JP2003071706A - ラッピング装置 - Google Patents

ラッピング装置

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JP2003071706A
JP2003071706A JP2001261514A JP2001261514A JP2003071706A JP 2003071706 A JP2003071706 A JP 2003071706A JP 2001261514 A JP2001261514 A JP 2001261514A JP 2001261514 A JP2001261514 A JP 2001261514A JP 2003071706 A JP2003071706 A JP 2003071706A
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JP
Japan
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lapping
wafer
plate
carrier
lap
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JP2001261514A
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English (en)
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Shuzo Ueki
修三 植木
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Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ラップ定盤に複数枚のウェハを貼り付けて研磨
する際、各ウェハの研磨量が不均一となり、高精度なラ
ッピング加工ができない。 【解決手段】ラップ盤2上に、下面に複数のラップ定盤
3を支持するキャリア1を配して成り、各ラップ定盤3
の下面にウェハ6を取着し、ウェハ6表面を上記ラップ
盤2に押圧してウェハ6表面を研磨するラッピング装置
であって、上記キャリア1はその中心軸1aで回転し、
かつ各ラップ定盤3はその中心軸3aで回転する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高い寸法精度及び
平坦度を有する半導体ウェハを得るためのラッピング加
工を行うラッピング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェハの平行度、平坦度及び表面
粗さ等の良否は、半導体の製品品質に直接影響を及ぼす
重要な要素であり、ウェハの表面をラッピング装置によ
ってラッピング加工して高品質のウェハが作製されてい
る。
【0003】かかるラッピング装置は、図3に示すよう
に、上部ラップ盤11、下部ラップ盤12及びこれら上
部ラップ盤11と下部ラップ盤12との間に備えられた
複数のラップ定盤13と、これら複数のラップ定盤13
を保持するキャリア17とからなり、上記各ラップ定盤
13の下面にはパラフィン系ワックス等を介してウェハ
が取着されている。
【0004】このようなラッピング装置では、ラップ定
盤13に取着されたウェハを、上部ラップ盤11によっ
てウェハが下部ラップ盤12に圧接するように加圧さ
れ、上部ラップ盤11及び下部ラップ盤12をそれぞれ
回転させながら、供給される研磨材によってラッピング
加工する仕組みである(特開平6−77187号公報参
照)。
【0005】また、図4の平面図に示すように、上部ラ
ップ盤21と下部ラップ盤の間に配置されるラップ定盤
23にウェハ26を偏心させて取着し、その外周に設け
られた歯車24によって自転させ、上部ラップ盤21及
び下部ラップ盤をそれぞれ回転させることによって、ウ
ェハ26を全面に渡って均一にラッピング加工するラッ
ピング装置が提案されている(特開2000−2379
53号公報参照)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3に
示すようなラッピング装置は、複数のラップ定盤13が
キャリア17に保持され、上部ラップ盤11とともに回
転するため、上部ラップ定盤11及び下部ラップ定盤1
2が回転するだけであることから、ウェハの研磨量にバ
ラツキが生じやすく、下部ラップ盤12の外周部では周
速が大きくなり、各ラップ定盤13に取着されたウェハ
16の平坦度、平行度、表面粗さを均一にできないとい
う欠点を有していた。
【0007】また、各ラップ定盤13の周速が異なるこ
とから、各ウェハの研磨量の違いが生じ、寸法精度が低
下するという欠点を有していた。
