JP2002181934A - 計時装置、計時方法、及び測距装置 - Google Patents
計時装置、計時方法、及び測距装置Info
- Publication number
- JP2002181934A JP2002181934A JP2000382288A JP2000382288A JP2002181934A JP 2002181934 A JP2002181934 A JP 2002181934A JP 2000382288 A JP2000382288 A JP 2000382288A JP 2000382288 A JP2000382288 A JP 2000382288A JP 2002181934 A JP2002181934 A JP 2002181934A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- timing
- pulse signal
- reception timing
- clock pulse
- pulse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
- G01S17/14—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves wherein a voltage or current pulse is initiated and terminated in accordance with the pulse transmission and echo reception respectively, e.g. using counters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高周波数の発信器等を必要とせずにパルス信
号の受信タイミングをクロックパルスの発生間隔より短
い分解能にて計測する。 【解決手段】 レーザ測距装置１００は、パルス状のレ
ーザ光を繰り返し照射させるためのパルス発生回路１３
０、半導体レーザ１１２と、前記レーザ光を受光するた
めのフォトダイオード１２２、受信回路１５０を備え
る。制御回路１６０は、受光タイミングをクロックパル
スのカウント値に基づいて測定する。レーザ測距装置１
００は、前記クロックパルスに対するレーザ光の照射タ
イミングを所定間隔でシフトさせるシフト回路１４０を
備える。
号の受信タイミングをクロックパルスの発生間隔より短
い分解能にて計測する。 【解決手段】 レーザ測距装置１００は、パルス状のレ
ーザ光を繰り返し照射させるためのパルス発生回路１３
０、半導体レーザ１１２と、前記レーザ光を受光するた
めのフォトダイオード１２２、受信回路１５０を備え
る。制御回路１６０は、受光タイミングをクロックパル
スのカウント値に基づいて測定する。レーザ測距装置１
００は、前記クロックパルスに対するレーザ光の照射タ
イミングを所定間隔でシフトさせるシフト回路１４０を
備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、計時装置、計時方
法、及び測距装置に関し、特にパルス信号の受信タイミ
ングを計時する計時装置等に関する。
法、及び測距装置に関し、特にパルス信号の受信タイミ
ングを計時する計時装置等に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、所定のタイミングで発信され
たパルス信号の受信タイミングを、例えば、発信タイミ
ングを基準に計時する計時装置が知られている。そし
て、かかる計時装置を用いた測定装置として、例えば、
レーザ光を目的物に照射し、その反射光を受光して、目
的物までの距離を測定する測距装置が提案されている。
この測距装置では、レーザ光の発光タイミング（発信タ
イミング）から反射光の受光タイミング（受信タイミン
グ）までの時間差を、一定間隔で発生するクロックパル
スのカウント値で求め、斯く求めた時間差（カウント
値）と、パルス状のレーザ光の光速度とに基づいて、目
的物までの距離を求めるようになっている。
たパルス信号の受信タイミングを、例えば、発信タイミ
ングを基準に計時する計時装置が知られている。そし
て、かかる計時装置を用いた測定装置として、例えば、
レーザ光を目的物に照射し、その反射光を受光して、目
的物までの距離を測定する測距装置が提案されている。
この測距装置では、レーザ光の発光タイミング（発信タ
イミング）から反射光の受光タイミング（受信タイミン
グ）までの時間差を、一定間隔で発生するクロックパル
スのカウント値で求め、斯く求めた時間差（カウント
値）と、パルス状のレーザ光の光速度とに基づいて、目
的物までの距離を求めるようになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記距離装
置では、時間差の計測精度が、距離の計測精度にそのま
ま直結する。例えば、クロックパルスの周波数が８０Ｍ
Ｈｚの発振器が用いられていれば、クロック周期は１
２．５ｎｓｅｃであり、１クロックパルスの発生間隔に
相当する測距の分解能は、光速を考慮して約２ｍとな
る。
置では、時間差の計測精度が、距離の計測精度にそのま
ま直結する。例えば、クロックパルスの周波数が８０Ｍ
Ｈｚの発振器が用いられていれば、クロック周期は１
２．５ｎｓｅｃであり、１クロックパルスの発生間隔に
相当する測距の分解能は、光速を考慮して約２ｍとな
る。
【０００４】ここで、パルス状のレーザ光の発光タイミ
ングとその反射光の受光タイミングとの時間差は、クロ
ックパルス（サンプルクロック）のカウント値として求
められるため、距離計測の精度を高めるのであれば、よ
り周波数の高いクロックパルスの発振器を用いればよ
く、この場合、高速の信号処理が可能なＩＣ等も必要と
なる。例えば、３００ＭＨｚ程度の発振器を用いれば、
当該測距装置の分解能を５０ｃｍ程度まで上げられる。
ングとその反射光の受光タイミングとの時間差は、クロ
ックパルス（サンプルクロック）のカウント値として求
められるため、距離計測の精度を高めるのであれば、よ
り周波数の高いクロックパルスの発振器を用いればよ
く、この場合、高速の信号処理が可能なＩＣ等も必要と
なる。例えば、３００ＭＨｚ程度の発振器を用いれば、
当該測距装置の分解能を５０ｃｍ程度まで上げられる。
【０００５】しかし、発信器は、周波数が高いほど高価
であり、又、不要な電気的輻射が生じ易くなってこれが
誤動作を招くことがある。更に、高速処理が要求される
ＩＣは、動作時の発熱量が大きく、測距装置の小型化に
適さない。従って、低価格、小型化が要求される一般用
途の民生用測距装置等においては、その分解能を上げる
ことが困難であった。
であり、又、不要な電気的輻射が生じ易くなってこれが
誤動作を招くことがある。更に、高速処理が要求される
ＩＣは、動作時の発熱量が大きく、測距装置の小型化に
適さない。従って、低価格、小型化が要求される一般用
途の民生用測距装置等においては、その分解能を上げる
ことが困難であった。
【０００６】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
ので、高周波数の発信器等を必要とせずに、パルス信号
の受信タイミングを、クロックパルスの発生間隔より短
い分解能にて計測可能な計時装置、計時方法、及びこれ
