JP2002350357A - カメラ位置設定方法、疵検査対象物の表面画像生成装置 - Google Patents
カメラ位置設定方法、疵検査対象物の表面画像生成装置Info
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- JP2002350357A JP2002350357A JP2001160683A JP2001160683A JP2002350357A JP 2002350357 A JP2002350357 A JP 2002350357A JP 2001160683 A JP2001160683 A JP 2001160683A JP 2001160683 A JP2001160683 A JP 2001160683A JP 2002350357 A JP2002350357 A JP 2002350357A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 疵検査対象物の表面画像を生成するためのカ
メラを設置する際に、疵検査対象物の状態に起因する輝
度変化の少ない角度にカメラを設置するために行う調整
作業を不要にするとともに、良好な表面画像を撮影でき
るようにする。 【解決手段】 疵検査対象物１１を照明するための照明
装置１３を任意の位置に設置して、表面が鏡面状態の疵
検査対象物１１に照明した状態において種々の角度から
輝度を測定して、第１の輝度ベクトルの包絡線１５を作
成するとともに、表面が粗面状態の疵検査対象物に照明
した状態において種々の角度から輝度を測定して、第２
の輝度ベクトルの包絡線１６を作成し、これら２つの輝
度ベクトル包絡線の交点１８と、上記照明装置１３が上
記疵検査対象物１１を照明している照明位置１０とを結
ぶ線上をカメラの設置方向として決定するようにする。
メラを設置する際に、疵検査対象物の状態に起因する輝
度変化の少ない角度にカメラを設置するために行う調整
作業を不要にするとともに、良好な表面画像を撮影でき
るようにする。 【解決手段】 疵検査対象物１１を照明するための照明
装置１３を任意の位置に設置して、表面が鏡面状態の疵
検査対象物１１に照明した状態において種々の角度から
輝度を測定して、第１の輝度ベクトルの包絡線１５を作
成するとともに、表面が粗面状態の疵検査対象物に照明
した状態において種々の角度から輝度を測定して、第２
の輝度ベクトルの包絡線１６を作成し、これら２つの輝
度ベクトル包絡線の交点１８と、上記照明装置１３が上
記疵検査対象物１１を照明している照明位置１０とを結
ぶ線上をカメラの設置方向として決定するようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はカメラ位置設定方
法、疵検査対象物の表面画像生成装置に関し、特に、疵
検査対象物の表面を照明装置により照明して、上記疵検
査対象物の表面で反射した光をカメラにより捉えて表面
画像を生成し、疵検査対象物の疵検査を行うために用い
て好適な技術に関する。
法、疵検査対象物の表面画像生成装置に関し、特に、疵
検査対象物の表面を照明装置により照明して、上記疵検
査対象物の表面で反射した光をカメラにより捉えて表面
画像を生成し、疵検査対象物の疵検査を行うために用い
て好適な技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来は、疵検査対象物の一部を切り出し
たもの（以下、「サンプル板」と称する）を何種類か採
取し、これを実験室に持ち込み、実験室において照明及
びカメラの角度の最適値を探索し、当該照明及びカメラ
の角度の最適値を実ラインのカメラ及び照明設置架台に
設定して、現地に持ち込んで設置した後に照明及びカメ
ラを架台上に設定して、実ラインを通板する対象検査材
を当該照明で照明し、カメラで対象検査材の表面画像を
捉えて、実験室で決定した照明及びカメラ角度が妥当で
あるかを検証するという手順を踏んでいた。
たもの（以下、「サンプル板」と称する）を何種類か採
取し、これを実験室に持ち込み、実験室において照明及
びカメラの角度の最適値を探索し、当該照明及びカメラ
の角度の最適値を実ラインのカメラ及び照明設置架台に
設定して、現地に持ち込んで設置した後に照明及びカメ
ラを架台上に設定して、実ラインを通板する対象検査材
を当該照明で照明し、カメラで対象検査材の表面画像を
捉えて、実験室で決定した照明及びカメラ角度が妥当で
あるかを検証するという手順を踏んでいた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実験室
