結されている。Such a stereoscopic microscope main body 51 has an eyepiece lens 52 for magnifying and observing a sample image, and a zoom handle 53 for changing the observation magnification with the eyepiece lens 52.
Is provided. A bevel gear 53a is provided on the rotary shaft of the zoom handle 53, and a vertical gear 91 and a horizontal bevel gear 54 are meshed with the bevel gear 53a. The bevel gear 91 is connected to a zoom mechanism (not shown) in which the lens is moved by rotation to change the magnification. A rotating shaft 55 rotatably held by holding portions 57 and 58 arranged inside the stereomicroscope main body 51 is connected to the bevel gear 54.
【００５２】回転軸５５のかさ歯車５４と反対側端部に
は、かさ歯車５６が接続されている。このかさ歯車５６
には、垂直方向にかさ歯車５９が噛合されている。ま
た、このかさ歯車５９には、回転軸６０が連結されてい
る。この回転軸６０は、アーム部５０ｃを貫通されると
ともに、突起６０ａとリング６１により重力方向に保持
されている。また、回転軸６０のアーム部５０ｃより下
方向には、水平方向に挿通されたピン６３を介して回転
軸６２が連結されている。A bevel gear 56 is connected to the end of the rotating shaft 55 opposite to the bevel gear 54. This bevel gear 56
A bevel gear 59 is vertically meshed with the. A rotating shaft 60 is connected to the bevel gear 59. The rotating shaft 60 penetrates the arm portion 50c and is held in the gravity direction by the protrusion 60a and the ring 61. Further, the rotating shaft 62 is connected below the arm portion 50c of the rotating shaft 60 via a pin 63 inserted in the horizontal direction.
【００５３】この場合、回転軸６２は、その端部を図９
に示すように中空に形成されるとともに、この中空部の
軸方向に沿って長穴６２ａが形成されている。そして、
この回転軸６２の中空部に回転軸６０の端部を挿入する
とともに、水平方向に挿通されたピン６３を長穴６２ａ
に挿入し、回転軸６２に対して回転軸６０を軸方向、つ
まり上下方向に移動可能にしている。回転軸６２は、べ
一ス部５０ａにベアリング６５を介して回転可能に支持
されている。In this case, the rotary shaft 62 has its end portion shown in FIG.
As shown in (1), the hole 62a is formed hollow and an elongated hole 62a is formed along the axial direction of the hollow portion. And
The end of the rotary shaft 60 is inserted into the hollow portion of the rotary shaft 62, and the pin 63 inserted in the horizontal direction is inserted into the elongated hole 62a.
The rotary shaft 60 is movable relative to the rotary shaft 62 in the axial direction, that is, in the vertical direction. The rotating shaft 62 is rotatably supported by the base portion 50a via a bearing 65.
【００５４】回転軸６２の下端には歯車６６が取り付け
られている。また、この歯車６６には、軸６８とナット
６９によりベース部５０ａに取り付けられた歯車６７が
噛合されている。さらに、歯車６７には、歯車７０が噛
合されている。A gear 66 is attached to the lower end of the rotary shaft 62. A gear 67 attached to the base portion 50a by a shaft 68 and a nut 69 meshes with the gear 66. Further, a gear 70 is meshed with the gear 67.
【００５５】この場合、歯車７０は、その中心が観察光
軸１００上にあって、透過照明用光源７３の周囲を囲む
ような環状をなすもので、図１０に示すようにベース部
５０ａの固定環７１に回転可能に嵌合されるとともに、
上方部を抑え環７１ｂにより規制されている。また、歯
車７０の透過照明用光源７３に対向する内周面には、斜
め方向の溝７０ａが形成され、この溝７０ａに、透過照
明用光源７３の外周面から突出されたピン７２ａの先端
部が挿入され、歯車７０の回転による溝７０ａに沿った
ピン７２ａの移動により透過照明用光源７３全体を上下
動できるようになっている。In this case, the gear 70 has an annular shape such that its center is on the observation optical axis 100 and surrounds the periphery of the transillumination light source 73, and the base portion 50a is fixed as shown in FIG. While being rotatably fitted to the ring 71,
The upper part is suppressed and regulated by the ring 71b. A diagonal groove 70a is formed on the inner peripheral surface of the gear 70 facing the transillumination light source 73, and a tip portion of a pin 72a protruding from the outer peripheral surface of the transillumination light source 73 is formed in the groove 70a. Is inserted, and the whole of the transillumination light source 73 can be moved up and down by the movement of the pin 72a along the groove 70a by the rotation of the gear 70.