【0008】さらに、上記図4に示すようなラッピング
装置では、ウェハ26を取着したラップ定盤23がその
外周に設けられた歯車24によって自転するが、1つの
ラップ定盤23に1つのウェハ26しか取着できないた
め、ラッピング加工の効率が悪いという欠点を有してい
た。
【0009】またさらに、ウェハ26をラップ定盤23
に偏心させて取着する必要があることから、位置ずれが
生じやすく、研磨量を均一にしにくいという欠点を有し
ていた。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のラッピング装置
は、ラップ盤上に、下面に複数のラップ定盤を支持する
キャリアを配して成り、各ラップ定盤の下面にウェハを
取着し、ウェハ表面を上記ラップ盤に押圧してウェハ表
面を研磨するラッピング装置であって、上記キャリアは
その中心軸で回転し、かつ各ラップ定盤はその中心軸で
回転することを特徴とするものである。
【0011】また、本発明のラッピング装置は、上記キ
ャリアの上面にその中心軸を駆動軸として回転する駆動
用歯車を備えるとともに、該駆動用歯車の回転に従動し
て回転し、上記各ラップ定盤をその中心軸で回転させる
従動用歯車を備えたことを特徴とするものである。
【0012】さらに、上記各ラップ定盤は、その直径が
ウェハの直径より1〜5mm大きく、且つ各ラップ定盤
に上記従動用歯車の従動軸を嵌合し、少なくとも1つの
ストレート部を有する円形状の従動軸用孔を備えたこと
を特徴とするものである。
【0013】本発明のラッピング装置によれば、上記キ
ャリアはその中心軸で回転し、かつ各ラップ定盤はその
中心軸で回転することから、ラップ盤上にウェハ全面を
一様に接触させることが可能となり、各ウェハの研磨量
を均一にして、平坦度、表面粗さの優れたラッピング精
度の高いラッピング装置を提供することができる。
【0014】また、本発明のラッピング装置によれば、
上記キャリアの上面にその中心軸を駆動軸として回転す
る駆動用歯車を備えるとともに、該駆動用歯車の回転に
従動して回転し、上記各ラップ定盤をその中心軸で回転
させる従動用歯車を備えたことから、容易な機構で各ラ
ップ定盤に取着されたウェハ全面を均一にラップ盤に接
触させることができ、より平坦度、表面粗さの優れたラ
ッピング精度の高いラッピング装置を提供することがで
きる。
【0015】さらに、本発明のラッピング装置によれ
ば、上記各ラップ定盤の直径がウェハの直径より1〜5
mm大きく、上記従動用歯車の従動軸を嵌合する少なく
とも1つのストレート部を有する円形状の従動軸用孔を
有することから、ラップ定盤とウェハの中心位置を高精
度に合わせて取着でき、ウェハを均一に研磨することが
できる。さらに、上記従動軸用孔をストレート部を有す
る円形状としておくことで、セラミックス等の高剛性の
材料からなるラップ定盤に従動軸用孔を加工する際に、
クラック等が生じることを防止し、ラップ定盤の従動軸
用孔に従動軸を差し込めば、回転トルクを従動軸からラ
ップ定盤へ効率よく伝達することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】次いで、本発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。
【0017】図1(a)は、本発明のラッピング装置の
一実施形態を示す分解斜視図であり、同図(b)はラッ
ピング装置の研磨機構を示す部分断面図である。
【0018】本発明のラッピング装置は、ラップ盤2上
に、下面に複数のラップ定盤3を支持するキャリア1を
配して成り、各ラップ定盤3の下面にウェハ6を取着
し、ウェハ6の表面を上記ラップ盤2に押圧してウェハ
6を研磨するものであり、上記キャリア1の上面にその
中心軸1aを駆動軸4aとして回転する駆動用歯車4を
備えるとともに、該駆動用歯車4の回転に従動して回転
する従動用歯車4を備えてなる。
【0019】上記キャリア1は、ラップ定盤3を複数個
保持できるホールを有し、1つのキャリア1に6個程
度、また、1つのラップ盤2上にはキャリア1が3〜4
個程度設けられており、ラップ盤2、ウェハ6の大きさ
によって適切な大きさのものを選択する。
【0020】また、上記キャリア1は、その中心軸1a
を中心に回転し、中心軸1aにはラップ定盤3を回転さ
せるための駆動用歯車4が設けられるとともに、該駆動
用歯車4と噛み合う複数の従動用歯車5が設けられてい
る。
【0021】なお、上記駆動用歯車4及び従動用歯車5
の歯数比率はラップ盤2の周速に対して、適切な設定値
が採用される。歯車形状としては平歯車、ハス歯歯車を
用いることが好ましい。
【0022】上記キャリア1の下面には、従動用歯車5
の位置に対応する複数のラップ定盤3が回転自在に取り