で決定した照明及びカメラ角度で実ラインを通板する検
査対象材の画像を捉えると満足の行かない場合が多々あ
る。なぜなら、実験室に持ち込んだサンプル板は、実ラ
インを通板する検査対象材の典型的なものである場合が
多く、実際にはサンプル板より汚れた検査対象材や高熱
なために自発光の量が多い疵検査対象物もある。
で決定した照明及びカメラ角度で実ラインを通板する検
査対象材の画像を捉えると満足の行かない場合が多々あ
る。なぜなら、実験室に持ち込んだサンプル板は、実ラ
インを通板する検査対象材の典型的なものである場合が
多く、実際にはサンプル板より汚れた検査対象材や高熱
なために自発光の量が多い疵検査対象物もある。
【０００４】特に、高熱を有する疵検査対象物は、実験
室に持ち込むことが不可能であるので、このような疵検
査対象物に正確にフィットできる照明位置及びカメラの
据付角度を実験室で正確に決定することは困難であっ
た。
室に持ち込むことが不可能であるので、このような疵検
査対象物に正確にフィットできる照明位置及びカメラの
据付角度を実験室で正確に決定することは困難であっ
た。
【０００５】したがって、実ラインを通板する疵検査対
象物にフィットする照明及びカメラ角度を決定する場合
には、（イ）疵検査対象物が高温による自発光、（ロ）
温度むらによる自発光のむら、（ハ）スケールの量（厚
み及び疵検査対象物を覆う面積）、（ニ）鋼板の形状等
の状態を見ながら据付現場において微調整する必要があ
った。
象物にフィットする照明及びカメラ角度を決定する場合
には、（イ）疵検査対象物が高温による自発光、（ロ）
温度むらによる自発光のむら、（ハ）スケールの量（厚
み及び疵検査対象物を覆う面積）、（ニ）鋼板の形状等
の状態を見ながら据付現場において微調整する必要があ
った。
【０００６】本発明は上述の問題点にかんがみ、疵検査
対象物の表面画像を生成するためのカメラを設置する際
に、疵検査対象物の状態に起因する輝度変化の少ない角
度にカメラを設置するために行う調整作業をするととも
に、良好な表面画像を撮影できるようにすることを目的
とする。
対象物の表面画像を生成するためのカメラを設置する際
に、疵検査対象物の状態に起因する輝度変化の少ない角
度にカメラを設置するために行う調整作業をするととも
に、良好な表面画像を撮影できるようにすることを目的
とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のカメラ位置設定
方法は、疵検査対象物を照明するための照明装置を所定
の位置に設置する第１のステップと、上記所定の位置に
設置した照明装置から、表面が鏡面状態の疵検査対象物
に照明した状態において種々の角度から輝度を測定し
て、第１の輝度ベクトルの包絡線を作成する第２のステ
ップと、上記所定の位置に設置した照明装置から、表面
が粗面状態の疵検査対象物に照明した状態において種々
の角度から輝度を測定して、第２の輝度ベクトルの包絡
線を作成する第３のステップと、上記第２のステップで
作成した第１の輝度ベクトルの包絡線と、上記第３のス
テップで作成した第２の輝度ベクトルの包絡線との交点
と、上記照明装置が上記疵検査対象物を照明している照
明位置とを結ぶ線上をカメラの設置方向として決定する
第４のステップとを行うことを特徴としている。また、
本発明の他の特徴とするところは、上記２つの包絡線の
交点が２個以上ある場合には上記疵検査対象物の温度を
考慮して、上記疵検査対象物から遠い位置にカメラを設
置することを特徴としている。
方法は、疵検査対象物を照明するための照明装置を所定
の位置に設置する第１のステップと、上記所定の位置に
設置した照明装置から、表面が鏡面状態の疵検査対象物
に照明した状態において種々の角度から輝度を測定し
て、第１の輝度ベクトルの包絡線を作成する第２のステ
ップと、上記所定の位置に設置した照明装置から、表面
が粗面状態の疵検査対象物に照明した状態において種々
の角度から輝度を測定して、第２の輝度ベクトルの包絡
線を作成する第３のステップと、上記第２のステップで
作成した第１の輝度ベクトルの包絡線と、上記第３のス
テップで作成した第２の輝度ベクトルの包絡線との交点
と、上記照明装置が上記疵検査対象物を照明している照
明位置とを結ぶ線上をカメラの設置方向として決定する
第４のステップとを行うことを特徴としている。また、
本発明の他の特徴とするところは、上記２つの包絡線の
交点が２個以上ある場合には上記疵検査対象物の温度を
考慮して、上記疵検査対象物から遠い位置にカメラを設
置することを特徴としている。
【０００８】本発明の疵検査対象物の表面画像生成装置
