JP2002228520A - Calibration light source device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば望遠鏡の
焦点等に設置される観測装置を光学的に校正する校正用
光源装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a calibration light source device for optically calibrating an observation device installed at a focal point of a telescope, for example.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図７は例えば特開平２−２０８５２６号
公報に開示された従来の校正用の基準光源を具備した赤
外線観測装置を示す断面図である。図において、２５は
観測対象物、２６は校正用の赤外線基準光源、２８は赤
外線光学系で、対物レンズ２９、対物レンズ２９の焦点
に設置された視野絞り３０、リレーレンズ３１、および
上記構成部品を支持する鏡筒３２によって構成される。
３３は２次元アレイ素子で構成された赤外線検出器、３
４は赤外線検出器３３の出力を記憶する記憶回路、３５
は赤外線検出器３３の出力を演算する演算回路、３６は
記憶回路３４と演算回路３５で構成される信号処理回路
である。2. Description of the Related Art FIG. 7 is a sectional view showing a conventional infrared observation apparatus provided with a reference light source for calibration disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-208526. In the figure, reference numeral 25 denotes an object to be observed; 26, an infrared reference light source for calibration; 28, an infrared optical system; an objective lens 29, a field stop 30 provided at the focal point of the objective lens 29, a relay lens 31, and the above-described components. Is constituted by a lens barrel 32 that supports
33 is an infrared detector constituted by a two-dimensional array element, 3
4 is a storage circuit for storing the output of the infrared detector 33;
Is an arithmetic circuit for calculating the output of the infrared detector 33, and 36 is a signal processing circuit composed of a storage circuit 34 and an arithmetic circuit 35.
【０００３】次に、図７に示す従来の校正用の赤外線基
準光源２６を具備した赤外線観測装置の感度校正動作に
ついて説明する。リレーレンズ３１は、対物レンズ２９
によって結ばれた赤外線基準光源２６の中間像と視野絞
り３０の像を赤外線検出器３３上に結ぶ。このとき、赤
外線検出器３３は赤外線基準光源２６の放射する赤外線
以外に赤外線光学系２８の放射する不要な赤外線も受光
する。この不要な赤外線の量を取り除くため、まず予め
温度既知の赤外線基準光源２６で得られた赤外線検出器
３３の出力を校正データとして記憶回路３４に記憶させ
ておく。次に赤外線基準光源２６の温度を変えて得られ
た赤外線検出器３３の出力から、記憶回路３４に記録さ
れた出力値を演算回路３５で差し引くことにより、赤外
線基準光源２６の温度差による放射量の差を検知するこ
とができる。Next, the sensitivity calibration operation of the infrared observation apparatus provided with the conventional calibration infrared reference light source 26 shown in FIG. 7 will be described. The relay lens 31 is connected to the objective lens 29
The intermediate image of the infrared reference light source 26 and the image of the field stop 30 formed by the above are formed on the infrared detector 33. At this time, the infrared detector 33 receives unnecessary infrared rays emitted by the infrared optical system 28 in addition to the infrared rays emitted by the infrared reference light source 26. In order to remove the unnecessary amount of infrared rays, first, the output of the infrared ray detector 33 obtained by the infrared ray reference light source 26 having a known temperature is stored in the storage circuit 34 as calibration data. Next, the output value recorded in the storage circuit 34 is subtracted by the arithmetic circuit 35 from the output of the infrared detector 33 obtained by changing the temperature of the infrared reference light source 26, so that the radiation amount due to the temperature difference of the infrared reference light source 26 is obtained. Can be detected.
【０００４】しかしながら、赤外線基準光源２６の温度
を変えた時点で赤外線光学系２８に温度差がある場合、
赤外線光学系２８の放射する不要赤外線の量が異なり、
正しい校正ができなくなる。このため、赤外線基準光源
２６を用いた校正データ取得時に、赤外線光学系２８の
温度を変えて計測し、校正データ群として記憶回路３４
に記憶させておく必要がある。However, if there is a temperature difference in the infrared optical system 28 when the temperature of the infrared reference light source 26 is changed,
The amount of unnecessary infrared radiation emitted by the infrared optical system 28 differs,
Correct calibration cannot be performed. For this reason, when acquiring calibration data using the infrared reference light source 26, the temperature of the infrared optical system 28 is changed and measurement is performed, and the storage circuit 34 is used as a calibration data group.
Must be stored.
