JP2003057714A - 露出補正装置 - Google Patents

露出補正装置

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JP2003057714A
JP2003057714A JP2001245340A JP2001245340A JP2003057714A JP 2003057714 A JP2003057714 A JP 2003057714A JP 2001245340 A JP2001245340 A JP 2001245340A JP 2001245340 A JP2001245340 A JP 2001245340A JP 2003057714 A JP2003057714 A JP 2003057714A
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exposure
photometric
pixel
lens
image pickup
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JP2001245340A
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Yukikazu Iwane
幸和 岩根
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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  • Exposure Control For Cameras (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】測距部の測距センサから出力される撮像信号を
用いて、測光部により得られる被写体輝度を撮影レンズ
の焦点距離に適した被写体輝度に補正する露出補正装置
を得る。 【解決手段】測光部3は、ズームレンズである撮影レン
ズ4の光学系と異なる固定焦点の受光レンズ31を通し
て、中央部測光センサ321および周辺部測光センサ3
22で被写体光束を受光する。測距部2は、撮影レンズ
4の光学系と異なる固定焦点の受光レンズ21を通し
て、一対の画素アレイを有する測距センサ22で被写体
像を撮像する。制御部1は、測距センサ22から出力さ
れる撮像信号の画素領域ごとの和を求め、和の最大値お
よび最小値の差があらかじめ定める差A以上であるとと
もに、あらかじめ定める差Bより小さい場合に、中央部
測光センサ321と周辺部測光センサ322とによって
得られる被写体輝度を、上記和の最大値および最小値の
差に比例して直線的に補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラの露出補正
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】レンズシャッタカメラのように、撮影レ
ンズの光学系と異なる測光光学系を備える測光装置によ
って被写体輝度を検出するカメラが知られている。一般
に、撮影レンズとしてズームレンズが用いられる場合で
も、測光光学系には固定焦点の光学系が用いられる。こ
のような場合、撮影ズームレンズの焦点距離が変化する
と、撮影範囲と測光範囲とが一致しない場合が生じ、撮
影に適した被写体輝度値を得ることが困難になる。そこ
で、測光光学系を通過した被写体光束を複数の領域で分
割して受光し、それぞれの領域で受光された信号による
輝度値の比率を、撮影ズームレンズの焦点距離に応じて
補正する露出補正が行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、撮影レ
ンズの焦点距離がさらに長くなり、測光範囲に対する撮
影範囲がさらに狭くなると、被写体光束をさらに細かい
領域で分割して受光することが必要になる。受光領域を
増やして細分化することは、測光装置のコスト上昇を招
く。
【0004】本発明の目的は、測光装置のコスト上昇を
抑えつつ、測光される被写体輝度を撮影レンズの焦点距
離に適するように補正する露出補正装置を提供すること
にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
よる露出補正装置は、焦点距離が可変の撮影レンズと、
撮影レンズと異なる固定焦点の光学系を通して被写体輝
度を検出する測光装置と、所定の基線長を隔てて配設さ
れる一対の画素アレイ型撮像素子を有し、撮影レンズと
異なる固定焦点の光学系を通して被写体像を撮像し、撮
影レンズの合焦に必要なレンズ移動情報を演算する測距
装置と、撮像素子を複数の画素領域に分割し、撮像素子
から出力される画素領域ごとの撮像信号に応じて被写体
輝度を補正する補正回路とを備えることにより、上述し
た目的を達成する。上記補正回路は、画素領域ごとの撮
