JP2002148292A - Digital flicker meter - Google Patents
Digital flicker meterInfo
- Publication number
- JP2002148292A JP2002148292A JP2000340250A JP2000340250A JP2002148292A JP 2002148292 A JP2002148292 A JP 2002148292A JP 2000340250 A JP2000340250 A JP 2000340250A JP 2000340250 A JP2000340250 A JP 2000340250A JP 2002148292 A JP2002148292 A JP 2002148292A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pass filter
- digital
- waveform
- input
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はデジタルフリッカメ
ータに関し、さらに詳しくは、二乗検波に使用するデジ
タルフィルタを初期化して出力を迅速に安定化できるデ
ジタルフリッカメータに関するものである。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a digital flicker meter, and more particularly, to a digital flicker meter capable of initializing a digital filter used for square detection and rapidly stabilizing the output.
【０００２】[0002]
【従来の技術】配電線の負荷がなんらかの要因で急に変
動すると、負荷電流による電圧降下の値が変わるために
電圧が変化する。このような電圧変動が頻繁に繰り返さ
れると、この配電線から受電している電灯や蛍光灯の明
るさが変動し、その度合いと繰返し周期とによっては人
間の眼にちらつきを感じさせることになり、かかる障害
現象をフリッカと称している。2. Description of the Related Art When the load on a distribution line fluctuates suddenly for some reason, the voltage changes because the value of the voltage drop due to the load current changes. If such voltage fluctuations are repeated frequently, the brightness of the electric lamp or fluorescent lamp receiving power from this distribution line will fluctuate, and depending on the degree and the repetition cycle, the human eye will flicker. Such a failure phenomenon is called flicker.
【０００３】そして、上記したフリッカの評価尺度とし
ては、１０Ｈｚ等価フリッカ値（ΔＶ１０）が広く用い
られている。このΔＶ１０は、フリッカによる照明のち
らつきが、フリッカ周波数１０Ｈｚのときに人間の眼に
最も感じやすいというちらつき視感度特性に基づいてい
る。そして、フリッカ周波数が１０Ｈｚにおける電圧フ
リッカの振幅を原則としてΔＶ１０と規定している。As a flicker evaluation scale, a 10-Hz equivalent flicker value (ΔV10) is widely used. This ΔV10 is based on the flicker visibility characteristic that the flicker of illumination due to flicker is most easily perceived by human eyes when the flicker frequency is 10 Hz. The amplitude of the voltage flicker at a flicker frequency of 10 Hz is defined as ΔV10 in principle.
【０００４】ところで、フリッカメータは、電圧変動の
ある電源に接続して、その際に生じるフリッカの程度を
指示もしくは記録する計器である。このフリッカメータ
は、上述したように人間の眼が感じるちらつき感の生理
法則を電気回路でシミュレートして、上記等価フリッカ
値ΔＶ１０の１分間毎の平均値を記録させるものであ
り、アナログ回路を組み合わせて構成されているアナロ
グタイプのもののほか、近年のマイクロコンピュータの
普及に対応して、入力をデジタル変換した後に所定の演
算をして結果を出すように構成されているデジタルタイ
プのものも提供されるに至っている。A flicker meter is an instrument that is connected to a power supply having a voltage fluctuation and indicates or records the degree of flicker occurring at that time. This flicker meter simulates the physiological law of the flicker feeling felt by the human eye with an electric circuit as described above, and records the average value of the equivalent flicker value ΔV10 per minute, and records the analog circuit. In addition to the analog type that is configured in combination, the digital type that is configured to convert the input to digital and then perform a predetermined operation to obtain the result is provided in response to the recent spread of microcomputers. Has been done.
【０００５】図５は、このうちのデジタルタイプのフリ
ッカメータの概略構成例を示す機能ブロック図であり、
デジタルフリッカメータ１は、入力部２を介して測定対
象の電源が入力されると、Ａ／Ｄ変換部３を経ることで
デジタルデータに変換し、ＣＰＵ（中央処理ユニット）
４にて必要な演算等を行い、ＣＲＴ等からなるデータ出
力部８に対し必要データを出力できるようになってい
る。この場合、ＲＯＭ５には、ＣＰＵ４のための演算・
制御プログラム等が格納されており、ＲＡＭ６は、上記
演算・制御プログラム等の実行や、他の各種の処理に必
要なデータを書き込んだり、読み出したりする際に利用
される。また、キー等により構成される操作入力部７か
らは、測定の開始、停止、データの出力等を入力操作で
きるようになっている。FIG. 5 is a functional block diagram showing a schematic configuration example of a digital type flicker meter.