付けられている。
【0023】上記ラップ定盤3は、炭化珪素、アルミ
ナ、窒化珪素等のセラミックスからなることから、高剛
性を有し、ラップ定盤3の歪み量を小さく抑えることが
できる。特に、炭化珪素質セラミックスはビッカース硬
度が15〜25GPa、熱伝導率が60W/m・K以
上、破壊靭性値が4〜6MPa√mとなり、研磨時に発
生する熱を逃がし易いことから、熱歪の少ないラッピン
グ加工を行うことができる。また、耐薬品性が高いこと
から、使用中の化学的な腐食が少なく、高精度なラッピ
ング加工が可能となる。
【0024】また、上記ラップ定盤3は、通常8インチ
(直径203.2mm)のウェハ6を研磨する際、外径60
0mmのキャリア1に最大6個セットし、生産効率を上げ
ることができる。
【0025】さらに、上記ラップ定盤3は、その下面に
パラフィン系ワックスを介してウェハ6が取着されてお
り、ラップ定盤3の直径は、上記ウェハ6の直径より1
〜5mm大きくすることが好ましい。ラップ定盤3の直
径とウェハ6の直径の差が1mm未満となると、ラップ
定盤3にウェハ6を取着する作業において、ウェハ6が
ラップ定盤3からはみ出す危険性を有しており、ウェハ
6を均一に研磨することが困難となる。一方、ラップ定
盤3の直径がウェハ6の直径より5mmを超えて大きく
なると、1つのキャリア1に配置できるウェハ6の数が
減少し、ウェハ6を効率よく研磨できなくなる。
【0026】またさらに、上記ラップ定盤3は、図2に
示す平面図のように、その上面、即ちウェハ6の取着面
と反対側の面に、上記キャリア1上に備えられた複数の
従動用歯車5の従動軸5aを嵌合するための従動軸用孔
3bを有している。
【0027】上記従動軸用孔3bは、少なくとも1つの
ストレート部を有する円形状とすることが好ましく、セ
ラミックス等の高剛性の材料からなるラップ定盤3に従
動軸用孔3aを加工する際、クラック等が生じることを
防止し、従動軸5aが空回りすることは無く、従動用歯
車5の駆動トルクをラップ定盤3に効率よく伝達するこ
とができる。
【0028】なお、ラップ定盤3に従動用歯車5からの
回転を伝達する方法としては、色々な方法が考えられ
る。例えば、ラップ定盤3と従動用歯車5を一体的に形
成する方法や、ラップ定盤3の中心に凸部を設けるとと
もに、従動用歯車5の従動軸5aに位置する部分に凹部
を設け、上記凸部を凹部に嵌合する方法、また、ラップ
定盤3と駆動用歯車4の駆動軸4aをフランジボルト止
めする方法等によっても上述と同様に、従動用歯車5の
回転をラップ定盤3に伝達することができる。
【0029】また、上記ラップ定盤3及びその下面に取
着されたウェハ6の下面には、鋳鉄製のラップ盤2が備
えられ、中心軸2aを中心に回転してウェハ6をラッピ
ング加工する。
【0030】ここで、上述のような部材からなるラッピ
ング装置を用いてウェハ6をラッピング加工するには、
先ず、ラップ定盤3にウェハ6をパラフィンワックス等
で取着し、上記キャリア1に備えられた従動用歯車5の
従動軸5aを、ラップ定盤3の従動軸用孔3bに嵌合す
る。
【0031】次いで、ラップ定盤3に取着されたウェハ
6をキャリア1によってラップ盤2に圧接させる。
【0032】しかる後、ラップ盤2上に研磨剤(不図
示)を供給しながら、キャリア1を中心軸1aを中心に
回転させるとともに、この回転力を駆動用歯車4に用い
て駆動軸4aを中心に回転させる。ここでラップ盤2の
外周部分周速とラップ定盤3の外周部の周速がほぼ一致
するように、キャリア1の公転速度とラップ定盤3の自
転速度が決定される。
【0033】そして、上記駆動用歯車4に噛み合うよう
に備えられた複数の従動用歯車5が従動軸5aを中心に
回転するとともに、従動軸5aに嵌合された複数のラッ
プ定盤3が中心軸3aを中心に回転し、ウェハ6をラッ
ピング加工する仕組みである。
【0034】このような研磨機構を有するラッピング装
置を用いてウェハ6をラッピング加工することによっ
て、キャリア1及びラップ盤2の回転に加え、各ラップ
定盤3が機械的に回転するため、ラップ定盤3に取着さ
れたウェハ6は、公転及び自転してウェハ6を全面に渡
って均一に研磨することができ、平坦度、平行度、表面
粗さの優れたものとなる。
【0035】なお、本発明は上述の実施形態に限定され
るものではなく、上述の実施形態ではキャリア1の上面
に駆動用歯車4及び従動用歯車5を備えて各ラップ定盤
3が中心軸で回転する仕組みを説明したが、上記キャリ
ア1がその中心軸1aで回転し、かつ各ラップ定盤3が
その中心軸3aで回転するものであれば歯車以外の回転
機構を備えるラッピング装置においても同様の効果を奏
することができる。
【0036】
【実施例】次いで、本発明の実施例を説明する。
【0037】図1に示すようなラッピング装置を得るた
