JP2002156397A - スペクトラム測定方法、スペクトラムアナライザおよびスペクトラム測定システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 間欠動作を行う被測定装置にスペクトラム測
定時に連続動作を行わせる必要なく、測定時間を短縮化
し、確実に間欠動作時に測定を行う。 【解決手段】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
のスペクトラム測定を行うに際し、間欠動作の周期およ
び間欠動作の時間に基づいて、スペクトラム測定時の掃
引時間を設定し、スペクトラム測定を行う。さらに測定
周波数帯域幅、間欠動作の周期および間欠動作の時間に
基づいて、測定繰り返し回数を設定し、設定された掃引
時間および測定繰り返し回数に対応させてスペクトラム
測定を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、スペクトラム測定
方法、スペクトラムアナライザおよびスペクトラム測定
システムに係り、特に間欠動作している被測定装置のス
ペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法、スペクト
ラムアナライザおよびスペクトラム測定システムに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来より、被測定装置の電磁スペクトラ
ムを測定するに際しては、スペクトラムアナライザ（sp
ectrum analyser）が用いられている。スペクトラムア
ナライザは、信号の周波数分析を行う測定装置であり、
被計測信号を各周波数成分に分解し、振幅−周波数の関
係として表示するものである。図９にスペクトラムアナ
ライザの測定概念の説明図を示す。スペクトラムアナラ
イザは、掃引型の測定装置であり、測定対象の周波数帯
域８０を測定分解能周波数帯域８１毎に順次掃引し、測
定分解能周波数帯域幅８１に対応する測定対象周波数信
号８３の振幅の最大値あるいは最小値を検出する。この
ときの掃引時間は、図９中、符号Ｌに対応するものとし
て表される。そして、測定周波数帯域８０に対応する振
幅−周波数特性グラフ８４を、図１０に示すように、Ｃ
ＲＴ（Cathode Ray Tube）等の表示装置の表示画面上に
表示する。また、同一周波数帯域を繰り返し測定するこ
とができ、複数回測定した測定値の最大値あるいは最小
値を更新する機能も有している。ところで、間欠動作を
行う被測定装置について電磁スペクトラムを測定する方
法には以下のものがある。

【０００３】［１］第１従来例 測定対象の周波数帯域８０に対して測定を繰り返し、複
数回測定した測定値の最大値を更新する構成とし、長時
間繰り返して測定を行う方法である。 ［２］第２従来例 測定対象の周波数帯域８０を複数の周波数帯域に分割
し、分割した各周波数帯域を間欠周期に相当する時間だ
け測定する。 ［３］第３従来例 上記第１従来例および第２従来例と比較して測定時間を
短縮し、かつ、全測定周波数帯域において、被測定装置
が動作していることを保証するために、被測定装置の間
欠動作を止めて、連続動作モードに移行させ、連続動作
状態でスペクトラムアナライザによりスペクトラムを測
定する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記第１従来例によれ
ば、全測定周波数帯域において、被測定装置が動作して
いることが保証される訳ではないので、目的とする測定
結果が得られることが保証されないという問題点があっ
た。また、上記第２従来例によれば、測定対象の周波数
帯域８０の全周波数帯域において、被測定装置が動作し
ている期間が含まれることとなる。しかしながら、スペ
クトラムアナライザの掃引時間が長く設定されてしまう
という問題点があった。上記第３従来例によれば、測定
時に被測定装置を連続動作させる必要があり、当該被測
定装置が通常動作時に間欠動作しかしないような装置の
場合には、測定のためだけに連続動作モードに移行する
ための機構を設ける必要があり、冗長な構成となってし
まうという問題点があった。

【０００５】そこで、本発明の目的は、間欠動作を行う
被測定装置にスペクトル測定時に連続動作を行わせる必
要なく、測定時間を短縮化し、確実に間欠動作時に測定
を行うことが可能なスペクトラム測定方法、スペクトラ
ムアナライザおよびスペクトラム測定システムを提供す
ることにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１記載の構成は、所定の周期で間欠動作を行
う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペクトラム測
定方法において、前記周期および前記間欠動作の時間に
基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定
する掃引時間設定過程と、設定された掃引時間Ｌに基づ
いてスペクトラム測定を行う測定過程と、を備えたこと
を特徴としている。

