JP2002055249A - Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer - Google Patents

Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer

Info

Publication number
JP2002055249A
JP2002055249A JP2000239147A JP2000239147A JP2002055249A JP 2002055249 A JP2002055249 A JP 2002055249A JP 2000239147 A JP2000239147 A JP 2000239147A JP 2000239147 A JP2000239147 A JP 2000239147A JP 2002055249 A JP2002055249 A JP 2002055249A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
demultiplexer
awg
temperature
type optical
optical multiplexer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000239147A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsutoshi Komoto
克敏 甲本
Koji Oura
宏治 大浦
Kenichiro Asano
健一郎 浅野
Hideyuki Hosoya
英行 細谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujikura Ltd filed Critical Fujikura Ltd
Priority to JP2000239147A priority Critical patent/JP2002055249A/en
Publication of JP2002055249A publication Critical patent/JP2002055249A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an AWG type optical mutiplexer/demultiplexer having good wavelength stability. SOLUTION: In regulating the optical characteristics of the AWG type optical mutiplexer/demultiplexer provided with an AWG chip 1 provided with an array waveguide 1a, a Peltier element 2, a thermistor thermometer 3 for measuring the temperature of the AWG chip 1 and a temperature control circuit 5 for controlling the measurement temperature thereof to a prescribed control temperature, the temperature control circuit 5 is operated under the environment temperature conditions different from the control temperature and while the exit light from the AWG type optical mutiplexer/demultiplexer is monitored, at least one among the AWG chip 1 Peltier element 2, and the thermistor thermometer 3 are moved. The Peltier element 2, the AWG chip 1 and the thermistor thermometer 3 are fixed to the positions where the design value of the central wavelength of the exit light and the measured value of the central wavelength coincide.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は高密度多重光通信シ
ステムなどにおいて、多重された波長を分波する光分波
器、または波長を合波して多重する光合波器として用い
られるAWG(アレイド・ウェーブガイド・グレーティ
ング)型光合分波器の光学特性の調整方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an AWG (arrayed optical modulator) used as an optical demultiplexer for demultiplexing multiplexed wavelengths or an optical demultiplexer for multiplexing wavelengths in a high-density multiplexed optical communication system. The present invention relates to a method for adjusting optical characteristics of a (waveguide / grating) type optical multiplexer / demultiplexer.

【0002】[0002]

【従来の技術】図5はAWG型光合分波器の一例を示し
たものであり、図中符号1は長方形板状のAWGチップ
である。AWGチップ1は一般に、ガラスなどの透明材
料からなるクラッド層内に設けられた略逆U字状のアレ
イ導波路1aを備えている。このAWGチップ1の下に
は長方形板状のペルチェ素子2が設けられ、これらはケ
ース10に収められている。また、AWGチップ1の上
面にはサーミスタ温度計3が接着剤などで固定されてい
る。また、ペルチェ素子2とサーミスタ温度計3は、ケ
ース10の外部に設けられた温度制御回路5に接続され
ている。
2. Description of the Related Art FIG. 5 shows an example of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer. In the figure, reference numeral 1 denotes a rectangular plate-shaped AWG chip. The AWG chip 1 generally includes a substantially inverted U-shaped array waveguide 1a provided in a cladding layer made of a transparent material such as glass. Under the AWG chip 1, a rectangular plate-shaped Peltier element 2 is provided, which is housed in a case 10. A thermistor thermometer 3 is fixed on the upper surface of the AWG chip 1 with an adhesive or the like. The Peltier element 2 and the thermistor thermometer 3 are connected to a temperature control circuit 5 provided outside the case 10.

【0003】AWGチップ1の一組の対向側面には、ア
レイ導波路1aに光を入射または出射するひとつのポー
ト1bが設けられ、他方には複数のポート1c、1c…
が設けられている。AWG型光合分波器においては、例
えば一方のポート1bから入射した波長多重された光
が、アレイ導波路1aを介して分波され、他方の複数の
ポート1c、1c…から波長ごとに出射する。または、
一方の複数のポート1c、1c…のそれぞれに入射した
波長の異なる光がアレイ導波路1aを介して合波され、
この合波光が他方のポート1bから出射する。
One port 1b for inputting or outputting light to or from the arrayed waveguide 1a is provided on a pair of opposed side surfaces of the AWG chip 1, and a plurality of ports 1c, 1c.
Is provided. In the AWG type optical multiplexer / demultiplexer, for example, wavelength-division multiplexed light incident from one port 1b is demultiplexed via an arrayed waveguide 1a, and emitted from the other plural ports 1c, 1c. . Or
Light having different wavelengths incident on each of the plurality of ports 1c, 1c... Is multiplexed via the arrayed waveguide 1a,
This combined light exits from the other port 1b.