【０００５】また、リレーレンズ３１は、赤外線検出器
３３上に赤外線基準光源２６のほか視野絞り３０の像を
結ぶ構成になっており、赤外線検出器３３の２次元アレ
イ素子のうち、視野絞り３０の像が結ばれた一部の素子
の出力信号から赤外線光学系２８の温度を推定すること
ができ、記憶回路３４に記録された校正データ群の中か
ら、視野絞り３０の像が結ばれる素子に該当する出力値
に近い校正データを選択することにより、観測時の赤外
線光学系２８の温度に近い状態における不要赤外線の影
響を取り除くことが可能となる。[0005] The relay lens 31 is configured to form an image of the field stop 30 in addition to the infrared reference light source 26 on the infrared detector 33. Of the two-dimensional array elements of the infrared detector 33, the field stop 30 The temperature of the infrared optical system 28 can be estimated from the output signals of some of the elements on which the image of the field stop 30 is formed, and from the calibration data group recorded in the storage circuit 34, the element on which the image of the field stop 30 is formed By selecting the calibration data close to the output value corresponding to the above, it is possible to remove the influence of unnecessary infrared rays in a state close to the temperature of the infrared optical system 28 at the time of observation.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】従来の校正用の赤外線
基準光源２６を具備した赤外線観測装置における感度校
正は以上の方法により行われるため、赤外線光学系２８
の放射する不要赤外線の影響を校正するためには、予め
赤外線光学系２８の温度を変えて大量の校正データを取
得し記憶させておかねばならず、また、赤外線検出器３
３の一部に視野絞り３０の像を結ばせているので、観測
視野が狭められるという問題点があった。Since sensitivity calibration in a conventional infrared observation apparatus having an infrared reference light source 26 for calibration is performed by the above-described method, the infrared optical system 28 is used.
In order to calibrate the influence of unnecessary infrared rays emitted from the infrared optical system 28, a large amount of calibration data must be acquired and stored by changing the temperature of the infrared optical system 28 in advance, and the infrared detector 3
Since the image of the field stop 30 is formed in a part of No. 3, there is a problem that the observation field of view is narrowed.
【０００７】また、赤外線検出器３３の出力の線形性を
校正するために必要な赤外線基準光源２６の光量を変え
た校正データを取得するには、赤外線基準光源２６の温
度を変える必要があり、赤外線基準光源２６の温度を変
えたときには校正光の光量だけでなくその分光特性も変
わるため、分光を行う観測装置の場合には校正光の分光
特性の変化を補正する必要があり、処理が複雑になると
いう問題点があった。さらに、赤外線基準光源２６は連
続スペクトルを有した校正光に限られるため、分光測定
を行う観測装置における波長校正を行うことができない
という問題点があった。さらにまた、校正データを取得
するには、赤外線光学系２８の開口を赤外線基準光源２
６で覆う必要があるので、大口径の赤外線光学系２８を
有する観測装置の場合、赤外線基準光源２６が大型にな
るという問題点があった。In order to obtain calibration data in which the amount of light of the infrared reference light source 26 required for calibrating the linearity of the output of the infrared detector 33 has to be changed, the temperature of the infrared reference light source 26 must be changed. When the temperature of the infrared reference light source 26 is changed, not only the light amount of the calibration light but also its spectral characteristics change. Therefore, in the case of an observation device that performs spectroscopy, it is necessary to correct the change in the spectral characteristics of the calibration light, and the processing is complicated. There was a problem of becoming. Furthermore, since the infrared reference light source 26 is limited to calibration light having a continuous spectrum, there is a problem that wavelength calibration cannot be performed in an observation device that performs spectroscopic measurement. Furthermore, in order to acquire the calibration data, the opening of the infrared optical system 28 is
In the case of an observation device having a large-diameter infrared optical system 28, there is a problem that the infrared reference light source 26 becomes large.
