JP2002195882A - 発光体検査装置 - Google Patents
発光体検査装置Info
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- JP2002195882A JP2002195882A JP2000397299A JP2000397299A JP2002195882A JP 2002195882 A JP2002195882 A JP 2002195882A JP 2000397299 A JP2000397299 A JP 2000397299A JP 2000397299 A JP2000397299 A JP 2000397299A JP 2002195882 A JP2002195882 A JP 2002195882A
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- led
- luminous body
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】LEDなどの検査工程での実用性に優れて、か
つ虚報率の低い検査品質の安定した発光体検査装置を提
供することにある。 【解決手段】検査対象のLED31A,31Bの発光を
検出し、発光状態を判定するLEDセンサユニット2
と、最終的判定を行なうテスタコントローラ1とからな
るLED発光体検査装置が開示されている。LEDセン
サユニット2は、各光フィルタ22A,22Bにより得
られる複数の輝度値の比率と予め設定される判定用閾値
とに基づいて、発光体の発光状態を判定する。各光フィ
ルタ22A,22Bは、異なる発光色に対応するフィル
タ特性を有する。
つ虚報率の低い検査品質の安定した発光体検査装置を提
供することにある。 【解決手段】検査対象のLED31A,31Bの発光を
検出し、発光状態を判定するLEDセンサユニット2
と、最終的判定を行なうテスタコントローラ1とからな
るLED発光体検査装置が開示されている。LEDセン
サユニット2は、各光フィルタ22A,22Bにより得
られる複数の輝度値の比率と予め設定される判定用閾値
とに基づいて、発光体の発光状態を判定する。各光フィ
ルタ22A,22Bは、異なる発光色に対応するフィル
タ特性を有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特に発光ダイオー
ドからなる発光体の発光状態を検査するための発光検査
装置に関する。
ドからなる発光体の発光状態を検査するための発光検査
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えばパーソナルコンピュータな
どの電子機器では、電源表示やステータス表示などの各
種の表示器として、発光ダイオード(LED)を代表と
する発光体が使用されている。電子機器の製造工程で
は、各種の検査工程の中に、LEDの検査工程も含まれ
ている。
どの電子機器では、電源表示やステータス表示などの各
種の表示器として、発光ダイオード(LED)を代表と
する発光体が使用されている。電子機器の製造工程で
は、各種の検査工程の中に、LEDの検査工程も含まれ
ている。
【0003】LED検査工程では、作業者の目視による
検査方法から画像認識処理を利用した自動検査方法な
ど、各種の検査方法が実施、開発、提案がなされてい
る。近年では、コンピュータを使用し、検査効率や実用
性が優れている専用の検査装置の開発が推進されてい
る。
検査方法から画像認識処理を利用した自動検査方法な
ど、各種の検査方法が実施、開発、提案がなされてい
る。近年では、コンピュータを使用し、検査効率や実用
性が優れている専用の検査装置の開発が推進されてい
る。
【0004】具体的には、LEDを発光させたときの発
光色をカラーのCCDカメラ等を使用した検出部と、コ
ンピュータを使用した検査・判定部とからなる検査装置
が提案されている(例えば特開平11−201868号
公報を参照)。この検査装置は、検出部で検出された発
光色と、予め設定された基準表示色とを照合することに
より、検査対象のLEDの良否判定を行なう方式であ
る。
光色をカラーのCCDカメラ等を使用した検出部と、コ
ンピュータを使用した検査・判定部とからなる検査装置
が提案されている(例えば特開平11−201868号
公報を参照)。この検査装置は、検出部で検出された発
光色と、予め設定された基準表示色とを照合することに
より、検査対象のLEDの良否判定を行なう方式であ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来のLED検査方法
において、作業者の目視による視覚検査方法では、作業
者の熟練度や技能で左右されるため、安定した検査品質
(検査精度)を確保することは困難である。また、画像
認識処理を利用した自動検査方法では、画像処理に長時
間を要したり、画像比較データの精度に依存することか
ら虚報率(誤った検査結果の発生率)が高くなるなど、
実用化には問題が多い。
