JP2002336223A

JP2002336223A - 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、プログラム、及び記憶媒体

Info

Publication number: JP2002336223A
Application number: JP2002068035A
Authority: JP
Inventors: Hitoshi Inoue; 仁司井上
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2001-03-13
Filing date: 2002-03-13
Publication date: 2002-11-26

Abstract

(57)【要約】【課題】対象画像における所定の領域とその他の領域
との境界の画素値を正確に抽出できる画像処理装置等を
提供すること。【解決手段】抽出手段１２０は、対象画像（放射線画
像等）のヒストグラムにおける所定領域（放射線が被写
体を介さずに直接イメージセンサに入射した部分である
直接線部分の領域等）を、２直線で構成される折れ線で
近似することで、対象画像の所定領域と、その他の領域
との境界画素値を抽出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、医療分野
において、Ｘ線撮影等の放射線撮影により取得された被
写体の放射線画像（当該被写体内部を透過した放射線の
透過量を画像化したもの）を処理対象とした装置或いは
システムに用いられる、画像処理装置、画像処理システ
ム、画像処理方法、プログラムを記憶したコンピュータ
読出可能な記憶媒体、及び当該プログラムに関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】従来より、例えば、Ｘ線を被写体に曝射
した際の、当該被写体を介したＸ線量透過分布を観測す
ることにより、被写体、特に、人体の内部を観察するこ
とが行われてきた。近年においては、“フラットパネル
Ｘ線センサ”と呼ばれる固体撮像素子を用いた大判のイ
メージセンサにより、被写体を透過したＸ線分布（以
下、これを画像化したものを「Ｘ線画像」と言う）を取
得することが一般化しつつある。

【０００３】固体撮像素子の利点の一つとしては、セン
サ平面上に存在する複数の受像画素により、平面状のエ
ネルギー分布（Ｘ線量透過分布）を直接空間的にサンプ
リングして信号化できることが挙げられる。

【０００４】一方、固体撮像素子の欠点としては、Ｘ線
量透過分布を空間的にサンプリングするための複数の画
素要素が基本的には独立した素子であり、それぞれが異
なる特性を有することが挙げられる。このため、均一の
特性を有する画素から構成される理想的な固体撮像素子
から出力されたかのような適正な画像（Ｘ線画像）を取
得するためには、画素毎の特性のばらつきを補正するた
めの画像処理が必要となる。

【０００５】例えば、画素要素が、線形特性を有するエ
ネルギー変換素子である場合、主な特性ばらつきとして
は、変換効率（ゲイン）及びオフセットのばらつきが挙
げられる。したがって、固体撮像素子を用いたイメージ
センサにより被写体のＸ線画像を得る場合には、第一に
ゲイン及びオフセットの補正を行う必要がある。

【０００６】オフセットばらつきの補正（以下、単に
「オフセット補正」とも言う）方法としては、イメージ
センサに対してＸ線エネルギーを入射せずに得られる画
素毎の固有のオフセット値を取得し、このオフセット値
を、被写体を介したＸ線をイメージセンサに対して入射
して得られる、被写体像を含む画像情報から差し引く方
法が挙げられる。この方法では、さらに、実際のＸ線画
像の取得時間に合わせて、オフセット値取得時間（イメ
ージセンサにおけるエネルギー蓄積時間等）を設定する
ことも可能である。

【０００７】ゲインばらつきの補正（以下、単に「ゲイ
ン補正」とも言う）方法としては、被写体無しでイメー
ジセンサへのＸ線エネルギーの入射を行うことで、所謂
“白画像”を取得し、上述のオフセットばらつき補正を
施した後で、当該白画像を用いた画素毎のゲイン補正を
除算により行う。実際には、ゲイン補正は、対数変換し
た画像間で画素値の差分によって実現される場合が多
い。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うなイメージセンサによるＸ線画像の取得における特徴
は、イメージセンサで受像するＸ線量ダイナミックレン
ジが非常に広いことである。これは、被写体内部の情報
をより正確に描出するために、被写体を介したＸ線透過
量分布のダイナミックレンジを、イメージセンサのダイ
ナミックレンジに合わせるように、被写体に対して照射
するＸ線量を調整すると、被写体を透過しない部分（以
下、「素抜け部分」とも言う）のＸ線量が非常に強大と
なって直接イメージセンサへ到達することによる。

【０００９】イメージセンサ、すなわち固体撮像素子を
用いたイメージセンサにおいては、あまりに強大なＸ線
が直接入射すると、その出力値が飽和してしまう。この
ような飽和は、入射Ｘ線量がＸ線イメージセンサ上の画
素の充電許容量を超える場合、後段の電気系アンプが飽
和する場合、及び電気量をディジタル化するＡ／Ｄ変換
系で発生する場合があるが、何れの場合でも、得られる
出力値は、ほぼ一定の不変の値に固定されてしまう。

【００１０】上述のような飽和状態において、オフセッ
ト補正若しくはゲイン補正を行うと、それぞれの補正で
用いるデータとして、飽和状態でないときに取得された
補正用データを用いることにより、補正すべき画素毎の
変動が逆に画像上（例えば、素抜け部分）に重畳される
ことになり、この結果、ノイズが発生してしまうことに
なる。

【００１１】そこで、上記の問題を解決するために、例
えば、特開２０００−２４４８２４号等では、ゲインコ
ントロールアンプにより、如何なるＸ線量においても、
最大値が必ず扱える信号値となるように調整する構成が
提案されている。

【００１２】しかしながら、上記の構成では、本来情報
のない直接線部分（直接Ｘ線が入射した素抜け部分）ま
でもが、正確に画像化されるような調整が行なわれてし
まい、必要な被写体部分のコントラスト分解能が非常に
低下してしまう。特に、Ｘ線画像では、例えば、画像診
断能向上のために、Ｘ線画像のディテールを明確にする
目的で、画像情報のダイナミックレンジを圧縮して、表
示出力やプリント出力する場合があり、このような場合
には、ノイズの多い直接線部分まで強調されて出力され
ることになる。

【００１３】そこで、上記の問題を解決するために、例
えば、特開平６−２９２０１３号等では、画像情報のダ
イナミックレンジを圧縮する際に、直接線部分の強調度
を下げる構成が提案されている。しかし、この提案で
は、直接線部分を正確に抽出する手段が明確にされてお
らず、その直接線部分を構成する画素値の誤認識によ
り、画像診断用のＸ線画像におけるコントラストまでも
圧迫しかねない。