【0004】ところで、AWG型光合分波器において
は、例えば50GHzチャンネルでは±5pm以下、2
5GHzチャンネルでは±2pm以下の波長安定性が要
求される。波長安定性はAWG型光合分波器、特にアレ
イ導波路1aの温度変動に大きく依存している。したが
って、AWG型光合分波器においては、一般にAWG型
光合分波器が用いられる0〜70℃の環境温度条件下に
おいて、温度変動を例えば50GHzチャンネルでは±
0.05℃以下、25GHzチャンネルでは±0.2℃
以下になるように温度制御を行う必要がある。将来的に
は10GHzチャンネル間隔のAWG型光合分波器の使
用も予想され、この場合は±0.1℃以下の温度制御を
行う必要がある。
In an AWG type optical multiplexer / demultiplexer, for example, ± 50 pm or less in a 50 GHz channel,
In a 5 GHz channel, a wavelength stability of ± 2 pm or less is required. The wavelength stability greatly depends on the temperature fluctuation of the AWG type optical multiplexer / demultiplexer, especially the array waveguide 1a. Therefore, in the AWG type optical multiplexer / demultiplexer, under the environmental temperature condition of 0 to 70 ° C. in which the AWG type optical multiplexer / demultiplexer is generally used, the temperature fluctuation is, for example, ± 50 GHz channel.
0.05 ° C or less, ± 0.2 ° C for 25GHz channel
It is necessary to control the temperature so that: It is anticipated that an AWG type optical multiplexer / demultiplexer with a 10 GHz channel interval will be used in the future. In this case, it is necessary to perform temperature control of ± 0.1 ° C. or less.

【0005】AWG型光合分波器においては、最も一般
的に使用される条件の環境温度を制御温度とし、この制
御温度が一定に維持されるようにすると、温度制御機構
の消費電力を小さくすることができる場合が多い。その
ため、一般的なAWG型光合分波器の制御温度は50℃
前後に設定されている。
In an AWG type optical multiplexer / demultiplexer, the environmental temperature under the most commonly used condition is set as a control temperature, and if this control temperature is kept constant, the power consumption of the temperature control mechanism is reduced. Often can. Therefore, the control temperature of a general AWG type optical multiplexer / demultiplexer is 50 ° C.
It is set before and after.