において、作業者の目視による視覚検査方法では、作業
者の熟練度や技能で左右されるため、安定した検査品質
(検査精度)を確保することは困難である。また、画像
認識処理を利用した自動検査方法では、画像処理に長時
間を要したり、画像比較データの精度に依存することか
ら虚報率(誤った検査結果の発生率)が高くなるなど、
実用化には問題が多い。
【0006】さらに、前述の検査装置は、基準表示色と
いう絶対値を基準とした判定方法であるため、検査対象
のLED毎に光度のばらつきが大きい場合、LEDの良
否判定結果の精度が低下し、結果的に虚報率が高くなる
という問題がある。
いう絶対値を基準とした判定方法であるため、検査対象
のLED毎に光度のばらつきが大きい場合、LEDの良
否判定結果の精度が低下し、結果的に虚報率が高くなる
という問題がある。
【0007】そこで、本発明の目的は、LEDなどの検
査工程での実用性に優れて、かつ虚報率の低い検査品質
の安定した発光体検査装置を提供することにある。
査工程での実用性に優れて、かつ虚報率の低い検査品質
の安定した発光体検査装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、検査対象の発
光体(例えばLED)の異なる発光色に対応するフィル
タ特性(有効波長の光を透過する特性)を有する複数の
光フィルタを使用し、各光フィルタにより得られる複数
の輝度値の比率と予め設定される判定用閾値とに基づい
て、発光体の発光状態(良否)を検査する発光体検査装
置に関する。
光体(例えばLED)の異なる発光色に対応するフィル
タ特性(有効波長の光を透過する特性)を有する複数の
光フィルタを使用し、各光フィルタにより得られる複数
の輝度値の比率と予め設定される判定用閾値とに基づい
て、発光体の発光状態(良否)を検査する発光体検査装
置に関する。
【0009】具体的には,本発明の検査装置は、検査対
象の発光体を発光させる手段と、発光体の異なる発光色
に対応するフィルタ特性を有する複数の光フィルタを有
し、発光体の発光に応じて当該各光フィルタを透過した
光の有効波長に応じた複数の輝度値を検出するためのセ
ンサ手段と、センサ手段により検出された複数の輝度値
の比率及び予め用意された判定用閾値を使用して、検査
対象の発光体の発光状態を検査する検査手段とを備えて
いる。
象の発光体を発光させる手段と、発光体の異なる発光色
に対応するフィルタ特性を有する複数の光フィルタを有
し、発光体の発光に応じて当該各光フィルタを透過した
光の有効波長に応じた複数の輝度値を検出するためのセ
ンサ手段と、センサ手段により検出された複数の輝度値
の比率及び予め用意された判定用閾値を使用して、検査
対象の発光体の発光状態を検査する検査手段とを備えて
いる。
【0010】このような構成の検査装置であれば、作業
者の熟練度や技能に左右されない自動的な検査方法であ
るため、安定かつ効率的な検査工程を実現できる。ま
た、画像認識処理等を利用しないため、高速な検査処理
が可能である。さらに、検査対象の発光体の光度にばら
つきがある場合でも、絶対値である判定用閾値以外に輝
度値の比率を参照する検査方法であるため、当該ばらつ
きを吸収して虚報率の低い安定した良否判定を実現でき
る。
者の熟練度や技能に左右されない自動的な検査方法であ
るため、安定かつ効率的な検査工程を実現できる。ま
た、画像認識処理等を利用しないため、高速な検査処理
が可能である。さらに、検査対象の発光体の光度にばら
つきがある場合でも、絶対値である判定用閾値以外に輝
度値の比率を参照する検査方法であるため、当該ばらつ
きを吸収して虚報率の低い安定した良否判定を実現でき
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、本発明の実
施の形態を説明する。
施の形態を説明する。
【0012】図1は、本実施形態に関係するLED検査
装置の構成を示すブロック図であり、図3は同実施形態
のLEDセンサユニットの構成を示すブロック図であ
る。
装置の構成を示すブロック図であり、図3は同実施形態
のLEDセンサユニットの構成を示すブロック図であ
る。
【0013】(LED検査装置の構成)同実施形態の検
査装置は、図1に示すように、大別してテスタコントロ
ーラ1と、LEDセンサユニット2とから構成されてい
る。テスタコントローラ1は、検査装置全体の制御を実
行し、後述するように、テストプログラムの起動を制御
したり、また予め用意されている自動テストルーチンを
実行し、最終的なLEDの良否判定を実行する。LED
センサユニット2は、検査対象であるLED(ここでは
発光色が異なる2個のLED31A,31Bとする)か
ら発光された光を入力し、輝度値の検出処理及び発光色
の判定処理を実行する(図3を参照)。
査装置は、図1に示すように、大別してテスタコントロ
ーラ1と、LEDセンサユニット2とから構成されてい
る。テスタコントローラ1は、検査装置全体の制御を実
行し、後述するように、テストプログラムの起動を制御
したり、また予め用意されている自動テストルーチンを
