JP2002092632A - 3次元画像生成装置及び同方法 - Google Patents

3次元画像生成装置及び同方法

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JP2002092632A JP2000284518A JP2000284518A JP2002092632A JP 2002092632 A JP2002092632 A JP 2002092632A JP 2000284518 A JP2000284518 A JP 2000284518A JP 2000284518 A JP2000284518 A JP 2000284518A JP 2002092632 A JP2002092632 A JP 2002092632A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 3次元座標データにより生成した3次元画像
に陰影を正確かつ簡単に付することができるようにす
る。 【解決手段】 レーザ発振器111は、対象物の表面に
レーザ光により照射スポットを形成する。レーザ光の方
向は、電動モータ105,119によってX、Y軸方向
に変更される。ラインセンサ118は、複数の受光素子
からなり、照射スポットによる対象物からの反射光を受
光する。電気制御回路装置150は、ラインセンサ11
8による受光位置に応じてミラー115から対象物の表
面までの距離(Z軸方向の距離)Lzを検出するととも
に、ラインセンサ118による反射光の受光幅Lzsを検
出する。コンピュータ本体200は、レーザ光の照射方
向θx,θy及びZ軸方向距離Lzに応じて対象物の3
次元画像を生成するとともに、受光幅Lzsに応じて前記
3次元画像に陰影を付加する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、対象物の3次元画
像を生成する3次元画像生成装置及び同方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、対象物に向けて方向を変更し
ながら光ビームを放射して同対象物の表面に順次位置を
変えながら照射スポットを形成し、対象物の表面からの
反射光を集光して一列に配置された複数の受光素子から
なるラインセンサ上に結像させ、対象物の表面に対する
光ビームの各照射スポットの位置毎に、前記光ビームの
放射方向に基づいて同光ビームにほぼ直交する仮想的な
平面上における照射スポットの2次元位置を表すX,Y
軸方向の座標データを計算するとともに、前記ラインセ
ンサによって検出された反射光の受光位置に基づいて3
角測量法を用いて前記仮想的な平面に直交する方向に沿
った前記光ビーム放射手段から前記対象物の表面におけ
る照射スポットまでの距離を表すZ軸方向の座標データ
を計算し、これらのX,Y,Z軸方向の座標データから
なる対象物の表面に関する3次元座標データに基づいて
対象物の3次元画像を生成する3次元画像生成装置及び
同方法はよく知られている。
【0003】また、近年、例えば特開平9−21064
6号公報に示されているように、前記3次元座標データ
により生成した3次元画像に、ビデオカメラによって撮
影した2次元画像を合成して、前記3次元画像に陰影を
付することも行われている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記3次元画
像に陰影を付すための合成においては、対象物の2次元
画像を表す2次元画像データを得るためのビデオカメラ
などの特別の機器を必要とする。また、3次元座標デー
タにより生成した3次元画像と、ビデオカメラによって
撮影した2次元画像とを合成するための位置合わせを必
要とするが、この位置合わせによる誤差が発生するとい
う問題もあった。
【0005】
【発明の概要】本発明は、上記問題に対処するためにな
されたもので、その目的は、3次元座標データにより生
成した3次元画像に陰影を正確かつ簡単に付することが
できる3次元画像生成装置及び同方法を提供することに
ある。
【0006】上記目的を達成するために、本発明の構成
上の特徴は、対象物に向けて光ビームを放射して同対象
物の表面に照射スポットを形成する光ビーム放射手段
と、前記光ビームの放射方向を変更して前記対象物の表
面に形成される照射スポットの位置を変更する放射方向
変更手段と、前記対象物の表面からの反射光を集光して
結像する結像手段と、前記結像手段による反射光の結像
位置に一列に配置された複数の受光素子からなるライン
センサと、前記対象物の表面に対する光ビームの各照射
スポットの位置毎に、前記光ビームの放射方向及び前記
ラインセンサによって検出される反射光の受光位置に基
づいて前記対象物の表面に関する3次元座標データを計
算する座標変換手段と、前記各照射スポットの位置毎に
計算した各3次元座標データに基づいて前記対象物の3
次元画像を生成する画像処理手段とを備えた3次元画像