【0006】すなわち、サーミスタ温度計3によってA
WGチップ1の上面の温度を測定し、これを温度制御回
路5にフィードバックし、測定値と制御温度とが異なる
場合はペルチェ素子2を作動させることにより、AWG
チップ1を加熱または冷却して温度制御を行う。ペルチ
ェ素子2は通常、加熱と冷却の両方を行うことができる
が、用途などによってはどちらか一方を行うものを設け
ることもできる。
[0006] That is, by the thermistor thermometer 3, A
The temperature of the upper surface of the WG chip 1 is measured, fed back to the temperature control circuit 5, and when the measured value is different from the control temperature, the Peltier element 2 is activated to thereby operate the AWG.
The temperature of the chip 1 is controlled by heating or cooling. Usually, the Peltier element 2 can perform both heating and cooling, but depending on the application or the like, an element that performs either one of them can be provided.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来は
このように温度を制御しても十分な波長安定性が得られ
ない場合があった。また、波長特性が安定せず、製品歩
留まりが低下する場合があった。本発明は前記事情に鑑
みてなされたもので、波長安定性が良好なAWG型光合
分波器を提供することを課題とする。特に環境温度変化
に対して、波長安定性が良好なAWG型光合分波器を提
供することを課題とする。さらには、将来的に要求され
ることが予想される厳しい条件にも対応できるAWG型
光合分波器を提供することを課題とする。
However, in the past, there was a case where sufficient wavelength stability could not be obtained even by controlling the temperature in this manner. Further, the wavelength characteristics may not be stable, and the product yield may be reduced. The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide an AWG type optical multiplexer / demultiplexer having good wavelength stability. In particular, it is an object of the present invention to provide an AWG type optical multiplexer / demultiplexer having good wavelength stability against a change in environmental temperature. Further, it is another object of the present invention to provide an AWG type optical multiplexer / demultiplexer which can cope with severe conditions expected to be required in the future.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明のAWG型光合分波器の光学特性の調整方法
は、アレイ導波路が設けられたAWGチップと、該AW
Gチップの加熱および/または冷却手段と、該AWGチ
ップの温度を測定する温度測定手段と、その測定温度に
より、前記加熱および/または冷却手段を動作させて所
定の制御温度に制御する温度制御手段が設けられたAW
G型光合分波器の光学特性の調整方法において、制御温
度と異なる環境温度条件下において、温度制御手段を動
作させるとと共に、当該AWG型光合分波器に光を入射
し、その出射光をモニターしながら、AWGチップ、加
熱および/または冷却手段、および温度測定手段の少な
くともひとつを移動し、前記出射光の中心波長の測定値
と、該中心波長の設計値とが一致する位置に前記AWG
チップ、前記加熱および/または冷却手段、および前記
温度測定手段を固定することを特徴とする。この方法に
おいては、広帯域光源からAWG型光合分波器に光を入
射し、該AWG型光合分波器からの出射光を光スペクト
ラムアナライザにてモニターすることをができる。ある
いは、波長可変レーザからAWG型光合分波器に光を入
射し、該AWG型光合分波器からの出射光を、前記波長
可変レーザに同期してサンプリングする光パワーメータ
にてモニターすることもできる。
In order to solve the above-mentioned problems, a method for adjusting the optical characteristics of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer according to the present invention comprises: an AWG chip provided with an arrayed waveguide;
G chip heating and / or cooling means, temperature measuring means for measuring the temperature of the AWG chip, and temperature control means for operating the heating and / or cooling means to control the temperature to a predetermined control temperature based on the measured temperature. AW provided with
In the method for adjusting the optical characteristics of the G-type optical multiplexer / demultiplexer, the temperature control means is operated under an environmental temperature condition different from the control temperature, and light is incident on the AWG type optical multiplexer / demultiplexer, and the emitted light is While monitoring, at least one of the AWG chip, the heating and / or cooling means, and the temperature measuring means is moved, and the AWG is located at a position where the measured value of the center wavelength of the emitted light coincides with the design value of the center wavelength.
The chip, the heating and / or cooling means, and the temperature measuring means are fixed. In this method, light can be incident on an AWG type optical multiplexer / demultiplexer from a broadband light source, and light emitted from the AWG type optical multiplexer / demultiplexer can be monitored by an optical spectrum analyzer. Alternatively, light may be incident on the AWG type optical multiplexer / demultiplexer from the wavelength tunable laser, and the output light from the AWG type optical multiplexer / demultiplexer may be monitored by an optical power meter sampling in synchronization with the wavelength tunable laser. it can.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】まず、本発明の検討の経緯につい
て図5を利用して説明する。本発明者らが検討した結
果、AWGチップ1、ペルチェ素子2、およびサーミス
タ温度計3の3つの構成の位置関係によって、温度制御
回路5によって温度制御を行っても、例えばポート1c
から出射する光の中心波長(スペクトルのピークの波長
帯域の中心の波長)が変動することがわかった。そこ
で、これらAWGチップ1、ペルチェ素子2、およびサ
ーミスタ温度計3を波長安定性が得られる位置に配置す
る方法についてさらなる検討を行い、本発明を完成させ
るに至った。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the details of the study of the present invention will be described with reference to FIG. As a result of investigations by the present inventors, even if temperature control is performed by the temperature control circuit 5 based on the positional relationship between the three components of the AWG chip 1, the Peltier element 2, and the thermistor thermometer 3, for example, the port 1c
It has been found that the center wavelength of the light emitted from (the wavelength at the center of the spectrum peak wavelength band) fluctuates. Therefore, further studies were made on a method of arranging the AWG chip 1, the Peltier element 2, and the thermistor thermometer 3 at positions where wavelength stability can be obtained, and completed the present invention.