【０００７】請求項２記載の構成は、請求項１記載の構
成において、前記掃引時間設定過程は、前記間欠動作の
周期をＴとし、前記間欠動作における動作時間をＭと
し、（１）式の関係が満たされる場合に、（２）式によ
り掃引時間Ｌを算出し、設定することを特徴としてい
る。 Ｔ＝Ｋ×Ｍ （Ｋは２以上の整数） ……（１） Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ ……（２）

【０００８】請求項３記載の構成は、所定の周期で間欠
動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペク
トラム測定方法において、前記周期および前記間欠動作
の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時間
Ｌを設定する掃引時間設定過程と、測定周波数帯域幅、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰
り返し回数Ｙを設定する繰り返し回数設定過程と、設定
された掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいてスペ
クトラム測定を行う測定過程と、を備えたことを特徴と
している。

【０００９】請求項４記載の構成は、請求項３記載の構
成において、前記掃引時間設定過程は、間欠動作の周期
をＴとし、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任
意の自然数とした場合に、（３）式により、掃引時間Ｌ
を算出し、設定することを特徴としている。 Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ ……（３） ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。

【００１０】請求項５記載の構成は、請求項４記載の構
成において、前記繰り返し回数設定過程は、（４）式あ
るいは（５）式に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を
算出することを特徴としている。 Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋２ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０ではない場合） ……（４） Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋１ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０の場合） ……（５） ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）
／Δｔの商を表す。

【００１１】請求項６記載の構成は、所定の周期で間欠
動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペク
トラムアナライザにおいて、前記周期および前記間欠動
作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時
間Ｌを設定する掃引時間設定部と、設定された掃引時間
Ｌに基づいてスペクトラム測定を行う測定部と、を備え
たことを特徴としている。

【００１２】請求項７記載の構成は、請求項６記載の構
成において、前記掃引時間設定部は、前記間欠動作の周
期をＴとし、前記間欠動作における動作時間をＭとし、
（１）式の関係が満たされる場合に、（２）式により掃
引時間Ｌを算出し、設定することを特徴としている。 Ｔ＝Ｋ×Ｍ （Ｋは２以上の整数） ……（１） Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ ……（２）

【００１３】請求項８記載の構成は、所定の周期で間欠
動作を行う被測定装置のスペクトラム測定を行うスペク
トラムアナライザにおいて、前記周期および前記間欠動
作の時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の掃引時
間Ｌを設定する掃引時間設定部と、測定周波数帯域幅、
前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰
り返し回数Ｙを設定する繰り返し回数設定部と、設定さ
れた掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいてスペク
トラム測定を行う測定部と、を備えたことを特徴として
いる。

【００１４】請求項９記載の構成は、請求項８記載の構
成において、前記掃引時間設定部は、間欠動作の周期を
Ｔとし、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意
の自然数とした場合に、（３）式により、掃引時間Ｌを
算出し、設定することを特徴としている。 Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ ……（３） ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。

【００１５】請求項１０記載の構成は、請求項９記載の
構成において、前記繰り返し回数設定部は、（４）式あ
るいは（５）式に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を
算出することを特徴としている。 Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋２ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０ではない場合） ……（４） Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋１ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０の場合） ……（５） ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）
／Δｔの商を表す。

【００１６】請求項１１記載の構成は、所定の周期で間
欠動作を行う被測定装置のスペクトラム測定をスペクト
ラムアナライザを用いて行うスペクトラム測定システム
において、前記被測定装置の間欠動作の周期および前記
間欠動作の動作時間を設定する外部制御装置と、前記外
部制御装置により設定された間欠動作の周期および間欠
動作の動作時間に基づいて、前記スペクトラム測定時の
掃引時間Ｌを前記スペクトラムアナライザに対して設定
する制御指示装置と、を備えたことを特徴としている。

【００１７】請求項１２記載の構成は、請求項１１記載
の構成において、前記制御指示装置は、 測定周波数帯
域幅、前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、
測定繰り返し回数Ｙを前記スペクトラムアナライザに対
して設定することを特徴としている。

