JP2002175668A - 欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 - Google Patents
欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置Info
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- JP2002175668A JP2002175668A JP2000371936A JP2000371936A JP2002175668A JP 2002175668 A JP2002175668 A JP 2002175668A JP 2000371936 A JP2000371936 A JP 2000371936A JP 2000371936 A JP2000371936 A JP 2000371936A JP 2002175668 A JP2002175668 A JP 2002175668A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】欠陥を回避して記録再生を行う際に欠陥情報を
少ないデータ量として記憶する。 【解決手段】欠陥管理方式を用いた光ディスク10から
欠陥情報を読み出してRAM36に記憶し、この記憶さ
れた情報を利用して欠陥を回避する交替処理を行う。欠
陥情報をRAM36に記憶させる際には、コントローラ
40によって交替処理に用いる情報のみを選択する。こ
こで、光ディスク10に記録されている欠陥情報として
ディスク上の位置情報が用いられているときには、この
位置情報を交替処理を行うブロック単位の情報に演算処
理で変換してから記憶させる。また交替処理するブロッ
クが連続しているときには、交替処理するブロックに関
する複数の情報を、連続したブロック数の情報を有した
1つの情報に変換してから記憶させる。欠陥情報のデー
タ量を削減できる。
少ないデータ量として記憶する。 【解決手段】欠陥管理方式を用いた光ディスク10から
欠陥情報を読み出してRAM36に記憶し、この記憶さ
れた情報を利用して欠陥を回避する交替処理を行う。欠
陥情報をRAM36に記憶させる際には、コントローラ
40によって交替処理に用いる情報のみを選択する。こ
こで、光ディスク10に記録されている欠陥情報として
ディスク上の位置情報が用いられているときには、この
位置情報を交替処理を行うブロック単位の情報に演算処
理で変換してから記憶させる。また交替処理するブロッ
クが連続しているときには、交替処理するブロックに関
する複数の情報を、連続したブロック数の情報を有した
1つの情報に変換してから記憶させる。欠陥情報のデー
タ量を削減できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、欠陥情報管理方
法及び記録媒体処理装置に関する。詳しくは、欠陥管理
方式を用いた記録媒体記録媒体に記録されている欠陥情
報を読み出して、この読み出した欠陥情報を利用するこ
とにより、記録媒体に生じた欠陥を回避して記録再生を
行う場合、読み出した欠陥情報から欠陥の回避に用いる
情報のみを選択して、この選択した情報に対する演算処
理によって情報の変換を行い、データ量を削減してから
記憶することで、欠陥情報を記憶する記憶手段の容量を
削減するものである。
法及び記録媒体処理装置に関する。詳しくは、欠陥管理
方式を用いた記録媒体記録媒体に記録されている欠陥情
報を読み出して、この読み出した欠陥情報を利用するこ
とにより、記録媒体に生じた欠陥を回避して記録再生を
行う場合、読み出した欠陥情報から欠陥の回避に用いる
情報のみを選択して、この選択した情報に対する演算処
理によって情報の変換を行い、データ量を削減してから
記憶することで、欠陥情報を記憶する記憶手段の容量を
削減するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、ランダムアクセスが可能な記録媒
体に、映像等の大きいデータ量のコンテンツを記録する
ことができるように、記録密度の向上が図られている。
また記録密度の向上に伴い、記録媒体に要求される条件
も厳しくなっており、全ての記録領域に対して欠陥のな
い完全な記録媒体を製造することは困難であり、このよ
うな記録媒体は高価となってしまう。このため、予め欠
陥の発生を想定して、欠陥が生じても信号の記録再生を
正しく行えるように欠陥管理が行われている。
体に、映像等の大きいデータ量のコンテンツを記録する
ことができるように、記録密度の向上が図られている。
また記録密度の向上に伴い、記録媒体に要求される条件
も厳しくなっており、全ての記録領域に対して欠陥のな
い完全な記録媒体を製造することは困難であり、このよ
うな記録媒体は高価となってしまう。このため、予め欠
陥の発生を想定して、欠陥が生じても信号の記録再生を
正しく行えるように欠陥管理が行われている。
【0003】この欠陥管理では、信号の記録再生が正し
く行われない位置を例えば物理セクタ単位で検出するも
のとして、検出された欠陥セクタを欠陥リストに登録す
ると共に、この欠陥セクタの代替えとなる領域を確保す
ることで、欠陥セクタを回避しながら信号の記録再生を
正しく行うことができる。このように、欠陥管理を行う
ことで、記録媒体での欠陥の発生を許容することが可能
となり、記録密度の向上が図られても記録媒体を安価に
提供することができる。
く行われない位置を例えば物理セクタ単位で検出するも
のとして、検出された欠陥セクタを欠陥リストに登録す
ると共に、この欠陥セクタの代替えとなる領域を確保す
ることで、欠陥セクタを回避しながら信号の記録再生を
正しく行うことができる。このように、欠陥管理を行う
ことで、記録媒体での欠陥の発生を許容することが可能
となり、記録密度の向上が図られても記録媒体を安価に
提供することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
欠陥管理を採用した記録媒体を用いる信号記録再生装置
では、欠陥セクタを回避しながら信号の記録再生を正し
く行うために、記録媒体に記録されている欠陥リストの
情報を予め読み出して記憶するためのメモリが必要とな
る。しかし、信号記録再生装置を安価に構成するために
は、容量の大きなメモリを用いないようにすることが望
ましい。
欠陥管理を採用した記録媒体を用いる信号記録再生装置
では、欠陥セクタを回避しながら信号の記録再生を正し
く行うために、記録媒体に記録されている欠陥リストの
情報を予め読み出して記憶するためのメモリが必要とな
る。しかし、信号記録再生装置を安価に構成するために
は、容量の大きなメモリを用いないようにすることが望
ましい。
【0005】また、信号記録再生装置では、記録媒体か
ら読み出した信号あるいは記録媒体に記録する信号を一
時保持することで、信号の記録再生動作を安定して行う
ことができるようにバッファメモリが設けられている。
ここで、バッファメモリを欠陥リストの情報記憶用のメ
モリとして共用すると、欠陥リストの情報のデータ量が
大きいときにはバッファメモリの空き容量が少なくなっ
てしまい、バッファメモリを設けた効果が無くなってし
まう。
ら読み出した信号あるいは記録媒体に記録する信号を一
時保持することで、信号の記録再生動作を安定して行う
ことができるようにバッファメモリが設けられている。
ここで、バッファメモリを欠陥リストの情報記憶用のメ
モリとして共用すると、欠陥リストの情報のデータ量が
大きいときにはバッファメモリの空き容量が少なくなっ
てしまい、バッファメモリを設けた効果が無くなってし
まう。
【0006】そこで、この発明では、欠陥を回避して記
録再生を行う際に欠陥情報を少ないデータ量として記憶
できる欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置を提供す
るものである。
録再生を行う際に欠陥情報を少ないデータ量として記憶
できる欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置を提供す
るものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明に係る欠陥情報
管理方法は、欠陥管理方式を用いた記録媒体を使用して
記録再生を行うときに、記記録媒体から記録されている
欠陥情報を読み出すと共に、読み出した欠陥情報から欠
陥を回避する交替処理に用いる情報のみを選択し、選択
した情報に対する演算処理によって情報の変換を行い、
データ量を削減してから記憶するものである。
管理方法は、欠陥管理方式を用いた記録媒体を使用して
記録再生を行うときに、記記録媒体から記録されている
欠陥情報を読み出すと共に、読み出した欠陥情報から欠
陥を回避する交替処理に用いる情報のみを選択し、選択
した情報に対する演算処理によって情報の変換を行い、
データ量を削減してから記憶するものである。
【0008】また記録媒体処理装置は、欠陥管理方式を
用いた記録媒体に対して信号の記録再生を行う記録再生
手段と、記憶手段と、記録再生手段と記憶手段を制御す
る制御手段とを有し、制御手段では、記録再生手段を制
御して記録媒体に記録されている欠陥情報を読み出すと
共に、読み出した欠陥情報から欠陥を回避する交替処理
に用いる情報のみを選択し、該選択した情報に対する演
算処理によって情報の変換を行い、データ量を削減して
記憶手段に記憶させるものである。
用いた記録媒体に対して信号の記録再生を行う記録再生
手段と、記憶手段と、記録再生手段と記憶手段を制御す
る制御手段とを有し、制御手段では、記録再生手段を制
御して記録媒体に記録されている欠陥情報を読み出すと
共に、読み出した欠陥情報から欠陥を回避する交替処理
に用いる情報のみを選択し、該選択した情報に対する演
算処理によって情報の変換を行い、データ量を削減して
記憶手段に記憶させるものである。
【0009】この発明においては、欠陥管理方式を用い
た例えば光ディスクを使用して記録再生を行うときに、
光ディスクに記録されている欠陥情報を読み出して、こ
の読み出した欠陥情報から欠陥を回避する交替処理に用
いる情報のみが選択されてメモリに記憶され、このメモ
リに記憶した情報に基づいて交替処理が行われる。ここ
で、交替処理に用いる情報のみを選択してメモリに記憶
する場合、光ディスクに記録されている欠陥情報として
ディスク上の位置情報が用いられているときには、この
位置情報が交替処理を行うブロック単位の情報に変換さ
れてからメモリに記憶される。また交替処理するブロッ
クが連続しているときには、交替処理するブロックに関
する情報が、連続したブロック数の情報を有した情報に
変換されてからメモリに記憶される。
た例えば光ディスクを使用して記録再生を行うときに、
光ディスクに記録されている欠陥情報を読み出して、こ
の読み出した欠陥情報から欠陥を回避する交替処理に用
いる情報のみが選択されてメモリに記憶され、このメモ
リに記憶した情報に基づいて交替処理が行われる。ここ
で、交替処理に用いる情報のみを選択してメモリに記憶
する場合、光ディスクに記録されている欠陥情報として
ディスク上の位置情報が用いられているときには、この
位置情報が交替処理を行うブロック単位の情報に変換さ
れてからメモリに記憶される。また交替処理するブロッ
クが連続しているときには、交替処理するブロックに関
する情報が、連続したブロック数の情報を有した情報に
変換されてからメモリに記憶される。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図を参照しながら、この発
明の実施の一形態について説明する。図1は記録媒体、
例えばDVD(Digital Versatile Disc)規格に対応する
書き換え可能な光ディスク、いわゆるDVD+RWと呼
ばれる光ディスクであって容量が3.0ギガバイトの場