は、所定の位置に設置した照明装置から疵検査対象物に
照明した状態で鏡面状態の疵検査対象物の輝度を種々の
方向から輝度を測定して作成した第１の輝度ベクトルの
包絡線と、粗面状態の疵検査対象物における輝度を種々
の方向から輝度を測定して作成した第２の輝度ベクトル
の包絡線との交点と、上記照明装置が上記疵検査対象物
を照明している照明位置とを結ぶ線上の方向にカメラが
設置されていることを特徴としている。また、本発明の
他の特徴とするところは、上記２つの包絡線の交点が２
個以上ある場合には上記疵検査対象物の温度を考慮し
て、上記疵検査対象物から遠い位置にカメラが設置され
ていることを特徴としている。
は、所定の位置に設置した照明装置から疵検査対象物に
照明した状態で鏡面状態の疵検査対象物の輝度を種々の
方向から輝度を測定して作成した第１の輝度ベクトルの
包絡線と、粗面状態の疵検査対象物における輝度を種々
の方向から輝度を測定して作成した第２の輝度ベクトル
の包絡線との交点と、上記照明装置が上記疵検査対象物
を照明している照明位置とを結ぶ線上の方向にカメラが
設置されていることを特徴としている。また、本発明の
他の特徴とするところは、上記２つの包絡線の交点が２
個以上ある場合には上記疵検査対象物の温度を考慮し
て、上記疵検査対象物から遠い位置にカメラが設置され
ていることを特徴としている。
【０００９】
【発明の実施の形態】次に、図１に基づいて、本発明の
カメラ位置設定方法、疵検査対象物の表面画像生成装置
の実施の形態を説明する。図１は、本発明の実施の形態
を示し、照明装置及びカメラを配置する配置を説明する
図である。
カメラ位置設定方法、疵検査対象物の表面画像生成装置
の実施の形態を説明する。図１は、本発明の実施の形態
を示し、照明装置及びカメラを配置する配置を説明する
図である。
【００１０】図１は、疵検査対象物が通板する方向に流
れていくところを横から見た図である。図１において、
１１は疵検査対象物であり、１２は疵検査対象物１１に
対する法線であり、１３は照明であり、１４は疵検査対
象物１１の表面を撮像するカメラである。
れていくところを横から見た図である。図１において、
１１は疵検査対象物であり、１２は疵検査対象物１１に
対する法線であり、１３は照明であり、１４は疵検査対
象物１１の表面を撮像するカメラである。
【００１１】上記カメラ１４は、上記照明装置１３によ
って照明されている疵検査対象物１１を撮像して表面画
像を生成するためのものであり、本実施の形態において
は、図２のフローチャートに示したような手順でその設
置位置を決定している。
って照明されている疵検査対象物１１を撮像して表面画
像を生成するためのものであり、本実施の形態において
は、図２のフローチャートに示したような手順でその設
置位置を決定している。
【００１２】すなわち、図２に示したように、最初のス
テップＳ２１において、例えば鋼板等の疵検査対象物１
１を照明するための照明装置１３を設置する。上記照明
装置１３を、本実施の形態においては、照明位置１０に
立てた法線１２に対して３０度前後の角度に設定してい
る。
テップＳ２１において、例えば鋼板等の疵検査対象物１
１を照明するための照明装置１３を設置する。上記照明
装置１３を、本実施の形態においては、照明位置１０に
立てた法線１２に対して３０度前後の角度に設定してい
る。
【００１３】次に、ステップＳ２２に進んで、表面が鏡
面状態の疵検査対象物１１の輝度を種々の方向から測定
して、上記表面が鏡面状態の場合における疵検査対象物
１１の輝度ベクトルの包絡線、すなわち、第１の輝度ベ
クトルの包絡線１５を作成する。
面状態の疵検査対象物１１の輝度を種々の方向から測定
して、上記表面が鏡面状態の場合における疵検査対象物
１１の輝度ベクトルの包絡線、すなわち、第１の輝度ベ
クトルの包絡線１５を作成する。
【００１４】次に、ステップＳ２３に進み、上記照明装
置１３から疵検査対象物１１に照明した状態で、表面が
粗面状態の疵検査対象物１１の輝度を種々の方向から測
定して、表面が粗面状態の場合における疵検査対象物１
１の輝度ベクトルの包絡線、すなわち、第２の輝度ベク
トルの包絡線１６を作成する。
置１３から疵検査対象物１１に照明した状態で、表面が
粗面状態の疵検査対象物１１の輝度を種々の方向から測
定して、表面が粗面状態の場合における疵検査対象物１
１の輝度ベクトルの包絡線、すなわち、第２の輝度ベク
トルの包絡線１６を作成する。
【００１５】次に、ステップＳ２４において、上記ステ
ップＳ２２で作成した上記第１の輝度ベクトルの包絡線
１５と、上記ステップＳ２３で作成した第２の輝度ベク
トルの包絡線１６との交点を求める。