When a power supply to be measured is input via the input unit 2, the digital flicker meter 1 converts the power into digital data through an A / D converter 3 and a CPU (Central Processing Unit)
4 performs necessary calculations and outputs necessary data to a data output unit 8 such as a CRT. In this case, the ROM 5 stores an operation for the CPU 4.
A control program and the like are stored, and the RAM 6 is used when executing the arithmetic and control programs and writing and reading data necessary for various other processes. The operation input unit 7 including keys and the like can be operated to start and stop measurement, output data, and the like.
【０００６】図６は、図５に示すデジタルフリッカメー
タ１に二乗検波による方法を適用して実行される従来手
法の処理手順の概要を示すフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart showing an outline of a processing procedure of a conventional method executed by applying the method of square detection to the digital flicker meter 1 shown in FIG.
【０００７】同図によれば、まず、入力部２に測定対象
の電源を結線してこれを入力する準備が整えられ、準備
が整った後に、以下の処理がすべての出力を終了するま
でまで繰り返し行われる。According to FIG. 1, first, a power supply to be measured is connected to the input unit 2 and preparations for inputting the power supply are prepared. Until the preparation is completed, the following processing is performed until all outputs are completed. It is repeated.
【０００８】まず、Ａ／Ｄ変換部３を介して得られたデ
ジタルデータを一つ（以下、「ｄ」という。）取り出
し、二乗演算（ｄ×ｄ）を行ってｄ１を得る。First, one digital data (hereinafter, referred to as "d") obtained through the A / D converter 3 is extracted, and a square operation (d.times.d) is performed to obtain d1.
【０００９】次いで、ｄ１を入力としたローパスフィル
タ（ＬＰＦ）の演算を行い、その出力ｄ２を得る。しか
る後、ｄ２を入力としたハイパスフィルタ（ＨＰＦ）の
演算を行い、その出力ｄ３を得る。なお、ローパスフィ
ルタ（ＬＰＦ）の演算と、ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）
の演算とは、その順を逆にして行うこともできる。Next, a low-pass filter (LPF) with d1 as input is operated to obtain its output d2. After that, a high-pass filter (HPF) operation with d2 as input is performed to obtain its output d3. The operation of the low-pass filter (LPF) and the operation of the high-pass filter (HPF)
Can be performed in the reverse order.
【００１０】しかる後、ｄ３を入力としてΔＶ１０の演
算を行い、必要に応じてその演算結果をデータ出力部８
を介して出力表示する。かかる一連の処理は、Ａ／Ｄ変
換部３を介して得られたデジタルデータのすべてに対し
て行われた後、これを終了する。Thereafter, the operation of ΔV10 is performed using d3 as an input, and the operation result is output to the data output unit 8 as required.
Display output via. This series of processing is performed on all the digital data obtained via the A / D conversion unit 3, and then the processing is terminated.
【００１１】[0011]
【発明が解決しようとする課題】しかし、二乗検波に用
いているような時定数の長いハイパスフィルタ（ＨＰ
Ｆ）を、再帰型のフィルタ（ＩＩＲ型）で実現する場合
には、測定開始の入力時点からフィルタ出力が安定する
までに数十秒の時間を要することがあり、測定可能にな
るまでの間、待機しなければならない作業性の悪さがあ
った。However, a high-pass filter (HP) having a long time constant as used in the square detection is used.
When F) is realized by a recursive filter (IIR type), it may take several tens of seconds from the input point of the measurement start to the time when the filter output is stabilized. There was a bad workability that had to wait.
【００１２】本発明は、従来手法にみられた上記課題に
鑑み、測定開始から測定可能となるまでの待機時間を短
縮して作業性を向上させることができるデジタルフィリ
ッカメータを提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned problems encountered in the conventional method, and has as its object to provide a digital filler meter capable of shortening the standby time from the start of measurement to the point at which measurement can be performed and improving workability. Aim.
