JP2002538527A - カード読取装置内でのチップカードの位置を求めるための方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 カード読取装置のカード収容部内におけるチップカード（１４）の位置を求めるために、本発明は、チップ接触面（１８）の存在を、カード読取装置に挿入されたカード（１４）のチップ（１６）が位置することのできる４つの可能な位置において検出する。このために、評価ユニット（２８）に接続された、チップ接触面（１８）を検出するためのセンサ（２０）が、前記可能な位置のそれぞれに対して配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】 本発明は、カード読取機内でのチップカードの位置を求めるための方法、およ
びこの方法を実行するための装置に関する。なお、チップは、カードの中心から
ずらして配置されている。

【０００２】 磁気読取テープを有していないか、または磁気読取テープが貼られていない、
今日では普通のチップカードのうちの１つが、チップカード接触機構を有するカ
ード読取装置に挿入された場合、チップカードは、チップカード接触機構に対し
て４つの位置をとることができる。しかしながら、チップとの接触が効果的に行
われるのは、ただ１つの位置においてだけである。というのも、チップカード接
触機構は、チップカード上の１つの位置でしか有効に接触することができないか
らである。ユーザは一般的に装置側の接触素子がどこにあるかを識別することが
できないため、場合によっては、ユーザは、有効な接触が保証されるには、どの
位置でチップカードをカード読取装置に挿入すればよいのかを発見するまでに、
何度も試さなければならないことがある。

【０００３】 磁気溝を有するカードにおいて、磁気溝を予め識別するための手段を備えるこ
とは既に公知である。それとともに、規定通りでない対象物の挿入、および特に
読取装置の操作を回避すべきである。さらに、この磁気溝の事前識別によって、
場合によっては、その時のカードの挿入位置が正しくないことを確定することが
できる。しかし、カードが実際にどの位置にあるかということ、したがって、チ
ップカードを接触させるために、ユーザがどのようにしてこの位置を変えればよ
いのかを確定することはできない。

【０００４】 本発明の課題は、冒頭で述べたような、カードの目下の位置を識別し、場合に
よっては、カード読取装置にそれを正しく挿入するためには、カード位置をどの
ように変えるべきかを決定することのできる方法を示すことである。

【０００５】 上記課題は、本発明により、カード読取装置に挿入されたチップカードのチッ
プが位置することのできる４つの可能な位置において、チップ接触面の存在を検
出するようにすることで解決される。

【０００６】 したがって、本発明の方法によれば、カードが誤った位置でカード読取装置に
挿入されたことを確定するだけでなく、チップが実際にどの位置にあるのかも識
別することができる。これにより、チップおよび／またはチップカードの位置を
指示し、ユーザに、どのようにしてカードを正しく挿入すればよいのかを知らせ
ることができる。さらに、チップを正しく接触させることができるように、カー
ドの位置または装置側の接触素子の位置を変えることもできる。

【０００７】 チップ接触面の存在は、チップ接触面の直接の接触による誘導性検出、容量性
検出、または抵抗値測定を介して検出することができる。

【０００８】 上記方法の実行のために、カード読取装置のカード収容部内におけるチップカ
ードの位置を求める装置を提案する。この装置では、カード読取装置内部の検査
位置に挿入されたカードのチップが位置することのできる４つの可能な位置に、
それぞれ評価装置に接続された、チップ接触面の存在を検出するためのセンサが
配置されている。検出の際には、検査位置をカード読取位置に合わせることがで
きる。

【０００９】 第１の実施例では、センサはそれぞれ、チップ接触面の存在の誘導性検出をす
るように構成されている。この場合、各センサは、それぞれ１つのコイル対、一
方のコイルはチップカード収容部の一方の側面に配置された送信コイルであり、
他方のコイルはチップカード収容部の他方の側面に配置された受信コイルである
コイル対を内蔵することができる。これらのコイルは、直列共振における励振周
波数に関して同調されている。それぞれの送信コイルにおける交流電圧が、受信
コイル内に交流電圧を誘導する。そこで、チップ接触面がこのようなコイル対の
間に至った場合、このセンサでは、受信される交流電圧の絶対値が低減される。
４つのセンサから受け取った値の比較によって、センサは、チップ接触面がどの
領域にあるのかを求めることができる。これによって、カード収容部内でのチッ
プカードの位置を一義的に確定することができる。

