JP2003067951A - Optical disk apparatus and method for controlling the same - Google Patents
Optical disk apparatus and method for controlling the sameInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク上に傷
やゴミ等の欠陥が存在する場合、最初に生じた欠陥の次
以降に周期的に生じる欠陥部分を予測して最適な制御を
行う光ディスク装置及び光ディスク装置の制御方法に関
するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disc which, when a defect such as a scratch or dust is present on an optical disc, predicts a defective portion which occurs periodically after the initial defect and thereafter, and performs optimum control. The present invention relates to an apparatus and a control method for an optical disk apparatus.
【０００２】[0002]
【従来の技術】近時、情報信号を高密度に記録し且つ再
生することを目的として、該情報信号を光ディスクに記
録し、再生時にこの情報信号を光ピックアップにより取
り出す光ディスク装置が開発されている。この光ディス
ク装置は、情報信号が記録された光ディスクに対し、光
ピックアップから例えばレーザ光等の所定波長のビーム
光を照射し、光ディスクからの反射光を受光すること
で、光ディスクに記録された情報信号を取り出せるよう
になっている。2. Description of the Related Art Recently, for the purpose of recording and reproducing an information signal at a high density, an optical disk device has been developed which records the information signal on an optical disk and takes out the information signal by an optical pickup at the time of reproduction. . This optical disc device irradiates an optical disc on which an information signal is recorded with a beam of light having a predetermined wavelength, such as a laser beam, from an optical pickup, and receives reflected light from the optical disc, thereby recording the information signal on the optical disc. Can be taken out.
【０００３】ところで、この光ディスク装置において特
に重要なことは、光ディスク表面のごみや傷による欠陥
部分により、情報信号が欠落してディスク再生に与える
悪影響を可及的に防止することである。この欠陥部分
は、光ディスク表面にあるごみや傷により照射されたビ
ーム光が反射されないことから生じるもので、光ディス
クが略１回転する毎に周期性を伴って生じる。この欠陥
部分の周期性を利用することにより、最初の欠陥が生じ
る光ディスクの位置を記憶し次の欠陥が生じる位置でフ
ォーカス制御系およびトラッキング制御系のループ利得
を下げてカットオフ周波数を低くし、欠陥部分を通り過
ぎる位置でループ利得を元に戻すように切替え、光ディ
スク装置における欠陥部分による種々の悪影響を軽減し
ている。なお、フォーカス制御系およびトラッキング制
御系のループ利得を下げるということは、読取り精度は
悪いが少々の欠陥部分があっても所定のピット列を外れ
ることなく継続して追跡することである。逆に、ループ
利得が高い通常の状態は読取り精度を高くすることがで
きる反面、光ディスクに少々の欠陥部分があったときは
所定のピット列を追跡できずにフォーカス制御およびト
ラッキング制御が外れてしまう。By the way, what is particularly important in this optical disk device is to prevent as much as possible the adverse effect on the disk reproduction due to the loss of the information signal due to the defective portion due to dust or scratches on the surface of the optical disk. This defective portion is caused by the fact that the beam light emitted due to dust or scratches on the surface of the optical disc is not reflected, and is generated with periodicity every time the optical disc makes one revolution. By utilizing the periodicity of this defective portion, the position of the optical disk where the first defect occurs is stored, and the loop gain of the focus control system and the tracking control system is lowered at the position where the next defect occurs to lower the cutoff frequency, The loop gain is switched back to the original position at the position where the defective portion is passed, and various adverse effects due to the defective portion in the optical disk device are reduced. It should be noted that lowering the loop gain of the focus control system and the tracking control system means that even if the reading accuracy is poor, even if there are some defective portions, the tracking is continued without deviating from the predetermined pit row. On the other hand, in the normal state where the loop gain is high, the reading accuracy can be improved, but when the optical disc has a small defective portion, the predetermined pit row cannot be traced and the focus control and the tracking control are lost. .
【０００４】しかしながら、従来の光ディスク装置にお
ける欠陥検出では、光ピックアップにより光ディスクか
ら読み出された情報信号に所定の閾値を設けて、その閾
値を超えた全ての部分を欠陥部分とみなして検出してい
る。この場合、実際の欠陥（欠陥区間）の発生からある
程度過ぎて初めて欠陥部分と認識してしまい、どうして
も時間遅れが発生してしまう。時間遅れとは、実際の欠
陥区間の開始から情報信号が最初に閾値を超えた位置ま
での区間と、情報信号が次に閾値を超えた位置から実際
の欠陥区間の終了までの区間のことである。この時間遅
れが発生すると、予測される次の欠陥部分を正確に検出
できず、欠陥部分であるにもかかわらずループ利得が高
い状態まま欠陥部分に突入してしまいピット列から外れ
てしまう恐れがあり、ループ利得の最適な切替処理がで
きないという問題があった。However, in the defect detection in the conventional optical disk apparatus, a predetermined threshold value is provided for the information signal read from the optical disk by the optical pickup, and all the parts exceeding the threshold value are regarded as defective parts and detected. There is. In this case, the defective portion is recognized only after a certain amount of time has passed since the occurrence of the actual defect (defect section), and a time delay is inevitably generated. The time delay refers to the section from the start of the actual defect section to the position where the information signal first exceeds the threshold and the section from the position where the information signal next exceeds the threshold to the end of the actual defect section. is there. When this time delay occurs, the predicted next defective portion cannot be accurately detected, and there is a possibility that the defective portion may rush into the defective portion with a high loop gain and fall out of the pit row. However, there is a problem in that the loop gain cannot be optimally switched.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】このように従来では、
光ディスク表面にごみや傷による欠陥部分があった場
合、光ディスクからの反射光から得た情報信号に基づい
て欠陥部分を検出しているが、この情報信号では予測さ
れる欠陥部分を正確に検出することができずどうしても
時間遅れが生じてしまうため、最初に生じた欠陥部分の
次に生じる欠陥部分を予測してもフォーカス制御系およ
びトラッキング制御系のループ利得の最適な切替処理が
できない。即ち、時間遅れの発生で予測される欠陥部分
を正確に認識できないため欠陥部分であるにもかかわら
ずループ利得が高い状態のままとなり、所定のピット列
から外れてしまう恐れがあった。As described above, in the prior art,
When there is a defective portion due to dust or scratches on the optical disc surface, the defective portion is detected based on the information signal obtained from the reflected light from the optical disc. This information signal accurately detects the predicted defective portion. Since it is impossible to do so, a time delay will inevitably occur. Therefore, even if a defective portion that occurs next to the defective portion that occurs first is predicted, optimum switching processing of the loop gain of the focus control system and the tracking control system cannot be performed. That is, since a defective portion predicted due to the occurrence of a time delay cannot be accurately recognized, the loop gain remains high even though it is a defective portion, and there is a risk that it may deviate from a predetermined pit row.