像信号から得られる演算値を比較し、演算値の最大値と
最小値との差に応じて被写体輝度を補正することもでき
る。上記補正回路は、画素領域ごとの撮像信号から得ら
れる演算値を比較し、演算値の最大値との差が所定値以
上となる演算値に対応する画素領域の数に応じて被写体
輝度を補正することもできる。上記補正回路は、画素領
域ごとの撮像信号の総和を演算し、この演算値を画素領
域ごとに比較してもよい。上記補正回路は、画素領域ご
との撮像信号の平均を演算し、この演算値を画素領域ご
とに比較してもよい。請求項6に記載の発明による露出
補正装置は、焦点距離が可変の撮影レンズと、撮影レン
ズと異なる固定焦点の光学系を通して、少なくとも被写
体の中央部と周辺部とでそれぞれ被写体輝度を検出する
測光装置と、所定の基線長を隔てて配設される一対の画
素アレイ型撮像素子を有し、撮影レンズと異なる固定焦
点の光学系を通して被写体像を撮像し、撮影レンズの合
焦に必要なレンズ移動情報を演算する測距装置と、中央
部で検出される被写体輝度と周辺部で検出される被写体
輝度とに焦点距離に応じた所定の比率を与えて被写体輝
度を補正する第1の補正回路と、撮像素子を複数の画素
領域に分割し、撮像素子から出力される画素領域ごとの
撮像信号に応じて補正後の被写体輝度をさらに補正する
第2の補正回路とを備えることにより、上述した目的を
達成する。上記第2の補正回路は、画素領域ごとの撮像
信号から得られる演算値を比較し、演算値の最大値と最
小値との差に応じて補正後の被写体輝度をさらに補正す
ることもできる。上記第2の補正回路は、画素領域ごと
の撮像信号から得られる演算値を比較し、演算値の最大
値との差が所定値以上となる演算値に対応する画素領域
の数に応じて補正後の被写体輝度をさらに補正すること
もできる。上記第2の補正回路は、画素領域ごとの撮像
信号の総和を演算し、この演算値を画素領域ごとに比較
してもよい。上記第2の補正回路は、画素領域ごとの撮
像信号の平均を演算し、この演算値を画素領域ごとに比
較してもよい。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。−第一の実施の形態−図1は、本
発明の第一の実施の形態による露出補正装置を有するレ
ンズシャッタカメラの概要を示すブロック図である。図
1において、カメラは、制御部1と、測距部2と、測光
部3と、撮影レンズ4と、撮影レンズ駆動装置5と、撮
影レンズ位置検出装置6と、ファインダ7と、ズームア
ップスイッチ8と、ズームダウンスイッチ9とを含む。
制御部1には、測距部2、測光部3、撮影レンズ駆動装
置5、撮影レンズ位置検出装置6、ズームアップスイッ
チ8およびズームダウンスイッチ9が、それぞれ接続さ
れている。
【0007】制御部1は、CPU11と、メモリ12
と、タイマ13と、A/Dコンバータ14と、入出力ポ
ート15とを有する。これら制御部1内の各デバイス
は、CPUバス11bによって各デバイス相互が接続さ
れている。CPU11は、カメラの後述する露出補正処
理を含め、カメラ撮影全体の制御を行う。メモリ12
は、CPU11のワークエリアとして使用される。タイ
マ13は、CPU11によって指示された時間を計時
し、タイムアップ信号を出力する。A/Dコンバータ1
4は、入力されるアナログ信号をディジタル信号に変換
して出力する。入出力ポート15は、制御部1の内部と
制御部1の外部との間で信号を入出力する。
【0008】撮影レンズ4はズームレンズである。ズー
ムアップスイッチ8が操作されると、ズームアップ信号
が入出力ポート15から制御部1に入力される。制御部
1は、入出力ポート15から撮影レンズ駆動装置5に指
令を出力し、ズームアップスイッチ8の操作量に応じて
撮影レンズ4を広角側から望遠側にズームアップさせ
る。撮影レンズ4のズーム倍率もしくは焦点距離は、撮
影レンズ位置検出装置6によって検出され、焦点距離を
示す信号が撮影レンズ位置検出装置6から入出力ポート
15に入力される。
【0009】ズームダウンスイッチ9が操作されると、
ズームダウン信号が入出力ポート15から制御部1に入
力される。制御部1は、入出力ポート15から撮影レン
ズ駆動装置5に指令を出力し、ズームダウンスイッチ9
の操作量に応じて撮影レンズ4を望遠側から広角側にズ
ームダウンさせる。撮影レンズ4のズーム倍率もしくは
焦点距離は、撮影レンズ位置検出装置6によって検出さ
れ、焦点距離を示す信号が撮影レンズ位置検出装置6か
ら入出力ポート15に入力される。
【0010】ファインダ7は、撮影レンズ4によるズー
ミング状態に連動して画角が変化するように構成されて
いる。
【0011】測距部2は、受光レンズ21および測距セ
ンサ22により構成される。受光レンズ21は、焦点検
出領域に対応する被写体光束を測距センサ22上に導
く。測距センサ22は、電荷蓄積型受光素子であり、制