合の構成を示している。
明の実施の一形態について説明する。図1は記録媒体、
例えばDVD(Digital Versatile Disc)規格に対応する
書き換え可能な光ディスク、いわゆるDVD+RWと呼
ばれる光ディスクであって容量が3.0ギガバイトの場
合の構成を示している。
【0011】光ディスクには、図1Aに示すように、内
周側から外周側に向けてリードイン領域,データ領域,
リードアウト領域が設けられている。リードイン領域に
はエンボスピット記録部分と書き換え可能部分が設けら
れており、エンボスピット記録部分では、ディスクの物
理的な仕様やコンテンツ供給者の情報等が示される。ま
た、書き換え可能部分は光ディスクや光ディスク装置で
のテストに用いられると共に、後述するように光ディス
ク上の欠陥を処理するための情報を記録する領域として
用いられる。データ領域には映像や音声あるいは種々の
情報等のデータ信号が記録される。またデータ領域の外
周側にはデータ領域の終了や光ディスク上の欠陥を処理
する情報を示すリードアウト領域が設けられており、光
ビームの照射位置が、リードイン領域からリードアウト
領域の範囲内で移動可能とされる。
周側から外周側に向けてリードイン領域,データ領域,
リードアウト領域が設けられている。リードイン領域に
はエンボスピット記録部分と書き換え可能部分が設けら
れており、エンボスピット記録部分では、ディスクの物
理的な仕様やコンテンツ供給者の情報等が示される。ま
た、書き換え可能部分は光ディスクや光ディスク装置で
のテストに用いられると共に、後述するように光ディス
ク上の欠陥を処理するための情報を記録する領域として
用いられる。データ領域には映像や音声あるいは種々の
情報等のデータ信号が記録される。またデータ領域の外
周側にはデータ領域の終了や光ディスク上の欠陥を処理
する情報を示すリードアウト領域が設けられており、光
ビームの照射位置が、リードイン領域からリードアウト
領域の範囲内で移動可能とされる。
【0012】データ領域は、物理セクタ番号「0x31000
(0xは16進数であることを示す)」から開始される領域
であり、図1Bに示すように、交替領域とユーザデータ
領域が交互に設けられている。交替領域は、光ディスク
上に欠陥が検出されたときに、後述するリニア交替によ
って代替えとして用いられる領域であり、ユーザデータ
領域は種々のデータ信号をユーザが記録するために用い
られる領域である。
(0xは16進数であることを示す)」から開始される領域
であり、図1Bに示すように、交替領域とユーザデータ
領域が交互に設けられている。交替領域は、光ディスク
上に欠陥が検出されたときに、後述するリニア交替によ
って代替えとして用いられる領域であり、ユーザデータ
領域は種々のデータ信号をユーザが記録するために用い
られる領域である。
【0013】また、図1Cはリードイン領域とリードア
ウト領域に書き換え可能に記録された欠陥リストを示し
ている。この欠陥リストは、光ディスク上の欠陥を処理
するための情報であり、光ディスクに初期状態から生じ
ている欠陥だけでなく、新たに生じた欠陥も登録するこ
とができるように成されている。
ウト領域に書き換え可能に記録された欠陥リストを示し
ている。この欠陥リストは、光ディスク上の欠陥を処理
するための情報であり、光ディスクに初期状態から生じ
ている欠陥だけでなく、新たに生じた欠陥も登録するこ
とができるように成されている。
【0014】欠陥リスト「PDL(Primary Defect Lis
t)」では、光ディスク10を使用する前に検出された初
期欠陥に関する情報を示している。また、欠陥リスト
「SDL(Secondary Defect List)」では、光ディスク
10の使用後に検出された二次欠陥に関する情報を示し
ている。欠陥リスト「PDL」は、例えばリードイン領
域内である物理セクタ番号「0x30E80」と物理セクタ番
号「0x30FC0」の位置、及びリードアウト領域内である
物理セクタ番号「0x199000」と物理セクタ番号「0x1991
40」の位置から記録される。また、欠陥リスト「SD
L」は、リードイン領域内である物理セクタ番号「0x30
E90」と物理セクタ番号「0x30FD0」の位置、及びリード
アウト領域内である物理セクタ番号「0x199010」と物理
セクタ番号「0x199150」の位置から記録される。このよ
うに、欠陥リストを二重化してリードイン領域とリード
アウト領域に記録することにより、いずれかの欠陥リス
トの情報が失われても他の欠陥リストの情報を利用して
正しく信号の記録再生を行うことができる。
t)」では、光ディスク10を使用する前に検出された初
期欠陥に関する情報を示している。また、欠陥リスト
「SDL(Secondary Defect List)」では、光ディスク
10の使用後に検出された二次欠陥に関する情報を示し
ている。欠陥リスト「PDL」は、例えばリードイン領
域内である物理セクタ番号「0x30E80」と物理セクタ番
号「0x30FC0」の位置、及びリードアウト領域内である
物理セクタ番号「0x199000」と物理セクタ番号「0x1991
40」の位置から記録される。また、欠陥リスト「SD
L」は、リードイン領域内である物理セクタ番号「0x30
E90」と物理セクタ番号「0x30FD0」の位置、及びリード
アウト領域内である物理セクタ番号「0x199010」と物理
セクタ番号「0x199150」の位置から記録される。このよ
うに、欠陥リストを二重化してリードイン領域とリード
アウト領域に記録することにより、いずれかの欠陥リス
トの情報が失われても他の欠陥リストの情報を利用して
正しく信号の記録再生を行うことができる。
【0015】ここで、初期欠陥に対してはスリップ交替
を行うと共に、二次欠陥に対してはリニア交替を行うも
のとして以下の説明を行う。図2はスリップ交替の場合
の動作を示している。DVD規格では光ディスクに記録
する信号の2Kバイトに対してID(Identification),
IEC(ID Error Correction code),EDC(Error Det
ection Code)等を付加して1データセクタが構成される
と共に、エラー訂正用の内符号が付加された16個のデ
ータセクタに対してエラー訂正用の外符号を付加して1
ECCブロックが生成されて、ECCブロック単位で信
号の記録再生が行われる。ここで、光ディスクに欠陥が
生じていないときには図2Aに示すようにECCブロッ
ク番号が連続したものとなる。なお、交替領域は後述す
るリニア交替で用いる領域であり、二次欠陥が生じてい
ないときには、この領域を飛ばして信号の記録再生処理
が行われる。
を行うと共に、二次欠陥に対してはリニア交替を行うも
のとして以下の説明を行う。図2はスリップ交替の場合
の動作を示している。DVD規格では光ディスクに記録
する信号の2Kバイトに対してID(Identification),
IEC(ID Error Correction code),EDC(Error Det
ection Code)等を付加して1データセクタが構成される
と共に、エラー訂正用の内符号が付加された16個のデ
ータセクタに対してエラー訂正用の外符号を付加して1
ECCブロックが生成されて、ECCブロック単位で信
号の記録再生が行われる。ここで、光ディスクに欠陥が
生じていないときには図2Aに示すようにECCブロッ
ク番号が連続したものとなる。なお、交替領域は後述す
るリニア交替で用いる領域であり、二次欠陥が生じてい
ないときには、この領域を飛ばして信号の記録再生処理
が行われる。
【0016】次に、初期欠陥が検出されてスリップ交替
が行われた場合を図2Bに示す。DVD+RWでは、1
ECCブロック単位で交替処理を行うものとして、ユー
ザデータ領域で欠陥が検出されたときには、この欠陥が
検出されたECCブロック(斜線部で示す)を飛ばして
次のECCブロックが用いられる。
が行われた場合を図2Bに示す。DVD+RWでは、1
ECCブロック単位で交替処理を行うものとして、ユー
ザデータ領域で欠陥が検出されたときには、この欠陥が
検出されたECCブロック(斜線部で示す)を飛ばして
次のECCブロックが用いられる。
【0017】例えばECCブロック番号「3」の次のE
CCブロック内で欠陥が検出されたときには、このEC
Cブロックを飛ばして次のECCブロックがECCブロ
ック番号「4」の領域とされる。このため、欠陥が検出
されないときのユーザデータ領域の最後のECCブロッ
ク番号を「N」とすると、図2Bに示すように4個のE
CCブロックで欠陥が検出された場合には、最後のEC
Cブロックの位置が4ECCブロック分だけ後方に移動
されることとなる。なお、論理セクタ番号は、交替領域
が使用されていないときには、交替領域と欠陥が検出さ
れたECCブロックを飛ばして割り当てられる。
CCブロック内で欠陥が検出されたときには、このEC
Cブロックを飛ばして次のECCブロックがECCブロ
ック番号「4」の領域とされる。このため、欠陥が検出
されないときのユーザデータ領域の最後のECCブロッ
ク番号を「N」とすると、図2Bに示すように4個のE
CCブロックで欠陥が検出された場合には、最後のEC
Cブロックの位置が4ECCブロック分だけ後方に移動
されることとなる。なお、論理セクタ番号は、交替領域
が使用されていないときには、交替領域と欠陥が検出さ
れたECCブロックを飛ばして割り当てられる。
【0018】また、上述のスリップ交替を行うために、
欠陥リストPDLは図3に示す構成とされる。欠陥リス
トPDLは、1ECCブロックの領域が割り当てられお
り、ECCブロック内の最初のバイト位置から2バイト
分が欠陥リストPDLであることを示すPDL識別マー
ク(例えば「0x2A50」)とされる。バイト位置「2」か
ら2バイト分は初期欠陥の検出されたECCブロックを
示す情報であるPDLエントリ数N_PDLを示してい
る。バイト位置「4」から4バイト分は欠陥リストPD
Lの内容の更新回数を示している。バイト位置「8」か
ら4バイト分は、交替領域間のユーザデータ領域の大き
さを示す情報SI、例えばECCブロック数が示され
る。バイト位置「12」から4バイト分は、交替領域の
大きさを示す情報SL、例えばECCブロック数が示さ
れる。バイト位置「16」からは、4バイト単位で欠陥
の位置を示す情報、例えば初期欠陥が検出されたECC
ブロックの先頭物理セクタ番号等がPDLエントリとし
て示される。
欠陥リストPDLは図3に示す構成とされる。欠陥リス
トPDLは、1ECCブロックの領域が割り当てられお
り、ECCブロック内の最初のバイト位置から2バイト
分が欠陥リストPDLであることを示すPDL識別マー
ク(例えば「0x2A50」)とされる。バイト位置「2」か
ら2バイト分は初期欠陥の検出されたECCブロックを
示す情報であるPDLエントリ数N_PDLを示してい
る。バイト位置「4」から4バイト分は欠陥リストPD
Lの内容の更新回数を示している。バイト位置「8」か
ら4バイト分は、交替領域間のユーザデータ領域の大き
さを示す情報SI、例えばECCブロック数が示され
る。バイト位置「12」から4バイト分は、交替領域の
大きさを示す情報SL、例えばECCブロック数が示さ
れる。バイト位置「16」からは、4バイト単位で欠陥
の位置を示す情報、例えば初期欠陥が検出されたECC
ブロックの先頭物理セクタ番号等がPDLエントリとし
て示される。
【0019】ここで、欠陥リスト「PDL」は、1EC
Cブロックの領域(32768バイト)が割り当てられ
ていることから、PDLエントリ数N_PDLの最大値
は「8188」となり、PDLエントリ[0]からPD
Lエントリ[8187]までを設けることが可能とされ
ている。
Cブロックの領域(32768バイト)が割り当てられ
ていることから、PDLエントリ数N_PDLの最大値
は「8188」となり、PDLエントリ[0]からPD