【００１３】[0013]
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
しようとするものであり、そのうちの第１の発明は、入
力部を介して入力された測定対象の電源信号を二乗演算
と基本波の２倍の帯域の削除を行うローパスフィルタ
と、直流分の削除を行うハイパスフィルタとを経ること
により、処理する二乗検波をデジタルで実現するデジタ
ルフリッカメータにおいて、入力波形を特定してその擬
似的な波形を合成し、該合成波形を前記ハイパスフィル
タにこれが安定化するに十分な時間に相当する分だけあ
らかじめ入力しておく初期化処理を行い、しかる後、該
初期化処理に対応させた周期の開始位置を先頭として各
デジタルデータの先頭データから最終データに至るまで
順に、二乗演算と前記ローパスフィルタによる演算とす
でに前記初期化処理を終えている前記ハイパスフィルタ
による演算とを行うことにより処理させたことに特徴が
ある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to achieve the above-mentioned object, and a first invention of the present invention is to calculate a power supply signal of an object to be measured inputted through an input section by a square operation and a fundamental wave. In a digital flickermeter that digitally implements square detection to be processed by passing through a low-pass filter that removes a band twice as high as a low-pass filter and a high-pass filter that removes DC components, an input waveform is specified and its pseudo And performs an initialization process of preliminarily inputting the synthesized waveform to the high-pass filter by an amount corresponding to a time sufficient for the synthesized waveform to stabilize. Thereafter, a cycle corresponding to the initialization process is performed. Starting from the start position of the digital data, the square operation, the operation by the low-pass filter, and the initialization It is characterized in that is processed by performing the operation by the high-pass filter has completed.
【００１４】この場合、前記初期化処理で行われる入力
波形の特定は、求めた振幅と位相とにより決定される正
弦波により行ったり、あらかじめ適宜周期分の実波形を
取り込んでメモリに保持させておき、この実波形を基準
波形として利用することにより行うことができる。In this case, the input waveform specified in the initialization processing is specified by a sine wave determined by the obtained amplitude and phase, or an actual waveform of a period is fetched beforehand and held in a memory. This can be performed by using this actual waveform as a reference waveform.
【００１５】また、第２に発明は、同じデジタルフリッ
カメータにおいて、設計時にあらかじめ予想される入力
波形によってシミュレートしてある前記ハイパスフィル
タの変数を初期値として用いた前記ハイパスフィルタを
用い、該初期化処理に対応させた周期の開始位置を先頭
として各デジタルデータの先頭データから最終データに
至るまで順に、二乗演算と前記ローパスフィルタによる
演算とすでに前記初期化処理を終えている前記ハイパス
フィルタによる演算とを行って処理させたことに特徴が
ある。In a second aspect of the present invention, in the same digital flicker meter, the high pass filter using the variable of the high pass filter simulated by an input waveform expected at the time of design as an initial value is used. From the start data of each cycle of the digital data to the final data, starting from the start position of the cycle corresponding to the initialization process, the square operation, the operation by the low-pass filter, and the operation by the high-pass filter that has already finished the initialization process Is performed.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】本発明は、入力部１を介して入力
された測定対象の電源信号を二乗演算と基本波の２倍の
帯域の削除を行うローパスフィルタ（ＬＰＦ）と、直流
分の削除を行うハイパスフィルタ（ＨＰＦ）とを経るこ
とにより、処理する二乗検波をデジタルで実現する図５
に示すデジタルフリッカメータ１に適用して実施され
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention relates to a low-pass filter (LPF) for performing a square operation and removing a band twice as large as a fundamental wave of a power supply signal to be measured, which is input via an input unit 1, and a DC component. FIG. 5 is a diagram for realizing square detection to be processed digitally through a high-pass filter (HPF) that performs deletion.
This is applied to the digital flicker meter 1 shown in FIG.
【００１７】図１は、上記デジタルフリッカメータ１に
適用して実行される処理手順の一例を示すフローチャー
トである。FIG. 1 is a flow chart showing an example of a processing procedure applied to the digital flicker meter 1 and executed.
【００１８】同図によれば、電源に結線して入力される
電源信号の正常であることがまず確認される。入力が正
常であることを確認する理由は、次に行われるハイパス
フィルタの初期化処理が実波形をシミュレーションして
行われることによる。なお、結線されて入力が開始され
たことは、ピーク値のレベルが規定値以上か否かをチェ
ックしたり、実効値が規定値以上か否かをチェックした
り、電路が例えば三相三線のように複線である場合、ゼ
ロクロスの位置により位相関係が正常か否かをチェック
するなどして確認できる。According to FIG. 1, it is first confirmed that the power supply signal connected to the power supply is normal. The reason for confirming that the input is normal is that the initialization processing of the high-pass filter performed next is performed by simulating the actual waveform. In addition, the fact that the input is started after the connection is made means that it is checked whether the level of the peak value is equal to or more than the specified value, whether the effective value is equal to or more than the specified value, or that the electric circuit is a three-phase In the case of a double track as described above, it can be confirmed by checking whether or not the phase relationship is normal based on the position of the zero cross.
