JP2002325018A - 発振回路 - Google Patents
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- JP2002325018A JP2002325018A JP2001128052A JP2001128052A JP2002325018A JP 2002325018 A JP2002325018 A JP 2002325018A JP 2001128052 A JP2001128052 A JP 2001128052A JP 2001128052 A JP2001128052 A JP 2001128052A JP 2002325018 A JP2002325018 A JP 2002325018A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 温度変化に応じた温度補正を行う発振回路に
おいて、広い温度範囲で安定した発振起動を可能とす
る。 【解決手段】 発振周波数を調整するための少なくとも
１つの可変容量素子を含み制御信号に従った発振周波数
で発振動作を行う発振手段１６と、温度検出手段１１
と、Ａ／Ｄ変換器１２と、発振手段の発振周波数を制御
するために用いられる制御データを出力するデータ変換
手段１３と、発振検出手段１５と、発振動作が行われて
いる場合に、制御データに基づいた容量値を設定するた
めの制御信号を発振手段に供給し、発振動作が行われて
いない場合に、所定の値以下の容量値を設定するための
制御信号を発振手段に供給する信号切換手段１４とを具
備する。
おいて、広い温度範囲で安定した発振起動を可能とす
る。 【解決手段】 発振周波数を調整するための少なくとも
１つの可変容量素子を含み制御信号に従った発振周波数
で発振動作を行う発振手段１６と、温度検出手段１１
と、Ａ／Ｄ変換器１２と、発振手段の発振周波数を制御
するために用いられる制御データを出力するデータ変換
手段１３と、発振検出手段１５と、発振動作が行われて
いる場合に、制御データに基づいた容量値を設定するた
めの制御信号を発振手段に供給し、発振動作が行われて
いない場合に、所定の値以下の容量値を設定するための
制御信号を発振手段に供給する信号切換手段１４とを具
備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、水晶発振子やＳＡ
Ｗ（surface acoustic wave：表面弾性波）発振子等を
用いた発振回路に関する。
Ｗ（surface acoustic wave：表面弾性波）発振子等を
用いた発振回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的に、発振回路の発振周波数は、温
度変化の影響を受けやすいことが知られている。そのた
め、発振周波数を安定にするには、温度変化に対して温
度補正を行う必要がある。従来の発振回路として、特
に、温度補正回路を付加することにより、温度変化によ
る発振周波数の変動を低減した発振回路が知られてい
る。図６に、そのような発振回路の構成を示す。この発
振回路は、温度検出回路１１と、Ａ/Ｄコンバータ１２
と、補正テーブル１３と、発振部１６とを含んでいる。
度変化の影響を受けやすいことが知られている。そのた
め、発振周波数を安定にするには、温度変化に対して温
度補正を行う必要がある。従来の発振回路として、特
に、温度補正回路を付加することにより、温度変化によ
る発振周波数の変動を低減した発振回路が知られてい
る。図６に、そのような発振回路の構成を示す。この発
振回路は、温度検出回路１１と、Ａ/Ｄコンバータ１２
と、補正テーブル１３と、発振部１６とを含んでいる。
【０００３】発振部１６においては、反転回路１７の入
出力端子間に、バイアス抵抗素子１８と水晶振動子１９
とが並列に接続されている。反転回路１７の出力信号
は、水晶振動子１９等により所定の位相回転を与えられ
て反転回路１７の入力に帰還され、これにより発振動作
が行われる。
出力端子間に、バイアス抵抗素子１８と水晶振動子１９
とが並列に接続されている。反転回路１７の出力信号
は、水晶振動子１９等により所定の位相回転を与えられ
て反転回路１７の入力に帰還され、これにより発振動作
が行われる。
【０００４】反転回路１７の入力と接地電位との間に