【００５６】ここで、透過照明用光源７３は、椀状の凹
部７３ａを有し、この凹部７３ａに半導体点光源として
の複数の発光ダイオード７４が配置されている。Here, the transillumination light source 73 has a bowl-shaped recess 73a, and a plurality of light-emitting diodes 74 as semiconductor point light sources are arranged in the recess 73a.
【００５７】このような構成において、接眼レンズ５２
での観察倍率を可変するためのズームハンドル５３を操
作すると、かさ歯車５３ａによりかさ歯車９１が回転さ
れ、図示しないズーム機構により倍率が可変される。同
時に、かさ歯車５３ａからかさ歯車５４に回転が伝達さ
れ、回転軸５５が回転し、このかさ歯車５６よりかさ歯
車５９に回転が伝達され、回転軸６０が回転する。さら
に、回転軸６０に取り付けられたピン６３が回転軸６２
に形成された長溝６４の側壁を押すことで、回転が回転
軸６２に伝達され、回転軸６２に取り付けられた歯車６
６が歯車６７に回転を伝達し、さらに歯車７０にも回転
が伝えられる。これにより、歯車７０の内周面に形成さ
れた斜め方向の長溝７０ａに沿って透過照明用光源７３
の外周面から突出されたピン７２ａが移動し、この移動
により透過照明用光源７３全体が上下方向に移動され
る。このときの透過照明用光源７３の移動は、ズームハ
ンドル５３の操作によるズーム倍率に応じものとなり、
この移動により照明範囲の可変が可能となる。例えば、
図１１（ａ）に示すように、透過照明用光源７３を上方
に移動した状態で、ズームが低倍であれば、図示φのよ
うに広い視野に対応した照明が可能となり、同図（ｂ）
に示すように透過照明用光源７３を下方に移動した状態
で、ズームが高倍であれば、図示φ'のように狭い視野
を明るく照明が可能となる。また、仮に、標本の厚さに
より照準位置が変わって、アーム部５０ｃとともに、実
体顕微鏡本体５１が上下しても、回転軸６２に形成され
た長溝６４に沿った回転軸６０に設けられたピン６３の
移動により吸収することができる。In such a structure, the eyepiece lens 52
When the zoom handle 53 for changing the observation magnification is operated, the bevel gear 91a is rotated by the bevel gear 53a, and the magnification is changed by a zoom mechanism (not shown). At the same time, the rotation is transmitted from the bevel gear 53a to the bevel gear 54, the rotating shaft 55 is rotated, the rotation is transmitted from the bevel gear 56 to the bevel gear 59, and the rotating shaft 60 is rotated. Further, the pin 63 attached to the rotary shaft 60 is attached to the rotary shaft 62.
By pushing the side wall of the long groove 64 formed in the, the rotation is transmitted to the rotary shaft 62, and the gear 6 attached to the rotary shaft 62 is
6 transmits the rotation to the gear 67, and the rotation is also transmitted to the gear 70. As a result, the light source 73 for transmitted illumination is provided along the long groove 70a formed in the inner peripheral surface of the gear 70 in the oblique direction.
The pin 72a protruding from the outer peripheral surface of the light source moves, and this movement moves the entire transmitted illumination light source 73 in the vertical direction. The movement of the transillumination light source 73 at this time depends on the zoom magnification by the operation of the zoom handle 53,
This movement makes it possible to change the illumination range. For example,
As shown in FIG. 11 (a), when the zoom ratio is low with the transmitted illumination light source 73 moved upward, illumination corresponding to a wide field of view as shown by φ is possible, and FIG. )
As shown in, when the transmitted illumination light source 73 is moved downward, if the zoom is high, it is possible to brightly illuminate a narrow field of view such as φ ′ in the figure. Even if the aiming position changes depending on the thickness of the sample and the stereomicroscope main body 51 moves up and down together with the arm portion 50c, the pin provided on the rotary shaft 60 along the long groove 64 formed on the rotary shaft 62. It can be absorbed by moving 63.