ップＳ２２で作成した上記第１の輝度ベクトルの包絡線
１５と、上記ステップＳ２３で作成した第２の輝度ベク
トルの包絡線１６との交点を求める。
【００１６】図１の例では、１つの大きな輝度ベクトル
１７が突出して大きいことにより、第１の交点１８及び
第２の交点１９が発生している。そこで、本実施の形態
においては、上記第１の交点１８と上記照明装置１３が
上記疵検査対象物１１を照明している照明位置１０とを
結ぶ線上にカメラ１４の設置方向として決定するように
している。
１７が突出して大きいことにより、第１の交点１８及び
第２の交点１９が発生している。そこで、本実施の形態
においては、上記第１の交点１８と上記照明装置１３が
上記疵検査対象物１１を照明している照明位置１０とを
結ぶ線上にカメラ１４の設置方向として決定するように
している。
【００１７】これは、上記２つの交点１８及び１９のう
ち、第２の交点１９は高温である疵検査対象物１１に近
い位置にあるので、上記疵検査対象物１１の高温からカ
メラ１４を保護するためである。なお、複眼の場合には
上記第２の交点１９の線上にもカメラを設置する。
ち、第２の交点１９は高温である疵検査対象物１１に近
い位置にあるので、上記疵検査対象物１１の高温からカ
メラ１４を保護するためである。なお、複眼の場合には
上記第２の交点１９の線上にもカメラを設置する。
【００１８】図３は、上述のようにして照明装置１３及
びカメラ１４を設置してなる疵検査対象物の表面画像生
成装置の一例を示すブロック図である。図３に示すよう
に、カメラ１４により生成された映像信号は、画像処理
手段２０の表面画像生成手段２１に与えられる。
びカメラ１４を設置してなる疵検査対象物の表面画像生
成装置の一例を示すブロック図である。図３に示すよう
に、カメラ１４により生成された映像信号は、画像処理
手段２０の表面画像生成手段２１に与えられる。
【００１９】そして、上記表面画像生成手段２１におい
て所定の画像処理された疵検査対象物１１の表面画像が
表面疵検出手段２２に与えられ、輝度及び所定の大きさ
等の諸条件に基づいた疵検出が行われる。
て所定の画像処理された疵検査対象物１１の表面画像が
表面疵検出手段２２に与えられ、輝度及び所定の大きさ
等の諸条件に基づいた疵検出が行われる。
【００２０】図４は、上記画像処理手段２０を構成可能
なコンピュータシステムの一例を示すブロック図であ
る。図４において、４００はコンピュータＰＣである。
ＰＣ４００は、ＣＰＵ４０１を備え、ＲＯＭ４０２また
はハードディスク（ＨＤ）４１１に記憶された、あるい
はフレキシブルディスクドライブ（ＦＤ）４１２より供
給されるデバイス制御ソフトウェアを実行し、システム
バス４０４に接続される各デバイスを総括的に制御す
る。
なコンピュータシステムの一例を示すブロック図であ
る。図４において、４００はコンピュータＰＣである。
ＰＣ４００は、ＣＰＵ４０１を備え、ＲＯＭ４０２また
はハードディスク（ＨＤ）４１１に記憶された、あるい
はフレキシブルディスクドライブ（ＦＤ）４１２より供
給されるデバイス制御ソフトウェアを実行し、システム
バス４０４に接続される各デバイスを総括的に制御す
る。
【００２１】上記ＰＣ４００のＣＰＵ４０１、ＲＯＭ４
０２またはハードディスク（ＨＤ）４１１に記憶された
プログラムにより、上記表面画像生成手段２１及び表面
疵検出手段２２等の各機能手段が構成される。
０２またはハードディスク（ＨＤ）４１１に記憶された
プログラムにより、上記表面画像生成手段２１及び表面
疵検出手段２２等の各機能手段が構成される。
【００２２】４０３はＲＡＭで、ＣＰＵ４０１の主メモ
リ、ワークエリア等として機能する。４０７はディスク
コントローラ（ＤＫＣ）で、ブートプログラム（起動プ
ログラム：パソコンのハードやソフトの実行（動作）を
開始するプログラム）、複数のアプリケーション、編集
ファイル、ユーザファイルそしてネットワーク管理プロ
グラム等を記憶するハードディスク（ＨＤ）４１１、及
びフレキシブルディスク（ＦＤ）４１２とのアクセスを
制御する。
リ、ワークエリア等として機能する。４０７はディスク
コントローラ（ＤＫＣ）で、ブートプログラム（起動プ
ログラム：パソコンのハードやソフトの実行（動作）を
開始するプログラム）、複数のアプリケーション、編集
ファイル、ユーザファイルそしてネットワーク管理プロ
グラム等を記憶するハードディスク（ＨＤ）４１１、及
びフレキシブルディスク（ＦＤ）４１２とのアクセスを
制御する。
【００２３】４０５はキーボードコントローラ（ＫＢ
Ｃ）で、キーボード４０９とのアクセスを制御する。ま
た、４０６はＣＲＴととのアクセスを制御するコントロ