御部1によって設定される蓄積時間にしたがって電荷の
蓄積を行う。電荷蓄積後に測距センサ22から出力され
る蓄積電荷信号は、制御部1へ出力される。制御部1
は、入出力ポート15を介して入力される電荷信号をA
/Dコンバータ14でディジタル値に変換し、変換後の
画素データをメモリ12に格納する。制御部1は、メモ
リ12に格納された画素データに基づいて一対の像の間
隔を求めることにより、焦点検出領域の主要被写体まで
の距離を演算する。
【0012】図2は、測距部2の光学系の詳細を示す図
である。図2において、測距光学系は、受光レンズ21
1a、211bと、視野マスク212a、212bとを
有する。測距センサ22は、焦点検出領域に対応して1
対のラインセンサ22aおよび22bを備えている。ラ
インセンサ22aおよび22bは、それぞれライン状の
画素アレイを有し、各画素ごとの電荷蓄積信号を撮像信
号として出力する。受光レンズ211a、211bを通
過した被写体光束は、それぞれ視野マスク212aおよ
び212bの中央に設けられた開口によって水平方向に
制限され、測距センサ対22aおよび22b上にそれぞ
れ結像される。
【0013】測距センサ対22aおよび22b上に結像
される一対の被写体像は、受光レンズ211aおよび2
11bが予定焦点面よりも前(被写体側)に被写体の鮮
鋭像を結ぶいわゆる前ピン状態では互いに近づき、逆に
予定焦点面よりも後に被写体の鮮鋭像を結ぶいわゆる後
ピン状態では互いに遠ざかる。そして、測距センサ対2
2aおよび22b上に結像された被写体像が所定の間隔
になるとき、被写体の鮮鋭像が予定焦点面に位置する。
したがって、この被写体像を測距センサ対22aおよび
22bで光電変換して電気信号に換え、これらの信号を
演算処理して一対の被写体像の相対距離を求めることに
より、焦点検出領域に対応する被写体までの距離が求め
られる。受光レンズ211aおよび211bは固定焦点
であるため、無限遠に対応する光束が測距センサ対22
aおよび22b上に結像する位置から、被写体からの光
束が測距センサ対22aおよび22b上に結像する位置
までの相対距離を求めることで、カメラから被写体まで
の距離が算出される。なお、相対距離と測距値との関係
は、あらかじめCPU11内の不図示のメモリに記憶さ
れている。
【0014】次に、一対の被写体像の相対距離の検出動
作について説明する。図3は、測距センサ対22aおよ
び22bによる出力信号例を示す図である。図3におい
て、横軸は測距センサ22の画素番号であり、縦軸は出
力信号レベルである。測距センサ対22aおよび22b
は、ほぼ同じ領域の被写体像を撮像するので、センサ対
22aおよび22bから出力される信号波形はほぼ等し
くなる。たとえば、両センサ22aおよび22bによる
出力が最大となる画素番号を求めると、センサ対の画素
サイズから換算して一対の被写体像の間隔が求められ
る。これにより、測距演算を行うことができる。
【0015】図1の制御部1は、以上説明したように測
距演算を行い、得られた測距値に応じて撮影レンズ4に
対する合焦位置までのレンズ駆動量(レンズ移動情報)
を演算する。得られたレンズ駆動量を示す信号は、入出
力ポート15を介して撮影レンズ駆動装置5へ出力され
る。撮影レンズ駆動装置5は、制御部1から出力される
レンズ駆動量を示す信号に応じて撮影レンズ4内の不図
示のフォーカスレンズを駆動する。これにより、撮影レ
ンズ4が合焦位置へ駆動制御される。
【0016】測光部3は、受光レンズ31および測光セ
ンサ32により構成される。受光レンズ31は、測光領
域に対応する被写体光束を測光センサ32上に導く。測
光センサ32は、測光領域の中央部で受光感度を有する
中央部測光センサ321と、中央部測光センサ321に
よる測光領域の周辺に受光感度を有する周辺部測光セン
サ322とにより構成される。両測光センサ321およ
び322はフォトダイオードであり、それぞれの受光領
域における受光光量に応じた電気信号を出力する。
【0017】中央部測光センサ321および周辺部測光
センサ322による電気信号は、それぞれ制御部1へ出
力される。制御部1は、入出力ポート15を介して入力
される電気信号をそれぞれA/Dコンバータ14でディ
ジタル値に変換し、変換後の輝度データをそれぞれメモ
リ12に格納する。制御部1は、メモリ12に格納され
た中央部の輝度データおよび周辺部の輝度データに基づ
いて1つの被写体輝度を演算する。
【0018】図4は、撮影レンズ4の焦点距離と中央部
測光センサ321および周辺部測光センサ322による
輝度データの比率との関係を示す図である。制御部1
は、撮影レンズ位置検出装置6から入力される撮影レン
ズ4の焦点距離を示す信号に応じて、中央部測光センサ
321による輝度データと周辺部測光センサ322によ
る輝度データとの比率を変えて1つの被写体輝度を演算
する。たとえば、撮影レンズ4の焦点距離が最も長い望
