JP2002164572A5 - - Google Patents

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  1. 基板と活性層との間に、基板側から順に、アンドープの第1の窒化物半導体層と、n型不純物がドープされたn導電型の第2の窒化物半導体層と、アンドープの第3の窒化物半導体層とを有し、
    前記第2の窒化物半導体層が単層であり、第2の窒化物半導体層にn電極が形成され、
    前記第1の窒化物半導体層、第2の窒化物半導体層、第3の窒化物半導体層が同一組成であることを特徴とする窒化物半導体発光素子。
  2. 前記第1の窒化物半導体層、第2の窒化物半導体層、第3の窒化物半導体層が、GaNであることを特徴とする請求項1記載の窒化物半導体発光素子。
  3. 基板と活性層との間に、基板側から順に、アンドープの第1の窒化物半導体層と、n型不純物がドープされたn導電型の第2の窒化物半導体層と、アンドープの第3の窒化物半導体層とを有し、
    前記第2の窒化物半導体層が単層であり、第2の窒化物半導体層にn電極が形成され、
    前記前記第3の窒化物半導体層の抵抗率が、0.1Ω・cmより大きいことを特徴とする窒化物半導体発光素子。
  4. 前記第3の窒化物半導体層がInGaNであると共に、In混晶比yが0.1以下であるInGa1−yNであることを特徴とする請求項3記載の窒化物半導体発光素子。
  5. 基板と活性層との間に、基板側から順に、アンドープの第1の窒化物半導体層と、n型不純物がドープされたn導電型の第2の窒化物半導体層と、アンドープの第3の窒化物半導体層とを有し、
    前記第2の窒化物半導体層が単層であり、第2の窒化物半導体層にn電極が形成され、
    前記第1の窒化物半導体層がAlGaNであることを特徴とする窒化物半導体発光素子。
  6. 前記第1の窒化物半導体層が、X値が0.2以下のAlGa1−xNであることを特徴とする請求項5記載の窒化物半導体発光素子。
  7. 前記第3の窒化物半導体層の抵抗率が、0.1Ω・cmより大きいことを特徴とする請求項5又は6に記載の窒化物半導体発光素子。
  8. 前記第3の窒化物半導体層の膜厚が0.15μm以下であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の窒化物半導体発光素子。
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