ーラである。
Ｃ）で、キーボード４０９とのアクセスを制御する。ま
た、４０６はＣＲＴととのアクセスを制御するコントロ
ーラである。
【００２４】４０８はネットワークインタフエースカー
ド（ＮＩＣ）で、ＬＡＮ４２０を介して、ネットワーク
プリンタ、他のネットワーク機器、あるいは他のＰＣと
双方向のデータのやり取りを行う。
ド（ＮＩＣ）で、ＬＡＮ４２０を介して、ネットワーク
プリンタ、他のネットワーク機器、あるいは他のＰＣと
双方向のデータのやり取りを行う。
【００２５】（本発明の他の実施の形態）本発明は複数
の機器から構成されるシステムに適用しても１つの機器
からなる装置に適用しても良い。
の機器から構成されるシステムに適用しても１つの機器
からなる装置に適用しても良い。
【００２６】また、上述した実施の形態の機能を実現す
るように各種のデバイスを動作させるように、上記各種
デバイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピ
ュータに対し、記憶媒体から、またはインターネット等
の伝送媒体を介して上記実施の形態の機能を実現するた
めのソフトウェアのプログラムコードを供給し、そのシ
ステムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭ
ＰＵ）に格納されたプログラムに従って上記各種デバイ
スを動作させることによって実施したものも、本発明の
範疇に含まれる。
るように各種のデバイスを動作させるように、上記各種
デバイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピ
ュータに対し、記憶媒体から、またはインターネット等
の伝送媒体を介して上記実施の形態の機能を実現するた
めのソフトウェアのプログラムコードを供給し、そのシ
ステムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭ
ＰＵ）に格納されたプログラムに従って上記各種デバイ
スを動作させることによって実施したものも、本発明の
範疇に含まれる。
【００２７】また、この場合、上記ソフトウェアのプロ
グラムコード自体が上述した実施の形態の機能を実現す
ることになり、そのプログラムコード自体、およびその
プログラムコードをコンピュータに供給するための手
段、例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体
は本発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶す
る記憶媒体としては、例えばフレキシブルディスク、ハ
ードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−Ｒ
ＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等
を用いることができる。
グラムコード自体が上述した実施の形態の機能を実現す
ることになり、そのプログラムコード自体、およびその
プログラムコードをコンピュータに供給するための手
段、例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体
は本発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶す
る記憶媒体としては、例えばフレキシブルディスク、ハ
ードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−Ｒ
ＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等
を用いることができる。
【００２８】また、コンピュータが供給されたプログラ
ムコードを実行することにより、上述の実施の形態で説
明した機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコ
ードがコンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレ
ーティングシステム）あるいは他のアプリケーションソ
フト等と共同して上述の実施の形態で示した機能が実現
される場合にもかかるプログラムコードは本発明の実施
の形態に含まれることは言うまでもない。
ムコードを実行することにより、上述の実施の形態で説
明した機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコ
ードがコンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレ
ーティングシステム）あるいは他のアプリケーションソ
フト等と共同して上述の実施の形態で示した機能が実現
される場合にもかかるプログラムコードは本発明の実施
の形態に含まれることは言うまでもない。
【００２９】さらに、供給されたプログラムコードがコ
ンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続され
た機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そ
のプログラムコードの指示に基づいてその機能拡張ボー
ドや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の
一部または全部を行い、その処理によって上述した実施
の形態の機能が実現される場合にも本発明に含まれる。
ンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続され
た機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そ
のプログラムコードの指示に基づいてその機能拡張ボー
ドや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の
一部または全部を行い、その処理によって上述した実施
の形態の機能が実現される場合にも本発明に含まれる。
【００３０】
【発明の効果】本発明は上述したように、本発明によれ
ば、疵検査対象物を照明するための照明装置を所定の位
置に設置するとともに、表面が鏡面状態の疵検査対象物
に照明した状態において種々の角度から輝度を測定し
て、第１の輝度ベクトルの包絡線、及び表面が粗面状態
の疵検査対象物に照明した状態において種々の角度から
輝度を測定して、第２の輝度ベクトルの包絡線を作成
し、これら２つの輝度ベクトルの包絡線の交点と、上記
照明装置が上記疵検査対象物を照明している照明位置と
を結ぶ線上をカメラの設置方向として決定するようにし
たので、輝度変化が１番少ない位置に照明装置及びカメ
ラを設定するように決定する作業を短時間に行うことが
できる。これにより、輝度変化が１番少ない位置に配置
したカメラによって撮像した画像により疵検出実行する
ことができる。
ば、疵検査対象物を照明するための照明装置を所定の位
置に設置するとともに、表面が鏡面状態の疵検査対象物
に照明した状態において種々の角度から輝度を測定し
て、第１の輝度ベクトルの包絡線、及び表面が粗面状態
の疵検査対象物に照明した状態において種々の角度から
輝度を測定して、第２の輝度ベクトルの包絡線を作成
し、これら２つの輝度ベクトルの包絡線の交点と、上記
照明装置が上記疵検査対象物を照明している照明位置と
を結ぶ線上をカメラの設置方向として決定するようにし
たので、輝度変化が１番少ない位置に照明装置及びカメ
ラを設定するように決定する作業を短時間に行うことが
できる。これにより、輝度変化が１番少ない位置に配置
したカメラによって撮像した画像により疵検出実行する
ことができる。
【図１】本発明の実施の形態を示し、輝度ベクトルに基
づいて照明装置及びカメラを設置する位置を決定する様
子を示す図である。
づいて照明装置及びカメラを設置する位置を決定する様
子を示す図である。
【図２】輝度ベクトルに基づいて照明装置及びカメラを
設置する位置を決定する様子を示すフローチャートであ
る。
設置する位置を決定する様子を示すフローチャートであ
る。
【図３】疵検査対象物の表面画像生成装置の一例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図４】実施の形態の画像処理手段を構成可能なコンピ
ュータシステムの一例を示すブロック図である。
ュータシステムの一例を示すブロック図である。
１０ 照明位置 １１ 疵検査対象物 １２ 法線 １３ 照明装置 １４ カメラ １５ 第１の輝度ベクトルの抱らく線 １６ 第２の輝度ベクトルの抱らく線 １７ 大きな輝度ベクトル １８ ２つの包絡線の交点 １９ ２つの包絡線の交点 ２０ 画像処理手段 ２１ 表面画像生成手段 ２２ 表面疵検出手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田坂 隆弘 大分市大字西ノ洲１番地 新日本製鐵株式 会社大分製鐵所内 (72)発明者 田谷 利之 大分市大字西ノ洲１番地 新日本製鐵株式 会社大分製鐵所内 (72)発明者 齊藤 俊太郎 大分市大字西ノ洲１番地 新日本製鐵株式 会社大分製鐵所内 (72)発明者 橋本 肇 大分市大字西ノ洲１番地 新日本製鐵株式 会社大分製鐵所内 Ｆターム(参考） 2F065 AA49 DD06 FF04 HH12 JJ19 2G051 AA37 AB07 CA04 CA06 CB01 DA06 EA11 EA12 EA14 EB01 FA01