実行し、最終的なLEDの良否判定を実行する。LED
センサユニット2は、検査対象であるLED(ここでは
発光色が異なる2個のLED31A,31Bとする)か
ら発光された光を入力し、輝度値の検出処理及び発光色
の判定処理を実行する(図3を参照)。
【0014】同実施形態では、検査対象であるLED3
1A,31Bは、パーソナルコンピュータに使用される
プリント回路基板(PCB)3に、当該コンピュータの
CPU30と共に実装されている。CPU30は、例え
ばプリンタ・インターフェース4を介してテスタコント
ローラ12に接続し、当該テスタコントローラ12から
のコマンドに応じて予め記憶しているテストプログラム
を起動する。CPU30は、テストプログラムの実行に
より、検査対象であるLED31A,31Bの一方又は
両方を、電源回路32を制御して発光させる。LED3
1A,31Bは発光色が異なり、それぞれ例えば赤色L
ED及び緑色LEDを想定する。
1A,31Bは、パーソナルコンピュータに使用される
プリント回路基板(PCB)3に、当該コンピュータの
CPU30と共に実装されている。CPU30は、例え
ばプリンタ・インターフェース4を介してテスタコント
ローラ12に接続し、当該テスタコントローラ12から
のコマンドに応じて予め記憶しているテストプログラム
を起動する。CPU30は、テストプログラムの実行に
より、検査対象であるLED31A,31Bの一方又は
両方を、電源回路32を制御して発光させる。LED3
1A,31Bは発光色が異なり、それぞれ例えば赤色L
ED及び緑色LEDを想定する。
【0015】(LEDセンサユニット)LEDセンサユ
ニット2は、テスタコントローラ1と連動して電源供給
がなされて起動し、LED31A,31Bの発光を自動
認識する機能を有する。LEDセンサユニット2は大別
して、後述する1チップ・マイクロコンピュータ(以下
MPUと表記する)20、異なる光フィルタ特性(有効
波長の光を透過する特性)を有する複数の光フィルタ2
1A,21B、及びフォトIC22A,22Bを有す
る。
ニット2は、テスタコントローラ1と連動して電源供給
がなされて起動し、LED31A,31Bの発光を自動
認識する機能を有する。LEDセンサユニット2は大別
して、後述する1チップ・マイクロコンピュータ(以下
MPUと表記する)20、異なる光フィルタ特性(有効
波長の光を透過する特性)を有する複数の光フィルタ2
1A,21B、及びフォトIC22A,22Bを有す
る。
【0016】光フィルタ21AはLED31Aに対応
し、当該赤色光を透過するフィルタ特性を有する。一
方、光フィルタ21BはLED31Bに対応し、当該緑
色光を透過するフィルタ特性を有する。フォトIC22
A,22Bはそれぞれ光フィルタ21A,21Bに対応
し、フォトダイオード及びアンプを有し、検知した輝度
値に対応する検知電流を出力する。これらの各検知電流
は、抵抗を有する電圧変換回路23A,23Bにより電
圧値に変換されて、MPU20に送られる。
し、当該赤色光を透過するフィルタ特性を有する。一
方、光フィルタ21BはLED31Bに対応し、当該緑
色光を透過するフィルタ特性を有する。フォトIC22
A,22Bはそれぞれ光フィルタ21A,21Bに対応
し、フォトダイオード及びアンプを有し、検知した輝度
値に対応する検知電流を出力する。これらの各検知電流
は、抵抗を有する電圧変換回路23A,23Bにより電
圧値に変換されて、MPU20に送られる。
【0017】MPU20は、シリアルデータ線5を介し
てテスタコントローラ1に接続されている。MPU20
は、図3に示すように、A/Dコンバータ26を有し、
入力側回路である電圧変換回路23A,23Bから電圧
値に変換された輝度値を入力して、ディジタル値に変換
する。電圧変換回路23A,23Bは、コネクタ25及
びフレキシブルケーブル24を介してフォトIC22
A,22Bに接続されている。
てテスタコントローラ1に接続されている。MPU20
は、図3に示すように、A/Dコンバータ26を有し、
入力側回路である電圧変換回路23A,23Bから電圧
値に変換された輝度値を入力して、ディジタル値に変換
する。電圧変換回路23A,23Bは、コネクタ25及
びフレキシブルケーブル24を介してフォトIC22
A,22Bに接続されている。
【0018】さらに、MPU20は、後述する輝度値の
検出処理及び発光色の判定処理を実行する演算部28、
各種の処理結果を格納するためのメモリ(RAM)2
7、及びシリアルデータ線52に接続してデータやコマ
ンドの入出力を行なうためのI/Oポート29を有す
る。
検出処理及び発光色の判定処理を実行する演算部28、
各種の処理結果を格納するためのメモリ(RAM)2
7、及びシリアルデータ線52に接続してデータやコマ
ンドの入出力を行なうためのI/Oポート29を有す
る。
【0019】図7は、前記のLEDセンサユニット2の
構造を示す図である。同図(A)は平面図であり、同図
(B)は側面図である。
構造を示す図である。同図(A)は平面図であり、同図
