JP2002174936A - マーク分布パターン検出方法，装置およびカラー画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マーク配列を確実に検出。簡略な処理によっ
て正しく検出する。メモリに格納要のデータ量を低減。
カラー画像形成における各色の重ね画像間のずれを簡易
に検出し、検出の信頼性を向上する。 【解決手段】 マーク列Ａｋｒ，・・・／Ａｋｆ，・・
・を、センサ２０ｒ／２０ｆで、相対走査ｙにより読取
り、所定ピッチＴｓｐでＡ／Ｄ変換して、中間領域２〜
３Ｖの読取り信号の変換データのみを、走査位置Ｎｏｓ
を特定してメモリに格納する。メモリ上の、走査位置が
隣接し５Ｖ（マーク無し）から０Ｖ（マーク有り）への
変化領域に属するデータ群の走査位置に基づいてマーク
先端エッジａ，ｃの位置を算出し、その次の０Ｖから５
Ｖへの変化領域に属するデータ群の走査位置に基づいて
後端エッジｂ，ｄの位置を算出し、両エッジの位置の平
均値をマークの中心点位置として算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数のマークの配
列でなるマークパターンのマーク分布の検出，それを実
施するパターン検出装置およびこれを用いるカラー画像
形成装置に関する。特に、これに限定する意図ではない
が、感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転
写するカラー画像形成装置において、重ねずれ検出のた
めにその感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上
に、その移動方向に並べて作像した、各色マーク、のそ
れぞれの位置を検出するマーク配列パターンの検出に関
する。

【０００２】

【従来技術】この種のパターン検出が、例えば、特許第
２５７３８５５号明細書，特開平１１−６５２０８号公
報，特開平１１−１０２０９８号公報，特開平１１−２
４９３８０号公報および特開２０００−１１２２０５号
公報に開示されている。これらは、転写紙を支持し各色
感光体ドラムの配列に沿って搬送して、各色感光体ドラ
ム上のトナー画像を転写紙に転写する転写ベルト上の、
幅両端のそれぞれの近くに、各色トナーマークを所定の
配列パターンで形成し、１対の光センサのそれぞれで各
端のトナーマークを読取って、読取り信号に基づいてマ
ーク配列（パターン）の各マークの位置を算出する。そ
して、各色作像の、副走査方向ｙ（転写ベルト移動方
向）の基準位置からのずれ量ｄｙ，主走査方向ｘ（転写
ベルトの幅方向）のずれ量ｄｘ，主走査ラインの有効ラ
イン長のずれ量ｄＬｘおよび主走査ラインのスキューｄ
Ｓｑを算出する。

【０００３】光センサは、転写ベルトの反射光又は透過
光をスリットを通してフォトトランジスタなどの光電変
換素子で受けて、受光量を示す電圧（アナログ検出信
号）に変換し、増幅回路で所定レベル範囲に校正するの
で、該スリットの前方にマークが存在しないときには、
例えば５Ｖ（高レベルＨ）、スリットの全面を覆うよう
にマークが存在すると例えば０Ｖ（低レベル）、の検出
信号が得られるが、転写ベルトが定速度で移動するの
で、光センサのスリット内視野にマークの先端エッジが
入ると検出信号のレベルが次第に低下し、マークがスリ
ットの全面を覆っている間は０Ｖに留まり、マークの後
端エッジがスリット内視野に入ると検出信号のレベルが
次第に上昇し、マークがスリットを通過してしまうと５
Ｖにもどる。これは理想的な場合であり、検出信号は例
えば図１２にＳｄｒとして示すようなレベル変動を生ず
る。

【０００４】この場合には、例えば５Ｖと０Ｖとの中間
値２．５Ｖを閾値として検出信号を２値化することによ
り、マーク分布対応の時系列の２値信号分布（Ｌがマー
クに対応）が得られる。したがって、検出信号を比較器
で２値化し、クロックパルスあるいは転写ベルトの移動
速度に比例した周波数のタイミングパルスをカウントし
て、比較器の出力がＨからＬに変化した時のカウント値
およびＬからＨに変化した時のカウント値をメモリに記
憶することにより、マークパターンを把握できる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、マーク
パターン検出中の検出信号のレベルシフトや比較的に短
い周期での高低変化が多くしかも大きく、マーク色（ト
ナー種）によっても検出信号のレベルが異なる。検出信
号を低域通過フィルタに通すことにより高周波ノイズは
押さえられるが、この抑制を強くするために遮断周波数
を低域側にシフトすると、２値信号のマーク幅対応のＬ
パルス幅の広狭変動が大きくなり、パターン認識、特に
各マークの位置特定、が難しくなる。これらの問題は、
転写ベルトの汚れや傷みが多くなるにつれてひどくな
り、転写ベルトの、転写用途の寿命は長くても、色合わ
せ調整のためのマークパターン検出が早期に不可能にな
ってしまう。

【０００６】そこで、検出信号を短周期で繰り返しＡ／
Ｄ変換してメモリに集積し、メモリ上のデータに基づい
た検出信号の周波数分析或いは基準波形とのマッチング
チェックにより、基準波形対応のデータ群位置を同定し
て、マークパターンを認識しようとする試みがあるが、
採取するデータ量が膨大になって大きなメモリ容量が必
要になり、加えて、パターン同定処理が複雑になり、長
い処理時間がかかる。

【０００７】本発明は、複数のマークでなるマーク列
の、マーク配列を確実に検出することを第１の目的と
し、簡略な処理によって検出することを第２の目的と
し、メモリに格納を要する検出データ量を低減すること
を第３の目的とする。また、カラー画像形成における各
色の重ね画像間のずれを比較的に簡易に検出することを
第４の目的とし、検出の信頼性を向上することを第５の
目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】（１）整列した複数のマ
ーク(Akr,Ayr,Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を、
光学センサ(20r/20f)で、相対走査により読取り、読取
り信号(Sdr/Sdf)を所定ピッチ(Tsp)でＡ／Ｄ変換して、
走査位置(Nos)を特定してメモリに格納し、該メモリ上
の、走査位置が隣接し特定の読取り信号変化領域に属す
るデータ群(図13の(b))の走査位置(a,b,c,d,・・・)に基づ
いて各マークの分布情報(Akrp,Ayrp,・・・)を生成する、
マーク分布パターン検出方法。

【０００９】なお、理解を容易にするためにカッコ内に
は、図面に示し後述する実施例の対応要素又は対応事項
の記号を、参考までに付記した。以下も同様である。

【００１０】これによれば、読取り信号(Sdr/Sdf)が変
化している領域のデータ群は、マークの先端エッジ領域
又は後端エッジ領域の読取り信号であり、データ群の位
置(a,b,c,d,・・・)がマークのエッジ位置に対応する。検
出信号レベルがシフトしても、マークエッジでは必ず読
取り信号(Sdr/Sdf)が低下又は上昇するので、それに対
応するデータ群が得られ、マークエッジを確実に検出で
きる。マークエッジの位置情報は、該データ群の中心位
置を算出することにより得ることができ、比較的に簡易
にマーク列の各マークの位置データが得られる。このマ
ーク位置データは、データ群の各データの位置の統計的
処理であるので、信頼性が高い。

【００１１】

【発明の実施の形態】（２）前記特定の読取り信号変化
領域は、マーク有無に対応する高低レベルのあいだの、
高レベル(5V:マーク無し)から低レベル(0V:マーク有り)
への変化領域を含む。この領域は、マークの先端エッジ
領域と後端エッジ領域の一方（先端エッジ）である。例
えば先端エッジ領域とすると、マーク列の各マークの先
端エッジをあらわす位置データが得られる。

【００１２】（３）前記特定の読取り信号変化領域は、
マーク有無に対応する高低レベルのあいだの、低レベル
(0V:マーク有り)から高レベル(5V:マーク無し)への変化
領域を含む、上記（１）又は（２）の方法。この領域
は、マークの先端エッジ領域と後端エッジ領域の他方
（後端エッジ）である。例えば後端エッジ領域とする
と、マーク列の各マークの後端エッジをあらわす位置デ
ータが得られる。

【００１３】データ群を採取する変化領域を上記一方
（先端エッジ）および他方（後端エッジ）とすると、例
えば両エッジの位置差がマーク幅（ｗ）相当値かをチェ
ックして、マークのエッジを検出しているか否を検証で
きる。また、両エッジの位置の平均値をマークの中心点
として求めることができる。このようにマーク中心点を
求める態様では、マーク位置データの信頼性と精度が、
一層高くなり、マーク列検出の信頼性が、大きく向上す
る。

【００１４】（３ａ）整列した複数のマーク(Akr,Ayr,A
cr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を、光学センサ(20r
/20f)で、相対走査により読取り、読取り信号(Sdr/Sdf)
を所定ピッチ(Tsp)でＡ／Ｄ変換して、走査位置(Nos)を
特定してメモリに格納し、該メモリ上の、走査位置が隣
接しマーク有無に対応する高低レベル(5V:マーク無し/0
V:マーク有り)の、一方(5V:マーク無し)から他方(0V:マ
ーク有り)への変化領域に属するデータ群の走査位置に
基づいて第１エッジの位置(図13の(b)のａ，ｃ)を算出
し、前記メモリ上の、走査方向において前記データ群の
次の、前記他方(0V:マーク有り)から一方(5V:マーク無
し)への変化領域に属するデータ群の走査位置に基づい
て第２エッジの位置(図13の(b)のｂ，ｄ)を算出する、
マーク分布パターン検出方法。

【００１５】例えば両エッジの位置差がマーク幅（ｗ）
相当値かをチェックして、マークのエッジを検出してい
るか否を検証できる。また、両エッジの位置の平均値を
マークの中心点として求めることができる。このように
マーク中心点を求める態様では、マーク位置データの信
頼性と精度が、一層高くなり、マーク列検出の信頼性
が、大きく向上する。

【００１６】（３ｂ）第１および第２エッジの、算出し
た位置の中間点を表す位置情報をマーク位置として生成
する、上記（３ａ）記載のマーク分布パターン検出方
法。これによれば、マーク位置データの信頼性と精度
が、一層高くなり、マーク列検出の信頼性が、大きく向
上する。