【０００８】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、基準光源と赤外線光学系とか
ら構成され、周囲環境の温度変化により放射量が変化す
る不要赤外線の影響を受けずに、安定な校正光を放射で
きると共に、赤外線だけでなく可視光も含めた広い波長
域の観測を行う観測装置に適用でき、分光装置を有する
観測装置の波長校正も行うことができる校正用光源装置
を得ることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and comprises a reference light source and an infrared optical system. Calibration that can emit stable calibration light without receiving it, can be applied to observation equipment that observes a wide wavelength range including not only infrared light but also visible light, and can also perform wavelength calibration of observation equipment that has a spectrometer. It is intended to obtain a light source device for use.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】この発明に係わる観測装
置を光学的に校正する校正用光源装置は、光源と、光源
の発する校正光を平行光にする集光レンズと、校正光で
観測装置焦点面を照射する照射レンズと、集光レンズと
照射レンズの間の平行光束中に配置された開口絞りとを
備え、開口絞りの観測装置側の面を赤外反射面としたも
のである。また、観測装置を光学的に校正する校正用光
源装置において、光源と、光源の発する校正光を平行光
にする集光レンズと、校正光で観測装置焦点面を照射す
る照射レンズと、集光レンズと照射レンズの間の平行光
束中に配置された開口絞りとを備え、開口絞りの観測装
置側の面に可視域で低反射、かつ赤外域で高反射となる
多層膜フィルタを設けたものである。According to the present invention, there is provided a calibration light source device for optically calibrating an observation device according to the present invention, comprising: a light source; a condenser lens for converting the calibration light emitted from the light source into parallel light; An illumination lens for irradiating the focal plane, and an aperture stop arranged in a parallel light beam between the condenser lens and the illumination lens are provided, and the surface of the aperture stop on the observation device side is an infrared reflection surface. Further, in a calibration light source device for optically calibrating an observation device, a light source, a condensing lens for collimating calibration light emitted from the light source, an irradiation lens for irradiating the observation device focal plane with the calibration light, and a condensing lens. An aperture stop arranged in a parallel light beam between the lens and the irradiation lens, and a multilayer filter that provides low reflection in the visible region and high reflection in the infrared region is provided on the surface of the aperture stop on the observation device side. It is.
【００１０】また、開口絞りの近傍に反射型濃度フィル
タを配置したものである。また、開口絞りの大きさを観
測装置の主光学系射出瞳と一致させたものである。ま
た、開口絞りに反射型の主光学系を有する観測装置の副
鏡およびその支持機構に相当する遮蔽板を設置すると共
に、副鏡に装着した温度センサの指示値に基づいて開口
絞りの温度を制御するようにしたものである。また、光
源に積分球を用いて内部に連続スペクトルランプと輝線
ランプを配置し、切り替えて点灯するようにしたもので
ある。また、光源を複数個設置し、光源切り換え機構部
によって光源の切り換えを可能としたものである。Also, a reflection type density filter is arranged near the aperture stop. In addition, the size of the aperture stop is matched with the exit pupil of the main optical system of the observation device. In addition, a sub-mirror of an observation device having a reflection type main optical system and a shielding plate corresponding to a supporting mechanism are installed in the aperture stop, and the temperature of the aperture stop is set based on a temperature sensor attached to the sub-mirror. It is intended to be controlled. In addition, a continuous spectrum lamp and a bright line lamp are arranged inside using an integrating sphere as a light source, and are switched on and turned on. Further, a plurality of light sources are provided, and the light sources can be switched by a light source switching mechanism.
【００１１】[0011]
【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、この発明の
一実施の形態である校正用光源装置を図について説明す
る。図１はこの発明の実施の形態１による校正用光源装
置を説明するための構成図である。図において、１は校
正用光源装置で、例えば積分球等からなる光源２、集光
レンズ３、開口絞り４および照射レンズ５から構成され
る。６は校正光、７は観測装置８の焦点面、９は観測装
置８の観測光学系、１０は観測装置８の検出器、１１は
検出器１０を冷却するコールドシールドである。なお、
開口絞り４の観測装置８側の面を赤外反射面としてい
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 A calibration light source device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram for explaining a calibration light source device according to Embodiment 1 of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes a light source device for calibration, which comprises a light source 2 composed of, for example, an integrating sphere, a condenser lens 3, an aperture stop 4, and an irradiation lens 5. Reference numeral 6 denotes calibration light, 7 denotes a focal plane of the observation device 8, 9 denotes an observation optical system of the observation device 8, 10 denotes a detector of the observation device 8, and 11 denotes a cold shield for cooling the detector 10. In addition,
The surface of the aperture stop 4 on the observation device 8 side is an infrared reflection surface.