遠側にセットされているとき、中央部測光センサ321
による輝度データ(中央部測光値)の比率を100に、
周辺部測光センサ322による輝度データ(周辺部測光
値)の比率を0にする。撮影レンズ4の焦点距離が最も
短い広角側にセットされているとき、中央部測光センサ
321による輝度データの比率を50に、周辺部測光セ
ンサ322による輝度データの比率を50にする。この
ように、焦点距離の値に比例して中央部測光値の比率を
50〜100%の間で直線的に変化させる。
【0019】制御部1は、演算によって得られる1つの
被写体輝度と、不図示のフィルム感度設定部材から入力
されているフィルム感度とを用いて、たとえば、周知の
プログラム露出演算によりシャッタ秒時および絞り値を
決定する。得られたシャッタ秒時および絞り値により、
撮影時の露光制御が行われる。
【0020】図5は、上述した測距部2による受光範囲
と、撮影ズームレンズ4による撮影範囲との対応を説明
する図である。測距部2は固定焦点光学系を有するた
め、撮影レンズ4によるズーム倍率(焦点距離)に係わ
らず同じ範囲(焦点検出領域)で被写体光束を受光す
る。すなわち、撮影レンズ4が広角側にセットされる場
合の焦点検出領域2Wと、撮影レンズ4が望遠側にセッ
トされる場合の焦点検出領域2Tとは同じである。一
方、撮影レンズ4による撮影範囲は、撮影レンズ4が広
角側にセットされる場合の撮影範囲4Wの方が、撮影レ
ンズ4が望遠側にセットされる場合の撮影範囲4Tより
広い。このため、撮影範囲における焦点検出領域が占め
る割合は、撮影レンズ4が望遠側にセットされるときの
方が、広角側にセットされるときよりも大きい。
【0021】図6は、上述した測光部3による受光範囲
と、撮影ズームレンズ4による撮影範囲との対応を説明
する図である。測光部3も固定焦点光学系を有するた
め、撮影レンズ4によるズーム倍率(焦点距離)に係わ
らず同じ測光範囲で被写体光束を受光する。すなわち、
撮影レンズ4が広角側にセットされる場合の中央部測光
領域321Wと、撮影レンズ4が望遠側にセットされる
場合の中央部測光領域321Tとは同じである。また、
撮影レンズ4が広角側にセットされる場合の周辺部測光
領域322Wと、撮影レンズ4が望遠側にセットされる
場合の周辺部測光領域322Tとは同じである。このた
め、撮影範囲における測光領域が占める割合は、撮影レ
ンズ4が望遠側にセットされるときの方が、広角側にセ
ットされるときよりも大きい。とくに、撮影レンズ4が
望遠側にセットされているとき、中央部測光領域321
Tが撮影範囲の大半を占め、周辺部測光領域322Tの
ほとんどが撮影範囲から外れてしまう。
【0022】本発明は、撮影レンズ4の焦点距離の変更
に伴う画角の変化により測光領域と撮影範囲との対応関
係が変化する場合に、測光部3による輝度データから得
られる被写体輝度を、測距部2による画素データに基づ
いて補正することを特徴とする。
【0023】図7は、第一の実施の形態による測距部2
の測距範囲の詳細を示す図である。図7において、水平
方向に分割されている被写体光束は、受光レンズ211
aおよび211bによってそれぞれ測距センサ22aお
よび22b上に像を結ぶ。測距センサ22aおよび22
bは、所定の間隔(基線長)を隔てて配設されている。
上述した焦点検出領域2W(=2T)を、たとえば、AR
EA0〜AREA4の5領域に分割し、分割された5領域に対
応する測距センサ22aおよび22bの画素領域を、そ
れぞれpa0〜pa4、pb0〜pb4に分けて扱うこ
とにする。
【0024】制御部1は、メモリ12に格納されている
画素データを読み出し、各画素領域ごとに画素データの
和を算出する。そして、測距センサ22aと22bの対
応する領域の画素データの和をさらに算出する。これに
より、画素領域pa0とpb0に含まれる画素データの
和SUM0、画素領域pa1とpb1に含まれる画素デ
ータの和SUM1、画素領域pa2とpb2に含まれる
画素データの和SUM2、画素領域pa3とpb3に含
まれる画素データの和SUM3、画素領域pa4とpb
4に含まれる画素データの和SUM4が、それぞれ算出
される。
【0025】制御部1は、算出した画素データの和SU
M0〜SUM4の中から最大値MAX(SUM)と最小値
MIN(SUM)を求め、さらに、これらの差DIF(S
UM)=MAX(SUM)−MIN(SUM)を算出する。
制御部1は、差DIF(SUM)の値に応じて、図4に示
した中央部測光センサ321および周辺部測光センサ3
22による輝度データの比率をさらに補正する。
【0026】図8は、測距領域間の差DIF(SUM)と
中央部測光センサ321による輝度データに対する補正
比率との関係を示す図である。制御部1は、差DIF
(SUM)があらかじめ定める輝度差Aより小さい場合
は、補正比率を0にする。この場合には、図4に示した