【００１７】（４）前記メモリには、読取り信号(Sdr/S
df)の、マーク無しレベル(5V)とマーク有りレベル(0V)
の間の異なった値の第１レベル(2V)および第２レベル(3
V)、の間の範囲内のＡ／Ｄ変換データのみを、走査位置
(Nos)を特定して格納する、上記（１），（２），
（３），（３ａ）又は（３ｂ）記載のマーク分布パター
ン検出方法。

【００１８】これによれば、メモリに格納する読取りデ
ータ(Ddr/Ddf)が、図１３の（ｂ）に示すように、第１
レベル(2V)以上第２レベル(3V)以下の読取り信号(Sdr/S
df)のデジタルデータ(Ddr/Ddf)のみで、メモリに格納す
るデータ量が大幅に低減する。これにより、小容量のメ
モリを用いることができ、また、データ処理が簡単かつ
短時間になる。或いは、読取り信号(Sdr/Sdf)のサンプ
リングピッチ(Tsp)を小さくして高密度でデータ採取が
できる。

【００１９】（４ａ）前記整列した複数のマーク(Akr,A
yr,Acr,Amr,・・・/Akf,Ayf,Acf, Amf,・・・)は、感光体(6a
〜6d)に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写す
るカラー画像形成装置によって、感光体，転写ドラム，
転写ベルト又は転写紙上に形成される各色のマークであ
る、上記（１），（２），（３），（３ａ），（３ｂ）
又は（４）記載のマーク分布パターン検出方法。

【００２０】この検出によって得た各色マークの位置デ
ータに基づいて、各色作像ユニットによる像形成のずれ
量すなわち色ずれ量を算出することができる。色ずれ量
がわかれば、各色作像ユニットの像形成タイミングおよ
び又は作像位置の調整により、色ずれをなくすことがで
きる。

【００２１】（５）光センサ(20r/20f)；整列した複数
のマーク(Akr,Ayr,Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)
を担持する媒体(10)と前記光センサを相対走査する手段
(転写ベルト駆動)；光センサの検出信号(Sdr/Sdf)を検
出データ(Ddr/Ddf)にデジタル変換するＡ／Ｄ変換手段
(36r/36f)；メモリ(41内)；前記Ａ／Ｄ変換手段のＡ／
Ｄ変換データ(Ddr/Ddf)を、走査位置(Nos)を特定して前
記メモリに格納する、データ格納制御手段(1)；およ
び、前記メモリの、走査位置が隣接しマーク有無に対応
する高低レベルの、一方から他方への変化領域に属する
データ群の走査位置(図13の(b)のａ，ｃ)に基づいてマ
ーク位置を算出する演算手段；を備えるマーク分布パタ
ーン検出装置。

【００２２】これによれば、読取り信号(Sdr/Sdf)が変
化している領域のデータ群は、マークの先端エッジ領域
又は後端エッジ領域の読取り信号であり、データ群の位
置(a,b,c,d,・・・)がマークのエッジ位置に対応する。検
出信号レベルがシフトしても、マークエッジでは必ず読
取り信号(Sdr/Sdf)が低下又は上昇するので、それに対
応するデータ群が得られ、マークエッジを確実に検出で
きる。マークエッジの位置情報は、該データ群の中心位
置を算出することにより得ることができ、比較的に簡易
にマーク列の各マークの位置データが得られる。このマ
ーク位置データは、データ群の各データの統計的処理で
あるので、信頼性が高い。

【００２３】（５ａ）前記データ格納制御手段(1)は、
前記光センサの読取り信号の、マーク無しレベルとマー
ク有りレベルの間の異なった値の第１レベルおよび第２
レベル、の間の範囲内のＡ／Ｄ変換データのみを、走査
位置を特定して前記メモリに格納する、上記（５）記載
のマーク分布パターン検出装置。

【００２４】これによれば、メモリに格納する読取りデ
ータ(Ddr/Ddf)が、図１３の（ｂ）に示すように、第１
レベル(2V)以上第２レベル(3V)以下の読取り信号(Sdr/S
df)のデジタルデータ(Ddr/Ddf)のみで、メモリに格納す
るデータ量が大幅に低減する。これにより、小容量のメ
モリを用いることができ、また、データ処理が簡単かつ
短時間になる。或いは、読取り信号(Sdr/Sdf)のサンプ
リングピッチ(Tsp)を小さくして高密度でデータ採取が
できる。

【００２５】（５ｂ）前記演算手段は、前記メモリ上
の、走査位置が隣接しマーク有無に対応する高低レベル
の、一方から他方への変化領域に属するデータ群の走査
位置に基づいて第１エッジの位置を算出し、走査方向に
おいて前記データ群の次の、前記他方から一方への変化
領域に属するデータ群の走査位置に基づいて第２エッジ
の位置を算出する、上記（５）又は（５ａ）記載のマー
ク分布パターン検出装置。

【００２６】例えば両エッジの位置差がマーク幅（ｗ）
相当値かをチェックして、マークのエッジを検出してい
るか否を検証できる。また、両エッジの位置の平均値を
マークの中心点として求めることができる。このように
マーク中心点を求める態様では、マーク位置データの信
頼性と精度が、一層高くなり、マーク列検出の信頼性
が、大きく向上する。

【００２７】（５ｃ）前記演算手段は、第１および第２
エッジの、算出した位置の中間点をマーク位置として算
出する、上記（５ｂ）記載のマーク分布パターン検出装
置。これによれば、マーク位置データの信頼性と精度
が、一層高くなり、マーク列検出の信頼性が、大きく向
上する。

【００２８】（５ｄ）前記整列した複数のマークは、感
光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写する
カラー画像形成装置によって、感光体，転写ドラム，転
写ベルト又は転写紙上に形成される各色のマークであ
り；前記マークを担持する媒体は、該感光体，転写ドラ
ム，転写ベルト又は転写紙である；上記（５），（５
ａ），（５ｂ）又は（５ｃ）記載のマーク分布パターン
検出装置。

【００２９】この検出装置によって得た各色マークの位
置データに基づいて、各色作像ユニットによる像形成の
ずれ量すなわち色ずれ量を算出することができる。色ず
れ量がわかれば、各色作像ユニットの像形成タイミング
および又は作像位置の調整により、色ずれをなくすこと
ができる。

【００３０】（６）感光体に各色カラー顕像を形成し転
写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置において、そ
の感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に、そ
の移動方向(y)に並べて各色のマーク(Akr,Ayr,Acr,Amr,
・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を所定順に、所定距離をお
いて形成するテストパターン形成手段(1)；テストパタ
ーンの各色のマークを検出するセンサ(20r/20f)；該セ
ンサの検出信号(Sdr/Sdf)を検出データ(Ddr/Ddf)にデジ
タル変換するＡ／Ｄ変換手段(36r/36f)；メモリ(41
内)；前記Ａ／Ｄ変換手段のＡ／Ｄ変換データを、走査
位置(Nos)を特定して前記メモリに格納する、データ格
納制御手段(1)；前記メモリの、検出信号読込み位置が
隣接しマーク有無に対応する高低レベルの、一方から他
方への変化領域に属するデータ群の検出信号読込み位置
に基づいてマーク位置を算出する演算手段(41)；およ
び、算出した各色マーク位置に基づいて、色間の作像ず
れ量(dyy,dxy,dLxy/・・・)を算出し、これをなくすよう
に、各色作像タイミングを調整する色合わせ手段(41)；
を備えるカラー画像形成装置。

【００３１】これによれば、各色作像ユニットの作像タ
イミングのずれによる色ずれをなくすことができる。

【００３２】（７）前記データ格納制御手段(1)は、前
記光センサの読取り信号の、マーク無しレベルとマーク
有りレベルの間の異なった値の第１レベルおよび第２レ
ベル、の間の範囲内のＡ／Ｄ変換データのみを、前記移
動方向の検出信号読込み位置を特定して前記メモリに格
納する、上記（６）記載のカラー画像形成装置。

【００３３】これによれば、メモリに格納する読取りデ
ータ(Ddr/Ddf)が、図１３の（ｂ）に示すように、第１
レベル(2V)以上第２レベル(3V)以下の読取り信号(Sdr/S
df)のデジタルデータ(Ddr/Ddf)のみで、メモリに格納す
るデータ量が大幅に低減する。これにより、小容量のメ
モリを用いることができ、また、データ処理が簡単かつ
短時間になる。或いは、読取り信号(Sdr/Sdf)のサンプ
リングピッチ(Tsp)を小さくして高密度でデータ採取が
できる。

【００３４】（８）前記テストパターン形成手段(1)
は、カラー画像形成装置の感光体，転写ドラム，転写ベ
ルト又は転写紙上に、その移動方向(y)と直交する方向
(x)の画像露光ラインの中間点の両側(r,f)に、該移動方
向に並べて各色のマーク(Akr,Ayr, Acr,Amr,・・・/ Akf,A
yf,Acf,Amf,・・・)を所定順に、所定距離をおいて対で形
成し；前記センサは、対のマークのそれぞれを検出する
一対であり；これに対応して前記Ａ／Ｄ変換手段も一対
であり；前記データ格納制御手段は、各Ａ／Ｄ変換手段
のＡ／Ｄ変換データを前記メモリに格納し；前記演算手
段は、前記一対のマーク位置を算出し；そして、前記色
合わせ手段は、各色に付き算出した対のマーク位置の差
に基づいて、スキュー(dSqy,・・・)を算出し、これをなく
すように、各色の露光ラインの姿勢を調整する；上記
（６）又は（７）記載のカラー画像形成装置。

【００３５】これによれば、色間の作像ずれ量(dyy,dx
y,dLxy/・・・)に加えて、各色画像のスキューもなくすこ
とができる。

【００３６】（９）前記データ格納制御手段(1)は、前
記光センサの読取り信号が第１レベル以上第２レベル以
下の範囲内に有ると、これをあらわす情報を生成する範
囲検出手段(39r/39f)；および、該情報がある間所定周
期(Tsp)でＡ／Ｄ変換データを、検出信号読込み位置(No
s)を特定して前記メモリに書込む制御手段(41)；を含
む、上記（６），（７）又は（８）記載のカラー画像形
成装置。