【００１９】かくして、電源信号の正常であることが確
認された場合には、ハイパスフィルタに対する所定の初
期化処理が行われ、しかる後、次の処理との間に連続性
を付与するために、該初期化処理に対応させた同期の開
始位置を先頭とするための処理が前処理として行われ
る。Thus, when it is confirmed that the power supply signal is normal, a predetermined initialization process is performed on the high-pass filter, and thereafter, in order to provide continuity with the next process, A process for setting the start position of the synchronization corresponding to the initialization process at the head is performed as preprocessing.
【００２０】ところで、上記初期化処理は、入力波形を
特定した上でその擬似的な波形を合成し、該合成波形を
前記ハイパスフィルタにこれが安定化するに十分な時間
に相当する分だけあらかじめ入力してハイパスフィルタ
を初期化する手法（以下、「第１の発明における初期化
処理」という。）と、設計時にあらかじめシミュレート
してあるハイパスフィルタの変数に固定値を初期値とし
て代入して入力波形を特定することによりハイパスフィ
ルタを初期化する手法（以下、「第２の発明における初
期化処理」という。）とに大別することができる。In the initialization process, an input waveform is specified, a pseudo waveform is synthesized, and the synthesized waveform is input to the high-pass filter in advance for a time corresponding to a time sufficient for the high-pass filter to stabilize. (Hereinafter, referred to as “initialization processing in the first invention”), and inputting a fixed value as an initial value into a variable of the high-pass filter simulated in advance at the time of design. It can be broadly classified into a method of initializing a high-pass filter by specifying a waveform (hereinafter, referred to as “initialization processing in the second invention”).
【００２１】そして、第１の発明における初期化処理に
おいて行われる入力波形波の特定は、例えば求めた振幅
と位相とにより決定される正弦波に基づいて行ったり、
あらかじめ適宜周期分の実波形を取り込んでメモリに保
持させておき、この実波形を基準波形として利用するこ
とにより行うことができる。The input waveform wave specified in the initialization processing in the first invention is specified based on, for example, a sine wave determined by the obtained amplitude and phase.
This can be performed by previously capturing an actual waveform for an appropriate period and storing it in a memory, and using the actual waveform as a reference waveform.
【００２２】図２は、第１の発明における初期化処理に
あって、１周期分の実波形を取り込んで基準波形として
利用することにより行われる入力波形波の特定方法の一
例を示すフローチャートである。なお、図示例において
は、１周期分の実波形を取り込んで利用する場合が示さ
れているが、１／４周期や半周期のほか、数周期の波形
を基準波形として利用することもできる。なお、同図中
のＨｉ側スレッショルドレベル（以下、「ｄｔｈ」と略
称する。）とは、入力波形の振幅の上限値と下限値との
間の中心値（交流信号の０Ｖ）を意味し、Ｌｏ側スレッ
ショルドレベル（以下、「ｄｔｌ」と略称する。）と
は、入力波形にのってくるノイズのレベルを上記ｄｔｈ
から差し引いた値（−１０Ｖ程度）を意味するものとす
る。FIG. 2 is a flowchart showing an example of a method for specifying an input waveform wave performed in the initialization process according to the first aspect of the present invention by taking an actual waveform for one cycle and using it as a reference waveform. . In the illustrated example, a case is shown in which an actual waveform for one cycle is captured and used, but a waveform of several cycles in addition to a quarter cycle or a half cycle can be used as a reference waveform. Note that the Hi-side threshold level (hereinafter abbreviated as “dth”) in the figure means a center value (0 V of an AC signal) between the upper limit value and the lower limit value of the amplitude of the input waveform. The Lo-side threshold level (hereinafter abbreviated as “dtl”) is the level of noise coming in the input waveform.
Means a value (approximately −10 V) subtracted from the value.
【００２３】同図によれば、まず、実波形のデータの保
持場所カウンタをゼロとした上で、Ａ／Ｄ変換部３から
実波形の１番目の１データを取り込む。取り込んだ１デ
ータがｄｔｈよりも高い位置にあれば、実波形のデータ
の取込みを開始する（左側の最上位に位置する対応正弦
波グラフ図における縦破線とのクロス位置参照）。According to FIG. 1, first, the first data of the actual waveform is fetched from the A / D converter 3 after setting the actual waveform data holding location counter to zero. If the acquired one data is at a position higher than dth, the acquisition of the data of the actual waveform is started (see the cross position with the vertical broken line in the corresponding sine wave graph located at the leftmost uppermost position).
【００２４】保持場所カウンタを１カウントアップした
上で、Ａ／Ｄ変換部３から実波形の２番目の１データを
取り込む。以後、１データがｄｔｌよりも低い位置（左
側の中位に位置する対応正弦波グラフ図における縦破線
とのクロス位置参照）にくるまで保持場所カウンタをカ
ウントアップしながら実波形のデータを順次１データず
つ取り込む。After the holding location counter is counted up by one, the second data of the actual waveform is fetched from the A / D converter 3. Thereafter, the data of the actual waveform is sequentially incremented by one while counting up the holding location counter until one data is at a position lower than dtl (see the cross position with the vertical broken line in the corresponding sine wave graph located at the middle position on the left). Import data by data.