Lエントリ[8187]までを設けることが可能とされ
ている。
【0020】図4は、PDLエントリの構成を示してい
る。PDLエントリは4バイト、すなわち32ビットで
構成されており、図4Aに示すように最上位ビットb3
1とビットb30によって初期欠陥の欠陥タイプが示さ
れる。ビットb29〜b24は、Reserved領域とされて
おり、ビットb23〜b0によって初期欠陥の位置、例
えば欠陥が検出されたECCブロックの先頭物理セクタ
番号が示される。欠陥タイプは図4Bに示すように、ビ
ットb31,b30が「00」であるとき、PDLエン
トリがディスク製造者によって生成されたことを示すも
のとされている。また、「01」であるときには、PD
Lエントリがユーザ側の認証によって生成されたもので
あり、「10」であるときにはPDLエントリが認証以
外によってユーザ側で生成されたことが示される。さら
に、「10」であるときにはPDLエントリがディスク
製造者によって生成されたが、スリップさせる場合には
無視されるものであることが示される。
る。PDLエントリは4バイト、すなわち32ビットで
構成されており、図4Aに示すように最上位ビットb3
1とビットb30によって初期欠陥の欠陥タイプが示さ
れる。ビットb29〜b24は、Reserved領域とされて
おり、ビットb23〜b0によって初期欠陥の位置、例
えば欠陥が検出されたECCブロックの先頭物理セクタ
番号が示される。欠陥タイプは図4Bに示すように、ビ
ットb31,b30が「00」であるとき、PDLエン
トリがディスク製造者によって生成されたことを示すも
のとされている。また、「01」であるときには、PD
Lエントリがユーザ側の認証によって生成されたもので
あり、「10」であるときにはPDLエントリが認証以
外によってユーザ側で生成されたことが示される。さら
に、「10」であるときにはPDLエントリがディスク
製造者によって生成されたが、スリップさせる場合には
無視されるものであることが示される。
【0021】このため、交替領域間のユーザデータ領域
の大きさを示す情報SIと交替領域の大きさを示す情報
SLに基づいて、データ領域からユーザデータ領域を判
別すると共に、PDLエントリのビットb31,b30
が「00」「01」「10」のPDLエントリで示され
たECCブロックを飛ばして信号記録再生を行うこと
で、正しくスリップ交替を行うことができる。
の大きさを示す情報SIと交替領域の大きさを示す情報
SLに基づいて、データ領域からユーザデータ領域を判
別すると共に、PDLエントリのビットb31,b30
が「00」「01」「10」のPDLエントリで示され
たECCブロックを飛ばして信号記録再生を行うこと
で、正しくスリップ交替を行うことができる。
【0022】次に、リニア交替では、図5Aに示すよう
に、ユーザデータ領域の前に設けられた交替領域を、欠
陥が生じたECCブロックの代替用の領域として使用す
る。ここで、二次欠陥が検出された場合、例えば図5B
に示すようにECCブロック番号「3」で二次欠陥が検
出された場合には、このECCブロック番号「3」の前
に設けられている交替領域に、ECCブロック番号
「3」の代替用のECCブロックが設定される。また、
ECCブロック番号「8」「9」で二次欠陥が検出され
た場合には、このECCブロック番号「8」「9」の前
に位置する交替領域に、ECCブロック番号「8」
「9」に対する代替用のECCブロックが設定される。
なお、論理セクタ番号は、欠陥が検出されたECCブロ
ックを除いたユーザデータ領域と交替領域に設けられた
ECCブロックに対して割り当てられる。
に、ユーザデータ領域の前に設けられた交替領域を、欠
陥が生じたECCブロックの代替用の領域として使用す
る。ここで、二次欠陥が検出された場合、例えば図5B
に示すようにECCブロック番号「3」で二次欠陥が検
出された場合には、このECCブロック番号「3」の前
に設けられている交替領域に、ECCブロック番号
「3」の代替用のECCブロックが設定される。また、
ECCブロック番号「8」「9」で二次欠陥が検出され
た場合には、このECCブロック番号「8」「9」の前
に位置する交替領域に、ECCブロック番号「8」
「9」に対する代替用のECCブロックが設定される。
なお、論理セクタ番号は、欠陥が検出されたECCブロ
ックを除いたユーザデータ領域と交替領域に設けられた
ECCブロックに対して割り当てられる。
【0023】また、上述のリニア交替を行うために、欠
陥リストSDLは図6に示す構成とされる。欠陥リスト
DLは、1ECCブロックの領域が割り当てられおり、
ECCブロック内の最初のバイト位置から2バイト分が
欠陥リスト「SDL」であることを示すSDL識別マー
ク(例えば「0x2A53」)とされる。バイト位置「2」か
ら2バイト分は二次欠陥の検出されたECCブロックを
示す情報であるSDLエントリ数N_SDLを示してい
る。バイト位置「4」から4バイト分は欠陥リスト「S
DL」の内容の更新回数を示している。バイト位置
「8」からは、8バイト単位で二次欠陥の位置を示す情
報等、例えば二次欠陥が検出されたECCブロック番号
や二次欠陥のセクタ位置等が示される。
陥リストSDLは図6に示す構成とされる。欠陥リスト
DLは、1ECCブロックの領域が割り当てられおり、
ECCブロック内の最初のバイト位置から2バイト分が
欠陥リスト「SDL」であることを示すSDL識別マー
ク(例えば「0x2A53」)とされる。バイト位置「2」か
ら2バイト分は二次欠陥の検出されたECCブロックを
示す情報であるSDLエントリ数N_SDLを示してい
る。バイト位置「4」から4バイト分は欠陥リスト「S
DL」の内容の更新回数を示している。バイト位置
「8」からは、8バイト単位で二次欠陥の位置を示す情
報等、例えば二次欠陥が検出されたECCブロック番号
や二次欠陥のセクタ位置等が示される。
【0024】ここで、欠陥リスト「SDL」は、1EC
Cブロックの領域(32768バイト)が割り当てられ
ていることから、SDLエントリ数N_SDLの最大値
は「4095」となり、SDLエントリ[0]からSD
Lエントリ[4094]までを設けることが可能とされ
る。
Cブロックの領域(32768バイト)が割り当てられ
ていることから、SDLエントリ数N_SDLの最大値
は「4095」となり、SDLエントリ[0]からSD
Lエントリ[4094]までを設けることが可能とされ
る。
【0025】図7は、SDLエントリの構成を示してい
る。SDLエントリは8バイト、すなわち64ビットで
構成されており、図7Aに示すように最上位ビットb6
3とビットb62によって二次欠陥の欠陥タイプが示さ
れる。ビットb61〜b56,ビットb31〜b24
は、Reserved領域とされており、ビットb55〜b32
によって二次欠陥の位置、例えば欠陥が検出されたEC
Cブロックの先頭物理セクタ番号が示される。さらに、
ビットb23〜b0は交替ブロック位置情報であり、代
替用の領域として用いられる交替領域のECCブロック
番号が示される。さらに欠陥タイプは図7Bに示すよう
に、ビットb63,b62が「00」であるとき、SD
Lエントリは有効な置換であることを明らかにしてい
る。また、「01」であるとき、エントリは新しいアド
レスで記録されなかったメディア上での欠陥位置である
ことを明らかにしている。「10」であるときには、交
替ブロック位置情報の領域が使用可能であることを明ら
かにしていると共に、「11」であるときには、交替ブ
ロック位置情報の領域が使用不可能であることを明らか
にしている。なお、ビットb63,b62が「10」
「11」のときには、二次欠陥が検出された位置を示す
情報の領域が「0」に設定される。
る。SDLエントリは8バイト、すなわち64ビットで
構成されており、図7Aに示すように最上位ビットb6
3とビットb62によって二次欠陥の欠陥タイプが示さ
れる。ビットb61〜b56,ビットb31〜b24
は、Reserved領域とされており、ビットb55〜b32
によって二次欠陥の位置、例えば欠陥が検出されたEC
Cブロックの先頭物理セクタ番号が示される。さらに、
ビットb23〜b0は交替ブロック位置情報であり、代
替用の領域として用いられる交替領域のECCブロック
番号が示される。さらに欠陥タイプは図7Bに示すよう
に、ビットb63,b62が「00」であるとき、SD
Lエントリは有効な置換であることを明らかにしてい
る。また、「01」であるとき、エントリは新しいアド
レスで記録されなかったメディア上での欠陥位置である
ことを明らかにしている。「10」であるときには、交
替ブロック位置情報の領域が使用可能であることを明ら
かにしていると共に、「11」であるときには、交替ブ
ロック位置情報の領域が使用不可能であることを明らか
にしている。なお、ビットb63,b62が「10」
「11」のときには、二次欠陥が検出された位置を示す
情報の領域が「0」に設定される。
【0026】このため、SDLエントリのビットb6
3,b62が「00」であるときのSDLエントリにお
いて、ビットb55〜b32で示された二次欠陥のEC
Cブロックに対して、ビットb23〜b0の交替ブロッ
ク位置情報で示された領域を代替えとして用いて信号記
録再生を行うことで、正しくリニア交替を行うことがで
きる。
3,b62が「00」であるときのSDLエントリにお
いて、ビットb55〜b32で示された二次欠陥のEC
Cブロックに対して、ビットb23〜b0の交替ブロッ
ク位置情報で示された領域を代替えとして用いて信号記
録再生を行うことで、正しくリニア交替を行うことがで
きる。
【0027】次に、このように構成された光ディスク1
0を用いて信号の記録再生を行う光ディスク装置につい
て図8を用いて説明する。光ディスク10はスピンドル
モータ部21によって、所定の速度で回転される。な
お、スピンドルモータ部21は、後述するサーボプロセ
ッサ32から供給されたスピンドル制御信号SPCによ
って、光ディスク10が所定の回転速度となるように駆
動処理を行う。
0を用いて信号の記録再生を行う光ディスク装置につい
て図8を用いて説明する。光ディスク10はスピンドル
モータ部21によって、所定の速度で回転される。な
お、スピンドルモータ部21は、後述するサーボプロセ
ッサ32から供給されたスピンドル制御信号SPCによ
って、光ディスク10が所定の回転速度となるように駆
動処理を行う。
【0028】光ディスク10には、光ディスク装置20
の光ピックアップ30から光量をコントロールした光ビ
ームが照射される。光ディスク10で反射された光ビー
ムは、光ピックアップ30の光検出部(図示せず)に照
射される。光検出部では光ディスク10で反射された光
ビームに基づいて光電変換や電流電圧変換を行い、反射
光の光量に応じた信号レベルの電圧信号を生成してリー
ドプロセッサ31に供給する。
の光ピックアップ30から光量をコントロールした光ビ
ームが照射される。光ディスク10で反射された光ビー
ムは、光ピックアップ30の光検出部(図示せず)に照
射される。光検出部では光ディスク10で反射された光
ビームに基づいて光電変換や電流電圧変換を行い、反射
光の光量に応じた信号レベルの電圧信号を生成してリー
ドプロセッサ31に供給する。
【0029】リードプロセッサ31では、光ピックアッ
プ30からの電圧信号の波形等化処理を行い、ディジタ
ルの読出データ信号DRFを生成してチャネルプロセッサ
34に供給する。また、光ピックアップ30からの電圧
信号に基づいてトラッキング誤差信号STEやフォーカス
誤差信号SFEを生成してサーボプロセッサ32に供給す
る。さらに、リードプロセッサ31では、光ビームが照
射されている光ディスク10上の位置を示す信号Dadr
を生成してシステムコントローラ40に供給する。
プ30からの電圧信号の波形等化処理を行い、ディジタ
ルの読出データ信号DRFを生成してチャネルプロセッサ