生成装置において、前記対象物の表面に対する光ビーム
の各照射スポットの位置毎に、前記ラインセンサによっ
て検出された反射光の受光幅を計測する受光幅計測手段
を設け、前記画像処理手段は、前記各照射スポットの位
置毎に計測した反射光の受光幅を、前記対象物の表面の
陰影を表す陰影情報として利用して前記対象物の3次元
画像を生成するようにしたことにある。
【0007】この場合、例えば、3次元座標データは、
前記光ビーム放射手段によって放射された光ビームにほ
ぼ直交する仮想的なX,Y平面上における照射スポット
の2次元位置を表すX,Y軸方向の座標データと、前記
仮想的な平面に直交する方向に沿った前記光ビーム放射
手段から前記対象物の表面における照射スポットまでの
距離を表すZ軸方向の座標データとからなり、前記座標
変換手段は、前記光ビームの放射方向に基づいて前記
X,Y軸方向の座標データを計算するとともに、前記ラ
インセンサによって検出される反射光の受光位置に基づ
いて3角測量法を用いて前記Z軸方向の座標データを計
算するものである。
【0008】また、前記ラインセンサによる反射光の受
光位置は、例えば、同ラインセンサを構成する全ての受
光素子のうちで閾値を越える量の反射光を受光した複数
の受光素子の平均的な位置により検出され得る。また、
前記ラインセンサによる反射光の受光幅は、同ラインセ
ンサを構成する全ての受光素子のうちで閾値を越える量
の反射光を受光した受光素子の数をカウントすることに
より計測され得る。
【0009】本発明は、対象物の表面が明るくなるほど
同表面の照射スポットからの反射光の散乱の度合いが大
きくなるという現象に着目したものであり、前記受光幅
計測手段は、ラインセンサによる反射光の受光幅を計測
することにより、前記反射光の散乱の程度、すなわち対
象物表面の明るさを照射スポット位置毎に検出すること
になる。そして、画像処理手段にて、前記各照射スポッ
トの位置毎に計測した反射光の受光幅が、前記対象物の
表面の陰影を表す陰影情報として利用されて対象物の3
次元画像が生成される。この場合、前記計測された受光
幅は、各照射スポットの位置毎に検出されたものであっ
て、各3次元座標データと対応しているので、3次元座
標データに基づく対象物の3次元画像の生成に同受光幅
を対象物の表面の陰影を表す陰影情報として利用する
際、3次元座標データに基づく対象物の3次元画像と陰
影情報により表される陰影との位置合わせの必要性がな
くなると同時に、同位置合わせによる誤差もなくなる。
また、陰影情報を入手するビデオカメラなどの特別な機
器も必要ない。その結果、本発明によれば、3次元座標
データにより生成した3次元画像に陰影を正確かつ簡単
に付することができる。
【0010】ただし、3次元画像に、より正確な陰影を
付加したり、正確な色彩を付加する場合などには、対象
物の2次元画像を取得可能なビデオカメラ、CCDカメ
ラなどの2次元画像取得手段を前記3次元画像生成装置
に併用することもできる。この場合、前記陰影情報とし
ての計測受光幅を表す情報を前記2次元画像取得手段に
て取得した2次元画像との位置合わせにも利用できる。
【0011】また、本発明の他の構成上の特徴は、前記
3次元画像生成装置の座標変換手段に、前記受光幅計測
手段によって計測された反射光の受光幅に基づいて、前
記計算される3次元座標データのうちで前記光ビーム放
射手段から前記対象物の表面までの距離に関する座標デ
ータを補正する補正手段を設けたことにある。なお、こ
の場合、座標データは、前述したX,Y,Z軸方向の座
標データのうちのZ軸方向の座標データに相当する。
【0012】これは、前記反射光の受光幅が大きくなる
にしたがって、すなわち反射光の散乱の程度が大きくな
るにしたがって、前記光ビーム放射手段から前記対象物
の表面までの距離に対応するラインセンサによる受光位
置が、前記反射光を受光している複数の受光素子の中心
位置からずれることに基づくものである。本発明者等
は、実験により、前記距離に対応するラインセンサによ
る受光位置は、反射光の散乱の程度が大きくなるにした
がって、前記反射光を受光している複数の受光素子の中
心位置が本来の受光位置に対して大きくずれることを確
認している。前記他の構成上の特徴によれば、補正手段
が前記ずれを補正するので、前記光ビーム放射手段から
前記対象物の表面までの距離に関する座標データは、同
距離に正確に一致することになる。したがって、前記陰
影情報を検出するために、前記反射光の受光幅が大きく
なる光ビームを用いても、高精度の座標データを得るこ
とができ、正確な3次元画像を得ることができる。
【0013】また、本発明の他の構成上の特徴は、対象
物に向けて方向を変更しながら光ビームを放射して同対
象物の表面に順次位置を変えながら照射スポットを形成
し、前記対象物の表面からの反射光を集光して一列に配
置された複数の受光素子からなるラインセンサ上に結像
させ、前記対象物の表面に対する光ビームの各照射スポ
ットの位置毎に、前記光ビームの放射方向及び前記ライ