【００１４】また、例えば、特開平５−３２８３５７号
等では、対象となるＸ線画像から得られたヒストグラム
のピーク値を解析することで、Ｘ線画像のダイナミック
レンジを決定するような構成が提案されている。しか
し、この構成では、Ｘ線画像のヒストグラムのピーク値
のみが解析されるため、正確な直接線部分の画素値の把
握に大きな誤差が生じる恐れがある。

【００１５】そこで、本発明は、上記の欠点を除去する
ために成されたもので、対象画像における所定の領域と
その他の領域との境界の画素値を正確に抽出できる、画
像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、プログ
ラムを記憶したコンピュータ読出可能な記憶媒体、及び
当該プログラムを提供することを目的とする。

【００１６】または、本発明は、対象放射線画像におけ
る直接線部分（素抜け部分）等の所定領域の画素値を正
確に認識し、当該所定領域の画素値を実質的に所定値に
固定することで、良好な放射線画像を提供できる、画像
処理装置、画像処理システム、画像処理方法、プログラ
ムを記憶したコンピュータ読出可能な記憶媒体、及び当
該プログラムを提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】斯かる目的下において、
本発明に係る画像処理装置は、対象画像の画素値ヒスト
グラムを作成するヒストグラム作成手段と、上記ヒスト
グラム作成手段により作成された上記ヒストグラムの所
定範囲を、２直線で構成される折れ線で近似することに
より、上記対象画像の所定領域とその他の領域との境界
画素値を抽出する抽出手段とを備えることを特徴とす
る。

【００１８】また、本発明に係る画像処理方法は、対象
画像の画素値ヒストグラムを作成するステップと、上記
ヒストグラムを作成するステップで作成された上記ヒス
トグラムの所定範囲を、２直線で構成される折れ線で近
似することにより、上記対象画像の所定領域とその他の
領域との境界画素値を抽出するステップとを含むことを
特徴とする。

【００１９】また、本発明に係るプログラムは、コンピ
ュータを所定の手段として機能させるためのプログラム
であって、上記所定の手段は、対象画像の画素値ヒスト
グラムを作成するヒストグラム作成手段と、上記ヒスト
グラム作成手段により作成された上記ヒストグラムの所
定範囲を、２直線で構成される折れ線で近似することに
より、上記対象画像の所定領域とその他の領域との境界
画素値を抽出する抽出手段とを含むことを特徴とする。

【００２０】また、本発明に係るコンピュータ読出可能
な記憶媒体は、請求項２１記載のプログラムを記録した
ことを特徴とする。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を用いて説明する。

【００２２】[第１の実施の形態]本発明は、例えば、図
１に示すようなＸ線撮影装置１００に適用される。本実
施の形態のＸ線撮影装置１００は、特に、Ｘ線画像にお
ける直接線部分（Ｘ線が被写体を介さず直接イメージセ
ンサに入射する素抜け部分）の開始画素値（最小画素
値）を、Ｘ線画像のヒストグラム情報から正確に安定し
て抽出するように構成されている。さらに、Ｘ線撮影装
置１００は、直接線部分における画素値変動（画像補正
によるノイズ等）を抑制するため、画素値の変換プロセ
スによって、抽出された直接線部分の画素値を実質的に
一定値に固定するように構成されている。以下、本実施
の形態のＸ線撮影装置１００について具体的に説明す
る。

【００２３】＜Ｘ線撮影装置１００の全体構成及び動作
＞Ｘ線撮影装置１００は、上記図１に示すように、Ｘ線
発生部１０１、寝台１０３、Ｘ線イメージセンサ１０
５、Ａ／Ｄ変換器１０６、メモリ（ＭＥＭ）１０７、ス
イッチ１０８、メモリ１０９，１１０、差分ブロック
（ＳＵＢ）１１１、メモリ（ＭＥＭ）１１２、参照テー
ブル（ルックアップテーブル：ＬｏｏｋＵｐＴａｂｌ
ｅ、以下、「ＬＵＴ」とも言う）１１３、スイッチ１１
４、メモリ１１５，１１６、差分ブロック（ＳＵＢ）１
１７、メモリ（ＭＥＭ）１１８、ヒストグラム作成部
（ＨＳＴ）１１９、演算ブロック（ＡＮＡＬ）１２０、
及びＬＵＴ１２１を備えている。

【００２４】Ｘ線発生部１０１は、高電圧発生を伴う制
御装置（不図示）からの制御に基づいて、寝台１０３上
の被写体１０２に対してＸ線を発する（図中の矢印参
照）。ここでの被写体１０２としては、一例として人体
を用いており、寝台１０３上に横たわった状態としてい
る。

【００２５】Ｘ線イメージセンサ１０５は、被写体１０
２を透過したＸ線量の強度分布を電気信号に変換するも
のであり、大判の固体撮像素子を含む構成としている。
具体的には例えば、Ｘ線イメージセンサ（以下、「フラ
ットパネルセンサ」とも言う）１０５は、Ｘ線量透過分
布を、平面状にマトリックス状に並べられた複数の画素
により、2次元平面上で空間的にサンプリングする。被
写体１０２が人体の場合、通常、サンプリングピッチは
１００μｍ〜２００μｍ程度に設定される。

【００２６】上述のようなフラットパネルセンサ１０５
は、コントローラ（不図示）からの制御に基づいて、画
素毎に存在するＸ線量に比例した電荷値を、電圧若しく
は電流である電気量（画像信号）に変換する。フラット
パネルセンサ１０５で得られた画像信号は、順次走査さ
れることで後段のＡ／Ｄ変換器１０６に対して出力され
る。

【００２７】Ａ／Ｄ変換器１０６は、フラットパネルセ
ンサ１０５から出力される画像信号をディジタル化して
出力する。メモリ１０７は、Ａ／Ｄ変換器１０６の出力
を画像データとして一旦記憶する。

【００２８】スイッチ１０８は、メモリ１０７内の画像
データを読み出して、その読出画像データを、２つのメ
モリ１０９，１１０のいずれかに選択的に記憶させる。
これにより、メモリ１０９には、Ｘ線を曝射しない状態
でフラットパネルセンサ１０５からＡ／Ｄ変換器１０６
及びメモリ１０７を介して出力される画像データが、オ
フセット固定パタン画像データとして記憶される。ま
た、メモリ１１０には、実際にＸ線を曝射した状態（実
際の撮影状態）でフラットパネルセンサ１０５からＡ／
Ｄ変換器１０６及びメモリ１０７を介して出力される画
像データが、撮影画像データとして記憶される。