34に供給する。また、光ピックアップ30からの電圧
信号に基づいてトラッキング誤差信号STEやフォーカス
誤差信号SFEを生成してサーボプロセッサ32に供給す
る。さらに、リードプロセッサ31では、光ビームが照
射されている光ディスク10上の位置を示す信号Dadr
を生成してシステムコントローラ40に供給する。
【0030】サーボプロセッサ32では、供給されたフ
ォーカス誤差信号SFEに基づき、レーザ光の焦点位置が
光ディスク10の記録層の位置となるように、光ピック
アップ30の対物レンズ(図示せず)を制御するフォー
カス制御信号SFCを生成してドライバ33に供給する。
また、供給されたトラッキング誤差信号STEに基づき、
光ビームの照射位置が所望のトラックの中央位置となる
ように、光ピックアップ30の対物レンズを制御するト
ラッキング制御信号STCを生成してドライバ33に供給
する。
ォーカス誤差信号SFEに基づき、レーザ光の焦点位置が
光ディスク10の記録層の位置となるように、光ピック
アップ30の対物レンズ(図示せず)を制御するフォー
カス制御信号SFCを生成してドライバ33に供給する。
また、供給されたトラッキング誤差信号STEに基づき、
光ビームの照射位置が所望のトラックの中央位置となる
ように、光ピックアップ30の対物レンズを制御するト
ラッキング制御信号STCを生成してドライバ33に供給
する。
【0031】ドライバ33では、フォーカス制御信号S
FCに基づいてフォーカス駆動信号SFDを生成すると共
に、トラッキング制御信号STCに基づいてトラッキング
駆動信号STDを生成する。この生成されたフォーカス駆
動信号SFD及びトラッキング駆動信号STDを、光ピック
アップ30のアクチュエータ(図示せず)に供給するこ
とにより対物レンズの位置が制御されて、光ビームが所
望のトラックの中央位置で焦点を結ぶように制御され
る。
FCに基づいてフォーカス駆動信号SFDを生成すると共
に、トラッキング制御信号STCに基づいてトラッキング
駆動信号STDを生成する。この生成されたフォーカス駆
動信号SFD及びトラッキング駆動信号STDを、光ピック
アップ30のアクチュエータ(図示せず)に供給するこ
とにより対物レンズの位置が制御されて、光ビームが所
望のトラックの中央位置で焦点を結ぶように制御され
る。
【0032】また、サーボプロセッサ32では、後述す
るチャネルプロセッサ34から供給された同期信号SY
に基づいて、光ディスク10を所定の速度で回転させる
ためのスピンドル制御信号SPCを生成してスピンドル
モータ部21に供給する。さらに、サーボプロセッサ3
2では、レーザ光の照射位置がトラッキング制御範囲を
超えないように、光ピックアップ30を光ディスク10
の径方向に移動させるためのスレッド制御信号SSCを生
成してスレッドモータ部22に供給する。スレッドモー
タ部22では、このスレッド制御信号SSCに基づきスレ
ッドモータを駆動して光ピックアップ30を光ディスク
10の径方向に移動させる。なお、サーボプロセッサ3
2では、図示せずも、光ディスク10のローディング動
作や、光ビームの光軸と光ディスク10のディスク面と
の関係を所定の位置関係とするスキュー調整も行われ
る。
るチャネルプロセッサ34から供給された同期信号SY
に基づいて、光ディスク10を所定の速度で回転させる
ためのスピンドル制御信号SPCを生成してスピンドル
モータ部21に供給する。さらに、サーボプロセッサ3
2では、レーザ光の照射位置がトラッキング制御範囲を
超えないように、光ピックアップ30を光ディスク10
の径方向に移動させるためのスレッド制御信号SSCを生
成してスレッドモータ部22に供給する。スレッドモー
タ部22では、このスレッド制御信号SSCに基づきスレ
ッドモータを駆動して光ピックアップ30を光ディスク
10の径方向に移動させる。なお、サーボプロセッサ3
2では、図示せずも、光ディスク10のローディング動
作や、光ビームの光軸と光ディスク10のディスク面と
の関係を所定の位置関係とするスキュー調整も行われ
る。
【0033】チャネルプロセッサ34では、読出データ
信号DRFの8/16デコード処理を行い、得られた信号
Ddをデータプロセッサ35に供給する。またチャネル
プロセッサ34では、読出データ信号DRFに同期する同
期信号SYを生成して上述のようにサーボプロセッサ3
2に供給する。
信号DRFの8/16デコード処理を行い、得られた信号
Ddをデータプロセッサ35に供給する。またチャネル
プロセッサ34では、読出データ信号DRFに同期する同
期信号SYを生成して上述のようにサーボプロセッサ3
2に供給する。
【0034】データプロセッサ35では、RAM36の
一部の領域を用いて、リードソロモン積符号(Reed-Solo
mon Product Code)のデコード処理によって信号Ddの
誤り訂正を行う。ここで誤り訂正がなされた信号は、R
AM36の領域の一部であるキャッシュ領域に蓄えられ
たのち、再生データ信号RDとして例えばATAPI(A
T Attachment Packet Interface)規格やSCSI(Small
Computer System Interface)規格のインタフェース3
7を介して出力される。
一部の領域を用いて、リードソロモン積符号(Reed-Solo
mon Product Code)のデコード処理によって信号Ddの
誤り訂正を行う。ここで誤り訂正がなされた信号は、R
AM36の領域の一部であるキャッシュ領域に蓄えられ
たのち、再生データ信号RDとして例えばATAPI(A
T Attachment Packet Interface)規格やSCSI(Small
Computer System Interface)規格のインタフェース3
7を介して出力される。
【0035】また、光ディスク10に記録するデータ信
号WDがインタフェース37を介して供給されたときに
は、リードソロモン積符号(Reed-Solomon Product Cod
e)のエンコード処理や8/16エンコード処理を行い、
得られた信号Dwをライトプロセッサ39に供給する。
さらに、光ディスク10のリードイン領域やリードアウ
ト領域に記録されている欠陥リストPDLやSDLが読
み出されたときには、この欠陥リストPDLやSDLの
信号をシステムコントローラ40に供給する。
号WDがインタフェース37を介して供給されたときに
は、リードソロモン積符号(Reed-Solomon Product Cod
e)のエンコード処理や8/16エンコード処理を行い、
得られた信号Dwをライトプロセッサ39に供給する。
さらに、光ディスク10のリードイン領域やリードアウ
ト領域に記録されている欠陥リストPDLやSDLが読
み出されたときには、この欠陥リストPDLやSDLの
信号をシステムコントローラ40に供給する。
【0036】ライトプロセッサ39では、データプロセ
ッサ35から供給された信号Dwに基づいて記録データ
信号Swを生成して光ピックアップ30に供給する。光
ピックアップ30では、この記録データ信号Swに応じ
て光ディスク10に照射される光ビームの照射を制御す
る。また、ライトプロセッサ39では、照射される光ビ
ームの出力が正しい出力レベルとなるように光ビームの
出力レベルの調整も行う。
ッサ35から供給された信号Dwに基づいて記録データ
信号Swを生成して光ピックアップ30に供給する。光
ピックアップ30では、この記録データ信号Swに応じ
て光ディスク10に照射される光ビームの照射を制御す
る。また、ライトプロセッサ39では、照射される光ビ
ームの出力が正しい出力レベルとなるように光ビームの
出力レベルの調整も行う。
【0037】システムコントローラ40は、CPUバス
50を介して各プロセッサ及びRAM36やROM41
と接続されており、ROM41に記憶されている動作制
御用プログラムに基づき各プロセッサの動作を制御す
る。また、データプロセッサ35から供給された欠陥リ
ストPDL,SDLのデータ量を削減してからRAM3
6に記憶させる。ここで、コンピュータ装置等の外部機
器から論理セクタ番号(論理アドレス)を用いてアクセ
ス要求がなされたときには、RAM36に記憶されてい
る欠陥リストの情報を参照して、欠陥位置の飛び越しや
欠陥位置に対応した交替領域内のECCブロックの使用
を行いながら論理セクタ番号を物理セクタ番号にアドレ
ス変換する。さらに、リードプロセッサ31から供給さ
れた信号Dadrを利用して、外部機器から要求された位
置と対応する物理セクタ番号の位置に光ビームが照射さ
れるように光ピックアップ30を駆動することが行われ
る。
50を介して各プロセッサ及びRAM36やROM41
と接続されており、ROM41に記憶されている動作制
御用プログラムに基づき各プロセッサの動作を制御す
る。また、データプロセッサ35から供給された欠陥リ
ストPDL,SDLのデータ量を削減してからRAM3
6に記憶させる。ここで、コンピュータ装置等の外部機
器から論理セクタ番号(論理アドレス)を用いてアクセ
ス要求がなされたときには、RAM36に記憶されてい
る欠陥リストの情報を参照して、欠陥位置の飛び越しや
欠陥位置に対応した交替領域内のECCブロックの使用
を行いながら論理セクタ番号を物理セクタ番号にアドレ
ス変換する。さらに、リードプロセッサ31から供給さ
れた信号Dadrを利用して、外部機器から要求された位
置と対応する物理セクタ番号の位置に光ビームが照射さ
れるように光ピックアップ30を駆動することが行われ
る。
【0038】このように構成された光ディスク装置20
では、光ディスク10に記録されている欠陥リストPD
L,SDLを読み出してRAM36に記憶する場合、欠
陥リストPDL,SDLをそのまま記憶するものとした
ときには最大2ECCブロック分すなわち65536バ
イト分(32768バイト×2)の領域が必要となる。
このため、システムコントローラ40では、欠陥リスト
を記憶するためのメモリ領域を少なくして、リードソロ
モン積符号のデコード処理で用いる領域やキャッシュ領
域を広く確保できるように、欠陥リストのデータ量を削
減するため、欠陥リストから欠陥の回避に用いる情報の
みを選択してRAM36に記憶する。また選択した情報
の変換を行ってからRAM36に記憶する。
では、光ディスク10に記録されている欠陥リストPD
L,SDLを読み出してRAM36に記憶する場合、欠
陥リストPDL,SDLをそのまま記憶するものとした
ときには最大2ECCブロック分すなわち65536バ
イト分(32768バイト×2)の領域が必要となる。
このため、システムコントローラ40では、欠陥リスト
を記憶するためのメモリ領域を少なくして、リードソロ
モン積符号のデコード処理で用いる領域やキャッシュ領
域を広く確保できるように、欠陥リストのデータ量を削
減するため、欠陥リストから欠陥の回避に用いる情報の
みを選択してRAM36に記憶する。また選択した情報
の変換を行ってからRAM36に記憶する。
【0039】ここで、欠陥リストPDLは上述の図3に
示す構成とされており、PDL識別マークは光ディスク
10から欠陥リストPDLを読み出すために用いるもの
であることから、この情報を保持していなくとも光ディ
スク装置20では正しく交替処理を行うことができる。
PDLの更新回数の情報は、光ディスク10に対して記
録再生を行う場合、新たな欠陥リストを生成して、光デ
ィスク10の情報を更新する場合には必要となる情報で
あるが、再生専用の光ディスク装置では、光ディスク1
0の情報を更新することが行われないことから、このP
DLの更新回数の情報を保持していなくとも再生動作時
に正しく交替処理を行うことができる。
示す構成とされており、PDL識別マークは光ディスク
10から欠陥リストPDLを読み出すために用いるもの
であることから、この情報を保持していなくとも光ディ
スク装置20では正しく交替処理を行うことができる。
PDLの更新回数の情報は、光ディスク10に対して記