ンセンサによる反射光の受光位置に基づいて前記対象物
の表面に関する3次元座標データを計算して、前記各照
射スポットの位置毎に計算した各3次元座標データに基
づいて前記対象物の3次元画像を生成するようにした3
次元画像生成方法において、前記ラインセンサによる反
射光の受光幅を計測し、前記計測した受光幅を前記対象
物の表面の陰影を表す陰影情報として利用して前記対象
物の3次元画像を生成するようにしたことにもある。
【0014】さらに、本発明の他の構成上の特徴は、前
記3次元画像生成方法において、前記計測した受光幅に
基づいて、前記計算される3次元座標データのうちで前
記光ビーム放射手段から前記対象物の表面までの距離に
関する座標データを補正するようにしたことにもある。
【0015】これらの3次元画像生成方法に関する発明
は、上記3次元画像生成装置の各構成上の特徴に対応す
るものであり、これによっても、同3次元画像生成装置
と同様な作用効果が期待される。
【0016】
【実施の形態】以下、本発明の一実施形態について図面
を用いて説明すると、図1は同実施形態に係る3次元画
像生成装置の概略斜視図である。この3次元画像生成装
置は、対象物10の表面の形状を測定して同測定データ
を出力する形状測定装置100と、同装置100から出
力された測定データを処理するコンピュータ本体200
と、同コンピュータ本体200により制御されて対象物
の3次元画像を表示する表示装置300とを備えてい
る。これらの形状測定装置100、コンピュータ本体2
00及び表示装置300は、ケーブル20によって直列
に接続されている。
【0017】形状測定装置100は、正面に長窓101
を形成した方形状のハウジング102を備えている。ハ
ウジング102内には、水平ピン103により同ピン1
03の軸線回りに回動可能にハウジング102に支持さ
れた枠体104が収容されている。枠体104は、その
後方に設けた電動モータ105、スクリューシャフト1
06及びボールナット107等からなる駆動機構によ
り、水平ピン103の軸線回りに回動するようになって
いる。
【0018】電動モータ105は、ハウジング102に
固定されていて、その回転をベルト108を介してスク
リューシャフト106に伝達して、同シャフト106を
軸線回りに回転させる。スクリューシャフト106は、
ハウジング102に固定された支持部材109により、
軸線回りに回転可能かつ軸線方向に変位不能に支持され
ている。ボールナット107は、スクリューシャフト1
06の上部外周面上に螺合しているとともに、枠体10
4により軸線回りの回転が禁止された状態で同枠体10
4に前後方向へ変位可能かつ上下方向に一体的に変位す
るように組み付けられている。これにより、電動モータ
105が回転すると、スクリューシャフト106が軸線
回りに回転し、ボールナット107がスクリューシャフ
ト106の外周面上を上下動して枠体104の後端上部
を上下動させるので、枠体104は水平ピン103の軸
線回り(X軸回り)に回動する。
【0019】また、電動モータ105には回転角センサ
110が組み付けられており、同センサ110は同モー
タ105の回転角を検出する。なお、電動モータ105
の回転角は前記枠体104の水平ピン103回りの回動
角にも対応しており、回転角センサ110は前記枠体1
04の水平ピン103の軸線回り(X軸回り)の回動角
を検出していることにもなる。
【0020】ハウジング102は、図1及び図2に示す
ように、レーザ発振器111、集光器112、第1乃至
第4ミラー113〜116、結像器117及びラインセ
ンサ118も収容している。レーザ発振器111は、レ
ーザ光源として機能するもので、レーザ光(例えば、波
長680nmのレーザ光)を図示上方に向けて放射する。
集光器112は、対象物10の表面に小さな照射スポッ
トを形成するために、レーザ発振器111から放射され
たレーザ光を集光して上方に向けて放射する。
【0021】第1ミラー113は、ハウジング102の
上部に斜め下方に向けて固定されており、集光器112
からのレーザ光を第2ミラー114の上部に向けて反射
する。第2ミラー114は、上下方向に縦長に構成され
ていてハウジング102に斜め後方に向けて固定されて
おり、第1ミラー113からのレーザ光を上部にて第3
ミラー115の上部に向けて反射するとともに、第3ミ
ラー115の下部からのレーザ光(対象物10からの反
射光)を下部にて第4ミラー116に向けて反射する。
第3ミラー115は、上下方向に縦長に構成されていて
ハウジング102に斜め前方に向けて上下方向の軸線回
り(Y軸回り)に回動可能に組み付けられており、第2
ミラー114の上部からのレーザ光を上部にて前方に向
けて反射して長窓101を介し外部の対象物10に照射
するとともに、対象物10にて反射されたレーザ光(対
象物10からの反射光)を下部にて第2ミラー114の
下部に向けて反射する。第4ミラー116は、ハウジン
グ102の下部に斜め上方に向けて固定され、第2ミラ