Claims (4)
- 【請求項１】 疵検査対象物を照明するための照明装置
を所定の位置に設置する第１のステップと、 上記所定の位置に設置した照明装置から、表面が鏡面状
態の疵検査対象物に照明した状態において種々の角度か
ら輝度を測定して、第１の輝度ベクトルの包絡線を作成
する第２のステップと、 上記所定の位置に設置した照明装置から、表面が粗面状
態の疵検査対象物に照明した状態において種々の角度か
ら輝度を測定して、第２の輝度ベクトルの包絡線を作成
する第３のステップと、 上記第２のステップで作成した第１の輝度ベクトルの包
絡線と、上記第３のステップで作成した第２の輝度ベク
トルの包絡線との交点と、上記照明装置が上記疵検査対
象物を照明している照明位置とを結ぶ線上をカメラの設
置方向として決定する第４のステップとを行うことを特
徴とするカメラ位置設定方法。 - 【請求項２】 上記２つの包絡線の交点が２個以上ある
場合には上記疵検査対象物の温度を考慮して、上記疵検
査対象物から遠い位置にカメラを設置することを特徴と
する請求項１に記載のカメラ位置設定方法。 - 【請求項３】 所定の位置に設置した照明装置から疵検
査対象物に照明した状態で鏡面状態の疵検査対象物の輝
度を種々の方向から輝度を測定して作成した第１の輝度
ベクトルの包絡線と、粗面状態の疵検査対象物における
輝度を種々の方向から輝度を測定して作成した第２の輝
度ベクトルの包絡線との交点と、上記照明装置が上記疵
検査対象物を照明している照明位置とを結ぶ線上の方向
にカメラが設置されていることを特徴とする疵検査対象
物の表面画像生成装置。 - 【請求項４】 上記２つの包絡線の交点が２個以上ある
場合には上記疵検査対象物の温度を考慮して、上記疵検
査対象物から遠い位置にカメラが設置されていることを
特徴とする請求項３に記載の疵検査対象物の表面画像生
成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001160683A JP2002350357A (ja) | 2001-05-29 | 2001-05-29 | カメラ位置設定方法、疵検査対象物の表面画像生成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001160683A JP2002350357A (ja) | 2001-05-29 | 2001-05-29 | カメラ位置設定方法、疵検査対象物の表面画像生成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002350357A true JP2002350357A (ja) | 2002-12-04 |
Family
ID=19004058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001160683A Withdrawn JP2002350357A (ja) | 2001-05-29 | 2001-05-29 | カメラ位置設定方法、疵検査対象物の表面画像生成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002350357A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107735674A (zh) * | 2015-06-25 | 2018-02-23 | 杰富意钢铁株式会社 | 表面缺陷检测装置、表面缺陷检测方法及钢材的制造方法 |
-
2001
- 2001-05-29 JP JP2001160683A patent/JP2002350357A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107735674A (zh) * | 2015-06-25 | 2018-02-23 | 杰富意钢铁株式会社 | 表面缺陷检测装置、表面缺陷检测方法及钢材的制造方法 |
| CN107735674B (zh) * | 2015-06-25 | 2021-09-17 | 杰富意钢铁株式会社 | 表面缺陷检测装置、表面缺陷检测方法及钢材的制造方法 |
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