【００２９】具体的には例えば、被写体１０２を透過し
たＸ線量をモニタするＸ線量測定装置（不図示）を“フ
ォトタイマー”と呼ばれるＸ線曝射制御用センサとして
用いることで、Ｘ線発生部１０１から曝射されるＸ線量
の積算値（電荷量）が、所定値になった瞬間に、Ｘ線発
生部１０１でのＸ線曝射が停止される。これと同時に、
フラットパネルセンサ１０５を走査することで、被写体
１０２の画像データがメモリ１０７に記憶される。そし
て、スイッチ１０８において、出力先を端子Ａ側に切り
換ることで、メモリ１０７内の画像データが撮影画像デ
ータとしてメモリ１１０に対して出力される。

【００３０】その直後に、Ｘ線発生器１０１でのＸ線曝
射を行わずに、上記のフォトタイマーで得られた曝射時
間と同じ蓄積時間になるまで、フラットパネルセンサ１
０５を駆動する。フラットパネルセンサ１０５での電荷
蓄積が終了すると、フラットパネルセンサ１０５を走査
して、Ｘ線曝射無し状態の画像データをメモリ１０７に
記憶する。そして、スイッチ１０８において、出力先を
端子Ｂ側に切り換ることで、メモリ１０７内の画像デー
タがオフセット固定パタン画像データとしてメモリ１０
９に対して出力される。

【００３１】差分ブロック１１１は、メモリ１１０内の
撮影画像データを構成する画素データのそれぞれに対し
て、メモリ１０９内のオフセット固定パタン画像データ
を構成する画素データの中の、該当する位置に存在する
画素データを減算する処理を施し、その結果をメモリ１
１２へ記憶する。

【００３２】ＬＵＴ１１３は、減算によるゲイン補正
（後述）を遂行するために用いる対数値変換の参照テー
ブルである。上述のようにして得られた、メモリ１１２
内の画像データ（被写体像を含む画像データ）が、この
ＬＵＴ１１３を介して出力される。スイッチ１１４は、
出力先を端子Ｃ側に切り換ることで、ＬＵＴ１１３から
出力された画像データがメモリ１１５に対して出力され
る。

【００３３】メモリ１１６は、Ｘ線撮影装置１００にお
いて“キャリブレーション”と呼称される操作が行なわ
れた際の取得画像データを記憶する。

【００３４】上記のキャリブレーションでは、先ず、被
写体１０２が無い状態で、上述したような撮影動作によ
って画像データを取得する。スイッチ１１４において、
出力先を端子Ｄ側に切り換ることで、ＬＵＴ１１３から
出力された当該画像データがメモリ１１６に対して出力
される。したがって、メモリ１１６内の画像データは、
被写体１０２が無い状態でのＸ線量分布そのものと、画
素毎のゲインばらつきのみのデータとからなるものであ
る。

【００３５】通常、キャリブレーションの操作は、一日
一回程度始業時に行われるものであり、これにより得ら
れるデータ（メモリ１１６内の画像データ）により、フ
ラットパネルセンサ１０５が画素毎に有するゲインばら
つきを補正することが可能となる。

【００３６】すなわち、差分ブロック１１７は、メモリ
１１５内の画像データ（元画像データ）から、メモリ１
１６内の画像データ（ゲイン画像データ）を引き去るこ
とで、元画像における画素毎のゲインばらつきを補正
し、当該補正後の画像データをメモリ１１８に記憶させ
る。

【００３７】ヒストグラム作成部１１９は、メモリ１１
８に記憶された画像データ（補正後の画像データ）を読
み出し、当該画像のヒストグラムを作成する。演算ブロ
ック１２０は、ヒストグラム作成部１１９で得られたヒ
ストグラムを解析し、そのヒール点（ＨＥＥＬＰＯＩＮ
Ｔ）を検出する。

【００３８】例えば、演算ブロック１２０は、その詳細
が後述される図２及び図３のフローチャートに従った処
理を実行する。特に、上記図３に示される処理におい
て、処理対象画像のヒストグラム、すなわち直接線部分
（Ｘ線がフラットパネルセンサ１０５に直接入射した部
分）を含むヒストグラムから、当該直接線部分の開始画
素値（ヒール点）を抽出するのに用いる基点ｋ１を選択
する際（ステップＳ３０２）、最高画素値から経験的に
求められた比率、若しくは具体的な画素値に基いて、被
写体１０２の画像データのほぼ最高値になる値を、基点
ｋ１として選択する。また、基点ｋ１に対する終点ｋ２
としては、画像データの最高値を選択する。このような
基点ｋ１及び終点ｋ２の選択により、後段の処理ステッ
プによるヒール点検索（抽出）に対して重大な影響が与
えられないため、適当なヒール点が得られる。

【００３９】ＬＵＴ１２１は、演算ブロック１２０で得
られたヒール点（直接線部分のヒストグラムヒール点
Ｐ）に基いて生成された、例えば、図４に示されるよう
な参照テーブルである。上記図４において、横軸は入力
画素値を示し、縦軸は出力画素値を示す。同図の“４０
１”に示されるように、ＬＵＴ１２１では、入力画素値
が、画素値ｐ（ヒール点Ｐの値）より小さい値の場合、
当該入力画素値そのものを出力画素値として出力し、そ
れ以上の値である場合、固定値ｐを出力画素値として出
力する。これにより、変動の多い直接線部分の濃度変動
が抑制され、固定値ｐで固定されることになる。このよ
うなＬＵＴ１２１から出力された画像データは、例え
ば、画像診断のために表示部（不図示）で表示される。

【００４０】＜Ｘ線撮影装置１００の特徴とする構成＞
本実施の形態の最も特徴とする構成は、演算ブロック１
２０により、対象画像から直接線部分を正確且つ安定し
て抽出し、当該直接線部分の画素値変動（画像補正によ
るノイズ等）を抑制し、画素値の変換プロセスによっ
て、当該直接線部分の画素値をほぼ一定に固定する構成
にある。特に、演算ブロック１２０は、直接線部分を抽
出する際に、直接線部分の開始する画素値（開始画素
値）を正確に安定して抽出する。以下、上記の構成につ
いて具体的に説明する。