を用いた測距装置を提供することを目的とする。
ので、高周波数の発信器等を必要とせずに、パルス信号
の受信タイミングを、クロックパルスの発生間隔より短
い分解能にて計測可能な計時装置、計時方法、及びこれ
を用いた測距装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１の計時装置は、パルス信号を繰り返し発信
させる発信部と、前記パルス信号を受信し前記パルス信
号の受信タイミングをクロックパルスのカウント値に基
づいて測定する受信部とを備える計時装置であって、前
記発信部が、前記クロックパルスに対する発信タイミン
グを所定間隔でシフトさせながら前記パルス信号を発信
させるものである。繰り返し発信されたパルス信号の発
信タイミングを、複数回、所定間隔でシフトさせながら
当該受信タイミングをクロックパルスに基づいてカウン
トして、複数のカウント値を得ることができる。
め、請求項１の計時装置は、パルス信号を繰り返し発信
させる発信部と、前記パルス信号を受信し前記パルス信
号の受信タイミングをクロックパルスのカウント値に基
づいて測定する受信部とを備える計時装置であって、前
記発信部が、前記クロックパルスに対する発信タイミン
グを所定間隔でシフトさせながら前記パルス信号を発信
させるものである。繰り返し発信されたパルス信号の発
信タイミングを、複数回、所定間隔でシフトさせながら
当該受信タイミングをクロックパルスに基づいてカウン
トして、複数のカウント値を得ることができる。
【０００８】又、請求項２の計時装置は、前記所定間隔
をクロックパルス周期よりも短い一定間隔とし、前記シ
フトの幅の最大値を前記クロックパルスの１周期以上と
したものである。又、請求項３の計時装置は、前記受信
部が、前記発信タイミングがシフトされる毎に得られる
前記カウント値の度数分布に応じて、前記受信タイミン
グを計数するものである。
をクロックパルス周期よりも短い一定間隔とし、前記シ
フトの幅の最大値を前記クロックパルスの１周期以上と
したものである。又、請求項３の計時装置は、前記受信
部が、前記発信タイミングがシフトされる毎に得られる
前記カウント値の度数分布に応じて、前記受信タイミン
グを計数するものである。
【０００９】又、請求項４の計時装置は、前記受信部
が、前記パルス信号を複数回シフトさせたときに得られ
る前記複数のカウント値をＴ(1)〜Ｔ(m)、各カウント値
の発生度数をＮ(1)〜Ｎ(m)としたときに、前記パルス信
号の受信タイミングｔを、 ｔ＝[Ｎ(1)×Ｔ(1)＋Ｎ(2)×Ｔ(2)＋…＋Ｎ(m)×Ｔ(m)]
／[Ｎ(1)＋Ｎ(+2)＋…Ｎ(m)] （但し、ｍ、Ｎは整数）に基づいて求めるものである。
が、前記パルス信号を複数回シフトさせたときに得られ
る前記複数のカウント値をＴ(1)〜Ｔ(m)、各カウント値
の発生度数をＮ(1)〜Ｎ(m)としたときに、前記パルス信
号の受信タイミングｔを、 ｔ＝[Ｎ(1)×Ｔ(1)＋Ｎ(2)×Ｔ(2)＋…＋Ｎ(m)×Ｔ(m)]
／[Ｎ(1)＋Ｎ(+2)＋…Ｎ(m)] （但し、ｍ、Ｎは整数）に基づいて求めるものである。
【００１０】又、請求項５の計時装置は、パルス信号を
繰り返し発信させる発信部と、前記パルス信号を受信
し、前記パルス信号の受信タイミングをクロックパルス
のカウント値に基づいて測定する受信部とを備える計時
装置であって、前記受信部が、受信タイミングを所定間
隔でシフトさせるものである。又、請求項６の計時方法
は、パルス信号を繰り返し発信させる手順と、前記パル
ス信号を受信し、前記パルス信号の受信タイミングをク
ロックパルスのカウント値に基づいて測定する手順と、
前記クロックパルスに対する発信タイミングを所定間隔
でシフトさせながら前記パルス信号を発信させる手順と
を含むものである。繰り返し発信されたパルス信号の発
信タイミングを、複数回、所定間隔でシフトさせながら
当該受信タイミングをクロックパルスに基づいてカウン
トして、複数のカウント値を得ることができる。
繰り返し発信させる発信部と、前記パルス信号を受信
し、前記パルス信号の受信タイミングをクロックパルス
のカウント値に基づいて測定する受信部とを備える計時
装置であって、前記受信部が、受信タイミングを所定間
隔でシフトさせるものである。又、請求項６の計時方法
は、パルス信号を繰り返し発信させる手順と、前記パル
ス信号を受信し、前記パルス信号の受信タイミングをク
ロックパルスのカウント値に基づいて測定する手順と、
前記クロックパルスに対する発信タイミングを所定間隔
でシフトさせながら前記パルス信号を発信させる手順と
を含むものである。繰り返し発信されたパルス信号の発
信タイミングを、複数回、所定間隔でシフトさせながら
当該受信タイミングをクロックパルスに基づいてカウン
トして、複数のカウント値を得ることができる。
【００１１】又、請求項７の測距装置は、前記発信部
が、前記パルス信号としてパルス状のレーザ光を発信
し、目的物に向かって照射する光源部を備え、前記受信
部が、前記目的物から反射された前記パルス状のレーザ
光を受光する受光部を備え、前記受信部が前記パルス状
のレーザ光の受信タイミングを測定するものである。
又、請求項８の測距装置は、請求項７に記載の計時装置
と、前記測定された受信タイミングと前記パルス状のレ
ーザ光の光速度に基づいて前記目的物までの距離を演算
する距離演算部とを備えるものである。
が、前記パルス信号としてパルス状のレーザ光を発信
し、目的物に向かって照射する光源部を備え、前記受信
部が、前記目的物から反射された前記パルス状のレーザ
光を受光する受光部を備え、前記受信部が前記パルス状
のレーザ光の受信タイミングを測定するものである。
又、請求項８の測距装置は、請求項７に記載の計時装置
と、前記測定された受信タイミングと前記パルス状のレ
ーザ光の光速度に基づいて前記目的物までの距離を演算
する距離演算部とを備えるものである。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１から図９を用いて説明する。図１は、本発明が
適用されるレーザ測距装置１００の斜視図、図２は、そ
の内部構成を示すブロック図である。レーザ測距装置１
００は、図１に示すように、その上面にパワー及び測距
開始ボタン１０１、モード変更ボタン１０２が設けられ
ている。又、その前面にレーザ照射窓１０３、レーザ受
光窓１０４が設けられ、その背面にはファインダ窓（図
示省略）が設けられている。
て、図１から図９を用いて説明する。図１は、本発明が
適用されるレーザ測距装置１００の斜視図、図２は、そ
の内部構成を示すブロック図である。レーザ測距装置１
００は、図１に示すように、その上面にパワー及び測距
開始ボタン１０１、モード変更ボタン１０２が設けられ
ている。又、その前面にレーザ照射窓１０３、レーザ受
光窓１０４が設けられ、その背面にはファインダ窓（図
示省略）が設けられている。
【００１３】レーザ測距装置１００の内部には、レーザ
照射窓１０３側にコリメートレンズ１１１が、レーザ受
光窓１０４側に集光レンズ１２１が配置されている。
又、レーザ測距装置１００の内部には、図２に示すよう
に、コリメートレンズ１１１側に、半導体レーザ（発光
素子）１１２、パルス発生回路１３０、シフト回路１４
０が配置されている。又、集光レンズ１２１側に、フォ
トダイオード（受光素子）１２２、受信回路１５０が配
置されている。