録再生を行う場合、新たな欠陥リストを生成して、光デ
ィスク10の情報を更新する場合には必要となる情報で
あるが、再生専用の光ディスク装置では、光ディスク1
0の情報を更新することが行われないことから、このP
DLの更新回数の情報を保持していなくとも再生動作時
に正しく交替処理を行うことができる。
【0040】また、PDLエントリは上述の図4に示す
構成とされており、欠陥タイプが「00」「01」「1
0」のPDLエントリを抜き出して保持することによ
り、欠陥タイプの情報を保持していなくとも、24ビッ
トの欠陥ブロック位置情報をPDLエントリとして保持
させることで、光ディスク装置20では正しく交替処理
を行うことができる。
構成とされており、欠陥タイプが「00」「01」「1
0」のPDLエントリを抜き出して保持することによ
り、欠陥タイプの情報を保持していなくとも、24ビッ
トの欠陥ブロック位置情報をPDLエントリとして保持
させることで、光ディスク装置20では正しく交替処理
を行うことができる。
【0041】このため、RAM36に記憶する欠陥リス
トPDLmは、図9に示す構成とする。ECCブロック
内の最初のバイト位置から2バイト分は、初期欠陥が検
出されたECCブロックを示す情報であるPDLエント
リで、欠陥タイプが「00」「01」「10」のPDL
エントリ数N_PDLmを示すものとする。バイト位置
「2」から4バイト分は交替領域間のユーザデータ領域
の大きさを示す情報SIを示すものとし、バイト位置
「6」から4バイト分は、交替領域の大きさを示す情報
SLを示すものとする。さらに、バイト位置「10」か
らは、3バイト(24ビット)単位でのPDLエントリ
を示すものとする。
トPDLmは、図9に示す構成とする。ECCブロック
内の最初のバイト位置から2バイト分は、初期欠陥が検
出されたECCブロックを示す情報であるPDLエント
リで、欠陥タイプが「00」「01」「10」のPDL
エントリ数N_PDLmを示すものとする。バイト位置
「2」から4バイト分は交替領域間のユーザデータ領域
の大きさを示す情報SIを示すものとし、バイト位置
「6」から4バイト分は、交替領域の大きさを示す情報
SLを示すものとする。さらに、バイト位置「10」か
らは、3バイト(24ビット)単位でのPDLエントリ
を示すものとする。
【0042】図10は、欠陥リストPDLmのPDLエ
ントリを示しており、ビットb23〜b0によって初期
欠陥の位置、例えば欠陥が検出されたECCブロックの
先頭物理セクタ番号を示すものとする。ここで、PDL
エントリ数N_PDLの最大値は上述したように「81
88」であるので、欠陥リストPDLmのデータ量は最
大24574バイト(=2+4+4+3×8188)となる。
ントリを示しており、ビットb23〜b0によって初期
欠陥の位置、例えば欠陥が検出されたECCブロックの
先頭物理セクタ番号を示すものとする。ここで、PDL
エントリ数N_PDLの最大値は上述したように「81
88」であるので、欠陥リストPDLmのデータ量は最
大24574バイト(=2+4+4+3×8188)となる。
【0043】同様に、欠陥リストSDLは上述の図6に
示す構成とされており、SDL識別マークは光ディスク
10から欠陥リストSDLを読み出すために用いるもの
であることから、この情報を保持していなくとも光ディ
スク装置20では正しく交替処理を行うことができる。
同様にSDLの更新回数の情報を保持していなくとも正
しく交替処理を行うことができる。
示す構成とされており、SDL識別マークは光ディスク
10から欠陥リストSDLを読み出すために用いるもの
であることから、この情報を保持していなくとも光ディ
スク装置20では正しく交替処理を行うことができる。
同様にSDLの更新回数の情報を保持していなくとも正
しく交替処理を行うことができる。
【0044】また、SDLエントリは上述の図7に示す
構成とされており、エントリが有効とされている欠陥タ
イプ「00」のSDLエントリを抜き出して保持するも
のとすれば、欠陥タイプの情報を保持していなくとも、
24ビットの欠陥ブロック位置情報と24ビットの交替
ブロック位置情報を保持させることで、光ディスク装置
20では正しく交替処理を行うことができる。
構成とされており、エントリが有効とされている欠陥タ
イプ「00」のSDLエントリを抜き出して保持するも
のとすれば、欠陥タイプの情報を保持していなくとも、
24ビットの欠陥ブロック位置情報と24ビットの交替
ブロック位置情報を保持させることで、光ディスク装置
20では正しく交替処理を行うことができる。
【0045】さらに、交替領域の位置が計算によって判
別できることから、交替ブロック位置情報を交替処理単
位に基づく情報、例えば交替領域でのブロック番号の情
報に変換すれば、交替ブロック位置情報のデータ量を少
なくできる。ここで、SDLエントリの最大値は上述し
たように「4095」であることから、交替ブロック位
置情報をブロック番号を利用して表すものとしたときに
は、12ビットで交替ブロック位置情報を示すことが可
能となり、バイト単位で欠陥リストの記憶や読み出しを
行うときには、2バイトで交替ブロック位置情報を示す
ことができる。
別できることから、交替ブロック位置情報を交替処理単
位に基づく情報、例えば交替領域でのブロック番号の情
報に変換すれば、交替ブロック位置情報のデータ量を少
なくできる。ここで、SDLエントリの最大値は上述し
たように「4095」であることから、交替ブロック位
置情報をブロック番号を利用して表すものとしたときに
は、12ビットで交替ブロック位置情報を示すことが可
能となり、バイト単位で欠陥リストの記憶や読み出しを
行うときには、2バイトで交替ブロック位置情報を示す
ことができる。
【0046】ここで、交替ブロック位置情報で示された
ECCブロックの先頭物理セクタ番号をPSNrepとす
ると、先頭物理セクタ番号PSNrepまでの交替領域数
N_LSは、式(1)に示すように演算結果の整数部分
と等しくなる。なお、交替領域間のユーザデータ領域の
大きさを示す情報SIと交替領域の大きさを示す情報S
Lはセクタ数で示されているものとする。また、Npは
先頭物理セクタ番号PSNrepの位置までにスリップ交
替によって交替が行われたセクタ数を示している。 N_LS=int[(PSNrep−0x31000−Np)/(SL+SI)]・・・(1)
ECCブロックの先頭物理セクタ番号をPSNrepとす
ると、先頭物理セクタ番号PSNrepまでの交替領域数
N_LSは、式(1)に示すように演算結果の整数部分
と等しくなる。なお、交替領域間のユーザデータ領域の
大きさを示す情報SIと交替領域の大きさを示す情報S
Lはセクタ数で示されているものとする。また、Npは
先頭物理セクタ番号PSNrepの位置までにスリップ交
替によって交替が行われたセクタ数を示している。 N_LS=int[(PSNrep−0x31000−Np)/(SL+SI)]・・・(1)
【0047】次に、交替ブロック位置情報で示されたE
CCブロックが属する交替領域の先頭から、先頭物理セ
クタ番号PSNrepまでのセクタ数N_SCは、式(2)
に示すように、演算結果の余り部分と等しくなる。 N_SC=mod[(PSNrep−0x31000−Np)/(SL+SI)]・・・(2)
CCブロックが属する交替領域の先頭から、先頭物理セ
クタ番号PSNrepまでのセクタ数N_SCは、式(2)
に示すように、演算結果の余り部分と等しくなる。 N_SC=mod[(PSNrep−0x31000−Np)/(SL+SI)]・・・(2)
【0048】このため、式(3)に示すように、交替領
域の数N_LSに交替領域の大きさSLを乗算してセク
タ数N_SCを加算すれば、最初の交替領域の先頭から
交替ブロック位置情報で示されたECCブロックの先頭
物理セクタ番号PSNrepまでの、交替領域に対しての
セクタ数TSCを判別できる。 TSC=N_LS×SL+N_SC ・・・(3)
域の数N_LSに交替領域の大きさSLを乗算してセク
タ数N_SCを加算すれば、最初の交替領域の先頭から
交替ブロック位置情報で示されたECCブロックの先頭
物理セクタ番号PSNrepまでの、交替領域に対しての
セクタ数TSCを判別できる。 TSC=N_LS×SL+N_SC ・・・(3)
【0049】さらに、式(4)に示すように、セクタ数
TSCを1ECCブロックのセクタ数(0x10)で除算す
れば、交替ブロック位置情報をブロック番号で示すもの
とした交替ブロック番号BNを算出できる。 BN=TSC/0x10 ・・・(4) このようにして算出した交替ブロック番号BNを用い
て、欠陥リストSDLmを図11に示すように構成して
RAM36に記憶させる。
TSCを1ECCブロックのセクタ数(0x10)で除算す
れば、交替ブロック位置情報をブロック番号で示すもの
とした交替ブロック番号BNを算出できる。 BN=TSC/0x10 ・・・(4) このようにして算出した交替ブロック番号BNを用い
て、欠陥リストSDLmを図11に示すように構成して
RAM36に記憶させる。
【0050】図11において、ECCブロック内の最初
のバイト位置から2バイト分は、二次欠陥の検出された
ECCブロックを示す情報であるSDLエントリで、欠
陥タイプが「00」であるSDLエントリの数を示すも
のとする。また、バイト位置「2」から5バイト単位で
欠陥の位置を示すと共に欠陥タイプが「00」であるS
DLエントリを示すものとする。
のバイト位置から2バイト分は、二次欠陥の検出された
ECCブロックを示す情報であるSDLエントリで、欠
陥タイプが「00」であるSDLエントリの数を示すも
のとする。また、バイト位置「2」から5バイト単位で
欠陥の位置を示すと共に欠陥タイプが「00」であるS
DLエントリを示すものとする。
【0051】また、SDLエントリは、図12に示すよ
うにビットb39〜b17によって二次欠陥の位置、例
えば欠陥が検出されたECCブロックの先頭物理セクタ
番号を示すものとする。また、ビットb15〜b0の2
バイトによって交替ブロック番号を示すものとする。こ
こで、SDLエントリ数N_SDLの最大値は上述した
ように「4095」であるので、欠陥リストSDLmの
データ量は最大20477バイト(=2+5×4095)とな
る。
うにビットb39〜b17によって二次欠陥の位置、例
えば欠陥が検出されたECCブロックの先頭物理セクタ
番号を示すものとする。また、ビットb15〜b0の2
バイトによって交替ブロック番号を示すものとする。こ
こで、SDLエントリ数N_SDLの最大値は上述した
ように「4095」であるので、欠陥リストSDLmの
データ量は最大20477バイト(=2+5×4095)とな
る。
【0052】このように欠陥リストPDL,SDLから
必要な情報のみを選択して欠陥リストPDLm,SDLm
を生成して記憶することから、2ECCブロック分であ
る65536バイトのメモリ容量を確保しなくとも、4
5051(=24574+20477)バイト(2ECCブロック分
に対して約0.69倍)のメモリ容量を確保すれば、交
替処理を行う上で必要とされる情報を全て記憶できる。
必要な情報のみを選択して欠陥リストPDLm,SDLm
を生成して記憶することから、2ECCブロック分であ
る65536バイトのメモリ容量を確保しなくとも、4
5051(=24574+20477)バイト(2ECCブロック分
に対して約0.69倍)のメモリ容量を確保すれば、交
替処理を行う上で必要とされる情報を全て記憶できる。
【0053】また、1ECCブロック分である3276
8バイトからPDLとSDLの識別マークやエントリ
数,更新回数等の情報のデータ量24バイトを減算した
32744バイトをPDLエントリあるいはSDLエン
トリに割り当てるものとしたとき、すなわち(N_PD
L×4+N_SDL×8)≦32744バイトという制
限がなされているときには、24Kバイト程度のメモリ