ー114の下部からのレーザ光(対象物10からの反射
光)を斜め上方の後方に向けて反射して結像器117に
入射させる。
【0022】結像器117は、ハウジング102に固定
されており、第4ミラー116からのレーザ光(対象物
10からの反射光)をラインセンサ118上に結像す
る。なお、レーザ光の光路に関しては、図示矢印によっ
て示されている。
【0023】ラインセンサ118は、CCDなどの複数
の受光素子を一列に配置して構成されており、ハウジン
グ102に斜め下方の結像器117に向けて固定されて
いる。このラインセンサ118は、第3ミラー115
(レーザ発振器111、集光器112、第1乃至第4ミ
ラー113〜116、結像器117及びラインセンサ1
18などでも同じ)から対象物10の照射スポットまで
の図示Z軸方向の距離を、複数の受光素子のうちで対象
物10からの反射光を受光した受光素子の位置により検
出するものである。この点について、図3を用いて簡単
に説明しておくと、第3ミラー115から対象物10に
放射されるレーザ光の方向が同じでも、同第3ミラー1
15から対象物10までの距離(Z軸方向距離)が変わ
ると、対象物10の表面で反射されて第4ミラー116
を介して(結像器117は図示略)ラインセンサ118
に入射する反射光の位置が変化するという3角測量法の
原理に基づくものである。
【0024】また、ハウジング102は、第3ミラー1
15を上下方向の軸線回りに回動させるための電動モー
タ119も収容している。電動モータ119は、ベルト
120を介して第3ミラー115の上下方向の回転軸を
軸線回りに回動させて、同ミラー115を上下方向の軸
線回り(Y軸回り)に回動する。電動モータ119には
回転角センサ121も組み付けられており、同センサ1
21は同モータ119の回転角を検出する。なお、電動
モータ119の回転角は第3ミラー115の前記回転角
にも対応しており、回転角センサ121は前記第3ミラ
ー115の上下方向の軸線回り(Y軸回り)の回転角を
検出していることにもなる。
【0025】さらに、ハウジング102には、複数のプ
リント基板130も収容されている。これらのプリント
基板130上には、形状測定装置100の動作を電気的
に制御するための電気制御回路装置150を構成する多
数の電子部品が配設されている。この電気制御回路装置
150の機能を、図4を用いて説明する。
【0026】この電気制御回路装置150は、レーザ発
振器111に接続されて、同発振器111の作動を制御
する。また、電気制御回路装置150は、電動モータ1
05及び回転角センサ110にも接続されていて、回転
角センサ110からの回転角検出信号をフィードバック
して電動モータ105の回転を制御し、枠体104を水
平ピン103の軸線回り(X軸回り)に任意な角度だけ
回動させる。この枠体104の回動は、レーザ発振器1
11、集光器112及び第1乃至第4ミラー113〜1
15などからなって対象物10に光ビームを放射するた
めの光ビーム放射手段をX軸回りに回動することを意味
し、これにより、Y−Z平面におけるレーザ光の照射方
向すなわちレーザ光による対象物10の表面の照射スポ
ットの位置がY軸方向に変更されて、対象物10の表面
がレーザ光によってY軸方向に走査されることになる。
これと同時に、電気制御回路装置150は、回転角セン
サ110からの回転角検出信号に基づいて、前記Y−Z
平面におけるZ軸方向を基準としたレーザ光の照射方向
θyを表す信号を出力する。
【0027】電気制御回路装置150は、電動モータ1
19及び回転角センサ121にも接続されていて、回転
角センサ121からの回転角検出信号をフィードバック
して電動モータ119の回転を制御して、第3ミラー1
15をその上下軸線回り(Y軸回り)に任意な角度だけ
回動する。この第3ミラー115の回動は、前記光ビー
ム放射手段をY軸回りに回動することを意味し、これに
より、X−Z平面におけるレーザ光の照射方向すなわち
レーザ光による対象物10の表面の照射スポットの位置
がX軸方向に変更されて、対象物10の表面がレーザ光
によってX軸方向に走査されることになる。これと同時
に、電気制御回路装置150は、回転角センサ121か
らの回転角検出信号に基づいて、前記X−Z平面におけ
るZ軸方向を基準としたレーザ光の照射方向θxを表す
信号を出力する。
【0028】このような電動モータ105,119によ
るレーザ光の放射方向の変更について、同レーザ光の放
射方向の変更と対象物10の走査との関係を概略的に示
す図5を用いて説明しておく。電気制御回路装置150
は、電動モータ105,119を所定のシーケンスに従
って駆動制御して、放射されたレーザ光(光ビーム)に
ほぼ直交する仮想的なX−Y平面上における照射スポッ
トをX軸方向に沿って移動させるとともにY軸方向に沿
って移動させることにより、同X−Y平面をレーザ光で
走査することができる。そして、この走査位置すなわち
照射スポットの位置が、前記レーザ光の照射方向θx,
θyに対応する。