【００２５】さらに、保持場所カウンタをカウントアッ
プしながらＡ／Ｄ変換部３から実波形のデータを順次取
り込んでいき、データがｄｔｈよりも高い位置（左側の
最下位に位置する対応正弦波グラフ図における縦破線と
のクロス位置参照）にきた時点で１周期分の実波形デー
タの取り込みを終了する。これにより、第１の発明にお
ける初期化処理によった一例としての入力波形波の特定
が行われる。Further, data of the actual waveform is sequentially fetched from the A / D converter 3 while counting up the holding location counter, and the data is higher than dth (the corresponding sine wave graph at the lowest position on the left side). (Refer to the cross position with the vertical broken line in FIG. 3)), the acquisition of the actual waveform data for one cycle ends. Thus, the input waveform wave is specified as an example by the initialization processing in the first invention.
【００２６】しかも、第１の発明における初期化処理に
おいては、上記したようにして入力波形の特定が行われ
た後、特定された入力波形に基づき擬似的な入力波形を
合成し、該合成波形をハイパスフィルタにこれが安定化
するに十分な時間に相当する分だけあらかじめ入力して
その処理を終える。なお、ハイパスフィルタが安定化す
る収束時間は、その設計時にあらかじめ実験によりに求
めておく必要がある。Further, in the initialization processing of the first invention, after the input waveform is specified as described above, a pseudo input waveform is synthesized based on the specified input waveform, and the synthesized waveform is synthesized. Is input in advance to the high-pass filter by an amount corresponding to a time sufficient for this to stabilize, and the processing is completed. Note that the convergence time for stabilizing the high-pass filter needs to be obtained in advance by experiments at the time of designing the high-pass filter.
【００２７】一方、上記した第２の発明における初期化
処理は、既に述べたように設計時にあらかじめ予想され
る入力波形によってシミュレートしてある前記ハイパス
フィルタの変数を初期値として用いた前記ハイパスフィ
ルタを用いて行われる。On the other hand, the initialization processing according to the second aspect of the present invention uses the high-pass filter using, as an initial value, the variable of the high-pass filter simulated by an input waveform predicted in advance at the time of design as described above. This is performed using
【００２８】図３は、第２の発明における初期化処理に
対応させた周期の開始位置を先頭とするための開始位置
監視処理の手順を示すフローチャートであり、図４は、
正弦波を入力波形として図３に示す処理手順との対応関
係を示す説明図である。FIG. 3 is a flowchart showing a procedure of a start position monitoring process for starting a start position of a cycle corresponding to the initialization process in the second invention, and FIG.
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating a correspondence relationship with a processing procedure illustrated in FIG. 3 using a sine wave as an input waveform.
【００２９】これらの図によれば、入力（測定）の開始
位置を監視するためには、Ａ／Ｄ変換部３から１データ
（ｄ）を取り込み、該１データ（ｄ）があらかじめ設定
されているヒステリシス（ｄｈｉｓ）と比較され、該ヒ
ステリシスを下回る場合には、上回るまで１データ
（ｄ）の取り込みが繰り返し行われ、図４に示す周期波
形のように初期化のシミュレートが行われる。According to these figures, in order to monitor the start position of the input (measurement), one data (d) is fetched from the A / D converter 3 and the one data (d) is set in advance. Compared with the existing hysteresis (d his ), if the value is lower than the hysteresis, one data (d) is fetched repeatedly until the value exceeds the hysteresis, and the initialization is simulated as in the periodic waveform shown in FIG.
【００３０】やがて、取り込まれた１データ（ｄ）がヒ
ステリシス（ｄｈｉｓ）を上回ると判断された場合に
は、次順以降の各１データ（ｄ）があらかじめ設定され
ている基準レベル（ｄｌｖ）と比較され、１データ
（ｄ）が基準レベル（ｄｌｖ）を上回る、つまり図４に
おいて右側の縦実線とｄｌｖとして示される横実線との
クロス位置を超えたと判別された時点を開始位置として
測定が開始されることになる。When it is determined that the taken one data (d) exceeds the hysteresis (d his ), one data (d) from the next order onward is set to a predetermined reference level ( dlv). ) Is compared with the reference level (d lv ), that is, the start position is determined when the data (d) exceeds the cross position between the vertical solid line on the right side and the horizontal solid line shown as d lv in FIG. The measurement will be started as follows.