は、コンデンサＣｇが接続されている。一方、反転回路
１７の出力と接地電位との間には、コンデンサＣｄが接
続されている。ここで、コンデンサＣｇとコンデンサＣ
ｄとの内の少なくとも一方の容量を変化させることによ
り、発振周波数の調整が行われる。
は、コンデンサＣｇが接続されている。一方、反転回路
１７の出力と接地電位との間には、コンデンサＣｄが接
続されている。ここで、コンデンサＣｇとコンデンサＣ
ｄとの内の少なくとも一方の容量を変化させることによ
り、発振周波数の調整が行われる。
【０００５】図６に示す発振回路においては、温度変化
に応じた温度補正を行うために、温度検出回路１１にお
いて、温度に応じて変化する電圧を発生している。Ａ/
Ｄコンバータ１２は、温度検出回路１１が発生した電圧
をディジタルデータに変換する。そして、補正テーブル
１３が、データの変換を行うことにより、発振部１６の
発振周波数を制御するための制御信号を得る。得られた
制御信号に基づいて、発振部１６のコンデンサＣｇ又は
Ｃｄの容量が制御される。このようにして、温度変化に
応じた温度補正を行うことで、発振周波数の調整を行っ
ていた。
に応じた温度補正を行うために、温度検出回路１１にお
いて、温度に応じて変化する電圧を発生している。Ａ/
Ｄコンバータ１２は、温度検出回路１１が発生した電圧
をディジタルデータに変換する。そして、補正テーブル
１３が、データの変換を行うことにより、発振部１６の
発振周波数を制御するための制御信号を得る。得られた
制御信号に基づいて、発振部１６のコンデンサＣｇ又は
Ｃｄの容量が制御される。このようにして、温度変化に
応じた温度補正を行うことで、発振周波数の調整を行っ
ていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、発振周
波数の調整を広い範囲で行うためには、大きい容量を有
する可変コンデンサが必要となる。発振起動時に、この
ような可変コンデンサの容量が大きな値に設定されてし
まうと、発振不良が起こる場合がある。
波数の調整を広い範囲で行うためには、大きい容量を有
する可変コンデンサが必要となる。発振起動時に、この
ような可変コンデンサの容量が大きな値に設定されてし
まうと、発振不良が起こる場合がある。
【０００７】そこで、上記の点に鑑み、本発明は、温度
変化に応じた温度補正を行う発振回路において、広い温
度範囲で安定した発振起動を可能とすることを目的とす
る。
変化に応じた温度補正を行う発振回路において、広い温
度範囲で安定した発振起動を可能とすることを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、本発明に係る発振回路は、発振周波数を調整するた
めの少なくとも１つの可変容量素子を含み制御信号に従
った発振周波数で発振動作を行う発振手段と、温度を検
出して検出された温度に対応する電圧を発生する温度検
出手段と、温度検出手段が発生する電圧をディジタル信
号に変換し温度データとして出力するＡ／Ｄ変換器と、
Ａ／Ｄ変換器から出力される温度データに基づいて、発
振手段の発振周波数を制御するために用いられる制御デ
ータを出力するデータ変換手段と、発振手段の発振動作
を検出し発振動作が行われているか否かを示す検出信号
を発生する発振検出手段と、発振動作が行われているこ
とを検出信号が示す場合に、データ変換手段が出力する
制御データに基づいた容量値を設定するための制御信号
を発振手段に供給し、発振動作が行われていないことを
検出信号が示す場合に、所定の値以下の容量値を設定す
るための制御信号を発振手段に供給する信号切換手段と
を具備する。
め、本発明に係る発振回路は、発振周波数を調整するた
めの少なくとも１つの可変容量素子を含み制御信号に従
った発振周波数で発振動作を行う発振手段と、温度を検
出して検出された温度に対応する電圧を発生する温度検
出手段と、温度検出手段が発生する電圧をディジタル信
号に変換し温度データとして出力するＡ／Ｄ変換器と、
Ａ／Ｄ変換器から出力される温度データに基づいて、発
振手段の発振周波数を制御するために用いられる制御デ
ータを出力するデータ変換手段と、発振手段の発振動作
を検出し発振動作が行われているか否かを示す検出信号
を発生する発振検出手段と、発振動作が行われているこ
とを検出信号が示す場合に、データ変換手段が出力する