【０００６】本発明はこのような課題を解決するための
もので、光ディスク上に欠陥があった際には、ディスク
モータ回転を検出するＦＧ（Frequency Generator）パ
ルス信号を利用して、予測される欠陥部分を正確に検出
して最適なループ利得の切替処理を行うことができる光
ディスク装置及びを実現することを目的とする。The present invention is intended to solve such a problem. When there is a defect on the optical disk, it is predicted by using an FG (Frequency Generator) pulse signal for detecting the rotation of the disk motor. It is an object of the present invention to realize an optical disc device and an optical disc device capable of accurately detecting a defective portion and performing an optimum loop gain switching process.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の目的
を達成するために、光ディスクの回転に伴って周期的に
発生する欠陥部分を検出してサーボ制御におけるループ
利得を切替える光ディスク装置において、前記光ディス
クから読み出された情報信号のレベルをもとに最初に生
じる第１の欠陥部分の位置情報を検出する欠陥位置検出
手段と、前記欠陥位置検出手段によって検出された前記
第１の欠陥部分の位置情報に所定時間を加減して、前記
第１の欠陥部分以降に周期的に発生する第２の欠陥部分
を含む欠陥区間を算出する算出手段と、この算出手段に
よって算出された前記欠陥区間で前記サーボ制御におけ
る前記ループ利得を切替える切替手段とを具備すること
を特徴とする。In order to achieve the above object, the present invention provides an optical disc apparatus for detecting a defective portion which periodically occurs with rotation of an optical disc and switching a loop gain in servo control, Defect position detecting means for detecting the position information of the first defective portion which first occurs based on the level of the information signal read from the optical disc, and the first defective portion detected by the defective position detecting means. Calculating means for calculating a defect section including a second defect portion that periodically occurs after the first defect portion by adding or subtracting a predetermined time to or from the position information, and the defect section calculated by the calculating means. And switching means for switching the loop gain in the servo control.
【０００８】上記の構成により、光ディスクから読み出
された情報信号のレベルをもとに最初に生じる欠陥部分
の位置情報を検出して、この位置情報に所定時間を加減
することで最初に生じる欠陥部分の次以降に生じる欠陥
部分において実際の欠陥区間と同様の区間を得ることが
できる。その為、予測される欠陥部分を正確に検出する
ことができ、この欠陥部分におけるサーボ制御のループ
利得を正確に切替ることができる。With the above structure, the position information of the defective portion which occurs first is detected based on the level of the information signal read from the optical disc, and the defect which occurs first by adjusting this position information for a predetermined time is added. It is possible to obtain a section similar to an actual defect section in a defective portion generated after the portion. Therefore, the predicted defective portion can be accurately detected, and the loop gain of the servo control in this defective portion can be accurately switched.
【０００９】[0009]
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施する場合の形
態について図面に基づき説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【００１０】図１は、本発明に係る一実施の形態の光デ
ィスク装置の全体的な構成を示すブロック構成図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing the overall structure of an optical disk device according to an embodiment of the present invention.
【００１１】図１において、光ディスク１の記録面に対
向する位置に光学式ピックアップを構成する対物レンズ
３が設けられている。この対物レンズ３は、図示しない
マグネットとこのマグネットと共働するムービングコイ
ルを備えたフォーカスアクチュエータ５により、光ディ
スク１に近づけられたり遠ざけられるように駆動され
る。また、対物レンズ３は、フォーカスアクチュエータ
５と同様に、図示しないマグネットおよびムービングコ
イルを有してなるトラッキングアクチュエータ７によ
り、光ディスク１の半径方向に移動される。In FIG. 1, an objective lens 3 constituting an optical pickup is provided at a position facing the recording surface of the optical disc 1. The objective lens 3 is driven by a focus actuator 5 having a magnet (not shown) and a moving coil that works together with the magnet so that the objective lens 3 can be moved toward or away from the optical disk 1. Further, like the focus actuator 5, the objective lens 3 is moved in the radial direction of the optical disc 1 by a tracking actuator 7 having a magnet and a moving coil (not shown).
【００１２】対物レンズ３には、レーザ駆動回路９に基
づいてレーザ発振器１１から放射されるビーム光がビー
ムスプリッタ１３を介して照射される。このビーム光
は、対物レンズ３によって図中破線で示す如く光ディス
ク１の記録面上に収束され、光ディスク１の記録面上の
ピットの有無により変化を受けて反射される。反射光
は、対物レンズ３を介してビームスプリッタ１３により
直角に反射されて、光検出部となるフォトディテクタ１
５に受光される。Beam light emitted from a laser oscillator 11 based on a laser drive circuit 9 is applied to the objective lens 3 via a beam splitter 13. This light beam is converged on the recording surface of the optical disc 1 by the objective lens 3 as shown by a broken line in the figure, and is reflected by being changed depending on the presence or absence of pits on the recording surface of the optical disc 1. The reflected light is reflected at a right angle by the beam splitter 13 via the objective lens 3 and becomes a photodetector 1 which serves as a photodetector.
5 is received.
【００１３】フォトディテクタ１５は、例えばフォトダ
イオード等の光感応素子で構成される４つの受光領域Ｐ
Ｄａ乃至ＰＤｄを備えたいわゆる４分割式である。この
フォトディテクタ１５はビームスプリッタ１３からの反
射光を受光すると、それぞれの光の強さに応じた信号Ｐ
ａ乃至Ｐｄを、各受光領域別に独立して出力する。但
し、各受光領域ＰＤａ乃至ＰＤｄは、同じ強さの光が受
光された場合、各出力信号Ｐａ乃至Ｐｄが略同一レベル
となるようになされている。The photodetector 15 is composed of four light receiving regions P formed by light sensitive elements such as photodiodes.
This is a so-called four-division type including Da to PDd. When the photodetector 15 receives the reflected light from the beam splitter 13, a signal P corresponding to the intensity of each light is received.
a to Pd are independently output for each light receiving region. However, in the light receiving regions PDa to PDd, when the light of the same intensity is received, the output signals Pa to Pd have substantially the same level.
【００１４】なお、受光領域ＰＤａ乃至ＰＤｄは、ＰＤ
ａとＰＤｄおよびＰＤｃとＰＤｄが上記光ディスク１の
接線方向に一致し、ＰＤａとＰＤｄおよびＰＤｂとＰＤ
ｃが上記光ディスク１の半径方向に一致して配設されて
いる。The light receiving regions PDa to PDd are PD
a and PDd and PDc and PDd coincide with each other in the tangential direction of the optical disc 1, and PDa and PDd and PDb and PD
c is arranged so as to coincide with the radial direction of the optical disc 1.
【００１５】そして、フォトディテクタ１５の各出力信
号Ｐａ乃至Ｐｄは、それぞれＲＦアンプ１７の各入力端
子に対応して接続されている。このＲＦアンプ１７は、
例えば加算器および減算器を有して構成され、光ディス
ク１に記録された情報信号からフォーカスエラー信号
（以下、ＦＥ信号と称す）、トラッキングエラー信号
（以下、ＴＥ信号と称す）および再生信号を生成し出力
する。The output signals Pa to Pd of the photodetector 15 are connected to the input terminals of the RF amplifier 17, respectively. This RF amplifier 17
For example, a focus error signal (hereinafter referred to as FE signal), a tracking error signal (hereinafter referred to as TE signal), and a reproduction signal are generated from the information signal recorded on the optical disc 1 by including an adder and a subtractor. And output.
【００１６】ＲＦアンプ１７から出力されたＦＥ信号、
ＴＥ信号および再生信号は欠陥検出器１９の各入力端子
Ａ，Ｂ，Ｃに入力される。システムコントローラ５５は
欠陥判定レベル記録部２５に判定レベル値をセットして
欠陥検出器１９の各入力端子ＡＬ，ＢＬ，ＣＬに入力さ
せる。The FE signal output from the RF amplifier 17,
The TE signal and the reproduction signal are input to the respective input terminals A, B and C of the defect detector 19. The system controller 55 sets the judgment level value in the defect judgment level recording unit 25 and inputs it to each of the input terminals AL, BL, CL of the defect detector 19.