【００３７】これによれば、制御手段(41)は、範囲検出
手段(39r/39f)の前記情報に応答して、それがあるとき
のみ、Ａ／Ｄ変換データをメモリに書込めば良く、制御
手段(41)の仕事が少なく、制御手段(41)は、前記周期(T
sp)を短くした高密度の検出信号読み込みに適応でき
る。

【００３８】（１０）色あわせパターン(Akr,Ayr, Acr,
Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を転写ベルト(10)上に
作像し、光学センサ(20r/20f)で電気信号に変換され
た、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)を一定間隔(Tsp)で
Ａ／Ｄ変換し、変換したデータに基づいて色あわせパタ
ーンの、基準パターンに対するずれ量を算出する色ずれ
検出において、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベ
ルの下降傾向の領域のＡ／Ｄ変換データ群を検索し、そ
の位置を算出することを特徴とする、色ずれ検出方法。

【００３９】これによれば、色あわせパターン信号(Sdr
/Sdf)のレベルの下降傾向の領域は、パターン上の像の
先端エッジ領域又は後端エッジ領域であり、データ群の
位置(a,b,c,d,・・・)がエッジ位置に対応する。パターン
信号(Sdr/Sdf)のレベルがシフトしても、像エッジでは
必ずパターン信号(Sdr/Sdf)が低下又は上昇するので、
それに対応するデータ群が得られ、像エッジを確実に検
出できる。像エッジの位置は、該データ群の中心位置を
算出することにより得ることができ、比較的に簡易にパ
ターン上の各像の位置データが得られる。この位置デー
タは、データ群の各データの位置の統計的処理であるの
で、信頼性が高い。

【００４０】（１１）色あわせパターン(Akr,Ayr, Acr,
Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を転写ベルト(10)上に
作像し、光学センサ(20r/20f)で電気信号に変換され
た、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)を一定間隔(Tsp)で
Ａ／Ｄ変換し、変換したデータに基づいて色あわせパタ
ーンの、基準パターンに対するずれ量を算出する色ずれ
検出において、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベ
ルの上昇傾向の領域のＡ／Ｄ変換データ群を検索し、そ
の位置を算出することを特徴とする、色ずれ検出方法。

【００４１】これによれば、色あわせパターン信号(Sdr
/Sdf)のレベルの上昇傾向の領域は、パターン上の像の
後端エッジ領域又は先端エッジ領域であり、データ群の
位置(a,b,c,d,・・・)がエッジ位置に対応する。パターン
信号(Sdr/Sdf)のレベルのレベルがシフトしても、像エ
ッジでは必ずパターン信号(Sdr/Sdf)が上昇又は低下す
るので、それに対応するデータ群が得られ、像エッジを
確実に検出できる。像エッジの位置は、該データ群の中
心位置を算出することにより得ることができ、比較的に
簡易にパターン上の各像の位置データが得られる。この
位置データは、データ群の各データの位置の統計的処理
であるので、信頼性が高い。

【００４２】（１２）色あわせパターン(Akr,Ayr, Acr,
Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を転写ベルト(10)上に
作像し、光学センサ(20r/20f)で電気信号に変換され
た、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)を一定間隔(Tsp)で
Ａ／Ｄ変換し、変換したデータに基づいて色あわせパタ
ーンの、基準パターンに対するずれ量を算出する色ずれ
検出において、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベ
ルの、隣接する下降と上昇の間の中間点位置を算出する
ことを特徴とする、色ずれ検出方法。

【００４３】これによれば、色あわせパターン信号(Sdr
/Sdf)のレベルの、下降と上昇の各領域は、一方がパタ
ーン上の像の先端エッジ領域、他方が後端エッジ領域で
あり、それらの中間点が像の中心点である。パターン信
号(Sdr/Sdf)のレベルのレベルがシフトしても、像エッ
ジでは必ずパターン信号(Sdr/Sdf)が上昇又は低下する
ので、それに対応するデータ群が得られ、像の先端およ
び後端エッジを確実に検出できる。比較的に簡易にパタ
ーン上の各像の中心点位置データが得られる。

【００４４】（１３）複数の色マークの配列でなる色合
わせパターンの各マークの中間点位置を算出する上記
（１２）の色ずれ検出方法。これによれば、各色の、基
準位置に対する作像の位置ずれを算出できる。

【００４５】（１４）異なる色マーク間の位置差を算出
する上記（１３）記載の色ずれ検出方法。これによれ
ば、異なる色間の相対的なずれ量を算出できる。

【００４６】（１５）パターン信号(Sdr/Sdf)の一定間
隔(Tsp)でのＡ／Ｄ変換を開始してからその回数(Nos)を
カウントして、カウント値より前記位置を定める、上記
（１０），（１１），（１２），（１３）又は（１４）
の色ずれ検出方法。

【００４７】本発明の他の目的および特徴は、図面を参
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。

【００４８】

【実施例】図１に、本発明を一態様で実施する画像形成
装置の機構概要を示す。この画像形成装置は、カラープ
リンタＰＴＲに画像スキャナＳＣＲ，自動原稿供給装置
ＡＤＦ，ソータＳＯＲ及びその他を組付けた、複合機能
があるデジタルカラー複写機であり、それ自身で、原稿
のコピ−を生成することができ、また、パ−ソナルコン
ピュ−タ（以下ＰＣと表現）等のホストＰＣから、通信
インターフエイスを通じて、画像情報である印刷デ−タ
が与えられるとそれをプリントアウト（画像出力）でき
るシステム構成である。

【００４９】図２に、カラ−プリンタＰＴＲの機構を示
す。スキャナＳＣＲが発生する各色の画像データは、画
像処理４０（図３）で、Ｂｋ（ブラック），Ｙ（イエロ
−），Ｃ（シアン）およびＭ（マゼンタ）各々の、カラ
−記録用の画像データ（以下、記録画像データ又は単に
画像データ）に変換された後、各々、プリンタＰＴＲの
書込みユニット（露光装置）５へと送られる。書込みユ
ニット５は、記録画像データに従い、Ｍ，Ｃ，Ｙおよび
Ｂｋ記録用の各感光体ドラム６ａ，６ｂ，６ｃおよび６
ｄ上に、Ｍ，Ｃ，ＹおよびＢｋ記録用の画像データで変
調したレーザービーム光を走査投射し、静電潜像を形成
する。各静電潜像は各現像器７ａ，７ｂ，７ｃおよび７
ｄにより、Ｍ，Ｃ，ＹおよびＢｋトナ−のそれぞれで現
像され、各色のトナー像（顕像）を形成する。

【００５０】一方、転写紙は、給紙カセット８より転写
ベルトユニットの転写ベルト１０上に搬送され、各感光
体ドラム上に現像形成された各色画像（顕像）が、転写
器１１ａ，１１ｂ，１１ｃおよび１１ｄにて転写紙上に
順に転写され、重ね合わさった後に、定着装置１２によ
って定着される。定着を終えた転写紙は機外に排出され
る。

【００５１】転写ベルト１０は、駆動ロ−ラ９，テンシ
ョンロ−ラ１３ａおよび従動ロ−ラ１３ｂで支持された
透光性のエンドレスベルトであり、テンションロ−ラ１
３ａが図示しないばねでベルト１０を押し下げるので、
ベルト１０の張力は略一定である。

【００５２】プリンタＰＴＲは、上述の重ね合せ転写の
色ずれを防止するために、露光装置５によって各感光体
ドラム６ａ，６ｂ，６ｃおよび６ｄ上の手前（図２にお
いて表面側：以下、フロントと表現）と奥（図２におい
て裏面側：以下、リアと表現）に位置検出用のテストパ
ターン（図４）を書き込み現像し、転写ベルト１０上に
転写し、転写ベルト１０に転写したテストパタ−ンを、
反射型光センサ２０ｆ（フロント側），２０ｒ（リア
側）で読みとることによって、各感光体ドラム６ａ，６
ｂ，６ｃ，６ｄに対する露光装置５の書き込み位置ず
れ，傾き，倍率等を検知し、これらによる色ずれをなく
すように、各感光体ドラムに対する露光装置５の書き込
みのタイミング等を補正するように構成されている。

【００５３】図３に、図１に示す複写機の電気系システ
ムを示す。原稿を光学的に読み取る原稿スキャナＳＣＲ
は、読み取りユニット２４にて、原稿に対するランプ照
射の反射光をミラー及びレンズにより受光素子に集光す
る。受光素子（本実施例ではＣＣＤ）は、センサー・ボ
ード・ユニットＳＢＵ（以下単にＳＢＵと称す）にあ
り、ＣＣＤに於いて電気信号に変換された画像信号は、
ＳＢＵ上でディジタル信号すなわち読取った画像デ−タ
に変換された後、ＳＢＵから、画像処理４０に出力され
る。

【００５４】システムコントローラ２６とプロセスコン
トローラ１は、パラレルバスＰｂ及びシリアルバスＳｂ
を介して相互に通信を行う。画像処理４０は、その内部
に於いてパラレルバスＰｂとシリアルバスＳｂとのデー
タインターフェースのためのデータフォーマット変換を
行う。

【００５５】ＳＢＵからの読取り画像デ−タは、画像処
理４０に転送され、画像処理が、光学系及びディジタル
信号への量子化に伴う信号劣化（スキャナ系の信号劣
化：スキャナ特性による読取り画像デ−タの歪）を補正
し、該画像デ−タを複写機能コントロ−ラＭＦＣに転送
してメモリＭＥＭに書込む。又は、プリンタ出力のため
の処理を施してプリンタＰＴＲに与える。

【００５６】すなわち、画像処理４０には、読取り画像
デ−タをメモリＭＥＭに蓄積して再利用するジョブと、
メモリＭＥＭに蓄積しないでビデオ・データ制御ＶＤＣ
（以下、単にＶＤＣと称す）に出力してレ−ザプリンタ
ＰＴＲで作像出力するジョブとがある。メモリＭＥＭに
蓄積する例としては、１枚の原稿を複数枚複写する場
合、読み取りユニット４を１回だけ動作させ、読取り画
像デ−タをメモリＭＥＭに蓄積し、蓄積データを複数回
読み出す使い方がある。メモリＭＥＭを使わない例とし
ては、１枚の原稿を１枚だけ複写する場合、読取り画像
デ−タをそのままプリンタ出力用に処理すれば良いの
で、メモリＭＥＭへの書込みを行う必要はない。