制御データに基づいた容量値を設定するための制御信号
を発振手段に供給し、発振動作が行われていないことを
検出信号が示す場合に、所定の値以下の容量値を設定す
るための制御信号を発振手段に供給する信号切換手段と
を具備する。
【０００９】ここで、発振手段が、反転回路と、反転回
路の入出力間に接続された発振子と、反転回路の入出力
間に接続された抵抗素子と、反転回路の入力と接地電位
との間に接続された可変容量素子と、反転回路の出力と
接地電位との間に接続された容量素子とを含むように構
成しても良い。その場合には、発振動作が行われていな
いことを検出信号が示す場合に、信号切換手段が、可変
容量素子の容量値を最小に設定するための制御信号を発
振手段に供給するようにしても良い。
路の入出力間に接続された発振子と、反転回路の入出力
間に接続された抵抗素子と、反転回路の入力と接地電位
との間に接続された可変容量素子と、反転回路の出力と
接地電位との間に接続された容量素子とを含むように構
成しても良い。その場合には、発振動作が行われていな
いことを検出信号が示す場合に、信号切換手段が、可変
容量素子の容量値を最小に設定するための制御信号を発
振手段に供給するようにしても良い。
【００１０】あるいは、発振手段が、反転回路と、反転
回路の入出力間に接続された発振子と、反転回路の入出
力間に接続された抵抗素子と、反転回路の入力と接地電
位との間に接続された第１の可変容量素子と、反転回路
の出力と接地電位との間に接続された第２の可変容量素
子とを含むように構成しても良い。その場合には、発振
動作が行われていないことを検出信号が示す場合に、信
号切換手段が、第１の可変容量素子及び第２の可変容量
素子の容量値を最小に設定するための制御信号を発振手
段に供給するようにしても良い。
回路の入出力間に接続された発振子と、反転回路の入出
力間に接続された抵抗素子と、反転回路の入力と接地電
位との間に接続された第１の可変容量素子と、反転回路
の出力と接地電位との間に接続された第２の可変容量素
子とを含むように構成しても良い。その場合には、発振
動作が行われていないことを検出信号が示す場合に、信
号切換手段が、第１の可変容量素子及び第２の可変容量
素子の容量値を最小に設定するための制御信号を発振手
段に供給するようにしても良い。
【００１１】以上において、発振子としては、水晶発振
子、セラミック発振子、又は、表面弾性波発振子を用い
ることができる。
子、セラミック発振子、又は、表面弾性波発振子を用い
ることができる。
【００１２】上記構成によれば、温度変化に応じた温度
補正を行う発振回路において、発振起動時には信号切換
手段によって可変容量素子の容量値を所定の値以下に設
定するので、広い温度範囲で安定した発振起動を可能と
することができる。
補正を行う発振回路において、発振起動時には信号切換
手段によって可変容量素子の容量値を所定の値以下に設
定するので、広い温度範囲で安定した発振起動を可能と
することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態について説明する。図１は、本発明の一実施形
態に係る発振回路の構成を示す回路図である。本実施形
態においては、発振子として水晶発振子を用いている。
図１に示すように、この発振回路は、温度検出回路１１
と、Ａ/Ｄコンバータ１２と、補正テーブル１３と、信
号切換部１４と、発振検出回路１５と、発振部１６とを
含んでいる。
施の形態について説明する。図１は、本発明の一実施形
態に係る発振回路の構成を示す回路図である。本実施形
態においては、発振子として水晶発振子を用いている。
図１に示すように、この発振回路は、温度検出回路１１
と、Ａ/Ｄコンバータ１２と、補正テーブル１３と、信
号切換部１４と、発振検出回路１５と、発振部１６とを
含んでいる。
【００１４】発振部１６は、反転回路１７を含んでお
り、反転回路１７の入出力端子間には、バイアス抵抗素
子１８と水晶振動子１９とが並列に接続されている。反
転回路１７の出力信号は、水晶振動子１９等により所定
の位相回転を与えられて反転回路１７の入力に帰還さ
れ、これにより発振動作が行われる。発振信号は、反転
回路２０を介して、出力端子から出力される。
り、反転回路１７の入出力端子間には、バイアス抵抗素
子１８と水晶振動子１９とが並列に接続されている。反