【００３１】第１の発明における初期化処理もしくは第
２の発明における初期化処理が行われた後は、ともに次
の同じ処理をすべての処理が終了するまでまで繰り返し
行われる。After the initialization processing in the first invention or the initialization processing in the second invention is performed, the same processing is repeated until all the processing is completed.
【００３２】すなわち、まず、Ａ／Ｄ変換部３を介して
得られたデジタルデータを一つ（「ｄ」）取り出し、二
乗演算（ｄ×ｄ）を行ってｄ１を得る。That is, first, one ("d") of digital data obtained through the A / D converter 3 is extracted, and a square operation (d.times.d) is performed to obtain d1.
【００３３】次いで、ｄ１を入力としたローパスフィル
タの演算を行い、その出力ｄ２を得る。しかる後、ｄ２
を入力としたハイパスフィルタ（上記初期化処理済み）
の演算を行い、その出力ｄ３を得る。Next, a low-pass filter operation with d1 as an input is performed to obtain an output d2. Then, d2
High-pass filter with input as input (initialized above)
To obtain the output d3.
【００３４】しかる後、ｄ３を入力としてΔＶ１０の演
算を行い、必要に応じてその演算結果をデータ出力部８
を介して出力表示する。かかる一連の処理は、Ａ／Ｄ変
換部３を介して得られたデジタルデータのすべてに対し
て行われた後、これを終了する。Thereafter, the operation of ΔV10 is performed using d3 as an input, and the operation result is output to the data output unit 8 if necessary.
Display output via. This series of processing is performed on all the digital data obtained via the A / D conversion unit 3, and then the processing is terminated.
【００３５】このため、本発明によれば、デジタルフリ
ッカメータが備える時定数の長いハイパスフィルタを例
えば再帰型のフィルタ（ＩＩＲ型）で実現する場合であ
っても、ハイパスフィルタに対し事前に入力波形を特定
する初期化処理を終えておくことにより、測定開始の入
力時点からフィルタ出力が安定するまでの時間も数秒程
度にまで短縮することができる。これは、デジタルフリ
ッカメータの測定対象が電力系統であることから、基準
となる入力波形も例えば５０Ｈｚ１００Ｖの正弦波とい
うように特定しやすいことによる。Therefore, according to the present invention, even when a high-pass filter having a long time constant provided in a digital flicker meter is realized by, for example, a recursive filter (IIR type), an input waveform is previously input to the high-pass filter. Is completed, the time from the input of the start of the measurement to the stabilization of the filter output can be reduced to about several seconds. This is because the measurement object of the digital flicker meter is an electric power system, and therefore, the reference input waveform is easily specified as a sine wave of 50 Hz and 100 V, for example.
【００３６】したがって、ΔＶ１０対応のデジタルフリ
ッカメータにおいても、測定開始から測定可能となるま
での待機時間を短縮することができるので、フリッカを
測定する際の作業性を向上させることができる。Therefore, even in a digital flicker meter compatible with ΔV10, the waiting time from the start of measurement to the point at which measurement can be performed can be shortened, so that workability in measuring flicker can be improved.
【００３７】[0037]
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、ΔＶ
１０対応のデジタルフリッカメータであっても、これが
備えるハイパスフィルタに対し入力波形を特定する所定
の初期化処理を終えているので、測定開始の入力時点か
らフィルタ出力が安定するまでの時間も数秒程度にまで
短縮することができ、作業性の向上を図ることができ
る。As described above, according to the present invention, ΔV
Even with a digital flicker meter that supports 10, since the predetermined initialization processing for specifying the input waveform has been completed for the high-pass filter included in the digital flicker meter, the time from the input point of the measurement start until the filter output is stabilized is also about several seconds. And workability can be improved.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図１】図５に示すデジタルフリッカメータに適用して
実行される本発明における処理手順の概要を例示するフ
ローチャート図。FIG. 1 is a flowchart illustrating an outline of a processing procedure in the present invention executed by being applied to the digital flicker meter shown in FIG. 5;
【図２】第１の発明における初期化処理にあって、１周
期分の実波形を取り込んで基準波形として利用すること
により行われる入力波形波の特定方法の一例を示すフロ
ーチャート。FIG. 2 is a flowchart showing an example of a method for specifying an input waveform wave, which is performed in the initialization process according to the first invention, by taking an actual waveform for one cycle and using it as a reference waveform.