【0029】さらに、電気制御回路装置150は、ライ
ンセンサ118にも接続されており、同センサ118を
構成する複数の受光素子からの信号を入力する。そし
て、この電気制御回路装置150は、前記レーザ光によ
る対象物10の表面の照射スポット毎に、同照射スポッ
トからの反射光のラインセンサ118による検出受光位
置に基づいて3角測量法を用いて第3ミラー115(レ
ーザ発振器111、集光器112、第1乃至第4ミラー
113〜116、結像器117及びラインセンサ118
などでも同じ)から対象物10の照射スポットまでのZ
軸方向の距離Lzを計測して出力する。また、ラインセ
ンサ118による前記反射光の受光幅Lzも計測して出
力する。
【0030】これらのZ軸方向の距離Lz及び受光幅L
zの具体的な計測回路及び計測方法について説明する。
電気制御回路装置150は、図6の機能ブロック図に示
すように、取込み部151、比較部152、第1計数部
153、第2計数部154、除算部155、加算部15
6及び演算制御部157を備えている。
【0031】取込み部151は、ラインセンサ118の
各受光素子にそれぞれ接続されていて、演算制御部15
7によって制御され、前記レーザ光による対象物10の
表面の照射スポットの各位置毎に、各受光素子による受
光量を表す各信号を同時に並列に入力して、同各信号を
比較部152に順次直列に出力する。図7は、ラインセ
ンサ118の各受光素子から取込み部151に取込まれ
る信号と、同各受光素子の受光量との関係を示してお
り、前記取込み部151から比較部152には図6の左
端の受光素子から順に右側の受光素子に向かってライン
センサ118による検出信号が順次出力される。なお、
演算制御部157は、前述した電気制御回路装置150
の電動モータ105,119の作動制御に連動してい
て、前記照射スポットの位置の変更毎に、ラインセンサ
118による検出信号の取込みを取込み部151に指示
する。
【0032】比較部152も、演算制御部157により
制御されて、取り込み部151から供給されてラインセ
ンサ118の各受光素子による受光量を表す各検出信号
が所定の受光量を表す閾値Vref以上であるかを比較判
定する。そして、比較部152は、各検出信号が閾値V
ref以上であればハイレベル信号"1"を出力し、各検出
信号が閾値Vref未満であればローレベル信号"0"を出
力する。
【0033】第1計数部153も、演算制御部157に
より制御されて、前記各照射スポット毎に、ラインセン
サ118から新たな照射スポットに関する検出信号の到
来に応答して計数を開始して、比較部152からハイレ
ベル信号"1"が供給されるまでのローレベル信号"0"の
数を計数して、同計数値Aを出力する。第2計数部15
4も、演算制御部157により制御されて、前記各照射
スポット毎に、比較部152からのハイレベル信号"1"
の数を計数して、同計数値Bをラインセンサ118によ
る反射光の受光幅Lzsを表す検出信号として出力する。
【0034】除算部155は、前記各照射スポット毎
に、第2計数部154による計数値Bを「2」で除して
出力する。加算部156は、前記各照射スポット毎に、
第1計数部153による計数値Aと除算部155による
除算結果B/2を加算して、同加算結果(A+B/2)を
ラインセンサ118による反射光の受光位置すなわち対
象物10の照射スポットまでのZ軸方向の距離Lzを表
す検出信号として出力する。
【0035】なお、上記電気制御回路装置150の動作
及び図6の機能ブロック図の動作の全てをハード回路に
よって実現するようにしてもよいし、それらの一部をコ
ンピュータによるプログラム処理によって実現するよう
にしてもよい。
【0036】ふたたび、図4の説明にもどると、電気制
御回路装置150から出力されるレーザ光の照射方向θ
x,θy、対象物10の照射スポットまでのZ軸方向の
距離Lz及び受光幅Lzsを表す各検出信号は、コンピュ
ータ本体200に供給される。コンピュータ本体200
は、プログラム処理により各種機能を実現するもので、
特に座標変換機能及び画像処理機能を実現するようにな
っており、これらの機能を実現する手段を座標変換部2
10及び画像処理部220として示している。
【0037】座標変換部210は、前記レーザ光の照射
方向θx,θy、前記Z軸方向の距離Lz及び受光幅L
zsを表す各検出信号を入力して、前記各照射スポット毎
に、照射方向θx,θyに基づいて公知の座標変換演算
を実行して、前記仮想のX−Y平面上における照射スポ
ットのX軸及びY軸座標データDx,Dyを形成する。
また、前記Z軸方向の距離LzをX軸及びY軸座標デー
タDx,Dyに合わせて所定の変換を施して、同距離L
zに対応したZ軸座標データDzを形成する。そして、
座標変換部210は、前記各照射スポット毎に、これら
のX軸、Y軸及びZ軸座標データDx,Dy,Dzを3
次元座標データとしてまとめて、受光幅Lzsを表す受光
幅データDzsと共に画像処理部220に出力する。