【００１０】 別の実施形態では、センサはそれぞれ、抵抗値を測定するように構成されてい
る。これは、例えば、次のように実行される。各センサが１つの接触ピン対を有
し、この接触ピン対は、接触ピンがチップ接触面との接触により電流で結合され
るように、チップカードへの方向において調節可能であるよう配置されいる。４
つの位置で求められた抵抗値は、再び評価装置で互いに比較され、チップの位置
、ひいてはチップカードの位置が一義的に確定される。

【００１１】 最後に、センサがそれぞれ、チップ接触面の存在の容量性検出をするように構
成されていてもよい。この容量性検出は、例えば、各センサが、カード収容部の
両側に配置されたコンデンサ面を有する１つのコンデンサを有することで可能と
なる。そこで、チップカードがこれらのプレート間に挿入されると、それぞれの
コンデンサの容量が、挿入されたカード材料によって変化する。しかしながら、
この変化が最も強いのは、チップ接触面の位置においてである。評価回路は、ユ
ーザに、例えばカードの位置を表示するため、またはカードを正しい位置にもっ
てくるために執るべき措置を表示するために、目的に合わせて表示装置と接続さ
れている。

【００１２】 場合によっては、カード収容部内でのカードの位置、またはカードに対する接
触素子の位置を、センサによって求められた結果に依存して変更するために、評
価回路を位置補正装置と接続することもできる。

【００１３】 本発明のさらなる特徴および利点は、以下の説明から明らかとなる。以下の説
明では、添付の図面と合わせて、本発明を実施例を用いて説明する。

【００１４】 図１は、カード読取装置のカード収容部内におけるチップカードの側面の概略
的な平面図を示している。

【００１５】 図２は、カード位置の容量性検出をするための装置の概略的表示である。

【００１６】 図３は、抵抗値測定によってカード位置を検出するためのセンサ構成の概略的
表示である。

【００１７】 図４は、図３に対応する、カード位置の容量性検出をするためのセンサ構成の
表示である。

【００１８】 図１には、チップカード１４のための保持スロット１２を有する装置が１０に
よって示されているが、この装置は、これ以外の点ではより詳細に表示されてい
ない。チップカード１４内には、プロセッサ素子または記憶素子、つまりチップ
１６が埋め込まれており（図２〜４）、このチップ１６は、チップカード１４が
カード収容部１２内にあるときに、カード表面に配置されたチップ接触面１８を
介して、カード収容部１２内の図示されていない装置側対向接触部と接触するこ
とができる。ほとんどの実施形態では、チップの位置はチップ接触面の位置と同
じである。というのも、チップはチップ接触面の下に適切に配置されているから
である。

【００１９】 ISO 7816-1によれば、チップ接触面１８は、チップカード１４上で４つの位置
をとるようにしてもよい。これら４つの位置は、図１において概略的に示されて
おり、参照番号１８．１〜１８．４によって表示されている。この場合、位置１
８．１および１８．２は、チップカード１４の見る人の方を向いた面上にあり、
一方で、点線によって表示された位置１８．３および１８．４は、チップカード
１４の見る人とは反対方向を向いた面上にある。これら４つの位置のうちの１つ
に、読取装置１０の対向接触素子が配置されている。カードに対して垂直な中心
軸の周りのカードの回転によって、またはその全長および／または横軸に沿った
折り返しによって、位置１８．１，１８．２を位置１８．３または１８．４に移
すこと、およびその逆が可能である。

【００２０】 ユーザは、たいてい、これら４つの位置のうちのどれにカード読取装置１０の
対向接触素子が配置されているかを知らない。すなわち、チップ接触面１８とカ
ード読取装置１９の対向接触素子とを接触させるために、どのようにしてチップ
カード１４をカード収容部に挿入ればよいのかを知らない。どの位置でチップカ
ード１４をカード収容部１２に挿入しなければならないかについて、装置に一義
的な指示が与えられていない限り、ユーザが初めの１回はカードを間違った位置
でカード収容部１２に挿入してしまう可能性が高い。図２〜４に示されている構
成により、挿入されたチップカード１４の位置を正しく識別することができ、ま
た必要であれば、複数回の誤った試行を防ぐために、位置を迅速に補正すること
もできる。