【００５７】まず、メモリＭＥＭを使わない場合、画像
処理４０は、読取り画像データに画像読取り補正を施し
てから、面積階調に変換するための画質処理を行う。画
質処理後の画像データはＶＤＣに転送する。面積階調に
変化された信号に対し、ドット配置に関する後処理及び
ドットを再現するためのパルス制御をＶＤＣで行い、レ
−ザプリンタＰＴＲの作像ユニット５に於いて転写紙上
に再生画像を形成する。

【００５８】メモリＭＥＭに蓄積し、それからの読み出
し時に付加的な処理、例えば画像方向の回転，画像の合
成等を行う場合は、画像読取り補正を施した画像データ
は、パラレルバスＰｂを経由して画像メモリアクセス制
御ＩＭＡＣ（以下単にＩＭＡＣと称す）に送られる。こ
こではシステムコントローラ２６の制御に基づき画像デ
ータとメモリモジュ−ルＭＥＭ（以下単にＭＥＭと称
す）のアクセス制御，外部パソコンＰＣ（以下単にＰＣ
と称す）のプリント用データの展開（文字コ−ド／キャ
ラクタビット変換），メモリー有効活用のための画像デ
ータの圧縮／伸張を行う。ＩＭＡＣへ送られたデータ
は、データ圧縮後ＭＥＭへ蓄積し、蓄積データを必要に
応じて読み出す。読み出しデータは伸張し、本来の画像
データに戻しＩＭＡＣからパラレルバスＰｂ経由で画像
処理４０へ戻される。

【００５９】画像処理４０へ戻されると、そこで画質処
理を、そしてＶＤＣでのパルス制御を行い、作像ユニッ
ト５に於いて転写紙上に顕像（トナ−像）を形成する。

【００６０】複合機能の１つであるＦＡＸ送信機能は、
原稿スキャナＳＣＲの読取り画像データを画像処理４０
にて画像読取り補正を施し、パラレルバスＰｂを経由し
てＦＡＸ制御ユニットＦＣＵ（以下単にＦＣＵと称す）
へ転送する。ＦＣＵにて公衆回線通信網ＰＮ（以下単に
ＰＮと称す）へのデータ変換を行い、ＰＮへＦＡＸデー
タとして送信する。ＦＡＸ受信は、ＰＮからの回線デー
タをＦＣＵにて画像データへ変換し、パラレルバスＰｂ
及びＣＤＩＣを経由して画像処理４０へ転送される。こ
の場合特別な画質処理は行わず、ＶＤＣにおいてドット
再配置及びパルス制御を行い、作像ユニット５に於いて
転写紙上に顕像を形成する。

【００６１】複数ジョブ、例えばコピー機能，ＦＡＸ送
受信機能およびプリンタ出力機能、が並行に動作する状
況に於いて、読み取りユニット２４、作像ユニット５及
びパラレルバスＰｂ使用権のジョブへの割り振りを、シ
ステムコントロ−ラ２６及びプロセスコントロラ１にて
制御する。

【００６２】プロセスコントローラ１は、画像データの
流れを制御し、システムコントローラ６はシステム全体
を制御し、各リソースの起動を管理する。このデジタル
複合機能複写機の機能選択は、操作ボ−ドＯＰＢにて選
択入力し、コピー機能，ＦＡＸ機能等の処理内容を設定
する。

【００６３】図３に示すプリンタエンジン４が、図２に
示すプリント機構すなわち画像形成機構に組み込まれ
た、モータ，ソレノイド，チャージャ，ヒータ，ランプ
などの電気機器および電気的センサならびにそれらを駆
動する電気回路（ドライバ）および検出回路（信号処理
回路）を含む機構駆動電気系であり、これらの電気回路
の動作がプロセスコントローラ１で制御され、電気的セ
ンサの検出信号（動作状態）がプロセスコントローラ１
で読み込まれる。

【００６４】「色合わせ」を実施する時に、プリンタＰ
ＴＲの転写ベルト１０上には、図４に示すようにテスト
パタ−ンが形成される。すなわち、リアには、ブラック
ＢｋのスタートマークＭsrを先頭に、マークピッチｄの
４ピッチ４ｄの空きの後に、８セットのマークセット
が、セットピッチ（定ピッチ）７ｄ＋Ａ＋ｃで順次形成
される。

【００６５】第１マークセットは、主走査方向ｘ（転写
ベルト１０の幅方向）に平行な次の直交マーク群、ブラ
ックＢｋの第１直交マークＡkr，イエローＹの第２直交
マークＡyr，シアンＣの第３直交マークＡcr、および、
マゼンタＭの第４直交マークＡmr、ならびに、主走査方
向ｘに対して４５゜の角度をなす次の斜交マーク群、Ｂ
ｋの第１斜交マークＢkr，Ｙの第２斜交マークＢyr，Ｃ
の第３斜交マークＢcr、および、Ｍの第４斜交マークＢ
mr、を含んでいる。第２〜８マークセットの内容は、第
１マークセットと同じである。フロントにも、上述のリ
アのテストパターンと同じテストパターンが同時に同じ
く形成される。これらのテストパターンに含まれる各マ
ークに付した記号の、末尾のｒはリア側のものであるこ
とを、ｆはフロント側のものであることを、示す。

【００６６】図５に、光センサ２０ｒ，２０ｆとその検
出信号を読み込む電気回路を示す。マーク検出ステージ
で、ＲＯＭ，ＲＡＭ，ＣＰＵおよび検出データ格納用Ｆ
ＩＦＯメモリ等を主体とするマイクロコンピュータ（以
下ＭＰＵと言う）４１（のＣＰＵ）が、Ｄ／Ａコンバー
タ３７ｒ，３７ｆに、光センサ２０ｒ，２０ｆの発光ダ
イオード（ＬＥＤ）３１ｒ，３１ｆの通電電流値を指定
する通電データを与え、Ｄ／Ａコンバータ３７ｒ，３７
ｆがそれをアナログ電圧に変換してＬＥＤドライバ３２
ｒ，３２ｆに与える。これらのドライバ３２ｒ，３２ｆ
は、アナログ電圧に比例する電流をＬＥＤ３１ｒ，３１
ｆに通電する。

【００６７】ＬＥＤ３１ｒ，３１ｆが発生した光は、図
示しないスリットを通って転写ベルト１０にあたり、大
部分がそれを透過して、転写ベルト１０の裏面に摺接し
てベルト１０の鉛直方向の振動を抑止する背面反射板２
１で反射し、そして転写ベルト１０を透過して、更に図
示しないスリットを通ってフォトトランジスタ３３ｒ，
３３ｆに当たる。これによりトランジスタ３３ｒ，３３
ｆのコレクタ／エミッタ間が低インピーダンスになっ
て、エミッタ電位が上昇する。前述のマークＭsr等がＬ
ＥＤ３１ｒ，３１ｆに対向する位置に到来すると、マー
クが光を遮断するので、トランジスタ３３ｒ，３３ｆの
コレクタ／エミッタ間が高インピーダンスになって、エ
ミッタ電圧すなわち光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号
のレベルが低下する。したがつて、前述のように、移動
する転写ベルト１０上にテストパターンを形成すると、
光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号が高低に変動する。
この電圧の高はマークなしを、低はマークありを意味す
る。

【００６８】光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号は、高
周波ノイズ除去用の低域通過フィルタ３４ｒ，３４ｆを
通して、更にレベル校正用の増幅器３５ｒ，３５ｆでレ
ベルを０〜５Ｖに校正されて、Ａ／Ｄコンバータ３６
ｒ，３６ｆに印加される。

【００６９】図１２に、校正された検出信号Ｓdrを示
す。この検出信号ＳdrおよひＳdfは、再度図５を参照す
ると、Ａ／Ｄコンバータ３６ｒ，３６ｆに与えられ、し
かも、増幅器３８ｒ，３８ｆを通してウィンドゥコンパ
レータ３９ｒ，３９ｆに与えられる。

【００７０】Ａ／Ｄコンバータ３６ｒ，３６ｆは、それ
らの内部の入力側にサンプルホールド回路を、出力側に
データラッチ（出力ラッチ）を備え、ＭＰＵ４１がＡ／
Ｄ変換指示信号Ｓcr，Ｓcfを与えると、その時の検出信
号Ｓdr，Ｓdfの電圧をホールドしてデジタルデータに変
換してデータラッチに保持する。したがってＭＰＵ４１
は、検出信号Ｓdr，Ｓdfの読取りが必要な時には、指示
信号Ｓcr，Ｓcfを与えて検出信号Ｓdr，Ｓdfのレベルを
あらわすデジタルデータすなわち検出データＤdr，Ｓdf
を読み込むことができる。

【００７１】ウインドゥコンパレータ３９ｒ，３９ｆ
は、検出信号Ｓdr，Ｓdfが２Ｖ以上３Ｖ以下の範囲内に
ある時に低レベルＬ、該範囲を外れているときは高レベ
ルＨのレベル判定信号Ｓwr，Ｓwfを発生する。ＭＰＵ４
１は、これらのレベル判定信号Ｓwr，Ｓwfを参照するこ
とによって、検出信号Ｓdr，Ｓdfが該範囲内か否かを直
ちに認識することができる。

【００７２】図６に、ＭＰＵ４１の、プリンタエンジン
制御すなわちプリント制御の概要を示す。それ自身に動
作電圧が印加されると、ＭＰＵ４１は、入出力ポートの
信号レベルを待機状態のものに設定し、内部のレジス
タ，タイマなども待機状態に設定する（ステップｍ
１）。なお、ここ以降においては、カッコ内にステップ
Ｎｏ．又はステップ記号を示す時には、「ステップ」と
いう語は省略して、Ｎｏ．数字又は記号のみを記す。初
期化（ｍ１）を完了するとＭＰＵ４１は、機構各部およ
び電気回路の状態を読取って、画像形成に支障がある異
常があるかをチェックして（ｍ２，ｍ３）、異常がある
とそれを操作表示ボードＯＰＢに表示して（ｍ４）、異
常が無くなるまで、状態読取り（ｍ２）を繰返す。