(B)は側面図である。
【0020】(LED検査動作)以下図2、図4、図5
の各フローチャート及び図6を参照して、同実施形態の
LED検査動作を説明する。まず、図2のフローチャー
トを参照して、概略的動作を説明する。
の各フローチャート及び図6を参照して、同実施形態の
LED検査動作を説明する。まず、図2のフローチャー
トを参照して、概略的動作を説明する。
【0021】テスタコントローラ1の電源が投入される
と、テスタコントローラ1は制御プログラムが起動し
て、LED検査動作を開始する(ステップS1)。これ
に伴って、LEDセンサユニット2の電源がONとなる
(図5のステップS20)。
と、テスタコントローラ1は制御プログラムが起動し
て、LED検査動作を開始する(ステップS1)。これ
に伴って、LEDセンサユニット2の電源がONとなる
(図5のステップS20)。
【0022】さらに、検査対象のLED31A,31B
が実装されたPCB3に電源が投入されると、CPU3
0は動作可能状態となる(ステップS2)。そして、テ
スタコントローラ1からのコマンドに応じて、CPU3
0のLEDテストプログラムが起動する(ステップS
3)。ここで、CPU30には、テスタコントローラ1
からLEDテストプログラムがダウンロードされるよう
な構成でもよい。
が実装されたPCB3に電源が投入されると、CPU3
0は動作可能状態となる(ステップS2)。そして、テ
スタコントローラ1からのコマンドに応じて、CPU3
0のLEDテストプログラムが起動する(ステップS
3)。ここで、CPU30には、テスタコントローラ1
からLEDテストプログラムがダウンロードされるよう
な構成でもよい。
【0023】テスタコントローラ1は、制御プログラム
に含まれる自動テストルーチンを実行し、LEDセンサ
ユニット2に対して各種のコマンドを送信したり、LE
Dセンサユニット2からデータやステータスを受信する
(ステップS4)。そして、テスタコントローラ1は、
LEDセンサユニット2からの判定結果に基づいて、最
終的な検査、即ち検査対象のLED31A,31Bが正
常に動作したか否かの良否判定を実行する(ステップS
5)。テスタコントローラ1は、最終的検査結果が正常
でない場合には、所定の処理を実行する(ステップS5
のNO)。
に含まれる自動テストルーチンを実行し、LEDセンサ
ユニット2に対して各種のコマンドを送信したり、LE
Dセンサユニット2からデータやステータスを受信する
(ステップS4)。そして、テスタコントローラ1は、
LEDセンサユニット2からの判定結果に基づいて、最
終的な検査、即ち検査対象のLED31A,31Bが正
常に動作したか否かの良否判定を実行する(ステップS
5)。テスタコントローラ1は、最終的検査結果が正常
でない場合には、所定の処理を実行する(ステップS5
のNO)。
【0024】テスタコントローラ1は、図4に示すよう
に、自動テストルーチンを実行することにより、検査対
象のLED31A,31Bの点灯OFFを確認して、オ
フセット値の取得コマンドをLEDセンサユニット2に
送信する(ステップS10,S11)。オフセット値
は、LEDセンサユニット2での検出処理により得られ
る輝度値の補償値である。
に、自動テストルーチンを実行することにより、検査対
象のLED31A,31Bの点灯OFFを確認して、オ
フセット値の取得コマンドをLEDセンサユニット2に
送信する(ステップS10,S11)。オフセット値
は、LEDセンサユニット2での検出処理により得られ
る輝度値の補償値である。
【0025】次に、テスタコントローラ1は、CPU3
02対してコマンドを送信して、検査対象のLED31
A,31Bを点灯(発光)させる(ステップS12)。
ここで、テスタコントローラ1は、LED31A,31
Bをそれぞれ発光させる場合、及び両者を同時に発光さ
せる場合がある。テスタコントローラ1は、イニシャラ
イズ・コマンドをLEDセンサユニット2に送信し、後
述する自己診断テストを実行させる(ステップS1
3)。この後、テスタコントローラ1は、LEDセンサ
ユニット2からLEDセンサステータス(ユニット2の
状態)及びLED発光ステータス(判定結果)を受信す
る(ステップS14,S15)。そして、テスタコント
ローラ1は、受信結果と予め用意した期待値とを比較
し、当該比較結果に基づいて最終的なLEDの良否判定
処理を実行する(ステップS16,S17)。
02対してコマンドを送信して、検査対象のLED31
A,31Bを点灯(発光)させる(ステップS12)。
ここで、テスタコントローラ1は、LED31A,31
Bをそれぞれ発光させる場合、及び両者を同時に発光さ
せる場合がある。テスタコントローラ1は、イニシャラ
イズ・コマンドをLEDセンサユニット2に送信し、後
述する自己診断テストを実行させる(ステップS1
3)。この後、テスタコントローラ1は、LEDセンサ
ユニット2からLEDセンサステータス(ユニット2の
状態)及びLED発光ステータス(判定結果)を受信す
る(ステップS14,S15)。そして、テスタコント