中央部測光センサ321による輝度データの比率どおり
に被写体輝度が算出される。また、制御部1は、差DI
F(SUM)があらかじめ定める輝度差A以上であるとと
もに、あらかじめ定める輝度差Bより小さい場合は、D
IF(SUM)の値に比例して補正比率を0〜50%で直
線的に変化させる。さらにまた、制御部1は、差DIF
(SUM)があらかじめ定める輝度差B以上の場合に、補
正比率を50%にする。この場合には、図4に示した中
央部測光センサ321による輝度データの比率を1/2
にするように被写体輝度が算出される。
【0027】以上説明した第一の実施の形態によれば、
次の作用効果が得られる。 (1)測距部2の測距センサ22aおよび22bによる
各画素領域pa*とpb*(*は0〜4)に含まれる画
素データの和SUM*を求め、SUM*の最大値MAX
(SUM)と最小値MIN(SUM)の差DIF(SUM)の
値があらかじめ定める輝度差Aより小さい場合は、補正
比率を0にするようにした。測距センサ22aおよび2
2bによる各画素領域ごとの輝度差DIF(SUM)が少
ない場合は、中央部測光センサ321による輝度データ
の信頼性が高いと考えられる。この場合に補正比率を0
にすることにより、撮影レンズ4が望遠側にセットさ
れ、中央部測光領域321T(図6)が撮影範囲の大半
を占める場合の中央部測光値の比率が100%にされ
る。この結果、被写体輝度の信頼性が高くなる。 (2)SUM*の最大値MAX(SUM)と最小値MIN
(SUM)の差DIF(SUM)の値があらかじめ定める輝
度差A以上であるとともに、あらかじめ定める輝度差B
より小さい場合は、DIF(SUM)の値に比例して補正
比率を0〜50%で直線的に変化させるようにした。測
距センサ22aおよび22bによる各画素領域ごとの輝
度差DIF(SUM)が少なくない場合は、中央部測光セ
ンサ321による輝度データの信頼性が低いと考えられ
る。この場合には、撮影レンズ4が望遠側にセットさ
れ、中央部測光領域321T(図6)が撮影範囲の大半
を占めると、輝度差DIF(SUM)の増加に伴って中央
部測光値の比率が100%〜50%の範囲にされるか
ら、被写体輝度の信頼性が高くなる。 (3)SUM*の最大値MAX(SUM)と最小値MIN
(SUM)の差DIF(SUM)の値があらかじめ定める輝
度差B以上の場合に、補正比率を50%までと上限を設
けた。測距センサ22aおよび22bによる各画素領域
ごとの輝度差DIF(SUM)が多い場合は、中央部測光
センサ321による輝度データの信頼性が低いと考えら
れる。しかしながら、中央部測光センサ321による輝
度データの信頼性が低いとはいえ、とくに撮影レンズ4
が望遠側にセットされる場合には、中央部測光領域32
1T(図6)が撮影範囲の大半を占める。このような場
合に、中央部測光値の比率を50%より下げないから、
被写体輝度の信頼性を高くできる。
【0028】以上の説明では、各画素領域pa*とpb
*(*は0〜4)に含まれる画素データの和SUM*を
求め、SUM*の最大値MAX(SUM)と最小値MIN
(SUM)の差DIF(SUM)の値に応じて、上述した図
4に示した中央部測光センサ321および周辺部測光セ
ンサ322による輝度データの比率をさらに補正するよ
うにした。この代わりに、各画素領域pa*とpb*
(*は0〜4)に含まれる画素データの平均値M*を求
め、M*の最大値MAX(M)と最小値MIN(M)の差D
IF(M)の値に応じて、上述した図4に示した中央部測
光センサ321および周辺部測光センサ322による輝
度データの比率をさらに補正するようにしてもよい。
【0029】また、以上の説明では、測距センサ22a
および22bの両方の画素データを用いて、画素データ
の差DIF(SUM)を求めるようにした。この代わり
に、測距センサ22aおよび22bのいずれか一方の画
素データのみを用いて、画素データの差DIF(SUM)
を求めるようにしてもよい。測距センサ22aおよび2
2bは、ほぼ同じ領域の被写体像を撮像するので、どち
らの画素データを用いる場合でもほぼ同じ結果が得られ
る。
【0030】上述した説明では、輝度差DIF(SUM)
があらかじめ定める輝度差A以上であるとともに、あら
かじめ定める輝度差Bより小さい場合に、輝度差DIF
(SUM)の値に比例して補正比率を0〜50%で直線的
に変化させるようにした。輝度差A、Bの値は、それぞ
れ0、想定される最大の値としてよい。この場合には、
輝度差DIF(SUM)の値に比例して補正比率が0〜5
0%で直線的に変化される。
【0031】−第二の実施の形態− 第二の実施の形態では、算出した画素データの和SUM
0〜SUM4の中から最大値MAX(SUM)を求め、さ
らに、最大値MAX(SUM)と各領域の和SUM0〜S
UM4との差を算出する。制御部1は、最大値MAX
(SUM)との差があらかじめ定めた所定値以上になる画