照射窓１０３側にコリメートレンズ１１１が、レーザ受
光窓１０４側に集光レンズ１２１が配置されている。
又、レーザ測距装置１００の内部には、図２に示すよう
に、コリメートレンズ１１１側に、半導体レーザ（発光
素子）１１２、パルス発生回路１３０、シフト回路１４
０が配置されている。又、集光レンズ１２１側に、フォ
トダイオード（受光素子）１２２、受信回路１５０が配
置されている。
【００１４】制御回路１６０は、上記したパルス発生回
路１３０から出力される発光開始信号を、シフト回路１
４０を用いて所定のシフト値だけ遅延させて、半導体レ
ーザ１１２から所定のタイミング（発光タイミング）で
レーザ光を照射させる。一方で、制御回路１６０は、目
的物１で反射したレーザ光の受光タイミング（受信タイ
ミング）を受信回路１５０からの信号に基づいて検知す
る。
路１３０から出力される発光開始信号を、シフト回路１
４０を用いて所定のシフト値だけ遅延させて、半導体レ
ーザ１１２から所定のタイミング（発光タイミング）で
レーザ光を照射させる。一方で、制御回路１６０は、目
的物１で反射したレーザ光の受光タイミング（受信タイ
ミング）を受信回路１５０からの信号に基づいて検知す
る。
【００１５】制御回路１６０は、発光タイミング（発信
タイミング）と受光タイミング（受信タイミング）との
時間差（図２（ｂ）のｔ）を、クロックパルス（図５参
照）をカウントすることによって検出する。そして、制
御回路１６０は、この計数した時間差ｔと、レーザ光の
速度とに基づいて、レーザ測距装置１００から目的物１
までの距離Ｌを算出する（距離演算部としての機能）。
制御回路１６０はこの算出結果を、ファインダ内の液晶
表示部１７０にて表示する。
タイミング）と受光タイミング（受信タイミング）との
時間差（図２（ｂ）のｔ）を、クロックパルス（図５参
照）をカウントすることによって検出する。そして、制
御回路１６０は、この計数した時間差ｔと、レーザ光の
速度とに基づいて、レーザ測距装置１００から目的物１
までの距離Ｌを算出する（距離演算部としての機能）。
制御回路１６０はこの算出結果を、ファインダ内の液晶
表示部１７０にて表示する。
【００１６】ところで、時間差ｔの検出は、パルス状の
レーザ光を繰り返し発生させ、各々のレーザ光の発生毎
に繰り返し行われる。そして、複数回求められた時間差
ｔを統計処理して、１つの値（時間差）を求める。これ
は、突発的なノイズ等の影響により時間差が不正確に求
められることを防ぐためであり、時間差測定の信頼性の
向上のためである。そして、この実施の形態では、パル
ス状のレーザ光を複数回繰り返し発光する際に、その発
光タイミング（発信タイミング）を、これをカウントす
るためのクロックパルスに対して所定のシフト値Ｓだけ
ずらすようにしている。尚、この実施の形態では、コリ
メートレンズ１１１、半導体レーザ１１２、パルス発生
回路１３０、シフト回路１４０、制御回路１６０によっ
て発信部が構成され、このうちコリメートレンズ１１
１、半導体レーザ１１２によって光源部が構成されてい
る。又、集光レンズ１２１、フォトダイオード１２２、
受信回路１５０、制御回路１６０によって受信部が構成
され、このうち集光レンズ１２１、フォトダイオード１
２２によって受光部が構成されている。
レーザ光を繰り返し発生させ、各々のレーザ光の発生毎
に繰り返し行われる。そして、複数回求められた時間差
ｔを統計処理して、１つの値（時間差）を求める。これ
は、突発的なノイズ等の影響により時間差が不正確に求
められることを防ぐためであり、時間差測定の信頼性の
向上のためである。そして、この実施の形態では、パル
ス状のレーザ光を複数回繰り返し発光する際に、その発
光タイミング（発信タイミング）を、これをカウントす
るためのクロックパルスに対して所定のシフト値Ｓだけ
ずらすようにしている。尚、この実施の形態では、コリ
メートレンズ１１１、半導体レーザ１１２、パルス発生
回路１３０、シフト回路１４０、制御回路１６０によっ
て発信部が構成され、このうちコリメートレンズ１１
１、半導体レーザ１１２によって光源部が構成されてい
る。又、集光レンズ１２１、フォトダイオード１２２、
受信回路１５０、制御回路１６０によって受信部が構成
され、このうち集光レンズ１２１、フォトダイオード１
２２によって受光部が構成されている。
【００１７】このレーザ測距装置１００では、レーザ光
の発光タイミングがシフト回路１４０の働きによって、
シフト値Ｓだけずらされる。この発光タイミングのシフ
トは複数回行われるが、各シフト値Ｓの差分ΔＳは、ク
ロックパルス周期Ｔｘよりも短い。又、シフト値Ｓの最
大値Ｓｘは、クロックパルス周期Ｔｘ以上である（図５
参照）。
の発光タイミングがシフト回路１４０の働きによって、
シフト値Ｓだけずらされる。この発光タイミングのシフ
トは複数回行われるが、各シフト値Ｓの差分ΔＳは、ク
ロックパルス周期Ｔｘよりも短い。又、シフト値Ｓの最
大値Ｓｘは、クロックパルス周期Ｔｘ以上である（図５
参照）。
【００１８】ここで、シフト回路１４０は、図３に示す
ように、アナログスイッチ１４１、コンパレータ１４
２、コンデンサ１４３等によって構成されている。そし
て、アナログスイッチ１４１にはパルス発生回路１３０
からの信号（発光開始信号）が入力され、この信号によ
ってアナログスイッチ１４１がオンしたときに定電流源
から電流Ｉｃが流れる。このコンパレータ１４２の他方
の端子には、シフト値Ｓを設定するための設定電圧Ｖｃ
が印加されている。
ように、アナログスイッチ１４１、コンパレータ１４
２、コンデンサ１４３等によって構成されている。そし
て、アナログスイッチ１４１にはパルス発生回路１３０
からの信号（発光開始信号）が入力され、この信号によ
ってアナログスイッチ１４１がオンしたときに定電流源
から電流Ｉｃが流れる。このコンパレータ１４２の他方
の端子には、シフト値Ｓを設定するための設定電圧Ｖｃ
が印加されている。
【００１９】図４は、このシフト回路１４０によって発
光タイミングを遅延させたときのタイミングチャートで
ある。この図に示すように、アナログスイッチ１４１
が、発光開始信号により、図４（ａ）に示すようにオン
したときに電流Ｉｃが流れることによって、コンパレー
タ１４２の一方の電圧Ｖ１が図４（ｂ）に示すように徐
々に大きくなる。そして、Ｖ１が閾値Ｖｃを超えた時点
で、コンパレータ１４２の出力がハイレベルになる。こ
のハイレベルの出力が発生するまでの時間ｔｄがシフト
値Ｓとなる。ここで、シフト値Ｓ（時間ｔｄ）は以下の
ように表される。
光タイミングを遅延させたときのタイミングチャートで
ある。この図に示すように、アナログスイッチ１４１
が、発光開始信号により、図４（ａ）に示すようにオン
したときに電流Ｉｃが流れることによって、コンパレー
タ１４２の一方の電圧Ｖ１が図４（ｂ）に示すように徐
々に大きくなる。そして、Ｖ１が閾値Ｖｃを超えた時点
で、コンパレータ１４２の出力がハイレベルになる。こ
のハイレベルの出力が発生するまでの時間ｔｄがシフト
値Ｓとなる。ここで、シフト値Ｓ（時間ｔｄ）は以下の
ように表される。
【００２０】 ｔｄ＝Ｃ×Ｖｃ／Ｉｃ （Ｃは、コンデンサの容量） …（１） このようにシフト回路１４０によって、シフト値設定電
圧Ｖｃに応じて、半導体レーザ１１２の発光タイミング
（発信タイミング）が、所定時間ｔｄ（Ｓ）遅延され
る。図５に、発光タイミングを、クロックパルス周期Ｔ