ローラ1は、受信結果と予め用意した期待値とを比較
し、当該比較結果に基づいて最終的なLEDの良否判定
処理を実行する(ステップS16,S17)。
【0026】(LEDセンサユニット2の動作)LED
センサユニット2は、前述したように、テスタコントロ
ーラ1の電源ONに連動して、電源がONとなる(ステ
ップS20)。MPU20は、電源ON直後のリセット
動作に続いて、テスタコントローラ1からのイニシャラ
イズ・コマンドに従って自己診断テスト処理を実行する
(ステップS21)。この自己診断テストでエラーを検
出すると、MPU20は所定のエラー処理ルーチンに移
行する(ステップS22のYES)。
センサユニット2は、前述したように、テスタコントロ
ーラ1の電源ONに連動して、電源がONとなる(ステ
ップS20)。MPU20は、電源ON直後のリセット
動作に続いて、テスタコントローラ1からのイニシャラ
イズ・コマンドに従って自己診断テスト処理を実行する
(ステップS21)。この自己診断テストでエラーを検
出すると、MPU20は所定のエラー処理ルーチンに移
行する(ステップS22のYES)。
【0027】自己診断テストが正常に終了した場合に
は、MPU20は、フォトIC22A,22B、電圧変
換回路23A,23B、及びA/Dコンバータ26を経
由して、LED31A,31Bの発光に伴う輝度値を設
定回数分だけ読み込む(ステップS23,S24)。M
PU20は、テスタコントローラ1から受信したオフセ
ット値を読み込んだ輝度値から引いて補償し、後述する
判定方法により、検査対象のLED31A,31Bの発
光状態(正常に点灯した場合をONとし、そうでなけれ
ばOFFとする)を判定する(ステップS25,S2
6)。MPU20は、判定結果をRAM27の所定エリ
アに格納する(ステップS27)。そして、テストコン
トローラ1からのコマンド受信に応じて、MPU20
は、ユニット2のステータス及び判定結果であるLED
発光ステータスを、I/Oポート29及びシリアルデー
タ線5を介してテスタコントローラ1に送信する(ステ
ップS28のYES,S29)。
は、MPU20は、フォトIC22A,22B、電圧変
換回路23A,23B、及びA/Dコンバータ26を経
由して、LED31A,31Bの発光に伴う輝度値を設
定回数分だけ読み込む(ステップS23,S24)。M
PU20は、テスタコントローラ1から受信したオフセ
ット値を読み込んだ輝度値から引いて補償し、後述する
判定方法により、検査対象のLED31A,31Bの発
光状態(正常に点灯した場合をONとし、そうでなけれ
ばOFFとする)を判定する(ステップS25,S2
6)。MPU20は、判定結果をRAM27の所定エリ
アに格納する(ステップS27)。そして、テストコン
トローラ1からのコマンド受信に応じて、MPU20
は、ユニット2のステータス及び判定結果であるLED
発光ステータスを、I/Oポート29及びシリアルデー
タ線5を介してテスタコントローラ1に送信する(ステ
ップS28のYES,S29)。
【0028】(判定方法)図6は、MPU20が検査対
象のLED31A,31Bの発光状態(ONまたはOF
F)を判定する時の判定方法を説明するための概念図で
ある。
象のLED31A,31Bの発光状態(ONまたはOF
F)を判定する時の判定方法を説明するための概念図で
ある。
【0029】図6において、LED31Aの発光色(例
えば赤色)を発光色1とし、LED31Bの発光色(例
えば緑色)を発光色2とする。
えば赤色)を発光色1とし、LED31Bの発光色(例
えば緑色)を発光色2とする。
【0030】V11,V12は、LED31Aの発光、即ち
発光色1に対する光の輝度値(電圧変換値のディジタル
値)を意味する。即ち、V11は、発光色1に対応するフ
ィルタ特性を有する光フィルタ21Aを透過した光の輝
度値である。また、V12は、発光色2に対応するフィル
タ特性を有する光フィルタ21Bを透過した光の輝度値
である。
発光色1に対する光の輝度値(電圧変換値のディジタル
値)を意味する。即ち、V11は、発光色1に対応するフ
ィルタ特性を有する光フィルタ21Aを透過した光の輝
度値である。また、V12は、発光色2に対応するフィル
タ特性を有する光フィルタ21Bを透過した光の輝度値
である。
【0031】一方、V21,V22は、LED31Bの発
光、即ち発光色2に対する光の輝度値(電圧変換値のデ
ィジタル値)を意味する。即ち、V21は、発光色2に対
応するフィルタ特性を有する光フィルタ21Bを透過し
た光の輝度値である。また、V22は、発光色1に対応す
るフィルタ特性を有する光フィルタ21Aを透過した光
の輝度値である。
光、即ち発光色2に対する光の輝度値(電圧変換値のデ
ィジタル値)を意味する。即ち、V21は、発光色2に対
応するフィルタ特性を有する光フィルタ21Bを透過し
た光の輝度値である。また、V22は、発光色1に対応す
るフィルタ特性を有する光フィルタ21Aを透過した光
の輝度値である。
【0032】さらに、V31,V32は、LED31AとL