【0038】画像処理部220は、前記各照射スポット
毎の3次元座標データDx,Dy,Dzに基づいて公知
の方法により対象物10の3次元画像を生成するととも
に、前記受光幅データDzsを対象物10の表面の陰影を
表す陰影情報として利用して前記3次元画像に陰影を施
す。この陰影の施された3次元画像を表す表示データは
コンピュータ本体200内に設けたメモリに記憶される
とともに、同本体200から表示装置300に送られ
る。表示装置300は、CRT、液晶表示器などにより
構成した画面を有し、前記表示データに基づいて、画面
上に前記陰影の施された3次元画像を表示する。
【0039】以下、上記のように構成した実施形態の動
作を説明する。形状測定装置100において、電気制御
回路装置150の制御のもとに、レーザ発振器111が
作動開始する。そして、レーザ発振器111から放射さ
れたレーザ光は、集光器112、第1乃至第3ミラー1
13〜115を介して対象物10の表面に照射され、同
対象物10の表面に照射スポットを形成する。そして、
対象物10の表面にて反射された反射光は、第3ミラー
115、第2ミラー114及び第4ミラー116を介し
て結像器117に入射し、同結像器117は同反射光を
ラインセンサ118の複数の受光素子のいずれかの位置
に結像する。
【0040】また、電動モータ105,119も、電気
制御回路装置150の制御のもとに、所定のシーケンス
に従って回転角センサ110,121と協働して枠体1
04をX軸回りに回動するとともに、第3ミラー115
をY軸回りに回動する。これにより、対象物10に向け
たレーザ光の方向はY軸方向及びX軸方向に移動され
て、上述した仮想的なX−Y平面に対応した対象物10
の表面が照射スポットにより走査される。
【0041】一方、これと同時に、電気制御回路装置1
50は、前記電動モータ105,119の作動によるレ
ーザ光の照射方向θx,θy、及び第3ミラー115か
ら対象物10の表面までのZ軸方向の距離Lzを表す検
出信号を、前記各照射スポット毎にコンピュータ本体2
00の座標変換部210に順次出力する。また、これと
同時にラインセンサ118によって受光された反射光の
受光幅Lzsを表す検出信号も、前記各照射スポット毎に
電気制御回路装置150から座標変換部210に順次供
給される。
【0042】座標変換部210は、前記レーザ光の照射
方向θx,θy、及び前記Z軸方向の距離Lzを表す検
出信号に基づいて、前記各照射スポット毎に、対象物1
0の表面に関する3次元座標データDx,Dy,Dzを
形成して画像処理部220に出力するとともに、陰影情
報としての受光幅Lzsに対応した受光幅データDzsも形
成して画像処理部220に出力する。画像処理部220
は、これらのデータDx,Dy,Dz,Dzsに基づいて
陰影の施された3次元画像を生成して、同3次元画像を
表す表示データを表示装置300に供給する。これによ
り、表示装置300は、画面上に前記陰影の施された3
次元画像を表示する。また、このとき、前記表示データ
は、コンピュータ本体200内のメモリに記憶される。
【0043】このように動作する3次元画像生成装置及
び同方法は、対象物10の表面が明るくなるほど同表面
の照射スポットからの反射光の散乱の度合いが大きくな
るという現象に着目したものである。電気制御回路装置
150の第2計数部154は、ラインセンサ118によ
る反射光の受光幅Lzを計測することにより、前記反射
光の散乱の程度、すなわち対象物10の表面の明るさを
照射スポット位置毎に検出することになる。そして、コ
ンピュータ本体200の画像処理部220が、前記各照
射スポットの位置毎に計測した反射光の受光幅Lzに対
応した受光幅データDzsを、対象物10の表面の陰影を
表す陰影情報として利用して対象物10の3次元画像を
生成する。この場合、前記計測された受光幅Lzに対応
した受光幅データDzsは、各照射スポットの位置毎に検
出されたものであって、各3次元座標データDx,D
y,Dzと対応しているので、3次元座標データDx,
Dy,Dzに基づく対象物10の3次元画像の生成に同
受光幅データDzsを対象物10の表面の陰影を表す陰影
情報として利用する際、3次元座標データDx,Dy,
Dzに基づく対象物10の3次元画像と陰影情報により
表される陰影との位置合わせの必要性がなくなると同時
に、同位置合わせによる誤差もなくなる。
【0044】その結果、上記実施形態によれば、陰影情
報を入手するビデオカメラなどの特別な機器を必要とす
ることなく、3次元座標データにより生成した3次元画
像に陰影を正確かつ簡単に付することができる。
【0045】なお、上記実施形態においては、第3ミラ
ー115から対象物10の表面までのZ軸方向の距離L
zを、対象物10の表面からの反射光を受光しているラ
インセンサ118の複数の受光素子の中央位置に応じて
決定するようにした。しかし、本発明者等による実験に
よれば、前記中央位置は、反射光の散乱の程度が大きく
なって受光幅Lzが増加するにしたがって、距離Lzに