め、1個のキャリアに6個の炭化珪素からなるラップ定
盤を備え、合計4つのキャリアを有するラッピング装置
を作製した。
【0038】また、比較例として図3に示すようなラッ
プ装置を上述と同様の大きさ、材質で作製した。
【0039】そして、直径8インチ(203.2mm)
のウェハを各ラップ定盤に取着し、ラッピング加工した
後、各ウェハの平行度をマイクロメーターで、平坦度を
精密測定装置ナノメトロ(黒田精工製)で測定した。
【0040】この結果を表1に示す。
【0041】なお、上記平行度、平坦度は、各キャリア
に備えられた6個のラップ定盤に取着されたウェハの平
均値を示している。
【0042】
【表1】
【0043】表1より明らかなように、本発明の試料は
平行度の平均値が0.4μm、平坦度が0.4μmと非
常に高精度なラッピング加工が可能であることがわかっ
た。
【0044】これに対し、比較例試料は、平行度の平均
値が2.5μm、平坦度が1.5μmとなっており、本
発明試料に比し、平行度では6倍程度、平坦度は3.5
倍程度と非常に大きなものとなることが判った。
【0045】
【発明の効果】本発明のラッピング装置によれば、上記
キャリアはその中心軸で回転し、かつ各ラップ定盤はそ
の中心軸で回転することから、ラップ盤上にウェハ全面
を一様に接触させることが可能となり、各ウェハの研磨
量を均一にして、平坦度、表面粗さの優れたラッピング
精度の高いラッピング装置を提供することができる。
【0046】また、本発明のラッピング装置によれば、
上記キャリアの上面にその中心軸を駆動軸として回転す
る駆動用歯車を備えるとともに、該駆動用歯車の回転に
従動して回転し、上記各ラップ定盤をその中心軸で回転
させる従動用歯車を備えたことから、容易な機構で各ラ
ップ定盤に取着されたウェハ全面を均一にラップ盤に接
触させることができ、より平坦度、表面粗さの優れたラ
ッピング精度の高いラッピング装置を提供することがで
きる。
【0047】さらに、本発明のラッピング装置によれ
ば、上記各ラップ定盤の直径がウェハの直径より1〜5
mm大きく、上記従動用歯車の従動軸を嵌合する少なく
とも1つのストレート部を有する円形状の従動軸用孔を
有することから、ラップ定盤とウェハの中心位置を高精
度に合わせて取着でき、ウェハを均一に研磨することが
できる。さらに、上記従動軸用孔をストレート部を有す
る円形状としておくことで、セラミックス等の高剛性の
材料からなるラップ定盤に従動軸用孔を加工する際に、
クラック等が生じることを防止し、ラップ定盤の従動軸
用孔に従動軸を差し込めば、回転トルクを従動軸からラ
ップ定盤へ効率よく伝達することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明のラッピング装置の一実施形態
を示す分解斜視図であり、(b)は本発明のラッピング
装置を示す部分断面図である。
【図2】本発明のラッピング装置におけるラップ定盤を
示す平面図である。
【図3】従来のラッピング装置を示す斜視図である。
【図4】従来のラッピング装置を示す平面図である。
【符号の説明】
1:キャリア 2:ラップ盤 3:ラップ定盤 4:駆動用歯車 5:従動用歯車 6:ウェハ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ラップ盤上に、下面に複数のラップ定盤を
    支持するキャリアを配して成り、各ラップ定盤の下面に
    ウェハを取着し、ウェハ表面を上記ラップ盤に押圧して
    ウェハ表面を研磨するラッピング装置であって、上記キ
    ャリアはその中心軸で回転し、かつ各ラップ定盤はその
    中心軸で回転することを特徴とするラッピング装置。
  2. 【請求項2】上記キャリアの上面にその中心軸を駆動軸
    として回転する駆動用歯車を備えるとともに、該駆動用
    歯車の回転に従動して回転し、上記各ラップ定盤の中心
    軸で回転させる複数の従動用歯車を備えたことを特徴と
    する請求項1に記載のラッピング装置。
  3. 【請求項3】上記各ラップ定盤は、その直径がウェハの
    直径より1〜5mm大きく、且つ各ラップ定盤に上記従
    動用歯車の従動軸を嵌合し、少なくとも1つのストレー
    ト部を有する円形状の従動軸用孔を備えたことを特徴と
    する請求項2に記載のラッピング装置。
JP2001261514A 2001-08-30 2001-08-30 ラッピング装置 Pending JP2003071706A (ja)

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Cited By (3)

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