ｘ内で、互いに異なるシフト値Ｓ（Ｓ1，Ｓ2…Ｓｘ）で
変化させたときの、当該発光タイミングと、このとき目
的物１で反射したレーザ光の受光タイミングと、クロッ
クパルスとの関係の一例を示す。
圧Ｖｃに応じて、半導体レーザ１１２の発光タイミング
（発信タイミング）が、所定時間ｔｄ（Ｓ）遅延され
る。図５に、発光タイミングを、クロックパルス周期Ｔ
ｘ内で、互いに異なるシフト値Ｓ（Ｓ1，Ｓ2…Ｓｘ）で
変化させたときの、当該発光タイミングと、このとき目
的物１で反射したレーザ光の受光タイミングと、クロッ
クパルスとの関係の一例を示す。
【００２１】このとき得られたクロックパルス（図で
は、各クロックパルスが経過時間Ｔ1〜Ｔmで示されてい
る）のカウント値の発生度数をＮ(1)〜Ｎ(m)としたとき
に、レーザ光の受信タイミングｔは、以下の式で求めら
れる。 ｔ＝[Ｎ1×Ｔ1＋Ｎ2×Ｔ2＋…＋Ｎm×Ｔm]／[Ｎ1＋Ｎ2＋…Ｎm] …（２） （但し、ｍ、Ｎは整数） ここで、図５に示すように、発光タイミング（発信タイ
ミング）を、クロックパルス周期Ｔｘより若干長い期間
Ｓｘ内で、１０回シフトさせた場合を考える。
は、各クロックパルスが経過時間Ｔ1〜Ｔmで示されてい
る）のカウント値の発生度数をＮ(1)〜Ｎ(m)としたとき
に、レーザ光の受信タイミングｔは、以下の式で求めら
れる。 ｔ＝[Ｎ1×Ｔ1＋Ｎ2×Ｔ2＋…＋Ｎm×Ｔm]／[Ｎ1＋Ｎ2＋…Ｎm] …（２） （但し、ｍ、Ｎは整数） ここで、図５に示すように、発光タイミング（発信タイ
ミング）を、クロックパルス周期Ｔｘより若干長い期間
Ｓｘ内で、１０回シフトさせた場合を考える。
【００２２】このとき何パルス目で反射光が検知される
か（受光タイミング）は、レーザ測距装置１００から目
的物１までの距離Ｌによって異なる。今、パルス発生回
路１３０の発信器（図示省略）の周波数が８０ＭＨｚ
（周期１２．５ｎｓｅｃ）でレーザ測距装置１００の分
解能が２ｍ、レーザ測距装置１００から目的物１までの
距離Ｌが５００ｍの場合を考える（図５、図６）。
か（受光タイミング）は、レーザ測距装置１００から目
的物１までの距離Ｌによって異なる。今、パルス発生回
路１３０の発信器（図示省略）の周波数が８０ＭＨｚ
（周期１２．５ｎｓｅｃ）でレーザ測距装置１００の分
解能が２ｍ、レーザ測距装置１００から目的物１までの
距離Ｌが５００ｍの場合を考える（図５、図６）。
【００２３】このとき半導体レーザ１１２の発光タイミ
ングを期間Ｓｘ内で１０回シフトさせる。又、シフト値
Ｓ（Ｓ1，Ｓ2…Ｓｘ）は互いに一定時間（差分ΔＳ）だ
けずれているとする。このとき、仮にＮ−１番目のクロ
ックパルス（Ｔn-1）で１回、Ｎ＋１番目のクロックパ
ルス（Ｔｎ）で８回、Ｎ＋１番目のクロックパルス（Ｔ
n+1）で１回という具合にカウントされたとすると（図
６（ａ））、このとき得られるヒストグラムは図６
（ｂ）に示すようになる。この測定結果を、上記した式
（２）に当てはめることで、受信タイミングが算出さ
れ、これよりレーザ測距装置１００から目的物１までの
距離Ｌ１（ここでは５００ｍ）が算出される。
ングを期間Ｓｘ内で１０回シフトさせる。又、シフト値
Ｓ（Ｓ1，Ｓ2…Ｓｘ）は互いに一定時間（差分ΔＳ）だ
けずれているとする。このとき、仮にＮ−１番目のクロ
ックパルス（Ｔn-1）で１回、Ｎ＋１番目のクロックパ
ルス（Ｔｎ）で８回、Ｎ＋１番目のクロックパルス（Ｔ
n+1）で１回という具合にカウントされたとすると（図
６（ａ））、このとき得られるヒストグラムは図６
（ｂ）に示すようになる。この測定結果を、上記した式
（２）に当てはめることで、受信タイミングが算出さ
れ、これよりレーザ測距装置１００から目的物１までの
距離Ｌ１（ここでは５００ｍ）が算出される。
【００２４】又、レーザ測距装置１００から目的物１ま
での距離Ｌが、上記した距離Ｌ１（５００ｍ）より、丁
度、１分解能（２ｍ）分ずれている場合（距離Ｌ２＝５
０２ｍ）には、１０回のシフトで１０回発生したレーザ
光の受光タイミングは、図７（ａ）に示すようになり、
クロックパルス（Ｔn）で１回、クロックパルス（Ｔn+
1）で８回、クロックパルス（Ｔn+2）で１回カウントさ
れる。このとき得られるヒストグラムを図７（ｂ）に示
す。この測定結果を、上記した式（２）に当てはめる
と、受信タイミングの算出を経てレーザ測距装置１００
から目的物１までの距離Ｌ１（ここでは５０２ｍ）が算
出される。
での距離Ｌが、上記した距離Ｌ１（５００ｍ）より、丁
度、１分解能（２ｍ）分ずれている場合（距離Ｌ２＝５
０２ｍ）には、１０回のシフトで１０回発生したレーザ
光の受光タイミングは、図７（ａ）に示すようになり、
クロックパルス（Ｔn）で１回、クロックパルス（Ｔn+
1）で８回、クロックパルス（Ｔn+2）で１回カウントさ
れる。このとき得られるヒストグラムを図７（ｂ）に示
す。この測定結果を、上記した式（２）に当てはめる
と、受信タイミングの算出を経てレーザ測距装置１００
から目的物１までの距離Ｌ１（ここでは５０２ｍ）が算
出される。
【００２５】このように、目的物１までの距離Ｌが分解
能（例えば、２ｍ）の整数倍であれば（例えば、５００
ｍ、５０２ｍ…）、ヒストグラムは、クロックパルスが
１つ宛ずれるもののヒストグラムの形状は、略同じにな
る。これに対して、レーザ測距装置１００から目的物１
までの距離Ｌが、上記した距離Ｌ１、Ｌ２との間（例え
ば、Ｌ３＝５０１ｍ）のときには、形状の異なるヒスト
グラム（図８（ｂ））が得られる。
能（例えば、２ｍ）の整数倍であれば（例えば、５００
ｍ、５０２ｍ…）、ヒストグラムは、クロックパルスが
１つ宛ずれるもののヒストグラムの形状は、略同じにな
る。これに対して、レーザ測距装置１００から目的物１
までの距離Ｌが、上記した距離Ｌ１、Ｌ２との間（例え
ば、Ｌ３＝５０１ｍ）のときには、形状の異なるヒスト
グラム（図８（ｂ））が得られる。
【００２６】すなわち、図８（ａ）に示すように、レー
ザ測距装置１００から目的物１までの距離Ｌ３が５０１
ｍであれば、レーザ測距装置１００の分解能が２ｍであ
るから、カウント値は、５００ｍか５０２ｍの何れかを
表す値（Ｔｎ又はＴn+1）となる。ここで、発光タイミ
ングが１０回シフトされて、レーザ光が照射されるた
め、受光タイミングを示す期間は、５００ｍに相当する
クロックパルス（Ｔn）、５０２ｍに相当するクロック
パルス（Ｔn+1）でカウントされる。
ザ測距装置１００から目的物１までの距離Ｌ３が５０１
ｍであれば、レーザ測距装置１００の分解能が２ｍであ
るから、カウント値は、５００ｍか５０２ｍの何れかを
表す値（Ｔｎ又はＴn+1）となる。ここで、発光タイミ
ングが１０回シフトされて、レーザ光が照射されるた
め、受光タイミングを示す期間は、５００ｍに相当する
クロックパルス（Ｔn）、５０２ｍに相当するクロック
パルス（Ｔn+1）でカウントされる。
【００２７】図８の例では、距離Ｌが、Ｌ１（５００
ｍ）とＬ２（５０２）の丁度真中の距離Ｌ３（５０１
ｍ）であるから、１０回シフトされて照射されたレーザ
光の受光タイミングは、クロックパルスＴnで５回、ク
ロックパルスＴn+1で５回カウントされる（図８（ｂ）
のヒストグラム）。このように得られたカウント値を上
記した式（２）に当てはめることで、受信タイミングの
算出を経てＬ３の値（５０１ｍ）を求めることができ
る。
ｍ）とＬ２（５０２）の丁度真中の距離Ｌ３（５０１