容量を確保しておくことで、欠陥が光ディスク10に生
じていても正しく記録再生動作を行うことができる。
8バイトからPDLとSDLの識別マークやエントリ
数,更新回数等の情報のデータ量24バイトを減算した
32744バイトをPDLエントリあるいはSDLエン
トリに割り当てるものとしたとき、すなわち(N_PD
L×4+N_SDL×8)≦32744バイトという制
限がなされているときには、24Kバイト程度のメモリ
容量を確保しておくことで、欠陥が光ディスク10に生
じていても正しく記録再生動作を行うことができる。
【0054】次に、信号の記録再生動作について説明す
る。外部のコンピュータ装置等から論理セクタ番号で光
ディスク10へのアクセス要求がなされると、システム
コントローラ40では、RAM36に記憶している欠陥
リストPDLm,SDLmを参照しながら論理セクタ番号
を光ディスクに記録されている物理セクタ番号に変換し
て、得られた物理セクタ番号の位置にアクセスするよう
各部を制御する。
る。外部のコンピュータ装置等から論理セクタ番号で光
ディスク10へのアクセス要求がなされると、システム
コントローラ40では、RAM36に記憶している欠陥
リストPDLm,SDLmを参照しながら論理セクタ番号
を光ディスクに記録されている物理セクタ番号に変換し
て、得られた物理セクタ番号の位置にアクセスするよう
各部を制御する。
【0055】ここで、外部装置から論理セクタ番号LS
Nが指定されると共に、データ領域の開始位置が「0x31
000」であり、情報SI,SLがセクタ数で示されてい
るとき、指定された論理セクタ番号LSNの位置までに
設けられている交替領域の数N_LRは、式(5)に示
すように、論理セクタ番号LSNを情報SIで除算した
演算結果の整数部分に「1」を加算した値となる。 N_LR=(1+int[LSN/SI]) ・・・(5) このため、式(6)から物理セクタ番号PSN1を算出
する。 PSN1=LSN+N_LR×SL+0x31000 ・・・(6)
Nが指定されると共に、データ領域の開始位置が「0x31
000」であり、情報SI,SLがセクタ数で示されてい
るとき、指定された論理セクタ番号LSNの位置までに
設けられている交替領域の数N_LRは、式(5)に示
すように、論理セクタ番号LSNを情報SIで除算した
演算結果の整数部分に「1」を加算した値となる。 N_LR=(1+int[LSN/SI]) ・・・(5) このため、式(6)から物理セクタ番号PSN1を算出
する。 PSN1=LSN+N_LR×SL+0x31000 ・・・(6)
【0056】次に、算出された物理セクタ番号PSN1
に対して初期欠陥に応じたアドレス修正処理を行う。こ
のため、RAM36の欠陥リストPDLmにPDLエン
トリが含まれている場合にのみ図13の処理を行う。
に対して初期欠陥に応じたアドレス修正処理を行う。こ
のため、RAM36の欠陥リストPDLmにPDLエン
トリが含まれている場合にのみ図13の処理を行う。
【0057】ステップST1では、PDLエントリを指
定するための変数Indexを「0」に設定してステップS
T2に進む。ステップST2では、式(6)で算出され
た物理セクタ番号PSN1がPDLエントリ[Index]で
示された物理セクタ番号PSE以上であるか否かを判別
する。ここで、物理セクタ番号PSN1がPDLエント
リ[Index]で示された物理セクタ番号PSE以上である
ときにはステップST3に進み、物理セクタ番号PSN
1が物理セクタ番号PSEよりも小さいときには処理を
終了する。
定するための変数Indexを「0」に設定してステップS
T2に進む。ステップST2では、式(6)で算出され
た物理セクタ番号PSN1がPDLエントリ[Index]で
示された物理セクタ番号PSE以上であるか否かを判別
する。ここで、物理セクタ番号PSN1がPDLエント
リ[Index]で示された物理セクタ番号PSE以上である
ときにはステップST3に進み、物理セクタ番号PSN
1が物理セクタ番号PSEよりも小さいときには処理を
終了する。
【0058】ステップST3では、RAM36に記憶さ
れている欠陥リストPDLmのPDLエントリ数N_PD
Lmよりも変数Indexが小さいか否かを判別する。ここ
で、変数Indexの値がPDLエントリ数N_PDLmより
も小さいときにはステップST4に進み、変数Indexの
値がPDLエントリ数N_PDLm以上となったときには
処理を終了する。
れている欠陥リストPDLmのPDLエントリ数N_PD
Lmよりも変数Indexが小さいか否かを判別する。ここ
で、変数Indexの値がPDLエントリ数N_PDLmより
も小さいときにはステップST4に進み、変数Indexの
値がPDLエントリ数N_PDLm以上となったときには
処理を終了する。
【0059】ステップST4では、物理セクタ番号PS
N1に1ECCブロックのセクタ数である16を加算し
て新たな物理セクタ番号PSN1に設定してステップS
T5に進む。ステップST5では、変数Indexに「1」
を加算して新たな変数Indexの値に設定してステップS
T2に戻る。
N1に1ECCブロックのセクタ数である16を加算し
て新たな物理セクタ番号PSN1に設定してステップS
T5に進む。ステップST5では、変数Indexに「1」
を加算して新たな変数Indexの値に設定してステップS
T2に戻る。
【0060】この図13に示す処理が行われることによ
り、初期欠陥によってスリップ交替が行われていても、
この初期欠陥を考慮したアドレス修正を行うことができ
る。さらに、この初期欠陥を考慮したアドレス修正が行
われた物理セクタ番号PSN1に対して二次欠陥に応じ
たアドレス修正処理を行う。
り、初期欠陥によってスリップ交替が行われていても、
この初期欠陥を考慮したアドレス修正を行うことができ
る。さらに、この初期欠陥を考慮したアドレス修正が行
われた物理セクタ番号PSN1に対して二次欠陥に応じ
たアドレス修正処理を行う。
【0061】ここで、リニア交替では、1ECCブロッ
ク単位で交替処理が行われていることから、スリップ交
替に対するアドレス修正後の物理セクタ番号PSN1を
含むECCブロックが、欠陥リストSDLmのSDLエ
ントリに含まれているかを判別する。
ク単位で交替処理が行われていることから、スリップ交
替に対するアドレス修正後の物理セクタ番号PSN1を
含むECCブロックが、欠陥リストSDLmのSDLエ
ントリに含まれているかを判別する。
【0062】物理セクタ番号PSN1と(FFFFF0)との
ビット論理積値PSBは、1ECCブロックが16セク
タ単位とされていると共にデータ領域の先頭物理セクタ
番号が「0x31000」であることから、物理セクタ番号P
SN1が属するECCブロックの先頭物理セクタ番号を
示す値となる。この論理積値PSBがSDLエントリの
欠陥ブロック位置として記憶されているか否かを判別す
ることで、アドレス修正が行われた物理セクタ番号PS
N1を含むECCブロックが、欠陥リストSDLmのS
DLエントリに含まれているかを判別できる。
ビット論理積値PSBは、1ECCブロックが16セク
タ単位とされていると共にデータ領域の先頭物理セクタ
番号が「0x31000」であることから、物理セクタ番号P
SN1が属するECCブロックの先頭物理セクタ番号を
示す値となる。この論理積値PSBがSDLエントリの
欠陥ブロック位置として記憶されているか否かを判別す
ることで、アドレス修正が行われた物理セクタ番号PS
N1を含むECCブロックが、欠陥リストSDLmのS
DLエントリに含まれているかを判別できる。
【0063】物理セクタ番号PSN1を含むECCブロ
ックが、SDLエントリに含まれていることを判別した
ときには、このECCブロックを含むSDLエントリで
示された交替ブロック番号で示されるECCブロックの
先頭物理セクタ番号PSNrepを算出して、この算出さ
れた先頭物理セクタ番号PSNrepを用いて物理セクタ
番号PSNを算出する。
ックが、SDLエントリに含まれていることを判別した
ときには、このECCブロックを含むSDLエントリで
示された交替ブロック番号で示されるECCブロックの
先頭物理セクタ番号PSNrepを算出して、この算出さ
れた先頭物理セクタ番号PSNrepを用いて物理セクタ
番号PSNを算出する。
【0064】ここで、先頭物理セクタ番号PSNrep
は、先頭物理セクタ番号PSNrepから交替ブロック番
号BNを算出した場合と逆の演算を行うことにより、交
替ブロック番号BNから先頭物理セクタ番号PSNrep
の算出できる。式(7)は、この交替ブロック番号BN
から先頭物理セクタ番号PSNrepを算出する演算を一
つの式にまとめたものである。 PSNrep=Np+0x31000+(SL+SI)×BN×0x10/SL +mod[BN×0x10/SL] ・・・(7)
は、先頭物理セクタ番号PSNrepから交替ブロック番
号BNを算出した場合と逆の演算を行うことにより、交
替ブロック番号BNから先頭物理セクタ番号PSNrep
の算出できる。式(7)は、この交替ブロック番号BN
から先頭物理セクタ番号PSNrepを算出する演算を一
つの式にまとめたものである。 PSNrep=Np+0x31000+(SL+SI)×BN×0x10/SL +mod[BN×0x10/SL] ・・・(7)
【0065】この算出した先頭物理セクタ番号PSNre
pに、ECCブロック内でのセクタ数を加算すること
で、二次欠陥に応じたアドレス修正処理が行われた物理
セクタ番号PSNを算出できる。ECCブロック内での
セクタ数は、1ECCブロックが16セクタ単位とされ
ていると共にデータ領域の先頭物理セクタ番号が「0x31
000」であることから、式(8)に示すように、物理セ
クタ番号PSN1と(0F)とのビット論理積を求めて、
このビット論理積に先頭物理セクタ番号PSNrepを加
算すれば、物理セクタ番号PSNを算出できる。 PSN=PSNrep+(PSN1&(OF)) ・・・(8)
pに、ECCブロック内でのセクタ数を加算すること
で、二次欠陥に応じたアドレス修正処理が行われた物理
セクタ番号PSNを算出できる。ECCブロック内での
セクタ数は、1ECCブロックが16セクタ単位とされ
ていると共にデータ領域の先頭物理セクタ番号が「0x31
000」であることから、式(8)に示すように、物理セ
クタ番号PSN1と(0F)とのビット論理積を求めて、
このビット論理積に先頭物理セクタ番号PSNrepを加
算すれば、物理セクタ番号PSNを算出できる。 PSN=PSNrep+(PSN1&(OF)) ・・・(8)
【0066】このように、外部から論理セクタ番号LS
Nを用いてアクセス要求がなされたときには、この論理
セクタ番号LSNに基づいて物理セクタ番号PSN1が
算出されると共に、この算出された物理セクタ番号PS
N1に対して、初期欠陥を考慮したアドレス修正と二次
欠陥を考慮したアドレス修正を行って物理セクタ番号P
SNが算出される。このため、この物理セクタ番号PS
Nの位置にアクセスすることで、光ディスクに欠陥が生
じていても、外部から要求された論理セクタ番号LSN
の位置に正しくアクセスすることができる。
Nを用いてアクセス要求がなされたときには、この論理
セクタ番号LSNに基づいて物理セクタ番号PSN1が
算出されると共に、この算出された物理セクタ番号PS
N1に対して、初期欠陥を考慮したアドレス修正と二次
欠陥を考慮したアドレス修正を行って物理セクタ番号P
SNが算出される。このため、この物理セクタ番号PS
Nの位置にアクセスすることで、光ディスクに欠陥が生
じていても、外部から要求された論理セクタ番号LSN
の位置に正しくアクセスすることができる。
【0067】例えば、図14の斜線で示すECCブロッ
クが初期欠陥の欠陥ブロックとされており、クロスハッ
チングで示すECCブロックが二次欠陥の検出されたブ