素領域の数を求め、求めた領域数に応じて、図4に示し
た中央部測光センサ321および周辺部測光センサ32
2による輝度データの比率をさらに補正する。
【0032】図9は、最大値MAX(SUM)との差が所
定値以上となる画素領域数と中央部測光センサ321に
よる輝度データに対する補正比率との関係を示す図であ
る。制御部1は、領域数が0の場合は補正比率を0にす
る。この場合には、図4に示した中央部測光センサ32
1による輝度データの比率どおりに被写体輝度が算出さ
れる。また、制御部1は、領域数が1以上の場合に、領
域数に比例して補正比率を0〜50%で直線的に変化さ
せる。たとえば、領域数が4の場合には、図4に示した
中央部測光センサ321による輝度データの比率を1/
2にするように被写体輝度が算出される。
【0033】以上説明した第二の実施の形態によれば、
次の作用効果が得られる。 (1)測距部2の測距センサ22aおよび22bによる
各画素領域pa*とpb*(*は0〜4)に含まれる画
素データの和SUM*を求め、和SUM*の最大値MA
X(SUM)と各画素領域の画素データの和SUM*との
差があらかじめ定める所定値以上となる画素領域の数が
0の場合は、補正比率を0にするようにした。測距セン
サ22aおよび22bによる各画素領域ごとの輝度差が
少ない場合は、中央部測光センサ321による輝度デー
タの信頼性が高いと考えられる。この場合に補正比率を
0にすることにより、撮影レンズ4が望遠側にセットさ
れ、中央部測光領域321T(図6)が撮影範囲の大半
を占める場合の中央部測光値の比率が100%にされ
る。この結果、被写体輝度の信頼性が高くなる。 (2)和SUM*の最大値MAX(SUM)と各画素領域
の画素データの和SUM*との差があらかじめ定めた所
定値以上になる画素領域の数が1以上の場合に、領域数
に比例して補正比率を0〜50%で直線的に変化させる
ようにした。測距センサ22aおよび22bによる各画
素領域ごとの輝度差が多い場合は、中央部測光センサ3
21による輝度データの信頼性が低いと考えられる。し
かしながら、中央部測光センサ321による輝度データ
の信頼性が低いとはいえ、とくに撮影レンズ4が望遠側
にセットされる場合には、中央部測光領域321T(図
6)が撮影範囲の大半を占める。このような場合に、上
記領域数の増加に伴って中央部測光値の比率が100%
〜50%の範囲にされるから、被写体輝度の信頼性を高
くできる。
【0034】以上の説明では、図6に示すように、測光
部3の測光センサ32を2分割センサで構成し、中央部
測光センサ321による中央部測光領域321W(32
1T)と、周辺部測光センサ322による周辺部測光領
域322W(322T)とで被写体光束を2分割して受
光するようにした。測光センサ32は2分割センサでな
く、分割数が多い多分割センサで構成してもよい。たと
えば、中央部測光領域において3つのセンサが中央部測
光領域の被写体光束をさらに分割してそれぞれ受光し、
周辺部測光領域において1つのセンサが周辺部測光領域
の被写体光束を受光する4分割センサの場合を例にす
る。この場合には、中央部の3つのセンサによる3つの
輝度データから得られる輝度値を中央部測光領域の輝度
データとし、周辺部測光領域のセンサによる1つの輝度
データを周辺部測光領域のデータとした上で、上述した
第一の実施形態と同様に、中央部の輝度データおよび周
辺部の輝度データに基づいて1つの被写体輝度を演算す
ればよい。
【0035】また、周辺部測光領域において、たとえ
ば、4つのセンサが周辺部測光領域の被写体光束を受光
するようにしてもよい。この場合には、周辺部の4つの
センサによる4つの輝度データから得られる輝度値を周
辺部測光領域のデータとした上で、上述した第一の実施
形態と同様に、中央部の輝度データおよび周辺部の輝度
データに基づいて1つの被写体輝度を演算すればよい。
【0036】以上説明したように、測距部2および測光
部3がそれぞれ撮影レンズ4による光学系と異なる光学
系を有するものであれば、銀塩カメラ、電子カメラを問
わず本発明を適用することができる。
【0037】上述した測距部2の光学系は、受光レンズ
211aおよび211bによって光束を測距センサ22
aおよび22b上にそれぞれ導くようにしたが、光束を
セパレータレンズで分割して一対の測距センサ上に光束
を導くようにしてもよい。
【0038】特許請求の範囲における各構成要素と、発
明の実施の形態における各構成要素との対応について説
明する。撮影レンズと異なる固定焦点の光学系は、たと
えば、受光レンズ21、受光レンズ31によって構成さ
れる。測光装置は、たとえば、測光部3および制御部1
によって構成される。画素アレイ型撮像素子は、たとえ
ば、測距センサ22aおよび22bによって構成され
る。測距装置は、たとえば、測距部2および制御部1に
よって構成される。複数の画素領域は、たとえば、測距