【００７３】この異常報知２（ｍ４）において、４色そ
れぞれの作像ユニット（感光体ドラム保持ユニット）の
装着を検知する４個のスイッチＳｗＰｉ、ｉ＝ｋ，ｙ，
ｃ，ｍ、のいずれかたとえばＳｗＰｋが開（Ｈ）ある
と、感光体ドラム駆動系の電気モータに通電して、所定
時間内に該スイッチＳｗＰｋが閉になったかをチエック
する。

【００７４】なお、各作像ユニットには、新品のときに
はユニットケースの雌ねじ穴にねじ結合してケースより
外部への突出が小さいが、ユニットが複写機に装着され
て感光体ドラムが回転駆動されると、これに連動して回
転してユニットケースから突出してスイッチＳｗＰｉを
開から閉に切換えると共に、雌ねじ穴とのねじ結合がは
ずれて突出したままとなる雄ねじピンがあるので、上述
のように、感光体ドラム駆動系の電気モータに通電があ
って感光体ドラムが回転駆動されると、新規に装着され
た作像ユニットの着脱を検出するスイッチたとえばＳｗ
Ｐｋが、開（Ｈ）から閉（Ｌ）に切換る。

【００７５】ＭＰＵ４１はこの切換りを監視して、Ｂｋ
作像ユニットの交換があつたことを知り、たとえばＳｗ
Ｐｋが開（Ｈ）から閉（Ｌ）に切換ると、Ｂｋ作像ユニ
ットに宛てたプリント積算数レジスタ（不揮発メモリ上
の一領域）をクリア（Ｂｋプリント積算数を０に初期
化）し、スイッチＳｗＰｉに開／閉変化があったことを
表す情報を生成し、レジスタにセーブする。この情報
は、後述のステップｍ１０で参照する。この場合には、
スイッチＳｗＰｉがすべて閉（Ｌ）すなわち正常になる
ので、ステップｍ４からｍ２に、そしてステップｍ３を
経てｍ５に進む。

【００７６】４個のスイッチＳｗＰｉ、ｉ＝ｋ，ｙ，
ｃ，ｍ、が閉（Ｌ）であるかをチェックし、開（Ｈ）の
スイッチたとえばＳｗＰｋがあって、感光体ドラムの駆
動を行ったにもかかわらず、スイッチＳｗＰｋが閉に切
換わらなかったときには、Ｂｋ作像ユニットが無いと見
なして、それをあらわす異常報知を継続する。

【００７７】異常がないと、定着器への通電を開始し、
定着温度が、定着可温度であるかをチェックして、定着
可温度でないと、待機表示を、定着可温度であるとプリ
ント可表示を、する（ｍ５）。

【００７８】また、定着温度が６０゜Ｃ以上であるかを
チェックして（ｍ６）、定着温度が６０゜Ｃ未満である
と、長時間休止（不使用）後の複写機電源オン（例えば
朝一番の電源オン：休止中の機内環境の変化が大きい）
と一応見なして、色合わせ実行を操作表示ボードＯＰＢ
に表示し（ｍ７）、ＭＰＵ４１のレジスタ（メモリの一
領域）ＲＣｎに、その時不揮発メモリに保持しているカ
ラープリント枚数積算数ＰＣｎを書込み（ｍ８）、ＭＰ
Ｕ４１のレジスタＲＴｒにその時の機内温度を書込んで
（ｍ９）、「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。この
「色合わせ」（ＣＰＡ）の内容は、図７以下を参照して
後述する。

【００７９】定着温度が６０゜Ｃ以上であったときに
は、前回の複写機の電源オフからの経過時間が短いと見
なすことができる。この場合には、前回の電源オフ直前
から現在までの機内環境の変化は小さいと推察できる。
しかし、いずれかの色の作像ユニットの交換があった
か、すなわち、上述のステツプｍ４で、スイッチＳｗＰ
ｉに開／閉変化があったことを表す情報が生成されてい
るか、をチェックする（ｍ１０）。該情報があると、す
なわち作像ユニットの交換があった場合は、上述のステ
ップｍ７〜ｍ９を実行し、そして後述の「色合わせ」
（ＣＰＡ）を実行する。

【００８０】作像ユニットの交換が無かったときにはＭ
ＰＵ４１は、操作表示ボードＯＰＢを介したオペレータ
の入力およびパソコンＰＣのコマンドを待つ（ｍ１
１）。ここで、操作表示ボードＯＰＢを介して「色合わ
せ」指示がオペレータから与えられると（ｍ１２）、Ｍ
ＰＵ４１は、上述のステップｍ７〜ｍ９を実行し、そし
て後述の「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。

【００８１】定着温度が定着可温度で、しかも各部がレ
デイである時に、操作表示ボードＯＰＢからコピースタ
ート指示があると、或いは、システムコントローラ２６
から、パソコンＰＣからの印刷コマンドに対応したプリ
ントスタート指示があると、ＭＰＵ４１は、指定枚数の
画像形成をする（ｍ１３，ｍ１４）。この画像形成にお
いて、１枚の画像形成を終えて排出するたびに、ＭＰＵ
４１は、それがカラー記録であるときには、不揮発メモ
リに割り当てているプリント総枚数レジスタ，カラープ
リント積算数レジスタＰＣｎ，ならびに、Ｂｋ，Ｙ，Ｃ
およびＭプリント積算数レジスタのそれぞれのデータを
１インクレメントする。モノクロ記録であった時には、
プリント総枚数レジスタ，モノクロプリント積算数レジ
スタおよびＢｋプリント積算数レジスタのそれぞれのデ
ータを１インクレメントする。

【００８２】なお、Ｂｋ，Ｙ，ＣおよびＭプリント積算
数レジスタのデータはそれぞれ、Ｂｋ，Ｙ，ＣおよびＭ
作像ユニットが新品に交換された時に、０をあらわすデ
ータに初期化（クリア）される。

【００８３】ＭＰＵ４１は、１枚の画像形成を行うたび
に、ペーパトラブル等の異常の有無をチエックすると共
に、指定枚数のプリントアウトを終えると、現像濃度，
定着温度，機内温度、その他各部の状態を読み込む（ｍ
１５）。異常があるとそれを操作表示ボードＯＰＢに表
示して（ｍ１７）、異常が無くなるまで、状態読取り
（ｍ１５）を繰返す。

【００８４】画像形成を再開できる状態すなわち正常で
あると、ＭＰＵ４１は、そのときの機内温度が、前回の
色合わせのときの機内温度（レジスタＲＴｒのデータＲ
Ｔｒ）から５゜Ｃを超える温度変化があったかをチェッ
クする（ｍ１８）。５゜Ｃを超える温度変化があると、
ＭＰＵ４１は、上述のステップｍ７〜ｍ９を実行し、そ
して後述の「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。５゜Ｃ
を超える温度変化がないときには、カラープリント積算
数レジスタＰＣｎの値ＰＣｎが、前回の色合わせのとき
のカラープリント積算数レジスタＰＣｎの値ＲＣｎ（レ
ジスタＲＣｎのデータ）よりも２００枚以上多いかをチ
ェックして（ｍ１９）、２００枚以上多いと、上述のス
テップｍ７〜ｍ９を実行し、そして後述の「色合わせ」
（ＣＰＡ）を実行する。２００枚未満であると、定着温
度が定着可温度であるかをチェックして、定着可温度で
ないと、待機表示を、定着可温度であるとプリント可表
示をする（ｍ２０）。そして「入力読取り」（ｍ１１）
に進む。

【００８５】上述の、図６に示す制御フローにより、Ｍ
ＰＵ４１は、（１）定着温度が６０゜Ｃ未満で電源オン
になったとき、（２）Ｂｋ，Ｙ，ＣおよびＭ作像ユニッ
トのいずれかが新品に交換された時、（３）操作表示ボ
ードＯＰＢより色合わせ指示があったとき、（４）指定
枚数のプリントアウトを完了し、しかも機内温度が前回
の色合わせのときの機内温度から５゜Ｃを超える変化を
しているとき、および、（５）指定枚数のプリントアウ
トを完了し、しかもカラープリント積算数ＰＣｎが、前
回の色合わせのときの値ＲＣｎよりも２００以上多くな
っているときに、次に説明する「色合わせ」（ＣＰＡ）
を実行する。

【００８６】図７に、「色合わせ」（ＣＰＡ）の内容を
示す。この「色合わせ」（ＣＰＡ）に進むとＭＰＵ４１
は、先ず、「テストパターンの形成と計測」（ＰＦＭ）
にて、帯電，露光，現像および転写等、作像条件をすべ
て基準値に設定して、転写ベルト１０上に、図４に示す
ように、リアｒ，フロントｆのそれぞれに、スタートマ
ークＭｓｒ，Ｍｓｆならびに８セットのテストパターン
を形成して、光センサ２０ｒ，２０ｆでマークを検出し
て、マーク検出信号Ｓｄｒ，ＳｄｆをＡ／Ｄコンパータ
３６ｒ，３６ｆでデジタルデータすなわちマーク検出デ
ータＤｄｒ，Ｄｄｆに変換して読みこむ。そして、各マ
ークの中心点の、転写ベルト１０上の位置（分布）を算
出する。更に、リア側８セットの平均パターン（マーク
位置の平均値群）と、同様なフロント側８セットの平均
パターンを算出する。この「テストパターンの形成と計
測」（ＰＦＭ）の内容は、図８以下を参照して後述す
る。

【００８７】平均パターンを算出すると、平均パターン
にもとづいてＢｋ，Ｙ，ＣおよびＭ作像ユニットのそれ
ぞれによる作像のずれ量を算出し（ＤＡＣ）、算出した
ずれ量に基づいてずれをなくするための調整を行う（Ｄ
ＡＤ）。

【００８８】図８に、「テストパターンの形成と計測」
（ＰＦＭ）の内容を示す。これに進むとＭＰＵ４１は、
図４に示すように、例えば１２５ｍｍ／ｓｅｃで定速駆
動している転写ベルト１０のリア側ｒおよびフロント側
ｆの表面のそれぞれに同時に、例えばマークのｙ方向の
幅ｗが１ｍｍ、ｘ方向の長さＡが例えば２０ｍｍ、ピッ
チｄが例えば６ｍｍ、セット間の間隔ｃが例えば９ｍｍ
の、スタートマークＭｓｒ，Ｍｓｆならびに８セットの
テストパターンの形成を開始し、スタートマークＭｓ
ｒ，Ｍｓｆが光センサ２０ｒ，２０ｆの直下に到来する
直前のタイミングを図るための、時限値がＴｗ１のタイ
マＴｗ１をスタートして（１）、該タイミングになるの
を待つ。すなわちタイマＴｗ１がタイムオーバするのを
待つ（２）。タイマＴｗ１がタイムオーバすると、今度
は、リアおよびフロントそれぞれで８セットのテストパ
ターンの最後のものが、光センサ２０ｒ，２０ｆを通過
し終わるタイミングを図るための、時限値がＴｗ２のタ
イマＴｗ２をスタートする（３）。