【0010】以下、本発明の一例について説明する。ま
ず、図1に示したように、ケース10にペルチェ素子2
を固定する。AWGチップ1はペルチェ素子2の上に熱
伝導性グリースなどを用いて仮固定し、摺動可能な状態
とする。この例において、AWGチップ1は基板の上に
石英ガラスからなるクラッド層が形成され、その内部に
アレイ導波路1aが形成された30×35×1mmのも
のである。
Hereinafter, an example of the present invention will be described. First, as shown in FIG.
Is fixed. The AWG chip 1 is temporarily fixed on the Peltier element 2 by using a thermally conductive grease or the like so that the AWG chip 1 can be slid. In this example, the AWG chip 1 has a size of 30 × 35 × 1 mm in which a cladding layer made of quartz glass is formed on a substrate and an arrayed waveguide 1a is formed therein.

【0011】また、ペルチェ素子はビスマス(Bi)、
アンチモン(Sb)、テルル(Te)の化合物からなる
熱半導体を2枚の板状のアルミナセラミックスで挟んだ
構造からなり、23×23×4mmのものである。ケー
ス10の本体はアルミニウム製で、100×55×17
mmのものである。なお、ケース10の蓋はプラスチッ
ク製である。
The Peltier element is bismuth (Bi),
It has a structure in which a thermal semiconductor made of a compound of antimony (Sb) and tellurium (Te) is sandwiched between two plate-like alumina ceramics, and has a size of 23 × 23 × 4 mm. The body of the case 10 is made of aluminum and is 100 × 55 × 17.
mm. The lid of the case 10 is made of plastic.

【0012】ついで、AWGチップ1の上に棒状のサー
ミスタ温度計3を接着剤などで固定する。この例におい
て、アレイ導波路1aとサーミスタ温度計3の先端との
距離は5mmである。また、一方のポート1bに広帯域
光源11を接続し、他方のポート1c、1c…の少なく
ともひとつに光スペクトラムアナライザ12を接続す
る。この場合、AWG型光合分波器は光分波器として動
作し、ポート1bから入射した広帯域の光は、高屈折率
部1aを介して波長毎に分波され、ポート1c、1c…
から出射する。このとき、ひとつのポート1cから出射
する光のピークの波長帯域の中心の波長を、上述のよう
に中心波長という。アレイ導波路1aの温度の変動によ
り、複数のポート1c、1c…から出射する光のピーク
は、相互の波長間隔を維持した状態で長波長側、または
短波長側にシフトする。したがって、少なくともひとつ
のポート1cから出射する光の中心波長を測定すれば、
後述するように設計通りの波長特性が得られているかど
うかが判別できる。
Next, a bar-shaped thermistor thermometer 3 is fixed on the AWG chip 1 with an adhesive or the like. In this example, the distance between the array waveguide 1a and the tip of the thermistor thermometer 3 is 5 mm. Further, the broadband light source 11 is connected to one port 1b, and the optical spectrum analyzer 12 is connected to at least one of the other ports 1c, 1c. In this case, the AWG type optical multiplexer / demultiplexer operates as an optical demultiplexer, and broadband light incident from the port 1b is demultiplexed for each wavelength via the high refractive index part 1a, and the ports 1c, 1c.
Emitted from At this time, the center wavelength of the peak wavelength band of the light emitted from one port 1c is referred to as the center wavelength as described above. Due to the change in the temperature of the array waveguide 1a, the peaks of the light emitted from the plurality of ports 1c, 1c,... Shift to the longer wavelength side or the shorter wavelength side while maintaining the mutual wavelength interval. Therefore, if the center wavelength of the light emitted from at least one port 1c is measured,
As described later, it can be determined whether or not the wavelength characteristics as designed are obtained.