センサ22aの場合はpa0〜pa4、測距センサ22
bの場合はpb0〜pb4によって構成される。撮像信
号は、たとえば、画素データに対応する。被写体輝度の
補正は、たとえば、図4に示した中央部測光センサ32
1および周辺部測光センサ322による輝度データの比
率をさらに補正することである。補正回路は、たとえ
ば、制御部1によって構成される。被写体輝度の補正
は、たとえば、図4に示した中央部測光センサ321お
よび周辺部測光センサ322による輝度データの比率に
することである。第1の補正回路は、たとえば、制御部
1によって構成される。補正後の被写体輝度の補正は、
たとえば、図4に示した輝度データの比率をさらに補正
することである。第2の補正回路は、たとえば、制御部
1によって構成される。
【0039】
【発明の効果】本発明によれば、次のような効果を奏す
る。 (1)請求項1〜4に記載の発明による露出補正装置で
は、焦点距離が可変の撮影レンズの光学系と異なる固定
焦点光学系を通して測光装置で検出される被写体輝度
を、上記撮影レンズの光学系と異なる固定焦点光学系を
通して被写体像を撮像する測距装置の一対の画素アレイ
型撮像素子の画素領域ごとの撮像信号に応じて補正する
ようにした。これにより、たとえば、撮影レンズの焦点
距離が望遠側に変化され、撮影範囲と被写体輝度を検出
する測光範囲とが一致しなくなる場合に測光装置による
被写体輝度を補正できるから、測光装置のコスト上昇を
抑えつつ、測光される被写体輝度を撮影レンズの焦点距
離に適するように補正することができる。 (2)請求項5〜8に記載の発明による露出補正装置で
は、焦点距離が可変の撮影レンズの光学系と異なる固定
焦点光学系を通して測光装置で検出される被写体輝度を
撮影レンズの焦点距離に応じて補正し、補正後の焦点距
離を、上記撮影レンズの光学系と異なる固定焦点光学系
を通して被写体像を撮像する測距装置の一対の画素アレ
イ型撮像素子の画素領域ごとの撮像信号に応じてさらに
補正するようにした。これにより、たとえば、撮影レン
ズの焦点距離が望遠側に変化され、撮影範囲と被写体輝
度を検出する測光範囲とが一致しなくなる場合に測光装
置による被写体輝度を補正できるから、測光装置のコス
ト上昇を抑えつつ、測光される被写体輝度を撮影レンズ
の焦点距離に適するように補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第一の実施の形態による露出補正装置を有する
カメラの概要を示すブロック図である。
【図2】測距部の光学系の詳細を示す図である。
【図3】測距センサ対による出力信号例を示す図であ
る。
【図4】撮影レンズの焦点距離と中央部測光センサおよ
び周辺部測光センサによる輝度データの比率との関係を
示す図である。
【図5】測距部による受光範囲と撮影レンズによる撮影
範囲との対応を説明する図である。
【図6】測光部による受光範囲と撮影レンズによる撮影
範囲との対応を説明する図である。
【図7】第一の実施の形態による測距部の測距範囲の詳
細を示す図である。
【図8】測距領域間の差と中央部測光センサによる輝度
データに対する補正比率との関係を示す図である。
【図9】最大値との差が所定値以上となる画素領域数と
中央部測光センサによる輝度データに対する補正比率と
の関係を示す図である。
【符号の説明】 1…制御部、 2…測距部、3…
測光部、 4…撮影レンズ、5…
撮影レンズ駆動装置、 6…撮影レンズ一検出
装置、7…ファインダ、 8…ズーム
アップスイッチ、9…ズームダウンスイッチ、 2
1(211a、211b)…受光レンズ、22(22
a、22b)…測距センサ、31…受光レンズ、
321…中央部測光センサ、322…周辺部
測光センサ、
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03B 13/36 G03B 3/00 A G02B 7/11 Fターム(参考) 2G065 AA02 AA06 AB04 BA09 BA32 BC13 BC14 BC16 BC20 BC28 BC33 BC35 DA18 2H002 DB02 DB04 DB05 DB15 DB19 DB20 DB24 DB25 DB26 DB27 DB31 DB32 EB02 FB37 GA54 GA55 HA04 HA21 2H011 AA01 BA01 BB02 CA01 DA01 2H051 AA01 BB01 CB07 CB20 CB26 EB01 EB04 EB13

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】焦点距離が可変の撮影レンズと、 前記撮影レンズと異なる固定焦点の光学系を通して被写
    体輝度を検出する測光装置と、 所定の基線長を隔てて配設される一対の画素アレイ型撮
    像素子を有し、前記撮影レンズと異なる固定焦点の光学