ED31Bの同時発光、即ち発光色1,2に対する光の
輝度値(電圧変換値のディジタル値)を意味する。即
ち、V31は、発光色1に対応するフィルタ特性を有する
光フィルタ21Aを透過した光の輝度値である。また、
V32は、発光色2に対応するフィルタ特性を有する光フ
ィルタ21Bを透過した光の輝度値である。
ED31Bの同時発光、即ち発光色1,2に対する光の
輝度値(電圧変換値のディジタル値)を意味する。即
ち、V31は、発光色1に対応するフィルタ特性を有する
光フィルタ21Aを透過した光の輝度値である。また、
V32は、発光色2に対応するフィルタ特性を有する光フ
ィルタ21Bを透過した光の輝度値である。
【0033】MPU20は、図3に示すように、EEP
ROM100に予め格納された判定用閾値Vmin,Vt
1,Vt2,Vt3(Vmax)を読出して、判定処理に使用す
る。ここで、テスタコントローラ1から判定用閾値Vmi
n,Vt1,Vt2,Vt3(Vmax)がEEPROM100に
ダウンロードされる構成でもよい。
ROM100に予め格納された判定用閾値Vmin,Vt
1,Vt2,Vt3(Vmax)を読出して、判定処理に使用す
る。ここで、テスタコントローラ1から判定用閾値Vmi
n,Vt1,Vt2,Vt3(Vmax)がEEPROM100に
ダウンロードされる構成でもよい。
【0034】MPU20は、LED31Aの発光(発光
色1)に伴う各光フィルタ21A,21Bを透過した光
の輝度値V11,V12の比率「V11/V12」を算出する。
そして、この比率が、図6に示す判定用閾値Vt2,Vt3
(Vmax)の範囲内(Vt2<V11/V12<Vt3)であれ
ば、MPU20は、発光色1の点灯、即ちLED31A
の発光ステータスがONであると判定する。同様にし
て、LED31Bの発光(発光色2)に伴う各光フィル
タ21A,21Bを透過した光の輝度値V22,V21の比
率「V21/V22」を算出する。そして、この比率が、図
6に示す判定用閾値Vmin,Vt1の範囲内(Vmin<V21
/V22<Vt1)であれば、MPU20は、発光色2の点
灯、即ちLED31Bの発光ステータスがONであると
判定する。
色1)に伴う各光フィルタ21A,21Bを透過した光
の輝度値V11,V12の比率「V11/V12」を算出する。
そして、この比率が、図6に示す判定用閾値Vt2,Vt3
(Vmax)の範囲内(Vt2<V11/V12<Vt3)であれ
ば、MPU20は、発光色1の点灯、即ちLED31A
の発光ステータスがONであると判定する。同様にし
て、LED31Bの発光(発光色2)に伴う各光フィル
タ21A,21Bを透過した光の輝度値V22,V21の比
率「V21/V22」を算出する。そして、この比率が、図
6に示す判定用閾値Vmin,Vt1の範囲内(Vmin<V21
/V22<Vt1)であれば、MPU20は、発光色2の点
灯、即ちLED31Bの発光ステータスがONであると
判定する。
【0035】さらに、LED31AとLED31Bの同
時発光(発光色1,2)に伴う各光フィルタ21A,2
1Bを透過した光の輝度値V31,V32の比率「V31/V
32」を算出する。この比率が、図6に示す判定用閾値V
t1,Vt2の範囲内(Vt1<V31/V32<Vt2)であれ
ば、MPU20は、発光色1,2の同時点灯、即ちLE
D31AとLED31Bの同時発光ステータスがONで
あると判定する。
時発光(発光色1,2)に伴う各光フィルタ21A,2
1Bを透過した光の輝度値V31,V32の比率「V31/V
32」を算出する。この比率が、図6に示す判定用閾値V
t1,Vt2の範囲内(Vt1<V31/V32<Vt2)であれ
ば、MPU20は、発光色1,2の同時点灯、即ちLE
D31AとLED31Bの同時発光ステータスがONで
あると判定する。
【0036】なお、MPU20は、各比率がVmin以
下、またはVt3(Vmax)以上の場合にはユニット2の
異常であると判定し、ユニット2のステータスとしてテ
スタコントローラ1に通知する。
下、またはVt3(Vmax)以上の場合にはユニット2の
異常であると判定し、ユニット2のステータスとしてテ
スタコントローラ1に通知する。
【0037】以上のように同実施形態の検査装置であれ
ば、テスタコントローラ1とPCB3に電源が投入され
ると、ほぼ自動的にLED検査を実行できる。さらに、
同検査装置は、異なる発光色に対応するフィルタ特性
(有効波長の光を透過する特性)を有する複数の光フィ
ルタを使用し、各光フィルタにより得られる複数の輝度
値の比率と予め設定される判定用閾値とに基づいて、発
光体の発光状態(良否)を判定する。従って、絶対値で
ある判定用閾値だけでなく、複数の輝度値の比率を参照
する判定方法であるため、検査対象のLEDの光度にば
らつきがある場合でも、虚報率を低下させることが可能
となる。また、画像処理などの長時間を要するデータ処
理を必要としないため、相対的に高速のLED検査処理
を実現できる。
ば、テスタコントローラ1とPCB3に電源が投入され
ると、ほぼ自動的にLED検査を実行できる。さらに、