ｍ）であるから、１０回シフトされて照射されたレーザ
光の受光タイミングは、クロックパルスＴnで５回、ク
ロックパルスＴn+1で５回カウントされる（図８（ｂ）
のヒストグラム）。このように得られたカウント値を上
記した式（２）に当てはめることで、受信タイミングの
算出を経てＬ３の値（５０１ｍ）を求めることができ
る。
【００２８】尚、レーザ測距装置１００から目的物１ま
での距離Ｌ３が５０１ｍのときには、Ｌ１（５００ｍ）
とＬ２（５０２ｍ）との丁度真中であるから、発生度数
が図８（ｂ）に示すように、５回ずつに分かれている
が、距離Ｌ１（５００ｍ）、Ｌ２（５０２ｍ）との何れ
かに近ければ、その分、クロックパルスＴnとクロック
パルスＴn+1でのカウント数（発生度数の分布）が偏
る。
での距離Ｌ３が５０１ｍのときには、Ｌ１（５００ｍ）
とＬ２（５０２ｍ）との丁度真中であるから、発生度数
が図８（ｂ）に示すように、５回ずつに分かれている
が、距離Ｌ１（５００ｍ）、Ｌ２（５０２ｍ）との何れ
かに近ければ、その分、クロックパルスＴnとクロック
パルスＴn+1でのカウント数（発生度数の分布）が偏
る。
【００２９】この場合にも得られたカウント値を上記し
た式（２）に代入することで、Ｌ１（５００ｍ）とＬ２
（５０２ｍ）との間の点で距離を、従来の分解能（２
ｍ）より細かな分解能で得ることができる。尚、上記し
た例では、シフト値Ｓの差分が一定（ΔＳ）である場合
を例にあげて説明したが、シフト値が予め分かっていれ
ば、式（２）とは異なる、これらの変化する差分を有す
るシフト値に対応する算出式を用いることにより、演算
によって距離Ｌを精細に求めることができる。
た式（２）に代入することで、Ｌ１（５００ｍ）とＬ２
（５０２ｍ）との間の点で距離を、従来の分解能（２
ｍ）より細かな分解能で得ることができる。尚、上記し
た例では、シフト値Ｓの差分が一定（ΔＳ）である場合
を例にあげて説明したが、シフト値が予め分かっていれ
ば、式（２）とは異なる、これらの変化する差分を有す
るシフト値に対応する算出式を用いることにより、演算
によって距離Ｌを精細に求めることができる。
【００３０】又、レーザ測距装置１００による測距の精
度を高めるのであれば、シフトの回数を増やし、シフト
値の差分ΔＳを短くすればよい。このように、半導体レ
ーザ１１２の発光タイミング（発信タイミング）をシフ
トさせて受光タイミングを高精度に求めることで、レー
ザ測距装置１００の測距の精度が向上する。このとき、
発光タイミングをも同様の手法によって高精度に求めれ
ば、更に測距の精度が向上する。
度を高めるのであれば、シフトの回数を増やし、シフト
値の差分ΔＳを短くすればよい。このように、半導体レ
ーザ１１２の発光タイミング（発信タイミング）をシフ
トさせて受光タイミングを高精度に求めることで、レー
ザ測距装置１００の測距の精度が向上する。このとき、
発光タイミングをも同様の手法によって高精度に求めれ
ば、更に測距の精度が向上する。
【００３１】又、発光タイミングを求めるに当たって、
半導体レーザ１１２の発光をセンサ１１９（図２中、破
線で示す）で直接検出し、発光タイミングを実際に検出
した時点より、受光タイミングのカウントを始めること
で、測定精度を高めることができる。図９は、上記した
測距を行うために制御回路１６０内のＣＰＵ（図示省
略）で実行される測距プログラムを示すフローチャート
である。
半導体レーザ１１２の発光をセンサ１１９（図２中、破
線で示す）で直接検出し、発光タイミングを実際に検出
した時点より、受光タイミングのカウントを始めること
で、測定精度を高めることができる。図９は、上記した
測距を行うために制御回路１６０内のＣＰＵ（図示省
略）で実行される測距プログラムを示すフローチャート
である。
【００３２】レーザ測距装置１００に設けられたパワー
及び測定開始ボタン１０１が押圧され電源が投下される
と、先ず、ステップＳ１でクロックパルスのカウントが
開始され、続くステップＳ２で半導体レーザ１１２の発
光処理が行われる。ここではシフト回路１４０によって
発光タイミングが、上記した一定のシフト値だけシフト
される。
及び測定開始ボタン１０１が押圧され電源が投下される
と、先ず、ステップＳ１でクロックパルスのカウントが
開始され、続くステップＳ２で半導体レーザ１１２の発
光処理が行われる。ここではシフト回路１４０によって
発光タイミングが、上記した一定のシフト値だけシフト
される。
【００３３】次のステップＳ３では、フォトダイオード
１２２が、目的物１で反射されたレーザ光を検知したか
否かが判別される。この判別結果が“Ｎｏ”であるうち
はクロックパルスのカウントが継続され、判別結果が
“Ｙｅｓ”に転じると、ステップＳ４でこの時点でのク
ロックパルスのカウント値が取り込まれる。次のステッ
プＳ５では、今回取り込まれたカウント値を用いたヒス
トグラムの更新が行われ、続くステップＳ６で、ｎ回
（例えば、１０回）の検出が行われたか否かが判別され
る。
１２２が、目的物１で反射されたレーザ光を検知したか
否かが判別される。この判別結果が“Ｎｏ”であるうち
はクロックパルスのカウントが継続され、判別結果が
“Ｙｅｓ”に転じると、ステップＳ４でこの時点でのク
ロックパルスのカウント値が取り込まれる。次のステッ
プＳ５では、今回取り込まれたカウント値を用いたヒス
トグラムの更新が行われ、続くステップＳ６で、ｎ回
（例えば、１０回）の検出が行われたか否かが判別され
る。
【００３４】このステップＳ６の判別結果が“Ｎｏ”で
あるうちは、上記したステップＳ１〜ステップＳ５が繰
り返し実行される。そして、ステップＳ６の判別結果が
“Ｙｅｓ”に転じたとき、ステップＳ７に進み、この時
点までに得られたヒストグラムに基づいて、レーザ測距
装置１００から目的物１までの距離Ｌの演算が行われ
る。
あるうちは、上記したステップＳ１〜ステップＳ５が繰
り返し実行される。そして、ステップＳ６の判別結果が
“Ｙｅｓ”に転じたとき、ステップＳ７に進み、この時
点までに得られたヒストグラムに基づいて、レーザ測距
装置１００から目的物１までの距離Ｌの演算が行われ
る。
【００３５】尚、発信タイミングをシフトさせのではな
く、例えば、図１０に示すように受信タイミングを、シ
フト回路１４０と略同一の遅延回路によってシフトさせ
て（図１０のＳ１〜Ｓｘ）カウント用の信号を発生させ
てもよい。又、上記した実施の形態では、レーザ測距装
置１００において、半導体レーザ１１２の受光タイミン
グを計数する例をあげて説明したが、他の発光素子（例
えば、ＬＥＤ）を用いた測定機器にも本発明は適用可能
である。
く、例えば、図１０に示すように受信タイミングを、シ
フト回路１４０と略同一の遅延回路によってシフトさせ
て（図１０のＳ１〜Ｓｘ）カウント用の信号を発生させ
てもよい。又、上記した実施の形態では、レーザ測距装
置１００において、半導体レーザ１１２の受光タイミン
グを計数する例をあげて説明したが、他の発光素子（例
えば、ＬＥＤ）を用いた測定機器にも本発明は適用可能
である。
【００３６】以上の説明では、クロックパルスに対する
発信タイミングをシフトさせながらパルス信号を発信さ
せる例を説明したが、これの代わりに、パルス信号に対
するクロックパルスの発信タイミングをシフトさせる場
合も考え方は全く等価であり、本発明の範囲に入る。
発信タイミングをシフトさせながらパルス信号を発信さ