【００１２】次に、動作について説明する。校正用光源
装置１の光源２から出射された校正光６は、集光レンズ
３でコリメートされ、開口絞り４で光束径を制限された
後、照射レンズ５で集光されて焦点面７に光源２の拡大
像を結び、この焦点面７の像を検出器１０上に結ぶ観測
装置８により受光される。観測装置８が赤外線観測装置
の場合、一般に検出器１０は冷却されており、また周囲
の放射する不要な赤外線の入射を防ぐために検出器１０
の回りは冷却されたコールドシールド１１で覆われてい
るが、コールドシールド１１の開口部から開口絞り４の
放射する不要な赤外線が回折等により入射する。これを
防止する目的で、開口絞り４の観測装置８側の面を赤外
反射面とし、検出器１０からみたとき、図１に破線で示
したようにコールドシールド１１の開口部の縁を通った
光線は開口絞り４の赤外反射面で反射され、再び冷却さ
れた検出器１０に戻る。Next, the operation will be described. The calibration light 6 emitted from the light source 2 of the calibration light source device 1 is collimated by the condenser lens 3, the luminous flux diameter is limited by the aperture stop 4, and then condensed by the irradiation lens 5 to be focused on the focal plane 7. 2 is magnified, and the image on the focal plane 7 is received by the observation device 8 which forms the image on the detector 10. When the observation device 8 is an infrared observation device, the detector 10 is generally cooled, and the detector 10 is used to prevent the incidence of unnecessary infrared rays radiated from the surroundings.
Is covered with a cooled cold shield 11, but unnecessary infrared rays emitted by the aperture stop 4 from the opening of the cold shield 11 are incident by diffraction or the like. In order to prevent this, the surface of the aperture stop 4 on the observation device 8 side is an infrared reflecting surface, and when viewed from the detector 10, passes through the edge of the opening of the cold shield 11 as shown by a broken line in FIG. The reflected light is reflected by the infrared reflecting surface of the aperture stop 4 and returns to the cooled detector 10 again.
【００１３】本実施の形態によれば、開口絞り４の観測
装置８側の面を反射面にすることにより、コールドシー
ルド１１の開口部から入射した開口絞り４の放射した不
要な赤外線は、検出器１０からみたとき、コールドシー
ルド１１の開口部の縁を通った光線は開口絞り４の赤外
反射面で反射され、再び冷却された検出器１０に戻るた
め、検出器１０は、コールドシールド１１の開口部周辺
を通じては冷却された自分自身をみることになり、校正
用光源装置１の温度環境によって変わる開口絞り４の放
射する不要赤外線の影響を受けない安定な校正光６を得
ることができる。According to this embodiment, by making the surface of the aperture stop 4 on the observation device 8 side a reflecting surface, unnecessary infrared rays radiated from the aperture stop 4 incident from the opening of the cold shield 11 can be detected. When viewed from the detector 10, the light passing through the edge of the opening of the cold shield 11 is reflected by the infrared reflecting surface of the aperture stop 4 and returns to the cooled detector 10 again. Through the periphery of the opening, the user can see himself / herself cooled down, and can obtain stable calibration light 6 which is not affected by unnecessary infrared rays emitted from the aperture stop 4 which changes depending on the temperature environment of the calibration light source device 1. .
【００１４】実施の形態２．実施の形態１では、観測装
置８が赤外線の観測装置である場合を示したが、観測装
置８が赤外線の観測装置でない場合は、検出器１０で反
射された光が開口絞り４で反射されて、再び検出器１０
に入射して迷光となるのを防止する目的で、開口絞り４
の観測装置８側の面に可視域で低反射、かつ赤外域で高
反射となる多層膜フィルタを設け、検出器１０で反射さ
れた光が開口絞り４で反射されて、再び検出器１０に入
射するのを防止する。Embodiment 2 FIG. In the first embodiment, the case where the observation device 8 is an infrared observation device is described. However, when the observation device 8 is not an infrared observation device, the light reflected by the detector 10 is reflected by the aperture stop 4. , Again the detector 10
Aperture stop 4 to prevent stray light from entering the aperture stop.
The surface of the observation device 8 is provided with a multilayer filter having low reflection in the visible region and high reflection in the infrared region, and the light reflected by the detector 10 is reflected by the aperture stop 4, and is reflected again by the detector 10. Prevent from entering.
【００１５】本実施の形態によれば、開口絞り４の観測
装置８側の面に可視域で低反射、かつ赤外域で高反射と
なる多層膜フィルタを設けることにより、赤外線以外の
可視域も含めた波長域の観測を行う観測装置に対しても
適用できる校正用光源装置を得ることができる。なお、
図２は多層膜フィルタの分光反射率特性の一例を示す図
である。According to the present embodiment, by providing a multilayer filter having low reflection in the visible region and high reflection in the infrared region on the surface of the aperture stop 4 on the observation device 8 side, the visible region other than the infrared region is also provided. It is possible to obtain a calibration light source device that can be applied to an observation device that observes a wavelength range including the above. In addition,
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the spectral reflectance characteristics of the multilayer filter.