ロックとされているとき、交替領域の大きさを示す情報
SLによって交替領域が3ECCブロックで、交替領域
間の大きさを示す情報SIが「0x2200」とされているも
のとした場合、論理セクタ番号「0x1A」をアクセスした
ときには、RAM36に記憶された欠陥リストPDL
m,SDLmを参照して上述の演算処理を行うことによ
り、対応する交替領域内の物理セクタ番号「0x3102A」
の位置に正しくアクセスすることができる。また、論理
セクタ番号「0xA8」をアクセスしたときには、記憶され
た欠陥リストPDLm,SDLmを参照して上述の演算処
理を行うことにより、初期欠陥や二次欠陥が複数生じて
も対応する物理セクタ番号「0x31138」の位置に正しく
アクセスすることができる。
クが初期欠陥の欠陥ブロックとされており、クロスハッ
チングで示すECCブロックが二次欠陥の検出されたブ
ロックとされているとき、交替領域の大きさを示す情報
SLによって交替領域が3ECCブロックで、交替領域
間の大きさを示す情報SIが「0x2200」とされているも
のとした場合、論理セクタ番号「0x1A」をアクセスした
ときには、RAM36に記憶された欠陥リストPDL
m,SDLmを参照して上述の演算処理を行うことによ
り、対応する交替領域内の物理セクタ番号「0x3102A」
の位置に正しくアクセスすることができる。また、論理
セクタ番号「0xA8」をアクセスしたときには、記憶され
た欠陥リストPDLm,SDLmを参照して上述の演算処
理を行うことにより、初期欠陥や二次欠陥が複数生じて
も対応する物理セクタ番号「0x31138」の位置に正しく
アクセスすることができる。
【0068】また、欠陥リストPDLmのPDLエント
リ及び欠陥リストSDLmのSDLエントリにおける欠
陥ブロック位置情報として、欠陥が検出されたECCブ
ロックの先頭物理セクタ番号を用いるものとした場合、
ECCブロックは16セクタ単位であることから、下位
4ビットすなわちPDLエントリのビットb3〜b0及
びSDLエントリのビットb19〜b16は各エントリ
で等しい値となる。このため、欠陥ブロックと判別され
たECCブロックが連続する場合には、欠陥ブロック位
置情報の下位4ビットを用いてECCブロックの連続数
を示すこともできる。
リ及び欠陥リストSDLmのSDLエントリにおける欠
陥ブロック位置情報として、欠陥が検出されたECCブ
ロックの先頭物理セクタ番号を用いるものとした場合、
ECCブロックは16セクタ単位であることから、下位
4ビットすなわちPDLエントリのビットb3〜b0及
びSDLエントリのビットb19〜b16は各エントリ
で等しい値となる。このため、欠陥ブロックと判別され
たECCブロックが連続する場合には、欠陥ブロック位
置情報の下位4ビットを用いてECCブロックの連続数
を示すこともできる。
【0069】例えば図15Aに示すように、欠陥ブロッ
クと判別されたECCブロックが連続していないとき、
この欠陥ブロック位置を示す情報の先頭物理セクタ番号
が「0x50020」とされているときには、上述したように
先頭物理セクタ番号を欠陥ブロック位置情報として用い
る。また、欠陥ブロックと判別されたECCブロックが
連続しているときには、最初の欠陥ブロックの先頭物理
セクタ番号を、あとに続く欠陥ブロックの数だけ進めて
欠陥ブロック位置を示す情報として用いる。例えば図1
5Bに示すように、先頭物理セクタ番号が「0x50020」
である欠陥ブロックの後に2つのECCブロックが欠陥
ブロックとして続いているときには、先頭物理セクタ番
号「0x50020」を2だけ進めて「0x50022」を欠陥ブロッ
ク位置を示す情報として用いる。また、連続した欠陥ブ
ロック数が1ECCブロックのセクタの数を超えるとき
には、この数を超えた欠陥ブロックに対してエントリを
設けて、このエントリを設けた欠陥ブロックの後に続く
欠陥ブロック数だけ先頭物理セクタ番号を進めて、欠陥
ブロック位置を示す情報とする。例えば上述したように
1ECCブロックが16セクタ単位とされており、図1
5Cに示すように、先頭物理セクタ番号が「0x50020」
である欠陥ブロックの後に19個のECCブロックが欠
陥ブロックとして続いているときには、先頭物理セクタ
番号「0x50020」の欠陥ブロック位置を示す情報として
「0x5002f」を用いる。また、17番目の欠陥ブロック
である先頭物理セクタ番号「0x50120」の欠陥ブロック
に対してエントリを設けて、17番目の欠陥ブロックに
続く欠陥ブロック数「3」だけ先頭物理セクタ番号を進
めて「0x50123」を欠陥ブロック位置を示す情報として
用いる。
クと判別されたECCブロックが連続していないとき、
この欠陥ブロック位置を示す情報の先頭物理セクタ番号
が「0x50020」とされているときには、上述したように
先頭物理セクタ番号を欠陥ブロック位置情報として用い
る。また、欠陥ブロックと判別されたECCブロックが
連続しているときには、最初の欠陥ブロックの先頭物理
セクタ番号を、あとに続く欠陥ブロックの数だけ進めて
欠陥ブロック位置を示す情報として用いる。例えば図1
5Bに示すように、先頭物理セクタ番号が「0x50020」
である欠陥ブロックの後に2つのECCブロックが欠陥
ブロックとして続いているときには、先頭物理セクタ番
号「0x50020」を2だけ進めて「0x50022」を欠陥ブロッ
ク位置を示す情報として用いる。また、連続した欠陥ブ
ロック数が1ECCブロックのセクタの数を超えるとき
には、この数を超えた欠陥ブロックに対してエントリを
設けて、このエントリを設けた欠陥ブロックの後に続く
欠陥ブロック数だけ先頭物理セクタ番号を進めて、欠陥
ブロック位置を示す情報とする。例えば上述したように
1ECCブロックが16セクタ単位とされており、図1
5Cに示すように、先頭物理セクタ番号が「0x50020」
である欠陥ブロックの後に19個のECCブロックが欠
陥ブロックとして続いているときには、先頭物理セクタ
番号「0x50020」の欠陥ブロック位置を示す情報として
「0x5002f」を用いる。また、17番目の欠陥ブロック
である先頭物理セクタ番号「0x50120」の欠陥ブロック
に対してエントリを設けて、17番目の欠陥ブロックに
続く欠陥ブロック数「3」だけ先頭物理セクタ番号を進
めて「0x50123」を欠陥ブロック位置を示す情報として
用いる。
【0070】このように、欠陥ブロック位置を示す情報
に連続する欠陥ブロックの数を示す情報を含ませるもの
とすれば、光ディスク10に記録されている欠陥ブロッ
ク毎のエントリを記憶しなくても、正しく交替処理を行
うことができることから、RAM36に記憶する欠陥リ
ストのデータ量を削減できる。なお、欠陥リストSDL
mのSDLエントリにおいて、欠陥ブロック位置を示す
情報に連続する欠陥ブロックの数を示す情報が含まれて
いるときには、交替ブロック番号で示されたブロック番
号から、連続する欠陥ブロック数だけ交替領域を用いる
ものとする。
に連続する欠陥ブロックの数を示す情報を含ませるもの
とすれば、光ディスク10に記録されている欠陥ブロッ
ク毎のエントリを記憶しなくても、正しく交替処理を行
うことができることから、RAM36に記憶する欠陥リ
ストのデータ量を削減できる。なお、欠陥リストSDL
mのSDLエントリにおいて、欠陥ブロック位置を示す
情報に連続する欠陥ブロックの数を示す情報が含まれて
いるときには、交替ブロック番号で示されたブロック番
号から、連続する欠陥ブロック数だけ交替領域を用いる
ものとする。
【0071】ここで、欠陥リストのデータ量の削減は、
光ディスクから欠陥リストを読み出して光ディスク装置
に記憶する際の1回だけであるので、通常の信号再生動
作には影響しない。また、二次欠陥が生じてリニア交替
を行う場合、交替ブロック番号から交替領域内の物理セ
クタ番号を算出する演算が必要となり、システムコント
ローラ40でのオーバーヘッドとなる。しかし、リニア
交替では光ピックアップを駆動して、光ビームの照射位
置を交替領域まで移動させる処理が必要となるので、こ
の移動処理に要する時間よりも短時間である演算処理が
行われても、アクセス動作が大幅に遅れてしまうことが
ない。
光ディスクから欠陥リストを読み出して光ディスク装置
に記憶する際の1回だけであるので、通常の信号再生動
作には影響しない。また、二次欠陥が生じてリニア交替
を行う場合、交替ブロック番号から交替領域内の物理セ
クタ番号を算出する演算が必要となり、システムコント
ローラ40でのオーバーヘッドとなる。しかし、リニア
交替では光ピックアップを駆動して、光ビームの照射位
置を交替領域まで移動させる処理が必要となるので、こ
の移動処理に要する時間よりも短時間である演算処理が
行われても、アクセス動作が大幅に遅れてしまうことが
ない。
【0072】また、欠陥ブロックの交替処理は1ECC
ブロック(16セクタ)単位で行われることから、欠陥
ブロック位置を示す情報に、先頭物理セクタ番号を利用
して連続する欠陥ブロックの数を示す情報が含まれてい
ないときには、先頭物理セクタ番号に替えて欠陥ブロッ
ク位置をブロック単位で示すこともできる。この場合に
は、欠陥ブロック位置をブロック単位で示すことによ
り、各エントリの情報をそれぞれ4ビット分だけ圧縮す
ることが可能となり、更に必要とされるメモり容量を少
なくできる。このとき、欠陥リストの情報をバイト単位
で読み出しても、読み出した情報はブロック単位の情報
であることからこの情報を先頭物理セクタ番号に変換す
るためにビット操作を行う必要が生じるので、処理速度
の速いシステムコントローラ40を用いるものとする。
また、ビット操作を行う場合には、欠陥リストSDLm
におけるSDLエントリの交替ブロック番号を2バイト
単位ではなく12ビット単位として記憶するものとし、
この交替ブロック番号の情報を用いるときにビット操作
で12ビット単位の情報を2バイト単位の情報に戻すこ
とで、記憶する各SDLエントリの情報をさらに4ビッ
ト圧縮することができる。この場合には、欠陥リストP
DLmについては8188×4ビット(4094バイ
ト)削減できると共に、欠陥リストSDLmについては
4095×(4+4)ビット(4095バイト)削減で
きることから、36862(=45051-4094-4095)バイト
(2ECCブロック分に対して約0.56倍)のメモリ
容量を確保すれば、交替処理を行う上で必要とされる情
報を全て記憶できる。
ブロック(16セクタ)単位で行われることから、欠陥
ブロック位置を示す情報に、先頭物理セクタ番号を利用
して連続する欠陥ブロックの数を示す情報が含まれてい
ないときには、先頭物理セクタ番号に替えて欠陥ブロッ
ク位置をブロック単位で示すこともできる。この場合に
は、欠陥ブロック位置をブロック単位で示すことによ
り、各エントリの情報をそれぞれ4ビット分だけ圧縮す
ることが可能となり、更に必要とされるメモり容量を少
なくできる。このとき、欠陥リストの情報をバイト単位
で読み出しても、読み出した情報はブロック単位の情報
であることからこの情報を先頭物理セクタ番号に変換す
るためにビット操作を行う必要が生じるので、処理速度
の速いシステムコントローラ40を用いるものとする。
また、ビット操作を行う場合には、欠陥リストSDLm
におけるSDLエントリの交替ブロック番号を2バイト
単位ではなく12ビット単位として記憶するものとし、
この交替ブロック番号の情報を用いるときにビット操作
で12ビット単位の情報を2バイト単位の情報に戻すこ
とで、記憶する各SDLエントリの情報をさらに4ビッ
ト圧縮することができる。この場合には、欠陥リストP
DLmについては8188×4ビット(4094バイ
ト)削減できると共に、欠陥リストSDLmについては
4095×(4+4)ビット(4095バイト)削減で
きることから、36862(=45051-4094-4095)バイト
(2ECCブロック分に対して約0.56倍)のメモリ