【００１７】欠陥検出器１９は、システムコントローラ
５５の制御に基づいて、入力された各判定レベル値とＦ
Ｅ信号、ＴＥ信号および再生信号とをそれぞれ比較して
欠陥判定を行う。欠陥検出器１９は、出力端子ＡＪ，Ｂ
Ｊ，ＣＪから欠陥判定に基づく出力信号を出力しＡＮＤ
回路２７に供給する。この欠陥判定では、出力端子Ａ
Ｊ，ＢＪ，ＣＪから出力された出力信号は欠陥判定レベ
ル記録部２５にセットされた判定レベル値（閾値）によ
って、ＦＥ信号、ＴＥ信号、再生信号がそれぞれ比較さ
れて、判定レベル値を超えたとき欠陥があるものとして
判定される。なお、欠陥検出器１９は出力端子ＡＪ，Ｂ
Ｊ，ＣＪから欠陥部分をローレベル（以下、Ｌレベルと
称す）、欠陥でない部分をハイレベル（以下、Ｈレベル
と称す）として出力信号を出力する。Under the control of the system controller 55, the defect detector 19 receives each judgment level value and F
The defect determination is performed by comparing the E signal, the TE signal, and the reproduction signal, respectively. The defect detector 19 has output terminals AJ and B.
An output signal based on the defect judgment is output from J and CJ and AND
Supply to the circuit 27. In this defect determination, the output terminal A
The output signals output from J, BJ, and CJ exceed the determination level value by comparing the FE signal, the TE signal, and the reproduction signal with the determination level value (threshold value) set in the defect determination level recording unit 25. Sometimes it is determined to be defective. The defect detector 19 has output terminals AJ and B.
An output signal is output from J and CJ by setting a defective portion at a low level (hereinafter referred to as L level) and a non-defective portion at a high level (hereinafter referred to as H level).
【００１８】ＡＮＤ回路２７は、供給された各出力信号
の論理積をとり、欠陥判定信号をラッチ回路２９および
ＡＮＤ回路５７にそれぞれ供給する。The AND circuit 27 calculates the logical product of the supplied output signals and supplies the defect determination signal to the latch circuit 29 and the AND circuit 57, respectively.
【００１９】また、ＲＦアンプ１７から出力されたＦＥ
信号およびＴＥ信号は、位相補償回路２１および駆動回
路２３を介してフォーカスアクチュエータ５、トラッキ
ングアクチュエータ７にそれぞれ供給され、フォーカス
アクチュエータ５、トラッキングアクチュエータ７のム
ービングコイルの駆動制御に用いられる。これによっ
て、サーボ制御ループが形成され、ビーム光を追跡すべ
きピット列上に確実に収束せしめるようにしたフォーカ
ス制御およびトラッキング制御が行われる。Further, the FE output from the RF amplifier 17
The signal and the TE signal are supplied to the focus actuator 5 and the tracking actuator 7 via the phase compensation circuit 21 and the drive circuit 23, respectively, and are used for drive control of the moving coils of the focus actuator 5 and the tracking actuator 7. As a result, a servo control loop is formed, and focus control and tracking control are performed so that the beam light is surely converged on the pit row to be traced.
【００２０】一方、ディスクモータ駆動回路３３に基づ
いてディスクモータ３１が回転することで光ディスク１
が回転する。このディスクモータ３１のモータ回転を検
出する回転検出器３２は、例えば良く知られるロータリ
エンコーダを簡単化したもので構成される。即ち、回転
検出器３２は光ディスク１を回転駆動するディスクモー
タ３１の軸が３６０°（つまり１回転する角度）を等分
割した角度だけ回転する毎に１個のパルス（ＦＧパル
ス）を出力する。ＦＧパルス信号はモータ回転１回転に
つき、６パルス、１８パルスなど様々な方式があるが、
ここでは一例として６パルス／回転の場合を想定する。On the other hand, when the disk motor 31 rotates based on the disk motor drive circuit 33, the optical disk 1
Rotates. The rotation detector 32 that detects the motor rotation of the disk motor 31 is configured by simplifying a well-known rotary encoder, for example. That is, the rotation detector 32 outputs one pulse (FG pulse) each time the shaft of the disk motor 31 that rotationally drives the optical disk 1 rotates by an angle obtained by equally dividing 360 ° (that is, one rotation angle). There are various types of FG pulse signals, such as 6 pulses and 18 pulses per motor rotation,
Here, the case of 6 pulses / revolution is assumed as an example.
【００２１】本実施例において、ＦＧパルス信号はＦＥ
信号、ＴＥ信号および再生信号に基づいて、光ディスク
上に最初に生じた欠陥部分の次以降に生じる欠陥部分を
予測する場合、時間遅れを補償するために利用される。
即ち、欠陥判定信号によって最初に検出された欠陥部分
に対応するＦＧパルスのカウント値を記憶して、次に予
測される欠陥部分に対して、記憶されたＦＧパルスのカ
ウント値の前後のＦＧパルスのパルス間隔を利用して、
最初に検出された欠陥部分より広い範囲を欠陥部分とし
て検出でき時間遅れを補償することができる。時間遅れ
とは、図４に示すが如く実際の欠陥区間の開始から例え
ば再生信号が最初に閾値を超えた位置までの区間と、再
生信号が次に閾値を超えた位置から実際の欠陥区間の終
了までの区間のことである。In this embodiment, the FG pulse signal is FE
It is used to compensate for a time delay when predicting a defective portion that occurs after the defective portion that first occurs on the optical disk based on the signal, the TE signal, and the reproduction signal.
That is, the count value of the FG pulse corresponding to the defective portion first detected by the defect determination signal is stored, and the FG pulse before and after the stored count value of the FG pulse is stored for the next predicted defective portion. Using the pulse interval of
A wider area than the initially detected defective portion can be detected as a defective portion, and the time delay can be compensated. As shown in FIG. 4, the time delay means, for example, a section from the start of the actual defective section to a position where the reproduction signal first exceeds the threshold, and an actual defect section from the position where the reproduction signal next exceeds the threshold. It is the section until the end.
【００２２】しかしながら、ＦＧパルス信号は１回転に
つき６パルスしか発生しないため、パルス間隔が広く実
際の欠陥区間より広い範囲までカバーしてしまう。そう
なると、実際の欠陥区間でないところも欠陥と判断して
しまい、フォーカス制御系およびトラッキング制御系の
ループ利得を下げカットオフ周波数を低くして読取りを
行うことになってしまう。そこで、回転検出器３２から
出力されたＦＧパルス信号より細かいパルス間隔を生成
する必要があるため、ここではＦＧパルス信号は逓倍回
路３５に入力される。However, since the FG pulse signal generates only 6 pulses per rotation, the pulse interval is wide and covers a range wider than the actual defect section. In that case, a portion other than the actual defective section is also determined to be defective, and reading is performed with the loop gain of the focus control system and the tracking control system lowered and the cutoff frequency lowered. Therefore, since it is necessary to generate a finer pulse interval than the FG pulse signal output from the rotation detector 32, the FG pulse signal is input to the multiplication circuit 35 here.