【００２１】 図２は、チップ接触面１８の位置の誘導性検出をするためのセンサ構成を示し
ており、このセンサ構成は、２０によって一般的に表示された４つのセンサを有
しており、図２ではこのうちの２つのセンサだけが見えるようになっている。と
いうのも、他の２つはそれぞれ覆い隠されているからである。各センサは１つの
送信コイル２２を有しており、この送信コイル２２は、交流電圧源２４と接続さ
れている。送信コイル２２には、１つの受信コイル２６が割当てられており、受
信コイル２６は、評価装置２８と接続されている。評価装置２８は表示ユニット
３０と接続されている。

【００２２】 送信コイル２２と受信コイル２６は、直列共振における給電電圧の周波数に関
して同調されている。それぞれの送信コイル２２の交流電圧は、受信コイル２６
内に同様に交流電圧を誘導する。そこで、チップ接触面１８がこのようなコイル
対２２，２６の間に至ると、受信コイル２６における交流電圧の絶対値が低減す
る。この絶対値の変化は、評価ユニット２８内のオペアンプを用いて増倍され、
他のセンサ２０から受け取った信号との比較によって識別され、評価されること
が可能である。これによって、チップ１６が存在する位置、ひいてはカード収容
部１２内でのチップカード１４の位置も一義的に識別することができる。この位
置は表示ユニット３０で表示することができる。これと同時にまたは代替的に、
表示ユニット３０では、ユーザに対して、チップ接触面１８をカード収容部１２
内の対向接触素子と接触させるためには、カードの位置をどのように変えればよ
いのかについて指示を与えることもできる。

【００２３】 カード収容部１２内でのカード１４の位置のチェックは、カードの最終的な接
触位置においても、最終的な接触位置に対してシフトされた、カード収容部内の
任意の静止位置においても行うことができる。

【００２４】 ４つのコイル対またはセンサ２０の不可欠なレベル検査は、チップカード１４
が静止状態になってはじめて行われるべきであることに注意すべきである。とい
うのも、例えば、しばしばチップカード上に存在する、金属被覆されたホログラ
ムにより、カードが動いている間に、同様に障害電圧が生じることがあり得るか
らである。

【００２５】 図３は、それぞれの位置１８．１〜１８．４にセンサ３２が割当てられている
、一部変更された実施形態を示しており、このセンサは、図示されていない抵抗
値測定回路を介して互いに接続されている２つの接触ピンまたは検査針３４から
成っている。この接触ピンは、チップカード１４への方向に、すなわち図３での
上下に動かすことができる。接触ピン３４がチップカードのプラスチック材料に
当たると、大きな抵抗値が生じる。接触ピン３４が金属製のチップ接触面１８に
当たった場合には、小さな接触抵抗が得られる。この抵抗値は、金メッキされた
表面に合わせられており、抵抗値から金属被覆されたホログラムが識別される。
４つのセンサ３２で得られた抵抗値を比較することによって、再びチップ接触面
１８の位置とチップ１６の位置が一義的に確定され、評価される。

【００２６】 最後に図４は、チップ１６またはチップカード１４の位置の容量性検出をする
ためのセンサ構成を示している。この構成でもまた、それぞれの位置１８．１〜
１８．４にセンサ３６が割当てられており、図４では、これらのうち２つだけが
示されている。各センサ３６は、２つの電極３８を有するコンデンサであり、こ
れら電極はチップカードの両側に配置されている。チップカードをセンサ３６の
電極３８の間に挿入することによって、誘電体、したがってセンサ３６の容量も
変化する。しかしながら、この変化が最も強いのは、チップ接触面１８が存在す
る位置においてである。残りのセンサとの比較によって、またチップ１６の位置
を検出し、表示装置３０に表示することができる。この実施形態でも、金属被覆
されたホログラムに起因する容量の変化を検出するための配慮がなされる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 カード読取装置のカード収容部内にあるチップカードの側面の概略的な平面図
を示す。

【図２】 カード位置の容量性検出をするための装置の概略的表示である。

【図３】 抵抗値測定によってカード位置を検出するためのセンサ構成の概略的表示であ
る。

【図４】 図３に対応する、カード位置の容量性検出をするためのセンサ構成の表示であ
る。

【符号の説明】

１０ カード読取装置 １２ 保持スロット １４ チップカード １６ チップ １８ チップ接触面 １８．１〜１８．４ チップ位置 ２０ センサ ２２ 送信コイル ２４ 交流電圧源 ２６ 受信コイル ２８ 評価ユニット ３０ 表示ユニット ３２ センサ ３４ 接触ピン ３６ センサ ３８ 電極