【0013】そして、環境温度(実際の動作温度)を温
度制御回路5による制御温度と異なる温度に設定する。
この環境温度はAWGチップ1の位置ずれによる中心波
長の変動量を大きくして、検知しやすくするため、制御
温度と5℃以上、好ましくは10℃以上異なる温度とす
る。なお、作業性の観点から室温に設定すると好まし
い。この例においては23℃である。ついで、広帯域光
源11から広い波長帯域の光をポート1bに入射する
と、この光はアレイ導波路1aを経て分波される。そし
て、ポート1cの少なくともひとつから出射する光のス
ペクトルをモニターし、その中心波長を測定しながら、
サーミスタ温度計3によってAWGチップ1の上面の温
度を測定し、この測定値によって温度制御回路5を動作
させてAWG型光合分波器の温度制御を行う。そして、
この操作と同時にポート1bとポート1c、1c…が設
けられた対向辺と平行方向(図1中、矢印で示した方
向)にAWGチップ1を移動する。この例において、光
スペクトラムアナライザ12にて観察する光の中心波長
の設計値は1551.15nmである。
Then, the environmental temperature (actual operating temperature) is set to a temperature different from the temperature controlled by the temperature control circuit 5.
This environmental temperature is set to a temperature different from the control temperature by 5 ° C. or more, preferably 10 ° C. or more, in order to increase the amount of change of the center wavelength due to the displacement of the AWG chip 1 and to make it easier to detect. In addition, it is preferable to set it to room temperature from the viewpoint of workability. 23 ° C. in this example. Next, when light of a wide wavelength band enters the port 1b from the broadband light source 11, this light is split through the arrayed waveguide 1a. Then, while monitoring the spectrum of the light emitted from at least one of the ports 1c and measuring the center wavelength thereof,
The temperature of the upper surface of the AWG chip 1 is measured by the thermistor thermometer 3, and the temperature control circuit 5 is operated based on the measured value to control the temperature of the AWG type optical multiplexer / demultiplexer. And
Simultaneously with this operation, the AWG chip 1 is moved in a direction parallel to the opposing sides provided with the ports 1b and the ports 1c, 1c... (The direction indicated by the arrow in FIG. 1). In this example, the design value of the center wavelength of the light observed by the optical spectrum analyzer 12 is 1551.15 nm.

【0014】図2はこの測定結果の一例を示したグラフ
である。温度制御回路5によって温度制御を行っている
にも関わらず、つまり、サーミスタ温度計3によるAW
Gチップ1の測定温度はほぼ一定であるにも関わらず、
中心波長の測定値が変化している。この例においては、
このグラフに示されているように、移動距離が2.5m
mの位置において中心波長の測定値が1551.15n
mであり、設計値と一致している。そこで、この位置に
AWGチップ1を固定し、製品とする。
FIG. 2 is a graph showing an example of the measurement result. Although the temperature control is performed by the temperature control circuit 5, the AW by the thermistor thermometer 3
Although the measurement temperature of the G chip 1 is almost constant,
The measured value of the center wavelength has changed. In this example,
As shown in this graph, the moving distance is 2.5 m
The measured value of the center wavelength at the position of m is 1551.15n
m, which is consistent with the design value. Therefore, the AWG chip 1 is fixed at this position to obtain a product.

【0015】図3は、この製品について、環境温度を0
〜70℃に変化させて中心波長のひとつを測定した結果
の一例を示したグラフである。このグラフより、環境温
度変化に伴う中心波長の波長変動量が小さく、良好な波
長安定性が得られていることがわかる。
FIG. 3 shows that the ambient temperature of this product is 0
It is the graph which showed an example of the result of having measured to one of the center wavelengths changing to -70 ° C. From this graph, it can be seen that the amount of change in the center wavelength due to a change in environmental temperature is small, and good wavelength stability is obtained.

【0016】図4は、移動距離5.0mmの位置にAW
Gチップ1を固定した製品について同様に測定した結果
を示したグラフである。環境温度変化に伴って中心波長
が10pm程大きく変動している。
FIG. 4 shows an AW at a position at a moving distance of 5.0 mm.
It is the graph which showed the result of having measured similarly about the product which fixed G chip 1. The center wavelength fluctuates greatly by about 10 pm with a change in environmental temperature.

【0017】この例においては、AWGチップ1とペル
チェ素子2の位置関係を適性化するため、作業中にサー
ミスタ温度計3はAWGチップ1の上面に接着剤などで
固定し、動かないようにすると好ましい。また、本発明
においては、AWGチップ1、ペルチェ素子2およびサ
ーミスタ温度計3の位置関係が適性化されればよいた
め、これらのうちの少なくともひとつを移動させて最適
な配置位置を求めればよい。また、移動する構成の移動
方向なども特に限定されない。
In this example, in order to optimize the positional relationship between the AWG chip 1 and the Peltier element 2, the thermistor thermometer 3 is fixed to the upper surface of the AWG chip 1 with an adhesive or the like during operation to keep it from moving. preferable. Further, in the present invention, since the positional relationship between the AWG chip 1, the Peltier element 2, and the thermistor thermometer 3 only needs to be optimized, at least one of them may be moved to find the optimal arrangement position. The moving direction of the moving configuration is not particularly limited.