【００５８】従って、このようにすれば、ズーム倍率に
応じた最適な照明が得られるので、光量の無駄がなくな
り、さらに操作性にも優れる。Therefore, in this way, since the optimum illumination according to the zoom magnification can be obtained, the light amount is not wasted and the operability is excellent.
【００５９】（第５の実施の形態）次に、本発明の第５
の実施の形態を説明する。(Fifth Embodiment) Next, the fifth embodiment of the present invention will be described.
An embodiment will be described.
【００６０】この場合、図１２は、本発明の第５の実施
の形態が適用される実体顕微鏡の概略構成を示す図、図
１３（ａ）（ｂ）は、ズーム倍率による透過照明用光源
の可変角度状態を示す図、図１４は、透過照明用光源を
示す鳥瞰図である。In this case, FIG. 12 is a diagram showing a schematic configuration of a stereoscopic microscope to which the fifth embodiment of the present invention is applied, and FIGS. 13 (a) and 13 (b) are diagrams of a transmission illumination light source according to a zoom magnification. FIG. 14 is a view showing a variable angle state, and FIG. 14 is a bird's-eye view showing a transillumination light source.
【００６１】なお、これら図面は、上述した図８および
図１１と同一部分には、同符号を付している。In these drawings, the same parts as those in FIGS. 8 and 11 described above are designated by the same reference numerals.
【００６２】この場合も、歯車８０は、その中心が観察
光軸１００上にあって、透過照明用光源８４の周囲を囲
むような環状をなすもので、図１３に示すようにベース
部５０ａに固定された固定環８１に回転可能に嵌合され
るとともに、上方部を抑え環８１ｂにより規制されてい
る。固定環８１の内側には、移動環８３が設けられてい
る。この移動環８３は、外周面にピン８２が設けられ、
このピン８２が固定環８１の上下方向に沿って形成され
た長溝８１ａに挿入され、この長溝８１ａに沿って上下
方向に移動可能になっている。また、このピン８２の先
端は、歯車８０の内周面に形成された斜め方向の溝８０
ａに挿入され、歯車８０の回転による溝８０ａに沿った
ピン８２の移動により移動環８３全体を上下動できるよ
うになっている。Also in this case, the gear 80 has an annular shape such that its center is on the observation optical axis 100 and surrounds the periphery of the transillumination light source 84. As shown in FIG. The fixed ring 81 is rotatably fitted to the fixed ring 81 and is restrained by the ring 81b while suppressing the upper portion. A movable ring 83 is provided inside the fixed ring 81. The moving ring 83 is provided with a pin 82 on the outer peripheral surface,
The pin 82 is inserted into a long groove 81a formed along the vertical direction of the fixed ring 81, and is vertically movable along the long groove 81a. Further, the tip of the pin 82 has an oblique groove 80 formed on the inner peripheral surface of the gear 80.
The movable ring 83 can be moved up and down by the movement of the pin 82 which is inserted into the a and is moved along the groove 80a by the rotation of the gear 80.
【００６３】移動環８３の上端には、円周方向に沿って
複数の突起部８３ａが形成され、これら突起部８３ａ先
端には、溝部８３ｂが形成されている。A plurality of protrusions 83a are formed along the circumferential direction at the upper end of the moving ring 83, and a groove 83b is formed at the tip of these protrusions 83a.
【００６４】そして、このような移動環８３により透過
照明用光源８４が支持される。この場合、透過照明用光
源８４は、図１４に示すように、三角形をした複数(図
示例では８個)の照明板８４ａを並設したもので、それ
ぞれの照明板８４ａの頂点部をベース部５０ａに設けら
れた突起８５にネジ８７により上下方向が規制されるよ
うに取り付けられるとともに、長穴８４ｂを介して移動
可能になっている。また、それぞれの照明板８４ａの底
辺部には、突起８４ｃが設けられ、これら突起８４ｃ
に、共通なリング８６が挿通され、このリング８６が移
動環８３の上端の突起部８３ａの溝部８３ｂに支持され
ている。さらに、それぞれの照明板８４ａは、複数の折
り曲げ部８９を有するとともに、半導体点光源としての
複数の発光ダイオード８８が設けられている。The transmission illumination light source 84 is supported by the moving ring 83. In this case, as shown in FIG. 14, the transillumination light source 84 is formed by arranging a plurality of triangular illumination plates 84a (eight in the illustrated example) in parallel. It is attached to a protrusion 85 provided on 50a so that the vertical direction is restricted by a screw 87, and is movable via an elongated hole 84b. Further, projections 84c are provided on the bottom side of each illumination plate 84a.