【００１８】

【発明の実施の形態】次に本発明の好適な実施形態につ
いて図面を参照して説明する。 ［１］第１実施形態 まず第１実施形態について説明する。図１に測定時の概
要構成ブロック図を示す。スペクトラムアナライザ１０
には、間欠動作を行う被測定装置２０が接続されてい
る。この場合において、スペクトラムアナライザ１０
は、測定周波数帯域のスペクトラムの最大値を更新しつ
つ、繰り返し測定するものとする。

【００１９】図２にスペクトラムアナライザの概要構成
図を示す。図２は、リアルタイム型スペクトラムアナラ
イザの概要構成図である。スペクトラムアナライザ１０
は、入力端子１１と、複数のバンドパスフィルタ部１２
-1〜１２-nと、複数のピーク検出器１３-1〜１３-nと、
高速切替スイッチ１４と、掃引信号発生部１５と、表示
部１６と、を備えて構成されている。入力端子には、複
数のバンドパスフィルタ部が並列に接続されている。各
バンドパスフィルタ部１２-1〜１２-nは、通過帯域幅が
相互に重なり合うように設定されており、全バンドパス
フィルタ部１２-1〜１２-nを合わせた通過帯域幅が測定
対象の周波数帯域幅と等しくなるようになっている。ピ
ーク検出器１３-1〜１３-nは対応するバンドパスフィル
タ部１２-1〜１２-nの出力信号のピーク値（最大値ある
いは最小値）を検出し、更新しつつ保持する。高速切替
スイッチ１４は、掃引信号発生部１５の制御下で、ピー
ク検出器１３-1〜１３-nのうちいずれか一つのピーク検
出器の出力信号を順次切り換えて表示部１６に出力す
る。表示部１６は、高速切替スイッチ１４からの出力信
号に基づいて入力信号（被計測信号）の振幅−周波数の
関係を表示する。次に動作を説明する。

【００２０】図３に被測定装置の動作説明図を示す。被
測定装置２０は、間欠動作周期Ｔごとに動作し、その動
作時間はＭとなっている。これにより、間欠動作周期Ｔ
ごとに動作時間Ｍの間だけ、スペクトラムが観測される
こととなる。この場合において、測定周波数帯域につい
ての掃引時間をＬとし、 Ｔ＝Ｋ×Ｍ （Ｋは２以上の整数） ……（１） Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ ……（２） の関係を満たすことが可能であれば、効率よく測定が行
える。より具体的にＫ＝５の場合について図４を参照し
て説明する。この場合、 Ｔ＝５×Ｍ Ｌ＝（５−１）×Ｍ ＝４×Ｍ となる。この場合、掃引時間Ｌは動作時間Ｍの４倍の期
間であるので、測定周波数帯域を４つの周波数帯域（低
域６、中低域７、中高域８、高域９）に分け、４回の測
定で測定周波数帯域の測定を完了することとなる。な
お、図４の例は、被測定装置の動作開始時刻と掃引開始
時刻（時刻ｔ０）が一致する場合であるが、ずれている
場合には、４＋１＝５回の測定で測定周波数帯域の測定
を完了することとなる。同様に掃引時間Ｌが動作時間Ｍ
のＸ倍の期間であれば、最大でＸ＋１回の測定で測定周
波数帯域の測定を完了することとなる。すなわち、第１
回目の測定である第１回目の掃引動作時には、掃引開始
時刻時刻ｔ０〜時刻ｔ１（＝ｔ０＋Ｍ）の期間中に、被
測定装置２０が動作しているので、掃引開始時刻ｔ０〜
時刻ｔ１の期間中に低域６の周波数帯域の測定を行う。
そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換を行うことに
より実際の測定結果は、図５（Ａ）に示すようなものと
なる。