【００４１】まず、図５は、処理対象となる画像（メモ
リ１１８に記憶された被写体１０２の撮影画像）の一例
としての画像（対象画像）５００、及びヒストグラム作
成部１１９で作成された対象画像５００のヒストグラム
５１０を示したものである。

【００４２】上記図５において、“５０１”は、Ｘ線が
照射されていない部分、及びそのヒストグラム部分（以
下、「ヒストグラム５０１Ｈ」とも言う）を示し、“５
０２”は、被写体部分、及びそのヒストグラム部分（以
下、「ヒストグラム５０２Ｈ」とも言う）を示し、“５
０３”は、被写体外部の直接線部分、及びそのヒストグ
ラム部分（以下、「ヒストグラム５０３Ｈ」とも言う）
を示す。

【００４３】直接線部分５０３の一般的な特徴は、被写
体（ここでは“人体”）による著しいＸ線強度の減弱が
ないために、非常にＸ線強度が強く、被写体部分５０２
内の画素値とはかなり乖離した位置に、ヒストグラム５
０３Ｈが存在することにある。したがって、直接線部分
５０３は、一般的には分離しやすいようにも思えるが、
被写体部分（人体部分）５０２と直接線部分５０３との
境界部分、すなわち皮膚や耳等の部分の画素情報につい
ては、非常に分離しにくい。

【００４４】上記図５の“５２０”で示す上向矢印の画
素値は、被写体部分５０２と直接線部分５０３との境界
の画素値（以下、「境界値５２０」とも言う）であり、
この境界値５２０以上の画素値を一定値に固定すれば、
直接線部分５０３の画素値変動、すなわちノイズはなく
なり、ダイナミックレンジ圧縮等の操作にも耐えられる
ようになる。

【００４５】しかしながら、境界値５２０が、少しでも
前後すると、被写体部分５０２における皮膚や耳等の部
分が描写されなくなる、或いは直接線部分５０３のノイ
ズが残留する、等の不具合が生じる。また、境界値５２
０は、ヒストグラム５１０をグラフ化した上で、適切な
表示をすれば、人間の判断によりヒューリスティックに
比較的安定してもとまるものである。しかし、境界値５
２０を計算機により安定して自動判定するのは比較的困
難である。

【００４６】そこで、本実施の形態では、演算ブロック
１２０が、以下に説明するようにして、境界値５２０、
すなわち直接線部分５０３の開始画素値を簡便な手法
で、正確に且つ安定して抽出する。

【００４７】図６は、上記図５に示したヒストグラム５
１０のうち、被写体部分５０２のヒストグラム５０２Ｈ
と、直接線部分５０３のヒストグラム５０３Ｈとの境界
付近を拡大して示したものである。ここでは、被写体部
分５０２のヒストグラム５０２Ｈにおいて、皮膚等の少
量の画素値の頻度が直線的に減少し、直接線部分５０３
のヒストグラム５０３Ｈにおいて、頻度が直線的に上昇
するようなモデル化を行う。上記図６の“５３０”で示
す矢印は、両者を最適に分離する点を示す。

【００４８】上記のモデル化に基き最適な分離点（最適
分離点）５３０を得るために、図７に示すように、被写
体部分５０２と直接線部分５０３との境界部分を折れ線
で最適近似し、この折れ点Pを、最適分離点５３０、す
なわちヒール点（ＨＥＥＬＰＯＩＮＴ）として抽出す
る。これにより、最適且つ安定したヒール点を抽出する
ことができる。

【００４９】尚、ヒストグラムの解析は古くから行われ
た方法であるが、ピークや集中度の解析等が主であり、
上述したような本実施の形態の構成により、ヒール点を
抽出する手法は存在しない。

【００５０】図８は、上記図７に示した折れ線による近
似を説明するための図である。上記図８において、黒丸
で示される点は、対象画像（ディジタル画像）の０〜ｎ
−１までのｎ個のヒストグラム点を示し、同図に示され
るように、折れ点Ｐの位置で折れ曲がっている。この折
れ線、すなわち０〜Ｐの直線５３０Ｌと、Ｐ〜（ｎ−
１）の直線５３０Ｒとの2直線は、横軸を“ｘ”、縦軸
を“ｙ”として、

【００５１】

【数１】

【００５２】なる式（１）で表される。尚、上記式
（１）において、“Ｐ”の値は、折れ点Ｐのインデック
スを表す。

【００５３】上記式（１）において、パラメータａ0，
ａ1，ｂ0は、折れ点Ｐが固定されると、最小2乗規範に
則って線形代数的に求められるパラメータである。この
とき、パラメータａ0は、直線５３０Ｌ（左側直線）の
傾きを示し、パラメータａ1は、直線５３０Ｒ（右側直
線）の傾きを示す。

【００５４】上記図８に示したｎ個のヒストグラム点
を、[(ｘｉ，ｙｉ)；ｉ＝０〜ｎ−１]とすると、2乗誤
差の総和εは、

【００５５】

【数２】

【００５６】なる式（２）で表される。

【００５７】上記式（２）で表される2乗誤差の総和ε
を最小にするために、パラメータａ0，ａ1，ｂ0のそれ
ぞれによる偏微分を“0”とするような、

【００５８】

【数３】

【００５９】なる式（３）で表される連立方程式を解
く。

【００６０】ここで、上述の演算処理では、折れ点Ｐを
既知として扱っているが、実際には、折れ点Ｐも未知数
であるため、上記式（２）の演算を、折れ点Ｐの値を変
化させながら実行することで、当該演算結果（2乗誤差
の総和ε）が最小となる、折れ点Ｐを求める。

【００６１】上記図２は、上記の演算処理を示したもの
である。上記式（１）において、Ｐ，ａ0，ａ1，ｂ0
を、上記図２の処理の結果であるｐ0，Ａ0，Ａ1，Ｂ0
で置き換えたものが、求める折れ線を表す。

【００６２】先ず、折れ線のインデックスＰ，ｐ0のそ
れぞれに対して、初期値“１”を設定し（ステップＳ２
０１）、この値を持って、上記式（３）の演算処理を実
行する（ステップＳ２０２）。これにより得られたパラ
メータａ0，ａ1を、パラメータＡ0，Ａ1に設定する（ス
テップＳ２０３）。