A common ring 86 is inserted into the groove 83b of the protrusion 83a at the upper end of the moving ring 83. Further, each illumination plate 84a has a plurality of bent portions 89 and a plurality of light emitting diodes 88 as semiconductor point light sources.
【００６５】このような構成において、接眼レンズ５２
での観察倍率を可変するためのズームハンドル５３を操
作すると、上述した第４の実施の形態と同様に回転が伝
達され、歯車８０に伝えられる。これにより、歯車８０
の内周面に形成された斜め方向の長溝８０ａに沿って移
動環８３のピン８２が移動し、この移動により移動環８
３全体が上下方向に移動され、この移動環８３の上下動
とともに、透過照明用光源８４のリング８６が上下方向
に移動される。In such a structure, the eyepiece lens 52
When the zoom handle 53 for changing the observation magnification is operated, the rotation is transmitted and transmitted to the gear 80 as in the above-described fourth embodiment. As a result, the gear 80
The pin 82 of the moving ring 83 moves along the oblique long groove 80a formed on the inner peripheral surface of the moving ring 8 by this movement.
The whole 3 is moved in the vertical direction, and the ring 86 of the transillumination light source 84 is moved in the vertical direction as the moving ring 83 moves up and down.
【００６６】この場合、図１３(ａ)に示すように移動環
８３とともに、リング８６を上方向に移動させた場合
は、透過照明用光源８４の三角形をした複数の照明板８
４ａは、ネジ８７を中心に湾曲され、照明板８４ａ上の
発光ダイオード８８は、傾いた状態の配置となる。この
照明板８４ａがネジ８７を中心に湾曲される場合は、照
明板８４ａ全体が外側に引張られる形となるが、長穴８
４ｂによる移動により曲げ分の移動が確保される。In this case, as shown in FIG. 13A, when the ring 86 is moved upward together with the moving ring 83, a plurality of triangular illumination plates 8 of the transillumination light source 84 are used.
4a is curved around the screw 87, and the light emitting diode 88 on the illumination plate 84a is arranged in an inclined state. When the illumination plate 84a is curved around the screw 87, the entire illumination plate 84a is pulled outward, but the long hole 8
The movement by 4b ensures the movement for the bending.
【００６７】また、図１３(ｂ)に示すように移動環８３
とともに、リング８６を下方向に移動させた場合は、透
過照明用光源８４の三角形をした複数の照明板８４ａ
は、湾曲状態を解かれ、照明板８４ａ上の発光ダイオー
ド８８は、平坦な状態の配置となる。Further, as shown in FIG. 13B, the moving ring 83
At the same time, when the ring 86 is moved downward, a plurality of triangular illumination plates 84a of the transillumination light source 84 are used.
Is released from the curved state, and the light emitting diodes 88 on the illumination plate 84a are arranged in a flat state.
【００６８】これにより、図１３（ａ）に示すように、
透過照明用光源８４を上方に移動した状態で、ズームが
高倍であれば、図示φ’のように狭い視野を明るく照明
でき、また、同図（ｂ）に示すように透過照明用光源８
４を下方に移動した状態で、ズームが低倍であれば、図
示φ'のように広い視野を明るく照明できるようにな
る。As a result, as shown in FIG.
If the zoom is a high magnification with the transmitted illumination light source 84 moved upward, a narrow field of view can be illuminated brightly as shown by φ ′, and as shown in FIG.
If the zoom is at a low magnification with 4 moved downward, a wide field of view can be illuminated brightly as shown by φ '.
【００６９】従って、このようにすれば、第４の実施の
形態の効果に加え、可変できる照明範囲が増し、机上か
ら標本の載置面までの距離を小さくできるため、さらに
優れた作業性が得られる。Therefore, in this way, in addition to the effect of the fourth embodiment, the variable illumination range is increased, and the distance from the desk to the sample mounting surface can be reduced, resulting in further excellent workability. can get.