【００２３】逓倍回路３５は、この回転検出器３２から
出力される６パルス／回転のＦＧパルス信号が入力され
ると、このＦＧパルス信号に同期したクロックを生成
し、その逓倍クロック信号（以下、Ｆｖｃｋと称す）を
生成する。この生成により、ＦＧパルス信号よりもより
細かいクロックを用いることができる。この逓倍クロッ
クの生成についての詳細は後述する。When the 6-pulse / rotation FG pulse signal output from the rotation detector 32 is input, the multiplication circuit 35 generates a clock synchronized with this FG pulse signal, and the multiplied clock signal (hereinafter Fvck) is generated. This generation allows the use of a finer clock than the FG pulse signal. Details of the generation of this multiplied clock will be described later.
【００２４】カウンタ３７は、この逓倍回路３５により
生成されたＦｖｃｋが入力され、この入力によってフリ
ーランにカウントアップするカウンタを動作させ、Ｆｖ
ｃｋのカウント値をラッチ回路２９および後述する比較
器４５，４７に供給する。The Fvck generated by the multiplier circuit 35 is input to the counter 37, and the counter 37 operates the counter which counts up to the free run by this input, and Fvck is operated.
The count value of ck is supplied to the latch circuit 29 and comparators 45 and 47 described later.
【００２５】ラッチ回路２９は、ＡＮＤ回路２７から出
力された欠陥判定信号の最初に生じた欠陥部分の立下り
エッジを検出して、カウンタ３７でカウントされたＦｖ
ｃｋのカウント値にラッチして記憶する。なお、ここで
は欠陥判定信号の欠陥部分の立下りエッジを欠陥部分の
位置とする。The latch circuit 29 detects the falling edge of the first defective portion of the defect determination signal output from the AND circuit 27, and the Fv counted by the counter 37.
The count value of ck is latched and stored. Here, the falling edge of the defect portion of the defect determination signal is the position of the defect portion.
【００２６】システムコントローラ５５は欠陥予測器４
３にセットした欠陥予測値を加算器３９および減算器４
１に供給する。加算器３９は、供給された欠陥予測値を
ラッチ回路２９でラッチされたカウント値（欠陥部分の
位置）に所定値を加算し信号Ａを出力し、減算器４１は
欠陥予測値をラッチ回路２９でラッチされたカウント値
（欠陥部分の位置）に所定値を減算し信号Ｂを出力す
る。例えば、欠陥予測値＝２がセットされた場合、加算
器３９はラッチされたカウント値に「＋２」を加算して
比較器４５に出力する。また、減算器４１も同様にラッ
チされたカウント値に「−２」を減算して比較器４７に
出力する。The system controller 55 is the defect predictor 4.
The defect prediction value set to 3 is added to the adder 39 and the subtracter 4
Supply to 1. The adder 39 adds the supplied defect prediction value to the count value (the position of the defect portion) latched by the latch circuit 29 and outputs a signal A, and the subtracter 41 outputs the defect prediction value to the latch circuit 29. A predetermined value is subtracted from the count value (the position of the defective portion) latched by, and the signal B is output. For example, when the defect prediction value = 2 is set, the adder 39 adds “+2” to the latched count value and outputs it to the comparator 45. Similarly, the subtracter 41 also subtracts “−2” from the latched count value and outputs the subtracted count value to the comparator 47.
【００２７】比較器４５は、加算器３９にて出力された
信号Ａとカウンタ３７でカウントされたＦｖｃｋのカウ
ント値とを比較し信号Ｄを出力し、また比較器４７は減
算器４１にて出力された信号Ｂと上記カウンタ３７でカ
ウントされたＦｖｃｋのカウント値とを比較し信号Ｃを
出力する。そして、比較器４５から出力された信号Ｄは
ＯＲ回路５１の入力端子ｂに入力され、信号Ｃは入力端
子ａに入力される。なお、入力端子ａは信号の極性を反
転させるものである。The comparator 45 compares the signal A output from the adder 39 with the count value of Fvck counted by the counter 37 and outputs a signal D, and the comparator 47 outputs the subtractor 41. The output signal B is compared with the count value of Fvck counted by the counter 37, and the signal C is output. Then, the signal D output from the comparator 45 is input to the input terminal b of the OR circuit 51, and the signal C is input to the input terminal a. The input terminal a is for inverting the polarity of the signal.
【００２８】ＯＲ回路５１は、信号Ｃおよび信号Ｄの論
理和がとられ、最初に生じる欠陥部分の次以降に生じる
欠陥部分を正確に検出するための欠陥予測信号を出力す
る。The OR circuit 51 takes the logical sum of the signals C and D, and outputs a defect prediction signal for accurately detecting the defective portion generated after the defective portion generated first and thereafter.
【００２９】スイッチング回路５３は、システムコント
ローラ５５の制御に基づいて、従来のＦＥ信号、ＴＥ信
号および再生信号をもとにした欠陥検出方式を使用する
か、或いは本発明のＦＧパルス信号に同期したＦｖｃｋ
をもとにした欠陥検出方式を使用するかを選択するもの
である。従来の欠陥検出方式を使用する場合は電源＋５
Ｖの方に（図中の上側）スイッチを切替え、Ｆｖｃｋを
もとにした欠陥検出方式を使用する場合は欠陥予測信号
の方に（図中の下側）スイッチを切替える。The switching circuit 53 uses a defect detection method based on the conventional FE signal, TE signal and reproduction signal under the control of the system controller 55, or is synchronized with the FG pulse signal of the present invention. Fvck
The defect detection method based on is selected. Power supply +5 when using the conventional defect detection method
The switch is switched to V (upper side in the drawing), and when the defect detection method based on Fvck is used, the switch is switched to the defect prediction signal (lower side in the drawing).
【００３０】従来の欠陥検出方式を使用した場合、ＡＮ
Ｄ回路５７はＡＮＤ回路２７から出力された欠陥判定信
号と、スイッチング回路５３によって選択された電源＋
５Ｖの信号との論理積がとられ、補正信号を出力し駆動
回路２３および位相補償回路２１に入力される。When the conventional defect detection method is used, AN
The D circuit 57 outputs the defect determination signal output from the AND circuit 27 and the power source selected by the switching circuit 53+
The logical product of the 5V signal and the correction signal is output and input to the drive circuit 23 and the phase compensation circuit 21.
【００３１】また本発明のＦＧパルス信号に同期したＦ
ｖｃｋをもとにした欠陥検出方式を使用した場合、ＡＮ
Ｄ回路５７はＡＮＤ回路２７から出力された欠陥判定信
号と、ＯＲ回路５１から出力された欠陥予測信号との論
理積がとられ、補正信号を出力し駆動回路２３および位
相補償回路２１に入力される。Further, F synchronized with the FG pulse signal of the present invention
If a defect detection method based on vck is used, AN
The D circuit 57 takes a logical product of the defect determination signal output from the AND circuit 27 and the defect prediction signal output from the OR circuit 51, outputs a correction signal, and inputs the correction signal to the drive circuit 23 and the phase compensation circuit 21. It
【００３２】駆動回路２３および位相補償回路２１は、
ＡＮＤ回路５７から出力された補正信号に基づいて、Ｈ
レベルのときはフォーカス制御系およびトラッキング制
御系のループ利得を上げてカットオフ周波数を高くし、
Ｌレベルのときはループ利得を下げてカットオフ周波数
を低くするよう切替える。なお、位相補償回路２１はル
ープ利得の切替えに応じて位相特性も切替る。The drive circuit 23 and the phase compensation circuit 21 are
Based on the correction signal output from the AND circuit 57, H
When the level is set, the loop gain of the focus control system and tracking control system is increased to increase the cutoff frequency,
At the L level, the loop gain is reduced to switch the cutoff frequency to be low. The phase compensation circuit 21 also switches the phase characteristic according to the switching of the loop gain.