【0018】例えば、AWGチップ1とペルチェ素子2
の位置を固定し、サーミスタ温度計3を移動させて、中
心波長の測定値と設計値とが一致する位置にサーミスタ
温度計3を固定することによっても同様の効果が得られ
る。なお、通常は上述のようにペルチェ素子2は固定し
て操作を行った方が、操作性がよい。また、広帯域光源
11と光スペクトラムアナライザ12との組合わせにか
えて、波長可変レーザから出射する光の波長を連続的に
シフトさせながらAWG型光合分波器に入射し、この波
長可変レーザに同期して高速サンプリングする光パワー
メータにてモニターすることにより、中心波長を測定す
ることもできる。波長可変レーザと光パワーメータの組
み合わせは測定時間がより短時間であるという利点を備
えている。
For example, an AWG chip 1 and a Peltier device 2
The same effect can be obtained by fixing the position of the thermistor 3, moving the thermistor thermometer 3 and fixing the thermistor thermometer 3 at a position where the measured value of the center wavelength and the design value match. Normally, the operability is better if the operation is performed with the Peltier element 2 fixed as described above. Instead of the combination of the broadband light source 11 and the optical spectrum analyzer 12, the light emitted from the wavelength tunable laser enters the AWG type optical multiplexer / demultiplexer while continuously shifting the wavelength of the light, and is synchronized with the wavelength tunable laser. The center wavelength can also be measured by monitoring with a high-speed sampling optical power meter. The combination of the tunable laser and the optical power meter has the advantage that the measurement time is shorter.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明した様に、本発明においては、
制御温度と異なる温度条件下で、中心波長をモニターし
ながら、AWGチップ、加熱および/または冷却手段、
および温度測定手段の位置関係を最適化することによ
り、環境温度が変化しても、設計値の中心波長とほぼ等
しい中心波長が維持され、波長安定性が良好なAWG型
光合分波器を提供することができる。すなわち、中心波
長の細かい変動をモニターしながら、位置関係を最適化
するため、精密な制御が可能である。
As described above, in the present invention,
AWG chip, heating and / or cooling means, while monitoring the center wavelength under a temperature condition different from the control temperature,
By optimizing the positional relationship between the temperature measuring means and the ambient temperature, the center wavelength substantially equal to the center wavelength of the design value is maintained even when the environmental temperature changes, and an AWG-type optical multiplexer / demultiplexer having good wavelength stability is provided. can do. That is, since the positional relationship is optimized while monitoring the fine fluctuation of the center wavelength, precise control is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の光合分波器の光学特性の調整方法の
操作を示した説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an operation of a method for adjusting the optical characteristics of an optical multiplexer / demultiplexer according to the present invention.

【図2】 AWGチップの移動距離と中心波長との関係
を示したグラフである。
FIG. 2 is a graph showing a relationship between a moving distance of an AWG chip and a center wavelength.

【図3】 本発明によって得られたAWG型光合分波器
の環境温度と波長変動量との関係を示したグラフであ
る。
FIG. 3 is a graph showing the relationship between the environmental temperature and the amount of wavelength fluctuation of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer obtained by the present invention.

【図4】 比較例のAWG型光合分波器の環境温度と波
長変動量との関係を示したグラフである。
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the environmental temperature and the amount of wavelength fluctuation of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer according to a comparative example.