対応したラインセンサ118による本来の受光位置から
徐々にずれていくことを確認した。上記実施形態による
装置では、図8に示すように、ラインセンサ118の複
数の受光素子の中央位置Lz1が距離Lzに対応したライ
ンセンサ118による本来の受光位置Lz0に対して遠く
なる側にずれるとともに、このずれ量Lz1−Lz0が受光
幅Lzs(=B)が大きくなるに従って増加した。言い換
えれば、図8に破線で示すように、受光幅Lzs(=B)
が大きくなるに従って、反射光の散乱すなわち受光幅が
本来の受光位置Lz0に対して遠くなる側にて大きくなっ
た。
【0046】このラインセンサ118による受光位置の
変化を修正するために、上記実施形態の図6に示した機
能ブロック図の一部を図9のように変形するように、電
気制御回路装置150を変形した。この変形例は、受光
幅Bの大きさに応じて変化する補正係数kを出力する補
正係数テーブル158を設けるとともに、除算部155
と加算部156との間に同除算部155による除算結果
B/2に補正係数kを乗算する乗算部159を挿入した
ものである。この場合、補正係数テーブル158は、図
10に示すように、受光幅Bに対して、同受光幅Bが増
加するに従って「1.0」から徐々に減少する補正係数
kを記憶したものである。なお、この補正係数kの特性
は、レーザ発振器111から発射されるレーザ光の波
長、ラインセンサ118の特性などに依存するもので、
実験により決定するとよい。
【0047】このように構成した変形例によれば、加算
部156から出力される距離Lzは、第1計数部153
による計数値Aに、除算部155による除算結果B/2
を補正係数kで補正した補正値k・B/2を加算した値
(A+k・B/2)になる。そして、補正係数kは、前述
のように、同受光幅Bが増加するに従って「1.0」か
ら徐々に減少するように設定されているので、補正係数
テーブル158及び乗算部159による補正により、距
離Lzは、受光幅Bが増加するに従って、反射光を受光
しているラインセンサ118の複数の受光素子の中央位
置に対応した距離よりも近くなる側に補正される。これ
により、反射光の散乱の程度が大きくなって受光幅Lz
が増加しても、計測距離Lzが前記反射光の散乱による
影響を受け難くなる。したがって、陰影情報を精度よく
検出するための反射光の受光幅Lzが大きくなるレーザ
光(光ビーム)を用いても、高精度の座標データDx,
Dy,Dzを得ることができ、正確な3次元画像を得る
ことができる。
【0048】また、上記実施形態においては、枠体10
4及び第3ミラー115の回転を制御するために回転角
センサ110,121によって検出した回転角をフィー
ドバックして電動モータ105,119の回転を制御す
るようにした。しかし、電動モータ105,119とし
てステップモータのような回転角センサ110,121
を用いなくても回転位置を制御可能な電動モータを用い
るようにすれば、前記回転角センサ110,121は不
要となる。この場合、電気制御回路装置150は、対象
物10の表面をレーザ光でX軸及びY軸方向に走査する
ために電動モータ105,119の回転位置を制御する
ようにするとともに、同制御に連動して上記レーザ光の
照射方向θx,θyを表す信号をコンピュータ本体20
0の座標変換部210に出力するようにするとよい。
【0049】また、上記実施形態においては、3次元画
像を表示する手段として表示装置300を設けるように
したが、これに代え又はこれに加えて3次元画像を印刷
するプリンタ装置を設けるようにしてもよい。この場
合、プリンタ装置は、コンピュータ本体200の画像処
理部220から供給される表示データに基づいて3次元
画像を印刷するようにすればよい。
【0050】さらに、上記実施形態においては、ビデオ
カメラ、CCDカメラなどの2次元画像取得手段を用い
なかったが、上記3次元画像に、より正確な陰影を付加
したり、正確な色彩を付加する場合などには、対象物1
0の2次元画像を取得可能なビデオカメラ、CCDカメ
ラなどの2次元画像取得手段を上記形状測定装置100
に併用するようにしてもよい。この場合、前記陰影情報
としての計測受光幅Lzを表す情報を前記2次元画像取
得手段にて取得した2次元画像との位置合わせに利用で
きる。また、受光幅Lzは対象物の表面の色彩に応じて
も変化するので、受光幅Lzと色彩の関係を予め調べて
おき、生成した3次元画像に計測受光幅Lzに応じた色
彩を付することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態に係る3次元画像生成装
置の全体を示す概略図である。
【図2】 図1の光学系装置のみを抜き出した概略斜視
図である。
【図3】 対象物の表面までの距離を測定する3角測量
法を説明するための同測量法の原理図である。
【図4】 前記3次元画像生成装置の電気的ブロック図
である。
【図5】 対象物のレーザ光による走査を説明するため
の説明図である。
【図6】 図4の電気制御回路装置にて実行されて対象