【００３３】次に、逓倍回路３５における逓倍クロック
信号の生成について説明する。Next, the generation of the multiplied clock signal in the multiplication circuit 35 will be described.
【００３４】上記にも説明したように、ＦＧパルス信号
はＦＥ信号、ＴＥ信号および再生信号をもとに光ディス
ク上に最初に生じた欠陥部分の次以降に生じる欠陥部分
を予測する場合、時間遅れを補償するために利用され
る。しかしながら、ＦＧパルス信号は１回転につき６パ
ルスしか発生しないため、パルス間隔が広く実際の欠陥
区間より広い範囲までカバーしてしまう。そうすると、
ＦＧパルス信号を用いても時間遅れが発生してしまう。
そこで、このＦＧ信号に同期したクロック信号を生成
し、その逓倍クロック信号を求める。この逓倍クロック
信号をＦｖｃｋとして求めると、
Ｆｖｃｋ［Ｈｚ］＝Ｎ×ＦＧ ・・・・・・（１）
となる。なお、Ｎは逓倍数である。As described above, when the FG pulse signal is used to predict a defective portion generated after the defective portion first generated on the optical disk based on the FE signal, the TE signal and the reproduction signal, a time delay occurs. Used to compensate for. However, since the FG pulse signal generates only 6 pulses per rotation, the pulse interval is wide and covers a range wider than the actual defect section. Then,
Even if the FG pulse signal is used, a time delay will occur.
Therefore, a clock signal synchronized with this FG signal is generated and the multiplied clock signal is obtained. When this multiplied clock signal is obtained as Fvck, Fvck [Hz] = N × FG (1) Note that N is a multiplication number.
【００３５】ここで、例えばＮ＝１２００とすると、１
回転は１２００×６＝７２００［パルス／回転］のゾー
ンに分割される。これにより、光ディスクの半径（中心
から最外周までの距離）５８ｍｍの位置における分割さ
れた各ゾーンは、
２πｒ／Ｎ×ＦＧ ・・・・・・（２）
で表され、約５０μｍとなる。実験データから、光ディ
スクの半径位置における各ゾーンを５０μｍ程度にする
と、時間遅れすることなく欠陥部分を正確に検出するこ
とができることがわかっている。Ｎ＝１２００に設定し
たのは、ちょうど各ゾーンを約５０μｍに分割すること
ができるためである。Here, assuming that N = 1200, for example, 1
The rotation is divided into zones of 1200 × 6 = 7200 [pulses / rotation]. As a result, each of the divided zones at the position of the radius (distance from the center to the outermost periphery) of the optical disc 58 mm is represented by 2πr / N × FG (2) and is about 50 μm. From the experimental data, it is known that if each zone at the radial position of the optical disc is set to about 50 μm, the defective portion can be accurately detected without a time delay. The reason for setting N = 1200 is that each zone can be exactly divided into about 50 μm.
【００３６】従って、逓倍回路３５は、光ディスク上に
最初に生じた欠陥部分の次以降に生じる欠陥部分を予測
する場合、ＦＧパルス信号（６パルス／回転）を用いた
場合よりもより細かいＦｖｃｋ（逓倍クロック信号）を
生成することができる。Therefore, the multiplying circuit 35, when predicting a defective portion that occurs after the defective portion that first occurs on the optical disk and thereafter, uses a finer Fvck () than when using the FG pulse signal (6 pulses / revolution). A multiplied clock signal).
【００３７】次に、本発明の光ディスク装置における動
作について、図２乃至図３を用いて説明する。Next, the operation of the optical disk device of the present invention will be described with reference to FIGS.
【００３８】図２は、本発明の一実施例に係る光ディス
ク装置の動作処理を説明するためのフローチャートであ
り、図３は光ディスク装置の動作処理時に発生する信号
を示す図である。FIG. 2 is a flow chart for explaining the operation processing of the optical disc apparatus according to one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram showing signals generated during the operation processing of the optical disc apparatus.
【００３９】まず、レーザ駆動回路９に基づいてレーザ
発振器１１から照射されたビーム光が光ディスク１上に
収束され、光ディスク１上のピットの有無により変化を
受けて反射される（ステップＳ１）。この反射された反
射光は光検出部となるフォトディテクタ１５にて受光さ
れる（ステップＳ３）。ＲＦアンプ１７はこのフォトデ
ィテクタに受光された反射光に基づいて、ＦＥ信号、Ｔ
Ｅ信号および再生信号を生成する（ステップＳ５）。図
３（ｃ）には、例えば光ディスク１上にごみや傷による
欠陥があった場合の再生信号が示されている。なお、Ｆ
Ｅ信号およびＴＥ信号については、説明を分かり易くす
るためにここでは不図示とする。First, the beam light emitted from the laser oscillator 11 based on the laser drive circuit 9 is converged on the optical disc 1, and is reflected by being changed depending on the presence or absence of pits on the optical disc 1 (step S1). The reflected light thus reflected is received by the photodetector 15 serving as a photodetector (step S3). The RF amplifier 17 uses the reflected light received by this photodetector to detect the FE signal, T
An E signal and a reproduction signal are generated (step S5). FIG. 3C shows a reproduction signal when there is a defect due to dust or scratches on the optical disc 1, for example. In addition, F
The E signal and the TE signal are not shown here for the sake of easy understanding.
【００４０】ＲＦアンプ１７によって生成されたＦＥ信
号、ＴＥ信号および再生信号は欠陥検出器１９に入力さ
れ、欠陥検出器１９はシステムコントローラ５５にセッ
トされた欠陥判定レベルとそれぞれ比較する（ステップ
Ｓ７）。例えば、図３（ｃ）の再生信号について見てみ
ると、欠陥検出器１９は図３（ｄ）に示される欠陥判定
レベルと比較して、この欠陥判定レベルより下回ったと
ころを欠陥とみなしてＡＮＤ回路２７に出力する。欠陥
検出器１９では欠陥判定レベルと比較されたＦＥ信号、
ＴＥ信号も同様にＡＮＤ回路２７に出力する。ＡＮＤ回
路２７はＦＥ信号、ＴＥ信号および再生信号の論理積を
とり、図３（ｅ）に示すが如く欠陥判定信号をラッチ回
路２９およびＡＮＤ回路５７の端子ｄに出力する（ステ
ップＳ９）。The FE signal, the TE signal and the reproduction signal generated by the RF amplifier 17 are input to the defect detector 19, and the defect detector 19 compares them with the defect judgment level set in the system controller 55 (step S7). . For example, looking at the reproduction signal of FIG. 3C, the defect detector 19 compares the defect determination level shown in FIG. 3D and considers that a portion below this defect determination level is a defect. It is output to the AND circuit 27. The defect detector 19 compares the FE signal with the defect determination level,
The TE signal is similarly output to the AND circuit 27. The AND circuit 27 takes the logical product of the FE signal, the TE signal and the reproduction signal and outputs the defect determination signal to the latch circuit 29 and the terminal d of the AND circuit 57 as shown in FIG. 3 (e) (step S9).