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ルッツ ノイバウアー ドイツ連邦共和国 ヴュネンベルク−ライ ベルク クレメンス−ブラウン−シュトラ ーセ ５ Ｆターム(参考） 5B058 CA07 CA13 KA40

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 カード読取装置（１０）のカード収容部（１２）内における
   チップカード（１４）の位置を求めるための方法であって、 チップ接触面（１８）が前記カード（１４）上に中心からずらして配置されて
   いる形式の方法において、 前記カード収容部（１２）に挿入されたカード（１４）のチップ接触面（１８
   ）が位置することのできる４つの可能な位置（１８．１〜１８．４）において、
   前記チップ接触面（１８）の存在を検出する、ことを特徴とするチップカードの
   位置を求めるための方法。
2. 【請求項２】 前記チップ接触面（１８）の存在の誘導性検出を行う、請求
   項１記載の方法。
3. 【請求項３】 前記チップ接触面（１８）の存在の容量性検出を行う、請求
   項１記載の方法。
4. 【請求項４】 前記チップ接触面（１８）の存在を抵抗値測定を介して検出
   する、請求項１記載の方法。
5. 【請求項５】 前記チップ接触面（１８）および／またはチップカード（１
   ４）の位置を表示する、請求項１から４のいずれか１項記載の方法。
6. 【請求項６】 前記カード収容部（１２）内でのチップカード（１４）の位
   置を自動的に補正する、請求項１から５のいずれか１項記載の方法。
7. 【請求項７】 前記カード読取装置（１０）のチップ接触素子を、求められ
   たチップ位置に依存して、チップカード（１４）のそのつどの位置に合わせる、
   請求項１から５のいずれか１項記載の方法。
8. 【請求項８】 カード読取装置（１０）のカード収容部（１２）内における
   チップカード（１４）の位置を求めるための装置であって、 チップ接触面（１８）が前記カード（１４）上に中心からずらして配置されて
   いる形式の装置において、 前記カード読取装置（１０）内部の検査位置に挿入されたカード（１４）のチ
   ップ接触面（１８）が位置することのできる４つの可能な位置に対して、それぞ
   れ評価ユニット（２８）に接続されたセンサ（２０，３２，３６）が、チップ接
   触面（１８）の検出のために配置されている、ことを特徴とするチップカードの
   位置を求めるための装置。
9. 【請求項９】 前記検査位置はカード読取位置である、請求項８記載の装置
   。
10. 【請求項１０】 前記センサ（２０）は、それぞれ、チップ接触面（１８）
    の存在の誘導性検出をするように構成されている、請求項８または９記載の装置
    。
11. 【請求項１１】 各センサ（２０）は、それぞれ、一方が前記カード収容部
    （１２）の一方の側面に配置された送信コイル（２２）であり、他方が前記カー
    ド収容部（１２）の他方の側面に配置された受信コイル（２２）である１つのコ
    イル対を有しており、 前記コイルは、直列共振における励振周波数に関して同調されている、請求項
    １０記載の装置。
12. 【請求項１２】 前記センサ（３２）は、それぞれ、抵抗を測定するように
    構成されている、請求項８または９記載の装置。
13. 【請求項１３】 各センサ（３２）は１つの接触ピン対を有しており、 該接触ピン対は、接触ピン（３４）がチップ接触面（１８）を通して電流で結
    合されるように、カード（１４）への方向において調節可能であるよう配置され
    いる、請求項１２記載の装置。
14. 【請求項１４】 前記センサ（３６）は、それぞれ、チップ接触面（１８）
    の存在の容量性検出をするように構成されている、請求項８または９記載の装置
    。
15. 【請求項１５】 各センサ（３６）は、前記カード収容部（１２）の両側に
    配置されたコンデンサ面（３８）を有する１つのコンデンサを有している、請求
    項１４記載の装置。
16. 【請求項１６】 前記評価ユニット（２８）は、前記表示ユニット（３０）
    と接続されている、請求項８から１５のいずれか１項記載の装置。
17. 【請求項１７】 前記評価ユニット（２８）は、位置補正装置と接続されて
    いる、請求項８から１６のいずれか１項記載の装置。