【００２１】続いて、第２回目の測定である第２回目の
掃引動作時には、時刻ｔ１〜時刻ｔ２（＝ｔ０＋２・
Ｍ）の期間中に、被測定装置２０が動作しているので、
掃引開始時刻時刻ｔ１〜時刻ｔ２の期間中に中低域７の
周波数帯域の測定を行う。そして、測定結果の時間軸−
周波数軸変換を行うことにより、第２回目の測定完了時
点における実際の測定結果は、図５（Ｂ）に示すような
ものとなる。次に第３回目の測定である第３回目の掃引
動作時には、時刻ｔ２〜時刻ｔ３（＝ｔ０＋３・Ｍ）の
期間中に、被測定装置２０が動作しているので、掃引開
始時刻時刻ｔ２〜時刻ｔ３の期間中に中高域８の周波数
帯域の測定を行う。そして、測定結果の時間軸−周波数
軸変換を行うことにより、第３回目の測定完了時点にお
ける実際の測定結果は、図５（Ｃ）に示すようなものと
なる。続いて第４回目の測定である第４回目の掃引動作
時には、時刻ｔ３〜時刻ｔ４（＝ｔ０＋４・Ｍ）の期間
中に、被測定装置２０が動作しているので、掃引開始時
刻時刻ｔ３〜時刻ｔ４の期間中に高域９の周波数帯域の
測定を行う。そして、測定結果の時間軸−周波数軸変換
を行うことにより、第４回目の測定完了時点における実
際の測定結果は、図５（Ｄ）に示すようなものとなり、
測定周波数帯域全域にわたって測定が完了することとな
る。

【００２２】［２］第２実施形態 次に図６を参照して第２実施形態について説明する。上
記第１実施形態は、間欠周期Ｔが動作時間Ｍの２以上の
整数倍である場合について説明したが、実際の間欠周期
Ｔは動作時間Ｍに対し、このような関係を満たすとは限
らない。そこで、本第２実施形態は、より実際的な測定
方法を提供するものである。本第２実施形態において、
装置構成は第１実施形態と同様であるので、図１ないし
図３を参照して説明する。図６に第２実施形態の動作説
明図を示す。被測定装置２０の間欠動作の周期をＴと
し、間欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自
然数とし、Δｔをパラメータとする。この場合において
も、第１実施形態と同様に、周期Ｔごとに動作時間Ｍの
間だけ、スペクトラムが観測されるものとする。

【００２３】この場合において、測定周波数帯域につい
ての掃引時間をＬとし、 Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ ……（３） ０＜｜Δｔ｜≦Ｍ ……（４） の関係を満たすように掃引時間Ｌを設定する。より具体
的にＮ＝２、０＜Δｔ≦Ｍ５の場合について図６を参照
して説明する。この場合において、測定に最低限必要な
測定繰り返し回数Ｙは、（５）式あるいは（６）式によ
り表すことができる。以下の説明において、Ｚは、分数
式であり、ｆ（Ｚ）は、分数式の商を表すものとする。 Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋２ （分数式Ｚの余りが０ではない場合） ……（５） Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋１ （分数式Ｚの余りが０の場合） ……（６）

【００２４】このように、測定繰り返し回数Ｙを設定す
ることにより、測定周波数帯域の全域にわたって測定を
完了することとなる。従って、測定周波数帯域の測定を
完了するための時間としては、 Ｙ×Ｌ の時間が必要となる。この場合に、設定可能な時間Δｔ
をできる限り大きな値に設定すれば、測定繰り返し回数
Ｙを小さくすることができ、測定周波数帯域の測定を完
了するための時間（＝Ｙ×Ｌ）を短縮することができ
る。上記構成に依れば、図６に示すように、掃引時間Ｌ
に対する被測定装置の動作時間の相対的な期間をΔｔだ
けずらしつつ、掃引時間Ｌの期間中に１回あるいは複数
回測定することができ、図７（Ａ）〜図７（Ｄ）に示す
ように、順次測定周波数帯域内の測定を行え、最終的に
は測定周波数帯域の全域にわたって測定が完了すること
となる。

【００２５】［３］第３実施形態 上記各実施形態においては、被測定装置の間欠動作周期
Ｔおよび動作時間Ｍは固定となっていたが、本第３実施
形態は、被測定装置の間欠動作周期Ｔおよび動作時間Ｍ
を外部から設定可能な被測定装置の場合の実施形態であ
る。図８に第３実施形態のスペクトラム測定システムの
概要構成ブロック図を示す。スペクトラム測定システム
５０は、被測定装置５１と、スペクトラムアナライザ５
２と、外部制御装置５３と、制御指示装置５４と、を備
えて構成されている。被測定装置５１は、外部制御装置
５３からの制御信号Ａに基づいて間欠動作周期Ｔおよび
動作時間Ｍを設定し、設定された間欠動作周期および動
作時間Ｍに基づいて動作する。制御指示装置５４は、受
信部５５と、制御部５６と、計算部５７と、送信部５８
と、を備えて構成されている。