せる例を説明したが、これの代わりに、パルス信号に対
するクロックパルスの発信タイミングをシフトさせる場
合も考え方は全く等価であり、本発明の範囲に入る。
【００３７】更に又、以上の説明では、説明の簡単のた
めに、ひとつのシフト値に対してレーザ光を１回測定す
る場合を説明した。ひとつのシフト値に対して複数のレ
ーザ光を測定する場合も、シフト値を最大シフト値まで
変化させながら受信タイミングを測定するサイクルを複
数繰り返してもよい。以上のように、本発明は、以上の
説明の範囲に限定されるものでなく、本発明の精神の全
ての範囲に及ぶ。
めに、ひとつのシフト値に対してレーザ光を１回測定す
る場合を説明した。ひとつのシフト値に対して複数のレ
ーザ光を測定する場合も、シフト値を最大シフト値まで
変化させながら受信タイミングを測定するサイクルを複
数繰り返してもよい。以上のように、本発明は、以上の
説明の範囲に限定されるものでなく、本発明の精神の全
ての範囲に及ぶ。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１の計時装
置又は請求項６の計時方法によれば、クロックパルスに
対する発信タイミングを所定間隔でシフトさせながらパ
ルス信号が発信されるので、例えば、繰り返し発信され
たパルス信号の発信タイミングを、複数回、所定間隔で
シフトさせながら当該受信タイミングをクロックパルス
に基づいてカウントし、得られた複数のカウント値を統
計処理にて演算することで、クロックパルスの発生間隔
より短い間隔で、当該受信タイミングを計数することが
できる。
置又は請求項６の計時方法によれば、クロックパルスに
対する発信タイミングを所定間隔でシフトさせながらパ
ルス信号が発信されるので、例えば、繰り返し発信され
たパルス信号の発信タイミングを、複数回、所定間隔で
シフトさせながら当該受信タイミングをクロックパルス
に基づいてカウントし、得られた複数のカウント値を統
計処理にて演算することで、クロックパルスの発生間隔
より短い間隔で、当該受信タイミングを計数することが
できる。
【００３９】又、請求項２の計時装置によれば、パルス
信号が、クロックパルス周期よりも短い一定間隔でシフ
トされ、その最大値がクロックパルスの１周期以上であ
るので、受信タイミングを複数回求め、これを統計処理
する際の適正なサンプリングが可能になる。又、請求項
３、請求項４の計時装置によれば、受信部が、発信タイ
ミングがシフトされる毎に得られるクロックパルスのカ
ウント値の度数分布に応じて、受信タイミングを計数す
るので、簡易な統計処理が可能になる。
信号が、クロックパルス周期よりも短い一定間隔でシフ
トされ、その最大値がクロックパルスの１周期以上であ
るので、受信タイミングを複数回求め、これを統計処理
する際の適正なサンプリングが可能になる。又、請求項
３、請求項４の計時装置によれば、受信部が、発信タイ
ミングがシフトされる毎に得られるクロックパルスのカ
ウント値の度数分布に応じて、受信タイミングを計数す
るので、簡易な統計処理が可能になる。
【００４０】又、請求項５の計時装置によれば、受信タ
イミングが所定間隔でシフトされるので、例えば、繰り
返し発信されたパルス信号のシフトされた受信タイミン
グをクロックパルスに基づいてカウントし、得られた複
数のカウント値を統計処理にて演算することで、クロッ
クパルスの発生間隔より短い間隔で、当該受信タイミン
グを計数することができる。
イミングが所定間隔でシフトされるので、例えば、繰り
返し発信されたパルス信号のシフトされた受信タイミン
グをクロックパルスに基づいてカウントし、得られた複
数のカウント値を統計処理にて演算することで、クロッ
クパルスの発生間隔より短い間隔で、当該受信タイミン
グを計数することができる。
【００４１】又、請求項７、請求項８の測距装置によれ
ば、パルス状のレーザ光の発光タイミングと受光タイミ
ングとの時間差を高精度に計数できるので、目的物まで
の距離測定の分解能が高まり、又、その測距精度も向上
する。
ば、パルス状のレーザ光の発光タイミングと受光タイミ
ングとの時間差を高精度に計数できるので、目的物まで
の距離測定の分解能が高まり、又、その測距精度も向上
する。
【図１】本発明が適用されたレーザ測距装置１００の斜
視図である。
視図である。
【図２】レーザ測距装置１００の内部構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図３】シフト回路１４０の構成を示す回路図である。
【図４】シフト回路１４０による発光タイミング（発信
タイミング）のシフト値を説明するためのタイミングチ
ャートである。
タイミング）のシフト値を説明するためのタイミングチ
ャートである。
【図５】目的物１までの距離Ｌを求める際の受光タイミ
ングの測定の様子を示すタイミングチャートである。
ングの測定の様子を示すタイミングチャートである。
【図６】目的物１までの距離Ｌ１が５００ｍのときの受
光タイミングの測定の様子を示すタイミングチャートで
ある。
光タイミングの測定の様子を示すタイミングチャートで
ある。
【図７】目的物１までの距離Ｌ２が５０２ｍのときの受
光タイミングの測定の様子を示すタイミングチャートで
ある。
光タイミングの測定の様子を示すタイミングチャートで
ある。
【図８】目的物１までの距離Ｌ３が５０１ｍのときの受
光タイミングの測定の様子を示すタイミングチャートで
ある。
光タイミングの測定の様子を示すタイミングチャートで
ある。
【図９】測距プログラムを示すフローチャートである。
【図１０】目的物１までの距離Ｌを受信タイミングをシ
フトさせながら求める際の測定の様子を示すタイミング
チャートである。
フトさせながら求める際の測定の様子を示すタイミング
チャートである。
１ 目的物 １００ レーザ測距装置 １１１ コリメートレンズ １１２ 半導体レーザ １２１ 集光レンズ １２２ フォトダイオード １４０ シフト回路 １５０ 受信回路 １６０ 制御回路 １７０ 液晶表示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F085 AA06 CC10 EE01 FF04 FF06 GG18 GG19 GG24 GG25 GG27 2F112 AD01 BA06 CA06 EA11 EA20 FA03 FA12 FA14 FA41 FA45 GA05 5J084 AA05 AC08 AD01 BA04 BA36 BB02 BB04 CA03 CA12 CA19 CA31 CA32 CA34 CA69 DA01 DA08 EA04
Claims (8)
- 【請求項１】 パルス信号を繰り返し発信させる発信部
と、 前記パルス信号を受信し、前記パルス信号の受信タイミ
ングをクロックパルスのカウント値に基づいて測定する
受信部とを備える計時装置であって、 前記発信部が、前記クロックパルスに対する発信タイミ
ングを所定間隔でシフトさせながら前記パルス信号を発
信させることを特徴とする計時装置。 - 【請求項２】 前記所定間隔がクロックパルス周期より
も短い一定間隔であり、前記シフトの幅の最大値が前記
クロックパルスの１周期以上であることを特徴とする請
求項１に記載の計時装置。 - 【請求項３】 前記受信部は、前記発信タイミングがシ
フトされる毎に得られる前記カウント値の度数分布に応
じて、前記受信タイミングを計数することを特徴とする