【００４１】このＦＥ信号、ＴＥ信号および再生信号を
もとにした欠陥判定信号を用いた従来の欠陥判定方式を
選択する場合（ステップＳ１１のＹ）、システムコント
ローラ５５はスイッチング回路５３のスイッチを電源＋
５Ｖに選択してＡＮＤ回路５７の端子ｃに入力させ、Ａ
ＮＤ回路５７は欠陥判定信号と＋５Ｖとの論理積をとっ
て補正信号を出力する（ステップＳ１３）。即ち、図３
（ｅ）の欠陥判定信号がそのまま補正信号として出力さ
れる。When the conventional defect judgment method using the defect judgment signal based on the FE signal, TE signal and reproduction signal is selected (Y in step S11), the system controller 55 turns on the switch of the switching circuit 53 by the power source. +
Select 5V and input to the terminal c of AND circuit 57,
The ND circuit 57 calculates the logical product of the defect determination signal and + 5V and outputs a correction signal (step S13). That is, FIG.
The defect determination signal of (e) is directly output as a correction signal.
【００４２】駆動回路２３および位相補償回路２１は、
この出力された補正信号に基づいて、Ｈレベルのときル
ープ利得を上げてカットオフ周波数を高くし、Ｌレベル
のときループ利得を下げてカットオフ周波数を低くする
よう切替える（ステップＳ２７）。The drive circuit 23 and the phase compensation circuit 21 are
Based on the output correction signal, switching is performed so that the loop gain is increased and the cutoff frequency is increased when the level is H, and the loop gain is decreased and the cutoff frequency is decreased when the level is L (step S27).
【００４３】一方、ステップＳ１１にて本発明の欠陥判
定方式を選択する場合（ステップＳ１１のＮ）、逓倍回
路３５は回転検出器３２にて検出されたＦＧパルス信号
（図３（ａ）参照）を利用して、ＦＧパルス信号に同期
した図３（ｂ）に示される逓倍クロックを生成する（ス
テップＳ１５）。この逓倍回路３５にて生成された逓倍
クロックはカウンタ３７に入力されると、カウンタ３７
はカウントアップするカウンタを動作させ、図３（ｆ）
に示すカウント値をラッチ回路２９および比較器４５，
４７に出力する。ラッチ回路２９は、ＡＮＤ回路２７か
ら出力された図３（ｅ）の欠陥判定信号の立下りエッジ
（欠陥部分の位置）を検出して、そのカウント値をラッ
チ（図３（ｈ）参照）して記録する（ステップＳ１
７）。ラッチされたカウント値は加算器３９および減算
器４１に出力される。On the other hand, when the defect determination method of the present invention is selected in step S11 (N in step S11), the multiplication circuit 35 detects the FG pulse signal detected by the rotation detector 32 (see FIG. 3A). Is used to generate the multiplied clock shown in FIG. 3B synchronized with the FG pulse signal (step S15). When the multiplied clock generated by the multiplication circuit 35 is input to the counter 37, the counter 37
Activates a counter that counts up, and
To the latch circuit 29 and the comparator 45,
Output to 47. The latch circuit 29 detects the falling edge (position of the defective portion) of the defect determination signal of FIG. 3 (e) output from the AND circuit 27 and latches the count value (see FIG. 3 (h)). And record (step S1
7). The latched count value is output to the adder 39 and the subtractor 41.
【００４４】システムコントローラ５５は、欠陥予測器
４３にセットした欠陥予測値を加算器３９および減算器
４１に供給する。例えば、欠陥予測値＝２とした場合、
加算器３９は記録されたカウント値に「＋２」加算して
図３（ｇ）に示される信号Ａを出力し、また減算器４１
は記録されたカウント値に「−２」減算して図３（ｉ）
に示される信号Ｂを出力する（ステップＳ１９）。The system controller 55 supplies the defect prediction value set in the defect predictor 43 to the adder 39 and the subtractor 41. For example, when the defect prediction value = 2,
The adder 39 adds “+2” to the recorded count value and outputs the signal A shown in FIG.
Is subtracted from the recorded count value by "-2" and the result is shown in FIG.
The signal B shown in is output (step S19).
【００４５】比較器４５は、加算器３９から出力された
図３（ｇ）の信号Ａと図３（ｆ）のカウント値とを比較
し図３（ｋ）に示す信号Ｄを出力する。また、比較器４
７は減算器４１から出力された図３（ｉ）の信号Ｂと図
３（ｆ）のカウント値とを比較し図３（ｊ）に示す信号
Ｃを出力する（ステップＳ２１）。この比較において、
信号Ｄは最初にラッチされたカウント値に「＋２」加算
された信号Ａとカウンタ３７のカウント値との交点を境
にしてＨレベルとなり、次の回転に切り換わる時にはＬ
レベルとなる。また信号Ｃは最初にラッチされた値に
「−２」減算された信号Ｂとカウント値との交点を境に
してＨレベルとなり、次の回転に切り換わる時にはＬレ
ベルとなる。なお、比較器４５，４７は最初に生じる欠
陥部分は予測できないので、信号Ｃおよび信号Ｄの最初
の欠陥部分の回転時は比較されない。The comparator 45 compares the signal A of FIG. 3 (g) output from the adder 39 with the count value of FIG. 3 (f) and outputs the signal D shown in FIG. 3 (k). Also, the comparator 4
7 compares the signal B of FIG. 3 (i) output from the subtractor 41 with the count value of FIG. 3 (f) and outputs the signal C shown in FIG. 3 (j) (step S21). In this comparison,
The signal D becomes H level at the intersection of the signal A, which is obtained by adding “+2” to the first latched count value, and the count value of the counter 37, and becomes L level when switching to the next rotation.
It becomes a level. The signal C becomes H level at the intersection of the count value and the signal B obtained by subtracting "-2" from the first latched value, and becomes L level when switching to the next rotation. Since the comparators 45 and 47 cannot predict the defective portion that occurs first, no comparison is performed when the first defective portion of the signals C and D is rotated.
【００４６】比較器４５から出力された信号ＤはＯＲ回
路５１の入力端子ｂに入力され、比較器４７から出力さ
れた信号ＣはＯＲ回路５１の（極性を反転する）入力端
子ａに入力される。この入力により、ＯＲ回路５１は図
３（ｌ）に示す欠陥予測信号を出力する（ステップＳ２
３）。The signal D output from the comparator 45 is input to the input terminal b of the OR circuit 51, and the signal C output from the comparator 47 is input to the input terminal a (inverting the polarity) of the OR circuit 51. It By this input, the OR circuit 51 outputs the defect prediction signal shown in FIG. 3 (l) (step S2).
3).
【００４７】スイッチング回路５３は、従来の欠陥判定
方式のときはスイッチを＋５Ｖ（図中の上方）の方に選
択したが、ここでは本発明の欠陥判定方式のときは欠陥
予測信号（図中の下方）の方に選択する。The switching circuit 53 selects the switch to + 5V (upper side in the figure) in the conventional defect determination method, but here, in the defect determination method of the present invention, the defect prediction signal (in the figure). Select downward).
【００４８】ＡＮＤ回路５７は図３（ｅ）の欠陥判定信
号と図３（ｌ）の欠陥予測信号の論理積をとり、図３
（ｍ）の補正信号を出力する（ステップＳ２５）。The AND circuit 57 calculates the logical product of the defect determination signal of FIG. 3E and the defect prediction signal of FIG.