【００２６】受信部５５は、制御信号Ａを受信し、計算
部５７に出力する。制御部５６は、計算部５７を制御す
る。計算部５７は、制御部５６の制御下で、制御信号Ａ
に対応する間欠動作周期Ｔおよび動作時間Ｍに最適な掃
引時間Ｌおよび測定繰り返し回数Ｙを計算し、送信部５
８に出力する。これにより送信部５８は、入力された掃
引時間Ｌおよび測定繰り返し回数Ｙをスペクトラムアナ
ライザ５２に設定するための制御信号Ｂを出力する。ス
ペクトラムアナライザ５２は、制御信号Ｂに対応する掃
引時間Ｌおよび測定繰り返し回数Ｙに基づいて測定を行
う。具体的な測定については、第１実施形態あるいは第
２実施形態と同様である。

【００２７】［４］実施形態の効果 上記各実施形態によれば、被測定装置において、測定の
ためだけに連続動作モードを実装する必要がなく、回路
構成あるいは装置構成を簡略化できるとともに、製造コ
ストの低減も図ることができる。また、測定時間の最適
化がはかれ、実質的に測定時間を短縮化することができ
る。さらに確実に掃引時間中に被測定装置の動作時間が
含まれることとなり、所望の測定結果を確実に得ること
ができる。

【００２８】

【発明の効果】本発明によれば、測定時間の最適化がは
かれ、実質的に測定時間を短縮化することができる。ま
た、確実に掃引時間中に被測定装置の動作時間が含まれ
ることとなり、所望の測定結果を確実に得ることができ
る。さらに被測定装置において、測定のためだけに連続
動作モードを実装する必要がなく、回路構成あるいは装
置構成を簡略化できるとともに、製造コストの低減も図
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 第１実施形態における測定時の概要構成ブロ
ック図である。

【図２】 スペクトラムアナライザの概要構成図であ
る。

【図３】 被測定装置の動作説明図である。

【図４】 第１実施形態における具体的測定動作の説明
図である。

【図５】 第１実施形態における具体的測定結果の説明
図である。

【図６】 第２実施形態における具体的測定動作の説明
図である。

【図７】 第２実施形態における具体的測定結果の説明
図である。

【図８】 第３実施形態のスペクトル測定システムの概
要構成ブロック図である。

【図９】 スペクトラムアナライザの測定概念の説明図
である。

【図１０】 測定周波数帯域に対応する振幅−周波数特
性グラフの表示例の説明図である。

【符号の説明】

１０、５２…スペクトラムアナライザ ２０、５１…被測定装置 １１…入力端子 １２-1〜１２-n…バンドパスフィルタ部 １３-1〜１３-n…ピーク検出部 １４…高速切換スイッチ １５…掃引信号発生部 １６…表示部 ５３…外部制御装置 ５４…制御指示装置 ５５…受信部 ５６…制御部 ５７…計算部 ５８…送信部