【図３】第２の発明における初期化処理に対応させた周
期の開始位置を先頭とするための開始位置監視処理の手
順を示すフローチャート。FIG. 3 is a flowchart illustrating a procedure of a start position monitoring process for starting a cycle start position corresponding to an initialization process according to the second invention;
【図４】正弦波を入力波形として図３に示す処理手順と
の対応関係を示す説明図。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a correspondence relationship with the processing procedure shown in FIG. 3 using a sine wave as an input waveform.
【図５】デジタルフリッカメータの概略構成を示すブロ
ック図。FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a digital flicker meter.
【図６】図５に示すデジタルフリッカメータに適用して
実行される従来の処理手順を示すフローチャート図。FIG. 6 is a flowchart showing a conventional processing procedure executed by being applied to the digital flicker meter shown in FIG. 5;
１ デジタルフリッカメータ ２ 入力部 ３ Ａ／Ｄ変換部 ４ ＣＰＵ ５ ＲＯＭ ６ ＲＡＭ ７ 操作入力部 ８ データ出力部 Reference Signs List 1 digital flicker meter 2 input unit 3 A / D conversion unit 4 CPU 5 ROM 6 RAM 7 operation input unit 8 data output unit
Claims (4)
源信号を二乗演算と基本波の２倍の帯域の削除を行うロ
ーパスフィルタと、直流分の削除を行うハイパスフィル
タとを経ることにより、処理する二乗検波をデジタルで
実現するデジタルフリッカメータにおいて、 入力波形を特定してその擬似的な波形を合成し、該合成
波形を前記ハイパスフィルタにこれが安定化するに十分
な時間に相当する分だけあらかじめ入力しておく初期化
処理を行い、しかる後、該初期化処理に対応させた周期
の開始位置を先頭として各デジタルデータの先頭データ
から最終データに至るまで順に、二乗演算と前記ローパ
スフィルタによる演算とすでに前記初期化処理を終えて
いる前記ハイパスフィルタによる演算とを行うことによ
り処理させたことを特徴とするデジタルフリッカメー
タ。1. A power supply signal to be measured, which is input via an input unit, is passed through a low-pass filter that performs a square operation and removes a band twice as large as a fundamental wave, and a high-pass filter that removes a DC component. In a digital flickermeter that digitally implements square detection to be processed, an input waveform is specified, a pseudo waveform is synthesized, and the synthesized waveform is converted by the high-pass filter into an amount corresponding to a time sufficient for the high-pass filter to stabilize. Is performed in advance, and thereafter, the square operation and the low-pass filter are performed in order from the start data of each cycle of the digital data to the final data, starting from the start position of the cycle corresponding to the initialization process. And an operation by the high-pass filter that has already completed the initialization processing. Digital flicker meter.
定は、求めた振幅と位相とにより決定される正弦波によ
り行われることを特徴とする請求項１に記載のデジタル
フリッカメータ。2. The digital flickermeter according to claim 1, wherein the input waveform specified in the initialization process is specified by a sine wave determined by the obtained amplitude and phase.
定は、あらかじめ適宜周期分の実波形を取り込んでメモ
リに保持させておき、この実波形を基準波形として利用
することにより行うことを特徴とする請求項１に記載の
デジタルフリッカメータ。3. An input waveform specified in the initialization processing is specified by previously capturing an actual waveform of an appropriate period and storing it in a memory, and using the actual waveform as a reference waveform. The digital flicker meter according to claim 1, wherein
源信号を二乗演算と基本波の２倍の帯域の削除を行うロ
ーパスフィルタと、直流分の削除を行うハイパスフィル
タとを経ることにより、処理する二乗検波をデジタルで
実現するデジタルフリッカメータにおいて、 設計時にあらかじめ予想される入力波形によってシミュ
レートしてある前記ハイパスフィルタの変数を初期値と
して用いた前記ハイパスフィルタを用い、該初期化処理
に対応させた周期の開始位置を先頭として各デジタルデ
ータの先頭データから最終データに至るまで順に、二乗
演算と前記ローパスフィルタによる演算とすでに前記初
期化処理を終えている前記ハイパスフィルタによる演算
とを行って処理させたことを特徴とするデジタルフリッ
カメータ。4. A low-pass filter for squaring a power supply signal to be measured input via an input unit and removing a band twice as large as a fundamental wave, and a high-pass filter for removing a DC component. A digital flickermeter that digitally realizes square detection to be processed, using the high-pass filter that uses variables of the high-pass filter simulated by an input waveform expected in advance at the time of design as initial values, and performing the initialization processing. From the start data of each cycle of the digital data to the final data, starting from the start position of the cycle corresponding to the above, the square operation, the operation by the low-pass filter, and the operation by the high-pass filter that has already completed the initialization processing are performed. A digital flicker meter characterized by performing and processing.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000340250A JP2002148292A (en) | 2000-11-08 | 2000-11-08 | Digital flicker meter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000340250A JP2002148292A (en) | 2000-11-08 | 2000-11-08 | Digital flicker meter |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002148292A true JP2002148292A (en) | 2002-05-22 |