The correction signal of (m) is output (step S25).
【００４９】駆動回路２３および位相補償回路２１は、
ＡＮＤ回路５７から出力された補正信号に基づいて、Ｈ
レベルのときループ利得を上げてカットオフ周波数を高
くし、Ｌレベルのときループ利得を下げてカットオフ周
波数を低くするよう切替える。The drive circuit 23 and the phase compensation circuit 21 are
Based on the correction signal output from the AND circuit 57, H
When the level is set, the loop gain is increased to raise the cutoff frequency, and when the level is set to L, the loop gain is lowered and the cutoff frequency is lowered.
【００５０】さらに、分かり易く説明するために図４を
用いて説明する。図４は従来の欠陥検出と本発明のＦｖ
ｃｋを用いたときの欠陥検出との比較を簡略的に表す図
である。なお、図３と図４の各信号に示された同一符号
は同一の信号とする。Further, for easy understanding, description will be made with reference to FIG. FIG. 4 shows conventional defect detection and Fv of the present invention.
It is a figure which represents simply the comparison with the defect detection when using ck. The same reference numerals shown in each signal in FIGS. 3 and 4 are the same signal.
【００５１】欠陥検出器１９はＦＥ信号、ＴＥ信号およ
び再生信号（ここでは再生信号のみを示す）と欠陥判定
レベル記録部２５（図４（ｄ）参照）との欠陥判定を行
い、ＡＮＤ回路２７から欠陥判定信号（図４（ｅ）参
照）が出力される。この欠陥判定信号の欠陥部分は実際
の欠陥区間よりも小さく検出されて時間遅れが生じた状
態となっている。そこで、ラッチ回路２９は欠陥判定信
号の立下りエッジ部分（欠陥部分の位置）を、カウンタ
３７でカウントされたＦｖｃｋのカウント値（図４
（ｆ）参照）にラッチして記憶する。なお、この記憶さ
れたカウント値をＮとする。The defect detector 19 makes a defect judgment between the FE signal, the TE signal and the reproduction signal (only the reproduction signal is shown here) and the defect judgment level recording section 25 (see FIG. 4D), and the AND circuit 27. Outputs a defect determination signal (see FIG. 4E). The defect portion of the defect determination signal is detected to be smaller than the actual defect section and is in a state in which a time delay has occurred. Therefore, the latch circuit 29 counts the falling edge portion (position of the defective portion) of the defect determination signal by the count value of Fvck counted by the counter 37 (see FIG. 4).
(See (f)) and store. Note that this stored count value is N.
【００５２】次に、加算器３９および減算器４１は、シ
ステムコントローラ５５にセットされた欠陥予測値（こ
こでは「２」）に基づいて、記憶されたカウント値Ｎに
対し加算・減算を行い、図４（ｆ）の「Ｎ−２」、「Ｎ
＋２」の値が得られることになる。そして、比較器４
５、４７はカウント値（図４（ｆ）参照）と上記で得ら
れた「Ｎ−２」、「Ｎ＋２」に基づいて信号Ｄおよび信
号Ｃを出力する。ＯＲ回路５１は、これらの信号Ｃおよ
び信号Ｄの入力を受けて欠陥予測信号（図４（ｌ）参
照）を出力するようになっている。Next, the adder 39 and the subtracter 41 add / subtract the stored count value N based on the defect prediction value (here, "2") set in the system controller 55, “N-2” and “N” in FIG.
A value of "+2" will be obtained. And the comparator 4
Reference numerals 5 and 47 output the signal D and the signal C based on the count value (see FIG. 4F) and “N−2” and “N + 2” obtained above. The OR circuit 51 receives the signals C and D and outputs a defect prediction signal (see FIG. 4 (l)).
【００５３】以上説明したように、光ディスク表面にご
みや傷による欠陥があった場合、光ディスクからの反射
光から得たＦＥ信号、ＴＥ信号および再生信号に基づい
て欠陥を検出しているが、これらの信号では最初に生じ
た欠陥部分の次以降に生じる欠陥部分を正確に検出する
ことができずどうしても時間遅れが生じてしまう。その
為、ＦＧパルス信号に同期したＦｖｃｋを利用して、最
初に生じる欠陥部分（欠陥部分の位置）をラッチして記
憶し、そのラッチした値に所定値を加算、減算して次に
生じる欠陥部分を正確に予測することできる。即ち、実
際の欠陥区間に近い欠陥部分を予測することができる。As described above, when there is a defect due to dust or scratches on the optical disk surface, the defect is detected based on the FE signal, TE signal and reproduction signal obtained from the reflected light from the optical disk. With this signal, it is not possible to accurately detect a defective portion that occurs after the defective portion that occurs first and a defective portion that occurs after that, which inevitably causes a time delay. Therefore, by using Fvck synchronized with the FG pulse signal, the defect portion (position of the defect portion) that occurs first is latched and stored, and a predetermined value is added to or subtracted from the latched value to generate the defect that occurs next. The part can be accurately predicted. That is, it is possible to predict a defective portion close to the actual defective section.
【００５４】従って、従来のように欠陥部分であるにも
かかわらず時間遅れが生じるために欠陥部分と認識でき
ず、ループ利得が高い状態のままとなり所定のピット列
から外れてしまうといったことは無くなり、フォーカス
制御系およびトラッキング制御系のループ利得の最適な
切替処理を行うことができる。Therefore, it is possible to prevent the defect from being recognized as a defective portion due to the time delay even though it is a defective portion as in the conventional case, and the loop gain remains in a high state and is not deviated from a predetermined pit row. It is possible to perform optimum switching processing of the loop gain of the focus control system and the tracking control system.
【００５５】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範
囲で種々に変形することが可能である。The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be variously modified at the stage of implementation without departing from the spirit of the invention.
【００５６】[0056]
【発明の効果】以上のように、光ディスク表面に欠陥が
あった場合、ＦＧパルス信号に同期したＦｖｃｋを利用
することで、最初に生じた欠陥部分の次以降に生じる欠
陥部分を正確に予測することができ、サーボ制御のルー
プ利得の最適な切替処理を行うことができる。As described above, when there is a defect on the surface of the optical disk, by using Fvck synchronized with the FG pulse signal, it is possible to accurately predict the defect part that occurs after the defect part that occurs first and thereafter. This makes it possible to perform optimum switching processing of the loop gain of servo control.
【図１】本発明に係る一実施例の光ディスク装置の全体
的な構成を示すブロック構成図である。FIG. 1 is a block configuration diagram showing an overall configuration of an optical disk device of an embodiment according to the present invention.
【図２】本発明に係る一実施例の光ディスク装置の動作
処理を説明するためのフローチャートである。FIG. 2 is a flow chart for explaining an operation process of the optical disc device of one embodiment according to the present invention.
【図３】光ディスク装置の動作処理時に発生する信号を
示す図である。FIG. 3 is a diagram showing signals generated during operation processing of the optical disc device.
【図４】従来の欠陥検出と本発明のＦｖｃｋを用いたと
きの欠陥検出との比較を簡略的に表す図である。FIG. 4 is a diagram simply showing a comparison between conventional defect detection and defect detection using the Fvck of the present invention.