【００７０】本発明は、上記実施の形態に限定されるも
のでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で
種々変形することが可能である。The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, but can be variously modified at the stage of carrying out the invention without departing from the spirit of the invention.
【００７１】さらに、上記実施の形態には、種々の段階
の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件
における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄
で述べられている効果が得られる場合には、この構成要
件が削除された構成が発明として抽出できる。Furthermore, the above-described embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiment, the problem described in the section of the problem to be solved by the invention can be solved, and it is described in the section of the effect of the invention. In the case where the effect described above is obtained, a configuration in which this constituent element is deleted can be extracted as an invention.
【００７２】なお、上述した実施の形態には、以下の発
明も含まれる。The above-described embodiments include the following inventions.
【００７３】（１）椀状の凹部に複数の発光ダイオード
を配置した透過照明光源を有し、該透過照明光源と標本
との間の距離を可変可能にしたことを特徴としている。(1) It is characterized in that it has a transmissive illumination light source in which a plurality of light emitting diodes are arranged in a bowl-shaped recess, and the distance between the transmissive illumination light source and the sample is variable.
【００７４】（２）椀状の凹部に複数の発光ダイオード
を配置した透過照明光源を有し、該透過照明光源と標本
との間の距離をズーム倍率に応じて可変可能にしたこと
を特徴としている。(2) A transmission illumination light source in which a plurality of light emitting diodes are arranged in a bowl-shaped recess is provided, and the distance between the transmission illumination light source and the sample is made variable according to the zoom magnification. There is.
【００７５】（３）複数の発光ダイオードを配置した透
過照明光源を有し、該透過照明光源のそれぞれの発光ダ
イオードの光軸の角度を可変可能にしたことを特徴とし
ている。(3) It is characterized in that it has a transmissive illumination light source in which a plurality of light emitting diodes are arranged, and the angle of the optical axis of each light emitting diode of the transmissive illumination light source is variable.
【００７６】（４）複数の発光ダイオードを配置した透
過照明光源を有し、該透過照明光源のそれぞれの発光ダ
イオードの光軸の角度をズーム倍率に応じて可変可能に
したことを特徴としている。(4) It is characterized in that it has a transmissive illumination light source in which a plurality of light emitting diodes are arranged, and the angle of the optical axis of each of the light emitting diodes of the transmissive illumination light source can be changed according to the zoom magnification.
【００７７】（５）複数の発光ダイオードを配置した透
過照明光源を有し、該透過照明光源のそれぞれの発光ダ
イオードによる照明範囲をズーム倍率に応じて可変可能
にしたことを特徴としている。(5) It is characterized in that it has a transmissive illumination light source in which a plurality of light emitting diodes are arranged, and that the illumination range by each light emitting diode of the transmissive illumination light source can be changed according to the zoom magnification.
【００７８】[0078]
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、顕微
鏡観察作業を簡単にできるとともに、光源の省電力と長
寿命化を得られる実体顕微鏡に用いられる透過照明装置
を提供できる。As described above, according to the present invention, it is possible to provide a transillumination device for use in a stereoscopic microscope that can simplify the microscope observation work and save the power and the life of the light source.
【図１】本発明の第１の実施の形態が適用される実体顕
微鏡の概略構成を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a stereoscopic microscope to which a first embodiment of the present invention is applied.
【図２】第１の実施の形態に用いられる発光ダイオード
の配列を示す鳥瞰図。FIG. 2 is a bird's-eye view showing an array of light emitting diodes used in the first embodiment.
【図３】第１の実施の形態の発光範囲の切換えの詳細を
示す図。FIG. 3 is a diagram showing details of switching of a light emitting range according to the first embodiment.
【図４】本発明の第２の実施の形態が適用される実体顕
微鏡の概略構成を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of a stereoscopic microscope to which a second embodiment of the present invention is applied.
【図５】第２の実施の形態の発光範囲の切換えの詳細を
示す図。FIG. 5 is a diagram showing details of switching of a light emitting range according to the second embodiment.
【図６】第２の実施の形態に用いられる点光源切換え部
材の概略構成を示ず図。FIG. 6 is a view without showing a schematic configuration of a point light source switching member used in the second embodiment.