Family
ID=18815197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000340250A Pending JP2002148292A (en) | 2000-11-08 | 2000-11-08 | Digital flicker meter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002148292A (en) |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6154465A (en) * | 1984-08-24 | 1986-03-18 | Fukuoka Denki Keiki Kk | Flicker meter |
| JPS62250319A (en) * | 1986-04-23 | 1987-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Apparatus for measuring irregular flicker |
| JPH02141172U (en) * | 1989-04-27 | 1990-11-27 | ||
| JPH0489535A (en) * | 1990-08-01 | 1992-03-23 | Japan Electron Control Syst Co Ltd | Detecting device of knocking of internal combustion engine |
| JPH07212623A (en) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Victor Co Of Japan Ltd | Ghost elimination device |
| JPH09247799A (en) * | 1996-03-04 | 1997-09-19 | Fujitsu Ltd | Stereoscopic acoustic processing unit using linear prediction coefficient |
| JPH09297157A (en) * | 1996-04-30 | 1997-11-18 | Hioki Ee Corp | Flicker measuring device |
| JP2000077979A (en) * | 1998-08-25 | 2000-03-14 | Stmicroelectronics Inc | Converging time reduction method and device |
-
2000
- 2000-11-08 JP JP2000340250A patent/JP2002148292A/en active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6154465A (en) * | 1984-08-24 | 1986-03-18 | Fukuoka Denki Keiki Kk | Flicker meter |
| JPS62250319A (en) * | 1986-04-23 | 1987-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Apparatus for measuring irregular flicker |
| JPH02141172U (en) * | 1989-04-27 | 1990-11-27 | ||
| JPH0489535A (en) * | 1990-08-01 | 1992-03-23 | Japan Electron Control Syst Co Ltd | Detecting device of knocking of internal combustion engine |
| JPH07212623A (en) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Victor Co Of Japan Ltd | Ghost elimination device |
| JPH09247799A (en) * | 1996-03-04 | 1997-09-19 | Fujitsu Ltd | Stereoscopic acoustic processing unit using linear prediction coefficient |
| JPH09297157A (en) * | 1996-04-30 | 1997-11-18 | Hioki Ee Corp | Flicker measuring device |
| JP2000077979A (en) * | 1998-08-25 | 2000-03-14 | Stmicroelectronics Inc | Converging time reduction method and device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5631444B1 (en) | Leakage current calculation device and leakage current calculation method | |
| JPH0743413B2 (en) | Semiconductor test equipment | |
| CN112034394B (en) | Rectifier open-circuit fault diagnosis method based on current half-wave difference and electronic equipment | |
| JP6037010B2 (en) | Insulation monitoring device | |
| CA1114908A (en) | Complex analog signal generator | |
| JP2002148292A (en) | Digital flicker meter | |
| JP2000097982A (en) | Coil testing and evaluating device | |
| JP2002131347A (en) | Grounding resistance measurement device and its method | |
| JP2008014648A (en) | Measuring instrument | |
| CN111398653B (en) | Three-phase alternating current amplitude fluctuation analysis method and system | |
| JPH0785094B2 (en) | Voltage difference measuring method and measuring apparatus therefor | |
| JPH04109174A (en) | Impedance measuring device | |
| CN107564445A (en) | The method of testing and system of display | |
| CN111299757B (en) | Control method, device and system for pulse welding process | |
| JP2653198B2 (en) | How to measure analog signals | |
| JP3275293B2 (en) | AGC circuit of flicker measuring instrument | |
| Drápela et al. | A Flickermeter based on voltage peak detection method–Part I: LabView implementation | |
| JP3732436B2 (en) | Flicker meter square wave detection circuit | |
| JP2007132778A (en) | Impedance measuring apparatus | |
| CN115336996A (en) | Electroencephalogram impedance measuring system and electroencephalogram impedance measuring method | |
| CN118330546A (en) | Low-cost programmable electric energy meter power supply harmonic detection method and device | |
| JP2949940B2 (en) | Self-diagnosis device for D / A converter | |
| JP2574677B2 (en) | Measurement method of dielectric loss | |
| JPH062343Y2 (en) | Waveform shaping circuit for frequency measurement | |
| JPH10213609A (en) | Peak detecting circuit and measuring device for electric characteristic |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071101 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100208 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100217 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100630 |