【００６３】次に、現在のインデックスＰ、及びパラメ
ータａ0，ａ1，ｂ0を用いて、上記式（２）の演算処理
を実行する（ステップＳ２０４）。次に、インデックス
Ｐに対して“２”を設定し（ステップＳ２０５）、その
インデックスＰの値が、（ｎ−１）を超えたか否かを判
別する（ステップＳ２０６）。

【００６４】ステップＳ２０６の判別の結果、「Ｐ＞ｎ
−１」である場合、すなわちｎ個のヒストグラム点の全
てについての処理が終了した場合、本処理終了とする。

【００６５】ステップＳ２０６の判別の結果、「Ｐ＞ｎ
−１」でない場合、現在のインデックスＰ、及びパラメ
ータａ0，ａ1，ｂ0を用いて、上記式（３）の演算処理
を実行し（ステップＳ２０７）、その後、上記式（２）
の演算処理を実行する（ステップＳ２０８）。

【００６６】そして、上記式（２）の演算処理の結果
（2乗誤差の総和ε）を“Ｅ”として、この結果値Ｅ
が、前回の当該処理結果Ｅ0よりも小さいか否かを判別
する（ステップＳ２０９）。

【００６７】ステップＳ２０９の判別の結果、「Ｅ＜Ｅ
0」である場合、現在のＥ，Ｐ，ａ0，ａ1，ｂ0のそれぞ
れの値を、Ｅ0，ｐ0，Ａ0，Ａ1，Ｂ0に設定する（ステ
ップＳ２１０）。その後、インデックスＰをカウントア
ップして（ステップＳ２１１）、再びステップＳ２０６
からの処理を実行する。

【００６８】一方、ステップＳ２０９の判別の結果、
「Ｅ＜Ｅ0」でない場合、そのままステップＳ２１１の
処理を実行し、その後、再びステップＳ２０６からの処
理を実行する。

【００６９】また、本実施の形態では、ヒストグラム作
成部１１９で得られた、直接線部分を含むヒストグラム
（ヒストグラムデータ系列）において、部分データを選
択しながら、上述したような折れ線近似（フィッティン
グ）を行い、当該選択部分データが、

【００７０】

【数４】

【００７１】なる条件式（１）及び（２）を満たす部分
データになった時点で、ヒール点Ｐを抽出する。これに
より、安定してヒール点Ｐを抽出することができる。

【００７２】上記条件式（１）及び（２）において、例
えば、“Ｔ”の値としては、５０％程度の数値、
“δ₀”の値としては、１０％程度の数値を適用可能で
ある。この場合、例えば、折れ線を構成する２直線の傾
きの変化率が５０％以上で、且つ折れ線フィッティング
の結果の誤差の比率が１０％以下である場合、ヒール点
が抽出されることになる。

【００７３】上述のようにしてヒール点Ｐを抽出するよ
うに構成した理由としては、ヒール点Ｐの抽出に用いる
ヒストグラムデータ系列を適正に選ばなければ、正確な
直接線部分の始まりの点であるヒール点を求めることが
できないためである。

【００７４】具体的に図９を用いて説明する。当該図９
において、“５５３”は、直接線部分を含むヒストグラ
ムを示す。先ず、ヒストグラム５５３において、明らか
に直接線部分ではない点５４５を基点として求める。

【００７５】対象データ範囲を、基点５４５から、点５
５２、点５５０及び点５４８を経て、点５４６までの範
囲とすると、上記図８に示したような最適な折れ線は、
上記図９の“５４７”で示されるものになる。しかしな
がら、この折れ線５４７は、上記条件式（１）及び
（２）の何れの条件も満たしていない。

【００７６】また、基点５４５、点５５２、点５５０、
及び点５４８のデータ系列を用いると、上記図９の“５
４９”で示される折れ線が求まる。しかし、この折れ線
５４９は、上記条件式（１）を満たす可能性はあるが、
上記条件（２）で示される、満足なフィッティングが行
われているとはいえない。

【００７７】また、基点５４５及び点５５２のデータ系
列を用いると、フィッティングは十分であるので、上記
条件式（２）は満たされるが、逆L字型であるという上
記条件（１）が満たされない。

【００７８】一方、基点５４５、点５５２、及び点５５
０のデータ系列を用いると、上記図９の“５５１”で示
される折れ線が求まる。この折れ線５５１は、上記条件
式（１）及び（２）を共に満たすものである。したがっ
て、ここで得られた折れ線５５１の折れ点を、ヒストグ
ラムのヒール点として求めることができる。

【００７９】上記図３は、上述したようなヒール点の抽
出処理のフローチャートを示したものである。

【００８０】先ず、ヒストグラム作成部１１９は、対象
画像のヒストグラムを作成する（ステップＳ３０１）。
演算ブロック１２０は、ヒストグラム作成部１１９で得
られたヒストグラムに基づいて、次のステップＳ３０２
からの処理を実行することで、ヒール点Ｐを抽出する。

【００８１】すなわち、先ず、演算ブロック１２０は、
ヒストグラム作成部１１９で得られたヒストグラムにお
いて、直接線部分を十分含むような点を、基点ｋ１とし
て設定する（ステップＳ３０２）。この基点ｋ１は、経
験的若しくはヒストグラムの簡単な解析等の手法によっ
て求められる。

【００８２】次に、演算ブロック１２０は、上記ヒスト
グラムにおいて、終点ｋ２を選択する（ステップＳ３０
３）。この終点ｋ２としては、上記ヒストグラムにおけ
る画素値の最大値の点を用いることができる。

【００８３】次に、演算ブロック１２０は、上記図２に
示した処理により、基点ｋ１から終点ｋ２の範囲のデー
タ系列を用いて、折れ線のフィッティングを行い、折れ
点Ｐを求める（ステップＳ３０４）。

【００８４】そして、演算ブロック１２０は、ステップ
Ｓ３０４でのフィッティング結果に基いて、当該データ
系列が、上記条件式（１）及び（２）を同時に満たすも
のであるか否かを判別する（ステップＳ３０５）。