【図７】第３の実施の形態に用いられる点光源切換え部
材の概略構成を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a point light source switching member used in the third embodiment.
【図８】本発明の第４の実施の形態が適用される実体顕
微鏡の概略構成を示す図。FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of a stereoscopic microscope to which a fourth embodiment of the present invention is applied.
【図９】第４の実施の形態の要部を拡大して示す図。FIG. 9 is an enlarged view showing a main part of a fourth embodiment.
【図１０】第４の実施の形態の要部を拡大して示す図。FIG. 10 is an enlarged view showing a main part of a fourth embodiment.
【図１１】第４の実施のズーム倍率による透過照明用光
源での状態および照明範囲を示す図。FIG. 11 is a diagram showing a state and an illumination range in a transillumination light source according to a fourth embodiment of the zoom magnification.
【図１２】本発明の第５の実施の形態が適用される実体
顕微鏡の概略構成を示す図。FIG. 12 is a diagram showing a schematic configuration of a stereoscopic microscope to which a fifth embodiment of the present invention is applied.
【図１３】第５の実施の形態でのズーム倍率による透過
照明用光源の可変角度状態を示す図。FIG. 13 is a diagram showing a variable angle state of a transillumination light source according to a zoom magnification according to the fifth embodiment.
【図１４】第５の実施の形態に用いられる透過照明用光
源を示す鳥瞰図。FIG. 14 is a bird's-eye view showing a transillumination light source used in the fifth embodiment.
１…実体顕微鏡本体 ２…接眼レンズ ３…ズームハンドル ４…透過照明架台 ４ａ…ベース部 ４ｂ…コラム部 ４ｃ…アーム部 ５…焦準ハンドル ６…ガラスプレート ７…標本 ８…透過照明用光源 ９…点光源取付部 ９ａ…円板部材 ９ｂ…テーパ状周壁 １０ａ…発光ダイオード １０ｂ…発光ダイオード １１…電源部 １２…スイッチ １３…点光源切換え部材 １３ａ…操作レバー １３ｂ…板状ベース １３ｃ…支持部 １３ｄ…突起 １４…拡散板 １５…絞り １６ａ、１６ｂ…ストッパ ２０、２１…センサ ２２…センサ電源 ２３…発光コントロール部 ５０ａ…ベース部 ５０ｂ…コラム部 ５０ｃ…アーム部 ５０…透過照明架台 ５１…実体顕微鏡本体 ５２…接眼レンズ ５３…ズームハンドル ５３ａ…歯車 ５４…歯車 ５５…回転軸 ５６…歯車 ５７、５８…保持部 ５９…歯車 ６０…回転軸 ６０ａ…突起 ６１…リング ６２…回転軸 ６２ａ…長穴 ６３…ピン ６４…長溝 ６５…ベアリング ６６、６７…歯車 ６８…軸 ６９…ナット ７０…歯車 ７０ａ…溝 ７０ａ…長溝 ７１…固定環 ７１ｂ…押え環 ７２ａ…ピン ７３…透過照明用光源 ７３ａ…凹部 ７４…発光ダイオード ８０…歯車 ８０ａ…長溝 ８１…固定環 ８１ａ…長溝 ８１ｂ…抑え環 ８２…ピン ８３…移動環 ８３ａ…突起部 ８３ｂ…溝部 ８４…透過照明用光源 ８４ａ…照明板 ８４ｂ…長穴 ８４ｃ…突起 ８５…突起 ８６…リング ８７…ネジ ８８…発光ダイオード ９１…歯車 １００…観察光軸 1… Stereoscopic microscope body 2 ... Eyepiece 3 ... Zoom handle 4 ... Transmitted illumination stand 4a ... Base part 4b ... Column section 4c ... Arm part 5 ... Focusing handle 6 ... Glass plate 7 ... Specimen 8 ... Light source for transmitted illumination 9 ... Point light source mounting part 9a ... Disc member 9b ... Tapered peripheral wall 10a ... Light emitting diode 10b ... Light emitting diode 11 ... Power supply unit 12 ... switch 13 ... Point light source switching member 13a ... Operating lever 13b ... plate-shaped base 13c ... Supporting part 13d ... protrusion 14 ... Diffusion plate 15 ... Aperture 16a, 16b ... stopper 20, 21 ... Sensor 22 ... Sensor power supply 23 ... Emission control section 50a ... Base part 50b ... Column section 50c ... Arm part 50 ... Transmitted light stand 51 ... Stereomicroscope body 52 ... Eyepiece 53 ... Zoom handle 53a ... Gear 54 ... Gear 55 ... Rotary axis 56 ... Gear 57, 58 ... Holding unit 59 ... Gear 60 ... Rotary axis 60a ... protrusion 61 ... Ring 62 ... Rotary axis 62a ... elongated hole 63 ... pin 64 ... long groove 65 ... Bearing 66, 67 ... Gears 68 ... Axis 69 ... Nut 70 ... Gear 70a ... groove 70a ... long groove 71 ... Stationary ring 71b ... presser ring 72a ... pin 73 ... Light source for transmitted illumination 73a ... Recess 74 ... Light emitting diode 80 ... Gear 80a ... long groove 81 ... Stationary ring 81a ... long groove 81b ... Retaining ring 82 ... pin 83 ... Moving ring 83a ... Projection 83b ... Groove 84 ... Light source for transmitted illumination 84a ... Illumination plate 84b ... elongated hole 84c ... Protrusion 85 ... Protrusion 86 ... Ring 87 ... screw 88 ... Light emitting diode 91 ... Gear 100 ... Observation optical axis