転回路１７の出力信号は、水晶振動子１９等により所定
の位相回転を与えられて反転回路１７の入力に帰還さ
れ、これにより発振動作が行われる。発振信号は、反転
回路２０を介して、出力端子から出力される。
【００１５】また、反転回路１７の入力と接地電位との
間には、コンデンサＣｇが接続されている。一方、反転
回路１７の出力と接地電位との間には、コンデンサＣｄ
が接続されている。ここで、コンデンサＣｇとコンデン
サＣｄとの内の少なくとも一方の容量を変化させること
により、発振周波数の調整が行われる。
間には、コンデンサＣｇが接続されている。一方、反転
回路１７の出力と接地電位との間には、コンデンサＣｄ
が接続されている。ここで、コンデンサＣｇとコンデン
サＣｄとの内の少なくとも一方の容量を変化させること
により、発振周波数の調整が行われる。
【００１６】温度変化に応じた温度補正を行うために、
温度検出回路１１において、温度に応じて変化する電圧
を発生している。Ａ/Ｄコンバータ１２は、温度検出回
路１１が発生した電圧をディジタル信号に変換し、温度
データとして出力する。補正テーブル１３は、例えば、
ＥＥＰＲＯＭによって構成される。補正テーブル１３
は、データ変換を行うことにより、入力された温度デー
タに対応する制御データを出力する。この制御データ
は、温度補正として発振部１６の発振周波数を制御する
ために用いられる。
温度検出回路１１において、温度に応じて変化する電圧
を発生している。Ａ/Ｄコンバータ１２は、温度検出回
路１１が発生した電圧をディジタル信号に変換し、温度
データとして出力する。補正テーブル１３は、例えば、
ＥＥＰＲＯＭによって構成される。補正テーブル１３
は、データ変換を行うことにより、入力された温度デー
タに対応する制御データを出力する。この制御データ
は、温度補正として発振部１６の発振周波数を制御する
ために用いられる。
【００１７】一方、発振検出回路１５は、反転回路２０
を介して発振部１６の発振信号を入力して、発振部１６
の発振動作が行われているか否かを検出し、検出結果に
応じた検出信号を出力する。
を介して発振部１６の発振信号を入力して、発振部１６
の発振動作が行われているか否かを検出し、検出結果に
応じた検出信号を出力する。
【００１８】図２に、発振検出回路の具体的な回路構成
を示す。発振検出回路は、直列に接続されたＮチャネル
トランジスタ２３及び２４と、これらのトランジスタの
ソース電位を交流的に接地するためのコンデンサ２５及
び２６と、これらのトランジスタのゲートに相互に逆相
の交流電圧を供給するためのインバータ回路２８と、検
出信号を出力するためのバッファ回路２９と、抵抗素子
２７とを含んでいる。
を示す。発振検出回路は、直列に接続されたＮチャネル
トランジスタ２３及び２４と、これらのトランジスタの
ソース電位を交流的に接地するためのコンデンサ２５及
び２６と、これらのトランジスタのゲートに相互に逆相
の交流電圧を供給するためのインバータ回路２８と、検
出信号を出力するためのバッファ回路２９と、抵抗素子
２７とを含んでいる。
【００１９】発振検出回路に発振信号が供給されている
ときは、トランジスタ２３及び２４のチャージポンプ動
作によってバッファ回路２９の入力電位が上がり、バッ
ファ回路２９の出力もハイレベルとなる。一方、発振が
停止しているときは、抵抗２７によってバッファ回路２
９の入力電位がローレベルとなり、バッファ回路２９の
出力もローレベルとなる。
ときは、トランジスタ２３及び２４のチャージポンプ動
作によってバッファ回路２９の入力電位が上がり、バッ
ファ回路２９の出力もハイレベルとなる。一方、発振が
停止しているときは、抵抗２７によってバッファ回路２
９の入力電位がローレベルとなり、バッファ回路２９の
出力もローレベルとなる。
【００２０】再び図１を参照すると、発振検出回路１５
から出力される検出信号は、信号切換部１４に供給され
る。信号切換部１４は、この検出信号のレベルに応じ
て、発振部１６の発振周波数を制御するための制御信号
を発生する。即ち、信号切換部１４は、発振動作が行わ
れていることを検出信号が示す場合には、補正テーブル
１３が出力する制御データに基づいた制御信号を発振部
１６に供給し、発振動作が行われていないことを検出信
号が示す場合には、発振周波数調整用のコンデンサの容
量値を所定の値以下に設定するための制御信号を発振部