【００８９】すでに述べたが、光センサ２０ｒ，２０ｆ
の視野にＢｋ，Ｙ，Ｃ又はＭのマークが存在しないとき
には、光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号Ｓｄｒ，Ｓｄ
ｆは高レベルＨ（５Ｖ）、マークが存在すると低レベル
Ｌ（０Ｖ）であり、転写ベルト１０の定速移動により、
検出信号Ｓｄｒが図１２に示すようなレベル変動を生ず
る。変動の一部分を拡大して図１３の（ａ）に示す。こ
れにおいて、マーク検出信号のレベルが低下している下
降域は、マークの先端エッジ領域に対応し、上昇してい
る上昇域は、マークの後端エッジ領域に対応し、下降域
と上昇域との間が、マーク幅ｗの領域である。

【００９０】図８のステップ４では、光センサ２０ｒ，
２０ｆの視野にスタートマークＭｓｒ，Ｍｓｆが到来し
て検出信号Ｓｄｒ，ＳｄｆがＨからＬに変化する過程
で、図５のウィンドゥコンパレータ３９ｒ又は３９ｆ
が、検出信号Ｓｄｒ又はＳｄｆが、２〜３Ｖにあること
を表す検出信号Ｓｗｒ＝Ｌ又はＳｗｆ＝Ｌになるのを待
つ。すなわち、光センサ２０ｒ，２０ｆの視野にスター
トマークＭｓｒ，Ｍｓｆのすくなくとも一方のエッジ領
域が到来したかを監視する。

【００９１】到来すると、時限値がＴｓｐ（たとえば５
０μｓｅｃ）のタイマＴｓｐをスタートしてそれがタイ
ムオーバすると図９に示す「タイマＴｓｐの割込み」
（ＴＩＰ）を実行する、タイマ割り込みを許可する
（５）。そして、サンプリング回数レジスタＮｏｓのサ
ンプリング回数値Ｎｏｓを０に初期化し、ＭＰＵ４１内
のＦＩＦＯメモリに割り当てたｒメモリ（リア側マーク
読取りデータ記憶領域）およびｆメモリ（フロント側マ
ーク読取りデータ記憶領域）の書込みアドレスＮｏａｒ
およびＮｏａｆをスタートアドレスに初期化する
（６）。そして、タイマＴｗ２がタイムオーバするのを
待つ。すなわち、８セットのテストパターンのすべて
が、光センサ２０ｒ，２０ｆの視野を通過し終わるのを
待つ（７）。

【００９２】ここで、図９を参照して、上記の、「タイ
マＴｓｐの割込み」（ＴＩＰ）の内容を説明する。この
処理は、時限値がＴｓｐのタイマＴｓｐがタイムオーバ
する度に実行する点に注目されたい。ＭＰＵ４１は、こ
の処理の最初には、タイマＴｓｐを再スタートして（１
１）、Ａ／Ｄコンバータ３６ｒ，３６ｆにＡ／Ｄ変換を
指示する（１２）。すなわち、指示信号Ｓｃｒ，Ｓｃｆ
を、一時的に、Ａ／Ｄ変換指示レベルＬとする。そし
て、指示回数である、サンプリング回数レジスタＮｏｓ
のサンプリング回数値Ｎｏｓを、１インクレメントする
（１３）。

【００９３】これにより、Ｎｏｓ×Ｔｓｐが、スタート
マークＭｓｒ又はＭｓｆの先端エッジを検出してからの
経過時間（＝スタートマークＭｓｒ又はＭｓｆを基点と
する、転写ベルト１０の表面に沿うベルト移動方向ｙ
の、光センサ２０ｒ，２０ｆによる現在の転写ベルト１
０上の検出位置）を表す。

【００９４】そして、ウィンドウコンパレータ３９ｒの
検出信号ＳｗｒがＬ（光センサ２０ｒがマークのエッジ
部を検出中で、２Ｖ≦Ｓｄｒ≦３Ｖ）であるかをチェッ
クして（１４）、そうであると、ｒメモリのアドレスＮ
ｏａｒに、書込みデータとして、サンプリング回数レジ
スタＮｏｓのサンプリング回数値ＮｏｓおよびＡ／Ｄ変
換データＤｄｒ（光センサ２０ｒのマーク検出信号Ｓｄ
ｒの値）を書込む（１５）。そして、ｒメモリの書込み
アドレスＮｏａｒを１インクレメントする（１６）。ウ
ィンドウコンパレータ３９ｒ，３９ｆの検出信号Ｓｗｒ
がＨ（Ｓｄｒ＜２Ｖ又は３Ｖ＜Ｓｄｒ）であるときに
は、ｒメモリへのデータの書込みはしない。これは、メ
モリへの書込みデータ量を低減し、しかも、後のデータ
処理を簡易にするためである。

【００９５】次に同様に、ウィンドウコンパレータ３９
ｆの検出信号ＳｗｆがＬ（光センサ２０ｆがマークのエ
ッジ部を検出中で、２Ｖ≦Ｓｄｆ≦３Ｖ）であるかをチ
ェックして（１７）、そうであると、ｆメモリのアドレ
スＮｏａｆに、書込みデータとして、サンプリング回数
レジスタＮｏｓのサンプリング回数値ＮｏｓおよびＡ／
Ｄ変換データＤｄｆ（光センサ２０ｆのマーク検出信号
Ｓｄｆの値）を書込む（１５）。そして、ｆメモリの書
込みアドレスＮｏａｆを１インクレメントする（１
９）。

【００９６】このような割込み処理がＴｓｐ周期で繰返
し実行されるので、光センサ２０ｒ，２０ｆのマーク検
出信号Ｓｄｒ，Ｓｄｆが図１３の（ａ）に示すように
高，低に変化するとき、ＭＰＵ４１内のＦＩＦＯメモリ
に割り当てたｒメモリおよびｆメモリには、図１３の
（ｂ）に示す、２Ｖ以上３Ｖ以下の範囲内の、検出信号
Ｓｄｒ，ＳｄｆのデジタルデータＤｄｒ，Ｄｄｆのみ
が、サンプリング回数値Ｎｏｓと共に、格納される。Ｔ
ｓｐ周期でサンプリング回数レジスタＮｏｓのサンプリ
ング回数値Ｎｏｓが１インクレメントされるので、ま
た、転写ベルト１０が定速移動するので、回数値Ｎｏｓ
は、検出したスタートマークを基点とする転写ベルト１
０上の表面に沿う、ｙ位置を示すものである。

【００９７】なお、図１３の（ｂ）に示す、２Ｖ以上３
Ｖ以下の範囲内の、マーク検出信号のレベルが低下して
いる下降域の中心位置ａと、その次の上昇している上昇
域の中心位置ｂの中間点Ａｋｒｐが、１つのマークＡｋ
ｒのｙ方向の中心位置であり、同様に、それらの次に現
われるマーク検出信号のレベルが低下している下降域の
中心位置ｃと、その次の上昇している上昇域の中心位置
ｄの中間点Ａｙｒｐが、もう１つのマークＡｙｒのｙ方
向の中心位置である。後述のマーク中心点位置の算出Ｃ
ＰＡ（図１０，図１１）で、これらの、マーク中心位置
Ａｋｒｐ，Ａｙｒｐ，・・・を算出する。

【００９８】図８を、再度参照する。テストパターン中
の最後の第８セットの最後のマークが光センサ２０ｒ，
２０ｆを通過した後に、タイマＴｗ２がタイムオーバす
る。するとＭＰＵ４１は、タイマＴｓｐの割り込みを禁
止する（７，８）。これにより、図９に示すＴｓｐ周期
の、検出信号Ｓｄｒ，ＳｄｆのＡ／Ｄ変換が停止する。
ＭＰＵ４１は、その内部のＦＩＦＯメモリのｒメモリお
よびｆメモリの、検出データＤｄｒ，Ｄｄｆに基づい
て、マークの中心位置を算出し（ＣＰＡ）、リアｒおよ
びフロントｆそれぞれの、８セットのパターンのそれぞ
れの検出したマーク中心点位置の分布の適否を検証し
て、不適な検出パターン（セット）は削除して（ＳＰ
Ｃ）、適正な検出パターンの、平均パターンを求める
（ＭＰＡ）。

【００９９】図１０および図１１に、「マーク中心点位
置の算出」（ＣＰＡ）の内容を示す。ここでは「リアｒ
のマーク中心点位置の算出」（ＣＰＡｒ）および「フロ
ントｆのマーク中心点位置の算出」（ＣＰＡｆ）を実行
する。

【０１００】「リアｒのマーク中心点位置の算出」（Ｃ
ＰＡｒ）ではＭＰＵ４１は先ず、その内部のＦＩＦＯメ
モリに割り当てたｒメモリの読出しアドレスＲＮｏａｒ
を初期化して、中心点番号レジスタＮｏｃのデータを、
第１エッジを意味する１に初期化する（２１）。そして
１エッジ領域内サンプル数レジスタＣｔのデータＣｔを
１に初期化し、下降回数レジスタＣｄおよび上昇回数レ
ジスタＣｕのデータＣｄおよびＣｕを０に初期化する
（２２）。そして、エッジ域データ群先頭アドレスレジ
スタＳａｄに、読出しアドレスＲＮｏａｒを書込む（２
３）。以上が、第１エッジ領域のデータ処理のための準
備処理である。

