JP2002336675A5 - - Google Patents

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【0012】
基板洗浄後の汚染物質(洗浄によって基板から超臨界二酸化炭素に混入した有機物、無機物、金属、パーティクル、水等)が混じった超臨界二酸化炭素は、減圧器17において最終的な減圧がなされて気化された後、分離回収槽18において気体の二酸化炭素ガスと汚染物質とに分離される。分離された汚染物質は排出され、二酸化炭素ガスは、回収されて凝縮器12で再利用される。以上の洗浄処理が所定の時間繰り返され、基板洗浄が完了する。
【0060】
超臨界二酸化炭素の回収が完了すると、バルブ2,V3,V4が閉栓され、バルブV5,V6が開栓されて、基板洗浄槽5内に再び二酸化炭素ガスが供給される(密閉槽内パージ)(ステップS28)。そして、基板洗浄槽5内に設置された基板の取り出しは、バルブV6が閉栓され、基板洗浄槽5内への大気成分の混入が防止された状態(開放槽内パージ)で行われる(ステップS29)。
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