１６に供給する。
から出力される検出信号は、信号切換部１４に供給され
る。信号切換部１４は、この検出信号のレベルに応じ
て、発振部１６の発振周波数を制御するための制御信号
を発生する。即ち、信号切換部１４は、発振動作が行わ
れていることを検出信号が示す場合には、補正テーブル
１３が出力する制御データに基づいた制御信号を発振部
１６に供給し、発振動作が行われていないことを検出信
号が示す場合には、発振周波数調整用のコンデンサの容
量値を所定の値以下に設定するための制御信号を発振部
１６に供給する。
【００２１】制御信号は、発振部１６に含まれる少なく
とも１つの可変コンデンサに供給される。本実施形態に
おいては、発振部１６に含まれるコンデンサＣｇ及びＣ
ｄの両方が可変コンデンサであるとする。その場合に
は、信号切換部１４が、それぞれの可変コンデンサに対
応する複数の制御信号を出力するようにしても良い。
とも１つの可変コンデンサに供給される。本実施形態に
おいては、発振部１６に含まれるコンデンサＣｇ及びＣ
ｄの両方が可変コンデンサであるとする。その場合に
は、信号切換部１４が、それぞれの可変コンデンサに対
応する複数の制御信号を出力するようにしても良い。
【００２２】次に、図１を参照しながら、本実施形態に
係る発振回路の動作について説明する。発振起動時にお
いて、発振部１６は発振動作を開始していないので、発
振検出回路１５は、発振動作が行われていないことを示
す検出信号を出力する。これにより、信号切換部１４
は、発振周波数調整用のコンデンサの容量値を所定の値
以下に設定するための制御信号を発振部１６に供給す
る。発振部１６においては、可変コンデンサＣｇ及びＣ
ｄの容量が所定の値以下にされる。例えば、可変コンデ
ンサＣｇ及びＣｄの容量を最小にしても良い。これによ
り、確実に発振起動を行うことができる。
係る発振回路の動作について説明する。発振起動時にお
いて、発振部１６は発振動作を開始していないので、発
振検出回路１５は、発振動作が行われていないことを示
す検出信号を出力する。これにより、信号切換部１４
は、発振周波数調整用のコンデンサの容量値を所定の値
以下に設定するための制御信号を発振部１６に供給す
る。発振部１６においては、可変コンデンサＣｇ及びＣ
ｄの容量が所定の値以下にされる。例えば、可変コンデ
ンサＣｇ及びＣｄの容量を最小にしても良い。これによ
り、確実に発振起動を行うことができる。
【００２３】発振部１６が発振動作を開始すると、発振
検出回路１５は、発振動作が行われていることを示す検
出信号を出力する。これにより、信号切換部１４は、補
正テーブル１３が出力する制御データに基づいた容量値
を設定するための制御信号を発振部１６に供給する。
検出回路１５は、発振動作が行われていることを示す検
出信号を出力する。これにより、信号切換部１４は、補
正テーブル１３が出力する制御データに基づいた容量値
を設定するための制御信号を発振部１６に供給する。
【００２４】図３に示すように、発振部１６の発振周波
数ｆは、ある温度ｔ0において最大値ｆmaxをとり、それ
より高い温度でも低い温度でも最大値ｆmaxより低下す
る。このような温度特性を、可変コンデンサＣｇ及びＣ
ｄの容量変化によって補正する。図４に、可変コンデン
サＣｇ及びＣｄの直列容量Ｃｘと、発振周波数ｆとの関
係を示す。
数ｆは、ある温度ｔ0において最大値ｆmaxをとり、それ
より高い温度でも低い温度でも最大値ｆmaxより低下す
る。このような温度特性を、可変コンデンサＣｇ及びＣ
ｄの容量変化によって補正する。図４に、可変コンデン
サＣｇ及びＣｄの直列容量Ｃｘと、発振周波数ｆとの関
係を示す。
【００２５】可変コンデンサＣｇ及びＣｄは、連続的に
容量値を変化できるものでなくても、複数の容量値をと
ることができるものであれば良い。図５に、そのような
可変コンデンサの構成例を示す。図５の（ａ）に示す可
変コンデンサは、図５の（ｂ）に示すような回路によっ
て実現することができる。
容量値を変化できるものでなくても、複数の容量値をと
ることができるものであれば良い。図５に、そのような
可変コンデンサの構成例を示す。図５の（ａ）に示す可
変コンデンサは、図５の（ｂ）に示すような回路によっ
て実現することができる。
【００２６】図５の（ｂ）において、ＭＯＳトランジス
タＱ１〜Ｑ３には、コンデンサＣ１〜Ｃ３がそれぞれ直