【０１０１】ＭＰＵ４１は次に、ｒメモリのアドレスＲ
Ｎｏａｒから、データ（ｙ位置Ｎｏｓ：Ｎ・ＲＮｏａ
ｒ，検出レベルＤｄｒ：Ｄ・ＲＮｏａｒ）を、またその
次のアドレスＲＮｏａｒ＋１からもデータ（ｙ位置Ｎｏ
ｓ：Ｎ・（ＲＮｏａｒ＋１），検出レベルＤｄｒ：Ｄ・
（ＲＮｏａｒ＋１））を読出して、先ず、両データのｙ
位置差がＥ（例えばＥ＝ｗ／２＝例えば１／２ｍｍ相当
値）以下（同一エッジ領域上）かをチェックし（２
４）、そうであると、マーク検出データＤｄｒが下降傾
向か、上昇傾向かをチェックして（２５）、下降傾向で
あると下降回数レジスタＣｄのデータＣｄを１インクレ
メントし（２７）、上昇傾向であると上昇回数レジスタ
ＣｕのデータＣｕを１インクレメントする（２６）。そ
して１エッジ内サンプル数レジスタＣｔのデータＣｔを
１インクレメントする（２８）。そしてｒメモリ読出し
アドレスＲＮｏａｒがｒメモリのエンドアドレスかをチ
ェックして（２９）、エンドアドレスになっていない
と、メモリ読出しアドレスＲＮｏａｒを１インクレメン
トして（３０）、上述の処理（２４〜３０）を繰返す。

【０１０２】読出しデータのｙ位置（Ｎｏｓ）が、次の
エッジ領域のものに変わると、ステップ２４でチエック
する、前後メモリアドレスの各位置データの位置差がＥ
より大きく、ＭＰＵ４１は、ステップ２４から、図１１
のステップ３１に進む。ここでは、１つのマークエッジ
（先端エッジ又は後端エッジ）領域のサンプリングデー
タのすべての、下降，上昇傾向のチエックを終えたこと
になる。そこで、このときの１エッジ内サンプル数レジ
スタＣｔのサンプル数データＣｔが、１エッジ領域内
（２Ｖ以上３Ｖ以下の範囲内）の相当値であるかをチェ
ックする。すなわち、Ｆ≦Ｃｔ≦Ｇであるかをチェック
する（３１）。Ｆは、正常に形成されたマークの先端エ
ッジ又は後端エッジを検出した場合の、検出信号Ｓｄｒ
が２Ｖ以上３Ｖ以下にある間の、ｒメモリへのサンプル
値Ｄｄｒの書込み回数の下限値（設定値）、Ｇは上限値
（設定値）である。

【０１０３】ＣｔがＦ≦Ｃｔ≦Ｇであると、読取りとデ
ータ格納が正常に行われた１つのマークエッジのデータ
の正誤チェックを完了し、その結果が「適正」というこ
とになるので、このマークエッジに関して得た検出デー
タ群が、エッジ領域（２Ｖ以上３Ｖ以下）の全体とし
て、下降傾向か上昇傾向かをチェックする（３２，３
４）。この実施例では、下降回数レジスタＣｄのデータ
Ｃｄが、それと上昇回数レジスタＣｕのデータＣｕの和
Ｃｄ＋Ｃｕの７０％以上であると、メモリのエッジＮ
ｏ．Ｎｏｃ宛てのアドレスに、下降を意味する情報Ｄｏ
ｗｎを書込み（３３）、上昇回数レジスタＣｕのデータ
Ｃｕが、Ｃｄ＋Ｃｕの７０％以上であると、メモリのエ
ッジＮｏ．Ｎｏｃ宛てのアドレスに、上昇を意味する情
報Ｕｐを書込む（３５）。更に、当該エッジ領域のｙ位
置データの平均値すなわちエッジ領域の中心点位置（図
１３の（ｂ）のａ，ｂ，ｃ，ｄ，・・・）を算出して、
メモリのエッジＮｏ．Ｎｏｃ宛てのアドレスに書込む
（３６）。

【０１０４】次にエッジＮｏ．Ｎｏｓが１３０以上にな
ったか、すなわち、スタートマークＭｓｒおよび８セッ
トのマークパターンのすべての、先端エッジ領域および
後端エッジ領域の、中心位置算出を完了したかをチエッ
クする。これを完了していると、或いは、ｒメモリから
格納データの読出しをすべて完了していると、エッジ中
心点位置データ（ステップ３６で算出したｙ位置）に基
づいて、マーク中心点位置を算出する（３９）。すなわ
ち、メモリのエッジＮｏ．アドレスのデータ（下降／上
昇データ＆エッジ中心点位置データ）を読出して、先行
の下降エッジ領域の中心点位置とその直後の上昇エッジ
領域の中心点位置との位置差が、マークのｙ方向幅ｗ相
当の範囲内であるかをチエックして、外れているとこれ
らのデータを削除する。範囲内であると、これらのデー
タの平均値を、１つのマークの中心点位置として、先頭
からのマークＮｏ．宛てに、メモリに書込む。マーク形
成，マーク検出および検出データ処理のすべてが適正で
あると、リアｒに関して、スタートマークＭｓｒおよび
８セットのマーク（１セット８マーク×８セット＝６４
マーク）、合わせて６５個のマーク中心点位置データが
得られ、メモリに格納される。

【０１０５】次にＭＰＵ４１は、「フロントｆのマーク
中心点位置の算出」ＣＰＡｆを実行して、上述の「リア
ｒのマーク中心点位置の算出」ＣＰＡｒのデータ処理
を、fメモリ上の測定データに同様に実施する。フロン
トｆに関して、マーク形成，測定および測定データ処理
のすべてが適正であると、スタートマークＭｓｆおよび
８セットのマーク（６４マーク）、合わせて６５個のマ
ーク中心点位置データが得られ、メモリに格納される。

【０１０６】図８を再度参照する。上述のようにマーク
中心点位置を算出すると（ＣＰＡ）、ＭＰＵ４１は、つ
ぎの「各セットのパターンの検証」（ＳＰＣ）で、メモ
リに書きこんだマーク中心点位置データ群が、図４に示
すマーク分布相当の中心点分布であるかを検証する。こ
こで、図４に示すマーク分布相当から外れるデータは、
セット単位で削除して、図４に示すマーク分布相当の、
分布パターンとなるデータセット（１セットは８個の位
置データ群）のみを残す。すべて適正な場合は、リアｒ
側に８セット、フロントｆ側にも８セットのデータが残
る。

【０１０７】次にＭＰＵ４１は、リアｒ側のデータセッ
トの、先頭のセット（第１セット）の第１中心点位置
に、第２セット以降の各セットの中の第１マークの中心
点位置データを変更し、第２〜８マークの中心点位置デ
ータも、変更した差分値分変更する。すなわち、第２セ
ット以降の各セットの中心点位置データ群を、各セット
の先頭を第１セットの先頭に合わせるようにｙ方向にシ
フトした値に変更する。フロントｆ側の第２セット以降
の各セットの中の中心点位置データも同様に変更する。

【０１０８】次にＭＰＵ４１は、「平均パターンの算
出」（ＭＰＡ）で、リアｒ側の全セットの、各マークの
中心点位置データの平均値Ｍａｒ〜Ｍｈｒ（図１４）を
算出し、また、フロントｆ側の全セットの、各マークの
中心点位置データの平均値Ｍａｆ〜Ｍｈｆ（図１４）を
算出する。これらの平均値は、図１４に示すように分布
する仮想の、平均位置マークＭＡｋｒ（Ｂｋのリア直交
マークの代表），ＭＡｙｒ（Ｙのリア直交マークの代
表），ＭＡｃｒ（Ｃのリア直交マークの代表），ＭＡｍ
ｒ（Ｍのリア直交マークの代表），ＭＢｋｒ（Ｂｋのリ
ア斜交マークの代表），ＭＢｙｒ（Ｙのリア斜交マーク
の代表），ＭＢｃｒ（Ｃのリア斜交マークの代表）、お
よび、ＭＢｍｒ（Ｍのリア斜交マークの代表）、ならび
に、ＭＡｋｆ（Ｂｋのフロント直交マークの代表），Ｍ
Ａｙｆ（Ｙのフロント直交マークの代表），ＭＡｃｆ
（Ｃのフロント直交マークの代表），ＭＡｍｆ（Ｍのフ
ロント直交マークの代表），ＭＢｋｆ（Ｂｋのフロント
斜交マークの代表），ＭＢｙｆ（Ｙのフロント斜交マー
クの代表），ＭＢｃｆ（Ｃのフロント斜交マークの代
表）、および、ＭＢｍｒ（Ｍのフロント斜交マークの代
表）の中心点位置を示す。

【０１０９】以上が、図８以降に示す「テストパターン
の形成と計測」（ＰＦＭ）の内容である。

【０１１０】図７を、再度参照する。図１４も参照され
たい。図７に示すずれ量算出（ＤＡＣ）では、ＭＰＵ４
１は、次のように、作像ずれ量を算出する。Ｙの作像ず
れ量の算出（Ａｃｙ）を、具体的に次に示す。

【０１１１】副走査ずれ量ｄｙｙ：リアｒ側のＢｋ直交
マークＭＡｋｒとＹ直交マークＭＡｙｒの中心点位置の
差（Ｍｂｒ−Ｍａｒ）の、基準値ｄ（図４）に対するず
れ量 ｄｙｙ＝（Ｍｂｒ−Ｍａｒ）−ｄ。

【０１１２】主走査ずれ量ｄｘｙ：リアｒ側の直交マー
クＭＡｙｒと斜交マークＭＢｙｒの中心点位置の差（Ｍ
ｆｒ−Ｍｂｒ）の、基準値４ｄ（図４）に対するずれ量 ｄｘｙｒ＝（Ｍｆｒ−Ｍｂｒ）−４ｄ と、フロントｆ側の直交マークＭＡｙｆと斜交マークＭ
Ｂｙｆの中心点位置の差（Ｍｆｆ−Ｍｂｆ）の、基準値
４ｄ（図４）に対するずれ量 ｄｘｙｆ＝（Ｍｆｆ−Ｍｂｆ）−４ｄ との平均値 ｄｘｙ＝（ｄｘｙｒ＋ｄｘｙｆ）／２ ＝（Ｍｆｒ−Ｍｂｒ＋Ｍｆｆ−Ｍｂｆ−８ｄ）／２。