物までの距離及びラインセンサによる受光幅の計測機能
を実現する機能ブロック図である。
【図7】 ラインセンサの各受光素子から電気制御回路
装置の取込み部に取込まれる信号と、同各受光素子の受
光量との関係を示す図である。
【図8】 反射光の散乱が対象物までの距離の計測に与
える影響を説明するための説明図である。
【図9】 図6の機能ブロック図の変形例を示すブロッ
ク図である。
【図10】 図9の補正係数テーブルに記憶されている
補正係数の変化特性を示すグラフ図である。
【符号の説明】
10…対象物、100…形状測定装置、104…枠体、
105,119…電動モータ、110,121…回転角
センサ、111…レーザ発振器、112…集光器、11
3〜116…ミラー、117…結像器、118…ライン
センサ、150…電気制御回路装置、152…比較部、
153,154…計数部、158…補正係数テーブル、
200…コンピュータ本体、210…座標変換部、22
0…画像処理部、300…表示装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村越 素和 静岡県浜松市東三方町90番地の3 パルス テック工業株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA53 DD12 EE00 FF01 FF09 GG04 HH04 JJ02 JJ25 LL12 LL13 LL62 MM16 MM26 QQ24 SS13 5B057 BA13 BA15 CE20 DA07 DB03 DC02 DC09 5B080 GA11

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】対象物に向けて光ビームを放射して同対象
    物の表面に照射スポットを形成する光ビーム放射手段
    と、 前記光ビームの放射方向を変更して前記対象物の表面に
    形成される照射スポットの位置を変更する放射方向変更
    手段と、 前記対象物の表面からの反射光を集光して結像する結像
    手段と、 前記結像手段による反射光の結像位置に一列に配置され
    た複数の受光素子からなるラインセンサと、 前記対象物の表面に対する光ビームの各照射スポットの
    位置毎に、前記光ビームの放射方向及び前記ラインセン
    サによって検出される反射光の受光位置に基づいて前記
    対象物の表面に関する3次元座標データを計算する座標
    変換手段と、 前記各照射スポットの位置毎に計算した各3次元座標デ
    ータに基づいて前記対象物の3次元画像を生成する画像
    処理手段とを備えた3次元画像生成装置において、 前記対象物の表面に対する光ビームの各照射スポットの
    位置毎に、前記ラインセンサによって検出された反射光
    の受光幅を計測する受光幅計測手段を設け、 前記画像処理手段は、前記各照射スポットの位置毎に計
    測した反射光の受光幅を、前記対象物の表面の陰影を表
    す陰影情報として利用して前記対象物の3次元画像を生
    成する3次元画像生成装置。
  2. 【請求項2】前記請求項1に記載した3次元画像生成装
    置において、 前記座標変換手段に、前記受光幅計測手段によって計測
    された反射光の受光幅に基づいて、前記計算される3次
    元座標データのうちで前記光ビーム放射手段から前記対
    象物の表面までの距離に関する座標データを補正する補
    正手段を設けたことを特徴とする3次元画像生成装置。
  3. 【請求項3】対象物に向けて方向を変更しながら光ビー
    ムを放射して同対象物の表面に順次位置を変えながら照
    射スポットを形成し、 前記対象物の表面からの反射光を集光して一列に配置さ
    れた複数の受光素子からなるラインセンサ上に結像さ
    せ、 前記対象物の表面に対する光ビームの各照射スポットの
    位置毎に、前記光ビームの放射方向及び前記ラインセン
    サによる反射光の受光位置に基づいて前記対象物の表面
    に関する3次元座標データを計算して、 前記各照射スポットの位置毎に計算した各3次元座標デ
    ータに基づいて前記対象物の3次元画像を生成するよう
    にした3次元画像生成方法において、 前記ラインセンサによる反射光の受光幅を計測し、 前記計測した受光幅を前記対象物の表面の陰影を表す陰
    影情報として利用して前記対象物の3次元画像を生成す
    る3次元画像生成方法。
  4. 【請求項4】前記請求項3に記載した3次元画像生成方
    法において、 前記計測した受光幅に基づいて、前記計算される3次元
    座標データのうちで前記光ビーム放射手段から前記対象
    物の表面までの距離に関する座標データを補正するよう
    にしたことを特徴とする3次元画像生成方法。
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