列に接続されている。ここでは、３つの直列回路を示し
ている。これらの直列回路が並列に接続されて、図５の
（ａ）に示す可変コンデンサに相当している。トランジ
スタＱ１〜Ｑ３のそれぞれのゲートＧ１〜Ｇ３のいずれ
かに、ハイレベル又はローレベルの制御信号を印加して
トランジスタをオン状態にすることにより、そのトラン
ジスタに直列に接続されているコンデンサの容量が有効
となる。この回路によれば、３つの制御信号を用いるこ
とにより、最大限２3通りの容量値を作り出すことが可
能である。
タＱ１〜Ｑ３には、コンデンサＣ１〜Ｃ３がそれぞれ直
列に接続されている。ここでは、３つの直列回路を示し
ている。これらの直列回路が並列に接続されて、図５の
（ａ）に示す可変コンデンサに相当している。トランジ
スタＱ１〜Ｑ３のそれぞれのゲートＧ１〜Ｇ３のいずれ
かに、ハイレベル又はローレベルの制御信号を印加して
トランジスタをオン状態にすることにより、そのトラン
ジスタに直列に接続されているコンデンサの容量が有効
となる。この回路によれば、３つの制御信号を用いるこ
とにより、最大限２3通りの容量値を作り出すことが可
能である。
【００２７】なお、以上の実施形態においては、発振回
路に用いられる発振子が水晶発振子である場合について
説明したが、本発明はこれに限定されず、セラミック発
振子や、ＳＡＷ発振子を用いることができる。
路に用いられる発振子が水晶発振子である場合について
説明したが、本発明はこれに限定されず、セラミック発
振子や、ＳＡＷ発振子を用いることができる。
【００２８】また、以上の実施形態においては、補正テ
ーブル１３として、電気的に内容を書き換えることがで
きるＥＥＰＲＯＭを用いた場合について説明したが、本
発明はこれに限定されず、演算及び変換機能を有する記
憶装置等を用いることができる。
ーブル１３として、電気的に内容を書き換えることがで
きるＥＥＰＲＯＭを用いた場合について説明したが、本
発明はこれに限定されず、演算及び変換機能を有する記
憶装置等を用いることができる。
【００２９】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、温
度変化に応じた温度補正を行う発振回路において、広い
温度範囲で安定した発振起動を可能とすることができ
る。
度変化に応じた温度補正を行う発振回路において、広い
温度範囲で安定した発振起動を可能とすることができ
る。
【図１】本発明の一実施形態に係る発振回路の構成を示
す図である。
す図である。
【図２】本発明の一実施形態における発振検出回路の構
成を示す回路図である。
成を示す回路図である。
【図３】温度変化による発振周波数の変化を示す図であ
る。
る。
【図４】可変容量素子コンデンサの直列容量を変化させ
たときの発振周波数の変化を示す図である。
たときの発振周波数の変化を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態における可変コンデンサの
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【図６】従来の発振回路の構成を示す図である。
１１ 温度検出回路 １２ Ａ/Ｄコンバータ １３ 補正テーブル １４ 信号切換部 １５ 発振検出回路 １６ 発振部 １７、２０ 反転回路 １８ 抵抗 １９ 水晶発振子 ２３、２４ Ｎチャネルトランジスタ ２５、２６ コンデンサ ２７ 抵抗素子 ２８ インバータ回路 ２９ バッファ回路 Ｃｇ、Ｃｄ コンデンサ Ｃ１〜Ｃ３ コンデンサ Ｑ１〜Ｑ３ ＭＯＳトランジスタ Ｇ１〜Ｇ３ゲート
Claims (6)
- 【請求項１】 発振周波数を調整するための少なくとも
１つの可変容量素子を含み、制御信号に従った発振周波
数で発振動作を行う発振手段と、 温度を検出して検出された温度に対応する電圧を発生す
る温度検出手段と、 前記温度検出手段が発生する電圧をディジタル信号に変
換し、温度データとして出力するＡ／Ｄ変換器と、 前記Ａ／Ｄ変換器から出力される温度データに基づい
て、前記発振手段の発振周波数を制御するために用いら
れる制御データを出力するデータ変換手段と、 前記発振手段の発振動作を検出し、発振動作が行われて
いるか否かを示す検出信号を発生する発振検出手段と、 発振動作が行われていることを前記検出信号が示す場合