【００１６】実施の形態３．図３はこの発明の実施の形
態３を示す校正用光源装置を説明するための構成図であ
る。図において、１２は開口絞り４の近傍に配置された
反射型濃度フィルタである。なお、その他の構成は実施
の形態１と同様であるので説明を省略する。Embodiment 3 FIG. 3 is a configuration diagram for explaining a calibration light source device according to Embodiment 3 of the present invention. In the figure, reference numeral 12 denotes a reflection type density filter arranged near the aperture stop 4. The other configuration is the same as that of the first embodiment, and the description is omitted.
【００１７】本実施の形態では、開口絞り４の近傍に反
射型濃度フィルタ１２を配置することにより、校正光６
の明るさを切換えて調整することができ、観測装置８の
線形性の校正を容易に行うことができる。なお、検出器
１０は反射型濃度フィルタ１２の反射により自分自身を
見ることになるので、反射型濃度フィルタ１２の放射す
る不要赤外線の影響を受けない安定な校正光６を得るこ
とができる。In this embodiment, the calibration light 6 is provided by disposing the reflection type density filter 12 near the aperture stop 4.
Can be adjusted by switching the brightness of the observation device 8, and the linearity of the observation device 8 can be easily calibrated. Since the detector 10 looks at itself by the reflection of the reflection type density filter 12, it is possible to obtain the stable calibration light 6 which is not affected by the unnecessary infrared rays emitted from the reflection type density filter 12.
【００１８】実施の形態４．図４はこの発明の実施の形
態４を示す校正用光源装置を説明するための構成図で、
観測装置８が大口径の主光学系１３を有している場合を
示している。図において、１３は大口径の主光学系、１
４は主光学系射出瞳である。なお、校正用光源装置の構
成は上記各実施の形態と同様であるので説明を省略す
る。Embodiment 4 FIG. 4 is a configuration diagram for explaining a calibration light source device according to a fourth embodiment of the present invention.
A case where the observation device 8 has a large-diameter main optical system 13 is shown. In the drawing, reference numeral 13 denotes a large-diameter main optical system, 1
Reference numeral 4 denotes a main optical system exit pupil. Note that the configuration of the calibration light source device is the same as in each of the above embodiments, and a description thereof will be omitted.
【００１９】本実施の形態では、校正用光源装置１を焦
点面７近傍に挿入し、校正用光源装置１の開口絞り４の
大きさを主光学系射出瞳１４の大きさと整合させ、観測
装置８の主光学系１３のＦ比と校正用光源装置１の校正
光のＦ比を同一にする。本実施の形態によれば、校正用
光源装置１の開口絞り４の大きさを主光学系射出瞳１４
の大きさと整合させることにより、校正用光源装置１を
主光学系１３に比べて小型化することができ、観測時と
同様の条件で校正を行うことができる。In this embodiment, the calibration light source device 1 is inserted in the vicinity of the focal plane 7, the size of the aperture stop 4 of the calibration light source device 1 is matched with the size of the exit pupil 14 of the main optical system, and the observation device The F ratio of the main optical system 13 and the F ratio of the calibration light of the calibration light source device 1 are made the same. According to the present embodiment, the size of the aperture stop 4 of the calibration light source device 1 is adjusted by changing the size of the main optical system exit pupil 14.
The calibration light source device 1 can be reduced in size as compared with the main optical system 13 and calibration can be performed under the same conditions as during observation.
【００２０】実施の形態５．図５はこの発明の実施の形
態５を示す校正用光源装置を説明するための図で、
（ａ）は構成図、（ｂ）は開口絞りの拡大平面図であ
る。本実施の形態では、観測装置８の主光学系１３が反
射光学系の場合を示している。図において、１５は主
鏡、１６は副鏡、１７は副鏡１６を支持するスパイダ、
１８は副鏡１６に取り付けられた温度センサ、１９は校
正用光源装置１の駆動機構、２０は副鏡１６およびスパ
イダ１７による影を模擬した遮蔽板が取り付けられてい
る開口絞り、２１ａは開口絞り２０に取り付けられた温
度制御装置、２１ｂは開口絞り２０に取り付けられた温
度センサである。なお、その他の構成は上記各実施の形
態と同様であるので説明を省略する。Embodiment 5 FIG. 5 is a diagram for explaining a calibration light source device according to a fifth embodiment of the present invention.