同検査装置は、異なる発光色に対応するフィルタ特性
(有効波長の光を透過する特性)を有する複数の光フィ
ルタを使用し、各光フィルタにより得られる複数の輝度
値の比率と予め設定される判定用閾値とに基づいて、発
光体の発光状態(良否)を判定する。従って、絶対値で
ある判定用閾値だけでなく、複数の輝度値の比率を参照
する判定方法であるため、検査対象のLEDの光度にば
らつきがある場合でも、虚報率を低下させることが可能
となる。また、画像処理などの長時間を要するデータ処
理を必要としないため、相対的に高速のLED検査処理
を実現できる。
【0038】なお、同実施形態は、検査対象としてLE
Dを想定したが、別種の発光体の検査装置にも適用する
ことができる。
Dを想定したが、別種の発光体の検査装置にも適用する
ことができる。
【0039】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、作
業者の熟練度や技能に左右されない自動的な検査方法で
あるため、安定かつ効率的な検査工程を実現できる。ま
た、画像認識処理等を利用しないため、高速な検査処理
が可能である。さらに、検査対象の発光体の光度にばら
つきがある場合でも、絶対値である判定用閾値以外に輝
度値の比率を参照する検査方法であるため、当該ばらつ
きを吸収して虚報率の低い安定した良否判定を実現でき
る。従って、実用性に優れて、かつ虚報率の低い検査品
質の安定した発光体検査装置を提供することができる。
業者の熟練度や技能に左右されない自動的な検査方法で
あるため、安定かつ効率的な検査工程を実現できる。ま
た、画像認識処理等を利用しないため、高速な検査処理
が可能である。さらに、検査対象の発光体の光度にばら
つきがある場合でも、絶対値である判定用閾値以外に輝
度値の比率を参照する検査方法であるため、当該ばらつ
きを吸収して虚報率の低い安定した良否判定を実現でき
る。従って、実用性に優れて、かつ虚報率の低い検査品
質の安定した発光体検査装置を提供することができる。
【図1】本発明の実施形態に関するLED検査装置の構
成を示すブロック図。
成を示すブロック図。
【図2】同実施形態に関するLED検査装置の概略的動
作を説明するためのフローチャート。
作を説明するためのフローチャート。
【図3】同実施形態のLEDセンサユニットの構成を示
すブロック図。
すブロック図。
【図4】同実施形態に関するテスタコントローラの動作
を説明するためのフローチャート。
を説明するためのフローチャート。
【図5】同実施形態に関するLEDセンサユニットの動
作を説明するためのフローチャート。
作を説明するためのフローチャート。
【図6】同実施形態に関するLED検査装置の判定方法
を説明するための図。
を説明するための図。
【図7】同実施形態に関するLEDセンサユニットの構
造を示す図。
造を示す図。
1…テスタコントローラ 2…LEDセンサユニット 3…プリント回路基板(PCB) 4…プリンタ・インターフェース 5…シリアルデータ線 20…MPU 21A,21B…光フィルタ 22A,22B…フォトIC 23A,23B…電圧変換回路 26…A/Dコンバータ 30…CPU 31A,31B…LED
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G020 AA08 DA05 DA13 DA31 DA34 DA63 2G065 AA02 AB28 BA09 BB26 BC03 BC13 BC14 BC16 BC19 BC28 BC33 BC35 BD01 2G086 EE03 5F041 AA46 EE22
Claims (5)
- 【請求項1】 検査対象の発光体を発光させる手段と、 発光体の異なる発光色に対応するフィルタ特性を有する
複数の光フィルタを有し、前記発光体の発光に応じて当
該各光フィルタを透過した光の有効波長に応じた複数の
輝度値を検出するためのセンサ手段と、 前記センサ手段により検出された複数の輝度値の比率及
び予め用意された判定用閾値を使用して、前記検査対象
の発光体の発光状態を検査する検査手段と、を具備した
ことを特徴とする発光体検査装置。 - 【請求項2】 前記センサ手段は、前記各光フィルタか
ら出力される光を輝度電圧値に変換する光電変換手段
と、 前記輝度電圧値をディジタル値に変換するA/D変換手
段とを有することを特徴とする請求項1記載の発光体検
査装置。 - 【請求項3】 前記検査手段は、前記輝度値の比率を算
出し、当該輝度値の比率と前記判定用閾値とから前記発
光体の発光色を判定する第1の検査手段と、 前記第1の検査手段の判定結果と予め用意した期待値と
を比較して、前記発光体の発光状態に関する最終検査を
実行する第2の検査手段とから構成されていることを特
徴とする請求項1記載の発光体検査装置。 - 【請求項4】 前記発光体は、表示用発光ダイオード部
材であり、 当該表示用発光ダイオード部材の発光制御を前記検査手
段からの指示に応じて実行する制御手段と共に、プリン
ト回路基板上に実装されていることを特徴とする請求項