Claims (4)
に用いられる透過照明装置において、前記明視野観察に
必要な視野範囲を照射するように２次元的に配置された
複数の第１の半導体点光源と、 前記第１の半導体点光源の外側に、前記暗視野観察に必
要な前記実体顕微鏡のＮＡより大きい角度で光線が進む
ように傾斜して配置された複数の第２の半導体点光源
と、 これら第１および第２の半導体点光源を選択的に点灯さ
せる制御手段とを具備したことを特徴とする透過照明装
置。1. A transmission illumination device used in a stereoscopic microscope capable of bright-field and dark-field observation, wherein a plurality of first two-dimensionally arranged so as to illuminate a visual field range required for the bright-field observation. A semiconductor point light source, and a plurality of second semiconductor points, which are arranged outside the first semiconductor point light source and are inclined so that light rays travel at an angle larger than NA of the stereomicroscope necessary for the dark field observation. A transillumination device comprising a light source and control means for selectively turning on these first and second semiconductor point light sources.
の半導体点光源からの光を拡散する拡散板と、 前記暗視野観察時に点灯される前記第２の半導体点光源
からの光のうち前記実体顕微鏡のＮＡより小さい角度の
光線を遮蔽する遮蔽板とをさらに有し、これら拡散板と
遮蔽板を選択的に照明光路に挿脱可能にしたことを特徴
とする請求項１記載の透過照明装置。2. The first light which is turned on during the bright field observation
A diffusing plate for diffusing light from the semiconductor point light source, and a shielding plate for blocking a light ray of an angle smaller than NA of the stereomicroscope among the light from the second semiconductor point light source turned on during the dark field observation. 2. The transillumination device according to claim 1, further comprising: a diffusion plate and a shielding plate that can be selectively inserted into and removed from the illumination optical path.
の挿脱状態を検知する検知手段をさらに有し、 該前記検知手段の検知結果に応じて前記制御手段により
前記第１または第２の半導体点光源を点灯制御すること
を特徴とする請求項２記載の透過照明装置。3. A detection means for detecting an insertion / removal state of the illumination optical path of the diffusion plate and the shielding plate, wherein the control means controls the first or second state in accordance with a detection result of the detection means. The transillumination device according to claim 2, wherein the lighting of the semiconductor point light source is controlled.
発光ダイオードからなることを特徴とする請求項１乃至
３のいずれかに記載の透過照明装置。4. The first and second semiconductor point light sources,
4. The transillumination device according to claim 1, wherein the transillumination device comprises a light emitting diode.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2001267818A JP2003075725A (en) | 2001-09-04 | 2001-09-04 | Transmitted illumination device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003075725A true JP2003075725A (en) | 2003-03-12 |
Family
ID=19093896
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001267818A Pending JP2003075725A (en) | 2001-09-04 | 2001-09-04 | Transmitted illumination device |
Country Status (1)
| Country | Link |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110809 |