(A) is a block diagram, (b) is an enlarged plan view of an aperture stop. In the present embodiment, the case where the main optical system 13 of the observation device 8 is a reflection optical system is shown. In the figure, 15 is a primary mirror, 16 is a secondary mirror, 17 is a spider that supports the secondary mirror 16,
Reference numeral 18 denotes a temperature sensor attached to the sub-mirror 16, 19 denotes a driving mechanism of the light source device 1 for calibration, 20 denotes an aperture stop on which a shielding plate simulating the shadow of the sub-mirror 16 and the spider 17 is mounted, and 21a denotes an aperture stop. Reference numeral 21b denotes a temperature control device attached to the aperture stop 20, and reference numeral 21b denotes a temperature sensor attached to the aperture stop 20. Note that other configurations are the same as those of the above-described embodiments, and a description thereof will not be repeated.
【００２１】本実施の形態では、観測装置８の副鏡１６
に取り付けた温度センサ１８で検出した温度に基づき、
遮蔽板を有する開口絞り２０の温度を温度センサ２１ｂ
および、例えばペルチェ素子などで構成される温度制御
装置２１ａで制御することにより、観測時と同一条件で
校正を行うことができる。In the present embodiment, the secondary mirror 16 of the observation device 8
Based on the temperature detected by the temperature sensor 18 attached to
The temperature of the aperture stop 20 having the shielding plate is measured by a temperature sensor 21b.
Further, the calibration can be performed under the same conditions as those at the time of observation by controlling with the temperature control device 21a constituted by, for example, a Peltier element.
【００２２】なお、上記各実施の形態では、光源２とし
て連続スペクトルを発するランプを想定したが、光源２
に積分球を用いた場合は、内部に連続スペクトルランプ
の他に特定の輝線を有する輝線ランプを配置し、切り替
えて点灯することにより、分光装置を有する観測装置の
波長校正を行うこともできる。In each of the above embodiments, a lamp emitting a continuous spectrum is assumed as the light source 2.
In the case where an integrating sphere is used, an emission line lamp having a specific emission line is arranged in addition to the continuous spectrum lamp, and the wavelength is calibrated by switching and lighting the observation device having the spectroscopic device.
【００２３】実施の形態６．図６は実施の形態６を示す
校正用光源装置を説明するための構成図で、複数の光源
を有する場合を示している。図において、２２は輝線光
源、２３は校正用光源装置１における光源切り換え機構
部、２４は光源切り換え機構部２３に設けられた折返し
鏡である。なお、その他の構成は上記各実施の形態と同
様であるので説明を省略する。Embodiment 6 FIG. FIG. 6 is a configuration diagram for explaining a calibration light source device according to the sixth embodiment, and shows a case where a plurality of light sources are provided. In the figure, 22 is a bright line light source, 23 is a light source switching mechanism in the calibration light source device 1, and 24 is a folding mirror provided in the light source switching mechanism 23. Other configurations are the same as those of the above-described embodiments, and the description is omitted.
【００２４】本実施の形態では、光源切り換え機構部２
３を駆動させて、折返し鏡２４により校正用光源装置１
の光源を光源２から輝線光源２２に切り換えて波長校正
を行う。本実施の形態によれば、光源を切り換えること
により、分光装置を有する観測装置の波長構成を行うこ
とができると共に、光源２に用いた積分球内に輝線ラン
プを配置した場合に比べて明るい波長校正光が得られ
る。In the present embodiment, the light source switching mechanism 2
3 is driven, and the light source device 1 for calibration is
Is switched from the light source 2 to the bright line light source 22 to perform wavelength calibration. According to the present embodiment, by switching the light source, the wavelength configuration of the observation device having the spectroscopic device can be performed, and a wavelength that is brighter than when the bright line lamp is arranged in the integrating sphere used for the light source 2. Calibration light is obtained.