1記載の発光体検査装置。 - 【請求項5】 検査対象の発光ダイオード部材の発光状
態を検査するための制御を実行するテスタコントローラ
と、 前記発光ダイオード部材、及び前記テスタコントローラ
からの指示に応じて当該発光ダイオード部材の発光制御
を実行する制御手段を実装しているプリント回路基板
と、 発光体の異なる発光色に対応するフィルタ特性を有する
複数の光フィルタを有し、前記発光体の発光に応じて当
該各光フィルタを透過した光の有効波長に応じた複数の
輝度値を検出するためのセンサ手段、及び前記テスタコ
ントローラからも指示に応じて、前記センサ手段により
検出された複数の輝度値の比率を算出し、当該輝度値の
比率と予め用意された判定用閾値とから前記発光体の発
光色を判定するための自動テストルーチンを実行し、当
該判定結果を前記テスタコントローラに送出するセンサ
ユニットと、を具備したことを特徴とする発光体検査装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000397299A JP2002195882A (ja) | 2000-12-27 | 2000-12-27 | 発光体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000397299A JP2002195882A (ja) | 2000-12-27 | 2000-12-27 | 発光体検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002195882A true JP2002195882A (ja) | 2002-07-10 |
Family
ID=18862441
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000397299A Pending JP2002195882A (ja) | 2000-12-27 | 2000-12-27 | 発光体検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002195882A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009133735A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Otsuka Denshi Co Ltd | 光学特性測定装置 |
KR101215341B1 (ko) | 2010-04-01 | 2012-12-26 | 샤프 가부시키가이샤 | 발광 측정 장치, 발광 측정 방법, 및 가독 기록 매체 |
CN103954629A (zh) * | 2014-05-12 | 2014-07-30 | 重庆大学 | 封装led焊点质量检测装置和方法 |
CN109116143A (zh) * | 2018-07-23 | 2019-01-01 | 深圳市众凌汇科技有限公司 | 一种无线充电电子浮漂自动测试装置、***及方法 |
JP2019531583A (ja) * | 2016-12-08 | 2019-10-31 | イノヴァ セミコンダクトルズ ゲーエムベーハー | 個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置 |
-
2000
- 2000-12-27 JP JP2000397299A patent/JP2002195882A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009133735A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Otsuka Denshi Co Ltd | 光学特性測定装置 |
KR101215341B1 (ko) | 2010-04-01 | 2012-12-26 | 샤프 가부시키가이샤 | 발광 측정 장치, 발광 측정 방법, 및 가독 기록 매체 |
CN103954629A (zh) * | 2014-05-12 | 2014-07-30 | 重庆大学 | 封装led焊点质量检测装置和方法 |
JP2019531583A (ja) * | 2016-12-08 | 2019-10-31 | イノヴァ セミコンダクトルズ ゲーエムベーハー | 個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置 |
CN109116143A (zh) * | 2018-07-23 | 2019-01-01 | 深圳市众凌汇科技有限公司 | 一种无线充电电子浮漂自动测试装置、***及方法 |
CN109116143B (zh) * | 2018-07-23 | 2021-02-09 | 深圳市众凌汇科技有限公司 | 一种无线充电电子浮漂自动测试装置、***及方法 |
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