【００８５】ステップＳ３０５の判別の結果、上記条件
式（１）及び（２）を満たさない場合、演算ブロック１
２０は、より少ないデータ系列でフィッティングを行う
ために、終点ｋ２を更新し、すなわちデータ系列を更新
する（ステップＳ３０６）。ここでは、終点ｋ２の値
（インデックス）から、“α”で示される値を差し引く
ことで、データ系列を少なくしている。このときの
“α”の値は、例えば、“１”としてもよいが、演算効
率を高めるために、適当な数値“１０”程度でも十分で
ある。

【００８６】その後、演算ブロック１２０は、ステップ
Ｓ３０６での更新後の終点ｋ２の値が、基点ｋ１よりも
小さいか否かを判別する（ステップＳ３０７）。

【００８７】ステップＳ３０７の判別の結果、「ｋ２＜
ｋ１」である場合、すなわち終点ｋ２の値が妥当な値で
ない場合、演算ブロック１２０は、ヒール点なしとし
て、すなわち現在のデータ系列には十分な広面積を有す
る直接線部分が存在しないためヒール点が存在しないと
して、本処理を終了する。

【００８８】また、ステップＳ３０７の判別の結果、
「ｋ２＜ｋ１」でない場合、演算ブロック１２０は、再
びステップＳ３０４からの処理を実行する。

【００８９】一方、ステップＳ３０５の判別の結果、上
記条件式（１）及び（２）を満たす場合、演算ブロック
１２０は、現在の折れ点Ｐを、ヒール点Ｐとして（ステ
ップＳ３０９）、本処理終了とする。

【００９０】[第２の実施の形態]本実施の形態では、上
記図１のＸ線撮影装置１００において、ＬＵＴ１２１
を、例えば、図１０に示されるような参照テーブルとす
る。すなわち、本実施の形態では、上記図４に示したよ
うに、ヒール点Ｐで角度をつけて曲げるのではなく、ク
リップされる出力画素値（固定値ｐ）と、クリップされ
ない出力画素値（入力画素値と等しい画素値）とを連続
的に接続するために、上記図１０に示されるように、３
次関数（ｙ＝ａｘ³＋ｂｘ²＋ｃｘ＋ｄ）を用いてＬＵＴ
１２１が構成される。

【００９１】上記図１０において、“ｐ0”はヒール点
Ｐであるが、ヒール点Ｐから所定値だけ前後した値であ
ってもよい。また、“ｑ”は、出力がクリップされる値
であり、任意の値を適用可能であるが、ヒール点Ｐと同
じ或いは所定値だけ大きな値をとる。また、“δ”は、
ＬＵＴ１２１の湾曲される範囲を規定するものである。

【００９２】本実施の形態での上記の３次関数は、各ノ
ードにおける値及び微分値が同じという条件で、

【００９３】

【数５】

【００９４】なる式（４）の連立方程式の解となる。

【００９５】上記式（４）の連立方程式の解は、具体的
に演算が行え、各パラメータａ〜ｄは、

【００９６】

【数６】

【００９７】なる式（５）により表される。

【００９８】上述のように、本実施の形態では、ＬＵＴ
１２１を連続かつ微分可能な曲線で構成したので、安定
した処理後画像を提供することができる。

【００９９】[第３の実施の形態]第２の実施の形態で
は、ＬＵＴ１２１を連続かつ微分可能な曲線で構成し
た。しかしながら、この場合のＬＵＴ１２１では、曲線
（非直線）部分において、被写体部分と直接線部分のノ
イズ情報が混在する場合がある。本実施の形態では、上
記のノイズ情報を低下させ、より自然なクリッピングを
実現する。

【０１００】このため、本実施の形態におけるＸ線撮影
装置１００は、図１１に示されるように、上記図１に示
される構成に加えて、ＬＵＴ１２１の後段に演算ブロッ
ク１２２を更に設けて構成される。演算ブロック１２２
は、例えば、図１２のフローチャートに示される処理を
実行する。

【０１０１】すなわち、先ず、演算ブロック１２２は、
対象画像上の画素位置を示すアドレスＡを初期化する
（ステップＳ６０１）。次に、演算ブロック１２２は、
アドレスＡで示される画素の値を、ＬＵＴ１２１の出力
から取得する（ステップＳ６０２）。

【０１０２】次に、演算ブロック１２２は、ステップＳ
６０２で取得した画素値（対象画素値）が、上記図１０
に示したＬＵＴ１２１の曲線部分（非直線部分）、すな
わち（ｐ0−δ）からｐ0の範囲内に存在するか否かを判
別する（ステップＳ６０３）。

【０１０３】ステップＳ６０３での判別の結果、対象画
素値が曲線部分に存在する場合、演算ブロック１２２
は、当該出力値を、対象画素とその周囲画素を含む９画
素の平均値に置き換え（ステップＳ６０４）、その後、
次のステップＳ６０５の処理へ進む。

【０１０４】ステップＳ６０３での判別の結果、対象画
素値が曲線部分に存在しない場合、演算ブロック１２２
は、そのまま次のステップＳ６０５の処理へ進む。

【０１０５】ステップＳ６０５では、演算ブロック１２
２は、対象画像を構成する全ての画素に対して、ステッ
プＳ６０２〜ステップＳ６０４の処理を終了したか否か
を判別し（ステップＳ６０５）する。この判別の結果、
すべて終了の場合のみ、本処理終了とする。

【０１０６】ステップＳ６０５の判別の結果、すべて終
了でない場合、演算ブロック１２２は、次の画素への処
理を実行するために、アドレスＡをインクリメントして
（ステップＳ６０６）、再びステップＳ６０２からの処
理を実行する。

【０１０７】上述のように、本実施の形態では、ＬＵＴ
１２１の曲線部分に出力画素値が存在する場合、対象画
素の周囲の画素値の平均をとるように構成したので、残
留する直接線部分のノイズ情報を低下させることがで
き、より自然なクリッピングが実現できる。

【０１０８】[第４の実施の形態]本実施の形態では、上
記図１１に示されるＸ線撮影装置１００の構成が、例え
ば、図１３に示されるように、ＬＵＴ１２３を更に設け
た構成とされる。

【０１０９】ＬＵＴ１２３は、差分ブロック１１７の出
力を受け、メモリ１１８に対して出力するように構成さ
れており、特に、画像診断に適する表示用画像を得るた
めの参照テーブルである。したがって、上述した直接線
部分のノイズを除去する処理は、ＬＵＴ１２３が、差分
ブロック１１７から出力される画像データに対して表示
用の画像変換を行った後に実行されることになる。