【図5】 AWG型光合分波器の構造の一例を示した概
略構成図である。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing an example of the structure of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…AWGチップ、2…ペルチェ素子(加熱および/ま
たは冷却手段)、3…サーミスタ温度計(温度測定手
段)、5…温度制御回路(温度制御手段)。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... AWG chip, 2 ... Peltier element (heating and / or cooling means), 3 ... Thermistor thermometer (temperature measuring means), 5 ... Temperature control circuit (temperature controlling means).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 浅野 健一郎 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉事業所内 (72)発明者 細谷 英行 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉事業所内 Fターム(参考) 2H047 KA03 LA18 NA01 TA12  ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Kenichiro Asano 1440, Mukurosaki, Sakura City, Chiba Prefecture Inside Fujikura Sakura Office (72) Inventor Hideyuki Hosoya 1440, Musaki, Sakura City, Chiba Prefecture Fujikura Sakura Office F term (reference) 2H047 KA03 LA18 NA01 TA12

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アレイ導波路が設けられたAWGチップ
と、該AWGチップの加熱および/または冷却手段と、
該AWGチップの温度を測定する温度測定手段と、その
測定温度により、前記加熱および/または冷却手段を動
作させて所定の制御温度に制御する温度制御手段が設け
られたAWG型光合分波器の光学特性の調整方法におい
て、 制御温度と異なる環境温度条件下において、温度制御手
段を動作させるとと共に、当該AWG型光合分波器に光
を入射し、その出射光をモニターしながら、AWGチッ
プ、加熱および/または冷却手段、および温度測定手段
の少なくともひとつを移動し、 前記出射光の中心波長の測定値と、該中心波長の設計値
とが一致する位置に前記AWGチップ、前記加熱および
/または冷却手段、および前記温度測定手段を固定する
ことを特徴とするAWG型光合分波器の光学特性の調整
方法。
1. An AWG chip provided with an array waveguide, heating and / or cooling means for the AWG chip,
AWG type optical multiplexer / demultiplexer provided with temperature measuring means for measuring the temperature of the AWG chip, and temperature control means for operating the heating and / or cooling means to control the temperature to a predetermined control temperature based on the measured temperature. In the method of adjusting optical characteristics, the temperature control means is operated under an environmental temperature condition different from the control temperature, and light is incident on the AWG type optical multiplexer / demultiplexer, and while monitoring the emitted light, an AWG chip, At least one of the heating and / or cooling means and the temperature measuring means is moved, and the AWG chip, the heating and / or the heating and / or the position are located at the position where the measured value of the center wavelength of the emitted light coincides with the design value of the center wavelength. A method for adjusting optical characteristics of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer, wherein a cooling unit and the temperature measuring unit are fixed.
【請求項2】 請求項1に記載のAWG型光合分波器の
光学特性の調整方法において、 広帯域光源からAWG型光合分波器に光を入射し、該A
WG型光合分波器からの出射光を光スペクトラムアナラ
イザにてモニターすることを特徴とするAWG型光合分
波器の光学特性の調整方法。
2. The method for adjusting the optical characteristics of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer according to claim 1, wherein light is incident on the AWG type optical multiplexer / demultiplexer from a broadband light source.
A method for adjusting the optical characteristics of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer, wherein the light emitted from the WG type optical multiplexer / demultiplexer is monitored by an optical spectrum analyzer.
【請求項3】 請求項1に記載のAWG型光合分波器の
光学特性の調整方法において、波長可変レーザからAW
G型光合分波器に光を入射し、該AWG型光合分波器か
らの出射光を、前記波長可変レーザに同期してサンプリ
ングする光パワーメータにてモニターすることを特徴と
するAWG型光合分波器の光学特性の調整方法。
3. The method for adjusting optical characteristics of an AWG type optical multiplexer / demultiplexer according to claim 1, wherein the wavelength tunable laser is used
AWG type optical multiplexer / demultiplexer, wherein light is incident on a G type optical multiplexer / demultiplexer, and the light emitted from the AWG type optical multiplexer / demultiplexer is monitored by an optical power meter which samples in synchronization with the tunable laser. How to adjust the optical characteristics of the duplexer.
JP2000239147A 2000-08-07 2000-08-07 Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer Withdrawn JP2002055249A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000239147A JP2002055249A (en) 2000-08-07 2000-08-07 Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000239147A JP2002055249A (en) 2000-08-07 2000-08-07 Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002055249A true JP2002055249A (en) 2002-02-20