【０１１３】スキューｄＳｑｙ：リアｒ側の直交マーク
ＭＡｙｒとフロントｆ側の直交マークＭＡｙｆの中心点
位置の差 ｄＳｑｙ＝（Ｍｂｆ−Ｍｂｒ）。

【０１１４】主走査線長のずれ量ｄＬｘｙ：リアｒ側の
斜交マークＭＢｙｒとフロントｆ側の斜交マークＭＢｙ
ｆの中心点位置の差（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）から、スキュー
ｄＳｑｙ＝（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）を減算した値 ｄＬｘｙ＝（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）−ｄＳｑｙ ＝（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）−（Ｍｂｆ−Ｍｂｒ）。

【０１１５】他の、ＣおよびＭの作像ずれ量は、上記Ｙ
に関する算出と同様にして算出する（Ａｃｃ，Ａｃ
ｍ）。Ｂｋも大略では同様であるが、この実施例では、
副走査方向ｙの色あわせはＢｋを基準にしているので、
Ｂｋに関しては、副走査方向の位置ずれ量ｄｙｋの算出
は行わない（Ａｃｋ）。

【０１１６】図７に示すずれの調整（ＤＡＤ）では、Ｍ
ＰＵ４１は、次のように、各色の作像ずれ量を調整す
る。Ｙのずれ量調整（Ａｄｙ）を、具体的に次に示す。

【０１１７】副走査ずれ量ｄｙｙの調整：Ｙトナー像形
成のための画像露光（潜像形成）の開始タイミングを、
基準のタイミング（ｙ方向）から、算出したずれ量ｄｙ
ｙずらして設定する。

【０１１８】主走査ずれ量ｄｘｙの調整：Ｙトナー像形
成のための画像露光（潜像形成）の、ライン先頭をあら
わすライン同期信号に対する、書込みユニット５の露光
レーザ変調器への、ライン先頭の画像データの送出タイ
ミング（ｘ方向）を、基準のタイミングから、算出した
ずれ量ｄｘｙ分ずらして設定する。

【０１１９】スキューｄＳｑｙの調整：書込みユニット
５の、感光体ドラム６ｂに対向してＹ画像データで変調
したレーザビームを反射して感光体ドラム６ｂに投射す
る、ｘ方向に延びるミラーのリアｒ側は支点支持され、
フロントｆ側が、ｙ方向に摺動可のブロックで支持され
ている。このブロックをパルスモータとスクリューを主
体とするｙ駆動機構で、ｙ方向に往，復駆動してスキュ
ーｄＳｑｙを調整できる。「スキューｄＳｑｙの調整」
では、このｙ駆動機構のパルスモータを駆動して、ブロ
ックを基準のｙ位置から、算出したスキューｄＳｑｙに
相当する分駆動する。

【０１２０】主走査線長のずれ量ｄＬｘｙの調整：ライ
ン上に画素単位で画像データを割りつける画素同期クロ
ックの周波数を、基準周波数×Ｌｓ／（Ｌｓ＋ｄＬｘ
ｙ）に設定する。Ｌｓは基準ライン長である。

【０１２１】他の、ＣおよびＭの作像ずれ量の調整は、
上記Ｙに関する調整と同様にして調整する（Ａｄｃ，Ａ
ｄｍ）。Ｂｋも大略では同様であるが、この実施例で
は、副走査方向ｙの色あわせはＢｋを基準にしているの
で、Ｂｋに関しては、副走査方向の位置ずれ量ｄｙｋの
調整は行わない（Ａｄｋ）。次回の「色合わせ」まで、
このように調整した条件でカラー画像形成を行う。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明を一態様で実施するカラー複写機の外
観を示す斜視図である。

【図２】 図１に示すプリントＰＴＲの内部機構の概要
を示すブロック図である。

【図３】 図１に示すカラー複写機の電気系統のシステ
ム構成の概要を示すブロック図である。

【図４】 図２に示す転写ベルト１０の平面図であり、
その表面に形成される各色マークを模式的に示す。

【図５】 図３に示すプロセスコントローラ１の一部分
の構成を示すブロック図である。

【図６】 図５に示すマイクロコンピュータ（ＭＰＵ）
４１のプリント制御の概要を示すフローチャートであ
る。

【図７】 図６に示す「色合わせ」ＣＰＡの概要を示す
フローチャートである。

【図８】 図７に示す「テストパターンの形成と計測」
ＰＦＭの内容を示すフローチャートである。

【図９】 図８に示すステップ５で許可する割り込み処
理の内容を示すフローチャートである。

【図１０】 図８に示す「マーク中心点位置の算出」Ｃ
ＰＡの内容の一部を示すフローチャートである。

【図１１】 図８に示す「マーク中心点位置の算出」Ｃ
ＰＡの内容の残部を示すフローチャートである。

【図１２】 図２に示す転写ベルト１０に形成されるカ
ラーマークの分布を示す平面図、および、光センサ２０
ｒの、カラーマークを読取った検出信号Ｓｄｒのレベル
変化を示すタイムチャートである。

【図１３】 （ａ）は、図１２に示す検出信号Ｓｄｒの
タイムチャートの一部を拡大して示すタイムチャート、
（ｂ）は、（ａ）に示す検出信号の内、そのＡ／Ｄ変換
データが図５に示すＭＰＵ４１の内部のＦＩＦＯメモリ
に書込まれる範囲のみを摘出して示すタイムチャートで
ある。

【図１４】 図８に示す「平均パターンの算出」ＭＰＡ
によって算出される平均値データＭａｒ，・・・と、そ
れらが中心点位置となる仮想マークＭＡｋｒ，・・・、
すなわち平均値データ群で表されるマーク列、を示す平
面図である。

【符号の説明】

ＰＴＲ：カラープリンタ ＳＣＲ：スキャナ ＡＤＦ：自動原稿供給装置 ＳＯＲ：ソータ ＰＣ：パーソナルコンピュータ ５：書込みユニット ６ａ〜６ｄ：感光体ドラム ７ａ〜７ｄ：現像器 ８：給紙カセット ９：駆動ローラ １０：転写ベルト １１ａ〜１１ｄ：転写器 １２：定着装置 １３ａ：テンションローラ １３ｂ：従動ローラ ２０ｒ，２０ｆ：光センサ ２４：読取りユニット ＳＢＵ：センサボードユニッ
ト Ｐｂ：パラレルバス Ｓｂ：シリアルバス ４１：ＭＰＵ（マイクロコンピュータ）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０６Ｔ 1/00 ４３０ Ｈ０４Ｎ 1/04 １０６Ｚ ５Ｃ０７２ Ｈ０４Ｎ 1/04 １０６ 1/29 Ｇ ５Ｃ０７４ 1/29 Ｇ０３Ｇ 21/00 ３７２ Ｆターム(参考） 2F065 AA03 AA07 AA17 BB18 BB27 CC00 DD07 FF02 FF16 FF41 JJ18 KK01 MM03 PP22 QQ04 QQ24 QQ42 UU05 2H027 DA09 DA10 DE02 DE07 EB04 EC03 EC06 ED04 ZA07 2H030 AA01 AB02 BB02 BB16 BB36 BB43 BB56 5B047 AA30 AB04 BA01 BC16 CA12 CB12 CB17 CB23 DB01 5B057 AA12 BA02 BA19 CA01 CA06 CA12 CA16 CB01 CB06 CB12 CB16 CH11 DA07 DB02 DB06 DB08 DC07 5C072 AA05 BA02 BA04 BA19 CA05 QA14 QA17 RA07 UA06 UA11 UA20 VA07 XA01 5C074 AA07 AA10 BB02 BB26 CC26 DD15 DD16 EE11 FF15 GG12 GG14 GG19

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】整列した複数のマークを、光学センサで、
   相対走査により読取り、読取り信号を所定ピッチでＡ／
   Ｄ変換して、走査位置を特定してメモリに格納し、該メ
   モリ上の、走査位置が隣接し特定の読取り信号変化領域
   に属するデータ群、の走査位置に基づいて各マークの分
   布情報を生成する、マーク分布パターン検出方法。
2. 【請求項２】前記特定の読取り信号変化領域は、マーク
   有無に対応する高低レベルのあいだの、高レベルから低
   レベルへの変化領域を含む、請求項１記載のマーク分布
   パターン検出方法。
3. 【請求項３】前記特定の読取り信号変化領域は、マーク
   有無に対応する高低レベルのあいだの、低レベルから高
   レベルへの変化領域を含む、請求項１又は請求項２記載
   のマーク分布パターン検出方法。
4. 【請求項４】前記メモリには、読取り信号の、マーク無
   しレベルとマーク有りレベルの間の異なった値の第１レ
   ベルおよび第２レベル、の間の範囲内のＡ／Ｄ変換デー
   タのみを、走査位置を特定して格納する、請求項１，請
   求項２又は請求項３記載のマーク分布パターン検出方
   法。
5. 【請求項５】光センサ；整列した複数のマークを担持す
   る媒体と前記光センサを相対走査する手段；光センサの
   検出信号を検出データにデジタル変換するＡ／Ｄ変換手
   段；メモリ；前記Ａ／Ｄ変換手段のＡ／Ｄ変換データ
   を、走査位置を特定して前記メモリに格納する、データ
   格納制御手段；および、 前記メモリの、走査位置が隣接しマーク有無に対応する
   高低レベルの、一方から他方への変化領域に属するデー
   タ群の走査位置に基づいてマーク位置を算出する演算手
   段；を備えるマーク分布パターン検出装置。
6. 【請求項６】感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上
   に重ね転写するカラー画像形成装置において、 その感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に、
   その移動方向に並べて各色のマークを所定順に、所定距
   離をおいて形成するテストパターン形成手段；テストパ
   ターンの各色のマークを検出するセンサ；該センサの検
   出信号を検出データにデジタル変換するＡ／Ｄ変換手
   段；メモリ；前記Ａ／Ｄ変換手段のＡ／Ｄ変換データ
   を、走査位置を特定して前記メモリに格納する、データ
   格納制御手段；前記メモリの、検出信号読込み位置が隣
   接しマーク有無に対応する高低レベルの、一方から他方
   への変化領域に属するデータ群の検出信号読込み位置に
   基づいてマーク位置を算出する演算手段；および、 算出した各色マーク位置に基づいて、色間の作像ずれ量
   を算出し、これをなくすように、各色作像タイミングを
   調整する色合わせ手段；を備えるカラー画像形成装置。