【０１１０】ＬＵＴ１２３から出力される画素値は、不
図示の表示部に依存するものになる。しかしながら、本
実施の形態における構成は、Ｘ線撮影装置１００からの
出力画像が既に表示用に変換されているようにする場合
等に有効である。

【０１１１】尚、第１〜第４の実施の形態では、直接線
部分、すなわちＸ線がイメージセンサに直接入射する部
分（素抜け部分）を対象領域としているが、対象領域は
これに限られることはなく、例えば、一般の放射線画像
の背景部分（放射線照射野外の領域等）としてもよい。
この場合、背景部分の画素値範囲を、上述したようなヒ
ール点検出によって検出した結果は、ＬＵＴの作成のみ
ならず、背景部分のみを抽出又は削除する画像処理にも
有効である。

【０１１２】また、上述のように直接線部分を固定（ク
リッピング）した後に、ダイナミックレンジ圧縮等の強
調処理を含む画像処理を実行するようにしてもよい。こ
れにより、補正ノイズを強調することなく、安定した処
理後画像を提供することが可能になる。

【０１１３】また、本発明の目的は、第１〜第４の実施
の形態の機能を実現するためのソフトウェアのプログラ
ムコードを記憶した記憶媒体を、システム或いは装置に
供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（ＣＰ
Ｕ又はＭＰＵ等）が記憶媒体に格納されたプログラムコ
ードを読みだして実行することによっても、達成される
ことは言うまでもない。この場合、記憶媒体から読み出
されたプログラムコード自体が第１〜第４の実施の形態
の機能を実現することとなり、そのプログラムコードを
記憶した記憶媒体は本発明を構成することとなる。プロ
グラムコードを供給するための記憶媒体としては、ＲＯ
Ｍ、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディス
ク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、磁気テ
ープ、不揮発性のメモリカード等を用いることができ
る。また、コンピュータが読みだしたプログラムコード
を実行することにより、第１〜第４の実施の形態の機能
が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示
に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ等が実際
の処理の一部又は全部を行い、その処理によって第１〜
第４の実施の形態の機能が実現される場合も本発明を構
成することは言うまでもない。さらに、記憶媒体から読
み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入さ
れた拡張機能ボードやコンピュータに接続された機能拡
張ユニット等に備わるメモリに書き込まれた後、そのプ
ログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや
機能拡張ユニット等に備わるＣＰＵなどが実際の処理の
一部又は全部を行い、その処理によって第１〜第４の実
施の形態の機能が実現される場合も本発明を構成するこ
とは言うまでもない。

【０１１４】図１４は、上記のコンピュータの機能７０
０の構成の一例を示したものである。コンピュータ機能
７００は、上記図１４に示すように、ＣＰＵ７０１と、
ＲＯＭ７０２と、ＲＡＭ７０３と、キーボード（ＫＢ）
７０９のキーボードコントローラ（ＫＢＣ）７０５と、
表示部としてのＣＲＴディスプレイ（ＣＲＴ）７１０の
ＣＲＴコントローラ（ＣＲＴＣ）７０６と、ハードディ
スク（ＨＤ）７１１及びフレキシブルディスク（ＦＤ）
７１２のディスクコントローラ（ＤＫＣ）７０７と、任
意のネットワーク７２０に接続されたネットワークイン
ターフェースカード（ＮＩＣ）７０８とが、システムバ
ス７０４を介して互いに通信可能に接続された構成とし
ている。

【０１１５】ＣＰＵ７０１は、ＲＯＭ７０２若しくはＨ
Ｄ７１１に記憶されたソフトウェア、又はＦＤ７１２よ
り供給されるソフトウェアを実行することで、システム
バス７０４に接続された各構成部を総括的に制御する。
すなわち、ＣＰＵ７０１は、所定の処理シーケンスに従
った処理プログラムを、ＲＯＭ７０２若しくはＨＤ７１
１、又はＦＤ７１２から読み出して実行することで、第
１〜第４の実施の形態における動作を実現するための制
御を行う。

【０１１６】ＲＡＭ７０３は、ＣＰＵ７０１の主メモリ
或いはワークエリア等として機能する。ＫＢＣ７０５
は、ＫＢ７０９や図示していないポインティングデバイ
ス等からの指示入力を制御する。ＣＲＴＣ７０６は、Ｃ
ＲＴ７１０の表示を制御する。ＤＫＣ７０７は、ブート
プログラム、種々のアプリケーションソフトウェア、編
集ファイル、ユーザファイル、ネットワーク管理プログ
ラム、及び第１〜第４の実施の形態にかかる処理プログ
ラム等を記憶するＨＤ７１１又はＦＤ７１２等へのアク
セスを制御する。ＮＩＣ７０８は、ネットワーク７２０
上の装置或いはシステム等と双方向にデータをやりとり
する。

【０１１７】以上説明したように本実施の形態では、対
象画像（放射線画像等）のヒストグラムを作成し、当該
ヒストグラムにおける所定領域（放射線が被写体を介さ
ずに直接イメージセンサに入射した部分である直接線部
分の領域等）の開始点（境界点）を、折れ線でフィッテ
ィングすること等により求めるように構成した。

【０１１８】これにより、例えば、所定領域の開始点に
基いて、当該所定領域を正確に抽出することができる。
また、対象画像における所定領域を正確に抽出すること
ができるため、イメージセンサの画素毎の特性はらつき
に関する画像補正処理等に起因したノイズ情報を適切に
抑制することができ、よって、良好な処理後画像を提供
することができる。例えば、放射線画像における直接線
部分又は背景部分（照射野外領域等）等のような所定領
域の画素値を実質的に所定値に固定するように構成した
場合、所定領域内のノイズを除去又は抑制することがで
きる。

【０１１９】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、対
象画像における所定の領域とその他の領域との境界の画
素値を正確に抽出できる、画像処理装置、画像処理シス
テム、画像処理方法、プログラムを記憶したコンピュー
タ読出可能な記憶媒体、及び当該プログラムを提供する
ことができる。

【０１２０】または、本発明によれば、対象放射線画像
における直接線部分（素抜け部分）等の所定領域の画素
値を正確に認識し、当該所定領域の画素値を実質的に所
定値に固定することで、良好な放射線画像を提供でき
る、画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、
プログラムを記憶したコンピュータ読出可能な記憶媒
体、及び当該プログラムを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施の形態において、本発明を適用した
Ｘ線撮影装置の構成を示すブロック図である。