Family

ID=18730735

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000239147A Withdrawn JP2002055249A (en) 2000-08-07 2000-08-07 Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002055249A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100395525C (en) * 2003-05-21 2008-06-18 华为技术有限公司 Automatic testing apparatus and method for comb type filter spectrum optical module
JP2009522608A (en) * 2006-10-02 2009-06-11 ホアウェイ・テクノロジーズ・カンパニー・リミテッド Method and system for integrated DWDM transmitter
US8050525B2 (en) 2006-10-11 2011-11-01 Futurewei Technologies, Inc. Method and system for grating taps for monitoring a DWDM transmitter array integrated on a PLC platform
US8285151B2 (en) 2006-10-20 2012-10-09 Futurewei Technologies, Inc. Method and system for hybrid integrated 1XN DWDM transmitter
US8285150B2 (en) 2006-10-02 2012-10-09 Futurewei Technologies, Inc. Method and system for integrated DWDM transmitters
CN104838262A (en) * 2012-12-10 2015-08-12 株式会社岛津制作所 Drift calculating device and light detecting device using same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100395525C (en) * 2003-05-21 2008-06-18 华为技术有限公司 Automatic testing apparatus and method for comb type filter spectrum optical module
JP2009522608A (en) * 2006-10-02 2009-06-11 ホアウェイ・テクノロジーズ・カンパニー・リミテッド Method and system for integrated DWDM transmitter
JP4938027B2 (en) * 2006-10-02 2012-05-23 ホアウェイ・テクノロジーズ・カンパニー・リミテッド Method and system for integrated DWDM transmitter
US8285150B2 (en) 2006-10-02 2012-10-09 Futurewei Technologies, Inc. Method and system for integrated DWDM transmitters
US8285149B2 (en) 2006-10-02 2012-10-09 Futurewei Technologies, Inc. Method and system for integrated DWDM transmitters
US8050525B2 (en) 2006-10-11 2011-11-01 Futurewei Technologies, Inc. Method and system for grating taps for monitoring a DWDM transmitter array integrated on a PLC platform
US8285151B2 (en) 2006-10-20 2012-10-09 Futurewei Technologies, Inc. Method and system for hybrid integrated 1XN DWDM transmitter
CN104838262A (en) * 2012-12-10 2015-08-12 株式会社岛津制作所 Drift calculating device and light detecting device using same
CN104838262B (en) * 2012-12-10 2016-04-27 株式会社岛津制作所 Drift calculation device and there is the optical detection device of this drift calculation device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7720328B2 (en) Thermal control of optical components
US7903910B2 (en) Coupled optical waveguide resonators with heaters for thermo-optic control of wavelength and compound filter shape
US6996142B2 (en) Light source device and wavelength control device therefor
JP2002055249A (en) Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer
KR20000049869A (en) Optical wavelength-division multiplexed channel monitoring method using the temperature dependence of an arrayed waveguide grating
Nyman et al. Technology trends in dense WDM demultiplexers
JP2002055248A (en) Method for regulating optical characteristic of awg type optical mutiplexer/demultiplexer
Volodin et al. Volume Bragg Gratings (TM) A New Platform Technology for WDM Applications
Suzuki et al. Low-loss integrated-optic dynamic chromatic dispersion compensators using lattice-form planar lightwave circuits
JP3880222B2 (en) Temperature compensation material for temperature compensated planar optical waveguide component and temperature compensated planar optical waveguide component using the same
US9025616B2 (en) Wavelength multiplexer/demultiplexer apparatus
JP4115292B2 (en) Semiconductor optical device for wavelength division multiplexing
JP2005250320A (en) Thermo-optical optical functional component and its control method
JP2009186688A (en) Wavelength multiplexer/demultiplexer
JP2010243995A (en) Awg spectral filter
JP2011077069A (en) Wavelength variable light source module and wavelength variable optical transmitter
JP2004286991A (en) Optical multiplexing demultiplexing element
JP2007316128A (en) Wavelength selection optical switch and calibration method of wavelength selection optical switch
Saito et al. Temperature-insensitive (athermal) AWG modules
KR100536756B1 (en) Heater mounting apparatus of wavelength division multiplexing system
GB2360653A (en) Tunable demultiplexer that follows wavelength variations due to temperature
Takada et al. 2.5 GHz-spaced cascaded demultiplexer for optical spectrum analyser application in C-and L-bands of optical fibre amplifiers
Johnson et al. Chu et a
KR20150047700A (en) Tunable wavelength filter and tunable wavelength laser module with embedded thin film metal temperature sensor
GB2381683A (en) A re-configurable wavelength add-drop multiplexer

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20071106