    系を通して被写体像を撮像し、前記撮影レンズの合焦に
    必要なレンズ移動情報を演算する測距装置と、 前記撮像素子を複数の画素領域に分割し、前記撮像素子
    から出力される前記画素領域ごとの撮像信号に応じて前
    記被写体輝度を補正する補正回路とを備えることを特徴
    とする露出補正装置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の露出補正装置において、 前記補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号から得ら
    れる演算値を比較し、前記演算値の最大値と最小値との
    差に応じて前記被写体輝度を補正することを特徴とする
    露出補正装置。
  3. 【請求項3】請求項1に記載の露出補正装置において、 前記補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号から得ら
    れる演算値を比較し、前記演算値の最大値との差が所定
    値以上となる演算値に対応する画素領域の数に応じて前
    記被写体輝度を補正することを特徴とする露出補正装
    置。
  4. 【請求項4】請求項1〜3のいずれかに記載の露出補正
    装置において、 前記補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号の総和を
    演算し、この演算値を前記画素領域ごとに比較すること
    を特徴とする露出補正装置。
  5. 【請求項5】請求項1〜3のいずれかに記載の露出補正
    装置において、 前記補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号の平均を
    演算し、この演算値を前記画素領域ごとに比較すること
    を特徴とする露出補正装置。
  6. 【請求項6】焦点距離が可変の撮影レンズと、 前記撮影レンズと異なる固定焦点の光学系を通して、少
    なくとも被写体の中央部と周辺部とでそれぞれ被写体輝
    度を検出する測光装置と、 所定の基線長を隔てて配設される一対の画素アレイ型撮
    像素子を有し、前記撮影レンズと異なる固定焦点の光学
    系を通して被写体像を撮像し、前記撮影レンズの合焦に
    必要なレンズ移動情報を演算する測距装置と、 前記中央部で検出される被写体輝度と前記周辺部で検出
    される被写体輝度とに前記焦点距離に応じた所定の比率
    を与えて被写体輝度を補正する第1の補正回路と、 前記撮像素子を複数の画素領域に分割し、前記撮像素子
    から出力される前記画素領域ごとの撮像信号に応じて前
    記補正後の被写体輝度をさらに補正する第2の補正回路
    とを備えることを特徴とする露出補正装置。
  7. 【請求項7】請求項6に記載の露出補正装置において、 前記第2の補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号か
    ら得られる演算値を比較し、前記演算値の最大値と最小
    値との差に応じて前記補正後の被写体輝度をさらに補正
    することを特徴とする露出補正装置。
  8. 【請求項8】請求項6に記載の露出補正装置において、 前記第2の補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号か
    ら得られる演算値を比較し、前記演算値の最大値との差
    が所定値以上となる演算値に対応する画素領域の数に応
    じて前記補正後の被写体輝度をさらに補正することを特
    徴とする露出補正装置。
  9. 【請求項9】請求項6〜8のいずれかに記載の露出補正
    装置において、 前記第2の補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号の
    総和を演算し、この演算値を前記画素領域ごとに比較す
    ることを特徴とする露出補正装置。
  10. 【請求項10】請求項6〜8のいずれかに記載の露出補
    正装置において、 前記第2の補正回路は、前記画素領域ごとの撮像信号の
    平均を演算し、この演算値を前記画素領域ごとに比較す
    ることを特徴とする露出補正装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100747785B1 (ko) 2003-05-28 2007-08-08 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피 장치, 교정 방법 및 디바이스 제조방법

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