【図２】上記Ｘ線撮影装置の演算ブロック１２０で実行
される、折れ線フィッティングの処理を説明するための
フローチャートである。

【図３】上記折れ線フィッティングの処理を含む、ヒー
ル点検出処理を説明するためのフローチャートである。

【図４】上記Ｘ線撮影装置で使用されるＬＵＴの構成を
説明するための図である。

【図５】上記Ｘ線撮影装置において処理対象となる画像
の一例と、そのヒストグラムを説明するための図であ
る。

【図６】上記ヒストグラムにおける直接線部分のヒスト
グラムをモデル化する処理を説明するための図である。

【図７】上記折れ線フィッティングを具体的に説明する
ための図である。

【図８】上記折れ線フィッティングにおける演算処理を
具体的に説明するための図である。

【図９】上記ヒール点検出処理を具体的に説明するため
の図である。

【図１０】第２の実施の形態におけるＸ線撮影装置で使
用されるＬＵＴの構成を説明するための図である。

【図１１】第３の実施の形態におけるＸ線撮影装置の構
成を示すブロック図である。

【図１２】上記Ｘ線撮影装置の演算ブロック１２２の処
理を説明するためのフローチャートである。

【図１３】第４の実施の形態におけるＸ線撮影装置の構
成を示すブロック図である。

【図１４】第１〜第４の実施の形態の機能または処理に
係るプログラムを実行可能なコンピュータの構成を示す
ブロック図である。

【符号の説明】

１１９ヒストグラム作成部（ＨＳＴ）１２０演算ブロック（ＡＮＡＬ）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】対象画像の画素値ヒストグラムを作成す
るヒストグラム作成手段と、上記ヒストグラム作成手段により作成された上記ヒスト
グラムの所定範囲を、２直線で構成される折れ線で近似
することにより、上記対象画像の所定領域とその他の領
域との境界画素値を抽出する抽出手段とを備えることを
特徴とする画像処理装置。
【請求項２】上記対象画像は、被写体の放射線画像を
含み、上記所定領域は、放射線素抜け領域又は照射野外領域を
含むことを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項３】上記抽出手段は、上記近似により得られ
た上記折れ線の折れ点を上記境界画素値として抽出する
ことを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項４】上記抽出手段は、上記所定範囲を設定す
る設定手段を含むことを特徴とする請求項１記載の画像
処理装置。
【請求項５】上記抽出手段は、上記所定範囲を変更す
る変更手段を含むことを特徴とする請求項１記載の画像
処理装置。
【請求項６】上記抽出手段は、上記近似により得られ
た上記折れ線が所定の条件を満たす場合に、上記境界画
素値を抽出することを特徴とする請求項１記載の画像処
理装置。
【請求項７】上記所定の条件は、２直線で構成される
折れ線によるフィッティングの結果の誤差の比率が所定
値以下であり、且つ当該２直線線の傾きの変化率が所定
値以上である、という条件を含むことを特徴とする請求
項６記載の画像処理装置。
【請求項８】上記所定の条件は、上記折れ線の近似度
及び上記２直線の傾きの少なくとも一方に関する条件を
含むことを特徴とする請求項６記載の画像処理装置。
【請求項９】上記近似度に関する上記所定の条件は、
上記折れ線に対する上記ヒストグラムのデータのばらつ
き度合いに関する条件を含むことを特徴とする請求項８
記載の画像処理装置。
【請求項１０】上記傾きに関する上記所定の条件は、
上記２直線の傾きの変化に関する条件を含むことを特徴
とする請求項８記載の画像処理装置。
【請求項１１】上記所定領域の画素値を所定値に変換
する変換手段を備えることを特徴とする請求項１記載の
画像処理装置。
【請求項１２】上記変換手段は、連続且つ微分可能な
変換関数に応じて画素値を変換することを特徴とする請
求項１１記載の画像処理装置。
【請求項１３】上記変換関数は、所定領域の画素値を
実質的に所定値に、その他の領域の画素値を実質的にリ
ニアに変換すると共に、当該所定領域とその他の領域と
の境界画素値近傍の画素値を非線形に変換する関数を含
むことを特徴とする請求項１２記載の画像処理装置。
【請求項１４】上記変換関数により非線形に変換され
た画素の値を、当該画素及び当該画素の周囲画素の値に
応じて平滑化する平滑化手段を備えることを特徴とする
請求項１３記載の画像処理装置。
【請求項１５】上記抽出手段による処理の前に、上記
対象画像に対し、表示手段に依存した画素値変換を行う
表示用変換手段を備えることを特徴とする請求項１記載
の画像処理装置。
【請求項１６】上記変換手段による処理の後の画像に
対し、所定の強調処理を行う強調処理手段を備えること
を特徴とする請求項１１記載の画像処理装置。
【請求項１７】上記所定の強調処理は、画像のダイナ
ミックレンジを変更する処理を含むことを特徴とする請
求項１６記載の画像処理装置。
【請求項１８】上記境界画素値に基づいて、上記所定
領域を認識する認識手段を備えることを特徴とする請求
項１記載の画像処理装置。
【請求項１９】複数の装置が互いに通信可能に接続さ
れてなる画像処理システムであって、上記複数の装置のうち少なくとも１つの装置は、請求項
１〜１８の何れかに記載の画像処理装置の機能を有する
ことを特徴とする画像処理システム。
【請求項２０】対象画像の画素値ヒストグラムを作成
するステップと、上記ヒストグラムを作成するステップで作成された上記
ヒストグラムの所定範囲を、２直線で構成される折れ線
で近似することにより、上記対象画像の所定領域とその
他の領域との境界画素値を抽出するステップとを含むこ
とを特徴とする画像処理方法。
【請求項２１】コンピュータを所定の手段として機能
させるためのプログラムであって、上記所定の手段は、対象画像の画素値ヒストグラムを作成するヒストグラム
作成手段と、上記ヒストグラム作成手段により作成された上記ヒスト
グラムの所定範囲を、２直線で構成される折れ線で近似
することにより、上記対象画像の所定領域とその他の領
域との境界画素値を抽出する抽出手段とを含むことを特
徴とするプログラム。
【請求項２２】請求項２１記載のプログラムを記録し
たことを特徴とするコンピュータ読出可能な記憶媒体。