１ 光ディスク ３ 対物レンズ ５ フォーカスアクチュエータ ７ トラッキングアクチェエータ ９ レーザ駆動回路 １１ レーザ発信器 １３ ビームスプリッタ １５ フォトディテクタ １７ ＲＦアンプ １９ 欠陥検出器 ２１ 位相補償回路 ２３ 駆動回路 ２９ ラッチ回路 ３１ ディスクモータ ３２ 回転検出器 ３５ 逓倍回路 ３７ カウンタ ５５ システムコントローラ 1 optical disc 3 Objective lens 5 Focus actuator 7 Tracking actuator 9 Laser drive circuit 11 Laser transmitter 13 Beam splitter 15 Photo detector 17 RF amplifier 19 Defect detector 21 Phase compensation circuit 23 Drive circuit 29 Latch circuit 31 disk motor 32 rotation detector 35 multiplication circuit 37 counter 55 system controller
Claims (6)
する欠陥部分を検出してサーボ制御におけるループ利得
を切替える光ディスク装置において、 前記光ディスクから読み出された情報信号のレベルをも
とに最初に生じる第１の欠陥部分の位置情報を検出する
欠陥位置検出手段と、 前記欠陥位置検出手段によって検出された前記第１の欠
陥部分の位置情報に所定時間を加減して、前記第１の欠
陥部分以降に周期的に発生する第２の欠陥部分を含む欠
陥区間を算出する算出手段と、 この算出手段によって算出された前記欠陥区間で前記サ
ーボ制御における前記ループ利得を切替える切替手段と
を具備することを特徴とする光ディスク装置。1. An optical disk device for detecting a defective portion which periodically occurs with rotation of an optical disk and switching a loop gain in servo control, in which an optical signal is first read based on a level of an information signal read from the optical disk. Defect position detecting means for detecting position information of the first defective portion that occurs, and the first defect portion by adjusting the position information of the first defective portion detected by the defect position detecting means for a predetermined time. And a calculating unit that calculates a defect section including a second defect portion that periodically occurs thereafter, and a switching unit that switches the loop gain in the servo control in the defect section calculated by the calculating unit. An optical disk device characterized by.
する欠陥部分を検出してサーボ制御におけるループ利得
を切替える光ディスク装置において、 前記光ディスクを所定速度で回転駆動させる回転駆動手
段と、 この回転駆動手段によって回転駆動される前記光ディス
クの回転に応じて逓倍クロック信号を生成する逓倍クロ
ック生成手段と、 この逓倍クロック生成手段によって生成された前記逓倍
クロック信号を周期的にカウントするカウンタと、 前記光ディスクから読み出された情報信号のレベルをも
とに最初に生じる第１の欠陥部分の位置情報に対応する
前記カウンタのカウント値を記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された前記カウント値に所定値を加
算および減算する加算・減算手段と、 前記加算・減算手段によって加算および減算されたカウ
ント値から、前記第１の欠陥部分以降に周期的に発生す
る第２の欠陥部分を含む欠陥区間を算出する算出手段
と、 前記算出手段によって算出された前記欠陥区間で前記サ
ーボ制御における前記ループ利得を切替える切替手段と
を具備することを特徴とする光ディスク装置。2. An optical disk device for detecting a defective portion periodically generated as an optical disk rotates to switch a loop gain in servo control, and a rotary drive means for rotationally driving the optical disk at a predetermined speed. A multiplying clock generating means for generating a multiplying clock signal according to the rotation of the optical disk driven by means, a counter for periodically counting the multiplied clock signal generated by the multiplying clock generating means, and Storage means for storing the count value of the counter corresponding to the position information of the first defective portion which first occurs based on the level of the read information signal; and a predetermined value for the count value stored in the storage means. Addition / subtraction means for adding and subtracting values, and addition / subtraction means by the addition / subtraction means Calculating means for calculating a defect section including a second defect portion that periodically occurs after the first defect portion from the subtracted count value, and the servo in the defect section calculated by the calculating means. An optical disk device, comprising: a switching unit that switches the loop gain in control.
サーボ制御のループ利得を下げてカットオフ周波数を低
くし、前記欠陥区間以外では前記ループ利得を上げてカ
ットオフ周波数を高くすることを特徴とする請求項１ま
たは２のいずれかに記載の光ディスク装置。3. The switching means lowers the loop gain of the servo control to lower the cutoff frequency in the defective section, and raises the loop gain to increase the cutoff frequency in areas other than the defective section. The optical disk device according to claim 1 or 2.
する欠陥部分を検出してサーボ制御におけるループ利得
を切替える光ディスク装置の制御方法において、 前記光ディスクから読み出された情報信号のレベルをも
とに最初に生じる第１の欠陥部分の位置情報を検出する
ステップと、 検出された前記第１の欠陥部分の位置情報に所定時間を
加減して、前記第１の欠陥部分以降に周期的に発生する
第２の欠陥部分を含む欠陥区間を算出するステップと、 算出された前記欠陥区間で前記サーボ制御における前記
ループ利得を切替えるステップとを有する光ディスク装
置の制御方法。4. A method for controlling an optical disk device, which detects a defect portion which periodically occurs with rotation of an optical disk and switches a loop gain in servo control, wherein a level of an information signal read from the optical disk is used as a basis. First detecting the positional information of the first defective portion that occurs, and by adding or subtracting a predetermined time period to the detected positional information of the first defective portion, and periodically generating after the first defective portion. A method of controlling an optical disk device, comprising: a step of calculating a defective section including a second defective portion, and a step of switching the loop gain in the servo control in the calculated defective section.
する欠陥部分を検出してサーボ制御におけるループ利得
を切替える光ディスク装置の制御方法において、 所定速度で回転駆動される前記光ディスクの回転に応じ
て逓倍クロック信号を生成するステップと、 生成された前記逓倍クロック信号を周期的にカウントす
るステップと、 前記光ディスクから読み出された情報信号のレベルをも
とに最初に生じる第１の欠陥部分の位置情報に対応する
前記カウンタのカウント値を記憶するステップと、 記憶された前記カウント値に所定値を加算および減算す
るステップと、 加算および減算された前記カウント値から、前記第１の
欠陥部分以降に周期的に発生する第２の欠陥部分を含む
欠陥区間を算出するステップと、 算出された前記欠陥区間で前記サーボ制御における前記
ループ利得を切替えるステップとを有する光ディスク装
置の制御方法。5. A method of controlling an optical disk device, which detects a defective portion periodically generated with rotation of an optical disk and switches a loop gain in servo control, in accordance with the rotation of the optical disk that is rotationally driven at a predetermined speed. A step of generating a multiplied clock signal, a step of periodically counting the generated multiplied clock signal, and a position of the first defective portion which first occurs based on the level of the information signal read from the optical disc Storing a count value of the counter corresponding to information; adding and subtracting a predetermined value to and from the stored count value; and adding and subtracting the count value to and after the first defective portion. Calculating a defect section including a second defect portion that occurs periodically, and And a step of switching the loop gain in servo control.
欠陥区間は前記サーボ制御のループ利得を下げてカット
オフ周波数を低くし、前記欠陥区間以外では前記ループ
利得を上げてカットオフ周波数を高くするステップを有
する請求項４または５のいずれかに記載の光ディスク装
置の制御方法。6. In the loop gain switching step, a step of lowering a loop gain of the servo control to lower a cutoff frequency in the defective section, and a step of increasing the loop gain and increasing a cutoff frequency in a section other than the defective section. 6. The method for controlling an optical disc device according to claim 4, further comprising:
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