【００２５】[0025]
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、集光
レンズにより形成された平行光束中に観測装置側の面を
赤外反射面にした開口絞りを配置することにより、校正
用光源装置の発する不要な赤外線の影響の少ない安定な
校正光を放射できる校正用光源装置を得ることができ
る、また、開口絞りの観測装置側の表面に可視域で低反
射、かつ赤外域で高反射となる多層膜フィルタを設ける
ことにより、可視観測装置に対して迷光の少ない校正用
光源装置を得ることができる。As described above, according to the present invention, a calibration light source is provided by arranging an aperture stop whose surface on the observation device side is an infrared reflecting surface in a parallel light beam formed by a condenser lens. It is possible to obtain a calibration light source device that can emit stable calibration light with little influence of unnecessary infrared rays emitted from the device.In addition, the surface of the aperture stop on the observation device side has low reflection in the visible region and high reflection in the infrared region. By providing a multilayer filter, a light source device for calibration with less stray light to the visible observation device can be obtained.
【００２６】また、開口絞りの近傍に反射型濃度フィル
タを配置することにより、不要赤外線の影響の少ない校
正光の光量調整を容易に行うことができる。また、観測
装置が大口径の主光学系を有している場合において、開
口絞りの大きさを観測装置主光学系の射出瞳の大きさと
整合させることにより、小型な校正用光源装置において
観測時と同様の条件での校正を行うことができる。さら
にまた、観測装置の主光学系が反射光学系の場合におい
て、開口絞りに観測装置の副鏡およびその支持機構に相
当する遮蔽板を取り付け、その温度を主光学系の副鏡の
温度と同一になるように制御することにより、観測時と
同一条件での校正光を出射できる校正用光源装置を得る
ことができる。また、光源として連続スペクトルランプ
の他に輝線ランプを配置し、点灯を切り換える、あるい
は光源切り換え用の駆動機構によって光源を選択できる
ようにすることにより、分光装置を有する観測装置の波
長校正を行うことができる。Further, by arranging the reflection type density filter near the aperture stop, it is possible to easily adjust the light amount of the calibration light which is less affected by unnecessary infrared rays. When the observation device has a large-diameter main optical system, the size of the aperture stop is matched with the size of the exit pupil of the observation device main optical system, so that a small calibration light source device can be used for observation. Calibration can be performed under the same conditions as described above. Furthermore, when the main optical system of the observation device is a reflection optical system, a shield plate corresponding to the sub-mirror of the observation device and its support mechanism is attached to the aperture stop, and the temperature is the same as that of the sub-mirror of the main optical system. By controlling so as to obtain a calibration light source device that can emit calibration light under the same conditions as during observation, it is possible to obtain a calibration light source device. In addition, by arranging an emission line lamp in addition to a continuous spectrum lamp as a light source and switching the lighting or selecting a light source by a driving mechanism for switching the light source, performing wavelength calibration of an observation device having a spectroscopic device. Can be.
【図１】 この発明の実施の形態１による校正用光源装
置を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a calibration light source device according to a first embodiment of the present invention.
【図２】 この発明の実施の形態２による開口絞りの分
光反射率特性の例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a spectral reflectance characteristic of an aperture stop according to a second embodiment of the present invention;
【図３】 この発明の実施の形態３による校正用光源装
置を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a calibration light source device according to Embodiment 3 of the present invention.
【図４】 この発明の実施の形態４による校正用光源装
置を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a calibration light source device according to Embodiment 4 of the present invention.
【図５】 この発明の実施の形態５による校正用光源装
置を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a calibration light source device according to a fifth embodiment of the present invention.
【図６】 この発明の実施の形態６による校正用光源装
置を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a calibration light source device according to Embodiment 6 of the present invention.
【図７】 従来のこの種校正用の基準光源を具備した観
測装置を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a conventional observation apparatus provided with a reference light source for this type of calibration.