に、前記データ変換手段が出力する制御データに基づい
た容量値を設定するための制御信号を前記発振手段に供
給し、発振動作が行われていないことを前記検出信号が
示す場合に、所定の値以下の容量値を設定するための制
御信号を前記発振手段に供給する信号切換手段と、を具
備する発振回路。 - 【請求項２】 前記発振手段が、 反転回路と、 前記反転回路の入出力間に接続された発振子と、 前記反転回路の入出力間に接続された抵抗素子と、 前記反転回路の入力と接地電位との間に接続された可変
容量素子と、 前記反転回路の出力と接地電位との間に接続された容量
素子と、を含むことを特徴とする請求項１記載の発振回
路。 - 【請求項３】 前記発振手段が、 反転回路と、 前記反転回路の入出力間に接続された発振子と、 前記反転回路の入出力間に接続された抵抗素子と、 前記反転回路の入力と接地電位との間に接続された第１
の可変容量素子と、 前記反転回路の出力と接地電位との間に接続された第２
の可変容量素子と、を含むことを特徴とする請求項１記
載の発振回路。 - 【請求項４】 前記信号切換手段が、発振動作が行われ
ていないことを前記検出信号が示す場合に、前記可変容
量素子の容量値を最小に設定するための制御信号を前記
発振手段に供給することを特徴とする請求項２記載の発
振回路。 - 【請求項５】 前記信号切換手段が、発振動作が行われ
ていないことを前記検出信号が示す場合に、前記第１の
可変容量素子及び第２の可変容量素子の容量値を最小に
設定するための制御信号を前記発振手段に供給すること
を特徴とする請求項３記載の発振回路。 - 【請求項６】 前記発振子が、水晶発振子、セラミック
発振子、又は、表面弾性波発振子であることを特徴とす
る請求項２〜５のいずれか１項記載の発振回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001128052A JP2002325018A (ja) | 2001-04-25 | 2001-04-25 | 発振回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001128052A JP2002325018A (ja) | 2001-04-25 | 2001-04-25 | 発振回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002325018A true JP2002325018A (ja) | 2002-11-08 |
Family
ID=18976815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001128052A Withdrawn JP2002325018A (ja) | 2001-04-25 | 2001-04-25 | 発振回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002325018A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006311182A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Seiko Instruments Inc | クロック検出回路 |
| JP2012253829A (ja) * | 2012-09-26 | 2012-12-20 | Seiko Epson Corp | 温度補償型発振器および電子機器 |
-
2001
- 2001-04-25 JP JP2001128052A patent/JP2002325018A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006311182A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Seiko Instruments Inc | クロック検出回路 |
| JP2012253829A (ja) * | 2012-09-26 | 2012-12-20 | Seiko Epson Corp | 温度補償型発振器および電子機器 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080701 |