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
   のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法におい
   て、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
   ペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定
   過程と、 設定された掃引時間Ｌに基づいてスペクトラム測定を行
   う測定過程と、 を備えたことを特徴とするスペクトラム測定方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載のスペクトラム測定方法に
   おいて、 前記掃引時間設定過程は、前記間欠動作の周期をＴと
   し、前記間欠動作における動作時間をＭとし、（１）式
   の関係が満たされる場合に、（２）式により掃引時間Ｌ
   を算出し、設定することを特徴とするスペクトラム測定
   方法。 Ｔ＝Ｋ×Ｍ （Ｋは２以上の整数） ……（１） Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ ……（２）
3. 【請求項３】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
   のスペクトラム測定を行うスペクトラム測定方法におい
   て、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
   ペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定
   過程と、 測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間
   に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを設定する繰り返し回
   数設定過程と、 設定された掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいて
   スペクトラム測定を行う測定過程と、 を備えたことを特徴とするスペクトラム測定方法。
4. 【請求項４】 請求項３記載のスペクトラム測定方法に
   おいて、 前記掃引時間設定過程は、間欠動作の周期をＴとし、間
   欠動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自然数と
   した場合に、（３）式により、掃引時間Ｌを算出し、設
   定することを特徴とするスペクトラム測定方法。 Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ ……（３） ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。
5. 【請求項５】 請求項４記載のスペクトラム測定方法に
   おいて、 前記繰り返し回数設定過程は、（４）式あるいは（５）
   式に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を算出すること
   を特徴とするスペクトラム測定方法。 Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋２ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０ではない場合） ……（４） Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋１ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０の場合） ……（５） ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）
   ／Δｔの商を表す。
6. 【請求項６】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
   のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにお
   いて、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
   ペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定
   部と、 設定された掃引時間Ｌに基づいてスペクトラム測定を行
   う測定部と、 を備えたことを特徴とするスペクトラムアナライザ。
7. 【請求項７】 請求項６記載のスペクトラムアナライザ
   において、 前記掃引時間設定部は、前記間欠動作の周期をＴとし、
   前記間欠動作における動作時間をＭとし、（１）式の関
   係が満たされる場合に、（２）式により掃引時間Ｌを算
   出し、設定することを特徴とするスペクトラムアナライ
   ザ。 Ｔ＝Ｋ×Ｍ （Ｋは２以上の整数） ……（１） Ｌ＝（Ｋ−１）×Ｍ ……（２）
8. 【請求項８】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装置
   のスペクトラム測定を行うスペクトラムアナライザにお
   いて、 前記周期および前記間欠動作の時間に基づいて、前記ス
   ペクトラム測定時の掃引時間Ｌを設定する掃引時間設定
   部と、 測定周波数帯域幅、前記周期および前記間欠動作の時間
   に基づいて、測定繰り返し回数Ｙを設定する繰り返し回
   数設定部と、 設定された掃引時間Ｌおよび繰り返し回数Ｙに基づいて
   スペクトラム測定を行う測定部と、 を備えたことを特徴とするスペクトラムアナライザ。
9. 【請求項９】 請求項８記載のスペクトラムアナライザ
   において、 前記掃引時間設定部は、間欠動作の周期をＴとし、間欠
   動作における動作時間をＭとし、Ｎを任意の自然数とし
   た場合に、（３）式により、掃引時間Ｌを算出し、設定
   することを特徴とするスペクトラムアナライザ。 Ｌ＝Ｔ×Ｎ−Δｔ ……（３） ここで、０＜｜Δｔ｜≦Ｍである。
10. 【請求項１０】 請求項９記載のスペクトラムアナライ
    ザにおいて、 前記繰り返し回数設定部は、（４）式あるいは（５）式
    に基づいて、繰り返し回数Ｙの最小値を算出することを
    特徴とするスペクトラムアナライザ。 Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋２ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０ではない場合） ……（４） Ｙ＝ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）＋１ （分数式（Ｔ−Ｍ）／Δｔの余りが０の場合） ……（５） ここで、ｆ（（Ｔ−Ｍ）／Δｔ）は、分数式（Ｔ−Ｍ）
    ／Δｔの商を表す。
11. 【請求項１１】 所定の周期で間欠動作を行う被測定装
    置のスペクトラム測定をスペクトラムアナライザを用い
    て行うスペクトラム測定システムにおいて、 前記被測定装置の間欠動作の周期および前記間欠動作の
    動作時間を設定する外部制御装置と、 前記外部制御装置により設定された間欠動作の周期およ
    び間欠動作の動作時間に基づいて、前記スペクトラム測
    定時の掃引時間Ｌを前記スペクトラムアナライザに対し
    て設定する制御指示装置と、 を備えたことを特徴とするスペクトラム測定システム。
12. 【請求項１２】 請求項１１記載のスペクトラム測定シ
    ステムにおいて、 前記制御指示装置は、 測定周波数帯域幅、前記周期お
    よび前記間欠動作の時間に基づいて、測定繰り返し回数
    Ｙを前記スペクトラムアナライザに対して設定すること
    を特徴とするスペクトラム測定システム。