請求項２に記載の計時装置。 - 【請求項４】 前記受信部は、前記パルス信号を複数回
シフトさせたときに得られる前記複数のカウント値をＴ
(1)〜Ｔ(m)、各カウント値の発生度数をＮ(1)〜Ｎ(m)と
したときに、前記パルス信号の受信タイミングｔを、 ｔ＝[Ｎ(1)×Ｔ(1)＋Ｎ(2)×Ｔ(2)＋…＋Ｎ(m)×Ｔ(m)]
／[Ｎ(1)＋Ｎ(+2)＋…Ｎ(m)] （但し、ｍ、Ｎは整数）に基づいて求めることを特徴と
する請求項３に記載の計時装置。 - 【請求項５】 パルス信号を繰り返し発信させる発信部
と、 前記パルス信号を受信し、前記パルス信号の受信タイミ
ングをクロックパルスのカウント値に基づいて測定する
受信部とを備える計時装置であって、 前記受信部が、受信タイミングを所定間隔でシフトさせ
ることを特徴とする計時装置。 - 【請求項６】 パルス信号を繰り返し発信させる手順
と、 前記パルス信号を受信し、前記パルス信号の受信タイミ
ングをクロックパルスのカウント値に基づいて測定する
手順と、 前記クロックパルスに対する発信タイミングを所定間隔
でシフトさせながら前記パルス信号を発信させる手順と
を含むことを特徴とする計時方法。 - 【請求項７】 前記発信部が、前記パルス信号としてパ
ルス状のレーザ光を発信し、目的物に向かって照射する
光源部を備え、 前記受信部が、前記目的物から反射された前記パルス状
のレーザ光を受光する受光部を備え、 前記受信部が、前記パルス状のレーザ光の受信タイミン
グを測定することを特徴とする請求項１から請求項５の
何れか１項に記載の計時装置。 - 【請求項８】 請求項７に記載の計時装置と、 前記測定された受信タイミングと前記パルス状のレーザ
光の光速度に基づいて前記目的物までの距離を演算する
距離演算部とを備えることを特徴とする測距装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000382288A JP2002181934A (ja) | 2000-12-15 | 2000-12-15 | 計時装置、計時方法、及び測距装置 |
| PCT/JP2001/010844 WO2002048738A1 (fr) | 2000-12-15 | 2001-12-11 | Appareil d'horloge, procede d'horloge et telemetre |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000382288A JP2002181934A (ja) | 2000-12-15 | 2000-12-15 | 計時装置、計時方法、及び測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002181934A true JP2002181934A (ja) | 2002-06-26 |
Family
ID=18850142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000382288A Pending JP2002181934A (ja) | 2000-12-15 | 2000-12-15 | 計時装置、計時方法、及び測距装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002181934A (ja) |
| WO (1) | WO2002048738A1 (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002328170A (ja) * | 2001-05-01 | 2002-11-15 | Nikon Corp | 遅延回路、計時装置及びレーザ測距装置 |
| JP2006208360A (ja) * | 2004-12-27 | 2006-08-10 | Tokyo Keiso Co Ltd | 伝達時間計測装置 |
| JP2006329902A (ja) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Nikon Corp | 測距装置及び測距方法 |
| JP2008505318A (ja) * | 2004-06-30 | 2008-02-21 | テラダイン・インコーポレーテッド | 精密時間測定装置及び方法 |
| JP2010122221A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Sick Ag | 光電センサ及び光通過時間原理により距離を測定する方法 |
| JP2010122222A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Sick Ag | 光電センサ及び光通過時間原理により距離を測定する方法 |
| JP2010122223A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Sick Ag | 光電センサ及び光通過時間原理により距離を測定する方法 |
| JP2011089986A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Sick Ag | 距離又は距離変化を測定するためのセンサ及び方法 |
| JP2015017994A (ja) * | 2007-12-21 | 2015-01-29 | レッダーテック インコーポレイテッド | 検出及び測距方法及びシステム |
| JP2018017534A (ja) * | 2016-07-26 | 2018-02-01 | オムロン株式会社 | 測距センサおよび測距方法 |
| CN108508451A (zh) * | 2018-04-03 | 2018-09-07 | 深圳新亮智能技术有限公司 | 高精度高频次的脉冲激光测距传感器 |
| WO2021131684A1 (ja) * | 2019-12-23 | 2021-07-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 測距装置およびその制御方法、並びに、電子機器 |
| WO2022264504A1 (ja) * | 2021-06-15 | 2022-12-22 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 測距装置、測距方法及び測距センサ |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103412474B (zh) * | 2013-05-24 | 2015-11-25 | 西安交通大学 | 基于fpga的tdc-gp2测时范围高精度扩展电路 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2518064B2 (ja) * | 1989-10-27 | 1996-07-24 | 日本電気株式会社 | レ―ザ測距装置 |
| JP2990340B2 (ja) * | 1995-10-30 | 1999-12-13 | 株式会社光電製作所 | パルスレーダ及び時間軸伸長回路 |