容量を確保すれば、交替処理を行う上で必要とされる情
報を全て記憶できる。
【0073】また、欠陥リストのデータ量が少なくなる
ことから、例えばマイクロコンピュータ等に内蔵されて
いるRAMに欠陥リストの情報を記憶させることも可能
となり、性能を向上させることができる。また、容量の
少ないメモリを用いることができるのでコストダウンも
図ることができると共に、光ディスクの容量が向上され
て、1つの光ディスクにおける欠陥の数が増加したとき
にも、欠陥リストのデータ量が少ないものとされてから
光ディスク装置に記憶されるので、欠陥リストをそのま
ま記憶する場合のメモリ容量の構成であっても大容量の
光ディスクに対応させることが可能となる。
ことから、例えばマイクロコンピュータ等に内蔵されて
いるRAMに欠陥リストの情報を記憶させることも可能
となり、性能を向上させることができる。また、容量の
少ないメモリを用いることができるのでコストダウンも
図ることができると共に、光ディスクの容量が向上され
て、1つの光ディスクにおける欠陥の数が増加したとき
にも、欠陥リストのデータ量が少ないものとされてから
光ディスク装置に記憶されるので、欠陥リストをそのま
ま記憶する場合のメモリ容量の構成であっても大容量の
光ディスクに対応させることが可能となる。
【0074】このように、上述の実施の形態によれば、
光ディスクに記録されている欠陥リストの情報から交替
処理で必要とされる情報だけを選択して光ディスク装置
に記憶させることから、光ディスク装置で交替処理を行
うために必要な情報を記憶するためのメモリ容量を少な
くできる。また、交替処理に必要とされる情報は、交替
処理での処理単位に基づき圧縮して記憶されるので、更
にメモリ容量を少なくできる。
光ディスクに記録されている欠陥リストの情報から交替
処理で必要とされる情報だけを選択して光ディスク装置
に記憶させることから、光ディスク装置で交替処理を行
うために必要な情報を記憶するためのメモリ容量を少な
くできる。また、交替処理に必要とされる情報は、交替
処理での処理単位に基づき圧縮して記憶されるので、更
にメモリ容量を少なくできる。
【0075】なお、欠陥情報が記録媒体に記録されてお
り、この欠陥情報を記録媒体から読み出して装置側に記
憶し、装置側では記憶されている欠陥情報を用いて欠陥
位置にアクセスしないように信号の記録再生動作を行う
ものであれば、他の記録媒体を用いる装置、例えばDV
D+RWとは異なるDVD規格の光ディスクを用いる装
置や、半導体記憶素子を用いて構成された記録媒体、あ
るいは磁気を利用した記録媒体等を用いる装置であって
も良いことは勿論である。
り、この欠陥情報を記録媒体から読み出して装置側に記
憶し、装置側では記憶されている欠陥情報を用いて欠陥
位置にアクセスしないように信号の記録再生動作を行う
ものであれば、他の記録媒体を用いる装置、例えばDV
D+RWとは異なるDVD規格の光ディスクを用いる装
置や、半導体記憶素子を用いて構成された記録媒体、あ
るいは磁気を利用した記録媒体等を用いる装置であって
も良いことは勿論である。
【0076】
【発明の効果】この発明によれば、欠陥管理方式を用い
た記録媒体を使用して記録再生を行う際に、記録媒体か
ら読み出された欠陥情報から欠陥を回避する交替処理に
用いる情報のみが選択されて、演算処理によってこの情
報がデータ量の少ない情報に変換されてから記憶され
る。このため、交替処理に用いる情報を記憶するための
記憶手段の記憶容量を小さくできる。また、交替処理に
用いる情報のみを選択して記憶する際には、位置情報が
交替処理の処理単位に基づいた情報に変換されて情報の
データ量が削減されると共に、交替処理する領域が連続
しているときには、連続した領域に関する複数の情報
が、連続した領域数の情報を有する1つの情報に変換さ
れて情報のデータ量が削減されるので、更に記憶手段の
記憶容量を小さくできる。
た記録媒体を使用して記録再生を行う際に、記録媒体か
ら読み出された欠陥情報から欠陥を回避する交替処理に
用いる情報のみが選択されて、演算処理によってこの情
報がデータ量の少ない情報に変換されてから記憶され
る。このため、交替処理に用いる情報を記憶するための
記憶手段の記憶容量を小さくできる。また、交替処理に
用いる情報のみを選択して記憶する際には、位置情報が
交替処理の処理単位に基づいた情報に変換されて情報の
データ量が削減されると共に、交替処理する領域が連続
しているときには、連続した領域に関する複数の情報
が、連続した領域数の情報を有する1つの情報に変換さ
れて情報のデータ量が削減されるので、更に記憶手段の
記憶容量を小さくできる。
【図1】光ディスクの構成を示す図である。
【図2】スリップ交替を説明するための図である。
【図3】欠陥リストPDLの構成を示す図である。
【図4】PDLエントリの構成を示す図である。
【図5】リニア交替を説明するための図である。
【図6】欠陥リストSDLの構成を示す図である。
【図7】SDLエントリの構成を示す図である。
【図8】光ディスク装置の構成を示す図である。
【図9】欠陥リストPDLmの構成を示す図である。
【図10】欠陥リストPDLmのPDLエントリを示す
図である。
図である。
【図11】欠陥リストSDLmの構成を示す図である。
【図12】欠陥リストSDLmのSDLエントリを示す
図である。
図である。
【図13】初期欠陥に応じたアドレス修正処理を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図14】欠陥を生じたときの論理セクタ番号と物理セ
クタ番号の関係を示す図である。
クタ番号の関係を示す図である。
【図15】他の欠陥ブロック位置の情報を説明するため
の示す図である。
の示す図である。
10・・・光ディスク、20・・・光ディスク装置、3
0・・・光ピックアップ、31・・・リードプロセッ
サ、32・・・サーボプロセッサ、34・・・チャネル
プロセッサ、35・・・データプロセッサ、36・・・
RAM、39・・・ライトプロセッサ、40・・・シス
テムコントローラ、50・・・CPUバス
0・・・光ピックアップ、31・・・リードプロセッ
サ、32・・・サーボプロセッサ、34・・・チャネル
プロセッサ、35・・・データプロセッサ、36・・・
RAM、39・・・ライトプロセッサ、40・・・シス
テムコントローラ、50・・・CPUバス
Claims (6)
- 【請求項1】 欠陥管理方式を用いた記録媒体を使用し
て記録再生を行うときに、 前記記録媒体から記録されている欠陥情報を読み出すと
共に、読み出した欠陥情報から欠陥を回避する交替処理
に用いる情報のみを選択し、 該選択した情報に対する演算処理によって情報の変換を
行い、データ量を削減してから記憶することを特徴とす
る欠陥情報管理方法。 - 【請求項2】 前記情報の変換では、前記交替処理に用
いる情報として前記記録媒体上での位置情報が用いられ
ているとき、前記演算処理によって、前記位置情報を前
記交替処理の処理単位に基づいた情報に変換することを
特徴とする請求項1記載の欠陥情報管理方法。 - 【請求項3】 前記情報の変換では、交替処理する領域
が連続しているとき、前記演算処理によって、前記連続
した領域に関する複数の情報を、前記連続した領域数の
情報を有する1つの情報に変換することを特徴とする請
求項1記載の欠陥情報管理方法。 - 【請求項4】 欠陥管理方式を用いた記録媒体に対して
信号の記録再生を行う記録再生手段と、 記憶手段と、 前記記録再生手段と前記記憶手段を制御する制御手段と
を有し、 前記制御手段では、前記記録再生手段を制御して前記記
録媒体に記録されている欠陥情報を読み出すと共に、読
み出した欠陥情報から欠陥を回避する交替処理に用いる
情報のみを選択し、該選択した情報に対する演算処理に
よって情報の変換を行い、データ量を削減して前記記憶
手段に記憶させることを特徴とする記録媒体処理装置。 - 【請求項5】 前記制御手段では、前記交替処理に用い
る情報として前記記録媒体上での位置情報が用いられて
いるとき、前記演算処理によって、前記位置情報を前記
交替処理の処理単位に基づいた情報に変換することを特
徴とする請求項4記載の記録媒体処理装置。 - 【請求項6】 前記制御手段では、交替処理する領域が
連続しているとき、前記演算処理によって、前記連続し
た領域に関する複数の情報を、前記連続した領域数の情
報を有する1つの情報に変換することを特徴とする請求
項4記載の記録媒体処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000371936A JP2002175668A (ja) | 2000-12-06 | 2000-12-06 | 欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000371936A JP2002175668A (ja) | 2000-12-06 | 2000-12-06 | 欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002175668A true JP2002175668A (ja) | 2002-06-21 |
Family
ID=18841572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000371936A Pending JP2002175668A (ja) | 2000-12-06 | 2000-12-06 | 欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002175668A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP5385971B2 (ja) * | 2009-04-02 | 2014-01-08 | パナソニック株式会社 | 情報再生装置および情報再生方法 |
CN111291105A (zh) * | 2020-01-21 | 2020-06-16 | 江门荣信电路板有限公司 | 一种pcb板检验数据处理方法、装置和存储介质 |
-
2000
- 2000-12-06 JP JP2000371936A patent/JP2002175668A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US8125879B2 (en) | 2004-03-18 | 2012-02-28 | Lg Electronics Inc. | Apparatus and method for recording and/or reproducing data to/from recording medium |
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US7809881B2 (en) | 2004-03-18 | 2010-10-05 | Lg Electronics Inc. | Recording medium with overlapping segment information thereon and apparatus and methods for forming, recording on, and reproducing the recording medium |
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CN111291105A (zh) * | 2020-01-21 | 2020-06-16 | 江门荣信电路板有限公司 | 一种pcb板检验数据处理方法、装置和存储介质 |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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