１ は校正用光源装置、２ 光源、３ 集光レンズ、４
開口絞り、５ 照射レンズ５、６ 校正光、７ 焦点
面、８ 観測装置、９ 観測光学系、１０ 検出器、１
１ コールドシールド、１２ 反射型濃度フィルタ、１
３ 大口径の主光学系、１４ 主光学系射出瞳、１５
主鏡、１６ 副鏡、１７ スパイダ、１８ 温度セン
サ、１９ 駆動機構、２０ 開口絞り、２１ａ 温度制
御装置、２１ｂ 温度センサ、２２ 輝線光源、２３
光源切り換え機構部、２４ 折返し鏡。1 is a light source device for calibration, 2 light sources, 3 condenser lenses, 4
Aperture stop, 5 Irradiation lens 5, 6 Calibration light, 7 Focal plane, 8 Observation device, 9 Observation optical system, 10 Detector, 1
1 cold shield, 12 reflection density filter, 1
3 Large diameter main optical system, 14 Main optical system exit pupil, 15
Primary mirror, 16 secondary mirror, 17 spider, 18 temperature sensor, 19 drive mechanism, 20 aperture stop, 21a temperature controller, 21b temperature sensor, 22 bright line light source, 23
Light source switching mechanism, 24 folding mirror.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０２Ｂ 17/08 Ｇ０２Ｂ 17/08 Ｚ ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G02B 17/08 G02B 17/08 Z
Claims (7)
装置において、 光源と、 上記光源の発する校正光を平行光にする集光レンズと、 上記校正光で上記観測装置焦点面を照射する照射レンズ
と、 上記集光レンズと上記照射レンズの間の平行光束中に配
置された開口絞りとを備え、 上記開口絞りの上記観測装置側の面を赤外反射面とした
ことを特徴とする校正用光源装置。1. A calibration light source device for optically calibrating an observation device, comprising: a light source; a condenser lens for collimating calibration light emitted from the light source; and irradiating the observation device focal plane with the calibration light. An illumination lens, and an aperture stop arranged in a parallel light beam between the condenser lens and the illumination lens, wherein the surface of the aperture stop on the observation device side is an infrared reflection surface. Light source device for calibration.
装置において、 光源と、 上記光源の発する校正光を平行光にする集光レンズと、 上記校正光で上記観測装置焦点面を照射する照射レンズ
と、 上記集光レンズと上記照射レンズの間の平行光束中に配
置された開口絞りとを備え、 上記開口絞りの上記観測装置側の面に可視域で低反射、
かつ赤外域で高反射となる多層膜フィルタを設けたこと
を特徴とする校正用光源装置。2. A calibration light source device for optically calibrating an observation device, comprising: a light source; a condenser lens for collimating calibration light emitted from the light source; and irradiating the observation device focal plane with the calibration light. An illumination lens, comprising: an aperture stop arranged in a parallel light flux between the condenser lens and the illumination lens; low reflection in the visible range on a surface of the aperture stop on the observation device side;
A calibration light source device comprising a multilayer filter that exhibits high reflection in the infrared region.
配置したことを特徴とする請求項１または請求項２記載
の校正用光源装置。3. The calibration light source device according to claim 1, wherein a reflection type density filter is arranged near the aperture stop.
射出瞳とを整合させたことを特徴とする請求項１〜３の
いずれか一項記載の校正用光源装置。4. The calibration light source device according to claim 1, wherein the size of the aperture stop and the exit pupil of the main optical system of the observation device are matched.
測装置の副鏡およびその支持機構に相当する遮蔽板を取
り付けると共に、上記副鏡に装着した温度センサの指示
値に基づいて上記開口絞りの温度を制御するようにした
ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項記載の校
正用光源装置。5. A sub-mirror of an observation device having a reflection-type main optical system and a shielding plate corresponding to a support mechanism thereof are attached to an aperture stop, and the aperture is set based on a value indicated by a temperature sensor attached to the sub-mirror. The calibration light source device according to any one of claims 1 to 4, wherein the temperature of the aperture is controlled.
トルランプと輝線ランプを配置し、上記ランプを切り替
えて点灯するようにしたことを特徴とする請求項１〜５
のいずれか一項記載の校正用光源装置。6. A lamp according to claim 1, wherein a continuous spectrum lamp and a bright line lamp are disposed inside using an integrating sphere as a light source, and said lamps are switched and lit.
The light source device for calibration according to any one of claims 1 to 7.
部によって上記光源の切り換えを可能としたことを特徴
とする請求項１〜５のいずれか一項記載の校正用光源装
置。7. The calibration light source device according to claim 1, wherein a plurality of light sources are provided, and said light sources can be switched by a light source switching mechanism.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001027723A JP2002228520A (en) | 2001-02-05 | 2001-02-05 | Calibration light source device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001027723A JP2002228520A (en) | 2001-02-05 | 2001-02-05 | Calibration light source device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002228520A true JP2002228520A (en) | 2002-08-14 |
Family
ID=18892329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001027723A Pending JP2002228520A (en) | 2001-02-05 | 2001-02-05 | Calibration light source device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002228520A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010139299A (en) * | 2008-12-10 | 2010-06-24 | Akebono Brake Ind Co Ltd | Gas sensor |
| CN112415732A (en) * | 2020-12-03 | 2021-02-26 | 国网黑龙江省电力有限公司检修公司 | Multispectral composite optical system based on electric power complex background |
-
2001
- 2001-02-05 JP JP2001027723A patent/JP2002228520A/en active Pending
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