| US6122602A (en) * | 1997-05-02 | 2000-09-19 | Endress + Hauser Gmbh + Co. | Method and arrangement for electromagnetic wave distance measurement by the pulse transit time method |
| JP3654090B2 (ja) * | 1999-10-26 | 2005-06-02 | 松下電工株式会社 | 距離計測方法およびその装置 |
-
2000
- 2000-12-15 JP JP2000382288A patent/JP2002181934A/ja active Pending
-
2001
- 2001-12-11 WO PCT/JP2001/010844 patent/WO2002048738A1/ja active Application Filing
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002328170A (ja) * | 2001-05-01 | 2002-11-15 | Nikon Corp | 遅延回路、計時装置及びレーザ測距装置 |
| JP2008505318A (ja) * | 2004-06-30 | 2008-02-21 | テラダイン・インコーポレーテッド | 精密時間測定装置及び方法 |
| JP2006208360A (ja) * | 2004-12-27 | 2006-08-10 | Tokyo Keiso Co Ltd | 伝達時間計測装置 |
| JP2006329902A (ja) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Nikon Corp | 測距装置及び測距方法 |
| JP2015017994A (ja) * | 2007-12-21 | 2015-01-29 | レッダーテック インコーポレイテッド | 検出及び測距方法及びシステム |
| USRE49950E1 (en) | 2007-12-21 | 2024-04-30 | Leddartech Inc. | Distance detection method and system |
| USRE49342E1 (en) | 2007-12-21 | 2022-12-20 | Leddartech Inc. | Distance detection method and system |
| JP2010122223A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Sick Ag | 光電センサ及び光通過時間原理により距離を測定する方法 |
| JP2010122222A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Sick Ag | 光電センサ及び光通過時間原理により距離を測定する方法 |
| JP2010122221A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Sick Ag | 光電センサ及び光通過時間原理により距離を測定する方法 |
| JP2011089986A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Sick Ag | 距離又は距離変化を測定するためのセンサ及び方法 |
| JP2018017534A (ja) * | 2016-07-26 | 2018-02-01 | オムロン株式会社 | 測距センサおよび測距方法 |
| CN108508451A (zh) * | 2018-04-03 | 2018-09-07 | 深圳新亮智能技术有限公司 | 高精度高频次的脉冲激光测距传感器 |
| WO2021131684A1 (ja) * | 2019-12-23 | 2021-07-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 測距装置およびその制御方法、並びに、電子機器 |
| WO2022264504A1 (ja) * | 2021-06-15 | 2022-12-22 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 測距装置、測距方法及び測距センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2002048738A1 (fr) | 2002-06-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10641876B2 (en) | Apparatus and method for mitigating LiDAR interference through pulse coding and frequency shifting | |
| EP0830566B1 (en) | Light beam range finder | |
| JP3899708B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2002181934A (ja) | 計時装置、計時方法、及び測距装置 | |
| US5489149A (en) | Optical distance measurement apparatus provided with smear detector device | |
| WO2007004606A1 (ja) | 測距装置 | |
| JP2941593B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| WO2019181518A1 (ja) | 距離測定装置、距離測定システム、距離測定方法、及びプログラム | |
| US10705212B2 (en) | Optical sensor and electronic device | |
| JP2007147332A (ja) | 光測距装置 | |
| JPH0312275B2 (ja) | ||
| JP2003130953A (ja) | 測距装置 | |
| JP2000206244A (ja) | 測距装置 | |
| JP2014163884A (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2004053250A (ja) | 発光タイミング検出方法、発光タイミング検出装置、及び測距装置 | |
| JPH11352226A (ja) | 高精度測距装置 | |
| JP2004226069A (ja) | 測距装置 | |
| JP2790590B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH08105971A (ja) | マルチパルスによる測距方法とその装置 | |
| JPH0119112Y2 (ja) | ||
| JP2022167711A (ja) | 測距システム | |
| JPS61149888A (ja) | 時間計数装置 | |
| JP2008134101A (ja) | パルス幅測定装置およびそれを備えた距離測定装置 | |
| JPH0776790B2 (ja) | レーザ測距装置 | |
| JP2022070646A (ja) | レーザレーダ |